背景校正

什么是氘灯背景校正、塞曼背景校正、超脉冲背景校正？

新到的PE900T，关于背景校正有些问题，请教各位老师！我在灯设置中打开背景校正，界面显示绿色的元素灯能量和黄色的氘灯能量，应该是已经开启了。但当我点击分析样品时，软件会显示重新设置光谱仪，再开始测。我之后再打开灯设置，发现氘灯已经关了。请问一下，这是哪里设置出了问题吗？

论坛的各位老师你们好，想请教一下“背景”、“背景曲线”、“背景校正”它们的含义和它们之间相互的关系是什么！

于ICP光谱仪来说，基体匹配是最理想的，但在很多情况下，都是不现实的。由于样品之间的成分不同、样品与标准之间的成分不同、连续光谱以及谱线拖尾都可能导致背景干扰，因此要得到正确的分析结果，背景校正就显得非常重要。如果不实行背景校正，则在每个峰值中心位置确定的原强度被用于计算浓度。较高的峰值比未受镁影响的峰值获得较高的分析结果。对于这种背景来说，背景校正是必需的。背景校正消除了由于背景抬高所带来的干扰。浓度是以净强度为基础计算的。净强度＝原强度－背景强度在选择背景位置时，应遵循：1） 将背景位置定在尽可能平坦的区域（无小峰）。2） 将背景位置定在离谱峰足够远的地方，从而不受谱峰两翼的影响。左背景、右背景以及左右背景强度的平均值尽可能与谱峰背景强度一致。

因为不是学分析的，之前做的人好像也是半路出家，所有有不少不懂的地方，请教大家想问问什么情况下需要进行背景校正，看到有人说好像做样就必须进行背景校正，可是我们平时做的时候尤其火焰好像从来都是直接分析的，不用校正，想问问依据什么来判断是否需要校正，谢谢了

