光电器件

DSR300系列微纳器件光谱响应度测试系统是一款专用于低微材料光电测试的系统。其功能全面，提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描，光电流扫描以及光响应速率测试。40μm探测光斑，实现百微米级探测器的*对光谱祥响应度测量。超高稳定性光源支持长时间的连续测试，丰富的光源选择以及多层光学光路设计可扩展多路光源，例如超连续白光激光器，皮秒脉冲激光器，半导体激光器，卤素灯，氙灯等，满足不同探测器测试功能的要求。是微纳器件研究的优选。 功能：? 光谱响应度? 外量子效率? 单色光/变功率IV；? 不同辐照度IT曲线（分辨率200ms）? 不同偏压下的IT曲线? LBIC，Mapping? 线性度测试? 响应速率测试 微纳器件光谱响应度测试系统主要技术参数显微镜头标配：10倍超长工作距离物镜，工作距离大于17mmNA值：0.42光谱范围：350-800nm选配：1，50倍超长工作距离消色差物镜，工作距离大于17mmNA值：0.42光谱范围：480-1800nm 2，15倍紫外物镜，工作距离大于8.5mmNA值：0.32光谱范围：250-700nm 3，50倍超长工作距离紫外物镜，工作距离大于12mmNA值：0.42光谱范围：240-500nm 4，40倍反射式长工作距离工作距离大于7.8mmNA值：0.5光谱范围：200nm-20um光斑中心空心光源选配光源1、半导体激光器波长：405nm，532nm，633nm，808nm，980nm可选不稳定性：＜1% 2、皮秒脉冲激光器波长：375nm，405nm，488nm，785nm，976nm可选脉宽：100ps频率：1-20M Hz 3、氙灯光源光谱范围：250nm-1800nm不稳定性：＜1% 4、超连续白光激光光源光谱范围：400-2400nm频率：0.01MHz-200MHz脉宽：100ps光谱仪焦距：300mm；相对孔径：f/3.9；光学结构：C-T；光谱仪分辨率：0.1nm；倒线色散：2.7nm；波长准确度：±0.2nm波长重复性：±0.1nm扫描步距：0.005nm狭缝规格：圆孔抽拉式固定狭缝，孔径：0.2mm,0.5mm,1mm,1.5mm,2mm,2.5mm,3mm；三光栅塔台；光栅配置：1-120-300、1-060-500、1-030-1250，光栅尺寸：68×68mm6档自动滤光片轮，光谱范围200-2000nm；内置电动机械快门，软件控制快门开关；杂散光抑制比：10-5探针台配置4个探针座，配20/10微米针尖探针2米三同轴电缆，漏电流小于1pA。真空吸附样品台。探针座：ＸＹＺ方向12ｍｍ调节行程，0.75uｍ调节分辨率，0-30°调节探针角度。LBIC MaappingXY方向行程50mm，分辨率5um。数釆v 锁相放大器斩波频率：20Hz~1KHz；频率6位显示，2.4英寸屏，320×240液晶显示；电压输入模式：单端输入或差分输入；电压、电流两种输入模式； 满量程灵敏度：1nV至1V；电流输入增益：106或108V/A；动态储备：＞100dB；时间常数范围：10μs至3ks； v keithley2612B量程：100nA/1A最小信号：1nA本地噪音：100pa分辨率：100fa通道数：2 v keithley2636B量程：1nA/1A最小信号：10pA本地噪音：1pa分辨率：10fa通道数：2制冷样品台温度范围：-196℃-600℃，（-196℃需要选择专用冷却系统）全程温度精度/温度性：0.1℃/＜0.01℃光孔直径：2.4mm样品区域面积：直径22mm两个样品探针，1个LEMO接头（可增加至1探针）工作距离：4.5-12.5mm气密样品腔室，可充入保护性气体独立温度控制响应速率测试示波器型号：MDO32模拟带宽100MHz采样率5GS/s记录长度10M时间范围：uS-S，需要配合调制激光器使用时间范围：10nS-S,需要配合皮秒脉冲激光器使用 三维可调高稳定探针台结构，方便样品位置调节。内置三路半导体激光器或者两路光纤激光器，外置一路激光光路。可以引入可调单色光源，进行全光谱范围的光谱响应度测试。测试功能曲线：40um光斑@550nm@50倍物镜200um光纤 70um光斑@550nm@50倍物镜400um光纤5um光斑@375nm皮秒激光器@40倍物镜 紫外增强氙灯和EQ99光源的单色光能量曲线，使用40倍反射式物镜，300mm焦距光谱仪，光谱仪使用1200刻线300nm闪耀光栅，光斑直径大小80um。

定制化光电测试系统待测器件：DFB、VCSEL、PD、硅光等待测器件：光栅、分光器、偏振旋转器、光衰减器、光调制器、光探测器等测试项：损耗、光学带宽、偏振消光比、电阻、暗电流、光电带宽、电光带宽等，按需定制。

半导体器件测试仪器光电器件响应测量与分析仪PD-RS 产品介绍：载流子表征的最佳工具本系统针对光电器件 (探测器或光伏器件) 进行光电转换过程的响应行为测量与分析。利用一单色 (单波长) 的光源，对其进行连续脉冲或是周期性的光强调制后，照射到光电器件产生光生电流或是光生电压讯号，并对此进行频域或时域的测量与分析，得到光电器件光电转换过程的重要参数。包含频率响应、爬升/下降时间、LDR线型动态范围、瞬态光电压 (TPV) 、瞬态光电流 (TPC) 等光电转换能力评价参数。用以了解光电器件内部结构与载流子动力学、内部材料组成、器件结构与载流子动力学之关系。作为光电器件特性评价与性能改进的参考。半导体器件测试仪器光电器件响应测量与分析仪PD-RS 特色：光强线性度测量与分析频率响应测量 0~40MHz可选雷射模块系统波长雷射光调变控制频率响应测量与分析截止频率 (Cut Frequency) 计算分析Rise/ Fall time 测量与分析TPC/TPV 测量与分析高动态光强变化光学调变模块，可自动调变强度 6 个数量级半导体器件测试仪器光电器件响应测量与分析仪PD-RS 规格TPC/TPV 量测功能雷射波长：半导体器件测试仪器光电器件响应测量与分析仪PD-RS 应用：有机光传感器 (OPD, Organic Photodiode)钙钛矿光传感器 (PPD, Perovskite Photodiode)量子点光传感器 (QDPD, Quantum Dots Photodiode)新型材料光传感器实证Cs2Pb(SCN)2Br2 单晶光电器件性能表征2021 年 Advanced Materials 期刊报导了第一种无机阳离子拟卤化物二维相钙钛矿单晶 Cs2Pb(SCN)2Br2。作者使用 PD-RS 系统对单晶光电器件进行多种的光电转换响应行为进行测量与分析。其中包含：变光强 IV 曲线测试。变光强光电流与响应度变化测试。定电压下光电转换爬升与下降时间测试。恒定光强脉冲光的时间相关光电流响应测试。TPC/TPV 瞬态光电流/光电压测试。 恒定光强脉冲光的光电流时间响应PD-RS 系统具备高速调制能力的激光器 (爬升/下降时间 5ns)，在恒定光强脉冲光条件下，可以对器件进行光电流时间响应测试，并且分析光电器件的爬升/下降时间的分析。以了解光电器件最快的时间响应极限特征。变光强光电流与响应度变化测试 (LDR) PD-RS 具备 120 dB 光强动态范围测试能力。在软件自动化的测试光电流的变化，绘制出待测器件的线性动态范围响应图 (LDR, Linearity Dynamic Range)。LDR 试评估光电器件特性的一项重要指标。由光电流与光强的测试可以得到响应度 (mA/W) 变化，是常用于表征光电器件优劣的参数。

NanoTrak® 主动自动对准模块特性主动对准系统，具有先进的光搜索算法跟踪功能保持无限最佳的性能锁定模式维持对准稳定性MNA601/IR模块提供两轴控制MMR601和MMR602机架系统能够支持最多6个模块两个压电驱动输出通道提供闭环反馈包含红外(InGaAs)探测器和用于外部二极管的SMB接头可见(硅)探测器单独提供完整的软件GUI控制套件并支持第三方自定义应用程序模块化NanoTrak自动对准控制器能够实现光纤-光纤或光纤-自由空间系统的最大功率通量。控制器通过操作压电驱动位移台以圆形扫描模式移动光纤末端，执行功率梯度搜索，以确定峰值功率方向并定位光纤，从而实现最大通量。两个高电压输出通道提供驱动相关压电驱动器的信号，因此无需外部压电驱动器。光纤对准控制器结合3轴NanoMax和6轴NanoMax等多轴压电驱动位移台，可以构成完整的自动对准系统。此外，控制器还可以完全集成到机架系统中，机架系统由一些插件构成：压电控制器、步进电机控制器和这个NanoTrak自动对准模块。通过Kinesis® 软件经USB连接到PC可以实现即插即用的操作，此软件具有新的.NET控件，使用最新C、C#、LabVIEW&trade 或任意兼容.NET语言的第三方研究人员可以利用此控件创建自定义应用程序。更多详情，请看运动控制软件、Kinesis教程和APT教程标签。光最初从一个设备(比如光纤)耦合到另一个设备时包括在探测到信号之前搜索多维空间的过程。NanoTrak支持软件提供一系列电机搜索算法，以实现初次光探测。虽然NanoTrak主要用于对准光纤和集成光学器件，但也非常适合自动化任何劳动力密集型对准任务，如波导表征、给有源和无源器件配尾纤以及其他研发应用。NanoTrak模块带有用于红外波段(900 - 1700 nm)的InGaAs探测器(NTA007)和用于外部探测头的PIN二极管SMB输入。用于可见波段(320 - 1100 nm)的硅探测器(NTA009)在下方单独出售。电缆用于将驱动器或位移台连接到控制器的电缆是与驱动器或位移台一起发货的，而不是由控制器提供。如果您需要确定合适的替换电缆，请联系技术支持。NanoTrak® Automated Fiber Alignment ControllersK-Cube&trade 2-Channel ControllersBenchtop 2-Channel ControllerModular 2-Channel Rack System Module模块规格Signal MeasurementPIN PhotodiodeMechanical ConnectorSMB MalePhotocurrent Range1 nA to 10 mAOptical ConnectorFC/PCNanoTrakingCircle Scanning Frequency1 to 300 HzCircle Position Range 1% to 99% MPECircle Diameter Adj. ModesAutomatic and ManualSignal Phase Compensation±180°Piezoelectric Input/OutputNumber of Piezo Channels2HV Output ConnectorsConnector TypeSMC MaleVoltage Output0 to 75 VDC/ChannelVoltage Stability100 ppm over 24 HoursNoise 3 mV (RMS)Output Current500 mA/ChannelAnalog Output MonitorsConnector TypeBNCVoltage Range0 to 10 VDCStrain Gauge Position FeedbackConnector Type9-Pin D-Type FemaleFeedback TypeACOther Input/OutputOptical Power MonitorConnector TypeBNCVoltage Range0 to 10 VDCExt Signal In InputConnector TypeBNCVoltage Range0 to 10 VDCUser ControlConnector Type26-Pin HD D-Type FemaleIsolated Digital Inputs4 off TTLIsolated Digital Outputs4 off TTLTrigger Input1 off TTLTrigger Output1 off TTLPotentiometer Channel Ctrl Input1-10 k (Each Channel)Analog Channel Output Monitors0 to 10 VDC (Each Channel)GeneralDimensions (W x D x H)190 mm x 270 mm x 50 mmWeight1.5 kg (3.3 lbs)APT双通道压电 MNA601/IR 光电器件

