脑磁图描记术

各位老师，我的文件中需要提供样品的核磁共振图，但我不知如何描述，那位老师能帮一下。这是FDA文件中的，我个人认为不需要详细解谱，用专业术语描述出他们的相同点和不同点即可。尤其是相同点。否则描述的样品和标准品不同，那就麻烦大了。呵呵。这是样品氢谱[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/10/201010110927_250710_1805784_3.jpg[/img]下图是标品氢谱：[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/10/201010110929_250711_1805784_3.jpg[/img]下图是样品碳谱[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/10/201010110931_250713_1805784_3.jpg[/img]标准品碳谱：[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/10/201010110932_250715_1805784_3.jpg[/img]

2016国产磁测量好仪器系列之五：磁场测量扫描成像系统F-30原创：李响、杨文振、薜立强、冀石磊、郑文京 工程师，北京翠海佳诚磁电科技有限责任公司推荐：陆俊 工程师，中科院物理所磁学室2016年10月28日一句话推荐理由：国产半导体器件的骄傲之作应用在中强磁场测量上的好仪器。一、引言 磁场无形，但又无处不在，无时无刻不在直接或间接的影响着我们的生活，比如地磁、磁卡、电机、变压充电器、电磁炉、微波炉、手机、磁盘、钞票、耳麦、磁悬浮列车、核磁共振成像仪这些让我们每天都在和各种各样的磁场打交道，然而对于磁场如何衡量，如何产生如何测量恐怕较少有人去关注，简单概括几点：一是磁场的单位，常用的单位是奥斯特，国际单位安每米比较小(1 Oe ~ 79.6 A/m)，注意严格来讲不要将单位表达成高斯或特斯拉这两个磁感应强度单位，因为磁场强度和磁感应强度概念上完全不同，尽管二者可根据(经常以空气或真空的)磁导率相互变换，即1奥斯特磁场在真空或空气中诱导的磁感应强度为1高斯或万分之一特斯拉。二是磁场的产生，首先地球是跟我们关系最密切的磁场源，地表磁场大约为0.5奥斯特，随纬度升高有缓慢增强趋势；其次是为了产生变化磁场，可以通过永磁体机械组装的方式，也可以使用线圈中通过电流的方式，根据线圈材料或结构的不同可以形成不同类型的通电线圈磁场源，比如超导线圈在不消耗能量情况下维持100kOe以上的磁场，高强度导电材料及结构制成的1MOe以上的脉冲强磁场；还有一种和磁场产生相反，要尽可能减少磁场，以防止地球磁场或其他干扰磁场对精密传感器造成不利影响，破坏极端条件探索、精密标定测量等任务，这时要用到消磁措施，可以使用主动电流对消与被动屏蔽两种方法，综合利用消磁技术，我们可以获得比地磁场弱10个数量级的洁净磁场环境。三是磁场的测量，相比产生技术方法，磁场测量要复杂得多，其类型有电磁感应、霍尔、磁阻、磁电、磁光、磁致伸缩、磁共振及非线性磁效应等基本原理，其中值得一提的几个包括最通用且测量范围最广的感应线圈磁探测器、前沿科学探索中常用的超导量子干涉仪(SQUID)、地磁或空间磁场探测中常用的磁通门或原子光泵磁力仪、智能手机里植入的各向异性磁阻AMR芯片、磁场计量常用的核磁共振磁力仪以及跟电磁相关的生产及科研任务中常见的中等强度磁场(地磁场上下四个数量级之间)测量上最常见最常用的霍尔磁场计。以上关于磁场的量级、产生与测量方法比较汇总于图1，在中等磁场强度测量应用最广泛的为霍尔传感器，虽然它没有核磁共振磁力仪ppm级的高精度，但它同时具备足够的精密度(通常约千分之一)、高空间分辨、高线性度、单一传感器宽测量范围、成本又相对较低等明显优势，因而市面上高斯计、特斯拉计等中等强度磁场测量仪绝大多数基于霍尔传感器，本文介绍的磁测量产品也基于霍尔磁场计，在前述磁相关的器件及应用产品的质量控制、监护与升级过程中扮演着不可缺少的角色。