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纳米谐振器

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纳米谐振器相关的仪器

  • 首创、独有的纳米红外功能和性能Bruker公司推出的Dimension IconIR是一款集合了纳米级红外光谱(nanoIR)技术和扫描探针显微镜(SPM)技术的系统。它整合了数十年的技术创新和研究成果,可以在单一平台上提供无与伦比的纳米级红外光谱、物理和化学性能表征。该系统具有超高的单分子层灵敏度和化学成像分辨率,在保留DimensionIcon最佳的AFM测量能力的同时,还提供了极大的样品尺寸灵活性。Dimension IconIR利用Bruker独有的PeakForce Tapping纳米级物性表征技术和专利的纳米红外光谱技术,使得它能够在纳米尺度下对样品进行纳米化学、纳米电学和纳米力学的关联性表征。只有Dimension IconIR具备:与FTIR完全吻合的红外光谱,优于10 nm的空间分辨率和单分子层灵敏度的高性能纳米红外光谱化学成像可与Peakforce Tapping纳米力学和纳米电学属性表征相关联高性能的AFM成像功能和极大的样品尺寸灵活性广泛适用的应用配件和AFM功能模式专利技术保证真实的红外吸收光谱AFM-IR通过采集样品的热膨胀信号(PTIR)还原样品的红外吸收光谱。由于检测区域的热膨胀只与样品在该波长下的吸收强度有关,而常规的傅里叶红外光谱(FTIR)检测的也是样品在该波长下的吸收强度,因此AFM-IR获得的红外吸收光谱与传统的红外吸收光谱高度吻合。红外吸收成像除采集指定区域的红外吸收光谱外,Dimension IconIR同时提供了固定红外脉冲波长,检测样品表面某一区域在该波长下吸收强度的功能。在该工作模式下,Dimension IconIR会将红外脉冲激光固定在研究者所选的波长,用AFM探针扫描需要检测的表面,记录探针针尖在每个位置检测到的红外吸收强度,并同时给出AFM形貌和该波长下的红外吸收成像。专利保护的接触共振技术专利保护的共振增强技术将测量灵敏度提高到单分子层级别,达到最高的光谱检测灵敏度。因为基于原子力系统的红外技术是以探针来检测样品表面在红外激光作用下的机械振动,随着厚度的减小,这种位移量变得极其微小,超出了原子力显微镜的噪音极限。我们利用专利保护的可调频激光优化脉冲信号频率,使之与探针和样品的接触共振频率吻合,那么这种单谐振子共振模式就能把微弱信号放大两个数量级。。智能光路优化调整,保证实验效率红外激光和AFM联用系统的最大挑战在于光路的优化,为了得到最佳的信号,在实验过程中光斑中心应该始终跟随探针针尖位置并保持良好的聚焦。但是在调频过程中,激光光束的发射角度会随着波长的变化而改变,进而改变光斑位置,聚焦状态也会变化。布鲁克采用全自动软件控制automatic beam steering和自动聚焦系统来修正光斑位置的偏移和聚焦,大大改善了传统联用系统需要手动调节的不便和低效率。同时全自动动态激光能量调整保证信号的稳定性,避免红外信号受激光不均匀功率的影响。
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  • 变频谐振高压发生器,串联谐振耐压测试装置,变频谐振耐压测试仪华宝牌变频谐振高压发生器是华宝电气与华豪电力借鉴美国最新技术依据国家电力试验标准研制生产的高智能、大容量、多保护、积木式变频谐振高压发生装置变频谐振耐压测试装置。HB-BXG,,QQ11231349681、输出标准正弦波,畸变率<0.5%2、可整定电压、频率、保护电流,试验时间3、自动调频调压,可存储一千组实验数据4、频率:0.1-320Hz, 分辨率:0.01-0.001Hz5、超小、轻、积木型干式电抗器和干式变压器6、具有三种工作模式,方便用户灵活选择,提高试验速度,工作模式为:全自动模式、手动模式、自动调谐手动升压模式.7、自动扫频时频率起点可以在规定范围内任意设定,扫频方向可以向上、向下选择,同时液晶大屏幕显示扫描曲线,方便使用者直观了解是否找到谐振点8、采用了DSP平台技术,可以方便的根据用户需要增减功能和升级,也使得人机交换界面更为人性化。关键词:变频谐振高压发生器,串联谐振耐压测试装置,变频谐振耐压测试仪变频串联谐振交流耐压试验装置、变频谐振、变频串联谐振、串联谐振、串联谐振耐压装置、调频串联谐振、串联谐振耐压试验装置、串联谐振试验设备、电缆耐压试验装置、工频耐压试验装置、高压交联电缆交流耐压试验设备、交流耐压试验装置、调频谐振、调频串联谐振交流耐压试验装置,交流串联谐振,交流变频串联谐振,变频谐振,变频串谐,串谐试验装置,串谐耐压装置,GIS交流耐压试验装置,发电机工频(交流)耐压试验装置,电动机工频(交流)耐压试验装置、变压器工频(交流)耐压试验装置主要产品:微机继电保护测试仪、瓦斯继电器校验台、气体继电器校验仪、大电流发生器、热继电器校验仪、检漏继电器校验仪、电缆芯线对号器、直流高压发生器、高压数字兆欧表、变压器油耐压测试仪、直流电阻测试仪、回路电阻测试仪、电缆故障测试仪、多功能电力参数测试仪、模拟断路器(开关)、试验变压器、交直流耐压装置、伏安特性综合测试仪、智能钳型相位伏安表、核相器、开关动特性测试仪、变压器变比组别测试仪、变压器容量损耗测试仪、单/双钳式接地电阻测试仪、有载分接开关测试仪、液体介损电阻率测试仪、绝缘油含气量测试仪、气体密度继电器校验仪、真空度测试仪、氧化锌避雷器带电测试仪详情请登录:或或查询。 HB是华宝电气的简称,购买时请认准青岛华宝电气以防假冒
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  • 产品描述压电陶瓷执行器能够在0 μm至200 μm甚至更高的运动范围内实现出色的性能,并产生高达1200N的输出力。PAL M14在非常紧凑的直径为M14mm外壳中提供了标称行程范围内的纳米分辨率和毫秒级的响应时间。M14系列促动器可以产生高达1200 N的力。在开环版本中,分辨率仅受控制电路的噪声限制,但由于压电陶瓷材料的滞后和蠕变,其可重复性和稳定性受到影响。固定是通过压电促动器壳体M14外螺纹完成的,移动端应避免弯矩载荷和侧向力。M14系列封装压电促动器的内部为压电直驱结构,因此,高度越高,位移将越大。可选的应变测量反馈闭环操作版本,采用高分辨率应变测量位置传感器,具有高精度和可重复的运动,也补偿压电陶瓷的蠕变特性。SGS采用全桥方式传感器,并且对温度不敏感,闭环装置可以用于开环或闭环控制。产品特性—负载: 1200 N—出力: 1200 N—高刚度—高谐振频率选配功能—可选择移动端为内螺纹、外螺纹、平头、球头—可选LEMO/ BNC输出端连接器及线缆长度—可选闭环(SGS) 位置反馈系统—可选热稳定性管理方式及各种移动端转接方式应用范围—模态分析—振动控制—材料测试—机械工业PAL M14系列外形尺寸订购信息 产品型号移动端形式传感器移动端转接形式(选配)电气连接线缆长度PAL..M14-S球面端/平面端/内螺纹端/外螺纹端SGS外螺纹端转平面端/外螺纹端转球面端/内螺纹端转平面端/内螺纹端转球面端BNC / LEMO1.5mPAL..M14球面端/平面端/内螺纹端/外螺纹端/外螺纹端转平面端/外螺纹端转球面端/内螺纹端转平面端/内螺纹端转球面端BNC / LEMO1.5m
