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倍频成像

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倍频成像相关的论坛

  • 【求助】请问倍频的概念？

    请教各位大虾，倍频是个什么概念啊，为什么会出现倍频？还有做共振散射（RLS，有的说是RRS，又有何区别？）要注意什么，该什么做？小弟处涉荧光，不太董，还请不吝赐教。

  • he-ne激光倍频

    我由于实验的需要想把,he-ne激光器发出的633nm的激光倍频成316.5nm,我手头有一个把1064nm倍频为532nm的倍频晶体,不知到对氦氖激光也适用,请指点一下

  • 【求助】倍频峰产生原理

    求助，关于倍频峰，有的说由基态跃迁至第二、三振动能级所产生的吸收峰，称为倍频峰；有的说是光栅二级衍射造成的，请问哪种说法是对的？多谢呀

  • 详解振动试验台的倍频程

    使用过振动试验台的客户都知道,该设备可以做单组、扫频、倍频、可程式,对数五种功能性试验,可满足大多数客户的试验需求。五种功能我们把倍频这个功能单独拿出来给大家讲解一下,了解一下什么是倍频程。倍频程就是频率为2N的两个频率之间的频段成为N个倍频程,意思就是频率比为2就是倍频。　　下面为大家讲解一下振动试验台的倍频程,举以下例子说明。　　例如：频率以2Hz扫频到8Hz称为2个倍频程;　　频率以2Hz扫频到16Hz称为3个倍频程;　　频率以5Hz扫频到20Hz称为2个倍频程;　　频率以5Hz扫频到80Hz称为4个倍频程;　　表达方式为：F1*2N=F2　　式中F1为频率扫描时的低端频率　　F2为频率扫描时的高端频率　　N就是倍频程。

  • MITEQ无源倍频器

    [font=Calibri][font=宋体]倍频器的结构特征包括输入端、输出端、非线性电阻和低通滤波器。输入端接收输入信号，经过非线性电阻的运算后，输出端输出一个倍频信号。低通滤波器用于去除非线性电阻产生的谐波，使输出信号更加纯净。[/font][/font][url=https://www.leadwaytk.com/article/5132.html]MITEQ[/url][font=Calibri][font=宋体]无源倍频器采用无源元件（如二极管）使输入信号的频率加倍。一般转换效率较低，输入功率要求较高。无源倍频器通常用于测试仪器和实验室。[/font][/font]

  • 【讨论】测荧光时有关倍频峰疑问

    测荧光时有关倍频峰疑问，1、刚开始用522nm的发射去采集激发全谱，在522、260、783左右会出现峰，请问 这些都是什么峰，522.783算是倍频吧，但260呢？

  • 【求助】倍频峰滤除的方法

    我用日立4500型荧光光度计在扫描荧光峰时，总会出现倍频峰，它的峰值往往很大，影响荧光峰的观察，请教各位大侠，该如何滤除倍频峰？

  • 倍频带声压级

    请教一下各位大神，倍频带声压级与一般的等效声级有什么却别？用同一台仪器测试还是得分开测定？两者之间有什么联系？

  • 荧光倍频峰如何消去？

    我一个样品， 278nm 激发， 刚好556nm有吸收， 加入另外一种物质， 荧光淬灭， 请问如何消除倍频影响， 我试了， 不加荧光材料，只加另外一种物质 556nm 变化不大，滤光片滤过可以以理服人么？

  • ADI模拟倍频器/模拟分压器

    [url=https://www.leadwaytk.com/article/5091.html]ADI[/url][font=Calibri][font=宋体]模拟倍频器[/font][font=Calibri]/[/font][font=宋体]模拟分压器主要用于构成输出电压或电流的器件，其与两个或多个独自输入电压或电流的倍频成正比例。除去倍频和分压，倍频器还能实行平方、平方根和调制函数。雷达探测、通信和工业控制系统使用需求实时响应。[/font][font=Calibri]ADI[/font][font=宋体]提供专业品种齐全的倍频器和分压器。[/font][/font]

