针状晶体颗粒

百特图像颗粒分析系统BT-1600包括光学显微镜、数字CCD摄像头、图像处理与分析软件、电脑、打印机等部分组成。它是将传统的显微测量方法与现代的图像处理技术结合的产物。它的基本工作流程是通过专用数字摄像机将显微镜的图像拍摄下来并传输到电脑中，通过专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行处理与分析，从而得到每一个颗粒的粒度和粒形信息，再将每一个颗粒的粒度和粒形信息进行统计，从而得到粒度（D50）及粒度分布、平均长径比及长径比分布、平均圆形度及圆形度分布等结果。BT-1600直观、形象、准确特点，它是将微米级以上的颗粒放大几十、数百乃至上千倍，将整个颗粒形状显示在人们的眼前，使人一目了然。它不仅能看到颗粒，还能通过“尺子”来量每一个颗粒的大小，并通过图像处理技术得到所有颗粒的直径，进而得到粒度分布、平均长径比以及长径比分布等。BT-1600为粉体材料的科研、生产和应用领域增添了一种直观、简便、准确的粒度粒形测试手段。BT-1600静态图像颗粒分析系统还具有很多独特图像处理功能，包括自动拍摄、自动分割、自动填充、批处理多幅图像、准确性标定等。其中众多的“自动”功简化了操作，提高了效率；批处理多幅图像功能，彻底克服了传统的静态图像颗粒分析系统仅能分析单幅图像，导致颗粒数太少，代表性不足，结果不准确的问题。它可以拍摄很多幅图像，对这些图像一幅一幅地处理，每一幅处理过的图像上的颗粒都汇集到一起，提高了代表性。基本性能指标测试范围1-3000μm放大倍数160/400/1600/4000倍重复性误差≤3%（国标样D50偏差）准确性误差≤3%（国标样D50偏差）数字摄像机（CCD）500万像素显微镜国产生物显微镜进口生物显微镜金相显微镜标尺精度10μm分析项目粒度分布、长径比分布、圆形度分布、单体颗粒和颗粒群等自动分割速度1秒分割成功率93%操作系统Win7/Win10及以上接口方式USB方式应用领域主要应用领域：（观察粒形、分析粒度、监测大颗粒）● 磨料：如碳化硅、刚玉、金刚石、石榴石等。● 电池材料：球形石墨粉等。● 金属粉：如球形铝粉、铅锡合金粉、其他雾化金属粉。● 非金属粉：如玻璃珠、聚苯乙烯等。● 针状粉：如硅灰石等。● 生物制剂：如细胞。● 食品：如牛奶、面粉等。● 其他：如科研、教学等。测试原理● 标定方法：用显微镜专用标准刻度尺直接标定每个像素的尺寸，再根据每个颗粒图像面积所占的像素多少来度量颗粒的大小，以微米为单位。● 测试原理：通过对颗粒数量和每个颗粒所包含的像素数量的统计，计算出每个颗粒的等圆面积和等球体积，从而得到颗粒的等圆面积直径、等球体积直径以及长径比等。为计算方便，BT-1600图像颗粒分析仪是以100个像素为一个计量单位的。下表为不同的物镜放大倍数情况下100像素所对应的粒径值。物镜放大倍数像素粒径（微米）备注4倍100250100像素对应的粒径以标定值为准10倍10010040倍10025软件功能举例