铌酸锂电光调制器Thorlabs自由空间电光(EO)振幅和相位铌酸锂调制器是我们在晶体生长和电光材料方面经验的结晶。我们的电光调制器使用掺氧化镁的铌酸锂，用于高功率工作。调制器有一个SMA RF输入端，直接兼容我们的HVA200高压放大器(请见下方)。我们提供宽带DC耦合和高Q共振型号。特性高性能，紧凑封装宽带DC耦合或高Q共振2 mm直径通光孔径掺氧化镁的铌酸锂晶体SMA RF调制输入接头DC到100 MHz提供定制OEM版本电光振幅调制器电光振幅调制器(EO-AM)是一种普克尔盒型调制器，由封装在紧凑外壳中的两个匹配铌酸锂晶体(请看右图)组成，外壳带射频输入接头。对晶体施加电场将改变折射率(寻常光和非寻常光)，产生电场相关的双折射效应，以此改变光束的偏振态。电光晶体相当于一个可变波片，其延迟量与施加电场成线性关系。在输出端放置一个线偏振片，通过偏振片的光束强度将随施加电压的线性变化而发生正弦变化。请注意，工作在-C4波段(400 - 600 nm)的AM调制器仅用于几赫兹以上的AC调制。掺氧化镁的铌酸锂对这个波长范围的光敏感，对施加的DC电场显示出缓慢的负压。光越强，DC场消除得越快。因此，实际上，DC电压不能用于在指定的工作点给调制器施加偏压。但是，可以使用可调波片在需要的工作点给调制器施加光学偏置。 空间光调制器 EO-AM-NR-C4光电器件

USB闭环压电控制器 BPC301 光电器件特性可变的输出选择：75 V，100 V或150 V带高等控制算法的闭环PID定位形变测量器或电容传感反馈选项高分辨率定位控制适合非常精密的定位应用电压斜线上升/波形产生功能适合扫描应用高带宽(10kHz)压电定位对Thorlabs的压电促动器的自动配置功能用户控制的数字I/O端口USB随插即用–多轴扩展电机控制I/O端口(点动，互锁)提供wan全的软件控制套装直观的软件图形控制面板丰富的ActiveX® 编程接口可与其他apt&trade 系列控制器wan全软件集成(集成系统开发)这些单通道和三通道高功率(150伏)台式压电控制器，用于开环和闭环纳米定位控制。它们设计用来驱动所有Thorlabs出售的开环和闭环压电纳米定位促动器和平台。另外，灵活的软件设置使这些单元高度可配置，因此适合驱动多种第三方产品中的压电元件。 波形产生功能结合触发输出，使该单元特别适合压电扫描应用。手动控制位于单元的前面，可以通过数字编码电位调节器来手动调整压电元件的位置。显示易于阅读，可以设置为显示施加的电压或者以微米为单位的位置信息。开环或闭环控制和压电归零也可以从前面板选择。USB连接提供方便的即插即用的电脑操作。多台设备可通过用于多轴运动控制应用的标准USB集线器技术连接到一台电脑。与操作简便的APT&trade 软件一起，可以让用户在短时间内非常迅速地搭建并运行相当复杂的运动序列；例如，对于Thorlabs平台和驱动器产品，所有相关的操作参数都自动进行设置。高级自定义运动控制应用和序列还可以通过使用扩展的ActiveX® 编程环境获得，更多细节请查看运动控制软件标签。这些ActiveX控制可结合多种软件开发环境，包括Labview、C++和Matlab。

适用对象: 光电产业平面显示器，例: 液晶面板TFT LCD PANEL、背光板TFT LCD BACKLIGHT、**发光二极管OLED、低温多晶硅L等产品。温度范围：-70℃～+150℃湿度范围：20～98%RH产品特色：**造型设计，操作简易之面板接口。采用日制大型彩色触控LCD中 / 英文微电脑温度控制器，设定简单，功能*附有RS-232与RS-485两组独立标准通信接口装置，可与个人计算机PC同时多机联机控制及管理待测品电源与机台安全保护装置均采用连控设计方式。可选购256MB*记忆容量之CF装置，具自我诊断之功能，记录间隔可自由选择设定。清晰宽广的*大前后双面观测窗口，尺寸72㎝(W) ×152㎝(H)。采用**防雾设计(*雨刷)，随时保持清晰以利观测箱内产品状况。简便RH%用水自动给水装置。内箱面板置物架可依不同面板之尺寸10"、18"、20"、30"及背靠板角度:平放、30度、45度、60度‥等角度任意调整。广东宏展科技有限公司为您提供可程式恒温恒湿试验箱的参数、价格、型号、原理等信息，可程式恒温恒湿试验箱产地为广东、*为宏展 ，型号为PL960，价格为面议RMB，更多相关信息可来电咨询，公司电话7*24小时为您服务

适用对象: 光电产业平面显示器，例: 液晶面板TFT LCD PANEL、背光板TFT LCD BACKLIGHT、**发光二极管OLED、低温多晶硅L等产品。温度范围：-70℃～+150℃湿度范围：20～98%RH产品特色：**造型设计，操作简易之面板接口。采用日制大型彩色触控LCD中 / 英文微电脑温度控制器，设定简单，功能*附有RS-232与RS-485两组独立标准通信接口装置，可与个人计算机PC同时多机联机控制及管理待测品电源与机台安全保护装置均采用连控设计方式。可选购256MB*记忆容量之CF装置，具自我诊断之功能，记录间隔可自由选择设定。清晰宽广的*大前后双面观测窗口，尺寸72㎝(W) ×152㎝(H)。采用**防雾设计(*雨刷)，随时保持清晰以利观测箱内产品状况。简便RH%用水自动给水装置。内箱面板置物架可依不同面板之尺寸10"、18"、20"、30"及背靠板角度:平放、30度、45度、60度‥等角度任意调整。广东宏展科技有限公司为您提供可程式恒温恒湿试验箱的参数、价格、型号、原理等信息，可程式恒温恒湿试验箱产地为广东、*为宏展 ，型号为PL960，价格为面议RMB，更多相关信息可来电咨询，公司电话7*24小时为您服务

BW-3010B晶体管光耦参数测试仪（双功能版）品牌： 博微电通名称：晶体管光耦参数测试仪(光耦&光电传感器双功能版)型号： BW-3010B用途： BW-3010B型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试。 BW-3010B型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器和光电传感器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试，BW-3010B为各种三极管型4脚光藕提供了输入正向压降（VF）和输出反向耐(ICEO)、耐压BVCEO、传输比(CTR)等 。中文软件界面友好,简化了系统的操作和编程,提供了快速的一次测试条件和测试参数的设定,测试条件及数据同步存入EEPROM中，测试条件可以任意设置，测试正向压降和输出电流可达1A，操作简便，实用性强。广泛应用与半导体电子行业、新能源行业、封装测试、家电行业、科研教育等领域来料检验、产品选型等重要检测设备之一。产品电气参数：产品信息产品型号：BW-3022A产品名称：晶体管光耦参数测试仪；物理规格主机尺寸：深 305*宽 280*高 120(mm)主机重量：＜4.5Kg主机颜色：白色系电气环境主机功耗：＜75W环境要求：-20℃～60℃（储存）、5℃～50℃（工作）；相对湿度：≯85%；大气压力：86Kpa～106Kpa；防护条件：无较大灰尘，腐蚀或爆炸性气体，导电粉尘等；电网要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；工作时间：连续；服务领域： 应用场景： ▶ 选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对） ▶ 检验筛选（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率） 产品特点： ▶ 大屏幕液晶,中文操作界面,显示直观简洁,操作方面简单 ▶ 大容量EEPROM存储器,储存量可多达1000种设置型号数. ▶ 全部可编程的DUT恒流源和电压源. ▶ 内置继电器矩阵自动连接所需的测试电路,电压/电流源和测试回路. ▶ 高压测试电流分辨率1uA,测试电压可达1500V； ▶ 重复”回路”式测试解决了元件发热和间歇的问题； ▶ 软件自校准功能； ▶ 自动测试测DUT短路、开路或误接现象,如果发现,就立即停止测试； ▶ DUT的功能检测通过LCD显示出被测器件/DUT的类型，显示测试结果是否合格,并有声光提示； ▶ 两种工作模式：手动、自动测试模式。 BW-3010B主机和DUT的管脚对应关系型号类型P1 T1P2 T2P3T3P4T4光藕PC817AA测试端KK测试端EE测试端CC测试端 BW-3010B测试技术指标：1、光电传感器指标:输入正向压降(VF)测试范围分辨率精度测试条件0-2V2mV1%+2RD0-1000MA反向电流(Ir)测试范围分辨率精度测试条件0-200UA0.2UA2%+2RDVR:0-20V集电极电流(Ic)测试范围分辨率精度测试条件0-40mA0.2MA1%+2RDVCE:0-20V IF:0-40MA输出导通压降(VCE(sat))测试范围分辨率精度测试条件0-2.000V2mV1% +5RDIC：0-40mAIF:0-40mA输出漏电流(Iceo)测试范围分辨率精度测试条件0-2.000mA2UA2%+2RDVR:0-20V2、光电耦合器：耐压(VCEO)测试指标测试范围分辨率精度测试条件0-1400V1V2%+2RD0-2mA输入正向压降(VF)测试范围分辨率精度测试条件0-2V2mV1%+2RD0-1000MA反向漏电流(ICEO)测试范围分辨率精度测试条件0-2000uA1UA5% +5RDBVCE=25V反向漏电流(IR)测试范围分辨率精度测试条件0-2000uA1UA5% +5RDVR=0-20V电流传输比(CTR)测试范围分辨率精度测试条件0-99991%1% +5RDBVCE：0-20VIF:0-100MA输出导通压降(VCE(sat))测试范围分辨率精度测试条件0-2.000V2mV1% +5RDIC：0-1.000AIF:0-1.000A可分档位总数：10档 BW-3010B测试定义与规范：AKEC:表示引脚自左向右排列分别为 光耦的,A K E C极.VF:IF: 表示测试光耦输入正向VF压降时的测试电流.Vce:Bv:表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电压.Vce:Ir: 表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电流.CTR:IF:表示测试光耦传输比时输入端的测试电流。CTR:Vce:表示测试光耦传输比时输出端的测试电压。Vsat:IF:表示测试光耦输出导通压降时输入端的测试电流。Vsat:Ic:表示测试光耦输出导通压降时输出端的测试电流。

