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薄膜材料

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薄膜材料相关的耗材

  • 薄膜拉力测试仪、塑料薄膜拉伸强度检测、剥离机
    薄膜拉力测试仪、塑料薄膜拉伸强度检测、塑料薄膜剥离测试仪介绍:LQJ211万能材料试验机有着超大数显控制系统-为主机曲线、力值、速度和变形动态显示,加上电脑可实现微机操作,参数随意设定,可以做不同材料30KN以内的拉伸、压缩、弯曲、剥离、撕裂、剪切、刺破、低调疲劳等多项力学试验.可根据国际标准ISO.JIS.ASTM.DIN等国际标准和国外标准进行试验和提供数据.以windows操作系统使试验数据曲线动态显示,试验数据可以任意删加,对曲线操作更加简便.轻松.随时随地都可以进行曲线遍历.叠加.分离.缩放.打印等全电子显示监控. 薄膜拉力测试仪、塑料薄膜拉伸强度检测、塑料薄膜剥离测试仪技术参数 Main specifications 1、最大负荷Load Accuracy: 30KN(任意选) 2、荷重元精度Load Accuracy: 0.01% 3、测试精度Measuring accuracy: ± 0.5% 4、操作方式Control: 全电脑控制,windows模式操作 5、有效试验宽度Valid width: 约420mm 6、有效拉伸空间Stroke: 约800mm 7、试验速度Tetxing speed : 0.001~500mm/min 8、速度精度 Speed Accuracy:: ± 0.5%以内; 9、位移测量精度Stroke Accuracy: ± 0.5%以内; 10、变形测量精度Displacement Accuracy: ± 0.5%以内 11、安全装置 Safety device: 电子限位保护,紧急停止键 Safeguard stroke 12、机台重量Main Unit Weight : 约140kg
  • Atlas™ 标准薄膜制样机与高温薄膜制样系统
    Atlas™ 标准薄膜制样机与高温薄膜制样系统Specac的等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定,根据热压制膜原理,所得到的样品是纯样品,谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求,提供三种等厚度薄膜制样工具,不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜,还能将粒状,块状或板材,如药包材料,包装材料,特殊包裹材料等不规则的聚合物变成可以检测的薄膜。 GS15800高温薄膜制样系统技术参数: 最高操作温度高达400℃ 满足高端科研的要求 一周期40分钟 通过CE安全认证 集成的供热制冷设备? 2T的载荷极限 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250, 0.500mm 薄膜直径29mm 压力范围0-2吨 一体式加热盘系统 双数字显示,精度1度 安全切换装置:70℃ 切断加热希同/55℃ 重启加热系统 一体式冷却盘高温薄膜制样机P/N GS15800有一组加热板是嵌入到薄膜制样机中的,所以当P/N GS15800装载在压 片机上时, 是不需要额外的Atlas 加热压盘P/NGS15515的。订购信息GS15640标准薄膜制样机特点:独立加热压盘,满足不同直径薄膜需要独立冷却盘,可缩短制膜周期重现性哈,制备过程简单 制膜过程无需化学品,成本低6种不同厚度的垫圈,适合各种高分子材料技术参数: 操作温度高达300℃ 一周期30分钟 4T的载荷极限 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250, 0.500mm 薄膜直径29mm 双数字显示,精度℃ 可配套加热板P/N GS15515使用 冷却系统停止时切断加热系统 冷却水流速大于0.2/min时重启加热系统 独立冷却盒订购信息GS15640 Atlas™ 标准薄膜制样机包括: 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250和0.500 mm 垫圈铝膜 直径40mm(200 片)Specacards 卡夹式,圆形通光孔直径10mm,样品架(20张)不锈钢镊子GS15800 Atlas™ 高温薄膜制样系统包括: 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250and 0.500 mm 垫圈铝膜直径40mm(200 片)制作铝膜样品杯的工具Specacards 卡夹式,圆形通光孔直径10mm,样品架(20张)不锈钢镊子高稳定性及高精度的温度控制器(400℃) 薄膜制样套装GS15631 Atlas™ 标准型薄膜制样套装1包括: 薄膜制样系统(GS15640) 加热板和加热压盘以及数字全自动温控器(300°C) (GS15515)GS15633 Atlas™ 标准型薄膜制样套装2包括: 薄膜制样系统(GS15640)加热板和加热压盘以及数字温控器(300oC) (GS15515)15T手动液压机(GS15011)(对于GS15800,GS15631和GS15633,请指定220V或110V电压和使用的国家。)GS15800 Atlas™ 高温薄膜制样系统套装 包括: 高温薄膜制样系统(GS15800) 15T手动液压机(GS15011)(请指定220V或110V电压和使用的国家。)备件及耗材GS03800 卡夹式,圆形通光孔直径10mm,样品架 (100张/盒)GS03805 用于固定易伸缩薄膜样品的尼龙卡簧(20)GS03810 10mm x 25mm 矩形通光孔Specacards (100)GS03820 磁性薄膜样品架 圆形通光孔直径25mmGS15627 直径为40mm的铝膜(200)GS15641 冷却盒 用于标准薄膜制样系统 替换GS15642 标准薄膜制样压盘套装GS15629 标准薄膜制样机可替换的垫圈组件GS15805 高温薄膜制样机可替换的垫圈组件
  • 等厚度薄膜制样工具
    specac_迷你等厚度薄膜制样套装 等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定。根据热压制膜原理,所得到样品是纯样品,谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求,提供了3种等厚度薄膜制样工具。不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜,还可以将粒状、块状或板材等不规则形状的聚合物变成可以用光谱检测的薄膜。 视频:http://v.youku.com/v_show/id_XNDg3ODI1OTc2.html 点击观看视频
  • chemplex样品薄膜迈拉膜
