微纳尺度生物

工业级飞秒激光微纳加工系统配件专业为工业微加工研究和生产而研发的成熟的技术，可用于飞秒激光打孔,飞秒激光蚀刻,飞秒激光多光子聚合等微纳加工应用。飞秒激光微纳加工系统配件具有非常绝佳的可靠性和超高的加工速度，飞秒激光器由于激光脉冲超短，提供了常见激光无以伦比的激光功率密度，其加工效果远远超过纳秒和皮秒激光。光束所到之处能够瞬间将材料汽化，由于激光脉冲超短，激光能量无法在如此短的时间内扩散到周围材料中，所以对加工区域周围影响微乎其微,是一种冷加工技术,加工效果堪称一流。飞秒激光微纳加工系统配件采用高达10W的Yb:KGW(1030nm)飞秒激光器作为激光光源,重复频率在1--1000KHz范围内可调，结合一流的精密扫描振镜,提供超高的微加工速度。系统配备Arotech公司高分辨率的定位平台，并同步激光光束扫描振镜和脉冲选择器, 在空间，时间和能量上提供全方位高精度控制。从而提供超高难度的加工能力，并达到亚微米精度的分辨率和重复性。配备机械视图系统,使用高分辨率的相机监控加工过程。飞秒激光微纳加工系统配件使用了贴别为微加工而设计的飞秒激光器，它比市场上出售的商业飞秒激光器具有更多优势，具有更高的稳定性和可靠性，达到工业使用的标准，飞秒激光放大器具有更短的脉冲(振动器80fs， 放大器280fs)，飞秒激光器具有更高的平均功率（振荡器高达2W, 放大器为6W），而且激光重复频率可调，计算机监控并控制激光。飞秒激光微纳加工系统配件规格 激光放大器参数 波长 1030nm 平均功率 6W 重复频率 1-1000KHz可调 脉宽 280fs-10ps计算机控制 最大脉冲能量 1mJ 输出稳定性1% 光束质量M2 2 脉冲选择器 多种频率选择 SH, TH,FH可选 激光振荡器参数 功率 1W 脉宽 80fs 重复频率 76MHz飞秒激光微纳加工系统配件特色 超高加工速度：高达350000像素 飞秒微细加工模式下具有最小的热影响区 工作面积高达：150x150mm 使用高性能振镜控制精密激光光束 激光脉冲数可控（1-350KHz)飞 飞秒激光微纳加工系统涉及技术 飞秒激光钻孔，飞秒激光切割，飞秒激光打孔 飞秒激光烧蚀,飞秒激光蚀刻,飞秒激光雕刻 2.5D铣，自定义模型划线, 表面微纳结构价格 改变材料的折射率,飞秒激光材料改性 飞秒激光三维多光子聚合 光学微操作…… MEMS制造掩膜制造和修理微片修复 燃料电池材料制造LIBWE,医疗应用激 光诱导扩散微光学、光子晶体、衍射光学元件制造波导和微透镜的制备

VANNAS维纳斯高级剪刀，直头卓越的尖部，总长75mm，有3mm和5mm两种刀刃。锋利、精确，适合各种精细显微操作。货号产品名称规格72932-013 mm Cutting Edge, 直头each72933-015 mm Cutting Edge, 直头eachVANNAS维纳斯高级剪刀，弯头卓越的尖部，总长75mm，有3mm和5mm两种刀刃。锋利、精确，适合各种精细显微操作.货号产品名称规格72932-023 mm Cutting Edge, 弯头each72933-025 mm Cutting Edge, 弯头eachVANNAS维纳斯高级剪刀，前角型式 卓越的尖部，总长75mm，有3mm和5mm两种刀刃。锋利、精确，适合各种精细显微操作。货号产品名称规格72932-033 mm Cutting Edge,前角型each72933-035 mm Cutting Edge, 前角型eachVANNAS维纳斯高级剪刀，边角型式 卓越的尖部，总长75mm，有3mm和5mm两种刀刃。锋利、精确，适合各种精细显微操作。货号产品名称规格72932-043mm Cutting Edge, 边角型each72933-045mm Cutting Edge, 边角型each

众所周知，优质显微镜用品和耗材是微束分析领域样品制备和产生理想结果的必要条件。成功的样品制备是从样品中获取优质图像和可靠数据的关键步骤。由南京覃思科技有限公司(www.tansi.com.cn)代理的荷兰Micro to Nano（简称M2N）进口显微镜耗材及用品，遵循“创新、实用和优质”之理念，产品用于电子显微镜和扫描探针显微镜技术领域。M2N公司在电子显微镜、样品制备、成像技术和产品分销领域拥有50多年的行业经验，对客户的需求有着深刻的理解。我们的显微镜用品，特别是电子显微镜用品，能为客户提供当前任务所需的耗品耗材。 荷兰M2N持续从事基于显微镜新需求的耗品研发，是SEM、TEM、FIB、AFM、SPM、LM等微纳领域之贴心伙伴，提供优质和创新的样品桩、样品座、碳膜载网、校准标样、靶材、碳棒、碳绳、工具、配件、银导电胶、碳胶带、铜胶带、储存盒、清洁用品、真空密封、安全防护等各种耗材器具，琳琅满目，应有尽有，显微分析领域耗材之理想选择！

【产品介绍】MetArray质谱芯片匹配ClinMS-Plat Ri质谱仪使用，是一款通用型代谢芯片，可快速高灵敏度地检测生物液体中的极性代谢分子和脂质分子。 【产品优势】限域性强，可容纳任何有机溶剂体系的溶液 | 尺寸精确可控，孔径、孔间距可个性化定制 | 免基质，质谱检测灵敏度和稳定性高 | 普适性高，代谢分子与脂质分子通用

秒激光直写光刻系统配件是专业为微纳结构的激光蚀刻而设计的激光直写光刻机，基于多光子聚合技术，适合市场上的各种光刻胶，能够以纳米精度和分辨率微纳加工各种三维结构。秒激光直写光刻系统配件特点激光光刻机3D模型制备直写光刻机直接激光刻划 激光光刻机整套系统到货即可使用激光光刻机提供100nm-10um的分辨率直写光刻机超小尺寸 激光光刻机3D模型的制备 这套三维光刻机由激光微加工系统软件控制，简单的3D模型通过这种软件即可生成，对于比较复杂的3D模型，用户可以通过Autodesk, AutoCAD等软件制作，然后导入到三维光刻机的软件中，这个软件支持.stl, dxf等格式的文件用于3D结构的制造。 激光光刻机激光直接读写 这套激光光刻机由飞秒激光光源，精密的3轴定位台和扫描镜组成。首先，待刻录的图形通过激光光刻机精密的激光聚焦系统直接从CAD设计中导入到光刻胶上。聚合物的双光子或多光子吸收用于形成高质量表面的3D结构。100nm的尺寸可自形成结构，200nm-10um尺寸的结构可以控制并重复，这套激光蚀刻机提供纳米尺度分辨率和对聚合物的广泛选择，从而可以适合微纳光学,微流体,MEMS,功能表面制作等各种应用. 与CAD设计等同的3D结构形成后，未固化的光刻胶剩余物由有机溶剂洗掉,这样只留下蚀刻的微纳结构呈现在基板上。 激光光刻机后续工序： 在所需的微纳结构形成后，它被浸入到几种不同的溶剂中，以除去蚀刻过程中留下的液态聚合物。激光光刻机全部过程都是自动化的，重要参数可以根据要求而设定：浸入时间,温度等.对于特殊的样品或加工对象，可以使用紫外光或干燥机处理。秒激光直写光刻系统配件应用 ?激光光刻机用于纳米光子器件（三维光子晶体） ? 三维光刻机用于微流控芯片 ? 三维光刻机用于微光学（光学端面微结构制作） ? 激光光刻机制作机微机械 ?激光蚀刻机制作微型光机电系统 ? 激光光刻机,三维光刻机用于生物医学

