哪儿有光学轮廓仪，可以表征三维形貌及纵向深度？谢谢了。。。
但愿我找对地方了，请大神们支招！各种金属材质，表面有微坑，直径从几十微米到几百微米，深度也深浅不一，估计有一百到几百微米就是想看看微坑的三维形貌，比如坑是圆柱形还是圆锥形用SEM试过不行，因为高度差比较大，成像只能在某一层上，其他高度都虚化了不知AFM可以不，要获得真实形貌，而不是通过软件合成之类的谢谢了，另：如果不行，有没有其他设备可以实现
[*][作者]：[b][url=https://kns.cnki.net/kcms2/author/detail?v=Xlf5kQqXAOlm7l-65OU2lurUkXQXDNnV80swK9r6DI4FW-qMCaOI3BZE4rrkm7O0yKdNrnffasjG8N7d-CSnhfhYoDlEKF9h2DB8TeXPVEpkXvt55_Bp45HyZNWwC-6X&uniplatform=NZKPT&language=CHS][b]武子靖[/b][/url][/b][*][题名]：[b][b][url=https://iopscience.iop.org/book/mono/978-0-7503-3167-8][b]基于栅线投影法对牙冠三维形貌的研究[/b][/url][/b][/b][list][/list][*][b]【期刊】：cnki[/b][*][b]【链接】：[url=https://www.wiley.com/en-it/Digital+Signal+Processing%3A+Theory+and+Practice%2C+10th+Edition-p-9781394182664]基于栅线投影法对牙冠三维形貌的研究 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/b]
[*][作者]：[b][url=https://kns.cnki.net/kcms2/author/detail?v=Xlf5kQqXAOlm7l-65OU2lurUkXQXDNnV80swK9r6DI4FW-qMCaOI3BZE4rrkm7O0yKdNrnffasjG8N7d-CSnhfhYoDlEKF9h2DB8TeXPVEpkXvt55_Bp45HyZNWwC-6X&uniplatform=NZKPT&language=CHS]段存丽[/url][/b][*][题名]：[b][b][url=https://iopscience.iop.org/book/mono/978-0-7503-3167-8][b]利用莫尔条纹测量物体三维形貌新方法研究[/b][/url][/b][/b][list][/list][*][b]【期刊】：cnki[/b][*][b]【链接】：[url=https://www.wiley.com/en-it/Digital+Signal+Processing%3A+Theory+and+Practice%2C+10th+Edition-p-9781394182664]利用莫尔条纹测量物体三维形貌新方法研究 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/b]
我有一晶体材料，导电性几乎为无，在表面喷镀一层银后做ＳＥＭ效果也不好，利用专门做不导电晶体的环境扫描仪效果也不好，不知道还有什么检测设备可以获得表面的三维形貌？谢谢！
[*][作者]：[font=Archivo, &][size=16px][color=#222222][b][url=https://kns.cnki.net/kcms2/author/detail?v=Xlf5kQqXAOnWJ5C4coK7weJVg89BVtVqZS2pUhmF6A-yASGomkJsXsiTu-WZpjysmMvcbCtlXuJhAq3eR31muEiNAFkWx1sM259ViWqhcJp1x5gJ6uMexIEZsUvbId07&uniplatform=NZKPT&language=CHS]姜洪喜[/url][/b][/color][/size][/font][*][题名]：[b][b][url=https://iopscience.iop.org/book/mono/978-0-7503-3167-8]光学三维形貌测量技术的分析和应用[/url][/b][/b][list][/list][*][b]【期刊】：CNKI[/b][*][b]【链接】：[url=https://kns.cnki.net/kcms2/article/abstract?v=Xlf5kQqXAOmDw3TF8o5O7V-pyQ0q2lbka6ozM1wVMLXawrytP7tqm2nHHeI2PLzVBZZBQaP7H6iEDDeeB9ruQZmBWt30KXsPrANHBvPB2fm2RZZ1_Bvx7P-ZObEGt9iWe14ymKR_Boo=&uniplatform=NZKPT&language=CHS]光学三维形貌测量技术的分析和应用 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/b]