    chemplex样品薄膜型号:090,250品牌:chemplex产地:美国 一、产品介绍: 在用x荧光光谱仪进行rohs检测,weee检测和一般材料成分分析时,由于样品的不规则(特别是液体、粉末等),需要借助样品杯和薄膜辅助检测;但不合适的样品薄膜往往造成样品污染并影响材料成分分析的x射线信号和检测结果。选择适当的薄膜材料对于分析结果至关重要。 在现有的众多不同的物质类型中,只有为数不多的几种具备能满足光谱化学需要的一致性和化学、物理属性。 如何选择薄膜样本支撑窗材料?适当的薄膜样本支撑窗的选择主要以满足首要重要的实验室要求为基础: 使用方便快捷; 避免造成待测样品污染; 优越的分析物透射比与强度; 对待测样品的耐化学性。chemplex industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是x射线光谱仪(xrf)配件耗材领域的全球知名厂商。chemplex xrf样品杯和样品薄膜用于rohs、weee专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的x射线荧光光谱仪。chemplex样品薄膜薄膜张力特性极/佳,与样品杯组合使用,适合盛放各类金属重物、液体或粉末。对特别配制的塑料和保持其物理和化学属性一致性的特别关注,使得chemplex xrf样本杯、样品薄膜在xrf物质成分分析应用范围和性能上无与伦比。chemplex的许多xrf样本杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用,并被美国专利商标局授予知识产权地位。美同达作为美国chemplex公司的中国代理商,提供chemplex所有系列用于对应欧盟rohs和weee环保检测仪器——x射线荧光光谱仪(xrf)的检测实验消耗产品!我们不仅能够为您提供样品薄膜、样品杯, 还可根据您的样品应用为您选择、定制合适的样品薄膜、样品杯。 二、适用仪器:德国斯派克spectro、英国牛津oxford、日本堀场horiba、飞利浦/帕纳科philips/panalytical、德国布鲁克 bruker、美国赛默飞世尔科技(热电)thermo,瑞士arl及日本理学rigaku, siemens, spectrace,jordan, kevex, metorex,fisons, asoma,venus 200,valley等生产的x荧光光谱仪(xrf)。(适用x 射线荧光光谱仪品牌型号:所有x射线荧光光谱仪包括:尼通(niton):xlt797z 、xlt794、xlt898 ;伊诺斯(innov-x):alpha6000;牛津(oxford):met-5000;帕纳科(panalytical):minipal4、 minipal2;精工(seiko):sea1000a;斯派克(spectro):xepos、midex m;热电(thermo):arl quant’x;日本电子(jeol)jsx-3400r;horriba等。) 三、spectromembrane® 样品薄膜随着spectromembrane® 样本支撑托架的面世,在处理薄膜时用户不再需要担心静电附着或潜在的污染风险或吸引空中颗粒等问题。除样本杯外,薄膜不再近距离接触其它任何物体。薄膜处理将通过使用集成的托框完成,托框能够在组装过程中自动分离,留下绷紧的薄膜样本平面。spectromembrane® 薄膜样本支撑托架由一块粘在托架上作为支撑物的薄膜样本支撑物质组成。在把薄膜物质粘在xrf样本杯上时,薄膜物质并不会被直接处理,这就消除了污染的可能性。接近完成或在完成附着时,薄膜将自动从托架上分离,留下绷紧的无皱样本支撑窗。
  • 薄膜偏振片
    薄膜偏振片英文名Thin film polarizer,薄膜偏振片是一种介质镀膜偏振片把s光和p光分开,适合高功率激光或高能量激光应用,适合内腔和外腔应用。布儒斯特型薄膜偏振片又叫Thin film polarizer,布儒斯特角偏振片,是一种适合高能激光应用的偏振片,损伤阈值高达10J/cm2 @1064nm 8ns. 薄膜偏振片常常作为格兰泰勒棱镜和偏振立方分束器(偏振立方体)的替代用品使用。常用的基质材料是BK7和紫外熔炉石英。56度入射角(布儒斯特角)情况下的 偏振比值Tp/Ts=200:1.特点:1)薄膜偏振片,Thin film polarizer有效地分开s光和p光 2)薄膜偏振片,Thin film polarizer配备有库存,可以立刻发货。薄膜偏振片标准参数 材料:BK7, UVFS直径公差:+0.0/-0.12mm厚度公差:+/-0.2mm净孔径:90%表面质量: 20-10 scratch&dig表面平整度:Lambda/10 @633nm平行度:30arec sec 消光比Tp/Ts:200:1典型透过率: Tp90%典型反射率:Ts99.5%激光损伤阈值: 5J/cm2 10ns 1064nm现有产品:266nm,343nm, 355nm, 400nm, 515nm, 532nm,780nm, 780-820nm, 795-805nm,940nm980nm, 1020-1040nm, 1064nm, 1550nm偏振片中国领先的进口精密激光光学器件旗舰型服务商--孚光精仪!
  • 氮化硅薄膜窗-X射线用
    X射线透射显微成像/能谱(同步辐射)用氮化硅薄膜窗口 产品概述: X-射线薄膜窗能够实现软X-射线(如真空紫外线)的最大透射率。主要用于同步辐射X射线透射显微成像时承载样品。 X-射线越软(能量越低),穿透能力越差,所需氮化硅薄膜窗越薄。特别在&ldquo 离轴&rdquo 状态工作(即薄膜与光束成一定角度)时,也需要较薄的薄膜窗口,便于X射线更好地穿透。 氮化硅薄膜窗口是利用现代MEMS技术制备而成,由于此种氮化硅窗口选用低应力氮化硅(0-250MP)薄膜,因此比计量式和ST氮化硅薄膜更坚固耐用。提供的氮化硅薄膜窗口非常适合应用于透射成像和透射能谱等广泛的科学研究领域,例如,X-射线(上海光源透射成像/能谱线站)、TEM、SEM、IR、UV等。 现在提供X-射线显微成像/能谱(同步辐射)用氮化硅薄膜窗系列产品,规格如下: 外框尺寸 (4种标准规格): &bull 5 mm x 5 mm (窗口尺寸:1.0 mm 或和 1.5 mm 方形) &bull 7.5 mm x 7.5 mm (窗口尺寸:2.0 mm 或 2.5 mm) &bull 10 mm x 10 mm (窗口尺寸:3.0 mm 或 5 mm 方形) 边框厚度: 200µ m、381µ m、525µ m。 Si3N4薄膜厚度:50、100、150和200nm 我们也可以为用户定制产品(30-500nm),但要100片起订。 本产品为一次性产品,不建议用户重复使用,本产品不能进行超声清洗,适合化学清洗、辉光放电和等离子体清洗。 技术指标: 透光度: 对于X射线用窗口,500nm厚的氮化硅薄膜有很好的X光穿透效果,对于软X射线(例如碳边吸收谱),100-200nm厚的氮化硅薄膜窗口是用户首选。 真空适用性: 真空适用性数据如下:   薄膜厚度 窗口面积 压力差 &ge 50 nm &le 1.0 x 1.0 mm 1 atm &ge 100 nm &le 1.5 x 1.5 mm 1 atm &ge 200 nm &le 2.5 x 2.5 mm 1 atm 表面平整度: 氮化硅薄膜窗口产品的表面平整性很稳定(粗糙度小于1nm),对于X射线应用没有任何影响。 温度特性: 氮化硅薄膜窗口产品是耐高温产品,能够承受1000度高温,非常适合在其表面利用CVD方法生长各种纳米材料。 化学特性: 氮化硅薄膜窗口是惰性衬底。 应用简介和优点: 1、 同步辐射X射线(紫外或极紫外)透射成像或透射能谱应用中是不可或缺的样品承载体。 2、 耐高温、惰性衬底,适应各种聚合物、纳米材料、半导体材料、光学晶体材料和功能薄膜材料的制备环境,利于制备理想的用于X射线表征用的自组装单层薄膜或薄膜(薄膜直接沉积在窗口上)。 3、 生物和湿细胞样本的理想承载体。特别是在等离子体处理后,窗口具有很好的亲水性。 4、 耐高温、惰性衬底,也可以用于化学反应和退火效应的原位表征。 5、 适合做为胶体、气凝胶、有机材料和纳米颗粒等的表征实验承载体。 同步辐射X射线应用参考文献:PRL
