电镜中心

Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束专为自动化冷冻电子断层扫描成像样品的制备而设计。用户可以稳定地在原位制备厚度约为 200nm 或更薄的冷冻薄片，同时避免产生镓 (Ga) 离子注入效应。与目前市场上的其他 cryo-FIB-SEM 系统相比，Arctis Cryo-PFIB 可显著提高样品制备通量。与冷冻透射电镜和断层成像工作流程直接相连通过自动上样系统，Thermo Scientific&trade Arctis&trade Cryo-PFIB 可自动上样、自动处理样品并且可存储多达 12 个冷冻样品。与任何配备自动上样器的冷冻透射电镜（如 Thermo Scientific Krios&trade 或 Glacios&trade ）直接联用，省去了在 FIB-SEM 和透射电镜之间的手动操作载网和转移的步骤。为了满足冷冻聚焦离子束电镜与透射电镜应用的低污染要求，Arctis Cryo-PFIB 还采用了全新的高真空样品仓和经过改进的冷却/保护功能。Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束电镜的主要特点与光学显微镜术关联以及在透射电镜中重新定位"机载"集成宽场荧光显微镜 (iFLM) 支持使用光束、离子束或电子束对同一样品区域进行观察。 特别设计的 TomoGrids 确保从最初的铣削到高分辨率透射电镜成像过程中，冷冻薄片能与断层扫描倾斜轴始终正确对齐。iFLM 关联系统能够在电子束和离子束的汇聚点处进行荧光成像。无需移动载物台即可在 iFLM 靶向和离子铣削之间进行切换。CompuStage的180° 的倾转功能使得可以对样品的顶部和底部表面进行成像，有利于观察较厚的样品。TomoGrids 是针对冷冻断层扫描工作流程而特别设计的，其上下2面均是平面。这2个面可防止载样到冷冻透射电镜时出现对齐错误，并始终确保薄片轴相对于透射电镜倾斜轴的正确朝向。 利用 TomoGrids，整个可用薄片区域都可用于数据采集。厚度一致的高质量薄片Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜可在多日内保持超洁净的工作环境，确保制备一致的高质量薄片。等离子体离子束源可在氙离子、氧离子和氩离子间进行切换，有利于制备表面质量出色的极薄薄片。等离子体聚焦离子束技术适用于液态金属离子源 (LMIS) 聚焦离子束系统尚未涉及的应用。例如，可利用三种离子束的不同铣削特性制备高质量样品，同时避免镓注入效应。系统外壳的设计考虑到了生物安全，生物安全等级较高的实验室（如生物安全三级实验室）可选用高温消毒解决方案。Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜的紧凑型样品室专为冷冻操作而设计。由于缩小了样品室体积，操作环境异常干净，最大限度减少水凝结的发生。通过编织套管冷却样品及专用冻存盒屏蔽样品，进一步提升了设计带来的清洁度，确保了可以进行多日批量样品制备的工作环境。 自动化高通量样品制备和冷冻断层扫描连接性自动上样器可实现多达 12 个网格（TomoGrids 或 AutoGrids）的自动上下样，方便转移到冷冻透射电镜，同时最大限度降低样品损坏和污染风险。通过新的基于网络的用户界面加载的载网将首先被成像和观察。 随后，选择薄片位置并定义铣削参数。铣削工作将自动运行。根据样品情况，等离子体源可实现高铣削速率，以实现对大体积材料的快速去除。自动上样系统为易损的冷冻薄片样品提供了受保护的环境。在很大程度上避免了可能会损坏或污染样品的危险手动操作样品步骤。 自动上样器卡槽被载入到与自动上样器对接的胶囊中，可在 Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜和 Krios 或 Glacios 冷冻透射电镜之间互换。

拉曼电镜光谱联用技术产品简介扫描电子显微镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品，实现对物质微观形貌表征的目的。具有景深大、分辨率高，成像直观、立体感强、放大倍数范围宽以及待测样品在三维空间内进行旋转和倾斜等特点。拉曼技术在分子级别上提供样品的化学结构、组分信息；而 SEM 可在纳米尺度上提供高空间分辨率的形貌图像；SEM 与拉曼光谱技术相结合，使用 SEM 观察样品形貌，并可获取指定样品点的拉曼光谱信息，同步获取样品材料表面形貌、分子结构与化学组分等信息。典型应用RTS- SEMR 拉曼电镜光谱系统北京卓立汉光仪器有限公司全新推出的 RTS- SEMR 拉曼电镜光谱系统集成场发射扫描电镜与拉曼光谱系统于一体，是一款真正意义上实现国产拉曼光谱与扫描电镜联用的设备。拉曼电镜通过快速、精确、高性能的拉曼分析，弥补了能谱仪、波谱仪等传统电镜附件无法实现的分子结构与成分观察。尤其是针对有机结构、碳结构、同分异构体、晶体与无机相等多领域材料的信息表征，扩展了传统扫描电子显微镜的分析应用领域，例如矿物鉴别、高分子与制药行业、锂电行业、医工交叉行业等，应用前景广阔。北京卓立汉光仪器有限公司推出的扫描电镜-拉曼光谱联用装置采用“离轴”模式设计理念。“离轴”模式扫描电镜的电子束与拉曼光谱的激光束不同轴,通过移动样品台分别进行扫描电镜-能谱分析和显微拉曼光谱分析，原位获取样品指定位置的形貌信息和化学成分信息。系统架构RTS- SEMR 拉曼电镜光谱系统，电镜拥有大视野及纳米级分辨率，是一个优秀的样品微观形貌分析平台，系统耦合拉曼共聚焦光路进入真空样品仓，实现了样品在电子束和激光束之间的快速切换，在满足样品表征观察的同时，也能够实现纳米级分辨率的化学成分和空间结构分析，充分发挥扫描电镜与拉曼两者的应用优势。拉曼集成扫描电子显微镜采用平行双束方案，搭载高精度复合位移台可实现样品在拉曼光轴和电子束光轴之间快速、精确、稳定的切换，拉曼扫描范围高达 2.5 mm。独特的系统及产品设计保证了操作性、易用性、普适性，用户可在电镜中寻找感兴趣的材料特征，得到高分辨的扫描结果后，一键切换至拉曼光路下进行该区域的快速/高精度的光谱扫描，随后得到高匹配程度的拉曼渲染联用效果。拉曼渲染结果的像素与光谱数据对应关系可通过软件程序直接提取，提供进行便捷的结果解析。拉曼光谱集成方案提供了多种配置供用户选择，例如激光波长、光谱仪焦长、光栅密度、物镜等光学核心配置，充分满足应用及市场的需求。扫描式电子显微镜系统配置多种类型探测器，可实现二次电子和背散射电子同时成像，兼容多种应用模式，可覆盖生命科学、材料科学、地质科学等多学科科研应用场景。标配五轴高精度运动平台及自主设计样品载台，可实现多个钉台同时放样或单一大尺寸样品观测。性能优势典型参数卓立汉光提供专业的免费测样服务，需求即达，欢迎洽谈！

