当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

预切割晶片

仪器信息网预切割晶片专题为您整合预切割晶片相关的最新文章,在预切割晶片专题,您不仅可以免费浏览预切割晶片的资讯, 同时您还可以浏览预切割晶片的相关资料、解决方案,参与社区预切割晶片话题讨论。

预切割晶片相关的资讯

  • 浩腾与晶兆合作开发微晶片光谱仪
    浩腾与晶兆科技全面技术合作,共同开发出全世界光学机构最小台的“微晶片光谱仪”。这是浩腾继氢氧焰能源机之后,再度跨入绿能产业。   由于医疗保健费用节节升高,预防保健观念有渐趋积极自我健康管理之势,其中美国消费者已转向基因筛检方式等积极自我健康管理,预估未来将有30%的人口使用基因筛检产品,庞大商机吸引各厂积极投入。   浩腾与晶兆科技昨天正式合作,结合台湾科技大学柯正浩教授核心技术,以“微型晶片光学结构”取代一般光谱仪的“准直面镜-平面光学结构-聚焦面镜”架构,以单一元件与最小体积完成分光和聚焦功能,并达成2奈米之内光谱解析率,其关键核心元件为微型晶片光学结构,以自行开发的光学演算法,高精密的半导体製程及光机电整合能力,简化光学结构、缩小光机体积,并达到与大型光谱仪相同的精密解析度,整合三大产业包含半导体、电机电子、光电之研发能量,生产能力与检测需要,并带动光谱分析元件市场与光电产业之发展,让检测机器价格大幅下滑,且携带方便,可说是革命性产品。   依浩腾的技术,未来每支单价可望下降到1万元,他预估未来每个家庭都会购买一支,商机相当可观。
  • 要想实现快速切割取样,金相切割片你得选对了!
    在金相分析工作中,唯有获得一个尽可能无变形的平整表面才能快速而容易地进行下一步制样,其中较为合适的切割方法就是湿式砂轮片切割法,这种方法对样品所造成的损伤小,切割取样所需时间短,是快速切割取样的好方法。值得注意的是,湿式砂轮片切割使用的金相切割片你得选对了,否则可能会达不到技术要求,或者造成样品的严重损伤而导致制样失败。砂轮金相切割片是由研磨料和粘合剂合成的,不同磨料、不同粘合剂以及不同的成分配比决定了切割片的不同性能,从而适用于不同的材料切割。此外,还要以外圆尺寸、孔径和厚度参数为依据选配,与所用的金相切割机相匹配,与被切割样品的大小尺寸相适应。砂轮切割机要求砂轮金相切割片的孔径一般是32mm的,而精密切割机要求的孔径应是12.7mm的。被切割的样品尺寸比较大,应选择外圆尺寸大的切割片,相对的厚度也会厚一些,因此在选择切割片时,厚度也是需要注意的一个参数。还有,要根据被切割样品的材质硬度范围选则合适的切割片。相同尺寸的切割片会有若干种针对不同材料切割的型号,厂家一般都会提供选型表,要依据选型表进行匹配。标乐安全技术小编为大家展示美国QMAXIS砂轮金相切割片的选型表,供您参考。依照选型表,按照材料的性质来正确选择砂轮片。砂轮金相切割片选对了,才能确保被切割的样品表面变形小、平整度好,达到快速切割取样的目的。值得注意的是,在使用砂轮金相切割片工作时,一定要使用冷却液冲刷切割片以避免摩擦热对样品造成灼伤。掌握以上方法,选对金相切割片,快速切割取样那都不是事儿!
  • 《SiC晶片的残余应力检测方法》等六项团体标准实施
    p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2019年12月30日,中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟发布《SiC晶片的残余应力检测方法》等六项团体标准的公告。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" text-indent: 2em " 根据《中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟团体标准管理办法》的相关规定,批准发布《 /span span style=" text-indent: 2em text-decoration: underline " a href=" https://www.instrument.com.cn/download/shtml/929877.shtml" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) " span style=" text-decoration: underline text-indent: 2em color: rgb(0, 176, 240) " SiC 晶片的残余应力检测方法 /span /a /span span style=" text-indent: 2em " 》、《 /span span style=" text-indent: 2em text-decoration: underline " a href=" https://www.instrument.com.cn/download/shtml/929876.shtml" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) " span style=" text-decoration: underline text-indent: 2em color: rgb(0, 176, 240) " 功率半导体器件稳态湿热高压偏置试验 /span /a /span span style=" text-indent: 2em " 》、《 /span span style=" text-indent: 2em text-decoration: underline " a href=" https://www.instrument.com.cn/download/shtml/929874.shtml" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) " span style=" text-decoration: underline text-indent: 2em color: rgb(0, 176, 240) " 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法 /span /a /span span style=" text-indent: 2em " 》、《 /span span style=" text-indent: 2em text-decoration: underline " a href=" https://www.instrument.com.cn/download/shtml/929879.shtml" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) " span style=" text-decoration: underline text-indent: 2em color: rgb(0, 176, 240) " 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 /span /a /span span style=" text-indent: 2em " 》、《 /span span style=" text-indent: 2em text-decoration: underline " a href=" https://www.instrument.com.cn/download/shtml/929875.shtml" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) " span style=" text-decoration: underline text-indent: 2em color: rgb(0, 176, 240) " 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法——共焦点微分干涉光学法 /span /a /span span style=" text-indent: 2em " 》、《 /span span style=" text-indent: 2em text-decoration: underline " a href=" https://www.instrument.com.cn/download/shtml/929872.shtml" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) " span style=" text-decoration: underline text-indent: 2em color: rgb(0, 176, 240) " 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 /span /a /span span style=" text-indent: 2em " 》六项团体标准。上述六项标准自 2019年12月27日发布,自2019年12月31日起实施。 /span /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " span style=" text-indent: 2em " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202001/uepic/ea557aa9-6015-4978-9a32-2ea73126dd75.jpg" title=" 1.PNG" alt=" 1.PNG" / /span img src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202001/uepic/8fb0d7e2-57e9-402b-b22e-ec8bc3d929f0.jpg" title=" 1.PNG" alt=" 1.PNG" width=" 500" height=" 701" border=" 0" vspace=" 0" style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 500px height: 701px " / /p p style=" line-height: 16px " 附件: img style=" vertical-align: middle margin-right: 2px " src=" /admincms/ueditor1/dialogs/attachment/fileTypeImages/icon_pdf.gif" / a style=" font-size:12px color:#0066cc " href=" https://img1.17img.cn/17img/files/202001/attachment/8fd0a790-9ffe-4be1-bb90-ecd89694d798.pdf" title=" 关于批准发布SiC晶片的残余应力检测方法等六项团体标准的公告1227.pdf" 关于批准发布SiC晶片的残余应力检测方法等六项团体标准的公告1227.pdf /a /p
  • 高碳钢金相样品切割,选对金相切割片是关键
    对于高碳钢金相样品切割,很多时候切割的不理想,或表面有灼伤,或边缘有毛刺,或切口损伤较大........,除了金相切割机自身的切割能力和性能外,实际上选对金相切割片是关键!我们实验室采纳了可脉检测应用工程师的建议,效果真不错,分享给大家,供参考!可脉检测应用工程师建议我们选用美国QMAXIS的砂轮金相切割片,型号为 HRC35-50 的砂轮金相切割片,用它切高碳钢金相样品,刷.刷滴,切的又快又好,没毛刺,形变小,切口窄,简直是没谁了!这款金相切割片,属于磨耗型砂轮切割片,树脂粘结,非常环保,使用过程中没有怪味。直径有10in和12in两种,厚度为2.0mm和2.3mm;孔径均为1.25in(32mm),适配于各种型号的砂轮金相切割机。只要你实验室的切割机型号适配,性能还不错,选用HRC35-50的砂轮金相切割片切高碳钢样品刷刷滴,好用! 使用 HRC35-50的砂轮金相切割片,切割高碳钢金相样品,不仅速度快,精度高,环保安全。我们实验室用的是直径10in,厚度2.0mm的切割片。高碳钢金相样品切割,选对金相切割片是关键。没用过美国QMAXIS的HRC35-50砂轮金相切割片的朋友,切高碳钢金相样品,快试试吧!
