分子探针

随着新兴太赫兹应用的大量扩展，如高速5G通信，卫星，非侵入性光谱，安全和监视，医疗和保健设备以及短程汽车雷达，对精确，可靠和可重复测量数据的需求比以往变得更加重这些THzMPI TS150-THZ 工程探针台系统是一种专用的，经济高效的手动探头系统，专为基板和亚太赫兹150 mm晶圆的精密分析而设计。该系统非常稳定，具有大型探头压板和低调设计。这些基本元件中的每一个都需要支持各种RF和mmW应用，例如高达110 GHz的宽带，高达1.1THz的带状解决方案，负载牵引和RF噪声。单机多应用设计无缝集成各种宽带、差分、毫米波或宽带频率扩展器和自动阻抗调谐器全新设计的扩展器、调谐器集成，可实现非常大的动态测量极大的机械稳定性和重复性，实现方便和安全的操作人体工程学设计方便单手操作的，快速移动气浮式样品台设计坚固且空间充足的工作台，可乘载大型微定位器和毫米波模块扩展器三段式工作台快升把手设计 (contact - separation - loading)，实现接触、分离和加载的高性能弹性选配与升级可选振动隔离支持大型自动阻抗调谐器专用光学元件，用于缩短电缆和波导的长度，实现非常大的测量方向性各种夹头选件，印刷电路板和各种附件，如DC / RF /毫米波定位器 直流、射频和THZ微定位器的探针板设计 MPI探针悬停控制TM配有悬停高度（50、100或150μm）， 便于探针与Pad的对准。 世界上数一数二极精确的接触/超大行程控制， 精度为1um,便于测量的重复性和精确性无缝集成任何扩频器，以在200毫米晶片上获得 非常佳测量方向性陶瓷辅助夹头 用于测试单个集成电路的专用ERS热夹头

KP 超高真空开尔文探针系统开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由最上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种最灵敏的表面分析技术。 我们的开尔文探针系统包括：□ 单点开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 扫描开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)； □ 超高真空(UHV)开尔文探针；□ 湿度控制的腐蚀开尔文探针； 扫描开尔文探针系统 (ASKP) ASKP系统是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统，它是在SKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置，其规格如下：□ 2毫米，50微米探针；□ 功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖)，5-10 meV(50微米针尖)；□ 针尖到样品表面高度可以达到400纳米以内；□ 表面势和样品形貌3维地图；□ 探针扫描或样品扫描选配；□ 彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置；□ 参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌)； □ 备用的针尖放大器；□ 24个月超长质保期； 仪器的特色□ 全球第一台商用的完全意义上的开尔文探针系统；□ 最高分辨率的功函数和表面势，最好的稳定性和数据重现性；□ 非零专利技术(Off-null,ON) ——ON信号探测系统在高信号水平下工作，与基于零信号原理(null-based,LIA)的系统相比，不会收到噪声的影响拥有高灵敏度；□ 高度调节专利技术 ——我们的仪器在测量和扫描时可以控制针尖的高度。因为功函数受　　　　　　　　　　　　　　　样品形貌的影响，针尖与样品表面距离的调节意味着数据的高重现性且不会漂移；□ 该领域内，拥有最好的信噪比；□ 快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间，远快于其他公司产品；□ 功能强的驱动器 ——选用Voice-coil(VC)驱动器，与通常的压电驱动器相比，VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作；□ 所有开尔文探针参数的全数字控制；ON 非零探测 Off Null detection HR 高度调节模式 Height Regulation mode SM 实际开尔文探针信号监控 Monitoring of the actual Kelvin probe signal UC 用户通道，同时测量外部参数 User Channels, simultaneous measurement of external parameters DC 电流探测系统去除漂移效应 Current Detection system rejects stray capacity effects PP 平行板震动模式 Ideal, Parallel Plate Oscillation Mode SA 信号平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection) WA 功函数平均 Work Function Averaging, Difference and Absolute reporting DC 所有探针及探测参数的数字控制 Digital Control of all Probe and Detection Parameters QT 针尖快速改变 Quick-change Tip, variable spatial resolution DE 数据输出 Data Export to Excel, Origin, or 3rd party software OC 输出通道 Output Channel: TTL switching of external circuit FC 法拉第笼(电磁干扰防护罩) Faraday Cage (EMI Shield) RS 金-铝参考样品 Gold-Aluminium Reference Sample 额外选配项 SPV 表面光伏电压软硬件包 Surface Photovoltage Software and Hardware Package RH 相对湿度腔 Relative Humidity Chamber AC 控制气体进口的环境单元 Ambient Cell for controlled Gas Inlet EDS 外部数据示波镜 External Digital Oscilloscope OPT 彩色相机 Color Camera, TFT Screen and Optical Mounts ST 针尖置换 Replacement Tips GCT 镀金的针尖替换 Gold Coated Replacement Tips XYZ 25.4毫米手动3维控制台 3-axis 25.4 mm Manual Stage 应用领域 吸附，电池系统，生物学和生物技术，催化作用，电荷分析，涂层，腐蚀，沉积，偶极层形成，显示技术，教育，光/热散发，费米级扫描，燃料电池，离子化，MEMs，金属，微电子，纳米技术，Oleds，相转变，感光染色，光伏谱学，高分子半导体，焦热电，半导体，传感器，皮肤，太阳能电池，表面污染，表面化学，表面光伏，表面势，表面物理，薄膜，真空研究，功函数工程学；

TeraSpike THz近场探针 微区探针(TeraSpike microprobe series)品牌：Protemics型号：TeraSpike TD-800-Z (纵向场微探针)TeraSpike是新一代的微探针，用于太赫兹频率范围内电场的光电导检测。基于客户的反馈和不断增长的应用驱动的需求，我们对近场探针进行了彻底的重新设计并且开发成功。新的探针是一款多用途表面近场电场探测器，适用于太赫兹波长范围内，具有前所未有的性能，可靠并且可适应。它可以完美地集成到太赫兹时域系统，在860 nm以下光激发，这是最高性价比的解决方案，将您的系统变成功能强大的高分辨率近场太赫兹系统。 。产品特点：市场上最小的THz探针专利设计空间分辨率可达3um探测频率范围：0-4THz适用于所有基于激光的THz系统安装可兼容标准的光机械组建典型激发光强度1-15mW（1-5uJ/cm2）集成过载保护电路应用：l 太赫兹研究：超材料，等离子体，石墨烯，波导l 高分辨率太赫兹近场成像 l 非接触式薄膜电阻半导体成像l MMIC器件特性分析 l 无损检测芯片l 时域反射计（TDR）测量脉冲激发的THz超物质表面的近场图像测量激光刻蚀多晶硅晶圆的薄层导电率图像 基于飞秒激光的THz系统 THz探针典型参数?TeraSpike TD-800-Z- A-500G Max. spatial resolution 8 μm PC gap size 5 μm Dark current @ 1 V Bias 0.4 nA Photocurrent (*) 0.5 μA Excitation wavelength 700 .. 860 nm Avg. excitation power 0.1 .. 4 mW Connection type SMP

RHC020-气氛控制扫描开尔文探针开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置用于导电材料的功函或半导体或绝缘体材料表面的表面电势，表面功函由材料表面最顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界最高分辨率的测试系统 RHC020 是控制气氛检测样品的理想解决方案，50x50mm样品加热器可将样品温度升至100℃，采用先进的电子和硬件系统即时监测温度和湿度变化，附加表面光伏SPV020及表面光电压谱SPS030模块，可对光敏感样品进行强度或波长可变的激发。 技术参数： ● 2mm和50μm探针 ● 功函分辨率1-3meV（2mm探针），5-10meV（50μm探针，光学防震台） ● 50mmX50mm最大扫描面积 ● 318纳米定位分辨率 ● 跟踪系统自动控制样品和探针距离● 附加手动高度控制（25.4mm KP 平移） ● 过零信号检测系统抑制寄生电容 ● 50mmX50mm样品加热器 ● 自动相对湿度控制至1%（10-100%RH）选件 ● 直插型探针支架：2mm-50μm ● 自动温度控制 ● 表面光伏模块SPV020和SPS030

MPI TS2000-IFE 是一个自动化探针台，可以从使用一开始或在测试领域内任何需要时转换为带有 Waferwallet MAX 的全自动探针台。主要应用在负载拉动、RF、mmW、硅光子学、设计验证（产品工程）或在定义的测试环境中测试 MEMS 和其他传感器。MPI 同时推出用于太赫兹应用的 200 毫米自动探针台系统MPI 提供其200 mm TS2000-IFE THZ-Selection 自动探针台系统。THZ-Selection 是一种专用的射频、毫米波、太赫兹和负载牵引探针台，在 -60 至 300 oC 的宽工作温度范围内不会影响测量方向性。它基于 MPI 最通用的 200 毫米平台 - TS2000-IFE 系列。200 毫米晶圆的自动化在片测试探针台系统常用来执行以下操作：无需额外的 S 波段波导，尤其是在亚太赫兹或太赫兹范围内。最小化负载牵引应用的信号路径并提供最宽的调谐范围和最高GAMMA。切换频段时操作简单方便。MPI 专有的 IceFreeEnvironment 技术允许 THZ-Selection 在微定位器和探针卡的帮助下在负温度下运行。该测试系统能够通过具有可编程微观运动的集成探针控制提供晶圆级可靠性。主动隔振缓冲了测试过程中振动误差的发生。这些功能支持自动化测试，没有任何错误余地，并且具有可验证的准确性。

