元素分布

MidiLab9000-E/P/T 湿法冶金元素在线检测系统是一款用于化工新能源和湿法有色冶金工厂液体样品在线过程检测系统。特别是针对萃取工艺、电解工艺生产镍、铜、锌、锂等有色金属过程中的浸出液、电解液和废液实时检测。并在异常时及时预警和复测。可进行元素分析检测、粒度分析检测、滴定分析检测、酸度分析检测、浓度分析检测等。“多”—集中或分布式采样点可设置20个以上“快”—单个样品分析和异常复测15分钟内完成“好”—采用品牌的分析仪器，如ICP-MS、ICP-OES、激光衍射粒度仪、在线滴定仪“省”—采用微正压洁净分析舱，恶劣现场依然能够给精密分析仪器提供最佳的工作环境，延长寿命，降低用户使用成本可用于化工新能源和湿法有色冶金工厂液体样品在线过程检测，特别是针对萃取工艺、电解工艺生产镍、铜、锌、锂等有色金属过程中的浸出液、电解液和废液实时检测。

光谱角分布测量系统■ 全波段光谱透过率测量，反射角分布测量■ 全波段光谱反射率测量，反射角分布测量■ 波长范围:200nm-IR■ 不同的光谱范围可能需要不同的光学光路设计结构■ 双层平台独立旋转，重复定位精度0.005度，分辨率0.00125度；■ 样品置于上层旋台，探测器置于下层旋台，样品和探测器可以任意角度工作；■ 台面上放置一个五维调整镜座，可将样品调整到旋台的旋转中心并且垂直于台面■ 功能扩展：测量光栅衍射效率

FireFly元素分布成像快速分析系统基于LIBS元素分析技术，单次测量即可检测元素周期表中几乎所有元素、样品无须预处理、能够进行样品表面或者剖面元素分布成像测量、对样品几乎无损伤无消耗，可应用于环境科学、植物科学、动物科学、海洋科学、生物医学食品科学等各个领域。FireFly面向实验室科研应用设计，独具特色尤其是微区扫描测量和常规扫描测量自动切换功能，是Lightigo公司最新一代LIBS元素分析系统。Lightigo公司由布尔诺科技大学激光光谱实验室在20余年LIBS研发和应用研究经验的基础上创建，也是CEITEC（欧洲工程技术中心）的唯一下属公司, 其研发团队在国际上广为认可，并发表大量科研文献（见后附）。 功能参数适用于所有固体样品检测极限1-100 ppm空间分辨率10-150 μm2D元素分布成像测量和纵深成像测量； 单次成像扫描面积100 mm×100 mm；最大测量速度100HZ实验近乎零成本单次测量即可得到元素周期表中几乎所有元素信息，包括：Li、Be、Mg、Na、N、C等测量原理应用方向 技术优势

S1 TITAN手持式矿石分析仪是Bruker公司新推出的手持式XRF矿石分析仪，它以巨人般的威力，走在检测技术的前沿。 S1 TITAN手持式矿石分析仪打破了实验室环境的限制，无需真空盒氦气保护就能分析Mg、Al、Si、S、P等轻元素。实现现场实时多重样式，快速分析矿石品位，进行矿石评定，品位控制，岩芯检测，矿脉分析，回执矿石分布图等，是地质勘查、矿山开采、矿产贸易、环境监测的工具。 手持式矿石分析仪测量矿种:各种金属、非金属、贵重金属和金属矿采矿和勘探-现地址化学分析：勘探：手持式矿石分析仪S1 TITAN轻质化、易携带的设计，方便了在勘探现场直接探测并定位有潜在矿产的区域，测量钻孔岩心，判定矿床的深度和分布情况矿石分析：一旦发现矿产地点，手持式矿石分析仪S1 TITAN可快速分析矿床矿石质量控制：矿产定位且开始开采后，手持式矿石分析仪S1 TITAN可对每辆货车内的矿石进行检测，提供矿石的详细品级信息，为即将流入加工厂的矿石进行筛选，提高原料矿石的质量加工和浓度分析：矿石加工过程中，手持式矿石分析仪S1 TITAN可测定样品的浓度复原和整治：当采矿作业进入尾声，手持式矿石分析仪S1 TITAN可用于末了分析，并协助完成土地复原主要应用：主要分析矿体、矿块、矿粉、矿渣、精矿、粗矿、尾矿；还可分析沉淀物、填料、土壤、泥土、泥浆；粉尘、灰尘、过滤物、薄膜层等。领域：勘查、岩心检测、开采过程控、品位控制、环境分析地质化学痕量测定：痕量元素、矿石探途元素土壤或沉积层中的污染物、修复检查、催化转化器地质化学常量测定：主要和微量元素、含金属矿石、工业矿物、精矿、铝土矿手持式矿石分析仪测量范围(Mg-U)：Mg，Al，Si，P，S，Cl，K，Ca，Sc，Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，As，Se，Rb，Sr，Zr，Nb，Mo，Pd，Ag，Cd，Sn，Sb，Te，Cs，Ba，Hf，Ta，W，Re，Pt，Au，Hg，Pb，Bi，Th，U等。铂悦仪器（上海）有限公司主要代理各类手持式光谱仪，布鲁克手持式矿石分析仪，BRUKER布鲁克矿石元素分析仪，矿石分析仪，便携式矿石分析仪，进口手持式矿石分析仪，德国手持XRF矿石元素分析仪，美国手持矿石元素分析仪，布鲁克手持式矿石分析仪，手持矿石光谱仪，布鲁克德国便携式XRF分析仪，便携式XRF检测仪，手持光谱仪，布鲁克手持荧光光谱仪，手提式S1 TITAN荧光光谱元素分析仪，手持式矿石品位分析仪，手持式XRF矿石分析仪。

M4 TORNADOPLUS - 微区X射线荧光成像的新纪元M4 TORNADO微区X射线荧光成像光谱仪PLUS能够检测出C（6）-Am（95）间元素的微区X射线荧光成像光谱仪。作为微区X射线荧光成像光谱仪M4TORNADO系列的新产品，M4 TORNADOPLUS又增添了功能，例如孔径管理系统，高通量脉冲处理器以及快速灵活更换的样品台。更轻、更快、更深M4 TORNADOPLUS采用轻元素窗口的大面积硅漂移探测器（SDD）实现对轻元素碳的检测，高通量脉冲采样，BRUKER孔径管理系统（AMS）可以获取大景深，对表面不平整样品分析具有优势。轻元素检测M4 TORNADOPLUS能够检测分析轻质元素碳的微区X射线荧光成像光谱仪，具备两个具有轻元素窗口的大面积硅漂移探测器和一个优化的Rh靶X射线光管。与普通微区X射线荧光成像光谱仪不同，M4 TORNADOPLUS在不影响较高能量范围内元素灵敏度的前提下，还可以检测原子数小于11的元素（Z＜11），例如氟（F）、氧（O）、氮（N）和碳（C）。随着功能性的增强，M4 TORNADOPLUS应用也正在开发和拓展中，例如地质学、矿物学、生物学、聚合物研究或半导体行业等方向。应用实例-萤石和方解石的区分萤石（CaF2）和方解石（CaCO3）都是以钙为主要成分的矿物。它们的区别在于分别存在轻质元素氟（F），氧（O），碳（C）；由于普通微区X射线荧光成像光谱仪检测不到Z＜11(Na）的元素，无法区分这两种矿物，所以萤石和方解石的光谱图上都只会显示Ca元素谱线。利用轻元素探测器，M4 TORNADOPLUS可以检测氟（F）、氧(O)和碳(C)，从而鉴别这两种矿物。图：鉴别萤石与方解石 左：方解石（红）和萤石（蓝）的元素分布图；图像尺寸：20×12mm2；扫描分辨率：800×460pixels 右：萤石（蓝）和方解石（红）的轻质元素光谱图。应用实例-电路板由于AMS的场深度深，如图所示电路板的X射线图像获得更多的细节。此外，由于激发X射线光子的入口和出口角度减小，光束能量依赖性变得不那么明显。图：具备AMS与不具备AMS的电路板元素分布图左图: 标准多导毛细管聚焦在电路板上，元件的高点失焦，显得模糊。右图: AMS系统加载下图像显示高景深，组件聚焦在更大的景深范围内。

EcoChem激光光谱元素分析系统 技术背景： 当激光作用于样品表面时，在极短时间内诱导产生含有样品物质的等离子体，等离子体产生的过程中，发射出带有样品元素信息的发射光谱，通过检测这些发射光谱，得到样品的元素信息。这种技术被称为激光诱导击穿光谱技术LIBS（Laser Induced Breakdown Spectroscopy），俗称激光光谱元素分析技术，检测限可达ppm级。测量的元素可覆盖元素周期表中的大部分元素。 系统功能：快速检测土壤、植物、种质资源、中药材、刑侦材料、矿石、合金、珠宝等样品中的? 常量元素N, P, K, Ca, Mg? 微量元素Fe, Cu, Mn, Zn, B, Mo, Ni, Cl? 痕量元素：可检测化学周期表上大部分元素? 其他：有机元素C、H、O和轻元素 Li、Be、Na等（其他技术很难同时分析） 应用领域： 土壤、植物样品检测中药材元素测量及鉴定种子分类及活力分级检测农产品重金属检测地质矿物分析煤粉组分检测重金属污染检测合金元素分析刑侦微量物证分析宝石鉴定材料组分分析 工作原理： EcoChem激光光谱元素分析系统的固体激光器产生激光作用于样品表面。当激光能量大于样品击穿门槛能量时，在样品表面形成等离子体。这些等离子体中受激光能量激发到达高能态的样品物质在迅速回迁至低能态的过程中，发射出带有样品元素种类、含量信息的发射光谱，这些发射光谱信号被智能信号收集系统收集并传输至光谱仪中进行分光，再由CCD检测器进行检测，得到元素信息。 技术指标：激光系统：激光能量：200mJ@1064nm，能量输出0-100%可调；（266nm激光可选）光斑质量控制系统重现率：20Hz，脉宽6ns，DI水冷却系统光斑大小：20-200μm连续可调激光光闸：自动双光闸，稳定控制激光能量和LIBS信号激光安全：I级，有激光锁定保护装置检测器：谱宽：190-1040nm具有自动高度调整的功能 操作软件：中文界面，包含NIST和ElementLIBS数据库。可以轻松检测和识别元素周期表上的元素并进行信息标记。软件还同时具备如下功能：软件可针对所有硬件部件（激光器，光谱仪，三维工作台，气路等）进行指令操作，界面友好，操作直观，使用简单；内置多种打样方式选择，包括单点，多点，直线，矩阵点等；具有自动聚焦控制，可快速且方便的识别样品；可对系统内置的双镜头（全景视野和放大视野）进行控制；内置PLS等多种定标计算模型，可快速计算元素含量；内置PCA等多种计算模型，可进行元素分类分析及溯源；可进行元素的分布（mapping）分析；对气路进行精准控制；内置国内常见土壤和植物标准曲线库，方便用户参考和调用。 数据处理中心：专用i7台式电脑及24’显示器 系统应用： 1， 元素识别及定性分析系统可以轻松实现元素的识别并标记，内置专业ElementLIBS元素识别数据库方便元素的快速查找。非金属元素检测金属微量元素的检测 重金属元素的检测2， 元素定量计算系统可以很好的针对土壤和植物或其他多种样品中的各种金属和非金属元素进行定量计算。内置PLS等多种定量计算模型，减少基质中的影响因素，提高分析计算的准确性。PLS多变量定量计算模型 3， 元素分布分析系统可以很好的原位测量植物、作物或其他样品的元素分布，并绘制元素分布热图。 中药材元素分布 植物叶片病变处元素分布分析大豆种子元素分布分析 玉米元素分布分析 4， 物质鉴别及分类溯源不同等级和地域的土壤特性也不相同，系统可以有效地对这些土壤进行分级分类和鉴别，甚至建立我国的土壤特征库。系统内置的PCA主成分分析模型可以针对土壤的分级分类进行测量和评价。 不同土壤分类特征明显 系统通过检测种子的元素光谱特征，组分特征来进行种子分类及鉴定、转基因产品检测、种子活力分级检测等。这是一种新的方法和快速检测手段。玉米种子的分类 不同玉米种子分类特征明显，区分度可达100%

产品信息　　粒度分布在粉体物理性质中是最基本的特性之一，它不仅左右着粉体本身的性质和活动，而且也影响着以粉体为原料的制品的质量，是一个重要的物理性质。因此，在处理粉体时，粒度分布的测量就变得极其重要。　 　岛津激光衍射式粒度分布测量仪SALD-3101，可以在短时间内，通过简单的操作完成粒度分布的测定，并且分辨率高、精度高、重复性好。　 　另外，通过安装在Windows操作系统下的软件，可以实现统计处理、时间系统处理、实时监控、三维显示等多种的数据处理功能。　　测定范围：0.05~3000um　　测定模式：湿式或干式 特点（湿式循环型）：主机（测量部） 使用单一光学系统无断点覆盖0.05-3000&mu m 粒径范围符合JIS规格的单一光源覆盖了0.05-3000&mu m的宽广的粒子径范围。因此在全程测量范围内，不存在粒度分布数据的不连贯和不匹配，实现完全无断点的宽广范围。 力求光学系统的稳定性采用全方位冲击吸收装置：OSAF(Omnidirectional Shock Absorption Frame)完全隔离光学系统，使其各个部件免受外来冲击和震动的干扰。因此几乎不需要对光轴进行调整。高分辨率的81元素光传感器传感器应用高水准的半导体制造技术制成。除76元素的前方散射光传感器（Wing传感器）外，附加1元素的侧方散射光传感器和4元素的后方散射光传感器。通过这81元素的光传感器可准确地捕捉光强度分布模式，从而对范围宽广的粒子径实现高分辨率高精度地粒度分布测量。样品池摘取简单采用推拉式样品池座，方便样品池的更换和清洗。使用寿命长且输出功率稳定的半导体激光源光源采用形状小寿命长的半导体激光。并且附加稳定输出回路，实现激光输出功率的稳定化。配备激光光束安全系统双重激光保护对策：测量室打开时，快门自动关闭及手动关闭激光光束。可测量密度不同的粒子混合物由于是通过粒子产生的衍射散射光的光强度分布模式求得粒度分布，因此与粒子或溶液的密度及溶液的粘性系数无直接关系。所以密度不同的粒子混合的样品也可以测量。多功能进样器内置供水泵多功能进样器内置供水泵，因此可使用市场上销售的塑料桶等直接供水。解决了供水繁琐的问题。 装载CPU多功能进样器配置了超音波分散机、搅拌器、水位传感器和控制这些装置的ＣＰＵ。因此，通过电脑连接控制，可进行半自动测量。内置强劲的竖状泵进样器装载了5000 cm3/min的强劲的竖状泵，保证从数百微米到数毫米的粗大粒子／高密度粒子也能够很好的循环。 这是测量范围上限可达3000&mu m（3mm）的主要技术支持。优越的耐溶剂性流路材质使用四氟化乙烯、SUS304、SUS316、石英，因而具有优越的耐溶剂性。软件具有多种功能测量/数据处理的软件名为WingSALD的操作软件适用于Windows所有操作系统,并具有统计处理，时间系统处理，三维显示等多种数据处理功能，操作简便。 应用AI自动范围判断功能对粒度分布进行计算所谓AI自动范围判断功能是指，应用检测出的衍射光/散射光的光强度分布数据，先进行大致的粒度分布范围判断，再根据所得范围选择最适合的计算条件，进行精密的粒度分布计算。这样，即使事前无任何样品相关信息，也可准确地捕捉到从窄到宽的粒度分布形态。可进行与样品的折射率相对应的测量粒子径小于10&mu m时，粒子产生的散射光会受到其折射率的影响。为了进行正确地粒度分布计算，SALD-3101的标准配置中，有378种折射率（实数部和虚数部）可以选择。另外，利用以前测量后保存的衍射散射光光强度分布数据，改变折射率，可以对粒度分布进行再计算。附加自我诊断功能、保养容易编入了强大的自我诊断功能。可以检查装置的动作状况，使维护变得容易。装备操作日志（Operation Log）功能操作日志（Operation Log）功能，使所有的测量数据中包含了装置的使用状况、样品池的污染状况等细节信息，因此可以向前追溯，验证以往测量数据的正确性。通常状态下不显示，但电源打开时刻、空白测量完成时刻、空白测量数据及该时间下光轴的位置等这些与装置的操作和使用状态有关的数据都将被作为文本数据添加到所有的测量数据中。

