时间分辨荧光光谱

总览荷兰ASI出品的TPX3Cam是一款用于光学光子时间戳的快速光学相机。它基于一种新型硅像素传感器，并结合了Timepix3 ASIC和读出芯片技术，适用于电子、离子或单光子等需要时间分辨成像的各种应用。TPX3Cam可以很容易地集成在桌上型研究装置中，也可以集成在同步加速器或自由电子激光环境中。使用TPX3Cam，可在速度映射成像设备中测量电子和离子。纳秒级的时间分辨率和数据采集速率使我们能够以前所未有的方式进行测量。TPX3Cam能够在400至1000 nm波长范围内以高量子效率同时对超过1000个光子的闪烁光进行成像和时间戳记。它可以在VMI（速度映射成像）装置中高效地记录撞击在MCP（微通道板）上的离子。 MCP耦合到一个快速P47磷光体屏，该屏产生响应离子撞击MCP的闪烁光。TPX3Cam放置在真空之外，能检测来自磷光体屏的闪光。在TPX3Cam中，所有单个像素都可独立工作，且能对伴随发生的' 事件' 进行时间戳记。 这就将成像传感器变成了快速数字转换器阵列，具有并行作用的空间和时间分辨率，因此可以同时记录多个离子种类，允许进行符合测量和协方差分析。 工作波长400-1000nm 技术参数优点光敏硅传感器波长范围:400 - 1000nm每像素的同时检测时间(ToA)和强度(ToT)时间分辨率1.6ns，有效帧率 500 MHz无噪声、数据驱动读数，高达80 Mhits/s (10Gb/s)灵活光学设计 下图:TPX3CAM能够同时对超过1000个光子进行成像和时间标记，在400到1000 nm波长范围内具有高量子效率。它可以在VMI(速度图成像)配置中有效地记录撞击在微通道板上的离子。MCP与快速P47荧光粉耦合，当离子撞击MCP时，该荧光粉会产生闪光。TPX3CAM，放置在真空之外，可以检测荧光粉的闪光。“在TPX3CAM中，所有单个像素都独立工作，能够对‘事件’进行时间标记。这将成像传感器转变成一个快速数化器阵列，具有空间和时间分辨率，同时发挥作用，因此可以同时记录多个离子种类，从而进行重合和协方差分析。"应用离子和电子成像TPX3CAM的应用包括飞行时间质谱中离子的空间和速度图成像；离子和电子的符合成像，以及其他时间分辨成像光谱类型。TPX3CAM能够以1.6 ns的时间分辨率检测离子撞击并对其进行时标记，从而可以同时记录所有碎片离子的离子动量图像。这种单检测器设计简单、灵活，能够进行高度差分测量。右边的图像显示了CH2IBr的离子TOF质谱，该质谱是在德国汉堡同步加速器的闪光光源下，用TimepixCam（TPX3CAM的之前型号）记录的，在强激光脉冲强场电离后，以及每个探测器的图像在TOF光谱中的峰值。单光子成像强化版TPX3CAM可以是单光子敏感的。在这种配置中，检测器与现成的图像增强器结合使用。应用包括宽场时间相关单光子计数成像(TCSPC)，磷光寿命成像和任何需要时间分辨单光子成像的应用。 图像(a): 通过TimepixCam获得，TimepixCam是TPX3CAM的前一个模型。图像(b):对于(a)中所示的A1-A4区域，强度是时间的函数(磷光衰减)，磷光衰减和拟合的残差具有单指数拟合。 规格传感器材料光敏性增强的硅波长范围400 - 1000 nm探测范围~1000光子/每像素 光学传感器活动区域14.1 x 14.1 mm2类型C型接口成像专用集成电路类型Timepix3像素间隔55 µm像素数量256 x 256阈值数量1吞吐量10 Gb/s 的情况下，高达80 Mhits/s1 Gb/s的情况下，高达15 Mhits/s停滞时间读数停滞时间为0时间分辨率1.6 ns有效帧速率 500 MHz像素击中停滞时间~1 µs读出模式数据驱动，通过每像素ToA和ToT检测同步时间和强度其他参数计算机接口1 Gb/10 Gb外部快门控制 有外部信号时间戳260 ps重量2.2 kg尺寸(长x宽x高)28.8 x 8 x 9 cm冷却空气采集软件Windows/ Linux/Mac的图形用户界面

LDY300 PIV 系列 应用于时间分辨PIV的高重频激光器特点： —高能量@527nm —0-20KHz连续可变 —可在现场更换的泵浦模块 —专用PIV激光头 —薄殷钢光学轨道 —坚固耐用的工业设计应用： —PIV —粒子筛选 —Ti:S泵浦 LDY300系列是半导体泵浦，双腔，Q开关Nd:YLF激光系统，适用于高速PIV.输出能量高达30mJ@1kHz(每个腔)@527nm。激光器建立在一个坚固的自承重殷钢轨道上，机械性能优异，光学稳定性好。配合专利的谐振腔设计，输出光束在时间/空间上分布平滑，稳定，从而提供几乎相同的间隔照明。