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/11/201611101944_616260_0_3.png图1 磁场的量级、不同产生与测量方法比较概览图二、背景中科院半导体所从20世纪80年代始研究高迁移率砷化镓(GaAs)霍尔器件，后来经过两代人的薪火传承克服半导体材料制备、内置温度补偿器件设计与测量数字化采样及软件优化上的技术难题逐渐发展成熟，最终落地北京翠海公司，形成CH-1800，CH3600等被用户认可的高斯计产品。近些年为了配合电磁制造业质量提升的业界需求，为电机磁体、核磁共振磁体空间均匀性、多级磁体分布提供系统的测量方案，翠海公司在高斯计的基础上增加无磁运动机构和软件集成，开发出F-30磁场测量扫描成像仪，照片如图2所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/11/201611101944_616259_0_3.jpg图2 F-30 型磁场测量扫描成像设备照片三、简介F-30由上位机（装有控制软件）、高精度高斯计（一维或者三维）、与高斯计搭配的探头、多维电控位移台以及位移台的控制器组成，如图3所示。简单来说可以分为两个部分，一部分只是用来采集数据，另一部分只是位移，两个部分搭配起来就组成了这个位移采集系统。位移模块由多维电控位移台和位移台控制器组成，通过操作上位机软件给控制器下命令，控制器就根据命令带动电控位移台各个轴运动，这个电控位移台的参数（台面大小、运动轴长度、运动方式、多少维度）用户可定制，即实现在允许范围内的各个角度、各种形状的扫描。 数据采集模块由高精度高斯计和与高斯计配套的探头组成，电控位移台的轴上有固定的探头夹持位置，采集数据时将探头放在夹持位置上，探头测量的数据实时上传到高斯计上，而高斯计与上位机软件通信连接，上位机则根据需要选择是否记录当前位置的数据。通过上位机软件控制位移台控制器和高斯计，可以将位移台上某个位置与高斯计读到的数据值相关联，一维高斯计读到的就是运动到的点对应的某个方向的数据值，三维高斯计则是一个点上 X 方向的值、Y 方向的值、Z 方向的值、此点上的温度（根据需要探头和高斯计中可有温度补偿功能）及三轴中两两矢量和、总矢量和的数值大小和方向夹角，扫描的数据可以导出保存在 EXCEl 中，根据位置和数据值可由软件绘制出各种需要的示意图：二维标准图、二维颠倒图、二维雷达图、三维曲线图、三维网状图、三维立体图、矢量图、圆柱展开图及多条曲线或多个立体图放在同一张图中进行对照比较。软件中还对常见的几种形状（空间磁场分布、矩形图、磁环、同心圆等）的扫描进行了集成化，只需设置几个参数便可以自动进行扫描，自由度高，精准度高，无需看管。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/11/201611101944_616261_0_3.png图3 F-30型磁场测量扫描成像仪组成框图F-30根据不同的测量件需求可以定制，磁场测量部件的主要技术指标如表1，传感器照片如图4，其测量方向、维度以及尺寸都可以根据需要定制。 关于磁场扫描成像时间，（1）常规扫描：每点扫描时间可设置，一般为保证数据的稳定性，在每点的停留时间为1~2s，总时间由测试工件尺寸和扫描步长决定；（2）快速扫描模式：在位移台运动过程中不做停留，通过高速数据采集获得每点磁场值每点测量可小于0.1s。表1： F-30磁场测量部件主要指标http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/11/201611101944_616269_0_3.jpg运动部件有三个平移与两个旋转自由度，大致示意图如图5，典型测试场景及系统软件照片如图6所示，运动部件指标表2。表2 F-30运动学指标列表http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images