氦质谱检漏仪光无源器件检漏上海伯东 Pfeiffer 氦质谱检漏仪 ASM 182 TD+ 成功应用于光无源器件检漏光无源器件是不含光能源的光功能器件的总称。光无源器件在光路中都要消耗能量，插入损耗是其主要性能指标。光无源器件有光纤连接器、光开关、光衰减器、光 纤耦合器、波分复用器、光调制器、光滤波器、光隔离器、光环行器等。它们在光路中分别实现连接、能量衰减、反向隔离、分路或合路、信号调制、滤波等功能。 本文主要介绍上海伯东 Pfeiffer 氦质谱检漏仪在无源器件中的检漏应用。无源器件检漏原因：光无源器件是光纤通信设备的重要组成部分，也是其它光纤应用领域不可缺少的元器件。具有高回波损耗、低插入损耗、高可靠性等特点。光无源器件对密封性的要求极高，如果存在泄漏会影响其使用性能和精度，光通信行业的漏率标准是小于 5×10-8 mbar.l/s，因此需要进行泄漏检测。氦质谱检漏法利用氦气作为示踪气体可精确定位，定量漏点，替代传统泡沫检漏和压差检漏，目前已广泛应用于光无源器件的检漏。无源器件检漏客户案例：深圳某知名光通信上市公司，为提高效率，需求大抽速高效的检漏仪，经过上海伯东技术工程师的选型，最终采购氦质谱检漏仪 ASM 182TD+ 用于光无源器件的检漏。光无源器件检漏方法：由于无源器件体积小，且无法抽真空或直接充入氦气，我们采用“背压法”检漏，具体做法如下。1.将被检无源器件放入真空保压罐，压力和时间根据漏率大小设定2.取出无源器件，使用空气或氮气吹扫表面氦气3.将无源器件放入真空测试罐，测试罐连接氦质谱检漏仪4.启动氦质谱检漏仪，开始检漏

保偏光纤跳线产品简介：尖丰光电保偏跳线采用一体化物料加工，工艺先进，所制作的产品消光比稳定，插损小 。特点应用低插入损耗光纤放大器EDFA高消光比和高隔离度光纤光学仪器功率监测高稳定性和可靠性光纤传感器规格参数参数数值连接头类型FC/UPC, SC/UPC,LC/UPC ,FC/APC, SC/APC, LC/APC中心波长(nm)1310,1480, 1550980, 1064,插入损耗 (dB)≤0.3≤0.5回损(dB)UPC Type≥50APC type≥60消光比 (dB)≥23≥23光纤类型PM1310,PM1550PM980连接头轴向慢轴对轴精度(deg)±3工作温度 (℃)-5~+70储存温度 (℃)-40 ~ +80封装尺寸： 订单信息：保偏光纤跳线连接头类型1连接头类型2波长　尾纤类型光纤类型光纤长度　NE=NoneFA=FC/APCFC=FC/UPCSA=SC/APCSC=SC/UPCLC=LC/UPCLA=LC/APCX=OtherNE=NoneFA=FC/APCFC=FC/UPCSA=SC/APCSC=SC/UPCLC=LC/UPCLA=LC/APCX=Other980106413101550250=250um bare fiber900=900um loose tube2000=2mm loose tube3000=3mm loose tubePM850PM980PM1310PM15501=1m2=2mX=Other 上海尖丰光电技术有限公司可以提供各种光无源器件：各种光纤准直器：单模光纤准直器，多模光纤准直器（波长：850nm/980nm/1064nm/1310nm/1550nm）光隔离器：偏振无关光隔离器，（类型：单级和双级，波长：1064nm/1310nm/1550nm）偏振控制：三环偏振控制器，挤压光纤式偏振控制器光起偏器/消偏器：光纤在线起偏器 光纤检偏器（波长：980nm/1064nm/1310nm/1550nm）光环形器：三端口/四端口光环形器（波长：1064nm/1310nm/1550nm/1625nm,C波段,C+L波段）光衰减器：机械可调光衰减器，电可调光衰减器（波长：850nm/980nm/1064nm/1310nm/1550nm）波分复用器：CWDM,DWDM(100G/200G),FWDM,PMWDM（类型：1X1,1X2波长：850/1310,980/1550,980/1064,1310/1550）光耦合器：单模/多模光纤耦合器 （类型：1X2,1X3,2X2,3X3波 长:980nm/1064nm/1310nm/1550nm分光比1:99—50:50（任意分光比）光合束器：偏振合束器/分束器，隔离型偏振合束器/分束器（波长：980nm/1064nm/1310nm/1550nm）保偏光器件：--保偏跳线、保偏尾纤--保偏隔离型WDM、保偏隔离器--隔离型偏振分束器 、隔离型偏振合束器--保偏偏振分束器 、偏振合束器--保偏隔离器、保偏环形器、保偏准直器--保偏波分复用器、保偏FWDM、保偏DWDM（100Ghz、200Ghz）--保偏可调衰减器--保偏法拉第镜 1060nm/1064nm 器件--1064nm 保偏跳线--1064nm 起偏器、消偏器--1064nm 偏振分束器、偏振合束器--1064nm 保偏隔离器、保偏环形器、保偏准直器--1064nm 高功率准直输出隔离器（5w,10w,20w) 高功率光器件--高功率保偏准直器--高功率保偏准直输出隔离器--高功率 偏振无关隔离器--高功率保偏隔离器--高功率自由空间尾纤输出隔离器

多通道发光器件寿命测试仪1 设备主机，包括： （1） 主控电脑 （2） 主机机箱 （3） 数据采集模块 （4） 测试控制模块（可拓展至 128 通道） （5） 测试机柜 （6） 配置 UPS，满足续航供电 （7） 搭配显示器、鼠标键盘等配件 2 高精密程控电源 （1） 电流范围： 10uA-10mA；电压范围： 0-20V（2） 可同时支持 8多个通道的发光器件的独立测试，每个通道可独立控制电流的输出，满足发光器件恒流下的寿命测试。 3 测试模块，包括： （1） 根据用户发光器件尺寸设计夹具，配置多套测试夹具， 可以放置于手套箱内测试； （2） 采用硅光电二极管实现对发光器件亮度的监测，亮度监测范围可选； （3） 支持底发光、倒装/正装器件测试。

LEDLED是一种能将电能转化成光能的光半导体器件。和半导体激光相比，LED具有低功耗和长寿命的优点。滨松光子能够提供高能量输出的LED，广泛的应用于光开关、编码、光通信，及其他工业领域。 应用领域光通信自动控制系统光开关远程控制光编码湿度测量异物检查自由空间光学（FSO）测距仪产品列表产品名称封装峰值波长(nm)辐射功率（mW）截止频率（Hz）备注 L10596金属TO-46870315M L10596-02金属TO-46带透镜870315M L10596-03树脂TO-468706.515M L1915树脂TO-46890101M L1915-01金属TO-46带透镜8904.51M L1915-02金属TO-468904.51M L2388树脂TO-4694560.3M L2388-01金属TO-46带透镜9453.40.3M L2656树脂TO-46带反射镜890151M L2656-03金属TO-46带透镜89091M L2690树脂890141M L2690-02金属TO-46带透镜89091M L3989树脂TO-46带反射镜830830M L3989-01金属TO-46带透镜8303.630M L3989-02金属TO-468305.830M L6112树脂TO-46带反射镜6705.55M L6112-01金属TO-46带透镜6702.55M L6112-02金属TO-466702.55M L1939树脂890101M L1939-04金属TO-468902.81M L1909树脂TO-4689010mW1M L3882树脂带反射镜6601.84M L4100树脂带反射镜890141M L9337树脂带反射镜8702340M L9338树脂带反射镜945150.3M L11767树脂660136M L6108树脂6705.55M L2204塑料94560.3M L2204-01塑料94560.3M L2204-03塑料94560.3M L2402塑料89091M L2402-01塑料89091M L2402-02塑料89091M L3458塑料890131M L3458-01塑料890131M L3458-02塑料890131M L8957金属带透镜8702.1（光输出）40M编码器用L9437金属带透镜8701.6（光输出）40M编码器用L10660金属TO-4614502.415M水分（湿度）检测L10660-01金属TO-46带透镜14502.815M水分（湿度）检测L7558树脂带反射镜8501450M光通信用L7558-01金属带透镜850750M光通信用L10762金属660 70M光通信用L10881塑料带透镜650 70M光通信用L7560金属带透镜850 100M光通信用L8013金属870 50M光通信用L8045塑料带透镜650 50Mbps光通信使用L5276塑料（带透镜）8802.2 超小型L5586塑料（带透镜）9400.5 超小型L6286塑料（带透镜）9400.8 超小型L5766塑料（带透镜）660 红外微小型L6287塑料（带透镜）9401.4 微小型L6895-10塑料（带透镜）9401.2 高功率近红外