  • 倍频带声压级监测

    一般的噪声仪是否可以测试倍频带声压级，结果的单位是什么？测试这项能反映什么？

  • 消除倍频峰时滤光片的选择

    测荧光发射谱，我的样品激发波长是295nm，审稿人要求我测试的发射光谱截止到650，请教大家，我要滤掉倍频峰的话要用多少波长的滤光片，什么类型，另外滤波片是安置在激发端还是发射端，谢谢！

  • 日立F7000使用中其倍频峰要如何去除（有图有真相）

    各位： 请教一个问题，在F7000上测定了一个三维荧光光谱，发现倍频峰很强，用过其他仪器，可以自动用滤光片去掉，不知道这款可以么？请大神指教，上图。本人在做三维荧光，有兴趣的可以交流，QQ 64416626。中间的十字线是我用QQ拷屏出现的。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305031949_438179_1623897_3.bmp

  • CMD227C3 X、Ku 频段无源倍频器现货库存Custom MMIC

    [font=宋体][font=Calibri]Custom MMIC[/font][font=宋体]的[/font][/font][url=https://www.leadwaytk.com/article/5392.html]CMD227C3[/url][font=宋体][font=宋体]是款选用陶瓷[/font][font=Calibri]QFN[/font][font=宋体]型封装的宽带[/font][font=Calibri]MMIC G[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]AAS[/color][/url] x2[/font][font=宋体]无源倍频器。当由 [/font][font=Calibri]+15 dBm [/font][font=宋体]信号驱动时，[/font][font=Calibri]CMD227C3[/font][font=宋体]在[/font][font=Calibri]23 GHz[/font][font=宋体]输出频率下具备 [/font][font=Calibri]11 dB [/font][font=宋体]转化损耗。[/font][font=Calibri]Fo [/font][font=宋体]和[/font][font=Calibri]3Fo [/font][font=宋体]隔离度分别是 [/font][font=Calibri]38 dBc [/font][font=宋体]和 [/font][font=Calibri]49 dBc[/font][font=宋体]。[/font][font=Calibri]CMD227C3[/font][font=宋体]选用 [/font][font=Calibri]50 [/font][font=宋体]Ω适配设计，不需要 [/font][font=Calibri]RF [/font][font=宋体]端口适配。[/font][/font][font=宋体]特征[/font][font=宋体]低转化损耗[/font][font=宋体][font=宋体]优异的[/font][font=Calibri]Fo [/font][font=宋体]隔离[/font][/font][font=宋体]宽带性能[/font][font=宋体]无需偏见[/font][font=宋体][font=宋体]满足[/font] [font=Calibri]RoHS [/font][font=宋体]标准化的无铅 [/font][font=Calibri]3x3 mm SMT [/font][font=宋体]封装形式[/font][/font][font=宋体]典型应用[/font][font=宋体][font=宋体]电子战（[/font][font=Calibri]EW[/font][font=宋体]）[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]X[/font][font=宋体]波段雷达[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]Ku[/font][font=宋体]波段雷达[/font][/font][font=宋体]区域空间[/font][font=宋体][font=宋体]卫星通讯（[/font][font=Calibri]Satcom[/font][font=宋体]）[/font][/font][font=Calibri]Custom[/font][font=Calibri] MMIC[/font][font=宋体]创立于[/font][font=Calibri]2006[/font][font=宋体]年，是家无晶圆射频和微波[/font][font=Calibri]MMIC[/font][font=宋体]设计公司，[/font][font=Calibri]CUSTOM[/font][font=宋体][font=Calibri] [/font][/font][font=Calibri]MMIC[/font][font=宋体]帮助企业使用同类型中最好的[/font][font=Calibri]MMIC[/font][font=宋体]优化用户的射频信号链。[/font][font=Calibri]CUSTOM[/font][font=宋体][font=Calibri] [/font][/font][font=Calibri]MMIC[/font][font=宋体]是完整的[/font][font=Calibri]ISO[/font][font=宋体]认证设计师和同类型最好[/font][font=Calibri]MMICs[/font][font=宋体]供应商。[/font][font=Calibri]CUSTOM[/font][font=宋体][font=Calibri] [/font][/font][font=Calibri]MMIC[/font][font=宋体]提供持续增长的高性能射频[/font][font=Calibri]/[/font][font=宋体]微波[/font][font=Calibri]MMIC[/font][font=宋体]产品线。[/font][font=Calibri]QORVO[/font][font=宋体]作为美国著名的微波与毫米波领先制造商，为全世界用户提供最高规格的[/font][font=Calibri]GaN[/font][font=宋体]和[/font][font=Calibri]G[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]AAS[/color][/url][/font][font=宋体]产品，[/font][font=Calibri]Qorvo[/font][font=宋体]在[/font][font=Calibri]2020[/font][font=宋体]年完成[/font][font=Calibri]Custom MMIC[/font][font=宋体]收购。[/font][font=宋体]深圳市立维创展科技有限公司授权代理销售[/font][font=Calibri]Custom MMIC[/font][font=宋体]产品线，如有需求欢迎咨询我们！！！[/font]

