原子力三维形貌像

三维表面形貌仪配件是德国进口的高精度多功能表面轮廓测量仪器，也是一款光学表面形貌仪,非常适合对表面几何形状和表面纹理分析。 三维表面形貌仪配件根据国际标准计算2D和3D参数，使用最新的ISO 25178 标准表面纹理分析，依靠最新的 ISO 16610 滤除技术进行计算，从而保证了国际公信力，以标准方案或定制性方案对二维形貌或三维形貌表面形貌和表面纹理，微米和纳米形状，圆盘，圆度，球度，台阶高度，距离，面积，角度和体积进行多范围测量，创造性地采用接触式和非接触式测量合并技术，一套表面形貌仪可同时具有接触式和非接触式测量的选择。 三维形貌仪配件参数： 定位台行程范围：X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (电动) 接触式测量范围： 范围0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s 范围2.5mm 分辨率40nm, 速度3mm/s 非接触式测量范围： 范围：300um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围：480um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围：1mm, 分辨率5nm, 速度30mm/s 范围：3.9mm , 分辨率15nm, 速度30mm/s 表面形貌仪配件应用：测量轮廓，台阶高度，表面形貌，距离，面积，体积 分析形态，粗糙度，波纹度，平整度，颗粒度 摩擦学研究，光谱分析 磨料磨具，航天，汽车，化妆品，能源，医疗，微机电系统，冶金，造纸和塑料等领域。

SPIP软件目前支持多种仪器的96种格式数据文件Image Metroogy 由Dr.Jan Friis J rgensen于1998年创立。Image Metrology是一所以客户为导向，不断发展的公司。公司位于离丹麦首都哥本哈根不远的城市。Image Metrology的主要产品，SPIP是可视化、修正，分析以及SPM数据报告方面的软件包。此软件包被SPM数据研究分析人员奉为标准。SPIP对于扫描电镜以及透射电镜、共聚焦显微镜、光学轮廓仪以及干涉仪等的图像分析也是很强大的。SPIP软件图像研究机构，在高新科技研发以及高校研究所运用。SPIP是专业的纳米以及微尺度图像处理的高科技软件公司，目前产品被应用于60多个国家的各个主要研究机构。SPIP95文件格式支持各种仪表类型,包括:SPM、AFM、扫描隧道显微镜、SEM、TEM、干涉仪共焦显微镜和光学显微镜,分析器。SPIP是一个模块化软件包，可提供包含14个具有特定功能的模块。SPIP应用，主要应用包括半导体检验、物理、化学、生物学、计量和纳米技术等方面。SPIP 三维图像处理软件：多年来，SPIP扫描探针图像处理软件，已成为纳米尺度的图像处理的实质意义的标准。SPIP图像处理软件是一个模块化的软件包，提供一个基本的软件模块和14个可选的用于特定的目的软件附件。是一个资申用户或刚刚学习图像分析的入门新手，使用SPIP图像处理软件，您只需点击几下鼠标即可获得您需要的分析结果。SPIP图像分析软件被用于，包括半导体物理，化学，生物学检验，计量，纳米技术等各种领域。您可从我们客户应用的经历获知更多应用领域。SPIP图形分析软件亦被用于学术研究和论文出版。在SPIP网站您可以看到824篇使用SPIP进行图形分析的论文列表。SPIP软件目前支持多种仪器的96种格式数据文件。包括： 扫描探针显微镜（SPM），原子力显微镜（AFM），扫描隧道显微镜（STM） 扫描电子显微镜（SEM），透射电子显微镜（TEM） 干涉仪 共焦显微镜 三维轮廓仪RoughnessPro——轮廓粗糙度 使用RoughnessPro您可以根据ISO标准来评估个别剖面及剖面集合的轮廓粗糙度。RoughnessPro——三维图像缝合 topoStitch是表面形貌图像缝合的简单及准确的方法。您可以从原子力显微镜（AFM），扫描探针显微镜（SPM），干涉仪（Profilers,），共焦显微镜及其他更多的设备上进行三维图像及表面形貌缝合。

表面形貌仪配件又称为光学形貌仪或三维形貌仪，它除了用于测量物件的表面形貌或表面轮廓外，具有测量晶圆翘曲度的功能,非常适合晶圆,太阳能电池和玻璃面板的翘曲度测量，应变测量以及表面形貌测量。 三维形貌仪主要配件应用 用于太阳能电池测量 用于半导体晶圆测量 用于镀膜玻璃的平整度（Flatness)测量 用于机械部件的计量 用于塑料,金属和其他复合型材料工件的测量 表面形貌仪配件特色 *除了表面形貌的测量，还可以测量张量和应力（简单）； *可测量晶圆的尺寸为0.5' ' 到12' ' , 最高可达45x45cm的尺寸，对于小于0.5' ' 的晶圆或样品，可配备微距镜头。 *测量晶圆或其他样品的表面形貌,粗糙度和翘曲度； *克服常见干涉仪在粗糙表面（油漆）表现不足的问题； *非接触式测量