1 背景某日，SEM正常测试中。每更换一批样品，需要去样品室（Chamber）真空和抽真空，在有一次更换样品之后的抽真空过程出现故障。现象表现为软件界面指示Chamber Pressure的读数为-，不显示数值。通常当Chamber真空值在真空计的读数范围之外时，比如从皮拉尼（Pirani）切换到潘宁规（Penning Gauge）和样品室打开时（即大气压），该值才会显示为-。正常的情况下，由低真空到高真空，都会经历真空计从皮拉尼到潘宁规的过程，且这个过程时间非常短暂，所以只能短暂的看到Chamber Pressure显示为-的过程，甚至没有显示为-就已经到潘宁规的检测范围，即显示为**E-1 Pa或更小的数值（数值越小，真空度越高）。现在的情况是，Chamber Pressure显示为-，而且不变化了。通常要等真空值到**E-3 Pa，我们才打开高压，进行后续的测试，此故障导致无法开高压，也就无法继续工作了。根据以往的经验，导致此故障的原因是潘宁规出问题。考虑到仪器已经出保，请工程师来维修并不划算，于是我们自己尝试着先修一下。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/10/201210102311_395878_2193245_3.jpg图1 Chamber Pressure显示为-的时刻2 准备工作工具：一套六角扳手，一把螺丝刀，几块干净的无尘布，一双一次性橡胶手套，氮气，相机（非必需）。其中无尘布是用来垫潘宁规和清洁的，氮气是用来吹潘宁规里面的灰尘和碎屑的，也可用其它无害气体或者洗耳球（效果没那么好）代替。相机是用来记录拆解的过程的，便于原样装回去。3 维修过程（注：本扫描电镜型号为FEI的Nova NanoSEM 230，其它厂商或型号的具体操作可能不同，请先咨询工程师；步骤仅供参考，本人不承担因参照此步骤而引起的损失。）3.1 关扫描电镜场发射灯丝。场发射型扫描电镜平时灯丝都是常开的，只有在长时间（如1个月以上）不用或者出故障时才会关掉。虽然开关灯丝对灯丝本身的损耗较大，但是迫不得已，必须关掉。具体操作为在supervisor账号下的Alignments标签下的5-Emitter Startup，点击Start按钮后出现界面，点Emitter Off，等待倒计时结束（约5分钟）。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/10/201210102313_395881_2193245_3.jpg图2 Emitter Startup 下的Emitter Off3.2 关扫描电镜系统。拆潘宁规之前必须断电，所以整个系统都要关掉。在灯丝关掉之后，退出软件（Microscope User Interface），等待提示UI stopped之后点Stop，等待所有的模块前的图标都变成黑色（即Stopped），然后点被红色粗线条框框起来的Shutdown System，最后关掉Microscope、Support、EDAX等几台计算机。Shutdown System外的红色框在界面上就是存在的，说明这个按钮十分重要，不能轻易点。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/10/201210102322_395884_2193245_3.jpg图3 Stop UI, Stop, and Shutdown System3.3 拆潘宁规。①拔掉潘宁规与扫描电镜的连接线，如图4所示。http://ng1.17i

操作过核磁的都知道，扫描次数增加与核磁信噪比S/N的提升并不是简单的1:1的关系。理想情况下，两次扫描次数的比值开根号为信噪比的提升倍数。举例来说，扫描16次的谱图比只扫一次的谱图信噪比提高4倍。原因在于与可重复的信号相比，噪音是随机的。fid信号s(t)=snmr(t)+snoise(t)对于信号snmr(t)而言，随着累加次数的增加，snmr(1+2)=snmr(1)+snmr(2)，由于snmr(1)=snmr(2)，因此左式=2snmr(1)对于随机产生的噪音snoise(t),在单次实验中其强度通常采用平方根公式(RMS)来进行描述，即谱图中所有噪音采样点的平方和开根号http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/08/201208121429_383299_2071539_3.jpg依据此公式，两次试验的RMS为http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/08/201208121433_383300_2071539_3.jpg由于两次试验的噪音之间并没有相关性，因此http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/08/201208121435_383302_2071539_3.jpg为0。又在相同的实验条件下，虽然单个噪音不同，但是满足统计学规律http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/08/201208121436_383303_2071539_3.jpg从而http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/08/201208121437_383304_2071539_3.jpg因此http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/08/201208121438_383305_2071539_3.jpg

