光学材料

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[b][font='Microsoft YaHei', 宋体, sans-serif]【序号】：１[/font]【作者】：[/b][size=15px]董时[/size][b][/b][font=&]【书名】：[b][font=Helvetica, Arial, sans-serif][size=22px]光学材料[/size][/font][/b][/font][font=&]【出版社】：原创力[/font][font=&][color=#333333][b][/b][/color][/font][font=Arial][size=12px][/size][/font][b]【链接】：[url=https://max.book118.com/html/2019/0103/8060106033001143.shtm]第1章--光学材料..ppt 免费在线阅读 (book118.com)[/url][/b]

[font=宋体]采样杯、比色池，这些采样附件，由于所用的材料和采样光路是直接关联的，因此材料对光谱信息的影响会直接反映到样品的光谱数据上。虽然一般都采用透明石英材料来做采样附件，但是不同的石英等级，其在近红外区的光谱响应曲线也是不一样的，会直接影响到样品的光谱信息，从而对[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱[/color][/url]分析带来分析误差。[/font]

将声波直接转换成光学信号超材料使超声波检测图像更清晰2013年03月17日 来源： 中国科技网 作者： 刘海英 中国科技网 伦敦3月15日电（记者刘海英）超声波诊断已在医学临床上普遍应用，众所周知的B超就是其中应用最广泛和简便的一种。但受声波频段所限，目前超声波检测所得图像的清晰度还不尽如人意，会一定程度上影响诊断效果。最近，英国伦敦国王学院研究人员开发出一种新型工程材料，可有效提高超声波检测图像的清晰度，有望改进超声波技术在医疗领域的使用状况。 这种新型工程材料属于“超材料”范畴，由镶嵌在一种称为“聚吡咯”（PPy）的聚合物中的金纳米棒组成。该材料的特性在于，它可以将超声波信号转变为光学信号。目前，传统的超声诊断设备都是将超声波信号转变为电子信号，其使用受限于敏感度和声波频宽，因而在成像清晰度方面有不尽人意之处。而新型材料能够将超声波信号转变为光学信号，使得信号处理一定程度上摆脱了上述限制，进而可形成清晰度更高的图像。 研究人员指出，超声波的频率越高，其定向性和敏感度越好，其成像的清晰度也会越高。当前的超声波技术，在声波大约在50兆赫兹左右时，敏感度就会有显著的下降。而这种新型材料能够将声波转换成光学信号，不再受限于超声波段，使得超声设备在150兆赫兹内都能“看”到以前看不到的细节，在医学应用方面极具潜力。 该项目领导者、伦敦国王学院的韦恩·迪克逊教授表示，新型材料的开发具有重要意义。他指出，目前最敏感的超声波探头也会受到声波频段的限制，即使是传统的光学材料，也会因光学定位方面的严格要求而不易使用到设备当中。而新型材料则能够相对简单地配置到超声波设备当中，这意味着医学诊断和治疗领域中有可能会产生新一代超声波传感设备。 《科技日报》 2013-03-17 （二版）

前方高能，请避闪！！！实验室解决方案分享，有仪器，有检测，还有好的知识点欢迎报名参会！【业内专家深度解读】UV-Vis-NIR在材料分析领域内的应用，2017-01-17 10:00报名地址：file:///C:\Users\zhangyan\AppData\Local\Temp\8LDO48C$8@http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting/meetingInsidePage/2272讲座要点：1.安捷伦Cary7000全能型UV-Vis-NIR能够对光学材料进行透射、绝对反射、漫透射、漫反射、散射透射以及散射反射六种测量模式。2.该款仪器可以在同一个序列中完成对同一个样品同一个点在不同角度下的透射和反射测量。3.借助该仪器，可以通宵自动采集上百张紫外-可见-近红外光谱图，还可以在短短几分钟到几小时内完成光学组件或薄膜的光学特性表征。4.Cary7000分光光度计为光学、薄膜/涂料、太阳能和玻璃等材料的研究、开发和QA/QC提供了一站式解决方案，助您深入分析各类材料。5.本次讲座针对Cary7000 UV-Vis-NIR不同的测量模式介绍了不同的应用案例，同时针对太阳能材料行业提出了安捷伦分子光谱的全面解决方案。