低温探针台CPS-xxx-CF系列是一款成本低、稳定、可靠和方便的低温半导体测试甚至低温晶圆级别测试器件的低温探针台系统。内置振动隔离，智能热管理和工程热膨胀补偿使低温探针台系统非常适合于宽范围从纳米电子学应用（石墨烯的研究，分子电子学，量子计算等）以空间为基础的电子测试。规格：试样尺寸：25、50mm、100mm、150mm或200mm可选无冷闭式循环制冷机（S）：包括冷头、压缩机、制冷机和所需的氦气软管。 温度范围：标准10K～400K，4.2K到480k可供选择 温度精度：0.1k或更好 热探针臂和辐射屏蔽 卡盘和探针臂的温度监测辐射屏蔽和cryohead温度监测是可选的。 真空压力 窗口材料：熔融石英，定制的材料和涂料是可用的。 相机：数码相机从1像素到10像素。图像和视频采集软件以及尺寸测量能力

开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置用于导电材料的功函或半导体或绝缘体材料表面的表面电势，表面功函由材料表面最顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界最高分辨率的测试系统。 特点 ● 最高的功函/表面电势分辨率：1-3meV（2mm探针） ● 与压电系统相比采用音圈驱动具有很高的驱动噪声抑制 ● 过零信号检测系统极大的提高了分辨率，信噪比性能无与伦比 ● 测试和扫描时探针尖与样品的高度调节功能可得到稳定的、可靠的和重复的结果 ● 探针参数全部采用数字控制系统参数 ● 2mm and 50μm探针 ● 功函分辨率1-3meV（2mm探针），5-10meV（50μm探针，光学防震台） ● 手动高度控制（25.4mm KP 平移） ● 跟踪系统自动控制样品和探针距离 ● 过零信号检测系统抑制寄生电容 软件性能 ● 数字控制所有开尔文探针参数 ● 简单的信号优化设置过程 ● 快速测量模式用于跟踪实时功函变化(1000points/min at ~20meV分辨率) 选件 ● 样品加热器 Sample Heater ● 可升级至扫描系统 ● 可升级至RHC系统 ● 表面光电压模块SPV020 and SPS030 ● 镀金探针

公司主要经营产品：霍尔效应测试仪、探针台系列、显微镜系列：三维视频显微镜、超长工作距离视频显微镜、测量显微镜、红外/近红外显微镜、传统光学显微镜(体式、生物、偏光、荧光、金相、相衬、比对等常用教学及教研类显微镜)、光学产品组件、工业科研无损检测设备及光学自动一体化系统集成项目。测试噪声小于5E-13A 可扩展上下双透视窗口用于光电测试 可扩展凹视镜 。观察窗口可下凹，使物镜离样品更近，方便观察。 加热台材质纯银块，导热更好，不易氧化专业检测设备生产研发经验，实力见证品牌国内家专业研发探针台设备厂家，有强大技术研发实力已与国内2000多所高校和研究院合作，为您提供*价值的技术解决方案*信赖的检测设备服务商涉及光学、电学、电子、材料、生物、医学等各检测领域拥有国内专业的技术研发团队在探针台电学量测方面拥有近十年的经验小型真空探针台KT-Z4019MRL4T小型真空探针台KT-Z4019MRL4T参数真空腔体类型高温型室温到350℃高低温型 室温到350℃ 室温到-196℃腔体材质304不锈钢 6061铝合金 可选腔体内尺寸127mmX57mmX20mm腔体外尺寸150mmX80mmX32mm腔体重量不锈钢材质 约1.5KG 铝合金材质 约0.5KG腔体上视窗尺寸Φ42mm（可选配凹视窗用于减少窗口和样品之间距离）腔体抽气口KF16法兰（其余接口规格可转接）腔体真空测量口KF16法兰（其余接口规格可转接）腔体进气口6mm快拧 或 6mm快插腔体冷却方式腔体水冷+上盖气冷腔体水冷接口腔体正压≤0.05MPa腔体真空度机械泵≤5Pa （5分钟） 分子泵≤5E-3Pa（30分钟）样品台样品台材质不锈钢 银铜合金 纯银块银铜合金 纯银块样品台尺寸26x26mm样品台加热方式电阻加热电阻加热 液氮制冷样品台-视窗 距离11mm（可选配凹视窗用于减少窗口和样品之间距离到6mm）样品台测温传感器PT100型热电阻样品台温度室温到400℃室温到400℃ 室温到-196℃样品台测温误差±0.5℃样品台升温速率高温100℃/min 最大值 低温7℃/min温控仪温度显示7寸人机界面温控类型标准PID温控 +自整定温度分辨率0.1℃温控精度±0.5℃温度信号输入类型PT100 （可选K S B型热电偶）温控输出直流线性电源加热直流线性电源加热+液氮流速控制器辅助功能温度数据采集并导出 实时温度曲线+历史温度曲线 可扩展真空读数接口温控器尺寸32cmX170cmX380cm温控器重量约5.6KG探针电信号接头配线转接 BNC接头 BNC三同轴接头 SMA 接头 香蕉插头 线长1.2米电学性能绝缘电阻 ≥4000MΩ 介质耐压 ≤200V 电流噪声 ≤10pA探针数量4探针（可扩展5探针）探针材质镀金钨针 （其他材质可选）探针尖10μm手动探针移动平台X轴移动行程20mm ±10mm（需手动推动滑台）X轴控制精度≥500μmR轴移动行程120° ±60°（需手动旋转探针杆）R轴控制精度≥500μmZ轴移动行程2mm ±1mmZ轴控制精度≤50μm（需手动螺纹调节探针杆）

开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由最上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种最灵敏的表面分析技术。 我们的开尔文探针系统包括：□ 单点开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 扫描开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 超高真空(UHV)开尔文探针；□ 湿度控制的腐蚀开尔文探针； 单点开尔文探针系统 (ASKP) KP020系统是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统，它是在KP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置，其规格如下：□ 2毫米，50微米探针；□ 功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖)，5-10 meV(50微米针尖)；□ 针尖到样品表面高度可以达到400纳米以内；□ 彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置；□ 参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌)；□ 备用的针尖放大器；□ 24个月超长质保期； 仪器的特色□ 全球第一台商用的完全意义上的开尔文探针系统；□ 最高分辨率的功函数和表面势，最好的稳定性和数据重现性；□ 非零专利技术(Off-null,ON) ——ON信号探测系统在高信号水平下工作，与基于零信号原理(null-based,LIA)的系统相比，不会收到噪声的影响拥有高灵敏度；□ 高度调节专利技术 ——我们的仪器在测量和扫描时可以控制针尖的高度。因为功函数受　　　　　　　　　　　　　　　样品形貌的影响，针尖与样品表面距离的调节意味着数据的高重现性且不会漂移；□ 该领域内，拥有最好的信噪比； □ 快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间，远快于其他公司产品；□ 功能强的驱动器 ——选用Voice-coil(VC)驱动器，与通常的压电驱动器相比，VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作；□ 所有开尔文探针参数的全数字控制；ON 非零探测 Off Null detection HR 高度调节模式 Height Regulation mode SM 实际开尔文探针信号监控 Monitoring of the actual Kelvin probe signal UC 用户通道，同时测量外部参数 User Channels, simultaneous measurement of external parameters DC 电流探测系统去除漂移效应 Current Detection system rejects stray capacity effects PP 平行板震动模式 Ideal, Parallel Plate Oscillation Mode SA 信号平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection) WA 功函数平均 Work Function Averaging, Difference and Absolute reporting DC 所有探针及探测参数的数字控制 Digital Control of all Probe and Detection Parameters QT 针尖快速改变 Quick-change Tip, variable spatial resolution DE 数据输出 Data Export to Excel, Origin, or 3rd party software OC 输出通道 Output Channel: TTL switching of external circuit FC 法拉第笼(电磁干扰防护罩) Faraday Cage (EMI Shield) RS 金-铝参考样品 Gold-Aluminium Reference Sample 额外选配项 SPV 表面光伏电压软硬件包 Surface Photovoltage Software and Hardware Package RH 相对湿度腔 Relative Humidity Chamber AC 控制气体进口的环境单元 Ambient Cell for controlled Gas Inlet EDS 外部数据示波镜 External Digital Oscilloscope OPT 彩色相机 Color Camera, TFT Screen and Optical Mounts ST 针尖置换 Replacement Tips GCT 镀金的针尖替换 Gold Coated Replacement Tips XYZ 25.4毫米手动3维控制台 3-axis 25.4 mm Manual Stage应用领域 吸附，电池系统，生物学和生物技术，催化作用，电荷分析，涂层，腐蚀，沉积，偶极层形成，显示技术，教育，光/热散发，费米级扫描，燃料电池，离子化，MEMs，金属，微电子，纳米技术，Oleds，相转变，感光染色，光伏谱学，高分子半导体，焦热电，半导体，传感器，皮肤，太阳能电池，表面污染，表面化学，表面光伏，表面势，表面物理，薄膜，真空研究，功函数工程学；目前通过我司购买的的开尔文探针测试系统，目前在南昌航空大学工作正常，运行稳定。。