超分辨成像缓冲体系试剂盒用途：本试剂盒提供超分辨荧光成像所需的全套成像缓冲体系。规格：包含可进行50次独立实验的用量，每次实验可检测10个样品。1）试剂成分和pH稳定，能保证长时间的成像效果，且对样品无损伤；2）试剂盒内所有内容物均采用灭菌处理，无污染，且不产生背景荧光；3）方便快捷，用户只需提供样品，加入本品即可进行超分辨荧光成像；4）操作简单，即开即用，无需复杂配制过程，无需专业人员即可完成。

HR4000高分辨率光谱仪我们的新一代的高分辨率光谱仪，是全新的光学和电子学器件组合。适合应用于激光特征分析，气体吸光度测量和确定原子散射线等领域。HR4000配有全新的Toshiba3648像素CCD阵列探测器，光学分辨率可达0.2 nm(FWHM)。特点： 高分辨率，最高分辨率可达0.02nm（FWHM） 电子快门避免饱和度问题 板载微控制器 即插即用USB接口 光学平台 采样附件光谱分辨率（FWFM）可达0.02nmHR4000是我们新一代高分辨率的光谱仪，它采用了Toshiba的3648像元的线阵CCD，光学分辨率可达0.02nm（FWHM）。HR4000光谱范围为200-1100nm，具体的光谱范围和分辨率配置取决于实际光栅和狭缝的选择。HR4000适用于激光测量、气体吸收测量以及原子辐射线的测量等领域。电子快门避免饱和度问题软件中积分时间的可由用户设定，它类似于一个照相机的快门速度：积分时间值即是探测器“察看”所进入光子的总体时间。因为，Toshiba探测器有一个电子快门，你可通过软件设定最小积分时间到3.8毫秒，这样就允许你可以测量像激光脉冲如此短暂的事件。使光谱仪的积分时间缩短的能力也消除了在高光水平应用领域如激光分析的饱和度问题。 板载微控制器 HR4000的板载微控制器使得对光谱仪的控制非常方便。通过一个30针的连接器，您可以在软件中设置所有的光谱仪操作参数：控制光源、操作进程以及从外部对象获取信息等。配备有10个用于外部设备接口的用户可编程I/O端口、一个模拟输入和一个模拟输出接口，以及一个用于触发其它设备的脉冲发生器。 即插即用USB HR4000通过USB2.0或RS-232串口和PC、PLC或其它嵌入式系统相连。在串口模式下，HR4000需要额外的5伏供电电源（不包含在产品中）。每台光谱仪特有的参数被编程存储在系统的内存芯片中，可以非常方便地被光谱仪操作软件读取。光学平台 用户通常要求光谱仪可以适合他们的特殊需要，所以HR4000光谱仪可以根据您的应用需要配置光学平台。您可以选择狭缝尺寸，探测器，滤光片和光栅等。 采样附件 HR4-BREAKOUT 是一个被动模块，提供HR2000+不同功能的接口。BREAKOUT盒可与多种与光谱仪的连接如：外触发器、GPIO、光源、RS-232和模拟输入/输出。 Specifications

产品特点：GATTA-PAINT 系列纳米标尺是适用于各种定位技术的超高分辨显微镜的理想标尺。因为采用DNA PAINT技术实现亮暗转换，GATTA-PAINT 纳米标尺几乎不会淬灭。此外，标尺的设计中包含了三个荧光发射点，可以获取到醒目的图像。荧光标记间的距离有如下几个尺寸：20nm, 40nm, 80nm。每种距离都有如下几种颜色可供选购：红色（ATTO 647N），绿色（ATTO 542）或蓝色（Alexa Fluor 488），或者红/绿组合(ATTO 655/ ATTO 542)纳米标尺，AFM纳米标尺，原子力显微镜纳米标尺，共聚焦显微镜纳米标尺，超高分辨显微镜纳米标尺，SIM纳米标尺，STED纳米标尺，STORM纳米标尺，电镜纳米螺旋标尺，金纳米螺旋标尺，显微镜亮度灵敏度标尺，显微镜纳米标尺技术参数：