仪器出了点问题，先上图http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305210851_440829_1060664_3.jpg基线不稳，质谱图也不正常。在全扫描范围内，所有质量数都有出。整个TIC，基线都是这样的情况。清洗过离子源，好了几天后，就复发了。调谐也没发现什么异常。这种情况，是MSD的问题，还是色谱柱的问题呢？

[size=3]斯派克M10使用的检测器是PMT和CCD相结合的先传一张PMT描迹后的截图[/size][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/06/201006121534_224021_1604883_3.jpg[/img][size=3]再来张CCD的[/size][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/06/201006121535_224022_1604883_3.jpg[/img][size=3]最后再传张查看结果的截图[/size][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/06/201006121538_224023_1604883_3.jpg[/img][size=3]（以上三个截图来源于斯派克M10技术说明书）想请大家讨论1、PMT描迹截图中红色方框部分PMT Profile Postion:7337(7399) ，前面的7337代表当前描迹的位置，括号内的7399代表上一次描迹时的位置，我们知道[font=宋体][size=3]这个数据没有太大的意思[/size]，[/font][font=宋体][size=3]因为其值大小和温度、[/size][/font][font=宋体][size=3]湿度[/size]、[/font][font=宋体][size=3]电压以及光室内的压力都有关系[/size][/font][font='Calibri','sans-serif']。[size=3]那么[/size][/font]前后两次数值上的差异一般是多少，我们有三台M10，有一台描迹前后数值只差2个，一台相差12，还有一台居然差了300多，这正常吗？2、在PMT和CCD截图中都有Precision一栏，在说明书中描述为Level of consistency between reference and actual spectral data，当其值小于Min.Precision时就会发生红色报警提示，这里的精密度Precision是怎么计算出来的？描述中提到的reference intensity在这里又是什么意思呢？3、截图中也有Target Intensity一栏，说明书中的描述为 Average target intensity of this instrument，这是什么意思？4、在描迹结果截图右侧红色方框内，Profile dev.表述的应该是每个PMT通道描迹的偏差量deviation，有正有负，如何理解？其值和最后描迹的位置有什么关系呢？5、M10使用的是自动描迹，有个马达驱动，自动寻找最佳位置，请问自动描迹的原理是什么？6、PMT和CCD描迹有什么不同呢？欢迎讨论，问题比较多也比较乱，还请各位谅解！[/size]

1、在不久前的国际探针显微镜图像竞赛上，科学家向公众展示了一组最佳的隧道扫描显微镜图像。这些纳米级图像是科学家制作的艺术品。1、量子森林 由德国实验室的这一图像显示了一片GeSi量子点“森林”，其实，它们只有15纳米高，直径也只有70纳米。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/02/200802201437_79288_1638240_3.jpg[/img] 2、蓝宝石 此蓝宝石是通过飞秒级激光脉冲击打其表面而受热的，在此过程中，蓝宝石喷射出原子而留下一个浅浅的弹坑。此晶体经再加热和再次喷射，形成了这里所展示的内部深层结构。1飞秒是千万亿分之一秒。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/02/200802201437_79289_1638240_3.jpg[/img] 3、大肠杆菌 此大肠杆菌展示了其保存完好的仅仅30纳米长的鞭毛。科学家是用原子力显微镜来拍摄到此图像的。原子力显微镜与扫描隧道显微镜最大的差别在于并非利用电子隧道效应，而是利用原子之间的范德华力作用来呈现样品的表面特性。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/02/200802201438_79290_1638240_3.jpg[/img]