电镜制样设备Gentle Mill 离子精修仪--用于制备高质量 TEM/FIB 样品的离子束工作站Technoorg Gentle Mill 离子精修仪产品专为最终抛光、精修和改善 FIB 处理后的样品而设计。 Gentle Mill 型号非常适合要求样品无加工痕迹、表面几乎没有任何损坏的 XTEM、HRTEM 或 STEM 的用户。 同时，Gentle Mill 还适用于快速减薄凹坑或超薄平面 ( 25 μm) 以及机械抛光样品。 产品特色：快速、可靠地精修和处理 TEM 和 FIB 样品带有预编程的设置，可进行自动化操作可应用于工业环境中直接匹配日立 FIB-STEM/TEM 系统 3D 样品台性能参数低能离子枪（固定型）离子能量：100 - 2000 eV，连续可调离子电流密度：最大 10 mA/cm2离子束流：7 - 80 μA，连续可调离子束直径：750 - 1200 μm (FWHM)电控优化的工作气流在 2000 eV 离子能量和 30° 入射角下，c-Si 的研磨速率为 28 μm/h样品台切削角度：0° - 40°，每 0.1° 连续可调 可进行计算机控制的平面内样品旋转和摆动（从 ±10° 到±120°，每 10° 连续可调）可适用的 TEM 样品的厚度范围 (30 -200 μm)样品处理用于快速样品交换的真空锁系统全机械、无胶装载专为 XTEM 样品设计的钛夹和封装技术 真空系统Pfeiffer 真空系统配备无油隔膜和涡轮分子泵，配备紧凑的全范围 Pirani/Penning 真空计供气系统99.999% 纯氩气，绝对压力为 1.3 - 1.7 bar带有电子出口压力监测功能的惰性气体专用压力调节器工作气体流量高精准控制成像系统用于全视觉控制和切削监控/终止的 CMOS 相机图像高分辨率彩色 CMOS 相机50 - 400 倍放大范围的手动变焦视频镜头电脑控制内置工业级计算机简单便捷的图形界面和图像分析模块通过鼠标点击或拖动轻松控制所有重要参数高度自动化的操作机制，最大限度地减少人工干预支持预编程或手动调节切削和抛光次数自动终止：图像分析模块支持的切削过程的光学终止（ 通过检测薄区穿孔或监测表面形貌）电源要求100 - 120 V/3.0 A/60 Hz 或 220 - 240 V/1.5 A/50 Hz ‒ 单相应用案例 01. Gentle Mill 对在各种 FIB 制备的样品进行低能量 Ar+ 氩离子研磨显着降低了受损的非晶表面层的厚度。可以实现对 65 nm 节点半导体器件进行原子级结构分析。02. Si 中的晶面[110]。 使用 Gentle Mill 在 200 eV 离子能量和 3°入射角下通过 Ar+ 氩离子研磨对样品进行减薄。图片由劳伦斯伯克利实验室国家电子显微镜中心提供。03. GaSb/InAs 超晶格。 使用 Gentle Mill 制备样品：在 2000 eV 下减薄直至穿孔，然后在 1000 eV 下修整，最后在 300 eV 下精修。 图片由 Technion（以色列）提供。电镜制样设备Gentle Mill 离子精修仪

SEM电镜兼容原子力显微镜EM-AFM EM-AFM 纳米操作系统提供了在SEM电镜中原子力显微镜成像和定量测量纳米力 的能力。它使得SEM和AFM这两种技术的结合，提供了高速高分辨率的3D形貌 成像，以及微纳米和亚纳米尺度纳牛力相互作用的实时观测。 产品特性 同步AFM 和 SEM 成像 完全兼容市面上的主流SEM电镜 超高分辨率形貌扫描 通过纳米压痕定量测量纳米力 真空载锁兼容 操作稳定性高，不受SEM电子束干扰规格参数应用案例SEM-AFM图像融合SEM成像具有高横向分辨率和扫描速率的优势，结合AFM成像提供的三维形貌信息，可获取新的而又全面的信息亚纳米成像分辨率全闭环编码系统确保在没有图像失真的情况下获得超高形貌成像分辨率，同时获取亚纳米成像分辨率。纳米压痕和拉伸测试样品的纳米力学性能可以在该仪器中通过纳米压痕和纳米拉伸测试试验技术进行测量。在SEM电镜成像下，可实时观测压痕和拉伸过程。专用软件提供了内置的计算工具，用于分析和显示获取的观测数据。高真空环境/SEM兼容结构紧凑的AFM兼容市面上大部分的SEM和FIB，并能够在数秒内完成安装和拆卸。系统允许很小的工作范围（5mm），同时兼容标准的SEM分析技术（如EDS、EBSD、WSD）。

采用全氟醚O圈辅助密封来封装液体样品。实验中样品被密封在氮化硅薄膜覆盖的原位芯片内，该液体系统可以承载一个大气压，因而实现在电镜中的原位液体观测。详情请登录“合肥原位科技有限公司”网站。

电镜薄膜网格电镜薄膜网格（载网膜）是透射电镜常用的耗材之一，主要作用是在电镜观察时负载小尺度的样品。微孔膜网格具有一系列不同的孔径，排列在方形网格上，不同的设计，具有不同的间距（节距）。孔阵列以正方形SiNx膜窗口为心，窗口以标准TEM网格的框架为中心。用于透射电子显微镜（TEM）的标准氮化硅窗口网格可提供以200μm厚度的硅框架为中心的5nm、10nm、30nm、50nm或100nm厚的方形膜窗口。TEM窗口框架是圆形或八边形的，并且适合在3.0mm直径的圆内。氮化硅膜是低应力和坚固的。我们所有的TEM窗口都封装在2〃x2〃包装盒中（每盒10pcs）。 另外，我们提供位置标记的多孔TEM氮化物窗口类似于规则的TEM网格，但在膜区域上具有微米尺寸的孔。并且，它在X和Y方向上沿着多孔膜的边缘都有位置标记，允许用户在TEM工作期间跟踪膜上的位置。 ** 如果您需要用于纳米孔、基因组学、蛋白质组学或其他生物物理应用的微孔膜产品，详情可联系上海昊量光电设备有限公司。更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

产品简介可将最多4个样品同时置入透射电镜中，与市面常见的3孔样品杆相比，大幅提高透射电镜的使用效率。全新的结构设计及超高精度的旋钮换样方式，帮助降低漂移率，提高成像质量。 我们的优势 低漂移提供高质量成像创新的弹性铜片固定方式和超高精度旋钮，减小漂移，提高成像质量。创新设计，提高实验效率1．一次可放置4个样品。2．高精度旋钮控制方式，简便实用。技术参数类别项目参数基本参数杆体材质高强度钛合金样品直径3mm样品数量4个旋转角α ≥±25°，具体以实际电镜型号为准兼容电镜Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi(HR)TEM/STEM支持(HR)EDS/EELS/SAED支持应用案例Pd纳米颗粒高分辨表征

