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光学检测

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光学检测相关的论坛

  • 【分享】国内首台自动光学检测设备研制成功

    日前,由中国电子科技集团第45所承担的国际科技合作项目“自动光学检测(AOI)设备技术合作”,通过了国家级验收,技术指标达到了国外同类设备水平,标志着自动光学检测(AOI)设备实现了国产化,填补了国内空白。  据了解,当今电子装备在结构上强调实现小型化、微型化、模块化,以满足高性能、高可靠、大容量、小薄轻的要求。线路板上元器件组装密度提高,其线宽、间距、焊盘越来越细小,已到微米级,复合层数越来越多。传统的人工目测(MVI)和针床在线测试(ICT)检测因“接触受限”(电气接触受限和视觉接触受限)所制,已不能完全适应当今制造技术的发展,自动光学检测系统(AOI)已经成为IC制造业的必然需求,正越来越多地用来代替传统MVI和ICT技术,进行检测,用于监视和保证生产过程的品质。目前,我国自动光学检测系统(AOI)设备主要依赖进口,一直被以色列、美国、日本等国家所垄断。中国电子科技集团第45所,与加拿大开展了卓有成效的国际科技合作,共同研发自动光学检测(AOI)设备,通过引进、消化吸收、再创新,终于研制出了具有国际水平的自动光学检测(AOI)设备,打破了国外的垄断与技术封锁,使进口产品降价30%。

  • 【分享】中国首台自动光学检测设备研制成功

    河北省廊坊市科技局26日称,中国电子科技集团第45所(燕郊)与加拿大共同合作的“自动光学检测(AOI)设备技术”研制成功,各项技术指标均达到国外同类设备水平。这标志着我国打破了国外在自动光学检测设备领域的垄断与技术封锁,使自动光学检测设备进口产品降价30%。  据廊坊市科技局工作人员介绍,全球电子装备在结构上强调实现小型化、微型化、模块化,以满足高性能、高可靠、大容量、小薄轻的要求。而我国传统的人工目测(MVI)和针床在线测试(ICT)检测因“接触受限”(电气接触受限和视觉接触受限)所制,已不能完全适应当今制造技术的发展。目前,我国自动光学检测系统(AOI)设备还主要依赖进口,一直被以色列、美国、日本等国家所垄断。因此,自动光学检测系统(AOI)已经成为IC制造业的必然需求。

  • 基于线光源扫描的光学元件内部疵病检测

    [b][font=宋体][color=black]【序号】:1[/color][/font][font='微软雅黑',sans-serif][color=black][/color][/font][font=宋体][color=black]【作者】:[b][b]周滨[/b][/b][/color][/font][/b][font=&]【题名】:[/font][b][font=宋体][b]基于线光源扫描的光学元件内部疵病检测[/b][/font][/b][font='微软雅黑',sans-serif]【期刊】: cnki,浙江大学[/font][font='微软雅黑',sans-serif][/font][b][color=#545454]【链接]: [url=https://x.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CDFD&dbname=CDFD2014&filename=1014036222.nh][b]基于线光源扫描的光学元件内部疵病检测[/b][/url][/color][/b]

  • 国家环境保护环境光学监测技术重点实验室通过验收

    9月22日,环境保护部科技标准司组织专家对国家环境保护环境光学监测技术重点实验室进行验收评审。验收专家组委员会一致认为,该实验室完成了建设计划任务书预期建设目标,达到了环境保护部重点实验室验收条件和要求,同意通过验收。安徽省环境保护厅副厅长殷福才,中科院合肥物质科学研究院院长王英俭,中国科学院安徽光学精密机械研究所所长、重点实验室主任刘文清等出席了验收会。中国工程院院士潘德炉,环境保护部卫星环境应用中心、北京市环境保护监测中心、解放军电子工程学院等相关单位的专家参加了验收会。国家环境保护环境光学监测技术重点实验室是国家环境保护总部与依托合肥研究院联合建立的环境光学监测理论和技术研究的基地。实验室于2007年10月开始筹建,主要承担环境光学应用基础研究,定量监测新方法研究和环境监测高新技术系统集成研究,先进环境监测技术规程和标准的编制任务,并对完善我国环境监测系统以及国家环境管理与决策提供理论与技术支持。以潘德炉院士为主任委员的专家组听取了关于实验室建设情况的总结报告,现场考察了实验室,审阅了有关实验室验收材料,实地考察了该实验室,并与实验室领导和科研骨干进行了座谈。专家组一致认为,实验室完成了组织机构建设,形成了一支专业结构合理的环境光学近侧技术创新团队;实验室基本建设完成,自主研制建立了基于多种光谱学技术的地基、移动、机载和星载环境监测技术的研究平台,具备了环境光学监测技术创新研发的能力;实验室在环境光学应用基础、定量监测新方法、环境监测高新技术系统集成和先进环境监测技术规程和标准等四个研究方向取得了一批有代表性的成果;实验室研发的环境监测技术已推广应用到全国环境监测领域,为环境管理提供了有力的技术支撑。为促进重点实验室更好地建设和发展,验收委员会专家组建议,在现有国家环境保护环境光学监测技术重点实验室的基础上,申请建设国家重点实验室。