量青光电正式上线2000nm无源器件，可承受大功率 New！ New ！ New ！来源:|作者:proc2d718|发布时间: 8天前|43 次浏览为更好的服务高功率MOPA光纤激光器、超快光纤激光器、光纤激光传感及探测等领域，量青光电正式上线2000nm无源器件，产品包括大功率环形器、隔离器、耦合器、WDM以及滤波器等，器件按照实际需求，设置了1W，5W，10W等连续功率的分级，同时也有适配脉冲能量的功率分级，按需配置，资源优质配备。同期上线的产品还有专为原子物理方向提供的空间光隔离器，产品包括：671nm 空间光隔离器689nm 空间光隔离器和1342nm 空间光隔离器2000nm 科研产品目录如下：2000nm 起偏器2000nm 保偏隔离器2000nm 保偏波分复用器2000nm 保偏分束器2000nm 偏振无关隔离器2000nm MOPA光纤激光器相关产品目录如下：200W 准直输出隔离器350W 准直隔离器200W 在线隔离器2W 偏振无关隔离器20 W 在线隔离器300 mW 偏振无关隔离器泵浦合束器包层滤波器产品详情 → 点我呀

OLED/QLED 发光器件寿命测试系统 32 路系统 64 路系统OLED/QLED 发光器件寿命测试系统参数项目关键指标备注通道数量32、64、128 可扩展到512 路测量模式1 恒流、恒压、恒亮度需根据客户需求选定测量模式2 Pulse 电压、Pulse 电流选配电流输出0.03uA~100mA，精度优于±1% 用户参照核心技术电流源选配电压输出饱和亮度1.0~20V，精度±1% 通常10000cd/m2 以上标配可根据客户需求定制器件结构底发光、顶发光、倒装、正装需根据用户需求定制测试盒/ 夹具测试基片尺寸 5cm×5cm 可定制支持20cm×20cm 高温测试RT+10 度~100 度；-50 度~100 度；环境测试选配特殊条件特殊气氛测试；手套箱测试；UPS 电源等选配、定制软件平台LabView 稳定、高效

针焰试验机 烤漆款符合标准：GB4706.1、GB5169.5-2008、 IEC60695-2-2IEC60695-11-5等相关标准要求实验原理：针焰试验仪是用规定尺寸(Φ0.9mm )的针状燃烧器，通以特定燃气(丁烷)，以 45°角定时定向施燃试品，视试品是否引燃及持燃时间和燃烧长度来评定设备内部因故障条件造成的小火焰的着火危险性。 产品特点：1、本试验设备的特点是燃烧箱及主要机械部分采用不锈钢制造，造型讲究，耐烟气腐蚀。控制系统自动化程度较高，关键元器件采用进口件，数显时间，夹具三维可调，试验程序自动控制，独立抽风，观察记录使用方便，稳定可靠。2、试验箱外壳及重要部件采用不锈钢制造，耐烟、气腐蚀。控制系统自动化程度高，具有自动点火功能。温度和时间数字显示，观察记录方便，使用稳定可靠。技术参数：

产品介绍 产品为桌面放置的台式机结构，由测试主机和程控电脑两大部分组成。各类夹具和适配器，还能 够通过 Prober 接口、Handler 接口可选（16Bin）连接分选机和机械手建立工作站，实现快速批量化测 试。通过软件设置可依照被测器件的参数等级进行自动分类存放。能够极好的应对“来料检验”“失效分 析”“选型配对”“量产测试”等不同场景。 产品的可靠性和测试数据的重复性以及测试效率都有着非常优秀的表现。创新的“点控式夹具”让操 作人员在夹具上实现一点即测。操作更简单效率更高。测试数据可保存为 EXCEL 文本。 应用场景Ø 测试分析（功率器件研发设计阶段的初始测试） Ø 失效分析（对失效器件进行测试分析，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提 出改善方案） Ø 选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对） Ø 来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率） Ø 量产测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备，实现规模化、自动化测试） 产品特点(1) 可测试 7 大类 26 分类的各类电子元器件； (2) PC 机为系统的主控机； (3) 基于 Lab VIEW 平台开发的填充式菜单软件界面； (4) 自动识别器件极性 NPN/PNP (5) 16 位 ADC，100K/S 采样速率； (6) 程控高压源 10~1400V，提供 2KV 选配； (7) 程控高流源 1uA~40A，提供 100A,300A,500A 选配； (8) 驱动电压 10mV~40V； (9) 控制极电流 10uA~10mA； (10) 四线开尔文连接保证加载测量的准确；(11) 通过 RS232 接口连接校准数字表，对系统进行校验； (12) Prober 接口、Handler 接口可选（16Bin） (13) 可为用户提供丰富的测试适配器(14) 连接分选机最高测试量为每小时 1 万个 (15) 可以测试结电容，诸如 Cka，Ciss，Crss，Coss； (16) 脉冲电流自动加热功能，方便高温测试，无需升温装置； 测试参数 (1) 二极管类：二极管 Diode Kelvin，Vrrm，Irrm，Vf，△Vf，△Vrrm，Cka，Tr（选配）；(2) 二极管类：稳压二极管 ZD（Zener Diode）Kelvin，Vz，lr，Vf，△Vf，△Vz，Roz，lzm，Cka； (3) 二极管类：稳压二极管 ZD（Zener Diode）Kelvin、Vz、lr、Vf、△Vf、△Vz、Roz、lzm、Cka；(4) 二极管类：三端肖特基二极管 SBD（SchottkyBarrierDiode）Kelvin 、Type_ident 、Pin_test 、Vrrm、Irrm、Vf、△Vf、V_Vrrm、I_Irrm、△Vrrm、Cka、Tr（选配）；(5) 二极管类：瞬态二极管 TVSKelvin 、Vrrm 、Irrm、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka ； (6) 二极管类：整流桥堆 Kelvin 、Vrrm、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka；(7) 二极管类：三相整流桥堆Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm、Cka；(8) 三极管类：三极管Kelvin 、Type_ident、Pin_chk 、V(br)cbo 、V(br)ceo 、V(br)ebo 、Icbo、lceo、Iebo、Hfe、Vce(sat)、 Vbe(sat)、△Vsat、△Bvceo 、△Bvcbo 、Vbe、lcm、Vsd 、Ccbo 、Cces、Heater、Tr （选配）、Ts （选配）、Value_process； (9) 三极管类：双向可控硅 Kelvin、Type_ident、Qs_chk、Pin_test、Igt、Vgt、Vtm、Vdrm、Vrrm、Vdrm rrm、Irrm、 Idrm、Irrm_drm、 Ih、IL、C_vtm、△Vdrm、△Vrrm、△Vtm；(10)三极管类：单向可控硅Kelvin、 Type_ident、 Qs_chk、 Pin test、 lgt、 Vgt、 Vtm、 Vdrm Vrrm、 IH、IL、△Vdrm△Vrrm、 Vtm； (11)三极管类：MOSFETKelvin 、Type_ident、Pin_test、VGS(th) 、V(BR)Dss 、Rds(on) 、Bvds_rz、△Bvds、Gfs、Igss、ldss 、 Idss zero 、Vds(on)、 Vsd、Ciss、Coss、Crss、Bvgs 、ld_lim 、Heater、Value_proces、△Rds(on) ； (12)三极管类：双 MOSFET Kelvin、 Pin_chk、Ic_fx_chk、 Type_ident、 Vgs1(th)、 VGs2(th)、 VBR)Dss1、 VBR)Dss2、 Rds1(on)、 Rds2(on)、 Bvds1 rz、 Bvds2_rz、 Gfs1、Gfs2、lgss1、lgss2、Idss1、Idss2、Vsd1、Vsd2、Ciss、 Coss、Crss；(13)三极管类：JFET Kelvin、VGS(off )、V(BR)Dss、Rds(on)、Bvds_rz、Gfs、lgss、 Idss(off)、 Idss(on)、 vds(on)、 Vsd、 Ciss、Crss、Coss； (14)三极管类：IGBTKelvin、VGE(th)、V(BR)CES、Vce(on)、Gfe、lges、 lces、Vf、Ciss、Coss、Crss；(15)三极管类：三端开关功率驱动器Kelvin、Vbb(AZ)、 Von(CL)、 Rson、Ibb(off)、Il(lim)、Coss、Fun_pin_volt； (16)三极管类：七端半桥驱动器 Kelvin、lvs(off)、lvs(on)、Rson_h、Rson_l、lin、Iinh、ls_Volt、Sr_volt； (17)三极管类：高边功率开关Kelvin、Vbb(AZ)、Von(CL)、Rson、Ibb(off)、ll(Iim)、Coss、Fun_pin_volt； (18)保护类：压敏电阻Kelvin、Vrrm、 Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、 △Vr (19)保护类：单组电压保护器 Kelvin 、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr； (20)保护类：双组电压保护器Kelvin、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr； (21)稳压集成类：三端稳压器 Kelvin 、Type_ident 、Treg_ix_chk 、Vout 、Reg_Line、Reg_Load、IB、IB_I、Roz、△IB、VD、 ISC、Max_lo、Ro、Ext _Sw、Ic_fx_chk； (22)稳压集成类：基准 IC（TL431）Kelvin、Vref、△Vref、lref、Imin、loff、Zka、Vka； (23)稳压集成类：四端稳压Kelvin、Type_ident、Treg_ix_chk、Vout、Reg_Line、Reg_Load、IB、IB_I、Roz、△lB、VD、Isc、 Max_lo、Ro、Ext_Sw、Ic_fx_chk； (24)稳压集成类：开关稳压集成器 选配； (25)继电器类：4 脚单刀单组、5 脚单刀双组、8 脚双组双刀、8 脚双组四刀、固态继电器 Kelvin、Pin_chk、Dip6_type_ident、Vf、Ir、Vl、Il、Ift、Ron、Ton（选配）、Toff（选配）； (26)光耦类：4 脚光耦、6 脚光耦、8 脚光耦、16 脚光耦 Kelvin、Pin_chk、Vf、Ir、Bvceo、Bveco、Iceo、Ctr、Vce(sat)、Tr、Tf；(27)传感监测类： 电流传感器（ACS712XX 系列、CSNR_15XX 系列）（选配）； 霍尔器件（MT44XX 系列、A12XX 系列）（选配）； 电压监控器（选配）； 电压复位 IC（选配）；