毕业论文做的是针状焦的制备，但是论文中不会分析描述扫描电镜的图片， 不多说了 ，上个图， 求人帮忙分析描述一下。实验条件是： 1300℃， 煅烧3h， 有氮气保护。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/06/201106120116_299298_2317686_3.jpg

本文为lm8610 原创作品，本作者是该作品唯一合法使用者，该作品暂不对外授权转载。其他任何网站、组织、单位或个人等将该作品在本站以外的任何媒体任何形式出现的，均属侵权违法行为。发一个我们公司生产的原子力显微镜扫描出来的钡铁氧磁畴图像，呵呵，大家看看像不像熊熊燃烧的火焰？第一幅：钡铁氧二维形貌图http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/12/201012061601_264920_2160715_3.jpg（by苏州海兹思）第二幅：钡铁氧磁畴三维图http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/12/201012061501_264894_2160715_3.jpg（by苏州海兹思）样品类型：磁性材料制作方法：样品制作无需处理，直接测试的仪器型号：Nanofirst 3000型。拍摄参数：扫描范围：8μm×8μm，显示范围：0.16V，扫描速率：1.01Hz，比例增益：40，积分增益：30，设置点：0.87拍摄过程中的心得：在Nanofirst 3000型磁力模式下，使用磁力探针扫描样品。因为扫描磁力图像是先使用轻敲模式进行表面形貌探测，再将探针的悬臂抬高到一定距离依靠长程力进行检测，所以要求样品和探针必须为磁性材料。测量的时候倒是挺顺利的，趋近之后一会功夫就扫描出了磁畴图，就是这个扫描超慢啊！（忍不住倒苦水~~）平时习惯了光标移动的速率，再看这个扫描就觉得像是乌龟在爬呢，一定要有耐心才行啊...发出来给大家看的是扫描完成之后使用WSxM 3.0 软件处理出来的图像。我是很喜欢那个二维图啦，红红的，很像火焰在燃烧。那个磁畴图看着怎么感觉那么想某种器官的褶皱？这个样品是苏州大学物理系送来检测，所以并没有什么制样过程，就是把样品放在仪器里就直接测量了。那个.....我实在写不出500字....发这个帖子主要和大家分享一下我喜欢的图片。也许大家会觉得很稀松平常，呵呵，但是自己扫描出来的，真的很有成就感，(*^__^*) 嘻嘻。

热电dsq2 混和全扫描和选择离子扫描（sim扫描分成多段）谱图sim扫描的两个片段叠加成一个片段 怎么实现 即第一张图片的 第二行图和第三行图合并在一副图中 第一张的第一副图是所有选择离子和全扫描的叠加 或者除去其中 全扫部分也可http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/03/201303121542_429541_2181482_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/03/201303121542_429542_2181482_3.jpg

首先感谢版主推荐我的帖子《扫描电镜“样品凸凹”分辨技巧讨论》。本来我只是想回帖的，因为原帖（某某贴，名字记不得了）不能回复了，所以单独发了一贴。没想到被版主推荐了，觉得很惭愧，有班门弄斧之嫌，呵呵。为报版主推荐之恩，现在把前一贴解释说明一下，希望能够说明清楚。大家看图，图1是某一样品失效分析时的二次电子图，对方想知道图中物是凸是凹。因为，很明显对方认为图中物是凸起的，但是凭我的经验告诉他是凹的。他当然不信了，于是拍了图2。如图2，是背散射电子图，依然看不清是凸是凹，但是好办了，如我上一贴中所言（摘抄如下）：“扫描电镜原子序数越高，原子核大，背散射电子信号越强，图象越亮",这是基本原理，实际上明暗还跟很多因素有关，例如探头的位置和偏压加的方向（这个偏压是指二次电子和背散射电子切换时的偏压），尤其是粗糙表面。就一个案例说明一下： 电镜型号：JSL6480 在测试中碰到的一些问题：通过一般明暗衬度无法分辨图像是凸是凹。 解决的方法：观察样品室里面探头的位子（一般都不会是垂直的），通过二次电子和背散射衬度像来对比，暗的地方就是信号（背散射或二次电子）被挡住的地方，以此来判断。注：这个明暗是非常相对的，不像相衬度那么明显。”通过此方法可以肯定图中物是凹坑，不信，可以用图3验证。图3是显微硬度，肯定是凹坑了，放到“方法”中反推，就能验知真伪了。这些东西都是小弟自己的一些杜撰，绝非“ctrl c+v”，欢迎大家指教，如有需要，日后再放些弄斧的“心得”上来。望各位前辈专家多批评指教。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/10/201010240820_253500_2108237_3.jpg图一：某样品表面二次电子图，不知凸凹

