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光场测量

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  • 基于多波长光谱传感器的浊度测量

    【作者】：盛涛,许文艳,施圣哲,刘升. 【题名】：基于多波长光谱传感器的浊度测量（英文）[J]. 【期刊】：Journal of Measurement Science and Instrumentation. 2022(02)【年、卷、期、起止页码】：【全文链接】：https://kns.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?filename=CSKX202202003&dbcode=CJFD&dbname=CJFDTEMP&v=RdYiocHQEpx-nlui3QQdsOvmwNnX4luxJ1hBCSw2kqVqi373aIb3O6CE0PHhA7Px

  • 光谱响应特性的测量

    光谱响应特性的测量：一，光谱响应度 即光电探测器在波长不同的光照射时的响应度。如果探测器对波长为λ的光辐射通量фλ产生的光电流为I，则其光谱响应度为 R（λ）=Iфλ单位为A/W。它与积分响应度R的关系为R=ƒφλ•R(λ)dλ ƒφλdλ[/f

  • 激光粒度仪的测量下限

    [font=&]激光粒度仪测量粒度的原理是米氏散射理论。米氏散射理论用数学语言精确描述折射率为[/font][font=&]n、吸收率为 m、粒径为 d 的球形颗粒，在波长为 λ 的激光照射下，散射光强度随散射[/font][font=&]角 θ 变化的空间分布函数，此函数也称为散射谱。[/font][font=&]根据米氏散射理论，大颗粒的前向散射光很强而后向散射很弱；小颗粒的前向散射光弱而后[/font][font=&]向散射光很强。如图所示的是固定波长下的大、中、小颗粒的散射谱示意图。激光粒度仪正[/font][font=&]是通过设置在不同散射角度的光电探测器阵列测这些散射谱来确定颗粒粒径的大小。对于特[/font][font=&]定颗粒，这种散射谱在空间具有稳定分布的特征，因此称此种原理的激光粒度仪又称为静态[/font][font=&]激光粒度仪。[/font][font=&]根据米氏散射理论，当颗粒粒径小到一定程度（如小于波长 的 1/10 左右）时，光强分布[/font][font=&]变成了两个相近似对称的圆（图 1(1) dλ），此时称为瑞利散射。产生瑞利散射的最大粒[/font][font=&]径就是激光粒度仪的测试下限。激光粒度仪的测试下限还与激光波长有关，激光波长越长测[/font][font=&]试下限越大，波长越短测试下限小。研究表明，具有同时测量前向和后向散射光技术，同时[/font][font=&]具有差分散射谱识别技术的激光粒度仪，在用红光（波长为 635nm）做为光源时的测量极[/font][font=&]限为 20nm，用绿光（波长为 532nm）时的测量极限为 10 nm。[/font]

  • 世界首台！AIMS望远镜突破太阳磁场测量难题

    记者从青海冷湖天文观测基地获悉，世界首台“用于太阳磁场精确测量的中红外观测系统”（简称AIMS望远镜）已实现核心科学目标——将矢量磁场测量精度提高一个量级，实现了太阳磁场从“间接测量”到“直接测量”的跨越。AIMS望远镜是国家自然科学基金委员会支持的重大仪器专项（部委推荐）项目，落户于平均海拔约4000米的青海省海西蒙古族藏族自治州茫崖市冷湖镇赛什腾山D平台。据了解，经过5个多月的前期调试观测，目前望远镜技术指标已满足任务书要求，进入验收准备阶段。中国科学院国家天文台怀柔太阳观测基地总工程师王东光介绍，科学数据分析表明，AIMS望远镜首次以优于10高斯量级的精度开展太阳矢量磁场精确测量。“这意味着AIMS望远镜利用超窄带傅立叶光谱仪，在中红外波段实现了直接测量塞曼裂距得到太阳磁场强度的预期目标，突破了太阳磁场测量百年历史中的瓶颈问题，实现了太阳磁场从‘间接测量’到‘直接测量’的跨越。”王东光说，“塞曼裂距与波长的平方成正比，在AIMS望远镜之前，太阳磁场多在可见光或近红外波段观测，由于裂距很小，观测仪器很难分辨。AIMS望远镜的工作波长为12.3微米，在同等磁场强度下，塞曼裂距增加几百倍，使得‘直接测量’成为可能。”[img]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/ba3f6eca-6915-4961-859c-22afd01ca552.jpg[/img]??[font=楷体][size=18px][color=#000080]这是2023年4月8日拍摄的AIMS主体结构。新华社记者顾玲 摄[/color][/size][/font]AIMS望远镜是国际上第一台专用于中红外太阳磁场观测的设备，将揭开太阳在中红外波段的神秘面纱。“通过消除杂散光的光学设计和真空制冷等技术，我们解决了该波段红外太阳观测面临的环境背景噪声高、探测器性能下降等难题。”中科院国家天文台高级工程师冯志伟介绍，红外成像终端由红外光学、焦平面阵列探测器和真空制冷三个系统组成，包括探测器芯片在内的所有部件均为国产。该终端系统主要用于8至10微米波段太阳单色成像观测，从而研究太阳剧烈爆发过程中的物质和能量转移机制。此外，AIMS望远镜也实现了中红外太阳磁场测量相关技术和方法的突破，在国内首次实现中红外太阳望远镜系统级偏振性能补偿与定标，“望远系统在中国天文观测中首次采用离轴光学系统设计，焦面科学仪器除8至10微米的红外单色像外，还配备了国际领先的高光谱分辨率红外成像光谱仪和偏振测量系统。”王东光介绍，AIMS望远镜的研制，除了在太阳磁场精确测量方面起到引领作用外，也可在中红外这一目前所知不多的波段上寻找新的科学机遇。[img]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/08c61536-40b2-4642-a56f-75b8f1f4e198.jpg[/img][font=楷体][size=18px][color=#000080]　　AIMS望远镜科研团队成员正在观看电脑屏幕显示出分裂的光谱。（受访者供图）[/color][/size][/font]据介绍，AIMS望远镜旨在通过提供更精确的太阳磁场和中红外成像、光谱观测数据，研究太阳磁场活动中磁能的产生、积累、触发和能量释放机制，研究耀斑等剧烈爆发过程中物质和能量的转移过程，有望取得突破性的太阳物理研究成果。[来源：新华社][align=right][/align]