[size=3][font=宋体]我接触过的[/font][/size][size=3][font=Arial]AAS[/font][/size][size=3][font=宋体]背景校正技术有[/font][/size][size=3][font=宋体]氘灯连续光源背景校正和塞曼效应背景校正。[/font][/size][size=3][/size][size=3][font=Times New Roman]1[/font][/size][size=3][font=宋体]、[/font][/size][size=3][font=宋体]连续光源背景校正：[/font][/size][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][size=3][font=宋体]这是现代[/font][/size][size=3][font=Times New Roman]AAS[/font][/size][size=3][font=宋体]仪中应用最广泛的一种[/font][/size][size=3][font=Times New Roman]AAS[/font][/size][size=3][font=宋体]仪器背景校正方法，主要应用于火焰法的背景校正，它占有相当重要地位。[/font][/size][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][size=3][font=宋体]原理：用待测元素[/font][/size][size=3][font=Times New Roman]HCL[/font][/size][size=3][font=宋体]的辐射作样品光束，测量总的吸收信号，用连续光源（多用是氘灯）的辐射作参比光束，在同一波长下测量吸收值。对连续背景，它对[/font][/size][size=3][font=Times New Roman]HCL[/font][/size][size=3][font=宋体]和连续光源辐射有相同的吸收，待测原子对连续光源也有吸收，但由于元素分析线很窄，不到通带宽度的[/font][/size][size=3][font=Times New Roman]1%[/font][/size][size=3][font=宋体]，故可以忽略，连续光源所测值可视为纯背景吸收，光辐射交替通过原子化器，两次所测吸光值相减使背景得到校正。[/font][/size][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][size=3][font=宋体]在实际使用时，要求精心调配使氘灯连续光源和[/font][/size][size=3][font=Times New Roman]HCL[/font][/size][size=3][font=宋体]锐线光源强度匹配，并尽可能使光斑重合一致。[/font][/size][size=3][font=宋体][/font][/size][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]由于氘灯[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]在长波范围（大于[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]350.0nm[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]）内能量较低，要与碘钨灯配合适用。该法应用波段有限制，有时还产生背景校正过度或不足。如果共存物的原子对通过单色器的连续辐射产生吸收，会出现补偿过度现象。连续光源背景校对[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]火焰法[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]较好，对石墨炉效应不佳。[/font][/size][/color][color=black][size=3][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]2[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]、[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]塞曼效应背景校正：[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]主要运用于石墨炉的背景校正。[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]原理：吸收线在磁场作用下，产生分裂成平行磁场[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]π[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]组分和垂直于磁场[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]α[sup]+[/sup]、α[sup]-[/sup]组分。偏振组分α[sup]+[/sup]、α[sup]-[/sup]有中心波长位移，若频移足够大时，不为待测物所吸收，测量的只是背景吸收，若恒定磁场调制方式，π组分和背景吸收所测吸光值为[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]于背景吸收的总吸收值。若是交变磁场调制方式，当磁场关闭时，吸收相不发生分裂。所测吸光值为[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]于背景吸收的总值。将两种测定值相减（即[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]与背景吸收总值减去背景吸收值）可以使背景得到校正。[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]缺陷：恒定磁场往往塞曼效应谱线分裂不完整，而降低测量的准确性 。 同时仪器灵敏度往往低于正常AAS的一半。永久磁长期使用会退磁。若采用旋转偏振器，会出现某种程度不平衡，使背景校正能力下降，由于上述缺陷，仪器公司采用横向交流交变磁场吸收线调制法。但如果交变磁场强度不够，工作曲线出现反转。[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]进展：有公司开发纵向交流交变磁场，省略可偏振元件，使分析动态范围大大拓宽。从仪器使用考虑，选择应用横向交流塞曼效应较好，这种系统具有最佳双光束性能，背景校正能力高而准确，线性和灵敏度于常规AAS相类似，检出限比连续光源背景校正器好。分析（工作）曲线反转问题较少。能全波段背景校正。近来有仪器公司推出了3-磁场塞曼效应背景校正技术，该模式除高磁和零磁场之外，还有第三个中间磁场强度，可根据被测浓度要求，通过软件选择最佳中间磁场强度可使动态范围扩展10倍。[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]综上所述，我们是否可以归纳为：氘灯连续光源背景校正是相对扣背景，塞曼效应背景校正是绝对扣背景？换言之，氘灯扣背景是在同一波长下扣的，氘灯是连续光源，元素灯是锐线单波长光源；塞曼扣背景是将光裂分为两个方向，一个方向是元素光，另一个方向是背景光。[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]假如果真塞曼扣背景是完全扣除，那么我们是否可以不必理会背景峰形是怎么样的，不管背景峰是正峰还是倒峰，只要保证同支溶液两次检测时其背景扣除大致一样就行？[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体][/font][/size][/color][size=3][font=Times New Roman] 请版友们各发已见，谢谢！[/font][/size]

背景校正技术应用中的几个问题根据背景校正误差源的分析，一种优良的背景校正方法，其整个背景校正过程必须满足三个条件：1.两次测量必须在同一分析谱线波长进行2.两次测量必须在同一时间进行3.两次测量光束在原子化器中完全重合，具有相同的测量体积目前已经商业化的三种背景校正方法（氘灯，塞曼，自吸收）都不能完全满足上述3个条件。连续光源波长调制法，虽然实现了两次测量必须再同一时间进行，但未能完全满足必须再同一波长的要求，所以说目前的背景校正方法没有哪个是十全十美的。将背景校正方法用于分析实践时，问题更加复杂其中光子噪声的影响不能忽视。光子噪声对背景校正的影响主要是光子噪声增大时，背景校正精度变差，严重影响分析结果。光子噪声增大又是背景吸收产生的，二者存在一个互相制约的最佳状态。光子噪声的大小与空心阴极灯质量，灯电流，光谱通带等因素有关。如何正确运用背景校正方法？背景校正的准确与否直接关系着检测结果的准确性，需要在平时工作中积累。一）要充分了解分析样品和分析元素的状况和特性。初步分析和预测可能发生的背景吸收是什么，在此基础上，合理选择背景校正方式，尽可能利用和发挥所选方法和仪器的长处。二）在工作过程中，要尽可能想办法降低背景吸收，不要追求在实验中校正高吸收的背景。降低背景吸收的方法：（改变前处理方法，加入改进剂，优化仪器程序等等）三）认真观察，仔细分析和处理试验过程中发生的各种问题，比如认真观察石墨炉原子化图。