热电材料器件转化效率测试系统 CEA 热电器件转化效率测试系统用于评估在不同的温度递度条件下热电器件的热能—电能转化效率。测量不同热面温度条件下热电器件发电功率与热面输入热流的比值；不同热面温度条件下的发电功率和发电电流；热电器件最大发电效率。得到P-I-T曲线组，Q-I-T曲线组，以及η- I-T曲线组。设备特点： 可以测试不同尺寸器件 热端温度快速调控 多组PID、AI人工智能调节APID控温，具有自整定、自学习功能，防热辐射屏实时智能 跟进温度递度，实现了流过模块的线性热流 热面最高温度可达800℃ 器件与样品架接触应力可精确调节 系统自动判断热流稳定程度，智能测试 技术参数测量值热电转换效率、发电功率、发电电流、最大发电效率的温度点测量原理一维稳态热流法样品尺寸20～30mm（长宽）×1～20mm（高）热面最高温度800℃接触面压力100- 2000N最大温差600℃气氛真空、惰性 应用实例放射性同位素热电发生器（RTG）1、RTG中使用的是二氧钚(钚-238）安装RTG到探测器2、探测器（新地平线号、好奇号）

产品关键词：电致发光、IVL、电致发光量子效率、量子效率、亮度、前向亮度、角度分辨、器件寿命、外量子效率、发光量子产率测量系统、绝对量子效率、EQE、JV、IV、绝对发光量子产率测量系统、自动对焦、朗伯假设、相对法、光分布法、光谱功率分布（ λ）、辐射通量、光通量、相关色温（CCT）、显色指数（CRI）、电功率密度▌ 产品简介电致发光测量系统NovaLum是东谱科技HiOE稳态综合光电特性测量平台中的重要成员，用于对电致发光样品的性能进行精确测量。该系统包括IVL测试、器件寿命测试、空间角度分布测试等功能，可以便捷、快速地得到电致发光器件全面的性能参数，如电致发光效率（电流效率、功率效率、外量子效率等）、光度学、色度学、稳定性、发光角度分布等相关性能参数。该设备很好地解决了行业上：（1）利用分光辐射度计测试时，存在低亮度测试速度慢、高亮度过曝的问题，从而不能用于易老化器件的测试，也不适宜用于宽亮度范围的器件测试；（2）利用积分球系统测试时，无法得到准确的前向亮度参数，且高亮度时也存在过曝问题，不能对强发光样品进行测试等的问题。▌ 产品特点□ 可以得到准确的亮度，因而适宜OLED、钙钛矿LED、量子点LED、显示屏等面光源的测量。□ 配备自动化的角度分辨测试功能，可以快速得到样品发光的空间分布特性。□ 配备了稳定性测试功能，进行老化测试，具有宽的亮度检测范围（1cd/m^2 ~999900 cd/m^2 ）。□ 可以进行各种环境的测试，如气体氛围、器件不封装转移测试等，同时可以实现手套箱内快速换样测试。□ 配备自动对焦和观察、自动位移、自动子器件切换等系统，可以极大地提升测试效率。▌ 产品功能□ 多种扫描模式：电压扫描、电流扫描、角度扫描、时间扫描。 □ 分段循环电流、电压扫描：可以研究器件的迟滞效应等。□ 实时测量：可以实时单点测量，灵活判断器件的工作情况。 □ 两线/四线测量：四线测量可更加准确地测量器件的电流电压。 □ 自动切换器件：通过软件选择测量的子器件。□ 自动积分时间：避免因为亮度过低导致测不出信号、或亮度过高导致的过曝的问题。□ 配备可视化实时观察及位移系统：在软件中可以实时观察到器件的表面发光情况，可软件操作对焦。□ 自动保存数据：测量过程中自动保存数据，避免数据丢失等状况。▌ 规格参数亮度测量光谱测量亮度范围0.01~9,999,000 cd/m^2波长范围200-850nm 或者 350-1000nm测试角1/3°积分时间4 ms - 10 s视角9°动态范围1300:1相对光谱敏感度匹配 CIE 光谱发光效率函数 V (λ)校准线性度99.8%最小测量面积 Ø 4.5 mm (0.4mm)光学分辨率~1.5 nm (FWHM)最短测量距离 1012mm (213mm)电流电压测量测量时间AUTO：0.7~4.3 s电压范围/分辨率-210V~210V/100nVMANUAL：0.7~7.1 s电流范围 /分辨率-1.05A~1.05A/1pA▌ 产品应用□ 量子点发光二极管（QLED）□ 有机发光二极管（OLED）□ 发光二极管（LED）□ 钙钛矿发光二极管（PeLED）□ 其它各种类型的电致发光器件▌ 测试案例LED器件测试示例显示屏测试示例

硅基高速2×2纳秒光开关器件及模块〖特性Features〗n 优异的光学特性Excellent optical properties n 超快的响应速度Super-fast response timen 高可靠性High reliabilityn 全固态结构All solid structuren 无移动部件结构紧凑No moving parts,compact construction〖应用Applications〗n 光信号切换Optical switchingn 高速网络保护High- speed network protectionn 精密仪器Precision instrumentn 医学，航天航空，传感Medicine,aerospace,sensing〖性能参数Performance Parameter〗参数Item单位Unit范围Parameter波长范围Wavelength rangenm1540~1560插入损耗Insertion lossdB直通损耗：1.8~2；Through loss：1.8~2；交叉损耗：1.8~2；Cross loss：1.8~2；偏振相关损耗Polarization dependent lossdB0.3~0.5开关时间Switching timens200~350回波损耗Return lossdB40~50串扰CrosstalkdB-20~-17供电电压Supply voltagev5供电电流Supply currentmA环境温度≥25℃，100mA；Ambient temperature≥25℃，100mA；环境温度≤25℃，900mAAmbient temperature ≤25℃，900mA控制信号（TTL3.3V信号）Control signal（TTL3.3V Signal）高电平2V≤VIH≤5V；High level 2V≤VIH≤5V；低电平0V≤VIL≤0.8V；Low level 0V≤VIL≤0.8V；光接口Optical interfaceFC/APC尾纤Pigtail fiber以松纤方式引出，带松套管，长度1mLead out with loose fiber type,with loose tube,length 1M.工作温度Operating temperature℃-25℃~45℃贮存温度Storage temperature℃-55℃~85℃要求：对于任意型号2×2光开关，输入和输出编号相同时候为直通传输，不同为交叉传输。〖订购信息Ordering information 〗波长范围Wavelength range光纤类型Fiber type连接头Connector1540nm~1560nm 1=SMF-282=PM0=None1=FC/APC2= FC/PC

西安厂家直供半导体分立器件测试系统EN-2005B功率器件综合测试系统系统特征测试范围广（19总大类，27分类）升级扩展性强，通过选件可提升电压电流，和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V，1250A采用脉冲测试法，脉冲宽度为美军标规定300uS被测器件引脚接触自动判断功能，遇到器件接触不良时系统自动停止测试，确保被测器件不受损坏真正的动态跨导测试。（主流的直流方法测动态跨导，其结果与器件实际偏差很大）系统故障在线判断修复能力，便于应急处理排除故障二极管极性自动判断功能，无需人工操作系统概述西安易恩电气 EN-2005B功率器件综合测试系统，设备扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品质范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果。前面板的小键盘方便了系统操作。通过小键盘，系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。应用领域院所、高校、半导体器件生产厂商、电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、新能源汽车、轨道机车检修等设备用途测试分析、器件选型 、筛选检验 、生产线自动批量测试等 技术指标主极电压: 10mV-2000V主极电流： 100nA-50A扩展电流： 100A、500A、1000A、1300A电压分辨率： 1mV电流分辨率： 1nA测试精度： 0.2%+2LSB测试速度： 0.5mS/参数系统功耗： 150w质 量： 35KG尺 寸： 450x570x280mm通信接口： RS232 USB工作温度： 25-40°C测试范围测试范围 / 测试参数序号测试器件测试参数01二极管DIODEIR；BVR ；VF02晶体管（NPN型/PNP型）ICBO；ICEO；ICER； ICES； ICEV；IEBO；BVCEO ；BVCBO；BVEBO；HFE；VCESAT；VBESAT；VBE(VBEON)；RE；VF03J型场效应管J-FETIGSS；IDOFF；IDGO；BVDGO；BVGSS；VDSON，VGSON；IDSS；GFS；VGSOFF04MOS场效应管 MOS-FETIDSS；IDSV；IGSSF； IGSSR；VGSF；VGSR；BVDSS；VGSTH；VDSON、VF(VSD) IDON；VGSON；RDSON；GFS05双向可控硅TRIACVD+；VD-；VT+ ； VT-；IGT；VGT ；IL+；IL-；IH+；IH-06可控硅SCRIDRM；IRRM；IGKO；VDRM；VRRM；BVGKO；VTM；IGT；VGT；IL；IH07绝缘栅双极大功率晶体管IGBTICES；IGESF；IGESR；BVCES；VGETH；VCESAT；ICON；VGEON；VF；GFS08硅触发可控硅STSIH+； IH-；VSW+ ； VSW-；VPK+ ； VPK-；VGSW+；VGSW-09达林顿阵列DARLINTONICBO； ICEO；ICER；ICES；ICEX；IEBO；BVCEO；BVCER；BVCEE；BVCES ；BVCBO；BVEBO；hFE ；VCESAT； VBESAT；VBEON10光电耦合OPTO-COUPLERICOFF、ICBO；IR；BVCEO；BVECO；BVCBO；BVEBO；CTR；HFE；VCESAT； VSAT；VF(Opto-Diode)11继电器RELAYRCOIL；VOPER；VREL；RCONT；OPTIME； RELTIME12稳压、齐纳二极管ZENERIR；BVZ；VF；ZZ13三端稳压器REGULATORVout；Iin；14光电开关OPTO-SWITCHICOFF；VD；IGT；VON；ION ；IOFF15光电逻辑OPTO-LOGICIR；VF；VOH；VOL；IFON； IFOFF16金属氧化物压变电阻MOVID+ ID-；VN+； VN-；VC+ ；VCLMP-；VVLMP+ ；17固态过压保护器SSOVPID+ ID-；VCLAMP+, VCLAMP-；VT+、VT-；IH+、IH-；；IBO+ IBO-；VBO+ VBO-；VZ+ VZ- 18压变电阻VARISTORID+； ID-；VC+ ；VC-19双向触发二极管DIACVF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-,