众所周知，优质显微镜用品和耗材是微束分析领域样品制备和产生理想结果的必要条件。成功的样品制备是从样品中获取优质图像和可靠数据的关键步骤。荷兰Micro to Nano（简称M2N）进口显微镜耗材及用品，遵循“创新、实用和优质”之理念，产品用于电子显微镜和扫描探针显微镜技术领域。M2N公司在电子显微镜、样品制备、成像技术和产品分销领域拥有50多年的行业经验，对客户的需求有着深刻的理解。我们的显微镜用品，特别是电子显微镜用品，能为客户提供当前任务所需的耗品耗材。覃思科技 (www.tansi.com.cn)是荷兰Micro to Nano（简称M2N）进口显微镜耗材及用品的代理商。提供优质和创新的样品座、碳膜载网、校准标样、靶材、碳棒、碳绳、工具、银导电胶、碳胶带、铜胶带、储存盒、真空密封等各种耗材器具，欢迎新老客户咨询下单！双面铜导电胶带 EM-Tec double sided conductive copper tape for SEM / FIB applications.The EM-Tec double sided conductive copper tape has a layer of conductive acrylic adhesive on both sides. Highly electrically conductive with a resistance through the adhesive 1 Ohm. This double sided conductive copper tape has the same specifications as the 3M 1182 tape. Ideal for mounting samples directly on sample stubs whilst establishing a grounding path. Either to mount large samples on stubs or for smaller samples directly on the tape. Non-conductive samples surfaces should be coated to obtain best imaging results. Can be used for long term applications. Much better conductivity than carbon tape and carbon tabs. The soft copper tape can be easily cut to the required size. Available with 6, 12, 20, 25 and 50mm width and length of 33m. Both side are covered with siliconised backing paper which makes it easy to unwind the tape and cut to size before applying the tape. Remove the siliconised paper from one side first apply copper tape and then remove the other backing paper. Tip: Try to minimise the exposed area of tape in the SEM to reduce outgassingSpecifications:Tape material Copper, 99.98% purityAdhesive Conductive acrylic adhesive (2x)Copper tape thickness0.035mmAdhesive thickness 0.025 +/- 0.005 mm + 0.022 +/- 0.005 mmTotal tape thickness0.082 +/- 0.01mmBacking paper thickness0.14mm (2x)Resistance 1 OhmAdhesive strength 10N / 25mm per sideTape strength 45N / mm2Use temperature range -10 to +120 °CLengthWidth33mChoice of 6, 12 and 20mmCore diameter 76mm (3”) 高纯导电双面胶碳片 High purity conductive double sided adhesive carbon tabsThe EM-Tec high purity conductive double sided adhesive carbon tabs are supplied on a clear plastic sheet with a white plastic liner tab. Available as Ø6mm, Ø9mm Ø12mm and Ø25mm carbon tabs.To use: lift the tab of the clear backing sheet, press the sticky surface to the mount, then peel away the white liner tab, leaving the adhesive exposed. Mount sample on the exposed adhesive. Alternatively, the white liner tab can be removed, the stub pressed on the exposed carbon tab and the clear plastic lifted off. The use of sharp pointed tweezers helps to lift of the tabs and liner. The carbon tabs can be easily removed with isopropanol, ethyl acetate, ethanol or acetone. The Ø6mm carbon tabs are intended for smaller samples or when smaller tabs are requiredThe Ø9mm carbon tabs are compatible with Ø9.5mm JEOL stubsThe Ø12mm carbon tabs are compatible with Ø12.7mm pin stubs, Ø12.2mm JEOL stubs and Ø15mm Hitachi stubs.The Ø25mm carbon tabs are compatible with Ø25.4mm pin stubs, Ø25mm JEOL stubs and Ø25mm Hitachi stubs.高纯导电双面胶碳带High purity conductive double sided adhesive carbon tapesHigh purity conductive double sided adhesive carbon tapes: The material is identical to the material used for the tabs with one difference the tapes are self-wound with a thin white liner on one side of the tape. The tape can be shaped into custom forms, strips andcut-outs. Available in 5mm, 8mm, 12mm, 20mm and 50mm width by 20m long. To use: Cut the required length of carbon tape from the roll and cut to shape if needed (care since one side has exposed adhesive). Adhere tape to the sample support. Remove the top liner and adhere sample to the tape. The use of sharp pointed tweezers helps to lift the liner of the adhesive. The carbon tape can be removed with isopropanol, ethyl acetate, ethanol or acetone.

微纳立方为您提供了各种应用场合的微流控芯片，及相关附件，如下：微流控 PDMS芯片微流控 玻璃芯片塑料芯片细胞培养芯片微纳立方为客户提供用途各异的细胞培养芯片，示例如下：MicronitCellixVena8 Fluoro+TM Biochips 微流体芯片； Vena8 Endothelial+TM Biochips 微流体芯片 ；VenaT4TM Biochips 微流体芯片 ； Vena8 Glass Coverslip Biochips 微流体芯片； VenaDeltaY1TM Biochips 微流体芯片 ； VenaDeltaY2TM Biochips 微流体芯片 ；电阻抗测试芯片 Electrical Impedance Spectroscopy 微流控芯片夹具类微流控芯片及附件毛细管，接头，插头等配件————————————————微流控产品：MFCS-EZ 微流体进样系统FRP流速监测系统恒流控制功能M-Swich通道切换解决方案微流控系统专用显微镜微流控分析系统… … 如上为微纳立方为微流控芯片系统提供的各种用途应用产品及附件，如有相关问题，欢迎关注微纳立方

聚酰亚胺（Kapton）带具有低放气性能，是高真空应用的理想带。优异的电气和隔热性能，高介电强度。尽管使用温度范围规定为-75至+260°C，但聚酰亚胺（Kapton）胶带已成功地在-196至+400°C的温度范围内使用。此磁带的应用范围很广：印刷电路板焊接时的遮蔽真空镀膜的遮蔽（溅射、热蒸发、电子束、PVD）在高真空中保存样品或零件低温应用定位带变压器、线圈和电动机的电气绝缘。标准聚酰亚胺（Kapton）胶带的厚度为0.06 mm。对于需要更高强度的应用，聚乙烯胶带的厚度为0.08 mm和0.12 mm。宽度为3至50毫米，长度为33米。清洁直径为76毫米的塑料芯。Specifications of the single sided polyimide (Kapton) tapesTape thickness0.06 mm0.08 mm0.12 mmTape materialpolyimide (Kapton) AdhesiveSilicone adhesiveColorGold, amber to brownFilm thickness0.025 mm0.045 mm0.085 mmAdhesive thickness0.035 mm0.035 mm0.035 mmTotal tape thickness0.06 mm0.08 mm0.12 mmAdhesive strength6 N / 25mmTape strength200 kPa350kPa500kPaElongation at break60%60%55%Dielectric strength8000 VoltsUse temperature-75 °C to + 260 °CLength33 mCore diameter76mm (3”)Chemical resistanceExcellent to acids, solvents and oils 卡普顿和聚酰亚胺胶带双面聚酰亚胺耐热胶带 所述双面聚酰亚胺带由双面带有硅粘合剂的聚酰亚胺薄膜构成。胶带缠绕在两层聚酯衬里之间。两个衬垫使清洁处理胶带变得容易：切割到所需长度，从第一个衬垫上松开胶带并留在第二个衬垫上。贴上胶带并拆下第二层衬垫。胶带材料和粘合剂与单面聚酰亚胺（Kapton）胶带相同。宽度为5至50毫米，胶带长度为20米。清洁直径为76毫米的塑料芯。Specifications of the double sided polyimide (Kapton) tape:Tape materialpolyimideAdhesive Silicone adhesiveColorGold to amberFilm thickness0.025mmAdhesive thickness0.035mm (2x)Tape thickness0.095mm (without liner)Liner thickness0.1mm (2x0.05mm)Total tape thickness0.195 mm (with double liner)Adhesive strength6N / 25mmTape strength200 kPaElongation at break 60%Dielectric strength6.5 kVChemical resistanceExcellent to acids, oils and solventsUse temperature range-75 to +260 °CLength20mCore diameter76mm (3”)