[align=center][b][color=#ff0000][/color][/b][/align][align=center][b][size=24px][color=#ff0000]AM-7000白光干涉三维形貌测量仪[/color][/size][/b][/align][align=center][/align][align=center][url=https://img1.17img.cn/ui/simg/instrument/child/2022/edm/bg/index.html?v=a1http://]点击打开链接[img=,303,734]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/11/202211251256261550_4854_5842670_3.png!w303x734.jpg[/img][/url][/align]
科研史上前所未有的观测手段——数字全息DHM可高速实时测量三维形貌，达到了亚纳米精度。克服了传统AFM、CLSM等需要扫描进行三维成像的特性。 表征透明/半透明三维形貌Ø 测量厚度从几纳米到几十微米Ø 可测最高三层透明薄膜Ø 测量薄膜折射率Ø 微纳器件动态三维形貌时序图（1000fps）， 还可测频率响应（高达25MHz） 主要应用北京大学 搭建平面应变鼓膜实验平台测量纳米薄膜的动态力学性能天津大学 微结构表面形貌和运动特性测量华中科技大学 微纳制造与测试，微小光学元件检测，微电子制造封装与测试清华大学 透射式全息显微镜，测量透明样品形貌，还可以测量材料光学参数、内部结构以及缺陷杂质等 • 超快速高精度的三维成像，大面积三维形貌表征，表面粗糙度，MEMS振动测量分析，表征微流体器件和微颗粒三维追踪测试配合MEMS Analysis Tool、光学反射软件Reflectometry Analysis等专用软件实现更多功能[img=,600,400]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131406_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131407_01_1546_3.gif[/img][img=,690,]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131406_02_1546_3.jpg[/img]
本人读研究生期间一直做关于铁谱分析，后来发现在光学显微镜下可以重构物体的三维图像，也就一直在这个方向上面做，现在要毕业了，当时觉得这个方向其实非常不错，还想深入做下去，但是初步发现好像国内做这方面的公司不多，大多数都是代理，不知道大家有什么建议。我的qq号5060941，有空可以聊聊。附件中有我编写的软件效果图，下面是论文的摘要，由于论文还没有提交，所以不方便发全文。摘 要铁谱技术是以磨损磨粒分析为基础的故障诊断方法，在铁谱技术中，磨粒图像是反映机械设备内部零部件磨损状况的重要信息载体，磨粒特征分析是监测对象实际状态十分丰富而又有效的方法。磨粒识别是铁谱分析的核心环节，直接关系到磨损状态诊断的正确性。磨粒成分与磨损构件成分相同，正确判断磨粒成分可以确定机械磨损位置，给保养和维修带来极大的方便。磨粒颜色与磨粒组成成分有很大的关联，本文使用主成分分析法在HSI色度空间上判断磨粒颜色，通过磨粒颜色分布确定磨粒组成成分。长期以来，由于三维成像设备性能和成本的限制，磨粒分析一直局限在二维形貌分析上。本文利用光学显微镜聚焦范围有限的特点，以改进拉普拉斯算子作为聚焦评价函数进行磨粒表面高度的测量，提取与聚焦高度相对应的像素点叠合生成能够反映磨粒表面全貌的全景深图像，最后结合磨粒表面高度信息和全景深图像重构出磨粒表面三维形貌图。为了满足计算机实时进行三维重构需求，本文还给出了一种磨粒表面形貌三维重构的快速算法。本文使用DSP、步进电机、CCD摄像头和改装过的光学显微镜设计了进行磨粒三维形貌测量的装置，并编写了基于Visual C++.net的磨粒表面形貌实时分析及三维重构软件。本文的主要研究工作有：1．综合国内外有关文献，对铁谱磨粒分析技术和微观物体的三维测量技术的发展和现状进行综述，结合本课题研究的要求，阐述了本文的主要研究内容。2．应用主成分分析法在HSI色度空间对磨粒的颜色进行了分析，找出一种判断磨粒组成成分的方法。3．分析论述了铁谱图像的数字图像处理技术和微观物体三维测量的原理、方法以及在磨粒测量上的应用。4．使用DSP、步进电机、CCD摄像头、改装的光学显微镜和计算机设计并制作了一套微观物体三维形貌光学测量装置。5．使用VC++ 设计了磨粒表面形貌分析与三维重构软件并使用自行设计制作的微观物体三维形貌光学测量装置对磨粒进行分析并重构出磨粒表面形貌三维图像。关键词：铁谱技术，磨粒，图像处理，三维重构，显微镜[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2005/11/200511131645_10117_1163957_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2005/11/200511131647_10118_1163957_3.jpg[/img]