荧光分光光度计配件具有高检测灵敏度、高测试速度、人性化的多功能控制和分析的操作软件，可以进行快速的高精度荧光光谱测量。荧光分光光度计配件特色采用150W滨松高品质氙灯和更换式干涉滤光片系统设计，可提供从250nm至700nm区间的可选激发应用配置；适用于材料研究、药品分析、生化及临床检验、水质分析控制、食品安全检测等领域对样品进行定性定量分析。发射单色器采用1200线光栅、大孔径非球面反射镜分光系统，高速扫描时1秒内即可完成全谱扫描、计算和测量，专业软件包含多种分析功能，丰富的附件可支持液态、固态、粉末、薄膜样品的测量，可通过选配多用途荧光样品座附件实现高浓度样品的准确测量，对于少至5μl的微量样品同样可以精确测定，并可选配微量样品附件和自动进样附件，满足多种应用。 荧光分光光度计配件特点1.可选择荧光强度和发光强度2种操作模式，荧光强度模式下可进行荧光光谱扫描、荧光动力学测定和定量分析。2.365nm激发波长水喇曼峰信噪比＞150（p-p），出色的高检测灵敏度可使低检测限的样品测定变得十分精确和简单。3.提供10档发射谱扫速选择，包括高速低噪声扫描和精细扫描。其中超快扫描为30000nm/min，可在1秒内完成全谱扫描，并有智能预扫描功能，可快速显示未知样品的光谱信息，自动排除其他散射峰和倍频峰影响，确定最佳测量参数，定位荧光发射峰。4.支持单机、联机2种模式，单机状态下使用机内微机系统提供荧光强度测量、浓度直读、自动调零、自动背景扣除等功能，联机状态可通过USB2.0接口使用定性/定量软件对仪器进行控制和数据采集分析。5.高强度的150W氙灯为连续光谱，可在200nm至900nm波长范围内提供出色的测试稳定性。6.具有荧光值归一化功能，可消除不同荧光光度计间荧光值不可比较的问题，方便高校教学中学生实验报告的统一评价。7.定性/定量软件功能丰富，发射谱波长扫描菜单可提供图谱缩放、多图谱比较、图谱运算、峰谷检测、峰面积计算和1-4阶导数光谱功能；定量测试菜单可使用标准曲线法与待定系数法检测样品浓度，提供一阶线性回归、二阶或三阶线性拟合，并可自定义浓度单位。8. 多种测量附件，包括单孔比色皿座、多用途荧光样品座、200μl微量离心管荧光测量、毛细管微量样品架、荧光样品半自动进样、单孔比色皿适配器、膜状样品架、粉状样品架和护套式比色皿架等，低至5μl的微量样品可轻松测定，对高浓度荧光检测，固体荧光检测同样适用，能够满足多种使用要求。9. 小巧玲珑的机型可节约大量桌面空间荧光分光光度计配件规格光源： 150W滨松高品质氙灯光学形式： 激发：精密窄带超低背景干涉滤光片；发射：光栅型单色激发带宽：标配10nm发射带宽：10nm激发波长：标配365nm，选配（250-700）nm发射波长：（200-900）nm波长精度：发射单色器：±1nm波长重复性：发射单色器：≤0.5nm扫描速度：10档切换选择：高速30000nm/min,精细15nm/min时间扫描：可任意设定，最高为60000秒增益：17档切换选择检测灵敏度（S／N）：蒸馏水的喇曼峰 S／N大干150稳定性： 优于1.5%/10min 线性误差：优于2%响应时间：（0.1-4）s 6档切换选择荧光值显示范围：0.00-600.00数据传输方式：USB2.0标准电压：110V/220V，50Hz/60Hz标准能耗：190W 主机尺寸：442x392x250mm净重：10.7Kg孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商，产品技术和性能保持全球领先,拥有包括分光光度计,双光束分光光度计，荧光分光光度计在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类，世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系，确保每个一产品是用户满意的完美产品。我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库，可在下单后12小时内从国外直接空运发货，我们位于天津保税区的进口公司众邦企业（天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务。

960CRT荧光分光光度计 唐海红 13120400643 简单介绍 ●荧光分光光度计光谱处理功能：连续扫描测定：1-4阶导数光谱；计算峰面积；波峰检索；图谱运算；图谱窗口处理；图谱保存及调出；图谱打印输出●荧光分光光度计定量测定：样品定量分析；时间扫描；绘制标准曲线（1-3次）；浓度直读；自动测定S/N及稳定性；自动背景扣除；定量分析打印输出 荧光分光光度计的详细介绍 荧光分光光度计共同特点： ●发射单色仪采用1200L/nm凹面光栅。大孔径非球面反射镜，灵敏度特别高 ●采用1500W大功率汞灯，激发能量强 ●采用光源监控技术，测量结果稳定 ●高性能的光电倍增管，可获得最佳信号噪声比 ●具有自诊断功能，工作可靠 ●EM带宽小于10nm 960CRT荧光分光光度计型特点： ●配置Windows95计算机工作站，仪器故障率小，可靠性强 ●工作站采用中文对话视窗，操作方便 ●利用鼠标可舒服地进行扫描测定；定量分析；运算；制表和记录等系列操作 ●可方便地选择联机或脱机工作方式 选配件： ●光源：150W氘灯 ●干涉滤光片（汞灯光源）：254nm、313nm、405nm、436nm、546nm ●干涉滤光片（氘灯光源）：250nm～700nm间任选 主要技术指标： 960MC/CRT荧光分光光度计型： ●EX波长选择范围：365nm（干涉滤光片） ●EM波长范围：200nm～800nm ●波长准确度：EM± 2nm ●波长重现性：EM± 1nm ●信噪比：蒸馏水喇曼峰S/N &ge 比50,响应时间2s ●测定方法：a.波长扫描 b.时间扫描 c.定量分析 960CRT型荧光分光光度计（配计算机） ●光谱处理功能： 连续扫描测定：1-4阶导数光谱；计算峰面积；波峰检索；图谱运算；图谱窗口处理；图谱保存及调出；图谱打印输出 ●定量测定： 样品定量分析；时间扫描；绘制标准曲线（1-3次）；浓度直读；自动测定S/N及稳定性；自动背景扣除；定量分析打印输出