三维表面轮廓仪配件是德国进口的高精度多功能表面轮廓测量仪器，也是一款光学轮廓仪,非常适合对表面几何形状和表面纹理分析。 三维表面轮廓仪配件根据国际标准计算2D和3D参数，使用最新的ISO 25178 标准表面纹理分析，依靠最新的 ISO 16610 滤除技术进行计算，从而保证了国际公信力，以标准方案或定制性方案对2D轮廓或三维轮廓表面形貌和表面纹理，微米和纳米形状，圆盘，圆度，球度，台阶高度，距离，面积，角度和体积进行多范围测量，创造性地采用接触式和非接触式测量合并技术，一套表面轮廓仪可同时具有接触式和非接触式测量的选择。 三维轮廓仪配件参数： 定位台行程范围：X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (电动) 接触式测量范围： 范围0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s 范围：2.5mm 分辨率40nm, 速度3mm/s 非接触式测量范围： 范围：300um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围：480um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围：1mm, 分辨率5nm, 速度30mm/s 范围：3.9mm , 分辨率15nm, 速度30mm/s 表面轮廓仪配件应用：测量轮廓，台阶高度，表面形貌，距离，面积，体积分析形态，粗糙度，波纹度，平整度，颗粒度 摩擦学研究，光谱分析磨料磨具，航天，汽车，化妆品，能源，医疗，微机电系统，冶金，造纸和塑料等领域。

材料简介：三维石墨烯网络是在泡沫金属基底上通过化学气相沉积高温生长石墨烯薄膜层，借助泡沫基底的三维多孔骨架，生长成石墨烯的三维网络。三维石墨烯具有体表面积大，导电性佳，质量轻等特点。 应用领域：1）适用于超级电容、锂离子电池、铝电池、纳电池等电化学能源存储器件。2）适用于化学传感器、气体传感器领域。尺寸：5*10cm

三维石墨烯泡沫（1*1厘米）-三维独立石墨烯泡沫 3D Graphene Foam-3D Freestanding Graphene Foam尺寸：1*1厘米热释放带温度：120 °C

该电动三维位移台是一款无刷直线伺服电机驱动的电动直线位移台，融合了高速高精度的特点，具有亚微米的定位精度,三维位移平台可以为用户带来高工作量/吞吐量,最大负载高达50kg，最高速度高达3m/s.主要特色：三维位移台精确导向系统为高速度长行程提供稳定的定向和导向保障 三维位移台强大的直线电机提供高负载能量和大驱动力；三维移动台高分辨率直线编码器（光栅尺）提供精确的定位反馈和闭环数字伺服控制；三维移动台具有美国制造的坚固耐用特性，高可靠性，长期工作。产品特色：这款三维位移平台采用直接驱动的直线电机用于位移台的定位。这种技术与传统的导螺杆驱动的位移台相比，具有明显的优势：三维位移平台没有螺杆驱动系统中出现的弹性形变问题，可保障更为复杂而精密的定位轨迹，更短的设置和行进时间，更高的重复精度，更快的伺服反应。*三维位移台,三维移动台,三维位移平台这种技术没有旋转惯性，可获得更高的加速度和行进速度。*三维位移台,三维移动台,三维位移平台台消除了旋转部件的磨损问题，具有更高的可靠性，更长的工作时间和寿命，更长的检修间隔时间，大大降低用户的使用成本。*三维位移台,三维移动台,三维位移平台这种直接驱动的直线电机具有高分辨率的编码器,可以精确调节速度，这种直线电机和其它部件可经过特殊处理具有真空兼容性，用于真空环境。产品描述：这款三维位移台,三维移动台,三维位移平台的所有结构材料都是高强度的铝合金材料，材料表面经过精密机械加工，并进行硬质阳极氧化镀膜（涂层）成浅灰色。电动直线位移台采用两个带有再循环线性轴承的精密方形导轨作为承载部件，它由预加载的滚珠器件精密导引，这种导向系统只需要标准的润滑服务，不需要其他维护。这款三维位移台,三维移动台,三维位移平台尺寸紧凑，驱动电机不单独外悬，直线电机,编码器和电缆等驱动部件安装于位移台底座，这种设计从而避免了那些外悬电机等核心部件受冲击等损害，具有更为安全的结构。这款三维位移台,三维移动台,三维位移平台采用再循环轴承系统并配带精密导轨支撑位移台高速度，高精度运动。三维位移台,三维移动台,三维位移平台使用的高强度铝合金材料，精密机械加工工艺把电动位移台的刚度和稳定性发挥到极致。三维位移台,三维移动台,三维位移平台对于铝材料的标准处理是阳极氧化硬质涂层，对于不修钢部件采用抛光处理，对于特殊要求，比如Teflon特氟隆浸渍硬质涂层，非阳极氧化处理，化学镀镍等都可为用户提供。产品应用：这个系列三维位移台,三维移动台,三维位移平台是无刷直线电机（Brushless linear motor)驱动的电动位移台, 即使在高负载情况下也有超高可靠性和精密定位能力，是高负载,高精度高可靠性的最佳电动直线位移台。三维位移台,三维移动台,三维位移平台具有超高加速能力和行进速度.这种电动直线位移台具有更小的惯性,比传统的罗杆驱动等机械传动的位移平台更适合应用.根据牛顿定律可知,负载的轻重直接影响到加速度,这款直线电动位移台,具有较高的加速度和运行速度, 能够帮助用户减少时间而提供工作量.直线电动位移台,电动直线位移台,电动位移台。产品规格和型号参数行程范围：125-750mm驱动系统：无刷直线电机最大加速度： 取决于负载最大速度：3米/秒（无负载时）最大峰值力：800N最大连续力：160N最大负荷：XY平台50Kg，Z轴25kg反馈系统：非接触式直线编码器系统TTL分辨率：5 μm, 1μm, 0.5μm,0.25μm, 0.2μm,100 nm & 50 nm重复精度：5x分辨率构造：铝合金主体，硬质灰色阳极镀膜 型号LX-8125LX-8375LX-8500LX-8625LX-8750行程（mm)125375500625750精度 Standard SP 标准型± 11μm± 12μm± 16 μm± 18μm± 22 μm High Precision HP高精度型± 5 .5μ± 7 μm± 8 μm± 10 μm± 11 μm平整度 Standard SP标准型± 6 μm± 12 μm± 20 μm± 28 μm± 36 μm High Precision HP高精度型± 4 μm± 6 μm± 10 μm± 14 μm± 18 μmYaw/Pitch/Roll Standard SP20 arc-sec20 arc-sec20 arc-sec20 arc-sec20 arc-sec High Precision HP10 arc-sec10 arc-sec10 arc-sec10 arc-sec10 arc-sec2 axis systemOrthogonalityStandard SP20 arc-sec20 arc-sec20 arc-sec20 arc-sec20 arc-secHigh Precision HP5 arc-sec5 arc-sec5 arc-sec5 arc-sec5 arc-secExtra High Precision XHP3 arc-sec3 arc-sec3 arc-sec3 arc-sec3 arc-sec