  • 测量包裹在玻璃中晶体的拉曼光谱

    测量包裹在玻璃中的晶体是一定要用有暗场的显微共焦拉曼光谱仪吗？我查到的资料是暗场用来观察样品，当测量拉曼光谱是还是要用普通的objectives。因为经费有限，有没有可能只用明场显微镜找到样品？谢谢大家的建议

  • 何为激光粒度仪的测量下限

    激光粒度仪测量粒度的原理是米氏散射理论。米氏散射理论用数学语言精确描述折射率为n、吸收率为 m、粒径为 d 的球形颗粒，在波长为 λ 的激光照射下，散射光强度随散射角 θ 变化的空间分布函数，此函数也称为散射谱。根据米氏散射理论，大颗粒的前向散射光很强而后向散射很弱；小颗粒的前向散射光弱而后向散射光很强。如图所示的是固定波长下的大、中、小颗粒的散射谱示意图。激光粒度仪正是通过设置在不同散射角度的光电探测器阵列测这些散射谱来确定颗粒粒径的大小。对于特定颗粒，这种散射谱在空间具有稳定分布的特征，因此称此种原理的激光粒度仪又称为静态激光粒度仪。根据米氏散射理论，当颗粒粒径小到一定程度（如小于波长 的 1/10 左右）时，光强分布变成了两个相近似对称的圆（图 1(1) dλ），此时称为瑞利散射。产生瑞利散射的最大粒径就是激光粒度仪的测试下限。激光粒度仪的测试下限还与激光波长有关，激光波长越长测试下限越大，波长越短测试下限小。研究表明，具有同时测量前向和后向散射光技术，同时具有差分散射谱识别技术的激光粒度仪，在用红光（波长为 635nm）做为光源时的测量极限为 20nm，用绿光（波长为 532nm）时的测量极限为 10 nm。

  • 【求助】请教不同波长测量深度的问题

    对某一样品，325和514的激光测量深度是多少，是怎么计算的，比如这两种波长的激光，对ZnO，Mg0.2Zn0.8O，GaN，Al0.2Ga0.8N这四种材料的测量深度分别是多少？求大贤指教，非常感谢。

  • 【分享】激光测距仪测量原理

    【分享】激光测距仪测量原理

    激光测距是光波测距中的一种测距方式，如果光以速度c在空气中传播在A、B两点间往返一次所需时间为t，则A、B两点间距离D可用下列表示。 D=ct/2 式中：D——测站点A、B两点间距离； c——光在大气中传播的速度； t——光往返A、B一次所需的时间。 由上式可知，要测量A、B距离实际上是要测量光传播的时间t，根据测量时间方法的不同，激光测距仪通常可分为脉冲式和相位式两种测量形式。 相位式激光测距仪相位式激光测距仪是用无线电波段的频率，对激光束进行幅度调制并测定调制光往返测线一次所产生的相位延迟，再根据调制光的波长，换算此相位延迟所代表的距离。即用间接方法测定出光经往返测线所需的时间，如图所示。相位式激光测距仪一般应用在精密测距中。由于其精度高，一般为毫米级，为了有效的反射信号，并使测定的目标限制在与仪器精度相称的某一特定点上，对这种测距仪都配置了被称为合作目标的反射镜。若调制光角频率为ω，在待测量距离D上往返一次产生的相位延迟为φ，则对应时间t 可表示为：t=φ/ω将此关系代入(3-6)式距离D可表示为 D=1/2 ct=1/2 c·φ/ω=c/(4πf) (Nπ+Δφ) =c/4f (N+ΔN)=U(N+) 式中：φ——信号往返测线一次产生的总的相位延迟。 ω——调制信号的角频率，ω=2πf。 U——单位长度，数值等于1/4调制波长 N——测线所包含调制半波长个数。 Δφ——信号往返测线一次产生相位延迟不足π部分。 ΔN——测线所包含调制波不足半波长的小数部分。 ΔN=φ/ω 在给定调制和标准大气条件下，频率c/(4πf)是一个常数，此时距离的测量变成了测线所包含半波长个数的测量和不足半波长的小数部分的测量即测N或φ，由于近代精密机械加工技术和无线电测相技术的发展，已使φ的测量达到很高的精度。 为了测得不足π的相角φ，可以通过不同的方法来进行测量，通常应用最多的是延迟测相和数字测相，目前短程激光测距仪均采用数字测相原理来求得φ。 由上所述一般情况下相位式激光测距仪使用连续发射带调制信号的激光束，为了获得测距高精度还需配置合作目标，而目前推出的手持式激光测距仪是脉冲式激光测距仪中又一新型测距仪，它不仅体积小、重量轻，还采用数字测相脉冲展宽细分技术，无需合作目标即可达到毫米级精度，测程已经超过100m，且能快速准确地直接显示距离。是短程精度精密工程测量、房屋建筑面积测量中最新型的长度计量标准器具，宏诚科技的CEM手持式激光测距仪LDM-100就是测量的最佳助手。 手持式激光测距仪使用注意事项 [font=Times New Rom