MAG*I*CAL透射电镜校准标样这个独特的MAG*I*CAL透射电镜校准标样直接溯源于硅晶体的晶格常数，它能用来对所有透射电镜进行三项专业的标定和校正： &bull 放大倍率（全范围） &bull 相机常数 &bull 像与衍射花样之间的磁转角 放大倍率校准是电镜中很普遍的校准，因为确定电镜本身显示的或图像上的放大倍率数值是否准确，以及如果不准该如何修正，这是很重要的工作。有了独特的MAG*I*CAL校准标样，你就可以在大约1000x至1,000,000x全范围内对一台透射电镜的放大倍率进行校准。由于样品本身是一个单晶体，它也能用来对相机常数以及像/衍射花样的磁转角进行校准。尽管MAG*I*CAL校准标样是为TEM在材料科学领域应用而研发的，但在生命科学领域也同样有用。 MAG*I*CAL校准的参考标准是一个离子减薄过的硅基半导体多层截面TEM样品。它含有4组由5层10nm厚SiGe合金层和13nm厚纯硅层相间隔组成的结构。分子束外延（MBE）法生长的高质量外延层作为单晶硅001衬底上的应变层。这样的4组交替相间的结构层（超晶格）为TEM成像提供明暗对比，并且是以硅111面晶格间距作为单晶硅衬底上的测量依据通过高分辨透射电镜（HREM）直接校准的，标样上的校准标记直接引用一个自然常数，即硅的晶格常数，这样MAG*I*CAL透射电镜校准标样就可完整追溯到一个自然的基本常数。

扫描电镜专用原位AFM探测系统 AFSEM™ —使AFM和SEM合二为一奥地利GETec公司发布的扫描电镜专用原位AFM探测系统——AFSEM是一款紧凑型，适用于真空环境的AFM产品，能够轻松地结合两种强大的分析技术—AFM和SEM为一体，扩展SEM样品成像和分析能力。AFSEM技术与SEM技术的结合，使得人们对微观和纳米新探索新发现成为可能。SEM结合AFM解决方案：* 扫描电子显微镜中进行AFM原位分析* 使用SCL的自感悬臂技术的纳米探针* 无需激光和探测器，适用于任何样品表面* 与大多数SEM兼容而不妨碍正常的操作* AFM和SEM协同并行分析扫描电子显微镜中进行原位AFM分析扫描电镜专用原位AFM探测系统实现了AFM和SEM的功能性互补，让SEM可以同时实现样品的高分辨率成像，真实的三维形貌，的高度，距离测量，甚至是材料的导电性能。做到这一点只需要将AFSEM悬臂探针的位置移动到SEM下需要观察的样品位置进行探测。优化的AFSEM工作流程(几乎没有减少SEM的扫描时间)确保了高效率。提供的强大控制软件则允许进行优化和直观的测量、系统处理和数据分析。将AFSEM集成到一个Zeiss Leo 982扫描电子显微镜中(左)，对样品表面进行扫描成像(右)，对样品表面进行扫描。当在AFM和SEM成像之间交替时，不需要转移样品或打破真空。使用AFSEM，一切都可以进行内联！SEM-AFM协同分析对于产品或材料分析，通常需要用多种技术分析一个样品或者同一个器件，并寻找参数之间的相关性。如果样品需要使用SEM和AFM这两种的成像技术，就意味着我们需要找到感兴趣的区域并定位它，再拿到另一个设备中寻找这个感兴趣的区域，才能实现对同样的区域进行分析。有什么能比直接把AFM放在SEM里面来的简单呢？对无支撑石墨烯和石墨烯相关材料进行扫描电镜和AFM原位分析。在低电压扫描电子显微镜下，我们可以对一个悬空的石墨烯薄片的样品进行成像，以确定层数和厚度(a)。然后，利用AFM(b+c)实现更高的分辨率和更好的对比度。扫描电镜图像(A)、放大的图像(B)和相关的AFM成像(C)，测量结果来自FEI Quanta 600 FEG ESEM。AFSEM可与大多数SEM兼容AFSEM适用于大多数SEM或双光束(SEM/FIB)系统。可以直接安装在系统腔室的仓门上，同时样品台保持不变。此外，AFSEM采用一种自感应悬臂探针，无需激光与传感器。AFSEM在电镜中，夹持探针的悬臂梁只需要靴与样品之间4.5毫米的空间。因此，AFSEM可以与各种标准的SEM兼容，GETec公司能够处理任何兼容SEM系统真空腔内的安装。也正是这种优雅小巧的设计使得扫描电子显微镜能够配合AFM技术实现的亚纳米的形貌探测。成功的AFSEM集成的例子(可参见集成SEM列表)AFSEM与SEM分析技术紧密配合由于AFSEM小巧的设计维护了SEM功能的完整性，可以实现与其他标准的扫描电镜分析技术相结合同时使用，如常规FIB、FEBID和EDX，以及SEM中可搭配的拉伸机，应力测试，机械手等等AFSEM应用案例举例AFSEM与Deben 200N拉伸试验台可以同时集成在Philips XL40 SEM实现试样拉伸形变过程的原位观察和形貌探测。这是一个创新的实验解决方案，用来研究拉力作用下金属试样的拉伸形变和颈缩过程中，样品表面形貌和粗糙度的变化。此外AFSEM™ 和Hysitron PI85硬度测试台结合，一同安装在蔡司Leo 982 SEM中，电镜下我们可以实时观察金属表面在硬度计压头的压力下，表面形变，滑移过程。其形变，滑移的形貌变化可以由AFM完成。从AFM的角度来看，自感应悬臂探针可以实现多种探测模式，包括静态成像、动态成像、相对比、力谱、力调制和导电模式AFM。例如，在飞利浦XL40仪器中，利用扫描电镜成像、EDX的化学分析、AFM的3D形貌和电导分析。AFSEM采用的自感应探针（self-sensing cantilevers）奥地利SCL-Sensor.Tech公司主要生产硅基压阻式自感应探针，避免了常规AFM需要光路进行探测的模式，拓宽AFM在纳米探测、力测量和其他场合的应用。自检测悬臂配备全压阻电桥直接测量悬臂信号电，从而消除常规原子力显微镜光学信号探测对仪器空间的要求。两个可变电阻分别位于微悬臂和芯片上。整个结构连接到一个小的PCB板上，可实现快速和高重复性的探针交换。感应到的信号通过一个前置放大电路读出和放大。这使得与各种仪器，如SEM，TEM和许多其他测量系统，可以轻松无缝地集成。自感应探针具有各种谐振频率和弹簧常数。我们可为您提供PRS（压阻传感）悬臂探针和PRSA（压阻传感与主动）悬臂探针。Self-Sensing Cantilevers with Silicon TipSelf-Sensing Cantilever without Tip (Tipless)Self-Sensing Cantilevers with SCD TipSilicon tip radius: 15nmCantilever length: 70-300 μm Frequencies: 30-1300 kHz Stiffness: 1-400 N/m Applications: AFM,nanoprobing,force measurement, ...Tip: tipless Cantilever length : 100-450 μm Frequency: 14-550 kHz Stiffness: 0.5-170 N/m Applications: torque magnetometry (e.g. in a PPMS), gas/media properties, force measurement, experimental tip mounting,...SCD-tip radius: 10 nm Cantilever length: 100-450 μm Frequency: 14-550 kHz Stiffness: 0.5-170 N/m Applications: AFM, nanoindentation, ...