三维子弹检验仪配件是子弹分析和识别领域的最新弹痕分析仪器，它采用了枪械和子弹痕迹比较显微镜的最新成果，用于分析子弹和射击后的弹壳痕迹。三维子弹检验仪配件特色具有子弹壳和枪管特性和专业的定制分析软件，全自动技术可以在几秒内获得极为详细的3D模型，增加了分析的可靠性，它突破了传统的技术，使用实验室自动机子检验系统，在实验过程中，降低了操作者与样品间的人为因素，大大提高分析的科学性和客观性。三维子弹检验仪配件功能为子弹特征定制的软件法医学应用范围其它检查模块实验室自动机子弹检测技术USB3.0摄像头用于快速分析自动化控制在XYZ上的样品结果非常精确Windows 7 超快速计算机特点增强的3D模型，用于比较用于快速自动识别的强大软件（1秒分析）三维子弹检验仪配件特点这种自动检验仪采用全球领先的介观技术，采用LED图形微型投影器，通过将立体数据与物体的独特指纹比对来建立细节详细的3D模型。3D模型可以用来获取重要参数，使用参数从数据库中鉴别和比较样本，使这个仪器成为检查“中观”对象的最快和 最强大的工具。 该技术整合到实验室自动机，是全自动化的。为子弹特性定制的软件 使用便利的数据库和比较射击后留在子弹上的特殊标记，为子弹表征和匹配子弹发射枪械的终极工具。该软件的一些独特功能：自动 校准，像素分辨率增强和2D 测量，使用数学算法将子弹特征二值化使子弹能够进行比较，和为光投射模式使用检测器的对所有表面进行3D建模，自动控制硬件和所有阶段的分析，可定制图表和图形以及自动生成报告，将会使检查速度更快，更准确，可重复性更高可以对子弹上的标记进行最高精度分析。标记可以存储在数据库中，并与其他子弹的标记进行比较。该软件可以将枪管里形成的槽与地面印记，和实验室自动机子弹检测系统获得的弹槽作比较。该软件促进了同一枪管发射的两发子弹之间的比较。软件可以将所有特性的子弹与弹壳匹配：后膛标记点火栓标记提取针发射标记 三维子弹检验仪配件 法医学应用范围枪械及工具痕迹实验室自动机比较显微镜是用来分析子弹和匹配开枪后留在弹壳上的类似指纹的条纹或线条。匹配指纹有助于检查人员识别武器是否在先前的犯罪行动中使用过。该系统有助于表征枪管细节与子弹细节的比较。比较技术包括一个完整过程来促进子弹表征和比较。可以自动确定各种特性的子弹：-地面和槽的数目-地面和槽的宽度-地面和槽的深度-倾斜-转动三维子弹检验仪和以根据枪管剖面和弹壳信息（使用Microptik枪管检查工具获得）重构子弹，弹壳和枪管的3D结构，并将使用枪管的小槽和条纹与子弹留在地面和槽印记匹配。使用该软件，法医研究人员可以比较所有立体图案，来帮助将子弹与枪管和弹壳匹配。附件检测模块?后膛印记?提取针标记?发射标记子弹印记和标记可以以最高精度进行分析。标记可以被存储在数据库中，并与其他子弹的标记进行比较。使用此附加模块，实验室自动机子弹检查的系统的能力可扩展到分析箱的内部。特点如下：?点火栓印记Lab-robot® Shell casing inspection实验室自动机弹壳检测枪管检测工具包包括用于枪管内检测的内窥镜，增强的光纤照明和软件附加功能。枪管剖面会沿着土地和槽显示小凹槽或条纹。这些都是枪管脱膛时产生的。所有枪管的标记都不同。这些标记会在子弹上留下独特的条纹或印记。因此可以根据标记将子弹与特定枪支匹配。 Microptik提供了一个完整的工具包，用来检查枪管特性（如土地和槽）对于小型枪械，可以将枪管放置在实验室自动机系统里，使用高精度内窥镜进入枪管，并获得枪管内部的所有相关特征。该软件可以将枪管里形成的槽与地面印记，和实验室自动机子弹检测系统获得的弹槽作比较。该软件促进了同一枪管发射的两发子弹之间的比较。