  • 海洋光学高分辨率近红外光谱仪扩展了波长测量范围

    海洋光学高分辨率近红外光谱仪扩展了波长测量范围

    海洋光学高分辨率近红外光谱仪扩展了波长测量范围新款小型近红外光谱仪NIRQuest512-1.9 。这款高分辨率近红外光谱仪NIRQuest512-1.9的响应范围可达1100-1900纳米，从粮食生产和化学处理的变化监测到为半导体装配和医疗进行激光特征分析，该光谱仪可应用于各种领域。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/12/201212191311_413838_2432394_3.jpgNIRQuest512-1.9配置具有很高的稳定性，512像素Hamamatsu InGaAs线阵探测器，适用于多种光栅和光具座，用以优化1100至1900纳米之间的性能。标准的NIRQuest512-1.9光栅常数为150线/毫米，25微米的入射狭缝，以及一个非荧光长波通滤光器配置，可传输1000纳米以上的波长。该滤光器有助于缓和二阶效应。NIRQuest512-1.9外部配有一个硬件，通过该硬件，在出现外部情况时，用户可以通过外部触发获取相应数据信息，或者在数据获得之后再次引起触发。光谱仪操作通过SpectraSuite软件来控制，该软件是一个基于Java的模块化光谱学平台。NIRQuest的低沉噪声让其具备集成光谱仪的潜力（或者将光谱仪中的探测器暴露在光线下），从而延长使用时间，这在光线暗的环境中非常有用。满信号条件下的信噪比在每100毫秒积分时间内大于15000:1。因此，在对敏感性要求极高的应用环境中可以实现高效操作模式。

  • 【求助】分光光度计是如何测量光的波长的

    当我们用光度计测量样品时都会选择一个波长,现在的仪器基本是直接输入波长就可以了,但是我们的仪器是怎么实现,以及怎么样计算的? 比如 我们选择550nm时,我们知道光栅会进行调节,但是是如何进行计算的?调到什么程度以及判断的依据是什么? 谢谢了

  • 中红外定量测量系列之二-波长校准

    中红外定量测量系列之二-波长校准

    傅里叶红外变化光谱技术兴起于上世纪80年代，由于其诸多优点，目前在我国已经得到了广泛应用，在煤炭，石油，医疗，化工，半导体，法庭科学，气象，染织等诸多领域发挥了重要作用。傅里叶红外变化光谱技术的具体实现需要依托傅里叶变换光谱仪，然而限于傅里叶变换光谱仪校准技术的发展以及相关规程规范的不健全，导致大多数使用者只是将傅里叶红外变换光谱仪作为一种定性分析仪器，大大限制了傅里叶变换光谱仪的应用，其中，中红外波段的波长校准技术也是其中一项。影响傅里叶变换红外光谱仪波长测量不确定度的因素很多，例如干涉仪相位误差，切趾函数，分辨率等。傅里叶变换红外光谱仪波长校准的方法有多种，最为精确的方法一般采用低压气体（CO,NO等）的红外吸收峰进行标定，但标准样制备较为繁琐，一般适用于波数精度极高的科研级光谱仪；对于普通傅里叶变换红外光谱仪，可以采用经过标定的聚苯乙烯薄膜进行标定。本文介绍了一种较为简单利用水和二氧化碳吸收峰的校准方法以及应用聚苯乙烯薄膜校准时需要注意的相关事项。1.利用水和二氧化碳标定方法空气中水蒸气，二氧化碳等物质在红外波段均有大量的吸收峰，利用这些吸收峰标定仪器的波长是一种简洁方便的方法。不过需要注意的是，A.大气温度以及压力的变化对吸收峰有一定的影响；B.湿度过低，无法获得足够的吸收深度，湿度过大，会严重影响乃至潮解红外窗片。大气中水和二氧化碳的吸收峰精确位置可以参照NIST相关文献中的水和二氧化碳波长标准数据1]，实际应用时选取合适的波长，就可以直接用于校准仪器波长。图 1为在BRUKER,EQUNION 55仪器上，设定波长分辨率为0.5cm[sup]-1[/sup]，使用该方法，,连续测量5遍所得到的波长数据的平均与NIST标准数据的差值分布图。[align=center][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/01/201401010923_486281_1795438_3.jpg[/img][/align][align=center]图1波长测量（5次平均）误差[/align]需要说明的是，NIST公布的数据是基于0.2波数分辨率进行测量的，因此，其中部分数据间隔太密的波长点（小于0.5），会引起峰的重叠，该部分峰均已被剔除。实际有效用于校准波长的点为42个。从图 1中也可以看出，波长误差最大不超过0.2波数，这说明我们实验的设备的波长准确度是很高的。尤其需要注意的是，该方法不可常用，否则可能会导致设备红外窗片的潮解，导致一定的经济损失。2.利用聚苯乙烯薄膜进行红外波长校准利用聚苯乙烯薄膜的吸收峰进行傅里叶红外变换光谱仪的波长校准是一种较为简便，也是国际通行的做法。我们国家多部相关规程规范[[url=#_ENREF_2]2-4]中均提到了该方法，不过，在这些规程中对具体的应用方法以及薄膜质量的规定不一，导致在具体实施时存在一定的问题。2.1薄膜厚度在日常校准聚苯乙烯薄膜吸收峰中发现，常用的聚苯乙烯薄膜厚度有三种，分别为0.03mm，0.038mm和0.05mm。其中0.038mm为国际通行厚度。实际测量过程中发现，不同厚度的聚苯乙烯薄膜测得的光谱透射比曲线有所差别，见图2[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/01/201401010923_486282_1795438_3.jpg[/img][align=center]图2.不同厚度聚苯乙烯膜光谱透射曲线[/align]由于薄膜厚度很薄，红外光在样品前后表面之间会形成干涉现象，导致了干涉峰的出现。显然，干涉峰和吸收峰相互叠加，使得聚苯乙烯薄膜自身固有的吸收峰峰位，在实际测量时很可能会出现偏差。在这种情况下，部分规程要求直接查阅标准值的做法会导致校准结果的不确定度偏大，在这种情况下，必须要将聚苯乙烯薄膜送到上级计量机构进行校准，以避免出现较大偏差。实际上，聚苯乙烯薄膜厚度主要影响的吸收峰的深度，对峰位基本没有影响，厚度不是主要原因，NIST的解决方案是，在聚苯乙烯薄膜两面进行粗糙处理，使得两面不再平行，从而避免了干涉峰的出现。但是，即便如此，也不推荐利用聚苯乙烯薄膜吸收峰的标准值直接校准仪器，因为聚苯乙烯薄膜的纯度，加工工艺等诸多因素均可能导致峰值的偏移。2.2光谱参数的影响 在实际校准工作过程中发现，即使聚苯乙烯薄膜的问题得到了很好解决，校准时，仪器光谱参数设定不一致导致的问题也很严重。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/01/201401010923_486283_1795438_3.jpg[/img][align=center]图3.不同分辨率下对聚苯乙烯某吸收峰测量结果的影响[/align]由于聚苯乙烯薄膜的吸收峰不是由单一的两能级间越迁所致，是多峰叠加的结果，不同分辨率下测量结果会出现一定差异。除此之外，切趾函数和光谱峰值读取方法[[url=#_ENREF_5]5]也是一个极为重要的影响因素，由于该部分比较复杂，此处不再详细展开，具体可以参考相关文献[[url=#_ENREF_6]6, [url=#_ENREF_7]7]。在校准过程中，必须要尽量使得仪器设定和上级计量部门量传时的设定一致，避免产生不必要的不确定度损失。