  • 基于线阵扫描的自动光学检测系统关键技术研究

    [b][font=宋体][color=black]【序号】:1[/color][/font][font='微软雅黑',sans-serif][color=black][/color][/font]【作者】:[b][b][b][font=&][size=24px][color=#333333]陈镇龙[/color][/size][/font][/b][/b][/b][/b][font=&]【题名】:[b]基于线阵扫描的自动光学检测系统关键技术研究[/b][/font][font=&]【期刊】:cnki[/font][b][color=#545454]【链接]: [url=https://kns.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CDFD&dbname=CDFDLAST2016&filename=1015712320.nh&uniplatform=NZKPT&v=g8fPyqfSNBIZFLi6JV5IjwK9gKCSBCEvUuN3dTxvKpYlXKEQlXfSHL3OoehSZY07]基于线阵扫描的自动光学检测系统关键技术研究 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/color][/b]

  • 基于散射、衍射的光学表面疵病检测的研究

    [sup]?[b][font=宋体][color=black]【序号】:1[/color][/font][font='微软雅黑',sans-serif][color=black][/color][/font][font=宋体][color=black]【作者】:[b][b][b]陈涨敏[/b][/b][/b][/color][/font][/b][font=&]【题名】:[/font][b][font=宋体][b]基于散射、衍射的光学表面疵病检测的研究[/b][/font][/b][font='微软雅黑',sans-serif]【期刊】: cnki,浙江大学[/font][font='微软雅黑',sans-serif][/font][b][color=#545454]【链接]: [url=https://x.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CDFD&dbname=CDFD2014&filename=1014036222.nh][b]基于散射、衍射的光学表面疵病检测的研究 - 中国知网 (cnki.net)[/b][/url][/color][/b][/sup]

  • 多源光谱特征组合的COD光学检测方法研究

    【作者】:【题名】:多源光谱特征组合的COD光学检测方法研究【期刊】:【年、卷、期、起止页码】:【全文链接】:https://kns.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?filename=GUAN201411045&dbcode=CJFQ&dbname=CJFD2014&v=t4rSBhLh-EjJsJCYC0yhbJ9cJoPGs6jh5kKtp2k6Vj0vhzuLeqNMWh4WvTTAZvDS

  • 散射扫描法光学元件表面疵病检测技术研究

    [b][font=宋体][color=black]【序号】:1[/color][/font][font='微软雅黑',sans-serif][color=black][/color][/font]【作者】:[size=16px][b]张彬[/b][/size][/b][font=&]【题名】:[b][b][b]散射扫描法光学元件表面疵病检测技术研究[/b][/b][/b][/font][font=&]【期刊】:cnki[/font][b][color=#545454]【链接]: [url=https://kns.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CMFD&dbname=CMFD201601&filename=1016025795.nh&uniplatform=NZKPT&v=1F6G829sgZAFA4MYvRETNbgdZd9BzVfLcxERQ6aplrCK1Co8JxayeBFNIXRM1blG]散射扫描法光学元件表面疵病检测技术研究 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/color][/b]