  • 我国第一片8英寸键合SOI晶片研制成功
    本报讯 记者从中国科学院上海微系统与信息技术研究所获悉,近日,该所研究员王曦领导的SOI研究小组,在上海新傲科技有限公司研发平台上,通过技术创新,制备出我国第一片8英寸键合SOI晶片,实现了SOI晶片制备技术的重要突破。 过去,该研究小组因建立了我国第一条高端硅基集成电路材料SOI晶圆片生产线,实现了4~6英寸SOI材料产业化,解决了我国SOI材料的有无问题,而获得国家科技进步奖一等奖。 该研究小组的人员并没有满足所取得的成绩,面对国内外集成电路技术向大直径晶圆片升级换代的大趋势,又设立了攻关8英寸大直径SOI晶圆片的课题。在开发过程中,研究人员克服了硬件条件不足的困难,突破了清洗、键合、加固、研磨和抛光等一系列关键技术。通过改造现有设备,实现了8英寸硅片的旋转式单片清洗工艺;自主设计开发了大尺寸晶片键合平台,在此基础上实现了8英寸晶片键合,并达到了对键合过程和键合质量的实时监控;通过对现有设备的升级改造,实现了键合晶片的加固;经过大量的研磨工艺实验,反复比较研磨过程粗磨、精磨工艺中砂轮转速等工艺参数对晶片的影响,确定出较优研磨工艺;随后,在现有抛光工艺基础上,优化抛光浆料配比,实现了8英寸SOI晶片的精细抛光。 有关专家认为,8英寸SOI晶圆片的成功开发,标志着王曦领导的研究开发小组已经掌握了大尺寸键合SOI晶片制备的关键技术,为大尺寸键合SOI晶片的产业化打下了坚实基础。 据介绍,在极大规模集成电路国家重大科技专项中,宏力半导体公司和华润微电子等8英寸集成电路制造代工企业安排了8英寸SOI先进电路的研发和产业化项目,急需本土化的8英寸SOI衬底材料配套。上海微系统所和上海新傲公司联合开发的8英寸键合SOI晶圆片正是适应了这些需求,具有广阔的市场前景。
  • 世界上首次用HVPE法在6英寸晶片上氧化镓成膜成功
    ―为功率器件的低成本化和新一代EV的节能化做出贡献―   在NEDO的“战略性节能技术革新计划”中,Novel Crystal Technology,Inc.(以下略称Novel)与大阳日酸(株)及(大)东京农工大学共同开发了作为新一代半导体材料而备受瞩目的氧化镓(β-Ga2O3)的卤化物气相外延(HVPE)。   该成果使能够制造大口径且多片外延晶片的β-Ga2O3批量生产成膜装置的开发取得了很大进展,有助于实现成膜成本成为课题的β-Ga2O3外延晶片的大口径低成本化。如果β-Ga2O3功率器件广泛普及,则有望实现产机用电机控制的逆变器、住宅用太阳能发电系统的逆变器、新一代EV等的节能化。图1在6英寸测试晶片上成膜的β-Ga2O3薄膜   1 .概述   氧化镓(β-Ga2O3)※1与碳化硅(SiC)※2和氮化镓(GaN)※3相比具有更大的带隙※4,因此基于β-Ga2O3的晶体管和二极管具有高耐压、高输出、高效率的特性,β-Ga2O3功率器件※5的开发,日本处于世界领先地位,2021年本公司成功开发了使用卤化物气相外延(HVPE)法※6的小口径4英寸β-Ga2O3外延晶片※7,并进行了制造销售※8。作为该外延成膜的基础的β-Ga2O3晶片与SiC和GaN不同,Bulk结晶的育成迅速的熔体生长来制造,因此容易得到大口径、低价格的β-Ga2O3晶片,有利于功率器件的低价格化。   但是,β-Ga2O3的成膜所采用的HVPE法能够实现低廉的原料成本和高纯度成膜,另一方面存在基于HVPE法的成膜装置只有小口径(2英寸或4英寸)且单片式的装置被实用化的课题。因此,为了降低成膜成本,通过HVPE法实现大口径(6英寸或8英寸)的批量式批量生产装置是不可缺少的。   在这样的背景下,Novel公司在NEDO (国立研究开发法人新能源产业技术综合开发机构)的“战略性节能技术革新计划※9/面向新一代功率器件的氧化镓用的大口径批量生产型外延成膜装置的研究开发”项目中,制作了β-Ga2O3在本程序的培育研究开发阶段(2019年度)进行了作为HVPE法原料的金属氯化物※10的外部供给技术※11开发,在实用化开发阶段(2020年度~2021年度)为了确立批量生产装置的基础技术,进行了6英寸叶片式HVPE法的外部供给技术※11开发,而且,这是世界上首次成功地在6英寸晶片上成膜了β-Ga2O3。   2 .本次成果   Novel公司、大阳日酸及东京农工大学开发了6英寸叶片式HVPE装置(图2),在世界上首次成功地在6英寸测试晶片(使用蓝宝石基板)上进行了β-Ga2O3成膜(图1)。   另外,通过成膜条件的优化和采用独自的原料喷嘴结构,证实了在6英寸测试晶片上的β-Ga2O3成膜,以及确认了能够实现β-Ga2O3膜厚分布±10%以下等在面内均匀的成膜(图3)。通过本成果确立的大口径基板上的成膜技术和硬件设计技术,可以构筑β-Ga2O3成膜装置的平台,因此大口径批量生产装置的开发可以取得很大进展。这样,通过β-Ga2O3成膜工艺和应用设备带来的功耗降低,预计在2030年将达到21万kL/年左右的节能量。图2用于β-Ga2O3成膜的6英寸单片式HVPE装置的外观照片图3 β-Ga2O3在6英寸测试晶片上膜厚分布   3 .今后的安排   Novel公司、大阳日酸及东京农工大学在NEDO事业中继续开发用于β-Ga2O3成膜批量生产装置,今后使用6英寸β-Ga2O3晶片的外延成膜,通过β-Ga2O3薄膜的电特性评价和膜中存在的缺陷评价,得到高品质的β-Ga2O3薄膜,另外,确立β-Ga2O3外延晶片的量产技术后,目标是2024年度量产装置的产品化。用HVPE法制造的β-Ga2O3外延晶片主要用于SBD※12和FET※13,因此预计2030年度将成长为约590亿日元规模的市场(根据株式会社富士经济“2020年版新一代功率器件&功率电瓷相关设备市场的现状和未来展望”) 今后将实现批量生产装置,通过进入β-Ga2O3成膜装置市场和普及Ga2O3功率器件,为促进新一代EV等的节能化做出贡献。   【注释】   ※1氧化镓(β-Ga2O3)   氧化镓是继碳化硅和氮化镓之后的“第三功率器件用宽带隙半导体”,是受到广泛关注的化合物半导体,是作为功率器件的理论性能压倒性地高于硅,也超过碳化硅和氮化镓的优异材料。   ※2碳化硅(SiC)   SiC是碳和硅的化合物,是主要用于高耐压大电流用途的宽带隙半导体材料。   ※3氮化镓(GaN)   GaN是镓和氮的化合物,具有比SiC更稳定的结合结构,是绝缘破坏强度更高的宽带隙半导体。主要用于开关电源等小型高频用途。   ※4带隙   电子和空穴从价带迁移到导带所需的能量。将该值大的半导体定位为宽带隙半导体,带隙越大,绝缘破坏强度越高。β-Ga2O3的带隙约为4.5 eV,比Si(1.1 eV),4H-SiC(3.3 eV)及GaN(3.4 eV)的值大。   ※5功率器件   用于电力转换的半导体元件,用于逆变器和转换器等电力转换器。   ※6卤化物气相沉积(HVPE)法   指以金属氯化物气体为原料的结晶生长方法。其优点是可以高速生长和高纯度成膜。   ※7β-Ga2O3外延晶片   是指在晶片上形成β-Ga2O3的薄膜形成晶片。在成为晶片的晶体上进行晶体生长,在基底晶片的晶面上对齐原子排列的生长称为外延生长(外延生长)。   ※8成功开发4英寸β-Ga2O3外延晶片,制造销售   (参考) 2021年6月16日新闻发布   " https://www.novel crystal.co.jp/2021/2595/"   ※9战略性节能技术创新计划   摘要:“https://www.nedo.go.jp/activities/zzjp _ 100039.html”   ※10金属氯化物   是作为HVPE法金属原料的化合物,代表性的金属氯化物有GaCl,GaCl3,AlCl,AlCl3,InCl,InCl3等。   ※11外部供应技术   在HVPE法中,将金属氯化物生成部和成膜部独立分离,从反应炉外部使用配管等供给金属氯化物的技术。   ※12SBD   肖特基势垒二极管(SBD:Schottky Barrier Diode)。不是PN结,而是使用某种金属和n型半导体的结的二极管。其优点是与其他二极管相比效率高、开关速度快。   ※13FET   场效应晶体管( FET:Field Effect Transistor )。闸门电极二电压通过添加通道在区域产生电界根据电子或正孔的密度,控制源漏电极之间的电流晶体管是指。
  • 今日浅谈QMAXIS金相耗材---金相切割片
    ‍‍ 金相耗材是指金相实验室制样时,所需要用的耗材总称。分别有切割耗材、镶嵌耗材、研磨抛光耗材,今日可脉小编就先和大家浅谈一下制样第一步所需要的切割耗材之金相切割片,详情如下:‍‍ 切割耗材之QMAXIS金刚石&CBN切割片:此款切割片适用于金相精密切割机和金相砂轮切割机。非磨耗型的超薄金刚石切割片硬度高,更耐磨。材料去除量少,切割表面形变小,可有效减少后续的研磨、抛光时间。不同浓度、粒径、粘结工艺的金刚石切割片满足不同材料的金相切割需求,是金相精密切割常用切割片。 切割耗材之超薄砂轮切割片:此款切割片同样适用于金相精密切割机和砂轮切割机的切割片。超薄砂轮切割片切口小,材料去除量少,与金刚石切割片相比更经济。 切割耗材之QMAXIS砂轮切割片:此款切割片是金相砂轮切割机专用的切割片。砂轮切割片属于磨耗型切割片,有环保型树脂粘结的,也有经济型橡胶粘结的。高品质的砂轮切割片,切割速度快,精度高,使用寿命长。适用于各种钢、高温合金、黑色金属和有色金属等大多数材料的金相切割。 好了,以上就是可脉小编今日想要分享给大家的金相切割片,如果您正好需要,或者还想了解其他金相制样相关的信息,欢迎大家随时和可脉的工程师联系。‍‍‍‍
  • 科学家研发出砷化镓晶片批量生产技术
    科学家研发出砷化镓晶片批量生产技术 使这种感光性能更优良的材料有望大规模用于半导体和太阳能产业   新一期英国《自然》杂志报告说,美国研究人员研发出一种可批量生产砷化镓晶片的技术,克服了成本上的瓶颈,从而使砷化镓这种感光性能比硅更优良的材料有望大规模用于半导体和太阳能相关产业。   据介绍,砷化镓是一种感光性能比当前广泛使用的硅更优良的材料,理论上它可将接收到的阳光的40%转化为电能,转化率约是硅的两倍,因此卫星和太空飞船等多采用砷化镓作为太阳能电池板的材料。然而,传统的砷化镓晶片制造技术每次只能生成一层晶片,成本居高不下,限制了砷化镓的广泛应用。   美国伊利诺伊大学等机构研究人员报告说,他们开发出的新技术可以生成由砷化镓和砷化铝交叠的多层晶体,然后利用化学物质使砷化镓层分离出来,可同时生成多层砷化镓晶片,大大降低了成本。这些砷化镓晶片可以像“盖章”那样安装到玻璃或塑料等材料表面,然后可使用已有技术进行蚀刻,根据需要制造半导体电路或太阳能电池板。   不过,该技术目前还只能用于批量生产较小的砷化镓晶片,如边长500微米的太阳能电池单元,这与现在广泛使用的硅晶片相比还是太小。下一步研究将致力于利用新技术批量生产更大的砷化镓晶片。
  • 金相师的金相切割片选择要牢牢把握在自己手中!
