测试

PACK测试系统 测试台 新能源综合测试系统,为新能源整车主要部综合合测试系统,该系统集成了PACK静态测试,BMS测试,PDU测试,充电桩测试等功能.该系统是一套应用于新能源车多部件测试的大型综合测试系统.针对电池生产厂作为PACK,下线测试设备以及整车生产厂家作为电池包的来料检测设备,为客户提供多样性的综合测试解决方案.EOL系统可以与充放电设备联机进行产线自动化测试,也可以根据客户自已情况接入气密性测试仪,振动动环境箱等第三方设备.单体一致性测试? 出货SOC调制? 单体温升测试容量测试，功率测试? 内阻测试? 循环寿命测试? 过冲，过放耐受测试? 离线测试DBC导入工况文件导入无负载容量损失测试存储中容量损失测试 能量效率测试更多功能可咨询订制.电池测试系列 PACK充放电测试系统 模组充放电测试系统 超级电容PACK充放电测试系统 梯次电池包回收测试系统 电池包维护设备 电池包EOL综合测试系统电机控制器测试系统 电机EOL综合测试系统 电池模拟器综合台架VCU综合测试系统 BMS综合测试系统 DCDC综合测试系统 DCAC综合测试系统 整车下线测试系统4S店电池维护设备 电池厂模组维修设备 新能源电动汽车年检设备 电动汽车电量衰减测试设备 电动汽车故障诊断仪兰翠 Elsa Lan手机：电话： 分机：803传真：邮箱：国昱（深圳）电气科技有限公司Gute (shenzhen) Electrical Technology co.,Ltd

BW-3022A晶体管直流参数测试系统一、产品基本信息（1）产品名称及用途产品名称：BWDT-3022A 晶体管直流参数测试仪产品用途：满足电子元器件静态直流参数测试需求（2）产品信息及规格环境产品信息产品型号：BWDT-3022A产品名称：晶体管直流参数测试仪；物理规格主机尺寸：深 305*宽 280*高 120(mm)主机重量：＜5Kg主机颜色：白色系电气环境 主机功耗：＜75W环境要求：-20℃～60℃（储存）、5℃～50℃（工作）相对湿度：≯85%； 大气压力：86Kpa～106Kpa防护条件：无较大灰尘，腐蚀或爆炸性气体，导电粉尘等电网要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz工作时间：连续；二、产品介绍 BWDT-3022A 型晶体管直流参数测试仪是专为测试电子元器件的直流参数而设计。 可测试三极管、MOS 场效应管、J 型场效应管、整流二极管、三端肖特基整流器、三端 电压稳压器和基准器 TL431，其良好的中文界面软件，简化了用户对 BWDT-3022A 的操 作和编程。测试条件和测试参数一次快捷设定，并存入 EEPROM 中。不需附加任何其它 软件，无需操作培训,就可操作该仪器. BWDT-3022A 为三极管、MOS 场效应管、J 型场效应管、二极管等提供了 15 种最主 要参数的测试，以及参数”合格/不合格”(OK/NO)测试，用户通过机器上的按键很容易的把 测试条件输入进去，并将参数存入 EEPROM 中，便于日后方便且快速的打开调用。三、产品特点※ 大屏幕液晶,中文操作界面,显示直观简洁,操作方面简单※ 大容量 EEPROM 存储器,储存量可多达 2000 种设置型号数.※ 全部可编程的 DUT 恒流源和电压源※ 内置继电器矩阵自动连接所需的测试电路,电压/电流源和测试回路※ 高压测试电流分辨率 1uA,测试电压可达 1500V※ 重复”回路”式测试解决了元件发热和间歇的问题※ 软件自校准功能※ 产品基于大规模微处理器,当用户选定了设置好的型号时,在手动测试时,按下测试 开关,使测试机开始执行功能检测,自动测试过程将在 BWDT-3022A 的测试座上检测 DUT 短路,开路或误接现象,如果发现,就立即停止测试。功能检测主要目的是保护被测器件DUT 不因型号选错而测坏※ DUT 的功能检测通过 LCD 显示出被测器件/DUT 的类型(三极管,MOS 场管等),引脚 排列(P_XXX)测试方式(手动/自动)并继续进行循环测试,显示测试结果是否合格,并有声光 提示※ 在测试整流二极管时,BWDT-3022A 能自动识别引脚功能,并自动转换矩阵开关进 行参数测试.测试后显示对应引脚功能号※ 两种工作模式1、自动模式：自动检测有无 DUT 放于测试座中,有则自动处于重复测试状态,无则处 于重复检测状态； 2、手动模式：（刚开始未测试时屏幕白屏属正常现象） 当测试开关按下后自动对测 试座中的 DUT 进行检测测试,长按开关不松开则处于重复测试状态,松开开关则自动停止测试四、测试种类及参数注释1、BJT/三极管(1)Vbe:Ib:表示测试三极管 VBE 压降时的输入电流.(2)Vce:Bv:表示测试三极管耐压 BVceo 时输入的测试电压.(3)Vce:Ir:表示测试三极管耐压 BVceo 时输入的测试电流.(4)HEF:Ic:表示测试三极管直流放大倍数的集电极电流.(5)HEF:Vce:表示测试三极管直流放大倍数的集电极电压(6)Vsat:Ib:表示测试三极管饱和导通压降时输入基极的电流.(7)Vsat:Ic:表示测试三极管饱和导通压降时输入集电极的电流.(8)Vb:表示三极管的输入压降 VBE.(9)VCEO:表示三极管的耐压(BVceo).(10)HEF:表示三极管的直流放大倍数(HEF).(11)Vsat:表示三极管的饱和导通压降(VCEsat).(12)TestModel:Auto :表示设置为自动识别测试.(13)TestModel:Manual :表示设置为手动测试.2、MOSFET/场效应管(1)Vth:ID:表示测试场效应管栅极启动电压(Vgs(th))的输入电流.(2)Vds:Bv:表示测试场效应管耐压(BVdss)时的测试电压.(3)Vds:Ir:表示测试场效应管耐压(BVdss)时的测试电流.(4)Rs:Vg:表示测试场效应管内阻(Rson)时加在栅极的电压.(5)Rs:ID:表示测试场效应管内阻(Rson)时的测试电流.(6)Vth:表示场效应管的启动电压(Vgs(th)).(7)Bvds:表示场效应管的耐压(BVdss).(8)Rs:表示场效应管的导通内阻(Rdson)(9)Igss:OG:表示测试场管输入端 G 极的电容漏电特性，该设置数据为延时时间数，利 用延时设定时间后 VGS 电压的保持量来测漏电特性。(10)Test:T:表示测试多少次后就停止测试。可设定到 9999 次。3、JFTE/结型场效应管(1)Ids:Vd 表示测试结型场效应管漏极饱和电流(Idss)加在 D 极和 S 极的电压(Vds)(2)Vds:Bv 表示测试结型场效应管耐压(BVdss)时的测试电压.(3)Vr:Ir 表示测试结型场效应管耐压(BVdss)时的测试电流.(4)Voff:Vd 表示测试结型场效应管阻断电压(Vgs(off))加在 D 极和 S 极的电压(Vds).(5)Voff:Id 表示测试结型场效应管阻断电压(Vgs(off))加在 D 和 S 的电流.(6)Is:表示结型场效应管的漏源饱和电流(Idss),在 GS=0V 的条件下测得.(7)Bvds:结型场效应管在关断时的击穿电压.(8)Vof:结型场效应管的阻断电压(VGS(off)).(9)gm:结型场效应管的跨导系数,即导通内阻的倒数.4、三端稳压 IC(1)Vo:Vi 表示测试三端稳压时的输入测试电压.(2)Vo:Vi 表示测试三端稳压时加在输出端的负载电流(3)Vo:表示三端稳压的输出电压数.5、基准 IC(1)Vz:Iz 表示测试基准 IC 时的输入测试电流.(2)Vz:表示基准 IC 的稳定电压数6、整流二极,三端肖特基整流器(1)VF:IF 表示测试三端肖特正向压降 VF 的测试电流.(2)Vr:Bv 表示测试三端肖特反向耐压(VRRM)的测试电压.(3)Ir:Fu 表示测试时反向漏电流参数是否要测，设大于 0 为开启该项参数。(4)Vr:Ir 表示测试三端肖特反向耐压(VRRM)的测试电流.(5)VF1:表示测试三端肖特正向压降 1. (5)VF2:表示测试三端肖特正向压降 BW-3022A测试技术指标：1、 整流二极管,三端肖特基:耐压(VRR)测试指标测试范围分辨率精度测试条件0-1600V2V+/-2%0-2.000mA导通正向压降(VF)测试范围分辨率精度测试条件0-2.000V2mV+/-2%0-2.000A2 、N型三极管输入正向压降(Vbe)测试范围分辨率精度测试条件0-2.000V2mV+/-2%0-2.000A耐压(Bvceo)测试指标测试范围分辨率精度测试条件0-1600V2V+/-5%0-2.000mA直流放大倍数(HEF)测试范围分辨率精度测试条件0-120001+/-2%0-2.000A(Ic) 0-20V(Vce)输出饱和导通压降(Vsat)测试范围分辨率精度测试条件0-2.000V2mV+/-2%0-2.000A(Ib) 0-2.000A(Ic)3、P型三极管输入正向压降(Vbe)测试范围分辨率精度测试条件0-2.000V2mV+/-2%0-2.000A耐压(Bvceo)测试指标测试范围分辨率精度测试条件0-1600V2V+/-5%0-2mA直流放大倍数(HEF)测试范围分辨率精度测试条件0-30001+/-2%100uA(Ib) 5V(Vce)固定输出饱和导通压降(Vsat)测试范围分辨率精度测试条件0-2V2mV+/-2%0-2.000A(Ib) 0-2.000A(Ic)4、N,P型MOS场效应管输入启动电压(VGS(th))测试范围分辨率精度测试条件0-20.00V20mV+/-2%0-2.000mA耐压(Bvds)测试指标测试范围分辨率精度测试条件0-1500V2V+/-5%0-2mA导通内阻(Rson)测试范围分辨率精度测试条件0-9999MR0.1MR+/-5%0-20.00V(VGS)0-2.000A(ID)10R-100R0.1R+/-5%0-20.00V(VGS)0-2.000A(ID)5、三端稳压IC输出电压(Vo)测试范围分辨率精度测试条件0-20.00V20mV+/-2%0-20.00V(VI)0-1.000A(IO)6、基准IC 431输出电压(Vo)测试范围分辨率精度测试条件0-20.00V20mV+/-2%0-1A(Iz)7、结型场效应管漏极饱和电流(Idss)测试范围分辨率精度测试条件0-40mA40uA+/-2%0V(VGS)0-20V(VDS)40-400mA400uA+/-2%0V(VGS)0-20V(VDS)耐压(Bvds)测试指标测试范围分辨率精度测试条件0-1600V2V+/-5%0-2mA夹断电压(Vgs(off))测试范围分辨率精度测试条件0-20.00V0.2V+/-5%0-20V(VDS)0-2mA(ID)共源正向跨导(gm)测试范围分辨率精度测试条件0-99mMHO1mMHO+/-5%0V(VGS)0-20V(VDS)8、双向可控硅导通触发电流(IGT)测试范围分辨率精度测试条件0-40.00mA10uA+/-2%0-20.00V(VD) IT(0-2.000A)导通触发电压(VGT)测试范围分辨率精度测试条件0-2.000V2mv+/-2%0-20.00V(VD) IT(0-2.000A)耐压(VDRM/VRRM)测试范围分辨率精度测试条件0-1500V2V+/-5%0-2.000mA通态压降(VTM)测试范围分辨率精度测试条件0-2.000V2mV+/-2%0-2.000A(IT)保持电流(IH)测试范围分辨率精度测试条件0-400mA0.2mA+/-5%0-400Ma(IT) 详见产品说明书。