YDW-300D石墨抗折抗压试验机YDW-300D石墨抗折抗压试验机，具有结构精巧、噪音小、精度高等优点。避免了液压系统的泄漏、噪音大等缺点。直接使用高精度负荷传感器，使整机达到了更高的精度。整机结构紧凑、便于维护，外观美观、精度高、功能全，是科研院所及生产单位理想的测试仪器。在使用前，请认真阅读说明书，充分理解后，再开机使用，请爱护本机，以使本机永远保持较高的精度和良好的使用状态。 1. 用途和性能特点1.1 用途： 本试验机按JB-T 8133.7-1999 电炭制品物理化学性能试验方法抗折强度和JB-T 8133.8-1999 电炭制品物理化学性能试验方法抗压强度设计制造，采用微机控制 ，通过计算机实现了试验数据、试验曲线的屏幕显示、磁盘存储、数据库管理等功能。产品具有精度高、性能优越、可靠性高、操作方便等特点。可为您提供准确的试验结果。适用标准：T ∕ZGTS002-2019《石墨电极用油系针状焦》B/T3074.1-2008 《石墨电极抗折强度测定方法》GB/T1431-2009 《炭素材料耐压强度测定方法》GB177-1985 《水泥砂浆强度检验方法》GB17671-1999 《水泥胶砂抗压强度试验方法》1.2 性能特点：1.2.1 具有优良操作性能的主机a) 试验机采用步进电机，伺服调速系统，控制高精度、高频响步进电机，驱动精密低噪音减速机，带动精密滚珠丝杠副进行试验，可实现试验速度的大范围调节(0.01—50mm/min），试验过程平稳、高效。b) 全机械结构，从伺服电机到伺服减速机，采用全密封结构，使用期间不需要对润滑油更换，不存在压力油泄漏和比例阀堵塞；c) 主机设计按照人机工程标准，使操作简便、方便快捷。1.2.2 测量控制高精度，智能化a) 充分发挥了微机的优势，减少了电控系统硬件，所有的电器部分集成为两个模块，使产品可靠性大大提高；b) 超过试验力最大值的一定范围（过载该档位的2-5%）、或活塞碰到限位时，可即刻停机；c) 各测量数据均可永久保存，以便以后观察；d) 试验力测量控制集中于微机的试验界面上，直观、醒目，便于操作。 2. 主要技术规格 序 号项 目 名 称技 术 规 格备 注1最大抗压试验力/抗折300kN/10kN2试验机精度等级±1%1级3抗压试验力测量范围2 - 100%FS4最小显示力值0.01 kN5试验速度控制范围0.01-50mm/min6 抗压试验空间（高）0-260mm7丝杠行程120mm8 电 源AC 220V±10% 50Hz9功 率1Kw10 外型尺寸630x400x1530mm11 重 量400kg 3. 试验机的工作条件该试验机作为一种精密的测试设备，其安装、调整及工作环境都有一定的要求，为保证测试结果的准确性和正常工作，对试验机的安装环境有下列要求。3.1 在室温10～35℃范围内，相对湿度不大于80%； 3.2 在稳固的基础或工作台上正确安装，水平度为不大于2/1000；3.3 在无震动的环境中； 3.4 在周围无腐蚀性介质，无电磁场干扰的清洁环境种： 3.5 电源电压的波动范围不应超过额定电压的±10%(220V)。 4. 结构特点与工作原理该试验机由主机、驱动与控制系统、测量系统三部分组成。主机为门式结构，整机造型美观、搭配协调、操作方便。4.1 主机部分本机主机为试验机的加力架，是整个机器的执行结构。主要由机架、横梁、传感器和压盘及传动系统等部分组成。其结构简图请参见下图：4.2 驱动与控制装置4.2.1 试验机运行的驱动与控制系统，由伺服驱动器、电机、减速机组成。采用高精度数字锁相技术，由伺服驱动器带动伺服电动机，经减速机带动精密丝杠旋转，完成试验加力过程。由于采用了数字锁相技术，所以具有很高的调速精度，系统在空载和带载情况下，均能保证速度稳定。4.2.2 测量系统试验力由负荷传感器进行测量、输出， 经高精度差动互补式直流放大器放大、衰减后输出，误差不超过±1%。计算机与打印机相连，绘制各种试验曲线并进行数据处理、存储、打印。 4.2.4 附件 根据试验要求，本机主要配有试件测试压盘。 5. 安装与调整 该试验机作为一种精密的测试设备，其安装、调整及工作环境都有一定的要求，为保证测试结果的准确性和试验机的正常工作。5.1 用户在开箱前，应首先检查包装箱是否完好。打开包装箱后，对照装箱单检查试验机及附件是否齐全无损，然后，即可取出试验机，吊装主机时，必须吊装主机上部的吊装环，不得使其他部分受力。 5.2 把试验机置于坚固的平台或水泥台上。5.3 按外观图所示将主机及各种装置正确放置、按照正确的连接好。注：供电电源应有可靠接地措施。6.主要配置： 类别序号名称规格数量备注 产 品1主 机1台2负荷传感器300KN/10KN各1只主机上 附 具1. 抗压辅具1套2. 抗折辅具1套3. 数据采集卡1套4. 碎料盘1件技术文件1使用说明书1份 资料袋内2装 箱 单1份3合 格 证1份