3M三维立体双面导电胶带 3M三维立体双面导电胶带9712（3M™ XYZ-Axis Electrically Conductive 9712）3M双面导电胶带9712是压敏导电胶带，各向同性。内部含有3M 导电纤维，保证了双面都有很好的导电和粘结性能，满足了很多微电子行业和电子显微镜领域工作要求。工作耐受温度70°C，短时可忍受121°C。3M双面导电胶带9713相比9712有更佳的性能表现。货号产品描述规格397123M三维立体双面导电胶带9712（3M™ XYZ-Axis Electrically Conductive 9712）， 6.35mm (W) x 32.9m (L)ROLL397133M三维立体双面导电胶带9713（3M™ XYZ-Axis Electrically Conductive 9713）， 12.7mm (W) x 32.9m (L)ROLL

SA18-3A三维可微调拉曼/荧光测量平台 1 产品简介SA18-3A是一款紧凑型的三维可微调测量平台，适用于本公司的各系列拉曼探头和荧光探头。该产品可提供水平轴向60mm，水平纵向55mm的行程，读数精度1mm，同时竖直方向行程为100mm。 2 产品特性 ? 三维连续调节；? 快速定位；? 微调精度1mm。3 产品参数产品参数SA18-3A底座尺寸380×60×20mm水平平移台尺寸187×160mm竖杆高度300mm水平方向行程轴向60mm，纵向55mm竖直方向行程100mm读数精度1mm支架总重4kg适用产品RPB 拉曼探头系列/FPB 荧光探头系列4 使用示意图

三维石墨烯泡沫（1*1英寸）三维独立石墨烯泡沫 3D Graphene Foam-3D Freestanding Graphene Foam尺寸：11*1英寸热释放带温度：120 °C

细胞最适宜在3D环境中生长!　　南京瑞康健采用精密3D打印技术开发的适宜于细胞三维生长的规则性多孔三维细胞培养支架，具有100%孔隙连通性，比表面积是2D的7倍， 可以在长时间内无需胰酶消化而进行细胞的3D扩增，从而大大提高细胞的质量和培养效率。 　　三维立胞TM支架的特点　　● 三维立胞TM支架有两种材质可供选择，聚苯乙烯(PS)和聚己内酯(PCL)。其中PS材料即制作培养板的材料，PCL材料为可生物降解聚合物。　　● 100%的孔联通性为细胞生长提供了最佳的营养/代谢物交换途径，和2D相比高达7倍的比表面积可以高效培养大量细胞。　　● 规则的结构，不同批次同一性高，实验结果可重复性好。　　● 无动物源性　　● 三维立胞TM支架不会吸收细胞介素、生长因子、外泌体等，可以直接从培养液中分离出来。　　● 尺寸和形状可以根据客户定制，适配于各种培养器皿的要求。

三维测量用探头，因具有测量装在活动部的Z向端部的触针和该活动部的坐标的测量构件，该活动部具有由空气轴承构成的能沿Z坐标方向移动的滑动部，能以低测量压力高精度地进行非球面透镜等的复杂曲面的形状测定、表面光洁度、级差方面等形状测定。

蔡司ZEISS标记点，GOM三维扫描仪标记点，GOM标记点，三维扫描仪标记点

电磁振动筛分仪Aode-200C电磁振动筛分仪简介电磁振动筛分仪Aode-200C是由丹东奥德仪器设计生产的一款适合实验室用的筛分仪器。仪器由电磁驱动器、机壳、数字控制器、筛盘固定座、组合筛塔、夹具、透明可视筛框等组成。透明筛框可以放在任何一级的筛上观察筛分的情况。仪器适合200、203、150、100直径的标准筛，适合药典的筛分，粗集料筛分，细集料的筛分。仪器的工作方式是电磁三维振动筛分，不同于机械水平二维往复的筛分，筛分效率和重复性要高于机械振动筛分仪，仪器选配有筛分软件，空筛质量和筛余质量的称重自动上传到软件中，由软件自行计算出各级的百分比，最后自动生成粒度分布曲线，由软件自动分析粒度的分布情况。软件安装在电脑中，可以任意打印和保存。产品特点：l 采用电磁驱动设计，每分钟振动频率可以达到3000-3600次l 筛分时间短，效率高l 适合干湿两用筛分（选配）l 振幅连续无极可调l 适合99%的筛分需求，应用行业广l 可设置间歇筛分工作模式，对样品筛分更精细。l 电磁三维驱动，筛分通过率高产品参数l 筛塔层级：12个标准筛可同时进行筛分l 筛分范围：20um-25mml 电源电压：220v50hz 5Al 仪器尺寸：350*200*520毫米 宽 高 深l 最大筛分量：6公斤l 标准筛直径： 200/203/150/100mm