美国MICRO CONTROL COMPANY老化测试机、老化测试板 MICRO CONTROL COMPANY是世界领先的老化测试设备制造商。成立于1972年的MCC公司为高功率老化测试提供独立温控方案和为逻辑/存储器芯片提供老化测试方案。集成电路老化测试载板的设计以及制作，为不同用户提供集成电路老化测试整体解决方案，满足不同用户的低、中和高功率测试要求。MCC系统特性：MCC特有的高功率老化测试系统，满足不同用户的逻辑以及存储器测试要求HPB-4 系统&bull 独立温控，液体冷却系统&bull 单颗最大功率600W&bull 每板最大1600安培&bull 可同时放入14块老化板MCC特有的独立温控技术（Individual Chip Temperature Control）1、为所有集成电路提供最适宜的老化测试温度2、为所有老化测试中的集成电路提供精确的电压等级和工作功率3、实时监控每个老化测试集成电路的实际温度和实际消耗功率4、老化测试中，能够提供最精确汇合温度的唯一工具MCC独立温控系统通过空气阀 (冷却) 和 Heat-sink加热器 (加热) 机构实现待测产品的独立温控

美国MICRO CONTROL COMPANY老化测试机、老化测试板 MICRO CONTROL COMPANY是世界领先的老化测试设备制造商。成立于1972年的MCC公司为高功率老化测试提供独立温控方案和为逻辑/存储器芯片提供老化测试方案。集成电路老化测试载板的设计以及制作，为不同用户提供集成电路老化测试整体解决方案，满足不同用户的低、中和高功率测试要求。MCC系统特性：MCC特有的高功率老化测试系统，满足不同用户的逻辑以及存储器测试要求LC-2 高性能低成本老化测试系统&bull 12.5” x 24” or 317mm x 609mm老化板，可同时放入64块&bull 每板功率或电流可达400W or 240A&bull 128个独立I/O，多达4M矢量深度(可升级)，10 ns clock resolution，200 Mhz high speed clock&bull 单颗最大功率20W,同时测试1536颗MCC特有的独立温控技术（Individual Chip Temperature Control）1、为所有集成电路提供最适宜的老化测试温度2、为所有老化测试中的集成电路提供精确的电压等级和工作功率3、实时监控每个老化测试集成电路的实际温度和实际消耗功率4、老化测试中，能够提供最精确汇合温度的唯一工具MCC独立温控系统通过空气阀 (冷却) 和 Heat-sink加热器 (加热) 机构实现待测产品的独立温控

美国MICRO CONTROL COMPANY老化测试机、老化测试板 MICRO CONTROL COMPANY是世界领先的老化测试设备制造商。成立于1972年的MCC公司为高功率老化测试提供独立温控方案和为逻辑/存储器芯片提供老化测试方案。集成电路老化测试载板的设计以及制作，为不同用户提供集成电路老化测试整体解决方案，满足不同用户的低、中和高功率测试要求。MCC系统特性：MCC特有的高功率老化测试系统，满足不同用户的逻辑以及存储器测试要求HPB-5B 系统&bull 独立温控，空气冷却系统&bull 单颗最大功率150W&bull 128个独立I/O，多达8M或32M矢量深度，超过1G的Scan Memory&bull 10 MHz rep rate, 400 MHz high speed clock, 1ns timing resolutionMCC特有的独立温控技术（Individual Chip Temperature Control）1、为所有集成电路提供最适宜的老化测试温度2、为所有老化测试中的集成电路提供精确的电压等级和工作功率3、实时监控每个老化测试集成电路的实际温度和实际消耗功率4、老化测试中，能够提供最精确汇合温度的唯一工具MCC独立温控系统通过空气阀 (冷却) 和 Heat-sink加热器 (加热) 机构实现待测产品的独立温控

在电子制造领域，PCBA（Printed Circuit Board Assembly）组装是一个关键环节，其中包括了焊接质量、连接可靠性等测试。以下是对PCBA电子组装推力测试、弯曲及压断测试、LED封装测试、金球推力测试以及Y轴距离测量等专业内容的介绍。1. PCBA电子组装推力测试：推力测试是检查PCBA上元器件焊接质量的一种重要方式。测试过程中，通过对PCBA施加一定的推力，检测元器件是否在焊接过程中牢固地连接在电路板上。如果焊接质量良好，元器件应能承受住该推力而不会脱落。这种测试的目的是确保PCBA在承受正常使用时可能遇到的机械应力情况下，仍能保持稳定。2. PCBA电子组装弯曲及压断测试：弯曲测试和压断测试是用来评估PCBA的机械强度和耐用性的。在弯曲测试中，电路板会受到弯曲应力的作用，以检测其是否有开裂或分离的现象。压断测试则是通过施加压力，以检测PCBA在受力情况下的表现，确保其结构强度满足设计要求。3. LED封装测试：LED封装测试是用来确保LED灯珠在PCBA上的封装效果良好，以及其性能参数如亮度、色温等符合设计要求。此外，该测试还会检查LED在PCBA上的焊接质量和电气性能，以确保其在整个系统中能正常工作。4. 金球推力测试：金球推力测试主要用于检测BGA（Ball Grid Array）封装的焊接点。由于BGA封装的焊接点往往非常小且密集，所以金球推力测试能够精确地测量每个焊接点的质量。如果焊接点的质量不达标，这个测试将会失败，需要重新进行焊接。5. Y轴距离测量：Y轴距离测量主要用于测量PCB上不同层之间的距离，以确保其满足设计要求。这种测量对于多层PCB的设计和制造非常重要，因为各层之间的距离会影响到信号的传输质量和电源的稳定性。如果测量的结果不符合设计要求，那么这个PCB就需要被返工或者报废。以上就是PCBA电子组装推力测试、弯曲及压断测试、LED封装测试、金球推力测试以及Y轴距离测量的专业内容介绍。这些测试的目的是确保PCBA的制造质量和可靠性，从而保证整个电子产品的稳定性和使用寿命。

光通信TO封装推拉力测试机，确保光通信器件可靠性！在光通信行业中，TO封装推拉力测试机是确保光通信器件可靠性的关键设备。我们的光通信TO封装推拉力测试机采用高精度的传感器和算法，能够对TO封装进行精确的推力和拉力测试。适用范围：光通信器件制造商、质量检测中心等。芯片推力测试机，为您提供精确、可靠的数据！在半导体行业中，芯片推力测试是一项至关重要的工作。我们的芯片推力测试机采用先进的技术和精准的传感器，能够对芯片和金球的推力进行准确测量，为您提供可靠的数据支持。适用范围：芯片制造商、封装厂、质量检测中心等。金线拉力测试机，确保电子产品可靠性！在电子产品制造过程中，金线拉力测试是确保电子产品可靠性的关键环节之一。我们的金线拉力测试机采用高精度的传感器和算法，能够对金线在各种条件下的拉力进行准确测量，为您提供可靠的数据支持。适用范围：电子产品制造商、质量检测中心等。4. 金球推力测试：金球推力测试主要用于检测BGA（Ball Grid Array）封装的焊接点。由于BGA封装的焊接点往往非常小且密集，所以金球推力测试能够精确地测量每个焊接点的质量。如果焊接点的质量不达标，这个测试将会失败，需要重新进行焊接。金球推力测试金球推力测试机，为您的设计提供精确数据！在光通信行业中，金球推力测试是一项至关重要的工作。我们的金球推力测试机采用先进的技术和精准的传感器，能够对金球的推力进行准确测量，为您提供可靠的数据支持。适用范围：光通信器件制造商、质量检测中心等。