产品信息　　粒度分布在粉体物理性质中是最基本的特性之一，它不仅左右着粉体本身的性质和活动，而且也影响着以粉体为原料的制品的质量，是一个重要的物理性质。因此，在处理粉体时，粒度分布的测量就变得极其重要。　　岛津激光衍射式粒度分布测量仪SALD-2201，可以在短时间内，通过简单的操作完成粒度分布的测量，且分辨率高、精度高、重复性好。　　另外，通过安装在Windows操作系统下的软件，可以实现统计处理、时间系统处理、实时监控、三维显示等多种的数据处理功能。　　测定范围： 0.03~1000um　　测定模式： 湿式或干式 特点（湿式循环型）：主机（测量部） 使用单一光学系统无断点覆盖0.03-1000&mu m 粒径范围符合JIS规格的单一光源覆盖了0.03-1000&mu m的宽广的粒子径范围。因此在全程测量范围内，不存在粒度分布数据的不连贯和不匹配，实现完全无断点的宽广范围。力求光学系统的稳定性采用全方位冲击吸收装置：OSAF(Omnidirectional Shock Absorption Frame)完全隔离光学系统，使其各个部件免受外来冲击和震动的干扰。因此几乎不需要对光轴进行调整。高分辨率的81元素光传感器传感器应用高水准的半导体制造技术制成。除76元素的前方散射光传感器（Wing传感器）外，附加1元素的侧方散射光传感器和4元素的后方散射光传感器。通过这81元素的光传感器可准确地捕捉光强度分布模式，从而对范围宽广的粒子径实现高分辨率高精度地粒度分布测量。样品池摘取简单采用推拉式样品池座，方便样品池的更换和清洗。使用寿命长且输出功率稳定的半导体激光源光源采用形状小寿命长的半导体激光。并且附加稳定输出回路，实现激光输出功率的稳定化。配备激光光束安全系统双重激光保护对策：测量室打开时，快门自动关闭及手动关闭激光光束。 多功能进样器内置供水泵多功能进样器内置供水泵，因此可使用市场上销售的塑料桶等直接供水。解决了供水繁琐的问题。装载CPU多功能进样器配置了超音波分散机、搅拌器、水位传感器和控制这些装置的ＣＰＵ。因此，通过电脑连接控制，可进行半自动测量。 软件 具有多种功能测量/数据处理的软件名为WingSALD的操作软件适用于Windows所有操作系统,并具有统计处理，时间系统处理，三维显示等多种数据处理功能，操作简便。应用AI自动范围判断功能对粒度分布进行计算所谓AI自动范围判断功能是指，应用检测出的衍射光/散射光的光强度分布数据，先进行大致的粒度分布范围判断，再根据所得范围选择最适合的计算条件，进行精密的粒度分布计算。这样，即使事前无任何样品相关信息，也可准确地捕捉到从窄到宽的粒度分布形态。可进行与样品的折射率相对应的测量粒子径小于10&mu m时，粒子产生的散射光会受到其折射率的影响。为了进行正确地粒度分布计算，SALD-2101的标准配置中，有378种折射率（实数部和虚数部）可以选择。另外，利用以前测量后保存的衍射散射光光强度分布数据，改变折射率，可以对粒度分布进行再计算。附加自我诊断功能、保养容易编入了强大的自我诊断功能。可以检查装置的动作状况，使维护变得容易。装备操作日志（Operation Log）功能操作日志（Operation Log）功能，使所有的测量数据中包含了装置的使用状况、样品池的污染状况等细节信息，因此可以向前追溯，验证以往测量数据的正确性。通常状态下不显示，但电源打开时刻、空白测量完成时刻、空白测量数据及该时间下光轴的位置等这些与装置的操作和使用状态有关的数据都将被作为文本数据添加到所有的测量数据中。

产品信息　　粒度分布在粉体物理性质中是最基本的特性之一，它不仅左右着粉体本身的性质和活动，而且也影响着以粉体为原料的制品的质量，是一个重要的物理性质。因此，在处理粉体时，粒度分布的测量就变得极其重要。　 　尤其是在前沿科学领域，诸如纳米技术、生命科学以及环境科学领域，粒径多在纳米数量级，对于仪器的检测下限要求很高。岛津激光衍射式粒度分布测量仪SALD-7101，可以在短时间内，通过简单的操作完成粒度分布的测定，并且分辨率高、精度高、重复性好。　 　另外，通过安装在Windows操作系统下的软件，可以实现统计处理、时间系统处理、实时监控、三维显示等多种的数据处理功能。　　测定范围：0.010~300um。目前世界上所有激光粒度仪厂家产品中检测下限最低！ 特点：主机（测量部）使用单一光学系统无断点覆盖0.010-300&mu m 粒径范围符合JIS规格的单一光源覆盖了0.010-300&mu m的宽广的粒子径范围。因此在全程测量范围内，不存在粒度分布数据的不连贯和不匹配，实现完全无断点的宽广范围。 采用紫色半导体激光由于采用了的紫色半导体激光，可测量的粒子范围可达数十纳米领域。另外，以往使用红色激光作为光源的粒度分布测量装置，由于光吸收导致的蓝色系粒子很难正确测量的问题，也迎刃而解。采用适应蓝紫色激光的高灵敏度受光元素光传感器应用最高水准的半导体制造技术制成。除76元素的前方散射光传感器（Wing传感器）外，附加1元素的侧方散射光传感器和4元素的后方散射光传感器。通过这81元素的光传感器可以准确地捕捉光强度分布模式，从而对范围宽广的粒子径实现高分辨率高精度地粒度分布测量。全部这些元素，均采用了最新工艺制造的、适应蓝紫色激光的高灵敏度受光元素。采用SLIT光学系统，用单一检出面可连续捕捉最大达60度宽角度前方散射光采用了SLIT（Scattered Light Intensity Trace,散射光强度追踪）光学系统。以往的SALD系列或其他公司的制品，可连续检出前方散射光的范围最大只可到35度左右。SALD-7101采用了基于高度散射光强度追踪技术的SLIT光学系统，打破了一般常识，可用单一检出面连续捕捉最大达60度宽角度的前方散射光，实现了微粒子领域的高分辨率。能够连续测定反应过程中粒子的粒度大小和分布的变化，时间间隔最短可以做到1s市场上其他的产品都需要至少10s以上。适用于超微粒子的湿法测量专用机是适合于涂料、颜料，食品，饮料，医药品，化妆品，乳剂，精制陶瓷等微粒子、超微粒子测量的湿法专用机。力求光学系统的稳定性采用全方位冲击吸收装置：OSAF(Omnidirectional Shock Absorption Frame)完全隔离光学系统，使其各个部件免受外来冲击和震动的干扰。因此几乎不需要对光轴进行调整。样品池摘取简单采用推拉式样品池座，方便样品池的更换和清洗。使用寿命长且输出功率稳定的半导体激光源光源采用形状小寿命长的半导体激光。并且附加稳定输出回路，实现激光输出功率的稳定化。配备激光光束安全系统双重激光保护对策：测量室打开时，快门自动关闭及手动关闭激光光束。多功能进样器内置供水泵多功能进样器内置供水泵，因此可使用市场上销售的塑料桶等直接供水。解决了供水繁琐的问题。 装载CPU多功能进样器配置了超音波分散机、搅拌器、水位传感器和控制这些装置的ＣＰＵ。因此，通过电脑连接控制，可进行半自动测量。软件具有多种功能测量/数据处理的软件名为WingSALD的操作软件适用于Windows所有操作系统,并具有统计处理，时间系统处理，三维显示等多种数据处理功能，操作简便。多种统计方法：数目、体积、表面积和长度。 应用AI自动范围判断功能对粒度分布进行计算所谓AI自动范围判断功能是指，应用检测出的衍射光/散射光的光强度分布数据，先进行大致的粒度分布范围判断，再根据所得范围选择最适合的计算条件，进行精密的粒度分布计算。这样，即使事前无任何样品相关信息，也可准确地捕捉到从窄到宽的粒度分布形态。附加自我诊断功能、保养容易编入了强大的自我诊断功能。可以检查装置的动作状况，使维护变得容易。装备操作日志（Operation Log）功能操作日志（Operation Log）功能，使所有的测量数据中包含了装置的使用状况、样品池的污染状况等细节信息，因此可以向前追溯，验证以往测量数据的正确性。通常状态下不显示，但电源打开时刻、空白测量完成时刻、空白测量数据及该时间下光轴的位置等这些与装置的操作和使用状态有关的数据都将被作为文本数据添加到所有的测量数据中。

LEA-500 激光全元素分析仪可在几分钟内分析元素周期表中的所有元素LEA-500 是一款功能强大的现代化仪器，结合了光谱学，激光和软件方面的创新技术，可对样品中的所有化学元素进行测量，以及进行二维、三维元素分布成像和深层分析 通用性(分析不同材料时无需重启仪器) 简便快速的分析(几乎不需要样品制备) 最高的分析灵活性(样品形状和大小的变化可能是无限的) 分析速度快 测量范围广(从 0.1ppm~100%) 高精度测量和稳定性 每个样品分析的成本低，消耗品最少LEA-500 是研究，创建新材料和加工技术的理想工具最广泛应用的最便捷，最有效的分析技术 玻璃，陶瓷，水泥 黑色和有色金属冶金，合金和炉渣 地质行业，矿物，矿石 钾盐和肥料 纯金属中的痕量杂质 塑料和橡胶 建筑材料，粘土、沙子 土壤，环保行业 原材料的提取和加工 化学试剂 药用原料 生物材料 考古文物 半导体行业 农业(食品、饲料、茶叶、植物)快速多元素定性和定量分析 一次同时测量轻元素和重元素 宽浓度范围内的高灵敏度和高精度测量 使用 XYZ 电动位移台和视频成像系统分析样品上的设定点 XY 位移台步进精度为:1um 分析点的尺寸为:50um~1.2mm 可分析杂质和缺陷 可逐层分析 分析深度：1um~100um 涂层和薄膜分析能力 可以 10um 扫描步长绘制样品表面的元素含量分布图 可分析固态和粉末状样品 可分析的最少样品量：50ng 可分析的最大尺寸：75×75×40mm 不需要更改样品的聚合状态 通过初始激光脉冲可清洁样品表面二维元素分布成像LEA-500 是科学研究，创建新材料和加工技术的理想工具仪器的光学设计可以分析小范围不均匀样品中的化学成分，提供元素分布成像和逐层分析。 LEA-500 的独特功能可为每个客户的独特应用提供最佳分析结果：比如：检测地质材料中的化学元素，分析金属合金中杂质含量分布的不均匀性，检测杂质和缺陷的化学成分，分析元素浓度。焊接接缝、建筑建材中有害化学物质的深层浓度分析，石材建筑和玻璃的质量控制等。LEA-500 的独特设计使其成为具有高分析性能和最低检测限的极具吸引力的仪器 双光束光学设计 热稳定结构 光谱范围:175-800 nm 高通量无像差系统，焦距为 500 mm 色散0.5nm/mm(对于3600l/mm光栅)至 1.0 nm / mm(对于 1800 l / mm光栅) 在保护气体的气氛中运行通过以下方式可提供高达 0.01 ppm 的检出限和高重现性: 双脉冲纳秒激光器作为双脉冲的光谱激发源 高能量和空间稳定性 在非常宽的范围内自动控制能量和空间参数新设计的仪器允许在一个激光脉冲中记录大部分可检测元素可靠的设计，创新技术可实现最大的准确性和稳定性，符合最高质量标准。独特的样品室设计，可选装自动进样器 用 100 倍视频摄像机选择分析区域 真空系统可至1mm汞柱 分析系统有气氛保护 电动多位(12 位)样品架 同时加载各种样本并自动切换样本 二维元素分布成像完整的分析软件包，用于校准，评估和报告 全自动测量  只需单击一下即可启动整个分析循环  在分析过程中自动聚焦在样品表面上  样品表面观察，选择任何点或区域进行分析 化学元素分布的三维成像分析 逐层元素分析 光谱数据库