请问大家，请大家解答，谢谢！！！！在德国耶拿的AAS培训资料上写道：塞曼背景校正：磁场开启，测定总吸收值(元素特征+非特征背景干扰)；关闭磁场，测定背景吸收（非特征背景干扰)；两值之差既是经过校正了的元素特征吸收。-----------------------------------------我的疑问是？耶拿的资料是不是错了？是否应该是：磁场开启，测定总吸收值(非特征背景干扰)，即测定背景；关闭磁场，测定背景吸收（元素特征+非特征背景干扰)；即测定背景+AA。

请问 PE 900 T 的火焰和石墨炉背景校正都是氘灯校正吗？看到有贴评论说：火焰的氘灯校正，石墨炉是塞曼校正。这是真的吗？

ICP重叠校正和背景校正 BGC1 BGC2 这些是什么意思啊 还有就是关于内标 完全不懂内标怎么用

如题，背景校正的BGC-1 BGC-2 代表神马意思？还有就是IEC MSF是什么，在什么情况下使用初学着 请各位大虾多多帮助小弟

2.0背景吸收信号扣除不完全. 2. BG=BG'的可能性极小。 3. 由于光源、分光元件在不同波长区域的能量差异，使两束光能量平衡 时的信噪比有很大的差别 4. 元素原子性质的差异性，样品共存物的多样性使得原子吸收信号和背 景吸收信号以及两种吸收信号之间的关系变得十分复杂，背景校正能 力不可能满足一切要求。几种背景校正的主要优缺点：1. 氘灯背景校正 目前商品仪器中唯一使用双光源的背景校正技术。 1.1 空心阴极灯与氘灯光源成像光斑大小不同，即使 光斑的同心度调整得好，两者通过样品的原子化区仍 有不同，会影响背景校正的效果。 1.2 氘灯辐射的连续光谱波长范围是200-400nm，对于 分析波长位于长波区的元素无法使用。（但常见的盐 类共存物的背景吸收多位于短波区） 1.3 辐射光能量的损失在几种常用的背景校正装置中是比 较小的 1.4 背景吸收的校正技术不依靠原子光谱线的变异，因而 原子吸收信号的损失是最小的。2. 自吸效应背景校正 2.1 较其他背景校正装置来说是最简单的。既不需要第二 光源，也不需要复杂的磁场系统与偏振装置，是利用 了空心阴极灯供电特性来形成原子光谱的自吸收效 应。 2.2 不用任何附加装置而实现全波段背景校正。双束光 中其一是对应待测元素原子的空心阴极灯用宽脉冲低 电流供电产生的正常原子光谱，另一束则是空心阴极 灯用窄脉冲高电流供电导致谱线展宽，并产生自吸收 效应的同一原子光谱线。例如瑞利公司的WFX-210 中灯电源供电方式，100Hz窄方波脉冲+400Hz宽方波脉 冲 2.3 不同元素原子特性不同，产生自吸收效应的差异很 大，对于自吸收效应小的元素，原子吸收信号损失较 大。 2.4 两束光的光斑大小相同而且光路完全一致，不需要调 整。 2.5 不因背景校正而增加新的光学元件，光能损失是最小 的。3. 塞曼效应背景校正： 3.1 由于需要很高的磁感应强度，装置体积很大也很复 杂，并且使置身其中的原子化器结构也相当复杂。 3.2 横向磁场塞曼效应背景校正技术需用偏振棱镜分离不 同偏振方向的光束，使光能损失较大，但纵向磁场并 不是说就一定比横向磁场好。 3.3 不同元素原子的塞曼分裂光谱结构差异很大，对于塞 曼分裂光谱结构复杂的原子，其原子吸收信号的损失 比较大，而且有时产生校正过度的情形。 3.4 只用待测元素空心阴极灯为光源，实现全波段背景校 正毫无问题，但能量损失大，对一些谱线发射强度弱 的元素的空心阴极灯提高辐射光强有特别的要求。 3.5 目前加在原子化器的磁场系统只有横向恒磁场可以在 火焰原子化器与石墨炉原子化器上同时使用，其他形 式的磁场系统只能用于石墨炉原子化器。例如，瑞利 公司的WFX-810，就是使用了横向恒磁场。 如有错误还请各位大虾回帖指正，不吝赐教。 如果觉得归纳得还行，还请各位大虾多多回帖，小弟谢了！