    作为金相师,金相制样是基本功,选择金相设备和耗材更是拿手好戏。在金相切割取样时,面对琳琅满目的金相切割片该如何选择?听厂家的?听同事的?听同学的?还是听自己的?答案是,掌握相关知识,依据实际需要和技术要求,听自己的更妥当,套用一句话就是“金相师的金相切割片选择要牢牢把握在自己手中”!如何能选择到适用并良好质量的金相切割片呢,以下方法供参考!确定孔径,按金相切割机类型来选,通常情况,砂轮切割机匹配的金相切割片轴心孔径为32mm,精密切割机匹配的金相切割片轴心孔径为12.7mm。确定类型,按被切割的样品材料性能来选,通常情况,各种钢、合金、黑色金属、有色金属等,应选用砂轮金相切割片或超薄砂轮切割片;而各种复合材料、塑料、橡胶、玻璃、陶瓷等应选用金刚石金相切割片。确定尺寸,按照要切取的样品大小和要求的精度来选,被切割的样品小,要求精度高则选用外圆尺寸小,厚度薄的金相切割片;反之可选择尺寸大一点的。具体可参照厂家的技术说明书。确定供应商,在满足技术需求的前提下,优选产品质量可靠稳定、交期及时、价格合理、售前售后服务好的供应商。 总之一句话,在工作中不断学习和积累相关知识和经验,掌握金相切割片选择的方法,依据工作实际情况,多维度考量,一定会优选出好用、耐用、质优价实的好切割片的。实际上选择金相切割片很简单,只要确定了类型、孔径、外圆直径和厚度,然后再根据样品的材料分类,就可直接确定型号了,然后进入选购环节。掌握了这些方法,金相师就已经把选择金相切割片牢牢掌握在了自己手中,为提高工作质量和效率打牢了基础!可脉检测小编的分享,希望能给您带来一些帮助,也欢迎有兴趣的朋友和我们一同探讨更多、更好的制样解决方案。
  • 中科院科研装备研制项目“晶片级器件辐照 及辐射效应参数提取设备”顺利验收
    p & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 5月26日,中国科学院条件保障与财务局组织专家对中国科学院新疆理化技术研究所承担的中科院科研装备研制项目“晶片级器件辐照及辐射效应参数提取设备”进行了验收。 /p p   验收专家组现场考核了仪器设备的技术指标,认真听取了项目工作报告,经质询和讨论,专家组一致认为该设备同时实现了晶片级器件辐照试验、器件特性参数在线提取功能,在国内率先突破了晶片级器件加电偏置辐照技术,为器件辐射效应精确建模、商用代工线的抗辐射性能评估提供了有效的测试手段 研制的设备可适用不同种类器件的辐照,具有结构一体化、操作自动化的特点,全部技术指标均达到或优于预期目标。之前国内由于不具备适用于器件辐射效应提参建模的试验平台,无法在器件设计、流片阶段给出加固建议,评估抗辐射性能,一定程度上增加了研发成本,延长了生产周期。该设备突破了这一技术瓶颈,填补了该领域的国内空白,为晶片级器件辐照、提参提供试验条件,形成面向抗辐射器件研制全过程的辐射效应试验评估、提参建模共性技术服务平台,为元器件设计加固工艺的发展提供试验技术支撑。 /p p   该设备已成功应用于中科院微电子研究所、中电集团44所、杭州电子科技大学、长光辰芯光电公司等单位的微纳MOS器件、CCD器件、CMOS图像传感器、半导体射频电路的辐射效应评估验证,获得了用户的高度认可,为国产抗辐射器件的研制与试验评估提供了有效的试验手段。 /p p br/ /p
  • 咖说:给金相切割片续命,这些方法一定要知道!
    作为金相工程师,每天的工作都从金相切割开始!不论是使用的砂轮金相切割片,还是金刚石金相切割片,你可能会遇到这样的情形,切割片没用几次就钝了,或者是使用没多长时间就不好用了,要么切不动了、要么锛刀了......。该如何给这些金相切割片宝贝儿续命呢?可脉检测的金相工程师,我们习惯称他为周咖,他说:给金相切割片续命,这些方法一定要知道!一、必须使用冷却液金相切割,必须使用切割冷却液,其主要作用有两方面。由于样品在切割过程中,切割片高速旋转与样品表面剧烈摩擦和冲击,会在切割面上产生大量的热,只有通过持续喷淋下来的冷却液,才能不断的将切割产生的大量的热带走,保持切割片和样品切割面处于可承受的温度内,不至于因过热而导致热量被切割片吸收,造成刀刃的石墨化,还可能造成金相切割片钢基体也产生热变形,最终导致金相切割片无法正常使用。而且,切割冷却不充分还会使样品因受热而灼伤,因此,金相切割必须使用切割冷却液进行冷却,而且做到充分冷却,否则会直接影响金相切割片的使用寿命。使用冷却液的另一个作用就是可以将切屑和杂质及时冲离刀口。由于切割室内喷淋系统启动后,冷却液是以一定的压力冲向切口处的,这样就会将大量的材料切屑冲离并随水流带走,有效地减少切屑对金相切割片的二次磨损,这也是使用冷却液能起到给金相切割片续命的作用。二、控制金相切割片转速在金相切割的实际操作中,金相切割片的转速对寿命的影响也是非常大的,转速过低或过高,都会加快金相切割片的磨损,并且还会影响切割效率。转速过低:切割时金相切割片的刀刃与材料的接触时间相应会增长,加剧了摩擦,热量增加,损耗相应会增大。转速度过高:单位时间内金相切割片刀刃切削深度减少,材料对刀刃的摩擦磨损减少,但刀刃与材料间相互作用的载荷会加大,刀刃受机械冲击的损耗加大,必定也会造成磨损耗加剧。因此,金相切割片的转速无论过低或过高,都会影响其使用寿命。实践中,要按照厂家提供的技术说明,或者通过实验总结出的合适的转速,来控制切割片的转速,才能达到保持金相切割片使用寿命的目的。另外,工程师建议大家,在实际操作时,进刀、退刀、出刀的速度要适当调慢,切割过程中的速度应保持均匀,尤其是手动操作时要注意这些细节。三、合理选择金相切割片金相切割片的应用,选择原则是——以硬切软,以软切硬,以硬切硬。根据要切割的样品材料的物理特性来合理选择,尤其要注意看厂家的说明书,对每个型号的金相切割片都会有详细的说明,选对了才能确保样品的切割质量、效率和切割片的使用寿命达到预期。掌握了以上这些方法,就能给你的金相切割片续命。了解更多详情,请咨询可脉检测的工程师。
  • Advanced Science | 原位生长钙钛矿晶片实现低剂量直接X射线探测成像
    近日,中国科学院深圳先进技术研究院材料所喻学锋、刘延亮团队与医工所葛永帅团队合作,在权威刊物Advanced Science在线发表研究论文“PbI2-DMSO Assisted In-situ Growth of Perovskite Wafer for Sensitive Direct X-ray Detector”。 该成果聚焦钙钛矿直接型X射线探测器中钙钛矿晶片材料缺陷密度高、载流子传输效率低的科学问题,原创性地开发了一种钙钛矿晶体的原位生长技术,极大提高了钙钛矿晶片的光电性能,实现了高效直接X射线探测及扫描成像。本工作为制备高灵敏、高分辨直接X射线探测器提供了新的技术路线,有望应用于未来高端医疗影像诊断和芯片无损检测等领域。喻学锋研究员、葛永帅研究员和刘延亮副研究员为本文共同通讯作者,刘文俊硕士生和史桐雨博士生为本文的共同第一作者。 论文线上截图论文链接:http://doi.org/10.1002/advs.202204512X射线探测在医学诊疗、安防检查、工业无损检测等领域应用广泛。然而,目前商用的闪烁体间接X射线探测器存在二次光电转化效率低、可见光色散等难以克服的问题,导致探测灵敏度低、辐射剂量高、空间分辨率差,无法满足高端医学影像、芯片检测等领域的需求。相比之下,基于半导体材料的直接X射线探测器可通过一次光电转换,直接将X射线转换成电信号,因此可具有更高的光电转换效率、探测灵敏度和空间分辨率。然而,目前常用的直接X射线探测半导体材料面临对X射线吸收弱(硅、非晶硒)、热稳定性差(非晶硒)、造价高昂(碲化镉、碲锌镉)等问题,极大地限制了其推广应用。因此,发展新型高效半导体光电转换材料是直接X射线成像探测器走向应用的关键。   近年来,金属卤化物钙钛矿半导体凭借优异的本征性能,如重原子X光吸收、载流子迁移率高和寿命长等,在直接X射线探测领域备受关注。钙钛矿材料对X射线的探测灵敏度可达100000 μC Gyair-1cm-2,远优于商用的硅、非晶硒、碲锌镉。通过简单等静压方法制备的钙钛矿晶片尺寸和厚度可控,非常适用于直接X射线检测。然而,钙钛矿晶片常常面临晶体生长不完全、电荷缺陷密度高的问题,严重影响了X射线探测器的效率及工作稳定性。 针对上述问题,结合之前的研究基础,从提升钙钛矿结晶度、降低钙钛矿晶片缺陷密度出发,本研究工作创新性地开发了一种PbI2-DMSO固体添加剂,促进了厚钙钛矿晶片的原位再生长,提高了材料的结晶度、降低缺陷密度、提高载流子迁移率和寿命。并且通过减缓钙钛矿的结晶过程,降低成核密度形成连续的大晶粒钙钛矿晶片,进一步促进器件表面晶界融合、提高电荷传输性能,从而获得高效钙钛矿直接X射线探测器。探测器灵敏度可达1.58×104μC Gyair-1cm-2,最低可探测剂量可达410 nGyair s-1,并且用平面扫描的方式,实现了高清X射线探测成像。这项工作为钙钛矿材料开拓了新的应用方向,同时也为高质量钙钛矿晶片的制备提供了一种有效策略,具有很大科学和应用价值。 该研究工作获得了国家自然科学基金重点项目、国家自然科学基金青年项目、中科院青年创新促进会、深圳市杰青及中科院特别研究助理等项目的资助。 原位生长钙钛矿晶片用于高灵敏直接X射线探测X射线探测扫描成像
  • 金刚石金相切割片肉眼看不到的秘密,你了解吗?