PerkinElmer荧光分光光度计LS-55主要特点：使用方面,性能稳定,可配备多种附件适应不同的应用范围。 PerkinElmer荧光分光光度计LS-55技术参数：波长精度: ±1nm 波长重复性: ±0.5nm 带宽: 激发狭缝缝2.5-15nm, 发射狭缝2.5-20nm 调节步距均为0.1nm 扫描速度: 10-1500nm/分, 调节步距为1nm 亦可按时间收集数据 发射滤光片: 290, 350, 390, 430, 及515nm, 5片 另有1%衰减片,均由软件选择 灵敏度: 用350nm激发波长测定纯水拉曼谱带,在拉曼峰处最低信噪比为750:1(RMS), 在基线处最低信噪比为2500:1(RMS) 是在LS-50B型基础上的改进型。结合一定的附件和软件，本机可以有广泛的应用范围，不论工作中需要荧光、磷光或化学发光及生物发光的检测，这都是恰当的选择。 PerkinElmer荧光分光光度计LS-55可测定荧光、磷光、生物发光或化学发光。激发狭缝2.5—15nm，发射狭缝为2.5—20nm。脉冲式氙灯（寿命长、电源供应简单，产生臭氧极少，不需长时间预热；大大减少光解作用；每一脉冲间测定暗电流，增进低荧光量的测定；用软件控制即可测定磷光，不需附件；磷光的灵敏度不损失脉冲率、延迟时间及门限时间均可变更）；信噪比：750：1（RMS，350nm处纯水拉曼谱带），基线处为2000：1（RMS）；大样品室保证可安装多种计算机控制的附件、可提供的附件最全；包括固体样品架；新概念的软件；FL WinLabTM（具有强大的二维/三维显示功能，开辟了分析复杂组份混合物的新途径）。

NJ-ZH高压消解罐-原子荧光光谱法测定大米中的汞摘 要：本文采用高压消解-原子荧光光谱法测定大米中的重金属汞的含量，选定了大批样品的处理方法，并优化了测定条件。得到回归方程为：A=1055.323*C+0.355，相关系数为:0.9995；检出限为：0.415μg/kg，线性范围为：0~2 ng/mL；回收率为：95%~102% 相对标准偏差为1.0%-6.5%；结果满意。由于金属、类金属元素在粮油食品中与有机物结合成稳定而牢固的难溶、难离解的化合物，从而失去其原有的特性，一般不能直接进行测定。如需测定这些无机成分的含量，需要在测定前破坏有机结合体，释放出待测组分[1]。汞由于容易在人体脑内积蓄而引起神经中毒，而受到广泛的关注，各种样品中的汞研究不时见著于文献中[2~6]。大米样品的前处理方法有高压消解法、微波消解法[7~10]。两种方法各有利弊：前者单个样品消解所需时间较长，但配套成本较低，而且一次性可以大批样处理，适合各种大小实验室的配置要求；后者虽然单个样品消解时间较短，但配套成本较大，对于基层实验室来说，拿出几十万元人民币购置一台微波消解系统，有点不现实。本文基于这一点，特对高压消解条件进行了优化，结果满意。1实验部分1.1仪器与试剂1.1.1主要仪器钢衬四氟消解罐(正红仪器139 139 23002；025-8555 7400；130 1654 5846)；AFS-2202E双道原子荧光光度计（北京科创海光仪器有限公司）；汞空心阴极灯（北京有色金属研究总院）；；可调电热板、电炉；101型电热鼓风干燥箱；纯化水机，AMF 1-20-P，艾科浦；所用玻璃仪器均用25%硝酸浸泡过夜，用去离子水冲净沥干备用。1.1.2主要试剂汞标准储备溶液，1000μg/mL，钢铁材料测试中心；硼氢化钾（≥96%），分析纯，天津市化学试剂研究所；氢氧化钠，分析纯，上海化学试剂有限公司；HNO₃ ，优级纯，上海振兴化工二厂有限公司；实验用水均为二次去离子水。1.1.2.1溶液配制15g/L硼氢化钾（KBH4）溶液：称取硼氢化钾15.0g溶于5g/L氢氧化钾溶液1000mL中，混匀，现用现配。100 ng/mL的汞标准使用液：将1000μg/mL的汞标准储备溶液用5%HNO₃ 逐级稀释为100 ng/mL。1.1.2.2标准系列配制取50 mL容量瓶6只，依次准确加入100 ng/mL的汞标准使用液0.025 mL、0.05 mL、0.10 mL、0.20mL、0.40 mL、1.00 mL(相当于含汞浓度0.05 ng/mL、0.10 ng/mL、0.20 ng/mL、0.40 ng/mL、0.80 ng/mL、2.00 ng/mL)；用5%HNO₃ 定容，摇匀待测。1.2样品处理称取0.50 g大米于聚四氟乙烯内罐中，加7 mLHNO3浸泡过夜，再加3 mL H2O2，盖好内盖，旋紧不锈钢外套，放入恒温干燥箱内120℃保持2.5 h，在箱内自然冷却至室温，转移至25 mL比色管中，用5%HNO₃ 定容待测，同时做试剂空缺实验。