TeraSpike THz近场探针 微区探针(TeraSpike microprobe series)品牌：Protemics型号：TeraSpike TD-800-XTeraSpike是新一代的微探针，用于太赫兹频率范围内电场的光电导检测。基于客户的反馈和不断增长的应用驱动的需求，我们对近场探针进行了彻底的重新设计并且开发成功。新的探针是一款多用途表面近场电场探测器，适用于太赫兹波长范围内，具有前所未有的性能，可靠并且可适应。它可以完美地集成到太赫兹时域系统，在860 nm以下光激发，这是最高性价比的解决方案，将您的系统变成功能强大的高分辨率近场太赫兹系统。 。产品特点：市场上最小的THz探针专利设计空间分辨率可达3um探测频率范围：0-4THz适用于所有基于激光的THz系统安装可兼容标准的光机械组建典型激发光强度1-15mW（1-5uJ/cm2）集成过载保护电路应用：太赫兹研究：超材料，等离子体，石墨烯，波导高分辨率太赫兹近场成像 非接触式薄膜电阻半导体成像MMIC器件特性分析 无损检测芯片时域反射计（TDR）测量脉冲激发的THz超物质表面的近场图像测量激光刻蚀多晶硅晶圆的薄层导电率图像 基于飞秒激光的THz系统 THz探针典型参数TeraSpike TD-800-X-HR HRS Max. spatial resolution3 μm20 μmPC gap size1.5 μm2 μmDark current @ 1 V Bias 0.5 nA 0.5 nAPhotocurrent (*) 1 μA 0.6 μAExcitation wavelength700 .. 860 nmAvg. excitation power0.1 .. 4 mWConnection typeSMP元素路径: body p img当前已输入818个字符, 您还可以输入9182个字符。

1：四探针测试仪 四探针检测仪 四探针测定仪/四探针电阻率测定仪 型号：HARTS-8HARTS-8型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准而的，于测试半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）的仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。仪器采用了电子行、装配。具有能选择直观、测量取数快、度、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能测试。　术　　标 ： 测量范围 电阻率：10-5～105 &Omega .cm(可扩展)； 方块电阻：10-4～106 &Omega /□(可扩展)； 电导率：10-5～105 s/cm； 电阻：10-5～105 &Omega ； 可测晶片直径 140mmX150mm(配S-2A型测试台)； 200mmX200mm(配S-2B型测试台)； 400mmX500mm(配S-2C型测试台)；恒流源 电流量程分为1&mu A、10&mu A、100&mu A、1mA、10mA、100mA六档，各档电流连续可调数字电压表 量程及表示形式：000.00～199.99mV；　　　　 分辨力：10&mu V； 输入阻抗：1000M&Omega ； 度：± 0.1% ； 显示：四位半红色发光管数字显示；性、量程自动显示；四探针探头基本标 间距：1± 0.01mm； 针间缘电阻：&ge 1000M&Omega ； 机械游移率：&le 0.3%； 探针：碳化钨或速钢Ф0.5mm； 探针压力：5～16 牛顿(总力)；四探针探头应用参数 (见探头附带的合格证)模拟电阻测量相对误差( 按JJG508-87行) 0.01&Omega 、0.1&Omega 、1&Omega 、10&Omega 、100&Omega 、1000&Omega 、10000&Omega &le 0.3%± 1字整机测量相对误差(用硅标样片：0.01-180&Omega .cm测试)&le ± 5%整机测量标准不确定度 &le 5%计算机通讯接口 并口，速并行采集数据，连接电脑使用时采集数据到电脑的时间只需要1.5 秒（在 0.1mA、1mA、10mA、100mA量程档时）。连接电脑使用时带自动测量 能，自动选择适合样品测试电流量程；标准使用环境 温度：23± 2℃； 相对湿度：&le 65%； 无频干扰； 无强光直射；配置 四探针测试仪主机、探针台、四探针探头、 2：多种气体采样器/多种气体取样器/多种气体出样器（100ml） 型号：HAD/CZY-100产品介绍：主要用于检查空气中各种气体的含量。配合气体检测管使用。配套使用检测管的方法及优势：1、用砂片稍用力将检测管两端各划圈割印。2、用硅胶管套套住检测管上的箭头所端，沿切割印掰断，用同样方法掰断另端。3、用硅胶管套套住检测管上的箭头所端（防止漏气），插入所要检测标注的气体通道口上（稍用力插紧）。注意方向性，箭头方向代表气体流过方向。4、将所需检测的若干项的检测管，按以上方法均插好之后，接通电源，即可正常使用。5、调节所需检测气体对应的时间控制器，使其符合标（见附表）。6、检测结束，拔出检测管。7、手持检测管箭头朝下，并垂直于地面放在与目光基本不平的位置，观察管上颜色变化所刻度，既为被检测气体的浓度。 （1）双重优点：测量气体的检测管实际是将化学分析方法仪器化，是种定量、定性、定值的检测方式,具有化学分析和仪器分析的双重优点。（2）适应性好：检测管现有Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ三种，从零点到几个PPM（10-6）到百分之几十，适用范围很大，为分析作提供了很大方便。（3）操作简便：为专业检验人员提供了很大的方便，操作人员按照使用说明书操作方法行测试即可。（4）使用安：使用时手动操作，无需要电源、热源，在有易燃易气体存在的场所能安使用。（5）分析速度快：由于操作方便，使得每次分析所需时间大为缩短，般仅需十几分钟即可得知结果，其分析速度是何化学分析和仪器方法不能比拟的。（6）测量度：在检测管含量标度的确定上模拟了现场分析条件，采用不同标准气标定，克服了化学分析中易带入的方法误差。同时减少了人为误差。 温馨提示：以上产品资料与图片顺序相对应。

科研小型气敏测试真空探针台高低温探针台系统达到≤10Pa即可进行低温测试而无凝露或结霜。对于选用了入门级配置的用户，可选用双极旋片式机械泵即可达到目标真空度，从而减少设备的配置预算。对于真空度有更高要求的用户，可选用分子泵组对系统进行抽真空。低温探针台系统可达10-3Pa。也可选配更高真空度的泵组，以满足测试要求。 为了减少泵组的振动，我们还专门为用户设计了隔振器，地衰减泵组工作时产生的振动，以确保系统的稳定，减少探针的漂移。度科研小型气敏测试真空探针台真空腔体类型高温型室温到350℃高低温型 室温到350℃ 室温到-196℃腔体材质304不锈钢 6061铝合金 可选腔体内尺寸127mmX57mmX20mm腔体外尺寸150mmX80mmX32mm腔体重量不锈钢材质 约1.5KG 铝合金材质 约0.5KG腔体上视窗尺寸Φ42mm（可选配凹视窗用于减少窗口和样品之间距离）腔体抽气口KF16法兰（其余接口规格可转接）腔体真空测量口KF16法兰（其余接口规格可转接）腔体进气口6mm快拧 或 6mm快插腔体冷却方式腔体水冷+上盖气冷腔体水冷接口腔体正压≤0.05MPa腔体真空度机械泵≤5Pa （5分钟） 分子泵≤5E-3Pa（30分钟）样品台样品台材质不锈钢 银铜合金 纯银块银铜合金 纯银块样品台尺寸26x26mm样品台加热方式电阻加热电阻加热 液氮制冷样品台-视窗 距离11mm（可选配凹视窗用于减少窗口和样品之间距离到6mm）样品台测温传感器PT100型热电阻样品台温度室温到400℃室温到400℃ 室温到-196℃样品台测温误差±0.5℃样品台升温速率高温100℃/min 低温7℃/min温控仪温度显示7寸人机界面温控类型标准PID温控 +自整定温度分辨率0.1℃温控精度±0.5℃温度信号输入类型PT100 （可选K S B型热电偶）温控输出直流线性电源加热直流线性电源加热+液氮流速控制器辅助功能温度数据采集并导出 实时温度曲线+历史温度曲线 可扩展真空读数接口温控器尺寸32cmX170cmX380cm温控器重量约5.6KG探针电信号接头配线转接 BNC接头 BNC三同轴接头 SMA 接头 香蕉插头 线长1.2米电学性能绝缘电阻 ≥4000MΩ 介质耐压 ≤200V 电流噪声 ≤10pA探针数量4探针（可扩展5探针）探针材质镀金钨针 （其他材质可选）探针尖10μm手动探针移动平台X轴移动行程20mm ±10mm（需手动推动滑台）X轴控制精度≥500μmR轴移动行程120° ±60°（需手动旋转探针杆）R轴控制精度≥500μmZ轴移动行程2mm ±1mmZ轴控制精度≤50μm（需手动螺纹调节探针杆）

桌面式小型探针台 ， 高低温探针台系统达到≤10Pa即可进行低温测试而无凝露或结霜。对于选用了入门级配置的用户，可选用双极旋片式机械泵即可达到目标真空度，从而减少设备的配置预算。对于真空度有更高要求的用户，可选用分子泵组对系统进行抽真空。低温探针台系统可达10-3Pa。也可选配更高真空度的泵组，以满足测试要求。桌面式小型探针台 参数真空腔体类型加热型350℃ 或者加热制冷型 室温到350℃ 室温到-190℃腔体材质304不锈钢腔体内尺寸φ90x40mm腔体上视窗尺寸Φ42mm（选配凹视窗Φ22mm）腔体抽气口KF16腔体进气口公制3mm 6mm气管接头 英制1/8mm 1/4mm 气管接头可选腔体出气口公制3mm 6mm气管接头 英制1/8mm 1/4mm 气管接头可选腔体正压≤0.05MPa腔体真空度机械泵≤5Pa （5分钟） 分子泵≤5E-3Pa（30分钟）样品台样品台材质304不锈钢样品台尺寸26X26mm样品台-视窗 距离30mm（可选凹视窗间距15mm）样品台测温传感器A 级PT100铂电阻样品台温度室温到350℃（可选高低温样品台 高温350℃低温-190℃）样品台测温误差±0.2℃样品台变温速率高温10℃/min 低温5℃/min 最大值温控仪温度显示7寸人机界面温控类型标准PID温控 +自整定（可选30段编程控温）温度分辨率0.1℃温控精度±0.5℃温度信号输入类型PT100热电阻 （可选 K S B型热电偶）温控输出直流线性电源加热（液氮流量线性控制液氮制冷）辅助功能温度数据采集并导出 实时温度曲线+历史温度曲线探针电信号接头配线转接 BNC接头 BNC三同轴接头 SMA 接头 香蕉插头 线长1.2米电学性能绝缘电阻 ≥4000MΩ 介质耐压 ≤200V 电流噪声 ≤10pA探针数量4探针（可定做6探针）探针材质镀金钨针探针尖10μm探针移动平台X轴移动行程12mm ±6mmX轴控制精度≤5μmY轴移动行程12mm ±6mmY轴控制精度≤5μmZ轴移动行程12mm ±6mmZ轴控制精度≤5μm数码显微镜显微镜类别物镜放大+电子放大显微镜放大倍数100倍显微镜工作间距50-150mm相机分辨率1080P 60帧 相机信号输出HDMI输出+USB输出LED可调光源LED光源显示屏5寸 屏幕一体机