QCM（石英晶体微天平）级联颗粒物/气溶胶粒径浓度分析仪采用QCM电子传感器实时测量空气中颗粒物/气溶胶粒径和浓度，利用惯性冲击原理低压撞击技术按照粒径大小分级采集颗粒物/气溶胶样品，可将带有样品的晶体直接插入电子显微镜用于扫描电镜和能量色散X射线光谱分析。 主要特点：? 自动快速测量气溶胶粒径分布和质量浓度（mg/m3）?无需额外称量，可直接计算出PM10、PM2.5、PM1的值? 高灵敏度QCM(石英晶体微天平) 质量传感器：1ng/Hz? 宽浓度测量范围：5~1000μg/m3? 可监测到小粒径粒子，样品粒径低至100纳米? 自动控制采样时间? 数据打印输出（粒径分布柱状图、不同粒径质量浓度、采样时间、日期、）? 计算机接口进行数据采集? 带有样品的晶体或采样盘可直接放入光谱仪深入分析粒子的物理、化学、电子特性? 长期记录应用领域：? 大气气溶胶研究? 吸入毒理研究? 烟道测量，大气测量，汽车测量? 工业卫生和职业安全评估? 室内、户外空气质量分析? 药物气溶胶研究同类可选产品： PC-2型10级QCM气溶胶颗粒物分析仪测量粒径范围：0.05~25μm流速：0.24lpm气泵和控制单元粒径分布、质量浓度打印输出中、高浓度测量，高达几十毫克每立方米 PC-2H型10级QCM气溶胶颗粒物分析仪测量的粒径范围：0.05~10μm流速：2lpm气泵和控制单元粒径分布、质量浓度打印输出中、低浓度测量，几微克每立方米 PC-2AS/SK76型10级QCM药物气溶胶颗粒物分析仪测量的粒径范围：0.14~10μm流速：0.24lpm气泵和控制单元粒径分布、质量浓度打印输出12.6lpm高流速采样入口，等动力流量分路器可选高流速30、60、90lpm特殊配置测定剂量吸入器和喷雾器输出气溶胶测量 IMPAQ AS-6型6级撞击式气溶胶采样器测量的粒径范围：0.5~16μm流速：12.6lpm真空泵、流量计和流量控制阀 MPS-4G1型4级无尘室微量气溶胶采样器流速：7lpm切割粒径：低至0.05μm适用于无尘室采样和微量粒子环境采样 Model MPS-3型 3级微量气溶胶采样器流速：2lpm切割粒径：低至0.05μm适用于计算机磁盘驱动器采样和环境大气采样采样器袖珍便携 特殊采样器可根据用户不同需求可定制特殊配置采样器，欢迎垂询！ 打印输出的测量数据 主要客户名单：Perking University 北京大学AT&T Bell Labs (Lucent) AT＆T贝尔实验室（朗讯）Arizona State University 亚利桑那州立大学Bayer (Germany) 拜耳（德国）Corning Glass 康宁玻璃China Steel (Taiwan) 中华钢铁（台湾）Dow Corning 道康宁Fujitsu 富士通Getty Conservatory Institute 盖蒂音乐学院Hitachi 日立Hewlett Packard 惠普Howard University 霍华德大学IBM IntelIIT Research InstituteIndian Institute of Technology 印度理工学院Inhale PharmaceuticsJapan Atomic Energy Agency 日本原子能Jet Propulsion Lab (JPL) 喷气推进实验室（JPL）Johnson Wax 庄臣Lawrence Berkeley National Lab 劳伦斯伯克利国家实验室Lawrence Livermore National Lab 劳伦斯利弗莫尔国家实验室Los Alamos National Lab 洛斯阿拉莫斯国家实验室Lovelace Inhalation Toxicology InstituteMediNuclearProctor & Gamble 宝洁Quantum 量子Schering-Plough 先灵葆雅Sciarra Research Lab Seagate Technology 希捷科技University of Oklahoma 奥克拉荷马大学U.S. EPA 美国环保局U.S. Navy 美国海军U.S. NASA 美国航天局Western Digital 西部数据 应用案例1. 旧金山加州大学医疗中心的医生和科学家使用QCM（石英晶体微天平）级联颗粒物/气溶胶粒径浓度分析仪对手术器材引起的血液气溶胶进行监测，发现血液气溶胶能被工作人员吸入。2. 美国海军将QCM（石英晶体微天平）级联颗粒物/气溶胶粒径浓度分析仪用于监测潜艇里的空气，为改善空气净化器提供支持。3. QCM（石英晶体微天平）级联颗粒物/气溶胶粒径浓度分析仪服役于很多研究飞机上,包括美国国家航空和宇宙航行局的U-2飞机和ER-2飞机，用于监测火山爆发时追踪高层大气微粒羽流。4. 夏威夷环境卫生科学家将QCM（石英晶体微天平）级联颗粒物/气溶胶粒径浓度分析仪用于监测奇劳亚火山连续的火山爆发产生的火山烟雾。5. 美国能源部/洛斯阿拉莫斯国家实验室的微大气测量系统使用QCM（石英晶体微天平）级联颗粒物/气溶胶粒径浓度分析仪用来监测空气中颗粒物粒径分布和质量浓度，测量扩散源颗粒物排放烟羽,比如,危险废弃物站点。6. 台湾电力公司在核电站使用QCM（石英晶体微天平）级联颗粒物/气溶胶粒径浓度分析仪进行可吸入的放射性气溶胶剂量评估。7. 1993年10月27日，加州洛杉矶东北Angeles Crest国家森林群山的南部山坡发生野火， 10月28日，QCM（石英晶体微天平）级联颗粒物/气溶胶粒径浓度分析仪用于监测空气中的烟尘浓度，发现颗粒物粒径峰值在0.23um。