小动物足底测试平台，也叫做老鼠足底触觉测试凿孔台，主要用于配合Von Frey Hairs纤毛机械刺激针或Von Frey电子测痛仪，对大鼠、小鼠进行足底触觉测试。足底测试平台由三部分组成：凿孔台、测试鼠笼和镜子（其中镜子作为选配配置，请根据需要进行选择）多种型号可选：6008型（采用激光切割圆孔板，可同时放置8只小鼠或2只大鼠）6012型（采用激光切割圆孔板，可同时放置12只小鼠或3只大鼠）6108型（采用不锈钢丝方形孔板，可同时放置8只小鼠或2只大鼠） 6112型（采用不锈钢丝方形孔板，可同时放置12只小鼠或者3只大鼠）6112R型---根据实验需求订做尺寸6115型 兔子测试固定平台 型号：6008，6012 测试平台 型号：6108，6112 测试平台 型号：R2M8-L 测试笼*3个 型号：6115 兔子测试固定平台 型号：6210，6212 镜子 通过观察三棱镜的反射，可辅助实验员对动物足底的准确定位

BW-3010B晶体管光耦参数测试仪（双功能版）品牌： 博微电通名称：晶体管光耦参数测试仪(光耦&光电传感器双功能版)型号： BW-3010B用途： BW-3010B型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试。 BW-3010B型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器和光电传感器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试，BW-3010B为各种三极管型4脚光藕提供了输入正向压降（VF）和输出反向耐(ICEO)、耐压BVCEO、传输比(CTR)等 。中文软件界面友好,简化了系统的操作和编程,提供了快速的一次测试条件和测试参数的设定,测试条件及数据同步存入EEPROM中，测试条件可以任意设置，测试正向压降和输出电流可达1A，操作简便，实用性强。广泛应用与半导体电子行业、新能源行业、封装测试、家电行业、科研教育等领域来料检验、产品选型等重要检测设备之一。产品电气参数：产品信息产品型号：BW-3022A产品名称：晶体管光耦参数测试仪；物理规格主机尺寸：深 305*宽 280*高 120(mm)主机重量：＜4.5Kg主机颜色：白色系电气环境主机功耗：＜75W环境要求：-20℃～60℃（储存）、5℃～50℃（工作）；相对湿度：≯85%；大气压力：86Kpa～106Kpa；防护条件：无较大灰尘，腐蚀或爆炸性气体，导电粉尘等；电网要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；工作时间：连续；服务领域： 应用场景： ▶ 选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对） ▶ 检验筛选（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率） 产品特点： ▶ 大屏幕液晶,中文操作界面,显示直观简洁,操作方面简单 ▶ 大容量EEPROM存储器,储存量可多达1000种设置型号数. ▶ 全部可编程的DUT恒流源和电压源. ▶ 内置继电器矩阵自动连接所需的测试电路,电压/电流源和测试回路. ▶ 高压测试电流分辨率1uA,测试电压可达1500V； ▶ 重复”回路”式测试解决了元件发热和间歇的问题； ▶ 软件自校准功能； ▶ 自动测试测DUT短路、开路或误接现象,如果发现,就立即停止测试； ▶ DUT的功能检测通过LCD显示出被测器件/DUT的类型，显示测试结果是否合格,并有声光提示； ▶ 两种工作模式：手动、自动测试模式。 BW-3010B主机和DUT的管脚对应关系型号类型P1 T1P2 T2P3T3P4T4光藕PC817AA测试端KK测试端EE测试端CC测试端 BW-3010B测试技术指标：1、光电传感器指标:输入正向压降(VF)测试范围分辨率精度测试条件0-2V2mV1%+2RD0-1000MA反向电流(Ir)测试范围分辨率精度测试条件0-200UA0.2UA2%+2RDVR:0-20V集电极电流(Ic)测试范围分辨率精度测试条件0-40mA0.2MA1%+2RDVCE:0-20V IF:0-40MA输出导通压降(VCE(sat))测试范围分辨率精度测试条件0-2.000V2mV1% +5RDIC：0-40mAIF:0-40mA输出漏电流(Iceo)测试范围分辨率精度测试条件0-2.000mA2UA2%+2RDVR:0-20V2、光电耦合器：耐压(VCEO)测试指标测试范围分辨率精度测试条件0-1400V1V2%+2RD0-2mA输入正向压降(VF)测试范围分辨率精度测试条件0-2V2mV1%+2RD0-1000MA反向漏电流(ICEO)测试范围分辨率精度测试条件0-2000uA1UA5% +5RDBVCE=25V反向漏电流(IR)测试范围分辨率精度测试条件0-2000uA1UA5% +5RDVR=0-20V电流传输比(CTR)测试范围分辨率精度测试条件0-99991%1% +5RDBVCE：0-20VIF:0-100MA输出导通压降(VCE(sat))测试范围分辨率精度测试条件0-2.000V2mV1% +5RDIC：0-1.000AIF:0-1.000A可分档位总数：10档 BW-3010B测试定义与规范：AKEC:表示引脚自左向右排列分别为 光耦的,A K E C极.VF:IF: 表示测试光耦输入正向VF压降时的测试电流.Vce:Bv:表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电压.Vce:Ir: 表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电流.CTR:IF:表示测试光耦传输比时输入端的测试电流。CTR:Vce:表示测试光耦传输比时输出端的测试电压。Vsat:IF:表示测试光耦输出导通压降时输入端的测试电流。Vsat:Ic:表示测试光耦输出导通压降时输出端的测试电流。

简介 该测试仪用于检测滤料、口罩、小过滤器的初始过滤效率和阻力。其技术规格能够满足用于熔喷、静电棉、PTFE、玻璃纤维等过滤材料，以及口罩、过滤器等行业的初始过滤效率和阻力测试的条件。并可进行口罩加载测试。 测试模式 Ø 模式一：过滤效率@0.3μm，该模式下数据可以与TSI 8130A 结果比对。Ø 模式二：可同时提供PM1.0 、PM2.5、PM10的过滤效率。Ø 模式三：可同时提供0.3、0.5、1、3、5、10μm不同粒径颗粒物的过滤效率。 产品优势 Ø 微电脑控制，芯片级设计，实现仪器小型化。Ø 油盐双发生器。油盐一键切换，无需手动插拔管子。Ø 流量在0~99.9L/min范围内可调，满足多种测试需求。Ø 自带夹具测试面积100cm2，配置不同的夹具可实现不同形状产品的测试。Ø 随机配有标准滤纸，用于设备定期校准。售后人员可配合实现远程校准。Ø 设置好参数，启动测试，测试将自动完成，数据自动存储。Ø 通过权限管理功能，防止操作员修改参数。Ø 维护和使用成本更低，专为连续生产企业设计。

DRL-III导热系数测试仪（热流法）一、产品概述 该导热系数仪采用热流法测量不同类型材料的热导率、热扩散率以及热熔。测量参照标准 MIL-I-49456A薄的热导性固体电绝缘材料传热性能的测试标准,D5470-06,ASTM E1530 ，ASTM C 518, ISO 8301, JIS A 1412, DIN EN 12939, DIN EN 13163 与 DIN EN 12667 等相关国际标准。 能够测量 Ф10～30mm 的样品，厚度范围可从0.02～20mm。全部测试功能自动完成；马达控制的平板移动；样品夹在两个热流传感器中间测试，温度梯度固定或可调。使用内嵌的控制器或外部电脑测得样品的导热系数与热阻。自动上板移动与样品厚度测量，所有测试参数与校正数据可存于电脑内。对校正测试与样品测试进行温度程序编制、数据查看与储存。该仪器用于测试高分子材料，陶瓷，绝缘材料，复合材料，非金属材料，玻璃，橡胶，及其它的具有低、中等导热系数的材料。仅需要比较小的样品。薄膜可以使用多层技术准确的得到测量。二、主要技术参数：1：热极温控： 室温～200℃, 测温分辨率0.01℃2：冷极温控：0～99.99℃，分辨率0.01℃3：样品直径：Ф30mm，厚度0.02-20mm；4：热阻范围：0.000005 ～ 0.05 m2K/W5：导热系数测试范围： 0.010-50W/mK， 6：精度 ≤±3%7：压力测量范围：0～1000N8: 位移测量范围：0～30.00mm9：实验方式：a、试样不同压力下热阻测试。b、材料导热系数测试。c、接触热阻测试。d、老化可靠性测试。10：配有完整的测试系统及软件平台。11：操作采用全自动热分析测试软件，快速准确对样品进行试验过程参数分析和报告打印输出。三、仪器配置：1.测试主机 1台, 2.恒温水槽 1台， 3.测试软件 1套，4.胶体粉体样品框1个，*4.计算机（打印机）用户自备典型测试材料：1、金属材料、不锈钢。2、导热硅脂。3、导热硅胶垫。4、导热工程塑料。5、导热胶带(样品很薄很黏，难以制作规则的单个样品，一边用透明塑料另外一边用纸固定)。 6、铝基板、覆铜板。 7、石英玻璃、复合陶瓷。8、泡沫铜、石墨纸、石墨片等新型材料。