  • 2016国产磁测量好仪器系列之五：磁场测量扫描成像系统F-30

    2016国产磁测量好仪器系列之五：磁场测量扫描成像系统F-30

    2016国产磁测量好仪器系列之五：磁场测量扫描成像系统F-30原创：李响、杨文振、薜立强、冀石磊、郑文京 工程师，北京翠海佳诚磁电科技有限责任公司推荐：陆俊 工程师，中科院物理所磁学室2016年10月28日一句话推荐理由：国产半导体器件的骄傲之作应用在中强磁场测量上的好仪器。一、引言 磁场无形，但又无处不在，无时无刻不在直接或间接的影响着我们的生活，比如地磁、磁卡、电机、变压充电器、电磁炉、微波炉、手机、磁盘、钞票、耳麦、磁悬浮列车、核磁共振成像仪这些让我们每天都在和各种各样的磁场打交道，然而对于磁场如何衡量，如何产生如何测量恐怕较少有人去关注，简单概括几点：一是磁场的单位，常用的单位是奥斯特，国际单位安每米比较小(1 Oe ~ 79.6 A/m)，注意严格来讲不要将单位表达成高斯或特斯拉这两个磁感应强度单位，因为磁场强度和磁感应强度概念上完全不同，尽管二者可根据(经常以空气或真空的)磁导率相互变换，即1奥斯特磁场在真空或空气中诱导的磁感应强度为1高斯或万分之一特斯拉。二是磁场的产生，首先地球是跟我们关系最密切的磁场源，地表磁场大约为0.5奥斯特，随纬度升高有缓慢增强趋势；其次是为了产生变化磁场，可以通过永磁体机械组装的方式，也可以使用线圈中通过电流的方式，根据线圈材料或结构的不同可以形成不同类型的通电线圈磁场源，比如超导线圈在不消耗能量情况下维持100kOe以上的磁场，高强度导电材料及结构制成的1MOe以上的脉冲强磁场；还有一种和磁场产生相反，要尽可能减少磁场，以防止地球磁场或其他干扰磁场对精密传感器造成不利影响，破坏极端条件探索、精密标定测量等任务，这时要用到消磁措施，可以使用主动电流对消与被动屏蔽两种方法，综合利用消磁技术，我们可以获得比地磁场弱10个数量级的洁净磁场环境。三是磁场的测量，相比产生技术方法，磁场测量要复杂得多，其类型有电磁感应、霍尔、磁阻、磁电、磁光、磁致伸缩、磁共振及非线性磁效应等基本原理，其中值得一提的几个包括最通用且测量范围最广的感应线圈磁探测器、前沿科学探索中常用的超导量子干涉仪(SQUID)、地磁或空间磁场探测中常用的磁通门或原子光泵磁力仪、智能手机里植入的各向异性磁阻AMR芯片、磁场计量常用的核磁共振磁力仪以及跟电磁相关的生产及科研任务中常见的中等强度磁场(地磁场上下四个数量级之间)测量上最常见最常用的霍尔磁场计。以上关于磁场的量级、产生与测量方法比较汇总于图1，在中等磁场强度测量应用最广泛的为霍尔传感器，虽然它没有核磁共振磁力仪ppm级的高精度，但它同时具备足够的精密度(通常约千分之一)、高空间分辨、高线性度、单一传感器宽测量范围、成本又相对较低等明显优势，因而市面上高斯计、特斯拉计等中等强度磁场测量仪绝大多数基于霍尔传感器，本文介绍的磁测量产品也基于霍尔磁场计，在前述磁相关的器件及应用产品的质量控制、监护与升级过程中扮演着不可缺少的角色。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/11/201611101944_616260_0_3.png图1 磁场的量级、不同产生与测量方法比较概览图二、背景中科院半导体所从20世纪80年代始研究高迁移率砷化镓(GaAs)霍尔器件，后来经过两代人的薪火传承克服半导体材料制备、内置温度补偿器件设计与测量数字化采样及软件优化上的技术难题逐渐发展成熟，最终落地北京翠海公司，形成CH-1800，CH3600等被用户认可的高斯计产品。近些年为了配合电磁制造业质量提升的业界需求，为电机磁体、核磁共振磁体空间均匀性、多级磁体分布提供系统的测量方案，翠海公司在高斯计的基础上增加无磁运动机构和软件集成，开发出F-30磁场测量扫描成像仪，照片如图2所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/11/201611101944_616259_0_3.jpg图2 F-30 型磁场测量扫描成像设备照片三、简介F-30由上位机（装有控制软件）、高精度高斯计（一维或者三维）、与高斯计搭配的探头、多维电控位移台以及位移台的控制器组成，如图3所示。简单来说可以分为两个部分，一部分只是用来采集数据，另一部分只是位移，两个部分搭配起来就组成了这个位移采集系统。位移模块由多维电控位移台和位移台控制器组成，通过操作上位机软件给控制器下命令，控制器就根据命令带动电控位移台各个轴运动，这个电控位移台的参数（台面大小、运动轴长度、运动方式、多少维度）用户可定制，即实现在允许范围内的各个角度、各种形状的扫描。 数据采集模块由高精度高斯计和与高斯计配套的探头组成，电控位移台的轴上有固定的探头夹持位置，采集数据时将探头放在夹持位置上，探头测量的数据实时上传到高斯计上，而高斯计与上位机软件通信连接，上位机则根据需要选择是否记录当前位置的数据。通过上位机软件控制位移台控制器和高斯计，可以将位移台上某个位置与高斯计读到的数据值相关联，一维高斯计读到的就是运动到的点对应的某个方向的数据值，三维高斯计则是一个点上 X 方向的值、Y 方向的值、Z 方向的值、此点上的温度（根据需要探头和高斯计中可有温度补偿功能）及三轴中两两矢量和、总矢量和的数值大小和方向夹角，扫描的数据可以导出保存在 EXCEl 中，根据位置和数据值可由软件绘制出各种需要的示意图：二维标准图、二维颠倒图、二维雷达图、三维曲线图、三维网状图、三维立体图、矢量图、圆柱展开图及多条曲线或多个立体图放在同一张图中进行对照比较。软件中还对常见的几种形状（空间磁场分布、矩形图、磁环、同心圆等）的扫描进行了集成化，只需设置几个参数便可以自动进行扫描，自由度高，精准度高，无需看管。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/11/201611101944_616261_0_3.png图3 F-30型磁场测量扫描成像仪组成框图F-30根据不同的测量件需求可以定制，磁场测量部件的主要技术指标如表1，传感器照片如图4，其测量方向、维度以及尺寸都可以根据需要定制。 关于磁场扫描成像时间，（1）常规扫描：每点扫描时间可设置，一般为保证数据的稳定性，在每点的停留时间为1~2s，总时间由测试工件尺寸和扫描步长决定；（2）快速扫描模式：在位移台运动过程中不做停留，通过高速数据采集获得每点磁场值每点测量可小于0.1s。表1： F-30磁场测量部件主要指标http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/11/201611101944_616269_0_3.jpg运动部件有三个平移与两个旋转自由度，大致示意图如图5，典型测试场景及系统软件照片如图6所示，运动部件指标表2。表2 F-30运动学指标列表http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images