  • 【求助】不导电样品的背散射电子成像

    水泥为不导电的物质，前段时间在普通场发射扫描电镜上观察了样品的形貌，并做了能谱分析。但由于喷金处理，背散射电子成像不能进行(样品中元素特征被金元素掩盖)。老师说要用环境扫描电镜做就可以实现，因为样品不需要喷金。扫描电镜对比较轻的元素判断并不是很准确敏感我在想还是用普通电镜做，但采用喷碳处理，是否可以进行背散射电子成像呢，希望大家能帮帮我。

  • 背散射探头无法成像

    用了电镜低真空模式后，切换了高真空模式，然后二次电子图像就很模糊，背散射探头就更离谱了，成像全是条纹。求助各位电镜大佬，会不会是里面的水汽影响了信号的收据呢。[img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/02/202302272234549648_856_5385925_3.png[/img]

  • 新X光乳腺成像法可使辐射剂量降低25倍

    中国科技网讯 据物理学家组织网10月22日报道，一个国际研究小组开创了一种新型X光乳腺成像方式，能够以比现在常用的二维放射摄影术低出约25倍的辐射剂量拍摄乳房的三维X光图像。同时，新方法还能使生成的三维高能X射线计算机断层扫描（CT）诊断图像的空间分辨率提升2倍至3倍。相关研究论文发表在同日的美国《国家科学院学报》在线版上。 目前常用的乳腺癌扫描技术是“双重视图数字乳腺摄影术”，它的缺陷在于只能提供两幅乳腺组织的图像，这就解释了为何10%至20%的乳腺肿瘤都无法被探测到。此外，这种摄影术偶尔也会出现异常，造成乳腺癌的误诊。 而CT这种X射线技术虽能生成精确的人体器官三维可视图像，但却不能经常应用于乳腺癌的诊断之中，因为其对于乳房等对辐射敏感的器官而言，可能造成长期影响的风险过高。 新技术则有望克服上述限制。目前科研人员正在利用同步加速器X光对这一技术进行测试，其一旦在医院投入使用，将使CT扫描成为能够补充双重视图数字乳腺摄影术的诊断工具之一。 高能X射线和相衬成像技术的使用，再加上复杂的新型EST数学算法，能够基于X光数据重建CT图像，使CT扫描有望用于早期的乳腺癌排查，成为抗击乳腺癌的强大工具。身体组织将在高能X射线的照射下变得更加透明，因此所需的辐射剂量能够显著降低6倍左右。相衬成像也允许在拍摄同样的照片时使用更少的X射线，EST算法也可在降低4倍辐射的情况下获得相同的图像质量。研究团队以这种方式从多个不同角度拍摄了512张乳房图片，并据此形成了比传统乳腺摄影清晰度、对比度和整体图像品质更高的三维图像。 科研人员称，这些高质量的高能X射线CT图像是欧洲同步加速器辐射源（ESRF）研究中心10年的奋斗成果，同样付出努力的还有德国慕尼黑大学以及美国加州大学洛杉矶分校。他们还表示，下一步的研究目标是基于此项技术实现其他人类疾病的早期可视化，并开发出大小适合的X射线源，力图早日实现该技术的临床应用。（张巍巍） 《科技日报》（2012-10-24 二版）