    金相切割耗材中特别常用就是金刚石金相切割片,精密切割离不开的金刚石切割片,任何材料的金相精密切割几乎都适用。但,金刚石金相切割片除了孔径、外圆直径、厚度和硬度这些参数外,还有一项参数很少被提到,我们实验室都称其为“肉眼看不到的秘密”,你能猜吗?对,指的就是金刚石浓度!话说金刚石切割片的金刚石浓度是有高、低之分的,而且高浓度的金刚石切割片与低浓度的金刚石切割片,在性能和应用上是有区别的,可脉检测小编给大家唠叨唠叨。金刚石浓度:是指在金刚石切割片的刀刃材料中,单位体积内金刚石颗粒所占比例和分布情况。具体是指金刚石切割片刀刃部分中金刚石的含量,定义为:浓度100=每厘米层体积4.4克拉(颗粒+基体)。金刚石金相切割片标准的金刚石浓度范围为8~135的范围。不同金刚石浓度的金相切割片,适用于不同的材料切割,而且价格也不一样的。选择恰当浓度的金刚石切割片能发挥更好的切割能力,并使制样更经济。不同浓度金刚石切割片的选择:通常,金相工程师会根据被切割材料的物理性能、硬度、切割速度、样品尺寸以及使用的切割冷却液等因素来选择。通常这样选择:对于聚合物、橡胶和塑料等较软的耐磨性材料,选择浓度较高的金刚石切割片。值得注意的是,由于金刚石浓度对切割速度是有影响的,因此,在切割以上这些材料时,要适当降低切割速度,才能达到理想的切割效果,并保证切割片的使用寿命。对于陶瓷、玻璃等硬脆性材料,则选择浓度较低的金刚石切割片,既经济又能提高切割效率。了解了这些,金刚石金相切割片肉眼看不见的秘密就不是秘密了。使用低浓度金刚石切割片对陶瓷、玻璃、硅、碳化物、蓝宝石以及其它相关的半导体和光学材料进行精密切割取样;使用高浓度金刚石切割片对不锈钢、铝、钛等金属和PCB电路板等进行精密切割取样。对于生产、研发和教学来说,都是不错的选择。以上经验来自于可脉检测工程师的分享,希望能给您的工作带来一些帮助,欢迎联系可脉检测工程师,共同探讨更多制样方法。
  • 宽禁带联盟对《碳化硅单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法》等五项团体标准进行研讨及审定
    2022年1月13日,根据中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟(以下简称“宽禁带联盟”)团体标准制定工作程序要求,联盟秘书处组织召开了宽禁带联盟2022年度第一次团体标准评审会。本次评审会采取线上评审的形式,分别对《碳化硅单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法》等五项团体标准进行了研讨及审定。线上评审评审会由宽禁带联盟秘书长刘祎晨主持,厦门大学张峰教授、中国科学院物理研究所王文军研究员、中国科学院半导体研究所金鹏研究员、孙国胜研究员、刘兴昉副研究员、国网智能电网研究院有限公司杨霏教授级高工、中科院电工所张瑾高工、工业和信息化部电子第四研究院闫美存高工、北京聚睿众邦科技有限公司总经理闫方亮博士、北京天科合达半导体股份有限公司副总经理刘春俊研究员、国宏中宇科技发展有限公司副总经理赵子强、北京世纪金光半导体有限公司技术主任何丽娟、北京三平泰克科技有限责任公司郑红军高工等宽禁带联盟标准化委员会委员参加了本次会议。会上,各牵头起草单位代表就标准送审稿或草案的编制情况进行了详细汇报,与会专家针对标准技术内容、专业术语、技术细节、标准格式、标准规范等内容等方面进行了深入的讨论,并提出了很多宝贵意见,最后经联盟标准化委员会与会委员表决,形成如下决议:1. 通过《碳化硅单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法》(牵头单位:国宏中宇科技发展有限公司)一项送审稿审定;2. 通过《碳化硅外延层载流子浓度测试方法-非接触电容-电压法》、《碳化硅栅氧的界面态测试方法—电容-电压测试法》(牵头单位:芜湖启迪半导体有限公司),《金刚石单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法》、《金刚石单晶位错密度的测试方法》(牵头单位:中国科学院半导体研究所)四项草案初审。同时标准化专家组建议各标准工作组要根据专家审查意见对各项标准进一步修改完善,尽快形成报批稿或征求意见稿,报送至联盟秘书处。联盟将按照标准制定工作计划进度要求,有条不紊地推动标准工作。宽禁带联盟一直以来都高度重视团体标准工作的发展,有责任和义务不断提升标准化水平,为引领行业技术发展提供重要支撑。同时,联盟也将积极探索推进与国标委的互动,协同推动优秀的团体标准上升为行业标准、国家标准,不断提升国家标准的水平。
  • 如何精准找出CIS影像晶片缺陷?透过量子效率光谱解析常见的4种制程缺陷!
    本文将为您介绍何谓量子效率光谱,以及CIS影像晶片常见的4种制程缺陷。SG-A_CMOS 商用级图像传感器测试仪相较于传统光学检测设备可以提供更精细的缺陷检测资讯,有助于使用者全面了解CIS影像晶片的性能表现。量子效率光谱是CIS影像晶片的关键参数之一,可以反映CIS影像晶片对不同波长下的感光能力,进而影响影像的成像质量。1. 什么是CIS影像晶片的量子效率光谱?CIS影像晶片的量子效率光谱是指在不同波长下,CIS晶片对光的响应效率。物理上,光子的能量与其波长成反比,因此,不同波长的光子对CIS影像晶片产生的响应效率也不同。量子效率光谱可以反映传感器在不同波长下的响应能力,帮助人们理解传感器的灵敏度和色彩还原能力等特性。通常,传感器的量子效率光谱会在可见光波段范围内呈现出不同的特征,如波峰和波谷,这些特征也直接影响着传感器的成像质量。2. Quantum Efficiency Spectrum 量子效率光谱可以解析CIS影像晶片内部的缺陷,常见的有下四种:BSI processing designOptical Crosstalk inspectionColor filter quality and performanceSi wafer THK condition in BSI processing3. 透过量子效率光谱解析常见的4种制程缺陷A. 什么是BSI制程?(1) BSI的运作方式BSI全名是Back-Side Illumination.是指"背照式"影像传感器的制造工艺,它相对于传统的"正面照射"(FSI, Front-Side Illumination)影像传感器,能够提高影像传感器的光学性能,特别是在各波长的感光效率的大幅提升。在BSI制程中,像素置于矽基板的背面,光通过矽基板进入感光像素,减少了前面的传输层和金属线路的干扰,提高了光的利用率和绕射效应,进而提高了影像传感器的解析度和灵敏度。(2) 传统的"正面照射"(FSI, Front-Side Illumination)图像传感器的工作方式FSI 是一种传统的图像传感器制程技术,光线透过透镜后,从图像传感器的正面照射到图像传感器的感光面,因此需要在感光面(黄色方框, Silicon)的上方放置一些电路和金属线,这些元件会遮挡一部分光线,降低图像传感器的光量利用率,影响图像的品质。相对地,BSI 技术是在感光面的背面,也就是基板反面制作出感光元件,让光线可以直接进入到感光面,这样就可以最大限度地提高光量利用率,提高图像的品质,并且不需要额外的电路和金属线的遮挡,因此也可以实现更高的像素密度和更快的图像读取速度。(3) 为什么BSI工艺重要?BSI工艺是重要的制造技术之一,可以大幅提升CIS图像传感器的感光度和量子效率,因此对于低光照环境下的图像采集有很大的帮助。BSI工艺还可以提高图像传感器的分辨率、动态范围和信噪比等性能,使得图像质量更加优良。由于现今图像应用日益广泛,对图像质量和性能要求也越来越高,因此BSI工艺在现代图像传感器的制造中扮演着重要的角色。目前,BSI 技术已成为图像传感器的主流工艺技术之一,被广泛应用于各种高阶图像产品中。(4) 量子效率光谱如何评估BSI工艺的好坏如前述,在CIS图像芯片的制造过程中,不同波长的光子对于图像芯片的感光能力有所不同。因此,量子效率光谱是一种可以检测图像芯片感光能力的方法。利用量子效率光谱,可以评估BSI工艺的好坏。Example-1如图,TSMC使用量子效率光谱分析了前照式FSI和背照式BSI两种工艺对RGB三原色的像素感光表现的差异。结果表明,BSI工艺可以大幅提高像素的感光度,将原本FSI的40%左右提高到将近60%的量子效率。上图 TSMC利用Wafer Level Quantum Efficiency Spectrum(量子效率光谱)分析1.75μm的前照式FSI与背照式BSI两种工艺对RGB三原色的像素在不同波长下的感光表现差异。由量子效率光谱的结果显示,BSI工艺可以大幅提升像素的感光度,将原本FSI的40%左右提高到将近60%的量子效率。(Reference: tsmc CIS)。量子效率光谱的分析可以帮助工程师判断不同工艺对感光能力的影响,并且确定BSI工艺的优势。(5) 利用量子效率光谱分析不同BSI工艺工艺对CIS图像芯片感光能力的影响Example-2 如上图。Omnivision 采用Wafer Level Quantum Efficiency Spectrum量子效率光谱分析采用TSMC 65nm工艺进行量产时,不同工艺工艺,对CIS图像芯片感光能力的影响。在1.4um像素尺寸使用BSI-1工艺与BSI-2的量子效率光谱比较下,可以显著的判断,BSI-2的量子效率较BSI-1有着将近10%的量子效率提升。代表着BSI-2的工艺可以让CIS图像芯片内部绝对感光能力可以提升10%((a)表)。此外,量子效率光谱是优化CIS图像芯片制造的重要工具。例如,在将BSI-2用于1.1um像素的工艺中,与1.4um像素的比较表明,在蓝光像素方面,BSI-2可以提供更高的感光效率,而在绿光和红光像素的感光能力方面,BSI-2的效果与1.4um像素相似。另外,Omnivision也利用量子效率光谱分析了TSMC 65nm工艺中不同BSI工艺工艺对CIS图像芯片感光能力的影响,发现BSI-2可以提高近10%的量子效率,从而使CIS图像芯片的感光能力提高10%。将BSI-2工艺用于1.1um像素的制造,并以量子效率光谱比较1.4um和1.1um像素。结果显示,使用BSI-2工艺的1.1um像素,在蓝色像素方面具有更高的感光效率,而在绿色和红色像素的感光能力方面与1.4um像素相近。这个结果显示,BSI-2工艺可以在保持像素尺寸的前提下提高CIS图像芯片的感光能力,进而提高图像质量。