  • 如何保证单道扫描光谱仪测量结果的准确性

    [b][url=http://www.bjzyyyicpyq.com/SonList-1381160.html]单道扫描光谱仪[/url][/b]是一种用于测量物质的光学性质的仪器，它可以通过测量不同波长光线的吸收和散射来确定样品的特性和成分。它可广泛应用于化学、生物、环境、医学等领域，是一种非常实用的仪器。下面将简要介绍单道扫描光谱仪的作用、操作步骤以及如何校准。　　一、单道扫描光谱仪的作用　　单道扫描光谱仪利用单一波长的光源，照射到样品上的光线，通过检测样品对该波长光线的吸收或透射比例，分析并确定样品所含成分以及组成比例。通过改变波长，单道扫描光谱仪可获得不同的吸收光谱，并以此获得物质的光学性质特征，从而对物质进行分析和检测。　　二、单道扫描光谱仪操作步骤　　1.打开仪器电源，并等待一段时间。在此期间，仪器会自动检测，初始化并进行自动调整，确保仪器达到最佳状态。　　2.在仪器的软件界面上进行测量参数设置，如仪器类型、波长范围、光谱分辨率、采样速率、积分时间等。　　3.放置新鲜样品，并选择合适的试管或石英模块，具体根据要检测物质的类型和性质而定。　　4.设定基线。通过对空白样品进行扫描，让仪器自动测定样品基线，然后对样品进行扫描测量。　　5.计算数据。对数据进行计算，获取吸收谱和透射谱。　　6.单道扫描光谱仪可以与其他仪器联用，如[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp][color=#3333ff]气相色谱仪[/color][/url]联用使用，可以非常方便地对样品进行检测和分析。　　三、单道扫描光谱仪的校准　　单道扫描光谱仪的准确性和精度十分关键。为确保测试结果准确可靠，必须进行校准。下面是单道扫描光谱仪校准的一些方法。　　1.波长校准。利用一个已知波长的标准物质，通过检测吸收峰或透射谷来确定设备的波长标度。　　2.波长精度校准。通过重复测量已知物质的吸收峰或透射谷，计算波长精度。　　3.规格校准。利用标准物质和规格校准板进行规格校准，通过对比已知浓度的标准物质与检测物质的吸收强度计算出检测物质的含量。