针状焦具有CTE低、易石墨化等特点，是生产高功率和超高功率石墨电极的优选材料。在针状焦的形成过程中，原料油需要经历中间相小球体的生成、长大、融并等历程，发育为广域中间相，然后再在气流的作用下形成线型纹理结构，最后固化制得针状焦。在焦化初期，体系内部要避免出现过大的扰动，以保证中间相小球体缓慢、平稳地发育，中间相的发育程度直接影响着针状焦的产品性能；在“拉焦”阶段，体系内需要不断有气流匀速逸出，将广域中间相拉成线型结构。现有技术在针状焦制备过程中，需要为广域中间相的形成提供一个缓和、平稳的环境，避免反应体系出现过大的扰动。相反，在焦化反应中后期，又需要体系内部不断有气流匀速逸出，将广域中间相拉成线型纹理结构。 针状焦不仅用于超高功率的石墨电极，而且也用于热结构石墨和特种炭素制品的原材料。非延迟焦化生产针状焦的方法”，将生产针状焦的原料预热到未成焦温度380-440°C后，加入焦化全自动反应器中，原料注入体积量为焦化全自动反应器容积的1/2-3/4 停止进料后，关闭进料口，控制焦化全自动反应器温度以升温速率0.5-500C/min升温至460-510°C，保持温度不变进行焦化反应3-24小时；焦化反应过程中控制焦化反应器内压力为0.5-3MPa。该方法没有考虑不稳定中间相在液相碳化过程中温度与时间的关系，容易使小球体在没有得到充分成长、融并前就固化成镶嵌结构，而不能到针状流线纹理发达的针状焦。

该仪器通过重建晶体群的3D形状来产生晶体晶面生长动力学，用于结晶过程建模和优化控制，或利用形态学和多维群体粒数衡算模型放大。本产品适用于医药、化工、蛋白质、农药、材料、食品以及石化等领域，运用冷却、抗溶剂、pH值摆幅以及蒸发等技术进行结晶过程中，可实现精准的在线监测、优化、控制和结晶过程放大。它可以用于研究、产品开发和制造中的持续性生产过程的性能改进。技术数据测量范围2μm ~ 1000μm(与镜头放大倍数、相机等相关)测量浓度可高达50%固体颗粒浓度(与颗粒形状相关)测量方式在线测量晶体形态、平均尺寸、颗粒大小分布工作温度范围无特别限制 产品特点 ● 非浸入式设计，对样品毫无损伤● 自动处理多台摄像机得到的二维图像● 生成三维立体图像● 适用于小型反应釜、烧杯及管路等系统● 适用于固体颗粒、液滴及气泡等复杂体系● 能自由设定视频捕捉时间● 自动记录数据，提高工作效率● 实时在线分析图形并给出颗粒粒径分布● 无需取样、稀释及备样● 可针对客户需求特殊设计：粘稠物系、高/低温物系、高压物系等● 强大的图像处理功能：自主知识产权的图像处理软件，具有实用便捷的功能和高级的算法，对于各种像素低、质量差以及在线采集的图片，具有高效的处理方式，可以满足不同的分析要求

PD-NO热导仪-针状探头传感器Probe(Needle type)PD-NO热导仪-针状探头传感器 主要特点：适用于: 绝热材料、食品、粘性液体、粉状物等。PD-NO热导仪-针状探头传感器 技术参数：测定范围: 0.0116～0.1W/mK。准确度: 误差值在±5%以内。重复性: 误差值在 ±3%以内。测定温度: -100～+180°C。测定时间: 标准40秒。京都电子(KEM)中国分公司 客服热线: 400-820-2557

该仪器通过重建晶体群的3D形状来产生晶体晶面生长动力学，用于结晶过程建模和优化控制，或利用形态学和多维群体粒数衡算模型放大。本产品适用于医药、化工、蛋白质、农药、材料、食品以及石化等领域，运用冷却、抗溶剂、pH值摆幅以及蒸发等技术进行结晶过程中，可实现精准的在线监测、优化、控制和结晶过程放大。它可以用于研究、产品开发和制造中的持续性生产过程的性能改进。技术数据测量范围2μm ~ 1000μm(与镜头放大倍数、相机等相关)测量浓度可高达50%固体颗粒浓度(与颗粒形状相关)测量方式在线测量晶体形态、平均尺寸、颗粒大小分布工作温度范围无特别限制 产品特点 ● 非浸入式设计，对样品毫无损伤● 自动处理多台摄像机得到的二维图像● 生成三维立体图像● 适用于小型反应釜、烧杯及管路等系统● 适用于固体颗粒、液滴及气泡等复杂体系● 能自由设定视频捕捉时间● 自动记录数据，提高工作效率● 实时在线分析图形并给出颗粒粒径分布● 无需取样、稀释及备样● 可针对客户需求特殊设计：粘稠物系、高/低温物系、高压物系等● 强大的图像处理功能：自主知识产权的图像处理软件，具有实用便捷的功能和高级的算法，对于各种像素低、质量差以及在线采集的图片，具有高效的处理方式，可以满足不同的分析要求

