当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

激光共焦

仪器信息网激光共焦专题为您整合激光共焦相关的最新文章,在激光共焦专题,您不仅可以免费浏览激光共焦的资讯, 同时您还可以浏览激光共焦的相关资料、解决方案,参与社区激光共焦话题讨论。

激光共焦相关的仪器

  • Witec激光共聚焦拉曼光谱仪WITec 成立于 1997 年,已成为纳米分析显微镜系统(拉曼光、AFM、SNOM)领域的市场领导者。正如 WITec 的企业宗旨“聚焦创新”,公司的成功以不断引进新技术为基础,通过高品质、灵活和创新的产品实现令顾客满意的承诺。Witec 的核心技术:高速共聚焦拉曼成像,以及联用技术Witec激光共聚焦拉曼光谱仪特点 光纤耦合的激光共聚焦拉曼光谱仪,有很多灵活的布局,适用于多种环境和离线在线分析 光路里面反射元件少,因此光路不会受到温度湿度变化的影响而漂移,可以长期稳定工作(稳定性对于很多测试都是极其重要的,应力分布,峰位移动,长时间积分) 激光通过单模光纤耦合进显微镜,然后通过光子晶体光纤耦合进光谱仪进行分析,所以是光纤对光纤的共聚焦系统,无针孔的真共聚焦设计(共焦深度不可调),空间分辨率xy方向350nm@532,z方向900nm@532,更高的分辨率可以看到很多的细节。 Witec专注使用光纤20年,对于光纤耦合技术有独到的理解,光纤耦合效率80%,因此灵敏度比其他厂家高了很多,降低了单点采集的时间,提高了Mapping的速度。Alpha 300 Access手动机,单点测试, 可升级2D Raman mapping Alpha 300R 主要机型 2D-3D mapping Alpha 300RA 在300R基础上升级原子力显微镜功能, 可实现原位AFM-Raman Mapping Alpha 300RS 加近场与Raman mapping联用图片 RISE,可与捷克TESCAN公司的电镜联用,实现原位的SEM-Raman Mapping
    留言咨询
  • RTS系列拉曼光谱仪RTS-II多功能激光共聚焦显微拉曼光谱系统RTS-II 多功能激光共聚焦显微拉曼光谱系统,基于新一代显微共焦技术,具有良好扩展性,可根据需求拓展为以拉曼为主要功能的显微光谱工作站,是您科学研究的最佳选择 ! 采用未经任何改造的科研级正置Leica显微镜,可保留显微镜一切功能 采用紧凑稳定的拉曼光路,减小光程,提高系统稳定度和重复性 内置532,638,785常用激光器,激光光路固定无需调节,可外置扩展其他激光器 采用最新的四光栅光谱仪,专利的自动聚焦,在轴扫描等多项最新技术 采用深制冷的拉曼专用光谱CCD相机,峰值量子效率QE90%。并可扩展EMCCD,ICCD,SCMOS, InGaAs阵列,PMT等探测器,扩展系统功能RTS-II多功能激光共聚焦显微拉曼光谱系统功能扩展: 显微共振拉曼可在标准RTS-II 系统基础上,通过升级可调谐的CW 激光器(调谐范围275- 1100nm),升级光谱仪为三级联谱仪,可实现真正意义上的可调谐显微共振拉曼 时间分辨光谱系统可扩展与低重频皮秒及纳秒激光器+ICCD 联用,实现微区时间分辨荧光光谱及瞬态拉曼功能利用ICCD 独有的fast kinectic 功能,可以对不可重复的现象进行最快25000 帧/ 秒的采集速度,获得约40us 的时间分辨率 宽场显微光谱由于显微镜可以保留所有原始功能,因此只要在标准的RTS-II 系统上升级即可实现如暗场散射,微区透射反射谱等功能。TCSPC 系统可扩展与可调谐超连续白光激光或高重频皮秒/ 飞秒激光联用,实现微区荧光寿命及FLIM定制类服务开放式显微镜,正置+ 倒置显微镜利用倒置显微镜的无限远光路,可以实现正置和倒置共用同一个光路可以在标准倒置显微镜的基础上升级正置部分,做到双向激发双向收集,适用于光波导传输特性对的研究多功能激光共聚焦显微拉曼光谱系统升级服务开放式的设计可以满足基于客户的显微镜升级为RTS-II 的需求开放式的设计可以满足基于客户的光谱仪升级为RTS-II 的需求RTS-mini 一体式拉曼机顶盒RTS-mini 是我司最新研发的光纤耦合的共聚焦拉曼系统。与RTS-II 共享光谱仪配置, 采用激光器内置,光纤耦合入光谱仪的方式,提高系统的灵活性。并可与样品无法移动的实验环境,如低温探针台,DSC 等能极其便利的耦合起来。小巧的体积可用于手套箱,工业在线监测等应用。另外由于配置了标准的接口,可与任何主流正置显微镜搭配,做共聚焦显微升级,可获得同样的性能。测试实例:硅样品, 减背底的三阶峰拉曼光谱图,计算信噪比:62.9:1 测试实例:硫样品; 测试条件:镜头下激光功率;10mw,积分时间,0.1s
    留言咨询
  • Finder Vista“微曼”系列显微共聚焦激光拉曼光谱仪 性能特点:● 更高系统灵敏度:采用大通光口径影像校正光谱仪和进口低噪声科学级CCD。● 适合多种样品,可在显微光路与宏光路之间自由切换。● 高重复性:光路设计结构稳固,全自动,一体化设计,软件控制电动切换光路,切换后无需重新校准。● 模块升级选项:可提供功能升级模块,满足多方面科研需求。● 易操作:软件窗口操作模式,简单易用产品简介:Finder Vista“微曼”系列拉曼光谱仪是卓立汉光公司研发的具有更高性能显微共聚焦激光拉曼光谱仪,基于新一代显微共聚焦光学系统,搭配高品质影像校正光谱仪和进口CCD探测器,所有部件一体化集成,最大限度的确保了仪器性能的稳定性,从而可以获得样品的有关化学成分、晶体结构、分子间相互作用以及分子取向等各种拉曼光谱的信息,广泛适用于高等院校、科研院所的物理和化学实验研究,如化合物官能团分析 、分子动力学研究 、碳纤维/碳纳米管拉曼光谱分析 、表面分析\单层薄膜分析、聚合物组织结构分析、细胞组织研究、刑侦鉴定、考古学、地质学等多学科领域。Finder Vista“微曼”系列显微共聚焦激光拉曼光谱仪,除了可以实现拉曼光谱测量功能外,还可以通过增加功能附件,实现拉曼光谱成像、PL荧光及成像、荧光寿命测量等功能,欢迎洽询。参数规格表:主型号Finder Vista拉曼光谱范围60-5,000 cm-1(典型值)分辨率≤0.9cm-1(@585.25nm)激光器标配:532nm(≥100mW,TEM00)选配:266nm、325nm、633nm、785nm等显微镜标配:正置显微镜空间分辨率水平1μm,垂直2μm探测器类型TE深制冷型背感光CCD(LDC-DD技术)有效像元2000×256像元尺寸15×15μm量子效率95%@780nm*规格参数为532nm激光条件下的典型值,依据所选激发波长的改变会有所改变,详情请洽询!测试实例:(Sulfur:激发波长:532nm)
    留言咨询
  • 激光共焦多维荧光成像系统: FLIM / FCS 时间分辨的空间分辨显微系统: ISS 推出新一代的快速荧光寿命成像系统FLIM/PLIM。成像速度可达 20 fps (@256×256),自由选择1×1到4096×4096像元分辨率;同时获取荧光寿命成像和共焦强度成像数据,保持单分子级的检测灵敏度。 用于化学、纳米、能源、生物等学科方向,单分子、活细胞、微区成像及形貌、能级结构和能量传递特征的机理研究。满足上转换量子点及相关材料的寿命成像测试。。 ISS以整机的荧光寿命成像系统为己任,实现共焦三维扫描模块(针孔,二维振镜、压电台或自动工作台)和时间分辨模块的完美结合,提供<100ps-100ms的全时域荧光寿命检测;同时软件融合Phasor Plots荧光寿命直读半圆规的矢量图技术,可视化、直观的提供荧光寿命分布及数值。 荧光寿命成像数据分析进入直读时代。 ISS 激光共焦扫描荧光寿命成像系统,还可以同时满足以下需要: 1. 双光子的荧光寿命 FLIM/PLIM 成像; 2. 深紫外激发的荧光寿命 FLIM / PLIM 成像;266nm 355nm 3. 红二区荧光寿命 FLIM /PLIM 成像; 4. 激光扫描大视场活体成像 FLIM /PLIM ; 5. 光谱采集及光谱成像; 6. AFM联用--活细胞工作站联用--冷冻及加热工作台联用; 7. 纳米颗粒三维跟踪;(专有技术) 主要功能描述:(单/双光子功能) 激光共焦荧光强度成像LCM;荧光寿命成像FLIM,磷光寿命成像PLIM;上转换荧光(寿命)成像,稀土发光(寿命)成像,延迟荧光(寿命)成像;荧光波动成像FFS(FCS,FCCS, PCH,N&B, RICS, FLCS,scan-FCS), FLIM-FRET成像;荧光定量成像;单量子点发光(寿命)成像,单分子及单分子荧光共振转移成像smFRET,包括交替激发PIE成像;稳态及瞬态偏振成像;微区荧光光谱采集 400-1100nm;反聚束测试(含专业软件);活细胞工作站升级(含多孔板)仪器特点: 实时直读式获得荧光寿命数值及变化趋势,FRET效率分布;选择350nm-1100nm加上900nm-1700nm波长范围检测器,2-4通道检测器,用于成像,FLIM-FRET;可以升级无波长干扰AFM(正置或倒置),实现同区域形貌和FLIM同步测试;紫外-可见-红外激发波长,单波长或超连续激光器;单光子或双光子的激光器; 主要技术指标 1. 荧光寿命测试范围:100ps-100ms;2. 最小时间分辨率≤1ps;3. 数据计数速率:65 MHz/channel4. 检测通道:upto 8 channels;5. 标配xy振镜扫描,5kHz扫描频率,配合xy闭环自动台实现大区域扫描;6. Phasor plots 用于数据分析;7. 光谱采集;400-1100nm8. 扫描透射成像;9. 界面聚焦系统;10. 变温附件;77k-500k;
    留言咨询
