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真空过程表征

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真空过程表征相关的论坛

  • 荧光光谱表征一个掺杂过程

    荧光光谱表征一个掺杂过程

    [color=#444444]主要想借荧光光谱表征一个掺杂过程,看峰位移动。[/color][color=#444444]用了一台日立4500,但是荧光信号弱,拉曼信号强,自己的荧光信号没有很强;再用了一台激光拉曼光谱,激光信号强,但是拉曼信号似乎太多??如下图。[/color][color=#444444]有没有大神指点啊!!!![/color][color=#444444][img=,690,487]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/08/201908131105424613_6741_1827556_3.jpg!w690x487.jpg[/img][/color]

  • 【求助】链转移的表征

    在共聚过程中加入了异丁基乙烯基醚单体,现在想知道链自由基是否向这种单体转移了,如何表征?从红外图中能看出来吗?

  • AFM表征球面形貌!!!!!

    有没有人用AFM表征过球面形貌,如直径2-3mm的钢球、红宝石球,Si3N4球。做的过程中需要注意些什么?请各位大虾指导!

  • 多功能聚烯烃分析表征仪CFC

    多功能聚烯烃分析表征仪CFC

    聚烯烃是一个复杂的体系,表征聚烯烃的方法有很多,比如用凝胶色谱分析仪表征分子量及其分布的信息,用化学组分分析仪表征其化学组分分布信息等,但是各种表征方法关注的点是不同的,分子量表征只关注聚烯烃链的长短或者说大小,而化学组分分布仪只关注聚烯烃支链的分布情况,支链越多,低温组分越多。这样也就会导致有时分子量相同的树脂,化学组分分布未必相同;有时化学组分分布相似,而分子量却差别很大,比如:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/01/201601180927_582163_1664_3.jpg上图中两种树脂管式的HDPE和长支链LDPE化学组分分布相似,而分子量分布确有不同,我们可以看到管式的HDPE分子量分布图封顶有一个平台。有没有能同时测得聚烯烃的分子量信息和化学组分分布信息的仪器呢?今天我就简单就给大家介绍下西班牙Polymer Char公司的聚烯烃多功能分析表征仪CFC:CFC是应用升温淋洗分级技术和凝胶渗透色谱技术的一台联用全自动分析仪,可现实双变量分布测定,首先按照结晶能力的不同,通过TREF分级,然后分级组分进入凝胶色谱柱,按分级组分的分子量进一步分离,进入到相应的红外检测器,根据测量结果可生成以温度和分子量对数为变量的三维谱图。在较短时间内完成复杂的共聚单体和分子量分布的充分表征,并且在分析过程中无需人工操作仪器。通过控制分析条件和样品加入量,CCD和MWD两方面的数据都可以达到很高的分辨率。CFC就像一个超级显微镜一样,能将聚烯烃的微观结构看的清清楚楚。

  • 关于微孔的表征?

    请问:小于50微米的颗粒的孔隙率用什么仪器表征啊,还有就是油漆(清漆)膜表面的微孔用什么仪器表征啊,具体方法是什么啊,谢谢!!!!!!!!