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  • 纳米操作机、纳米机械手、纳米操纵机械臂、纳米操纵仪TNI LF-2000产品简介TNI LF-2000是兼容SEM/FIB的自动化纳米操作系统,也是能够在SEM/FIB下提供可重复定位、低漂移、闭环运动控制定位的纳米操作系统。产品特性 兼容主流电镜,不影响电镜功能 具有大行程、亚纳米分辨率运动定位性能 位移传感器集成自动化和可编程运动 SEM真空环境优化设计,可快速安装与拆卸规格参数系统概况系统尺寸127x127x33mm3*机械手数量1-4操作手(宏动)驱动原理粘滑驱动运动范围XY轴:10mm Z轴:5mm速度3mm/s最小步长100nm操作手(微动)驱动原理无摩擦柔性铰链运动范围XYZ轴:20μm速度45μm/s开环运动分辨率0.5nm闭环运动分辨率1nm定位漂移率0.35nm/min软件功能**点击-移动鼠标在电脑屏幕上从A移动到B自适应放大倍数定位器移动速度根据SEM放大自动调整操作手位置保存/加载用户自定义的“保存/加载”操作手坐标3D虚拟显示实时三维显示操作手的位置和运动自动校准操作手闭环传感器自动校准运动轴的自动对准所有操作手运动轴自动对准SEM图像轴*系统尺寸可根据需要减小到50x50x17mm3**可根据选定SEM/FIB的型号而定应用案例电学特性LifeForce为纳米材料提供可靠、低噪音的电测量,以及与纳米结构的原位相互连接。实例照片展示的是四探针测量纳米线电学性能。力学测量LifeForce为纳米材料的力学特性提供高分辨率的力和位移反馈,实例照片展示的是用球端AFM悬臂探针对硅纳米线簇进行纳米压痕,以及对单根纳米线的拉伸测试。拾取和放置操作使用末端工具(例如:探针、微纳米夹持器、超声切割针),操作者能够操作LifeForce纳米操作手在SEM电镜内对微纳米物体进行推、拉和抓取等操作。制作微纳米器件精密的操作手运动能够实现微纳米器件的快速成型和后处理。实例照片展示的是纳米线FET传感器的构造。纳米电子器件电学测量LifeForce纳米操作机是市面上能够自动探测电子结构(范围从亚微米,亚100nm及亚20nm)。只需要通过计算机点击鼠标,将探针定位到目标位置。极低得定位漂移,保证数据采集得可靠性。 主要软件功能① 位置反馈:提供每个操作手XYZ精确得位置反馈,1纳米运动定位分辨率。② 保存/加载坐标:保存和加载多个操作手得坐标。③ 自动校准:限度地提高定位性能,并将操作手运动轴对准扫描电子显微镜图像轴。④ 3D虚拟显示:实时3D虚拟空间显示操作手(粉红色方块)和样品(绿色平面)得位置。⑤ 点击-移动:通过在屏幕上鼠标点击控制操作手运动。⑥ 多操作手联动:连接多个操作手得运动,具有纳米级精度。⑦ 图片-视频录制:保存操作过程中的高清图片和视频。
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  • 纳米操作机、纳米机械手、纳米操纵机械臂、纳米操纵仪TNI LF-2000产品简介 TNI LF-2000是目前市面上基于SEM电镜下使用的自动化程度最 高的纳米操作系统,也是一种能够在SEM电镜下提供可重复 定位、低漂移、闭环运动控制定位的纳米操作系统。 产品特性 完全兼容主流电镜,不影响电镜功能 市面上较佳的运动定位性能:大行程、亚纳米分辨率 位移传感器集成自动化和可编程运动 SEM真空环境优化设计,可快速安装与拆卸规格参数应用案例电学特性LifeForce为纳米材料提供可靠、低噪音的电测量,以及与纳米结构的原位相互连接。图片展示的是四探针测量纳米线电学性能。力学测量LifeForce为纳米材料的力学特性提供高分辨率的力和位移反馈,图片展示的是用球端AFM悬臂探针对单根纳米线的拉伸测试。拾取和放置操作使用末端工具(例如:探针、微纳米夹持器、超声切割针),操作者能够操作LifeForce纳米操作手在SEM电镜内对微纳米物体进行推、拉和抓取等操作。制作微纳米器件精密的操作手运动能够实现微纳米器件的快速成型和后处理。图片展示的是纳米线FET传感器的构造。
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  • 扫描俄歇纳米探针 400-860-5168转4058
    1. 使用CMA通州分析器,同时实现高灵敏度和高传输率。即使在低电流高空间分辨率情况下,都可轻松的进行分析。2. 以20kV加速电压和电流1nA进行俄歇分析,AES空间分辨率可达≤8nm3. 在保有所有CMA的优点同时,并加上了获得AVS(美国真空协会)设计奖的高能量分辨率功能,可以AES进行各种纳米级区域的化学态分析4. Windows兼容软件 同轴筒镜分析高灵敏度和高通量分析仪CMA1.同轴筒镜分析仪同轴CMA是PHI公司在其电子光谱仪的中心轴上放置电子枪。CMA能各方面360度收集产生的俄歇电子,因此具有不受样品形貌和倾角影响的优点,下图显示同轴CMA和非同轴谱仪SCA的灵敏度特点。CMA从垂直入射到角度入射均能表现出高灵敏度特点,角度依赖性低,从而采用各种入射角度,分析各种形貌的样品均可得到好的定量结果。 △同轴CMA及非同轴分析器SCA灵敏度的比较 2.比较分析形态复杂的样本下图比较CMA和SCA所采集的铜锡球SEM成像,以及俄歇成分像,SCA中俄歇成分图的阴影效果非常明显,而CMA所获得的SEM像和俄歇成分像可准确地反映真实结果。 △球状样品中CMA和SCA数据的比较SEM空间分辨率≤3nmAES成分像空间分辨率≤8nm 俄歇分析通过SEM观察确定分析位置,再进行采谱,成分分布成像和深度剖析。在SEM观察时需要细小的聚焦电子束斑,同时进行俄歇分析,需要非常稳定的电子束。SEM成像分辨率可达3纳米左右,AES710使用低噪声电源(图1),采用隔音罩以减小震动、声音和温度的影响,AES分析时分辨率可达到8nm(20kV 1nA)图2案例:球墨铸铁断面中晶间杂质的分析。图2所示:二次电子像,Ca(蓝色)Mg(绿色)Ti(红色)俄歇成分像,以及S的俄歇成分分布像,表明了AES纳米级微区的化学分析能力。 AES化学态分析图谱和分布像PHI710 AES成分像,每个像素点对应的图谱可对元素存在的化学态进行解析,进而化学态成像。高能量分辨率下图显示半导体芯片电极Si KLL的高能量分辨率成分分布图。由Si KLL谱进行 小二乘法拟合(LLS)得出三个主要成分:硅、氮氧化硅、金属硅化物,可得到这三种硅的化学态在同一表面的分布像。 △半导体芯片电极分析实例 基于Windows系统的操作软件和数据处理软件SmartSoftTM-AES(操作软件)SmartSoft AES是在Windows系统上运行的PHI710控制软件。软件设置的AES分析操作流程显示在屏幕上,即便是初学者也可以轻松掌握。为提高分析效率,实时测量位置,SEM图、俄歇分布图及谱图等都能同事呈现。Zalar旋转功能使深度剖析灵活实现,烘烤和真空控制自动化。下图是操作屏幕画面。 PHI MultiPakTM(数据分析软件)提供分析软件PHI MultiPak使俄歇分析更完善。支持快速创建报告,并提供了基于WINDOWS系统的易于使用的数据处理功能和数据分析能力。
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  • 产品描述PSWH30-005U系列是具有纳米级定位分辨率的高速,多轴,精密纳米定位系统。本系列产品提供多功能性,可以配置XY或XYZ运动,并拥有独立的Z/X轴运动产品。可选配内部位置传感器进行闭环,可进行重复的位置测量。体积小,外形尺寸仅有30x30x33mm,具有高谐振频率,高稳定性,高精度使其非常适合需要低噪声和高速性能的计量应用。可根据客户要求定制。PSWH30-005U系列压电陶瓷元件直接移动工作台面,具有高刚性,即使在高负载下可实现稳定定位。产品特性—高速1ms响应,多轴定位—最短的响应时间—亚纳米范围内的高分辨率—高度紧凑的设计带来卓越的性能选配功能—可定制孔位及转接装置—可选PZT&Sensor连接器及线缆长度—可选配闭环(SGS) 位置反馈系—可提供XYZ版本应用领域—原子力显微镜、扫描探针显微镜—测量、计量—光学探针、光学扫描、光束对准—微流体技术 结构原理 叠堆形式 典型应用PSWH30-005U系列技术参数