巴罗克标准型翘板摇床 / 三维摇床产品特点：● 紧凑的设计节省空间，可应用于培养箱及低温箱内● 培养皿托架为铝合金材质，配有防滑垫，承重能力强且可有效固定样品● 速度连续可调，最高可达80rpm● 多种托架和夹具可更换，适用不同容器，如：培养皿，锥形瓶等的应用订购信息产品型号类型功率[W]震动方式倾斜角度最大载重[kg]速度范围[rpm]01-6303翘板20翘板730-8001-6403三维20三维730-80

巴罗克LED 数显型翘板 / 三维摇床产品特点：● 40-200rpm 连续和定时运行模式● LED 数字显示速度和时间订购信息产品型号类型功率[W]震动方式倾斜角度最大载重[kg]速度范围[rpm]01-6313翘板20翘板7010-8001-6413三维20三维7310-80

2.5X Nikon CF IC Epi Plan TI Interferometry Objective2.5倍 尼康白光干涉镜头类型 Michelson放大率 2.5X数字孔径 NA 0.075工作距离 (mm) 10.3焦距 FL (mm) 80.0分辨能力 (μm) 3.7焦深(μm) 48.6视场，25直径视场目镜 (mm) 10视场，20直径视场目镜 (mm) 8视场, 2/3" 传感器 3.52 x 2.64mm视场, 1/2" 传感器 2.56 x 1.92mm支架 C-Mount安装螺纹 M27 x 0.75重量 (g) 440生产商 NikonRoHS 豁免 用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后，发现市场不够大，或者发现放大倍数不够用，都可以联系我们，以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。价格随时有波动，欢迎来电咨询。

50X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective50倍 尼康干涉物镜镜头类型 Mirau放大率 50X数字孔径 NA 0.55工作距离 (mm) 3.4焦距 FL (mm) 4.0分辨能力 (μm) 0.5焦深(μm) 0.9视场，25直径视场目镜 (mm) 0.5视场，20直径视场目镜 (mm) 0.22视场, 2/3" 传感器 0.18 x 0.13mm视场, 1/2" 传感器 0.13 x 0.10mm支架 C-Mount安装螺纹 RMS重量 (g) 150生产商 NikonRoHS 豁免用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后，发现市场不够大，或者发现放大倍数不够用，都可以联系我们，以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。价格会有所波动，欢迎来电咨询。

AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用域的显微镜，如AFM(范德华力)，静电力显微镜EFM(静电力)磁力显微镜MFM(静磁力)侧向力显微镜LFM(探针侧向偏转力)等， 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。原子力显微镜的探针主要有以下几种:(1)、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针:常用的产品，分辨率高，使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损，分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。(2)、 导电探针:通过对普通探针镀20-40纳米厚的Pt(以及别的提高镀层结合力的金属，如Au、Cr、Ti和Pt与Ir的合金等)得到。导电探针应用于EFM，KFM，SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差，使用时导电镀层容易脱落，导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖，金刚石镀层针尖，全金刚石针尖，全金属丝针尖，这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。(3)、磁性探针:应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备，分辨率比普通探针差，使用时导电镀层容易脱落。(4)、大长径比探针:大长径比针尖是为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点:不太常用的产品，分辨率很高，使用寿命一般。技术参数:针尖高度 9μm 长径比5:1 针尖半径 10 nm。(5)、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针:一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜，另外一种是全金刚石材料制备(价格很高)。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性，减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。还有生物探针(分子功能化)，力调制探针，压痕仪探针 Park四面体探针测微悬臂的特点，在于探针位于测微悬臂的Z端，由此易于清楚确认探针与样品的位置关系，从而迅速而准确地对准测定位置。为满足客户多种特殊需求，此产品备有标准型、铂膜型和四面刃型三种类型的硅探针可供选择。 具有高品质的解析度，共振频率在300 kHz与26 N/m的弹性系数, 大大的降低了破坏样品的机率； 外观设计：新产品的侧壁垂直面更便于探针的夹取； TipView设计：锋利的探头放置在后的悬臂。TipView设计便于精确探测定位； 测量环境：适用于空气中测量； 测量模式：AC（动态）模式； OMCL-AC160TS 10M的针尖适用于一般标准表面形貌量测，适用于以下sample: 1、pss蓝宝石基板的表面形貌量测； 2、太阳能板的表面形貌量测； 3、玻璃面板等各式有机材料、无机材料的表面形貌的量测 OMCL-AC160TS 10M均可直接代替以下品牌型号针尖： 1、Nanoworld 的NCHR/Arrow NCR 2、Appnano的ACTA 3、Bruker的TESPA/ORTESPA； 4、NT-MDT的NSG30 5、Budget Sensors的Tap300-G 详情请咨询：18994392037（同VX）李经理