  • 【原创大赛】富勒烯水溶性衍生物的电镜表征

    【原创大赛】富勒烯水溶性衍生物的电镜表征

    富勒烯水溶性衍生物的电镜表征富勒烯水溶性衍生物具有团聚的天然属性,其在固体状态或溶液环境中均能以团聚体形式存在,其团聚状态还易受外界环境影响。针对富勒烯水溶性衍生物团聚状况研究,可通过扫描电镜(SEM)、动态光散射(DLS)等手段进行。对合成富勒烯水溶性化合物C60(NCH2CH2NH2)12进行表征,同时也证实了富勒烯水溶性衍生物的团聚属性。实验过程:基片制备:高纯单晶硅片作为样品的载体,要求基片大小均匀一致,干净无尘。将其切割成4×4 mm2左右大小规整的小方块,用无水乙醇浸泡,再用去离子水超声清洗,烘干,利用导电双面胶带将其固定于铝制样品托。薄膜样品准备:为免受空气中尘埃的污染,制样在超净工作台中进行。配制浓度约0.05 mM的化合物C60(NCH2CH2NH2)12溶液,超声半小时,使其完全溶解,经0.45 μm微孔滤膜过滤后,用移液枪吸取3 μL滴加到预先编号并预处理好的镀Au硅片上,将其置于超净工作台中,室温下自然晾干,使样品在硅片上形成均匀薄膜。采用粒子束溅射法在在载样硅片上喷涂高纯金膜,待测。实验观测:将镀Au后的载样托盘置入样品台,注意样品台的高度不能触碰到样品室探头。进样后,抽真空,加高压10 KV,选择ETD检测器,观察二次电子成像。通过操作台旋钮控制对图像进行放大缩小,选择要观察的样品及合适的区域。首先在低倍下调焦,消除像散、图像晃动等,调焦结束之后调节亮度和对比度,使得图像清晰呈现。图像调好之后,在样品图像视野范围内选择一个较清楚的位置抓图。样品可以在样品室中作三维空间的平移和旋转,因此,可以从各种角度对样品进行观察。通过SEM逐个扫描模式对化合物进行观察,图像用PC SEM软件处理分析。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307231636_453220_1444635_3.jpg[fon

  • 氢键表征研究

    [color=#444444]请问有人研究过羟基的氢键表征或者自由羟基的表征吗?从文献里面看到很多相关是用变温红外或者核磁,但是还是不知道怎么做以及怎么处理数据,求助大神们,最近很困扰啊[/color]

  • 三维透射电镜表征

    三维透射电镜表征

    大多数固体材料是由成千上万个小晶体组成,这些小晶体的取向、大小、形状以及它们在样品内的三维空间分布和排列决定了材料的性能。最近,中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家(联合)实验室刘志权研究员与丹麦科技大学Risø可持续能源国家实验室、清华大学、美国约翰霍普金斯大学的科学家们共同合作,开发出了一种利用透射电子显微镜对纳米材料进行直接三维定量表征的新方法,这一成果发表在5月13日出版的《科学》周刊上Science332(2011)833. (http://www.sciencemag.org/content/332/6031/833.full)通常,材料内部的微观结构信息是通过对截面样品的二维观察得到的,这种二维观察不能提供材料内部小晶体在三维空间的相对分布和晶界特性等重要的微观结构参数,从而制约了对材料微观结构与宏观性能相互关系的深刻理解和材料性能的改进和优化。近年来,在世界范围内,科学家们就开发先进的微观结构三维表征技术进行了不懈的努力探索,三维X-射线衍射技术的成功开发和应用就是一个重要例子。但是这种技术的空间分辨率只能达到100纳米 (1纳米=百万分之一毫米)。本次合作开发的新的三维透射电子显微技术其空间分辨率已达到1纳米,比三维X-射线衍射技术提高了两个数量级。这种新的三维透射电镜表征技术是表征纳米材料的理想方法,它可对组成纳米材料的各个小晶体进行精确描述,包括其各个晶体的取向、大小、形状和在三维样品内的空间位置等。图1所示的是利用这种方法得到的纳米金属铝的三维微观结构特征图的一个例子。图中不同颜色表示不同的晶体取向,晶体的大小(从几纳米到约100纳米)和形状(伸长的或球体状的)都清晰地显示出来了。这些微观结构参数的精确定量测定为理解和优化纳米材料的性能提供了坚实的基础。这一方法的一个重要优点是它是一种“无损”的分析技术,即在微观表征过程中不破坏样品,因此它可用来研究纳米材料微观结构在外加条件下(如加热或变形)的演变过程,从而为研究纳米材料的动态行为开辟了新的途径。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/07/201107160951_305155_1606080_3.jpg图1. 纳米金属铝的三维微观结构特征图清晰地显示了样品内各个晶体在三维空间的形状、大小和位置。图中不同颜色表示不同的晶体取向。摘自沈阳金属所主页:http://www.imr.cas.cn/xwzx/kydt/201105/t20110513_3132072.html有没有高人能更加详细的科普一下这种表征技术先将原文附上,大家共同讨论学习