  • XRF荧光光谱仪专用测试薄膜
    产品详情 XRF荧光光谱仪专用测试薄膜英飞思提供不同材料和厚度的专用测试薄膜,以满足应用中的测试需求样品杯的底部覆盖有X 射线透明薄膜。耐化学性取决于薄膜的材料和厚度:下表展示了不同厚度和材质的薄膜对测试不同元素的影响原则上,使用两种材料:聚酯(聚酯薄膜)和聚丙烯(商标名称包含名称片段的薄膜“丙烯”,例如以“lene”结尾的,通常与便宜得多的材料相同聚丙烯薄膜)。薄膜材料的耐化学性不同。虽然聚酯是稳定的对于溶剂、脂肪族化合物和燃料,聚丙烯提供更高的稳定性富含氧气的流体(例如水、聚乙二醇和高沸点油)。聚丙烯特别适用于固体样品的痕量分析,因为它没有主要成分其中的污染。相比之下,聚酯薄膜含有不需要的磷和钙(3.5 µmMylar 对应于纯油(例如清洁白油)中的 50 ppm Ca 和 250 ppm P。薄膜,例如Hostaphan(带有硅污染的聚酯)或聚碳酸酯(不含污染,首选用于燃料分析)受到限制或不再可用。Kapton 对轻元素的荧光辐射不是很透明,因此仅可用于分析具有更高原子序数的元素。
  • SE-1薄膜电极
    金/铂是惰性金属,不容易发生氧化、水解和其它表面反应。普通金/铂电极制作需要反复抛光磨制,稳定性和重现性较差,不利于生物传感器的小型化和商品化。 Micrux公司采用100%金属材料(非金属/油墨印刷)制作的铂和金薄膜电极 - 适用于修饰和研发传感器或生物传感器 - 前处理方便,节省时间 - 可以多次重复使用,成本低廉 - 尺寸小,提供了很好的可靠性和可重复性,性噪比(S/N)佳。 电极设计: 1、SE-1设计,应用于铂和金薄膜电极,工作电极(WE)直径为1mm. 2、交叉指环型阵列电极(IDRA),由2对交叉的12电极组成。 3、交叉阵列电极(IDA),由2对交叉的12电极组成。 微电极设计,工作电极线宽和间隙都为10&mu m,和SE-1设计一样应用于铂和金薄膜电极。 电极适配器,使得薄膜(微)电极易于操作。 电极通过连接器可与各品牌电化学工作站匹配。 电极保存:干燥环境,旁边可以放置硅胶
  • FEP 薄膜/金属箔特氟龙耐酸碱薄膜材质可定制
    FEP薄膜:也叫特氟龙薄膜,聚全氟乙丙烯薄膜;其特征主要有:1、耐高低温:-200~205℃ ,外观透明如保鲜膜,使用方便,环保;2、具有不粘性,拼水,拼油:水接触角θ=114о 电可靠性,高绝缘,不漏电;3、高透明度:透明度参考家用保鲜膜,对紫外线、可见光有很好的穿透性;4、耐强酸强碱,耐各种有机及无机化学溶剂,丙酮、醇类等各种腐蚀性溶剂;5、多作为封口膜,用于密封一些强腐蚀型瓶口;隔离实验室的一些腐蚀性溶剂;6、典型用途实例:中科院地化所常用来野外考察收集样品时,接收雨水用,通常会配套我公司同系列的FEP 透明管使用;品名宽度(mm)厚度mmFEP薄膜 200-2500.02-0.0150.03-0.040.05-0.150.15-0.2可按照客户要求生产250-280250-300300-35050060080010001200 FEP材质其他产品FEP取样瓶、容量瓶、洗瓶、滴瓶、消解瓶、消解管、离心管、薄膜、移液管、透明管、烧杯、分液漏斗,其他实验室常用器皿耗材等等。
  • IDA薄膜阵列电极
    金/铂是惰性金属,不容易发生氧化、水解和其它表面反应。普通金/铂电极制作需要反复抛光磨制,稳定性和重现性较差,不利于生物传感器的小型化和商品化。 Micrux公司采用100%金属材料(非金属/油墨印刷)制作的铂和金薄膜电极 - 适用于修饰和研发传感器或生物传感器 - 前处理方便,节省时间 - 可以多次重复使用,成本低廉 - 尺寸小,提供了很好的可靠性和可重复性,性噪比(S/N)佳。 电极设计: 1、SE-1设计,应用于铂和金薄膜电极,工作电极(WE)直径为1mm. 2、交叉指环型阵列电极(IDRA),由2对交叉的12电极组成。 3、交叉阵列电极(IDA),由2对交叉的12电极组成。 微电极设计,工作电极线宽和间隙都为10&mu m,和SE-1设计一样应用于铂和金薄膜电极。 电极适配器,使得薄膜(微)电极易于操作。 电极通过连接器可与各品牌电化学工作站匹配。 电极保存:干燥环境,旁边可以放置硅胶
  • Chemplex薄膜样品带支撑窗框
    SpectroMembrane® 薄膜样品载体框架由薄膜样品载体物质组成,该薄膜样品载体物质附着在用作载体的框架上。在将薄膜物质粘贴到XRF样品杯时,不直接处理薄膜材料并且完全消除污染可能性。接近或完成附着时,薄膜自动从载体框架上分离,留下一个拉紧的无褶皱样品支撑窗口。用户选择的薄膜样品支撑窗口连接到处理框架上,以便连接到Chemplex® 样品杯
  • 高精度膜厚仪|薄膜测厚仪A3-SR光学薄膜厚度测量(卤素灯)
    目标应用: 半导体薄膜(光刻胶) 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜(光刻胶) ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*(H90+H140)测试支架(配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘)测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm(标配,可以根据用户要求配置)样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标(THICKNESS SPECIFICATION):产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1(厚度要求)N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量,实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅(500纳米)测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.