氘灯和塞曼背景校正技术不是太明白 那位专家给帮忙解释解释啊 或者有没有好的书籍或者文献推荐 啊 谢谢

[b][color=#000099]我正想向版主专家请教[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原吸[/color][/url]的背景校正，无意中在一论坛上看到如下的介绍，现转来至此，请这里的版主专家审一下，对吗？全吗？[/color][/b]背景的产生具有波长、时间和温度特性。背景校正装置有氘灯校正背景、塞曼效应校正背景、自吸收校正背景等3 种。[color=#ff0000]　[b]　一、氘灯背景校正装置[/b][/color]　　氘灯背景校正装置就是一只氘灯及其相应的电源。氘灯安装在侧光路上，需要背景校正时，将它移入测量光路，或者通过一块半透半反镜将氘灯的光引入测量光路。　　切光器或半透半反镜可使锐线光源与氘灯连续光源交替进入原子化器。锐线光源测定的吸光度值为[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]与背景吸收的总吸光度。连续光源所测吸光度为背景吸收，因为在使用连续光源时，被测元素的共振线吸收相对于总人射光强度是可以忽略不计的。因此连续光源的吸光度值即为背景吸收。将锐线光源吸光度值减去连续光源吸光度值，即为校正背景后的被测元素的吸光度值。　　氘灯校正法灵敏度高，应用广泛。非常适合火焰校正，在火焰和石墨炉共用的机型中，采用氘灯校正法是最折衷的方法，虽然在石墨炉中氘灯校正法不及塞曼效应背景校正理想，但在火焰分析中由于火焰产生的粒子造成光散塞曼效应射而使塞曼效应无法正常地进行磁场分裂，氘灯校正法在火焰分析中比塞曼效应校正法优越的多。　[color=#ff0000][b]　二、塞曼效应校正背景[/b][/color]　　塞曼效应校正背景是基于谱线在磁场中发生分裂和分裂组分偏振特性的一种校正背景的方法。塞曼效应背景校正器由固定或可变磁场和起偏器、检偏器组成。当仅使用石墨炉进行原子化时，最理想是利用塞曼效应进行背景校正。塞曼效应分为正常塞曼和反常塞曼效应：[b]　　a、正常塞曼效应背景校正[/b]　　光的方向与磁场方向垂直，在强磁场作用下，[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]线分裂为π和δ+组分：π平行于磁场方向，波长不变 δ+组分垂直于磁场方向，波长分别向长波与短波移动。这两个分量之间的主要差别是π分量只能吸收与磁场平行的偏振光，而δ+分量只能吸收与磁场垂直的偏振光，而且很弱。引起的分子完全等同地吸收平行与垂直的偏振光。即δ+组分为背景吸收，π组分为[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]。　　在原子化器上加一电磁铁，电磁铁仅原子化阶段被激磁，偏振器是固定不变的，它只让垂直于磁场方向的偏振光通过原子化器，去掉平行于磁场方向的偏振光。在零磁场时，吸收线不发生分裂，测得的是被测元素的[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]与背景吸收的总吸光度值。激磁时测得的仅为背景吸收的吸光度值，两次测定吸光度之差，就是校正了背景吸收后被测元素的净吸光度值。　　正常塞曼的缺点是在光路中加有偏振器，去掉平行于磁场方向的偏振光，使光的能量损失了一半，大大降低了检测的灵敏度。[b]　　b、反常塞曼效应背景校正[/b]　　光的方向与磁场方向水平，当光通过在原子化器上加一电磁铁，在强磁场作用下，抑制了π组分([url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url])的产生，只产生δ+组分(背景吸收)。在不通电无磁场存在下，空心阴极灯的共振线通过石墨炉，测得待测元素和背景吸收的总和。通电后在强磁场存在下，产生反常塞曼效应，此时只有共振线分裂后产生的δ+组分通过石墨炉，其不被基态[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]，仅测得背景吸收。通过两次吸光度之差，即可进行背景校正。反常塞曼由于光路中没有偏振器，光的能量较正常塞曼多50%，检测灵敏度较正常塞曼高。　　塞曼效应使用同一光源进行测量，是非常理想的校正方法，它要求光能集中同方向地通过电磁场中线进行分裂，但在火焰分析中，由于火焰中的固体颗粒对锐性光源产生多种散射、光偏离，燃烧时粒子互相碰撞等因素产生许多不可预见因素，造成光谱线分裂紊乱，在火焰中的应用极不理想。并且，塞曼效应的检测灵敏度低于氘灯校正法。[color=#ff0000][b]　　三、自吸收背景校正[/b][/color]　　当空心阴极灯在高电流工作时，其阴极发射的锐线光会被灯内产生的原子云基态[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]，是发射的锐线光谱变宽，吸收度下降，灵敏度液下降。这种自吸现象无法避免。因此，可首先在空心阴极灯低电流下工作，使锐线光通过原子化器，测得待测元素和背景吸收的总和。然后使它在高电流下工作，通过原子化器，测得相当于背景的吸收。将两次测的吸光度相减，就可扣除背景的影响。优点是使用同一光源，不足是加速空心阴极灯的老化，其寿命只有正常的1/3。