科研史上前所未有的观测手段——数字全息可高速实时测量三维形貌，达到了亚纳米精度。克服了传统AFM、CLSM等需要扫描进行三维成像的特性。 表征透明/半透明三维形貌Ø 测量厚度从几纳米到几十微米Ø 可测最高三层透明薄膜Ø 测量薄膜折射率Ø 微纳器件动态三维形貌时序图（1000fps）， 还可测频率响应（高达25MHz） 主要应用北京大学 搭建平面应变鼓膜实验平台测量纳米薄膜的动态力学性能天津大学 微结构表面形貌和运动特性测量华中科技大学 微纳制造与测试，微小光学元件检测，微电子制造封装与测试清华大学 透射式全息显微镜，测量透明样品形貌，还可以测量材料光学参数、内部结构以及缺陷杂质等 • 超快速高精度的三维成像，大面积三维形貌表征，表面粗糙度，MEMS振动测量分析，表征微流体器件和微颗粒三维追踪测试配合MEMS Analysis Tool、光学反射软件Reflectometry Analysis等专用软件实现更多功能[img=,690,]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131349_01_1546_3.jpg[/img][img=,600,400]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131350_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131351_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131354_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131351_04_1546_3.gif[/img][img=,384,]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131358_01_1546_3.jpg[/img]
科研史上前所未有的观测手段——数字全息DHM可高速实时测量三维形貌，达到了亚纳米精度。克服了传统AFM、CLSM等需要扫描进行三维成像的特性。 表征透明/半透明三维形貌Ø 测量厚度从几纳米到几十微米Ø 可测最高三层透明薄膜Ø 测量薄膜折射率Ø 微纳器件动态三维形貌时序图（1000fps）， 还可测频率响应（高达25MHz） 主要应用北京大学 搭建平面应变鼓膜实验平台测量纳米薄膜的动态力学性能天津大学 微结构表面形貌和运动特性测量华中科技大学 微纳制造与测试，微小光学元件检测，微电子制造封装与测试清华大学 透射式全息显微镜，测量透明样品形貌，还可以测量材料光学参数、内部结构以及缺陷杂质等 • 超快速高精度的三维成像，大面积三维形貌表征，表面粗糙度，MEMS振动测量分析，表征微流体器件和微颗粒三维追踪测试配合MEMS Analysis Tool、光学反射软件Reflectometry Analysis等专用软件实现更多功能[img=,600,400]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131410_01_1546_3.gif[/img][img=,690,]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131410_02_1546_3.jpg[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131410_03_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131410_04_1546_3.gif[/img]
三维显微激光拉曼光谱仪三维显微激光拉曼光谱仪装置Nanofinder30 Nanofinder30 三维显微激光拉曼光谱仪装置是日本首创,世界最初的分析装置。它能在亚微米到纳米范围内,测定物质化学状态的三维图像。它由共焦激光显微镜,压电陶瓷平台(或电动扫描器)和光谱仪组成。并能自选追加原子力显微镜和近场表面增强拉曼测定的功能。 最新测量数据[ 变形Si的应力测定]PDF刊登 用二维的平面分析来评价变形Si。空间分辨率130nm, 变形率0.01%(0.1cm偏移)。 半导体/电子材料(异状物,应力,化学组成,物理结构)薄膜/保护膜(DLC,涂料,粘剂)/界面层,液晶内部构造结晶体(单壁碳纳米管,纳米晶体)光波导回路,玻璃,光学结晶等的折射率变化生物学(DNA, 蛋白质, 细胞 组织等) 以亚微米级分辨率和三维图像,能分析物质的化学结合状态空间分辨率200nm(三维共焦点模式),50nm(二维TERS模式)能同时测定光谱图像(拉曼/萤光/光致荧光PL),共焦显微镜图像,扫描探针显微镜图像(AFM/STM)和近场表面增强拉曼图像(SERS)能高速度,高灵敏度地测定样品(灵敏度:与原来之比10倍以上)不需要测定前样品处理,在空气中能进行非破坏测定全自动马达传动系统的作用,测定简单 共焦显微镜模式不能识别结晶缺陷,然而光致荧光(PL)模式却能清楚地测到结晶缺陷 共焦激光显微镜模式的形状测定 光谱窗 560 nm 用光致荧光(PL)模式测到的结晶缺陷的光谱图像(560nm的三维映像) 用AFM和共焦显微拉曼法同时测定CNT,能判定它的特性 (金属,半导体)和纯度。 