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扫描力探针

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扫描力探针相关的论坛

  • 求购扫描探针-原子力显微镜

    领导要求调查一下扫描探针（原子力）显微镜，打算购买一个，我看了一下，国内外的很多家单位都有产品，这下不知道怎么搞了，也不知道性能上怎么区分啊。我们的要求是首先满足最低要求，能观测三维形貌，测量厚度，其次再考虑其他的功能模块。也就是说满足首先条件，预留其他功能窗口，大家帮忙推荐一下。也可以直接发我的信箱guigxms@163.com，宋。谢谢

  • 扫描探针显微镜一套

    山东大学从美国维柯公司DI分部购进扫描探针显微镜一套,该设备是属于多功能配套设备。它包含如下功能:①原子力显微镜;②隧道力显微镜;③电力显微镜;④磁力显微镜;⑤摩擦力显微镜。工作模式可分为:接触式,非接触式,敲打式,力调制等。功能之全是国际上一流的。为此,山东大学于2001年9月9日派遣任可、刘宜华、孙大亮三人赴美国圣巴巴拉市维柯公司DI分部接受培训(扫描探针显微镜生产厂家为美国、、、、、、、

  • 【原创】比较下国内扫描探针显微镜

    我想问下大伙，有没有知道上海卓伦的扫描探针显微镜好用还是中科奥纳的扫描探针显微镜好用呢？另大家还有没有人知道国内有没有做得比较成熟的显微镜厂商呢？希望大家踊跃发言。

  • 【原创大赛】扫描探针显微镜废针的改造再利用及分辨率的提高

    【原创大赛】扫描探针显微镜废针的改造再利用及分辨率的提高

    扫描探针显微镜废针的改造再利用及分辨率的提高前言：扫描探针显微镜（SPM）一般操作模式有轻敲模式，接触模式，非接触模式等。我们实验室一般采用接触和轻敲模式，由于这两种模式都会与样品有接触，这就不可避免的给探针尖端造成磨损使其变钝，由于针尖较粗，探针的侧面将先于针尖与样品发生接触，从而引起所成图像的失真，将导致扫描出来的图片有严重的“加宽效应”影响图像准确度，造成探针严重浪费增加检测成本。本人在一次做纳米颗粒搬迁实验的过程中，本来是想用探针去移动一个细小颗粒a，结果颗粒粘附到针尖上了，之后扫描出来的粉末颗粒尺寸明显变小，如下图（一）B图和C图作对比明显（框定区域为扫描区域）B图颗粒大于C图。通过这个现象，如果在磨损后的探针针尖上，堆积上一层金字塔形纳米级的金颗粒，会不会使磨损的探针针尖变得更加尖锐呢？如果可以的话以此①可以提高扫描样品时探针的分辨率②减小由于探针针尖不够尖锐带来的“加宽效应”③可以使磨损探针再利用减少耗材成本。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011628_480183_2224533_3.jpg图（一）原理：通过对钝探针针尖堆积纳米金颗粒使其变得尖锐，如图二http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011628_480184_2224533_3.jpg图（二）实验设备：BRUKER布鲁克公司的扫描探针显微镜，仪器型号：Nanoman VSLeica莱卡的高真空镀膜仪，型号：LEICA EM SCD 500 探针为多次使用后磨损严重的废针，如图三http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011629_480185_2224533_3.jpg图（三）实验过程：选取一块玻璃片，取少量粉末颗粒分散在其上，然后在玻璃片上划一道刻痕做个标记。目的是为了保证整个扫描过程都能找到同一个区域同一个粉末上做比较，以次确保实验的有效性，如图四http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011629_480186_2224533_3.jpg图（四）随机选取一颗探针，不做任何处理在标记处扫描图像。如下图五http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312020832_480224_2224533_3.jpg图（五）在图像里头随机选取两个粉末，上面颗粒命名为A，下面颗粒命名为B，进行测量其尺寸分别为A=163nm,B=204nm；如图五http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011629_480187_2224533_3.jpg图（六）取下探针放在另一快玻璃片上，然后放如高真空镀膜仪内，镀膜时间为20s。取出玻璃片拿下探针，可以明显看到玻璃片上探针放置处遮挡了玻璃片没有镀上膜的痕迹。如图六http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011630_480188_2224533_3.jpg图（七）装上探针，寻找到同一区域，同一粉末颗粒，仪器使用的扫描速率尺寸等条件不变。扫描后对颗粒测量A=127nm; B=172nm.如图七http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011630_480189_2224533_3.jpg[

  • 【求助】请教电子探针和扫描电镜的区别

    单位最近要安装一台电子探针，我想找点资料看一下，请问电子探针是扫描电镜吗？在仪器信息网上能找到电子探针的资料吗？如果能的话，告诉我在哪个版块？知道的请说一下，谢谢了！