? 透射电镜多孔样品杆使研究者们可以将最多三个样品同时置入透射电镜中，大大提高了透射电镜的使用效率。该产品还可以选择双倾版本，每个样品都可以独立实现双向倾转。性能指标：● 兼容指定型号电镜及极靴；● 保证电镜原有分辨率；● 保证电镜真空度；● 可选双倾（β方向±25°，同时受限于极靴）；● 高精度电机控制的β角度倾转。以上就是小编提供的PicoFemto透射电镜多孔样品杆，详细咨询：

样品电流感生电流探测器是设计用来对扫描电镜中样品吸收的小电流进行探测。它提供精确的吸收电流测量，也能提供宽范围的束流成像。在较高的电子束流下，可以得到TV速率的图像；而在慢扫描时，可以得到低噪声的图像。差分输入能力允许样品对地浮动高达5V电压。当高能电子穿透晶体半导体时，随着硅价电子从其轨道中射出，硅原子的电离将吸收其大部分动能。每一次电离都产生一个自由电子，而空价位使原子的电不平衡，并带净正电荷。这种被称为空穴的净正电荷似乎在外场的影响下从一个原子迁移到另一个原子，造成了正电荷流动的错觉。在p掺杂区和n掺杂区交界处，由于电子和空穴的重新分布所产生的电场(费米势)，形成了一个移动载流子的狭窄空穴区。如果电子和由撞击电子产生的空穴可以进入这个耗尽区，那么它们也会被费米势扫到一边。载流子的这种运动表现为外部电路中的电流。n 吸收电流测量n 吸收电流成像n 兼容偏压样品在硅中，平均电子空穴对需要大约3.6eV的能量，与进入耗尽区载流子的数量成正比的外部电流很可能比原束流大2到4个数量级，这取决于原束流能量和能被吸收到耗尽区的空穴对的百分比。这种现象被称为电子束感生电流或EBIC。光子轰击可以产生同样的效果，这也是光电二极管和太阳能电池工作的基础。现代平面半导体器件由于其独特的二维结构，使其易于在扫描电子显微镜和激光扫描显微镜下采用EBIC（电子束感生电流）和OBIC（光束感生电流）技术进行定性和定量研究。 对未钝化器件进行检查是需要的，EBIC也可以很容易地在已完成钝化的器件上执行，事实上，它可以揭示关于钝化层厚度和结深度的信息。EBIC图样的空间扩展可以提供载流子寿命和扩散长度的信息，而这些信息又指向了电阻率和晶体取向。EBIC方法也能用来检查用于半导体制造的晶圆的质量，方法是在表面涂上合适的结层，并在下面形成大面积结。晶界和孪晶界、层错和螺位错等晶体缺陷为电子空穴对形成了俘获（重组）中心，当束流冲击这些缺陷附近时，EBIC电流输出明显减少。

丰富的电镜配件及耗材库存：公司仓储中心储备了大量的电子显微镜配件和耗材，满足不同需求。多品牌多型号的二手电镜：提供多种品牌和型号的二手电子显微镜，供客户选择购买或租用。价格优惠与灵活互通：配件价格具有竞争力，同时提供租赁服务，确保客户可以根据自己的需求灵活选择。本地化仓库及充足备货：拥有本地化的仓库，确保配件和耗材的供应充足，快速响应客户需求。终身技术服务：提供终身的技术服务支持，确保客户在使用过程中得到持续的帮助。国产配件研发生产能力：公司具备国产电子显微镜配件的研发和生产能力，能够提供质量可靠的配件。专业技术团队服务保障：拥有专业的技术团队，为客户提供专业的服务保障，确保客户使用无忧。

SEM兼容原子力显微镜产品简介EM-AFM 纳米操作系统提供了在SEM电镜中原子力显微镜成像和定量测量纳米力的能力。它可将SEM和AFM这两种显微技术进行联用，提供高速高分辨率的3D形貌成像，以及微纳米和亚纳米尺度纳牛力相互作用的实时观测。产品特性 同步AFM 和 SEM 成像 兼容市面上的主流SEM电镜 超高分辨率形貌扫描 通过纳米压痕定量测量纳米力 真空载锁兼容 操作稳定性高，不受SEM电子束干扰 规格参数系统概况系统尺寸100x100x35SEM载锁兼容根据客户需求提供方案可用环境SEM真空环境兼容系统重量400g+SEM/FIB适配器样品运动台运动范围15x15x5mm集成编码器可选闭环运动分辨率1nm运动速度45mm/s小范围扫描器扫描范围35x35x5μm集成编码器有闭环分辨率优于0.2nm扫描速度8μm/s漂移率2nm/minAFM传感探头传感原理压阻式扫描模式接触式力感应分辨率优于5nN成像分辨率优于1nm力传感范围+/200μN应用案例SEM-AFM图像融合SEM成像具有高横向分辨率和扫描速率的优势，结合AFM成像提供的三维形貌信息，可获取新的而又全面的信息 亚纳米成像分辨率全闭环编码系统确保在没有图像失真的情况下获得超高形貌成像分辨率，同时获取亚纳米成像分辨率。纳米压痕和拉伸测试样品的纳米力学性能可以在该仪器中通过纳米压痕和纳米拉伸测试试验技术进行测量。在SEM电镜成像下，可实时观测压痕和拉伸过程。专用软件提供了内置的计算工具，用于分析和显示获取的观测数据。高真空环境/SEM兼容结构紧凑的AFM兼容市面上大部分的SEM和FIB，并能够在数秒内完成安装和拆卸。系统允许很小的工作范围（5mm），同时兼容标准的SEM分析技术（如EDS、EBSD、WSD）。

透射电镜原位电学分析系统——纳米尺度原位电学成像分析解决方案透射电镜原位电学分析系统在先进材料科学、纳米技术开发、半导体器件开发及失效分析中发挥着至关重要的作用，能够为研究纳米尺度材料及器件提供电学性能分析支撑。该系统能够适配所有具备外部扫描控制接口的透射电镜，通过深度集成的硬件及软件协同，能够实现对所有电学信号的放大、获取及分析，每个信号均能够实现自动量化，覆盖µ A/nA/pA等电流范围。该系统主要技术优势・ 采集系统兼容所有带有外部扫描接口的透射电镜(与EDS或EELS类似)・ 所有放大和采集设置均由软件控制・ 信号自动量化并以电流值(µ A, nA, pA)显示硬件设备特点・ 快速放大优化成像・ 宽增益范围，以适应所有技术・ 小型化的固定式电子设备・ 自动信号路由为透射电镜原位电学样品杆设计的低噪声前置电流放大器 主要技术优势：・ 最靠近原始信号的初级放大，能大幅降低信号噪音・ 内置电压偏压和电流补偿・ 自动信号路由，避免放电为透射电镜配备的电学分析放大器 主要技术优势：・ 第二级放大以达到最大范围・ 出厂精确校准的增益和偏移・ 可选锁定配置电学分析成像仪(DISS6) 主要技术优势：・ 集成扫描发生器和图像采集・ 像素分辨率高，扫描速度快 ・ 高位深电学分析模数转换・ 同时输入明场, 高角环形暗场和电学分析信号软件设备特点：DISS6 -控制和采集应用程序 主要技术优势：・ 电学分析放大器控制・ 电学分析, 高角环形暗场和明场图像采集・ 自动定量到µ A…fA・ 电流-电压扫描工具・ 实时图像颜色混合工具・ 标准文件格式DIPS6 -数据处理程序 主要技术参数：・ 完整的图像和元数据查看器・ 自动定量到µ A…fA・ 基于梯度的变色效果・ 用于可视化的信号颜色混合・ 导出定量像素值 应用案例图一. STEM-EBIC技术:・ 非弹性损失诱导了片层中的电子-空穴对・ 内部电场将电子-空穴对分开・ 电流被数字化以获得电子束诱生电流(EBIC) STEM图像图二. 揭示内部电场:・ 分析器件中的接点和触点・ 根据设计验证掺杂分布 ・ 与设备模型和参数相关联图三. 研究每一层结构中的电学性能：・ 定位重组活性增加的位点・ 区分有/没有电学活动的缺陷・ 使用高分辨率技术图四. 基本物理参数测定:・ 少数载流子的扩散长度・ 位错的复合强度图五. FIB/SEM薄片制备:・ 应用标准FIB工作流程进行原位偏压・ 利用扫描电镜中的电学分析视场选择目标・ 在扫描电镜中筛选薄片以观察制备过程中的损伤