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  • 产品描述PS2H30-005U系列是具有纳米级定位分辨率的高速,多轴,精密纳米定位系统。本系列产品提供的多功能性,可以配置XY或XYZ运动,并拥有独立的Z/X轴运动产品。可选配内部位置传感器进行闭环,可进行重复的位置测量。体积小,外形尺寸仅有30x30x30mm,具有高谐振频率,高稳定性,高精度使其非常适合需要低噪声和高速性能的计量应用。可根据客户要求定制。PS2H30-005U系列压电陶瓷元件直接移动工作台面,具有高刚性,即使在高负载下可实现稳定定位。产品特性—高速1ms响应,多轴定位—最短的响应时间—亚纳米范围内的高分辨率—高度紧凑的设计带来卓越的性能选配功能—可定制孔位及转接装置—可选PZT&Sensor连接器及线缆长度—可选配闭环(SGS) 位置反馈系—可提供XYZ版本应用领域—原子力显微镜、扫描探针显微镜—测量、计量—光学探针、光学扫描、光束对准—微流体技术 结构原理 位移特性 典型应用PS2H30-005U系列技术参数
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  • 超导纳米线探测器 400-860-5168转3912
    武汉东隆科技为美国Quantum Opus的中国区独家代理,欢迎您来电垂询!Opus One 超导纳米线探测器系统Opus One™ 超导纳米线探测器系统配有定制的紧凑型桌面低温恒温器(预先安装的16/32通道以及低温恒温器中的所有电接线),光学实验室友好型水冷压缩机(低空气循环,低噪声,低热量输出),偏置和高速放大器电子元件以及易于使用的软件控制库。 专有的纳米线材料允许纳米线工作在 2K,降低低温系统的复杂性,并允许系统连续工作3年。Opus One 是基于超导纳米线技术的单光子探测器,在1550 nm的探测效率高达85 %,通过对谐振腔的调节 , 可以将提供特殊设计、订购和组装。700~1300 nm指定波长的探测效率提高到90%。除此之外,该探测器还拥有极低的暗噪声和超快的时间分辨率, 计数率高达40Mcps。产品特点 工作温度在2.5k即可达到高探测效率支持定制规格支持定制宽波段响应3U 紧凑化设计低噪声水冷压缩机2um以上红外响应定制 产品应用 量子光学量子计算量子密钥通信低通量生物光子学荧光测量参数 * 可定制更高探测效率850nm 950nm 1310nm 1550nm SDE 90%90% 80%*80%*暗计数率 1Hz 1Hz10Hz100Hz时间抖动 80ps80ps 100ps100ps脉冲幅值 600mV600mV300mV300mV死时间 50ns50ns50ns50ns
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  • Z向纳米定位物镜平台 400-860-5168转6164
    技术特点:超高定位精度高动态多运动模式:定位/扫描兼容超高真空运动行程:50~200um 应用领域:超分辨显微成像表面微纳结构光学检测 规格参数:型号NP-OL-Z-100运动轴Z传感器类型电容式位移传感器行程 (um)100闭环分辨率 (nm)0.35空载谐振频率 (Hz)900最大负载 (kg)2材料铝合金尺寸 (mm)75X95X80纳米定位平台
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  • 产品描述PS3H30-005U系列是具有纳米级定位分辨率的高速,多轴,精密纳米定位系统。本系列产品提供多功能性,可以配置XY或XYZ运动,并拥有独立的Z/X轴运动产品。可选配内部位置传感器进行闭环,可进行重复的位置测量。体积小,外形尺寸仅有30x30x42mm,具有高谐振频率,高稳定性,高精度使其非常适合需要低噪声和高速性能的计量应用。可根据客户要求定制。PS3H30-005U系列压电陶瓷元件直接移动工作台面,具有高刚性,即使在高负载下可实现稳定定位。产品特性—高速1ms响应,多轴定位—超快的响应时间—亚纳米范围内的高分辨率高度紧凑的设计带来卓越的性能选配功能—可定制孔位及转接装置—可选PZT&Sensor连接器及线缆长度—可选配闭环(SGS) 位置反馈系—可提供XYZ版本应用领域—原子力显微镜、扫描探针显微镜—测量、计量—光学探针、光学扫描、光束对准—微流体技术 结构原理 步进图像 典型应用PS3H30-005U系列技术参数
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  • 技术特点: 超高定位精度 高动态 轴间运动学解耦设计 多运动模式:定位/扫描 兼容超高真空 运动行程:50~200um应用领域: 光学对准 纳米压印 显微成像/操纵 表面检测 半导体加工规格参数:型号NP-ST-XY-100位移方向X,Y传感器类型光栅/激光干涉仪行程(um)100X100闭环分辨率(nm)0.35空载谐振频率(Hz)900最大负载(kg)1材料铝合金尺寸(mm)130X130X20
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  • 俄歇电子能谱仪(Auger Electron Spectrometer, AES)为微电子业常见的表面分析技术之一。原理是利用一电子束为激发源,使表面原子之内层能阶的电子游离出,原电子位置则会产生电洞,导致能量不稳定,此时外层电子会填补产生之电洞,进而释放能量传递至外层能阶电子,造成接受能量的电子被激发游离,游离的电子即为Auger电子。因其具有特定的动能,所以能依据动能的不同来判定材料表面的元素种类。PHI的710纳米探针俄歇扫描 提供高性能的俄歇(AES)频谱分析,俄歇成像和溅射深度分析的复合材料包括:纳米材料,催化剂,金属和电子设备。维持基于PHI CMA的核心俄歇仪器性能,和响应了用户所要求以提高二次电子(SE)成像性能和高能量分辨率光谱。PHI的同轴镜分析仪(CMA)提供了同轴分析仪和电子枪的几何实现高灵敏度多角度广泛收集,以便完成三维结构图,在纳米级技术的发展这是最基础的。为了提高SE成像性能,闪烁探测器(Scintillator)已被添加以提高图像质量,另再加上数码按钮的用户界面再一次的提高了易用性。在不用修改CMA和仍维持俄歇在纳米分析的优势下,再添加了高能量分辨率光谱模式,使化学态分析的可能再大大的提高。总括来说,700Xi以优越的俄歇纳米探针从世界ling先的俄歇表面分析仪器,提供了实用和成熟的技术,以满足纳米尺度所需要的广泛实验与研发的用途。同轴电子枪和分析几何和高级的俄歇灵敏度:710的场发射电子源提供了一个高亮度而直径小于6 nm的电子束以产生二次电子成像。710的同轴几何使用了“同轴式分析器(CMA)”,促使高灵敏度俄歇通过广泛角度收集进行分析,即使样品是表面平滑或复杂的形状或高表面粗糙度,都可以确保迅速完成所有分析程序。高稳定性成像平台:隔声外壳与振动隔离器提供更稳定的成像和分析。隔声外壳从真空控制面板降低频率范围从30赫兹到5K赫兹左右的20 dB的声压等级(SPL),稳定的温度大约降低系统造成SEM图像漂移。新的振动隔离器也减少了地面振动对扫描电镜图像和小面积分析的影响。增强的SE图像用户界面:PHI710增强SE成像性能,闪烁器检测器(Scintillator)已被添加在仪器上从而提高图像质量,加上数码按钮的用户界面更再次提高了使用的方便性。新的高分辨率光谱模式:随着PHI的新技术,能量分辨率可调从0.5%到0.05%。多种化学物质的状态可以更容易有效的被观察出来。PHI SmartSoft-AES用户界面:PHI SmartSoft是一个操作仪器上为用户的需要而着想的软件界面。该软件是任务导向型和卷标在顶部的显示指引用户通过引入样品,分析点的定义,并设置了分析。多个位置分析可以定义和zui佳范例的定位提供了一个强大的“自动Z轴调整”的功能。在广泛使用的软件设置,可让新手能够快速,方便地设置了测量,并在未来可以轻易的重复以往或常用的类似测量。