  • 透射电镜(TEM)用氮化硅薄膜窗口
    透射电镜(TEM)用氮化硅薄膜窗口 产品概述: 与X射线用氮化硅窗口类似,透射电镜(TEM)用氮化硅薄膜窗口也使用低应力氮化硅薄膜基底。但整体尺度更小,适合TEM装样的要求。窗口有单窗口和多窗口阵列等不同规格。同时NTI也定制多孔氮化硅薄膜窗口。 现在可以提供透射电镜(TEM)用氮化硅薄膜窗系列产品,规格如下: 外框尺寸: &bull 3 mm x 3 mm (窗口尺寸:0.5 mm,薄膜厚度:30 nm) &bull 3 mm x 3 mm (窗口尺寸:1.0 mm,薄膜厚度:50 nm) 边框厚度: 200µ m、381µ m。 Si3N4薄膜厚度: 50nm、100nm 可以为用户定制产品(30-200nm),但要100片起订。 本产品为一次性产品,不建议用户重复使用,本产品不能进行超声清洗,适合化学清洗、辉光放电和等离子体清洗。 技术指标: 表面平整度: 我们认为薄膜与其下的硅片同样平整, TEM用氮化硅薄膜窗口的表面粗糙度为:0.6-2nm。完全适用于TEM表征。 亲水性: 该窗格呈疏水性,如果样品取自水悬浮液,悬浮微粒则不能均匀地分布在薄膜上。用等离子蚀刻机对薄膜进行亲水处理,可暂时获得亲水效果。虽然没有对其使用寿命进行过测试,但预期可以获得与同样处理的镀碳TEM网格相当的寿命。我们可以生产此种蚀刻窗格,但无法保证其使用寿命。如果实验室有蚀刻工具也可对其进行相应的处理提高其亲水性能。 温度特性: 氮化硅薄膜窗口产品是耐高温产品,能够承受1000度高温,非常适合在其表面利用CVD方法生长各种纳米材料。 化学特性: 氮化硅薄膜窗口是惰性衬底。 应用简介和优点: 1、 适合TEM、SEM、AFM、XPS、EDX等的对同一区域的交叉配对表征。 2、 大窗口尺寸,适合TEM大角度转动观察。 3、 无碳、无杂质的清洁TEM观测平台。 4、 背景氮化硅无定形、无特征。 5、 耐高温、惰性衬底,适应各种聚合物、纳米材料、半导体材料、光学晶体材料和功能薄膜材料的制备环境,(薄膜直接沉积在窗口上)。 6、 生物和湿细胞样本的理想承载体。特别是在等离子体处理后,窗口具有很好的亲水性。。 7、 耐高温、惰性衬底,也可以用于化学反应和退火效应的原位表征。 8、 适合做为胶体、气凝胶、有机材料和纳米颗粒等的表征实验承载体。 详细请咨询:021-35359028/ admin@instsun.com
  • TEM/SEM用氮化硅薄膜窗口
    TEM用氮化硅薄膜窗口氮化硅薄膜窗特点 低应力的8, 15 , 50nm厚的氮化硅支撑膜:50nm厚的薄膜具有最大的视野范围;8nm和15nm厚的无孔氮化硅薄膜适用于TEM超高分辨率的应用 氮化硅支撑膜:低应力的LPCVD非化学计量比氮化硅薄膜,良好的平整度、绝缘性和疏水性良好的化学稳定性:图像分辨率和机械强度达到理想的平衡 均匀性:减少了不同区域的不均匀性 TEM断面成像应用的特殊窗口:适用于倾斜断层成像的0.5x1.5mm大窗口,倾斜度最大可达75° 多窗口系列:2窗口,0.1x1.5mm;3x3系列,0.1x0.1mm 可应用于多种显微技术:良好的机械稳定性使得同一种薄膜可应用于TEM, SEM, EDX, XPS and AFM 薄膜和基底耐酸,不会被溶解:可以在酸性条件或常规条件下研究、制备样本 可应用于高温试验环境: 1000°C 可提供更对精确的分析,如样品中的碳含量,减少污染:可用于无碳环境中的TEM成像和分析 容易清洗:机械稳定性和化学稳定性使得薄膜很容易采用辉光放电或等离子清洗,无有机物残留,改善成像质量 良好的平整度:良好的纳米沉积基底和薄膜,无背景结构适合于SEM成像 超净加工,防止支撑膜上残留微粒:100级的超净间内包装 框架厚度:200 and 50μm :200μm是标准的TEM支撑架;50μm是特殊的TEM支撑架 标准框架直径为3mm 同一批次的氮化硅薄膜窗具有相同的特性氮化硅薄膜窗规格单窗口系列窗口类型薄膜厚度窗口尺寸框架尺寸框架厚度20nm500x500μmΦ3mm100μm20/50nm500x500μmΦ3mm200μm50nm1000x1000μmΦ3mm200μm50nm100x100μmΦ3mm200μm15nm0.25x0.25mmΦ3mm200μm50nm0.25x0.25mm 0.5x0.5mm0.75x0.75mm1.0x1.0mmΦ3mm200μm200nm0.25x0.25mm 0.5x0.5mm0.75x0.75mm1.0x1.0mmΦ3mm200μm15/50/200nm0.25x0.25mmΦ3mm50μm50nm/200nm0.5x1.5mmΦ3mm50μm 多窗口系列窗口类型薄膜厚度窗口尺寸框架尺寸框架厚度50nm2x1阵列,100X1500μmΦ3mm200μm15nm/50nm/200nm2x1阵列,100X1500μmΦ3mm200μm50nm2x1阵列,100X1500μmΦ3mm50μm10nm/20nm3x3阵列,8个窗口100X100μm,1个窗口100X350μmΦ3mm100μm10nm3x3阵列,8个窗口250X250μm,1个窗口250X500μmΦ3mm100μm20nm3x3阵列,8个窗口100X100μm,1个窗口100X350μmΦ3mm200μm50nm3x3阵列,8个窗口100X100μm,1个窗口100X350μmΦ3mm100μm15nm/50nm/200nm3x3阵列,窗口100X100μm,Φ3mm200μm50nm3x3阵列,窗口100X100μm,Φ3mm50μm8nm单窗口,窗口大小:0.6×0.6mm;25个网格,氮化硅支撑膜200nm;网格上的氮化硅薄膜8nm;网格大小:75μm ,网格间距:25μm;Φ3mm200μm 应用简介: 1、适合TEM、SEM、AFM、XPS、EDX等的对同一区域的交叉配对表征。2、大窗口尺寸,适合TEM大角度转动观察。3、无碳、无杂质的清洁TEM观测平台。4、背景氮化硅无定形、无特征。5、耐高温、惰性衬底,适应各种聚合物、纳米材料、半导体材料、光学晶体材料和功能薄膜材料的制备环境,(薄膜直接沉积在窗口上)。6、生物和湿细胞样本的理想承载体。特别是在等离子体处理后,窗口具有很好的亲水性。7、耐高温、惰性衬底,也可以用于化学反应和退火效应的原位表征。8、适合做为胶体、气凝胶、有机材料和纳米颗粒等的表征实验承载体。 详细资料请咨询:021-35359028/ admin@instsun.com
  • 剥离力夹具 薄膜180度剥离试验夹具
    适用范围:薄膜、 纸张类材料试样的拉伸测试无接头:夹具体M6内 牙 平面夹片,可夹持试样宽度30mm,夹持厚度2mm.