因此,利用量子效率光谱比较不同工艺工艺对CIS图像芯片的影响,可以为CIS制造优化提供重要参考。上图 Omnivision采用了Wafer Level Quantum Efficiency Spectrum量子效率光谱,以分析TSMC 65nm工艺在量产时,不同工艺工艺对CIS图像芯片感光能力的影响。通过这种光谱分析技术,Omnivision能够精确地判断不同工艺工艺所产生的量子效率差异,并进一步分析出如何优化CIS图像芯片的感光能力。因此,Wafer Level Quantum Efficiency Spectrum量子效率光谱分析是CIS工艺中一项重要的技术,可用于协助提高CIS图像芯片的质量和性能。(Reference: Omnivision BSI Technology.)B. Optical Crosstalk Inspection(1) 什么是Optical Crosstalk?CIS的optical cross-talk是指光线在图像芯片中行进时,由于折射、反射等原因,导致相邻像素之间的光相互干扰而产生的一种影响。(2) 为什么Optical Crosstalk的检测重要?在CIS图像芯片中,optical crosstalk是一个重要的问题,因为它会影响图像的品质和精度。optical crosstalk是由于像素之间的光学相互作用而产生的,导致相邻像素的光信号互相干扰,进而影响到像素之间的区别度和对比度。因此,降低optical cross-talk是提高CIS图像芯片品质的重要目标之一。(3) 如何利用QE光谱来检测CIS 的Crosstalk?量子效率(QE)光谱可用于检测CMOS图像传感器(CIS)的串音问题。通过测量CIS在不同波长下的QE,可以检测CIS中是否存在串音问题。当CIS中存在串音问题时,在某些波长下可能会观察到QE异常。在这种情况下,可以采取相应的措施来降低串音,例如优化CIS设计或改进工艺。缩小像素尺寸对于高分辨率成像和量子图像传感器是绝对必要的。如上图,TSMC利用45nm 先进CMOS工艺,来制作0.9um 像素用于堆叠式CIS。而optical crosstalk光学串扰对于SNR与成像品质有着显著的影响。因此,TSMC采用了一种像素工艺,来改善这种optical crosstalk光学串扰。结构如下图。结构(a)是控制像素。光的路径线为ML(Microlens)、CF (Color Filter)、PD(Photodiode, 感光层)。而在optical crosstalk影响的示意图,如绿色线的轨迹。光子由相邻的像素单元进入后,因为多层结构的折射,入射到中间的PD感光区,造成串扰讯号。TSMC设计结构(b) “深沟槽隔离(DTI)" 技术是为了在不牺牲并行暗性能的情况下抑制光学串扰。由(b)可以发现,DTI所形成的沟槽可以隔离原本会产生光学串扰的光子入射到中间的感光Photodiode区,抑制了串扰并提高了SNR。像素的横截面示意图 (a) 控制像素 (b)串扰改善像素。Wafer Level Quantum Efficiency Spectrum of two different structure CISs. 在该图中,展示了0.9um像素的量子效率光谱,其中虚线代表控制的0.9um像素(a),实线代表改进的0.9um像素(b)。由于栅格结构的光学孔径面积略微变小,因此光学串扰得到了极大的抑制。光学串扰抑制的直接证据,在量子效率光谱上得到体现。图中三个黄色箭头指出了R、G、B通道的串扰抑制证据。蓝光通道和红光通道反应略微下降,但是通过新开发的颜色滤光片材料,绿光通道的量子效率得到了提升。利用Wafer Level Quantum Efficiency Spectrum技术可以直接证明光学串扰的抑制现象。对于不同的CIS图像芯片,可以通过量子效率光谱测试来比较它们在不同波长下的量子效率响应,进而分辨optical crosstalk是否得到抑制。上图展示了0.9um像素的量子效率光谱,其中虚线代表控制的0.9um像素(a),实线代表改进的0.9um像素(b)。由于栅格结构的光学孔径面积略微变小,因此光学串扰得到了极大的抑制。光学串扰抑制的直接证据,在量子效率光谱上得到体现。图中三个黄色箭头指出了R、G、B通道的串扰抑制证据。C. Color filter quality inspection(1) 什么是CIS 的Color filter?CIS的Color filter是一种用于CIS图像芯片的光学滤光片。它被用于调整图像传感器中各个像素的光谱响应,以便使得CIS图像芯片可以感测和分离不同颜色的光,并将其转换为数字信号。Color filter通常包括红、绿、蓝三种基本的色彩滤光片。而对于各种不同filter排列而成的color filter array (CFA),可以参考下面的资料。最常见的CFA就是Bayer filter的排列,也就是每个单元会有一个B、一个R、与两个G的filter排列。Color filter在CIS图像芯片中扮演着非常重要的角色,其质量直接影响着图像的色彩再现效果。为了确保Color filter的性能符合设计要求,需要进行精确的光谱分析和质量检测。透过率光谱可以评估不同Color filter的光学性能 量子效率光谱可以检测Color filter与光电二极管的匹配程度。只有通过严格的质量检测,才能保证CIS芯片输出优质的图像。图 Color filter 如何组合在“Pixel"传感器中。一个像素单位会是由Micro Lens + CFA + Photodiode等三个主要部件构成。Color filter的主要作用是将入射的白光分解成不同的色光,并且选择性地遮挡某些色光,从而实现对不同波长光的选择性感光。(2) 为什么Color filter的检测重要?在CIS图像芯片中,每个像素上都会有一个color filter,用来选择性地感光RGB三种颜色的光线,从而实现对彩色图像的捕捉和处理。如果color filter的性能不好,会影响像素的感光度和光谱响应,进而影响图像的品质和精度。因此,优化color filter的性能对于提高CIS图像芯片的品质至关重要。Color filter 的检测是十分重要的,因为color filter 的品质和稳定性会直接影响到CIS 图像芯片的色彩精确度和对比度,进而影响整个图像的品质和清晰度。如果color filter 存在缺陷或不均匀的情况,就会导致图像中某些颜色的偏移、失真、色彩不均等问题。因此,对color filter 进行严格的检测,可以帮助制造商确保其性能和品质符合设计要求,从而提高CIS 图像芯片的生产效率和产品的可靠性。(3) 如何利用QE光谱来检测CIS 的Color filter quality?CIS的Color filter通常是由一种称为“有机色料"(organic dyes or pigments)的物质制成,这些有机色料能够选择性地吸收特定波长的光,以产生所需的颜色滤波效果。这些有机色料通常是透过涂布技术将它们沉积在玻璃或硅基板上形成彩色滤光片。量子效率(QE)光谱可以测量CIS在不同波长下的感光度,从而确定Color filter的品质和性能。正常情况下,Color filter应该能够适当地分离不同波长的光,并且在光学过程中产生较小的串扰。因此,如果在特定波长下的量子效率比预期值低,可能是由于Color filter的品质或性能问题引起的。通过对量子效率 (QE)光谱的分析,可以确定Color filter的性能是否符合设计要求,并提前进行相应的调整和优化。TSMC利用Wafer Level Quantum Efficiency Spectrum晶片级量子效率光谱技术,对不同的绿色滤光片材料进行检测,以评估其对CIS图像芯片的感光能力和光学串扰的影响。如上图,TSMC的CIS工艺流程利用Wafer Level Quantum Efficiency Spectrum的光谱技术,针对不同的绿色滤光片材料进行检测,以评估其对CIS图像芯片的感光能力和光学串扰的影响。晶圆级量子效率光谱显示了三种不同Color filter材料(Green_1, Green_2和Green_3)的特性。透过比较这三种材料,可以发现:(1) 主要绿色峰值位置偏移至550nm(2) 绿光和蓝光通道的optical crosstalk现象显著降低(3) 绿光和红光通道的optical crosstalk现象显著增加。通过对量子效率(QE)光谱的分析,可以确定Color filter的性能是否符合设计要求,并提前进行相应的调整和优化。以确保滤光片材料的特性符合设计要求,并且保证图像的品质和精度,提高CIS图像芯片的可靠性和稳定性。D. Si 晶圆厚度控制(1) 什么是Si 晶圆厚度控制?当我们在制造BSI CIS图像芯片时,需要使用一种称为"减薄(thin down)"的工艺来将晶圆变得更薄。这减薄后的晶圆厚度会直接影响CIS芯片的感光度,因此晶圆的厚度对图像芯片的感光性能和质量都有很大的影响。为了确保图像芯片能够正常工作,我们需要使用"Si 晶圆厚度控制"工艺来精确地控制晶圆的厚度。这样可以确保我们减薄出来的晶圆厚度能够符合设计要求,同时也可以提高图像芯片的产品良率。BSI的流程图。采用BSI工艺的CIS图像芯片,会有一道重要的工艺“减薄"(Thin down), 也就是将晶圆的厚度减少到一定的程度。(2) Si 晶圆厚度控制工艺监控中的量子效率检测非常重要在制造CIS芯片时,Si 晶圆厚度控制工艺的控制对于芯片的感光度有着直接的影响。这种影响可以透过量子效率光谱来观察,确保减薄后的CIS芯片拥有相当的光电转换量子效率。减薄后的晶圆会有一个最佳的厚度值,可以确保CIS芯片拥有最佳的光电转换量子效率。使用450nm、530nm和600nm三种波长,可以测试红色、绿色和蓝色通道的量子效率。实验结果显示了不同减薄厚度的CIS在蓝光、绿光、红光通道的量子效率值的变化。减薄厚度的偏差会对CIS的感光度产生直接的影响,进而影响量子效率的值。因此,量子效率的检测对于Si 晶圆厚度控制工艺的监控至关重要,以确保制造的CIS芯片具有稳定和一致的质量。下图显示了在不同减薄厚度下CIS图像芯片在蓝、绿、红三个光通道的量子效率值变化。蓝光通道的量子效率值是利用450nm波长测量的,当减薄后的厚度比标准厚度多0.3um时,其量子效率值会由52%下降至49% 当减薄后的厚度比标准厚度少0.3um时,蓝光通道的量子效率只略微低于52%。红光通道的量子效率值是利用600nm波长测量的,发现红光通道的表现在不同厚度下与蓝光通道相反,当减薄后的厚度比标准厚度少0.3um时,红光通道的量子效率显著地由44%下降至41%。在较厚的条件(+0.3um)下,红光通道的量子效率并没有显著的变化。绿光通道的量子效率值是以530nm波长测量的,在三种厚度条件下(STD THK ± 0.3um),绿光通道的量子效率没有显著的变化。利用不同的Si晶圆厚度(THK)对CIS图像芯片的量子效率进行测试,测试波长分别为600nm、530nm和450nm,并且针对红色、绿色和蓝色通道的量子效率进行评估。结果显示,在绿光通道方面,Si晶圆厚度的变化在±0.3um范围内,530nm波段的量子效率并未有明显变化。但是,在红光通道方面,随着Si晶圆厚度的下降,量子效率会有显著的下降。而在蓝光通道450nm的情况下,量子效率会随着Si晶圆厚度的下降而有显著的下降。这些结果表明,Si晶圆厚度对于CIS图像芯片的量子效率有重要的影响,且不同通道的影响程度不同。因此,在制造CIS图像芯片时需要精确地控制Si晶圆厚度,以确保产品的质量和性能。