10X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective10倍 尼康干涉镜头 CF IC Epi Plan类型 Mirau放大率 10X数字孔径 NA 0.30工作距离 (mm) 7.4焦距 FL (mm) 20.0分辨能力 (μm) 0.92焦深(μm) 3.04视场，25直径视场目镜 (mm) 2.5视场，20直径视场目镜 (mm) 2视场, 2/3" 传感器 0.88 x 0.66mm视场, 1/2" 传感器 0.64 x 0.48mm支架 C-Mount安装螺纹 RMS重量 (g) 125生产商 NikonRoHS 符合标准用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后，发现市场不够大，或者发现放大倍数不够用，都可以联系我们，以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。欢迎来电咨询。

Campbell 公司生产的CSAT3 三维超声风速风向传感器具备10cm的垂直测量路径，采用声学脉冲测量模式，可以抵御恶劣天气环境的影响。仪器测量三个正交风（Ux，Uy，Uz），声速（C），最大输出频率60Hz。它可以提供模拟输出和两种类型的数字输出。CSAT3通过的其内部时钟、计算机发出的RS-232 命令或Campbell公司数据采集器上的SDM命令三种方式进行测量、控制。利用SDM 协议的群触发功能可同步测量多个CSAT3，这样，多个CSAT3就可以进行大范围组网测量。 技术参数：量程：±65.535m/s（SDM、RS-232输出）；±60m/s（模拟输出）模拟输出值：1. Ux、Uy ±30m/s或±60m/s2. Uz，±8m/s3. 声速C，300~366m/s（-50~60℃）4. 测量输出：Ux，Uy，Uz，C（Ux，Uy，Uz是三维风速风向，C 是声速）5. 测量速率：1~60Hz可编程分辨率：UZ，UY是1mm/s RMS，UZ是0.5mm/s RMS，C是15mm/s（0.025℃）RMS瞬时测量值可以制作成恒定信号，采样速率不影响噪音精度：-30~50℃，30m/s，风向在±170o之间偏移误差：Ux、Uy＜±8.0cm/s，Uz＜±4.0cm/s增益误差：1. 水平±5o内的风速＜读数的±2%2. 水平±10o内的风速＜读数的±3%3. 水平±20o内的风速＜读数的±6%接口类型：SDM，RS-232 模拟输出：4个电压输出，±5V，12bits工作温度：-30~50℃电压：10~16VDC电流：200mA（60Hz测量），100mA（20Hz测量）尺寸：探头长47.3cm，高42.4cm；电子设备盒26cm×16cm×9cm重量：探头1.7kg，电子设备盒3.8kg 产地：美国