以前在网上看到的。在各个电磁波段，光学元件使用的材料。[B]反射镜[/B]波段 材料X-raysUltraviolet 铝Visible 铝Near infrared 金infrared 金，铜[B]透镜[/B]波段 材料X-rays Ultraviolet 熔融石英（人造水晶）Visible 玻璃Near infrared 玻璃infrared ZnSe[B]窗口（windows)[/B]波段 材料X-rays berylliumUltraviolet 熔融石英（人造水晶）Visible 玻璃Near infrared 玻璃infrared ZnSe, NaCl, BaF2注：x-rays的反射镜和透镜的材料没贴出来，我不知道是没有还是漏了。

第一次提问题，请问有人知道WMS15这种光学材料含不含有铅？像BK7，SF11这些材料就是含铅的，不知道WMS15是不是一样。知道的朋友请帮忙解答一下，非常感谢！

【网络会议】：安捷伦分子光谱在太阳能材料检测领域内的整体解决方案 ——Cary 5000/7000 UV-Vis-NIR及4300手持式FTIR【讲座时间】：2015年04月14日 14:00【主讲人】：张晓丹 （2012年加入安捷伦科技（中国）有限公司，任分子光谱应用工程师）【会议介绍】 安捷伦Cary7000全能型UV-Vis-NIR能够对光学材料进行透射、绝对反射、漫透射、漫反射、散射透射以及散射反射六种测量模式。同时，该款仪器可以在同一个序列中完成对同一个样品同一个点在不同角度下的透射和反射测量。借助该仪器，可以通宵自动采集上百张紫外-可见-近红外光谱图，还可以在短短几分钟到几小时内完成光学组件或薄膜的光学特性表征。Cary7000分光光度计为光学、薄膜/涂料、太阳能和玻璃等材料的研究、开发和QA/QC提供了一站式解决方案，助您深入分析各类材料。 本次讲座针对Cary7000 UV-Vis-NIR不同的测量模式介绍了不同的应用案例，同时针对太阳能材料行业提出了安捷伦分子光谱的全面解决方案。-------------------------------------------------------------------------------1、报名条件：只要您是仪器网注册用户均可报名参加。2、报名并参会用户有机会获得100元手机充值卡一张哦~3、报名截止时间：2015年04月13日 4、报名参会：http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting/meetingInsidePage/13965、报名及参会咨询：QQ群—379196738

RT:求推荐一台看微纳米材料形貌的性价比高的光学显微镜。平时做一些微纳米材料，求各位老师推荐一款性价比高点的光学显微镜，目前预算1W多。

光学计量测试包括的范围相当广泛，目前国家已在许多方面建立了计量标准和测试手段，主要包括：光度、光谱光度、色度、辐射度、激光参数、光学材料参数、光学薄膜参数、成像光学、微光像增强器及夜视仪器参数、光纤和光通信函数、光电子器件参数等计量测试。一、光度计量测试 光度量是限于人眼能够见到的一部分辐射量，是通过人眼的视觉效果去衡量的，人眼的视觉效果对各种波长是不同的，通常用V（λ）表示，定义为人眼视觉函数或光谱光视效率。因此，光度量不是一个纯粹的物理量，而是一个与人眼视觉有关的生理、心理物理量。 光度计量测试的主要参数有发光强度、亮度、照度及光通量等。发光强度的单位为坎德拉（cd），是国际单位制中的7个基本单位之一，它是不可能从其他单位直接导出的。有了坎德拉基本单位的定义，即可导出光亮、光通量及光源产生的照度和色度等单位。二、光谱光度、色度计量测试 光谱光度计量测试主要研究物质的吸收（透射）、反射、荧光和发射光谱，其主要计量测试参数有光谱规则反射比、漫反射比、光谱规则透射比、漫透射比；光谱吸收比；偏振器的消光比等。测量仪器主要有分光光度计、反射光谱仪、荧光光谱仪和摄谱仪等。 色度计量测试是指对颜色量值的计量测试。它是以三基色原理为基础，测出颜色的三刺激值，经计算可得到颜色的量值。 色度计量分为光源色和物体色两种，对光源色的计量实际上就是对光源的相对光谱功率分布的计量；对不发光的物体的透射样品或反射样品的色度计量，则是对样品的光谱透射比和光谱反射比的计量，通常使用的色度计量器具主要有标准色板、色度计、色差计以及光谱光度计等。