DragonFly是欧洲工程技术中心（CEITEC）唯一的衍生公司Lightigo公司推出的与FireFly平行的产品型号，旨在通过支持扩展、面向科研的设计，实现最强的通用性，让使用者尽享LIBS技术的最强优势。对于通常较难检测的样品，比如钢材中的C元素、岩土材料中的F元素、混凝土材料中的Cl元素、电池中的Li元素检测等，Dragonfly都能实现优秀的检测效果。DragonFly为灵活、易于扩展的模块化设计，独具1-1300 mbar全自动连续控制的真空反应室、激光脉冲波长自动切换功能；此外可选配紫外真空模块，解决了多种谱线在可见光区域互相干扰的特殊情况。DragonFly支持灵活订制，更多例如双激发、多激发方案、多光路采集等----请联系我们共同讨论，与您共同实现最具性价比和针对性的配置方案。应用领域l 植物、土壤、地质、金属、塑料、生物材料的元素检测；l 元素分布成像（mapping）；l 多层剖面元素测量；l 动植物的有害金属/重金属的胁迫响应；l 标记物、纳米颗粒检测主要特点l 1-1300 mbar 真空反应室；l 吹气模块和主动抽吸模块；l 3轴自动移动操作台；l 显微样品观测和环状4段独立照明；l 激光聚焦光斑自动调整；l 8通道内置数字延时发生器；l 气体吹扫和气体抽吸适配器；l 单激发/双激发DPSS激光器；l 最快测量速度100HZ；l Echelle/Czerny-Turner光谱仪；l iCCD/EMCCD/SCMOS/CMOS检测器可选仪器参数DragonFly标准配置选项见下表。主要配置可根据需求和预算做针对性选择，实现最优性价比。DragonFly支持灵活订制，请联系我们沟通您的配置方案。样品样品体积最大80 × 80 × 50mm （样品可为不规则形状）样品支架适用于不规则样品：通用夹式样品支架适用于标准压片样品：12 × 12 mm | 2 × 30 mm | 1 × 50 mm电控样品台移动范围(X × Y × Z)60 × 80 × 50 (X × Y × Z) mm移动分辨率0.08 μm (微移) / 5 μm (标准)：移动速度6 mm/s样品观测正向观测相机CMOS ( 最高55 fps), 视野范围：1.5 mm, 侧向观测相机CMOS ( 最高55 fps), 视野范围：80 mm：照明LED环状照明，4段独立控制激光聚焦透镜空气介质消色差耦合透镜，焦距30 mm光斑大小自动调节范围：10–150 μm激光器标配DPSS激光器；20HZ，70 mJ (1064), 35 mJ (532 nm), 12 mJ (266 nm)1)可选双激发DPSS, pulse energy 100 mJ, 频率可达100 Hz2)光谱仪和检测器标配Echelle + EMCCD, 20 Hz, 200-1000 nm, 分辨率能力可至 60 000 λ/Δλ3) 可选Czerny-Turner/Echelle + ICCD/iStar SCMOS/CMOS, 频率可达100 Hz (1 kHz in ROI4))数字延时发生器通道8个SMB输出通道，另有2个SMB通用I/O通道8 SMB output 模式单脉冲，连续，外触发，门控，负载循环等参数时间分辨率10 ns，精确度5 ns，输出3.3/5 V气体模块气压调节1-1300 mbar 调节范围, 可通入 Ar/He 保护气吹扫系统连续吹扫模式；脉冲触发吹扫模式抽吸系统主动气体/灰尘抽气系统，滤网可更换紧凑版规格长×宽×高1320 × 850 × 1500 mm重量300 kg1) 多种倍频可选； 2）取决于激光器型号； 3）取决于光谱仪的配置； 4）取决于ROILIBS技术原理和优势 DragonFly应用案例：1. LIBS技术对于癌症检测的应用：CEITEC 的布尔诺科技大学Lightigo研究团队正在进行应用LIBS技术的皮肤癌检测研究---癌变细胞与正常细胞的元素构成有差异，所以通过LIBS技术检测肿瘤组织的元素特征，从而应用于医疗诊断。 本图引自捷克电台网站本次采访新闻文章 2020年1月24日，捷克电台发布了在布尔诺科技大学激光光谱实验室对Lightigo团队的采访，Lightigo公司项目负责人Pavel Po?ízka谈到：“LIBS测量能够得到一系列元素分布图像，帮助病理学家尽快确诊。大的肿瘤容易发现，但LIBS技术对于很小的难以检测的卫星肿瘤会非常有用武之地。”2. 应用双激发LIBS技术对蚕豆幼苗根部纳米银颗粒分布mapping分析根部对于植物养分供应、保护植物避免受到过量金属离子的毒害方面发挥着重要作用，但是根部元素分析的难度要远远大于对茎部组织，原因包括：根通常要比茎和芽细小很多；干物质含量小很多，为样品切割带来很大不便；通常待分析元素相对含量较低；而柔软多汁的样品如何保持其结构形状以得到元素分布的正确结果，同样是个难题。Lightigo针对上述挑战，在本案例中进行了成功的探索 --- 应用双激发LIBS技术对蚕豆幼苗根部纳米银颗粒（直径为21.7±2.3 nm）进行mapping分析，目标是对自然状态下的植物组织进行元素检测，获得高mapping分辨率的同时确保检测灵敏度。这同时也是整个LIBS领域中，对植物根部纳米颗粒分布情况的初次尝试。 Cu+溶液处理蚕豆幼苗根横切不同分辨率下mapping结果：100μm、75μm、50μm Cu2+、Ag+、AgNPs处理7日后的蚕豆幼苗根部横切的显微图像和元素mapping对应结果 不同浓度Cu2+溶液【a) 100 μmol l?1 Cu2+ ；b)50 μmol l?1 Cu2+；c) 10μmol l?1 Cu2+； d) 0 μmol l?1 Cu2+】处理蚕豆幼苗根横切mapping结果；e）样品区特征谱线；f）Cu2+浓度降低，其对应谱线强度也依次降低实验结论：LIBS技术检测速度快；即使对直径只有2mm的幼根，也可对其横切面中的金属离子及金属纳米颗粒分布进行mapping分析，检测的精确度和图像分辨率足以满足实验需求。应用双激发技术，Mapping分辨率可达到50μm，足以区分根表皮层、皮层、中柱中的元素分布特征。此外，7天的短时间处理即可检测结果，说明对自然环境中、自然养分条件下的植物来说，LIBS 元素mapping也是元素分布检测行之有效的实验方法，因此将是植物生理学和环境毒理学领域中的有效应用。引自：Krajcarová L, Novotny K, Kummerová M, J. Dubová J, Gloser V, Kaiser J. Mapping of the spatial distribution of silver nanoparticles in root tissues of Vicia faba by laser-induced breakdown spectroscopy (LIBS) [J], Talanta 173 (2017) 28–35.）

—来自美国劳伦斯伯克利国家实验室的绿色化学分析技术技术背景 当激光作用于样品表面时，在极短时间内诱导产生含有样品物质的等离子体，等离子体产生的过程中，发射出带有样品元素信息的发射光谱，通过检测这些发射光谱，得到样品的元素信息。这种技术被称为激光诱导击穿光谱技术LIBS（Laser Induced Breakdown Spectroscopy），俗称激光光谱元素分析技术，检测限可达ppm级；随着等离子的冷却，凝结的样品颗粒可输送到ICP-MS，可测量样品中的微量、痕量元素或同位素，检测限可达ppb级。 测量的元素可覆盖元素周期表中的大部分元素，高达100多种。 J200激光光谱元素分析系统是美国应用光谱公司APPLIED SPECTRA（ASI公司）融会美国劳伦斯伯克利国家实验室（Lawrence Berkeley National Laboratory）30多年激光化学分析基础理论研究成果推出的全球顶级产品。ASI公司由美国劳伦斯伯克利国家实验室资深科学家 Dr. Rick Russo及其团队成立。Russo博士研究领域包括：激光加热和激光剥蚀过程的机理研究；飞秒激光进样系统；利用激光剥蚀技术提高LIBS及ICP-MS 的化学分析精度；激光超声的无损检测和评估等。Russo 博士共发表学术论文300 多篇，专利22 项。ASI公司在激光应用领域具有世界领先的技术及经验。 系统介绍 J200激光光谱元素分析系统创造了激光等离子光谱化学分析技术的新时代，首次将LIBS技术和ICP-MS结合，将检测限提高到ppb级，并可得到样品元素的空间分布图（elements mapping)。目前已广泛用于国际高端和国家级实验室，如美国劳伦斯伯克利国家实验室、美国大克拉曼多犯罪实验室 、巴西圣保罗大学、 美国西北太平洋国家实验室等众多知名机构。 J200激光光谱元素分析系统基于激光诱导击穿光谱技术，实现了从氢元素到钚元素几乎全元素的测量，包括H、N、O等轻元素以及卤族等其他传统方法（包括ICP-MS）不能测量的元素。此外，J200激光光谱元素分析系统还可升级为激光质谱联用元素分析系统，将剥蚀出的纳米级固体样品微粒直接送入ICP-MS进行更精确的分析，有效避免酸溶、消解等复杂样品前处理带来的二次污染和可能的误差引入，同时还可以大大提升元素检测限，实现了ppb以下到100%的宽范围测量，还可在分析同位素的同时进行主量元素的分析。 功能 快速检测土壤、植物、中草药、刑侦材料（玻璃、油墨等）、矿石、合金等样品中的： ? 常量元素N, P, K, Ca, Mg, S ? 微量元素Fe, Cu, Mn, Zn, B., Mo, Ni, Cl ? 痕量元素：可检测化学周期表上大部分元素 ? 其他：有机元素C、H、O和轻元素Li、Be、Na等（其他技术很难同时分析） ? 同位素 （可升级和ICP-MS 联用测量) 应用领域 ? 土壤、植物样品检测 ? 中药元素分析 ? 刑侦微量物证分析 ? 农产品检测 ? 地质矿物分析 ? 煤粉组分检测 ? 重金属污染检测 ? 合金分析 ? 宝石鉴定 ? 材料分析等 工作原理 J200激光光谱元素分析系统的固体激光器产生激光作用于样品表面。当激光能量大于样品击穿门槛能量时，在样品表面形成等离子体。这些等离子体中受激光能量激发到达高能态的样品物质在迅速回迁至低能态的过程中，发射出带有样品元素种类、含量信息的发射光谱，这些发射光谱信号被智能信号收集系统收集并传输至光谱仪中进行分光，再由CCD检测器进行检测，得到元素信息。 硬件特点 ? J200激光光谱元素分析系统可对样品进行全元素快速检测，同时可将固体样品的剥蚀颗粒直接送入ICP-MS系 统，实现ppb级精确分析。弥补了ICP-MS不能测量部分轻元素的缺憾，也有效避免了ICP-MS分析中繁杂的样 品前处理过程及可能引入的二次污染。 ? J200激光光谱元素分析系统可与市面上绝大多数主流品牌ICP-MS的联用。 ? J200激光光谱元素分析系统配备有固体样品室，还可根据用户需求同时配置气体、液体样品室，并通过设置 可自动切换的光路系统，实现固、液、气体样品室在同一系统中的自动化切换，无需人为拆卸。 ? J200激光光谱元素分析系统的硬件采用模块化设计，易于更新。激光器和光谱仪（检测器）可根据样品的种 类及用户的研究目的进行升级，两者均不受外界环境温度影响，无需进行特殊的环境控制，使用寿命长。 ? J200的激光能量和激光光斑大小连续可调，激光脉冲能量稳定一致，可实现样品分层剥蚀、夹杂物和微光斑 分析（直径最小可达5μm）、元素分布制图、高精度定量等多种分析。 ? J200激光光谱元素分析系统采用ASI专利技术：剥蚀导航激光和样品高度自动调整传感器相结合，解决了样品 表面凹凸不平导致剥蚀不均匀的问题；激光能量稳定阀确保到达样品表面的激光能量稳定一致；3-D全自动操 作台。 ? J200具备双摄像系统，分别用于广角成像和放大观察某一样品区域。 软件特点 J200的系统软件能实现对所有硬件组件的控制，能提供多种采样模式，包括直线、曲线、随机点、网格任意大小和自定义采样等，通过设置参数，可在无人值守的条件下自动进行大面积采样。 ASI公司专利的TruLIBS™ 数据库是真正的等离子体发射光谱数据库，与NIST数据库相比，TruLIBS™ 数据库能快速、准确地识别复杂的元素谱线，各种搜索功能，如波长范围、元素种类和等离子体激发态，将搜索时间缩短至几秒。TruLIBS™ 同时允许用户直接上传元素激光诱导特征谱线，进行谱峰的识别和标记。 J200内置的数据分析软件功能强大、分析速度快。能任意选取谱线及背景，自动计算谱线的净强度；计算两个波峰之比；自动计算所有波峰的标准偏差；同步分析所有文件夹及目录下的测量数据。多次采样时，软件自动统计监测LIBS的强度 ，监控信号质量，获得精确的定性和定量分析结果。 数据分析软件具有单变量和多变量校准曲线制定功能，易于完成高精度定量分析。单变量标定曲线对于基质较为简单的样品分析效果较好。多变量标准曲线用于分析基质较为复杂的样品，例如土壤、植物样品等，以减少基质中其它元素对目标元素的影响，提高分析准确性。 此外，J200的数据分析软件还具有PCA、PLS-DA、多参数线性回归等多种化学统计分析功能。可对样品进行快速分类鉴别，并可通过样品某一特定元素的二维或三维分布制图，形象展示样品元素的分布。 产地：美国应用案例1、土壤样品常量和微量元素分析 将不同来源的9个土壤标准样品压片处理，使用ASI公司的J200激光光谱元素分析系统进行测量，并采用J200内置的专业分析软件对测量结果进行分析。并对分析结果的精确度和分类鉴别能力进行评价。图1为9个土壤标准样品的PCA三维分析结果图。这表示分析结果能良好的判断出这9个样品为不同类型的土壤。采用建立的标准曲线检测21号土壤标准物样品，以此来评价分析的准确度和精度（表1）。 2、植物样品表层及深层元素分布 将植物叶片置于金属元素溶液中至24小时，使用J200激光光谱元素分析系统对叶片进行扫描，可见植物叶片对重金属元素吸收分布的情况。其中常量元素由LIBS系统直接测出，重金属元素由LA-ICP-MS进行测量。 采用飞秒LA-ICP-MS系统还可以对植物叶片进行深度的剖析。测量叶片内部不同部位的元素变化情况以及特定元素的分布情况。实验使用飞秒激光器，10个脉冲，脉冲1至脉冲10表示叶片的表层至内部。3、大米和糙米样品外壳及内部砷元素的分布图谱 大米是中国、韩国和日本等东亚诸国的主要农作物，大米中砷元素含量超标引发了很多食品安全问题。国际食品法典委员会标准中也明确规定铅含量不得大于0.2mg/kg ，镉含量不得大于0.1mg/kg，但仍然对砷元素含量无规定。为了建立相关标准，韩国科学技术研究院搜集了韩国市场上常见的100种大米和糙米样品，分析其中砷元素的含量及分布作为相关标准制定的科学依据。研究结果表明，砷元素主要分布在糙米和大米样品的表面，并存在砷元素含量明显的向中心递减趋势。结论：砷元素主要分布在大米和糙米的表面，打磨是降低砷元素含量的主要手段。部分文献 欢迎来电索取文献目录OlgaSyta,BarbaraWagner,Ewa Bulska,Dobrochna Zielinska,Grazyna Zo?a Zukowska,Jhanis Gonzalez,RichardRusso.Elemental imaging of heterogeneous inorganic archaeological samples by means of simultaneous laser induced breakdown spectroscopy and lasera blationin ductively coupled plasma masss pectrometry measurements.Kiran Subedi, Tatiana Trejos, Jose Almirall,Department of Chemistry and Biochemistry, Florida International University, Miami, FL 33199, USA.Forensic analysis of printing inks using tandem Laser Induced Breakdown spectroscopy and Laser Ablation Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry万翔宇，王阳恩，熊艳，王绍龙，梅兴安；长江大学物理科学与技术学院, 湖北荆州；《激光杂志》2014年第35卷第4期.激光诱导击穿光谱对水系沉积物的分类及铬元素测定的研究李辉，王阳恩，刘庆，林佳辉，徐大海.长江大学物理与光电工程学院,湖北荆州；分段激光诱导击穿光谱的水稻种子识别Benjamin T.Manard,C.Derrick Quarles Jr,E.Miller Wyliea and Ning Xua.Laser ablation–inductively couple plasma masss pectrometry/laserinduced breakdown spectroscopy:a tandem technique for uranium particle characterizationHerveK.Sanghapi,Jinesh Jain,Alexander Bol' shakov,Christina Lopano,Dustin McIntyre,Richard Russoc.Determination of elemental composition of shalerocks by laser induced breakdown spectroscopy.Chirinos, J. R., Oropeza, D. D., Gonzalez, J., Hou, H., Morey, M., Zorba, V., & Russo, R. E. (2014). Simultaneous 3-Dimensional Elemental Imaging with LIBS and LA-ICP-MS. Journal of Analytical Atomic Spectrometry. doi:10.1039/c4ja00066hChoi, S. H., Kim, J. S., Lee, J. Y., Jeon, J. S., Kim, J. W., Russo, R. E., et al. (2014). Analysis of arsenic in rice grains using ICP-MS and fs LA-ICP-MS. Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 29(7), 1233–1237. doi:10.1039/C4JA00069BQuarles, C. D., Gonzalez, J. J., East, L. J., Yoo, J. H., Morey, M., & Russo, R. E. (2014a). Fluorine analysis using Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS). Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 29(7), 1238–1242. doi:10.1039/C4JA00061GDong, M., Mao, X. L., Gonzalez, J., Lu, J., & Russo, R. E. (2013). Carbon Isotope Separation and Molecular Formation in Laser-Induced Plasmas by Laser Ablation Molecular Isotopic Spectrometry. Atomic Spectroscopy. doi:10.1021/ac303524dHarmon, R. S., Russo, R. E., & Hark, R. R. (2013). GEOLIBS–A Review of the Application of Laser-Induced Breakdown Spectroscopy for Geochemical and Environmental Analysis. Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy. doi:10.1016/j.sab.2013.05.017Piscitelli, V., Gonzalez, J., Mao, X. L., Fernandez, A., & Russo, R. E. (2013). Micro-Crater Laser Induced Breakdown Spectroscopy-an Analytical approach in metals samples.