  • 薄膜拉伸 胶带拉伸 天源夹具
    试验机薄膜夹具,包装带等,可定制 最大负荷: 5000N 适用范围:非金属薄板,胶带,双面胶,复合材料,包装带等各种材料的拉力测试
  • IDRA薄膜环形阵列电极
    金/铂是惰性金属,不容易发生氧化、水解和其它表面反应。普通金/铂电极制作需要反复抛光磨制,稳定性和重现性较差,不利于生物传感器的小型化和商品化。 Micrux公司采用100%金属材料(非金属/油墨印刷)制作的铂和金薄膜电极 - 适用于修饰和研发传感器或生物传感器 - 前处理方便,节省时间 - 可以多次重复使用,成本低廉 - 尺寸小,提供了很好的可靠性和可重复性,性噪比(S/N)佳。 电极设计: 1、SE-1设计,应用于铂和金薄膜电极,工作电极(WE)直径为1mm. 2、交叉指环型阵列电极(IDRA),由2对交叉的12电极组成。 3、交叉阵列电极(IDA),由2对交叉的12电极组成。 微电极设计,工作电极线宽和间隙都为10&mu m,和SE-1设计一样应用于铂和金薄膜电极。 电极适配器,使得薄膜(微)电极易于操作。 电极通过连接器可与各品牌电化学工作站匹配。 电极保存:干燥环境,旁边可以放置硅胶
  • chemplex426样品薄膜
    美国Chemplex公司专业从事样品前处理设备、XRF耗材研发和生产,是X荧光光谱仪XRF配件耗材领域的全球知名厂商。美国Chemplex样品杯和样品膜广泛应用于X荧光光谱仪XRF的样品制备和分析检测过程,Chemplex样品膜薄膜张力特性佳,与Chemplex样品杯组合使用,可盛放各类金属重物、液体、浆状或粉末样品,适用于所有品牌厂家的X荧光光谱仪XRF。产品介绍:独有的SpectroCertified? X荧光光谱仪(XRF)样本杯的质量始于一种特别配置的高密度聚乙烯! 样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。 产品规格:序号CAT.No薄膜材料厚 度1426Prolene® 4.0 μ 0.00406mmChemplex样品薄膜、麦拉膜、迈拉膜、XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品薄膜、EDX薄膜、样品薄膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品薄膜、CAT.NO:106麦拉膜、CAT.NO:150麦拉膜、CAT.NO:250麦拉膜、CAT.NO:256麦拉膜、CAT.NO:257麦拉膜、CAT.NO:416麦拉膜,美同达提供原装进口chemplex产品,具体货期以及产品信息请电话咨询
  • FEP 薄膜Teflon塑料封口膜耐酸碱防溢
    FEP薄膜FEP薄膜:也叫特氟龙薄膜,聚全氟乙丙烯薄膜;其特征主要有:1、耐高低温:-200~205℃ ,外观透明如保鲜膜,使用方便,环保;2、具有不粘性,拼水,拼油:水接触角θ=114о 电可靠性,高绝缘,不漏电;3、高透明度:透明度参考家用保鲜膜,对紫外线、可见光有很好的穿透性;4、耐强酸强碱,耐各种有机及无机化学溶剂,丙酮、醇类等各种腐蚀性溶剂;5、多作为封口膜,用于密封一些强腐蚀型瓶口;隔离实验室的一些腐蚀性溶剂;6、典型用途实例:中科院地化所常用来野外考察收集样品时,接收雨水用,通常会配套我公司同系列的FEP 透明管使用;规格参考:品名宽度(mm)厚度mmFEP薄膜 200-2500.02-0.0150.03-0.040.05-0.150.15-0.2可按照客户要求生产250-280250-300300-35050060080010001200 9、FEP系列产品:取样瓶、大口瓶、洗瓶、滴瓶、容量瓶、烧杯、离心管、离心瓶、移液管、吸管、分液漏斗、薄膜、透明管、消解管、消解瓶以及各种定制产品等。详情请来电咨询。 专注自然成!期待与您的合作!单位:南京瑞尼克科技开发有限公司
  • 手持荧光光谱仪薄膜、样品杯膜TF-260
    土壤样品杯膜、XRF測試用的麥拉膜材質、美国Premier样品膜TF-260#(SKY-260) permier新产品SKY-260: 裁剪更方便 catalong NoFilm TypeSKY-115TF-115SKY-125TF-125SKY-130TF-130SKY-135TF-135SKY-160TF-160SKY-240TF-240SKY-260TF-260 迈拉膜、样品薄膜、麦拉膜、XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品薄膜、EDX薄膜、样品薄膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪用样品膜、光谱仪样品薄膜 本公司供应美国premier所有型号产品,欢迎采购, 卷:( 直径:3.0" (76mm);91.4m卷/盒) 序号CAT.No薄膜材料厚 度1TF-260#Polypropylene膜6.0μ(0.24mil) 品名:XRF样品膜Sample Film 型号: CAT. NO TF-260# 品牌:美国Premier Lab (原装进口) 货期:现货 起订量:1盒以上。 一、美国Premier XRF样品膜:美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域,以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film)以其极低的(几乎不含)杂质和厚度均匀而严格生产,极好的柔韧性和抗化学腐蚀性,保证检测结果的可靠性和重现性,被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。 二、Premier 样品膜特点: 有卷状和片状,多种规格、尺寸、数量可供选择; 柔韧性强、方便、耐用; 的X-ray射线穿透性,适合各类XRF光谱仪; 的抗化学腐蚀性能,不溶于有机溶剂,不污染待测样品; (几乎不含)痕量杂质,特别适合于轻质元素的限量检测。 三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品膜目录:美国Premier X-ray样品膜种类:(1)、Hostaphan膜;(2)、Kapton膜:聚酰亚胺膜,卡普顿膜;(3)、Mylar膜:聚酯薄膜,迈拉膜,麦拉膜;(4)、Polypropylene膜:聚丙烯膜。目录编号:CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度 数量 描述 TF-260 Polypropylene膜 6.0μ(0.24mil) 76mm x91.4m 1卷/盒 Polypropylene Rolls连续卷轴
  • MicruX薄膜微电极/微阵列电极/叉指环阵列电极