  • 新手上路请多指教,请有关做玻璃光学性能检测的人士多帮助。

    我在一家第三方检测工作,公司为扩展建筑玻璃检测业务已经筹备很长时间了。去年公司购买了一台PE公司的Spectrum Two和一台Lambda 950,用于检测玻璃的光学性能。去年参加过PE公司的红外设备培训,但是涉及到的玻璃方面内容太少,当时对设备不懂也问不出个所以然来,紫外设备还没来得及参加。现在即将引来检测资质评估认可,但是我对设备的具体操作过程还不是很明白,希望各位前辈多多指教。

  • 光学元件亚表面缺陷检测自动调平与对焦研究

    [b][font=宋体][color=black]【序号】:1[/color][/font][font='微软雅黑',sans-serif][color=black][/color][/font]【作者】:[size=16px][b]王悦[/b][/size][/b][font=&]【题名】:[b][b][b]光学元件亚表面缺陷检测自动调平与对焦研究[/b][/b][/b][/font][font=&]【期刊】:cnki[/font][b][color=#545454]【链接]: [url=https://kns.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CMFD&dbname=CMFD202101&filename=1021001205.nh&uniplatform=NZKPT&v=xYGHSdLttNdKdrQ4eSEtVhLFx0cYpkq8yjYDo-JSapNdufFHtF5fAnmFys_fHVpk]光学元件亚表面缺陷检测自动调平与对焦研究 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/color][/b]

  • 光学元件亚表面损伤深度的无损荧光检测方法

    [b][font='Microsoft YaHei', 宋体, sans-serif]【序号】:1[/font]【作者】:[font=sans-serif][/font][font=Arial][font=Archivo, &][size=16px][b]侯晶1,2王洪祥1王储1王景贺1朱本温1[/b][/size][/font][/font][font=sans-serif][/font][/b][font='Microsoft YaHei', 宋体, sans-serif][b][b][/b][/b][/font][font=&]【题名】:[b][b][b][font=&][size=30px][b][b]光学元件亚表面损伤深度的无损荧光检测方法[/b][/b][/size][/font][/b][/b][/b][/font][font=&]【期刊】:[/font][font=Arial][size=12px]CNKI[/size][/font][font='Microsoft YaHei', 宋体, sans-serif][color=#545454][b]【链接】:[url=https://kns-cnki-net-443.webvpn.xnai.edu.cn/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CJFD&dbname=CJFDLAST2018&filename=HEBX201807004&uniplatform=NZKPT&v=Ea5aJALKB3g_fiNv2APpnkEseIaTI7Z48qNsA5LkYAhwQ1rbRTyJg9Yc4DQ2Eht2]光学元件亚表面损伤深度的无损荧光检测方法 - 中国知网 (xnai.edu.cn)[/url][/b][/color][/font]

  • 光学表面亚表层损伤检测技术研究

    [b][font='Microsoft YaHei', 宋体, sans-serif]【序号】:1[/font]【作者】:[font=sans-serif][/font][font=Arial][font=Archivo, &][size=16px][b][b]王春慧[/b][/b][/size][/font][/font][font=sans-serif][/font][/b][font='Microsoft YaHei', 宋体, sans-serif][b][b][/b][/b][/font][font=&]【题名】:[b][b][b][font=&][size=30px][b][b][b]光学表面亚表层损伤检测技术研究[/b][/b][/b][/size][/font][/b][/b][/b][/font][font=&]【期刊】:[/font][font=Arial][size=12px]CNKI[/size][/font][font='Microsoft YaHei', 宋体, sans-serif][color=#545454][b]【链接】:[url=https://kns-cnki-net-443.webvpn.xnai.edu.cn/kcms/detail/detail.aspx?filename=2010190599.nh&dbcode=CMFD&dbname=CMFD2011&v=55gtsYyqhvRutFzmr2XW686Gwn9O3c6FiTgY0tQX75_FOaNLDvVaGQc9pMHO4g54]光学表面亚表层损伤检测技术研究 - 中国知网 (xnai.edu.cn)[/url][/b][/color][/font]