颗粒碰撞噪声检测仪，粒子碰撞噪声检测仪，微粒碰撞噪声检测仪，PIND，4511，FELIX产品型号：4511A（22mm台面）4511L（50mm台面）4511M4（100mm台面）4511M6（150mm台面）4511L-R及4511M4-R（宽脉冲） 美国SD公司的颗粒碰撞噪声检测仪用于电子元器件封装后，对器件内多余粒子碰撞噪声检试验，目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子，是一种非破坏性实验。 用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。 工作原理：颗粒碰撞噪声检测（Particle Impact Noise Detection P.I.N.D.）是一种对多余物检验的有效手段。其原理是利用振动台产生一系列指定的机械冲击和振动，通过冲击使被束缚在产品中的颗粒（即多余物）松 动，再通过一定频率的振动，使多余物在系统内产生位移。活动的多余物在产品中发生位移的过程，是多余物相对产品壳体的滑动和撞击的一个随机组合过程。在这个过程中，将产生应力弹性波和声波。这两种波在产品壳体中传播并形成混响信号，这个混响信号被定义为位移信号。采用压电传感器拾取到位移信号后，经前置放大器放大，位移信号由检测装置的主机采集、处理并显示。检测人员可以依据显示的信号波形判定出信号性质，以此得出检测结论。 选型说明：每种型号的颗粒碰撞噪声检测仪都包括：控制器，振动台，传感器，灵敏度测试单元，软件，示波器，电缆，耗材及相关文件。其型号选择主要根据被测件的重量和外型尺寸而定，我们的标准配置采用的是M230振动台可测负载重量，全频率范围内为200克，换能器台面直径为22mm~150mm，换能器因在其中心区域50%面积处灵敏度，故实际台面选择时换能器面积要略大于被测件 扁平面面积。 设备用途：用于电子元器件封装后，对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验，目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子，是一种非破坏性实验。用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。 适用领域：用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空、航天及相关军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。

颗粒碰撞噪声检测仪，粒子碰撞噪声检测仪，微粒碰撞噪声检测仪，PIND，4511，FELIX产品型号：4511A（22mm台面）4511L（50mm台面）4511M4（100mm台面）4511M6（150mm台面）4511L-R及4511M4-R（宽脉冲） 美国SD公司的颗粒碰撞噪声检测仪用于电子元器件封装后，对器件内多余粒子碰撞噪声检试验，目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子，是一种非破坏性实验。 用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。 工作原理：颗粒碰撞噪声检测（Particle Impact Noise Detection P.I.N.D.）是一种对多余物检验的有效手段。其原理是利用振动台产生一系列指定的机械冲击和振动，通过冲击使被束缚在产品中的颗粒（即多余物）松 动，再通过一定频率的振动，使多余物在系统内产生位移。活动的多余物在产品中发生位移的过程，是多余物相对产品壳体的滑动和撞击的一个随机组合过程。在这个过程中，将产生应力弹性波和声波。这两种波在产品壳体中传播并形成混响信号，这个混响信号被定义为位移信号。采用压电传感器拾取到位移信号后，经前置放大器放大，位移信号由检测装置的主机采集、处理并显示。检测人员可以依据显示的信号波形判定出信号性质，以此得出检测结论。 选型说明：每种型号的颗粒碰撞噪声检测仪都包括：控制器，振动台，传感器，灵敏度测试单元，软件，示波器，电缆，耗材及相关文件。其型号选择主要根据被测件的重量和外型尺寸而定，我们的标准配置采用的是M230振动台可测负载重量，全频率范围内为200克，换能器台面直径为22mm~150mm，换能器因在其中心区域50%面积处灵敏度，故实际台面选择时换能器面积要略大于被测件 扁平面面积。 设备用途：用于电子元器件封装后，对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验，目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子，是一种非破坏性实验。用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。 适用领域：用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空、航天及相关军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。

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颗粒碰撞噪声检测仪，粒子碰撞噪声检测仪，微粒碰撞噪声检测仪，PIND，4511，FELIX产品型号：4511A（22mm台面）4511L（50mm台面）4511M4（100mm台面）4511M6（150mm台面）4511L-R及4511M4-R（宽脉冲） 美国SD公司的颗粒碰撞噪声检测仪用于电子元器件封装后，对器件内多余粒子碰撞噪声检试验，目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子，是一种非破坏性实验。 用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。 工作原理：颗粒碰撞噪声检测（Particle Impact Noise Detection P.I.N.D.）是一种对多余物检验的有效手段。其原理是利用振动台产生一系列指定的机械冲击和振动，通过冲击使被束缚在产品中的颗粒（即多余物）松 动，再通过一定频率的振动，使多余物在系统内产生位移。活动的多余物在产品中发生位移的过程，是多余物相对产品壳体的滑动和撞击的一个随机组合过程。在这个过程中，将产生应力弹性波和声波。这两种波在产品壳体中传播并形成混响信号，这个混响信号被定义为位移信号。采用压电传感器拾取到位移信号后，经前置放大器放大，位移信号由检测装置的主机采集、处理并显示。检测人员可以依据显示的信号波形判定出信号性质，以此得出检测结论。 选型说明：每种型号的颗粒碰撞噪声检测仪都包括：控制器，振动台，传感器，灵敏度测试单元，软件，示波器，电缆，耗材及相关文件。其型号选择主要根据被测件的重量和外型尺寸而定，我们的标准配置采用的是M230振动台可测负载重量，全频率范围内为200克，换能器台面直径为22mm~150mm，换能器因在其中心区域50%面积处灵敏度，故实际台面选择时换能器面积要略大于被测件 扁平面面积。 设备用途：用于电子元器件封装后，对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验，目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子，是一种非破坏性实验。用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。 适用领域：用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空、航天及相关军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。