总览ID OSA是一款适用于研发和生产测试应用的多功能光谱分析仪，在C波段具有皮米级光谱分辨率。它使其成为一种具有成本效益的光谱监测解决方案。具有不同灵敏度的两个输入端口将可用功率范围提高到90dB以上，从而能够准确分析低功率信号和高功率DWDM频带。该装置非常紧凑和坚固，因为它不包含移动部件，也不需要重新校准。它通过USB或以太网接口进行控制。集成的Web服务器允许在不安装软件的情况下通过任何基于浏览器的设备（如智能手机）控制仪器。L波段光谱分析仪（OSA）pm量级光谱分辨率,L波段光谱分析仪（OSA）pm量级光谱分辨率产品特点312.5MHz/2.5pm扫描分辨率动态范围超过50dBC波段操作超紧凑型-1HE半尺寸19“机架堆叠坚固耐用，无需校准USB和以太网接口SCPI风格的远程命令接口提供直观的GUI外部触发器接口集成Web服务器2赫兹扫描速率L–波段支持支产品应用高分辨率光谱分析&check DWDM传输测试OSNR特性调制信号特性收发器测试网络监控通用参数频率扫描范围 频率[THz] 及 波长[nm]C - Band 频率:191.25-196.125THz ,波长:1528.5 – 1567.5 nm L - Band 频率:186.25-191.05THz ,波长:1569.080 - 1609.731Max. 光谱采样范围312.5 MHz 2.5 pm分辨率带宽 ,3dB -20dB1.7 GHz / 13.6 pm4 GHz / 32 pmjue对频率精度+/- 1 GHz 8 pm测量更新率全范围，全分辨率，15.600点2 Update / s光输入功率范围：标准端口高灵敏端口(High Sensivity Port)-30 – +23 dBm -60 – 3 dBm相对功率精度0.4 dBjue对功率精度+/- 0.7 dB杂散动态范围(Spurious Dynamic Range) 45 dB光回波损耗 35dB光输入连接器FC/APC触发输入/输出3.3V TTL (SMA female)数据接口USB, Ethernet工作温度 无冷凝储存温度0 – 40 °C-20 – 60 °C设备尺寸（H x W x D）19英寸半宽1HE堆叠尺寸44 x 205 x 210 mm 1.7 x 8 x8.2 inch重量1.8 kg集成电源100-240 VAC, 80VA, 50/60Hz,40W操作界面背面接口型号说明ID-OSA-MPD-01 OSA主机，C波段ID-OSA-MPD-11 OSA主机，L波段ID-OSA-ACC-RM-01 19英寸机架安装套件，用于每1个HE 1个单元公司简介筱晓(上海)光子技术有限公司成立于2014年,是一家被上海市评为高新技术企业和拥有上海市专精特新企业称号的专业光学服务公司，业务涵盖设备代理以及项目合作研发，公司位于大虹桥商务板块，拥有接近2000m² 的办公区域，建有500平先进的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室，为国内外客户提供专业技术支持服务。公司主要经营光学元件、激光光学测试设备、以及光学系统集成业务。十年来,依托专业、强大的技术支持，以及良好的商务支持团队，筱晓的业务范围正在逐年增长。目前业务覆盖国内外各著名高校、顶级科研机构及相关领域等诸多企事业单位。筱晓拥有一支核心的管理团队以及专业的研发实验室，奠定了我们在设备的拓展应用及自主研发领域坚实的基础。主要经营激光器/光源半导体激光器（DFB激光器、SLD激光器、量子级联激光器、FP激光器、VCSEL激光器）气体激光器（HENE激光器、氩离子激光器、氦镉激光器）光纤激光器（连续激光器、超短脉冲激光器）光学元件光纤光栅滤波器、光纤放大器、光学晶体、光纤隔离器/环形器、脉冲驱动板、光纤耦合器、气体吸收池、光纤准直器、光接收组件、激光控制驱动器等各种无源器件激光分析设备高精度光谱分析仪、自相关仪、偏振分析仪，激光波长计、红外相机、光束质量分析仪、红外观察镜等光纤处理设备光纤拉锥机、裸光纤研磨机 。