  • 纳米表征技术的新突破

    纳米表征技术的新突破 在“纳米”技术愈来愈广泛地开发应用的同时,人们可能会提出这样的问题∶如此微小的“纳米”是用何种科学手段检测的?北京科技大学方克明教授经过20多年的研究,探索出了一种新的方法———  “纳米”这个名词越来越引起人们的兴趣。大家知道“纳米”是一个非常微小的长度单位。具体地说,一纳米约一根头发粗细的万分之一。纳米技术应用到传统产品中,会极大地改善产品的性能。例如,碳纳米管是由一层或若干层碳原子卷曲而成的管状“纤维”,直径只有几到几十纳米。比重只有钢的六分之一,而强度却是钢的100倍。如果把碳纳米管制成绳索,是从月球上挂到地球表面而惟一不被自身重量所拉断的绳索。  在“纳米”技术愈来愈广泛地开发应用的同时,人们可能会提出这样的问题∶如此微小的“纳米”是用何种科学手段检测的?据了解,目前我国用来检测纳米的纳米表征技术正日趋成熟并取得了新的突破。  记者日前在采访中了解到,北京科技大学冶金学院博士生导师方克明教授经过20多年的研究,在纳米表征技术方面取得了新的突破,探索出了用透射电镜或高分辨电镜对纳米材料进行表征的新方法。该技术采用金属包埋法可以从纳米材料中切取纳米尺度的薄膜,然后用透射电镜或高分辨电镜研究纳米材料的微观形貌和微观结构。该技术的成功为我国纳米技术的发展提供了一种重要的检测手段,它荣获第十二届全国发明展览会金牌奖并取得了国家专利,目前在国内外处于该领域的领先水平。  纳米材料包括纳米颗粒及其以纳米颗粒为基础的材料;纳米纤维及其含有纳米纤维的材料;纳米界面及其含有纳米界面的材料。纳米材料的性能与其微观结构有着重要的关系。因此研究纳米材料微观结构的表征对认识纳米材料的特性,推动纳米材料的应用有着重要的意义。  透射电镜是研究材料的重要仪器之一,在纳米技术的基础研究及开发应用中也不例外。但是用透射电镜研究材料微观结构时,试样必须是透射电镜电子束可以穿透的纳米厚度的薄膜。单体的纳米颗粒或纳米纤维一般是透射电镜电子束可以直接穿透的。研究者通常把试样直接放在微栅上进行透射电镜观察。但是由于纳米颗粒或纳米纤维容易团聚,因此,用这种方法常常得不到理想的结果,有些研究内容也难以实施。比如∶纳米颗粒的表面改性的研究,纳米纤维的横切面研究都比较困难,研究界面问题则有更大的难度。因此,纳米材料的透射电镜研究,其样品制备问题是一个值得探讨的重要课题。对此,方克明教授进行了研究,探索了一种比较适用的制样方法。该方法可以从纳米颗粒或微米颗粒中直接切取可以进行透射电镜研究的薄膜,对进行纳米纤维横切面观察或纳米界面观察的制样也有很高的效率。  这一技术的特点是从纳米或微米尺度的试样中直接切取可供透射电镜或高分辨电镜研究的薄膜。试样可以为简单颗粒或表面改性后的包覆颗粒,对于纤维状试样,既可以切取横切面薄膜也可以切取纵切面薄膜。对含有界面的试样或纳米多层膜,该技术可以制备研究界面结构的透射电镜试样。技术的另一重要特点是不损伤试样的原始组织。制膜过程中不使用高温,不接触酸碱,必要时也可以不接触水或水溶液。  目前上述技术已应用于多项课题研究,如:沸石颗粒中半导体纳米团簇组装过程的研究;纳米碳纤维微观结构的高分辨电镜研究;纳米颗粒微观结构与尺寸的表征;多层膜层间结构的透射电镜研究;粉体颗粒表面改性的研究;电容钽粉颗粒渗氧层及介质膜的研究;铸铁中各种石墨微观结构的研究等。  该技术在全国已经获得了广泛应用,为北大、清华、中科院等上百个新材料科研课题组和企业提供了技术支持。为我国高新材料的深入研究提供了一种重要方法,引起了国内外的关注。  纳米表征技术是高新材料基础理论研究与实际应用交叉融合的技术。对我国高新材料产业的发展有着重要的推动作用。我们希望这项新技术能得到有关部门的关注并在全国更广泛地推广应用,以加速我国高新材料研究的进程,为我国高新技术产业的发展作出更大的贡献