  • 简述紫外可见光纤光谱仪吸收测量的应用

    简述紫外可见光纤光谱仪吸收测量的应用光谱分析是一种非常成熟的分析方法，在化学分析、环境学检测、气体色谱学、光学镜片吸收和透过率测量、食品检测、生物化学、生命科学、医学和制药业等诸多应用领域应用十分广泛, 几乎涉及到无机分析的所有领域, 在有机分析中也占有一定比重, 并呈逐渐上升之势。传统的分光光度计由于其价格昂贵、体积大、操作复杂、需要专人维护、测量速度慢等缺点，使其一直只能在实验室中应用。而随着微电子领域中的多像元光学探测器和光纤技术的迅猛发展，使生产低成本光谱仪成为可能。新一代的微型光纤光谱仪具有低成本、高分辨率、便携和高速测量等优点，可以很方便的应用在在线检测和实验室测量中。下面我们以深圳高利通公司的微型光纤光谱仪GLA600为例，介绍微型光纤光谱仪在紫外可见吸收测量中的应用。2. GLA600光纤光谱仪一、仪器原理 GLA600-UVN光纤光谱仪，采用Czerny-Turner光学结构，包括光纤接头（标准SMA905接口，也可以选择其它类型的接口）、准直镜、衍射光栅、3648像素线阵CCD 探测器， 波长范围190-1000nm，最高分辨率0.83nm，提供USB1.1 或USB2.0 接口、RS232接口和/模拟接口。二、功能及特点2.2.1 Czerny-Turner光学结构，在更宽光谱范围具有更高分辨率 2.2.2 体积小巧，只有手掌大小 2.2.3 即插即用，无需手动设置 2.2.4 温度稳定性好，热漂移小 GLA600-UVN光纤光谱仪的光学元件和底板间采用无应力装配，出厂前经过特殊工序处理，因此环境温度对光谱仪影响极小，优秀的温度稳定性确保了其长时间测量的精确性和可重复性。

  • 低频电磁场测量系统的问题

    [b]低频电磁场测量系统NBM550+EHP50F+EF0391 大家有用过这个仪器吗？ 是不是一个主机加两个探头，用来测工频电磁场密度还有工频密度的啊？ 可是我看详细配置怎么是 [/b][list=1][list=1][*][b]电磁辐射分析仪主机，[/b]2.[b]射频电场探头, 3[/b].[b]工频辐射测量仪（可同时测量电场和磁场合；工频辐射测量仪与显示主机连接光纤不小于5m，以避免人员对测量的影响；工频辐射测量仪能够独立测量并存储数据，不需要使用额外的专用主机，可使用普通电脑作为显示单元，独立工作时间不小于24小时。） 这个工频辐射测量仪不是探头吗？ 怎么回事?为什么还是可单独使用并且还能同时测电场和磁场呢？[b][/b][/b][list=1][/list][list=1][list=1][/list][/list][list=1][list=1][list=1][/list][/list][/list][list=1][list=1][list=1][/list][/list][/list][list=1][list=1][list=1][/list][/list][/list][/list][/list][list=1][/list][list=1][/list][list=1][/list]

  • 【原创】杂散光对紫外分光光度计测量结果的影响

    A Aobs S=0.01S=0.100S=1.00S=2.00S=3.000.10.10000.09990.09890.09780.09660.20.20000.19970.19750.19500.19310.50.49990.49900.49070.48160.47271.00.99960.99610.96260.92810.89621.51.4991.4871.3841.2931.2172.01.9961.9591.7011.5261.4013.02.9592.6991.9591.6781.5094.03.6992.9591.9961.6971.521（A列为真实值、Aobs为在各杂散光下的吸收读数值、S为杂散光值）杂散光这项指标主要与单色器的质量与个数有关。有些价格10万以上的紫外分光光度计中配备了双单色器，杂散光大约在0.0003%t。市场主流紫外分光光度计主要是单单色器，杂散光一般是0.01-0.1%t左右。但双单色器只有吸光度在4A2.5时有一定优势，①A2的时候双单色器和单单色器在4位有效数字内是没有太大区别的。②而在吸光度测量误差计算中，当吸光度A=0.4343时，吸光度测量误差最小。故在一般测量时吸光度值A值都控制在0.2—0.8之间，光度测量误差才较小。所以双单色器在科研院校中并没有特定的优势，只有在不方便稀释特定样品的时候才有优势。根据吸收定律，要使测定浓度的相对误差最小，应满足条件http://s19.photo.store.qq.com/http_imgload.cgi?/rurl4_b=98603b7d70846ba16aa8dbe2df8782922f0052f464d6c0e97379f775830166e195fbaf725b0706a74c08d83fa8f5cf89df989febec6504a40105d020870b0a7d82cbbca682d75782d03c8476b39d76bc9dd9d441补充一下，现在很多特殊样品都找到了适合的溶剂，但因数量巨大不做赘述。以下是几种常见溶剂的选择所选择的溶剂应易于溶解样品且不与样品作用，且在测定波长区间内吸收小，不易挥发。下表为某些常见溶剂可用于测定的最短波长可用于测定的最短波长(nm) 常见溶剂 200 ---------------------- 蒸馏水，乙腈，环己烷 220 ---------------------- 甲醇，乙醇，异丙醇，醚 250 ---------------------- 二氧六环，氯仿，醋酸 270 ---------------------- N,N-二甲基甲酰胺(DMF)，乙酸乙酯，四氯化碳 (275) 290 ---------------------- 苯，甲苯，二甲苯 335 ---------------------- 丙酮，甲乙酮，吡啶，二硫化碳(380)

  • 求助：怎样测量样品微区的紫外－可见－近红外反射（或者透射）光谱

    本人急需测量样品的微区紫外－可见－近红外反射（或者透射）光谱，样品为附着于基片（玻璃或者石英片）上的膜。微区大小为几十微米。请教各位大虾：有没有紫外－可见分光光度计可以测量微区的光谱性质，并且测量的波长范围可以达到近红外区。或者有哪种仪器具有相关的附件可以达到这种要求（本人现在采用的紫外－可见分光光度计是日立公司的UV-4100型。）请各位大虾指教。先谢过了！

  • 【求助】光谱仪波长校准 求助~~~~~~~~~

    求助各位高手~~~我现在在为拉曼光谱仪进行波长校准 说明书上说就用汞灯就可以 但是我却根本测量不出来峰 更不用说准确位置的峰了...很郁闷... 我很认真的调整了汞灯与探头的相对位置,但是还是不行.谁能指点一下 应该怎么做...