荧光光纤探头产品简介：德国art photonics公司提供多种特殊设计荧光探头，采用分叉或多通道分叉光纤束结构，具有“照明”管脚通道，将光从光源照射到样品，“收集”管脚，把反射光收集进分光计，光谱仪。区别于传统探头“6环绕1”的光纤束结构，art photonics探头采用“7环绕1”和“9环绕1”的设计。因为采用结构，收集反射信号和背散射信号要比传统的高得多。对于特殊的应用场景，可提供7 + 12设计:7根随机照明光纤和12根随机收集光纤。所有荧光探头的发光光纤都采用金属涂层光纤，使得发光光纤之间的串音干扰会被抑制，信噪比远高于采用聚合物涂层荧光探针。荧光光纤探针可有两根、三根或四根光纤等光纤分叉管脚设计，采用圆对圆(R/R)或圆对线(R/L)结构。产品应用：实时反应监控 / 过程分析技术(PAT) / 结晶监控与筛选 / 特性分析 / 生物制药 / 生物燃料开发与生产产品特点：* 7+1, 9+1设计；* 金属涂层光纤抑制光纤相互间串音干扰；* 兼容所有光谱仪，分光计；* 探头直径尺寸薄至0.5mm；* 可定制各种探头, 光纤束结构产品示意图：产品技术参数： 7+1/9+1 结构探头类型（7+1）100/100(7+1) 200/200(7+1) 200/300探头光纤束7根环绕照明光纤-100/110/125P1根铝涂层收集光纤-100/110/140ALNA = 0.22 ± 0.027根环绕照明光纤-200/220/245P1根铝涂层收集光纤-200/220/290ALNA = 0.22 ± 0.027根环绕照明光纤-200/220/2451根铝涂层收集光纤-300/330/360ALNA = 0.22 ± 0.02探头直径0.6—1.5 mm1.2—2.5 mm1.4—3.0 mm探头长度2.5-100 mm探头材料不锈钢、钛+PEEK组成保护套金属涂层PVC+Kevlar增强管、?3.2毫米连接头SMA 905(可提供FC/PC或ST)总长：两根腿长2m(可达20m)0.5m分叉Y型分叉，1.5m长度工作温度20℃至80℃(采用PEEK套管:-70℃-200℃)弯曲半径120mm长时间压力10bar（可定制）

President SEM包埋套装是一种双组分硅脂成型材料，具有出色的低粘度成型性能，可用于高清晰度高分辨率的精细结构的复型。固化时间仅为5-7分钟，可以在固化后直接从样品中分离以获得样品的阴模。应用范围包括：获得生物样品稳定的表面结构及大样品损伤、磨损、应变的观察等。分离成功的硅树脂阴模可以用Spurr树脂填充以获得原始样品表面的阳模，并且使用镀膜仪镀上一层Au或Au / Pd，建议使用低粘度的Spurr树脂。对于长10－30μm（纵横比1－20）的微观结构可以得到优异的观察结果，甚至可分辨小至20nm的细微结构。产品编号描述单位44870President 高分辨率SEM复型包埋套装（2管53ml）套本套装包含基质、催化剂，6个30ml塑料杯及6支木制搅拌条。

President SEM包埋套装是一种双组分硅脂成型材料，具有出色的低粘度成型性能，可用于高清晰度高分辨率的精细结构的复型。固化时间仅为5-7分钟，可以在固化后直接从样品中分离以获得样品的阴模。应用范围包括：获得生物样品稳定的表面结构及大样品损伤、磨损、应变的观察等。分离成功的硅树脂阴模可以用Spurr树脂填充以获得原始样品表面的阳模，并且使用镀膜仪镀上一层Au或Au / Pd，建议使用低粘度的Spurr树脂。对于长10－30μm（纵横比1－20）的微观结构可以得到优异的观察结果，甚至可分辨小至20nm的细微结构。产品编号描述单位44870President 高分辨率SEM复型包埋套装（2管53ml）套本套装包含基质、催化剂，6个30ml塑料杯及6支木制搅拌条。