  • 红外-光致阻值改变(IR-OBIRCH)分析系统“μAMOS”是一款半导体失效分析仪,使用IR-OBIRCH方式来定位漏电流路径和LSI器件中的异常阻抗接触部件。在特定频率下,使用lock-in单元来探测OBIRCH信号可大大提高信噪比。而且,通过使用大电流探针头,也可以对大电流高电压工作的器件进行分析。特性图像空间分辨率高背面观测(λ=1.3 μm)可观测高掺杂基底(Epi-sub)使用红外激光(λ=1.3 μm)意味着在半导体视场内不会产生OBIC信号,因此可探测到缺陷引发的OBIRCH信号可以测量4象限电压/电流可升级到微光显微镜(选配)应用漏电流路径定位IDDQ失效分析金属缺陷探测金属线缺陷探测(空,硅节)触控(过孔)异常阻抗部件探测金属化过程监控*:IDDQ (Quiescent power supply current,静态供电电流):IDDQ为MOS管开关完成后流过的静态供电电流。参数产品名称uAMOS-1000尺寸/重量主单元:1360 mm(W)×1410 mm(D)×2120 mm(H), Approx. 900 kg控制台:880 mm (W)×700 mm (D)×1542 mm (H), Approx. 255 kg选配桌:1000 mm (W)×800 mm (D)×700 mm (H), Approx. 45 kg线电压AC220 V (50 Hz/60 Hz)功耗约 3000W真空度约80 kPa或更大压缩空气0.5 MPa to 0.7 MPa可用器件晶片*前面切块后的芯片到300mm晶片背面200/300 mm晶片(其他尺寸晶片可通过增加选配来处理)*:与选用探针的规格有关封装后IC前面芯片打开到表面的IC背面镜面抛光到硅基底的IC红外共焦激光显微镜扫描速度(秒/图)512×51212481024×102424816激光*1.3 μm激光二极管输出: 100 mW1.3 μm高功率激光器(选配)输出: 超过400 mW1.1 μm脉冲激光器(选配)输出: 200 mW (CW), 800 mW (pulse)*: For 1.3 μm laser, one of two laser can be integrated.光平台移动范围*X±20 mmY±20 mmZ75 mm*:由于探针或者样品平台的阻碍,该值肯会更小透镜放大一个转台可选透镜数达5个。透镜数值孔径WD (mm)视场μAMOS-10001×: A7649-010.032013×13标配2×: A80090.055346.5×6.5选配M-PLAN-NIR-5×: A11315-010.1437.52.6×2.6标配M-PLAN-NIR-20×: A11315-030.40200.65×0.65标配M-PLAN-NIR-50×: A11315-040.42170.26×0.26选配NIR 50×: A8756-0120.4218.30.26×0.26选配High NA50×: A8018120.76120.26×0.26选配M-PLAN-NIR-100×: A11315-050.50120.13×0.13标配NIR 100×: A8756-0220.5013.30.13×0.13选配M-PLAN-NIR-100×HR: A11315-0610.70100.13×0.13选配G-PLAN-APO-NIR-100×HR: A11315-08120.7060.13×0.13选配1:用1来标记的镜头有两种可选2:用2来标记的镜头带玻璃厚度补偿功能获取OBIRCH图像电压固定型电流固定型微电流放大器施加电压±10 mV to ±10 V±10 mV to ±10 V±10 mV to ±25 V最大电流100 mA100 mA100 μA探测率1 nA11 μV23 pA11:为输入放大器的最大可探测脉冲信号2:计算值外形图(单位:mm)
    留言咨询
  • 激光共焦显微镜 400-860-5168转0769
    仪器简介:北京德华上海公司提供相关全能型纳米表面形貌、三维轮廓测量、粗糙度平面度等多款样机演示、客户做样并根据样品效果使具体配置达到最佳性价比,欢迎咨询沟通及技术交流;相关简介:http://oecsh.cn/oecsh/2010-04-11/1270945380d344.html技术参数:德国CFP激光共聚焦显微镜测量行程Z:1000µ m测量距离:4mm可测量抛光镜头测量频率:max.1000Hz敏感及软质材料分辨率Z:20nm适于反光不同的点分辨率XY:1µ m低反射率快速测量测量角度:approx.90° ± 25° *1测量光源:semiconductorlaser,660nm,class2*2主要特点:可测量抛光光学镜头测量敏感及软质材料适于反光率不同的反光点低反射率的材料也可快速测量
    留言咨询
  • 武汉三工激光服装布料激光打标机三工激光服装激光烧花机的特点:服装激光烧花机,选用原装进口二氧化碳射频激光器、动态聚焦系统。可在牛仔布上雕刻任意花纹,幅面600mm*600mm~2200mm*无限长可自由选择。形成类似水洗效果,同时该设备还可兼容位图,任何一张jpg图片经过少量加工后即可用于雕刻,相较于传统工艺,该设备具有加工速度快、加工一致性好、无污染等特点。广泛应用于皮革、鞋料、牛仔、无纺布、布料等镭射、烧花、雕刻、切割、打孔、打码、喷码等。激光烧花机不仅节省了传统上下料的时间,减少了工序,更节约了人工和成本,产品品质也较传统加工方式大为提升。激光烧花机的诞生可以说是市场竞争和激光应用技术不断进步的结果,不仅开启了纺织服装激光应用的新时代,更顺应了国家政策和行业发展的潮流。它的成功应用必将对纺织服装业的产业结构升级、生产流程优化、节能降耗以及增长方式的转变产生积极而深远的影响。服装布料激光烧花是利用高能量密度的激光对工件进行局部照射,使表层材料汽化或发生颜色变化的化学反应,从而留下标记的一种打标方法。激光打标可以打出各种文字、符号和图案等,字符大小可以在毫米量级甚至更小。选用激光烧花技术来对服装进行加工优势有很多,具有雕琢精度高,镂空无毛边,形状各异的优势,完全能够满意如今大家寻求独立特性的构思,它能够合适多种面料跟行业,能够在服装面料,皮革等等上面进行打标切割雕花。三工激光打标机不管是对服装布料生产商或者是服装布料加工商来说都是一份惊喜的礼物,它发生的高功率、低成本的优势可以使许多厂家迅速占领市场,提高行业竞争优势。激光设备,其强大的切割烧花功能最为契合纺织、服装、皮革等行业,不仅节约上料时间,提高加工效率,节约成本,更能确保加工精度,实现均匀一致的加工效果。武汉三工激光打标机更在各类金属和非金属材料的加工中获得了广泛应用。 超级服装面料激光打标机 一、服装布料激光打标机设备简介超级系列激光打标机采用激光热效应,对各种非金属进行无接触式烧灼刻蚀,专为大幅面材料高精度雕刻镂空工艺而设计,打标速度更快,雕刻精度更高、精细度更明显;设备易操作,性能稳定。 二、服装布料激光打标机适用材料该设备适用于各种布料,纺织品的烧花,镂空设计,用于内衣,运动服,瑜伽服,舞蹈服等行业。 三、服装布料激光打标机设备参数武汉三工激光布料激光雕花机,欢迎广大客户咨询订购,我们有专业的技术支持,雄厚的资金做保障,我司可提供免费试样,让您买着放心! 因同一款机型有可能有多款子机型,各子机型相关配置不一,客户也可能有个性化的需求,所以无法对产品进行报价。如需全面的机型介绍,机型报价,或者需要专业的技术咨询,请联系我,我们为广大客户提供免费打样试机的机会,另提供免费视频,图片供其欣赏!
    留言咨询
  • 提供全新的3D形貌分析方案卓越的测量更大的样品范围轻松检测85° 尖锐角有尖锐角的样品(剃刀)采用了有着高N.A. 的专用物镜和专用光学系统(能最大限度发挥405 nm 激光性能),LEXT OLS4100 可以精确地测量一直以来无法测量的有尖锐角的样品。这有利于粗糙度的测量。LEXT 专用物镜使用专用物镜时的最小象差 高度分辨率10 nm,轻松测量微小轮廓(MPLAPON50XLEXT)高度差标准 类型B, PTB-5, Institut fü r Mikroelektronik, Germany, 6 nm 高度测量中的检测由于采用405 nm 的短波长激光和更高数值孔径的物镜,OLS4100 达到了0.12 &mu m 的平面分辨率。因此,可以对样品的表面进行亚微米的测量。结合高精度的0.8 nm 的光栅读取能力和软件算法,例如奥林巴斯开创的I-Z 曲线(请参阅第23 页),OLS4100 可以分辨出10 nm 的高度差。 克服反射率的差异钻石电镀工具物镜:MPLAPON50XLEXTOLS4100 采用了双共焦系统,结合高灵敏度的探测器,那些具有不同反射率材料的样品,也能在OLS4100 上获得鲜明的影像。 适用于透明层多层模式LEXT OLS4100 全新的多层模式则可以识别多层样品各层上反射光强度的峰值区域,并将各层设为焦点,这样即可实现对透明样品上表面的观察和测量,而且也可以对多层样品的各层进行分析和厚度测量。观察/测量透明材料的各个层多层模式可实现对透明样品的顶部的透明层进行观察和测量。即使在玻璃基片上覆有一层透明树脂层,也可测量出各层的形状和粗糙度以及表面覆膜的厚度。 工业领域首创* 的两项性能保证 正确性和重复性通常表示测量仪器的测量精度的,有2 个指标:"正确性",即测量值与真正值的接近程度,和"重复性",即多次测量值的偏差程度。OLS4100 是业界首次同时保证了"正确性"和"重复性"的激光扫描显微镜。 追溯体系OLS4100 从物镜制造到成品全部在奥林巴斯工厂内完成,并按照一系列严格的标准进行全面的检验并确保产品的质量后方才出厂 。交付产品时,由选拔出来的技术人员,在实际使用环境中执行校正和最后的调整。 更多的测量类型高度测量可以测量轮廓截面上任意两点之间的高低差异。轮廓测量也同样可用表面粗糙度测量可以测量线粗糙度,以及平面整体的面粗糙度。 面积/体积测量根据设置在轮廓截面上的任意阈值,可以测量其上部或下部的体积。粒子测量 (选购件)可以通过分离功能使粒子自动分离,设置阈值,根据ROI 设置检测范围。 几何测量可以测量影像上任意两点之间的距离。还可以测量任意区域的面积。膜厚测量 (选购件)可以根据测出的对焦位置,测量透明介质的膜厚。 自动寻边测量 (选购件)可以自动寻边,测量线宽和圆,减少人为的测量误差。 OLYMPUS Stream (选购件)工作流程解决方案,实现了优秀的图像分析性能对于粒子尺寸分析或非金属夹杂物级别的测量,可以使用OLYMPUS Stream 显微图像软件,该软件可以从OLS4100 直接上传。想了解更多OLYMPUS Stream相关内容 更精准的粗糙度测量LEXT OLS4100 参数作为表面粗糙度测量的新标准,奥林巴斯开发了LEXT OLS4100。对LEXT OLS4100 进行了与接触式表面粗糙度测量仪同样的校正,并在LEXT OLS4100 上配置了几乎所有必要的粗糙度参数和滤镜。这样,对于使用接触式表面粗糙度测量仪的用户来说,能得到操作性和互换性良好的输出结果。另外,还搭载了粗糙度专用模式,可以用自动拼接功能测量样品表面直线距离最长为100 mm 的粗糙度。 OLS4100 具有与接触式表面粗糙度测量仪相同的表面轮廓参数,因此具有相互兼容的操作性和测量结果。截面曲线Pp, Pv, Pz, Pc, Pt, Pa, Pq, Psk, Pku, Psm, P&Delta q, Pmr(c), P&delta c, Pmr粗糙度曲线Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rsm, R&Delta q, Rmr(c),R&delta c, Rmr, RZJIS, Ra75波动曲线Wp, Wv, Wz, Wc, Wt, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wsm, W&Delta q, Wmr(c), W&delta c, Wmr负荷曲线Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2基本图形R, Rx, AR, W, Wx, AW, Wte粗糙度 (JIS1994)Ra(JIS1994), Ry, Rz(JIS1994), Sm, S, tp其他R3z, P3z, PeakCount适应下一代参数OLS4100 具有符合ISO25178 的粗糙度(3D)参数。通过评估平面区域,可以进行高可靠性的分析。振幅参数Sq, Ssk, Sku, Sp, Sv, Sz, Sa功能参数Smr(c), Sdc(mr), Sk, Spk, Svk, SMr1, SMr2, Sxp体积参数Vv(p), Vvv, Vvc, Vm(p), Vmp, Vmc横向参数Sal, Str&bull LEXT OLS4100 与表面粗糙度测量仪的结果相兼容。 微细粗糙度使用接触式表面粗糙度测量仪,无法测量比探针的针尖直径更细微的表面轮廓。