半导体器件新型光电传感器特性分析仪PD-QE新世代光电探测器 (PD) 的完整解决方案传统的量子效率系统在新型光电探测器面临许多测试方法挑战。如：偏置电压无法超过 12V：传统量子效率系统使用锁相放大器，其承受直流电压无法过大，因此在一般的量子效率测试仪，电偏压无法施加超过 12V。无法做噪声频率分析。无法直接测得 NEP 与 D*。光焱科技针对新世代的光电探测器 (PD) 提供了完整解决方案~命名为 PD-QE。半导体器件新型光电传感器特性分析仪PD-QE 特色：PD-QE 系统是光焱科技在过去十年的小光斑 (power mode) 基础上，进化开发完成。可应用在 PV 的 EQE 量子效率测试、新型光传感器的研究。在全新的软件平台 SW-XQE 上，具有便捷的扩展性：可测试标准 EQE 外，更可整合多种 SMU 的控制，并量测IV曲线。同时具备各种分析功能，如 D*、NEP、频率噪声图。半导体器件新型光电传感器特性分析仪PD-QE 规格:PD-QE 有不同的模块，偏置电压也可由 20 V 到 1000 V。同时，可测量高分辨率的光电流，分辨率最高可达 10-16 A。波长扩充可达 1800 nm。可选配软件升级控制 Kiethley 4200 SMU半导体器件新型光电传感器特性分析仪PD-QE 应用有机光传感器 (OPD, Organic Photodiode)钙钛矿光传感器 (PPD, Perovskite Photodiode)量子点光传感器 (QDPD, Quantum Dots Photodiode)新型材料光传感器实证：PD-QE 已整合 Keithley 与 Keysight 出产的多种 SMU，进行多种的 IV 曲线扫描。用户无需另外寻找或是自行整合 IV 曲线测试。图中显示 PD-QE 测试不同样品的 IV 曲线，并进行多图显示。PD-QE 凭借先进数字讯号采集与处理技术，直接可测试各种探测器在不同频率下的噪声电流图。用户无需在额外购买、整合频谱分析仪进行测种测试！并且软件可以进行多种频段的特性分析，如 Shot Noise、Johnson Noise、1/f Noise 等。PD-QE 是针对新世代 PD 测试的完整解决方案。

BW-4022A晶体管直流参数测试系统一、产品介绍：BW-4022A 晶体管直流参数测试机是新一代针对半导体器件测试系统，经过我公司多次升级与产品迭代，目前测试性能、精度、测试范围及产品稳定度得到大幅提升，成为半导体电子行业、新能源行业、封装测试、家电行业、科研教育等领域来料检验、研发分析、产品选型等重要检测设备之一。BW-4022A 晶体管直流参数测试机大规模 32 位 ARM&MCU 设计， PC 中文操作界面，高压源 2500V：选配 1.4KV-- 2KV，高流源 500A ：选配 40A、100A、200A、300A 及以上。程控软件基于 Lab VIEW 平台， 填充调用式菜单操作界面，测试界面简洁灵活、人机界面友好。配合开尔文综合集成测试插座，只需要根据不同器件更换测试座配合系统自适应测试设置可完成大多数电子元件的静态参数参数， 系统内部配置因线路、接触性、及 EMC 引起的干扰进行自动补偿，确保测试结果准确度；针对 Si/SiC/GaN 材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR 等高精度静态参数包括导通、关断、击穿、漏电、增益等直流参数进行精确测试。该测试系统主要由测试主机和程控电脑及外部测试夹具（其他联机设备）三部分组成。可对常见的 SOD/SOT/DO/TO/LL/DFN 等封装进行直接配置测试，对特殊封装夹具进行定制，通过 Prober 接口、Handler 接口可选（16Bin）连接分选机和机械手建立工作站，实现快速批量化测试，测试数据可在线存贮、导出，二、服务领域与应用场景：产品特点：▶ 客户端PC、工控机均可程控测试机进行测试▶ 菜单调用式测试程序亦可编辑软件操作简便、人机界面友好▶ 针对Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等高精度静态参数测试▶ 系统基于 Lab VIEW 平台开发▶ 自动识别器件极性、 NPN/PNP▶ 16 位 ADC，1M/S 采样速率；▶ 高压源 2500V：选配1.4KV-- 2KV▶ 高流源500A ：选配 40A、100A、200A、300A及以上▶ 驱动电压 10mV~40V ▶ 控制极电流 10uA~100mA▶ 四线开尔文连接确保连接可靠性 ▶ RS232 串口通信▶ Prober 接口、Handler 接口可选（16Bin）▶ 提供丰富的测试适配器 ▶ 切换板采用高速水银继电器，测试效率与可靠性大大提高，▶ 可与分选机、探针台、编带机等联机测试三、BW-4022A 可测试器件类型及测试项目：（1）测试类型▶ 二极管类：Diode/ZD（Zener Diode） /SBD（SchottkyBarrierDiode）/TVS/整流桥堆▶ 三极管类：三极管/单双向可控硅/MOS/JFET/IGBT/三端功率驱动器/七端半桥驱动/高 边功率开关▶ 保护类：压敏电阻/单组电压保护器/双组电压保护器▶ 稳压集成类：三端稳压器/基准 IC（TL431） /四端稳压/稳压集成类▶ 继电器类&光耦类&传感监测类▶ 高压源 2400V：（选配 1.4KV-- 2KV）▶ 高流源 500A ：（选配 40A.100A,200A.300A 及以上）▶ 栅极电压 40V/100mA 分辨率至 1.5uV / 1.5pA 精度可至 0.1%▶ 支持“脉冲式自动加热”▶ 支持“分选机”、”编带机“、“探针台”等半导体设备通信联机（2）测试项目：▶ 漏电参数：IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、 IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)▶ 击穿参数：BVCEO BVCES (300μS Pulse above 10mA) BVDSS、VD、BVCBO、VDRM、VRRM、 VBB、BVR 、VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、BVGSS、BVGKO▶ 导通参数：VCESAT、VBESAT、VBEON、VF、VT、VT+、VT-、VON、VDSON、VDON、 VGSON、VF(Opto-Diode) VGSTH、VTM、VGETH、VSD、IDON、VSAT、IDON、 VO(Regulator)Notch = IGT1、IGT4、ICON、VGEON、、IIN(Regulator)▶ 关断参数：VGSOFF ▶ 触发参数：IGT、VGT ▶ 保持参数：IH、IH+、IH-▶ 锁定参数：IL、IL+、IL- ▶ 增益参数：hFE、CTR、gFS▶ 间接参数：IL ▶ 混合参数：rDSON、gFS、Input Regulation、 Output Regulation四、物理规格及电气环境：主机尺寸：深 660*宽 430*高 210(mm)主机重量：＜28kg 电气环境主机功耗：＜300W海拔高度：海拔不超过 4000m环境要求：-20℃ ~ 60℃（储存）、5℃ ~ 50℃（工作）相对湿度： 20%RH～75%RH (无凝露 ，湿球温度计温度 45℃以下)大气压力：86Kpa ～106Kpa防护条件：无较大灰尘 ，腐蚀或爆炸性气体 ，导电粉尘等电网要求：AC220V、 ±10%、50Hz±1Hz工作时间：连续五、功能与配置：1、设备配置选项详见产品说明书。2、设备配置选项详见产品说明书。3、测试种类及参数(1) 二极管类：二极管 Diode Kelvin ，Vrrm ，Irrm ，Vf ，△Vf ，△Vrrm ，Cka ，Tr（选配）；(2) 二极管类：稳压二极管 ZD（Zener Diode） Kelvin ，Vz ，lr ，Vf ，△Vf ，△Vz ，Roz ，lzm ，Cka；(3) 二极管类：稳压二极管 ZD（Zener Diode） Kelvin、Vz、lr、Vf、△Vf、△Vz、Roz、lzm、Cka；(4) 二极管类：三端肖特基二极管 SBD（SchottkyBarrierDiode） Kelvin 、Type_ident 、Pin_test 、Vrrm、Irrm、Vf、△Vf、V_Vrrm、I_Irrm、△Vrrm、Cka 、Tr（选配）；(5) 二极管类： 瞬态二极管 TVS Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka ；(6) 二极管类：整流桥堆 Kelvin 、Vrrm、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka；(7) 二极管类：三相整流桥堆 Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm、Cka；(8) 三极管类：三极管 Kelvin 、Type_ident、Pin_chk 、V(br)cbo 、V(br)ceo 、V(br)ebo 、Icbo、lceo、Iebo、Hfe、Vce(sat)、 Vbe(sat)、△Vsat、△Bvceo 、△Bvcbo 、Vbe、lcm、Vsd 、Ccbo 、Cces、Heater、Tr （选配）、 Ts （选配）、Value_process；(9) 三极管类：双向可控硅 Kelvin、Type_ident、Qs_chk、Pin_test、Igt、Vgt、Vtm、Vdrm、Vrrm、Vdrm rrm、Irrm、 Idrm、Irrm_drm、 Ih、IL、C_vtm、△Vdrm、△Vrrm、△Vtm；(10)三极管类：单向可控硅 Kelvin、 Type_ident、 Qs_chk、 Pin test、 lgt、 Vgt、 Vtm、 Vdrm Vrrm、 IH、IL、△Vdrm△Vrrm、 Vtm；(11)三极管类： MOSFET Kelvin 、Type_ident、Pin_test、VGS(th) 、V(BR)Dss 、Rds(on) 、Bvds_rz、△Bvds、Gfs、Igss、ldss 、 Idss zero 、Vds(on)、 Vsd、Ciss、Coss、Crss、Bvgs 、ld_lim 、Heater、Value_proces、△Rds(on) ；(12)三极管类：双 MOSFET Kelvin、Pin_chk、Ic fx chk、Type_ident、Vgs1(th)、VGs2(th)、VBR)Dss1、VBR)Dss2、 Rds1(on)、 Rds2(on)、 Bvds1 rz、 Bvds2_rz、 Gfs1、Gfs2、lgss1、lgss2、Idss1、 Idss2、Vsd1、Vsd2、Ciss、 Coss、Crss(13)三极管类：JFET Kelvin、VGS(off )、V(BR)Dss、Rds(on)、Bvds_rz、Gfs、lgss、 Idss(off)、 Idss(on)、 vds(on)、 Vsd、 Ciss、Crss、Coss；(14)三极管类： IGBT Kelvin、VGE(th)、V(BR)CES、Vce(on)、Gfe、lges、 lces、Vf、Ciss、Coss、Crss；(15)三极管类：三端开关功率驱动器 Kelvin 、Vbb(AZ) 、 Von(CL) 、 Rson 、Ibb(off) 、Il(lim) 、Coss 、Fun_pin_volt；(16)三极管类：七端半桥驱动器 Kelvin 、lvs(off) 、lvs(on) 、Rson_h 、Rson_l 、lin 、Iinh 、ls_Volt 、Sr_volt；(17)三极管类：高边功率开关 Kelvin 、Vbb(AZ) 、Von(CL) 、Rson 、Ibb(off) 、ll(Iim) 、Coss 、Fun_pin_volt；(18)保护类：压敏电阻 Kelvin 、Vrrm 、 Vdrm 、Irrm 、Idrm 、Cka 、 △Vr(19)保护类：单组电压保护器 Kelvin 、Vrrm 、Vdrm 、Irrm 、Idrm 、Cka 、△Vr；(20)保护类：双组电压保护器 Kelvin 、Vrrm 、Vdrm 、Irrm 、Idrm 、Cka 、△Vr；(21)稳压集成类 ：三端稳压器 Kelvin 、Type_ident 、Treg ix chk 、Vout 、Reg_Line 、Reg_Load 、IB 、IB_I 、Roz 、 △IB 、VD、 ISC 、Max_lo 、Ro 、Ext _Sw 、Ic_fx_chk；(22)稳压集成类 ：基准 IC（TL431） Kelvin 、Vref 、△Vref 、lref 、Imin 、loff 、Zka 、Vka；(23)稳压集成类 ：四端稳压 Kelvin 、Type_ident 、Treg ix chk 、Vout 、Reg_Line 、Reg_Load 、IB 、IB_I 、Roz 、△lB 、VD 、 Isc、 Max_lo 、Ro 、Ext_Sw 、Ic_fx_chk；(24)稳压集成类 ：开关稳压集成器选配；(25)继电器类：4 脚单刀单组、 5 脚单刀双组、 8 脚双组双刀、 8 脚双组四刀、 固态继电器 Kelvin 、Pin_chk 、Dip6_type_ident 、Vf 、Ir 、Vl 、Il 、Ift 、Ron 、Ton（选配）、Toff（选配）；(26)光耦类：4 脚光耦、 6 脚光耦、8 脚光耦、 16 脚光耦 Kelvin 、Pin_chk 、Vf 、Ir 、Bvceo 、Bveco 、Iceo 、Ctr 、Vce(sat) 、Tr 、Tf；(27)传感监测类： 电流传感器（ACS712XX 系列、CSNR_15XX 系列）（选配）； 霍尔器件（MT44XX 系列、A12XX 系列）（选配）； 电压监控器（选配）； 电压复位 IC（选配）；六、精度与指标详见产品说明书。