NBS 5分辨率靶又称NBS 1963A分辨率靶，提供26个线组，从1个/毫米到18个/毫米，对应的线大小为1.0 mm到55.6 μm.图样上的每一组线含有水平线和垂直线。如图所示。通过识别系统能分辨的频率最高的线组，可以确定光学系统的分辨率。分辨靶正靶片是将铬图样电镀到透明玻璃（B270玻璃 ）上而制成的，适合用于前向照明和普通应用。板大小75mm×75mm。欢迎登陆海德网站或来电获取详细信息。?订购信息：货号产品描述规格R67NBS 5 Bar Test Chart(BS4657)，正片，75mm×75mm 个 价格请电询

LTB高分辨率光栅光谱仪系列规格：

SpotOn CCD高分辨率位敏探测系统筱晓光子供应SpotOn CCD高分辨率位敏探测系统，光谱范围190-1550nm 、位置精度5um、可同时测量3束激光。该系列高分辨率位敏探测系统用于测量：激光中心及位移的测量、激光光束准直、光纤光学品质监控、平面度及准直性的校准、振动及缺陷的监控。ModelDescriptions SPOTCCD-VIS-USBSystem with USB interface, camera for VIS range 350-1100nmSPOTCCD-VIS-PCISystem with PCI interface, camera for VIS range 350-1100nmSPOTCCD-UV-USBSystem with USB interface, camera for VIS range 190-1100nmSPOTCCD-UV-PCISystem with PCI interface, camera for VIS range 190-1100nmSPOTCCD-IR1310-USBSystem with USB interface, camera for 350-1310nmSPOTCCD-IR1310-PCISystem with PCI interface, camera for 350-1310nmSPOTCCD-IR1550-USBSystem with USB interface, camera for1550nm±50nmSPOTCCD-IR1550-PCISystem with PCI interface, camera for 1550nm±50nm

Hitachi（日立）荧光光谱仪用 标准 石英荧光比色皿采用融熔粘接方法生产的比色皿，内壁无杂物斑点，光程内径可达± 0.03mm。可耐酸、耐碱、耐有机溶剂，可用超声清洗机洗涤。规格：12.5*12.5mm

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【产品详情】标准的金球或锡球分辨率测定标样不适用于低加速电压下或者老旧仪器中的测试，可能导致此问题的原因是低加速电压下采用高计数率和小束斑直径测样时得到的分辨率较差、信噪比过低。较大的标样粒径（30 - 300nm）在分辨率测试时可以在保留图像细节的同时确保较高的对比度，此特性使得此标样可以在非理想条件下使用。可镶嵌于Zeiss,FEI,TESCAN,JEOL和Hitachi扫描电镜各自的样品台上。 此分辨率测试标样粒径分布为30-300nm，与标样AGS168相比，更大的金粒尺寸允许此标样用于低加速电压下的分辨率校准。生长于石墨衬底上的金颗粒之间有间隙，尺寸不一，可以实现非理想操作条件下的分辨率测试，基于此特性，此标样也可以用于高分辨率测试条件下的灰度校准。理想条件下，高分辨率扫描电镜可以给出高质量的间隙分辨率测试和灰度校准结果。搭配中等分辨率的电镜使用此标样可获得尚可使用的间隙分辨率，但灰度区分不明显，只能呈现4-5级。因为标样颗粒的几何形状不规则，二次电子模式下的差分信号采集会导致灰度对比出现。大颗粒之的细小颗粒和间隙，可以用于更准确地评估电镜的成像质量。评估二次电子成像质量时，将标样倾斜，与二次电子收集装置成30°角时可得到质量最好的像。采集背散射电子时样品台的倾角则由探测器的位置决定。但若样品与探测器之间的倾角大于35°，标样上大块的金粒会产生较大的投影，会遮蔽标样上较小的金粒，因此不推荐。此外，测量金粒之间的间隙尺寸时须注意样品的倾角会影响图像的放大倍数。当放大倍数在2,000倍以上时金粒可见，最佳工作距离是7-8mm。使用钨灯丝电镜时，先用20kV的加速电压观察样品，再逐步降低加速电压和束斑直径聚焦调节至合适的聚焦状态和明度。工作时需确保电子枪、灯丝、光阑孔准直，电子束须汇聚、明度适当、束流稳定。当线扫描分辨率调至最高、测试时间较长时（在部分仪器中此时间可达10min）可得到较高的信噪比。 【技术详情】标样粒径分布金颗粒标样30-300nm产品详细价格及资料，请登录电镜耗材在线商城网站查看。

