20Hz~2MHz介电常数测试仪工作特性 1.Q值测量 a.Q值测量范围:2~1023。 b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c.标称误差频率范围(100kHz~10MHz): 频率范围(10MHz~160MHz):固有误差:≤5%±满度值的2% 固有误差:≤6%±满度值的2%工作误差:≤7%±满度值的2% 工作误差:≤8%±满度值的2% 2.电感测量范围:4.5nH~7.9mH3.电容测量:1~205主电容调节范围:18~220pF准确度:150pF以下±1.5pF; 150pF以上±1% 注:大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明 4.信号源频率覆盖范围 频率范围CH1:0.1~0.999999MHz, CH2: 1~9.99999MHz, CH3:10~99.9999MHz, CH1 :100~160MHz, 5.Q合格指示预置功能: 预置范围:5~1000。 6.-B测试仪正常工作条件 a. 环境温度:0℃~+40℃; b.相对湿度:80%; c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。 7.其他 a.消耗功率:约25W; b.净重:约7kg; c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。20Hz~2MHz介电常数测试仪1.范围1.1 本试验方法包含当所用标准为集成阻抗时,实心电绝缘材料样本的相对电容率,耗散因子,损耗指数,功率因子,相位角和损耗角的测定。列出的频率范围从小于1Hz到几百兆赫兹。注1:在普遍的用法,“相对”一词经常是指下降值。1.2 这些试验方法提供了各种电极,装置和测量技术的通用信息。读者如对某一特定材料相关的议题感兴趣的话,必须查阅ASTM标准或直接适用于被测试材料的其它文件。2,31.3 本标准并没有*列举所有的安全声明,如果有必要,根据实际使用情况进行斟酌。使用本规范前,使用者有责任制定符合安全和健康要求的条例和规范,并明确该规范的使用范围。特殊危险说明见7.2.6.1和10.2.1。1 本规范归属于电学和电子绝缘材料ASTM 09委员会管辖,并由电学试验D09.12附属委员分会直接管理。当前版本核准于2011年8月1日。2011年8月发行。原版本在1922年批准。前一新版本于2004年批准,即为 D150-98R04。DOI:10.1520/D0150-11。2 R. Bartnikas, 第2章, “交流电损耗和电容率测量,” 工程电介质, Vol. IIB, 实心绝缘材料的电学性能, 测量技术, R. Bartnikas, Editor, STP 926,ASTM, Philadelphia, 1987.3 R. Bartnikas, 第1章, “固体电介质损耗,” 工程电介质,Vol IIA, 实心绝缘材料的电学性能: 分子结构和电学行为, R. Bartnikas and R. M. Eichorn, Editors, STP 783, ASTM, Philadelphia, 1983.20Hz~2MHz介电常数测试仪式中:G=等效交流电导,Xp=并联电抗,Rp=等效交流并联电阻,Cp=并联电容,ω=2πf(假设为正弦波形状)耗散因子的倒数为品质因子Q,有时成为储能因子。对于串联和并联模型,电容器耗散因子D都是相同的,按如下表示为:D=ωRsCs=1/ωRpCp (4)串联和并联部分之间的关系满足以下要求:Cp=Cs/(1+D2) (5)Rp/Rs电容率——绝缘材料通常以两种不同方式来使用,即(1)用于固定电学网络部件,同时让其彼此以及与地面绝缘;(2)用于起到某一电容器的电介质作用。在*种应用中,通常要求固定的电容尽可能小,同时具有可接受且*的机械,化学和耐热性能。因此要求电容率具有一个低值。在第二种应用中,要求电容率具有一个高值,以使得电容器能够在外型上能尽可能小。有时使用电容率的中间值来评估在导体边缘或末端的应力,以将交流电晕降至小。=(1+D2)/D2=1+(1/D2)=1+Q2 20Hz~2MHz介电常数测试仪电极材料 金属箔片导电涂料 烧银喷镀金属 蒸发金属液态金属 刚性金属20Hz~2MHz介电常数测试仪交流损耗——对于这两种场合(作为电学绝缘材料和作为电容器电介质),交流损耗通常必须是比较小的,以减小材料的加热,同时将其对网络剩余部分的影响降至小。在高频率应用场合,特别要求损耗指数具有一个低值,因为对于某一给定的损耗指数,电介质损耗直接随着频率而增大。在某些电介质结构中,例如试验用终止衬套和电缆所用的电介质,通常电导增加可获得损耗增大,这有时引入其来控制电压梯度。在比较具有近似相同电容率的材料时或者在材料电容率基本保持恒定的条件下使用任何材料时,这可能有助于考虑耗散因子,功率因子,相位角或损耗角。
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