而OLS4100 有着微小的激光光斑直径,所以能够对微细形状进行高分辨率的粗糙度测量。 非接触式测量使用接触式表面粗糙度测量仪测量柔软的样品时,样品容易受到探针损伤而变形。另外,带有粘性的样品会粘在探针上,无法得到正确的测量结果。而非接触式的激光显微镜OLS4100,不会影响样品的表面状态,可以准确的测量样品的表面粗糙度。高分子薄膜3D 影像(上)和粗糙度测量结果(左)柔软的样品带有粘性的样品 微米级特征的测量使用接触式表面粗糙度测量仪,其探针无法进入微米级的区域,所以不能对这些区域的特征进行测量。而OLS4100 可以正确定位,能轻松测量出特定微小区域的粗糙度。焊线 高画质影像 清晰鲜明的3D 彩色影像三种类型的综合影像真彩3D 影像LEXT OLS4100 可以同时获取三种不同类型的影像信息:真彩3D 影像、激光全焦点3D 影像和高度信息影像。激光全焦点3D 影像高度信息影像 再现自然色OLS4100 采用了白色的LED 光源和高色彩保真度的CCD 照相装置以生成清晰、色彩自然的影像,所得影像可以与高级的光学显微镜相媲美。2D 彩色影像(纸张上的墨点、物镜20x)3D 彩色影像(纸张上的墨点、物镜20x) 更加真实地再现表面, 激光DIC(激光微分干涉)微分干涉观察是超越了激光显微镜的分辨率、可以观察到纳米以下微小表面轮廓的观察方法。LEXT OLS4100 通过安装在物镜上方的DIC 分光棱镜,将照明光横向分为两束光线来照射样品。获取由样品直接反射回来的两束光线的差,生成明暗对比,从而实现对微小凹凸的立体观察。LEXTOLS4100 拥有DIC 激光模式,即使是低倍率的动态观察,也能得到接近电子显微镜分辨率的影像。无DIC 的激光影像(高分子薄膜)有DIC 的激光影像(高分子薄膜) 无DIC 的激光影像(5x 物镜)高度差标准 类型 B, PTB-5, Institut fü r Mikroelektronik, Germany有DIC 的激光影像(5x 物镜)高度差标准 类型 B, PTB-5, Institut fü r Mikroelektronik, Germany, 实际高度:6 nm 亮度和对比度之间更加优化的平衡, HDR(高动态范围)影像OLS4100 的高动态范围(HDR)功能结合了多张以不同曝光率获取的光学显微镜影像,并且分别控制着亮度、对比度、纹理和饱和度,因此HDR 可以以宽动态范围处理影像。OLS4100 尤其可以对纹理不明显的样品的彩色影像进行清晰地观察。无HDR 的彩色影像(致密的织物、物镜20x、变焦1x)有HDR 的彩色影像(致密的织物、物镜20x、变焦1x)算法 稳定测量和成像环境复合减震机构为了排除来自外部的影响,稳定测量和成像,OLS4100 机座内置了由螺旋弹簧和阻尼橡胶组成的"复合减震机构"以稳定操作环境。所以,可以把OLS4100 放在普通的桌子进行测量作业,不需要专用的防震平台。 直观的GUI 实现系统化的工作流程 简易的三步流程使用LEXT OLS4100,只需将样品放置在载物台上之后即可立即开始观察/测量。由于采用了简易的三步流程&mdash &mdash 成像、测量和报表&mdash &mdash 即使用户不熟悉激光显微镜,也可以快速掌握测量的流程。 始终明白"身在何处"宏观图功能OLS4100 的宏观图功能可以以低倍率显示大范围影像,并在宏观影像上显示一个矩形观察标记。该视场可以通过拼图设置为传统视场的441 倍。当配合电动六孔物镜转换器时,宏观图功能可以对载物台移动和倍率更改实现平滑、便捷的一键操作。可以精确预设齐焦和确定物镜的中心,并可通过一键移动载物台和调整倍率进行同步。快速的宏观图拼接扫描大面积区域时有两种拼接方法可用:获取实时影像时的手动模式和快速获取影像时的自动模式。操作非常快速简单&mdash &mdash 2D 拼接只需一键操作即可开始,并且可立即获得大面积的拼接影像。自动模式下有五级拼接尺寸可用,分别为:3× 3、5× 5、7× 7、9× 9 和21× 21。对于影像上不需要的部分,可以使用简单的鼠标或控制杆操作手动删除。 用于简易3D 成像的智能扫描自动3D 影像获取传统的3D 扫描需要复杂的设置,这对新手来说非常困难。LEXT OLS4100 采用了全新的智能扫描模式,即使是初次使用的用户也只需一键操作即可快速获取3D 影像。除了上下限的设置,系统也会根据要获取的影像自动设置合适的亮度。这让即使是初次使用的用户也能获得精确的高度测量和优质的影像。3D 成像自动亮度控制平面上的亮度控制一定高度范围内的亮度控制。大大缩短了获取时间 更快的扫描速度新的超快模式获取扫描影像的速度是传统快速模式的2 倍,约是精细模式的9 倍。因此,对于那些需要非常精细的Z 轴移动和极高的放大倍率的样品,该模式就非常地适用,例如对刀具的尖端进行检测。相同时间内获取的影像数量:实际的扫描时间根据所用倍率和Z 获取范围而有所不同。 只在所需区域进行高速获取OLS4100 还配备了带宽扫描模式,用于测量有限的目标区域,测量性能比传统模式快1/8。全局扫描获取带宽扫描获取(1/8) 全新的高速拼接模式从大范围拼接影像中指定目标区域在宏观图中,要观察的区域可以从大范围的视图中进行指定。在自动模式中,通过设置最多625 幅影像的矩形拼接尺寸,可以自动生成区域图,所需的时间大约只需要通常的一半。下一步,在区域图上指定所需的影像并立即开始观察。拼接区域:方形(21× 3)63 片拼接区域:圆形(3 点) 手动指定所需的影像区域在实时模式中,通过在屏幕上跟踪所需的区域,可以手动选择要观察的区域。当观察的样品具有不规则的形状时,该功能非常实用。 快速影像拼接要使用智能扫描模式获取影像时,只需一键操作即可。由于智能扫描会自动调整Z 轴方向的设置,Z 轴方向的影像获取可以仅局限在所需的区域,因此可以在进行大范围大功率观察时节省很多时间。智能扫描模式传统获取模式 一键操作定制报表OLS4100 在测量后可使用一键操作创建报表,而且使用编辑功能可以定制各个报表模板。将测量结果复制和粘贴到Word 或表格应用程序也非常简单,就像从数据库取回所需的影像和报表一样。 目标的一键解决方案为用户设计的详细的向导功能取消了冗长的培训,让新手也能快速简单地进行操作。 产品已下架,可查看OLS系列其他产品。
    留言咨询
  • 共挤膜易撕线透气孔激光打点机传统的塑料包装,普通塑料很容易在封口处封死,在剥开及开启时需要很大的初始力,很容易将包装里物体或液体洒出,导致不必要的浪费;其次,相应的,力气较成年小许多的儿童很难自己打开一些包装,需要家长帮助,这无疑是大大的不便。使用了易撕膜后,在不影响包装密封性的情况下,消费者可以更加容易开启包装,在开启剥离过程中,用力稳定平顺,开启更轻松,不会有物体或液体洒出,可提供消费者更好的使用性能,并且该材料更适合儿童包装,在儿童开启包装时,可以给儿童提供更好的保护。设备SCM-55Y-4为4台55瓦相干(美国进口)射频管激光器,采用独立板卡分别控制或者单板卡4控(一拖4结构),符合任意4种不同产品拼版打标,互相无干扰。设备架设在喷码机、分切机、制袋机等速度质量无影响,能够有效快速的生产1进4出,从而提高生产效率。设备架设4个激光头,均可以独立控制,根据实际加工产品的数量任意调整激光头出光。机械部分可以实现多个方向调整定位,传感器(日本进口)、编码器根据生产情况要求配备,本方案配备为2-4套,满足生产过程中的准确定位和检测。设备优点:1、进口激光器 :专为工业生产的工业级激光器,更快打标速度,设备在线飞行标刻易撕线速度280-300m/min(根据工艺而定)2、进口振镜 :先进的数字技术进口扫描头,确保满足24小时长期连续高效的连班生产激光加工需求。幅面300×300mm范围内实现标刻、切割任意图形。3、进口光学器件:采用全封闭光路,高精度,更细光斑尺寸,更均匀光学质量4、高精度传感器:旋转模拟编码器(国产) 检测流水线速度;RGB传感器(日本进口) 精确高速定位飞行打标位置5、数字技术 :更精细光斑质量,抗干扰,能够长线传输。严格多重保护控制设计(电网电压欠压保护,工作电流过流保护,冷却循环水流量、水位、水温保护),6、XYZ三维支架 :三维可调工作支架,工作台面可从XY方向精密定位,标准定位孔,让操作定位简单,精确。7、模块设计 :专用控制软件,实现任意形状标刻,后期模块维护方便。适用材料PE、PVC、PET等各种薄膜材质,多层符合薄膜等表面的激光易撕线,激光透气孔等工艺。适用行业广泛应用于食品印刷包装、饮料热封标签、医药外包、日用化妆品收缩膜等多种薄膜行业的定量透气孔、易撕口、热封标签激光标刻。一个非常容易、方便整齐撕开的袋子,总会让用户有种满足的感觉,而包装袋易撕线激激光划线机就可以帮广大厂家实现这个目的,以一种更先进和灵活的技术,将微米级大小的激光能量集中在需要划线的表层上来加工,而且激光能量不会对其他膜层乃至整个膜层造成一丁点的损坏,这个过程也可以叫无磨损生产加工,并且不管是实线还是虚线,或者不同的划线形状,都可以几个按键简单实现!
    留言咨询
  • 三工精密激光调阻仪 厚膜电路激光修阻机  薄膜电阻和厚膜电阻之间的渊源:  1、膜厚的区别,厚膜电路的膜厚一般大于10μm,薄膜的膜厚小于10μm,大大多处于小于1μm   2、制造工艺的区别,厚膜电路一般采用丝网印刷工艺,薄膜电阻采用的是真空蒸发、磁控溅射等工艺方法。厚膜电阻一般精度较差,10%,5%,1%是常见精度,而薄膜电阻则可以做到0.01%万分之一精度,0.1%千分之一精度等。  同时厚膜电阻的温度系数很难控制,一般较大,同样的,薄膜电阻则可以做到非常低的温度系数,如5PPM/℃,10PPM/℃这样电阻阻值随温度变化非常小,阻值稳定可靠。所以薄膜电阻常用于各类仪器仪表,医疗器械,电源,电力设备,电子数码产品等。价格相对厚膜电阻来说会比较贵一些。  厚膜电阻还是薄膜电阻两者都需要达到一定的精度跟稳定度,只是两者的要求不一样。武汉三工精密生产的激光调阻机就解决了厚膜电阻跟薄膜电阻在精度跟稳定度上不易控制上的问题,并且具有调阻效率高、使用成本低、高自动化运行的优点。激光调阻机加工优势呢?  1、激光调阻机在加工过程中属于非接触性加工,不产生机械挤压,因此加工工件不会被破坏,聚焦的激光光束如刀具,尺寸小,热影响区域小,加工精细。  2、激光加工调阻机先进的系统应用了大量的LSI、VLSI电路,以软件操作代替硬件功能,利用激光器光束定位,分步重复及测量等系统衔接。  3、激光调阻机相对于手工换电阻、电位器调整等传统方式,其采用了高速实时测量及自动化程序控制技术,激光调阻加工时间缩短至几十毫秒,效率更高。  4、激光调阻可以满足更小器件的微调,缩小加工产品的体积,激光束可聚焦到35um甚至10um,电路微型化意味着在同样的基板上能生产出更多的产品,降低了成本。LT7130激光调阻机 设备特点  适用厚膜电路调阻,电子模块功能修调  高精度,高速度,高可靠性  订制的进口激光器,切口质量高  直线电机XY平台分步重复  矩阵测量系统,配备IEEE-488(GPIB)接口  强大软件编程功能,满足各种不同应用 LT7130激光调阻机应用行业  适用于厚膜、薄膜电阻的激光调阻,电子电路的功能修调、输出信号的修调。广泛应用于厚膜电路、汽车电子、传感器等领域。设备配置高,适合大规模量产。温馨提示:本产品不支持网上订购,产品均以实际配置计价为准,网上标价均为统一虚价,给您造成的不便还请谅解!具体价格请沟通后计算配置而定,谢谢!