单位需要购买一台原吸（火焰和石墨炉一体），主要用于石油石化行业产品里金属元素的微量分析。对于仪器的背景校正问题，我们在查阅的各个仪器厂家的资料的时候；发现主要有三种校正方式：连续光源法（氘灯法），塞曼方法和自吸收法。 想问问各位这三种校正方式的原理、如何在仪器上实现，有什么优缺点（尤其是塞曼法和自吸法）；准确度和灵敏度怎么样？还有就各个原吸的品牌是用什么原理、性能和价格都有什么特点。 多谢各位多多指教新人！

应用塞曼效应进行背景校正时，仪器结构并不是固定或一致的，校正方式也可进一步细分为若干种，它们与磁场位置、磁场方向、以及磁场性质等方面的不同选择都是息息相关的：1.塞曼背景校正装置的安装位置不同分为光源调制与吸收线调制两种，前者是指光源在磁场中发射线的塞曼分裂，后者是指原子化器在磁场中吸收线的塞曼分裂。2.而由于磁场与光束间的方向不同又分为垂直（横向塞曼效应）与平行（纵向塞曼效应）两种。3.而根据磁场自身的工作方式又可分为两种：采用恒定磁场的偏振调制方式、采用交变磁场的磁场调制方式。上述这三条依次组合会有2*2*2＝8种形式的塞曼背景校正方式：光源调制横向恒磁场塞曼背景校正光源调制纵向恒磁场塞曼背景校正光源调制横向交变磁场塞曼背景校正光源调制纵向交变磁场塞曼背景校正吸收线调制横向恒磁场塞曼背景校正吸收线调制纵向恒磁场塞曼背景校正吸收线调制横向交变磁场塞曼背景校正吸收线调制纵向交变磁场塞曼背景校正但是：1.光源调制方式对于仪器光源结构有较大要求，使得元素灯不具有通用性，逐渐被市场所淘汰吧就算...因此，目前市场上的塞曼背景校正的仪器都是采用原子化器调制方式，没有使用光源调制的类型了。2.关于横向与纵向磁场的问题。横向磁场效应产生的是波长不变的π成分和波长变化的σ±成分，前者用于测量原子吸收信号，后者不产生原子吸收信号，是用于对背景校正。而纵向磁场仅能产生σ±成分，也就是说仅能产生背景信号。3.因此，横向磁场可以使用恒定磁场和交变磁场来实现原子吸收与背景吸收的测量。而纵向磁场只能采用交变磁场，通过磁场的有无来分别实现对原子吸收信号和背景信号的测量，纵向磁场若采用恒定磁场则只有背景信号，不能用于原子吸收仪器分析。纵上所述，所以目前市场上只有3种塞曼背景校正的仪器：吸收线调制恒定磁场横向塞曼型：WFX-810型（北京瑞利分析仪器公司）Z8000/Z5000/Z2000系列（日本Hitachi公司）吸收线调制交变磁场横向塞曼型：ZEEnit系列（德国analytik-jena公司）Z3030型（美国Perkin-Elmer公司）吸收线调制交变磁场纵向塞曼型：ZL4100/Z600/Z800 AnalytTM600/800型（美国Perkin-Elmer公司）继续，这就引起了一个问题，就是您所提到的问题了，采用交变磁场背景校正的，它必须要求有复杂、庞大的电路系统，而且磁间隙有限，现有的机械、电学、物理学等水平决定了它不能够生产出有火焰燃烧缝那么长（一般15cm左右）的磁场，仅仅应用于石墨炉分析的纵向交变磁场的正常消耗功率就已经达到了4kW！这已经对用于分析的实验室的电路造成了很大的负荷，而且还不包括石墨炉电源，仅仅是它的交变磁场就是4kW了。因此目前采用交变磁场背景校正的仪器，仅仅是石墨炉分析而已，仪器在火焰一侧的背景校正方式采用的必然是D2灯。而横向恒定磁场就没有这个问题了，可以实现火焰与石墨炉的塞曼背景校正，但是并不是说这就比交变磁场要好或是技术更先进，应该说是各有所长也各有所短，真正的评判依据在于用户，用户分析自己的样品适用的方式，就是对他来说好的方式。对本文中出现的错误或各位读者有什么意见建议，欢迎大家批评指正...加一句：原创帖是个人知识、智慧与汗水，应用或转载请注明出处...不关是我的帖子，所有原创帖大家都应支持与保护！谢谢！