四级杆扫描顺序的实验考查和推想前几天看到论坛里面GCMS关于四级杆扫描顺序问题的讨论，即四级杆扫描时，是按照质量数从低到高运行还是从高到低运行。好像只有高手们才能给出回答。好像如果不太了解四级杆电路和控制原理的话，不太好解决这个问题。最好的办法是有合适的电气测量仪器，比如示波器之类的仪表，去测量实际工作中的四级杆。这些操作对于实际的仪器操作者而言，不论是仪表还是测量方法，都是比较困难的。并且要将质谱部分完全分解开，找到四级杆施加电平的测试点，去测试电压比较高的四级杆。操作也是比较复杂和不太安全的。想起原先读书的时候，有一本化工出版社的质谱系列丛书里面，（不记得是那本书了）似乎提到类似的问题。应该可以从数据文件中考察质谱图的具体情况，来推想一下这个问题，得到初步结论。基本原理如下：对于GCMS的色谱峰而言，色谱图是由一系列的点组成。相邻的点内区间就是一次四极杆扫描的时间。如下图所示，在色谱峰前沿，例如A区间内，如果四级杆从低质量数向高质量数扫描，那么由于扫描的区间之内，实际流过四级杆的物质量已经增加，那么扫描获得的高质量数部分响应值应该比较真实值偏高。反之，在色谱峰后沿，例如B区域，高端质量数响应应该比较真实响应值偏低。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/12/201212242311_415200_1604036_3.jpg以Shimadzu的GCMS-QP2010Ultra为例，我们考察一下MS得到的数据文件。1 scan方式的数据。 先取得某色谱峰的质谱平均值，然后双击色谱峰前沿和后沿的点，和平均值比较。 结果如下 低质量数碎片 高质量数碎片 高/低平均质谱 -- 25502 --- 60580 --- 237.5%前沿 -- 20169 -- 53728 --- 266.4%后沿 -- 20445 -- 47975 --- 234.7% 可以知道，scan方式下，四级杆是从低质量数向高质量数扫描的。2 sim方式的数据 考察了一下sim方式的数据，结果不太相同。 Sim的扫描是按照分析方法中离子通道顺序来进行的。