英斯特朗拉力试验机5105/5501英斯特朗拉力试验机5105/5501对外服务拉力试验合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

CV测试系统+CV测试仪概述电容-电压(C-V)测量广泛用于测量半导体参数，尤其是MOS CAP和MOSFET结构。MOS(金属-氧化物-半导体)结构的电容是外加电压的函数，MOS电容随外加电压变化的曲线称之为C-V曲线（简称C-V特性），C-V曲线测试可以方便的确定二氧化硅层厚度dox、衬底掺杂浓度N、氧化层中可动电荷面密度Q1、和固定电荷面密度Qfc等参数。系统方案普赛斯半导体功率器件C-V测试系统主要由源表、LCR 表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz，源表(SMU)负责提供可调直流电压偏置，通过矩阵开关加载在待测件上。 进行C-V 测量时，通常在电容两端施加直流偏压，同时利用一个交流信号进行测量。一般使用的交流信号频率在10KHz 到1MHz 之间。所加载的直流偏压用作直流电压扫描，扫描过程中测试待测器件待测器件的交流电压和电流，从而计算出不同电压下的电容值。系统优势频率范围宽：频率范围10Hz~1MHz连续频率点可调；高精度、大动态范围：提供0V~3500V偏压范围，精度0.1%；内置CV测试：内置自动化CV测试软件，包含C-V（电容- 电压），C-T（电容- 时间），C-F（电容 - 频率）等多项测试测试功能 兼容IV测试：同时支持击穿特性以及漏电流特性测试；实时曲线绘制：软件界面直观展示项目测试数据及曲线，便于监控；扩展性强：系统采用模块化设计，可根据需求灵活搭配； 基本参数 典型配置

肉嫩度测试仪 物性测试仪介绍：肉品嫩度测定仪模拟人的牙齿对肌肉及各种食品的咀嚼作用，测量肌肉与食品试样的剪切值，并数值显示测量结果，表达食品的嫩度。肌肉嫩度仪可快速测定肌肉嫩度，还可以进行果蔬、面制品等食品的嫩度、硬度等物性参数测定，对肉品质分析以及家畜育种提供直接数据。是食品厂家、质检、商检、大学、科研等部门的理想检测设备。肉品嫩度测定仪原理：嫩度是指肉在切割时所需的剪切力。剪切力是指测试仪器的刀具切断被测肉样时所用的力。通过测定仪器测传感器记录刀具切割肉样时的用力情况并把测定的剪切力峰值（力的值）作为肉样嫩度值。嫩度是评价肉制品食用物理特性的重要指标，其反应了肉中各种蛋白质的结构特性，肌肉中脂肪的分布状态及肌纤维中脂肪数量等。 肉嫩度测试仪 物性测试仪执行标准：NY/T 1180-2006 、NY/T 2660-2014、NY/T2793-2015肉嫩度的测定 剪切力测定法肉嫩度测试仪 物性测试仪特点：1、采用芯片控制，高精度测力传感器，精度高。2、采用高性能电机，滚珠丝杆传动，保证该仪器传动。3、大触摸屏中文显示，友好人机界面操作。全自动完成测试。操作方便，具有测试数据统计处理功能,微型打印机输出。4、肌肉或食品的标准取样器（￠12.7mm）随机配套供应。适用各种畜禽肌肉食品及嫩度在（0~250）N范围内的所有固体食品。5、单位选择多样性，用户可根据需要在单位N与kg之间切换。肉嫩度测试仪 物性测试仪技术参数：测量范围：（0~250）N或（0~25）kgf分辨力：0.01N示值准确度：±1%，剪切速度：1mm/s（0-1.3）mm/s可调圆形钻孔取样器（直径1.27cm）刀具厚度3.0mm±0.2mm刃口内角度60°内三角切口的高度≥35mm砧床口宽4.0mm±0.2mm电压：220V 50Hz 济南恒品专业生产纸制品包装检测仪器，印刷包装检测仪器，塑料包装检测仪器，各种试验设备及产品。 其它产品：纸箱抗压试验机，纸张耐破度仪，电子压缩试验仪，电子拉力试验机，密封性测试试验机，试验机，捆绑机，打包机，厚度测定仪，白度色度测定仪，白度测定仪，可勃吸收性测定仪，可勃取样刀，层间结合强度测定仪，纸浆打浆度测定仪，定量取样刀，MIT耐折度测定仪，纸板挺度测定仪，纸板挺度测定仪，数控电动离心机，瓦楞纸板边压（粘合）试样取样刀，环压取样刀，平压取样器，边压导块，剥离试验架，环压盘，瓦楞原纸起楞器，纸张柔软度测定仪，纸板戳穿强度测定仪，纸张水分仪，单臂包装跌落试验台，双翼跌落试验机，纤维标准解离器型，胶带初性测试仪，持粘性测试仪，环形初粘性测试仪，电子剥离试验机.，胶粘剂拉伸剪切试验机，密封性测试仪，摩擦系数测定仪，透光率雾度测定仪，干燥箱，油墨印刷摩擦试验机，反压高温蒸煮锅，正压密封试验仪、瓶盖扭矩测定仪、热封试验仪。标准光源，光泽度仪等。关于质量承诺保修：济南恒品对已售出产品质量做出以下承诺：1、产品为厂家生产直销，试验机可根据客户要求可提供省级计量检定证书。2、产品保修阶段：产品验收合格后，进行保修阶段，质保期一年。在此期间凡是由于我方提供的设备及产品自身出现严重质量问题，我方负责免费维修及产品调试，直至达到要求。3、产品维护阶段：产品保修结束后，我公司将对产品实施终身维修计划，对于由于工作人员操作不当等人为因素造成的产品损坏，我方将收取适当的成本费用予以维修，同时对于客户日后提出的产品扩展等需求，我方将提供 优先的技术方案。4、技术支持：在使用过程中如发生故障或遇到技术问题，对于小问题或用户认为可以电话解决的紧急问题。为了提高维修效率，我们将尽可能通过电话方式排除故障，请拨打技术支持热线，进行技术咨询及设备报修，我公司设专项技术工程师提供电话技术支持、维护，确保用户可及时的得到报修响应。

甲醛测试试件预处理测试舱新标准提升了甲醛释放限量值，将督促企业提升和改进生产工艺、生产技术，将有利于保护消费者健康。另外，今年5月1日以后，只要在国内市场上销售的产品，必须符合新标准要求。在此之前是企业对新标准实施的准备时间，企业应尽快改造现有生产线和生产技术，做好日常产品符合性检测，保证生产达到新标准要求的产品。1、甲醛测试试件预处理测试舱测定饰面人造板材时，用于测试的板材应用不含甲醛的胶带进行边沿密封处理；2、人造木板、粘合木结构材料、壁布、帷幕应垂直放在试验箱内的中心位置，材料之间距离不应小于200mm，并与气流方向平行；3、地毯、地毯衬垫应正面向上平铺在环境测试舱底，使空气气流均匀地从试样表面通过；4、环境测试舱法规定人造木板或游离甲醛释放量应每天测试一次，当连续两天测试浓度下降不大于5%时，可认为达到了平衡状态。以zui后两次测试值的平均值作为材料游离甲醛释放量测定值；如果测试第28天仍然达不到平衡状态，可结束测试，以第28天的测试结果作为游离甲醛释放量测定值；型号XBN-4LT60XBN-6LT60标称单舱有效容积（升）60(1±2%)工作仓数量4个6个 内部尺寸（m）W0.30D0.40H0.40 外部尺寸（m）W1.761.98D1.191.19H1.581.89 性能 温度范围15～65℃（高温定制）湿度范围4～80 % RH温度偏差≤ ±0.5 ℃（23℃时） ≤ ±2℃（60℃时）湿度偏差≤ ± 2% RH（23℃时） ≤ ± 1% RH（60℃时）温度均匀度≤±0.8 ℃湿度均匀度≤ ±2 % RH温度波动度≤ ±0.5 ℃（23℃时） ≤ ±2℃（60℃时）湿度波动度≤ ± 2% RH（23℃时） ≤ ± 1% RH（60℃时）换气率0-2.5次/小时密封性舱内空气泄漏率＜5%x供气率或加压1kpa过压，气体泄漏率少于0.5%舱容/min中心风速0.1-0.3m/s（连续可调）相对正压10±5pa加标回收率＞80%本底值mg/m3甲醛：≤0.006 单项VOC≤0.002 TVOC：≤0.02温度控制方法空气夹套法（冷热对抗平衡法）湿度控制方法干气、湿气比例双向调节法 材料外壳Q235A冷轧钢板1.5mm，表面静电喷涂、白色内箱SUS304镜面不锈钢1.5mm（8k镜面）绝热高密度聚氨酯发泡+XPS（高温矿棉）密封硅胶（食品级）、聚四氟乙烯 操作控制显示器7英寸彩色触摸屏，分辨率800x480，远程控制（可选）}自动记录项目温度、湿度、压力（可选）、流量（可选）、运行时间、故障记录控制方式温控：比例、积分、微分（P.I.D）；系统控制:PLC+HMI分辨率温度：0.1 ℃ 湿度:0.1% RH通讯接口1个USB-A，一个USB-B，1个RS232，1个RS485,1个RJ-45（可选）粗存、记录功能内存，U盘，SD卡 补水水质、周期蒸馏水；＞30天（连续运行） 电源AC380（1±10%）V （50±0.5）Hz 三相四线+保护接地 装机容量（Kw）3.03.0（高温6.0kw） 重量（Kg）350400（460） 噪音（dB）≤ 65dB 系统保护制冷系统高低压保护、过流保护；超温保护；电机过流保护；缺水保护；电源欠相、相序保护等等。