同时测定单壁碳纳米管(CNT)的原子力显微镜(AFM) 形貌图像和拉曼光谱图像的例子 :拉曼光谱: 激光488nm,功率1.5mW,曝光时间2 sec,物镜100×Oil, NA=1.35, 积分时间100 sec (AFM和拉曼图像测定时) AFM形貌图像(右上)表示了单壁碳纳米管混合物的各种形状结构。图像中用数字1到8来表示其不同形状。数字1-6测得了拉曼光谱(上图所示),判定为半导体CNT。但7-8测不到拉曼光谱,所以不是半导体CNT,而可能是金属CNT(可用He-Ne激光633nm验证)。最上面表示了RBM(173cm-1), G-band(1593cm-1)及D-band(1351cm-1)的拉曼光谱图像 综合激光器和光谱分析系统的长处,坚固耐用的复合设计,卓越的仪器安定性,是纳米技术测定装置中的杰出产品。 ※日本纳米技术2004大奖“评价和测量部门”得奖. ※日本第16届中小企业优秀技术和新产品奖 “优良奖”得奖. 光学器件配置图Nanofinder30 [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/12/200812071751_122565_1634361_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/12/200812071751_122566_1634361_3.jpg[/img][~122567~][~122568~]
【微观看世界】+ 锰酸锂的形貌观察锰酸锂主要为尖晶石型锰酸锂，尖晶石型锰酸锂LiMn2O4是Hunter在1981年首先制得的具有三维锂离子通道的正极材料，至今一直受到国内外很多学者及研究人员的极大关注，它作为电极材料具有价格低、电位高、环境友好、安全性能高等优点，是最有希望取代钴酸锂LiCoO2成为新一代锂离子电池的正极材料。锰酸锂是较有前景的锂离子正极材料之一，相比钴酸锂等传统正极材料，锰酸锂具有资源丰富、成本低、无污染、安全性好、倍率性能好等优点，是理想的动力电池正极材料，但其较差的循环性能及电化学稳定性却大大限制了其产业化。锰酸锂主要包括尖晶石型锰酸锂和层状结构锰酸锂，其中尖晶石型锰酸锂结构稳定，易于实现工业化生产，如今市场产品均为此种结构。尖晶石型锰酸锂属于立方晶系，Fd3m空间群，理论比容量为148mAh/g，由于具有三维隧道结构，锂离子可以可逆地从尖晶石晶格中脱嵌，不会引起结构的塌陷，因而具有优异的倍率性能和稳定性。下面就来关注下他的微观形貌吧。测试仪器：SEM+EDS仪器型号：JEOL JSM-6460LV测试标准：JY/T 010-1996测试条件：见图片标识测试结果：见图片http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/09/201409061537_513048_2042772_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/09/201409061537_513049_2042772_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/09/201409061537_513050_2042772_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/09/201409061537_513051_2042772_3.jpg
对于一些固态相变析出的第二相，如何根据其在照片中的特征确定其三维形貌？plate，needle，rods在某个方向观察效果是一样。如何确定他们的 差别呢？
成都地区有使用激光共聚焦显微及三维光学轮廓仪的吗？想测量一下激光烧蚀后的深度及形貌。感兴趣的可以用这两种仪器测量一下SPARK-OES烧蚀坑的深度及形貌，分析一下烧蚀形貌的特点。最好 估算一下烧蚀的样品量，与大家分享一下。
拍的一些样片[img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271527_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271527_02_1546_3.gif[/img][b]光敏聚合物受光形变 plots-3D[/b][img=,384,244]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271527_03_1546_3.png[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271528_02_1546_3.gif[/img][b]红细胞 电化学刻蚀[/b][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271528_03_1546_3.png[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271528_04_1546_3.gif[/img][b]静态三维形貌 