  • 梯度磁场购买，测量。

    大家好，小弟需要弄一个梯度磁场，控制铁颗粒的运动，但是关于梯度磁场了解比较少，希望大家帮忙。我需要的是Z轴的单梯度磁场，不知道磁场梯度是否可以控制，以及如何测量磁场梯度。另外，我们实验室购买的匀强直流电磁铁，它是在Z轴方向是梯度磁场吗？

  • 近红外光谱仪器的测量软件

    [font='Times New Roman'][font=宋体]软件是现代[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱仪[/color][/url]器的重要组成部分，[/font][/font][font=宋体]近红外仪器的测量[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]软件一般由[/font][/font][font=宋体]仪器控制管理和分析测量[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]软件[/font][/font][font=宋体]等几[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]部分组成。[/font][/font][font=宋体]有的近红外仪器测量软件运行在电脑上，仪器需要通过数据线与电脑进行通讯；而有的直接运行于仪器内的单片机上，利用单片机直接进行仪器管理控制与测量分析工作。一般而言，台式分析仪采用前一种模式居多，而便携手持仪器采用后一种模式居多。还有一种网络化的测量分析软件，它一般由两部分组成，跟仪器相关的软件获得光谱，将光谱上传到云服务器；而部署在云服务器上的后台软件接收到光谱后，带入到相应的分析模型中，计算得到最终结果返回给仪器软件。这种模式适合于专用化的分析设备及网络分析系统。一般情况下，软件均包含如下功能模块。[/font][b][b][font=宋体]一、仪器控制与管理[/font][/b][/b][font=宋体]仪器控制是通过软件发送命令，通过仪器的控制芯片等操作仪器内各元器件的方式，其主要实现的功能主要有：仪器信息查看、仪器自检、仪器报警、仪器性能测试、仪器复位等功能。其中仪器性能测试是通过控制仪器内的性能自检机构，执行仪器光学性能检查，判断仪器是否处于性能正常状态。仪器性能测试一般测试仪器光谱强度、波长准确性、仪器噪声水平等指标。[/font][b][b][font=宋体]二、测量分析[/font][/b][/b][font=宋体]仪器的测量分析部分主要功能是采集背景光谱和样品光谱，计算得到吸收光谱，并将吸收光谱代入到分析模型，计算得到最终的预测结果。对于大多数软件而言，预测分析部分与光谱获取集成在一个软件中，这有利于直接获得检测结果。[/font][b][b][font=宋体]三、数据管理[/font][/b][/b][font=宋体]数据管理部分涉及数据的存储、查询、统计分析和数据展示。部分软件采用数据库方式进行数据管理，有些软件采用文件方式进行数据管理。当前采用数据库进行数据管理已经成为主流。[/font]