众所周知，优质显微镜用品和耗材是微束分析领域样品制备和产生理想结果的必要条件。成功的样品制备是从样品中获取优质图像和可靠数据的关键步骤。由南京覃思科技有限公司(www.tansi.com.cn)代理的荷兰Micro to Nano（简称M2N）进口显微镜耗材及用品，遵循“创新、实用和优质”之理念，产品用于电子显微镜和扫描探针显微镜技术领域。M2N公司在电子显微镜、样品制备、成像技术和产品分销领域拥有50多年的行业经验，对客户的需求有着深刻的理解。我们的显微镜用品，特别是电子显微镜用品，能为客户提供当前任务所需的耗品耗材。荷兰M2N持续从事基于显微镜新需求的耗品研发，是SEM、TEM、FIB、AFM、SPM、LM等微纳领域之贴心伙伴，提供优质和创新的样品桩、样品座、碳膜载网、校准标样、靶材、碳棒、碳绳、工具、配件、银导电胶、碳胶带、铜胶带、储存盒、清洁用品、真空密封、安全防护等各种耗材器具，琳琅满目，应有尽有，显微分析领域耗材之理想选择！导电胶规格和指标如下：Paint / CementEM-Tec C30EM-Tec C32EM-Tec C33EM-Tec C38 EM-Tec AG15EM-Tec AG42EM-Tec AG44EM-Tec AG46EM-Tec NI41Product #15-001130 15-00113115-00113215-00113315-00113815-002114 15-00211515-002141 15-00214215-002143 15-00214415-002145 15-00214615-004141Filler Typewt%Graphite 20%Graphite 10%Graphite10%Carbon15%Silver 58%Silver73%Silver61%Silver60% Nickel50%Typethin pastethin pastethin paint thin pastepaintthin pastethin pastepaintthin pasteResistance (dry)30 ohm/sq30 ohm/sq1200 ohm/sq50 ohm/sq0.015 ohm/sq0.01 ohm/sq0.01 ohm/sq0.01 ohm/sq0.7 ohm/sqBindergelgelpolymeracrylicthermoplastic resinacrylic acrylicurethaneacrylicSolventWaterWaterIsopropanolAcetone/ MEKMEKToluene /acetoneAcetoneWaterToluene/ acetoneDensity1.12g/cm31.08g/cm30.84g/cm3 0.85g/cm31.63g/cm32.05g/cm31.7g/cm31.5g/cm32.1g/cm3Touch dry5min5min1 min3min10min 5min3min5min5minFull cure time @ 22°C24hr24hr15min24hrs8hrs24hrs24hrs24hrs24hrsFull cure time @ 65°C45min45min 5min30min30min30min30min3hrs 30minMinimum temperature-20°C-20°C-20°C-40°C -20°C-40°C-40°C-40°C-40°CMaximum temperature+140°C+140°C+200°C+120°C+105°C+120°C+120°C+120°C+120°CMechanical strengthlowlowlowhighmediumhighlowlowhighVacuum compatible (dry)excellentexcellentyes yesyesyesyesyesyesRoHs compliantyesyesyesyesyes yesyesyesyesWeight40g/100g25g15g25g15g / 25g15g / 25g15g / 25g15g / 25g25gBottle size60cc/100cc30cc 30cc30cc15cc / 30cc15cc/15cc15cc/30cc15cc/30cc 30ccThinner-ExtenderWaterWaterIsopropanolAcetone MEKAcetoneAcetoneWaterAcetoneShelf life @ 20°C 3 year 3 year 3 year 3 year 3 year 3 year 3 year 3 year 3 year银导电胶 15-002114 EM-Tec AG15 silver paint, 15g bottle15-002115 EM-Tec AG15 silver paint, 25g bottle EM-Tec AG15 is a conductive silver paint based on very fine silver flakes with a thermoplastic resin binder with MEK / acetone as diluent. EM-Tec AG15 is fully comparable to EDAG 1415M and DAG 915 from Acheson / Henkel. Applications are making grounding paths and conductive glue for SEM samples, electronic and shielding applications. Achieves good bonding properties on a wide variety of materials including, plastics, ceramics, glass, metals, wood, rubber, epoxies and textiles. The low viscosity silver paint is ideal for making grounding tracks and to bond SEM samples on sample stubs. Samples can be easily removed. This silver cement has the consistency of a paint. Dries relatively quickly, depending on thickness reduce drying time with moderate heat up to 70°C. Solution contains 57.5 – 59 % silver. EM-Tec AG15 exhibits excellent conductivity. 15-002141 EM-Tec AG42 strong and highly conductive silver cement, 15g bottleEM-Tec AG42 is a strong conductive silver cement based on fine silver flakes (10-1μm) with an acrylic binder. Achieves excellent bonding properties on a wide variety of materials including, plastics, ceramics, glass, metals, wood, rubber, epoxies and textiles. The strong and tough acrylic binder reduces material loss where as the silver flakes ensure excellent conductivity. Use when highest conductivity is needed. Ideal for making grounding tracks and to bond SEM samples on sample stubs. This silver cement has the consistency of a paste. Dries relatively quickly, depending on thickness drying time can be reduced with moderate heat up to 65°C. Can be used on flexible surfaces. Solvent is acetone, solution contains approximately 73% silver, acrylic based binder. Excellent conductivity. Supplied in a 15cc glass bottle with a brush, 15 gram.15-002145 EM-Tec AG46 water-based conductive silver paint, no VOC, 15g bottleEM-Tec AG46 is a conductive silver paint based on fine silver flakes (10-1um size) with a water based urethane binder. It does not contain VOC, is solvent-free and is non-flammable. Achieves excellent bonding properties on a wide variety of materials including, plastics, ceramics, glass, metals, wood, paper and paints. Safe to use on even the most delicate plastics. The water-based urethane binder reduces material loss whereas the silver flakes ensure excellent conductivity. Ideal for making grounding tracks and to bond SEM samples on sample stubs. Samples can be easily removed. This silver cement has the consistency of a paint. Dries relatively quickly, depending on thickness reduce drying time with moderate heat up to 65°C. Solvent is water, solution contains 60% silver, urethane based binder. EM-Tec AG46 exhibits excellent conductivity. Supplied in a 15cc glass bottle with a brush, 15 gram. Keep container above 0 degrees Celcius do not freeze!银胶稀释液 15-002170 EM-Tec STC15 solvent / thinner / cleaner for EM-Tec AG15 silver paint, 30ml bottle EM-Tec STC 15 extender, thinner and cleaner for the EM-Tec AG15 conductive silver paint. 99.9% pure Methyl Ethyl Ketone (MEK). Supplied in a 30cc glass bottle.

CMS 显微镜C口光路切换器 光谱仪与显微镜的连接 | 光路切换 CMS(C口光路切换器)是一款用于光路切换的配件，可与显微镜连接实现显微光谱测量，适配于莱卡、奥林巴斯、尼康、Motic 等国内外知名显微镜。CMS也可用于光路系统，特别是Cage光路系统的搭建。 CMS可以对微纳尺度样品实现更高精度空间分辨的光谱测量，测量模式包括反射、透射、吸收、辐射、色度、荧光和拉曼光谱等。更多优惠信息：http://www.ideaoptics.com/Products/PContent.aspx?pd=CMS独特优势：边看边测采用宽谱段分束器，可以实现图像和光谱的实时原位采集精细选择结合FIB-M微区光纤，可以清晰地标识光谱采集区域荧光与拉曼采用二向色镜，可以满足荧光和拉曼光谱测量1μm空间分辨采用R5笼式支杆系统，方便调节实现共轭成像，从而有效提高光谱的空间分辨率。以100倍镜头为例，可方便地实现最高1μm空间分辨的光谱采集产品特点：1、适配显微镜和CCD中常用的C接口标准 2、适配光路系统搭建中常用的R5笼式支杆系统 3、采用双精密导轨的结构设计，具有很高的重复精度，能够实现精密的空间定位 4、从反射波段到透射波段的转换非常锐利，偏振相关损耗小，光谱范围大，适用于350~2600 nm波段 5、具有A, B两档档位，能分别加载分束器、反射镜和二向色镜 6、配备2种宽谱段（分别对应可见和近红外）的分束器供选择 7、配备11种波长（400~900 nm范围）的二向色镜供选择 8、尺寸小，重量轻，设计精密，具有微调部件 更多信息访问：http://www.ideaoptics.com

1 型物镜测微尺 1/100物镜测微尺是一标准刻尺，其尺度总长为1mm，分为100等分，每一分度值为0.01mm，即10μm,刻线外有一直径为Φ3，线粗为0.1mm的圆，一边调焦时寻找线条。刻线上富有厚度为0.17的盖玻片，保护刻线久用而不损伤，线形放大图如图。C2 型XX网形目镜尺网形目镜尺如图所示。矩形网格的长与宽之比为2：1，即长为L，宽为L/2。 0线将矩形分为左右二个正方形，左右微粒计数区，右边为长度测量区，左边的正方形又在垂直方向等分为三份，水平方向等分为二分，形成六个小长方形，便于在一定面积中技术粒子，右 边的正方形在水质方向亦等分为三份，而在水平方向不得法那个分为若干份，各有若干大小不等，但上、下对应的圆，上方为空心元，下方为实心圆，各有标号n=1.2.3……9，可用来快速测定粉尘的直径。 测微网上方刻有计算公式：D=*式中L代表矩形网格的底边长度。　　 n代表各圆的标号及右边正方形水平方向各分割线的标号。 D代表各圆的直径及右边正方形0线至各分割线的距离，如第四号圆的直径D等于0线至第四号分割线的距离。 第5号圆的直径D等于0线至第5号分割线的距离 以此类推。 测微网左端刻有10个等分割线，每格为L/20。 仔细情节测微尺与显微镜，置XX网形目镜于目镜筒内，调节接目镜，试测微网格图形清晰可见，（若观察到的图形文字、符号为反字，则应取出翻过一面）。　　 置C1型物镜测微显微尺于显微镜载物台上，仔细调节显微镜工作距离，找到它的刻线，移动载物台，试物镜测微尺某一刻线与目镜尺矩形网格一端相重合，观测另一端线落在物镜尺的何处，数出网形目。镜尺两端线之间共占物镜测微尺几个分格，即可求的在该放大倍数下，测微网长L所代表的尺度。　　例：如图三所示，在450放大倍数下，目镜尺网格两端线之间共占物镜测微尺的十三格半。即L=10μm*13.5=135μm。利用公式 可求出每一圆的直径及右边正方形0线至各分割线的距离