扫描电镜原位高温拉伸台集成了力学拉伸模块以及高温环境模块，可以实现在扫描电镜中对样品原位加热的同时进行拉伸实验。本产品采用新一代的高温拉伸方案，加热台直接贴紧样品，保证了温度的准确度和稳定性。 性能指标：● 兼容指定型号扫描电镜，兼容EBSD功能；● 保证电镜原有真空度；● zui大载荷：5000 N；● zui高加热温度：1200摄氏度；● 载荷分辨率：优于满量程的千分之一；● 拉伸速率：zui高1.5 mm/min。以上就是小编提供的PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台，详细咨询：

同时集成了力学测量模块及MEMS芯片模块，可以在对样品1000 ℃加热的同时进行定量的力学测量。MEMS芯片模块上可以选择加热芯片，也可以选择电学测量芯片。力学测量模块可以选择不同载荷的传感器，满足不同实验需求。 该产品实现了透射电镜中真正意义上的高分辨定量原位高温力学研究。性能指标 透射电镜指标：● 兼容指定电镜型号及极靴；● 部分型号电镜可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）； 力学传感器指标：● 最大载荷100 mN（可选0.1 mN、1 mN、10 mN、100 mN）；● 力测量实测噪声优于5nN（0.1 mN最大载荷时）；● 力测量实测分辨率优于5 nN（0.1 mN最大载荷时）；● 自动测量力-距离曲线，自动保存。 加热指标：● 温度控制范围：室温至1000 ℃；● 温度准确度：优于5%；● 温度稳定性：优于±0.1 ℃。扫描探针操纵指标：● 粗调范围：X方向 1.5 mm，YZ 方向2 mm；● 细调范围：XY 方向20 um，Z 方向 10 um；● 细调分辨率：XY 方向 0.4 nm，Z 方向 0.2 nm。 产品特色 （1）超大力学测量及温度控制范围；（2）多场下的力学研究。以上就是小编提供的PicoFemto透射电镜原位高温力学测量系统，详细咨询：

Technoorg Linda电镜制样设备 GIB用于扫描电镜 / 双束电镜的氩离子束方案Technoorg Linda 的低能氩离子枪（GIB） 适用于表面减薄、其他表面处理后的后处理、清洁以及去除无定形和氧 化物表面层。 当低能氩离子枪集成到扫描电镜中时 ，其作用尤为明显。有了集成离子枪 ，就可以在研究之前对样品 进行精修。 实现高质量样品的另一个重要应用是在双束 SEM / FIB 系统中进行 FIB 样品制备后，对 TEM 样品进行最 终抛光和温和的表面清洁。可与扫描电镜集成带波纹管的传输系统可通过连接管安装到扫描电镜上。连 接管输出法兰的尺寸与相应的 SEM 端口尺寸相匹配。通 过线性传输系统提供的离子源流动性，可实现理想的工作 距离（15-30 mm）。低能量氩离子枪低能量离子枪的直径和长度均为 50mm。氩离子束的能 量范围：100eV - 2kV。 2kV 时的最大束流为 70µ A。离 子束为宽束，半最大全宽（FWHM）为 2mm。半管支架低能量离子枪安装在半管支架中。

产品性能：第六代 Phenom Pure 是一款使用高亮度 CeB6 灯丝的高分辨台式扫描电镜。放大倍数 175,000 倍，用于观察亚微米样品的微观结构。Pure 具有全自动操作、15 秒快速抽真空、不喷金观看绝缘体、2-3 年更换灯丝等特点，适用于传统大电镜待测样品的快速筛选，也适合于光学显微镜的分辨率无法满足需求的客户。Phenom Pure 经济型标准版产品参数电子显微镜：175,000 倍探测器：高灵敏度四分割背散射电子探测器灯丝材料：1,500 小时 CeB6 灯丝分辨率：优于 10 nm放置环境：采用专业防震设计，可摆放于普通实验室或办公室、厂房加速电压：5kV 和 10kV抽真空时间：小于 15 秒复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom-Scientific)，负责荷兰飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售，提供专业的技术支持和测试服务，飞纳中国拥有最专业的服务团队，提供最优化的解决方案；飞纳中国提出飞纳学校 （Phenom University）的概念，为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训，在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心，目前飞纳在中国已经拥有超过 1500 名用户。

Thermo Scientific™ Quattro™ 扫描电镜将成像和分析的全面性能与独特的环境模式（ESEM）相结合，使得样品研究得以在自然状态下进行。如今，研究型实验室普遍要求现代的扫描电镜可以适应多种多样的样品分析需求，希望在获得出色的图像质量的同时尽可能简化样品制备过程。Quat t r o 的场发射枪（FEG）确保了优异的分辨率，通过不同的探测器选项，可以调节不同衬度信息，包括定向背散射、STEM 和阴极荧光信息。来自多个探测器和探测器分区的图像可以同步采集和显示，使得单次扫描即可获得各种样品信息，从而减低束敏感样品的束曝光并实现真正的动态实验。Quattro 的三种真空模式（高真空、低真空和 ESEM™ ）使得系统极具灵活性，可以容纳任何 SEM 可用的广泛的样品类型，包括放气或者是与真空状态不相容的样品。此外，ESEM™ 可以在现实世界的条件下对样品进行原位研究，例如湿/潮湿、热或反应性的环境。Quattro 的分析样品仓可以满足日益增长的样品元素信息及晶体结构分析需求，它同时支持相对的双能谱（EDS）探测器、共面能谱（EDS）/电子背散射衍射（EBSD）和平行束波谱（WDS）探测器。无论什么类型的样品，在高真空下或与 Quattro 支持的独特实验条件相结合，无论样品导电、绝缘、潮湿或是在高温条件下，均可获得可靠的分析结果。由于多用户设施要求大量操作人员都能获得所有相关数据，同时尽可能缩短培训时间，所以易用性是至关重要的。Quattro 独特的硬件由帮助功能（用户向导）支持，不仅可以指导操作者，还可以直接与显微镜进行交互。并且通过“撤消（Undo）”功能，鼓励新手用户进行实验，而专家用户可以轻松缩短结果获取时间。主要优势在自然状态下对材料进行原位研究：具有环境真空模式（ESEM）的独特高分辨率场发射扫描电镜大程度缩短样品制备时间：低真空和环境真空技术可针对不导电和/或含水样品直接成像和分析，样品表面无荷电累积在各种操作模式下分析导电和不导电样品， 同步获取二次电子像和背散射电子像安装原位冷台、珀尔帖冷台和热台，可在-165°C 到 1400°C 温度范围内进行原位分析卓越的分析性能，样品仓可同时安装三个 EDS 探测器，其中两个 EDS端口分开 180°、 WDS 和共面 EDS/EBSD针对不导电样品的卓越分析性能：凭借“压差真空系统”实现低真空模式下的精确 EDS 和 EBSD 分析灵活、精确的优中心样品台，105°倾斜角度范围，可全方位观察样品 软件直观、简便易用，并配置用户向导及 Undo（撤销）功能，操作步骤更少，分析更快速全新创新选项，包括可伸缩 RGB 阴极荧光（CL）探测器、1100°C 高真空热台和 AutoScript（基于 Python 的脚本工具 API）