    西班牙Micrux 薄膜微电极SE 电化学传感器 金属微电极 生物传感器 Micrux薄膜金属微电极是采用薄膜技术在玻璃基质上制造而成,SU-8树脂保护层限制电化学池大小,主要特点是低试剂消耗,适合1-5ul样品。其工作原理是采用三电极体积,具有工作电极,参比电极和辅助电极。 Micrux薄膜微金属电极性能参数 标准尺寸:10×6×0.75mm 基质:玻璃 保护层:SU-8 树脂 电化学池:2mm 或3.5 mm直径 样品体积:1-10μL 电极材料:珀或金 Micrux薄膜微金属电极特点:低成本效益,可重复使用,制造精度高,灵敏度高。 薄膜金属电极包括薄膜单金属电极和薄膜双金属电极,薄膜单金属电极的电极材料是铂金或者黄金,薄膜双金属电极的工作电极是黄金,参比电极和辅助电极是珀金。薄膜金电极可用作酶和生物传感器开发,适合硫醇类、DNA等物质的检测,薄膜铂金电极适合气体传感器的开发,如氧气、氨气的检测等。而双金属电极可用于工作电极表面选择性的修饰而不影响参比电极和辅助电极的情况。 Micrux薄膜微金属电极应用包括电化学分析,流动化学,纳米技术,化学传感器,生物传感器,也适合流动系统的检测,如FIA, HPLC, CE等。薄膜单金属电极每包50个,薄膜双金属电极每包25个。 Micrux 薄膜微电极的连接器包括液滴池接口和多功能一体化平台,其中液滴池接口(drop-cell connector)可以容纳金属微电极并连接到恒电位仪上,适合标准薄膜(微型)电极(10x6mm)。 多功能一体化平台(All-in-One Platform),提供薄膜微电极和电化学工作站的接口,可轻松更换使用标准薄膜电极,可在在静态下使用(液滴池)或者动态下(流动池)下使用,满足多种电分析应用的需求。可提供不同标准的PMMA材质的流动池和液滴池附件(add-on),透明的PMMA 材料适合大多数的分析应用,也可根据需求提供PEEK 材料的附件,提供高的机械性和耐化学性。
  • 耐高温薄膜
    试验时胶料上下侧应垫耐高温玻璃纸,防止胶料残留上下模腔的花纹沟槽中;这种高温玻璃纸厚度均匀,性能稳定,可消除普通薄膜纸(玻璃纸)误差大的弊端,即可解决模腔粘胶不易清理的难题又保证测试数据不失真。
  • Struers 碳化硅砂纸(带薄膜)
    为确保施加精确的力度并正确加液,我们建议您使用与设备配套的Struers耗材。这是因为每种机器和耗材被设计成适于配合使用,以控制研磨过程的所有参数,例如以合适的数量和有效的分布添加磨料和悬浮液。这是充分利用您投资的理想方式。 MD-System先进的MD-System包括与金属基座研磨盘和抛光布结合的磁性支撑盘。由于这些研磨盘均匀地磨削试样中的硬相和软相,因此能够实现恒定的高材料磨削率和最大平整度。制备时间和成本也显著减少。 只有Struers耗材才能充分发挥Struers设备的优势。请点击此处,登录耗材商城查看碳化硅薄膜的详细型号和应用。
  • Chemplex迈拉膜x射线定硫仪消耗品样品薄膜
    x射线定硫仪消耗品样品薄膜,迈拉膜,样品杯 Chemplex样品薄膜 型号:090,250 品牌:Chemplex 产地:美国 一、产品介绍: 在用X荧光光谱仪进行ROHS检测,WEEE检测和一般材料成分分析时,由于样品的不规则(特别是液体、粉末等),需要借助样品杯和薄膜辅助检测;但不合适的样品薄膜往往造成样品污染并影响材料成分分析的X射线信号和检测结果。 选择适当的薄膜材料对于分析结果至关重要。 在现有的众多不同的物质类型中,只有为数不多的几种具备能满足光谱化学需要的一致性和化学、物理属性。 如何选择薄膜样本支撑窗材料? 适当的薄膜样本支撑窗的选择主要以满足首要重要的实验室要求为基础: 使用方便快捷; 避免造成待测样品污染; 优越的分析物透射比与强度; 对待测样品的耐化学性。 Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的全球知名厂商。 Chemplex XRF样品杯和样品薄膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品薄膜薄膜张力特性佳,与样品杯组合使用,适合盛放各类金属重物、液体或粉末。对特别配制的塑料和保持其物理和化学属性一致性的特别关注,使得Chemplex XRF样本杯、样品薄膜在XRF物质成分分析应用范围和性能上无与伦比。Chemplex的许多XRF样本杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。 美同达为美国Chemplex公司的中国代理商,提供Chemplex所有系列用于对应欧盟ROHS和WEEE环保检测仪器——X射线荧光光谱仪(XRF)的检测实验消耗产品! 我们不仅能够为您提供样品薄膜、样品杯, 还可根据您的样品应用为您选择、定制合适的样品薄膜、样品杯。 二、适用仪器: 德国斯派克Spectro、英国牛津Oxford、日本堀场Horiba、飞利浦/帕纳科Philips/Panalytical、德国布鲁克 Bruker、美国赛默飞世尔科技(热电)Thermo,瑞士ARL及日本理学Rigaku, Siemens, Spectrace,Jordan, Kevex, Metorex,Fisons, Asoma,Venus 200,Valley等生产的X荧光光谱仪(XRF)。 (适用X 射线荧光光谱仪品牌型号:所有X射线荧光光谱仪包括:尼通(NITON):Xlt797z 、Xlt794、Xlt898 ;伊诺斯(Innov-X):AlPHA6000;牛津(Oxford):Met-5000;帕纳科(Panalytical):Minipal4、 Minipal2;精工(Seiko):SEA1000A;斯派克(Spectro):XEPOS、MIDEX M;热电(Thermo):ARL Quant’X;日本电子(JEOL)JSX-3400R;Horriba等。) 三、SPECTROMEMBRANE?样品薄膜 随着SpectroMembrane?样本支撑托架的面世,在处理薄膜时用户不再需要担心静电附着或潜在的污染风险或吸引空中颗粒等问题。除样本杯外,薄膜不再近距离接触其它任何物体。薄膜处理将通过使用集成的托框完成,托框能够在组装过程中自动分离,留下绷紧的薄膜样本平面。 SpectroMembrane?薄膜样本支撑托架由一块粘在托架上作为支撑物的薄膜样本支撑物质组成。在把薄膜物质粘在XRF样本杯上时,薄膜物质并不会被直接处理,这就消除了污染的可能性。接近完成或在完成附着时,薄膜将自动从托架上分离,留下绷紧的无皱样本支撑窗。 x射线定硫仪消耗品样品薄膜,迈拉膜,样品杯 106麦拉膜、CAT.NO:150麦拉膜、CAT.NO:250麦拉膜、CAT.NO:256麦拉膜、CAT.NO:257麦拉膜、CAT.NO:416、CAT.NO:426等Cat. No. Type Thickness Format Size Qty/Pack446-5 Kapton? 7.5 μm (0.3mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 50090 Ultra-Polyester? 1.5μm (0.06mil) Roll 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)95 Etnom? 1.5μm (0.06mil) Roll 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)100 Mylar? 2.5μm (0.1mil) Roll 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)100-PP Mylar? 2.5μm (0.1mil) Roll - PrePerf 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)106 Mylar? 2.5μm (0.1mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 500107 Mylar? 2.5μm (0.1mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 1000150 Mylar? 3.6μm (0.14mil) Roll 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)150-PP Mylar? 3.6μm (0.14mil) Roll - PrePerf 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)156 Mylar? 