微栅支持膜是在支持膜上特意制作出微孔。微孔大小从2.5μm到10μm不等，镀碳后微孔为透孔，可以实现样品无背底观察，以提高样品的高衬度成像。普通微栅碳膜（孔径~5um），主要用于纳米材料的观察，使纳米颗粒在微孔边缘，或使一维纳米材料搭载在微孔两端，实现纳米结构的高分辨观察，更便于微束分析获得单颗粒选区电子衍射像。小孔微栅碳膜（孔径~2um），大多应用于小的病毒颗粒,使病毒或细菌颗粒粘附在微栅孔的边缘,也可用于生物低温电镜样品的观察。FIB微栅（孔径~8um），主要应用于聚焦离子束（FIB）样品处理后的透射电镜研究。膜的强度高，对样品的粘附性好，可以承载微电子芯片等大尺度样品，从而获得高级纳米电路的研究。普通微栅氧化硅（孔径~5um），满足高温处理、沉积生长等，并避免碳基底对纳米材料研究的影响。如果微栅膜采用坐标载网，可以实现定位、定向观察，并帮助记忆反复观察不同位置的样品。膜总厚度:15-30nm（厚度对观察样品没有影响） 有100枚装和50枚装两种规格，中镜科仪200目、230目、300目铜载网，中镜科仪生产。 载网目数 Mesh 产品编号Prod.No.载网材质Material载网产地Made in支持膜产地Made in微栅孔径aperture支持膜厚度Thickness包装Unit200目BZ110125a铜中镜科仪中镜科仪～5μm15-30nm100枚/盒BZ110125b铜中镜科仪中镜科仪～5μm15-30nm50枚/盒230目BZ1101235a铜中镜科仪中镜科仪～5μm15-30nm100枚/盒 BZ1101235b铜中镜科仪中镜科仪～5μm15-30nm50枚/盒300目BZ110135a铜中镜科仪中镜科仪～5μm15-30nm100枚/盒BZ110135b 铜中镜科仪中镜科仪～5μm15-30nm50枚/盒【存储】：室温避光干燥保存(建议放干燥器或者干燥箱内)、防污染、防震荡，存贮条件良好正常可保存1年左右。 【使用注意】：取用时采用高精尖镊子小心操作，防止产生弯折等破坏。存在有机膜，不能与有机溶剂接触。面向样品盒有字母的一面是铺膜的一面。

SPIP软件目前支持多种仪器的96种格式数据文件Image Metroogy 由Dr.Jan Friis J rgensen于1998年创立。Image Metrology是一所以客户为导向，不断发展的公司。公司位于离丹麦首都哥本哈根不远的城市。Image Metrology的主要产品，SPIP是可视化、修正，分析以及SPM数据报告方面的软件包。此软件包被SPM数据研究分析人员奉为标准。SPIP对于扫描电镜以及透射电镜、共聚焦显微镜、光学轮廓仪以及干涉仪等的图像分析也是很强大的。SPIP软件图像研究机构，在高新科技研发以及高校研究所运用。SPIP是专业的纳米以及微尺度图像处理的高科技软件公司，目前产品被应用于60多个国家的各个主要研究机构。SPIP95文件格式支持各种仪表类型,包括:SPM、AFM、扫描隧道显微镜、SEM、TEM、干涉仪共焦显微镜和光学显微镜,分析器。SPIP是一个模块化软件包，可提供包含14个具有特定功能的模块。SPIP应用，主要应用包括半导体检验、物理、化学、生物学、计量和纳米技术等方面。SPIP 三维图像处理软件：多年来，SPIP扫描探针图像处理软件，已成为纳米尺度的图像处理的实质意义的标准。SPIP图像处理软件是一个模块化的软件包，提供一个基本的软件模块和14个可选的用于特定的目的软件附件。是一个资申用户或刚刚学习图像分析的入门新手，使用SPIP图像处理软件，您只需点击几下鼠标即可获得您需要的分析结果。SPIP图像分析软件被用于，包括半导体物理，化学，生物学检验，计量，纳米技术等各种领域。您可从我们客户应用的经历获知更多应用领域。SPIP图形分析软件亦被用于学术研究和论文出版。在SPIP网站您可以看到824篇使用SPIP进行图形分析的论文列表。SPIP软件目前支持多种仪器的96种格式数据文件。包括： 扫描探针显微镜（SPM），原子力显微镜（AFM），扫描隧道显微镜（STM） 扫描电子显微镜（SEM），透射电子显微镜（TEM） 干涉仪 共焦显微镜 三维轮廓仪RoughnessPro——轮廓粗糙度 使用RoughnessPro您可以根据ISO标准来评估个别剖面及剖面集合的轮廓粗糙度。RoughnessPro——三维图像缝合 topoStitch是表面形貌图像缝合的简单及准确的方法。您可以从原子力显微镜（AFM），扫描探针显微镜（SPM），干涉仪（Profilers,），共焦显微镜及其他更多的设备上进行三维图像及表面形貌缝合。

坐标普通碳支持膜的载网是带标记的，方便您找到需要观察的样品。F1坐标载网和F2坐标载网是不同规格标记（F1坐标网见图1，F2坐标网见图2）。图1 F1坐标图2 F2坐标 碳膜为两层支持膜结构，可以采用不同规格的载网做载体。从空间结构来讲，从下到上依次为载网，方华膜和碳膜，如下图它是在一层有机方华膜上再覆盖一层碳膜。由于碳层具有较强的导电以及导热性，弥补了无碳方华膜的荷电效应以及热效应，增强了膜整体的稳定性，适合大多数纳米材料和生物样品的一般形貌观察。普通碳支持膜是针对常规检测20-50nm尺度样品的理想产品，是初次使用或筛查样品的最基本选择。如下图是纳米材料和生物样品在中低倍下的TEM照片，图像清晰，背底影响较小。支持膜的厚度，由对样品提供的承载强度和自身产生的背底干扰共同决定。如果膜厚度大，对样品的承载能力强，但会导致背底噪音增强；如果膜厚度小，图像质量高，但容易引起支持膜破裂。膜总厚度：10-20 nm产品编号产品名称规格/数量间距肋宽孔径BZ10021F1b100目F1坐标碳支持膜50枚/盒25040210BZ10021F1a100目F1坐标碳支持膜100枚/盒25040210

工业级飞秒激光微纳加工系统配件专业为工业微加工研究和生产而研发的成熟的技术，可用于飞秒激光打孔,飞秒激光蚀刻,飞秒激光多光子聚合等微纳加工应用。飞秒激光微纳加工系统配件具有非常绝佳的可靠性和超高的加工速度，飞秒激光器由于激光脉冲超短，提供了常见激光无以伦比的激光功率密度，其加工效果远远超过纳秒和皮秒激光。光束所到之处能够瞬间将材料汽化，由于激光脉冲超短，激光能量无法在如此短的时间内扩散到周围材料中，所以对加工区域周围影响微乎其微,是一种冷加工技术,加工效果堪称一流。飞秒激光微纳加工系统配件采用高达10W的Yb:KGW(1030nm)飞秒激光器作为激光光源,重复频率在1--1000KHz范围内可调，结合一流的精密扫描振镜,提供超高的微加工速度。系统配备Arotech公司高分辨率的定位平台，并同步激光光束扫描振镜和脉冲选择器, 在空间，时间和能量上提供全方位高精度控制。从而提供超高难度的加工能力，并达到亚微米精度的分辨率和重复性。配备机械视图系统,使用高分辨率的相机监控加工过程。飞秒激光微纳加工系统配件使用了贴别为微加工而设计的飞秒激光器，它比市场上出售的商业飞秒激光器具有更多优势，具有更高的稳定性和可靠性，达到工业使用的标准，飞秒激光放大器具有更短的脉冲(振动器80fs， 放大器280fs)，飞秒激光器具有更高的平均功率（振荡器高达2W, 放大器为6W），而且激光重复频率可调，计算机监控并控制激光。飞秒激光微纳加工系统配件规格 激光放大器参数 波长 1030nm 平均功率 6W 重复频率 1-1000KHz可调 脉宽 280fs-10ps计算机控制 最大脉冲能量 1mJ 输出稳定性1% 光束质量M2 2 脉冲选择器 多种频率选择 SH, TH,FH可选 激光振荡器参数 功率 1W 脉宽 80fs 重复频率 76MHz飞秒激光微纳加工系统配件特色 超高加工速度：高达350000像素 飞秒微细加工模式下具有最小的热影响区 工作面积高达：150x150mm 使用高性能振镜控制精密激光光束 激光脉冲数可控（1-350KHz)飞 飞秒激光微纳加工系统涉及技术 飞秒激光钻孔，飞秒激光切割，飞秒激光打孔 飞秒激光烧蚀,飞秒激光蚀刻,飞秒激光雕刻 2.5D铣，自定义模型划线, 表面微纳结构价格 改变材料的折射率,飞秒激光材料改性 飞秒激光三维多光子聚合 光学微操作…… MEMS制造掩膜制造和修理微片修复 燃料电池材料制造LIBWE,医疗应用激 光诱导扩散微光学、光子晶体、衍射光学元件制造波导和微透镜的制备