    留言咨询
  • 共焦拉曼光谱仪 400-860-5168转2332
    gora 共焦拉曼光谱仪设备扩展 "即插&即用" / 3个激发波长 / 1μm 光纤共焦 gora 共焦拉曼光谱仪 采用新一代共焦平台,以 5μm 单模光纤 替代共焦针孔,可工作在衍射极限(亚微米量级)的空间分辨率。得益于 光纤共焦 的方式,gora 可以轻易地更换、扩展外部连接设备,例如不同波长激光器及探测仪器等,实现在共焦状态下的 即插&即用。最终,带来一款“灵活”的共焦拉曼光谱仪。gora 共焦拉曼光谱仪 具有以下显著特点: 1 ,1μm 共焦 gora 共焦拉曼光谱仪 采用新一代共焦平台,用 5μm 芯径光纤替代共焦针孔,提供达到优于 1μm 的点激发与点接收,满足 层析与微量分析 的要求; 2 , 3个激发波长 gora 共焦拉曼光谱仪 采用复享“Laser Hub”技术,将“3+1”路光源共轴输出,实现在同一共焦平台下 532nm、633nm、785nm 等多波长共焦拉曼激发,满足不同特性样品拉曼测试需求; 3 , Plug&Play gora 共焦拉曼光谱仪 采用成熟稳定的 “FiberPort” 平台,在保证共焦效果及效率的前提下,实现不同类型光谱功能模块的“即插&即用”,例如基于单光子技术(TCSPC)的显微荧光寿命功能的“现场升级”; 4 , Mapping 成像 gora 共焦拉曼光谱仪,将电控样品台与光谱仪进行联控,实现 自动 Mapping 成像; 5 , 10cmˉ¹ 低波数定制 针对 THz 拉曼 的测试需求,gora 可以根据用户需求进行定制,采用 低波数陷波器,提供 10cmˉ¹ 的有效起始波数,满足用户对超低频率拉曼测试要求。注:以上参数如有差异,以官网为准。
    留言咨询
  • RTS2激光共聚焦显微拉曼光谱系统RTS-II 多功能激光共聚焦显微拉曼光谱系统,基于新一代显微共焦技术,具有良好扩展性,可根据需求拓展为以拉曼为主要功能的显微光谱工作站,是您科学研究的最佳选择!RTS2激光共聚焦显微拉曼光谱系统特点:l 采用紧凑稳定的拉曼光路,减小光程,提高系统稳定度和重复性l 内置532,638,785常用激光器,激光光路固化无需切换和调节l 可扩展第四路单模光纤激光器l 提供空间自由光路耦合和光纤针孔共聚焦耦合两种光路任意切换,自由光路提供高灵敏度,光纤针孔共聚焦提供高纵向分辨率l 采用未经任何改造的科研级正置显微镜,可保证显微镜一切功能不受影响l 采用最新的四光栅光谱仪,专利的自动聚焦,在轴扫描,TruRes等多项最新专利技术l 采用深制冷的拉曼专用光谱CCD相机,峰值量子效率QE90%。并可扩展EMCCD,PMT等探测器,扩展系统功能l 采用超高精度电动平台,提供2D Mapping功能 RTS2激光共聚焦显微拉曼光谱系统配置参数激光器内置532nm DPSS单纵摸激光器,TEM00,100mW。内置638,785可选外置单模光纤耦合光纤激光器显微镜研究级正置显微镜,10X,100X物镜,50X长焦物镜,手动载物台,电动台可选光谱仪328mm焦长,1800,600,150三块光栅,第四块光栅可选探测器:2000x256芯片格式,拉曼专用红外增强科学级光谱CCD (BR-DD)共焦方式:狭缝---CCD共焦,光纤针孔共聚焦可选光谱分辨率(cm-1)1.5Raman Mapping空间分辨率:水平方向(XY)1um,竖直方向(Z)2um (100X物镜,光纤针孔共焦模式) RTS2 单模光纤输入口 RTS2自由光路和光纤针孔共聚焦光路任意切换 328mm焦长四光栅谱仪硅三阶峰信噪比20:1 可选装10cm-1超低波数附件,样品:胱氨酸 可升级暗场散射光谱功能 可升级原位2D PL,Raman Mapping功能,1um空间分辨率
    留言咨询
  • 武汉三工服装面料激光打标机 雕刻切割设备三工激光服装激光烧花机的特点:服装激光烧花机,选用原装进口二氧化碳射频激光器、动态聚焦系统。可在牛仔布上雕刻任意花纹,幅面600mm*600mm~2200mm*无限长可自由选择。形成类似水洗效果,同时该设备还可兼容位图,任何一张jpg图片经过少量加工后即可用于雕刻,相较于传统工艺,该设备具有加工速度快、加工一致性好、无污染等特点。广泛应用于皮革、鞋料、牛仔、无纺布、布料等镭射、烧花、雕刻、切割、打孔、打码、喷码等。激光烧花机不仅节省了传统上下料的时间,减少了工序,更节约了人工和成本,产品品质也较传统加工方式大为提升。激光烧花机的诞生可以说是市场竞争和激光应用技术不断进步的结果,不仅开启了纺织服装激光应用的新时代,更顺应了国家政策和行业发展的潮流。它的成功应用必将对纺织服装业的产业结构升级、生产流程优化、节能降耗以及增长方式的转变产生积极而深远的影响。 服装布料烧花工作原理:服装烧花的工作原理是通过CO2激光管发射出高强度激光,由先进激光光路系统,在各种布匹面料上雕花打孔,创造出时尚、引领潮流的效果来。激光烧花是根据服装面料的底色来处理的,具有层次感的过渡颜色,具有独特的、自然的、质朴的风格。激光烧花,主要于服装,家纺,家饰等行业,适用于皮革、牛仔布、布料等。布料激光切割机定位问题:高像素高精度视觉识别,视野范围大,尤其适合对各种非金属材料比如纸品及有色图案,进行自动识别定位切割,目前幅面可达两米多。全自动摄像定位切割,可任意角度、大面积摄像定位雕刻切割。雕刻切割、无焦边、无黄边。系统轻巧,节省空间,操作简单。高性能激光管,完善的光学系统,激光功率稳定,寿命长。武汉三工激光布料激光雕花机,欢迎广大客户咨询订购,我们有专业的技术支持,雄厚的资金做保障,我司可提供免费试样,让您买着放心! 因同一款机型有可能有多款子机型,各子机型相关配置不一,客户也可能有个性化的需求,所以无法对产品进行报价。如需全面的机型介绍,机型报价,或者需要专业的技术咨询,请联系我,我们为广大客户提供免费打样试机的机会,另提供免费视频,图片供其欣赏!
    留言咨询
  • HORIBA Scientific从事光学研发200年,其中拉曼光谱仪的研发与制造长达60多年,凭借法国长期以来的光学设计人才优势与全心全意为客户服务的企业理念,HORIBA Scientific不断地拉曼光谱技术的发展,2019年LabRAM Odyssey高速高分辨显微共焦拉曼光谱仪应运而生。LabRAM Odyssey同时适用于光谱和成像,具有800mm焦长的高光谱分辨率低杂散光光谱仪保证光谱数据的准确性和重复性,一系列针对拉曼光谱成像的新技术引入,大地提升了LabRAM Odyssey的拉曼光谱成像的质量和速度,新型成像算法可以在纷繁复杂的大数据中提炼出有用的光谱信息。独特的高效率反射式共焦光路,配合连续可调共焦针孔,满足全光谱范围200-2200nm抑制杂散光,三维空间滤波,无需任何人工调节工作,全自动化共焦设计保证客户快速准确地获得高信噪比光谱和成像。LabRAM Odyssey继承了LabRAM HR Evolution的全部优点,扩展性强使得每一台LabRAM Odyssey都是一台定制化的显微拉曼光谱系统,尤其满足分析测试平台样品种类多,测试条件变化多,测试速度要求快速准确等需求。LabRAM Odyssey创新性地引入全反射概念,从物镜,耦合光路,光谱仪均采用反射镜组成,从仪器基础设计出发实现真正意义上的消色差,提出紫外灵敏度测试指标,满足全光谱范围内的高灵敏度测试要求。LabRAM Odyssey具有多种特色全新技术,等待您的发掘!1多激发波长 支持深紫外到近红外全波段 自由光路耦合或光纤耦合 支持多达4路全自动切换激发波长2双共焦耦合系统 全反射式共焦光路 消色差,全光谱覆盖 三维空间滤波 全自动切换双共焦光路 内置真实存在的机械共焦针孔,非狭缝虚拟3800mm焦长光谱仪 低杂散光适合弱信号长时间曝光 消色差像散,采用超环面镜,平场校正 全光谱覆盖,光谱仪内无透镜 超高光谱分辨率,低至0.35cm-14高灵敏探测器提供多达4个探测器的耦合接口,满足稳态和瞬态光谱的测试要求超快速共焦成像&bull DuoScanTM成像技术:基于kHz振镜扫描技术,实现物镜+样品双重固定,激光光斑扫描样品表面,具有宽光谱、超快速、高稳定、时间分辨等特点。&bull SWIFTTM模块:是将LabRAM Odyssey的高光通量及优化的检测器-平台同步相结合,以实现超快速共焦拉曼成像。即使采集一个宏观尺度的高分辨成像也可在几秒内完成。&bull Repetitive SWIFTTM信噪比增强快速成像技术:实现持续改进成像信噪比,无需多次重复寻找实验条件。&bull SWIFTTM XR多窗口扩展快速成像技术:同时实现高光谱分辨率和宽光谱范围成像,采用HORIBA独有的多窗口拼接技术,自动拼接多次快速成像,实现高分辨光谱和宽光谱范围的完美统一。高空间分辨率真正针孔共焦技术,区别于简单的狭缝共焦,实现三维空间滤波,高杂散光抑制率,空间分辨率可达250nm独特的全反射式共焦技术,全光谱消色差,支持200-2100nm光谱测量高光谱分辨率800mm焦长的单级光谱仪,使得 LabRAM Odyssey成为市场上光谱分辨率较高的单级拉曼光谱仪。800mm的焦长使得精细样品信息,如:结晶度、多晶型、应力、氢键和其它谱带形状的特征分析变得简单化。高光谱分辨率+高重复性,使得苛刻的实验成为了可能,保证拉曼峰位频移的数据可靠性,和低的系统误差引入。从紫外到近红外全光谱检测LabRAM Odyssey是一款深紫外到近红外全光谱覆盖的消色差高分辨光谱仪,使用多激光及多探测器,检测范围可达200nm~2100nm。实现近红外区域的光致发光测试,包括带隙检测、重组机理监测和材料质量控制。不受样品和分析环境的限制HORIBA Scientific可为您提供拉曼优化研究级光学显微镜。开放式显微镜在物镜下方提供自由空间,适合放置各种大附件,如液氦冷台、催化样品池及自设计特殊样品池等。透射拉曼附件可提供样品整体分析,适合不透明/浑浊的材料,如药片含量的一致性或多晶型。SuperHead光纤探头可实现远程测量,进行原位反应监测或在线分析。超低波数模块HORIBA Scientific 的 LabRAM Odyssey 可使低波数检测低至 3.5 cm-1*。