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  • 同轴辐射器、谐振腔,材质:铜或铜合金,主要部件全部镀银
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  • Queensgate生产高速、高精度的压电式平台和皮米级分辨率的电容式传感器,用于最苛刻的纳米定位应用。专门从事要求高性能、高负载和高速的定制解决方案,通常适用于要求很高的环境。提供OP400物镜定位器和NanoScan SP纳米定位平台系列产品。最佳步进稳定及定位性能高通量筛选和分析是生物和材料科学成像的支柱。因此,OP400和SP系列的设计考虑到了速度,产品在全行程范围内可提供快速性能以及市场上较快的步进整定时间。这意味着高分辨率的长距离z–stacking在速度上迈入了新的领域。高速扫描会导致振荡,进而影响图像质量和z-stacking,甚至对纳米定位系统造成损坏。Queensgate产品具有高谐振频率;与Queensgate专有的数字控制技术结合,系统可以在没有振荡风险的情况下以同类最佳速度运行。有了Queengate的专业技术,不再需要由于系统不稳定或牺牲z-stack采集速度,而舍弃每个stack开始的图像。速度不会影响性能。SP系列有 400nm 和 600nm 行程范围可选,拥有同级较短行程产品相当或更优越的性能。OP400的线性度是典型压电式物镜定位器的两倍,同时具有良好的线性度和可重复性。这两种产品在实验中都具有极高的轴向分辨率,提供亚纳米分辨率。生物科学家认为,显微镜z轴的机械分辨率显然会高于其成像技术的光学分辨率。根据不同的分析方法,可检测或成像低至0.7nm的形态变化,是半导体或冶金样品表面检测的理想选择。这一系列操作都是通过集成的超灵敏电容式传感器实现的,无论移动速度或系统温度如何,传感器都能提供最高的定位灵敏度。轻松集成,助力实验成功尽管纳米定位设备的性能在市场上有很大优势,但相对于其系统的其他组件来说,用户几乎不需要校准这些纳米设备。产品的最高速度设置可与重达500g的物镜兼容,并为专业物镜提供二次校准。Queensgate的NPC控制器系列可完成其余工作。用户有理由相信Queensgate能够提供适合其实验需求且开箱即用的产品。 OP400和SP系列不仅易于设置,而且能够与各类显微镜兼容。OP400可兼容任何螺纹尺寸的显微镜鼻轮和物镜,包括32mm宽视场系统。NanoScan SP系列与所有的Prior Scientific倒置步进、直线电机平台兼容,也可兼容尼康,奥林巴斯和其他主流显微镜制造商的电动平台,以及东海希多和Okolabs的培养箱。此外,系统还可用于增强Prior的硬件PureFocus 850快速自动对焦系统的性能,为长时间延时实验提供 +/- 50nm 的聚焦稳定性。应用 共聚焦,超分辨,电生理,形貌测量等要求样品绝对稳定性的显微镜应用。
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  • 产品描述PFR150系列超薄型XY(Z)多轴纳米定位压电平台,可用于与倒置显微镜的标准大范围纳米定位压电平台集成在一起。载物台具有较大的孔径,可容纳行业标准的样品架/微孔板、便于进行进行活细胞研究。PFR150系列为研究人员提供了对Z轴的快速,高精度控制,是反卷积,3D重建和共聚焦显微镜的理想选择;尤其适用于需要活细胞的应用。与其他仅移动一个物镜的压电聚焦设备不同,PFR150可以在载物框架位置使用,从而确保不失去共焦性。PFR150系列的闭环行程为80~200 μm,可与蔡司、尼康、奥林巴斯、莱卡等显微镜配合使用。其中压电平台,压电控制器和专接板均单独出售。可选的应变测量反馈闭环操作版本,采用高分辨率应变测量位置传感器,具有高精度和可重复的运动,也补偿压电陶瓷的蠕变特性,闭环装置可以用于开环或闭环控制。可选附件转接环,方便用户安装到指定设备中。产品特性—位移:80μm/150μm(闭环)—中空尺寸:83×93 mm—适用于质量达1000g样品扫描—嵌入型设计—并联结构设计具有高谐振频率选配功能—可定制转接装置—可选PZT&Sensor连接器及线缆长度—可选配闭环(SGS) 位置反馈系—可选择定制其它固定方式及培养皿支架应用领域—超分辨率显微镜—表面扫描和分析、测量技术—筛选、生物技术—自动聚焦系统—共聚焦显微镜 结构原理 响应特性 典型应用PFR150-XYZ100U/200U系列技术参数
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  • 一、电磁谐振式高频疲劳试验机产品制造和检验标准1、 JB/T5488—91《高频疲劳试验机》标准;2、 GB2611—92《试验机通用技术要求》;3、 JB/T8286—1999《轴向加荷疲劳试验机动态力校准》。二、电磁谐振式高频疲劳试验机主要技术特点1. 电磁谐振式高频疲劳试验机主 机1.1 主机框架采用门式结构,双丝杠传动,刚度高、试验空间大,又能很好地保证同轴度。保证试验数据的精确性、稳定性。下台座带有梯型槽,试样装夹非常方便。1.2 主机采用多自由度的力学模型进行优化设计,使动态力误差远小于同类产品,其波动度指标高于同类产品(静态试验力精度±0.5%,静态、动态试验力波动度均高达±0.5%)。1.3 由于主机模型分析及设计上的独到之处,使本公司的高频机在整个频率范围内一般不需要动态试验力补偿。1.4 交流伺服电机及伺服驱动系统采用日本松下公司产品,调速范围宽,可靠性高。2. 电磁谐振式高频疲劳试验机 控制系统2.1 控制系统采用数字闭环控制系统,智能化数字选频,可有效地抑制非谐振频率的干扰,对频率、相位等自动跟踪,使控制系统能够始终工作在主机谐振点上,波形失真度小,工作稳定、起振容易,且不随试样或构件本身性能的变化而停振。2.2 具有常规疲劳试验(对称或不对称)、块谱疲劳试验,调制控制疲劳试验等功能。2.3 负荷放大器自动调零、自动标定。2.4 具有超载、超行程、过压、过流、过热等保护功能;可任意设置负荷保护上、下限;具有事故自动停机及试样断裂自动停机;自动记录试验数据,保证试验的有效性。3. 电磁谐振式高频疲劳试验机 计算机及软件系统3.1 由计算机直和控制系统紧密配合接对试验系统进行管理和控制,在计算机上,采用虚拟面板形式,按钮式操作。对试验全程操控。3.2 具有疲劳裂纹扩展等速率试验功能,也可完成在疲劳裂纹扩展中的等应力疲劳试验。3.3 支持网络功能,即可在办公室、家中等地监视(或经授权监控)试验,试验过程中可做到无人值守,保护功能完善,稳定性、可靠性高于其他同类产品。二、电磁谐振式高频疲劳材料试验机主要技术指标1. 最大静态试验力: ±100kN2. 最大单向脉动试验力: ±100kN3. 最大动态试验力(峰值): 50kN4. 试验力分档: 1、2、5、10(或2%—100%F.S)5. 静态试验力精度: ±0.5%6. 试验力波动度(24小时):静态试验力波动度:±0.5%动态试验力波动度:±0.5%7. 频率范围:60 ~ 300Hz. 5级频率调节8. 试验空间:上下空间:700mm 试验跨度:580mm9. 电能消耗:三相电源380V;300VA;2500VA(电机运行时)10. 重量:2800kg