MagPure纯化技术介绍MagPure（磁珠法）纯化技术是专门为自动化核核酸提取设计的。该技术采用超顺磁性粒子为基质， 在其表面包被硅醇基或羧基基团，使得微粒与核酸发生特异性的吸附作用，从而达到纯化核酸的目的。 MagPure技术配合自动化核酸提取工作站，可将核酸分离纯化，从手工变成机械自动化操作，可大大 提高实验的准确度和通量，并减少操作人员接触危险样品的机会。MagPure Microbial DNA Kit (自动化微生物DNA纯化系统)采用磁珠法纯化方式从生物样品中抽提高纯度的微生物总DNA(包括细菌和真菌)MagPure Bacterial DNA Kit采用磁珠法纯化技术，适用于从各种不同的样品中(如环境样品、法医样品、食品等)提取高纯度的微生物 总DNA。得到的DNA可直接用于PCR、荧光定量PCR、酶切、Southern杂交等实验。该产品可成功在VERSA 10,VERSA 1100,VERSA HT等设备上运用。可兼容液体处理系统VERSA 10 PCR/NAP 自动化核酸提取-PCR建立工作站VERSA HT 高通量自动化液体处理工作站VERSA 1100 NGLP 下一代测序工作组VERSA 1100 4ch Independent 独立四通道液体处理工作站VERSA 1100 PCR/NAP 自动化核酸提取-PCR建立工作站Aurora在核酸分离纯化领域拥有完整和先进的技术，MagPure试 剂盒为不同样品提供不同粒径或不同官能基团的磁性粒子，以达到 最佳的纯化效果。在满足产品精确性及可重现性的要求，实现高通 量自动化核酸纯化的同时 保证产品绝对的兼容性。

为了直接测定低体积核酸或蛋白质含量的实验室而设计的starna DMV-Bio 比色池，无需采购专用的仪器设备。该款 比色池适用于所有主要品牌的紫外-可见分光光度计，而且都具有良好的精密度和重复性。 Starna 可拆卸微体积（DMV）生物样品池采用先进的精密微加工技术和材质，生产出了一款可以确保足够的能量都 被利用，在一个很宽吸收范围内准确检测低体积样品的专利性高能量光学系统。这款新型比色池适应于所有标准分 光光度计的样品槽，所以不存在无法匹配或者由于仪器的其他设计而带来的能量损失问题。 DMV-Bio 比色池有0.5mm，0.2mm 和0.125mm 三种光程可供选择，样品体积小于2.5ul（最低可达0.6ul）。这款比色 池的设计采用了磁性密封原理从而使样品的快速装填和清空变的容易，同时也方便清洁和防止挥发损失。

离子交换层析是一种最常用的蛋白纯化方法，针对蛋白等电点的不同而实现目标蛋白与杂质的分离。博进生物开发的硬胶层析介质以高强度亲水性聚丙烯酸酯微球作为基质，同时采用独特的柔性亲水修饰技术，进一步消除硬胶层析介质强疏水性微表面引起的非特异性吸附，保障蛋白的活性回收率以及分离纯化工艺的稳定性和重复性。针对不同纯化阶段的需求，博进生物可为用户提供多尺度的粒径选择范围：捕获或粗纯阶段， 推荐选用平均粒径70 μm或者120 μm的层析介质产品，对于高粘度样品，可考虑选用平均粒径 120μm或者200μm的产品；精纯阶段，建议采用平均粒径40μm或者70μm的产品。耐压达到1MPa线性流速可到1500cm/h 载量60-120mg/mL (实际应用)产品特性DEAE、Q、CM、S产品系列HP系列：适用于多肽、重组蛋白的纯化CP系列：适用于重组蛋白、抗体的纯化GP系列：适用于疫苗抗原、病毒的纯化标准粒径：40μm、70μm、120μm 系列适用分子量范围模式平均粒径流速上限动态载量(mg/mL) HP200KD以下DEAE40 μm70 μm1500cm/h90-100(BSA) Q100-110 (BSA)CM45-50 (LZM)S55-60 (LZM)CP 100KD-300KDDEAE40 μm70 μm1500cm/h80-85 (BSA)Q 95-105 (BSA)CM45-50 (LZM)S50-55 (LZM)GP150KD以上 DEAE40 μm70 μm1500cm/h50-60 (BSA)Q80-90 (BSA) CM35-40 (LZM)S25-30 (LZM) 产品特性博进生物采用一系列专利技术优化聚合物硬胶的粒径、孔结构以及微表面物化性质等参数，使介质本身具有更高的基础分辨率，对比琼脂糖介质在相同的模式条件下，可获得更高的分辨率。并可采用更高线性流速，以获得更高的生产效率。 离子交换介质：A 博进 HPS-60 B 竞品 S C 竞品 S ImpAct 柱尺寸: 1.6cm ID x 2.5cm 流速: 2mL/min 上样量：5mL 样品：1、细胞色素 C（1mg/mL） 2、溶菌酶（1mg/mL）博进生物强阳离子交换介质在相同条件下能提供更高分离度。博进生物的层析介质具有很高分辨率的同时，拥有非常理想的压力流速曲线，使得其在柱高放大过程中维持较低的反压。随着流速的提高或者装柱高度的增加，压力的变化较为平缓，远低于相同条件下琼脂糖填料的压力变化，更有利于药物生产过程的规模化放大。 HPS强阳离子交换介质压力流速曲线博进生物采用多尺度微纳结构调控技术，生产出的层析介质具有高比表面积的多孔性结构，同时通过计算机模拟技术，依据不同类型生物大分子的水力学尺寸设计出最优的介质孔径和间隔臂长短，实现生物大分子的高动态吸附载量和快速传质吸附与解吸附。 不同孔径离子交换介质压力流速曲线疫苗/病毒纯化用超大孔介质疫苗/病毒的纯化是博进生物开发的超大孔离子交换介质的特色应用。采用GPQ强阴离子交换介质或GPS强阳离子交换介质纯化疫苗抗原/病毒载体，具有上样量大(1-30CV)、纯度高、收率高等优点。应用领域：病毒类疫苗抗原的纯化VLP疫苗抗原的纯化LV、AV、AAV等病毒的纯化 疫苗抗原的纯化应用实例 某疫苗抗原纯化谱图介质：GPQ60强阴离子交换介质柱尺寸：1.6cm ID × 15cm流速：5mL/min样品：某疫苗抗原纯度：杂蛋白去除90%收率：80%

红外显微镜配件专门为微电子研发和制造而设计的显微镜，它是一款科研级显微热成像仪，在微米尺度给出电子器件和芯片的温度分布，能够非接触式地测量电子器件的温度分布，查找热点hotspots。红外显微镜配件对于分析和诊断半导体器件热表现非常有用，可用于探测热点和缺陷 电子元件和电路板故障诊断 测量结温 甄别芯片键合缺陷 测量热阻封装 确立热设计规则等领域，可以有效地检测微尺度半导体电路的热问题和MEMS器件的热问题。就MEMS的研发而言：空间温度分布和热响应时间这两个参数对于微反应器,微型热交换器,微驱动器,微传感器之类的MEMS器件非常重要。到目前为止，还有非接触式的办法测量MEMS器件的温度，红外成像显微镜能够给出20微米空间分辨率的热分布图像，是迄今为止测量MEMS器件热分布的有力工具。红外显微镜配件光学载物台：坚固而耐用，具有隔离振动的功能；聚焦位移台：用于相机的精密聚焦和定位；X-Y位移台：用于快速而精密地把测量区域定位到相机的视场中； 热控制台： 具有加热和制冷功能，用于精密器件的温度控制；红外显微镜配件应用*半导体IC裸芯片热检测 *探测集成电路的热点（hotspots）和短路故障*探测并找到元件和电路板上缺陷 *测量半导体结点温度（结温）*辨别固晶/焊线/点胶缺陷*测量封装热阻 *确立热设计规则 *激光二极管性能和失效分析*MEMS热成像分析*光纤光学热成像检测*半导体气体传感器的热分析*测量微交换器的热传输效率 *微反应器的热成像测量*微激励器的温度测量*生物标本温度分析 *材料的热性能检测*红外显微镜热流体分析 热分析软件红外显微镜配件分析软件。 这种软件能够帮助您非常容易而快速地获得温度信息，同时，它可以产生实时的（real time）带状图、拍摄并回放图像序列以及在图像上选择任何大小形状的区域，从而为您提供不同视角和建设性的数据分析手段。