  • 《碳化硅晶片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法》等多项标准工作会成功召开
    2021年6月3日下午,《碳化硅晶片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法》、《碳化硅衬底基平面弯曲的测定 高分辨X射线衍射法》两项标准工作会成功召开。与会人员围绕标准草案的范围、术语与定义、试验方法等内容进行充分讨论,并提出了诸多修改意见。来自广州南砂晶圆半导体技术有限公司、山东大学、深圳第三代半导体研究院、芜湖启迪半导体有限公司、浙江博蓝特半导体科技股份有限公司、国宏中宇科技发展有限公司等单位的多位专家参加了会议。对位错缺陷进行有效的表征与分析对单晶工艺及外延工艺改进优化进而提高器件性能至关重要。位错具有随机分布且密度量级大的特征,随着单晶尺寸的增大,人工统计位错密度的困难增加,过少的统计区域则又无法代表整个晶片的位错密度,《碳化硅晶片位错密度检测方法 KOH腐蚀结合图像识别法》规定了用化学择优腐蚀结合图像识别法检测碳化硅晶片中位错密度,适用于4H及6H-SiC晶片材料中位错检测及其密度统计。对于碳化硅材料只有掌握了基平面弯曲的特性,才能够深入了解基平面弯曲产生的原因,提供单晶生长条件优化的方向,进而提升单晶质量。《碳化硅衬底基平面弯曲的测定 高分辨X射线衍射法》适用于正向及偏向的6H和4H-SiC单晶衬底中基平面弯曲的检测,填补我国以高分辨X射线衍射法表征SiC单晶片的晶面弯曲特性领域的空白。
  • 《导电型4H碳化硅衬底及外延晶片基平面位错密度的测定 化学腐蚀法》等两项标准提案获通过
    近日,由北京理工大学牵头提案的《电动汽车用碳化硅(SiC)电机控制器评测规范》以及由广州南砂晶圆半导体技术有限公司牵头提案的《导电型4H碳化硅衬底及外延晶片基平面位错密度的测定 化学腐蚀法》两项团体标准提案,经CASA标准化委员会(CASAS)管理委员会投票,根据《CASAS管理和标准制修订细则》,两项联盟团体标准投票通过立项,分配编号分别为:CASA 012、CASA 013。据了解,第三代半导体产业技术创新战略联盟(CASA)是2015年9月9日,在国家科技部、工信部、北京市科委的支持下,由第三代半导体相关的科研机构、大专院校、龙头企业自愿发起筹建的“第三代半导体产业技术创新战略联盟”(以下简称“联盟”)在北京国际会议中心举行了成立大会。 科技部曹健林副部长、高新司赵玉海司长、科技部高技术研究发展中心秦勇主任,北京市科学技术委员会闫傲霜主任,中国科学与科技政策研究会李新男副理事长等领导出席了成立大会。南京大学郑有炓院士代表45家发起机构单位正式宣布第三代半导体产业技术创新战略联盟成立。科技部曹健林副部长、南京大学郑有炓院士、北京市科学技术委员会闫傲霜主任、北京半导体照明科技促进中心吴玲主任共同为联盟揭牌。以下为通知原文:联盟两项团体标准提案获管理委员会投票通过各有关单位:由北京理工大学牵头提案的《电动汽车用碳化硅(SiC)电机控制器评测规范》以及由广州南砂晶圆半导体技术有限公司牵头提案的《导电型4H碳化硅衬底及外延晶片基平面位错密度的测定 化学腐蚀法》两项团体标准提案,经CASA标准化委员会(CASAS)管理委员会投票,根据《CASAS管理和标准制修订细则》,两项联盟团体标准投票通过立项,分配编号分别为:CASA 012、CASA 013。 标准提案投票具体情况为: 1、电动汽车用碳化硅(SiC)电机控制器评测规范:应投25票,实投21票,赞成19票,反对1票,弃权1票。 2、导电型4H碳化硅衬底及外延晶片基平面位错密度的测定 化学腐蚀法:应投25票,实投21票,赞成19票,反对0票,弃权2票。立项通知请查看附件:附件1.关于《导电型4H碳化硅衬底及外延晶片基平面位错密度的测定 化学腐蚀法》联盟团体标准立项的通知附件2.关于《电动汽车用碳化硅(SiC)电机控制器评测规范》联盟团体标准立项的通知
  • 手机闪光灯镜片二次光学色温照度分析
    我们知道,采用手机便携式的拍照方式,已成为人们大众很重要的生活方式。然而,采用手机拍照方便的同时,人们对照片质量的苛求并没有降低。所以,如何提高手机的拍照质量是各大手机厂商关注的重点问题。为此,对于此类相关的检测技术也孕育而生,而汉谱公司手机闪光灯镜片二次光学色温照度分析,就是该检测技术的成功典范。   2012年6月29日,汉谱公司为旭瑞光电科技有限公司量身定做的项目:&ldquo 手机闪光灯镜片二次光学色温照度分析&rdquo 顺利经过客户的验收,并交付使用。   旭瑞光电科技有限公司主营光学塑胶模具制作、光学塑胶镜片生产、光学镜头开发制造。产品主要应用于手机、数码相机、汽车、医疗、电脑、监控、扫描灯各种光学镜头及LED应用照明等电子产品。   汉谱自主研发的HP-L100色彩照度计是一款应用于照明光源测试的便携式仪器,主要用于测量光源的三刺激值、照度、色差、相关色温及色度。操作简单,携带方便,具有很大的测量范围:0.1~99990lx,且能够最多同时支持30个测量探头工作,可对光源进行单点测试评估 可用多个探头组合布满需要测试的平面进行整个面的光源评估 可建立有线无线网络进行测量。   汉谱的HP-L100色彩照度计完全满足了旭瑞光电科技有限公司对于产品提出的实际应用要求:一、13个探头能同时测量手机闪光灯照度及色温的最大值 二、主机显示13个探头测量的照度和色温值 三、 PC软件测试13个探头的照度和色温值,对测量数据保存为EXCEL格式数据 四、探头以有线的方式连接主机 五、Ev的重复性为1%,台间差:Ev:2%。   此项目为有线多点的应用,针对客户的要求,在闪光灯闪灯的过程中,通过HP-L100色温照度计抓取闪光灯通过透镜模组发出光的Ev的最大值和相应的色温值。在测试的过程中, HP-L100色温照度计设置一段时间间隔,采集到测得该段时间内Ev的最大值和色温值 在此项目中,添加了单次测量和多次测量。   汉谱的研发团队仅用一个多月的时间就完成了整个项目的开发。这不仅基于汉谱拥有一支强大研发团队,更是汉谱服务精神全体贯彻的体现:想客户之所想,急客户之所急!优质、完善的项目服务,是我们获得客户信赖的基础。 下图为:一个主机,13个探头,测量各设置点的色温及照度值
  • 沃爱康发布一次性囊膜和虹膜切开镜片,直接成像更安全便捷
    2015年12月10日,英国豪迈的眼科玻璃透镜品牌沃爱康光学公司发布了Volk?1一次性直接成像囊膜和虹膜切开镜片,能在激光手术中实现高分辨率成像。在Volk1镜片中,沃爱康生产的光学器件减少疾病传播,无需再次处理,兼具品质及一次性无菌镜片的安全与便捷。沃爱康最新研发的Volk1一次性直接成像囊膜和虹膜切开镜片。为了减少疾病传播,监管机构和医院组织正越来越多地要求使用一次性医疗设备(如果可用),而不是回收可重复使用的医疗设备。Volk1镜片消除了传染病交叉感染的可能性以及繁琐昂贵的再次处理程序。设备、劳动力以及妥善处置与处理可重复使用的医疗设备有关的有机溶剂消毒剂的费用超出了一次性医疗设备的费用。Volk1囊膜切开镜片的放大倍率为1.57x,激光光斑为0.63x,因此激光束可以精确地分布在囊袋中。对于激光虹膜切开手术,Volk1虹膜切开镜片可以在1.70x的放大倍率下通过周边虹膜激光光斑为0.58x的高放大倍率成像。Volk1囊膜和虹膜切开镜片以十对为一组,在盒子中进行预先消毒,然后单独密封在特维强袋中。沃爱康公司在有限时间内免费提供镜片样品包。Volk1一次性直接成像囊膜和虹膜切开镜片最先在美国的俄亥俄州曼托市投产,更多关于此镜片的信息,请索取免费样品包,或直接向沃爱康公司致电010-51261868,或发邮件至maggie.bai@halma.cn。关于沃爱康和英国豪迈:沃爱康光学公司(Volk Optical)是眼科诊断和治疗用非球面眼科镜片以及便携式诊断成像设备领域的业界领军企业。公司凭借玻璃镜头结构以及双面非球面的专利技术实现了最高分辨率成像,并为精确诊断、治疗和外科手术提供最佳立体影像。沃爱康公司的便携式电子数码显像设备为眼科、验光以及一般医学的未来奠定了基础。公司总部位于美国俄亥俄州曼托市,其代表办事处和经销商遍布全球。沃爱康是英国豪迈(Halma)的子公司,隶属于豪迈的医疗设备事业部。1894年创立的英国豪迈如今是安全、医疗、环保产业的投资集团,伦敦证交所中唯一在过去30多年股息年增长5%的上市公司。集团在全球拥有5000多名员工,近50家子公司,在中国的上海、北京、广州、成都和沈阳设有区域代表处,且在上海、北京、保定、深圳等地建立了多家工厂。
  • 产品升级 | HT8700大气氨激光开路分析仪降雨传感&镜片加热功能
    降雨传感如遇降雨天气,系统收集的数据为无效数据。HT8700增设降雨识别芯片,通过传感装置实时反馈至系统,并将降雨期间收集的数据特殊标注,便于使用者筛选有效数据。镜片加热在野外工作过程中会遇到低温条件,普通镜片易积水雾,影响镜片反射效率。开发加热系统,增设加热组件,可将镜片温度提至高于环境温度10℃。确保红外线反射能力不受低温影响,使仪器分析结果更精准、更可靠。点击查看新功能说明【点击查看】中国农业大学:华北农区开展秋冬季地气氨交换通量高频观测【点击查看】中科院大气所:亚热带稻田施肥期间氨排放通量【点击查看】湖北农科院:国家农业环境潜江观测实验站建设
  • 手持测温应用激光篇|热成像在激光器制造、激光切割、焊接时如何应用?