  • 【分享】扫描探针显微镜及其在光盘开发中的应用

    【英文篇名】 The introduction of Scanning Probe Microscope and its application in optical disc R&D 【作者】 李伟权 【作者单位】 光盘及其应用国家工程研究中心 【刊名】 记录媒体技术 , China Mediatech, 编辑部邮箱 2004年 04期 期刊荣誉：ASPT来源刊 CJFD收录刊 【摘要】 本文简要介绍了扫描探针显微镜的原理和技术特点,并详细地阐述了它在光盘研究与开发中的应用。一、扫描探针显微镜扫描探针显微镜(ScanningProbeMicroscope),简称SPM。SPM技术是80年代发展起来的一种突破性的 【英文摘要】 The principle and technical features of Scanning Probe Microscope are introduced. Its application in R&D of optical disc is also illustrated in detail. 【DOI】 cnki:ISSN:1672-1268.0.2004-04-013 [img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=98699]扫描探针显微镜及其在光盘开发中的应用[/url]

  • 【注意】扫描探针显微镜版讨论范围（发贴有惊喜哦！）

    扫描探针显微镜同其它的显微镜相比，历史比较短，只有20年的时间，大家了解的少一些，这个版也相对冷清了一些，但是发展相当迅速，大有取代SEM的趋势（大胆！^_^）。希望大家多发贴，发贴的内容主要集中在以下方面：1. 扫描隧道显微镜（STM）的构造、原理；2. 原子力显微镜（AFM）的构造、原理；3. 其它扫描探针显微镜，如MFM，EFM，LFM等的结构和原理；4．扫描探针显微镜的各种成像模式：如接触模式，轻敲模式，非接触模式以及相位成像模式等等；5．扫描探针显微镜的各种模式的技巧；6．各类扫描探针显微镜在各个方面的应用：物理，化学，材料，生物等等，包括各种制样技术；7．纳米蚀刻，纳米操纵等等；8．扫描探针显微镜的发展方向。 欢迎补充！欢迎交流！[em61] [em61] [em61] [em61] [em61]

  • 【分享】扫描探针电子显微镜综述

    [img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=124996]扫描探针电子显微镜综述[/url]++++分享:扫描探针电子显微镜综述

  • 【原创】扫描探针显微镜操作规程

    扫描探针显微镜操作规程一、 接触模式：Contact mode1. 开启设备1.1 依次打开电脑、变压器电源、SPM 控制器电源。1.2 双击SPM 快捷方式，出现SPM manager 窗口，单击setting 的data path，预设数据的存储目录，待SPM 控制器电源显示栏底部显示ready 后点击online。2．固定样品，安装到检测台2.1 检查AFM 头部，确保探针与样品台之间有足够的空间放样，如果距离不够，点击工具栏中release 按钮，直至距离足够时，点击stop。2.2 用双面胶将样品固定于铁片中心上，随后将其置于样品台的中心位置。样品的最大尺寸不超过24mm（直径），8mm（高度）。3. 选择扫描模式在setting 下拉菜单中选择mode and scanner，选中扫描模式（contact mode）和扫描器的大小，点击ok。4. 光路调节4.1 打开setting 下拉菜单中scanner condition，将其operating 值设为0。4.2 打开setting 下拉菜单中panel display，选中vertical deflection，调节激光控制旋钮（样品台右边的前后旋钮），使激光打在悬臂尖端，至少保证信号显示面板上一半的LED 指示灯发亮。4.3 若显示面板上的数值在-5-5 之间，直接调节检测器控制旋钮（垂直方向，即样品台左边的后面旋钮）至显示面板上的数值为0；若显示面板上数值的绝对值大于5，需先调节反光镜使其在-5-5 之间（保持信号显示面板上至少一半的LED 指示灯发亮），再用同样方法将数值调零。4.4 选中panel display 中的horizontal deflection，调节检测器控制旋钮（水平方向，即样品台左边的前面旋钮）至显示面板上的数值为[