新一代的体布拉格光栅具有非常窄的谱带宽度,以确保单级拉曼光谱仪中超低波数的简单方便、快速高灵敏度检测前沿应用生命科学LabRAM Odyssey为生命科学提供了新的表征方法。如:疾病诊断、皮肤分析、细胞筛选、化妆品、微生物、蛋白质研究、药物交互作用及其它。药物拉曼光谱的高信息含量可以帮助研究人员和质控人员更深入地了解原材料及产品的性能及质量。如:活性药物成分(API)和赋形剂成像和表征、晶型鉴定、相态检测、药物逆向工程、药物一致性评价等。二维材料LabRAM Odyssey提供全部的二维材料光谱表征技术,包括拉曼光谱及成像,光致发光光谱及成像,反射光谱及成像,光电流成像,二次或多次谐波及成像,低温、高压、强磁场等端条件下二维材料的光谱及成像。半导体半导体材料的拉曼和光致发光(PL)研究可为专家提供成分组成及各成分属性的重要信息。如:压力/张力检测、合金成分、超薄覆盖层表征、刻蚀芯片结构成像、带隙分析等。技术指标光谱仪光谱仪焦长800mm光谱分辨率0.35cm-1 - 0.65cm-1重复性±0.02cm-1光谱仪设计方式非对称反射式,全光谱范围消色差校像散光谱采集模式包括单窗口信号采集(同时谱),多窗口连续信号采集(宽光谱快速无缝接谱),多窗口断续信号采集(高低阈值一次采集)和连续扫描信号采集(大范围平滑光谱)共焦共焦方式机械针孔共焦(三维空间滤波) 激光光路:固定尺寸针孔 拉曼光路:10-1000μm连续可调针孔共焦光路内置2个共焦光路,自动切换 独立优化可见光路400-700nm和消色差反射光路:200-2100nm激光光路激光光路独立优化,多支持6路自动切换滤光片切换支持4路自动切换滤光片角度调节软件控制自动低波数50cm-1(可见);150cm-1(紫外);10cm-1(可选)成像XYZ自动平台步进10nm(开环),步进50nm(闭环)闭环反馈精度50nm振镜扫描50nm步进,kHz扫描频率实时聚焦支持三种反馈模式:激光,白光和拉曼信号强度反馈表面粗糙样品成像EasyNav表面形貌ViewSharpTM自动化激发波长支持4路激发波长全自动切换,含紫外光路准直内置红光光源光路准直器自动校准软件控制自动校准其他远程自动优化,自动批处理,自动曝光,自动荧光校正等
    留言咨询
  • Nanoscope Systems NS3800三维激光共聚焦显微镜NS-3800是一种可靠的三维(3D)测量高速共焦激光扫描显微镜(CLSM)。通过快速光学扫描模块和信号处理算法实现实时共焦显微图像。在测量和检测微观三维结构,如半导体晶片,FPD产品,MEMS设备,玻璃基板,材料表面等方面提供多样化的解决方案。Features & Benefits(性能及优势):高分辨无损伤光学3D测量 自动倾斜补偿实时共焦成像 简单的数据分析模式多种光学变焦 双Z扫描大范围拼接 半透明基材的特征检测实时CCD明场和共聚焦成像 无样品准备自动聚焦Application field(应用领域):NS-3500是测量低维材料的有前途的解决方案。可测量微米和亚微米结构的高度,宽度,角度,面积和体积,例如-半导体:IC图形,凹凸高度,线圈高度,缺陷检测,CMP工艺- FPD产品:触摸屏屏幕检测,ITO图案,LCD柱间距高度- MEMS器件:结构三维轮廓,表面粗糙度,MEMS图形-玻璃表面:薄膜太阳能电池,太阳能电池纹理,激光图案-材料研究:模具表面检测,粗糙度,裂纹分析Dimension(尺寸):Specification (规格):ModelMicroscope NS-3800备注物镜倍率10x20x50x100x观察/ 测量范围 水平 (H): μm1400700280140垂直 (V): μm1050525210105工作范围: mm16.53.10.540.3数值孔径(N.A.)0.300.460.800.95光学变焦x1 to x6总放大倍率178x to 26700x观察/测量光学系统 Pinhole共聚焦光学系统高度测量测量扫描范围Fine scan : 100 μm (and/or) Long scan : 7 mm [NS-3800L]注 1Fine scan : 400 μm (and/or) Long scan : 10 mm [NS-3800D]Fine scan : 200 μm (and/or) Long scan : 10 mm [NS-3800T]显示分辨率0.001 μm重复率 σ0.010 μm注 2宽度测量显示分辨率0.001 μm重复率 3σ0.02 μm注 3帧记忆像素1024x768, 1024x384, 1024x192, 1024x96单色图像12 bit彩色图像8-bit for RGB each高度测量16 bit帧速率表面扫描20 Hz to 160 Hz线扫描~8 kHz自动功能自动增益激光共焦测量光源波长405nm输出~2mW激光等级Class 3b激光接收元件PMT (光电倍增管)光学观察光源灯10W LED光学观察照相机成像元件1/2” 彩色图像 CCD 传感器记录分辨率640x480自动调整增益, 快门速度, White balance数据处理单元PC电源电压100 to 240 VAC, 50/60 Hz电流500 VA max.重量显微镜Approx. ~50 kg(Measuring head unit : ~12 kg)控制器~8 kg隔振系统气浮隔振系统Option
    留言咨询
  • 性价比高的激光调阻机 三工精密国产调阻仪 LT5110激光调阻机设备特点  高性价比机型,适用厚膜电路调阻,电子模块功能修调  半导体端面泵浦光纤藕合固体激光器  步进或伺服电机、丝杠XY平台分步重复  消色差成像技术  强大软件编程功能,满足各种不同应用  大理石台面,机台稳定性好 LT5110激光调阻机应用行业  适用于厚膜电阻的激光调阻,电子电路的功能修调、输出信号的修调。广泛应用于厚膜电路、汽车电子、传感器等领域。设备功能强,性价比高。LT5110激光调阻机技术参数表 三工精密激光调阻机设备亮点介绍  调阻效率高:调阻速度相对国内其它激光调阻产品高出4-10倍,产能大大提升,单位成本下降。  调阻精度高:独特的测控技术,测量控制系统精度的一致性好,提升产品附加值 成品率高,单位成本下降。  软件可编程:可轻松实现客户的不同需求以及高自动化运行,也可作为专门的测试平台,适应性广。  使用成本低:采用了先进的激光器,无耗材,使用成本低,长期使用节约大量的费用。  多功能:可实现陶瓷基片的激光划线、打标,减少设备的再投入。  专业大理石基座,可有效减小工作台启动、停止和加速过程中产生的震动,同时保持机台温度的稳定性,可靠性高。  可定制:在电路功能修调方面由于应用行业多样化,相对要求也多样化,对设备的整体要求要高些,有时标准型激光调阻机不能直接满足使用要求,但武汉三工精密的激光调阻机产品属于自主开发,特别是核心的测控系统,能为各种不同的客户提供定制化服务,满足不同客户的需求。温馨提示:本产品不支持网上订购,产品均以实际配置计价为准,网上标价均为统一虚价,给您造成的不便还请谅解!具体价格请沟通后计算配置而定,谢谢!
    留言咨询
  • 武汉三工精密激光调阻机 适合大批量加工激光调阻工艺优势修调精度高——提升待加工产品的精度  例如初始值为72Ω、82Ω、89Ω等不同阻值电阻经过激光调阻后,可全部使其达到设定目标值(例如100Ω);在功能调应用场合,一些电子模块不管你初始输出值是类似3.8V或者6.2V等不同参数,使用激光调阻机也可快速修调至需要的目标值(例如5V)。修调速度快——拥有更高的产能  相对于其它一些调整工艺,例如手工换电阻、电位器调整等方式,激光调阻由于采用了高速实时测量及自动化程序控制等技术,一个电阻的激光调阻加工时间只要几十毫秒,比其它调阻方式高出几倍甚至十几倍,减少了大量的人工成本,特别在批量生产时拥有很大优势。能够满足更小器件的生产需要——缩小加工产品体积  如今对电路微型化要求是越来越高,特别是消费电子领域,由于激光加工时激光束可聚焦到35um甚至10um,某些微型电路只能采用激光调阻工艺才能解决,其它的工艺则无能为力。同时,微型化意味着在同样的基板上能生产出更多的产品,降低了产品的单位成本。自动化多功能的测试平台  激光调阻机不仅仅能实现产品的调阻功能,在实际应用过程中它更是一台多功能的测试平台,可对整体调阻产品实现自动测试、选择性调阻、不合格品标定、数据分析等,为用户在产品生产过程中提供了强有力的支持。可靠性好,自动化程度高  激光调阻机采用了专用激光器,调阻后切口稳定性好,阻值几乎无漂移,保证了产品调阻后的稳定性。同时可配备自动上下料工装,实现激光调阻环节全自动化。 LT7130激光调阻机 设备特点  适用厚膜电路调阻,电子模块功能修调  高精度,高速度,高可靠性  订制的进口激光器,切口质量高  直线电机XY平台分步重复  矩阵测量系统,配备IEEE-488(GPIB)接口  强大软件编程功能,满足各种不同应用  三工LT7130激光调阻机解决方案如下:  待调阻产品放入工作台上定位,启动激光调阻  XY工作台运动至调阻工位,启动探针压紧  计算机控制电源供电+-15V,测量输出电压  判断输出电压正、负,如果正电压,激光定位对应电阻R1,如果负电压,激光定位对应电阻R2  激光切割电阻调阻,输出电压调整至-0.005——0.005之间。  计算机控制25A电流输出,测量输出电压  激光定位对应电阻R3,切割电阻调阻,输出电压调整至3.99-4.01V  计算机关闭25A电流输出,再次测量零位并调阻至-0.005——0.005之间  计算机关闭电源供电+-15V,探针松开,XY工作运动至下料区域完成 LT7130激光调阻机应用行业  适用于厚膜、薄膜电阻的激光调阻,电子电路的功能修调、输出信号的修调。广泛应用于厚膜电路、汽车电子、传感器等领域。设备配置高,适合大规模量产。温馨提示:本产品不支持网上订购,产品均以实际配置计价为准,网上标价均为统一虚价,给您造成的不便还请谅解!具体价格请沟通后计算配置而定,谢谢!