扫描开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置用于导电材料的功函或半导体或绝缘体材料表面的表面电势，表面功函由材料表面最顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界最高分辨率的测试系统 主要特点： ● 功函分辨率 3meV ● 扫描面积：5mm to 300mm（四种型号，每种型号扫描面积不同） ● 扫描分辨率：317.5nm ● 自动高度调节 应用领域： ● 有机和非有机半导体 ● 金属 ● 薄膜 ● 太阳能电池和有机光伏材料 ● 腐蚀 升级附件： ● 空气光发射系统 ● 表面光电压(QTH or LED) ● SPS表面光电压光谱(400-1000nm) ● 金或不锈钢探针，直径0.05mm to 20mm ● 相对湿度控制和氮气环境箱

冠测粉末电阻试验仪（两探针法） GCFTDZ-IGCFTDZ-I参考标准： GBT 24521-2018 炭素原料和焦炭电阻率测定方法产品用途：本仪器用于炭素原料和焦炭粉末电阻率的测定主要适用于煅后无烟煤、石墨、炭黑、焙烧碎、煅后石油焦、石墨化焦、针状焦等炭素生产用原料及焦炭粉末电阻率的测定一、产品概述：本仪器按照标准要求进行研发，主要工作原理是：用一定粒度的干燥试样，称重后倒入粉末料筒内，对粉末施加3.9MPA的压力，等压力稳定后，对粉末加载电流并测量电极两端电压，计算测出粉末电阻，并计算得到电阻率。本仪器通过10寸触摸屏操作，西门子PLC控制，智能加载并保持恒压，压力和速度可调，真正实现了测试的智能化和自动化，无需人工干预，试验过程自动完成，试验完毕后自动回归到初始位，可对试验数据进行打印。 本仪器测量精度高，重复性误差小，试验过程自动化完成，设置页面合理，操作简单，操作人员无需通过专业技能培训即可操作，真正实现了一键式自动化测试。本仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点，符合国际和国家标准的要求。本仪器结构组成以下部分组成：1、力值加载系统：由伺服电机为动力源进行加载，精确控制压力，无噪音，连续加载2、电阻测量系统：电阻测量范围宽，满足多种测试量程的需求3、系统控制采集：10寸触摸屏进行控制操作，页面实时显示测试数据，并可以打印测试数据4、专用测量电极：φ16.0mm/30.0mm二、优势特点：1、10寸触摸屏显示，支持远程升级2、同时支持φ16.0mm/30.0mm两种电极3、测试过程实时显示压力、压强、压缩厚度、密度、电压、电阻、电流、电阻率、电导率4、电阻率显示单位及电导率多种单位可选5、可对单点测试的试验结果进行打印6、多种测试模式：恒压力、恒压强、梯度压力、梯度压强、压缩比7、梯度多点测试结果，能够自动统计各梯度之间的电阻差值，并自动计算百分比8、可以梯度模式测试的结果进行在线查看及数据导出9、测试过程全自动化，试验完成后自动复位 测量模式：模式选择 说明 备注恒压力测试 在设定的恒定压力下测试，测试时间可设定 标准测试模式恒压强测试 在设定的恒定压强下测试，测试时间可设定梯度压力测试 按照设定的步进压力进行测试，梯度保持时间可设定 拓展延伸测试模式梯度压强测试 按照设定的步进压强进行测试，梯度保持时间可设定压缩厚度测试 按压缩比的位移量进行测试，测试时间可设定三、技术指标：序号 技术指标 技术参数 备注1 试验量程 0-5KN（3.9MPA/3.0MPA）2 力值精度 FS*0.5%3 加载方式 伺服电机-电动加载4 测量模式 恒压力/恒压强/梯度压力/梯度压强/压缩厚度5 显示数据 力值/压强/密度/厚度/电压/电流/电阻/电阻率/电导率6 数据打印 带微型打印机，可打印数据7 数据导出 可导出数据电子版8 操控方式 10寸触控显示屏9 负载设定 压力/压强可设定10 试验速度 试验速度可设定11 保持时间 可设定12 零点校准 自动进行零点校准13 自动复位 试验完成后自动复原到初始位14 高度精度 ±1μm15 手动上升下降 可以手动上升和下降，速度可设定16 测量电极 φ16.0mm（适用于粒度范围0.315mm-0.5mm） 选配17 两探针电极 φ30.0mm（适用于粒度范围0.5mm-1.0mm） 选配18 设备供电 220V/50HZ19 设备功率 1kW20 设备尺寸 长宽高=550*450*960（mm）21 设备重量 约75kG22 放置方式 台式-桌面放置电阻测量系统-技术参数序号 技术指标 技术参数 备注1 恒流源 10μA, 100μA, 1mA, 10mA, 100mA, 0.5A,1A, 10A2 恒流源精度 ±0.5%3 电压量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V4 电压精度 ±0.1%5 测量范围 10-6---105Ω6 分辨率 10-8Ω7 测量精度 ±0.5%8 显示方式 7寸触摸屏9 数据打印 微型打印机

冠测粉末电阻试验仪（两探针法） GCFTDZ-IGCFTDZ-I参考标准： GBT 24521-2018 炭素原料和焦炭电阻率测定方法产品用途：本仪器用于炭素原料和焦炭粉末电阻率的测定主要适用于煅后无烟煤、石墨、炭黑、焙烧碎、煅后石油焦、石墨化焦、针状焦等炭素生产用原料及焦炭粉末电阻率的测定一、产品概述：本仪器按照标准要求进行研发，主要工作原理是：用一定粒度的干燥试样，称重后倒入粉末料筒内，对粉末施加3.9MPA的压力，等压力稳定后，对粉末加载电流并测量电极两端电压，计算测出粉末电阻，并计算得到电阻率。本仪器通过10寸触摸屏操作，西门子PLC控制，智能加载并保持恒压，压力和速度可调，真正实现了测试的智能化和自动化，无需人工干预，试验过程自动完成，试验完毕后自动回归到初始位，可对试验数据进行打印。 本仪器测量精度高，重复性误差小，试验过程自动化完成，设置页面合理，操作简单，操作人员无需通过专业技能培训即可操作，真正实现了一键式自动化测试。本仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点，符合国际和国家标准的要求。本仪器结构组成以下部分组成：1、力值加载系统：由伺服电机为动力源进行加载，精确控制压力，无噪音，连续加载2、电阻测量系统：电阻测量范围宽，满足多种测试量程的需求3、系统控制采集：10寸触摸屏进行控制操作，页面实时显示测试数据，并可以打印测试数据4、专用测量电极：φ16.0mm/30.0mm二、优势特点：1、10寸触摸屏显示，支持远程升级2、同时支持φ16.0mm/30.0mm两种电极3、测试过程实时显示压力、压强、压缩厚度、密度、电压、电阻、电流、电阻率、电导率4、电阻率显示单位及电导率多种单位可选5、可对单点测试的试验结果进行打印6、多种测试模式：恒压力、恒压强、梯度压力、梯度压强、压缩比7、梯度多点测试结果，能够自动统计各梯度之间的电阻差值，并自动计算百分比8、可以梯度模式测试的结果进行在线查看及数据导出9、测试过程全自动化，试验完成后自动复位 测量模式：模式选择 说明 备注恒压力测试 在设定的恒定压力下测试，测试时间可设定 标准测试模式恒压强测试 在设定的恒定压强下测试，测试时间可设定梯度压力测试 按照设定的步进压力进行测试，梯度保持时间可设定 拓展延伸测试模式梯度压强测试 按照设定的步进压强进行测试，梯度保持时间可设定压缩厚度测试 按压缩比的位移量进行测试，测试时间可设定三、技术指标：序号 技术指标 技术参数 备注1 试验量程 0-5KN（3.9MPA/3.0MPA）2 力值精度 FS*0.5%3 加载方式 伺服电机-电动加载4 测量模式 恒压力/恒压强/梯度压力/梯度压强/压缩厚度5 显示数据 力值/压强/密度/厚度/电压/电流/电阻/电阻率/电导率6 数据打印 带微型打印机，可打印数据7 数据导出 可导出数据电子版8 操控方式 10寸触控显示屏9 负载设定 压力/压强可设定10 试验速度 试验速度可设定11 保持时间 可设定12 零点校准 自动进行零点校准13 自动复位 试验完成后自动复原到初始位14 高度精度 ±1μm15 手动上升下降 可以手动上升和下降，速度可设定16 测量电极 φ16.0mm（适用于粒度范围0.315mm-0.5mm） 选配17 两探针电极 φ30.0mm（适用于粒度范围0.5mm-1.0mm） 选配18 设备供电 220V/50HZ19 设备功率 1kW20 设备尺寸 长宽高=550*450*960（mm）21 设备重量 约75kG22 放置方式 台式-桌面放置电阻测量系统-技术参数序号 技术指标 技术参数 备注1 恒流源 10μA, 100μA, 1mA, 10mA, 100mA, 0.5A,1A, 10A2 恒流源精度 ±0.5%3 电压量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V4 电压精度 ±0.1%5 测量范围 10-6---105Ω6 分辨率 10-8Ω7 测量精度 ±0.5%8 显示方式 7寸触摸屏9 数据打印 微型打印机