PicoFemto扫描电镜原位气氛加热环境测量系统，价格请咨询(微信同号)扫描电镜原位气氛环境测量系统将MEMS气氛环境微腔和加热模块集成到扫描电镜样品台上，在扫描电镜中制造可控的气氛环境并且可以对实验样品原位加热。该系统允许研究者在气氛环境中原位、动态、高分辨地对样品的形貌结构和化学组分进行综合表征，大大拓展了扫描电镜的功能与应用领域。该产品可实现1 Bar & 800 ℃的观测条件，使研究者可以在扫描电镜中实时观测催化反应、氧化还原反应、低维材料生长/合成以及各类腐蚀反应，将您的扫描电镜从一台静态成像工具升级为一套功能强大的纳米实验室。性能指标气体流动指标：● 三通道混气；● 气压范围：0 - 1 Bar；● 气压准确度：30 mBar；● 气体流速： 0.01 - 0.4 ml/min； ● 可通气体：H2, N2, O2, He, Ar, CO, CO2, CxHy等；● 软件控制。 扫描电镜指标：● 兼容指定类型电镜；● 保证电镜原有真空度；● MEMS反应微腔指标： ● 高质量氮化硅膜厚度30 nm；● 样品漂移优于0.7 nm/min。 热学指标：● 温度范围：室温至800 ℃；● 温度准确度：优于5%； ● 温度稳定性：优于±0.1℃；● 四电极加热，带温度反馈；● 软件控制。 以上就是泽攸科技对PicoFemto扫描电镜原位气氛加热环境测量系统的介绍，关于价格请咨询(微信同号) 原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。

透射电镜360°水平旋转样品杆同时具备β角倾转以及360°水平旋转的功能，可以在透射电子显微镜中多自由度高精度旋转样品。性能指标：● 兼容指定型号电镜及极靴；● 保证电镜原有分辨率；● 保证电镜原有真空度；● 双倾可选（±30°，同时受限于极靴）；● 流畅、准确、连续地实现水平方向360°旋转，延迟以及震动极小；● 高精度电机控制的β方向倾转以及水平方向旋转。 以上就是小编提供的PicoFemto透射电镜360°水平旋转样品杆，详细咨询：

拉曼电镜光谱联用技术产品简介扫描电子显微镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品，实现对物质微观形貌表征的目的。具有景深大、分辨率高，成像直观、立体感强、放大倍数范围宽以及待测样品在三维空间内进行旋转和倾斜等特点。拉曼技术在分子级别上提供样品的化学结构、组分信息；而 SEM 可在纳米尺度上提供高空间分辨率的形貌图像；SEM 与拉曼光谱技术相结合，使用 SEM 观察样品形貌，并可获取指定样品点的拉曼光谱信息，同步获取样品材料表面形貌、分子结构与化学组分等信息。典型应用RTS- SEMR 拉曼电镜光谱系统北京卓立汉光仪器有限公司全新推出的 RTS- SEMR 拉曼电镜光谱系统集成场发射扫描电镜与拉曼光谱系统于一体，是一款真正意义上实现国产拉曼光谱与扫描电镜联用的设备。拉曼电镜通过快速、精确、高性能的拉曼分析，弥补了能谱仪、波谱仪等传统电镜附件无法实现的分子结构与成分观察。尤其是针对有机结构、碳结构、同分异构体、晶体与无机相等多领域材料的信息表征，扩展了传统扫描电子显微镜的分析应用领域，例如矿物鉴别、高分子与制药行业、锂电行业、医工交叉行业等，应用前景广阔。北京卓立汉光仪器有限公司推出的扫描电镜-拉曼光谱联用装置采用“离轴”模式设计理念。“离轴”模式扫描电镜的电子束与拉曼光谱的激光束不同轴,通过移动样品台分别进行扫描电镜-能谱分析和显微拉曼光谱分析，原位获取样品指定位置的形貌信息和化学成分信息。系统架构RTS- SEMR 拉曼电镜光谱系统，电镜拥有大视野及纳米级分辨率，是一个优秀的样品微观形貌分析平台，系统耦合拉曼共聚焦光路进入真空样品仓，实现了样品在电子束和激光束之间的快速切换，在满足样品表征观察的同时，也能够实现纳米级分辨率的化学成分和空间结构分析，充分发挥扫描电镜与拉曼两者的应用优势。拉曼集成扫描电子显微镜采用平行双束方案，搭载高精度复合位移台可实现样品在拉曼光轴和电子束光轴之间快速、精确、稳定的切换，拉曼扫描范围高达 2.5 mm。独特的系统及产品设计保证了操作性、易用性、普适性，用户可在电镜中寻找感兴趣的材料特征，得到高分辨的扫描结果后，一键切换至拉曼光路下进行该区域的快速/高精度的光谱扫描，随后得到高匹配程度的拉曼渲染联用效果。拉曼渲染结果的像素与光谱数据对应关系可通过软件程序直接提取，提供进行便捷的结果解析。拉曼光谱集成方案提供了多种配置供用户选择，例如激光波长、光谱仪焦长、光栅密度、物镜等光学核心配置，充分满足应用及市场的需求。扫描式电子显微镜系统配置多种类型探测器，可实现二次电子和背散射电子同时成像，兼容多种应用模式，可覆盖生命科学、材料科学、地质科学等多学科科研应用场景。标配五轴高精度运动平台及自主设计样品载台，可实现多个钉台同时放样或单一大尺寸样品观测。性能优势典型参数卓立汉光提供专业的免费测样服务，需求即达，欢迎洽谈！

PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台，关于价格请咨询(微信同号) 扫描电镜原位高温拉伸台集成了力学拉伸模块以及高温环境模块，可以实现在扫描电镜中对样品原位加热的同时进行拉伸实验。本产品采用新一代的高温拉伸方案，加热台直接贴紧样品，保证了温度的准确度和稳定性。 性能指标：● 兼容指定型号扫描电镜，兼容EBSD功能；● 保证电镜原有真空度；● 最大载荷：5000 N； ● 最高加热温度：1200摄氏度；● 载荷分辨率：优于满量程的千分之一；● 拉伸速率：最高1.5 mm/min。 以上就是泽攸科技对PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的介绍，关于拉伸台价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　 公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。