PN8386电源芯片15.5W AC-DC手机充电器IC车充ic方案 PN8386产品描述：PN8386集成超低待机功耗准谐振原边控制器及650V高雪崩能力智能功率MOSFET，用于高性能、外围元器件精简的充电器、适配器和内置电源。PN8386为原边反馈工作模式，可省略光耦和TL431。内置高压启动电路，可实现芯片空载损耗（264VAC）小于50mW。在恒压模式，采用准谐振与多模式技术提高效率并消除音频噪声，使得系统满足6级能效标准，可调输出线补偿功能能使系统获得较好的负载调整率；在恒流模式，输出电流和功率可通过CS脚的电阻进行调节。该芯片提供了极为全面的智能保护功能，包含逐周期过流保护、过压保护、开环保护、过温保护、输出短路保护和CS开/短路保护等。 PN8386产品特点：内置650V高雪崩能力的功率MOSFET内置高压启动电路小于50MW空载损耗(264V AC)采用准谐振与多模式技术提高效率满足6级能效标准全电压输入范围±5%的CC/CV精度 原边反馈可省光耦和TL431恒流恒压输出线补偿外部可调无需额外补偿电容无音频噪声智能保护功能 过温保护（OTP） VDD欠压&过压保护 (UVLO&OVP) 逐周期过流保护 (OCP) CS开/短路保护 (CS O/SP） 开环保护 (OLP) PN8386广泛应用于：开关电源适配器电池充电器机顶盒电源深圳市骊微电子主要产品有：贴片式小型化半导体封装，外型有：SOP8/7、SOP16、QSOP24、SOT23-6、TSSOP20；直插式半导体封装外形有DIP7/8,产品主要应用于：LED照明、LED显示屏、各类充电器、适配器电源和锂电池等领域。

一、产品概述：光波器件分析仪是一种高精度的测试设备，用于评估和分析光波器件的性能特性。该仪器能够测量光波的强度、波长、相位和调制特性，广泛应用于光通信、激光技术和光电子器件的研发。二、设备用途/原理：设备用途光波器件分析仪主要用于测试光波器件，如光调制器、光放大器和光接收器的性能。工程师可以利用该仪器分析器件的光学特性、信号质量和响应速度，以确保光波器件在实际应用中的可靠性和效率。工作原理光波器件分析仪通过将光信号输入到其探测系统，实时捕获和分析光波特性。仪器使用高灵敏度的探测器和信号处理技术，将光信号转换为电信号，并进行频谱和时域分析。用户可以根据需求设置不同的测试参数，观察光波器件的工作特性，并生成详细的测试报告，以支持后续的设计优化和性能评估。三、主要技术指标：1. 这款 LCA 是测试高达 67 GHz 的电光元器件的理想解决方案。它同样适用于测试 40G/100GbE、400Gbit/s 和 1 Tbit/s 相干传输系统、光纤无线电（RoF）以及航空航天与国防（A&D）电光测试应用中的电光元器件2. 绝对频率响应准确度：3. 在 50 GHz 时为 0.9 dBe（典型值）4. 在 67 GHz 时为 1.3 dBe（典型值）5. 相对频率响应准确度：6. 在 50 GHz 时为 0.5 dBe（典型值）7. 在 67 GHz 时为 1.3 dBe（典型值）8. 本底噪声： 在 67 GHz 时为 - 59 dB（W/A）（电光测量） 在 67 GHz 时为 - 55 dB（A/W）（光电测量）具有任意波形发生器，支持多电平脉冲波形，可编程分辨率10 ns

ST-SP2000（1250A）轨道机车大功率IGBT器件静态参数测试仪轨道级大功率半导体模块 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 静态参数测试仪主要用于轨道机车 变流器IGBT参数测试、筛选、配对主极输出 2000V / 1250A，分辨率*高至1mV / 10pA ? 产品应用应用领域军工院所、高校、半导体器件生产厂商、电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、新能源汽车、轨道机车等所有的半导体器件应用产业链 ……主要用途? 测试分析（功率器件研发设计阶段的初始测试）? 失效分析（对失效器件进行测试，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案 ）? 选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对）? 来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率）? 产线自动化测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备，实现规模化、自动化测试） ? 产品简述 产品扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键，系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。 曲线追踪仪（晶体管图示仪）功能则是利用高速ATE测试步骤逐点生成曲线，可快速而准确地生成精确的数据点。数据增量是可编程的线性或对数，典型的每步测试时间为6到20ms。一个两百条数据点曲线通常只需几秒钟就能完成。使用该系列跟踪仪更容易获取诸如 Transistor hFE vs. IC, Transistor VCESAT vs. IB and MOSFETRDSvs. VGS 等曲线数据。此外， 针对多条曲线，设备可以根据每条曲线的数据运行并将所获数据自动发送到一个单独的 Excel 工作表。系统能够更快，更简洁的创建曲线（单击，双击，选择输入菜单，单击）。就是这么简单。 设备支持在单个 DUT 上运行高达 10 条不同曲线的能力，在运行过程中，每个图表都是可视的，每个数据集都被加载到一个被命名的 Excel 工作表中。系统运行速度快，可进行数据记录，提供更高级的数据工具箱，能够运行多条曲线并自动排序，自动将数据存入 Excel 表格，具有缩放功能，光标重新运行功能以及其他许多优点。 系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。? 产品特点?测试范围广（19大类，27分类）?升级扩展性强，通过选件可提高电压电流，和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A?采用脉冲测试法，脉冲宽度为美军标规定的300us?被测器件引腿接触自动判断功能，遇到器件接触不良时系统自动停止测试, 保证被测器件不受损坏?真正的动态跨导测试。（主流的直流方法测动态跨导 ，其结果与器件实际值偏差很大）?系统故障在线判断修复能力，便于应急处理排障?二极管极性自动判别功能，无需人工操作?IV 曲线显示 / 局部放大?程序保护*大电流/电压,以防损坏 ?品种繁多的曲线?可编程的数据点对应 ? 增加线性或对数?可编程延迟时间可减少器件发热 ?保存和重新导入入口程序?保存和导入之前捕获图象 ?曲线数据直接导入到 EXCEL?曲线程序和数据自动存入 EXCEL ? 测试能力序号测试器件测试参数01IGBTICES；IGESF；IGESR；BVCES；VGETH；VCESAT；ICON；VGEON；VF；GFS02MOSFET / MOS场效应管 IDSS；IDSV；IGSSF； IGSSR；VGSF；VGSR；BVDSS；VGSTH；VDSON、VF(VSD) IDON；VGSON；RDSON；GFS03J-FET / J型场效应管IGSS；IDOFF；IDGO；BVDGO；BVGSS；VDSON，VGSON；IDSS；GFS；VGSOFF04晶体管（NPN/PNP）ICBO；ICEO；ICER； ICES； ICEV；IEBO；BVCEO ；BVCBO；BVEBO；HFE；VCESAT；VBESAT；VBE(VBEON)；RE；VF05DIODE / 二极管IR；BVR ；VF06ZENER / 稳压、齐纳二极管IR；BVZ；VF；ZZ07DIAC / 双向触发二极管VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-,08OPTO-COUPLER / 光电耦合ICOFF、ICBO；IR；BVCEO；BVECO；BVCBO；BVEBO；CTR；HFE；VCESAT； VSAT；VF(Opto-Diode)09RELAY / 继电器RCOIL；VOPER；VREL；RCONT；OPTIME； RELTIME10TRIAC / 双向可控硅VD+；VD-；VT+ ； VT-；IGT；VGT ；IL+；IL-；IH+；IH-11SCR / 可控硅IDRM；IRRM；IGKO；VDRM；VRRM；BVGKO；VTM；IGT；VGT；IL；IH12STS / 硅触发可控硅IH+； IH-；VSW+ ； VSW-；VPK+ ；VPK-；VGSW+；VGSW-13DARLINTON / 达林顿阵列ICBO；ICEO；ICER；ICES；ICEX；IEBO；BVCEO；BVCER；BVCEE；BVCES；BVCBO；BVEBO；hFE；VCESAT；VBESAT；VBEON14REGULATOR / 三端稳压器Vout；Iin；15OPTO-SWITCH / 光电开关ICOFF；VD；IGT；VON；ION ；IOFF16OPTO-LOGIC / 光电逻辑IR；VF；VOH；VOL；IFON； IFOFF17MOV / 金属氧化物压变电阻ID+ ID-；VN+； VN-；VC+ ；VCLMP-；VVLMP+ ；18SSOVP / 固态过压保护器ID+ ID-；VCLAMP+, VCLAMP-；VT+、VT-；IH+、IH-；；IBO+ IBO-；VBO+ VBO-；VZ+ VZ- 19VARISTOR / 压变电阻ID+； ID-；VC+ ；VC-