  • 单晶颗粒如何表征

    小弟目前在做粉末冶金材料,从制粉到最终烧结成型全过程都要自己完成。我制粉的方式是将铸态合金锭(铸态下晶粒尺寸基本均在200μm以上)通过机(手)械(工)研磨的方式成粉,再筛分为不同的粒度范围(在50-200μm之间)。我现在想知道,我制备的粉末是否为单晶颗粒,或者说当粉末粒度小于某一尺寸范围后,即可说明它们基本为单晶颗粒。之前类似的文献中尚无对粉末是否为单晶颗粒进行讨论,不知道应该用哪种测试手段进行分析表征,烦请各位大神不吝赐教!

  • 【求助】请问这里有没有高手用AFM表征过材料的润滑性能或者摩擦性能呢?

    做了一种润滑材料,想用afm表征一下材料的润滑性能,不知该如何下手,问过veeco的工程师,说afm只能定性的表征润滑性能,而无法计算摩擦系数,很受打击,因为我看了几篇国外的文献都有算出来的,但是过程比较复杂,从没有接触过afm,不知该如何下手,我应该如何做哪些工作呢?期盼高手能够指点一下,谢谢!

  • 胶粘剂触变性表征

    请问大家平时怎么表征胶粘剂的触变性,用旋转流变仪的话怎么表征,是做触变环吗

  • 综述:细胞外泌体颗粒表征测量技术新进展

    何为细胞外泌体?  外泌体最早发现于体外培养的绵羊红细胞上清液中,是细胞主动分泌的大小较为均一,直径为40~100纳米,密度1.10~1.18 g/ml的囊泡样小体。细胞外泌体携带多种蛋白质、mRNA、miRNA,参与细胞通讯、细胞迁移、血管新生和肿瘤细胞生长等过程并且有可能成为药物的天然载体,应用于临床治疗。  然而,测量技术手段的局限限制了外泌体在这些领域的研究进展。所以,在这篇文章中,作者总结了外泌体的纯化方法(离心法、过滤离心法、密度梯度离心法、免疫磁珠法以及色谱法),比较了现存各种外泌体测量技术(电子显微镜、动态光散射技术及纳米微粒追踪分析术)在外泌体尺寸和表征研究中的应用。原文点击——综述:细胞外泌体颗粒表征测量技术新进展

  • 近场热辐射表征中的保护热板法测试技术

    近场热辐射表征中的保护热板法测试技术

    [color=#990000]摘要:本文介绍了近场热辐射基本概念,并针对两平板之间的近场热辐射测试,介绍了经典导热系数保护热板测试方法在近场热辐射表征中的应用。[/color][size=18px][color=#990000]一、近场热辐射现象[/color][/size]如果两个相邻物体的温度不同,则它们之间则存在热辐射传递,可以用众所周知的普朗克黑体辐射理论来准确估计此辐射热流,条件是两物体之间的距离要远大于辐射的平均波长。目前已经确定的是,当物体间距小于辐射波长时,普朗克理论会失效,而这种距离则称之为近场,近场热辐射是指与物体间距小于特征波长区域的辐射, 热辐射强度随着与辐射体间距的减小而呈指数规律快速增大,如图1所示。[align=center][img=近场辐射测量,600,496]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/12/202112311018508887_5199_3384_3.jpg!w690x571.jpg[/img][/align][align=center][color=#990000]图1 辐射热流密度随距离的变化[/color][/align][size=18px][color=#990000]二、近场辐射热流测量[/color][/size]为了对近场热辐射进行表征,一般是在真空中测试两个微小间距的平行板。随着平板间距减小,辐射热流逐渐受到干涉波和消散波的影响,辐射热流会随之增强。近场辐射热流密度测量装置是基于保护热板法(GHP),该方法通常用于测量隔热材料的导热系数,如图2所示,图中的样品1在近场辐射测量中则是真空间距。[align=center][color=#990000][img=近场辐射测量,690,296]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/12/202112311019195377_8070_3384_3.jpg!w690x296.jpg[/img][/color][/align][align=center][color=#990000]图2 经典防护热板法测量原理[/color][/align]选择保护热板法的依据是这种方法是一种绝对测量方法,可以精确控制热损失,这对热辐射测量至关重要。辐射热流测量装置中,图2所示的辅助绝热板将由一个热电堆温差传感器代替,由此可以更精确地控制热损失。两板之间的平行度和距离控制是测量装置的关键条件,我们采用三个独立控制的压电致动器以纳米量级来变化板之间距离,并用电容传感器监测两板之间三个位置点的绝对间隙值。该装置的研制将能够精确测量近场热辐射的热流密度。[align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/align]