TESCAN VEGA COMPACT 秉承了前一代 VEGA 系列电镜的优异性能，是一款入门级，但是功能强大的分析型钨灯丝扫描电镜。紧凑简约的配置、优化的成像能力以及集成的元素成分分析功能，VEGA COMPACT 为研究常规材料的实验室提供一个高性价比的解决方案。VEGA COMPACT 采用了最新的 Essence™ 电镜控制软件，使得扫描电镜成像和成分实时分析能够集成在同一个窗口中实现。这种结合大大简化了获取样品形貌信息和成分数据的过程，使得 VEGA COMPACT 以其高效率、低成本成为实验室常规材料检测、质量控制、失效分析以及实验室研究行之有效的分析解决方案。主要特点：ü 完全集成的 TESCAN Essence™ EDS 分析平台，可在 Essence™ 软件的同一个窗口中实现扫描电镜实时成像和成分分析。ü TESCAN 独特的无机械光阑光路设计及实时电子束追踪技术 (In-flight Beam Tracing™ )，可快速获得最佳的成像和分析条件。ü 独特的大视野光路（Wide Field Optics™ ）设计，可实现最小放大倍率低至2倍，因而无需额外的光学导航相机，即可轻松、精确的对样品进行导航。ü 直观、模块化的 Essence™ 软件设计，不同经验等级的用户均可轻松操作。 ü Essence™ 3D 防碰撞模型，可确保样品台和样品移动时，安装在样品室内探测器的安全性。ü 可选配的真空缓冲节能单元可显著缩短机械泵的运行时间，提供一款环保、高经济效益的电子显微镜。全新的 TESCAN Essence™ 软件TESCAN VEGA COMPACT 采用 TESCAN Essence™ 多用户电镜操作软件，具有快速搜索、操作步骤撤销/重做和预设参数等多种快速功能，实现更高效的样品分析工具。软件允许和表征。用户可以根据实际操作水平或特殊应用需求的不同在软件中自定义界面布局，也可以在软件上设定自己的专属界面，只显示满足自身应用需求的功能和图标。这种简化后的布局方式可以更好的帮助接触电镜不久的操作人员轻松掌握扫描电镜成像和能谱分析。样品台5轴计算机控制优中心马达驱动样品台X 及 Y 轴移动行程: 80 (X) x 60 (Y) mmZ 轴移动行程: 50 mm倾斜: 计算机控制优中心式, -80° 至 +80°旋转: 计算机控制优中心式, 360 ° (连续)最大样品高度：81 mm最大样品尺寸: 145 (X) × 145 (Y) mm最大样品重量: 1000 g 软件： 测量软件, 公差测量软件 图像处理 预设参数 直方图及LUT SharkSEM™ 基础版 (远程控制) 3D 防碰撞模型软件 对象区域 光电联用 定时关机 CORAL™ （用于生命科学的电镜模块） 自动拼图软件 样品观察 TESCAN Flow™ (离线处理软件)根据实际配置和需求

产品性能：第六代飞纳台式扫描电镜高性价比标准版 Pure 是一款使用高亮度 CeB6 灯丝的高分辨台式扫描电镜。放大倍数 175,000 倍，用于观察亚微米样品的微观结构。Pure 具有全自动操作、15 秒快速抽真空、不喷金观看绝缘体、2-3 年更换灯丝等特点，适用于传统大电镜待测样品的快速筛选，也适合于光学显微镜的分辨率无法满足需求的客户。Phenom Pure 经济型标准版产品参数电子显微镜：175,000 倍探测器：高灵敏度四分割背散射电子探测器灯丝材料：1,500 小时 CeB6 灯丝分辨率：优于 10 nm放置环境：采用专业防震设计，可摆放于普通实验室或办公室、厂房加速电压：5kV 和 15kV抽真空时间：小于 15 秒复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom Scientific)，负责荷兰飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售，提供专业的技术支持和测试服务，飞纳中国拥有最专业的服务团队，提供最优化的解决方案；飞纳中国提出飞纳学校 （Phenom University）的概念，为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训，在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心，目前飞纳在中国已经拥有接近 1000 名用户。

飞纳台式扫描电镜大样品室卓越版----Phenom XL G2Phenom XL （电镜腔室 100mm x 100mm）具有飞纳电镜系列以下优点：超高分辨 —— 8 nm，独家采用长寿命 1500 小时、高亮度的 CeB6 灯丝快速成像 —— 抽真空时间小于 20 秒简易操作 —— 光学 + 低倍电子导航定位，结合全自动马达样品台移动观测位置直接观测绝缘体 —— 低真空设计，实现不喷金看绝缘体，且不影响灯丝寿命高度自动化 —— 自动聚焦，自动调节对比度亮度，拍照简单快速放置环境无特殊要求—— 无需独立实验室，无需超净间防震设计 —— 紧凑的一体化设计，可不用防震台摆放在高层远程联网检测 —— 第一时间通过远程联网诊断，售后无忧同时，Phenom XL G2 做出了如下改进，使其在拥有台式扫描电镜操作简单等特点的前提下，具备大型落地式电镜的高分辨率、多功能和拓展性强等优势：1、Phenom XL G2 成为台式扫描电镜中腔室最大的，电镜腔室由原来的 32mm 扩容为 100mm x 100mm，一次可容纳至多 36 个 1/2 英寸样品台，测样效率进一步提高。自动马达样品台的移动范围为 X = 50mm，Y = 50mm（可选配X=100 mm,Y=100 mm）Phenom XL 的样品台2、Phenom XL 提供高、中、低三级真空，可以选配二次电子探测器3、背散射电子探头性能依然优异，背散射电子信号强度跟样品成分衬度有关，可以和能谱良好结合起来背散射 1000X（背散射电子数量与元素的原子序数成正比，元素的原子序数越高，背散射电子数量越多，该元素在图像中的表现越亮）样品未喷金，采用背散射电子成像，更高倍数下清晰看到多种成分衬度，沿着箭头方向从内到外可以看到 4 种不同的成分衬度，且分界线非常明显。代表这 4 个位置元素含量各不相同，并且沿着箭头方向，重元素占比越来越低。4、低电压下成像优势明显，低电压模式下，可以减少对样品的损伤，穿透，能观察到样品表面更真实的形貌 二次电子 5kV, 5000X二次电子 5kV, 5000X二次电子 5kV, 10000X二次电子 5kV, 15000X5、可拓展拉伸台，压力台，大角度倾斜台，高低温样品台等功能性选件● 全自动显微平台Phenom XL G2 + 拉伸台 　　拉伸台是飞纳台式扫描电镜Phenom XL G2一项重大拓展。拉伸台是一种动态观察和分析材料微观变形形貌及断裂机制的手段,在材料科学前沿研究中发挥了重要作用。扫描电镜原位拉伸台的最大特点是,在进行应力—应变力学定量测试的同时, 利用扫描电镜的强大的景深、高空间分辨和分析功能，在微观层面上对材料的力学性能进行动态研究。拉伸台可以为很多材料做拉伸测试，如金属材料(研究韧断过程、应力诱发相变及塑性变形),高分子材料，陶瓷材料等。飞纳台式扫描电镜的原位拉伸台能实现 2N to 1000N 的拉力区间，拉伸速度可实现 0.1mm/min 到 15mm/min，满足几乎所有领域样品的原位拉伸观测。飞纳台式扫描电镜 Phenom XL 拉伸台6、Phenom XL 可选配所有的拓展功能软件选件，如 3D 粗糙度重建系统，纤维统计分析测量系统，孔径统计分析测量系统等