简要描述：电子高低温测试箱，是专业研发的高低温试验箱，适用于电子产品做高低温循环、高低温交变测试之用。电子高低温测试箱，能*产品做高低温循环、高低温交变实验要求。电子高低温老化试验箱恒温机电子高低温测试箱應用於航空、航太、電子儀器儀錶、電工產品、材料、零部件、設備等作高低溫漸變試驗、高溫高濕試驗、低溫低濕試驗、恒溫恒濕試驗。耐寒性試驗、低溫貯存，以便對試品在擬定環境條件下的性能、行為作出分析及評價。一，电子高低温测试箱箱体结构特点箱体采用数控机床加工成型，造型美观大方，并采用无反作用把手，操作简便。箱体内胆采用进口高级不锈钢板和镜面板，箱体外壳采用A3钢板喷塑，增加了外观质感和洁净度。大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮，三层中空钢化玻璃，随时清晰的观测箱内状况。箱体左侧配直径50mm的测试孔，可供外接测试电源线或信号线使用。二，电子高低温测试箱控制器温度控制采用全进口按键式仪表，操作设定简单。根据不同的试验要求，可以选择定值试验功能，也可以选择可编程控制功能。具有P.I.D自动演算的功能，可将温度变化条件立即修正，使温度控制更为精确稳定。可选配打印机。■高低温试验箱冷冻及风路循环系统制冷机采用法国原装&ldqo 泰康&rdqo 或者&ldqo 谷轮&rdqo 制冷系统。冷冻系统采用单元或二元式低温回路系统设计。采用多翼式送风机强力送风循环，避免任何死角，可使测试区域内温度分布均匀。风路循环出风回风设计，风压、风速均符合测试标准，并可使开门瞬间温度回稳时间快。升温、降温、系统*独立可提高效率，降低测试成本，增长寿命，减低故障率。三，电子高低温测试箱符合标准GB/T2423.1-2001 GB/T2423.2-2001 高低温试验箱型号 工作室尺寸（mm）（深×宽×高）HK-100 400×500×500HK-150 500×500×600HK-250 500×600×810HK-500 700×800×900HK-010 1000×1000×1000 温度均匀度:&plsmn 2℃ 温度波动度:&plsmn 0.5℃根据客户需求的尺寸制作温度范围：0℃、-20℃、-40℃、-50℃、-60℃、-70℃、～+100℃150 电子高低温老化试验箱恒温机 电子高低温老化试验箱恒温机 高低温老化试验箱恒温机

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电子拉力测试仪 电子拉力测试机XLW-H智能电子拉力试验机是一款专业用于测试各种软包装材料拉伸性能等力学特性的电子拉力试验机 试验通过位于动夹头上的力值传感器和机器内置的位移传感器采集数据的变化，可测试塑料薄膜、复合材料、软质包装材料、塑料软管、胶粘带、医用贴剂等产品的拉伸、剥离、变形、撕裂等力学性能。XLW-H电子拉力机拥有丰富的应用范围，配置了100种以上不同的式样夹具供用户选择，其超高的性价比赢得了广大用户的喜爱与认可。产品特点◎ 10寸超大触摸屏，人机接口时尚、便捷。◎ 多种试验项目选择，满足绝大多数行业应用。◎ 测力系统精度高，线性度好，响应快。◎ 传感器超量程保护。◎ 运动驱动系统平稳且运行精度高。◎ 运动机构限位保护、过载保护、自动回位、以及掉电记忆等智能配置,保证用户与仪器本身的安全。◎ 开机自动零点校准，支持手动传感器清零。◎ 试验曲线实时展示试验过程中力值的变化趋势。◎ 产品符合GMP用户三级权限。◎ 测试数据历史记录可查询，数据不可更改，可审计追踪。◎ 可进行试验结果的单次、成组的统计分析。◎ 微型打印机，随时打印试验统计结果。◎ 设有标准的USB通信接口。◎ 专门的计算机通信软件，可进行试验的实时显示及数据的分析处理 、数据保存。◎ 可选气动夹持，减少操作时间，操作体验更流畅。◎ 可扩展网络传输接口，测试数据直接上传云服务器，可全球远程查询。电子拉力测试仪 电子拉力测试机测试原理将试样装夹在夹具的两个夹头之间，两夹头做相对运动，通过位于动夹头上的力值传感器和机器内置的位移传感器，采集到试验过程中的力值变换和位移变换，从而计算出试样的拉伸、撕裂、变形率等性能指标。技术参数量程范围：30N、100N，500N，1000N测力精度：0.5级力值分辨率：0.001N位移精度：0.5级位移分辨率：0.1mm试验速度：1-800 mm / min（无级调速）行程：800mm（可选1000mm）电源：220 V/50Hz/60W外形尺寸：520mm×380mm×1400mm主机净重：72kg测试环境：温度 10 ℃ ~ 40 ℃、湿度20%~80%测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：GB 13022、GB 8808、GB 1040、GB 4850、GB 7753、GB 7754、GB 453、GB/T 17200、GB/T 16578、GB/T 7122、GB/T 2790、GB/T 2791、GB/T 2792、ASTM E4、 ASTM D828、ASTM D882、ASTM D1938、ASTM D3330、ASTM F88、ASTM F904、ISO 37、JIS P8113、QB/T 2358、QB/T1130 、YBB00152002-2015、YBB00212005-2015 、YBB00232005-2015、YBB00222005-2015、YBB00182004-2015、YBB00202005-2015、YBB00242002-2015、YBB00212004-2015、YBB00132005-2015、YBB00142005-2015、YBB00152005-2015。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

检测项目 准确测量带有空调器外壳的风机额定风量，风机盘管、小型风柜轴流风机、贯流风机、离心风机等形式风机的风压-干风量、功率-干风量性能曲线。 本风量测试台采用风机排风测量，风室风洞测试的方法。该风量测试台自动化程度高，全不锈钢定制、外观美观大方、使用周期长；双面无缝焊接处理，密闭封好，测量精度高。 该设备自动化程度高，各设备启停、工况和流量调节均自动调节完成。检测周期大量缩短，节能降耗。设备运行稳定、故障率低、维护简单。 风量测试台采用全自动喷嘴，根据测试风量大小自动选择喷嘴，无需人工更换。精度高数据稳。

产品概要：瞬态热阻测试仪是一种用于材料科学领域的仪器。基本信息：技术优势：1、温控设备参数：冷媒：硅油；温度范围：-20°C ~ 150°C；温度误差：≤0.1°C；显示分辨率：0.01°C；支持所有工位同时测量2、标定控制：自动温度稳定判断；自动样品电压稳定判断；支持用户设定稳定容判据；支持迟滞消除；支持用户设定标定点数；支持所有测量通道同时标定3、历史数据保存：保存标定过程数据&bull 设定温度VS时间&bull 实际温度VS时间&bull 样品电压VS时间；通过历史数据记录可4、输出结果： K系数标定数据（电压VS温度）；包括NTC/PTC的拟合结果；支持多种数据拟合方式；各个K系数拟合度R2值；支持多个K系数曲线对比5、支持全测量通道同步温度系数标定：可对样品芯片电压温度特性进行标定；可对样品模块中的NTC/PTC进行标定；完整记录测试过程中所有采集参数应用方向：主要应用于半导体器件、LED光电器件等热学分析、测试，具体包括：测试该器件的热阻、结温、同一封装器件不同封装材料的热阻（积分、微分曲线结构函数等）。