3.6μm (0.14mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 500157 Mylar? 3.6μm (0.14mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 1000250 Mylar? 6.0μm (0.24mil) Roll 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)250-PP Mylar? 6.0μm (0.24mil) Roll - PrePerf 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)256 Mylar? 6.0μm (0.24mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 500257 Mylar? 6.0μm (0.24mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 1000美国Chemplex工业公司自1971年成立以来,一直坚持专注于X射线光谱分析的样品制备领域,拥有多系列独有的特色产品线以及产权,以质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉全球。美国Chemplex公司一直以产品创新、质量保证、、服务周到、准时交货为原则,几乎所有的产品有库存。美同达代理美国Chemplex工业公司旗下系列产品:XRF样品杯、XRF样品膜、X-ray光谱仪样本杯、ROHS专用样品杯、符合ROHS方法的PE/PVC高分子聚合物(块/粉)、XRF/XRD化学试剂盒套包装等。全线供应给各大中石油、中石化、中海油旗下研发质检实验室,是一家专业的油品实验室进口配件耗材打包供应专家!
  • 薄膜纸张铜箔铝箔拉伸测试工装夹具
    适用范围:薄膜/纸张/铜箔/铝箔/等非金属材料试样的拉伸测试 可选A或B型接头:A接头 轴外径20mm长度30mm(配锁 紧母)B接头 内孔20mm深30mm 插销孔径10mm,插销孔中心到接头 端面距离14.5mm。不配接头时夹具体M12内牙夹片规格:宽30*高25mm贴胶面. 夹持试样厚度5mm。单个夹具重量500g
  • chemplex 样品薄膜 迈拉膜100
    迈拉膜、麦拉膜、XRF样品膜、EDX样品膜、X-ray样品膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪样品膜、美国Chemplex样品膜-100# 品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT.NO:100产品信息:Mylar膜(迈拉膜、麦拉膜),卷轴,厚度2.5 μm,宽7.62cm x 长91.4m,1卷/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。 一、简介美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的全球知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性极佳,与样品杯组合使用,适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用,并被美国**商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。 二、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 三、XRF样品膜目录:目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度(直径) 数量/盒 Rolls连续卷轴,宽7.6cm x长91.4 m: 100 Mylar® 迈拉 2.5 μ 0.00010” 0.10 mil 0.00254mm 7.6cm x91.4 m 1卷
  • Chemplex样品薄膜迈拉膜
    Chemplex样品薄膜、麦拉膜、迈拉膜、XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品薄膜、EDX薄膜、样品薄膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品薄膜、CAT.NO:106麦拉膜、CAT.NO:150麦拉膜、CAT.NO:250麦拉膜、CAT.NO:256麦拉膜、CAT.NO:257麦拉膜、CAT.NO:416麦拉膜、CAT.NO:426麦拉膜、3014麦拉膜、欢迎咨询 美国Chemplex 杯膜 XRF样品杯,又名X荧光光谱仪样品杯、XRF样品杯、X-ray光谱仪样本杯、ROHS专用样品杯、高纯度聚脂测试杯,是应用于X荧光光谱仪XRF上的一次性量杯,广泛应用于牛津、斯派克、岛津、热电、帕纳科、日本理学等各种品牌的XRF光谱仪。 产品类型:XRF样品杯Sample Cups 品 牌:美国Chemplex型 号:所有型号(欢迎来电索取产品目录)产 地:美国 产品介绍: Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。对特别配制的塑料和保持其物理和化学属性一致性的特别关注,使得Chemplex XRF样本杯在XRF物质成分分析应用范围和性能上无与伦比。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国专利商标局授予知识产权地位。 Chemplex独有的SpectroCertified? X荧光光谱仪(XRF)样本杯的质量始于一种特别配置的聚乙烯! Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令; 2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染; 6、低微量元素杂质。 Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的全球知名厂商。从产品研发和设计新概念,在内部生产,Chemplex工业公司是形成了样品制备方法的基础的重大贡献。样本杯的设计始于一个开发一种用于承装和处理X射线分析的液体和粉末状样本物质的方法的创意。 谱飞科技作为美国Chemplex公司的中国代理商,提供Chemplex所有系列用于对应欧盟ROHS和WEEE环保检测仪器——X射线荧光光谱仪(XRF)的检测实验消耗产品!主要有:高纯度聚脂样品杯,铝制样品杯,样品薄膜等。 我们不仅提供各种尺寸和属性的XRF样本杯、样品薄膜,还能根据您的样品类型和仪器品牌/型号为您选择合适的样品杯、样品薄膜。 二、XRF样品杯尺寸、属性和仪器兼容性: 为了对样本杯与仪器提供的样本夹持设备(金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等)进行匹配,购买样本杯前请告知您使用的X荧光光谱仪品牌和型号,或请直接测量仪器样本夹持设备的内径、高度和孔径。 我们列出了各种类型的样本杯的属性以更好地服务于应用,有需要的客户请联系本公司。本公司免费为客户提供包括样品杯的式样、尺寸、价格、编号、适用仪器型号等信息的产品目录。 适用仪器: 德国斯派克Spectro、英国牛津Oxford、日本堀场Horiba、飞利浦/帕纳科Philips/Panalytical、德国布鲁克Bruker、美国赛默飞世尔科技(热电)Thermo,瑞士ARL及日本理学Rigaku, Siemens, Spectrace,Jordan, Kevex, Metorex,Fisons, Asoma,Venus 200,Valley等生产的X荧光光谱仪(XRF)。 (适用X射线荧光光谱仪品牌型号:所有X射线荧光光谱仪包括:尼通(NITON):Xlt797z 、Xlt794、Xlt898 ;伊诺斯(Innov-X):AlPHA6000;牛津(Oxford):Met-5000;帕纳科(Panalytical):Minipal4、Minipal2;精工(Seiko):SEA1000A;斯派克(Spectro):XEPOS、 MIDEX M;热电(Thermo):ARL Quant’X;日本电子(JEOL)JSX-3400R;Horriba等。) 三、Chemplex产品系列: 注册商标有:Chemplex、SpectroCertified、SpectroSulfur?、SpectroMicro?、TrimLessTM、ThermoPlasticTM、TrimLessTM、FunnelShapeTM等XRF样品杯。 四、产品系列:1000系列带有紧固套的单和双开口32和40mm薄膜支撑样品杯,和带有紧固盖和排气室的45mm样品杯 1300系列带有旋转咬合盖和咬合圈的双开口32和40mm样品杯 1400系列带有排气和小样品管的单开口32和40mm样品杯 1500系列带有多孔薄膜和咬合附件的双开口32和40mm样品杯 1545系列适用于样品表面水平和样品表面倾斜的XRF系统的样品杯 1700系列带有咬合排气和排气室的单开口32和40mm样品杯 1800系列带有排气装置和排气室的单开口32和40mm样品杯 1080,1085,1850系列带有排气装置和排气室的单和双开口47mm样品杯。 1、1000系列:TRIMLESS?套筒样本杯与SPECTROSULFUR?分析仪杯,TRIMLESS?套筒能套住薄膜样本支撑窗并清除过量剪屑。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix,Panalytical Venus与Rigaku(日本理学株式会社)仪器。产品编号:10601双开端、1065单开端、1070双开端、1075单开端、1080双开端、1083单开端、1085单开端、1095双开端带通风盖与球形柄。2、1300系列:可重复密封的可通风式XRF样本杯,集成外部溢流储液槽,并可选择使用集成的薄膜样本支撑窗修剪器。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号:1330双开端、1330-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1340双开端。3、1400系列:单开端可通风XRF样本杯。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。 产品编号:1430单开口端ThermoPlastic?密封排气、1430-SE、1440单开口端密封排气、1440L* 特长单开口端。4、1500系列:双开口端XRF样本杯。 适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix等仪器。产品编号:1530 双开口端、1530-SE直接固定环带有集成的薄膜修整器、1540 双开口端。5、1600系列:狭缝通风样本杯盖,适用于1500系列XRF样本杯。样品编号:1630样本杯盖、1640样本杯盖。6、1700系列:集成的咬合式通风XRF样本杯。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号:1730 咬合式通风、1730-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1740Snap-Post通风。7、1800系列:单开口端XRF样本杯,集成的外部溢流储液槽,通风装置;与可选用的集成薄膜样本支撑窗修整器。 适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号:1830 ThermoPlastic?密封通风、1830-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1840ThermoPlastic?密封通风。8、1850系列:单开口端SPECTROSULFUR?分析仪样本杯,Thermoplastic Seal?通风,集成外部溢流储液槽和排泄装置,适用于X射线光学系统“SINDIE?”仪器与其它硫分析仪。9、1900系列:双开口端XRF样本杯,顶部样本注入与可选用的集成薄膜样本支撑窗修剪器。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器;适应于Oxford Lab-X仪器。产品编号:19301双开口端、1930-SE1直接固定拥有集成的薄膜修整器、19401双开口端、1940L2 双开口端。10、1935-OX系列:双开口端XRF样本杯与通风盖,适用于牛津分析仪。用作替换的腔室和盖子,适用于牛津CK-100,耗材元件,零件编号54-CK-100。11、2100系列:双开口端TRIMLESS?套筒XRF样本杯、内部溢流储液槽,通风的直接固定盖,TRIMLESS?套筒薄膜样本支撑窗附着。产品编号:2132 、2135、2140、2143、2144、2145、2146、2195。12、3100系列:SPECTROMICRO?样本杯,采用“FUNNELSHAPE?”(漏斗形)样本杯技术。产品编号:3106、3110、3115、3120。更多信息咨询美同达科技
  • 基于SiO2/Si晶片的双层CVD石墨烯薄膜(4片装)
    基于SiO2/Si晶片的双层CVD石墨烯薄膜将两层单层CVD石墨烯膜转移 到285nm p掺杂的SiO 2 / Si晶片上 尺寸:1cmx1cm 4片将每个石墨烯膜连续转移到晶片上我们的石墨烯薄膜的厚度和质量由拉曼光谱控制该产品的石墨烯覆盖率约为98%石墨烯薄膜是连续的,具有小孔和有机残留物每个石墨烯薄膜主要是单层(超过95%),偶尔有少量多层(低于5%的双层)由于没有A-B堆叠顺序。石墨烯薄膜彼此随机取向。薄层电阻:215-700Ω/平方硅/二氧化硅晶圆的特性:氧化层厚度:285nm颜色:紫罗兰色晶圆厚度:525微米电阻率:0.001-0.005欧姆 - 厘米型号/掺杂剂:P /硼方向:100前表面:抛光背面:蚀刻应用:石墨烯电子和晶体管导电涂料航空航天工业应用支持金属催化剂微执行器MEMS和NEMS化学和生物传感器基于石墨烯的多功能材料石墨烯研究
  • 基于SiO2/Si晶片的双层CVD石墨烯薄膜(8片装)
    基于SiO2/Si晶片的双层CVD石墨烯薄膜将两层单层CVD石墨烯膜转移 到285nm p掺杂的SiO 2 / Si晶片上 尺寸:1cmx1cm 8片将每个石墨烯膜连续转移到晶片上我们的石墨烯薄膜的厚度和质量由拉曼光谱控制该产品的石墨烯覆盖率约为98%石墨烯薄膜是连续的,具有小孔和有机残留物每个石墨烯薄膜主要是单层(超过95%),偶尔有少量多层(低于5%的双层)由于没有A-B堆叠顺序。石墨烯薄膜彼此随机取向。薄层电阻:215-700Ω/平方硅/二氧化硅晶圆的特性:氧化层厚度:285nm颜色:紫罗兰色晶圆厚度:525微米电阻率:0.001-0.005欧姆 - 厘米型号/掺杂剂:P /硼方向:100前表面:抛光背面:蚀刻应用:石墨烯电子和晶体管导电涂料航空航天工业应用支持金属催化剂微执行器MEMS和NEMS化学和生物传感器基于石墨烯的多功能材料石墨烯研究
  • 基于SiO2/Si晶片的双层CVD石墨烯薄膜(8片装)
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