上海屹持光电技术有限公司专业提供各种微纳结构加工服务典型案例： FIB加工微纳结构 紫外光刻微纳结构单晶硅反应离子刻蚀图片 ICP 刻蚀微纳结构 纳米压印点线图微流控细胞打印 EBL 刻写微纳阵列 FIB 用于器件电极沉积 激光直写图案激光直写器件微纳结构加工主要设备1，电子束曝光系统；2，聚焦离子束/ 扫描电子显微镜双束系统；3，双面对准接触式紫外光刻机；4， 单面对准紫外光刻机；5，金属高密度等离子体刻蚀机；6，硅刻蚀高密度等离子体刻蚀机；7，反应等离子体刻蚀机；8，纳米压印机。

样品座The Em-Tec SEM stub adapters enable the use of all common types of SEM stubs or mounts in your SEM. Advantages of the cost-effective and practical EM-Tec SEM stub adapters are:sample mounting independent of SEM platformsave time with no need to re-mount samplesuse calibration and resolution standards mounted on different stubsno need to risk sample integrityenables collaborative investigation of samplesThere are basically 5 common types of SEM sample stubs:Standard pin stubs with standard 9.5mm long pin used on FEI, Philips, Tescan, Phenom, Aspex, RJ Lee, Cambridge Instruments, Leica, CamScan, ETEC and Novascan SEMs and SEM/FIB systemsZeiss pin stubs with short 6mm pin for Zeiss and LEO SEMs, CrossBeams and SEM/FIB systems Plain cylinder stubs for JEOL SEMs and SEM/FIB systemsHitachi cylinder stubs with M4 threaded base for Hitachi SEMs and FIBsPlain cylinder stubs for ISI, ABT, Topcon SEMsFor each of the above type mentioned SEM stubs there are EM-Tec SEM stub adapters available. The EM-Tec SEM stub adapters are essentially made with the base of one type of an SEM stub and a top compatible with another type of SEM sample stub. The EM-Tec SEM stub adaptors are all constructed of vacuum grade aluminium and made to original manufacturers specifications. The Hitachi stub extensions are made from self-lubricating brass with aluminium locking ring. EM-Tec SEM stub adapters types are available as:Pin stub adapters for using other SEM stubs in pin type SEMs such as FEI, Philips, Tescan, Phenom, Aspex, Cambridge Instruments, Leica, etc. These can be used in Amray systems as well.Short pin stub adapters for using other SEM stubs in Zeiss and LEO SEMsJEOL stub adapters for using other pin stubs and Hitachi stubs in JEOL SEMsHitachi M4 stub adapters for using pin stubs and JEOL stubs in Hitachi SEMsOther SEM stub adapters for less common SEMs such as ISI/ABT/Topcon and Agilent/KeysightMetal slide adapter to accommodate pin stubs on reflected light microscopesFor labs with multiple SEM platforms or for those who are regularly using diferent brands of SEMs, we offer the EM-Tec universal SEM stub adapter set. This universal SEM stub adapter set includes pin stub adapters, JEOL stub adapters (up to 25mm) and Hitachi stub adapters, all both ways. If you can' t find the SEM stub or mount adapter you are looking for, please contact us. We might be able to offer a different solution or can manufacture custom SEM stub adapters. Product #TypeBase isTop acceptsDimensionsEM-Tec stub adapters based on standard pin stubs for FEI, Philips, Tescan, Phenom, Aspex, Cambridge Instr.11-000109PR4?3.2 x 9.5mm pinHitachi M4 thread?9 x 15mm11-000119PT4?3.2 x 9.5mm pinHitachi M4 thread?4 x 13.5mm11-000205PS4?3.2 x 9.5mm pinCambridge S4 stub?30 x 19.5mm11-000210PH10?3.2 x 9.5mm pin?3.2x9.5mm pin?12.7 x 22.7mm11-000216PJ12?3.2 x 9.5mm pin?9.5/ ?12.2 mm JEOL stub?25 x 19.5mm11-000227PJ25?3.2 x 9.5mm pin?25mm JEOL stub?34 x 19.5mm11-000232PJ32?3.2 x 9.5mm pin?32mm JEOL stub?40 x 19.5mm11-000251PJ50?3.2 x 9.5mm pin?50mm JEOL stub?59 x 19.5mmEM-Tec stub adapters for Zeiss/LEO with short pin11-000106ZR4?3.2 x 6mm pinHitachi M4 thread?9 x 11.5mm11-000116Z4?3.2 x 6mm pinHitachi M4 thread?4 x 10mm11-000126ZJ12?3.2 x 6mm pin?9.5/ ?12.2 mm JEOL stub?25 x 16mm11-000127ZJ25?3.2 x 6mm pin?25mm JEOL stub?34 x 16mm11-000128ZJ32?3.2 x 6mm pin?32mm JEOL stub?40 x 16mm11-000129ZJ50?3.2 x 6mm pin?50mm JEOL stub?59 x 16mmEM-Tec stub adapters for JEOL and JEOL Neoscope11-000503 J10P?9.5 x 9.5mm?3.2x9.5mm pin?9.5 x 9.5mm11-000513 J12P?12.2 x 10mm?3.2x9.5mm pin?12.2 x 10mm11-000523 J25P?25 x 10mm?3.2x9.5mm pin?25 x 10mm11-000504 J10H?9.5 x 9.5mmHitachi M4 thread?9.5 x 13.5mm11-000514J12H?12.2 x 10mmHitachi M4 thread?12.2 x 14mm11-000524J25H?25 x 10mmHitachi M4 thread?25 x 14mmEM-Tec stub adapters for Hitachi SEMs and table top SEMs 11-000304H15PHitachi M4 thread?3.2x9.5mm pin?15 x 15mm 11-000305HS4Hitachi M4 threadCambridge S4 stub?30 x 10mm 11-000310HJ10Hitachi M4 thread?9.5mm JEOL stub?15 x 10mm11-000311HJ11Hitachi M4 thread?12.2mm JEOL stub?15 x 10mm11-000316HJ12Hitachi M4 thread?15mm JEOL stub?25x 10mm11-000326HJ25Hitachi M4 thread?25mm JEOL stub?34 x 10mm11-000332HJ32Hitachi M4 thread?32mm JEOL stub?40 x 10mm11-000351HJ50Hitachi M4 thread?50mm JEOL stub?59 x 10mm11-000309H10Hitachi M4 threadHitachi M4 thread?15 x 14mm11-000321HS12Hitachi M4 threadHitachi M4 thread?20 x 16mm11-000322HS18Hitachi M4 threadHitachi M4 thread?20 x 22mm11-000323HS25Hitachi M4 threadHitachi M4 thread?20 x 29mmEM-Tec stub adapter for Keysight/Agilent/Novelex 8500 and AmRay11-000120KR4?3.2 x 20mm pinHitachi M4 thread?30 x 19.5EM-Tec stub adapter for ISI/ABT/Topcon11-000604I15H?15 x 10mm stubHitachi M4 thread?15 x 14mmEM-Tec stub adapter for reflected light microscopes11-000675M31P76.2x25.4mm?3.2x9.5mm pin76.2 x 25.4 x 11.2mm

产品特点：GATTA-Brightness系列纳米标尺是标准化的衍射极限成像的纳米级点光源，可作为亮度标尺检测显微镜的灵敏度，并把荧光分子的绝对数量与发光强度联系起来。因此每个标尺带有特定数目的ATTO 647N荧光分子，与荧光分子数目对应，可供选购的荧光亮度级别有9，18和24。纳米标尺，AFM纳米标尺，原子力显微镜纳米标尺，共聚焦显微镜纳米标尺，超高分辨显微镜纳米标尺，SIM纳米标尺，STED纳米标尺，STORM纳米标尺，电镜纳米螺旋标尺，金纳米螺旋标尺，显微镜亮度灵敏度标尺，显微镜纳米标尺技术参数： *该体积可供10份样品使用Frequency： 荧光强度Number of dye molecules ：荧光分子数目