  • 【原创大赛】二次电子与背散射电子成像区别

    【原创大赛】二次电子与背散射电子成像区别

    [align=center][b]二次电子与背散射电子成像区别[/b][/align] 二次电子检测器和背散射电子检测器是扫描电子显微镜常用检测器。二次电子检测器成像速度快，在快速扫描时很容易对焦，图像立体感强，背散射电子检测器在快速扫描时图像有带状条纹，对焦成像条件一般依赖二次电子检测器（即在调整好二次电子像参数后启动背散射电子检测器成像）。 散射电子检测器一般是被嫌弃的，因为它成像分辨率低（图1）。造成分辨率不同的原因是二者检测的信号源不同。二次电子（SE）的能量小于50ev，二次电子信号主要来自试样表层，深度大约5～10 nm，反映试样表面的形貌。背散射电子（BSE）是受到试样原子核的弹性和非弹性散射而被反射回的一部分入射电子，能量大于二次电子(SE)（图2）[sup][/sup]。一般来说，背散射电子的能量大于50ev，背散射电子反映试样表面50～200 nm深度的信息，激发区域大于二次电子。[img=,690,282]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807261522354238_7646_2265735_3.jpg!w690x282.jpg[/img][b]图1 金纳米粒子二次电子图像(A)和背散射电子图像（B）。[/b]背散射电子图像分辨率低于二次电子图像(图中红色箭头指示处)。JEOL-7800F扫描电子显微镜，工作距离10mm。[img=,690,518]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807261523412701_7969_2265735_3.png!w690x518.jpg[/img][b]图2 当加速电子轰击分析物激发的各种信号[sup][/sup][/b]。二次电子（SE）和背散射电子（BSE）是扫描电镜成像的基础信号。 二次电子和背散射电子有一定的方向性，背散射电子更加靠近入射法线。一般二次电子的探测器装在电镜样品仓侧面（在物镜内部，小工作距离的高分辨二次电子探头不在这里讨论）,背散射探头的探测晶体直接安装在物镜下面，中心与物镜光学中心重合。探测器的安装位置和电子不同的反射角度会影响图像的明暗。图3是硅球的扫描电镜图。二次电子图像的有较大阴影，球的中心位置阴影最明显，与之相反背散射电子图像球的中心位置最亮。[img=,690,266]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807261527144207_5694_2265735_3.png!w690x266.jpg[/img][b]图3 硅球的二次电子图像(A)和背散射电子图像（B）[/b]。JEOL-7800F扫描电子显微镜，工作距离10mm。 背散射电子检测器也有自己的独特之处，有的时候可以成功逆袭二次电子探测器。背散射电子图像具有一定的Z轴衬度，与晶体取向有关，电子强度与物质组成有关，可以显示样品内部结构，也就是说背散射电子图像可以用来分析复合材料。在试验条件相同的情况下，背散射电子信号的强度随分析物[b]平均原子序数[/b]增大而增强，在样品表层平均原子序数较大 的区域，产生的背散射信号强度较高[sup][/sup]。目前商品化的背散射电子检测器可以区分元素周期表相邻的两个元素。图4显示在基底上镀镍（28号元素）和铜（29号元素），在二次电子图像上几乎看不出是两个不同的镀层，能谱分析显示两个镀层有明显的界限，背散射电子图像不仅可以完美区分两个镀层，对镀层的缺陷也比背散射电子图像更加明确的呈现出来。[img=,690,349]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807261530426736_7830_2265735_3.png!w690x349.jpg[/img][b][b]图4 不同镀层的扫描电子显微镜分析[/b]。A，二次电子图像；B，EDS能谱图像；C,背散射电子图像。JEOL-7800F扫描电子显微镜，工作距离10mm。牛津（oxford）能谱仪。[/b] 目前扫描电镜分析已经逐渐脱离单纯的形貌分析，组成和相分析更加有助于我们深刻理解材料的构成和性质。我们在常规扫描电镜实验中，调用一下常常被忽略的背散射电子检测器，在几乎不增加工作量的情况下也许会有意外的收获。[b]参考文献[/b] 1.JEOL指导手册,A Guide to Scanning Microscope Observation 2.Bozzola, J.J., Russell, L.D., 1999.Electron Microscopy: Principles and Techniques for Biologists, 2nd ed. Jonesand Bartlett Publishers, Boston, NY.