测试测试测试

电感测试仪 MADMIX是一种独特的专利测量技术，用于在真实环境下测量SMPS电感。所有的关键电感参数都可以测量，包括交流损耗，而不需要额外的绕组。 MADMIX电感测试仪测试功能：1、 平均电感2、 核心损耗3、 绕组损耗4、 总交流损耗5、 BH-loop6、 饱和电流7、 电感饱和前后 MADMIX电感测试仪特点：1、 测试电感在实际工作条件：硬开关、大电流和电压。2、 可以应用和实际应用相同的波形 3、 可以测试铁芯和绕组损耗，并确定自热。4、 可以解决客户在应用中使用哪个感应器的困惑。5、 在电感器上施加方形电压，产生三角电流。6、 将大信号三角电流(0.1-120Aptp)与直流偏置电流(0-48A)相结合7、 我们可以测量不同频率(10kHz-10MHz)和脉宽(5-95%) MADMIX应用领域：1、 电感厂2、 铁氧体制造商 3、 SMPS设计4、 科研单位。 三角磁通激发相对于传统的小信号正弦波励磁，大信号三角磁通励磁揭示了被测电感器的真实性能。 不再使用假设来推断，但真正的激发使性能达到极限。 为未来做好准备大程度的自动化和灵活性由内部开发的软件。强大的ＤＳＰ计算确保稳定和准确测量。我们不断的创新是由先进的技术推动的在电力电子领域 模块化硬件构建针对电子行业的未来发展。 硬开关原理开关电源采用硬开关，使高效化。功率感应器可以“看到”一个矩形的电压产生三角形电流的波形。这种特定的电流波形与频率和占空比将导致特定的交叉在感应器里。 这些损失可能会很严重与正弦激励相比具有差异 哪些参数可以被调优ＭＡＤＭＩＸ软件可以选择和自动化扫描：开关频率占空比输入电压直流偏电流温度 技术规格及选配主要参数 输入电压: 0.2V to 70V 频率: 10kHz to 10MHz 频宽比: 10% to 90% 交流电流: 0.1Aptp to 60Aptp 直流偏置: 0A to 24A 铁芯绕组分离一个真正的１０位示波器功率损失在兆瓦范围内测量并改进高频率（ＭＨｚ范围） 低频率下的精度电感部件（１００ｎＨ以下）将交流损耗分为：铁芯损耗和绕组损耗或无附加绕组 同时启用ＢＨ回路的生成。 耦合电感器耦合功率电感器的测量， 变压器，无线供电线圈．．．．这个测量同时返回损耗和ｋ系数。 知名用户：Vishay、NXP、TDK、Sumida、Würth Elektronik、MURATA、Cochlear… …

电感测试仪 MADMIX是一种独特的专利测量技术，用于在真实环境下测量SMPS电感。所有的关键电感参数都可以测量，包括交流损耗，而不需要额外的绕组。 MADMIX电感测试仪测试功能：1、 平均电感2、 核心损耗3、 绕组损耗4、 总交流损耗5、 BH-loop6、 饱和电流7、 电感饱和前后 MADMIX电感测试仪特点：1、 测试电感在实际工作条件：硬开关、大电流和电压。2、 可以应用和实际应用相同的波形 3、 可以测试铁芯和绕组损耗，并确定自热。4、 可以解决客户在应用中使用哪个感应器的困惑。5、 在电感器上施加方形电压，产生三角电流。6、 将大信号三角电流(0.1-120Aptp)与直流偏置电流(0-48A)相结合7、 我们可以测量不同频率(10kHz-10MHz)和脉宽(5-95%) MADMIX应用领域：1、 电感厂2、 铁氧体制造商 3、 SMPS设计4、 科研单位。 三角磁通激发相对于传统的小信号正弦波励磁，大信号三角磁通励磁揭示了被测电感器的真实性能。 不再使用假设来推断，但真正的激发使性能达到极限。 为未来做好准备大程度的自动化和灵活性由内部开发的软件。强大的ＤＳＰ计算确保稳定和准确测量。我们不断的创新是由先进的技术推动的在电力电子领域 模块化硬件构建针对电子行业的未来发展。 硬开关原理开关电源采用硬开关，使高效化。功率感应器可以“看到”一个矩形的电压产生三角形电流的波形。这种特定的电流波形与频率和占空比将导致特定的交叉在感应器里。 这些损失可能会很严重与正弦激励相比具有差异 哪些参数可以被调优ＭＡＤＭＩＸ软件可以选择和自动化扫描：开关频率占空比输入电压直流偏电流温度 技术规格及选配主要参数 输入电压: 0.2V to 70V 频率: 10kHz to 10MHz 频宽比: 10% to 90% 交流电流: 0.1Aptp to 60Aptp 直流偏置: 0A to 24A 铁芯绕组分离一个真正的１０位示波器功率损失在兆瓦范围内测量并改进高频率（ＭＨｚ范围） 低频率下的精度电感部件（１００ｎＨ以下）将交流损耗分为：铁芯损耗和绕组损耗或无附加绕组 同时启用ＢＨ回路的生成。 耦合电感器耦合功率电感器的测量， 变压器，无线供电线圈．．．．这个测量同时返回损耗和ｋ系数。 知名用户：Vishay、NXP、TDK、Sumida、Würth Elektronik、MURATA、Cochlear… …

适用于光伏组件的老化测试仪器Worldwide– 专注于你的需求 Worldwide 从事老化测试领域已超过 25 年。从业界尖。端的加速老化设备到咨询服务，我们有明确的市场定位：为我们的客户提供高端且操作简便的技术，我们提供先进的测试方案可以做到产品质量高、竞争优势强且快速应用于市场。Worldwide 老化测试仪器是业界的领。导者，可适用于各类行业标准。 PV 组件尺寸 就像原材料和小型组件，整块的 PV 模组也需要在一定条件下模拟 最终使用环境的各类老化因素 来进行测试。目前 PV 模组的尺寸范 围从小型的 OPVs 到几平方米的大型 模组。针对不同模组尺寸， Worldwide 可以提供一系列老化测 试系统。 ?使用太阳模拟器进行长时间精确的光衰减测试 class AAA )?使用我们独特的光强度反馈系统，光强度稳定性极。佳，例如在±1％以内?恒温气氛（20~90℃）下的I-V测量?特定波长范围的降解测试设置可选滤波器由于传统的耐光性测试系统不是用于测试太阳能电池的专用系统，因此当使用氙灯或金属卤化物灯等时，照射光的精度不够，并且存在如下三个问题。因此，BIR-50型开发用于将传统的太阳能模拟器与50mm x 50mm照射区域（AAA级）和恒温室相结合进行温度调节，能够进行更准确的光降解测试和温度劣化测试 太阳能电池。 恒温室内配有BNC连接器，可以进行I-V测量。电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱电池老化测试箱，暴晒老化箱，老化测试箱

一、药品刚性检测仪介绍刚性是指受力时抵抗弹性及塑性变形的能力。刚性主要由硬度、拉伸模量、弯曲强度、弯曲模量决定的。刚性是药片结构性质表征之一。药品片剂为临床应用中药品存在的广泛的剂型，由于药片其处方组成复杂，质地结构坚硬，在药品的压制、成型、包衣生产加工，药品运输、储存，以及成型后药片在人体体内的崩解、溶出或释放、体内疗效，一系列的过程均与药品的微观结构和机械性能息息相关。而药品微观结构及机械性能可以综合表示为药品刚性，其数据可以用药品的质地特性进行表征。上海保圣TA.XTC-20药片刚性测试仪，可以对广大药企提供的药品进行刚性测定。刚性是指药片受力时抵抗弹性及塑性变形的能力。刚性主要由硬度、弯曲强度、弯曲模量决定的,刚性是药片结构性质表征之一。药品刚性在药品的压制、成型、包衣生产加工，药品运输、储存，以及成型后药片在人体体内的崩解、溶出或释放、体内疗效，一系列的过程均与药品的微观结构和机械性能息息相关。二、药品刚性检测仪应用TA.XTC-20药片刚性测试仪是用于制药行业专业物性分析仪，可以通过对片剂的穿刺、压缩等应力及应变的测试和综合分析,可以客观评价药物的力学特性，对力学指标结果给出准确的数量化描述。避免人类感官品评的局限性，可得到不同样品准确、稳定、重复性好的物性参数。如：药片硬度、药片坚实度、弹性、韧性、药片脆碎度。进而可全面指导片剂的处方和工艺设计及释药机制研究。三、药品刚性检测仪特点1.测试方法全面2.仪器操作便捷3.数据直观实时显示4.结果分析读取便捷5.仪器多重自我保护功能6.软件操作便捷、功能齐全四、药品刚性检测仪参数1.测量范围 ：50 N、 100 N 、500 N 、1000 N任选2.分辨力 ：0.1N3.准确度 ：±0.5%4.试验速度： (1-300) mm/min5.上压头：10mm超硬压头6.上、下压板平行：0.025mm7.外形尺寸 ：430×350×710mm8.电源 ：220V, 50Hz

一、药品刚性检测仪介绍刚性是指受力时抵抗弹性及塑性变形的能力。刚性主要由硬度、拉伸模量、弯曲强度、弯曲模量决定的。刚性是药片结构性质表征之一。药品片剂为临床应用中药品存在的广泛的剂型，由于药片其处方组成复杂，质地结构坚硬，在药品的压制、成型、包衣生产加工，药品运输、储存，以及成型后药片在人体体内的崩解、溶出或释放、体内疗效，一系列的过程均与药品的微观结构和机械性能息息相关。而药品微观结构及机械性能可以综合表示为药品刚性，其数据可以用药品的质地特性进行表征。上海保圣TA.XTC-20药片刚性测试仪，可以对广大药企提供的药品进行刚性测定。刚性是指药片受力时抵抗弹性及塑性变形的能力。刚性主要由硬度、弯曲强度、弯曲模量决定的,刚性是药片结构性质表征之一。药品刚性在药品的压制、成型、包衣生产加工，药品运输、储存，以及成型后药片在人体体内的崩解、溶出或释放、体内疗效，一系列的过程均与药品的微观结构和机械性能息息相关。二、药品刚性检测仪应用TA.XTC-20药片刚性测试仪是用于制药行业专业物性分析仪，可以通过对片剂的穿刺、压缩等应力及应变的测试和综合分析,可以客观评价药物的力学特性，对力学指标结果给出准确的数量化描述。避免人类感官品评的局限性，可得到不同样品准确、稳定、重复性好的物性参数。如：药片硬度、药片坚实度、弹性、韧性、药片脆碎度。进而可全面指导片剂的处方和工艺设计及释药机制研究。三、药品刚性检测仪特点1.测试方法全面2.仪器操作便捷3.数据直观实时显示4.结果分析读取便捷5.仪器多重自我保护功能6.软件操作便捷、功能齐全四、药品刚性检测仪参数1.测量范围 ：50 N、 100 N 、500 N 、1000 N任选2.分辨力 ：0.1N3.准确度 ：±0.5%4.试验速度： (1-300) mm/min5.上压头：10mm超硬压头6.上、下压板平行：0.025mm7.外形尺寸 ：430×350×710mm8.电源 ：220V, 50Hz