问题：当原子力显微镜做样品成像时，很难知道表面是否准确的表征？也许会受针尖的顶端破碎或钝影响。破损或钝的探针针尖会使测量结果有显著差异，如粗糙度或表面结构等等。要确保用户在使用探针时要有适当的提示，必须直接扔掉旧探针或定期使用SEM电镜检测，这两种方法都非常的浪费探针或耗时。 解决方案：BudgetSensors Tipcheck介绍-一个SPM样品可以在原子力显微镜的针尖条件下快速、简便的测定。即使在一个单一的扫描线上，也使之间的差异变得明显。因此，tipcheck提供了一个快速简便的方法来比较和分类原子力显微镜探针不同的针尖、形状和清晰度。您可以很容易的检查您的AFM探针是否完好，是否已经磨损或破损，从而不需要扫描使用该探针扫描整个样品图像或做SEM电镜扫描检测。此外，该样品的完美自动提示和针尖表征软件在市场上可用。BudgetSensors Tipcheck样品是一种非常耐磨的薄膜涂层，沉积在硅芯片上。这层薄膜涂层呈颗粒状，尖锐的纳米机构使得它能在AFM探针针尖反向成像。该Tipcheck模具的尺寸为5*5mm。下面的图片显示了使用不同探针测试tipcheck样本之间的比较，扫描尺寸为1*1um，高度为100nm。根据下面的形貌图你可以找到一个具有代表性的断面图像。为什么我们需要高度校准块？原子力显微镜已经成为一个有价值的工具，不仅用于可视化，而且也可以用于进行精确的纳米和微米尺度测量。为了能使原子力显微镜最精确的测量，原子力显微镜需要正确的校准。 HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG作为budgetsensors 高度标准介绍作为增加相应，能负担原子力显微镜的高品质校准标准需求。HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG是一个尺寸为5*5mm且阵列在硅基底上的二氧化硅结构。芯片结构的制造工艺保证了良好的均匀性。这将确保你的AFM系统Z轴方向校准方便可靠。 校准区域位于芯片的中心，使用原子力显微镜的光学系统很容易找到。校准结构的台阶高度为20nm（HS-20MG）100nm（HS-100MG）和500nm（HS-500MG）每一个芯片的精确值都标识在盒子标签上。芯片上集成了不同形状和间距的结构阵列。在1*1mm的大区域内包含了间距为10um的方柱孔。 在500*500um的小区域内包含了XY方向间距为5um的圆柱形孔。除了Z轴校准，这样的设计也让XY方向有了更大的校准范围（40~100um以内），而且，校准片的结构对称性使得校准原子力显微镜时不需要旋转和调整校准片XY刻度的方向。HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG用优质导电环氧树脂粘在一个12毫米金属圆盘上，并将其用作装运的材料。横向尺寸：5*5mm几何结构：在1*1mm平方内排列间距为10um的方形孔柱在500*500um平方内XY方向排列间距为5um的圆形孔柱台阶高度HS-20MG：~20nmHS-100MG：~100nmHS-500MG：~500nm注：每个校准片盒子标签上都标有明确数值为什么需要XYZ标定校准？为了使原子力显微镜更精准的测量，必须进行正确校准。因此，更精确的校准标准才能实现原子力显微镜更好的测量结果。在这方面，校准的标定标准允许原子力显微镜系统的最精确校准。 我们的解决方案：CS-20NG是一种先进的XYZ标定校准，使校准精度降低到纳米级。它的特点是在一个5*5mm的硅芯片上阵列二氧化硅结构。确保整个芯片结构有良好的均匀性。反之，又确保了方便可靠的校准原子力显微镜的XYZ三方向的精度。校准区域位于芯片的中心，使用原子力显微镜的光学系统很容易找到。台阶高度在20nm范围内，每一个芯片的精确值都标识在盒子标签上。芯片上集成了不同形状和间距的结构阵列。在1*1mm的大区域内包含了间距为10um的方柱孔。在中区域内包含了XY方向间距为5um的圆柱形孔。在小区域内500nm间距的圆形孔。CS-20NG适用于横向和纵向的AFM扫描校准。校准片的结构对称性使得校准原子力显微镜时不需要旋转和调整校准片XY刻度的方向。CS-20NG用优质导电环氧树脂粘在一个12毫米金属圆盘上，并将其用作装运的材料。横向尺寸：5*5mm几何机构：在1*1mm平方内排列间距为10um的方形孔柱在500*500um平方内XY方向排列间距为5um的圆形孔柱在100*100um平方内分布着间距为500nm的圆形孔台阶高度：20nm每个校准片盒子标签上都标有明确数值

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HVA 三位真空闸阀 21700 系列适用于刻蚀、 CVD、真空镀膜和其他需要压力控制工艺的行业。HVA 三位真空闸阀与上游质量流量控制器一起使用时，提供异常压力控制功能，该真空闸阀也适用于从粗真空到高真空的平稳过渡。HVA 三位真空闸阀采用两个气动电磁阀和一个空气压力调节器控制阀门的3种开启方式：一个电磁阀控制阀门的完全关闭和完全开启，另一个电磁阀用于控制和调节阀门的任意开启位置。上海伯东是美国HVA 真空阀门在中国地区唯一指定总代理商。HVA 三位真空闸阀 真空插板阀 21700 系列 产品优点：1. 机械预设、遥控过渡阀位2. 三个位置都有指示器3. 标准或者定制法兰4. 至少一百万使用周期 5. 任意位置安装HVA 三位真空闸阀 真空插板阀 21700 系列 技术参数：阀门材质：阀门主体304不锈钢焊接波纹管轴封AM-350驱动轴和驱动销硬质不绣钢阀门密封方式：高真空 氟橡胶漏率2×10-9 mbar l/s差压关闭1 bar真空：压力范围高真空1x10-9 mbar漏率 2x10-9 mbar l/S差压关闭1 bar (任意位置)开启前最大压力≤ 30 mbar烘烤温度（不含电磁阀）：阀门主体150 °c驱动方式气动 60 °c使用寿命：100,000启闭次数公称通径：DN100-320 mmHVA 三位真空闸阀 真空插板阀 21700 系列 构成部件：订货号HVA 三位真空闸阀 21700 系列订货号及2D,3D展示图DNModelKF/ISO-FISO-KCF-F*mminchNumber3 (Bolted)6 (Clamped)0 or 4 (Conflat)1004.0021712-040_R2D3D2D3D2D3D1606.0021712-060_R2D3D2D3D2D3D2008.0021712-080_R2D3D2D3D2D3D25010.0021712-100_R2D3D-2D3D32012.0021712-120_R2D3D-2D3D 构成部件HVA 三位真空闸阀 21700 系列部件图： 若您需要进一步的了解详细信息或讨论, 请联络上海伯东罗先生伯东版权所有, 翻拷必究!