  • 拖把机缺水检测新方案——光学流量控制器

    拖把机缺水检测新方案——光学流量控制器

    [font=&] [size=18px]现有拖把机水箱缺水检测的方案基本上分为2种:一种是使用老式的机械式浮球开关,一种是光电水位传感器。浮球开关通常采用的是常规结构浮球,光电式水位传感器的通常有2种,一种是非接触接触式的,一种是管道式。[/size][/font][align=center][img=,600,400]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/12/202112011656081643_710_4008598_3.jpg!w600x400.jpg[/img][/align][align=center][size=18px] [/size][/align][font=&][size=18px] 浮球式水位传感器因为其属于机械式运作的传感器,因此在使用一段时间后会容易受到水垢、浮球卡死等现象导致精度、功能不良。光电式水位传感器内部无机械运作部件,因为是采用光学原理,所以受到的外接因素干扰较少,且针对水垢、挂液、气泡等干扰都可以通过软件做规避处理,因此可靠性较高。[/size][/font][align=center][img=,660,405]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/12/202112011656277193_5314_4008598_3.jpg!w660x405.jpg[/img][/align][align=center][size=18px] [/size][/align][font=&][size=18px] 但光电式水位传感器只能检测水箱内的水位变化,而采用光学流量计除了可检测水箱是否缺水外,还可以实现流量控制。当拖把机运作时,水泵会将水箱内的水抽至喷洒与拖地转轮上,将一只每分钟流量30~150ml的光电流量计装在管道上,当水流进过流量计时,流量计会根据水流量输出对应的脉冲数据。设备可根据流量计输出的信号来控制出水量。当水箱无水时,则流量计也处于无水状态,此时流量计输出不同的信号,设备接收到信号后判断水箱此时无水,提醒用户加水。[/size][/font][align=center][img=,690,377]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/12/202112011656436825_2789_4008598_3.jpg!w690x377.jpg[/img][/align][align=center][size=18px] [/size][/align][font=&][size=18px] 光电式流量计与霍尔流量计不同,检测部分是在传感器外侧,不接触液体,因此更卫生安全。[/size][/font][size=18px] [/size][align=right][/align]

  • 帮忙下载一篇“光学镜片外观瑕疵视觉检测技术研究及实现”文献

    [b][font='Microsoft YaHei', 宋体, sans-serif]【序号】:1[/font]【作者】:[b][b][font=&][size=13px][color=#0066cc][/color][/size][/font][font=&][size=13px][color=#0066cc]朱宇栋[/color][/size][/font][font=&][size=13px][color=#0066cc][/color][/size][/font][/b][/b][/b][font=&]【题名】:[/font][b][b][b][b][b][url=http://www.eope.net/EN/abstract/abstract17664.shtml][b]光学镜片外观瑕疵视觉检测技术研究及实现[/b][/url][/b][/b][/b][/b][/b]【期刊】:[font=Arial][size=12px]CNKI[/size][/font][b]【链接】:[url=https://xueshu.baidu.com/usercenter/paper/show?paperid=1m780cd0ac7h0v30sd5u00n0hx324059&site=xueshu_se][font=&][size=13px][color=#0066cc]朱宇栋[/color][/size][/font]光学镜片外观瑕疵视觉检测技术研究及实现 - 百度学术 (baidu.com)[/url][/b][font=&][size=13px][color=#0066cc]朱宇栋[/color][/size][/font]

  • 大口径光学元件表面划痕缺陷检测技术研究

    [b][font=宋体][color=black]【序号】:1[/color][/font][font='微软雅黑',sans-serif][color=black][/color][/font]【作者】:[size=16px][b][b]黄梦辉[/b][/b][/size][/b]【题名】:[b][b][b][b][b][b]大口径光学元件表面划痕缺陷检测技术研究[/b][/b][/b][/b][/b][/b][font=&]【期刊】:cnki[/font][b][color=#545454]【链接]: [url=https://kns.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CMFD&dbname=CMFD202101&filename=1021001205.nh&uniplatform=NZKPT&v=xYGHSdLttNdKdrQ4eSEtVhLFx0cYpkq8yjYDo-JSapNdufFHtF5fAnmFys_fHVpk]大口径光学元件表面划痕缺陷检测技术研究 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/color][/b]