冠测粉末电阻试验仪（两探针法） GCFTDZ-IGCFTDZ-I参考标准： GBT 24521-2018 炭素原料和焦炭电阻率测定方法产品用途：本仪器用于炭素原料和焦炭粉末电阻率的测定主要适用于煅后无烟煤、石墨、炭黑、焙烧碎、煅后石油焦、石墨化焦、针状焦等炭素生产用原料及焦炭粉末电阻率的测定一、产品概述：本仪器按照标准要求进行研发，主要工作原理是：用一定粒度的干燥试样，称重后倒入粉末料筒内，对粉末施加3.9MPA的压力，等压力稳定后，对粉末加载电流并测量电极两端电压，计算测出粉末电阻，并计算得到电阻率。本仪器通过10寸触摸屏操作，西门子PLC控制，智能加载并保持恒压，压力和速度可调，真正实现了测试的智能化和自动化，无需人工干预，试验过程自动完成，试验完毕后自动回归到初始位，可对试验数据进行打印。 本仪器测量精度高，重复性误差小，试验过程自动化完成，设置页面合理，操作简单，操作人员无需通过专业技能培训即可操作，真正实现了一键式自动化测试。本仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点，符合国际和国家标准的要求。本仪器结构组成以下部分组成：1、力值加载系统：由伺服电机为动力源进行加载，精确控制压力，无噪音，连续加载2、电阻测量系统：电阻测量范围宽，满足多种测试量程的需求3、系统控制采集：10寸触摸屏进行控制操作，页面实时显示测试数据，并可以打印测试数据4、专用测量电极：φ16.0mm/30.0mm二、优势特点：1、10寸触摸屏显示，支持远程升级2、同时支持φ16.0mm/30.0mm两种电极3、测试过程实时显示压力、压强、压缩厚度、密度、电压、电阻、电流、电阻率、电导率4、电阻率显示单位及电导率多种单位可选5、可对单点测试的试验结果进行打印6、多种测试模式：恒压力、恒压强、梯度压力、梯度压强、压缩比7、梯度多点测试结果，能够自动统计各梯度之间的电阻差值，并自动计算百分比8、可以梯度模式测试的结果进行在线查看及数据导出9、测试过程全自动化，试验完成后自动复位 测量模式：模式选择 说明 备注恒压力测试 在设定的恒定压力下测试，测试时间可设定 标准测试模式恒压强测试 在设定的恒定压强下测试，测试时间可设定梯度压力测试 按照设定的步进压力进行测试，梯度保持时间可设定 拓展延伸测试模式梯度压强测试 按照设定的步进压强进行测试，梯度保持时间可设定压缩厚度测试 按压缩比的位移量进行测试，测试时间可设定三、技术指标：序号 技术指标 技术参数 备注1 试验量程 0-5KN（3.9MPA/3.0MPA）2 力值精度 FS*0.5%3 加载方式 伺服电机-电动加载4 测量模式 恒压力/恒压强/梯度压力/梯度压强/压缩厚度5 显示数据 力值/压强/密度/厚度/电压/电流/电阻/电阻率/电导率6 数据打印 带微型打印机，可打印数据7 数据导出 可导出数据电子版8 操控方式 10寸触控显示屏9 负载设定 压力/压强可设定10 试验速度 试验速度可设定11 保持时间 可设定12 零点校准 自动进行零点校准13 自动复位 试验完成后自动复原到初始位14 高度精度 ±1μm15 手动上升下降 可以手动上升和下降，速度可设定16 测量电极 φ16.0mm（适用于粒度范围0.315mm-0.5mm） 选配17 两探针电极 φ30.0mm（适用于粒度范围0.5mm-1.0mm） 选配18 设备供电 220V/50HZ19 设备功率 1kW20 设备尺寸 长宽高=550*450*960（mm）21 设备重量 约75kG22 放置方式 台式-桌面放置电阻测量系统-技术参数序号 技术指标 技术参数 备注1 恒流源 10μA, 100μA, 1mA, 10mA, 100mA, 0.5A,1A, 10A2 恒流源精度 ±0.5%3 电压量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V4 电压精度 ±0.1%5 测量范围 10-6---105Ω6 分辨率 10-8Ω7 测量精度 ±0.5%8 显示方式 7寸触摸屏9 数据打印 微型打印机

1:便携式四探针电阻率测试仪 四探针电阻率测试仪 四探针电阻率检测仪 四探针电阻率测定仪 型号：KDK-KDY-1A概述便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。本仪器按照半导体材料电阻率的际及家标准测试方法有关规定。它主要由电器测量份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。为减小体积，本仪器用同块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由宽的恒流源提供，随时可行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分材料也可以用来作产品检测。对1～100&Omega &bull cm标准样片的测量瓿差不过± 3%，在此范围内达到家标准机的水平。测量范围：可测量 电阻率：0.01～199.9&Omega &bull cm。可测方块电阻：0.1～1999&Omega /口当被测材料电阻率&ge 200&Omega &bull cm数字表显示0.00。（2）恒流源：输出电流：DC 0.1mA～10mA分两档10mA量程：0.1～1mA 连续可调10mA量程：1mA ～10mA连续可调恒流度：各档均优于± 0.1%适合测量各种厚度的硅片（3） 直流数字电压表测量范围：0～199.9mv灵敏度：100&mu v准确度：0.2%（± 2个字）（4） 供电电源：AC：220V ± 10% 50/60HZ 率8W（5） 使用环境：相对湿度&le 80%（6） 重量、体积重量：2.2 公斤体积：宽210× 100× 深240（mm）（7）KD探针头压痕直径：30/50&mu m间距：1.00mm探针合力：8± 1N针材：TC2:· 数字式硅晶体少子寿命测试仪 型号：KDK-LT-100C为解决太阳能单晶、多晶少子寿命测量，特按照标GB/T1553及SEMI MF-1535用频光电导法研制出了数字式少子寿命测试仪。 该设备是按照家标准GB/T1553&ldquo 硅单晶少数载流子寿命测定的频光电导衰减法&rdquo 。频光电导衰减法在我半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探测器行业已运用了三十多年，积累了丰富的使用经验，经过数次十多个单位巡回测试的考验，证明是种成熟可靠的测试方法，特别适合于硅块、硅棒研磨面的少子体寿命测量；也可对硅片行测量，给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面，制样简便。 KDK-LT-100C数字式硅晶体少子寿命测试仪有以下特点：1、 可测量太阳能多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光，直接对切割面或研磨面行测量。同时可测量多晶硅检验棒及集成电路、整流器、晶体管硅单晶的少子寿命。2、 可测量太阳能单晶及多晶硅片少数载流子的相对寿命，表面无需抛光、钝化。3、配备软件的数字示波器，液晶屏上直接显示少子寿命值，同时显示动态光电导衰退波形，并可联用打印机及计算机。4、配置两种波长的红外光源：a、红外光源，光穿透硅晶体深度较深&ge 500&mu m，有利于准确测量晶体少数载流子体寿命。b、短波长红外脉冲激光器，光穿透硅晶体深度较浅&asymp 30&mu m，但光强较强，有利于测量低阻太阳能硅晶体。5、测量范围宽广测试仪可直接测量：a、研磨或切割面：电阻率&ge 0.3&Omega &bull ㎝的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命，切割片的少子相对寿命。b、抛光面：电阻率在0.3～0.01&Omega &bull ㎝范围内的硅单晶、锗单晶抛光片。寿命可测范围 0.25&mu S&mdash 10ms 温馨提示：以上产品资料与图片相对应。

四探针粉末电阻率测试仪FTDZS-I产品名称：粉末电阻率试验仪（四探针法）产品型号：FTDZS-I参考标准：YS T 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法第6 部分：粉末电阻率的测定.pdfGB/T 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电导率的测定方法中用于仲裁方法的四探针法要求制作产品概述：粉末电阻率试验仪主要用于测量粉末材料电阻率试验的专用仪器.由于粉末材料的密实度不同,在松装和振实密度条件下,所测试得到的数据是不同的,所以测试粉末电阻,要求在规定的压力条件下进行测试.便于进行有效数据的测试及对比.仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量试验设置通过触摸屏进行操作和设置，页面布局合理，人性化设计，可对测试结果进行打印。仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点，完全符合国际和国家标准的要求。仪器适用于导体粉末、半导体粉末、炭素材料等行业，进行检测必备测试设备。 仪器主要技术指标： 一、测量范围：测量半导电电阻率时： 电阻率10-5--105Ω-cm；分辩率10-6Ω-cm测量其他（电线电缆）电阻时： 电阻10-4--2X105Ω，分辨率1uΩ二、 电压测量：1． 量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V2． 测量误差 2mA档±(0.5%读数+8字)；20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)3． 显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示，小数点、单位自动显示。三、 恒流源：1． 电流输出：1μA 、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA．2. 电流误差：±(0.5%读数+2字)四、 测量电极：1、测量电极：四探针2、探针间距：1MM 3、电极材质：钨棒4、压片直径：2cm 面积3.142cm^25、粉末试样量：2.501g--2.5099g五、加载装置：1、加载电极1：手动加载2、加载电极2：自动加载3、传感器量程：10KN