车载充电机下线测试车载充电机下线测试系统可完成针对车载充电机输入输出特性,车载DC-DC输入输入及负载能力测试,PDU部件通路测试,,以及系统通信功能验证.该系统有模拟运性功能,整机由机柜统一控制实现全测试流程,系统有上位机软件配置及监控，下位机测试执行,故障报警,通讯可配置,工步可编辑,测试数据备分整理等功能,测试结果支持EMS对接,同时系统有急停报警测试.DCDC电性能测试启动测试关机测试CAN通讯测试交互测试输入输出测试保护测试高压测试高压安全测试 车载充电机测试关机测试CAN通讯测试交互测试输入输出测试保护测试谐波测试PDU测试更多内容请咨询:电池测试系列 PACK充放电测试系统 模组充放电测试系统 超级电容PACK充放电测试系统 梯次电池包回收测试系统 电池包维护设备 电池包EOL综合测试系统电机控制器测试系统 五合一测试系统,电机EOL综合测试系统 电池模拟器综合台架,VCU综合测试系统 BMS综合测试系统 DCDC综合测试系统 DCAC综合测试系统 整车下线测试系统4S店电池维护设备 电池厂模组维修设备 新能源电动汽车年检设备 电动汽车电量衰减测试设备 电动汽车故障诊断仪兰翠 Elsa Lan手机：电话： 分机：803传真：邮箱：国昱（深圳）电气科技有限公司Gute (shenzhen) Electrical Technology co.,Ltd

LB-8500L多功能推拉力测试机广泛用于与LED封装测试、IC半导体封装测试、TO封装测试、IGBT功率模块封装测试、光电子元器件封装测试、大尺寸PCB测试、MINI面板测试、大尺寸样品测试、汽车领域、航天航空领域、军工产品测试、研究机构的测试及各类院校的测试研究等应用。 产品优势●采用测试工位自动模式，在软件选择测试工位后，系统自动到达对应工作位。●三个工作传感器，采用独立采集系统，保证测试精度。●每项传感器采用独立防碰撞及过力保护系统。●每项测试工位采用独立安全限位及限速功能。●人性化的操作界面，人员操作方便。●高精度传感系统结合独特力学算法，确保测试的精度。产品特点●采用精密动态传感采集技术，确保测试数据精度的真实性。●采用进口传动部件，确保机台运行稳定性及测试精度。●三工位自动旋转切换，避免因人员误操作带来的设备损坏。●霍尔双摇杆四向操作，让操作简单、方便。●完美匹配工厂MES系统。●测试数据实时保存与导出，方便快捷。测试参数设备型号 LB-8500L外型尺寸 1500*1200* 1600设备重量 约850KG电源供应 110V/220V @4.0A 50/60HZ压缩空气 4.5- -6Bar真空输出 500mm Hg控制电脑 联想PC软件运行 Windows7/Windows10显微镜 三目影像显微镜传感器更换方式 自动切换或手动更换测试模块平台治具 平台共用多种测试治具，按客户样品量身设计匹配治具XY轴有效行程 X有效行程500mm，Y轴有效行程300mm,可按客户产品订制具体尺寸Z轴有效行程 80mm XY轴分辩率 土1um Z轴分辩率土1um传感器精度 传感器精度土0.003% 综合测试精度土0.25%