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  • 产品描述PFC-030U是重载设计的压电陶瓷物镜聚焦平台,是专门用于显微镜物镜的精确定位设计。典型应用为半导体晶圆切割领域,它设计为30μm的行程。PFC-030U的应用范围包括:Z向移动,3D成像,自动对焦或与我们提供的XY纳米位移台设备一起使用。PFC-050U/100U本体由铝,钢和黄铜制成,闭环配有稳定性的传感器采用全闭环配置。。黄铜安装环可以轻松更换,以使每个物镜都适合PFC纳米定位器。可用的标准产品包括RMS,M25,M26,M27、M32、M38等,也可以按需定制。本系列产品可匹配蔡司、尼康、奥林巴斯、徕卡等多种标准镜头。零间隙,高精度柔性铰链导向系统可实现更好的聚焦稳定性。它们的刚性可实现高负载能力,可带动较大物镜的高动态定位和扫描。可选的应变测量反馈闭环操作版本,采用高分辨率应变测量位置传感器,具有高精度和可重复的运动,也补偿压电陶瓷的蠕变特性,闭环装置可以用于开环或闭环控制。产品特性—位移:30μm(闭环)—螺纹尺寸:W0.8x1/36“至M32x0.75—适用于质量达1Kg专用物镜—超紧凑型设计高谐振频率选配功能—可定制转接装置及固定方式—可选PZT&Sensor连接器及线缆长度—可选配闭环(SGS) 位置反馈系—可选择定制其它螺纹规格应用领域—倒置/正立显微镜—表面扫描和分析、AFM显微镜—生物技术(例如细胞扫描)—光束聚焦用于印刷过程—半导体测试设备 结构原理 响应时间 典型应用PFC-030U系列技术参数
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  • 德国JENOPTIK Laser GmbH公司(简称JL)是优质的半导体激光器生产商。JL一直致力于高质量的半导体激光器生产,已经形成了一条从外延片生长、芯片处理、封装到光纤耦合完整的半导体激光器产品线。其产品严格奉行质量第一的原则,引入了完整的质量控制体系,通过了ISO9000认证。其产品同时具有高性能和超长的寿命,经过测试表明工作寿命可超过20000小时。在欧美市场占有很高的市场份额。Jenoptik Laser GmbH的全资子公司Jenoptik Diode Lab公司是半导体激光器芯片生产单位,技术实力雄厚,可以生产多个波段和多种规格的高功率半导体激光器裸巴。Jenoptik在生产半导体材料时进行严格的质量控制。采用先进的外延、加工和镜面涂层技术。因此,Jenoptik为高功率二极管激光器提供的激光巴条、半导体巴条、单发射器符合严格的要求:它们可靠、高效、耐用。采用标准的焊接方法,即可将Jenoptik的半导体产品轻松组装。该材料同时支持锡焊(铟)和硬焊料(金/锡)。Jenoptik向您提供p侧发射器结构分离的标准激光巴条。Jenoptik亦可根据要求,采用低增透膜组装外部谐振器,生产p侧连续金属化的巴条以及经调整的镜面涂层。 技术规格砷化稼铟半导体光纤输出功率:6瓦特至200瓦特连续和500瓦特准连续标准波长:760至1060纳米(其他应要求提供)填充系数:10%,20%,30%,50%,75%(其他应要求提供)谐振器长度:0.6毫米,1.0毫米,1.5毫米,2.0毫米,4.0毫米(其他应要求提供)可选:低增透膜(通常0.3%)可选:连续金属化产品特点高的光输出功率高效率优质的光束特点高可靠性长寿命波长 nm填充因子 %共振长度 mm功率 W产品型号760301.540JDL-BAB-30-19-760-TE-40-1.579230260JDL-BAB-30-19-792-TE-60-2.0808201.550JDL-BAB-20-19-808-TE-50-1.580820260JDL-BAB-20-19-808-TE-60-2.0808300.620JDL-BAB-30-19-808-TE-20-0.680830140JDL-BAB-30-19-808-TE-40-1.0808301.550JDL-BAB-30-19-808-TE-50-1.580830260JDL-BAB-30-19-808-TE-60-2.080850140JDL-BAB-50-47-808-TE-40-1.0808501.560JDL-BAB-50-47-808-TE-60-1.580850280JDL-BAB-50-47-808-TE-80-2.0808751.5300JDL-BAB-75-62-808-TE-300-1.5808-48JDL-BAE-200-808-TM-8-4.0880502100JDL-BAB-50-47-880-TE-100-2.0915201.560JDL-BAB-20-19-915-TE-60-1.591520280JDL-BAB-20-19-915-TE-80-2.091530140JDL-BAB-30-19-915-TE-40-1.091530280JDL-BAB-30-19-915-TE-80-2.0940201.560JDL-BAB-20-19-940-TE-60-1.594020280JDL-BAB-20-19-940-TE-80-2.0940301.560JDL-BAB-30-19-940-TE-60-1.594030280JDL-BAB-30-19-940-TE-80-2.0940501.580JDL-BAB-50-47-940-TE-80-1.5940502120JDL-BAB-50-47-940-TE-120-2.0940503.5160JDL-BAB-50-47-940-TE-160-3.5940751.5300JDL-BAB-75-37-940-TE-300-1.5976201.560JDL-BAB-20-19-976-TE-60-1.597620280JDL-BAB-20-19-976-TE-80-2.0976301.560JDL-BAB-30-19-976-TE-60-1.597630280JDL-BAB-30-19-976-TE-80-2.0976501.580JDL-BAB-50-47-976-TE-80-1.5976502120JDL-BAB-50-47-976-TE-120-2.0
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  • 美国SonoPlot是柔性印刷电子行业内畅销的高品质微纳米材料沉积喷墨打印系统(又名高分辨毛细作用直写打印系统),广泛用于制备可控电极薄膜、聚合物光电器件、碳纳米管石墨烯器件、微电子器件 、不同材料的多重构筑以及定位定量微纳修补等应用领域。创新的超声谐振释放机制可以完美解决传统压电式喷墨打印技术线宽限制问题,打印不连续,打印材料受限,不能打印一维二维材料,薄膜不均匀,无法定位以及更换喷头昂贵的诸多技术瓶颈。
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  • 美国SonoPlot是柔性印刷电子行业内畅销的高品质微纳米材料沉积喷墨打印系统(又名高分辨毛细作用直写打印系统),广泛用于制备可控电极薄膜、聚合物光电器件、碳纳米管石墨烯器件、微电子器件 、不同材料的多重构筑以及定位定量微纳修补等应用领域。创新的超声谐振释放机制可以完美解决传统压电式喷墨打印技术线宽限制问题,打印不连续,打印材料受限,不能打印一维二维材料,薄膜不均匀,无法定位以及更换喷头昂贵的诸多技术瓶颈。
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  • 【产品特点】1、同电压等级、同容量的电抗器其体积较小、重量较轻,在额定负载时温升小,采用干式浇注,机械强度高,电气绝缘性能好,美观可靠。2、变频电源控制箱容量裕度大,保护功能强,输出波形好,稳定性好,具备多种工作模式,操作方便,单相220V或是三相380V输入电源通用,方便现场取电。3、配置灵活,可选配不同类型电抗器,满足不同试品要求,实现一机多用,性价比高。4、操作界面支持语言切换功能,可同时支持多国语言自由切换,默认为中英文切换,其它语言可定制。5、系统内置串联谐振参数计算器,可一键快速计算出串联谐振的电感、电容、频率、谐振高压电流,以及电缆电容量。