加热降解[/b][img=,364,204]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271528_05_1546_3.gif[/img]电化学刻蚀[img=液体透镜形变,363,204]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271422_01_1546_3.gif[/img][img=24.7MHz表面声波,360,202]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271422_03_1546_3.gif[/img][b]液体透镜形变 24.7MHz表面声波[/b][img=MEMS麦克风,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271423_01_1546_3.gif[/img][img=MEMS微镜,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271424_01_1546_3.gif[/img][b]MEMS麦克风 MEMS微镜 [/b][img=,384,200]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271436_01_1546_3.gif[/img][b]酵母菌[/b]
科技日报 2012年03月24日 星期六 本报讯 据美国物理学家组织网3月21日报道，美国科学家在3月22日出版的《自然》杂志上表示，他们发明了一种直接测量纳米材料原子结构的新方法，让他们首次得以看见纳米粒子内部的情况，并获得其单个原子及原子排列的三维图像。最新研究有望大大改进医学和生物学等领域广泛使用的X射线断层照相术获得图像的清晰度和质量。 加州大学洛杉矶分校物理学和天文学教授兼加州纳米系统研究所研究员苗建伟（音译）领导的团队使用一个扫描透射电子显微镜，在一个直径仅为10纳米的微小金粒子上方扫射了一束狭窄的高能电子。这个金纳米粒子由成千上万个金原子组成，每个金原子的大小仅为人头发丝宽度的百万分之一，它们与通过其上的电子相互作用，产生的阴影包含有金纳米粒子内部结构的信息，这些阴影被投射到扫描镜下方的一个探测器上。 研究小组从69个不同的角度进行测量，将每个阴影产生的数据聚集在一起，形成了一个纳米粒子内部的三维结构图。使用这种名为电子断层摄影术的方法，他们能直接看到单个原子的情况以及单个原子在特定的金纳米粒子内的位置。 目前，X射线晶体照相术是让分子结构内的原子三维可视化的主要方法。然而，这一方法需要测量很多几乎完全一样的样本，然后再将得到的结果平均。苗建伟说：“一般平均需要扫描数万亿个分子，这会导致很多信息丢失。而且，自然界中的大部分物质都是结构不如晶体结构那么有序的非晶体。”他表示：“现有技术主要针对晶体结构，目前还没有直接观察非晶体结构内部原子的三维情况的技术。探索非晶体材料的内部情况非常重要，因为结构上一点小小的变化都会大大改变材料的电学属性。例如，半导体内部隐藏的瑕疵会影响其性能，而新方法会让这些瑕疵无所遁形。” 苗建伟和他的同事已经证明，他们能为一个并非完美的晶体结构（比如金纳米粒子）摄像，晶体可小至0.24纳米，一个金原子的平均大小为0.28纳米。实验中的金纳米粒子由几个不同的晶粒组成，每个晶粒形成一块拼图，其中的原子采用些许不同的模式排列。纳米结构具有隐藏的晶体断片和边界，同由单一晶体结构组成的物质不同，新方法首次在三维层面实现了纳米粒子的内部可视化。 （刘霞）
Zeta 200自动三维测量系统Zeta 200是集多种测量手段于一身的高级表面测量系统。它功能配备齐全，使用方便，是三维测量系统中性能价格比最优的选择。Zeta 200能够自动采集样品上多点的工艺参数，如台阶高度、体积、尺寸及粗糙度等，为您提供监管及优化生产流程所需的数据。· 自动多点、多配方测量样品· 200毫米x200毫米XY轴驱动范围· 粗糙表面成像与分析· 金属栅线形状与尺寸测量· 防反射膜及光刻胶厚度分析· 真空吸盘保证样品定位一致· 本色三维成像· 台阶高度，线与面粗糙度、角度及尺寸测量Zeta 200特色功能1.多点测量 用户可按其所需设置每片样品上的采样点数——少许几点往往适用于快速检测，多点则可用于详细分析。2.大面积成像 Zeta 200可自动按次序对多个视场进行成像，然后由软件拼接成一张大面积的样品表面三维图像。3.自动形貌特征测量 用户可设置操作配方对样品的各种指定形貌特征如尺寸、间距、高度甚至整片样品的弧度等进行自动测量。标准系统配置显微镜系统光源：高亮度白光LED物镜：5x,10x,20x,50x,100x耦合透镜：0.5x自动载物台：200毫米x200毫米XY驱动范围Z轴：30毫米纵向驱动范围数码相机: 1024x768像素,1/3 英寸CCD计算机控制系统处理器：英特尔®酷睿2 双核（最低2.5GHz）随机存储器3GB硬盘驱动器：320GB显示器：22英寸宽屏液晶显示器（1680x1050像素） Zeta 三维测量软件实时视频成像快速数据采集（每处1分钟）三维表面浏览：倾斜，旋转，缩放，过滤•体积计算二维表面分析：特性尺寸，直径，面积图案间距，标准偏差表面粗糙度区域平均台阶高度轮廓测量台阶高度与粗糙度多横截面分析平均值测量标尺倾斜度与表面波度补偿阵列式采样序列自动数据与图像输出用于生产线SPC