  • GC-MS-O结合OAV表征烧麦中关键香气成分及其在储存过程中的变化情况

    【序号】:1【作者】:【题名】:[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/bp][color=#3333ff]GC-MS[/color][/url]-O结合OAV表征烧麦中关键香气成分及其在储存过程中的变化情况【DOI】:【年、卷、期、起止页码】:【全文链接】:https://kns.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CAPJ&dbname=CAPJLAST&filename=SPKX20221019003&uniplatform=NZKPT&v=sbig8z5V17yEzp4O_Eegc8tMaDHJirYsNi5S8WG1vE_hfJBJv4WpdNAojcpC4_Y8

  • 表面张力表征极性物质

    各位大家好: 有个问题我想请教下:我现在使用的白油,在加热氧化后会出现极性物质,我想问下,通过测试表面张力变化,可以表征极性强弱吗?

  • 【转帖】颗粒表征确保碾压工艺的稳定性

    在碾压过程中,颗粒分布是影响下游工艺性能和最终片剂产品质量的最为关键的参数之一。在碾压过程中使用颗粒表征,可将工艺控制参数与产品质量直接关联在一起。 使用 FBRM 颗粒表征优化碾压工艺在碾压过程中,颗粒分布是影响下游工艺性能和产品质量的最为关键的参数之一。颗粒分布会影响下列操作单元: (图) 利用碾压工艺获得稳定的后处理压片,从而保证溶出度均一和含量均匀。一个成功的工艺能生产出粒度、密度和孔隙度控制均匀的颗粒。但是,在制粒放大生产过程中由于原材料的变化或工艺的动态变化将导致不均匀性。与 Patheon 的合作证明了 FBRM® 在线具有了解设计空间和优化一系列碾压运行单元的能力,同时具有不同的垂直/水平进料速度、碾压力和粉碎速度。确定颗粒分布特征可使用户能够直接将工艺控制参数与产品质量关联在一起。通过设计稳定可靠的工艺,即能实现从干法制粒到压片一系列稳定的工艺处理。实验设计进行了 19 批次的实验设计以了解工艺参数对下游产品质量的影响。使用 FBRM® 技术来测量和控制颗粒粒数和粒度变化。将 FBRM® 探头在线3插入 Comil 下游收集漏斗,当粉末流过探针尖端时,由于压缩颗粒系统中的内嵌4 或在线5测量,可获得具有代表性的测量结果,样品量的增加会提高细小颗粒高灵敏度。在此情况下更需要使用在线测量方法6。在下游取 10 克粉末样品,并分散于 100 克矿物油中。由于浓缩了取样量,测量具有代表性。中位数(第 50 个百分位)统计中的样品重复率小于 1%。 结果碾压和粉碎后,预混分布比分布具有更少的粗颗粒(图 1)。试验 10、12、13 和 19 具有最高数量的细颗粒、高孔隙度和密度。它们也具有 4000 磅/英寸的碾压力和 1000 rpm 的粉碎速度。细粉总数是下游流动特性和可能的溶出度不均一的早期指征。试验 6 和 11 具有最高数量的粗颗粒、低孔隙度和密度。它们亦具有 8000 磅/英寸的碾压力和 2000 rpm 的粉碎速度。 统计结果对上游碾压力和粉碎速度参数的压缩孔隙度和变化而言,颗粒分布平均值、每秒钟的细颗粒 (0-50μm) 计数和粗颗粒 (200-2000μm) 数量是高灵敏度的早期指征。平均粒度和每秒钟计数的细颗粒、粗颗粒数量亦是下游流程和溶解度或崩解时限的早期指征。通常,碾压力显著影响到粉碎密度、孔隙度挤压和粉碎挤压粒径。 平均值与孔隙度相关性的关系通过实时测量颗粒粒径,可以将碾压工艺条件控制在特定的平均粒径的目标上。由于平均粒径与颗粒孔隙度相关,实时控制就能确保均匀性。 结论碾压是一种复杂工艺,存在粉碎和聚集相互竞争的机制。采用 FBRM®,可以量化关键工艺参数的影响变化并将此与粉碎参数关联在一起。通过确定这些影响,可使用工具 (FBRM®) 来减少放大时间,充分减少扰动以及可能出现的问题。在该研究中,高碾压力和粉碎速度能获得低孔隙率、低密度的粗颗粒,而低碾压力和粉碎速度导致出现高孔隙率、高密度和高数量的细颗粒。在线颗粒表征亦用于确定过筛问题、硬件故障,从而降低制造成本。 参考文献1. Sheffield Products2. Peter Greven3. Arp, Z. et al.AAPS, Atlanta, GA, 10 November 20084. Wiesweg, S. et al.Tablet Tech Seminar, Brussels; Belgium; 25 October 20075. Hu, X. et al.International Journal of Pharmaceutics 347 (2008) 54–616. Michaels J. N. et al.Powder Technology Volume 189, Issue 2, 31 January 2009, 295-303 鸣谢Arasu Kondappan(Patheon)对碾压粉碎物物理特性的检测。Diane Lillibridge(Patheon)提供统计设计方面的指导并执行统计分析。Russ Neldham(梅特勒-托利多)进行 FBRM® 测量。