  • 【原创大赛】AFM扫描探针污染后是如何再利用的

    【原创大赛】AFM扫描探针污染后是如何再利用的

    AFM扫描探针污染后是如何再利用的 对于做过AFM扫描探针显微镜大多数人来说，都遇到过这样的事，扫描探针在对蛋白质，多肽，DNA分子等形貌成像时，是很容易被污染的，时常带有少量物质粘到针尖上，使图片质量下降，甚至无法成像，从而使针尖报废，提高了检测成本。 对此我专门做了个实验。 选用轻敲模式的针尖，针尖参数如图１所示MODEL：RTESPhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/07/201107051924_303256_2224533_3.jpg 仪器公司：美国VEECO；仪器型号：ＮＡＮＯＭＡＮ　ＶＳ 首先我们来看下新针尖成像的图片２。尺寸如图２，扫描速率１．５ＨＺ。其他参数仪器自动调节。果然是新针尖，新针尖的成像很清晰，针尖本身对负面成像没影响。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/07/201107051925_303258_2224533_3.jpg 我们在看看，这是进过很多次扫过蛋白质分子后被污染的针尖成像。（仪器型号，参数等条件跟上面一样）很明显，图片３上出现了一道一道的波浪纹，图片３严重失真，甚至出现了没发成像（图４）。由此可见污染后的探针是不能在用于检测的。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/07/201107051926_303259_2224533_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/07/201107051926_303260_2224533_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/07/201107051926_303261_2224533_3.jpg 但是就这样报废了吗？一根针便宜的几十RMB，贵的要几百RMB。如果都报废的话，一盒针尖用不了多久又得掏钱买，要是经费充足的话还好说，要是不足的话，可要珍惜着用啊。总之这可都是RMB买来的，要珍惜着用才是。 到底怎么解决这类问题呢？现在我把针尖取下来，取下来干嘛呢！丢了它。当然不是。 首先我用紫外灯照射30分钟左右。如图５所示。然后用镊子夹住针尖放入倒有丙酮溶液的烧杯中，等待浸泡半小时左右如图６所示，然后拿出放入干燥器中晾干。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/07/201107051927_303262_2224533_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/07/201107051930_303264_2224533_3.jpg把清晰过的针尖装上到扫描头上，然后进行常规扫描，得到如图７效果。明显效果出现了，一道一道的波浪纹没有了。这说明针尖上粘有的蛋白质有效地去除了，这样就赚了几十上百RMB，就有效地延长了针尖的使用寿命，降低了检测成本。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/07/201107051930_303265_2224533_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/07/201107051931_303266_2224533_3.jpg

  • 请unht领取原创作品《Flatten在扫描探针显微镜图片后期处理中的神奇作用》的奖励！

    作品链接：Flatten在扫描探针显微镜图片后期处理中的神奇作用unht让我们见识了又一窥探微观的工具——扫描探针显微镜（原子力显微镜），并利用flatten这一后期处理技术，最大程度地还原样品的真实情况。喜欢它就投它一票！http://simg.instrument.com.cn/bbs/081223/images/vote_topic.gif第六届原创大赛7月电镜版区投票帖预祝获奖！unht，这168积分就是你的啦！

  • 【原创大赛】Flatten在扫描探针显微镜图片后期处理中的神奇作用

    【原创大赛】Flatten在扫描探针显微镜图片后期处理中的神奇作用

    首先普及一下扫描探针显微镜的知识：http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09502.gif 原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）是20世纪80年代初问世的扫描探针显微镜（Scanning Probe Microscope，SPM）的一种。1986年，Dr.Binning 因发明扫描探针显微镜而获得诺贝尔物理奖。这种显微镜可以直接观察物质的分子和原子，为进一步探索微观世界提供了理想的工具，对于材料的研制开发，生物分子的表征起到了巨大的作用。进入正题 http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09503.gif Flatten原理：对每条扫描线上没有被MASK的数据根据最小二乘法计算出一个拟合的多项式，然后把这条扫描线上所有的数据点减去此多项式。 用途：用来去除由于扫描管垂直方向的漂移，扫描过程中出现的跳线，扫描管的弧线运动等原因而引起的扫描线之间产生的垂直方向错位。 上面只有文字的描叙有点抽象了http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09512.gif那让我们来看看它神奇的效果吧，有图有真相http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09507.gifhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307051727_449680_2224533_3.jpg （Flatten前的图片）http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307051728_449682_2224533_3.jpg （Flatten前要框住亮点）http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307051730_449684_2224533_3.jpg （Flatten后）在来看看它3D图的变化http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307051731_449686_2224533_3.jpg Flatten前http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307051732_449687_2224533_3.jpg Flatten后 很明显Flatten前后的差别，当然有人会问你这样Flatten之后是不是图像变得不真实了呢？那么我们在Flatten时应该注意这些事项： 在做flatten时，一定要把图象中不在同一平面内的特征stopband框起来，然后再进行处理，否则在具有高特征区域的水平线上会处理低的区域；而在具有低特征区域的水平线上会出现高的区域。对图像分析产生的影响：由于flatten去除了扫描线与扫描线之间的垂直方向的offset，它同时也就修改了图象Y方向的信息，所以在分析图象时要注意到这点，比如1. 在做roughness分析时，flatten对结果的影响会很大。2. 在测量台阶高度时，如果扫描方向与台阶垂直，flatten没有什么影响；但是如果扫描方向与台阶平行，用flatten处理图象则会产生很大的影响。以上就是我对Flatten的神奇效果的理解http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/e

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