说明：因为以前有很多人问这方面的问题，所以特意收集了些资料。注：用紫外-可见分光光度计测材料的光学带隙，这个材料一般是指非晶态半导体材料。对晶态半导体材料好像不适用。关键词：分光光度计 禁带宽度 光学带隙 Eg一。理论http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/01/201101161637_274443_1786353_3.gif http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/01/201101161709_274461_1786353_3.gifhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/01/201101161641_274444_1786353_3.gifhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/01/201101161642_274445_1786353_3.gifhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/01/201101161642_274446_1786353_3.gif为了区别用电导率法测得的禁带宽度，用光吸收法测得的禁带宽度又叫光学带隙。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/01/201101161707_274457_1786353_3.gifhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/01/201101161615_274434_1786353_3.gifhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/01/201101161616_274435_1786353_3.gifhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/01/201101161616_274436_1786353_3.gifhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/01/201101161616_274437_1786353_3.gif对于m =2 的情况：http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/01/201101161620_274438_1786353_3.gifhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/01/201101161620_274439_1786353_3.gif二。测光学带隙的作图方法以m =2 为例，http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/01/201101161632_274440_1786353_3.gifhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/01/201101161633_274442_1786353_3.gif三。用积分球测量粉末状TiO2的带隙http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/01/201101161644_274447_1786353_3.gifhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/01/201101161645_274448_1786353_3.gif另一个相关文献（附件里）：http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/01/201101161658_274451_1786353_3.gifhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/01/201101161658_274452_1786353_3.gif

经常看到表征红外光学材料的光学性能的时候就会出现两张图：红外透过率和红外反射率。这个反射率就是常说的这个R，1=R+T+A。理论计算R=（1-n）^2 /(1+n)^2. 我想问一下红外反射率也是用红外光谱测量的吗？是反射角为多少的时候测量的？垂直入射的时候吗？看文献上从来都没有解释过。另外还有一个问题，反射光谱是怎么测量的，测得的数据就是反射率吗？补充一下测试的光学材料都是镜面抛光的。

投了篇文章，上面用了两种光学材料的红外透过率，一种相对稍高一些，审稿人问我做的透过率测试误差是多少？我有些迷茫，问测试老师，老师也是不清楚，这应该怎么回答？跟设备型号有关吗？