BT-1600图像颗粒分析系统包括光学显微镜、数字CCD摄像头、图像处理与分析软件、电脑、打印机等部分组成。它是将传统的显微测量方法与现代的图像处理技术结合的产物。它的基本工作流程是通过专用数字摄像机将显微镜的图像拍摄下来；通过USB数据传输方式将颗粒图像传输到电脑中；通过专门的颗粒图像分析软件对图像进行处理与分析；通过显示器和打印机输出分析结果。BT-1600图像颗粒分析系统具有直观、形象、准确、测试范围宽以及自动识别、自动统计、自动标定等特点，不仅可以用来观察颗粒形貌，还可以得到粒度分布、平均长径比以及长径比分布等，为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段。产品型号BT-1600图像颗粒分析系统技术参数1、测试范围：1-3000微米2、重复性误差：≤3%3、放大倍数：≤4000倍4、分辨率：≤0.1微米5、数字摄像机（CCD)：500万像素6、显微镜：国产/尼康/金相7、标尺刻度：10 微米8、分析项目：粒度、长径比、圆形度分布及单体颗粒和颗粒群9、自动分割速度：1秒10、分割成功率：93%应用领域1、磨料：如碳化硅、刚玉、金刚石、石榴石等。2、电池材料：球形石墨粉等。3、金属粉：如球形铝粉、铅锡合金粉、其它雾化金属粉。4、非金属粉：如玻璃珠、聚苯乙烯等。5、针状粉：如硅灰石等。6、生物制剂：如细胞。7、食品：如牛奶、面粉等。8、其他：如科研、教学等。

美国SD公司的颗粒碰撞噪声检测仪用于电子元器件封装后，对器件内多余粒子碰撞噪声检试验，目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子，是一种非破坏性实验。 用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。 工作原理：颗粒碰撞噪声检测（Particle Impact Noise Detection P.I.N.D.）是一种对多余物检验的有效手段。其原理是利用振动台产生一系列指定的机械冲击和振动，通过冲击使被束缚在产品中的颗粒（即多余物）松 动，再通过一定频率的振动，使多余物在系统内产生位移。活动的多余物在产品中发生位移的过程，是多余物相对产品壳体的滑动和撞击的一个随机组合过程。在这个过程中，将产生应力弹性波和声波。这两种波在产品壳体中传播并形成混响信号，这个混响信号被定义为位移信号。采用压电传感器拾取到位移信号后，经前置放大器放大，位移信号由检测装置的主机采集、处理并显示。检测人员可以依据显示的信号波形判定出信号性质，以此得出检测结论。 选型说明：每种型号的颗粒碰撞噪声检测仪都包括：控制器，振动台，传感器，灵敏度测试单元，软件，示波器，电缆，耗材及相关文件。其型号选择主要根据被测件的重量和外型尺寸而定，我们的标准配置采用的是M230振动台可测负载重量，全频率范围内为200克，换能器台面直径为22mm~150mm，换能器因在其中心区域50%面积处灵敏度，故实际台面选择时换能器面积要略大于被测件最大扁平面面积。 产品型号：FELIXA（22mm台面）FELIXL（50mm台面）FELIXM4（100mm台面）FELIXM6（150mm台面）FELIXL-R及FELIXM4-R（宽脉冲）