—来自美国劳伦斯伯克利国家实验室的绿色化学分析技术技术背景 当激光作用于样品表面时，在极短时间内诱导产生含有样品物质的等离子体，等离子体产生的过程中，发射出带有样品元素信息的发射光谱，通过检测这些发射光谱，得到样品的元素信息。这种技术被称为激光诱导击穿光谱技术LIBS（Laser Induced Breakdown Spectroscopy），俗称激光光谱元素分析技术，检测限可达ppm级；随着等离子的冷却，凝结的样品颗粒可输送到ICP-MS，可测量样品中的微量、痕量元素或同位素，检测限可达ppb级。 测量的元素可覆盖元素周期表中的大部分元素，高达100多种。 J200激光质谱联用元素分析仪是美国应用光谱公司APPLIED SPECTRA（ASI公司）融会美国劳伦斯伯克利国家实验室（Lawrence Berkeley National Laboratory）30多年激光化学分析基础理论研究成果推出的全球顶级产品。ASI公司由美国劳伦斯伯克利国家实验室资深科学家 Dr. Rick Russo及其团队成立。Russo博士研究领域包括：激光加热和激光剥蚀过程的机理研究；飞秒激光进样系统；利用激光剥蚀技术提高LIBS及ICP-MS 的化学分析精度；激光超声的无损检测和评估等。Russo 博士共发表学术论文300 多篇，专利22 项。ASI公司在激光应用领域具有世界领先的技术及经验。 系统介绍 J200激光质谱联用元素分析仪创造了激光等离子光谱化学分析技术的新时代，首次将LIBS技术和ICP-MS结合，将检测限提高到ppb级，并可得到样品元素的空间分布图（elements mapping)。目前已广泛用于国际高端和国家级实验室，如美国劳伦斯伯克利国家实验室、美国大克拉曼多犯罪实验室 、巴西圣保罗大学、 美国西北太平洋国家实验室等众多知名机构。 J200激光质谱联用元素分析仪基于激光诱导击穿光谱技术，实现了从氢元素到钚元素几乎全元素的测量，包括H、N、O等轻元素以及卤族等其他传统方法（包括ICP-MS）不能测量的元素。此外，J200激光质谱联用元素分析仪还可将剥蚀出的纳米级固体样品微粒直接送入ICP-MS进行更精确的分析，有效避免酸溶、消解等复杂样品前处理带来的二次污染和可能的误差引入，同时还可以大大提升元素检测限，实现了ppb以下到100%的宽范围测量。 功能 快速检测土壤、植物、中草药、刑侦材料（玻璃、油墨等）、矿石、合金等样品中的： ? 常量元素N, P, K, Ca, Mg, S ? 微量元素Fe, Cu, Mn, Zn, B., Mo, Ni, Cl ? 痕量元素：可检测化学周期表上大部分元素 ? 其他：有机元素C、H、O和轻元素Li、Be、Na等 （其他技术很难同时分析） ? 同位素 （可升级和ICP-MS 联用测量) 应用领域 ? 土壤、植物样品检测 ? 中药元素分析 ? 刑侦微量物证分析 ? 农产品检测 ? 地质矿物分析 ? 煤粉组分检测 ? 重金属污染检测 ? 合金分析 ? 宝石鉴定 ? 材料分析等 工作原理 J200激光质谱联用元素分析仪的固体激光器产生激光作用于样品表面。当激光能量大于样品击穿门槛能量时，在样品表面形成等离子体。这些等离子体中受激光能量激发到达高能态的样品物质在迅速回迁至低能态的过程中，发射出带有样品元素种类、含量信息的发射光谱，这些发射光谱信号被智能信号收集系统收集并传输至光谱仪中进行分光，再由CCD检测器进行检测，得到元素信息。硬件特点 ? J200激光质谱联用元素分析仪可对样品进行全元素快速检测，同时可将固体样品的剥蚀颗粒直接送入ICP-MS 系统，实现ppb级精确分析。弥补了ICP-MS不能测量部分轻元素的缺憾，也有效避免了ICP-MS分析中繁杂的 样品前处理过程及可能引入的二次污染。 ? J200激光质谱联用元素分析仪配置高适连接口，轻松实现与市面上绝大多数主流品牌ICP-MS的联用。 ? J200激光质谱联用元素分析仪配备有固体样品室，还可根据用户需求同时配置气体、液体样品室，并通过设 置可自动切换的光路系统，实现固、液、气体样品室在同一系统中的自动化切换，无需人为拆卸。 ? J200激光质谱联用元素分析仪的硬件采用模块化设计，易于更新。激光器和光谱仪（检测器）可根据样品的 种类及用户的研究目的进行升级，两者均不受外界环境温度影响，无需进行特殊的环境控制，使用寿命长。 ? J200的激光能量和激光光斑大小连续可调，激光脉冲能量稳定一致，可实现样品分层剥蚀（分辨率最小可达 7nm）、夹杂物和微光斑分析（直径最小可达5μm）、元素分布制图、高精度定量等多种分析。 ? J200激光质谱联用元素分析仪采用ASI专利技术：剥蚀导航激光和样品高度自动调整传感器相结合，解决了样 品表面凹凸不平导致剥蚀不均匀的问题；激光能量稳定阀确保到达样品表面的激光能量稳定一致；3-D全自动 操作台。 ? J200具备双摄像系统，分别用于广角成像和放大观察某一样品区域。 软件特点 J200的系统软件能实现对所有硬件组件的控制，能提供多种采样模式，包括直线、曲线、随机点、网格任意大小和自定义采样等，通过设置参数，可在无人值守的条件下自动进行大面积采样。 ASI公司专利的TruLIBS™ 数据库是真正的等离子体发射光谱数据库，与NIST数据库相比，TruLIBS™ 数据库能快速、准确地识别复杂的元素谱线，各种搜索功能，如波长范围、元素种类和等离子体激发态，将搜索时间缩短至几秒。TruLIBS™ 同时允许用户直接上传元素激光诱导特征谱线，进行谱峰的识别和标记。 J200内置的数据分析软件功能强大、分析速度快。能任意选取谱线及背景，自动计算谱线的净强度；计算两个波峰之比；自动计算所有波峰的标准偏差；同步分析所有文件夹及目录下的测量数据。多次采样时，软件自动统计监测LIBS的强度 ，监控信号质量，获得精确的定性和定量分析结果。 数据分析软件具有单变量和多变量校准曲线制定功能，易于完成高精度定量分析。单变量标定曲线对于基质较为简单的样品分析效果较好。多变量标准曲线用于分析基质较为复杂的样品，例如土壤、植物样品等，以减少基质中其它元素对目标元素的影响，提高分析准确性。 此外，J200的数据分析软件还具有PCA、PLS-DA、多参数线性回归等多种化学统计分析功能。可对样品进行快速分类鉴别，并可通过样品某一特定元素的二维或三维分布制图，形象展示样品元素的分布。 产地：美国应用案例1、土壤样品常量和微量元素分析 将不同来源的9个土壤标准样品压片处理，使用ASI公司的J200 激光光谱元素分析系统进行测量，并采用J200内置的专业分析软件对测量结果进行分析。并对分析结果的精确度和分类鉴别能力进行评价。图1为9个土壤标准样品的PCA三维分析结果图。这表示分析结果能良好的判断出这9个样品为不同类型的土壤。采用建立的标准曲线检测21号土壤标准物样品，以此来评价分析的准确度和精度（表1）。 2、植物样品表层及深层元素分布 将植物叶片置于金属元素溶液中至24小时，使用J200 激光光谱元素分析系统对叶片进行扫描，可见植物叶片对重金属元素吸收分布的情况。其中常量元素由LIBS系统直接测出，重金属元素由LA-ICP-MS进行测量。 采用飞秒LA-ICP-MS系统还可以对植物叶片进行深度的剖析。测量叶片内部不同部位的元素变化情况以及特定元素的分布情况。实验使用飞秒激光器，10个脉冲，脉冲1至脉冲10表示叶片的表层至内部。3、大米和糙米样品外壳及内部砷元素的分布图谱 大米是中国、韩国和日本等东亚诸国的主要农作物，大米中砷元素含量超标引发了很多食品安全问题。国际食品法典委员会标准中也明确规定铅含量不得大于0.2mg/kg ，镉含量不得大于0.1mg/kg，但仍然对砷元素含量无规定。为了建立相关标准，韩国科学技术研究院搜集了韩国市场上常见的100种大米和糙米样品，分析其中砷元素的含量及分布作为相关标准制定的科学依据。研究结果表明，砷元素主要分布在糙米和大米样品的表面，并存在砷元素含量明显的向中心递减趋势。结论：砷元素主要分布在大米和糙米的表面，打磨是降低砷元素含量的主要手段。部分文献 欢迎来电索取文献目录OlgaSyta,BarbaraWagner,Ewa Bulska,Dobrochna Zielinska,Grazyna Zo?a Zukowska,Jhanis Gonzalez,RichardRusso.Elemental imaging of heterogeneous inorganic archaeological samples by means of simultaneous laser induced breakdown spectroscopy and lasera blationin ductively coupled plasma masss pectrometry measurements.Kiran Subedi, Tatiana Trejos, Jose Almirall,Department of Chemistry and Biochemistry, Florida International University, Miami, FL 33199, USA.Forensic analysis of printing inks using tandem Laser Induced Breakdown spectroscopy and Laser Ablation Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry万翔宇，王阳恩，熊艳，王绍龙，梅兴安；长江大学物理科学与技术学院, 湖北荆州；《激光杂志》2014年第35卷第4期.激光诱导击穿光谱对水系沉积物的分类及铬元素测定的研究李辉，王阳恩，刘庆，林佳辉，徐大海.长江大学物理与光电工程学院,湖北荆州；分段激光诱导击穿光谱的水稻种子识别Benjamin T.Manard,C.Derrick Quarles Jr,E.Miller Wyliea and Ning Xua.Laser ablation–inductively couple plasma masss pectrometry/laserinduced breakdown spectroscopy:a tandem technique for uranium particle characterizationHerveK.Sanghapi,Jinesh Jain,Alexander Bol' shakov,Christina Lopano,Dustin McIntyre,Richard Russoc.Determination of elemental composition of shalerocks by laser induced breakdown spectroscopy.Chirinos, J. R., Oropeza, D. D., Gonzalez, J., Hou, H., Morey, M., Zorba, V., & Russo, R. E. (2014). Simultaneous 3-Dimensional Elemental Imaging with LIBS and LA-ICP-MS. Journal of Analytical Atomic Spectrometry. doi:10.1039/c4ja00066hChoi, S. H., Kim, J. S., Lee, J. Y., Jeon, J. S., Kim, J. W., Russo, R. E., et al. (2014). Analysis of arsenic in rice grains using ICP-MS and fs LA-ICP-MS. Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 29(7), 1233–1237. doi:10.1039/C4JA00069BQuarles, C. D., Gonzalez, J. J., East, L. J., Yoo, J. H., Morey, M., & Russo, R. E. (2014a). Fluorine analysis using Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS). Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 29(7), 1238–1242. doi:10.1039/C4JA00061GDong, M., Mao, X. L., Gonzalez, J., Lu, J., & Russo, R. E. (2013). Carbon Isotope Separation and Molecular Formation in Laser-Induced Plasmas by Laser Ablation Molecular Isotopic Spectrometry. Atomic Spectroscopy. doi:10.1021/ac303524dHarmon, R. S., Russo, R. E., & Hark, R. R. (2013). GEOLIBS–A Review of the Application of Laser-Induced Breakdown Spectroscopy for Geochemical and Environmental Analysis. Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy. doi:10.1016/j.sab.2013.05.017Piscitelli, V., Gonzalez, J., Mao, X. L., Fernandez, A., & Russo, R. E. (2013). Micro-Crater Laser Induced Breakdown Spectroscopy-an Analytical approach in metals samples.

在搭载有JED能谱仪的日本电子200kV及300kV透射电镜系统上可配备牛津仪器软件系统AZtec TEM，使得该类用户可以使用功能强大的牛津仪器显微分析软件进行数据的采集与分析。可实现的功能包括：常规定性定量分析 Analyzer/Point ID；元素线扫描及面扫描 LineScan/Mapping；漂移校正功能(主动及被动) - 在分析纳米级和原子级结构时至关重要 Autolock；真实元素分布：实时更正重叠峰和其他假象，然后自动将真实数据可视化 TruMap；元素定量分布：元素含量的二维分布 QuantMap；实时元素分布：实现元素分布的动态观察 AZtecLive；推荐耗材AGB5002，冷冻电镜载网样品盘 51-OI612-C2，冷冻电镜样品载网Quantifoil铜网 51-OI104-2H，国产钼网普通碳膜200目，100枚/盒 AGS147H.Holey小孔微栅碳支持膜 25个/盒 200目 铜网 AGS106，TEM网状格栅标样 AGT5034，瑞士尖直头精密镊子5号

XRF Scanner 样芯元素扫描分析系统是由瑞典 ITRAX 公司在原有CoreScanner 的基础上研制生产，主要用于岩矿样芯及沉积样芯元素快速精确高灵敏度扫描分析，分为 SC 单样芯扫描分析系统（每次装载一个样芯）和 MC 多样芯（每次可装载多个样芯进行分析）扫描分析系统两个版本。原理系统采用XRF和高分辨率数字光学成像技术，非破坏性测量，获得样品高分辨率的数码图像，然后利用系统软件对所得图像和元素信息进行分析。 主要技术特点2 与其他XRF扫描仪相比，Itrax XRF扫描仪为所有元素提供了单位时间和长度的最佳XRF数据质量，以及更高的样品通量2 可对样芯一次性扫描分析从 Na 到 U 的所有元素及 REE（稀土元素） 浓度及分布2 测量不使用氦气，降低运行成本2 结实耐用，轻松完成 24小时/7天 无人值守操作2 Itrax扫描仪是唯一一款可在一次扫描中确定所有元素的XRF扫描仪，同时为每个确定的元素提供最佳数据2 Itrax XRF是唯一一台在连续样品扫描中不会因降低或升高扫描头而降低能力的XRF扫描仪2 非接触式分析与非常小的扫描头相结合，使Itrax XRF扫描仪非常擅长处理样品裂缝和斜坡——而不会破坏样品和数据2 对于XRF分析，Itrax每单位步长分析所需时间仅为1-5秒，即使是1毫米分辨率下的步长也是如此，与其它设备相比，具有无可比拟的高通量优势2 Polyflat™ X-光聚集技术，非接触性元素扫描分析，Micro X-光束对每个点精确扫描分析并可进行平均，如沿样芯每厘米的平均浓度或整个样芯的平均浓度2 可分析元素相位分布及相关关系2 具 RGB 高分辨率彩色镜头及 LED 光源、样品条码扫描器2 软件包功能非常强大应用案例一通常情况下，页岩具有丰富的地质化学组成和痕量金属元素，可以反映其沉积环境、起源、成岩作用等。ITRAX 实验室应客户需求利用 XRF Scanner,以每点（point）每秒 1厘米 的步进速度，对波罗的海 Oland 岛的页岩进行了扫描分析，分析记录了 2400 个点的元素数据（每个点代表页岩样芯剖面 1cm 的测量数据）， 发现有 30 多种元素，包括一些主要元素如Al、 Si、K、Ca、Ti、Fe，微量元素如 P、Cl、S、Mn、Rb、Sr，及痕量元素 V、Cr、Ni、Cu、Zn、 As、Br、Y、Zr、Mo、Nb、Ba、Pb、Th、U。结果表明，页岩样芯富含典型的粘土元素如Al、 K、Ti和Rb，同时TOC（总有机碳）代理元素如V、Ni、Mo及U也很典型。这意味着成岩作用在水底部缺氧、富含硫化物。 应用案例二另一个案例为来自澳大利亚塔斯马尼亚州的富于稀土元素的岩矿样芯，XRF Scanner不仅给出了样芯各种元素的浓度，还可以显示样芯剖面各种元素的浓度分布，而且通过元素浓度相关分析，可以识别鉴定矿相（Mineral phases），如本样芯 Y（钇） 与所有其它记录到的稀土元素（如 Nb、Ce、Pr、Nd、Dy）存在高度相关关系，这意味着 XRF 谱线中所有稀土元素都属同一矿相。 主要技术指标1) 尺寸MC：1900?1200?1650 mm，长?宽?高，包括支架S C：1900?700?1650 mm，长?宽?高，包括支架2) 重量MC：500 kgS C：420kg3) 电力需求：230 v/50Hz 16A，可根据用户需求定制4) 样品长度：最大为1 m，可根据用户需求定制5) 样品直径：最大120 mm，可根据用户需求定制为150 mm6) 样品容量MC：8个，与样品直径相关S C：1个7) 扫描步进：标准 1mm-10mm，可客户定制 0.1mm 步进（更高空间分辨率）8) X-光管：50 瓦铑阳极 X-光管，预期寿命 50000 小时9) XRF：135eV 分辨率，100,000 counts/秒，非接触性扫描10) 其它用户可订制部分*更高通量XRF计数300,000 counts/秒*UV荧光成像模块