    留言咨询
  • C1si是一款革命性的真实光谱成像激光共聚焦显微镜。它具有令人惊叹的高性能,单次拍摄即可获取32个通道的荧光全光谱数据,带宽可达350nm。 C1si能够方便地在光谱成像模式和标准成像模式之间快速切换,使其应用范围极其广泛。通过对不同荧光标记所发出的重叠光谱进行拆分,C1si能够显著的改善对活体细胞的动态观察,并且更易于获取详细的精确数据。C1si技术领先、通用性强、扩展性高、升级方便,是一款特别适合大型综合科研平台使用的激光共聚焦显微镜。 § 速度――显著减少了图像拍摄时间,同时拍摄32个通道的光谱图像(尼康独创) § 精度――真正的光谱图像,获取实际的荧光颜色,出色的误差及偏差校正能力(尼康独创) § 亮度――设计了专用的光路和信号处理系统,可高效地捕捉荧光光子,具备偏光控制技术的光谱探测器(尼康独创) § 易用性――轻松获取光谱图像 § &ldquo 可编程的荧光阻挡滤光片&rdquo § 轻松对光谱图像进行动态拍摄 § 极佳的多功能性 § 模块化设计 (1) 速度――显著减少了图像拍摄时间 ۞ 同时拍摄32个通道的光谱图像(尼康独创) C1si采用32通道多阳极PMT,这在所有同类厂家的共聚焦显微镜中是最多的;并采用了多个高速数字转换电路以及LVDS(低压差分信号)高速串行传输技术等创新技术,通过一次扫描即可获取完整的32个通道的光谱图像。这能够显著减少成像时间,从而可以实现光谱实时观察。 ۞ 一步可获得320nm范围的光谱 可以将波长分辨率高为2.5、5以及10nm。分辨率设为10nm时,一次扫描即可获取完整的320nm范围内的光谱,这种能力是先前的光谱成像系统无法比拟的。 ۞ 对活体细胞伤害较小 仅使用一次激光扫描便能获取较广波长范围内的光谱图像,从而使激光强度和PMT增益的调节过程变得简单,快速。同时也极大的降低了激光对标本的照射时间,从而将荧光漂白及标本损害降至最低。C1si 光谱成像系统对活体细胞和组织的伤害非常小! (2) 精度――真正的光谱图像   ۞ 获取实际的荧光颜色 获取的光谱具有高度的可靠性和精确度,因此能够检测到荧光光谱的峰值波长以及光谱形状的差异,既可以用伪彩色模式显示细微结构,也可以用真彩色模式进行观察。   ۞ 出色的误差及偏差校正能力(尼康独创) 使用高精度矫正技术确保光谱的精度,这些技术包括使用发射谱线进行波长校正以及利用NIST(美国标准技术研究院)可溯光源进行发光度校正。 同时,采用多阳极PMT灵敏度矫正技术(尼康独创)可以对每个通道的灵敏度误差以及波长透射属性进行矫正,这样研究人员便可以将设备间的测量误差和偏差降至最低。   ۞ 高波长分辨率(尼康独创) 波长分辨率可达到2.5nm,共有三种分辨率可选(2.5、5、10nm)且分辨率不受针孔大小影响。 (3) 亮度――设计了专用的光路和信号处理系统,可高效地捕捉荧光光子 ۞ 具备偏光控制技术的光谱探测器(尼康独创) C1si的光谱探测器中采用了尼康具有专利的DEES(衍射效率增强系统)进行偏光控制,使衍射效率增强50%,极大提高了亮度。通过对齐光的偏振方向,优化了衍射光栅的效率,从而获得了极佳亮度的图像。尤其是增加了长波长范围内的衍射效率,从而提高了整个可见光范围内光谱数据的亮度和线性。   ۞ 多阳极PMT 光谱成像探测器采用最新研发的激光屏蔽机构。不管采用哪种光谱分辨率、哪个激光管,此机构可以有效的阻挡反射后遗漏的激光,这使得C1si几乎适合使用所有类型的激光。   ۞ 高效荧光传输技术(尼康独创) 荧光光纤的端部和探测器表面,使用具有专利技术的防反射涂层,可将信号损失降至最低,极大提高了光的传输效率。   ۞ 双积分信号处理技术(尼康独创) 最新研发的DISP(双积分信号处理)技术已经在图像处理电路中采用,以便提高电路效率,防止在模数转换时发生信号损耗。信号在整个像素时间内都被采集,从而获得了更完整的数据,增强了信号,提高了信噪比。 (4) 易用性――轻松获取光谱图像   ۞ 快速切换探测器模式 只需打开扫描头上的开关即可从标准共聚焦成像切换至光谱共聚焦成像;EZ-C1软件的界面能够自动切换。   ۞ 快速设定参数 光谱探测器的每个参数都可以使用鼠标操作菜单轻松的进行设定,如激光波 长、波长分辩率或者拍摄的波长范围。设定好参数后,即可使用共用的成 像步骤执行光谱成像。您可以保存参数配置文件以备日后使用。Binning功能可以增加亮度。因此,确定目标区域时,用户可以降低激光的强度以减少对标本的伤害。   ۞ 一次单击即可获取光谱共聚焦图像 一旦完成光谱探测器的设定,即可通过单击"Start"(开始)按钮获取光谱共焦图像。   ۞ 一次单击即可拆分荧光 即便不指定参考光谱,而只在图像内确定ROI(感兴趣区域)并且单击"Simple Unmixing" (简单分离)按钮也可拆分荧光光谱。当您希望指定拆分""后每个荧光探针将显示的颜色时,请使用"Unmixing"(拆分)按钮。C1si包含一个内置的荧光探针生产商提供的光谱数据库,它可被指定为荧光拆分时的参考光谱。用户也可以将新的荧光探针的光谱信息添加至数据库。
    留言咨询
  • 一、产品概述:共焦拉曼光谱仪是一种高精度的分析仪器,结合了共焦显微技术和拉曼光谱技术,能够对材料的分子结构、成分和化学性质进行非破坏性分析。它广泛应用于化学、材料科学、生物医学等领域,特别适合于微小样品或复杂样品的研究。二、设备用途/原理:设备用途共焦拉曼光谱仪主要用于材料的化学成分分析、相分布研究、薄膜和涂层的表征,以及生物样品的分子成分检测。它能够提供高空间分辨率和高光谱分辨率的信息,有助于研究人员深入理解样品的微观特性。工作原理共焦拉曼光谱仪的工作原理基于拉曼散射现象。当激光照射到样品表面时,样品中的分子会散射光并发生频率变化,形成拉曼散射光。通过共焦光学系统,仪器能够仅选择样品的特定焦点区域进行分析,从而消除背景噪声并提高信号强度。收集到的拉曼信号经过光谱分析,能够提供关于样品分子振动模式的信息,帮助识别材料的化学成分和结构特征。三、主要技术指标:系统功能:快速获得详细的图像和分析,非常适合于微观和宏观测量,提供先进的二维和三维共聚焦成像能力。LabRAM Odyssey&trade 具有高性能和直观的简易性,广泛用于标准拉曼分析、光致发光(PL)、 针尖增强拉曼光谱 (TERS) 和其他联用分析方法。通过简单的AFM 升级,从微米尺度转向纳米光学世界。
    留言咨询
  • 激光共聚焦显微镜 400-860-5168转1679
    仪器简介:来自奥林巴斯的3D测量激光显微镜OLS4100广泛应用于不同行业的质量控制,研究和开发过程,它在激光显微领域树立了全新的标准。该产品不但可以让测量更加快速、简单,而且可以拍摄到画质更高的影像,大大突破了激光显微镜的界限。 特征及优势:· 非接触式、无损、快速成像和测量· 405nm短波长激光和更高数值孔径的物镜,其平面(XY方向)分辨达0.12&mu m,高度(Z方向)分辨率达10nm· 采用双共焦系统,结合高灵敏度的探测器,具有不同反射率材料的样品也可以获得鲜明的影像· 全新的多层模式可实现透明样品表面的观测和测量,而且可以对多层透明样品的各层进行分析和厚度测量。· 更多的测量类型,7种测量模式提供更多的选择· 拥有DIC激光模式(激光微分干涉),能够得到接近电子显微镜分辨率的影像,实现对微小凹凸的立体观察· 具有宏观图功能,让你明白&ldquo 始终身在何处&rdquo · 图像拼接功能,不但可以形成更大范围的宏观图,还可以通过此功能手动指定所需的影像区域· 操作更加简单,可一键操作创建报表· 内置由螺旋弹簧和阻尼橡胶组成的&ldquo 复合减震机构&rdquo 一稳定操作环境,可在普通的桌子上进行测量作业,无需专用的防震平台· 是业界首次保证&ldquo 正确性&rdquo 和&ldquo 重复性&rdquo 的激光扫描显微镜应用实例半导体1、晶圆突起 2、导光板 3、芯片焊点 4、导光板激光点电子元件/MEMS1、光掩版 2、微透镜 3、柔性电路板接触点 4、MEMS原材料/金属加工1、电镀金刚石工具 2、碳精棒 3、极细管 4、胶带5、砂纸#400(3D) 6、砂纸#400(2D) 7、致密织物(3D)
    留言咨询
  • RTS系列拉曼光谱仪RTS-II多功能激光共聚焦显微拉曼光谱系统RTS-II 多功能激光共聚焦显微拉曼光谱系统,基于新一代显微共焦技术,具有良好扩展性,可根据需求拓展为以拉曼为主要功能的显微光谱工作站,是您科学研究的最佳选择 ! 采用未经任何改造的科研级正置Leica显微镜,可保留显微镜一切功能 采用紧凑稳定的拉曼光路,减小光程,提高系统稳定度和重复性 内置532,638,785常用激光器,激光光路固定无需调节,可外置扩展其他激光器 采用最新的四光栅光谱仪,专利的自动聚焦,在轴扫描等多项最新技术 采用深制冷的拉曼专用光谱CCD相机,峰值量子效率QE90%。并可扩展EMCCD,ICCD,SCMOS, InGaAs阵列,PMT等探测器,扩展系统功能RTS-II多功能激光共聚焦显微拉曼光谱系统功能扩展: 显微共振拉曼可在标准RTS-II 系统基础上,通过升级可调谐的CW 激光器(调谐范围275- 1100nm),升级光谱仪为三级联谱仪,可实现真正意义上的可调谐显微共振拉曼 时间分辨光谱系统可扩展与低重频皮秒及纳秒激光器+ICCD 联用,实现微区时间分辨荧光光谱及瞬态拉曼功能利用ICCD 独有的fast kinectic 功能,可以对不可重复的现象进行最快25000 帧/ 秒的采集速度,获得约40us 的时间分辨率 宽场显微光谱由于显微镜可以保留所有原始功能,因此只要在标准的RTS-II 系统上升级即可实现如暗场散射,微区透射反射谱等功能。TCSPC 系统可扩展与可调谐超连续白光激光或高重频皮秒/ 飞秒激光联用,实现微区荧光寿命及FLIM定制类服务开放式显微镜,正置+ 倒置显微镜利用倒置显微镜的无限远光路,可以实现正置和倒置共用同一个光路可以在标准倒置显微镜的基础上升级正置部分,做到双向激发双向收集,适用于光波导传输特性对的研究多功能激光共聚焦显微拉曼光谱系统升级服务开放式的设计可以满足基于客户的显微镜升级为RTS-II 的需求开放式的设计可以满足基于客户的光谱仪升级为RTS-II 的需求RTS-mini 一体式拉曼机顶盒RTS-mini 是我司最新研发的光纤耦合的共聚焦拉曼系统。与RTS-II 共享光谱仪配置, 采用激光器内置,光纤耦合入光谱仪的方式,提高系统的灵活性。并可与样品无法移动的实验环境,如低温探针台,DSC 等能极其便利的耦合起来。小巧的体积可用于手套箱,工业在线监测等应用。另外由于配置了标准的接口,可与任何主流正置显微镜搭配,做共聚焦显微升级,可获得同样的性能。测试实例:硅样品, 减背底的三阶峰拉曼光谱图,计算信噪比:62.9:1 测试实例:硫样品; 测试条件:镜头下激光功率;10mw,积分时间,0.1s
    留言咨询
  • 激光共聚焦显微镜在样品表面同时逐点或多点扫描成像。使您可以在 x、y 和 z 轴上获得高对比度与高分辨率的光学切片。能够为生命科学领域的定量成像提供出色的图像质量。主要特点:l 高分辨率:XY方向上的分辨率可达到200nm,Z向分辨率可达330nml 多通道信号检测:支持多通道同时扫描以及分时扫描l 高分辨率:可达8192 x 8192l 超强适配性:采用了标准显微镜镜体,并支持已有显微镜的升级。主要技术参数:CM4000系列共焦显微成像系统激光光源405 纳米(50mW);488 纳米(50mW);561 纳米(50mW);640 纳米(50mW);模拟/TTL电平调制;强度可调(0-100%);单模光纤,FC/PC 连接器。分辨率XY方向上的分辨率可达到200nm,Z向分辨率可达330nm扫描参数双轴XY高速光学扫描振镜扫描像素: 8192 x 8192 pixels扫描速度: 4fps(512x512,双向),24fps(512 x 32,双向)扫描模式X-Y,X-Z,Y-Z,X-Y-Z,X-Y-Z-T