各光学相关企事业单位: 根据光学元件与仪器分会第五届理事会第三次会议安排，将于2012年北京中国国际光电周期间举办“全国光学元件及光学仪器产业发展论坛”，本次产业发展论坛拟邀请行业内著名专家、学者、从业者就光学行业技术和最新产业发展作报告，组织特邀报告、大会交流报告和产品、样品宣展等活动。热忱欢迎广大光学行业的科研人员、工程技术人员和市场营销、企业管理人员以及大专院校相关教授专家积极撰写论文，到会交流，展示最新产品以及研究成果和在光学元器件应用、开发及生产实践中所取得的宝贵经验和成绩。 本次论坛将出版论坛文集，由协会负责将投稿文章编辑并出版（版面及印刷等相关费用由协会承担）。论坛文集将从中外光学技术最新动向、产业及市场状况等方面反映近年光学产业的发展情况。现将会议征文的有关事项通知如下：1、征文范围：(1)光学晶体、光学材料的制备和加工技术、工艺；(2)平面镜、棱镜、球面镜等光学零件的加工工艺、技术；(3)非球面加工技术及工艺；(4)光学加工、光学检测仪器设备等的制造、使用、技术、工艺；(5)光学镀膜工艺及技术；(6)望远镜、显微镜、投影机等光学下游产品制造技术及产业现状；(7)目前光学行业存在问题及对政策的建议；(8)光学各行业上中下游的发展动态、预测及展望。2、征文要求：要求使用WORD格式，标明题目和作者，不能带有广告倾向。论文内容力求反映光学行业的最新技术、企业生产经营管理、产业、市场发展等新动态。3、截稿日期：2012年9月20日4、征文范围：1）全国范围内从事光学相关业务及研发的企事业单位、研究院所、外企机构等均可投稿。2）※要求光学元件与光学仪器分会现任理事单位每家至少提交一篇论文。5、论坛文集编辑出版日期：2012年10月10日(论坛开幕前)。6、论文邮寄方式：用电子邮件邮寄到以下邮箱地址：coema@coema.org.cn.请在论文后面提供详细通信地址及联系电话、电子邮件以便联络。7、协会为每位论文作者免费寄送论坛文集一本。8、将从投稿论文中精选十篇左右反映光学元件、光学仪器以及光学上游等产业发展情况的综述性论文在2012年全国光学元件及光学仪器产业发展论坛上做报告交流。论坛活动的相关安排如下：时 间：2012年10月16日 上午10:00~下午16:30地 点：北京 中国国际展览中心(三元桥)主办单位：中国光学光电子行业协会光学元件与光学仪器分会协办单位：拟设协办单位若干，欢迎理事单位、会员单位参与协办支持单位：拟设支持单位若干，欢迎理事单位、会员单位支持本次论坛听众免费。论坛设立多种赞助方式，赞助标准见附件一。附件一：2012年全国光学元件及光学仪器产业发展论坛赞助方式一、协办单位 赞助费用：四万元人民币－提供2012年全国光学元件及光学仪器产业发展论坛上30分钟的演讲时段；－提供产业发展论坛文集内彩色内页广告一页；－论坛宣传册、论坛背板、论坛文集等资料上列出协办单位名称；－论坛会场摆放企业宣传册及产品样品;协会网站放置企业广告图片。二、支持单位赞助费用：三万元人民币－论坛宣传册、论坛背板、论坛文集等资料上列出支持单位名称；－提供产业发展论坛文集内彩色内页广告一页；－论坛会场可发放企业宣传册。三、企业新技术、新产品推广发布：一万元人民币(提供15分钟ppt报告时间)四、论坛文集广告：(最大尺寸：210×285mm)封底： 6000元人民币封二、封三：4000元人民币彩色内页： 3000元人民币五、论坛会场摆放公司宣传册以及易拉宝等宣传资料：5000元人民币有关事宜可与中国光协光学元件与仪器分会秘书处联系。联系人：程先生 电 话：010-84321499 E-mail：coema@coema.org.cn 网 址：www.coema.org.cn中国光学光电子行业协会光学元件与仪器分会二○一二年七月

各位大侠：红外分光光度计都用来检测哪些项目呀，大伙一起整理一下。。。。红外的用途： 1． 医药化工原料及成品的检验 2． 石英羟基含量测定3． 光学材料透过率测试4． 粉尘中二氧化硅含量的测定5． 单晶硅中氧碳含量测定6． 绝缘油、润滑油中碳含量的测定7． 高校科研8． 食品、药品包装材料的测定多补充呀。。。。