XRF Scanner 样芯元素扫描分析系统是由瑞典 ITRAX 公司在原有CoreScanner 的基础上研制生产，主要用于岩矿样芯及沉积样芯元素快速精确高灵敏度扫描分析，分为 SC 单样芯扫描分析系统（每次装载一个样芯）和 MC 多样芯（每次可装载多个样芯进行分析）扫描分析系统两个版本。原理系统采用XRF、数字X-射线密度成像和高分辨率数字光学成像技术，非破坏性测量，获得样品高分辨率的数码图像，然后利用系统软件对所得图像和元素信息进行分析。 主要技术特点2 与其他XRF扫描仪相比，Itrax XRF扫描仪为所有元素提供了单位时间和长度的最佳XRF数据质量，以及更高的样品通量2 可对样芯一次性扫描分析从 Na 到 U 的所有元素及 REE（稀土元素） 浓度及分布2 测量不使用氦气，降低运行成本2 结实耐用，轻松完成 24小时/7天 无人值守操作2 Itrax扫描仪是唯一一款可在一次扫描中确定所有元素的XRF扫描仪，同时为每个确定的元素提供最佳数据2 Itrax XRF是唯一一台在连续样品扫描中不会因降低或升高扫描头而降低能力的XRF扫描仪2 非接触式分析与非常小的扫描头相结合，使Itrax XRF扫描仪非常擅长处理样品裂缝和斜坡——而不会破坏样品和数据2 对于XRF分析，Itrax每单位步长分析所需时间仅为1-5秒，即使是1毫米分辨率下的步长也是如此，与其它设备相比，具有无可比拟的高通量优势2 Polyflat™ X-光聚集技术，非接触性元素扫描分析，Micro X-光束对每个点精确扫描分析并可进行平均，如沿样芯每厘米的平均浓度或整个样芯的平均浓度2 可分析元素相位分布及相关关系2 具 RGB 高分辨率彩色镜头及 LED 光源、样品条码扫描器2 软件包功能非常强大应用案例一通常情况下，页岩具有丰富的地质化学组成和痕量金属元素，可以反映其沉积环境、起源、成岩作用等。ITRAX 实验室应客户需求利用 XRF Scanner,以每点（point）每秒 1厘米 的步进速度，对波罗的海 Oland 岛的页岩进行了扫描分析，分析记录了 2400 个点的元素数据（每个点代表页岩样芯剖面 1cm 的测量数据）， 发现有 30 多种元素，包括一些主要元素如Al、 Si、K、Ca、Ti、Fe，微量元素如 P、Cl、S、Mn、Rb、Sr，及痕量元素 V、Cr、Ni、Cu、Zn、 As、Br、Y、Zr、Mo、Nb、Ba、Pb、Th、U。结果表明，页岩样芯富含典型的粘土元素如Al、 K、Ti和Rb，同时TOC（总有机碳）代理元素如V、Ni、Mo及U也很典型。这意味着成岩作用在水底部缺氧、富含硫化物。 应用案例二另一个案例为来自澳大利亚塔斯马尼亚州的富于稀土元素的岩矿样芯，XRF Scanner不仅给出了样芯各种元素的浓度，还可以显示样芯剖面各种元素的浓度分布，而且通过元素浓度相关分析，可以识别鉴定矿相（Mineral phases），如本样芯 Y（钇） 与所有其它记录到的稀土元素（如 Nb、Ce、Pr、Nd、Dy）存在高度相关关系，这意味着 XRF 谱线中所有稀土元素都属同一矿相。 主要技术指标1) 尺寸MC：1900?1200?1650 mm，长?宽?高，包括支架S C：1900?700?1650 mm，长?宽?高，包括支架2) 重量MC：500 kgS C：420kg3) 电力需求：230 v/50Hz 16A，可根据用户需求定制4) 样品长度：最大为1 m，可根据用户需求定制5) 样品直径：最大120 mm，可根据用户需求定制为150 mm6) 样品容量MC：8个，与样品直径相关S C：1个7) 扫描步进：标准 1mm-10mm，可客户定制 0.1mm 步进（更高空间分辨率）8) X-光管：50 瓦铑阳极 X-光管，预期寿命 50000 小时9) XRF：135eV 分辨率，100,000 counts/秒，非接触性扫描10) 其它用户可订制部分*更高通量XRF计数300,000 counts/秒*UV荧光成像模块

S1 TITAN手持式荧光光谱仪是质量控制（QA/QC）、材料分析（PMI）、土壤环境检测，矿石分析、混料识别、废料分拣（Recycling）、牌号识别（Grade ID）等领域的检测设备。 S1 TITAN小巧的设计，准确的测量精度，抵抗恶劣环境的能力，更加适合用户在各种环境中使用，如高温、高压、潮湿，甚至是雨中作业时设备正常运转，使用起来更加轻巧方便。元素测量范围：Mg-U行业应用：1、石油化工 2、航空航天 3、金属回收与分类 4、质量控制 5、 6、钢铁 7、电站电厂 8、锅炉、容器、管道等1、机械制造与加工 2、贵重金属分析 3、 汽车 布鲁克S1 TITAN 配件，防扎探测器，不但可以保护探测器窗口被尖锐金属材料（如刨花和细丝）所扎坏，同时还可以快速准确地分析几乎任何材料。防扎探测器降低了探测器被扎的几率，从而避免了因更换探测器所产生的成本及困扰。1、认证TITAN防扎探测器可以保护探测 2、防扎探测器的降低了昂贵探测器被扎的几率 3、不会降低分析性能，即使是对轻元素 4、使停工期降至低 5、消chu在废料测量中的担忧 6、结果平均功能 7、电池电量显示 8、颜色代码显示 9、声音提示功能 10、节电功能铂悦仪器（上海）有限公司主要代理各类布鲁克手持式光谱仪，布鲁克手持光谱仪,布鲁克手持式荧光光谱仪，S1 TITAN手持式荧光光谱分析仪，布鲁克S1 TITAN合金分析仪代理商，手持式光谱仪中国经销商，性价比高的手持式X荧光光谱仪，手持式合金元素分析仪，手持式x射线荧光光谱仪，布鲁克手持光谱仪厂家，布鲁克手持式光谱仪中国，上海手持光谱仪销售，进口手持光谱仪，手持光谱仪价格，手持光谱仪多少钱，布鲁克手持式光谱，布鲁克多功能手持式荧光光谱仪，德国布鲁克手持光谱仪，美国布鲁克手持式光谱仪，便携式金属多元素分析仪，手持式金属多元素分析仪，便携式XRF金属元素分析仪，手持式合金光谱分析仪，手持式XRF光谱合金分析仪，成都便携式金属元素分析仪，进口便携式金属元素分析仪，S1 TITAN便携式金属元素分析仪，进口品牌手持光谱分析仪，便携式x射线荧光光谱分析仪，德国手持式X荧光光谱仪，布鲁克荧光光谱合金分析仪，S1 TITAN便携式合金光谱仪，布鲁克手持X射线荧光光谱仪，手持式ROHS分析仪，进口手持rohs检测仪,布鲁克手持式光谱仪代理商，便携式无损金属元素分析仪，便携式手持贵金属检测仪，美国手持光谱仪，德国手持光谱仪，进口品牌手持式光谱仪，便携式光谱仪价格，布鲁克携式光谱合金分析仪，贵金属检测，能量色散X射线荧光光谱仪，xrf分析仪，不锈钢光谱分析仪，xrf手持式，xrf检测仪，xrf便携式光谱仪，便携光谱仪厂家，元素光谱分析仪，光谱金属检测仪。

SuperHawk9000光纤分布式测温主机应用电缆温度在线监测管道泄漏在线监测特点客户定制任意通道标准3U 尺寸，可以上机柜长期在线监测优秀的热稳定性及长期稳定性以太网接口描述 SuperHawk9000光纤分布式测温主机是一款高精度、高分辨率的光纤分布式测温系统。主要参数：产品型号SuperHawk 9000光纤分布式测温主机性能指标通道1~16采集最小间隔40cm空间分辨率1m温度精度+1℃温度重复性0.5℃温度分辨率0.1℃光纤类型50/125μm功耗25W光纤接口E2000/APC通信接口Ethernet工作温度0℃~50℃供电电源直流24V或 交流100~240V/50-60Hz尺寸和重量428 mm x 456 mm x 132 mm 15.0kg

PreMed 7000 电感耦合等离子体质谱检测系统国产化自主研发，独特的接口技术将等离子体的高温电离特性与四极杆质谱仪的灵敏快速扫描的优点相结合，搭载全中文一体化的质谱工作站，可同时、快速测定多种微量元素。主要应用于人体微量元素的检测，可为健康保健、疾病诊断、观察疗效提供可靠依据。产品概述性能优势自主知识产权，多元化核心技术 拥有自激式全固态射频电源、双离轴式离子光学系统、分布式碰撞/反应气扩散技术、离子动能歧视技术、数字模拟双模检测器等多项创新技术。核心技术模块自主可控，摆脱质谱技术随时被“卡脖子”的风险。高灵敏度，高稳定性，高检测效率采用自主研发的大开口偏转透镜，大幅提高离子透过率；创新型的分布式碰撞/反应气扩散技术，有效提升碰撞效率；双离轴式离子光学系统，消除干扰离子，降级噪声基线，可实现血液/血清样品的直接稀释进样，具有良好的抗干扰效果。热等离子体和真空交界空气动力学仿真设计，提到等离子稳定性；自激式全固态射频电源，采用频率匹配调谐，稳定可靠；双路射频电源闭环自适应调整技术，保证长时间检测临床样本时电控系统的稳定性。 搭配原厂自动进样器和快速进样模块，可实现连续快速进样，可在1分钟内同时测定单个样本中21种元素。全中文操作软件Windows风格的全中文质谱分析工作站，便捷的用户使用体验，无学习障碍，方便新人迅速上手；丰富的智能化套件、强大的高通量数据处理分析软件，提高数据自动化分析效率；一键自动调谐和质量校准，可视化参数调节工具，简化建立和验证方法步骤，灵活性强。 应用领域对人体微量元素进行准确测定，辅助诊断和治疗相关疾病，指导合理饮食和生活习惯，避免摄入不足或过量，多用于母婴保健、相关的先天缺陷筛查、儿童成长发育、及地方性微量元素缺乏相关疾病诊断和治疗。 对有毒有害元素进行监测及筛查诊断，避免其对人体神经系统、肌肉骨骼以及胃肠系统等造成的损害。

n 产品介绍热光法以热分解过程中滤膜上的激光强度变化为依据，准确判断有机碳（OC）和元素碳（EC）的分割点，是目前国际上使用最广泛、公认较成熟的含碳气溶胶分析方法之一。ECOC-610，大气有机碳元素碳（OCEC）分析仪，基于热光法原理，结合NDIR测量技术，实现了大气颗粒物中EC和OC的在线监测。n 产品原理ECOC-610，大气有机碳元素碳（OCEC）分析仪，通过自动采样将颗粒物富集在耐高温石英滤膜上，用纯He气吹扫管路，依次开启无氧和有氧热解析流程，生成的气体经高温氧化炉转化为CO2进入NDIR分析模块。热解析过程中可根据激光光强的变化，判断OC和EC的分割点。热解析结束后，He/CH4内标气体经过定量环进入管路，经氧化炉氧化为CO2，进入NDIR，通过分割点前后的CO2峰面积与内标物峰面积的比值关系，计算出OC和EC浓度。n 产品特点ü 热解析结合激光校正的热光法原理，实现了OC和EC的精确分割和定量；ü 可获取采样过程中EC的实时浓度和分布曲线；ü 具有不同升温程序，满足不同标准要求；ü 高精度PID控制技术，精确控制炉温，在保证热解析条件下，延长加热丝寿命；ü 通过集成一体化工控机实现仪器的自动控制，操作界面简单。n 应用领域ü 大气颗粒物来源解析；ü 大气碳质组分监测；ü 交通排放监测；ü 含碳物质的燃烧排放监测等；

AZtecLive是一种变革性的EDS分析方法，可以改变用户在SEM中进行样品筛选的方式。它将实时电子图像与实时X射线元素成像结合起来，为客户提供了一种更为直观的与样品互动的新方式。AZtecLive的硬件是强大的Ultim Max系列能谱，结合新一代的SDD探测器和Extreme的电子电路，提供了高性能的速度和灵敏度。实时元素成像通过Live Trace记录分析过的每一个位置，方便回溯感兴趣的元素及位置最大170mm2探测器定量分析最大计数率达到400kcps面分布图最大计数率达到1000kcps电镜样品制备必选耗材： AGG3939，双面碳导电胶带8mm×20m AGB7341，全自动型离子溅射仪 AGB7367A，全自动型高性能喷碳仪 51-OIQCTA，SEM及能谱多功能标样8mm×32mm Zeiss蔡司扫描电镜SEM专用全套耗材包 硅片衬底