四探针测试仪产品名称：四探针测试仪产品型号：HCTZ-2S品牌：北京华测 一、产品介绍HCTZ-2S四探针测试仪器是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。HCTZ-2S双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器利用电流探针、电压探针的变换，采用两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。四探针软件测试系统是一个运行在计算机上拥有友好测试界面的用户程序，通过此测试程序辅助使用户简便地进行各项测试及获得测试数据并对测试数据进行统计分析。测试程序控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据，把采集到的数据在计算机中加以分析，然后把测试数据以表格，图形直观地记录、显示出来。用户可对采集到的数据在电脑中保存或者打印以备日后参考和查看，还可以把采集到的数据输出到Excel中，让用户对数据进行各种数据分析。二、四探针测试探头1、使用几何尺寸十分精确的红宝石轴承，量具精度的硬质合金探针，在宝石导孔内运动，持久耐磨，测量精度高、重复性好。A.探头间距1.00㎜B.探针机械游率：±0.3%C.探针直径0.5㎜ D.探针材料：碳化钨，常温不生锈E探针间及探针与其他部分之间的绝缘电阻大于109欧姆。 2、手动测试架手动测试架探头上下由手动操作，可以用作断面单晶棒和硅片测试，探针头可上下移动距离：120mm，测试台面200x200(mm)。 三、产品应用HCTZ-2S四探针测试仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，配备10英寸触摸屏，软件可保存和打印数据，自动生成报表；本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率，配备不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。四、产品特点 1.TVS瞬间抑制防护技术：光耦与隔离无非是提高仪器的采集的抗干扰处理,对于闪络放电过程中的浪涌对控制系统的防护起不到作用。华测的TVS瞬间抑制防护技术，将起到对控制系统的jue对防护。 2.本仪器的特点是主机配置三个数字表，在测量电阻率的同时，一块数字表适时监测全程的电流变化，及时掌控测量电流，一块显示2、3探针间的测量电压，另一块是显示当前1、4探针测量使用的电压，可以适当调整测量电压避免材料耐压不够而电压击穿被测材料。 3.主机还提供精度为0.05%的恒流源，使测量电流高度稳定。本机配有恒流源开关，在测量某些薄层材料时，可免除探针尖与被测材料之间接触火花的发生，更好地保护薄膜。采用低通滤波电流检测技术以保证采集电流的有效值，以及电流抗干扰的屏蔽。 4.探针采用碳化钨硬质合金，硬度高、常温不生锈，探针游移率在0.1～0.2%。保证了仪器测量电阻率的重复性和准确度。本机如加配测量软件，测量硅片时可自动进行厚度、直径、探针间距的修正，并计算、打印出硅片电阻率、径向电阻率的zui大百分变化、平均百分变化、径向电阻率不均匀度，给测量带来很大方便。软件平台5.HCTZ-800系统搭配Labview系统开发的hcpro软件，具备弹性的自定义功能，可进行电压、电流。6.仪器通过USB转RS232连接线与电脑连接，软件可对四探针电阻率测量数据进行处理并修正测量数据，特定数据存储格式，显示变化曲线，兼容性：适用于通用电脑7.测试系统的软件平台hcpro，采用labview系统开发，符合导体、半导体材料的各项测试需求，具备强大的稳定性和安全性，并具备断电资料的保存功能，图像资料可保存恢复。兼容XP、win7、win10系统。五、软件功能具有试验电压设置功能；可选择试验标准可选择是否自定义或自动试验截止条件：时间/电压/电流 语音提示:可选择是否语音提示功能。统计报告：可自定报表格式可生出PDF、CSV、XLS文件格式分析功能：可对测试的数据进行统计。zui大/最小值、平均值等。 六、技术参数测量范围电 阻：1×10-4~2×105Ω， 分辨率：1×10-5~1×102Ω电阻率：1×10-4~2×105Ω-cm， 分辨率：1×10-5~2×102Ω-cm方 阻：5×10-4~2×105Ω/□， 分辨率：5×10-5~1×102Ω/□数字电压表量程：20.00mV~2000mV误差：±0.1%读数±2字数控恒流源量程：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA,1A误差：±0.1%读数±2字四探针探头碳化钨探针：Ф0.5mm，直流探针间距1.0mm，探针压力：0~2kg可调薄膜方阻探针：Ф0.7mm，直流或方形探针间距2.0mm，探针压力：0~0.6kg可调 七、注意事项1、仪器操作前请您仔细阅读使用说明书，规范操作2、轻拿轻放，避免仪器震动，水平放置，垂直测量3、仪器不使用时请切断电源，连接线无需经常拔下，避免灰尘进入航空插引起短接等现象4、探针笔测试结束，套好护套，避免人为断针

低温液氦探针台特征1.真空腔体：真空度优于6×10-3Pa。降温后优于6×10-4Pa。留有2个用户法兰接口（可接入气体或者额外的电缆）；2. 探针控制：标配4个探针臂。调节范围50mm*50mm*30mm，调节精度优于10um。每个探针臂配备一根Triax三同轴低漏电线缆及探针。样品台底座配备额外一根Triax三同轴低漏电线缆； 3. 显微镜模块：连续变倍单筒显微镜，光学放大倍率：0.58X~7X（使用1X附加物镜时），视频放大倍率约280倍。可选2X附加物镜。分辨率优于2um。全高清数字摄像头，带同轴照明和环形照明，带机械调焦和光学调焦；4. 变温样品台：50mm直径。变温范围：80K~400K。控温稳定性优于±0.5K；5. 可选配接入光纤，可将一根或几根电学探针替换为光纤；6. 系统直流漏电低于1pA。7. 产品含进口分子泵机组、全量程真空规和智能温控仪。 低温液氮探针台产品参数 型号LTZ-4H-06外形650*650*1260系统功率1KW电压220V交流X-Y轴行程定位精度±0.01mm探针调节精度±0.01mm腔体真空度1.0*10^-4pa重量150kg测试直径6/8/12寸探针轴行程110mm 探针XY行程50mm制冷方式液氮制冷X-Y轴额定速度手动调节腔体直径245mm探针臂数量4（可选6个）温度下限77K探针臂每个探针臂配备一根Triax三同轴低漏电线缆及探针，样品台底座配备额外一根Triax三同轴低漏电线缆显微镜倍率0.58X~7X（使用1X附加物镜时）地脚底部塑胶减震地脚 探针频率26GHz—100GHz（可选）以上就是东莞市卓聚科技有限公司提供的低温液氦探针台的介绍，了解更多直接咨询： 随着微电子、纳米科技和人工智能等领域的进一步发展，精密定位不仅在实验室用途广泛，工业界的应用也越来越多。该团队在以往研究基础上，发展出一系列具有自主知识产权的超精密定位产品，填补了国产空白。一个火柴盒大小、外壳包覆金属的小方块，通过电压控制能够实现纳米级别的精密位移，可以用于对精密度要求超.高的科学实验、精密制造和半导体工业等领域。日前，在松山湖材料实验室高.端科研设备产业化团队的实验室内，团队负责人许智展示了该团队拥有核心技术的压电驱动纳米位移台。

TeraSpike THz近场探针 无偏置太赫兹脉冲产生探针(Bias-free THz pulse generation probe)品牌：Protemics型号：TeraSpike TD-1550-Y-BF(无偏置太赫兹脉冲产生探针)规格参数：TeraSpike TD-1550-Y -BF Pulse rise time 1 ps (down to 0.4 ps) Bandwidth* 0.01 .. 2.5 THz Excitation wavelength 700 .. 1600 nm (860nm recommended) Avg. excitation power 0.1 .. 4 mW Cantilever material InGaAs (n-type) Lateral tip radius 8 .. 12 μm Cantilever length 570 .. 600 μm