  • 微型光纤光谱仪在LED光谱测量中的应用以及常见问题分析--问答精选

    本贴是11月29日举办的微型光纤光谱仪在LED光谱测量中的应用以及常见问题分析在线研讨会的问答精选。希望能够起到抛砖引玉的作用：）大家有什么别的方面的问题可以在下面直接提问。研讨会回放： http://webinar.ofweek.com/activityDetail.action?activity.id=4391010&user.id=2问题精选：提问人： lijing 提问时间： 2011-11-29 11:04 用户关注问题： 软件方面，贵公司产品能否提供开方的开发接口。 官方回答：会得，我们的OMinidriver为C 开发包，另外还有其它的OEM datasheet 提供参考提问人： 斯蒂芬 提问时间： 2011-11-29 10:48 用户关注问题： （陈小砖的提问）李经理您好！我想请教一下：光纤光谱直读是指的是所有波长的直读吗？ 官方回答：所有波长点数据（比如2048个点，3648像素点），几ms内一次性全部读出提问人： 斯蒂芬 提问时间： 2011-11-29 10:42 用户关注问题： （陈浩的提问）我们是做红外激光的，在2200nm附近，传统单色仪很不好用，贵公司的顶配产品在该波段的精度是多少？速度？给我一份材料 官方回答： NIRquest 900nm-2500nm,速度可达1ms用户关注问题： （刘达的提问）您好，贵公司的光谱仪产品用来测膜厚需要搭配什么附件？精度能到多少？测量原理能详细说下吗？ 官方回答： 通过反射率测量、干涉原理等来测量-产品nanocalc椭偏光谱测量-产品SPecEI2000用户关注问题： （陈伟齐的提问）但我们测出的确是几百K呀，我现在都不知乍办了 官方回答： 如果是用光谱仪测量的请检查如下：1. 辐射能量灯是否过使用寿命2. 光谱仪波长准确度，最好重新校准下3. 注意采光方式，一般建议用余弦校正器或积分球来采集用户关注问题： （杨合的提问）CCD感应不了1100nm以上的波长吗？ 官方回答： CCD过1100nm，响应比较弱，一般会更换为InGaAs探测器用户关注问题： （陈伟齐的提问）但有标准为什么在不同的测试仪器下色温的差距相差太大 官方回答： 这根仪器差别与采光方式有关，我们曾跟NIST,中国计量院及美能达的色度计比对过，色温差别只有几十K用户关注问题： （陈浩的提问）贵公司的产品跟日本横河的OSA6370系列有什么区别吗？我需要宽度比较大的产品，最好紫外到2200nm的，这样的配置总价在多少范围？ 官方回答： 我们可从紫外180nm-2500nm,不过需要两台光谱仪搭配使用，一台可以完成180nm-1100nm,另一台可覆盖900nm-2500nm用户关注问题： （伍省铭的提问）测试波长3um，0.1nm分辨率，或者更高分辨率的光谱仪 官方回答： 我们有ANir系列有2000nm-3400nm的便携性傅里叶近红外光谱仪，分辨率可能有8cm-1波数左右，会换算一下nm分辨率，可能分辨率要求要求有点苛刻用户关注问题： 专家好！我测试过程遇到一点小问题，是关于显色指数的测试，一般能源之星规定，R9的数值要大于0，但是有些灯它的R9有小于0，就是负数，一般是怎么回事啊？？ 官方回答： 这个具体测试程序，一般要查一下具体标准；不过通过光谱算法，可以得到所有的显色指数的参数，我们的光谱仪上集成了这一功能，通过测量光谱可以得到诸如色坐标，色温，显色指数，主波长等等的信息用户关注问题： 想问一下李宇经理：我们有一款测试LED光参数设备，因为缺少一根光纤导线，平时测量时我们是直接将待测LED堵在接收器接口，这样的测试结果和用光纤导入测试结果主要区别或者说误差大概在哪几个方面表现出来？另外一个问题是：光纤导入时对于脉冲和非脉冲测试误差是一样的吗？ 官方回答： 测量时，一般要先进性绝对辐射校准，然后对LED进行颜色、光通量等的测量；一般来讲不同的采光方式会导致稳定性、测量精度差异，要进行稳定及精度较高的测量，最好采用积分球加光纤加光谱仪的测量方式；尤其是光通量测量时，建议采用积分球方式，一方面稳定，另一方面更准确。提问人： 崔庆华 提问时间： 2011-11-28 08:48 用户关注问题： 微型光纤光谱仪与传统光谱仪的区别在哪里主要构造是怎样的，有什么优势谢谢 官方回答： 光纤光谱仪就是光谱仪，普通紫外-可见、近红外光谱仪能完成的操作，在这个小黑盒子里都能完成。与传统光谱仪最大的区别就是采用了 后置分光 操作。通常的分光度计，采用复合光先分成单色光，然后照射样品，通过或从样品返回后再到光电转换。光纤光谱仪采用复合光照射到样品，通过或返回的光经过光栅分光成谱带，投射到阵列（阵面）检测器，多个点同时完成光电转换，因此就避免了分光器件的移动来满足波长变化的设计限制。这个帖子里的内容可以参考：http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20111027/3611179/提问人： 彭盛 提问时间： 2011-11-27 15:12 用户关注问题： 如果外加积分球，利用OceanOptics的光纤光谱仪，和标准灯比对，贵公司产品的强度校准的可靠性如何？与扫描试光谱仪对比，光谱强度可靠性差多少？ 官方回答： OceanOptics的标准灯是NIST朔源的，经过校准以后，我们的光谱仪在可见光范围的强度误差在5%以内。提问人： 朱明明 提问时间： 2011-11-24 12:17 用户关注问题： 微型光纤光谱仪在国内应用情况如何？ 官方回答： 我们在国内的应用蛮广泛的，光纤光谱仪应用比较广泛化学计量方面诸如：吸收浓度、荧光、拉曼、元素发射谱检测，半导体行业：薄膜透射、反射、膜厚测量，折射率测量、太阳能光谱检测照明行业：光效、光通量、颜色、色温、显色指数、光谱检测医药环保、宝石鉴定等等，应用广泛用户关注问题： 贵公司这种光谱仪测试的波段范围是什么，是否可以测试UV,IR的LED器件 官方回答： UV段最低可以测到170nm左右，IR段一般到2500nm提问人： xiupeiyang 提问时间： 2011-11-14 21:54 用户关注问题： 曾经在展会上向贵公司询问过有没有外径为30-50um光纤，再次求解答，谢谢。 官方回答： 不知您做什么应用需要这么细光纤？我们公司的光纤最细的芯径有8um，但是如果要加上包覆的材料就不可能那么细了。您可以给我们邮件（AsiaSales@oceanoptics.com）或者电话（021-62956600）继续探讨提问人： qiu 提问时间： 2011-11-13 00:19 用户关注问题： 请输入问题内容：微型光纤光谱仪有没有联网记录功能？ 官方回答： OceanOptics的JAZ光谱仪有网络功能关于细节可以联系我们（电话：021-62956600 Email: AsiaSales@oceanoptics.com）或者参见：http://www.oceanopticschina.cn/Products/jaz.asp提问人： 李兴军 提问时间： 2011-11-11 16:25 用户关注问题： 不知道贵司有没有在线测试设备,可以在我们灯具生产过程中对灯具的色温,显色指数,光通量进行在线测试,要求测试时间短,测试效率高? 官方回答： 我们的光纤光谱仪可以做到在线监测、筛选等。一些LED分光机厂商集成我们的设备做lED分光筛选的高速检测器提问人： 孟凡勤 提问时间： 2011-11-10 22:23 用户关注问题： 请问贵公司有没有测量光折射率的仪器？ 官方回答： 有的，我们的椭偏仪可以做到，可以测量膜厚，折射率及消光系数，可在我们的网站上查到SpecEL Ellipsometer Systemht

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