新一代动态颗粒图像仪——WINNER100D 济南微纳公司推出专业型动态颗粒图像仪——WINNER100D。执行ISO/DIS-13322-2国际标准。在WINNER100的原理基础上，创新的设计出封闭式大景深远心光路，配合约束式平槽样品窗，有效提高颗粒的清晰度。此外，WINNER100D还应用了样品窗自清洗装置的颗粒测试设备，延长样品窗的使用寿命，换洗频次大大降低，甚至可以终身不需拆洗。 一、功能特点: 颗粒形貌的分析：对于球形度、圆形度、磨圆度、长径比、球度等行业专用的颗粒形貌参数的分析是其他颗粒测试设备所不具备的。值得一提的是，本产品软件中新增了对于颗粒圆形度（磨圆度）的计算模块，对颗粒圆形度的分析符合美国石油天然气标准：API_RP58。并且适合应用此图版的地质、磨料、石油天然气等行业规范，对于以上行业具有重要意义。 分析海量颗粒，数据代表性强：相比于静态图像仪的静态制样方式，WINNER100D可以测量海量颗粒数据，对于颗粒数据的代表性具有重要意义。 两种动态测试方法：1. 循环测试（同一样品在仪器中循环测试，增加测试结果的稳定性）2. 在线测试（通过加装在线取样装置，可实现在线测试，获得不同取样时间段样品的状态变化情况） 清晰度更高：大景深远心光路配合约束式平槽样品窗，有效提高颗粒样品照片的清晰程度。 未使用新技术的测试样品图片 使用了新技术的测试样品图片 样品窗自清洗装置：本产品标配样品窗自清洗装置，有效延长样品窗寿命，大大降低样品窗的拆洗频次，甚至可以终身不需拆洗 二、设备参数 外形尺寸 重量 20kg 光学组件1. 光路：自主设计远心光路系统2. 场镜：带抗畸变场镜以减轻边缘畸变并加大景深3. 测试范围：1微米——3000微米4. 光学照明：工业高亮度LED点式照明器 图像设备1. 成像元件：1/3英寸 CCD芯片2. 分辨率：1920×10803. 帧率：16fps4. 曝光时间：20微秒 软件功能1. 任务管理机制：按照任务进行管理，保证资料管理井井有条。2. 视像采集：随时进行视频和图片的采集，保留需要的视像资料。3. 比例尺标定：通过比例尺标定操作，可与实际尺寸建立关联，从而直接在图像上获得实际尺寸数值。4. 图片批处理模式：采用此模式，可边采集边处理，不受内存限制，通过处理海量图片获得更加准确的数据。5. 颗粒自动处理工具集：自动消除颗粒粘连、自动消除杂点、自动消除边界不完整颗粒、自动填补颗粒的空心区域、自动平滑颗粒边缘等12项自动处理工具6. 动态处理模式：选择此模式，适用于处理动态流动的样品。7. 报告输出：可选择报告输出样式和数据种类，也可根据自己的需要定制报告模式。 输出参数1. 单个颗粒数据：面积等效直径、周长等效直径、马丁径、周长、投影面积、颗粒长、颗粒宽、表面积估算值、体积估算值、X切线、Y切线、切线径、球型度长径比2. 统计平均径：Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用统计平均径3. 粒径分布：颗粒粒径的分布图表4. 球形度分布：颗粒球形度分布的图表5. 长径比分布：颗粒长径比分布的图表。6. 圆度分布：颗粒圆度（磨圆度）分布的图表7. 分布类型：按数量分布、按体积分布、按面积分布、按长度分布等8. 等效直径类型：面积等效粒径、周长等效粒径、马丁径、针状颗粒等效粒径9. 个数统计：如测试的样品为颗粒样品，可获得样品中颗粒的数量10. 自定义表头：自定义表头显示的LOGO以及测试人员等报告信息11. 原始图片/缩略图：可以将带有测量数据信息的图片保存，便于发表论文等。 备选配件1. 全自动进样装置 三、测试实例 测试报告、更多测试实例请登录网站或致电4000191982/0531-88873312。 四、售后承诺 1.一月内达不到用户使用要求可退换货。2.二年内免费上门保修，维修或更换零件均不收任何费用。3.提供上门保修、维护、调试、培训等服务。4.同型号产品软件终生免费升级。

美国Spectral Dynamics, Inc.（简称SD公司）成立于1961年。SD公司是全球领 先的振动测试、结构动力学和声学分析系统和软件供应商。SD的产品用于各种电子和机械产品制造厂的设计认证，产品试验和加工改进。SD公司分布在圣何塞，圣马科斯，底特律，巴尔的摩，法国，德国和英国，分工负责世界范围的产品销售和服务。 SD公司拥有50多年颗粒碰撞噪声检测仪PIND专业设计制造经验。PIND系列产品为用户提供了一个操作简便、性能可靠且性价比极高的颗粒碰撞噪声检测系统，极大地提高了电子元器件产品的可靠性。 PIND颗粒碰撞噪声检测仪是一款高频声学无损检测设备可检测包括继电器、晶体管、混合电路、集成电路和交换器等电子元器件空腔内的自由移动松散微粒，避免因这些可动多余物体异常导致的短路和系统运行故障，提高产品和系统的可靠性，安全性。 系统通过振动台产生冲击振动用于激励元器件空腔内的松散微粒，撞击在空腔壳体上微粒的能量被转换成宽频带压力波，该声波信号穿过壳体并被安装在冲击振动台上的高灵敏超声传感器检测到。为确保微粒可做精确的冲击运动，我们通过电脑对传感器进行监测。 SD FELIX M4 PIND将监测和显示振动运动的传感器与计算机相结合形成的控制。独特的功能为用户提供方便及灵活性。• SD FELIX系统轻易超出PIND测试的所有美军标(U.S.MIL-STD-883、750、202、39016D)的试验要求，因为所有东西都在软件中，可以在以后扩展到任何可能的测试配置。• 内置传感器，通过计算机分析监控并显示振动台实际运动，来修正测试环境下的任何变化，SD FELIX测试系统可提供准确且可重复的测试环境。• 通过控制振动台台面速度和校准冲击前设备的偏差值，SD FELIX系统独特的振动台性能可提供精确的冲击运动。• SD FELIX采用配置精简，低杂散磁场的设计，从而省去了对昂贵专用试验台的需要，以及传统振动台所需的冲击夹具。• SD FELIX系统是一个全数字化，不带旋钮或螺丝的系统。可完全按照您的要求编程，或者依照美军标要求编程。由于一切都是由计算机生成的，用户可以创建不同的振幅、频率和持续时间。未来将扩展到更复杂的运动环境，包括随机振动和先进的冲击条件。• SD FELIX系统是完全自动化的，只需点击一个按钮——或可选通过Windows 10进行外部激活。 自2019年10月1日起，科唯仪器有限公司正式成为美国SD公司 颗粒碰撞噪声检测仪（PIND）在中国（包括香港地区）授权代理商，全权负责PIND产品的销售及售后服务事宜。