    留言咨询
  • 三工皮鞋皮革激光工艺打孔机皮革产品的一个大类。用较大而厚重的原料皮制革的革;主要是牛皮和猪皮。多采用植物鞣,也有铬植结合鞣的。商业上按重量出售。加工过程不同于轻革,大多不需酶软及浸酸,鞣制后一般不染色也不涂饰,只经加油及滚压等工序。成革比较厚重坚实,如鞋底革、装具革等,轮带革则要求抗张强度大、延伸率小,柔韧。激光打标机,是以激光作为光源加工的激光设备,高能量、高密度的激光束能够快速、高效、稳定地切割材料。皮革也是激光打标机应用的一大行业。三工光电自主研发和生产制造的SCM-2000自面世后,便获得用户的青睐。这款设备既可以在皮革上烧花雕刻图案,也可以镂空冲孔切割,雕刻速度极快,在皮革行业尤其是鞋材加工行业颇受好评。众所周知,激光加工速度快,成本低廉,由软硬件组成,是一种数字化和自动化技术。在制鞋领域可以实现鞋面镂空、打标、切割,内里、中底板等辅料切割,鞋底脚垫切割和打标,几乎涵盖所有材料切割应用。只是在设备和功能选择上,鞋厂各有所需和侧重点。手工在皮革上雕花既费时人力成本又高,不划算。传统的压花机花色单一加工时间慢,不能满足现代化的市场需求。人们迫切的需要找到一个新的突破口来使皮革雕花加工能跟得上时代的步伐和人们的审美眼光。于是有人提出用激光--这个新型的高科技产品来对皮革进行加工,事实证明用激光来加工皮革确实是一个明智的选择,皮革激光雕花机可对皮革进行雕花、切割、打孔等加工工艺。不仅速度比传统压花机要快,而且用激光来加工皮革也大大降低了一些机械式加工工具在加工中对皮造成的损坏或者一些其他因素导致的伤害最终使加工完后不能成为一件优质的皮革成品。日常生活的种种物品都爱用皮革,而皮革的总消费量有一半以上适用来做皮鞋材料。其次,提包、夹袋、运动器具、衣服、皮带、工业用途等都持续的使用皮革。但是依流行和其它的因素,每年这种需要量并不一定。而皮雕用的皮革需要亮虽急速增加、但整体看来确实是一点点而已。这些雕刻皮大部分是牛皮,占了皮革原料的7~8成。
    留言咨询
  • Leica SD AFLeica SD AF快速转盘激光共聚焦系统囊括了Leica光学系统、Yokogawa转盘技术和生产的Leica MM AF软件。这些组件集成在一起,并得利于Leica在共焦和宽视野成像方面的经验,形成了适用于活细胞观察的高速共焦光切和3D重建的解决方案。 为您带来的优势 无与伦比的影像质量405nm的激光下也能获得与Leica光学元件一致的优异图像质量。Leica特有的高级校正系统(ACS)技术用来校正色差,在各种波长之下形成同等优异质量的影像。Leica SDAF 给出的CFP和DAPI活细胞图像是无与伦比的。在同一个Z平面可以准确地进行解笼锁(uncage), 光活化(Photo activate), 光开关(photo switch)或光漂白(bleach)等应用。改善了共焦性和同质性Leica显微镜上使用了优化的转盘头,即使放大倍数较低也能看到更多细节。由于照明亮度均匀,因此整个观察视野都能得到相似的量化结果。利用水浸物镜进行长期活细胞观察使用水浸物镜可以在Z轴获得最高的分辨率和对比度。使用自动加水设备,保证移入样本后对比度不会下降。无对焦错误。运动过程中水膜不会破裂。了解更多灵活的系统配置Leica SD AF转盘激光共聚焦可以与正置,倒置和固定物台显微镜配合使用。 保持对焦使用带有自适应对焦控制功能的Leica DMI6000 B 能够长时间始终保持样本的对焦。
    留言咨询
  • C2+共聚焦显微镜是尼康共聚焦产品系列中的一个基本型号。C2+被设计为实验室必不可少的显微镜工具,提供强大而精准的成像能力。高效率的扫描头和检测器与尼康无与伦比的光学元件相结合,可提供出众的共焦图像。高速检流式扫描振镜能以高达100 fps(8倍变焦或更大)的速率运行,可以精确捕捉心肌的快速跳动。该系统可以在一次扫描中同时采集多色荧光和DIC图像。对于需要光谱成像功能的研究,尼康的C2si+系统还提供了专用的光谱检测器单元。C2si+系统可实现高精度和高速32通道光谱成像或高灵敏度光谱成像。C2+共焦系统以卓越的稳定性和操作简便性为基础,结合卓越的光学技术,是必不可少的实验室工具。『高速采集高清图像』检流式高速扫描能够对活细胞中的快速动态事件进行共焦成像,例如心肌细胞的跳动。在传统的共焦系统中,快速双向扫描会导致像素偏移。然而,C2+共焦系统的像素偏移校正机制确保即使在快速双向扫描下也能获得最高质量的图像。▲用 Fluo-8 AM 和 MitoTrackerOrange 标记的大鼠原代心肌细胞用组胺刺激(15 fps)『高画质的图像』◣高效率的扫描头和探测器凭借便捷的小尺寸扫描头,C2+可与各种类型的尼康显微镜配合使用。C2+采用高精度镜面和光学优越的圆形针孔,将检测器分开,隔离热源和噪音源,实现低噪音、高对比度和高质量共焦成像。新开发的扫描驱动系统和尼康独特的图像校正技术允许8 fps(512 x 512像素)和100 fps(512 x 32像素)高速成像。 ◣高性能光学系统CFI复消色差Lambda S系列物镜高数值孔径(NA)物镜可在波长从紫外到红外的范围内提供色差校正,是多色共焦成像的理想选择。特别是,LWD Lambda S 40XC WI镜头具有极宽的从405 nm到近红外的色差校正范围。所有这些物镜都使用尼康独有的纳米结晶涂层技术,大大增强了光学传输性能。CFI Apochromat LWD Lambda S 20XC WI, NA0.95 CFI Apochromat Lambda S 40XC WI, NA1.25 CFI Apochromat LWD Lambda S 40XC WI, NA1.15 CFI Apochromat Lambda S 60X Oil, NA1.49CFI复消色差TIRF系列物镜TIRF系统物镜拥有前所未有的1.49数值孔径(使用标准盖玻片和浸油),这是尼康物镜中的最高分辨率。其高性能的 校正环设计可以优化点扩散函数以适应不同的环境温度,无论您是在室温还是37摄氏度下成像,均可确保最高质量的共焦图像。CFI Apochromat TIRF 60X Oil, NA1.49 (left) CFI Apochromat TIRF 100X Oil, NA1.49 (right)◣高清晰度DIC图像C2 +可以同时获得三通道荧光或同时三通道加透射DIC观察。可以叠加高质量的DIC图像和荧光图像以帮助形态分析。DIC image (left)Overlay of DIC and fluorescence images (right)『直观的操作』NIS-Elements成像软件卓越的可操作性和多样化的分析功能可以满足初学者和经验丰富的共焦用户的需求。此外,NIS-Elements不仅可以直观操作尼康显微镜,而且还可以驱动第三方外围设备展开更为广泛的实验。◣多模式功能各种成像方法,如共焦,宽场,TIRF,光活化,以及采集图像的处理,分析和呈现,都可以在一个软件包中找到。用户可以轻松学习如何使用通用界面和工作流程来控制不同的成像系统。▲直观易懂的光路设置:激光、探测器等▲扫描参数设置◣快速准确的光谱成像 | C2-DUS光谱检测器单元01 | 高速光谱成像在0.6秒内单次扫描获得32通道光谱图像(512 x 512像素),且可以24 fps捕获512 x 32像素的图像。▲光谱分析界面02 | 准确和高速的拆分准确的光谱拆分在分离紧密重叠的荧光光谱和消除自发荧光方面提供了最佳性能。高级算法和高速数据处理功能可在图像采集过程中实时拆分。▲鬼笔环肽-Alexa 488染色表达H2B-YFP的HeLa细胞的肌动蛋白用488 nm激光激发捕获500-692 nm范围内的光谱图像左:光谱图像,右:拆分后的图像(绿色:AlexaFluor488,红色:YFP)大阪大学医学院 Yoshihiro Yoneda博士、Takuya Saiwaki博士03 | 宽带光谱成像利用从最多八个波长中选择的四个激光器同时进行激励,可在更宽的频带上进行光谱成像。04 | 虚拟滤光片功能通过从32个通道中选择与使用中的荧光探针的光谱相匹配的所需光谱范围并将它们组合以执行过滤功能,可实现无滤光片强度调整◣明亮的光谱成像 | C2-DUVB GaAsP探测器单元01 | 高灵敏度的光谱图像采集通过GaAsP PMT,C2-DUVB可调谐发射检测器可灵活检测荧光信号,灵敏度更高。02 | 可变采集波长范围用户定义的发射带可以收集选定波长范围内的图像,取代固定带宽发射滤光片的需求。用户可以将发射带宽范围定义为10nm。多标记标本的光谱图像可以通过在改变检测波长的同时捕获一系列光谱图像来获取。基于该应用,可在C2-DUVB上选择虚拟带通模式和连续带通模式。▲左:VB(可变带通)模式拍摄的三色荧光图像中:VB模式支持5色荧光成像右:CB(连续带通)模式可以拍摄多达32通道的光谱图像03 | 可选第二个通道检测器可选的第二个GaAsP PMT提供灵活的检测。通过插入分色镜,用户可以将选定的波长转移到第二个固定带宽发射通道,同时利用第一个通道上用户可定义的发射波段。第二个检测器允许FRET,比率成像和其他需要同时进行多通道成像的应用。04 | 准确的光谱拆分使用参考样本的光谱或采集的图像中的光谱,可以对光谱重叠的多色图像进行精准拆分。『强大的灵活性』C2 +可与正置、倒置、电生理和宏观成像显微镜配合使用,并可与各种高质量研究实验系统结合使用。所有这些都可以使用NIS-Elements软件进行控制。▲TIRF / Photoactivation / C2+多模成像系统凭借高效的光纤切换系统,LU-NV激光器可支持多种激光应用,如C2 +,TIRF和光激活。这使得高分辨率共焦成像,单分子成像,光敏化和光转换荧光蛋白等成像应用全部集成在同一个显微镜平台上。▲AZ-C2 +微共焦显微镜系统AZ-C2+ 宏观共焦系统可实现高分辨率大样本( 1cm)的共焦图像采集。具有超高信噪比的全胚胎或大型组织切片的令人惊叹的大视场。此外,AZ-C2+共聚焦提供了低倍和高倍物镜,可变光学变焦和共焦扫描变焦功能的组合,可以通过一台显微镜从宏观到微观进行连续成像,使得宏观样本的体内共焦成像成为可能。
    留言咨询
  • - 仪器介绍 LRS-5型共焦显微拉曼光谱仪是一款配备有三维自动平台的研究级拉曼测试仪器,真共焦显微光路保证了快速、准确的获得最为精细的光谱图像。LRS-5型优化了光路设计,以确保其在市场上具有高的灵敏度,在兼顾空间分辨率达到衍射极限的同时又保证了仪器的高通光量。结合自主开发的软件操作系统,使拉曼测试过程更加方便快捷,更具人性化。- 产品特点800mm焦距,高空间和高光谱分辨率全自动三维平台,实现mapping快速自动扫描真共焦拉曼成像功能软件控制自动可变针孔开放式样品台,可满足不同形状、体积的样品测试超低波数检测可扩展性,与其他多种测试技术联用应用领域广泛维护成本低,使用简单- 功能扩展可选配多激光器,适用于各类样品及优化实验结果可与拉曼AFM联用及TERS(针尖增强拉曼)可选配专业拉曼数据库,快速鉴定和分析- 主要参数名称参数测量方式定性/半定量检测激光器(激发波长)532nm(633nm、785nm可扩展)光谱范围50~7000cm-1光谱分辨率优于1.5cm-1波长精度≤±1cm-1灵敏度可观察到硅的四阶峰空间分辨率x/y轴:0.01μmz轴:0.002μm(与显微镜的微调齿轮减速比相关)CCD光谱探测器尺寸26.6×3.2mm有效像素1650×200像素尺寸16×16μm共焦针孔50μm,150μm,200μm,400μm