拍了一些样片[img]http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/emyc1009.gif[/img][img=液体透镜形变,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271422_01_1546_3.gif[/img][img=24.7MHz表面声波,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271422_03_1546_3.gif[/img][b]液体透镜形变 24.7MHz表面声波[/b][img=MEMS麦克风,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271423_01_1546_3.gif[/img][img=MEMS微镜,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271424_01_1546_3.gif[/img][b]MEMS麦克风 MEMS微镜[/b][img=MEMS悬臂梁,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271425_01_1546_3.gif[/img][img=MEMS微执行器,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271425_02_1546_3.gif[/img][b]MEMS悬臂梁 MEMS微执行器[/b][img=超声传感器,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271426_01_1546_3.gif[/img][img=动态形貌,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271426_02_1546_3.gif[/img][b]超声传感器 动态形貌刻蚀[/b][img=,384,192]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271435_01_1546_3.gif[/img][img=,384,244]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271435_02_1546_3.png[/img][b]细胞筛选-HeLa cells treated with Doxorubicin 红细胞3D图[/b][img=,384,200]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709271436_01_1546_3.gif[/img][b]酵母菌[/b]
不知道我说清楚了没有感觉SEM拍一个有一定高度差的形貌时，一般都是某一层面达到最清晰，其他层面会虚化，这样的话没法看到直观的三维全貌不知软件有没有这种处理功能或者说SEM本身有这种操作技巧可以实现三维全貌的PS：日本电子场发射
APT（atom probe tomography）技术是目前定量分析纳米尺度不同元素原子分布最微观的先进技术。图1是三位原子探针工作原理示意图，如图所示，采集数据时，样品分析室必须达到超高真空（一般小于10[sup]-8[/sup]Pa的真空度），然后将样品冷却至低温（20-80K，取决于样品性质），以减小样品中原子的热振动。样品作为阳极接入1-15KV正高压，使样品尖端原子处于待电离状态。在样品尖端叠加脉冲电压或脉冲激光后，其表面原子就会电离并蒸发。用飞行时间质谱仪（time of flight, TOF）测定蒸发离子的质量/电荷比值，从而得到该离子的质谱峰以确定其元素种类。用位置敏感探头记录飞行离子在样品尖端表面的二维坐标，通过离子在纵向的逐层累积，确定该离子的纵向坐标，进而给出不同元素原子的三维空间分布图像。图1为上海大学三维原子探针仪器示意图。[align=center][img=,515,315]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707051546_01_2423358_3.png[/img][/align][align=center][b]图1 三维原子探针实验仪器图[/b][/align]APT式样的制备要求也很高，具体如下：首先，利用电火花线切割将片状样品加工成0.5mm×0.5mm×15mm的棒状样品。采用两次普通电解抛光的办法获得晶界距离样品尖端仅几十纳米的概率很低，但距离为几百纳米的概率会高很多。电解抛光后的针尖状样品安装在改造后的TEM样品杆上，利用TEM观察针尖样品，确定针尖的曲率半径，晶界与针尖尖端的距离，及通过SAED确定晶界两侧晶粒的取向关系。