（转载引用请注明出处）质谱计扫描速度是什么？ 这是安捷伦公司提供的一幅两种质谱检测结果表示方法的对照和说明：http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2015033009161697_01_2991869_3.jpgQuadrupole DescriptionProfile versus spectrum scansIn the upper plot, a profile scan of an ion at m/z 109 is shown. In a typical benchtop mass spectrometer, abundance measurements are collected at 0.10 m/z increments as shown.When this data is presented in a mass spectrum, a single line is shown. The height and position are derived from the profile scan. Notice that in the plot of the spectrum, a single line is used to indicate that a single mass is present.译文： 四级杆简介 峰截面轮廓曲线图与与之相对应的各质谱图数据子集扫描 在上面的图中， 展示了对m/z 109离子的扫描结果。 在标准的台面型质谱计中， 丰度测得值是以0.1 0 m/z为单位步进收集的。 当这一数据集以质量谱图的形式表达时， 我们只能看到一根直线。 直线的高度和位置来自对峰截面轮廓线式扫描结果的解释。 注意在谱线式图形中， 只用了一根直线表示只存在一种质量数。 这段文字说明了什么意思呢？ 说明了一般所讲的质谱计扫描速度， 指的是“驱动不同质量离子的动力变化速度”。 什么东西能以“0.1m/z”为单位步进呢？ 击中探测器的离子数不行， 离子的质量数都大于1。 在高分辨质谱图中最少也是一点几几几， 在低分辨率质谱图中就是1（氢）、 2（氦）、 ... ... 、 12（碳）， 等等之类。 探测器也只会记录电脉冲数， 分不出来离子质量。 “机器的检测时间（莫专家语）”不行， 时间的单位是时、分、 秒、 毫秒（ms）、 纳秒（ns）等等之类。 只有使不同质量的离子分开的加在四级杆和离子阱上的电压可以。 电压是可以“步进”并被精准记录的， 可电压的单位是伏特（V）， 那么， 只有将可以只驱动0.1m/z质量的微粒进入四极杆飞向探测器， 或者只可以将0.1m/z质量的微粒驱出离子阱飞向探测器的电压伏特数， 在质谱计中可能是“纳伏数”， 计算转换表达为m/z值， 就有了“以0.1 0m/z为单位步进收集”的“丰度测得值”。 为什么上面的“峰截面轮廓线图”会变成下面的“直线图”呢？ 这是因为在电压以0.1m/z步进到到109m/z之前， 因为没有107.99、108.00、 108.10、 108.20的离子， 高分辨力质谱计的高灵敏探测器能测到108.***的离子和109.***的离子， 低分辨力质谱计的探测器啥也测不到， 所以这时没有“丰度”被探测器收集到； 在109m/z之后， 同样没有109.10、 109.20、 ... ...、 110.00、110.10之类的离子， 探测器又啥都收集不到了， 只有在电压步进到109.00m/z时， 探测器才能收集到m/z 109的离子， 在低分辨力质谱计中将109.00左边的108.5**以上的离子和右边的109.500以下的离子（大致是这样吧）统统归入这个m/z109离子的计数值（丰度）， 再将其与质量数对应起来， 就是下面的“直线图”或曰“柱状图”。 我们知道， 质谱计的探测器只能记录电脉冲数，1amu的氢离子是一个脉冲， 几千amu的蛋白质分子也是一个电脉冲， 如果只从探测器的结果记录， 则只有时间-电脉冲数记录， 而这些电脉冲是多大质量的离子产生的， 则无法分辨。 那么只有让一种质量的离子在一个时间段到达探测器， 才能分辨出来时间序列上的每组计数的离子质量（m/z值）。 用什么办法使不同质量的离子在一个时间段有序到达探测器呢， 只有改变施加在四级杆和离子阱上的控制电压， 射频（RF）或者直流（DC）， 才能做到， 而电压的变化是能被仪器精确记录的， 精确记录的电压与粒子质量是精确对应的， 所以就可以将由小到大变化的， 驱动质量由小大的离子顺序飞向探测器的电压变化速度表达为单位时间内质量数的变化率， 也就是质谱计的以amu/秒为单位的“扫描速度”， 质谱计的5600amu/sec的扫描速度的意思， 就是仪器可以在一秒钟之内顺序将质量数从1amu到5600amu的离子顺序驱离出阱或者分质量过杆， 只是这个扫描速度是驱动离子分质量“过杆”或者“弹出离子阱”的电压变化速度， 不是探测器实际测到的脉冲数。 安捷伦公司的文章作者和译员喜欢将“驱动离子出阱”写成“扫描离子出阱”， 在这里， 我不愿意用“scan”这个词。