美国空军1951年分辨力测试图一直是世界上检测垂直与水平分辨力的通用标准，是符合MIL-STD-150A标准的分辨力测试图案，由美国空军于1951年创建。1951 USAF分辨力测试图目前仍广泛地应用于测试光学成像系统（如显微镜和相机）的分辨能力。这种图案包括几组由三条短线构成组合，短线的尺寸从大到小。成像系统无法辩明的最大短线组为其分辨能力极限。 通常MIL-STD-150A格式包括几层，最大图案构成第一层，位于外围。更小层图案形状不变，从外围向中心逐步缩小。每一层两组，每组包含6个图元，以数字1至6编号。在同一层中，奇数组从右上角开始，其图元从上至下按1至6排列。偶数组的第一个图元在该层的右下角，其余图元在左侧从上至下按2至6排列。分辨力计算式为：分辨力(line-pairs/mm)=2(组序数+((图元序数-1)/6)。货号产品名称规格R70USAF Test Chart，Group 0-7（正片），element 6,大小50×50mm个R71USAF Test Chart，Group-2-7（正片），element 6，75×75mm个R75PUSAF Test Chart，Group0-9（正片），element 3，50×50mm个R75NUSAF Test Chart，Group0-9（负片），element 3，50×50mm个PS75PUSAF Test Chart，Group2-9（正片），element 3，76×25mm个PS75NUSAF Test Chart，Group2-9（负片），element 3，76×25mm个

960MC荧光分光光度计 唐海红 13120400643 特点： 1． 发射单色仪采用1200L／mm凹面光栅，大孔径非球面反射镜，灵敏度特别高。 2． 采用 150w大功率汞灯，激发能量强。 3． 用光源监控技术，测量结果稳定。 4． 高性能的光电倍增管，可获得最佳信号噪声比。 5． 有自诊断功能，工作可靠。 性能指标： EX波长选择范围： 250－700nm EX波长范围： 200－800nm 波长准确度： EM ± 2nm 波长重现性： EM ± 1nm 灵敏度： 蒸馏水喇曼峰S／N&ge 50，响应时间2秒 测定方法： a.波长扫描 b.定量分析 光谱处理功能： 连续扫描测定 图谱打印输出 定量测定： 样品定量分析 时间扫描 绘制标准曲线（1－3次） 浓度直读 自动测定S／N比及稳定性，自动背景扣除 定量分析打印输出 选配件 光源： 150W氙灯 干涉滤光片（汞灯光源）： 254；313；405；436；546nm 干涉滤光片（氙灯光源）： 250-700nm间任选

美国空军1951年分辨力测试图一直是世界上检测垂直与水平分辨力的通用标准，是符合MIL-STD-150A标准的分辨力测试图案，由美国空军于1951年创建。1951 USAF分辨力测试图目前仍广泛地应用于测试光学成像系统（如显微镜和相机）的分辨能力。这种图案包括几组由三条短线构成组合，短线的尺寸从大到小。成像系统无法辩明的最大短线组为其分辨能力极限。 通常MIL-STD-150A格式包括几层，最大图案构成第一层，位于外围。更小层图案形状不变，从外围向中心逐步缩小。每一层两组，每组包含6个图元，以数字1至6编号。在同一层中，奇数组从右上角开始，其图元从上至下按1至6排列。偶数组的第一个图元在该层的右下角，其余图元在左侧从上至下按2至6排列。分辨力计算式为：分辨力(line-pairs/mm)=2(组序数+((图元序数-1)/6)。货号产品名称规格R70USAF Test Chart，Group 0-7（正片），element 6,大小50×50mm个R71USAF Test Chart，Group-2-7（正片），element 6，75×75mm个R75PUSAF Test Chart，Group0-9（正片），element 3，50×50mm个R75NUSAF Test Chart，Group0-9（负片），element 3，50×50mm个PS75PUSAF Test Chart，Group2-9（正片），element 3，76×25mm个PS75NUSAF Test Chart，Group2-9（负片），element 3，76×25mm个

尤其适用于评价高分辨SEM（如FESEM）图像质量，放大倍数至少在80005X才能清楚分辨这些金颗粒

尤其适用于评价高分辨SEM（如FESEM）图像质量，放大倍数至少在80004X才能清楚分辨这些金颗粒

尤其适用于评价高分辨SEM（如FESEM）图像质量，放大倍数至少在80006X才能清楚分辨这些金颗粒

尤其适用于评价高分辨SEM（如FESEM）图像质量，放大倍数至少在80012X才能清楚分辨这些金颗粒

尤其适用于评价高分辨SEM（如FESEM）图像质量，放大倍数至少在80005X才能清楚分辨这些金颗粒

尤其适用于评价高分辨SEM（如FESEM）图像质量，放大倍数至少在80001X才能清楚分辨这些金颗粒

尤其适用于评价高分辨SEM（如FESEM）图像质量，放大倍数至少在80002X才能清楚分辨这些金颗粒

尤其适用于评价高分辨SEM（如FESEM）图像质量，放大倍数至少在80009X才能清楚分辨这些金颗粒