[align=center][img=,329,254]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707051546_02_2423358_3.png[/img][/align][align=center][b]图2 三维原子探针实验仪器图[/b][/align]将那些样品尖端附近几百纳米范围内含有晶界的样品挑选出来进行毫秒脉冲电解抛光，经过这样的精细抛光后，可使得晶界距离样品尖端更近。经过多次试验统计，样品经过20V，1ms的脉冲电解抛光可以使样品尖端减短75～400nm。这样，利用毫秒脉冲电解抛光的办法，对已含有晶界的针尖样品进行精细抛光，可以获得合适APT分析晶界偏聚的针尖样品，如图3所示。[align=center][img=,690,517]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707051547_01_2423358_3.jpg[/img][/align][align=center][b]图3 三维原子探针针尖状式样图[/b][/align]
领导要求调查一下扫描探针（原子力）显微镜，打算购买一个，我看了一下，国内外的很多家单位都有产品，这下不知道怎么搞了，也不知道性能上怎么区分啊。我们的要求是首先满足最低要求，能观测三维形貌，测量厚度，其次再考虑其他的功能模块。也就是说满足首先条件，预留其他功能窗口，大家帮忙推荐一下。也可以直接发我的信箱guigxms@163.com，宋。谢谢
原子力显微镜 原子力显微镜 atomic force microscope 一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时它将与其相互作用，作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面结构信息。它主要由带针尖的微悬臂 、微悬臂运动检测装置、监控其运动的反馈回路、使样品进行扫描的压电陶瓷扫描器件、计算机控制的图像采集、显示及处理系统组成。微悬臂运动可用如隧道电流检测等电学方法或光束偏转法、干涉法等光学方法检测，当针尖与样品充分接近相互之间存在短程相互斥力时，检测该斥力可获得表面原子级分辨图像，一般情况下分辨率也在纳米级水平。AFM测量对样品无特殊要求，可测量固体表面、吸附体系等。 原子力显微镜:是一种利用原子,分子间的相互作用力来观察物体表面微观形貌的新型实验技术.它有一根纳米级的探针,被固定在可灵敏操控的微米级弹性悬臂上.当探针很靠近样品时,其顶端的原子与样品表面原子间的作用力会使悬臂弯曲,偏离原来的位置.根据扫描样品时探针的偏离量或振动频率重建三维图像.就能间接获得样品表面的形貌或原子成分. 优点与缺点 相对于扫描电子显微镜，原子力显微镜具有许多优点。不同于电子显微镜只能提供二维图像，AFM提供真正的三维表面图。同时，AFM不需要对样品的任何特殊处理，如镀铜或碳，这种处理对样品会造成不可逆转的伤害。第三，电子显微镜需要运行在高真空条件下，原子力显微镜在常压下甚至在液体环境下都可以良好工作。这样可以用来研究生物宏观分子，甚至活的生物组织。 和扫描电子显微镜(SEM)相比，AFM的缺点在于成像范围太小,速度慢，受探头的影响太大。[~116643~][~116644~][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191651_624039_1602049_3.jpg[/img]
【微观看世界】+ 三元材料的形貌观察 三元材料，为单分散球形颗粒，流动性好，容易提高电池体积比容量，与其他物料混合性好，加工性能出色，利于提高极片质量，颗粒大，安全性高，放电平台稳，容量高，同时价格低廉，是钴酸锂的极佳替代产品。下面就来观察一下他的微观形貌吧。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/09/201409061507_513046_2042772_3.jpg测试仪器：SEM+EDS仪器型号：JEOL JSM-6460LV测试标准：JY/T 010-1996测试条件：见图片标识测试结果：见图片http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/09/201409061450_513038_2042772_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/09/201409061450_513039_2042772_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/09/201409061450_513040_2042772_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/09/201409061450_513041_2042772_3.jpg