MPI TS200- 半自动探针台产品描述：1. 单机多应用设计适用于多种晶圆量测应用，如组件特性描述和建模，晶圆级可靠性 (WLR)、失效分析 (FA)、集成电路工程、微型机电系统 (MEMS) 和高功率 (HP) 2. 工效学设计 方便单手操作的快速释放拖移气浮载物台设计坚固可承载多达10根DC 或4根RF微定们器在工作台三段式工作台快升把手设计 (contact - separation- loading)，实现高重现性3. 弹性选配与升级性 另有多种晶圆载物台可做升级，亦有諸多配件如 DC/RF/mmW 微定位器、光学显微镜、影像镜头、电磁屏蔽箱等可搭载，以完全支援您的应用需求MPI探针台系统是由来自于Cascade和安捷伦等公司的专家们研发和设计，专业提供探针台及所有相关直流/射频附件以及相关半导体测试整体解决方案。得益于其极高的性价比，广受国内外用户的好评。TS150,TS200,TS300是常用的手动式探针台，简单，直观，方便， 并确保 高度准确的测量。以下是MPI探针台的特点： Air-bearing stage-气浮式样品台技术：很多探针台的厂家通常配备的是传统的滚珠式/轴承式样品台，内部移动是都会产生摩擦，因此存在了响应慢，易损耗，需定期维护（添加润滑油）等固有缺点。MPI探针台的载物台采用新的气浮支撑技术，我们成为Air-bearing stage技术。很好解决了传统的滚珠式/轴承式样品台固有缺点，即消除内部摩擦，避免日常使用损耗，免去定期维护等麻烦。并且该设计可以使得样品台在移动范围内360°移动，而不受X/Y导轨限制移动（其他品牌无法同时X/Y移动，只能选一个方向移动）。b. Platen Lift技术-三段平面式升降及下针：影响探针台测试结果很大程度上取决于探针与样品的接触。MPI采用了三段式(0-300um-3mm)下针并且内置安全锁（其他厂家是两段），不仅实现了1um重复性，同时也使得整个下针过程变得十分平缓且平稳从而避免了撞针。这大大提升了用户的体验，方便了用户的操作。c.温控触屏设计：MPI手动探针台可以选配各类样品台，包含2英寸、4英寸、6英寸、8英寸样品台，及加热样品台（200℃/300℃）。并且配备智能化触摸屏，可以随时快速调节样品台加热问题，实时显示温度变化。高精度、便捷的温度控制功能，便于客户进行实验设计和测试。d. Microscope bridge mount：MPI探针台具备了Microscope bridge mount，方便用户自行购置并升级显微镜。这点也是其他探针台所不具备的。对于这类的用户而言，如果今后要升级显微镜，只能从探针台原厂购买。但是其实探针台厂家往往并不制造光学显微镜。而MPI则更多的为客户考虑，把显微镜的选择权交在客户手里。这也是MPI设计了Microscope bridge mount的初衷。 e. 所有核心部件均自行生产：诸如主机台，直流/射频探针座，直流/射频线缆及探针等核心部件均为MPI公司自行生产。很多探针台厂商的射频探针也都是从MPI购买的。此外，MPI探针台的产品线也非常丰富，拥有手动、半自动、全自动、射频/微波、高功能等所有探针台系列。

一、产品概述：探针台是一种用于微小电子元件和材料的测试设备，广泛应用于半导体、材料科学和微电子领域。它提供一个稳定的平台，用于精确定位和连接探针，以实现对样品的电气测试和分析。二、设备用途/原理：设备用途探针台主要用于测试集成电路、薄膜材料和微结构等的电气性能。常见应用包括半导体器件的参数测试、材料的电阻率测量和故障分析等。通过高精度的定位和可调节的探针，研究人员能够获取样品的详细电气特性。工作原理探针台的工作原理是通过机械系统将探针精确地定位到样品的特定接触点。设备通常配备高分辨率的光学系统，用于观察样品并调整探针的位置。当探针接触样品时，可以通过外部测试设备（如源测量单元）施加电流或电压，并测量相应的电压或电流反应。通过这种方式，研究人员可以获取样品的电气参数，分析其性能和特性。三、主要技术指标：1. 探针台主要应用于晶圆、芯片、器件、封装等半导体制程测试环节2. 样品尺寸：碎片~12英寸3. 自动化：手动、半自动、全自动4. 测试环境：高低温、磁场、真空5. 探针台类型：分析探针台、直流、射频、高压、毫米波、太赫兹、硅光测量、芯片测量、定制化等。

开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由最上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种最灵敏的表面分析技术。 我们的开尔文探针系统包括：□ 单点开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 扫描开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 超高真空(UHV)开尔文探针；□ 湿度控制的腐蚀开尔文探针； 扫描开尔文探针系统 (ASKP) ASKP系统是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统，它是在SKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置，其规格如下：□ 2毫米，50微米探针；□ 功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖)，5-10 meV(50微米针尖)；□ 针尖到样品表面高度可以达到400纳米以内；□ 表面势和样品形貌3维地图；□ 探针扫描或样品扫描选配；□ 彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置；□ 参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌)；□ 备用的针尖放大器；□ 24个月超长质保期； 仪器的特色□ 全球第一台商用的完全意义上的开尔文探针系统；□ 最高分辨率的功函数和表面势，最好的稳定性和数据重现性；□ 非零专利技术(Off-null,ON) ——ON信号探测系统在高信号水平下工作，与基于零信号原理(null-based,LIA)的系统相比，不会收到噪声的影响拥有高灵敏度；□ 高度调节专利技术 ——我们的仪器在测量和扫描时可以控制针尖的高度。因为功函数受　　　　　　　　　　　　　　　样品形貌的影响，针尖与样品表面距离的调节意味着数据的高重现性且不会漂移；□ 该领域内，拥有最好的信噪比；□ 快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间，远快于其他公司产品；□ 功能强的驱动器 ——选用Voice-coil(VC)驱动器，与通常的压电驱动器相比，VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作；□ 所有开尔文探针参数的全数字控制；ON 非零探测 Off Null detection HR 高度调节模式 Height Regulation mode SM 实际开尔文探针信号监控 Monitoring of the actual Kelvin probe signal UC 用户通道，同时测量外部参数 User Channels, simultaneous measurement of external parameters DC 电流探测系统去除漂移效应 Current Detection system rejects stray capacity effects PP 平行板震动模式 Ideal, Parallel Plate Oscillation Mode SA 信号平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection) WA 功函数平均 Work Function Averaging, Difference and Absolute reporting DC 所有探针及探测参数的数字控制 Digital Control of all Probe and Detection Parameters QT 针尖快速改变 Quick-change Tip, variable spatial resolution DE 数据输出 Data Export to Excel, Origin, or 3rd party software OC 输出通道 Output Channel: TTL switching of external circuit FC 法拉第笼(电磁干扰防护罩) Faraday Cage (EMI Shield) RS 金-铝参考样品 Gold-Aluminium Reference Sample 额外选配项 SPV 表面光伏电压软硬件包 Surface Photovoltage Software and Hardware Package RH 相对湿度腔 Relative Humidity Chamber AC 控制气体进口的环境单元 Ambient Cell for controlled Gas Inlet EDS 外部数据示波镜 External Digital Oscilloscope OPT 彩色相机 Color Camera, TFT Screen and Optical Mounts ST 针尖置换 Replacement Tips GCT 镀金的针尖替换 Gold Coated Replacement Tips XYZ 25.4毫米手动3维控制台 3-axis 25.4 mm Manual Stage 应用领域 吸附，电池系统，生物学和生物技术，催化作用，电荷分析，涂层，腐蚀，沉积，偶极层形成，显示技术，教育，光/热散发，费米级扫描，燃料电池，离子化，MEMs，金属，微电子，纳米技术，Oleds，相转变，感光染色，光伏谱学，高分子半导体，焦热电，半导体，传感器，皮肤，太阳能电池，表面污染，表面化学，表面光伏，表面势，表面物理，薄膜，真空研究，功函数工程学；

导体材料电阻率测试仪GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法提要探针与试样压力分为小于0.3N及0.3 N¯ 0.8N两种。以下文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。但凡注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括订正的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。但凡不注日期的引用文件，其新版本适用于本标准。GB/T 1552硅、储单晶电阻率测定直排四探针法样品台和操针架样品台和探针架应符合GB/T152 中的规定。样品台上应具有旋转360"的装置。其误差不大于士5"，测量装置测量装置的典型电路叉图1，范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于15.9mm的由外延、扩散、离子注人到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。概述：采用四端测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，实验室；是检验和分析导体材料和半导体材料质量的工具。可配置不同测量装置测试不同类型材料之电阻率。液晶显示，温度补偿功能，自动量程，自动测量电阻，电阻率，电导率数据。恒流源输出；选配：PC软件过程数据处理和标准电阻校准仪器，薄膜按键操作简单，中文或英文两种语言界面选择，电位差计和电流计或数字电压表，量程为1mV¯ 100mV,分辨率为0.1%，直流输入阻抗不小250μm的半球形或半径为50 μm~125 μm的平的圆截面。探针(带有弹簧及外引线)之间或探针系统其他部分之间的绝缘电照至少为10°Ω.探针排列和间距，四探针应以等距离直线排列，探针阀距及针突状况应符合GB/T 552 中的规定。R=1(R +R, )…………………………(3)R2=与(R +R，)计算试样平均直径D与平均操针间距S之比，由表3中查出修正因子F，也可以见GB/T11073中规定的几何修正因子。 9.4计算几何修正因子F，见式(4)。对于薄层厚度小于3μm的试样，选用针尖半径为100μm250μm的半球形探针或针尖率径为50μm~125 pm平头探针，针尖与试样间压力为0.3 N¯ 0.8Ni对于薄层厚度不小于3μ的试样，选用针尖半径为35μm100 pm 半球形操针，针尖与试样间压力不大于 0.3 N.Rr=V R,/V=V/I,…… …

大型真空高低温探针台郑科探，低温真空探针台可使物理科学家和研究员通过方便的，可重复的测量进行基础的科学研究并得到连续的结果。低温真空探针台是一个多用的灵活的研究平台，可被用于专用的或者多用的团体研究资源。典型的应用包括样品在整个温度范围内的IV和CV曲线测试，微波测试，光电测试，表征变磁环境下的磁输运特性，理解载流子浓度的霍尔效应测试，和其他材料的研究。大型真空高低温探针台郑科探真空腔体腔体材质304不锈钢上盖开启铰链侧开加热台材质304不锈钢内腔体尺寸φ160x90mm观察窗尺寸Φ70mm加热台尺寸φ60mm观察窗热台间距75mm加热台温度﹣196~350℃加热台温控误差±1℃真空度机械泵≤10Pa 分子泵≤10-3Pa允许正压≤0.1MPa真空抽气口KF25真空法兰气体进气口3mm-6mm卡套接头电信号接头SMA转BNC X 4电学性能绝缘电阻 ≥4000MΩ 介质耐压 ≤500V探针数量4探针探针材质钨针 探针尖10μm探针移动平台X轴移动行程30mm ±15mmX轴控制精度≤0.01mmY轴移动行程13mm ±12.5mmY轴控制精度≤0.01mmZ轴移动行程13mm ±12.5mmZ轴控制精度≤0.01mm电子显微镜显微镜类别物镜物镜倍数0.7-4.5倍工作间距90mm相机sony 高清像素1920※1080像素图像接口VGALED可调光源有显示屏8寸放大倍数19-135倍,视场范围15×13-2.25×1.7mm，最小可分辨0.08mm