样品储存容器The EM-Tec EM-Storr vacuum sample storage container have been specifically developed by us, to store and protect SEM / FIB / TEM samples and calibration standards under vacuum. It protects valuable samples from air, moisture and dust. The superior EM-Storr vacuum container is constructed using high vacuum compatible materials: vacuum grade aluminim, a hardened safety glass lid, NBR O-ring and an all metal high vacuum valve with PTFE shaft seal. The outside of the aluminium container is hard anodised for protection. To reduce outgassing and to hold vacuum for extended periods, the inside surface is machined vacuum grade aluminium with a glass lid. The EM-Storr vacuum desiccator is capable of reaching vacuum in the 10-4 mbar range. The vacuum connection for pump-down is a 6mm (1/4”) barbed hose fitting – compatible with 6mm thick wall silicon vacuum hose. The EM-Storr vacuum containers are stackable the octagonal design is optimised for handling, strength and weight. StyleProduct #SamplesChamber size/ Overall sizeCapacityEM-Storr 81P13-001050-PPin stubs?80 x 15mm 120x120x45mm19 x ?12.7mm or 7 x ?25.4mm or 2 x ?32mm or 1 x ?38/?50/?63mm pin stubEM-Storr 81H13-001050-HHitachi M4 stubs?80 x 15mm 120x120x45mm19 x ?15mm or 7 x ?25mm or 2 x ?32mm or 1 x ?50/?63mm cylinder stubEM-Storr 81T13-001050-TTEM grids?80 x 15mm 120x120x45mm2 x 30 TEM grids in the EM-Tec #28-001030 GB-30 TEM storage boxEM-Storr 81F13-001050-F FIB lift-out grids?80 x 15mm 120x120x45mm1 x 100 FIB lift-out grids in the EM-Tec #28-002100 FSB100S FIB grid storage boxEM-Storr 83EL 13-001052-ELBulk / large samples?80 x 52mm 120x120x71mmLarge samples, maximum size ?80 x 52mm or 14 x 25 TEM grids or 4 x 100 FIB grids The EM-Tec Save-Storr sample storage containers have been developed to store sensitive samples under a dry and inert gas atmosphere. The EM-Tec Save-Storr sample storage containers consist of a clear polycarbonate hinged container with a seal, separate gas inlet and outlet valves and an over-pressure safety valve. The containers can be purged and filled with dry inert gas such as Nitrogen or Argon to protect moisture and oxygen sensitive samples. The construction allows vacuum pumping of the EM-Tec Save-Storr container first, before purging/filling it with inert gas. Using inert gas to protect samples is preferred for long term safe sample storage. The gas diffusion rate is lower than with vacuum storage containers due to the similar pressures in and outside the container. The EM-Tec Save Storr sample containers are available in four versions:Specification of the EM-Tec Save-Storr sample storage container:ParametersEM-Tec Save-Storr 2EM-Tec Save-Storr 4EM-Tec Save-Storr 7EM-Tec Save-Storr 10Product number#13-001060#13-001070#13-001075#13-001080Outside dimensions LxBxH 212 x 118 x 101mm238 x 184 x 103mm325 x 263 x 117mm325 x 263 x 169mmInside dimensions LxBxH200 x 99 x 89mm238 x 184 x 103mm303 x 229 x 103mm303 x 229 x 151mmVolume1.75 ltr4.4 ltr7.1 ltr 10.5 ltrGas inlet / outlet valvesMini ball valvesMini ball valvesMini ball valvesMini ball valvesGas inlet / outlet connectors6mm (1/4”) hose barb6mm (1/4”) hose barb6mm (1/4”) hose barb6mm (1/4”) hose barbMaterialPolycarbonateThick-walled ABSThick-walled ABSThick-walled ABSColourClearBlack BlackBlackCompatible gassesN2, Ar, CO2N2, Ar, CO2N2, Ar, CO2N2, Ar, CO2Maximum pressure1.5 bar / 0.15Mpa / 150kPa1.5 bar / 0.15Mpa / 150kPa1.5 bar / 0.15Mpa / 150kPa1.5 bar / 0.15Mpa / 150kPa

样品台The EM-Tec stub based SEM sample holders are all small SEM sample holders based on (modified) SEM sample stubs. They have the same footprint as the original SEM sample stubs and are directly compatible with the SEM stage or SEM sample stub holder. These affordable sample holders increase efficiency and reduce sample preparation time. Using sample holders reduces the use of conductive adhesives which can be a source of contamination. The EM-Tec stub based small sample holders formats are:Standard pin stub based compact sample holdersJEOL cylinder stub based sample holdersHitachi M4 stub based sample holders Capacity, stub size and sample holding method of the EM-Tec pin stub based compact sample holdersProduct #StyleCapacity Size w/o pinSample holding method12-000117EM-Tec PS20 – ?2mm?6x4mmSet screw10-002212EM-Tec PS32mm thickness?12.7x3.2mmScrew/washer10-002240EM-Tec PS40 – 4mm ?12.7x7.2mmSet screw10-002244EM-Tec PS444 x 0-4mm ?25.4x7.2mm4 x Set Screw10-002218EM-Tec PS60 – 6mm ?12.7x7.2mmMini vise jaws12-000230EM-Tec PS90 – 8mm ?15x10mmMini vise jaws10-002242EM-Tec PS72 x 1mm ?15x10mmSet screw12-000112EM-Tec PS120 – 12mm ?25x7.2mmSet Screw10-002213EM-Tec PS50 – ?3.5mm ?12.7x7.2mmSet Screw10-002216EM-Tec PS80 – ?6mm ?12.7x7.2mmSet Screw12-000116EM-Tec PS160 – ?16mm ?25x7.2mmSet Screw10-002211EM-Tec PS111 x 3.05mm Grid ?12.7x3.2mmGravity10-002214EM-Tec PS144 x 30.5mm Grid ?12.7x3.2mmGravity11-000210EM-Tec PE10?3.2mm pin ?12.7x13.2mmSet screw12-000211EM-Tec PS15?15mm ?15x15mmAdhesive12-000270EM-Tec F122 x FIB grid ?12.7x8mmVise jaws10-002236EM-Tec P36?3.2mm pin ?12.7x17mmSet screw10-002238EM-Tec P38?3.2mm pin ?12.7x17mmSet screw10-002245EM-Tec P45?3.2mm pin ?12.7x17mmSet screw10-002246EM-Tec P45MM4 ?12.7x17mmM4 thread10-002270EM-Tec P70?3.2mm pin ?12.7x20mmSet screw10-002274EM-Tec P70MM4?12.7x20mmM4 thread The standard Hitachi stubs use an M 4 threaded hole in the base of the stubs. Our comprehensive selection of Hitachi M4 sample stubs include sizes from 15mm up to 100mm diameter to support virtually all applications. The Hitachi M4 SEM sample stubs are all made from vacuum grade aluminium. They are manufactured according to the original Hitachi specifications and are fully compatible with the standard Hitachi sample stub holders and stage adapters. Hitachi ?25x6mm M4 cylinder SEM sample stub, satin finish, aluminium Standard Hitachi stubs with 25.4mm diameter x 6mm thickness and M4 threaded hole. These ?25.4mm Hitachi stubs have undergone a surface finish treatment to give them a more satin look and to remove machining marks. Dimensions are fully compatible with standard 25.4mm Hitachi stubs. Offered against a reduced price in packs of 50 and 100.