    留言咨询
  • 仪器简介:功能特点测量精度高;方便快捷地分析样品的表面形貌和粗造度;分辨率高,景深大,清晰观察不同焦平面上的图像信息;共焦切层,三维重组,多角度观察;对不同时间,不同位置的图像进行无缝拼接,再现性强;可获得亚微米级的线宽、面积、体积、台阶、线与面粗造度,透明膜厚等几何参数测量数据。技术参数:原理用激光作光源,在试样表面反射进入显微镜的光线经微小的针孔(试样上点与针孔对应形成共聚焦),才能成像的光学系统,阻断干扰和杂散光来提高图像清晰度,获得大景深的显微观察方式。主要特点:应用领域微米和亚微米级部件的尺寸测量,表面形貌观察 半导体芯片表面形貌观察,非接触型的线宽,台阶深度等测量 摩擦学磨痕的体积测量,粗造度测量,表面形貌分析。
    留言咨询
  • 设备简介该设备采用大幅面激光加工配合手动双工位工作台,主要针对服装面料裁片进行双工位高效激光加工,提高加工效率。 适用行业及材料适用面辅料加工行业,在成卷面料进行裁片后进行二次激光烧花加工。适用材料有服装面料、皮革制品、工艺礼品、纸品、亚克力等。双工位工作台,一个工位进行激光加工,一个工位进行上下料更换,操作简单,实用效率高;手柄操作电动升降,三维调焦采用测微头精准调节。
    留言咨询
  • HORIBA Scientific从事光学研发200年,其中拉曼光谱仪的研发与制造长达60多年,凭借法国长期以来的光学设计人才优势与全心全意为客户服务的企业理念,HORIBA Scientific不断地拉曼光谱技术的发展,2019年LabRAM Odyssey高速高分辨显微共焦拉曼光谱仪应运而生。LabRAM Odyssey同时适用于光谱和成像,具有800mm焦长的高光谱分辨率低杂散光光谱仪保证光谱数据的准确性和重复性,一系列针对拉曼光谱成像的新技术引入,大地提升了LabRAM Odyssey的拉曼光谱成像的质量和速度,新型成像算法可以在纷繁复杂的大数据中提炼出有用的光谱信息。独特的高效率反射式共焦光路,配合连续可调共焦针孔,满足全光谱范围200-2200nm抑制杂散光,三维空间滤波,无需任何人工调节工作,全自动化共焦设计保证客户快速准确地获得高信噪比光谱和成像。LabRAM Odyssey继承了LabRAM HR Evolution的全部优点,扩展性强使得每一台LabRAM Odyssey都是一台定制化的显微拉曼光谱系统,尤其满足分析测试平台样品种类多,测试条件变化多,测试速度要求快速准确等需求。LabRAM Odyssey创新性地引入全反射概念,从物镜,耦合光路,光谱仪均采用反射镜组成,从仪器基础设计出发实现真正意义上的消色差,提出紫外灵敏度测试指标,满足全光谱范围内的高灵敏度测试要求。LabRAM Odyssey具有多种特色全新技术,等待您的发掘!1多激发波长 支持深紫外到近红外全波段 自由光路耦合或光纤耦合 支持多达4路全自动切换激发波长2双共焦耦合系统 全反射式共焦光路 消色差,全光谱覆盖 三维空间滤波 全自动切换双共焦光路 内置真实存在的机械共焦针孔,非狭缝虚拟3800mm焦长光谱仪 低杂散光适合弱信号长时间曝光 消色差像散,采用超环面镜,平场校正 全光谱覆盖,光谱仪内无透镜 超高光谱分辨率,低至0.35cm-14高灵敏探测器提供多达4个探测器的耦合接口,满足稳态和瞬态光谱的测试要求超快速共焦成像&bull DuoScanTM成像技术:基于kHz振镜扫描技术,实现物镜+样品双重固定,激光光斑扫描样品表面,具有宽光谱、超快速、高稳定、时间分辨等特点。&bull SWIFTTM模块:是将LabRAM Odyssey的高光通量及优化的检测器-平台同步相结合,以实现超快速共焦拉曼成像。即使采集一个宏观尺度的高分辨成像也可在几秒内完成。&bull Repetitive SWIFTTM信噪比增强快速成像技术:实现持续改进成像信噪比,无需多次重复寻找实验条件。&bull SWIFTTM XR多窗口扩展快速成像技术:同时实现高光谱分辨率和宽光谱范围成像,采用HORIBA独有的多窗口拼接技术,自动拼接多次快速成像,实现高分辨光谱和宽光谱范围的完美统一。高空间分辨率真正针孔共焦技术,区别于简单的狭缝共焦,实现三维空间滤波,高杂散光抑制率,空间分辨率可达250nm独特的全反射式共焦技术,全光谱消色差,支持200-2100nm光谱测量高光谱分辨率800mm焦长的单级光谱仪,使得 LabRAM Odyssey成为市场上光谱分辨率较高的单级拉曼光谱仪。800mm的焦长使得精细样品信息,如:结晶度、多晶型、应力、氢键和其它谱带形状的特征分析变得简单化。高光谱分辨率+高重复性,使得苛刻的实验成为了可能,保证拉曼峰位频移的数据可靠性,和低的系统误差引入。从紫外到近红外全光谱检测LabRAM Odyssey是一款深紫外到近红外全光谱覆盖的消色差高分辨光谱仪,使用多激光及多探测器,检测范围可达200nm~2100nm。实现近红外区域的光致发光测试,包括带隙检测、重组机理监测和材料质量控制。不受样品和分析环境的限制HORIBA Scientific可为您提供拉曼优化研究级光学显微镜。开放式显微镜在物镜下方提供自由空间,适合放置各种大附件,如液氦冷台、催化样品池及自设计特殊样品池等。透射拉曼附件可提供样品整体分析,适合不透明/浑浊的材料,如药片含量的一致性或多晶型。SuperHead光纤探头可实现远程测量,进行原位反应监测或在线分析。超低波数模块HORIBA Scientific 的 LabRAM Odyssey 可使低波数检测低至 3.5 cm-1*。新一代的体布拉格光栅具有非常窄的谱带宽度,以确保单级拉曼光谱仪中超低波数的简单方便、快速高灵敏度检测前沿应用生命科学LabRAM Odyssey为生命科学提供了新的表征方法。如:疾病诊断、皮肤分析、细胞筛选、化妆品、微生物、蛋白质研究、药物交互作用及其它。药物拉曼光谱的高信息含量可以帮助研究人员和质控人员更深入地了解原材料及产品的性能及质量。如:活性药物成分(API)和赋形剂成像和表征、晶型鉴定、相态检测、药物逆向工程、药物一致性评价等。二维材料LabRAM Odyssey提供全部的二维材料光谱表征技术,包括拉曼光谱及成像,光致发光光谱及成像,反射光谱及成像,光电流成像,二次或多次谐波及成像,低温、高压、强磁场等端条件下二维材料的光谱及成像。半导体半导体材料的拉曼和光致发光(PL)研究可为专家提供成分组成及各成分属性的重要信息。如:压力/张力检测、合金成分、超薄覆盖层表征、刻蚀芯片结构成像、带隙分析等。技术指标光谱仪光谱仪焦长800mm光谱分辨率0.35cm-1 - 0.65cm-1重复性±0.02cm-1光谱仪设计方式非对称反射式,全光谱范围消色差校像散光谱采集模式包括单窗口信号采集(同时谱),多窗口连续信号采集(宽光谱快速无缝接谱),多窗口断续信号采集(高低阈值一次采集)和连续扫描信号采集(大范围平滑光谱)共焦共焦方式机械针孔共焦(三维空间滤波) 激光光路:固定尺寸针孔 拉曼光路:10-1000μm连续可调针孔共焦光路内置2个共焦光路,自动切换 独立优化可见光路400-700nm和消色差反射光路:200-2100nm激光光路激光光路独立优化,多支持6路自动切换滤光片切换支持4路自动切换滤光片角度调节软件控制自动低波数50cm-1(可见);150cm-1(紫外);10cm-1(可选)成像XYZ自动平台步进10nm(开环),步进50nm(闭环)闭环反馈精度50nm振镜扫描50nm步进,kHz扫描频率实时聚焦支持三种反馈模式:激光,白光和拉曼信号强度反馈表面粗糙样品成像EasyNav表面形貌ViewSharpTM自动化激发波长支持4路激发波长全自动切换,含紫外光路准直内置红光光源光路准直器自动校准软件控制自动校准其他远程自动优化,自动批处理,自动曝光,自动荧光校正等
    留言咨询
  • NS3500三维激光共聚焦显微镜NS-3500是一种精确、可靠的三维(3D)测量高速共焦激光扫描显微镜(CLSM)。通过快速光学扫描模块和信号处理算法实现实时共焦显微图像。在测量和检测微观三维结构,如半导体晶片,FPD产品,MEMS设备,玻璃基板,材料表面等方面拥有无可比拟的解决方案。 Features & Benefits(性能及优势):高分辨无损伤光学3D测量 自动倾斜补偿实时共焦成像 简单的数据分析模式多种光学变焦 双Z扫描大范围拼接 半透明基材的特征检测实时CCD明场和共聚焦成像 无样品准备自动聚焦 Software (软件):Application field(应用领域):NS-3500是测量低维材料的有前途的解决方案。可测量微米和亚微米结构的高度,宽度,角度,面积和体积,例如-半导体:IC图形,凹凸高度,线圈高度,缺陷检测,CMP工艺- FPD产品:触摸屏屏幕检测,ITO图案,LCD柱间距高度- MEMS器件:结构三维轮廓,表面粗糙度,MEMS图形-玻璃表面:薄膜太阳能电池,太阳能电池纹理,激光图案-材料研究:模具表面检测,粗糙度,裂纹分析Specifications:ModelMicroscope NS-3500备注Controller NS-3500E物镜倍率10x20x50x100x150x观察/ 测量范围 水平 (H): μm140070028014093垂直 (V): μm105052521010570工作范围: mm16.53.10.540.30.2数值孔径(N.A.)0.300.460.800.950.95光学变焦x1 to x6总放大倍率178x to 26700x观察/测量光学系统 针孔共聚焦光学系统高度测量测量扫描范围精细扫描 : 400 μm (and/or) 长扫描 : 10 mm [NS-3500-S]注 1长扫描 : 10mm [NS-3500-T]显示分辨率0.001 μm重复率 σ0.010 μm注 2宽度测量显示分辨率0.001 μm重复率 3σ0.02 μm注 3帧记忆像素1024x1024, 1024x768, 1024x384, 1024x192, 1024x96单色图像12 bit彩色图像8-bit for RGB each高度测量16 bit帧速率表面扫描20 Hz to 160 Hz线扫描~8 kHz自动功能自动增益激光共焦测量光源波长 405nm输出~2mW激光等级Class 3b激光接收元件PMT (光电倍增管)光学观察光源灯10W LED光学观察照相机成像元件1/2” 彩色图像 CCD 传感器记录分辨率640x480自动调整增益, 快门速度, White balance数据处理单元专用 PC电源电源电压100 to 240 VAC, 50/60 Hz电流消耗500 VA max.重量显微镜Approx. ~50 kg(Measuring head unit : ~12 kg)控制器~8 kg隔振系统有源隔离器Option精细和长距离扫描仪的双重扫描模式仅适用于NS-3500-S(单镜头类型)。 注1:精细扫描由压电执行器(PZT)执行。注2 :以100×/ 0.95物镜对标准样品(步长1μm)进行100次测量。 注 3 :以100×/ 0.95物镜对标准样品(5μm间距)进行100次测量。Nanoscope system NS3500三维激光共聚焦显微镜信息由上海巨纳科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于Nanoscope system NS3500三维激光共聚焦显微镜报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
    留言咨询
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制