    据激光加工专委会统计,2023年中国激光产业产值约980亿元,直逼千亿元大关。 据MRFR数据显示,预计2026年全球激光加工市场规模将达到61.1亿美元。 中国激光产业正处于成长期,预计2024-2029年,我国激光产业市场规模将以20%左右的增速增长,到2029年产业规模或超7500亿元。可见,激光产业有着巨大的市场潜力。激光技术市场需求已成为国内外企业重点关注的话题之一。我国激光技术的市场需求主要在哪里?中国激光技术目前已应用于光纤通信、激光切割、激光焊接、激光雷达、激光美容等行业,涉及多个领域,形成了完整的产业链。激光切割激光焊接激光美容比如在工业制造领域,激光已成为需求极大的一种工具。用户可利用激光束对材料进行切割、焊接、打标、钻孔等,这类激光加工技术已在汽车、电子、航空、冶金、机械制造等行业得到广泛应用。新能源汽车制造激光打标激光钻孔激光这个“潜力股”跟热成像有关系吗?在激光这个庞大的产业链中,激光器和激光设备两个环节的竞争尤为激烈。激光器是产生、输出激光的器件,是激光设备的核心器件。从激光器来看,光纤激光器由于具备电光转换效率高、光束质量好、批量使用成本低等优势,可胜任各种多维任意空间加工应用,成为目前激光器的主流技术路线,在工业激光器中占比过半。对此值得关注的是,在光纤激光器的生产质检过程中,热成像仪可以发挥极大的应用价值。比如在大功率光纤激光器的制造过程中,严重的缺陷会导致光纤熔接处异常发热,从而对激光器造成损坏或烧掉热点。因此,光纤熔接接头的温度监测是光纤激光器制造过程中的一个重要环节。使用红外热像仪可以实现对光纤熔接点的温度监测,从而判断产品质量是否合格。在光纤激光器生产质检中,热成像还可以如何发力?先简单了解下,光纤激光器的组成和工作流程:注解:单条激光的功率有限。在泵浦和合束器的双重加成下,激光的输出功率会变得更大。在上述流程中,热成像可以有如下应用:① 光纤熔接点质量监测光纤之间会有很多焊接点,光纤熔接处可能存在一定尺寸的光学不连续性和缺陷,借助热成像仪可以监测光纤熔接点的温度有无异常,判断熔接点是否存在缺陷,提高产品质量。② 泵浦检测泵浦在工作时会产生大量热量,其温度会直接影响芯片输出的激光波长,使用热成像仪可以对每台泵的来料进行质量检测,保证激光器质量。③ 合束器检测通过热成像仪,既可以判断合束器温度是否异常,也可以检测合束聚合后,输入和输出光纤受热是否均匀。
  • 眼视光镜片的加工和品控 - 车床加工/三维非接触测量/透氧性
    由于眼视光镜片需要在人眼中使用,质量控制尤为重要,高精度加工和检测是高质量的保证。 阿美特克旗下多品牌仪器皆可助力眼视光镜片的加工和品控。此次讲座将涵盖STERLING超精密车床在眼视光镜片制造与加工中的应用,TAYLOR HOBSON三维非接触测量技术助力眼视光镜片面形控制的提升,以及MOCON对隐形眼镜透氧性能的解析。 6月16日14:00-16:00,STERLING & TAYLOR HOBSON & MOCON的专家将为大家带来精彩的线上直播,期待您扫码报名参与~
  • 小的、软的、脆的和异形样品切割,这款金相切割机正合适!
    金相制样,经常要对小的、软的、脆的和异形的样品进行切割取样。由于精度要求高,有时材料特性很软、或很脆,都是比较难于切割的,这种情况,就需要一款低速精密金相切割机来解决问题了。可脉检测的METCUT-5型低速精密金相切割机正合适!这款来自美国的进口金相切割机,可配置切割片直径3in-5in,切割片转速≤600rpm/min,切割能力可达30mm。与同类低速精密切割机相比有以下几大特色:1. 功率大:100W的电机功率,强劲有力,使样品切割变得轻松自如。2. 配置更为人性化:其所配夹具、法兰、磨石及配重等配置齐全,使设备稳定性好,并能满足各种材料和形状各异的样品切割。3. 触屏控制:大尺寸触摸屏控制,操作更简单容易。4. 转速范围大:0-600rpm/min调速范围,无级变速,使之比同类设备的切割性能相比更突出,应用更为灵活和宽泛。以上这些特点,决定了这款金相切割机特别适合切割小的、软的、脆的、异形的样品。当然,对于薄片样品制备也是非常所擅长的。金相实验室有一款METCUT-5金相切割机,对于切割这些小的、软的、脆的、异形的样品,以及薄片样品就够了,而且非常经济实用,相比同类进口设备能省很多银子不说,性能和使用上都很有优势。如果您还在千寻万找能切割小的、软的、脆的、异形的样品,以及薄片样品的金相切割机,读到此文时,恭喜你找到了!METCUT-5型低速精密金相切割机正合适!可脉检测公司南京实验室有样机,可免费试机。店铺首页有联系方式,赶紧联系吧。
  • 双光子显微切割系统带你领略硬组织切割的高效新玩法
    硬组织的病理观测对于研究骨骼、牙齿等器官疾病的发展具有很重要的意义。但是硬组织由于其本身硬度大难以被传统的薄片切割机直接切割,因此在切割之前往往需要脱钙处理,使其软化以达到刀片所能够承受的硬度范围内进行切割。但是钙质作为骨骼和牙齿的组成部分,进行脱钙将不可避免的丢失所研究器官中的信息,尤其是在含钙量高的牙釉质等部位中。同时,钙在早期硬组织愈合如牙质修复、骨创伤愈合等过程中也起着重要作用。另外脱钙还不可避免的改变了硬组织的形貌,诸如厚度变化、褶皱、软硬组织分离等问题。因此寻找无需脱钙的切割方法对于研究硬组织研究是十分必要的。随着激光技术的发展,这一难题有望得到解决。对于刀片切割来说,受到刀片材料本身的限制,无法切割比刀片更硬的物体,但是这个困难在激光切割中并不存在 。然而激光切割也有其缺点:先作为一种高能光束,其本身蕴含的能量较高容易灼伤物体表面,从而影响切割效果;另外受到激光在穿透物体时将不可避免的被所穿透物体中的组分散射,从而限制了激光切割的深度。近几年发展较为迅速的双光子聚焦技术给激光3D切割带来了新的可能。双光子切割具有如下优势:先双光子能够穿透一定深度的样品,因此能够直接在物体内部进行切割,进而实现对组织深层区域的切割;其次双光子的聚焦点能够控制,可实现以往切割设备不能实现的3D切割;另外双光子一般采用近红外激光作为激发光源,这类激光往往拥有佳穿深并且对于蛋白的吸收较低,基本不会灼伤样品。后双光子切割相比于传统打磨方法来说更为,样品的损失更少。 在制样上来说,双光子切割也十分的简单。根据目前文献上主要采用的方法可以总结为:先使用醛固定,然后使用PMMA包埋,接下来使用双光子激光切割设备切割,经过简单打磨后,就可以染色压片了。这比起传统的硬组织切割步骤更为简单,制备时间更短。并且制备效果比传统方法更优。 双光子切割实际效果图精选观察骨组织的修复过程激光切割人体四腰椎垂直切片前部。C. SEM D. PLM E. SEM + PLM。从图中可以清晰看到骨组织表面修复。 观察基因缺陷对骨组织的影响 小鼠胫骨的SEM图像。A.Phospho1敲除(KO)的胫骨近端显示非矿化基质类骨;B. 胫骨骨干。白色箭头显示骨髓内表面的骨样斑块。黑色箭头显示位于皮质血管的骨样区(向下至20-50 lm区域)的大小变化;C. 膝盖。致密纤维结缔组织骨膜位于白色箭头处;D.WT的对照关节。 观察手术后的骨组织再生 节段性缺损愈合的组织形态学评价。a-d。Safranin Orange/von Kossa染色观测修复手术愈合效果的胫骨代表性图片,LA,外侧;ME,内侧;PR,近端;DI,远端,对侧钢板。e.手术后周内采集的对照样本作标本图片。自体松质骨移植(ABG)对蜂巢的增强作用黑色(蓝色星)和支架中心孔内明显的截骨术血肿(白色星)仍然可见。 牙齿病理观测 大鼠牙本质切片观测 人牙齿切片观测参考文献[1] Will, Fabian, and Heiko Richter. "Laser‐based Preparation of Biological Tissue: Femtosecond lasers speed up histological procedures in Medtech." Laser Technik Journal 12.5 (2015): 44-47[2] Kunert-Keil, Christiane, et al. "Histological comparison between laser microtome sections and ground specimens of implant-containing tissues." Annals of Anatomy-Anatomischer Anzeiger 222 (2019): 153-157.[3] Joner, Michael, et al. "Very late scaffold thrombosis: insights from optical coherence tomography and histopathology." EuroIntervention 13 (2018): e2169-e2173.[4] Will, Fabian G., et al. "Laser microtome: all optical preparation of thin tissuesamples." Commercial and Biomedical Applications of Ultrafast Lasers VII. Vol. 6460. International Society for Optics and Photonics, 2007.[5] Ngezahayo, A., et al. "Intracellular manipulation of single cells using ultrashort laser pulses: mitochondria and cytoskeleton." EUROPEAN JOURNAL OF CELL BIOLOGY. Vol. 88. [6] Schwerk, Birthe, et al. "Comparison of two prototypes of a magnetically adjustable glaucoma implant in rabbits." PloS one 14.4 (2019): e0215316.