[font=Calibri][font=宋体]仪器信息网于[/font]5[/font][font=Calibri][size=10.5pt][font=宋体]月[/font]26-29[font=宋体]日组织召开[/font][b] [size=18px][b]第九届光谱网络会议[/b][/size][/b][/size][/font][font=Calibri][size=10.5pt][font=宋体]，特邀嘉宾[url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/News/expert?id=6560]钱留琴(海洋光学亚洲（上海）[/url][/font][font=宋体]，带来报告[b]《[url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/News/expert?id=6560]微型光谱系统在新材料领域的应用[/url]》[/b]；[/font][/size][/font][font=宋体]欢迎感兴趣的你，报名参会！[/font][b][font='Times New Roman'][color=#0563c1][url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/SCIEX522/]https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/iCS2020/[/url][/color][/font][/b]

信号处理功能：　　测量离散过程(如零件生产)和连续过程不同,要求红外测温仪有信号处理功能(如峰值保持、谷值保持、平均值)。如测温传送带上的玻璃时,就要用峰值保持,其温度的输出信号传送至控制器内。环境条件考虑：　　测温仪所处的环境条件对测量结果有很大影响,应加以考虑、并适当解决,否则会影响测温精度甚至引起测温仪的损坏。当环境温度过高、存在灰尘、烟雾和蒸汽的条件下,可选用厂商提供的保护套、水冷却、空气冷却系统、空气吹扫器等附件。这些附件可有效地解决环境影响并保护测温仪,实现准确测温。在确定附件时,应尽可能要求标准化服务,以降低安装成本。当烟雾、灰尘或其他颗粒降低测量能量信号，双色测温仪是最佳选择。在噪声、电磁场、震动或难以接近环境条件下,或其他恶劣条件下,光纤双色测温仪是最佳选择。　　在密封的或危险的材料应用中(如容器或真空箱),测温仪通过窗口进行观测。材料必须有足够的强度并能通过所用测温仪的工作波长范围。还要确定操作工是否也需要通过窗口进行观察,因此要选择合适的安装位置和窗口材料,避免相互影响。在低温测量应用中,通常用Ge或Si材料作为窗口,不透可见光,人眼不能通过窗口观察目标。如操作员需要通过窗口目标,应采用既透红外辐射又透过可见光的光学材料,如应采用既透红外辐射又透过可见光的光学材料,如ZnSe或BaF2等作为窗口材料。操作简单，使用方便：　　红外测温仪应该是直观的,操作简单,易于被操作人员使用,其中便携式红外测温仪是一种集测温和显示输出为一体的小型、轻便、由人携带进行测温的仪器,在显示面板上可显示温度和输出各种温度信息,有的可通过遥控或通过计算机软件程序操作。　　在环境条件恶劣复杂的情况下,可以选择测温头和显示器分开的系统,以便于安装和配置。可选择与现行控制设备相匹配的信号输出形式。红外辐射测温仪的标定：　　红外测温仪必须经过标定才能使它正确地显示出被测目标的温度。如果所用的测温仪在使用中出现测温超差,则需退回厂家或维修中心重新标定。