产品性能飞纳台式扫描电镜大样品室卓越版 XL是一款使用高亮度 CeB6 灯丝的大样品室台式扫描电镜。最大样品直径为 100mm，放大倍数 200,000 倍以下， Phenom XL 是您正确的选择。在继承飞纳电镜 15 秒抽真空成像、全自动化操作、直接观测绝缘体、防震设计等优点的基础上，分辨率可以和普通大型钨灯丝电镜媲美，后期被拓展性很强。产品参数光学显微镜：放大 3-19 倍电子显微镜：200,000 倍探测器：高灵敏度四分割背散射电子探测器灯丝材料：1,500 小时 CeB6 灯丝分辨率：优于 8 nm放置环境：采用专业防震设计，可摆放于普通实验室或办公室、厂房加速电压：4.8kV-20.5kV 连续可调抽真空时间：小于 30 秒能谱仪：可选配能谱仪Phenom XL 大样品室卓越版可选配所有的拓展功能软件选件，如 3D 粗糙度重建，纤维统计分析测量系统，颗粒统计分析测量系统，孔径统计分析测量系统。全自动显微平台Phenom XL + 拉伸台 拉伸台是飞纳台式扫描电镜 Phenom XL 一项重大拓展。拉伸台是一种动态观察和分析材料微观变形形貌及断裂机制的手段,在材料科学前沿研究中发挥了重要作用。扫描电镜原位拉伸台的最大特点是,在进行应力—应变力学定量测试的同时, 利用扫描电镜的强大的景深、高空间分辨和分析功能，在微观层面上对材料的力学性能进行动态研究。拉伸台可以为很多材料做拉伸测试，如金属材料（研究韧断过程、应力诱发相变及塑性变形），高分子材料，陶瓷材料等。飞纳台式扫描电镜的原位拉伸台能实现 2N to 1000N 的拉力区间，拉伸速度可实现 0.1mm/min 到 15mm/min，满足几乎所有领域样品的原位拉伸观测。飞纳台式扫描电镜 Phenom XL 拉伸台 复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom-China)，负责 Phenom-World 飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售，提供专业的技术支持和测试服务，飞纳中国拥有最专业的服务团队，提供最优化的解决方案；飞纳中国提出飞纳学校 （Phenom University）的概念，为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训，在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心，目前飞纳在中国已经拥有超过 2000 名用户。

产品简介通过MEMS芯片对样品施加热场控制，在原位样品台内构建热场自动控制及反馈测量系统，结合EDS、EBSD等多种不同模式，实现从纳米甚至原子层面实时、动态监测样品在真空环境下随温度变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的原子级结构和成分演化等关键信息。 我们的优势 高分辨率独创的MEMS微加工工艺，加热芯片视窗区域的氮化硅膜厚度最薄可达10 nm，可达到扫描电镜极限分辨率。优异的热学性能1．高精密红外测温校正，微米级高分辨热场测量及校准，确保温度的准确性。2．超高频控温方式，排除导线和接触电阻的影响，测量温度和电学参数更精确。3．采用高稳定性贵金属加热丝（非陶瓷材料），既是热导材料又是热敏材料，其电阻与温度有良好的线性关系，加热区覆盖整个观测区域，升温降温速度快，热场稳定且均匀，稳定状态下温度波动≤±0.01℃。4．采用闭合回路高频动态控制和反馈环境温度的控温方式，高频反馈控制消除误差，控温精度±0.01 ℃。5．多级复合加热MEMS芯片设计，控制加热过程热扩散，极大抑制升温过程的热漂移，确保实验的高效观察。6．加热丝外部由氮化硅包覆，不与样品发生反应，确保实验的准确性。智能化软件1．人机分离，软件远程控制气体条件，全程自动记录实验细节数据，便于总结与回顾。2．自定义程序升温曲线。可定义10步以上升温程序、恒温时间等，同时可手动控制目标温度及时间，在程序升温过程中发现需要变温及恒温，可即时调整实验方案，提升实验效率。3．内置绝对温标校准程序，每块芯片每次控温都能根据电阻值变化，重新进行曲线拟合和校正，确保测量温度精确性，保证高温实验的重现性及可靠性。技术参数类别项目参数基本参数台体材质高强度钛合金分辨率扫描电镜极限分辨率适用电镜ZEISS、Thermo Fisher等主流电镜EDS/EBSD支持 应用案例Synthetic scheme for thepreparation of ZIF-67 crystalsand GCSEM imagesZIF-67 after heated

透射电子显微镜原位TEM-STM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。 透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统是在标配的STM-TEM样品杆上集成低温环境控制单元，从而实现在透射电镜中进行原位低温电学测量的目的。性能指标 透射电镜指标：● 兼容指定电镜型号及极靴；● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）；● 保证透射电镜原有分辨率。 电学测量指标：● 包含一个电流电压测试单元；● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；● 电流分辨率：优于100 fA；● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 扫描探针操纵指标：● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。 光纤指标：● 光纤外径250 um，保证电镜系统真空指标；● 可选光纤探针、平头光纤、光纤透镜；● 可选SMA接头、FC接头。 产品特色（1）采用双向光纤，可应用于CL光谱、光电探测及电致发光光谱等研究；（2）光电一体化解决方案，具有高拓展性；（3）高稳定性，保证电镜原有分辨率。以上就是提供的PicoFemto透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统，详细咨询：

产品性能：第六代 飞纳台式扫描电镜 Phenom Pure 经济型是一款使用高亮度 CeB6 灯丝的高分辨台式扫描电镜。放大倍数 175,000 倍，用于观察纳米或者亚微米样品的微观结构。基于高亮度 CeB6 灯丝和全新的聚焦系统，Phenom pure 的分辨率轻松达到 10 nm，同时具有全自动操作、15 秒快速抽真空、不喷金观看绝缘体、2-3 年更换灯丝等特点。Phenom Pure产品参数光学显微镜：放大 27 倍电子显微镜：175,000 倍探测器：高灵敏度四分割背散射电子探测器灯丝材料：1,500 小时 CeB6 灯丝分辨率：优于 10 nm放置环境：采用专业防震设计，可摆放于普通实验室或办公室、厂房加速电压：5kV 和 10kV抽真空时间：小于 15 秒Phenom Pure 可升级为高分辨率专业版 Phenom Pro，Phenom Pro 后期可升级为同时具备显微图像和元素成分分析的电镜能谱一体机 Phenom ProX。Phenom Pure 可选配所有的样品杯选件和所有的拓展功能软件选件。复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom-China)，负责 Phenom-World 飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售，提供专业的技术支持和测试服务，飞纳中国拥有最专业的服务团队，提供最优化的解决方案；飞纳中国提出飞纳学校 （Phenom University）的概念，为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训，在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心，目前飞纳在中国已经拥有超过 1000 名用户。