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  • T150 UTM 微纳拉伸试验机可以测量对应变速率敏感的材料的时变响应。它采用电磁作动器产生拉力(样品上的载荷),并采用高精度的电容传感器测量位移,从而在大范围的应变下确保高灵敏度。T150 UTM还可提供动态测量模式,用以研究生物材料的拉伸/压缩特性,该模式在拉伸/压缩过程中的每个状态均可实现样品刚度等的精确测量。产品描述T150 UTM 微纳拉伸试验机使用电磁力作动器为加载单元,可在很大的样品应变范围内保持高灵敏度。连续动态分析 (CDA) 选项可在测试过程中实时对样品刚度进行直接、精确的测量,从而连续测定样品在每个应变状态下的力学性能。CDA还支持测定样品不同频率下的复模量(储存模量、损耗模量等)。T150 UTM 微纳拉伸试验机的应用包括:测定软质纤维和生物材料的屈服强度,纤维和生物材料的动态研究,以及聚合物的拉伸和压缩测试。主要功能● 电磁力作动器,在很大的样品应变范围内保持高灵敏度● 动态测量模式,测量样品力学性能随应变状态的变化● 灵活、可升级、可配置的仪器系统,适配各种应用● 易于进行测试协议开发,用于实时测试控制● 符合 ASTM 标准主要应用● 单根聚合物、金属、复合材料或陶瓷超细纤维纤维的拉伸强度和弹性模量是其在大多数应用中的重要参数。但是传统的材料试验机难以准确测量单根超细纤维的力学性能,因为测试此类样品所需的力很小。T150 UTM 微纳拉伸试验机能够准确测量很小的载荷变化,且适配样品很大的应变范围。其同时配备载荷分辨率极佳的作动器和位移分辨率极佳的移动机构,因此可以准确测量微纳米纤维的准静态应力-应变行为。● 电纺聚合物纳米纤维静电纺丝制备的纤维直径从几百纳米到几微米不等。T150 UTM 的独特设计能够同时满足对极低载荷和极小位移的精确测量,从而实现超细纤维的拉伸性能表征。● 聚合物薄膜/MEMS(微机电系统)聚合物薄膜是通用的包装材料,且其现在越来越多地用于生物科学和半导体封装。T150 UTM 可用于测量聚合物薄膜的临界断裂能。● 生物材料(例如蜘蛛丝、软组织支架)在力学和材料测试领域,生物材料的纳米级表征仍颇具难度。此类研究的一个例子是蜘蛛丝的力学性能表征。蜘蛛丝具有惊人的强度重量比,因此受到从医疗到军事等许多领域的关注。蜘蛛丝相关研究面临诸多挑战,其中包括:蛛丝纤维的直径小且难于测量,样品难以收集和夹持,难以在较大应变范围内获得准确的准静态测试结果,难以测量样品的各类动态特性。T150 UTM 完全适用于测量小直径单根纤维的强度,其中即包括蜘蛛丝纤维。● 纺织品T150 UTM 针对极细纤维的拉伸变形行为测试进行了专门设计。基于高分辨率的载荷与位移作动器,T150 UTM的连续动态分析(CDA)专利技术模块能够在拉伸试验过程中,连续测量材料的储存模量和损耗模量。CDA模块能够表征材料变形过程中内部固有结构的变化,这对于聚合物材料尤其重要。适用行业● 大学、科研实验室和研究所● MEMS:微机电系统● 纤维和纺织品● 聚合物薄膜● 生物医学● 医疗器械● 更多内容:请联系我们并告知我们您的需求选配件XP作动器T150 UTM 系统具有很高的横向刚度,其来源于作动器内部的双弹簧支持系统,从而使其运动仅在压缩/拉伸方向具有单一自由度。这种限制使设备的动态行为严格遵循一维简谐振子模型。设备可以施加微牛级别的载荷,测量样品纳米级形变对应的应变。作动器工作在“加载单元”模式,其精确控制通入电磁线圈中的电流,使样品下夹具保持在作动器行程的中央位置。载荷施加与位移传感两者互相独立,有效降低测量误差,使测得的材料响应和载荷施加互无干扰。连续动态分析(CDA)连续动态分析(CDA)选项可在测试过程中实时对样品刚度进行直接、精确的测量,从而连续测定样品在每个应变状态下的力学性能。同时测量载荷和位移振荡的幅度和两者之间的相位关系,CDA可以实现储存模量和损耗模量的测试。动态观察选项实时观察材料变形并将其与力学性能相关联,这在微纳米尺度拉伸测试中较难实现。T150动态观察选项可启用外部摄像头,在拉伸测试期间实时监控单根纤维的变形情况。纳米压痕转换套件T150 UTM 配备微动样品台和样品导向装置,可以使样品处于与施加的拉力正交的方向,并有助于定位样品上夹具。此外,提供压痕转换套件(包括倒置支脚),可将设备作为压痕仪使用。NanoSuite 软件版本所有 T150 UTM 系统均配备标准的NanoSuite Professional版本软件。NanoSuite Professional 版本支持用户使用预先编制的测试方法,其中包括符合 ASTM 标准的方法。NanoSuite Explorer 版本支持研究人员轻松编写自己的 NanoSuite 方法。模拟模式(提供 Professional 和 Explorer 版本)支持用户离线编写测试方法并处理和分析数据。隔离柜和减震台将系统与环境震动隔离开来,避免其影响精密测试的结果。对于直径小于10µ m的样品、时间较长的测试或使用CDA选项时,需要配备隔离柜。相关产品
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  • 仪器介绍: 该系统涵盖了几乎所有微波化学实验所需的功能,配置微波单模和多模谐振腔各一个,分别用于微波单模和多模谐振下的反应,微波功率输出采用连续线性可调和可变脉冲双模式控制,任意切换,脉冲周期和脉冲时间由用户自由设定,单模谐振腔配终端调谐,单模聚焦可调,多模腔顶部开回流孔,可用于冷凝回流等实验操作,高精度传感器实时监测控制反应温度,磁力和机械两种搅拌方式,多重安全连锁保护装置,是全功能的微波反应实验平台。技术参数: 1.配单模谐振腔和多模谐振腔各一个,用于进行微波单模和微波多模谐振下的各种反应,以适应各种实验的要求。 2.微波输出功率:0-1500W连续线性可调,实时改变腔体内的微波功率密度 3.微波功率输出双模式控制,任意切换,即可工作于非脉冲连续可调工作模式,也可工作于可变脉冲控制模式 4.可变脉冲工作模式下,其脉冲周期和脉冲时间均可由用户在触摸屏上自由设定。 5.输入电源:220V,50Hz 6.微波频率:2450MHz± 50MHz 7.首家采用全波整流方式,高压滤波器件,微波功率输出更加平滑,输出波形提升一倍 8.全中文真彩触摸屏人机界面, 工业级微电脑作为中心控制处理器 9.输出方式:标准波导输出 10.配置专用微波隔离装置进行隔离保护,可抗全反射,即使反应物料剂量接近于零,仪器也可正常工作。 11.配置波导耦合器、晶体检波器和波导调配器,在线对系统驻波进行观察调配 12.多模谐振腔顶部开回流孔,并加装微波抑制器,即使完全敞开也不泄漏微波 13.多模谐振腔可加装标准接口玻璃仪器进行冷凝回流等实验操作,也可加装机械搅拌器 14.单模谐振腔配终端调谐,单模聚焦可调 15.高精度传感器实时监测控制反应温度 16.测温控温范围0-500℃,精度± 1℃ 17.多模谐振腔底部配置磁力搅拌装置,搅拌速度连续可调 18.磁控管温度保护,门开关保护等多重连锁保护装置 19.微波泄漏优于国家安全标准,安全可靠 20.(选配)可与台式计算机连接,并配专用软件,可以从台式微机上进行控制,仪器配置485接口,支持二次开发。