  • 【原创】【第三届原创作品】光学显微镜在环境监测中的应用

    [align=left][size=5][font=宋体][size=3]维权声明:本文为54943110原创作品,本作者与仪器信息网是该作品合法使用者,该作品暂不对外授权转载。其他任何网站、组织、单位或个人等将该作品在本站以外的任何媒体任何形式出现均属侵权违法行为,我们将追究法律责任。[/size][b] 光学显微镜在环境监测中的应用[/b][/font][/size][size=5][font=Arial][/font][/size][/align][align=center][b][font=Arial][size=3][/size][/font][/b][/align][align=center][size=3][b][font=宋体]水源守护者[/font][font=Arial][/font][/b][/size][/align][size=4][font=宋体] 光学显微镜由一个透镜或几个透镜的组合构成,是利用光学原理,把人眼所不能分辨的微小物体放大成像,以供人们提取微细结构信息的光学仪器。在环境监测领域中,其应用可谓非常广泛。很多高环境监测的接触显微镜的做一辈子可能也只是窥见其一角,现将我实践过的或者了解的[/font][/size][size=4][font=宋体]光学显微镜在环境监测中的[/font][/size][size=4][font=宋体]应用情况做一个简单的介绍,让大家对这个应用分支有一个感性的认识。[/font][/size][size=4][/size]

  • 大口径光学透镜表面疵病机器视觉检测技术研究

    [b][font=宋体][color=black]【序号】:1[/color][/font][font='微软雅黑',sans-serif][color=black][/color][/font]【作者】:[size=16px][b][b][b]王雪 谢志江[/b][/b][/b][/size][/b][font=&]【题名】:[/font][b][b]大口径光学透镜表面疵病机器视觉检测技术研究[/b][/b][font=&]【期刊】:cnki[/font][b][color=#545454]【链接]: [url=https://kns.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CMFD&dbname=CMFD202101&filename=1021001205.nh&uniplatform=NZKPT&v=xYGHSdLttNdKdrQ4eSEtVhLFx0cYpkq8yjYDo-JSapNdufFHtF5fAnmFys_fHVpk]大口径光学透镜表面疵病机器视觉检测技术研究 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/color][/b]

  • 【讨论】替网友发问:选择什么仪器检测光学元件表面金属元素残留

    实验情况简单介绍 实验目标:测量熔石英材料光学元件表面金属元素残留 待检元素:Ce, Fe, Al, Cu 元件规格:直径50mm,熔石英材料镜片。 用氢氟酸和硝酸混合溶液刻蚀,由于期望获得金属元素含量随深度的信息,每刻蚀1um均需测量含量。 材料一面刻蚀1um材料去除质量:4.35mg 金属元素在材料中含量数量级:ug/g(在数值上最大几百,随深度递减) 假设最终溶液定容100mL,我的简单估值: 材料一面刻蚀1um溶液中的金属元素含量数量级范围:1ng/mL~~~0.01ng/mL 我想请教的问题是: 1.我所调研的ICP-MS方法中这几种元素的检出限大致为0.01ng/mL,在我的实验中我认为应该需要提高待测溶液的金属元素含量浓度(浓缩溶液或者增加材料去除质量),实际检测中所需浓度大致是多少?比检出限高一个数量级(也就是0.1ng/mL)是否够用? 2.硝酸氢氟酸溶液中的杂质可能会对结果造成干扰,杂质浓度需要比待测金属元素浓度低几个数量级?是否还有其他降低干扰的办法? 3.检测过程中对实验室环境洁净度有什么要求? 我的问题不太专业,请多多包涵。

  • 大型铸件和模具质量检测-非接触三维光学测量技术(摄影测量)

    大型铸件和模具质量检测-非接触三维光学测量技术(摄影测量)