为回答[b]l_a_lakers[/b]版友上次提的问题（我想请问还有关于塞曼校正及氘灯扣背景的操作及原理扫盲帖），这期的扫肓贴推出背景校正技术，此贴为总结和拼凑所得，仅对于原理方面的阐述，水平有限，请版友们指正，也欢迎各版友提问题，征集扫盲贴主题，PE[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原吸[/color][/url]的版主和专家歇诚为你们解答，当然水平有限，希望能对你们有所帮忙，大家互相学习交流，壮大PE[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原吸[/color][/url]版面。背景校正技术 AAS仪中已有氘灯和碘钨灯连续光源背景校正、塞曼效应背景校正和空心阴极灯强脉冲自吸背景校正等方法。其中塞曼效应校正背景还衍生出几种不同的磁场调制与排列方式。以下介绍各种背景方法要点。 连续光源背景校正：这是现代AAS仪中应用最广泛的一种AAS仪器背景校正方法，尤其在FAAS中，它占有相当重要地位。其原理为：用待测元素HCL的辐射作样品光束，测量总的吸收信号，用连续光源（多用是氘灯）的辐射作参比光束，在同一波长下测量吸收值。对连续背景，它对HCL和连续光源辐射有相同的吸收，待测原子对连续光源也有吸收，但由于元素分析线很窄，不到通带宽度的1%，故可以忽略，连续光源所测值可视为纯背景吸收，光辐射交替通过原子化器，两次所测吸光值相减使背景得到校正。在实际使用时，要求精心调配使氘灯连续光源和HCL锐线光源强度匹配，并尽可能使光斑重合一致。近年，Jena公司通过设计氘空心阴极灯的几何形状和成象光学部件，使两种辐射光束穿过完全相同的吸收体积，有效地避免了因双灯源的采用，而带来的光学平衡问题。由于氘灯 在长波范围（大于350.0nm）内能量较低，要与碘钨灯配合适用。该法应用波段有限制，有时还产生背景校正过度或不足。如果共存物的原子对通过单色器的连续辐射产生吸收，会出现补偿过度现象。连续光源背景校对FAAS较好，对GFAAS效应不佳。 自吸效应背景校正：自吸效应背景校正法，又称S-H法，其原理：以低电流脉冲供电。空心阴极灯发射锐线光谱，测的[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]与背景吸收的总吸光度，以短时高电流脉冲供电发射线产生自吸效应，辐射能量由于自吸变宽而几种与原波长的两侧。不为原子蒸气所吸收，所测为背景吸收值。将两值相减得到校正后的[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]值。这种方法是简单和成本低，能校正某些结构背景与原子谱线重叠干扰，无光能损失，可以进行全波长校正但许多元素不能产生自吸，两种脉冲电流下HCL谱线宽度有差别，校正不够精确，有些元素如Al、Ca、Sr、Ba、V 等其灵敏度降低，检出限变差，强脉冲电流影响HCL的寿命，该法仅适用于FAAS法。对GFAAS法效果不明显，基本上作为其他校正法的补充。 塞曼效应背景校正：这种背景校正的基础是：吸收线在磁场作用下，产生分裂成平行磁场 π组分和垂直于磁场α+、α-组分。偏振组分α+、α-有中心波长位移，若频移足够大时，不为待测物所吸收，测量的只是背景吸收，若恒定磁场调制方式，π组分和背景吸收所测吸光值为[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]于背景吸收的总吸收值。若是交变磁场调制方式，当磁场关闭时，吸收相不发生分裂。所测吸光值为[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]于背景吸收的总值。将两种测定值相减（即[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]与背景吸收总值减去背景吸收值）可以使背景得到校正。目前商品仪器有两大类：恒定磁场（固定磁场）和交变磁场，可配置于光源上或原子化器。近年来，以配置在GFAAS较多，火焰应用较少。恒定磁场往往塞曼效应谱线分裂不完整，而降低测量的准确性 。 同时仪器灵敏度往往低于正常AAS的一半。永久磁长期使用会退磁。若采用旋转偏振器，会出现某种程度不平衡，使背景校正能力下降，由于上述缺陷，仪器公司采用横向交流交变磁场吸收线调制法。但如果交变磁场强度不够，工作曲线出现反转。最近有公司开发纵向交流交变磁场，省略可偏振元件，使分析动态范围大大拓宽。从仪器使用考虑，选择应用横向交流塞曼效应较好，这种系统具有最佳双光束性能，背景校正能力高而准确，线性和灵敏度于常规AAS相类似，检出限比连续光源背景校正器好。分析（工作）曲线反转问题较少。能全波段背景校正。近来有仪器公司推出了3-磁场塞曼效应背景校正技术，该模式除高磁和零磁场之外，还有第三个中间磁场强度，可根据被测浓度要求，通过软件选择最佳中间磁场强度可使动态范围扩展10倍。 此外，还有组合式扣背景，指的是采用以上两种以上的扣背景技术。如PE[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原吸[/color][/url]仪器，其火焰法用的是氘灯扣背景，石墨炉用的是塞曼扣背景。自吸效应扣背景比较少见。 欢迎版友们补充、指正。你们的支持，是我们努力的动力，谢谢！