树木年轮密度与元素分析仪简介前言树木年代学发展至今，已形成了一套比较完备的基本理论和分析方法。森林生态、森林火灾、历史时期气候、大气污染、考古、火山爆发、地震、洪水发生频率等十几个方面的研究也发展起来。为适应不同的研究目的，分析手段多样化，年轮的宽度测量，密度测量，元素分析等新技术和新方法可以从树木样品中提取更多有用的信息，使得相关领域研究内容更加丰富。年轮元素分析仪是一款高端的测量分析设备，在世界上首次同时采用了XRF和X-射线成像技术，可用于木材、湖海沉积物、堆积物、泥炭等样品的浓度和元素分析。可测量的元素有Al、Si、S、Cl、K、Ca、Cr、Mn、Fe、Cu、Zn、As、Hg、Pb等，其中许多可测至痕量水平以下，对灵敏度和分辨率要求较高的研究尤其适合。原理系统采用X-射线成像和XRF（X-射线荧光）技术，获得样品高分辨率的数码图像。利用X-射线成像技术得到样品的密度图像，用于样品的密度分析；采用XRF技术得到样品多种元素分布图像。然后利用系统软件对所得图像信息进行分析。上图左为仪器实物照片，右为厂家在现场进行培训应用方向古气候学林业研究环境取证生态学和人类历史研究木制品系统特点结合了X-射线成像与XRF元素分析可得高精度的样品密度图像和元素曲线利用XRF实现多种元素的分析可分析不同类型、形状、尺寸和厚度的样品，可以是树木生长锥取下的树木样品，也可是片状、块状样品或圆形沉积物样品等，样品准备和前处理简单自动进行多样品分析X-射线成像的信息以数字化方式储存，结果可即时显示。软件特点用户可选择分析区域、分辨率以及扫描时间批量操作功能支持无人值守下的批量测量可得多种元素的密度曲线（使用XRF功能）简化分析过程，通过参数设置控制整个分析过程上图左为软件操作界面，右为样品槽及待分析的年轮样芯系统组成年轮元素分析主机（选配XRF元素分析模块） X-射线发生器 X-射线检测器 标准LFF型X光管 PolyflatTM 扁平X光束光学系统 X光束调节器 样品槽 密度校准塑料楔 控制及操作台平板扫描仪冷却系统计算机UPS电源软件用户手册技术指标1) 测量原理：X-射线荧光分析和数字X-射线成像技术。2) X 射线发生器：60 kV，55 mA，最大功率3.3 kW。3) 射线管：一个标准的LFF型X光射线管（Cr）。最大功率工作寿命2000h，功率降低寿命延长。当使用铬管进行木材密度分析时，样品厚度范围为1~10mm，较厚的样品(最厚50 mm )，通常选择Mo管，这需要另一种类型的X-射线成像感应器。4) 光学系统：PolyflatTM 专利 技术，PolyflatTM 扁平X光束光学系统，用于局部区域的快速测量，测量点面积为50微米×20毫米， X-射线图像的分辨率达10x20微米，宽15~20mm（根据软件设置），通过软件组合片段图片可得到宽度大于20mm的图像。使用这种光束的XRF，水平方向的分辨率为50微米，垂直方向的分辨率为2mm。5) X光束调节器：X光束调节器可使X-射线图像在水平方向的分辨率达10微米。6) 控制台：一个300x200mm X/Y可移动电脑控制台，扫描点长2.5微米，重现性好。7) 样品槽：最多放9个长280mm，宽7~12mm的木条样品。样品槽可拿出。其他类型的样品槽根据需要可订购。8) X-射线检测器：线性排列感应元件，其测量所得图像的格式为16 bits。包含控制、操作及数据采集所需的硬件和软件。适于厚度不超过15mm木材类样品的测量。9) 密度校准塑料楔：用于密度校准，位于样品固定槽上方。10) 操作台：780×800×1600mm（长×宽×高），用于放置上面提到的所有原件。测量区用一块含铅透明板遮挡，用于防尘，防X-射线泄露。操作台内置安全控制系统，打开瞬间，X-射线会自动关闭。11) 扫描仪：一个平板扫描仪，用于测量前，条形样品槽内样品的扫描。12) 冷却装置：冷却水泵。13) 电源：建议配置UPS。14) 重量：250kg。应用案例一该图显示了过去1500年Fennoscandian北部夏季气温基于Multiscanner的数据的气候重建，与该时期的仪器温度数据的相关性为0.84，Dr. H Grudd, Dendrolab, Stockholm, Sweden应用案例二该图显示了树轮样品的放射线图像，覆盖在放射线图像上的为三个图表，显示该样品上的硫（黄色），磷（红色）和氯（蓝色）分布变化，这些数据被用作环境取证中与时间相关的污染记录，Dr C. Balouet, Environment International, Orrouy, France, and H. Grudd, Dendrolab, Stockholm, Sweden产地瑞典选配技术方案高光谱技术产品进行年轮密度及化学组分分析EMS气象站进行样点环境因子监测EcoDrone无人机遥感平台进行大尺度样地调查Vertex IV手持式树高测量仪Haglof树木生长锥IML系列树木针测仪部分参考文献1. Kaiser, K. et al. A submerged pine forest from the early Holocene in the Mecklenburg Lake District, northern Germany. Boreas 47, 910–925 (2018).2. Kaiser 等。 - 2018 - A submerged pine forest from the early Holocene in.pdf.3. Kaczka, R. J. et al. Different maximum latewood density and blue intensity measurements techniques reveal similar results. Dendrochronologia 49, 94–101 (2018).4. Kaczka 等。 - 2018 - Different maximum latewood density and blue intens.pdf.5. Moreno-Fernández, D., Hevia, A., Majada, J. & Ca?ellas, I. Do Common Silvicultural Treatments Affect Wood Density of Mediterranean Montane Pines? Forests 9, 80 (2018).6. Moreno-Fernández 等。 - 2018 - Do Common Silvicultural Treatments Affect Wood Den.pdf.7. Hallingb?ck, H. R. et al. Optimal timing of early genetic selection for sawn timber traits in Picea abies. European Journal of Forest Research 137, 553–564 (2018).8. Hallingb?ck 等。 - 2018 - Optimal timing of early genetic selection for sawn.pdf.9. Bloemsma 等。 - 2018 - Practical guidelines and recent advances in the It.pdf.10. Hevia, A. et al. Towards a better understanding of long-term wood-chemistry variations in old-growth forests: A case study on ancient Pinus uncinata trees from the Pyrenees. Science of The Total Environment 625, 220–232 (2018).

XGT X射线分析显微镜是能量色散型X射线荧光分析仪，可以快速、无损地分析待测样品的元素组成。不仅可以分析10 &mu m的微小区域；还可以自动扫描样品，扫描区域可达10cm X 10cm。没有什么技术可以如此简单的获得如此多的信息。仅仅需要点击感兴趣区域，就可以开始测量。并可以获得光学图像和元素面分布图的完美结合的测量结果。 XGT-7200 X射线分析显微镜单点分析以及自动球面成像 ，双真空管模式，光斑尺寸自1.2 mm 到 10 µ m.XGT-5200 X射线分析显微镜单点分析以及自动成像，正常大气压力下分析，光斑尺寸自1.2 mm 到 10 µ m. 最新一代的X射线荧光分析显微镜XGT-7200开创了科学分析的新时代。它将光学图像与元素分析完美地结合，为科研工作者的研究和分析提供了新的分析手段。 SDD检测器保证了高速、高精度元素面扫描；高能量分辨率，高计数率的测量，且无需液氮。 双真空式设计确保用户可以在几秒钟内完成样品室内部氛围的切换（大气或真空）。即使测量含水样品、生物样品时也可以保证测量 所有元素的高灵敏度。 独特的硬件设计确保了XGT-7200操作的灵活性和广泛的应用范围。通过软件控制x射线导管在10 µ m和1.2 mm间切换，以保证获得 最佳测量条件，无论是微观到宏观。 与x射线导管同轴的CCD相机，可以迅速、精确地定位感兴趣区域。有着诸多创新的XGT-7200在众多领域有着广泛的应用：电子电器、发动机磨损分析、法医科学、地质矿物、医药、博物馆、冶金、生物等。 XGT-7200的灵活设计，保证用户通过简易的操作即可获得高质量的分析结果，无论是分析大区域，还是对微区细节分析，或是同时采集X射线荧光图像和X射线透过像。主要特点：专利技术：X射线聚光导管（XGT）1、 世界领先技术：可将X射线全反射聚焦的聚光导管。2、 XGT技术创造了世界上最小的分析用X射线光斑（10µ m）丰富强大的分析功能1、 将光学图像与元素分析完美结合，轻松实现样品中元素的分布分析。2、 提供革命性的10µ m直径X射线束，实现对样品高分辨率的元素分析。3、 利用X射线的穿透性可以无损地对样品内部结构进行观察。4、 提供多种样品图谱采集方式，单点分析，多点分析，X射线透过像，高光谱元素面分布图像5、 完备的数据分析包提供定性分析，定量分析，多层厚度分析，谱图分析，谱图匹配，谱图比较，RGB图像合成等丰富的功能。6、 双真空模式，局部真空模式用于粉末样品，含水样品或生物样品进行分析，全真空模式可以进一步提供轻元素的分析精度。

产品信息　　粒度分布在粉体物理性质中是最基本的特性之一，它不仅左右着粉体本身的性质和活动，而且也影响着以粉体为原料的制品的质量，是一个重要的物理性质。因此，在处理粉体时，粒度分布的测量就变得极其重要。　　 岛津激光衍射式粒度分布测量仪SALD-201V，可以在短时间内，通过简单的操作完成粒度分布测定，且分辨率高、精度高、重复性好。该装置从实际粒度分布测量所需的功能和性能中,严格筛选使用频率高的，彻底精简，打破了以往的常识，实现了高性能价格比。　 　另外，标准配置了适用于Windows2000/XP操作系统的软件，不仅可以显示和打印数据，改变折射率进行再计算，还可以实现统计处理、时间系统处理、三维显示等多种复杂的数据处理功能。Model 1 测定范围：0.25~50um 测定方式：批式池Model 2 测定范围：0.25~350um 测定方式：批式池+循环池 主机特点高性能、低价格、外形小紧凑的主体凝聚了高性能。实现了高性能价格比。由于采用了新开发的竖型光学系统，放置面积仅为950 （Model 1）/1820（Model 2）cm2左右。竖型光学系统为岛津制作所的专利。 适用于食品、饮料、医药品、化妆品、乳剂等比重较轻样品测量的湿法专用机 使用符合ISO和JIS规格的单一光源、单一光学系统，覆盖0.25-50/350&mu m 粒子径范围使用符合ISO和JIS规格的单一光源、单一光学系统，覆盖0.25-50/350&mu m 粒径范围。实现无断点的单一宽量程。不会产生因复数光学系统组合或复数数据连接所造成的数据的不连贯和不匹配现象，得到正确的粒度分布测量结果。 高分辨率的54元素光传感器传感器采用高分辨率的环形传感器（54元素）。可正确地并且高分辨率地检测出衍射散射光的光强度分布模式，连微妙的粒度分布变化也不会漏过。 应用AI自动范围判断功能对粒度分布进行计算所谓AI自动范围判断功能是指，应用环形传感器检测出的衍射/散射光的光强度分布数据，先自动进行大致的粒度分布范围判断，再根据所得范围选择最适合的计算条件，进行精密的粒度分布计算。这样，无论窄的分布（累积计算粒度分布图的倾角陡）还是宽的分布（累积计算粒度分布图的倾角平缓）即使事前无任何样品相关信息，都可以准确地进行粒度分布测量。 可进行与样品的折射率相对应的测量标准配置了378种折射率（由实数部和虚数部组成），测量者可以根据样品自由选择。另外，对于保存在硬盘或软盘等外部存储装置中的以前数据，改变测量时的折射率，可对粒度分布进行再计算。还可一次性改变最多12组数据的折射率。 标准配备了丰富的数据处理功能名为WingSALD的操作软件适用于Windows所有操作系统,并具有统计处理，时间系统处理，三维显示等多种数据处理功能，操作简便。 使用寿命长、输出功率稳定的半导体激光源光源采用形状小寿命长（连续20万小时以上）的半导体激光。附加稳定输出回路，激光输出在打开电源后仅2、3分钟就可稳定。 附加自我诊断功能、易于保养标准配备的软件编入了强大的自我诊断功能。由于可详细检查装置的动作状况，使维护变得容易。 配备激光光束安全系统测量室打开时，激光光束自动关闭。 保证光学系统稳定的结构重量轻且无发热影响的半导体激光作为光源，保证了光学系统状态的稳定。采用全方位冲击吸收装置：OSAF(Omnidirectional Shock Absorption Frame)使光学系统的所有重要部件，免受外来的冲击和震动等的干扰。 为提高测量数据的可靠性，装备操作日志（Operation Log）功能操作日志（Operation Log）功能，使所有的测量数据中附加了包含装置的使用状况、样品池的污染状况等细节信息，通过核查操作日志，可以验证以往测量数据的可靠性和正确性。

SciAps X系列 XRF 是专为现场金属材料分析，野外矿物元素分析及土壤重金属分析而研发的一款手持元素分析设备，采用的X射线荧光技术，分析速度快，结果准确，操作简单，整体设计适用野外高温，雨淋，多尘等多变的作业环境。具有以下特点：分析速度快且精度高X系列XRF 分析仪是美国Don Sackett 博士所带领的团队继 XT, Alpha, Omega, Delta系列XRF元素分析之后的研发第5代手持XRF分析仪器；采用了新进的硬件及软件.体积小，轻便便于携带便携X射线分析仪器的使用者希望新一代的X射线分析仪器更小更轻。将用户的需求和我们数10年积累的XRF知识结合，轻，，分析速度更快，分析效率更高的手持式X射线分析仪器X系列问世了。重约1.34斤。高清显示技术采用术显示屏，结果在所有光照条件下都清晰可见质量好，耐用 独特不锈钢防护罩，SciAps X 分析仪采用工业级双层探测器保护技术，极大的降低了X分析仪损坏的风险，降低了后期拥有成本。操作简单，兼容性好的操作平台SciAps X 系列分析仪与手机一样运行安卓系统，操作简单，兼容性好，可以通过蓝牙或无线与电脑及打印机连接，分享与打印测试结果。SciAps XRF X-555 软件特点及应用软件特点：与X 系列的其它仪器相比，SciAps X-550 采用一种新的X射线管及全新的分析方法，该方法将现场材料分析的速度又提高了一个档次，且一步降低了贵金属元素的检测限值。卓越的性能始于的手持式XRF技术，由55千伏X射线管引领，可对银、镉、锡、锑和钡等关键元素实现超低检测限。从Mg到U，多达三个自动光束设置在整个周期表中提供性能。所有这些都在一个坚固的仪器中，配备的软件和出色的散热性能。主要应用：采矿一流的轻元素性能，可实现镁、铝、硅、磷和硫等元素的超低检测限，同时还具有足够的功率，可在探路者Ag、Sn、Sb和稀土元素等重元素上实现令人印象深刻的精度，再加上稀土元素检测功能，构成采矿的工具。 可以立即对露天矿场的爆破孔样本进行即时筛查，从而减少了对矿场实验室的依赖。 实验室测试分析前对样本进行预筛选，以最大程度地提高实验室检测效率。 辨别矿化趋向及异常现象，定义钻孔位置，扩展土壤样本的勘察边界。 采用适当抽样方法，提高对地下矿石品位的控制能力。 矿石品位和过程控制 及时分析矿样元素及含量，对矿石交易价格提供理论依据 对储矿堆材料的分析有助于制造厂的配料和给料操作。 对进料、沉淀物、精矿及尾料进行实时分析。 分析精矿和金条中的杂质元素。 在铜厂和贵金属厂中，作为液体比重测定过程的一部分，对废液进行检测环境土壤XRF质量保证与质量控制（QA/QC）在金属制造行业中，材料、半成品、成品的质量保证与质量控制（QA/QC）是必不可少的，混料或使用不合格材料必给企业带来损失。SciAps 便携式XRF 合金分析仪被广泛用于从小型金属材料加工厂到大型的机械制造商的各种制造业，已成为质量体系中材料确认、半成品检验、成品复检的首选仪器。稀土地质调查，矿产普查与勘探SciAps X系列分析仪的机身设计坚固耐用，性能稳定，精度高，可以在各种艰苦条件下正常操作，是野外探矿及矿区现场品位分析不可或缺的设备。 支持野外目标区域现场，大范围，大量采样测样，获取该区域岩石、碎片、土壤、沉积物等定性化学成份及定量性数据结果，结合GPS 功能和专业软件，绘制目标区域元素含量分布图，为目标区域矿产资源预测、勘查、评价及开发利用提供第一手的地化信息。 为矿权交易，分配勘探的预算经费提供第一手的地化信息。油气勘探现场检测钻机取出的各类样品，即时给出样品种元素的种类及含量，帮助地质专家及工程师及时判断需钻孔的位置，深度，在泥浆录井，高级勘探与钻井等等领域应用广泛环境治理和治理可以使用X系列分析仪，分析仍在使用和已经关闭的矿场（山）或附近场地的土壤、沉积物、灰尘、尾矿中的元素及含量，为环境监控治理提供数据依据。各环监部门可使用X系列分析仪快速检测目前区域法规规定需控制的金属元素重量及含量，收集并归档环境监控的量化记录。地矿相关专业学术科研与教育X系列分析有助于完成大学校园内实验室中进行的实验，支持本科生和研究生完成科研项目，并在日常的教学活动中，帮助地矿相关专业教师完成教学任务。由于X系列分析XRF分析仪可以迅速提供结果，因此不仅可以帮助学生们了解现代分析方式，辨别各种样本，而且还可以加深学生们对矿物沉积以及与矿床研究相关的矿石成因等知识的了解。 X555系列分析的优势2018年X系列分析经过多品牌性能评估，多层级筛选比较, 成功入围美国各大石油公司及其检测单位采购名录，产品具有以下优势：1. X系列发布时间2018年3月，是目前市面上新款手持XRF分析仪，拥有的运算方法和技术的元器件，体积更小，重量更轻2. 2秒就可以出测试结果，目前市面上畅销的仪器均为10年左右研发的产品，速度相对比较慢，需10-15秒才能完成一个样品测试；因此一台X系列分析仪的效率约等于5-7台畅销仪器效率3. 在检测量一定的情况下，因X射线管理论寿命已固定，X系列分析仪单个样品分析时间缩短，所以X射线管使用时间延长，X分析仪后期拥有成本变低。关键元素的稳定性及检测极限变得更低，特别是稀土元素。因为传统40KV电压的XRF用L线可以完成大多数稀土元素的检测L线会受到很多普通元素严重干扰，而55千伏仪器则可以直接测试稀土元素的K线，测试结果更加可靠准确。SciAps X-555分析仪技术规格尺寸与重量外形尺寸：184x114x267mm；重量=1.35KG（带电池2.98磅）环境要求-12℃到55℃★激发源★探测器25mm2SDD探测器（有效面积）应用矿石成分分析X射线过滤多位置滤波器， 优化光束分析范围38个标准元素: La, Ce, Pr, Nd, Sm Eu, Gd, Y, Ti, V, Cr, Mn,Fe, Co, Ni,Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Nb, Mo, Te, Ag, Cd, Sn,Sb, Ba, Ta, W, Au, Hg, Tl, Pb, Bi, U。可根据用户需求添加其它元素。可根据用户要求添加。★显示器2.7英寸彩色电容触摸屏- 400MHz高通Adreno 3062D/3D图形加速器★通讯/数据传输同过Wifi，蓝牙，USB连接到打印机，手机，PC电脑等 设备。处理器CPU1.2GHz Quad ARM Cortex A53 64/32-bit, 随机存储：2GB LPDDR3,存储16GB eMMC脉冲处理器数字化率在80 MSPS 8K通道MCA USB 2.0，用于高速传输数据到主机处理器。数字滤波在FPGA中实现的高通量脉冲处理20ns - 24us的峰值时间。电源可内置充电锂离子电池，换电池时不需要关机；客户可根据需要直接连外接交流电源供电。校准和牌号基本参数法。支持经验系数法修正校准检验外置316不锈钢用于校准验证和能量验证安全双重密码保护，使用时输入密码（用户级）和仪器内部设置密码（管理员）法规CE, RoHS, USFDA 注册, 加拿大 RED 法规