    联系人:吕红明联系方式:13812688974qq:9858592441 XTDP三维光学摄影测量系统1.1 系统介绍 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607191113_601128_3024107_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607191113_601129_3024107_3.png 图:XTDP系统硬件 图:系统软件界面XTDP三维光学摄影测量系统,使用普通单反相机(非量测相机),通过多幅二维照片,基于工业近景摄影测量原理,重建工件表面关键点三维坐标。用于对中型、大型(几米到几十米)物体的关键点进行三维测量。与传统三座标测量仪相比,没有机械行程限制,不受被测物体的大小、体积、外形的限制,能够有效减少累积误差,提高整体三维数据的测量精度。可以代替传统的激光跟踪仪、关节臂、经纬仪等,而且没有繁琐的移站问题,方便大型工件测量。系统主要由高性能单反相机、编码标志点、非编码标志点、标尺、计算机及检测分析软件等组成。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607191113_601130_3024107_3.png图:摄影测量原理1.2 系统特色l 国内首个自主研发的工业近景摄影测量系统l 高精度的相机标定算法,适用于多种数码相机l 自主知识产权的核心算法,达到国外先进水平l 测量范围大:可测量0.3m~30m范围的物体l 测量精度高:最高精度可达±0.015mm/ml 测量速度快:拍照方便快速,计算速度快,测量结果三维可视化l 具备CAD数模对比模块,可用于质量检测l 具备静态变形测量模块,可测量工件变形数据l 操作方便:设备不需要事先校正,使用方便,对操作人员无特殊要求l 适应性强:不受环境及测量范围限制,可在车间或工业现场测量l 便携式设计:设备轻便,单人可携带外出开展测量工作1.3 系统功能系统采用近景摄影测量技术,在被测物体上放置编码点及非编码点,通过单反相机围绕被测物体拍摄多张被测物图像,快速检测被测物表面关键的三维坐标、三维位移数据,测量结果三维彩色显示。系统功能主要包括基本测量功能、变形测量功能、数模对比功能、分析报告功能等。具体功能如下:(1)基本测量功能:测量幅面:支持几十厘米到几十米的测量幅面测量相机:支持多种单反、工业相机图像计算※相机数目:支持单个相机或多个相机图像同时计算,提高大型工件的测量效率※相机标定:软件具备相机自标定功能,支持多种相机镜头畸变模型计算模式:具备自动计算和自定义计算两种模式,方便用户灵活操作※标志点类型:支持10、12、15位编码点,支持黑底白点、白底黑点,更多类型可定制※变形测量功能:通过多次测量不同变形状态下的观测标志点三维坐标,可以进行关键点三维变形偏差计算和色谱图分析※数模对比功能:可以对被测工件与CAD数模进行三维几何形状比对测量结果:包含三维坐标、三维位移等数据,测量结果三维显示显示设置:三维显示可灵活设置,包括颜色,尺寸等,可显示相机三维位置※厚度补偿:具备编码点及非编码点厚度自动补偿功能多工程测量:系统软件支持多工程计算、显示及分析※多核加速:多核CPU并行运算,提高系统解算速度支持系统:同时支持32位、64位系统(2)变形测量功能:参考模式:基准状态可任意设置,可以是首个状态或者中间状态对齐模式:支持ID转换、相对关系转换、手动转换等多种状态对齐模式搜索深度:支持任意指定标志点搜索半径及搜索深度,提高标志点追踪稳定性分析模式:支持多观察域分析,观察域自由选择测量结果:包含X,Y,Z三维位移分量及总位移E结果显示:位移测量结果在三维视图和图像中以射线和色谱形式绘制,真实表达三维点的变形与运动,显示效果可灵活设置(3)数模对比功能:※数模导入:支持stl,iges,step等多种数模文件格式※分析模式:支持多观察域分析,观察域自由选择检测结果:包含X,Y,Z三维偏差分量及总偏差E结果显示:三维彩色矢量箭头直观显示偏差结果,显示效果可灵活设置(4)分析报告功能:坐标转换功能:321转换、参考点拟合、全局点转换、矩阵转换等多种坐标转换功能※元素创建功能:三维点、线、面、圆、槽孔、矩形孔、球、圆柱、圆锥※分析创建功能:点点距离、点线距离、点面距离、线线夹角、线面夹角、面面夹角屏幕截图功能:具备二维图像及三维图像截图功能,截图自动插入报告数据输出功能:测量结果及分析结果输出成报表,支持TXT,XLS,DOC文件的输出(5)扩展接口※系统扩展:可配合XTOM型三维光学面扫描系统使用,提高大型工件的拼接精度1.4 技术指标 指标名称技术指标1. 核心技术工业近景摄影测量2. ※测量结果三维坐标、三维位移3. 测量幅面支持几十厘米到几十米的测量幅面4. 测量相机支持多种单反、工业相机图像计算5. ※相机数目支持单个相机或多个相机图像同时计算,提高大型工件的测量效率6. 相机标定软件自标定,支持多种相机镜头畸变模型7. 测量精度最高±0.015mm/m8. ※标志点类型支持10、12、15位编码点,支持黑底白点、白底黑点,更多类型可定制9. ※静态变形分析通过多次测量不同变形状态下的观测标志点三维坐标,可以进行关键点三维变形偏差计算和色谱图分析;位移测量结果在三维视图中以射线和色谱形式绘制,真实表达三维点的变形与运动10. ※三维数模对比可以对被测工件与CAD数模进行三维几何形状比对,快速方便地进行大型工件的产品外形质量的检测支持stl,iges,step等多种数模文件格式,对比结果三维彩色显示11. ※厚度补偿功能具备编码点及非编码点厚度自动补偿功能12. ※坐标转换功能321转换、参考点拟合、全局点转换、矩阵转换等多种坐标转换功能13. ※元素创建功能可以创建三维点、线、面、圆、槽孔、矩形孔、球、圆柱、圆锥等多种三维元素14. ※分析创建功能可以创建点点距离、点线距离、点面距离、线线夹角、线面夹角、面面夹角等多种分析15. ※多核加