一、测试意义：1、电绝缘材料的绝缘强度是决定材料可以在何种条件下使用的关键性能。在很多情况下，材料的绝缘强度是所使用装置设计的决定性因素。2、本仪器中介绍的测试，将用于提供部分所需的信息，以判断材料在一定应用条件下的适用性；当然也能用于检测由于流程的变化，老化的程度，或是其他制造或环境条件而造成的变化或是与正常特征的偏差。该测试方法可以有效地应用于流程控制，验证或研究测试。3、本测试方法所获得的结果，很少能直接用于实际使用材料介电性能的判断。北京智德创新检测仪器在大多数情况下，还需要对其他功能测试和/或对其他材料测试所获得的结果进行比较，以估计出它们对特定材料的影响，才能进行评价。4、在三种电压使用方法中。方法A，快速测试；方法B，逐步测试；方法C，慢速测试。方法A常用于质量控制测试。较费时的方法B和C通常给出较低的结果，但在对不同材料进行相互比较时，它们所给出的结果更有说服力。如果可以安装电动电压控制器，那么慢速测试法将比逐步测试法更简单，也更常用。方法B和C所获得的结果可以相互比较。5、试样的状态a)试样的厚度和均匀性，是否存在机械应力；b)试样预处理，特别是干燥和浸渍过程；c)是否存在孔隙、水分或其他杂质。6、试验条件a)施加电压的频率、被形和升压速度或加压时间；b)环境温度、气压和湿度；c)电极形状、电植尺寸及其导热系数；d)周围媒质的电、热特性。二、测试环境：1、试样的处理⑴用绸布蘸对试样无腐蚀作用的溶剂,擦净试样。⑵北京智德创新检测仪器预处理和条件处理：处理条件和方法可根据产品的性能和要求从本标准附录表1和表2中选取。有特殊要求的由产品标准另行规定。⑶绝缘材料的电气强度随温度和含水量而变化。除被测试材料另有规定外，试样应在23±2℃，相对湿度（50±5）%的条件下处理不少于24h。⑷经过受潮或浸液体媒质的试样在试验前应用滤纸轻轻吸去液滴，北京智德创新检测仪器从试样取出到试验完毕不应超过5分钟。2、媒质：⑴气体媒质：采用空气。⑵液体媒质：25#变压器油，常态试验及90℃以下的热态试验采用清洁的变压器油，90℃至300℃以内的热态试验采用清洁的硅油。3、试验环境：⑴常态试验环境：温度为25±5℃，相对湿度为65±5%。⑵热态试验或潮湿环境试验条件由产品标准参照录中表2予以规定。击穿的判断：试样沿施加电压方向及位置有贯穿小孔、开裂、烧焦等击穿痕迹。三、关于安装：1、仪器安装在水平水泥地面，无振动和腐蚀空间，建议距离墙体和操作人员在1米以上。2、仪器后部有高压变压器质量重心偏后，北京智德创新检测仪器运输和安装过程中请注意。3、本仪器建议一次吊装到位，叉车安装建议前后两台配合安装。4、通讯接口两条线，一条固定连线连接到计算机通讯串口COM1；另外一条连接线主机是14针航空插头，计算机端为扁型DB37芯插头。5、电源端子接线ABC为220V三相，地线为零线必须接6、接地端子必须用多股铜线良好接地。7、高压预留和低压预留请不要连接，为高压外引准备特殊测试。 8、高压和低压绝缘柱可以在长期不用或者更换外置高压和其他操作人员时把高压引线悬空，北京智德创新检测仪器避免误操作。9、试验时高压和低压引线端用高压引线鳄鱼夹和低压引线鳄鱼夹连接。10、高压点击和低压电极正常情况下是25mm和75mm两个圆形表面光滑铜电极，分别在上下部位用螺丝固定，如果特殊情况需要更换，请拧开相应的螺丝更换附件中备用电极即可。11、油盒固定点是一个上凸起的销子，可以把油盒垂直向上端起，取下和放上，方便更换变压器油。12、油盒支架是一个整体安装的电木机构，北京智德创新检测仪器可以取出更换电极更加方便。13、变压器油添加要超过上电极上部最少30mm。电压下气隙的击穿特性电压一般是指持续时间很短，只有约几个微妙到几十个微秒的非周期性变化的电压。由产生的过电正就属于这样的电压。由于电压作用时间短到可以与放电需要的时间相比拟，所以空气间隙在电压作用下有着一系列的特点，本节将介绍空气间隙在电压作用下所显现的一些主要放电特性。一、标准波形为了检验绝缘耐受电压的能力，在实验室中可以利用电压发生器产生高压，以模拟放电引起的过电压。为了使所得到的结果可以互相比较，需要规定标准波形。标准波形是根据电力系统中大量实测得到的过电压波形制订的。我国规定的电压标准波形如图1-14所示。电压波形由波前时间T1及半峰值时间T2来确定。由于实验室中一般用示波器摄取的电压波形图在原点附近往往模糊不清，波峰附近波形较平，不易确定原点及峰值的位置，因此视经过0.3Um和0.9Um，两点的直线构成的视在斜角波前(图1-14)。我国国家标准规定的冲电压标准波形的参数与国际标准IEC规定的相同，T1=(1.2±30%)μs，T2=(50±20%)μs。冲电压除了T1及T2外，还应指出其极性(不接地电极相对于地而言的极性)。标准波形道常可以用符号±1.2/50μs表示。二、放电时延图1-15表示电压作用下空气间隙的电压击穿波形。设经过时间t1后，电压由零升到间隙的静态电压击穿(即直流或工频电压击穿幅值)U0时，间隙并不能立即击穿，而要经过一定的时间间隔t1，到达t2时才能完成击穿。为此，首先必须在阴级附近出现一个有效电子，通常把电压达间隙的静态电压击穿U0开始到间隙中出现第一个有效电子为止所需的时间称为统计时延，用ts表示。由于间隙中自由电子的出现与许多不能准确估计的因素有关，特别是在依赖自然界的宇宙线等辐射产生游离的情况下更是如此，而由此产生的自由电子也不一定都能成为有效电子。因为有的电子可能因扩散而消失，有的可能附着在分子上成为负离子，因此统计时延ts有分微性。从第一个有效电子到间隙完成击穿，还需要一定的放电发展时间，称为放电形成时延，用tf表示。tf包括从电子崩、流注到主放电的发展所需的时间，由于受各种偶然因素的影响，tf也具有分放性。ts和tf均服从统计规律。气体间隙在电压作用下击穿所需的全部时间为t=t1+ts+tf (1-16)式中ts+tf—放电时延，用t1表示。在电场比较均匀的短间隙(如球隙中)，t1比较稳定，其也较小，这时统计时延ts实际上就是放电时延。统计时延ts和外加电压大小、光照射强度等很多因素有关。ts随间隙上外施电压的增加而减小，这是因为此时间隙中出现的自由电子转变为有效电子的概率增加的缘故。若用紫外线等高能射线照射间隙，使阴极释放出更多的电子，就能减少ts，利用球隙测量电压时，有时需采用这一措施。极不均匀电场的间隙，如棒一板间隙中，由于在局部强电场区较早地出现游离，出现有效电子的概率增加，所以ts较小，放电时延主要取决于tf，特别是当间隙距离较大时，tf较长。若增加间隙上的电压，则电子的运动速度及游离能力都会增大，从而使tf减小。三、50%放电电压 U50%在持续电压作用下，当气体状态不变时，一定距离的间隙，其电压击穿具有确定的数值，当间隙上所加的电压达到其电压击穿时，其间隙即被击穿。为了求得在电压作用下空气间隙的电压击穿，应保持电压的波形不变，逐渐升高电压的幅值。在此过程中发现，当电压的幅值很低时，每次施加电压间隙都不击穿；随着外施电压的升高，放电时延缩短，因此，当电压幅值增加到某一定值时，由于放电时延有分散性，对下较短的放电时延，击穿有可能发生。即在多次施加此电压时，击穿有时发生，有时不发生；随着电压幅值的继续升高，多次施加电压时间隙击穿的百分比越来越高；最后当电压的幅值超过某一值后，间隙在每次施加电压时都将发生击穿。从说明间隙耐受电压的能力看，当然希望求得刚好发生击穿时的电压，但这个电压值在实验中很难准缺求得，所以工程上采用了50%放电电压，用U50%表示，U50%就是指在该电压作月下，放电的概率为50%。实际上U50%和绝缘的最低放电电压已相差不远，故可用U50%来反映绝缘耐受电压的能力。50%主穿电与静态电压击穿的比值，称为绝缘的系数，用β表示，即 (1-17)式中 U0——工频电压击穿的幅值。在均匀电场和稍不均匀电场中，由于放电时延缩短，电压击穿的分散性小，其系数实际上等于1，且在U50%作用下，击穿通常发生在波前峰值附近；在极不均匀电场中，由于放电时延较长，电压击穿的分散性也大，故系数通常大于1，且在U50%作用下，击穿通常发生在波尾在标准击电压波作用下，棒一棒及棒一板空气间隙50%放电电压与间隙距离的关系如图1-16所示。从图1-16中可见，棒一板间隙有明显的极性效应。棒一棒间隙也有不大的极性效应，这是由于大地的影响，使不接地的下的棒极附近电场增强的缘故。在图中所示范围内，电压击穿U50%和间隙距离S呈直线关系。四、伏秒特性由于电压持续时间短，放电时延不能忽略不计，所以上述50%电压击穿不能完全说明间隙的击穿特性。例如，两个间隙并联，在不同幅值的电压作用下，就不一定是50%电压击穿低的那个间隙先击穿了。因为间隙的电压击穿还必须和电压的作用时间联系起来，才好确定间隙的击穿特性。间隙在工频电压及直流电压作用下，电压变化的速度相对于放电过程来说，总是非常缓慢的，故可用某个确定的电压击穿值来表示某间隙的绝缘强度。两个间隙并联，在持续电压作用下，总是电压击穿低的那个间隙先击穿。然而电压作用时间以微秒计，故间隙的击穿特性就必须考虑到放电时间的作用。同一波形、不同幅值的电压作用下，间隙上出现的电压最大值和放电时间的关系曲线，称为间隙的伏秒特性曲线。工程上常用伏秒特性曲线来表征间隙在电压作用下的击穿特性。伏秒特性可用实验方法求取。对丁某一间隙施加电压，并保持其标准的电压波形不变，逐渐升高电压幅值，得到该间隙的放电电压U与放电时间t的关系，则可绘出伏秒特性，如图1-17所示。作图时要注意，当击穿发生在波尾时，伏秒特性上该点的电压值应取电压的幅值，而不是击穿时的电压值。由于放电时间具有分散性，同一个间隙在同一幅值的标准电压波的多次作用下，每次击穿所需的时间不同，故在每级电压下，可得到一系列的放电时间，故伏秒特性曲线实际上是以上、下包络线为界的一个带状区域，如图1-18所示。间隙的伏秒特性形状与极间电场分布有关。对于均匀或稍不均匀电场，由于击穿时的平均场强较高，放电发展较快，放电时延较短，故间隙的伏秒特性曲线比较平坦，如图1-18曲线2所示，而且分散性也较小，仅在放电时间极短时，略有上翘，这是由于统计时延的缩短需要提高电压的缘故。由于均匀及稍不均匀电场的伏秒特性曲线除在很短一部分的上翘以外，很大一部分曲线是平坦的，其50%电压击穿和静态电压击穿相一致。由于上述这种性质，故在实践中常常利用电场比较均匀的球间隙作为测量静态电压和电压的通用仪表。对于极不均匀电场中的间隙，其平均击穿场强较低，放电形成时延tf受电压的影响大，tf较长且分散性也大，其伏秒特性曲线在放电时间还相当大时，便随时间t之减少而明显地上翘，曲线比较陡，如图1-18曲线1所示。而且，即使在电压作用时间较长(击穿发生在波尾)时，电压击穿也高于静态电压击穿。间隙的伏秒特性在考虑保护设备(如保护间隙或避雷器)与被保护设备(如变压器)的绝缘配合上具有重要的意义。在图1-19和图1-20中，S1表示被保护设备绝缘的伏秒特性，S2表示与其并联的保护设备绝缘的伏秒特性。图1-19所示S2总是低于S1，说明在同一过电压作用下，总是保护设备先动作(或间隙先击穿)，从而限制了过电压的幅值，这时保护设备就可对被保护设备起到了可靠的保护作用，但若S2与S1相交，如图1-20所示，虽然在放电时间长的情况下保护设备有保护作用，但在放电时间很短时，保护没备的电压击穿已高于被保护设备绝缘的电压击穿，被保护设备就有可能先被击穿，因而此时保护设备已起不到保护作用了。伏秒特性是防雷设计中实现保护设备和被保护设备间绝缘配合的依据。为了使被保护设备得到可靠的保护：被保护设备绝缘的伏秒特性曲线的下包线必须始终高于保护设备的伏秒特性曲线的上包线。为了得到较理想的绝缘配合，保护设备绝缘的伏秒特性曲线总希望平坦一些，分散性小一些，即保护设备应采用电场比较均匀的绝缘结构。

德国EA（HCK）FIP 保护接地和绝缘性能两用测试仪 德国EA(HCK)FIP保护接地和绝缘性能两用测试仪，可测量有效导体横截面或导体阻值，符合EN60204方法。该设备可满足不同的试验需求。 产品特点：■ 行业推荐产品：德国联邦铁路局保护导体检测指定产品；可对电车、地铁车厢及铁轨进行测试。■ 符合标准：EN60204、EN50153。■ 技术指标高：四电极测试；精度高±1%；具有RS232、RS485两种传输模式，可外接设备；四种测试模式。■ 测试参数可调：测试电流17A - 100A可选；多种电阻测试参数可调；导体横截面积和电阻测试参数可选。 性能特点：■ 测试结果满足设定值，输出光信号。■ 测试结果超出设定值，伴有声光报警。■ 检查测试仪器的接地保护和绝缘性能。■ 绝缘测试工作电压直流500V，具有电压异常保护功能。■ 四电极测试，符合标准EN 60204。■ 可连接其他设备实现远程信号输出。所有设备件都通过DKD校准测量装置调试。技术参数：技术参数电源 230 V ±10%频率45 - 65 Hz保护导体检测开路电压3.5 V（AC）0.2 Ω时回路电流10 A短路电流17 A AC参数设置0.1 / 0.2 / 0.3 / 0.5 Ω精度 ±2.5%绝缘检测开路电压500V（DC）短路电流 8.5 MA参数设置1 / 2 / 4 / 7 MΩ精度±2.5%程序检测可调测试时间2 秒 或 10秒数据尺寸306 x 110 x 310mm重量4.7 kg