  • GB22337-2008倍频带声压级相关问题咨询

    GB22337-2008倍频带声压级相关问题咨询

    如图所示，在测量低频噪音时，已经是计算了10s的等效，假如测量了多组10s等效，还需要对这些再进行求平均吗？如果用平均来表示的话，想要测出低频超标可就太难了。 万分感谢！！！[img=,690,287]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/05/202205122135015604_3976_5229416_3.png!w690x287.jpg[/img]

  • 【讨论】低角度背散电子和大角度背散电子(YAG探头接收)成像的差别咋这么大呢?

    我们有一台日立的超级SEM (Model S-5200)配了两个背散射电子探头, 一个是普通的背散探头, 另一个是YAG背散探头.从说明书上看YAG探头接收的背散电子出射角很小, 而普通的背散探头接收的背散电子出射方向与样品水平面的夹角要小. 我要问的问题是为什么不同角度的背散电子成像咋这么大. 另一个问题是, JSM6700F SEM 它配了两个二次电子探头, 一个是Inlens探头, 另一个是叫LOW Detector低角度二次电子探头(LEI), 它不在光路内,即outlens类型的, 但它和其他场发射电镜的out-lens 二次电子探头成的象也有很大差别, 这是什么原因呢?请各位大侠百忙之中抽点空释释疑. 谢谢.

  • 什么是扫频振动试验台

    什么是扫频振动试验台

    扫频振动试验台是指在试验过程中维持一个或两个振动参数(位移、速度或加速度)量级不变，而振动频率在一定范围内连续往复变化的试验。线性扫描化是线性的，即单位时间扫过多少赫兹，单位是Hz/s或Hz/min，这种扫描用于细找共振频率的试验.　　对数扫描频率变化按对数变化，扫描率可以是oct/min、oct是倍频程。如果上限频率fH，下限fL，fH/fL=2n，n就是下限频率到上限频率经过了n个倍频程，求n的公式为：http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/04/201604151019_590445_2930782_3.jpg　　扫频振动试验台对数扫描的意思是相同的时间扫过的频率倍频程数是相同的，例如从5-20Hz是两个倍频程，从500-2000Hz也是倍频程。在对数扫描的情况下，扫过这两段的时间是相同的。就是说对数扫描时低频扫得慢而高频扫得快(这当然是指单位时间扫过的频率范围)。有时对数扫描率还用于Dec/min，含意是每分钟扫多少个十倍频程。　　扫频振动试验台主要用于：a) 产品振动频响的检查(即最初共振检查)，确定共振点及工作的稳定性，找出产品共振频率，以做耐振处理。b)耐扫频处理：当产品在使用频率范围内无共振点时，或有数个不明显的谐振点，必须进行耐扫频处理，扫频处理方式在低频段采用定位移幅值，高频段采用定加速度幅值的对数连续扫描，其交越频率一般在55-72Hz，扫频速率一般按每分钟一个倍频进行。c) 最后共振检查：以产品振动频响检查相同的方法检查产品经耐振处理后，各共振点有无改变，以确定产品通过耐振处理后的可靠程度。

  • 这个怎么看五个倍频

    这个有会看的亲友吗？万分感激！[img=,690,920]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/12/202012310749290571_310_5154731_3.png[/img]

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