CPX低温探针台采用模块化设计以满足广泛实验的需求，是Lake Shore功能最多的高性能低温探针台。CPX多样的选件和配置可使研究者完成精确的、富有挑战性的测量。CPX具有多个防辐射屏蔽层，以实现优异的低温性能，其低温选件可使样品温度低至1.6 K。探针台内多个温度计的安装可确保准确和重复的测量。 由于采用了分流设计，样品可在防辐射屏冷却时保持温度，与高真空选件，最大限度地减少了冷却过程中的样品冷凝，这是测量亲水性有机材料的关键要求。理想的应用包括有机物研究和微波测量。真空Load Lock可配置用于高通量测量。此外，CPX可以被配置为能够在真空下将受控的样品输送到腔室。CPX可容纳直径为51 mm（2英寸）的晶圆（最多102 mm[4英寸]可选）。该系统使用液氦或液氮运行。主要特征： √ 温度范围4.3 K~475 K√ 可选低温1.9 K/1.6 K√ 标准2英寸（51 mm）样品，4英寸（102 mm）可定制√ 样品可面内±5°旋转√ 样品振动＜30 nm可选√ 超高真空选件√ 可定制真空腔联用转移样品，避免样品暴露在大气环境√ 环形磁体选件最大0.19T设备参数：温度范围最多安装6个探针臂基础温度4.3 K，控制范围4.4 K ~ 475 K安装PS-LT低温选件基础温度1.9 K，控制范围2 K ~ 475 K安装PS-VLT-CPX极低温选件基础温度1.6 K，控制范围1.65 K ~ 400 K安装PS-LL-CPX选件（Load Lock）基础温度10 K，控制范围10 K ~ 400 K温度稳定性液氦液氮基础温度 (无加热控制)±15 mK±20 mK10 K±50 mK—10 K ~ 100 K±20 mK±50 mK101 K ~ 250 K±15 mK±50 mK251 K ~ 350 K±15 mK±100 mK351 K ~ 675 K±50 mK±100 mK真空以TPS-FRG分子泵组为标准PS-HV-CPX高真空选件抽真空时间30 min (1 × 10-3 Torr)10 min (1 × 10-3 Torr)室温5 × 10-4 Torr5 × 10-6 Torr基础温度1 × 10-5 Torr5 × 10-7 Torr最高温度1 × 10-5 Torr5 × 10-7 Torr循环时间总循环3 h抽真空0.5 h探针台冷却1.25 h探针台升温2 hLoad Lock样品更换时间1小时（配有PS-LL-CPX选件）样品最大尺寸51 mm（2英寸）标准25.4 mm（1英寸）安装PS-VLT-CPX高真空选件25.4 mm（1英寸）安装PS-LL-CPX Load Lock选件样品背光接口不可选样品旋转±5°面内旋转样品振动＜300 nm标准，＜30 nm配有PS-PVIS减震选件探针配置最大探针数6探针臂温度计用于监视探针臂的温度冷却探针支架＜20 K(样品在基础温度下)探针支架连接样品台或4K防辐射屏热沉探针臂支架连接防辐射屏热沉DC/RF探针电绝缘100GΩ用于低漏电流测量微波探针频率范围从DC到67GHz光纤探针可用于电光测量落针范围所有探针均可在直径为 25.4 毫米（1 英寸）的圆内落针

锥形光纤探针扫描系统锥形光纤探针扫描系统GalvoStation是一种单通道光电激光设备，锥形光纤探针扫描系统设计用于使用Lambda Fibers进行空间选择性光传输和收集。GalvoStation允许将Lambda光纤发出的光限制在其有效长度的子位置。锥形光纤探针扫描系统在有效长度范围内，可以沿光纤轴任意扫描活性子位点。锥形光纤探针扫描系统利用这一特性，可以对不同深度分辨率的大脑区域进行光刺激，以便使用多电极阵列记录不同深度的光致电生理信号，或在深度分辨率的纤维光度测定实验中收集来自不同大脑区域的荧光信号。用锥形光纤探针Lambda Fibers的位置选择性光传输/收集的轴向分辨率由子站点长度表示。锥形光纤探针扫描系统GalvoStation可以配备一个或两个激光源，并可选地包括一个光路，用于组合光传输和收集与单个探头。下表列出了带有相关应用程序的选项集示例。Laser wavelengths[nm]Collectionband [nm]Application example405 + 473500 – 550基于等吸收控制的GCaMP空间选择性光纤光度法473N/A基于ChR2的空间选择光遗传学405 + 561600 – 650基于等吸收控制的RCaMP空间选择性光纤光度法锥形光纤探针扫描系统组成：完整的GalvoStation系统由GalvoStation(1)，其电源(2)，一个或两个激光驱动器(3)，一个DAQ板(可选，4)和一个光电探测器(可选，5)组成。根据所选的配置，系统提供了一组补片光纤和所需的所有电缆。2根2m长的D-Sub15电缆。一根探针跳线(SMA905到护套)。一根传感器跳线(SMA905到FC/PC)。三根0.5米长的BNC电缆。4根2000米长的BNC电缆。三个BNC-Tee适配器。一根2米长的3针DIN电缆。3根C13交流电缆。一个DAQ电源。还包括一个入门工具包。由:一根5pack Lambda-plus fibers(光纤类型和短管规格由客户定义，包括一张校准幻灯片) 一根探针跳线(与Lambda-plus fibers类型相同) 一根传感器跳线。如果要使用旋转接头，则在订单中指定的连接器将提供额外的跳接线。设备提供的探针跳线建议与Lambda-plus fibers和TaperScan软件进行配套使用蕞佳。GalvoStation提供的传感器跳线基于高数值孔径光纤，适合与光电探测器(可选包括)一起使用。如果与您自己的光电探测器一起使用，请参考制造商的光电探测器跳线的选择和购买指南。锥形光纤探针Lambda-plus fibersLambda-plus fibers是在不同批次的光纤中选择具有严格的锥度长度和锥度轮廓公差的光纤，用于恒定的子位点长度，强烈推荐给GalvoStation和ThetaStation用户。TaperScan—GalvoStation控制软件TaperScan软件可用于GalvoStation的完全控制。它允许选择Lambda fibers的有源子站点，操作激光源及其光功率水平。实现了两种操作模式:手动模式用于直接手动控制Lambda fibers的空间选择性光发射，以及协议模式，可以对单源(例如光遗传刺激)和双源(例如具有等吸光控制的光纤测光)刺激程序进行编程。手动版锥形光纤探针扫描器Thetastation是一种光机械工具，设计用于使用Lambda fibers进行空间选择性光传输。该设备允许限制和手动扫描Lambda fibers在其有效长度的子站点发出的光。通过这样做，可以独立探测植入Lambda fibers的组织区域的子部分:这种能力在光遗传学实验中提供了额外的自由度，当沿着一个轴延伸的读出技术与定点选择性光传输(例如线性微电极阵列)同时使用时，这一点特别相关。一般性建议：建议使用激光光源。使用单模(SM)输入跳线以获得蕞佳传输效率。Lambda fiber的发光子区域的位置和尺寸以及传输效率需要作为千分尺螺杆位置的函数进行校准。关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

微透析采样系统(Microdialysis)是一种从生物活体内进行动态微量生化取样的技术，具有活体连续取样、动态观察、定量分析、采样量小、组织损伤轻等特点。主要由微量注射泵，清醒活动装置，微透析探针，自动收集器组成。本系统在神经科学、医药研究等领域已获得越来越广泛的应用。微透析采样系统主要原理是将一种具有半透膜的探针置于实验动物的特定组织中, 利用泵推送溶液至探针处,从而使组织内的目标物质通过半透膜扩散到探针内，以达到从组织内取出需要测量的低分子量物质,以便于进一步的分析。这套设备可对麻醉或清醒的动物进行连续的灌流实验，为医学、药学、生命科学等领域的发展提供了崭新的技术。应用范畴：精神药物学、神经病理及癌症研究、药物动态学及毒物学、生理学药理学、生命胺分析、乙酰胆素/胆碱分析、自由基/氨基酸分析、各种组织生化/药物分析。工作原理：完整的脑部微透析系统包含以下几个部分：微透析泵用于连续提供灌流液，微透析泵较高的稳定性和精确性有利于透析实验的进行。微透析探针清醒动物活动装置透析探针附件：液体切换器，探针支架，管路，接头等，起到导引，定位，固定等作用微透析液收集器配合微透析采集系统进行微透析样本的采集和低温保存。微透析样品收集器，用于样品的低温保存。该仪器具有 20 个样品位，单探针模式下连续收集 20 个样品，或者双探针模式下连续收集 2×10 个样品。最小可采集 1ul 的样品。保存温度为 8℃冷却微量收集器可同步收集1–2个透析液，配合双通道微透析泵可同步做2通道微透析取样实验；最低冷却温度：8℃；收集样品数：64 个(300μL瓶)或40个(2mL瓶)宽屏幕液晶显示4X20字符，RS232及USB接； 请关注玉研仪器的更多相关产品。如对产品细节和价格感兴趣，敬请来电咨询！