J200 LIBS元素分析系统系统功能J200 LIBS元素分析系统为高灵敏度和高准确性分析而设计，许多元素检测限可达ppm个位数，用于样品基质中多元素定量定性分析。J200实现了从氢元素到钚元素的测量，包括H、N、O等轻元素以及卤族等其他传统分析方法（包括ICP-MS）不能测量的元素。系统设计确保每个激光脉冲的可重复性。J200 LIBS元素分析系统将LIBS技术和ICP-MS相结合，将剥蚀出的样品固体微粒直接送入ICP-MS系统做进一步分析，避免酸解等样品前处理过程带来的二次污染和误差引入。同时，实现ppb级至百分含量的测量范围，还能进行元素空间分布制图（elements mapping)。系统在分析同位素的同时还能进行主量元素分析。工作原理系统采用激光诱导击穿光谱（LIBS）技术，通过短激光脉冲在样品表面产生高能等离子体，在等离子体反应过程中，发射出具有离散光谱峰的光，收集这些光进行光谱分析。每种元素与LIBS的某一个或多个谱峰对应，通过鉴定不同的光谱峰，可以快速确定样品化学组成；峰强度信息可用于量化样品中元素的含量。随着化学计量软件的发展和激光烧蚀应用基础研究的进步，研究人员正在将LIBS技术应用于各行各业样品基质的定性和定量分析。J200 LIBS元素分析系统基于劳伦斯伯克利实验室30多年激光剥蚀基础理论研究成果，系统分析快速、可靠、准确、环保，可适应从实验室到现场再到生产车间的多种应用环境。检测范围J200 LIBS元素分析系统可分析各种样品，包括土壤、植物、矿石、生物组织、刑侦材料（玻璃、油墨等）、合金、半导体、绝缘体、塑料、薄涂层和电子材料等等。检测元素种类具体包含：常量元素N, P, K, Ca, Mg, S微量元素Fe, Cu, Mn, Zn, B., Mo, Ni, Cl等化学周期表上大部分元素有机元素C、H、O、N轻元素Li、Be、Na等（ICP-MS难同时测量）同位素（升级与ICP-MS 联用)应用领域常规土壤元素分析、土壤污染检测、刑侦微量物证分析、煤粉组分分析、矿石检测、生物组织分析、农产品分析、合金分析、宝石鉴定、各种材料分析等。可靠硬件优化等离子体光收集。J200 LIBS采用独特的聚光光学设计，将大量的等离子光耦合到检测模块，实现高灵敏度测量。提高分析准确性和可重复性。J200的导航激光和自动传感器相结合，解决样品表面凹凸不平导致剥蚀不均的问题。激光稳定阀使到达样品表面的激光能量稳定一致，系统标配3D全自动操作台。系统可升级与ICP-MS连用，在进行LIBS元素分析的同时，将样品剥蚀颗粒送入ICP-MS系统，实现更多分析。弥补ICP-MS不能测量部分轻元素的不足，也避免了复杂样品前处理及由此引入的二次污染和误差。系统可与市面上多数ICP-MS联用。系统标配固体样品室，还可选择配置气体或液体样品室，通过设置可自动切换光路，实现固、液、气体样品室自动切换。系统硬件采用模块化设计，方便更新。激光器和探测器可根据样品的种类及用户研究进行升级。系统具备两个成像系统。广角成像用于整体观察样品，确定采样区域；另一成像系统用于放大样品选定区域进行采样。激光能量和光斑大小连续可调，激光脉冲稳定一致，实现样品分层剥蚀、夹杂物和微光斑分析（zui小5μm）、元素分布制图、高精度定量等多种分析。强大软件系统软件能够对所有硬件进行控制。提供多种采样模式，包括直线、曲线、随机点、网格任意大小和自定义采样等，通过设置参数，可在无人值守的条件下自动进行大面积采样。TruLIBS&trade 数据库是等离子体发射光谱数据库，与NIST数据库相比，TruLIBS&trade 数据库能快速、准确地识别复杂的元素谱线；各种搜索功能，如波长范围、元素种类和等离子体激发态，将搜索时间缩短至几秒；允许用户直接上传元素激光诱导特征谱线，进行谱峰的识别和标记。系统内置的数据分析软件功能强大、分析速度快。能任意选取谱线及背景，自动计算谱线的净强度；计算两个波峰之比；自动计算所有波峰的标准偏差；同步分析文件夹及目录下的测量数据。多次采样时，软件自动统计监测LIBS的强度 ，监控信号质量，获得准确的定性和定量分析结果。具有单变量和多变量校准曲线制定功能。单变量标定曲线对于基质较为简单的样品分析效果较好；多变量标准曲线用于分析基质较为复杂的样品，例如土壤、植物样品等，以减少基质中其它元素对目标元素的干扰，提高分析准确性。数据分析软件还整合了PCA、PLS-DA、多参数线性回归等多种化学统计分析功能，可以对样品进行快速分类鉴别。系统软件还可通过样品某一特定元素的二维或三维分布制图，展示样品的元素空间分布。产地：美国

显微光分布测试系统 随着半导体照明的进一步快速和深入发展，LED在道路照明、室内照明、汽车灯、手提灯具等多个领域等到了越来越广泛的应用，同时，业界对LED灯具的二次光学设计以及利用LED灯具的空间光度数据进行照明设计的要求也越来越高。作为LED产品的心脏，LED光源的光品质就显得尤为重要！LED光源的主要功能是把电能转化成光能，而当前，芯片厂和灯珠厂在LED光源设计过程中，仅仅是针对光源进行相对简单的测量，获得整体的亮度、波长和电压等参数。而实际上，由于电极设计、芯片结构、封装方式等方面的影响，光源表面的亮度和颜色并不是均匀分布的，传统的光源测量方式并不能精确地描述光源表面这种空间光分布的特点，这样容易导致光源出现色度和亮度不均匀、光源整体效率低等问题，甚至导致光源失效。因此很有必要利用显微光分布测试系统对光源进行发光均匀度测试来优化光源设计，同时也为LED光源的二次光学设计提供更为准确、详尽的数据。针对以上情况，金鉴实验室联合英国GMATG公司联合推出显微光分布测试系统，主要用于测试光源的发光均匀性，帮助提高光品质。现已演化到第五代，而且价格从150万降到几十万！金鉴显微光分布测试系统针对LED及其他光电器件产业打造，可用于观察微米级发光器件的光分布，测试波长范围190nm ～1100nm，包含了紫外和红外不可见光的测试，可用于测量光源的光强分布、直径、发散角等参数。通过CCD测量光强分布，通过算法计算出光源直径等参数，测量光强的相对强度，不需要使用标准灯进行校准。适合光电器件及照明相关领域的来料检验、研发设计和客诉处理等过程，以达到企业节省研发和品质支出的目的。金鉴实验室自主研发的主要设备有显微红外热分布测试系统、显微红外热点定位系统和激光开封系统。产品获得中科院、暨南大学、南昌大学、华南理工大学、华中科技大学、士兰明芯、清华同方、华灿光电、三安光电、三安集成、天电光电、瑞丰光电等高校科研院所和上市公司的广泛使用，广受老师和科研人员普遍赞誉。性能卓著，值得信赖。应用领域：适用于LED芯片、LED灯珠灯具、面板灯、汽车照明灯、LCD显示屏、激光器及其他光电器件的来料检验、研发设计和客诉处理等过程，助力LED芯片设计优化、光源的光线追迹及发光均匀性测量。与近场光学测试设备相比，金鉴显微光分布测试系统优点显著： 近场光学设备与金鉴显微光分布探头对光敏感度差异对比：金鉴显微光分布探头对光敏感度较高，能分辨细小的光强差异，因此成像也更细腻。金鉴显微光分布与传统设备大PK：金鉴显微光分布测试系统可模拟工作温度进行测试，分辨率可达1微米，其具有3D功能，可观测芯片出光效果。金鉴显微光分布测试系统特点：1. 探测器感应波长为190nm-1100nm，覆盖深紫外到近红外光。不同波长光源的光分布图 2. 与光学显微镜搭配，可观察微米级发光器件，图像具备2D和3D显示功能，表现效果更加强烈金鉴显微光分布测试系统的分辨率取决于与之搭配的光学显微镜的分辨率，即如果显微镜能1000倍放大，金鉴显微光分布测试系统也可以观测到1000倍率下的光分布细节。与可见光类似，像素越高画面越清晰越细腻像素越多同时获取的温度数据越多。金鉴GMATG 传感器像素640×595。 3. 独特的遮光设计，杜绝背景光影响，测量更加精准光分布探头接收的是视野内所有的光信号，包括被测样品发射的光以及环境反射光。光分布软件虽然具有背景光扣除功能，但是在测试过程中，环境的变化会导致环境反射光强度的变化，造成测试不准确。金鉴显微光分布测试系统，具备独特的遮光罩设计，隔绝了环境光的影响，大大增加了测试的准确性。如下图所示，在不使用遮光罩的情况下，受环境光变化的影响，芯片光分布图部分区域异常偏暗；在使用遮光罩后，彻底屏蔽了环境光的影响，光分布图异常偏暗区域消失。 4. 高精度控温系统，可实现光源在不同温度下光分布的测试光电器件性能受温度的影响较大，脱离实际环境所测试的结果准确性较差，甚至毫无意义。金鉴自主研发的显微光分布测试系统配备高低温数显精密控温平台，控温范围：室温~200℃，能有效稳定环境温度，实现光源在不同温度下光分布的测试，对定位光源最适宜的工作温度可提供最直观有效的数据。配备的水冷降温系统，在100s内可将平台温度由100℃降到室温，有效解决了样品台降温困难的问题。 如下图所示不同工作温度下的LED芯片发光均匀度对比，同一芯片，工作状态温度越高，亮度越低！温度越高，光衰趋势越大。支架引脚温度由80℃升高到120℃，LED芯片发光强度衰减30.6%。 LED芯片发光强度随温度上升而下降5. 定制化的光分析软件金鉴定制分析软件GM LED NF Analyzer，具有自动影像采集控制、实时影像、对位过程屏上显示、设置多重帧自动采集、灰阶与色彩数值显示、记录环境影像提供校正等多重功能，方便做各个维度的光强分布数据分析和图像效果处理，为科研及分析提供更专业的数据支持。（1）提供2D、3D光束分布显示和轮廓分析。 （2）通过CCD测量光强分布，通过算法计算出光源直径等参数。测量光强的相对强度，不需要使用标准灯进行校准。 （3）OSI彩虹及不同灰阶调色板，满足客户个性化的显示需求。 （4）扣除背景光干扰，增加测试精准度。 （5）可导出光分布图全部像素点的光强数据值，为专业仿真软件分析提供原始建模数据。 （6）自定义报告模式，测试报告一键展现；测试结果即时分享，高效协同。 测试案例:案例一：芯片电极设计对光分布的影响对某LED芯片电极图案进行评估，如下图所示，芯片的发光不均匀，区域1的亮度明显过高；相反地，区域2的LED量子阱却未被充分激活，降低了芯片的发光效率。对此，金鉴建议，可以适当增加区域1及其对称位置的电极间距离或减小电极厚度来降低区域1亮度，也可以减少区域2金手指间距离或增加正中间正极金手指的厚度来增加区域2亮度，以达到使芯片整体发光更加均匀的目的。 LED芯片发光效果图案例二：芯片金道设计对光分布的影响下图中芯片左边为两个负电极，右边为两个正电极，其中，区域1、2亮度较低，电流扩展性不够，需提高其电流密度，建议延长最近的正电极金手指以提升发光均匀度。区域3金手指位置的亮度稍微超出平均亮度，可减少金手指厚度来改善电流密度，或者改善金手指的MESA边缘聚积现象，另外，也可以增加区域3外的金手指厚度，使区域3外金手指附近的电流密度增加，提升区域3外各金手指的电流密度，以上建议可作为发光均匀度方面的改善，以达到使芯片整体发光更加均匀的目的。在达到或超过了芯片整体发光均匀度要求的前提下，可考虑减小金手指厚度来减少非金属电极的遮光面积，以提升亮度。甚至，可以为了更高的光效牺牲一定的金手指长度和宽度。 LED芯片发光效果图 案例三：光分布3D模块测试评估芯片光提取效率金鉴显微光分布3D测试模块可以观察芯片各区域的出光强度，填补芯片的光提取效率测试空白。下图垂直结构芯片采用了多刀隐切工艺，芯片侧面非常粗糙，粗糙界面可以反射芯片侧面出射的光，提高芯片的光提取效率。从该芯片的3D光分布图中可以直观的看到，该芯片边缘出光较多，说明多刀隐切工艺对芯片出光效率的提升显著。案例四：显微光分布测试帮助定位最高效率的电流电压金鉴显微光热分布系统，可帮助客户避免过度超电流，准确定位最高效率下的电流电压！如下案例中，芯片额定电流为60mA，超额定电流90mA下点亮时，芯片温度大大提高，亮度反而出现衰减。过度的超电流，LED芯片产热严重，光产出并不会增加，甚至出现光衰。 案例五：显微光分布测试系统应用于LED芯片失效分析失效的LED芯片必然在光热分布上漏出蛛丝马迹！某灯珠厂家把芯片封装成灯珠后，老化出现电压升高的现象。金鉴通过显微光分布测试系统发现芯片主要在正极附近区域发光。因此，定位芯片正极做氩离子截面抛光，发现正极底部SiO2层边缘倾角过大，ITO层在台阶位置出现断裂、虚接现象，ITO层电阻过大，电流扩散受阻，出现电压升高异常现象。案例六：倒装芯片光热分布分析 失效分析案例中，CSP灯珠出现胶裂异常，使用热分布测试系统对芯片进行测试，由于红外测温是通过物体表面的红外热辐射测量温度，对于倒装芯片表面的蓝宝石也不能穿透，故无法对芯片内部电极等结构进行进一步的分析。此时，使用金鉴显微光分布测试系统可以清晰地观察到芯片电极图案，从光分布图可以看出，芯片负电极位置发光较强，因此推断负电极位置电流密度较大，导致此处发热量也较大，从而局部热膨胀差异过大引起芯片上方封装胶开裂异常。 案例七：多芯片封装的光分布监测金鉴显微光分布系统，能高效精准分析灯珠内各芯片电流密度，是品质把控的好帮手！例如某灯珠采用两颗芯片并联的方式封装，该灯珠点亮时，金鉴显微光分布测试系统测得B芯片发光强度较A芯片的大，显微热分布测试系统测得B芯片表面温度高于A芯片。分析其原因，LED芯片较小的电压波动都会产生较大的电流变化，该灯珠两颗芯片采用并联方式工作，两颗芯片两端的电压一样，芯片电阻之间的差异会造成流过两颗芯片的电流存在较大差异，从而出现一个灯珠内两颗芯片亮度不一的现象，影响灯珠性能。 光学图 光分布图 热分布图 案例八：COB光源发光均匀度测试对于LED光源，特别是白光光源，由于电极设计、芯片结构以及荧光粉涂敷方式等影响，其表面的亮度和颜色并不是均匀分布的。如图所示，COB右半边灯珠亮度明显比左半边低，由标尺计算出，右半边亮度为左半边的三分之二，导致这一失效原因也许是COB的PCB板材左右边铜箔电阻不一致，导致灯珠左右两边的芯片所加载的电压不一致，造成两边芯片的发光强度出现差异。案例九：OLED光分布测试有机发光二极管(OLED)作为一种电流型发光器件，因其所具有的自发光、快速响应、宽视角和可制作在柔性衬底上等特点而越来越多地被应用于高性能显示领域当中。使用金鉴显微红外热分布测试系统对OLED显示屏进行测试，可以直观的了解显示屏各区域光强分布情况，对于缺陷点也能及时发现，有助于检测和改善OLED发光品质。如下案例中，OLED电流输入端亮度较大，远离输入端亮度逐渐减小，在此情况下，损失的亮度转换为热能，因此温度的分布会变得不均匀，进而导致OLED显示面板中各处的薄膜晶体管(TFT)的阈值电压和迁移率的变化也分布不均，进一步导致整个显示面板的发光亮度不均匀。 案例十：激光器光束形貌及热场分布金鉴显微光热分布测试系统，配备专用光衰片及水冷散热系统，可测试大功率超亮激光灯的光热分布！