APIC高保真、光纤输出射频器件APIC公司成立于1999年，一直专注于防务、工业及通讯网络等研究领域，为他们提供专业的设计和高保真光纤射频服务解决方案，并与美国海军及DARPA拥有多年的合作经验。同时，APIC公司不仅拥有众多的专利技术，还在产品设计开发、晶圆制造、封装及系统集成方面，能为客户提供一流的工艺设计及工程服务。 产品特点 • 大功率 20-140mW • 窄线宽 250-500KHz 主要应用• 微波通讯 • 模拟通讯 • 其它大功率窄线宽半导体激光器应用场景 参数产品系列： Analog Laser模拟激光器（AL系列） *超低噪声，RIN -165~155dB/Hz *高功率：40~120mW *窄线宽：250~500kHz *CW连续模式或直接调制（Direct Modulation）频率可至1GHz RF *高边带抑制比 超低噪声连续激光器（CWL系列） *超低噪声，RIN -168~160dB/Hz *高功率： 80~120mW *窄线宽：250~500kHz *高边带抑制比 高性能便携式激光驱动模块（LN系列） *出厂已预设好，直接使用 *针对激光器优化设计，超低噪声 *精确控制激光器温度及驱动电流 *坚固的封装，符合MIL-STD-810G和MIL-STD 461G RE102 直接调制激光器（DML系列） *低噪声，RIN -160dB/Hz *高线性 *高功率：10~40mW *窄线宽：205~500kHz *直接调制RF信号可达6GHz *高边带抑制比 高线性光电探测器（ARx系列） *高响应度：0.6~0.9A/W（据型号不同） *高度线性化输出：10、20至40GHz *大功率：3~5V偏压时，80、50、25mA额定输出电流（据型号不同） *集成50Ohm阻抗匹配（依型号可选） *K-Connector RF输出，保证耦合效率 便携式接收模块（TTRx系列） *出厂时预设好，操作简单 *针对光电探测器优化设计，低噪声 集成式20GHz发送器-MicroATx *带宽：0.05~20GHz（with LNA）；DC 20GHz（without LNA） *输出功率：＞11.8dBm（15mW） *噪声：＜8dB（with LNA）；＜22dB（without LNA）@10GHz *高线性度、高动态范围和射频饱和 *集成了全部的电子和光学零件 *符合MIL-STD的温度、冲击、振动、大气压力测试及EMI 集成式宽带发送器 *带宽：DC 20GHz *输出功率：＞13dBm（20mW） *噪声：＜22dB @10GHz *非常高的线性度、高动态范围、高RF饱和度 *集成全部的电子和光学零件 表面安装（贴片式）光电探测器（SMT系列） *高响应度：0.6~0.9A/W（据型号不同） *高度线性化输出：10、20GHz *大功率：3~5V偏压时，80、50mA额定输出电流（据型号不同） *集成50Ohm阻抗匹配（依型号可选） *小型化封装：10×7×4mm

0-20kV高精度可调高压稳压测试电源器件耐压测试专用一：应用范围A: 高压二极管反向耐压测试B: 普通二极管反向漏电流C: 高压电容耐压测试D: 玻璃釉电阻非线性性能测试E:氙灯击穿电压测试F: 材料耐压测试二、特点高精度恒流恒压高压输出源 它拥有0~20kV的电压输出能力, 0.005%的电压分辨率精度, 0.01uA的电流分辨率精度, 近零的放电火花能量, 极低的纹波系数, 可恒流, 恒压工作。器件快速筛选高压二极管, 高压磁片电容, 高压电阻, 玻璃釉电阻, 气体放电管, 氙灯, 调Q晶体。绝缘耐压测试绝缘胶带, 漆包线, 环氧树脂, 气体放电管, 继电器触点, 光耦耐压, 氙灯电离电压, 气体灯电离电压。直流安规测试 可测试设备的安规耐压, 提高产品档次和产品的安全性。静电干扰模拟 单片机, DSP, STM32, 信号板等弱电控制板容易受到静电干扰和损坏, 本测试仪可产生可调强度空间火花干扰, 模拟人体静电放电, 发现产品容易受干扰点位, 提高产品抗干扰性、抗静电冲击的能力。高压电压表 关闭高压输出, 测试仪可作为一款0~20kV的高压电压表, 拥有1.2G的超高输入内阻,4位半的显示精度, 可用于测试各种高压模块的输出电压。三：电源参数类型数值单位备注输出电压0到20.00kV模拟电压控制0到5V电源自带的多圈电位器可通过0-5V调节输出的0-20KV最大输出电流100μA电流分辨率0.01uA电流稳定度优于0.5%电压可调范围0-20.00kV电压分辨率1V电压稳定度优于0.5%数显位数4 1/2位切换显示电流电压平均输入电流0.5A电源输入220V±10%VAC市电输入频率50/60Hz电压归零有有数字归零电流归零无无可定制输出使能控制有有上推开关短路保护有环境温度0-30℃存储温度-40-+85℃

PN8366led驱动芯片_5V1.2A电源ic充电器方案 PN8366产品描述：PN8366集成超低待机功耗准谐振原边控制器及高雪崩能力智能功率MOSFET(PN8366M 700VPN8366H 800V)，用于高性能、外围元器件精简的充电器、适配器和内置电源。PN8366为原边反馈工作模式，可省略光耦和TL431。内置高压启动电路，可实现芯片空载损耗（230VAC）小于30mW。在恒压模式，采用准谐振与多模式技术提高效率并消除音频噪声，使得系统满足6级能效标准，可调输出线补偿功能能使系统获得较好的负载调整率；在恒流模式，输出电流和功率可通过CS脚的电阻进行调节。该芯片提供了极为全面的智能保护功能，包含逐周期过流保护、过压保护、开环保护、过温保护、输出短路保护和CS开/短路保护等。 PN8366产品特点：内置高雪崩能力智能功率MOSFET(M 700V/H 800V)内置高压启动电路，小于30mW空载损耗（230VAC）采用准谐振与多模式技术提高效率，满足6级能效标准全电压输入范围±5%的CC/CV精度原边反馈可省光耦和TL431恒压、恒流、输出线补偿外部可调无需额外补偿电容无音频噪声智能保护功能 过温保护 (OTP) VDD欠压&过压保护 (UVLO&OVP) 逐周期过流保护 (OCP) CS开/短路保护 (CS O/SP） 开环保护 (OLP)PN8366广泛应用于：开关电源适配器电池充电器机顶盒电源深圳市骊微电子科技有限公司专业集成电路IC生产设计销售，提供电源领域相关软硬件设计服务，提供方案设计、生产、客诉等一条龙技术服务，系统解决客户技术后顾之犹。公司产品主要用于电源管理IC、适配器IC 充电器IC，快速充电器IC 车载充电IC，LED驱动IC，移动电源IC，磁场效益/MOS 二极管，三极管以技术服务为基石，打造 高品质、高性价的整体电源方案供应商。设计的方案有5V-1A 5V1.2A 8.4V0.6A 9V0.6A 12V-0.6A 24V-0.3A 5V-1.5A、8.4V 9V-1A,12V-0.8A, 24V-0.5A 5V2A 5V2.1A、8.4V 9V-1A,12V-1A, 24V-0.6A 5V2.4A 5V3A,9V-1.5A,12V-1.5A 5V-3.4A,9V-2A,12V-1.5A V-4A,9V-2A,12V-2A,24V-1A 5V-4A,9V-2A,12V-2A,24V-1A 旅充芯片 快充QC2.0 QC3.0快充IC方案 同步整流IC 常用型号有：SD6952S SD8583S SD8585S SD4873A PN8368 PN8370H PN8370M AP8266 PN8147 PN8149 PN8160 PN8235 PN8366 PN8386 DP2525B等，代理了士兰微，芯朋微，华润华晶，泉芯，赛威，芯龙等一系列产品， 公司承诺：原装进口质量好的货，原装货，有大量库存现货，坚持做到诚信经营，质量保证，价格优惠，售后服务完善！

品牌： 华科智源 名称： IGBT测试仪 型号： HUSTEC-1600A-MT 用途： 广泛应用于器件设计，封装测试，轨道交通，电动汽车 ，风力发电，变频器，焊机等行华科智源HUSTEC-1600A-MT电参数测试仪可用于多种封装形式的 IGBT测试，还可以测量大功率二极管 、IGBT模块，大功率 IGBT、大功率双极型晶体管，MOS管等器件的 V-I 特性测试，测试1200A（可扩展至2000A），5000V以下的各种功率器件，广泛应用于轨道交通，电动汽车 ，风力发电，变频器，焊机行业的IGBT来料选型和失效分析，设备还可以用于变频器，风电，轨道交通，电焊机等行业的在线检修，无需从电路板上取下来进行单独测试，可实现在线IGBT检测，测试方便，测试过程简单，既可以在测试主机里设置参数直接测试，又可以通过软件控制主机编程后进行自动测试，通过电脑操作完成 IGBT 的静态参数测试；测试参数：ICES 集电极-发射极漏电流IGESF 正向栅极漏电流IGESR 反向栅极漏电流BVCES 集电极-发射极击穿电压VGETH 栅极-发射极阈值电压VCESAT 集电极-发射极饱和电压ICON 通态电极电流VGEON 通态栅极电压VF 二极管正向导通压降整个测试过程自动完成，电脑软件携带数据库管理查询功能，可生成测试曲线，方便操作使用1) 物理规格 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm； 质量：30kg2) 环境要求 海拔高度：海拔不超过 1000m；储存环境：-20℃～50℃； 工作环境：15℃～40℃。相对湿度：20%RH ~ 85%RH ；大气压力：86Kpa～ 106Kpa。 防护：无较大灰尘，腐蚀或爆炸性气体，导电粉尘等空气污染的损害；3) 水电气 用电要求：AC220V，±10%； 电网频率：50Hz±1Hz