材料物理试验physical test of material　　利用物质的各种物理效应来分析和确定材料的性状，并寻找它们之间的相互关系和规律性的一种材料试验。材料的性状包括结构、组织形貌、化学组成和价态、物理或物理－化学参数等。材料物理试验是鉴定、评价和研究金属及合金材料的重要手段。有些方法也可用于非金属材料。　　作用 　材料物理试验的主要作用是：　　①　为合理地选择制造各种机械零部件用的材料提供可靠的依据。　　②　为制订材料的热处理（见金属热处理）、锻造、冲压、铸造和焊接等各种工艺过程的正确规范提供参考资料。　　③　作为失效分析的主要手段。对失效的机械零部件进行失效原因分析是防止类似事故再度发生、提高产品质量和延长使用寿命的有效途径。失效分析时首先应进行宏观观察和检查，以了解失效现象的概貌。然后进一步应用各种微观方法来研究失效的零部件，特别是失效的起始部位的组织形貌、结构和化学组成等特征，以便找出失效原因，提出改进措施。　　方法 　材料物理试验的方法包括光学金相检验、X射线分析、电子显微镜分析、电子探针分析、表面分析和物理性能参数测定。　　光学金相检验 　包括宏观检验和显微组织检验两个方面。前者采用肉眼或低倍放大方法观察、分析材料或零部件的宏观组织和断口形貌等；后者采用光学金相显微镜在放大50～2000倍下观察金相试样的显微组织和微观缺陷等。　　X射线分析 　广泛应用于金属材料相组分的测定、残余应力的测定和相变过程中结构变化的研究；也可用于探伤和材料化学成分的X射线荧光分析。 　　电子显微镜分析 　主要包括透射电子显微镜分析和扫描电子显微镜分析两种。透射电子显微镜具有很高的分辨本领,而且可以作电子衍射分析,能同时提供试样的组织形貌和与之相对应的晶体，透射电子显微镜分析是物理试验中最常用的显微分析手段。扫描电子显微镜是采用二次电子、背散射电子或吸收电子等信号成像，有较大的景深，适宜于作断口分析和三维显微形态分析。　　电子探针分析 　利用样品受高速电子轰击后发出组成元素的特征 X射线信号来鉴定元素种类和含量的分析方法。它是微区化学成分分析的重要手段，可分析原子序数为4以上的所有元素。　　表面分析 　包括离子探针分析、俄歇电子能谱分析和X射线光电子能谱分析。　　物理性能参数测定 　物理性能参数表征金属和合金固有的宏观性能(见材料物理性能参数)。这些参数不仅是设计中的重要数据，而且可根据它们的变化来有效地研究金属内部组织和结构的变化。物理性能参数测定的特点是测量速度快而且准确，并能显示转变过程的全貌。但单靠此法来间接推断材料内部组织和结构变化，在某些情况下存在困难，如用此法与材料物理试验的其他方法相互配合，则有可能更充分地反映出金属和合金材料内部变化的规律和本质。

在实体空间中，材料总是表现出长、宽、高3个维度，因此我们日常所见的材料一般都是拥有相当大维度的条、面、块。然而，当这些材料逐渐地变薄变细变小，在长宽高等某些维度或全部维度上的尺寸足够小时，就会成为“低维材料”，例如零维材料（量子点、原子簇等）、一维材料（高性能纤维、纳米线等）、二维材料（功能膜材料等）。事实上，当材料在某一维度的尺寸足够小时，比如达到一个分子乃至一个原子的尺度范围时，就会展现出不同于日常材料的特性，在力学、光学、磁学等领域具备神奇性能，变身为传说中的“智能材料”。

由中国金属学会（CSM）、日本金属学会（JIM）、韩国金属学会（KIM）、澳大利亚材料学会（MA）和美国矿物金属材料学会（TMS）共同主办的“第十届环太平洋先进材料与工艺国际会议”（PRICM10）将于2019 年8 月18-22 日在陕西省西安市召开。参展内容及展品范围 第一部分：先进材料部分  高性能金属材料——特种金属功能材料、高端金属结构材料：稀土功能材料、稀有金属材料、半导体材料、高品质特殊钢、新型铝镁钛、其他高端功能和金属材料 前沿新材料：纳米材料、生物材料、智能材料、超导材料 高性能纤维及复合材料：高性能纤维及材料、树脂基复合材料、陶瓷基复合材料、碳/碳复合材料、金属基复合材料 新能源材料：先进储能材料、风电材料、太阳能光伏材料、锂离子电池材料、新光源材料等第二部分：材料工艺、成型设备技术部分  材料工艺设备：实验电炉、小型塑料机械、激光设备、3D打印、其他材料工艺设备； 物性测试仪器及设备：粒度仪、热分析仪器、流变仪/粘度计、试验机、表界面物性测试、无损检测仪器、测厚仪、材料力学性能试验设备、其他仪器设备等； 光学仪器及设备：电子显微镜、光学显微镜、光学测量仪、光学实验设备、光学成像设备、其他光学仪器设备及设备； 化学分析仪器：色谱、光谱、质谱、X射线仪器、元素分析仪、波谱、LIMS / 软件、其他通用分析仪器等； 实验室设备及服务：清洗/消毒设备、制样/消解设备、分离/萃取设备、混合/分散设备、恒温/加热/干燥设备、粉碎设备、合成/反应设备、制冷设备、实验室家具、其它实验室常用设备等；仪器安装调试、技术咨询、认证校准、软件开发、数据处理； 化学试剂和标准物质、相关零配件、耗材等 第三部分：其他  先进材料科学研究院所、国家重点实验室  产业园区、投融资机构、第三方平台