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  • 胤煌-超声电声法高浓度纳米粒度仪美国MAS(Mass Applied Sciences)公司成立至今有30余年历史,是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品,完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题,如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点:1)采用专门的电动声波振荡技术,该仪器可完成非凡的电动测量结果,从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品,从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释,Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作;4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中;5)自动滴定法用于简单的IEP测量;6)样品可被强烈搅拌或混合,因此不会产生沉淀物;7)高频电场采用非常短的脉冲,因此样品测量时不会产生错误;8)可实时测量实际样品;9)不使用光学技术,因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品;10)可测量水溶液、非水溶液分散系,分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒;11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量,不须特别的样品池,样品可随时从任何现场或实验中获取,可直接实时获得理想的数据胤煌-超声电声法高浓度纳米粒度仪技术参数:1)测量样品不需要稀释或样品准备,从而消除了操作失误和数据的不确定性,同时节省了时间;2)物有所值的谐振硬件设计;3)宽粒径测量范围:从1nm到30um;4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位(IEP)测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定;5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力,没有粒子沉降的不利影响;6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中,测量精确、重复性好,方便使用;7)可测量高粘度的样品,样品浓度可从0.1%到60%;8)可在0-14的pH值范围内进行测定;9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标;10)最小样品容量10ml,没有较大容量限制;11)微软支持的软件界面,带强大的数据管理功能;12)12个月的保质期和免费的技术咨询
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  • 串联谐振耐压试验装置主要针对交联电缆、水力发电机、主变、母线、GIS等的交流耐压试验,具有较宽的适用范围,是地、市、县级高压试验部门及电力安装、修试工程单位理想的耐压设备。变频串联谐振装置在电力系统中应用的优点1.所需电源容量大大减小串联谐振电源是利用谐振电抗器和被试品电容谐振产生高电压和大电流的,在整个系统中,电源只需要提供系统中有功消耗的部分,因此,试验所需的电源功率只有试验容量的1/Q。2.改善输出电压的波形谐振电源是谐振式滤波电路,能改善输出电压的波形畸变,获得很好的正弦波形,有效的防止了谐波峰值对试品的误击穿。3.防止大的短路电流烧伤故障点在串联谐振状态,当试品的绝缘弱点被击穿时,电路立即脱谐,回路电流迅速下降为正常试验电流的1/Q。而并联谐振或者试验变压器方式做耐压试验时,击穿电流立即上升几十倍,两者相比,短路电流与击穿电流相差数百倍。所以,串联谐振能有效的找到绝缘弱点,又不存在大的短路电流烧伤故障点的隐患。4.不会出现任何恢复过电压试品发生击穿时,因失去谐振条件,高电压也立即消失,电弧即刻熄灭,且恢复电压的再建立过程很长,很容易在再次达到闪络电压前断开电源,这种电压的恢复过程是一种能量积累的间歇振荡过程,其过程长,而且,不会出现任何恢复过电压。5.设备的重量和体积大大减少串联谐振电源中,不但省去了笨重的大功率调压装置和普通的大功率工频试验变压器,而且,谐振励磁电源只需试验容量的1/Q,使得系统重量和体积大大减少,一般为普通试验装置的1/10-1/30。
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  • 纳米级材料振动分散机JQ-NM10A/B/C 纳米级材料分散机采用三维高频振动技术,产生每分钟上千次的冲击、剪切、研磨,效率比球磨机提高几十倍。通过冲击力和摩擦力结合的方法来减小颗粒尺寸。电磁动力马达产生振动,通过研磨球的冲击振动进行分散纳米材料,纳米粉体被其所添加溶剂、助剂、分散剂、树脂等包覆住,以便达到颗粒完全被分离,此外,由研磨球翻滚运动产生的摩擦也使样品的尺寸进一步减小。 行业应用:适用于实验干样品或悬浮液中固体样品的精细研磨粉碎适用于乳状液或糊状物的均匀化处理适用于纳米材料分散,效果优于普通机械法和超声波法适用于无机矿物材料的表面改性、光饰作用,金属材料的机械合金化技术参数型号JQ-NM10A/B/C订货号JQ001631-0113定时器0—99小时分散珠材质氧化锆/碳化钨/不锈钢振动频率1500次/分主机尺寸Φ600 * 800主机重量140kg研磨罐数量(个)(A)1/(B)3/(C)6显示及控制液晶触摸屏(1~100段程序梯度设定)研磨罐容量50—1000ml 研磨罐材质PTFE、碳化钨、不锈钢、尼龙、玛瑙、氧化锆等显示方式液晶触摸屏(功率曲线、转速、振动平衡提示)电压220V 备注纳米分散时纳米材料的添加溶剂、助剂、分散剂、树脂配比需要用户自行掌握
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  • zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS(Mass Applied Sciences)公司成立至今有30余年历史,是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品,完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题,如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点:1)采用专门的电动声波振荡技术,该仪器可完成非凡的电动测量结果,从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品,从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释,Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作;4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中;5)自动滴定法用于简单的IEP测量;6)样品可被强烈搅拌或混合,因此不会产生沉淀物;7)高频电场采用非常短的脉冲,因此样品测量时不会产生错误;8)可实时测量实际样品;9)不使用光学技术,因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品;10)可测量水溶液、非水溶液分散系,分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒;11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量,不须特别的样品池,样品可随时从任何现场或实验中获取,可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数:1)测量样品不需要稀释或样品准备,从而消除了操作失误和数据的不确定性,同时节省了时间;2)物有所值的谐振硬件设计;3)宽粒径测量范围:从1nm到30um;4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位(IEP)测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定;5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力,没有粒子沉降的不利影响;6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中,测量精确、重复性好,方便使用;7)可测量高粘度的样品,样品浓度可从0.1%到60%;8)可在0-14的pH值范围内进行测定;9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标;10)最小样品容量10ml,没有较大容量限制;11)微软支持的软件界面,带强大的数据管理功能;12)12个月的保质期和免费的技术咨询
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  • zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS(Mass Applied Sciences)公司成立至今有30余年历史,是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品,完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题,如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点:1)采用专门的电动声波振荡技术,该仪器可完成非凡的电动测量结果,从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品,从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释,Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作;4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中;5)自动滴定法用于简单的IEP测量;6)样品可被强烈搅拌或混合,因此不会产生沉淀物;7)高频电场采用非常短的脉冲,因此样品测量时不会产生错误;8)可实时测量实际样品;9)不使用光学技术,因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品;10)可测量水溶液、非水溶液分散系,分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒;11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量,不须特别的样品池,样品可随时从任何现场或实验中获取,可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数:1)测量样品不需要稀释或样品准备,从而消除了操作失误和数据的不确定性,同时节省了时间;2)物有所值的谐振硬件设计;3)宽粒径测量范围:从1nm到30um;4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位(IEP)测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定;5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力,没有粒子沉降的不利影响;6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中,测量精确、重复性好,方便使用;7)可测量高粘度的样品,样品浓度可从0.1%到60%;8)可在0-14的pH值范围内进行测定;9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标;10)最小样品容量10ml,没有较大容量限制;11)微软支持的软件界面,带强大的数据管理功能;12)12个月的保质期和免费的技术咨询
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  • 上海那艾实验仪器设备[那艾仪器厂家]网站 全国送货厂家一手货! 品质保证!实验仪器非电子产品,使用效率和售后服务很重要。我们同品质比价格,同价格比效率,同效率比售后。设备仪器属于精密设备 客户订单录档案 免费1年质量保质,任何问题提供配件保养维护上海那艾仪器专注以实验仪器设计、研发,生产,销售为核心的仪器企业,目前销售生产有一体化蒸馏仪,中药二氧化硫蒸馏仪,COD消解仪,高氯COD消解仪,硫化物酸化吹气仪,全自动液液萃取仪,挥发油测定仪等等。单模微波合成仪(NAI-DMH)在常压单模微波合成仪基础上进行技术革新,实现了高压条件下进行化学反应的功能。环形大容量单模微波谐振腔,可以实现常压回流反应和高压密闭反应的自由转换,具有更自由的反应选择性和容器的兼容性。 主要特征1、CPU操作系统Linux开放式操作平台,内置256GB硬盘,10寸触摸屏可实现远程控制和网络管理,一机完成所有操作;2、整机外壳由碳纤维加强聚合材料+涂层组成,高强度结构和防腐防锈性能,微波腔体采用316级全不锈钢,多层防腐耐高温特氟隆涂层 ;3、微波谐振腔11 列环形通道,能势阱效应,环行聚焦单模自动识别技术,标配反应罐自动识别系统,一键合成,自动匹配标准应用方法和功率参数;4、设有定时功能,0~999S , 0~999M, 0~999H范围内任意设定培养时间无线温控 标配发射光全体积监控,自动检测和控制全罐的反应温度;5、标配自动压力监控实时检测和追踪压力变化0-500psi,+1psi,达到设定压力时,智能卸压并自动关闭微波;6、优化微波动力学能量模式,提高合成反应转化率,对反应变化实时动态匹配功率发射;7、大功率湍流排风冷却特别设计,实现反应同步冷却和反应后快速风冷;8、双重搅拌方式标配原位电磁搅拌,和机械搅拌(可选),速度可调;9、视频安全监控 内置标配500万高清网络摄像头,观察反应状态和进程;10、电磁屏蔽单向循环晶体,吸收体保护,零负载运行微波屏蔽测试,符合UL标准。11、在超出指定时间内施加全功率,检测器将关闭系统,以防止失控 。技术参数产品型号NAI-DMH控制系统Linux开放式操作系统,内置256GB硬盘控制软件SynerayPC软件环形腔体积300mL环形单模微波温控范围0-350℃;±0.1℃微波源功率专业微波源2450MHz(行业标准),安装功率:900W控制精度0-100%全范围非脉冲连续微波Auto-tuning调节+0.818W触控屏10寸压力反应瓶10mL(兼容微量0.2mL~7mL反应),35mL,100mL循环回流反应125mL(可带各种冷凝回流,分液漏斗和搅拌)培训视频可在Discover20显示器上观看点播培训视频
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