  • 海洋光学发布 RaySphere系列测量系统用于太阳光模拟器的质量检测

    海洋光学(www.oceanopticSChina.cn)近日推出一款 RaySphere 光学测量系统,用以测量太阳光模拟器和其他辐射源的绝对辐照度。RaySphere系统可测量从紫外线到近红外光谱(380-1700nm)的不同光谱范围的绝对辐照度(mW/cm2/nm)。作为一种用于验证已安装的太阳能闪光灯输出的工具,RaySphere 特别适用于太阳光模拟器制造商以及研发实验室。太阳光模拟器的闪光可用于目的为根据光谱反应组合细胞像素的光电制造流程、以及目的为测量最终光电效能的光电制造流程。RaySphere 的系统具有必要的精确度和分辨率,以测量和分析闪光器的性能和稳定性,并通过高级的低频抖动方式触发电子设备为闪光测量计时。RaySphere 的刻度经过公认的认证实验室的确认,以确保精确的探测,并使太阳能闪光灯和太阳光模拟器的评估和资格认证符合由 ASTM 和 IEC(IEC60904-9 2007)等标准制定机构制定的标准。两台热电冷却探测器使太阳能闪光灯的光谱分析(380-1700nm)可复验性高且准确。第二种型号的 RayShere 含有一个冷却探测器,以测量最多 1100nm 的光谱。该系统同时包含高级、高速的电子设备,以及直观、强大的软件界面。极少的测量次数可实现在闪光期间,甚至于闪光间隔期间的完整光谱检测。此外,测量还可以由一个快速反应的发光二极管促发。该二极管可在百万分之一秒内通过增加闪光强度而做出反应。

  • SOPTOP舜宇光学显微镜-助力金相,晶圆检测,偏光显微镜等

    [align=center][font=MicrosoftYaHei][size=12px]舜宇显微镜-国内领先。可多种搭配,本人材料分析从业行业多年为大家排忧解难,VX:xiaojian0425 欢迎添加咨询。[img=,335,405]http://img1.17img.cn/17img/images/201707/uepic/786c066a-715f-45fd-9c05-e0b519db1842.jpg[/img][/size][/font][/align][font=MicrosoftYaHei][size=18px]一、概述[/size][/font][font=微软雅黑][color=#231f20]全新 RX50M 研究级金相显微镜集舜宇多项首创于一身, 从外观到性能都紧跟国际主流设计风向,致力于拓展工 业领域全新格局。RX50M 秉承舜宇不断探索不断超越 的品牌设计理念,为客户提供完善的工业检测解决方案。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#231f20]二、特点及例图[/color][/font][font=微软雅黑][color=#231f20]1、光学性能优越[/color][/font][font=微软雅黑][color=#231f20] 光路采用国际水准的光路设计,大大的降低了图像的色差及色散,提升了光学质量及分辨率。使用户轻松的得到想要的图片。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#231f20][/color][/font][img=,580,435]https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/f79ee8cf-8e33-4a2f-aad6-b62d69b2e87e.jpg[/img][img=,576,429]https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/79e370b4-7155-4ce5-bb77-73f894612f9d.jpg[/img][img=,574,430]https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/c9e1b1f2-bd96-4701-a133-d38c5022960c.jpg[/img]2、丰富的光学配件,满足大部分使用需求 本机器可兼容绝大部分的观察方法如:反射明场、透射明场、反射暗场、透反射偏光以及微分干涉等观察方法,充分涵盖了汽车、钢铁、材料、冶金等各领域需求。明场[img=,619,466]https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/bf16f280-a0d9-4760-8c34-23bb439d06f3.jpg[/img]暗场[img=,616,464]https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/f003e3fe-aa31-4af7-bccd-1c3fe17a1dd9.jpg[/img]偏光[img=,609,456]https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/6617ef65-07ec-4759-9cd9-59a54c62cc61.jpg[/img]微分干涉[img=,606,455]https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/081bb724-911d-40be-a5f1-7eadbb377799.jpg[/img]3、专业的硬件配置,保证图像的质量光学镜头均采用新一代镀膜方案,校正了光学镜头的轴向及径向色差,避免了绝大多数的光学问题,同时采用大功率光源,保证照明充足的同时,又使得偏光、微分干涉等弱光环境下的视场得到充足的亮度,保证图像的清晰度。