样品台The EM-Tec stub based SEM sample holders are all small SEM sample holders based on (modified) SEM sample stubs. They have the same footprint as the original SEM sample stubs and are directly compatible with the SEM stage or SEM sample stub holder. These affordable sample holders increase efficiency and reduce sample preparation time. Using sample holders reduces the use of conductive adhesives which can be a source of contamination. The EM-Tec stub based small sample holders formats are:Standard pin stub based compact sample holdersJEOL cylinder stub based sample holdersHitachi M4 stub based sample holders Capacity, stub size and sample holding method of the EM-Tec pin stub based compact sample holdersProduct #StyleCapacity Size w/o pinSample holding method12-000117EM-Tec PS20 – ?2mm?6x4mmSet screw10-002212EM-Tec PS32mm thickness?12.7x3.2mmScrew/washer10-002240EM-Tec PS40 – 4mm ?12.7x7.2mmSet screw10-002244EM-Tec PS444 x 0-4mm ?25.4x7.2mm4 x Set Screw10-002218EM-Tec PS60 – 6mm ?12.7x7.2mmMini vise jaws12-000230EM-Tec PS90 – 8mm ?15x10mmMini vise jaws10-002242EM-Tec PS72 x 1mm ?15x10mmSet screw12-000112EM-Tec PS120 – 12mm ?25x7.2mmSet Screw10-002213EM-Tec PS50 – ?3.5mm ?12.7x7.2mmSet Screw10-002216EM-Tec PS80 – ?6mm ?12.7x7.2mmSet Screw12-000116EM-Tec PS160 – ?16mm ?25x7.2mmSet Screw10-002211EM-Tec PS111 x 3.05mm Grid ?12.7x3.2mmGravity10-002214EM-Tec PS144 x 30.5mm Grid ?12.7x3.2mmGravity11-000210EM-Tec PE10?3.2mm pin ?12.7x13.2mmSet screw12-000211EM-Tec PS15?15mm ?15x15mmAdhesive12-000270EM-Tec F122 x FIB grid ?12.7x8mmVise jaws10-002236EM-Tec P36?3.2mm pin ?12.7x17mmSet screw10-002238EM-Tec P38?3.2mm pin ?12.7x17mmSet screw10-002245EM-Tec P45?3.2mm pin ?12.7x17mmSet screw10-002246EM-Tec P45MM4 ?12.7x17mmM4 thread10-002270EM-Tec P70?3.2mm pin ?12.7x20mmSet screw10-002274EM-Tec P70MM4?12.7x20mmM4 thread The standard Hitachi stubs use an M 4 threaded hole in the base of the stubs. Our comprehensive selection of Hitachi M4 sample stubs include sizes from 15mm up to 100mm diameter to support virtually all applications. The Hitachi M4 SEM sample stubs are all made from vacuum grade aluminium. They are manufactured according to the original Hitachi specifications and are fully compatible with the standard Hitachi sample stub holders and stage adapters. Hitachi ?25x6mm M4 cylinder SEM sample stub, satin finish, aluminium Standard Hitachi stubs with 25.4mm diameter x 6mm thickness and M4 threaded hole. These ?25.4mm Hitachi stubs have undergone a surface finish treatment to give them a more satin look and to remove machining marks. Dimensions are fully compatible with standard 25.4mm Hitachi stubs. Offered against a reduced price in packs of 50 and 100.

Kleindiek纳米操纵仪配件是为外部电子显微学制备样品而设计的超精密样品拾取装卸系统，它在纳米尺度灵活微操纵样品。Kleindiek纳米操纵仪配件安装安装有一根微夹钳，一个四轴辅台，在表面有一个允许快速接近的小型CCD摄像头。Kleindiek纳米操纵仪是由安装在一个超小型平台上的一个四轴辅台构成。在辅台上安装了一个微夹钳，促进提取。操作该辅台将预切样品放置在微夹钳下。在这之后，微夹钳夹住样品并轻轻地固定住样品，固定要足够牢固，只要使辅台向旁边下落，就可以将样品从大量材料提取出。一旦分离，在TEM网格上，将样品与SEM兼容胶水接触，并且用离子束固化。Kleindiek纳米操纵仪配件规格：取样室兼容平台上的辅台最大样品尺寸：30mm行程：X和Y =10mm行程：Z轴为3mm行程：R =360°（无限）速度：可达1mm/秒分辨率：0.5nm笛卡尔运动没有反弹或翻转是大多数SEM和FIB工具的简单取样室装置几乎不受震动影响微夹钳运输和组装微型物体的高分辨率夹持器抓握区域：（5至10 μm）分辨率：20nm夹持力：5至5000μN（变量）最大跨度范围：20?40 μmSemCam样品表层的小相机允许快速接近包括显示器和LED照明

产品特点：GATTA-AFM纳米标尺具有准确、高度平行的结构，可以完美地用于检测或优化原子力显微镜。在实际环境中测试原子力显微镜可以达到的分辨率非常重要，不仅可以测出原子力显微镜达到产品标称分辨率的可能性，还可以测出实际使用时可达到的极限。如今GATTA也提供适合测试的GATTA-AFM纳米标尺，现在，有了GATTA原子力显微镜纳米标尺之后，就有了足够的测试样品，这些样本用DNA做成，呈现70nm*90nm*2nm（高）的长方体形状。纳米标尺，AFM纳米标尺，原子力显微镜纳米标尺，共聚焦显微镜纳米标尺，超高分辨显微镜纳米标尺，SIM纳米标尺，STED纳米标尺，STORM纳米标尺，电镜纳米螺旋标尺，金纳米螺旋标尺，显微镜亮度灵敏度标尺，显微镜纳米标尺技术参数：

众所周知，优质显微镜用品和耗材是微束分析领域样品制备和产生理想结果的必要条件。成功的样品制备是从样品中获取优质图像和可靠数据的关键步骤。荷兰Micro to Nano（简称M2N）进口显微镜耗材及用品，遵循“创新、实用和优质”之理念，产品用于电子显微镜和扫描探针显微镜技术领域。M2N公司在电子显微镜、样品制备、成像技术和产品分销领域拥有50多年的行业经验，对客户的需求有着深刻的理解。我们的显微镜用品，特别是电子显微镜用品，能为客户提供当前任务所需的耗品耗材。覃思科技 (www.tansi.com.cn)是荷兰Micro to Nano（简称M2N）进口显微镜耗材及用品的代理商。提供优质和创新的样品座、碳膜载网、校准标样、靶材、碳棒、碳绳、工具、银导电胶、碳胶带、铜胶带、储存盒、真空密封等各种耗材器具，欢迎新老客户咨询下单！铜提升格栅铜制EM-Tec光纤提升格栅可提供2、3、4或5个立柱。厚度为30-40μm，这使得它们比标准TEM网格更加坚硬。EM-Tec-FIB提升栅经过独特的清洗过程以减少污染；这导致TEM片层的安装和成像得到改善。由于制造工艺的原因，铜丝提拉网格在正面边缘有一个背脊，并且侧壁光滑。包装尺寸为瓶/100。 2 post FIB lift-out grid 3 post FIB lift-out grid 4 post FIB lift-out grid 5 post FIB lift-out grid post size 250x200μm post sizes 125x200 & 80x200μm post size 80x200μm post size 60x190μm attach single lamellas attach multiple TEM lamellas attach many TEM lamellas attach many TEM lamellas 钼EM-Tec纤维提升格栅Mo-EM-Tec-FIB提拉栅比铜栅更坚固，也可用于铜干扰TEM片层研究的场合。标准Mo-FIB提升式格栅的厚度为45-55μm。可提供2、3和4根立柱。由于材料和制造工艺的原因，Mo-FIB提拉网格的侧壁比Cu-FIB提拉网格的侧壁粗糙。因此，需要使用FIB使侧壁更光滑。包装尺寸为小瓶/25。 2 post FIB lift-out grid 3 post FIB lift-out grid 4 post FIB lift-out grid post size 250x200μm post sizes 125x200& 80x200μum post size 80x200μm attach single lamellas per post attach multiple TEM lamellasattach many TEM lamellas

产品特点：GATTA-PAINT 系列纳米标尺是适用于各种定位技术的超高分辨显微镜的理想标尺。因为采用DNA PAINT技术实现亮暗转换，GATTA-PAINT 纳米标尺几乎不会淬灭。此外，标尺的设计中包含了三个荧光发射点，可以获取到醒目的图像。荧光标记间的距离有如下几个尺寸：20nm, 40nm, 80nm。每种距离都有如下几种颜色可供选购：红色（ATTO 647N），绿色（ATTO 542）或蓝色（Alexa Fluor 488），或者红/绿组合(ATTO 655/ ATTO 542)纳米标尺，AFM纳米标尺，原子力显微镜纳米标尺，共聚焦显微镜纳米标尺，超高分辨显微镜纳米标尺，SIM纳米标尺，STED纳米标尺，STORM纳米标尺，电镜纳米螺旋标尺，金纳米螺旋标尺，显微镜亮度灵敏度标尺，显微镜纳米标尺技术参数：

上海屹持光电技术有限公司专业提供各种微纳结构加工服务典型案例： FIB加工微纳结构 紫外光刻微纳结构 单晶硅反应离子刻蚀图片 ICP 刻蚀微纳结构 纳米压印点线图微流控细胞打印 EBL 刻写微纳阵列 FIB 用于器件电极沉积 激光直写图案激光直写器件微纳结构加工主要设备 1，电子束曝光系统；2，聚焦离子束/ 扫描电子显微镜双束系统；3，双面对准接触式紫外光刻机；4， 单面对准紫外光刻机；5，金属高密度等离子体刻蚀机；6，硅刻蚀高密度等离子体刻蚀机； 7，反应等离子体刻蚀机；8，纳米压印机。