本系统采用固定探测器、旋转被测灯具的方法，来测量被测光源或灯具空间各个方向上的光强分布。主轴和灯具轴采用贵金属光纤点刷结构的导电滑环，可360度连续无回隙运转测量无须为防止绕线而来回旋转，永不绕线。根据测量灯具的要求，该系统可以配置为双立柱B-β测试方案或单立柱C-γ测试方案。 用于LED灯具（半导体照明） 、道路灯具、投光灯具、室内灯具、户外灯具等各种和LED、节能灯、荧光灯、白炽灯、HID灯等各种光源的空间光度分布（即配光曲线）的高精度测试；测试结果可以导出IESNA(95,2002)文件格式(*.ies)、CIE文件格式(*.cie)、欧洲Eulumdat(*.ldt)文件格式等多种格式，符合国际标准要求，可直接作为国际通用的照明设计软件的输入数据。主要参考标准：LM-79-2008 固态照明产品的电气和光度测量认定方法 GB/T9468-2008 灯具分布光度测量的一般要求 LB/T 001-2008 整体式LED 路灯的测量方法 GB/T 24824-2009 普通照明用LED模块测量方法 GB/T7002-2008 投光照明灯具光度测试 CIE 69 Methods of Characterizing Illuminance Meters and Luminance Meters；CIE 70-1987 The measurement of absolute luminous intensity distributions；CIE 121-1996 The photometry of goniophotometer of luminaries；CIE 84 Measurement of luminous flux； IESNA LM-75 Goniophotometer Types and Photometric Coordinates；技术支持特性：主轴和灯具轴采用贵金属光纤点刷结构的导电滑环，可360度连续无回隙运转测量无须为防止绕线而来回旋转，永不绕线；采用知名品牌的高转速、高转矩、低噪音、低振动的三相混合式步进电机；具有激光瞄准器，使被测灯具中心与旋转台旋转中心重合；垂直轴旋转范围：-180°～180°或0°～360°旋转；水平轴旋转范围：-180°～180°或0°～360°旋转；角度精度：0.1度，分辨率：0.01度； 灯具尺寸：1.2×0.6米；灯具重量：30kg(含夹具) ；灯具供电测量采用4线制：2路10A导电滑环用于供电，2路2A用于测量电压；转台控制线和灯具供电线长度：6米，特殊要求可加长；光度参数：1、高精度恒温探头（恒温点35±1度，恒温精度±0.1度）；2、V(λ)修正精度：CIE标准级（f1’ 0.03） 3、照度测量范围：0.001 lx至200 klx , 5档自动量程 4、测试距离：2米到30米；5、高稳定带遮光光栅的探头支架，高底可调，上下和左右倾角可调；6、光度探头连接线长度：20米（特殊要求可加长）；暗房示意图： 丰富的软件功能： 1、控制旋转台旋转，采集灯具的光强分布数据，计算灯具的光度数据及坐标系的转换；2、包括空间光强分布、任意截面上的光强分布曲线（可分别用直角坐标系或极坐标系显示）、空间等光强曲线、平面等照度分布曲线、亮度限制曲线、环带光通量、眩光等级、灯具效率、有效发光角、上射光通比、下射光通比、灯具总光通量、有效光通量、利用系数。3、 导出符合国际标准的灯具文件，可直接的导入照明设计软件，格式说明如下：*.HPG 虹谱光色HPG系列分布光度计测试数据文件格式；*.IES IESNA北美标准格式,包括95版和2002版 *.LDT EULUMDAT德国标准（欧洲）格试文件；*.LDT EULUMDAT德国标准（欧洲）格试文件；4、根据被测灯的类型，如路灯及室外灯、室内灯或投光灯等，输出相应的打印报告，可直接保存为PDF文件，便于交流存档等。 HPG1800软件介绍及实景照：图相似

HPG2000是C型分布光度计，国际照明委员会CIE70文件推荐的运动反光镜分布光度计。围绕测试灯具中心作圆周运动的反光镜,将灯具测量方向的光束反射到光度探测器上，实现不同平面上的光强分布曲线的测量。本系统符合美国能源之星IES LM79标准、欧洲标准EN13032、GB/T9468灯具分布光度测试的一要求等国际、国内相关标准要求。可测量灯具的空间光强分布曲线、空间颜色分布、光强数据、灯具总光通量、有效光通量、区域光通量、灯具效率、亮度限制曲线、眩光等级、概算曲线、允许距高比、有效发光角、上射光通量、下射光通量、等照度曲线、等光强曲线等光度参数。可以导出IES文件、CIE文件、LTD文件等多种格式的灯具文件。主要参考标准：LM-79-2008 固态照明产品的电气和光度测量认定方法 GB/T9468-2008灯具分布光度测量的一般要求 LB/T 001-2008 整体式LED路灯的测量方法 GB/T 24824-2009 普通照明用LED模块测量方法 GB/T7002-2008 投光照明灯具光度测试 CIE 69 Methods of Characterizing Illuminance Meters and Luminance Meters；CIE 70-1987 The measurement of absolute luminous intensity distributions；CIE 121-1996 The photometry of goniophotometer of luminaries；CIE 84 Measurement of luminous flux；IESNA LM-75 Goniophotometer Types and Photometric Coordinates；主要技术特性：1、被测灯具测量位置与实际使用状态一致，灯具工作状态不变；2、反射镜可绕被测灯具360度转动，被测灯具自身可旋转360度；3、采用贵金属光纤点刷技术，实现不间断连续测量，不会绕线，转动平稳；4、激光十字线瞄准装置、方便，准确地安装测试灯具的位置；5、角度精度：0.1度，角度分辨率：0.01度；6、设备尺寸：长宽高2400×3200×3300mm ，中心高度1600mm；7、暗房最小尺寸：长宽高12.0×3.5×3.5米；8、灯具尺寸：出光口尺寸1.2米，方形灯:800mm×800mm，长条灯:1200mm 9、配备多种测试夹具：路灯夹具、面板灯夹具、长条型日光灯夹具、E40/E27灯头夹具；光度参数：1、高精度恒温探头（恒温点35±1度，恒温精度±0.1度）；2、V(λ)修正精度：CIE标准级（f1’ 0.03） 3、照度测量范围：0.001 lx至200 klx , 5档自动量程 4、高稳定带遮光光栅的探头支架，高底可调，上下和左右倾角可调；5、光度探头连接线长度：20米（特殊要求可加长）；暗房示意图：丰富的软件功能：1、控制旋转台旋转，采集灯具的光强分布数据，计算灯具的光度数据及坐标系的转换；2、包括空间光强分布、空间颜色分布、任意截面上的光强分布曲线（可分别用直角坐标系或极坐标系显示）、空间等光强曲线、平面等照度分布曲线、亮度限制曲线、环带光通量、眩光等级、灯具效率、有效发光角、上射光通比、下射光通比、灯具总光通量、有效光通量、相关色温、色坐标x,y、色差duv。导出符合国际标准的灯具文件，可直接的导入照明设计软件，格式说明如下：*.HPG 虹谱光色HPG系列分布光度计测试数据文件格式；*.IES IESNA北美标准格式,包括95版和2002版 *.LDT EULUMDAT德国标准（欧洲）格试文件；*.CIE CIE国际照明委员会标准格式；4、根据被测灯的类型，如路灯及室外灯、室内灯或投光灯等，输出相应的打印报告，可直接保存为PDF文件，便于交流存档等。 HPG2000软件介绍及实景照：图相似

分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL描述：分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL50-1800是新型A类测角光度计，专为R＆D实验室和产品符合性测试中心实验室而设计，可调节远场光度和色度测量系统，在H，V轴坐标中对汽车LED和其他类型灯具的发光强度分布进行光度测试，分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL适用于汽车，铁路和其他车辆前照灯的快速准确测量，还可用于交通信号灯和机场照明系统的光度表征。可以测量的技术参数包括：发光强度分布，极坐标图，圆锥图，光通量，中心光束强度，相关色温，显色指数，麦克亚当椭圆，角度颜色均匀性，还可选测发光效率，功率因数和温度。 分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL工作原理：测角仪是一种带有旋转轴的仪器，用于测量光通量和照明设备或光源的发光强度分布。发光强度可通过在固定距离处以不同方向旋转的照明设备进行照度（远场）或照度（近场）测量获得。利用足够的角度步长和范围，可以通过汇总每个测量方向上的所有发光强度来计算照明设备的光通量。根据发光强度分布，可以推断出照明应用的属性，例如横向/纵向等照度曲线或圆锥图。测角仪的类型基本上可以分为1组，2组和3组，也称为A类，B类和C类，它们的区别在于在测量过程中照明设备的旋转方式以及在这种测量过程中获得的光度数据系统。 A类测角仪具有固定的水平轴和垂直于第一轴的移动轴。通过围绕水平轴旋转光源，同时将另一个轴保持在固定位置（旋转vs高度）来进行测量。A类测角仪是表征光束相对有限的汽车照明的理想选择。 B类测角仪具有固定的垂直轴和移动的水平轴。通过围绕垂直轴旋转光源，同时将另一个轴保持在固定位置（高度vs旋转）来进行测量。B类适用于显示器和泛光灯。 C类测角仪是高度专业化的类型，具有固定的垂直轴和移动的水平轴。在C平面或圆锥面上进行测量。C类测角仪与B类相同，只是光源旋转了90°。 国际标准建议将这种类型用于一般照明系统。 分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL产品亮点： l A类测角仪，配备3个机械化H，V和Z轴以及DUT移动x,y机械安装台l 激光对准系统带有反射镜和系统控制选件，有助于校准系统垂直和水平对准 l 软件界面友好，操作简单l 机电一体化组件，自动化程度高l 可控制和可编程功能，坚固耐用 l 符合相关标准，测量准确可靠 分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL应用范围： l 大型LED模块和大型照明设备。 l 符合标准: CIE 121-1996, IESNA LM-75-01 升级选项：l 可选用于测试汽车前照灯的外围设备。 分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL技术参数：CIE 测角仪类型:远场Type A 包含H,V轴和X,Y,Z方向运动DUT移动x,y机械台5轴伺服电机与绝对位置编码器H轴运动：角度范围± 100°,额定转矩555 Nm,速度高达10 °/sH轴分辨率：0.002° H轴再现性：0.05° * (*额定负载时) V轴运动：角度范围± 180°,额定转矩98 Nm,速度高达50°/sV轴分辨率：0.002° V轴再现性：0.05° * (*额定负载时)Z轴运动：线性范围0-800 mm,起重力高达1500NZ轴再现性：70 μmX,Y轴运动：线性范围± 150 mm,速度高达40 mm/sX,Y再现性：70 μmDUT安装板：方形400x400 mm,多个 M6 安装孔最大DUT尺寸：≤ 1800 mm(对称定位)产品尺寸(W x H x D)：810 x 2020 x 1990 mm光轴高度：1350 mm最小房间高度：2600 mm最小房间宽度：4000 mm最大负载：50 kg产品重量：450 kg电源：AC 110-230V, 3000 W控制器：用于所有电机的内部控制器 通过局域网连接PC 制造商远程支持功能 机身设有7英寸液晶触摸显示屏 DUT固定期间可操作所有轴的手动控制器安全性：设备两侧设有紧急停止按钮，可选安全设备包含激光扫描仪或光栏传感器选项：GL Photometer 3.0 LS + Flicker GL Spectis 1.0 LS GL Spectis 4.0