  • 【求助】ATR表征单分子膜

    文献上很多用ATR表征硅表面组装的单分子膜,不知道测定单分子膜需要的ATR设备有什么要求?以及试验测试要求?

  • 【求助】表征Tg转变的时候,哪个更加准确?

    DMA测试玻璃化转变问题用DMA测试玻璃化转变的时候,弹性模量拐折的起始点可以用来表征Tg温度,损耗因子的峰值也可以表征Tg温度,但是往往这两个温度是有差别的,不知道这两个温度分别有什么样的物理意义,在表征Tg转变的时候,哪个更加准确,更具有代表性呢?

  • 纳米纤维的表征

    请教各位大虾们,纳米纤维的具体表征方法,有哪些需要特别表示的,我的纤维是纳米级的纤维。谢谢!!

  • 多功能聚烯烃分析表征仪 (CFC)

    目前聚烯烃分析表征的手段有很多,比如分子量表征、化学组分分布表征等,但是各种表征手段的侧重点不同,分子量表征关注的聚合物分子链的大小,不关注支链情况;而化学组分分布表征只关注聚烯烃的支链情况。所以有时候单独分别表征聚烯烃样品的分子量及其分布或者是化学组分分布,不足以完整清晰地表征聚烯烃树脂的微观结构。详见:http://www.instrument.com.cn/netshow/SH101663/down_510096.htm

  • 【讨论】氮化硅粉体 表征

    表征氮化硅微粉体个人有些地方有些迷惑,不知道选用什么方法和设备1、粒度方法:光散射法、沉降法、电导法?还有其他不清楚个人想选用 激光粒度仪,理由是检测快速,效率高,精度?2、比表面积这个不太了解,用什么方法和设备比较合适,xdjm帮忙推荐下3、元素分析主要分析金属元素Fe、Al、Ca等,氧、氮、游离硅含量、二氧化硅、氮化硅含量这个好像很复杂,选用什么方法测这些呢,我个人想法是ICP-AES(OES)测量金属元素,氧氮含量怎么测呢?红外氧氮分析仪?游离硅这么测呢,氮化硅含量怎么测量啊?4、堆积密度、堆积角?大家讨论讨论,陶瓷粉体表征有经验的xdjm给指导下

  • 【求助】怎样表征修饰电极呢?

    求教:活性物质在电极表面自组装或电聚合后,电极表面形貌该如何表征呢?直接拿电极能做SEM或TEM吗?电化学扫描电镜都能干什么呀?[em04] [em04]

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