  • 【求助】我公司欲采购精密光学镜片检测仪器,现寻有实力单位协助,点击查看详情

    我公司全称“武汉高德红外股份有限公司”,位于“武汉• 中国光谷”,为专业从事规模化红外热成像技术及产品研发、生产、销售的高新技术企业。公司产品广泛应用于电力、消防、公安、冶金、化工及军工等领域。产品畅销全国各地,多达一百五十多个代理商的国际营销网络覆盖全球八十多个国家和地区,与众多海外客户建立了广泛合作关系。高德( Guide )已成为世界知名品牌。 我司现欲购一批高精度红外光学检测设备,用于检测红外长波(8~12um)与中波(3~5um)镜片,镜片口径范围≤∅ 200mm,弧高≤30mm。设备主要用于完成镜片曲率、非球面系数、粗糙度、局部光圈、镜片偏心倾斜、透过率的检测及系统装调等。本公司此次采购设备包括但不限于以下设备:球径仪、轮廓仪、干涉仪、中心偏测量仪、红外系统透过率测试仪、红外平行光管、显微镜。要求对镀膜镜片检测时,尽量做到无损检测。 各单位,如能提供以上检测设备(不限于以上仪器),请于2008年12月20日之前将电子文档发至以下邮箱,文档内容请包括:针对哪项检测能提供那款设备,或推荐哪款设备,按仪器类型列出word技术指标文档,请务必详细列出。欢迎各有实力单位大力推荐优秀设备。公司名称:武汉高德红外股份有限公司公司地址:武汉市洪山区书城路26号联系人:陈岩电话:027-87284561邮编:430070邮箱:unfaireal@163.com

  • 两项天然气检测国家标准发布,涉及光学法、电化学法

    1月12日,从国家市场监督管理总局和国家标准化管理委员会获悉,西南油气田公司牵头起草的四项天然气国家标准正式发布,其中两项标准涉及[b]微痕量物质检测[/b]。[b]GB/T 43502.1-2023《天然气 颗粒物的测定 第1部分:用光学法测定粒径分布》[/b]提出了采用光学法测定颗粒物粒径的取样流程、仪器操作参数设置、数据重复性和复现性处理等规范性方法,适用于天然气长输管道中颗粒物样品的提取、制样和粒径的测定。促进GB/T 37124-2018《进入天然气长输管道的气体质量要求》在全国范围内的实施,为天然气[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/bp][color=#3333ff]气质[/color][/url]监控和管道流动保障工作提供有力支撑。[b]GB/T 43503-2023《天然气 氧气含量的测定 电化学法》[/b]描述了采用电化学法测定天然气中氧气含量的原理、试剂与材料、仪器、取样、测定步骤、数据处理、精密度及测定报告,适用于天然气中氧气含量的在线和离线测定,将为天然气产品质量的控制、天然气长输管道的安全运行提供有力保障。下一步,西南油气田公司将继续践行集团公司标准化战略,持续推动科技创新与标准深度融合发展,着力提升标准化质量和水平、优化完善天然气技术标准体系,加快推动天然气标准国际化进程,为集团公司建设基业长青世界一流综合性国际能源公司和高质量天然气工业体系建设作出新的更大贡献。[来源:仪器信息网] 未经授权不得转载[align=right][/align]

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