数字全息显微镜DHM测量材料动态的3D形貌，亚纳米分辨率，基于菲涅尔衍射的数字全息重建技术 [table=100%][tr][td][img=动态3D细胞监测,690,138]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/11/201711241018_01_1546_3.jpg!w690x138.jpg[/img]仅0.001秒即可测出物体三维形貌，并且是亚纳米的分辨率。不同于传统白光干涉仪、共聚焦显微镜、扫描探针轮廓仪等需要扫描的成像方式，DHM仅需0.001秒采集单张全息图即可测出物3D形貌信息，做到了快速动态监测。 和传统全息术不一样的是没有采用干板而是采用CCD记录全息图，全息图中 光强图：提供与传统显微镜一样对比度的图像 相位图：提供量化数值，得以对被测物体进行精确三维测量 该系统为预放大全息显微镜，其中的相位图解析中用到了大量的算法，实时相位解包裹技术 实时形貌测量的案例二：石墨烯薄膜受力形变实时测量[img=薄膜形变实时测量,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/11/201711241030_01_1546_3.gif!w384x216.jpg[/img][img=MEMS面内面外运动测量,201,220]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/11/201711241030_02_1546_3.gif!w201x220.jpg[/img][/td][/tr][/table]
看到有人发电池材料的相关照片，我也发几张磷酸铁锂粉的形貌像仪器型号：TESCAN VEGA 3 LMU 钨灯丝电镜测试条件：见照片信息栏10kV加速电压下的形貌：http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/09/201409170858_514116_2054130_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/09/201409170858_514117_2054130_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/09/201409170858_514118_2054130_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/09/201409170858_514119_2054130_3.jpg3kV加速电压下的形貌：http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/09/201409170901_514120_2054130_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/09/201409170901_514121_2054130_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/09/201409170901_514122_2054130_3.jpg
[img=原子力显微镜形貌图,690,299]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/02/201902131040260712_6929_728_3.png!w690x299.jpg[/img]
关于二次电子图像的剥离如何区分形貌相和组成相？用两个检测器？谢谢 ！！！
原子荧光自动进样器吉天的是圆盘形的，海光的用的是三维进样器，不知道是那种进样方式好，有人说三维方式进样器会引起甩液的现象，不知道大家有什么见解。
金属纳米颗粒由于其良好的电学、光学、热导、催化以及磁学性质而得到广泛的研究。近年来，金属纳米颗粒奇异的光学性质引起人们极大的兴趣。其中，金银纳米颗粒由于在可见和红外光频区有着很好的表面等离子体共振性质而格外引人注目，在表面增强光谱、生物检测等方面具有巨大的应用前景。通过控制纳米颗粒的形貌可以有效的调制金属纳米颗粒的表面等离子体共振性质。因此，获得不同形貌的金属纳米颗粒是最近兴起的表面等离子体光子学研究领域中重要的研究方向之一。 最近，中国科学院物理研究所/北京凝聚态物理国家实验室徐红星研究员研究组的梁红艳同学和王文忠教授首次用多羟基醇还原法合成了一种外形为纺锤状的银纳米颗粒（Ag Nanorice），并与李建奇研究员研究组的杨槐馨副研究员合作，发现这种银纳米颗粒为六方相和立方相交生形成，内部存在孪晶，堆垛层错，多重调制等多种缺陷结构，并且缺陷密度在银纳米颗粒的不同部位有着明显区别，这种微结构突破了传统银纳米颗粒常规的单晶、孪晶特性，决定了具有均一米状形貌的新奇银纳米颗粒的高产率合成。该项研究的意义不仅在于为有效调制表面等离子体共振特性提供新的纳米结构，还在于这种堆垛结构可能打破晶体生长时晶体结构对形貌的限制，为设计合成所需形貌晶体带来曙光。这将丰富纳米晶体结构控制生长的内涵，深化对金属晶体生长规律的认识，拓展金属纳米结构在光谱分析、超灵敏检测等方向的应用，因而具有十分重要的实际意义。 该工作发表于近期的J. Am. Chem. Soc. 131，6068-6069（2009）上。此项研究获得国家自然科学基金委杰出青年基金,科技部重大项目,中科院知识创新工程和教育部的“985”和“211”等项目的资助。
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