【金属材料与热处理】的知识（1-10）集将在最近转移到“光学显微镜版面”如果还需要学习的朋友请到那里去看。从20日起，本版继续刊登新的【金属材料与热处理】的新内容。

中国科技网讯 据物理学家组织网近日报道，电脑芯片利用光来移动数据将更加节能，甚至可比现今使用的芯片速度更快。而实现这点的困难之一就是光穿过电磁波导时不发生逆向反射以干扰之后的传输，甚至中断激光的工作。 现今的光纤网络通常使用光电隔离器来阻止光的逆向反射。这种装置一般由钇铟柘榴石等特殊材料制成，同时只能在磁场的作用下开展工作，这使得它的体积十分庞大。另外，由于隔离器会吸收光子以避免它们发生反向散射，其同样会削弱向前移动的光学信号。 而麻省理工学院等校的科研人员描述了一种新型超材料，能够保持光子只沿一个方向移动，使游荡的光子改道，而不仅仅是吸收它们。研究人员表示，这十分重要，因为光子的损失会限制他们所能集成的设备数量，因而制约大规模集成光学器件的发展。虽然实验所用的原型很大，但却不需要另外施加磁场，因此其原则上能够生产出比当前的光电隔离器更小的光学元件。此外，构建芯片级别的超材料不需要比生成微处理器更特殊的金属，从而能够降低制造的成本。相关研究报告发表在本周出版的美国《国家科学院学报》上。 赋予新材料光聚集特性的正是成排嵌入的金属天线，它们看起来很像垂直和水平交错的小型螺旋桨。每根天线由电路与位于材料底部表面的反方向的天线相连，通过电路的电流方向则决定了电磁波的传播方向。 虽然科学家正尝试以诸多不同的途径获取芯片级别的波导，但新型超材料提供的光学波导对于制造能够控制光学信号的芯片上设备十分有用。在芯片生产中，这些天线能被轻易地嵌入硅中。但天线的小型化并非支持超材料在可见光甚至近红外频率中工作的主要障碍，工作频率同样会受到电流中晶体管转换速度的限制，目前还没有哪个晶体管的设计能够迎合可见光较高的转换速度，而这正是研究人员正在努力的方向。（张巍巍） 《科技日报》（2012-08-21 二版）

【序号】：【作者】：李贺成【题名】：红外光学材料——锗【期刊】：【全文链接】：http://61.175.198.136:8083/rwt/288/http/GEZC6MJZFZZUPLSSG63B/kcms/detail/detail.aspx?recid=&FileName=JGHW198007000&DbName=CJFD7993&DbCode=CJFQ&uid=S0RUUkZNT1JRelZUQ3drNVNsUmx3eXNGMVZ6V09yYnl2MlpCdnhFNmYyb3M5bUR1

是采用紫外光源，红外光源和可见光源照射被测透明物质，感应器分别探测三种光源的入射光强和透过被测透明物质后的光强，透过光强与入射光强的比值即为透过率，用百分数表示。用于玻璃，镀膜材料，有机材料，涂料，太阳膜等透光物质的光学透过率测试。适用于单层玻璃，夹层玻璃（中空玻璃），贴膜玻璃，PMMA材料，ＰＣ材料等的光学性能测试