如下图，倾斜的背景校正，如何扣背景值？[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712081330_01_2140715_3.jpeg[/img]

目前原吸的背景校正方式不外乎氘灯、赛曼和自吸三种，可以说三种方式各有优缺点，对于石墨炉来说用的最多的就是赛曼和自吸，具体哪种背景校正方式更有优势呢？

背景校正对于ICP光谱仪来说，基体匹配是最理想的，但在很多情况下，都是不现实的。由于样品之间的成分不同、样品与标准之间的成分不同、连续光谱以及谱线拖尾都可能导致背景干扰，因此要得到正确的分析结果，背景校正就显得非常重要。背景校正消除了由于背景抬高所带来的干扰。浓度是以净强度为基础计算的。净强度＝原强度－背景强度在选择背景位置时，应遵循：1.将背景位置定在尽可能平坦的区域（无小峰）。2.将背景位置定在离谱峰足够远的地方，从而不受谱峰两翼的影响。3.左背景、右背景以及左右背景强度的平均值尽可能与谱峰背景强度一致。

[color=black]ICP-AES[/color][color=black]中的背景较高，需离线背景校正，应用动态背景校正对增进准确度是很有效的。你都了解ICP-OES的背景校正吗？[/color]

什么是背景校正过度，该怎么解决？

目前[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原吸[/color][/url]背景校正方式主要有三种：氘灯，自吸，塞曼。请教各位，自吸与塞曼相比各有何特点？

火焰法测铜 z-2000 背景校正为赛曼效应 今天仔细看药典 说的是必要时用背景校正 什么时候就必要啊？

原子吸收石磨炉法测铅，必须使用背景校正吗？不使用背景校正可以吗？请大神赐教，说明原因或者依据。谢谢

原子吸收背景校正方法是什么？什么是Zeeman 校正？

热电IRIS 背景校正位置的选取遵循原则： 1） 将背景位置尽量选择在谱线平坦的区域。 2） 将背景位置定在离谱峰足够远的地方，但不要受到两侧其他峰的影响。 3） 左右背景的强度的平均值尽可能与谱峰背景强度一致。