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详情请咨询：18994392037（同VX）李经理 AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用域的显微镜，如AFM(范德华力)，静电力显微镜EFM(静电力)磁力显微镜MFM(静磁力)侧向力显微镜LFM(探针侧向偏转力)等， 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。原子力显微镜的探针主要有以下几种:(1)、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针:常用的产品，分辨率高，使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损，分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。(2)、 导电探针:通过对普通探针镀20-40纳米厚的Pt(以及别的提高镀层结合力的金属，如Au、Cr、Ti和Pt与Ir的合金等)得到。导电探针应用于EFM，KFM，SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差，使用时导电镀层容易脱落，导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖，金刚石镀层针尖，全金刚石针尖，全金属丝针尖，这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。(3)、磁性探针:应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备，分辨率比普通探针差，使用时导电镀层容易脱落。(4)、大长径比探针:大长径比针尖是为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点:不太常用的产品，分辨率很高，使用寿命一般。技术参数:针尖高度 9μm 长径比5:1 针尖半径 10 nm。(5)、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针:一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜，另外一种是全金刚石材料制备(价格很高)。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性，减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。 还有生物探针(分子功能化)，力调制探针，压痕仪探针 Park四面体探针测微悬臂的特点，在于探针位于测微悬臂的Z端，由此易于清楚确认探针与样品的位置关系，从而迅速而准确地对准测定位置。为满足客户多种特殊需求，此产品备有标准型、铂膜型和四面刃型三种类型的硅探针可供选择。 OMCL-AC240TS 10M 微软型(Medium-soft Silicon Cantilever) 适用于测量易受损(Soft)的样品 在轻敲模式中拥有Z微小的弹性系数2 N/m的硅悬臂,适合用来观测局部解剖的表面与柔软样品的黏弹性 Medium-soft Silicon Cantilever Spring constant of 2 N/m (norminal) is smallest of silicon cantilevers, suitable for observing surface ography ａnd viscoelasticity of soft samples.(2n/m,70khz) AFM的测量模式：※接触式(Contact mode)： 探针与材料表面间的距离为(2~3nm)。在扫描时，针尖与样品表面轻轻接触，产品微弱的排斥力使探针偏移，从而使得样品表面形貌的图像。※非接触式(Non-contact mode)： 探针与材料表面总维持着一定的距离(低于20nm)。非接触式为轻敲式的衍生，一样是利用探针跳动来扫描，但是探针始终都不接触表面。 ※轻敲式(Tapping mode又称 AC mode)： 介于接触式和非接触式之间，探针与材料表面间的距离为(5nm)。以探针震荡方式，探针在试片上跳动，当探针震荡至波谷时微接触样品。 Park探针选用小贴士： AC160TS:Tapping Mode,用於較硬的sample,適用半導體材料,金屬材料,Polymer,DVD… AC240TS:Tapping Mode,用於較軟的sample,適用生命科學:DNA,細胞,薄膜,蛋白質…

项目三位4通三位6通三位8通四位8通流道孔径0.75/1.5/3.0mm0.3/0.6mm0.75/1.5mm0.3/0.6mm接口规格1/4-28UNF10-32UNF1/4-28UNF10-32UNF阀体材质N60、SUS316L、PEEK转子材质PEEK定子材质N60、SUS316L、PEEK最大耐压10MPa(液体)25MPa(液体)10MPa(液体)25MPa(液体)过液温度0~85℃适用电源24VDC/2A最大驱动力2.5N.m最大功率48W通讯接口RS232、RS485工作环境温度0～60℃工作环境湿度≤95%RH,无冷凝状态

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英国GILL的R3-50™ 三维超声波风速风向仪被设计为科学研究应用，尤其适用于涡动相关法的通量研究。 R3-50™ 超声波风速风向仪精密监测0-45m/s范围的风速，带有50Hz快速数据输出率、UVW矢量输出和声温输出。 R3-50是一款性价比非常好的超声风速风向仪，在所有的气象应用领域，Gill公司的经验已经得到了广泛的证明。传感器非常容易并且耐用。 特点研究型三维超声波风速风向仪50Hz输出率0-45m/s风速0-359o风向U, V, W矢量输出声温输出铝合金／碳纤维结构定制校准为标准配置 技术参数： 风速测量范围0~45米/秒测量精度＜±1％ RMS分辨率0.01米/秒风向测量范围0~359度测量精度＜±1度分辨率1度声速测量范围300~370米/秒测量精度＜±0.5％ @ 20℃分辨率0.01米/秒测量超声波输出频率50 Hz参数U，V，W，声速数字输出通信RS422全双工，8个数据位，1个停止位，无奇偶波特率2400~115200输出频率0.4~50Hz模拟输出(另选，需要PCIA单元)数量7（U、V、W、SOS、PRT、2个模拟输入），需PCIA单元刻度±10, ±20, ±30, ±60 m/s更新频率0.4~50Hz范围和分辨率±2.5V分辨率14位精度＜0.1％ FSR模拟输入(另选，需要SIU单元)数量6差分输入采样频率50Hz范围±5V分辨率14位精度＜0.1％ FSR电源要求风速风向仪9~30VDC (150mA @ 24 VDC 或300mA @ 12 VDC)材料材料铝合金/碳纤维尺寸750mm x 240mm重量1.0 kg环境防护等级IP65工作温度-40°C 至 +60°C降水最大 300mm/小时EMCBS EN 50081-1: 1992 (辐射)BS EN 50082-1: 1997 (免疫) 产地：英国