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颗粒碰撞噪声检测仪，粒子碰撞噪声检测仪，微粒碰撞噪声检测仪，PIND，FELIX，4511 产品型号：FELIXA（22mm台面）FELIXL（50mm台面）FELIXM4（100mm台面）FELIXM6（150mm台面）FELIXL-R及FELIXM4-R（宽脉冲） 美国SD公司的颗粒碰撞噪声检测仪用于电子元器件封装后，对器件内多余粒子碰撞噪声检试验，目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子，是一种非破坏性实验。 用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。 工作原理：颗粒碰撞噪声检测（Particle Impact Noise Detection P.I.N.D.）是一种对多余物检验的有效手段。其原理是利用振动台产生一系列指定的机械冲击和振动，通过冲击使被束缚在产品中的颗粒（即多余物）松 动，再通过一定频率的振动，使多余物在系统内产生位移。活动的多余物在产品中发生位移的过程，是多余物相对产品壳体的滑动和撞击的一个随机组合过程。在这个过程中，将产生应力弹性波和声波。这两种波在产品壳体中传播并形成混响信号，这个混响信号被定义为位移信号。采用压电传感器拾取到位移信号后，经前置放大器放大，位移信号由检测装置的主机采集、处理并显示。检测人员可以依据显示的信号波形判定出信号性质，以此得出检测结论。 选型说明：每种型号的颗粒碰撞噪声检测仪都包括：控制器，振动台，传感器，灵敏度测试单元，软件，示波器，电缆，耗材及相关文件。其型号选择主要根据被测件的重量和外型尺寸而定，我们的标准配置采用的是M230振动台可测负载重量，全频率范围内为200克，换能器台面直径为22mm~150mm，换能器因在其中心区域50%面积处灵敏度，故实际台面选择时换能器面积要略大于被测件最大扁平面面积。

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一、 产品简介 ALC-21 型颗粒稳定性测定仪用于测定煅后石油焦、针状焦等颗粒的抗碎、 抗磨性能。 设计参考标准：ISO10142。符合标准：YST587.11-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法第11部分颗粒稳定性的测定二、产品特征描述： l 振动机架支撑于四个特殊板弹簧上（其他品牌采用弹簧，振动幅度偏离标准要求），由万向节轴、偏心轮与电机直联。 l 弧形压紧盖设计，运转过程料筒与振动机架紧密接触，带减震地脚，带有降噪外壳，实验过程噪音大幅降低。 l 精密加工的不锈钢研磨筒，保证了尺寸和质量精度。

一． 结构原理 ZMP9 60 晶体出现率分析仪是工作原理是通过专用高分辨率 CCD 线性传感器和显微光学扫描平台，将颗粒图像信息采集下来并传输到计算机中，用专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析。结合智能的背景分离及超强的颗粒边界搜索算法，将目标颗粒与背景分离，分析出各种测量参数，并通过显示器和打印机输出。 该仪器具有超大测量范围及高分辨率，同时具有直观、可视、准确、操作简单、测量参数全面等特点。能够同时测量颗粒粒度、形状及表面颜色的新型颗粒分析仪器。 二. 产品介绍 ZMP960晶体出现率分析仪，可以直接对透明贴剂中析出的晶体进行扫描，按照规定扫描范围进行扫描一定的面积，将其中的晶体识别出来并做数量统计。软件可以内置公式得出晶体出现率。 三．性能指标 1. 测量范围：1μm ～ 100mm 2图像分辨率：900万像素 3.光学平台：100mm * 120mm 4 背景光源：反射光