  • 100nm提升至50nm!中国长城半导体激光隐形晶圆切割技术取得重大突破
    100nm提升至50nm!近日,半导体行业又传来一个好消息,中国长城在晶圆切割技术方面取得重大突破:其旗下郑州轨道交通信息技术研究院联合河南通用智能装备有限公司,仅用了一年时间,便完成了半导体激光隐形晶圆切割设备的技术迭代,分辨率由100nm提升至50nm,达到行业内最高精度,实现了晶圆背切加工的功能。与此同时,持续优化工艺,在原有切割硅材料的技术基础上,实现了加工CIS、RFID、碳化硅、氮化镓等材料的技术突破,对进一步提高我国智能装备制造能力具有里程碑式的意义。HGL1341晶圆激光隐切设备半导体产业被称为国家工业的明珠,晶圆切割则是半导体封测工艺中不可或缺的关键工序,是半导体产业的“心脏”。经过“电路制作”后的每一片晶圆上都聚集着数千,数万,甚至十万的"独立功能晶粒”,晶圆分割工艺的好坏直接决定半导体工艺连锁的“生产效率”和”竞争力”的优劣。2020年5月,中国长城旗下郑州轨交院联合河南通用智能装备有限公司,研制出我国首台半导体激光隐形晶圆切割机,填补了国内空白,在半导体激光隐形晶圆切割技术上打破了国外垄断,关键技术性能参数达到了世界领先水平,开启了我国激光晶圆切割行业发展的序幕。高精度气浮载台分辨率100nm由提升至50nm,是一次迭代升级。中国长城副总裁、郑州轨交院院长刘振宇介绍到,迭代升级后的激光晶圆隐形切割设备可自由控制激光聚焦点的深度、可自由控制聚焦点的长度、可自由控制两个焦点之间的水平间隔,通过采用特殊材料、特殊结构设计、特殊运动平台,可在500mm/S的高速运动之下,保持高稳定性、高精度切割,激光焦点仅为0.5um,切割痕迹更细腻,可以避免对材料表面造成损伤,大幅提升芯片生产制造的质量、效率、效益。切割无崩边、无碎屑据介绍,该装备可广泛应用于高能集成电路产品,包括CPU制造、图像处理IC、汽车电子、传感器、新世代内存的制造,对解决我国半导体领域内高端智能装备“卡脖子”问题起到显著作用。
  • 欢迎莅临“第16届北京 埃森焊接与切割展览会”捷锐展台
    2011年6月2日,北京埃森焊接与切割展览会,在上海新国际博览中心隆重召开。埃森展自1987年在中德两国政府的支持下举办首届展会以来,迄今为止已成功举办了15届,规模已稳居全球第二大焊接与切割展览会的地位,已成了全球生产厂商、采购商、终端用户、经销商以及工程技术和学术界人士定期交流的大平台和见面会。 捷锐自1993年进入中国市场以来,每年参加该展会。今年,捷锐依旧参加此次展会,带去最新的流体控制系统整体解决方案。为中德两国,甚至全世界的焊接行业,带去最新、最先进的理念、产品和服务。期待广大新老客户莅临展台,共同探讨,共商良策,开创我们的美好未来! 召开的时间和地点: &ldquo 第16届北京· 埃森焊接与切割展览会&rdquo 时间:2011年6月2日&mdash 6月5日 地点:中国· 上海新国际博览中心(上海浦东新区龙阳路2345号) 展位号:E4576 关于捷锐 捷锐企业(上海)有限公司成立于1993年,专精研发制造高洁净之集中供气系统及流体控制相关零件、组件、系统设备、焊割器具、仪器仪表等。产品主要应用在半导体、气体、化工、生物科技、核电、航天、食品等行业。厂区内配备欧美最先进的高科技生产设备,并设置中央实验室、检测室及Class 10/100/1000无尘室。GENTEC® 拥有美国40余年的市场、研发及制造经验,提供流体系统整体解决方案,遍布全球的行销服务网络,赢得全球用户的信赖。 更多信息,请登录公司网站了解详情:www.gentec.com.cn
  • 不同金刚石浓度的金相切割片在应用上的区别
    金相切割片中金刚石切割片是金相精密切割的主要刀具之一,种类和型号非常多。有树脂基和金属基;有不同的硬度;有孔径12.7mm、32mm的;外圆直径从3in到10in,甚至还有更大的。除了以上这些技术参数外,还有一个经常被忽略的技术参数——金刚石浓度。金刚石金相切割片,金刚石浓度是有不同的,低浓度和高浓度的金刚石切割片在性能和应用上是有区别的,给大家简要介绍一下。概括说金刚石切割片中金刚石浓度为:通常情况下,单位体积的金刚石切割片刀刃内,金刚石微粒所占的比例和分布形态,称之为浓度。由于金刚石自身的性能和价格因素影响,因此,浓度高低直接影响到金刚石切割片的切削性能和价格。准确说,金刚石切割片中金刚石浓度:是指金刚石成分在刀刃部分的含量,浓度100=每厘米层体积4.4克拉(颗粒+基体)。根据这个定义计算,得出金刚石的浓度从8到135不等。金刚石金相切割片的切割性能,适用范围和使用寿命都和金刚石浓度有直接关系。在应用中,需要根据被切割材料、基体类型和硬度,切割机的转速,以及使用的冷却液等因素,恰当的选择适用浓度的金刚石切割片不仅可以充分发挥精密切割机的切割能力,还能轻松获得被切割样品良好的切割截面。应用的基本原则是:● 低浓度金刚石切割片用来切割陶瓷、玻璃、碳化物、蓝宝石、硅及半导体和光学材料等硬脆性材料。● 高浓度金刚石切割片用来切割金属和复合材料,如:铝、钛、PCB电路板等软的材料。美国QMAXIS(可脉)的金刚石金相切割片,每一种型号的金刚石切割片都针对所适用的材料而匹配更佳的金刚石浓度,满足精密切割的快速、准确和长的使用寿命要求,使之成为金相切割的精工之选。了解不同金刚石浓度的金相切割片在应用上的这些区别,就能帮助我们恰当的选择切割片,助力更好的金相切割取样工作。如您在工作中遇到相关问题,欢迎随时联系可脉检测工程师咨询。
  • 怎样才能收到QMAXIS切割耗材?这份攻略收好!
    小伙伴们,你们是不是也有收到过神秘礼物的经历?比如,节日里收到未署名的礼物,生日时收到匿名好友寄来的花束等。我前几天就收到一个神秘的快递,拆开一看,原来是切割耗材大礼包呀。 我这内心纳闷,咦,是谁这么了解我的心思?知道我的切割耗材要用完了。是谁这么贴心?及时为我送来了切割耗材大礼包呢?莫非,是QMAXIS?等拆开快递,看到切割片、磨石等各种切割耗材,我直呼QMAXIS实在是太懂我啦! 原装进口美国QMAXIS切割耗材包含了:金刚石&CBN切割片、超薄砂轮切割片、砂轮切割片、金刚石杯形砂轮、切割冷却润滑液、磨石等。不光好用,规格还齐全,这份QMAXIS切割耗材大礼包真是送到心坎里了! 原装进口美国QMAXIS金刚石&CBN切割片:适用于金相精密切割机和金相砂轮切割机。非磨耗型的超薄金刚石切割片硬度高,更耐磨。材料去除量少,切割表面形变小,可有效减少后续的研磨、抛光时间。不同浓度、粒径、粘结工艺的金刚石切割片满足不同材料的金相切割需求,是金相精密切割常用切割片。 原装进口美国QMAXIS超薄砂轮切割片:用于金相精密切割机和砂轮切割机的切割片。超薄砂轮切割片切口小,材料去除量少,与金刚石切割片相比更经济,可大幅降低制样成本。 原装进口美国QMAXIS砂轮切割片:金相砂轮切割机专用的切割片。砂轮切割片属于磨耗型切割片,有环保型树脂粘结的,也有经济型橡胶粘结的。高品质的砂轮切割片,切割速度快,精度高,使用寿命长。适用于各种钢、高温合金、黑色金属和有色金属等大多数材料的金相切割。 原装进口美国QMAXIS金刚石杯形砂轮:是安装在精密切割和研磨一体机、薄片样品切割磨制系统,以及岩相精密切割机上的磨削、减薄专用磨轮。金刚石杯形砂轮和金刚石切割片在各步骤间切割、磨削互相配合,从而完成独特的薄片样品制备。 原装进口美国QMAXIS切割冷却润滑液:具有冷却、润滑和防锈功能。切割冷却润滑液不仅可以确保试样和切割片充分冷却,而且可以清除切割碎屑,使切割片发挥更好的切割效率。 原装进口美国QMAXIS磨石:用于修整新的和使用后的金刚石和CBN切割片。通过磨石的修整,可去除切割片表面残留的切割屑,同时可有效恢复切割片的平整与锋利,提高切割速度和质量,延长切割片的使用寿命。 问题来了,要怎样才能收到这份来自QMAXIS切割耗材大礼包?当然是把这篇文章“不经意间”分享一下呀!同时自己也需要采购金相切割耗材的小伙伴们,千万不要错过这个机会,早下单早发货,也能早收到哦!
  • 聚光盈安|2019年第24届北京埃森焊接与切割展览会精彩亮相
    2019年6月25-28日,为期四天的第24届北京埃森焊接与切割展览会在上海新国际博览中心隆重举办,北京聚光盈安携M5000全谱直读光谱仪、英国阿朗ARTUS 10 CMOS全谱直读光谱仪、聚光MiX5手持式合金分析仪、日立Vulcan系列手持式合金分析仪,精彩亮相展会活动现场,受到现场观众的广泛关注。(图:展会现场实况)聚光M5000全谱直读光谱仪,使用CCD全谱接收技术,双光室光学系统设计,可编程脉冲全数字光源技术,性能更优,功耗更低,可分析Fe、AI、Cu、Zn、Ni、Ti、Mg、Co等多种基体,满足广大焊材厂商准确快速的检测需求。 此次英国阿朗带来的ARTUS 10 CMOS全谱直读光谱仪,英国阿朗新品ARTUS 10一经亮相,便获得大家广泛关注,新品采用了科研级CMOS传感器,ARTUS 10对高分析性能的无限追求,可轻松达到1ppm的检测下限,不用漂移校正,重新定义了直读光谱仪的稳定性。阿朗致力于满足用户精益求精的金属材料分析需求,从毫厘之间为用户创造效益。(图:客户咨询现场)聚光MiX5手持式合金分析仪,受到广大厂家的欢迎,该款X荧光手持式合金分析仪,能快速及无损的分析多种材质。做现场无损检测,5秒即可显示牌号及化学成分,电池可超长待机,长达10-12小时,拥有较佳的轻元素及重元素分析能力,IP54防护等级、高防尘防水性能,无惧恶劣的检测环境。 手持式激光诱导击穿光谱仪—Vulcan 系列,采用先进的激光诱导击穿光谱技术 (LIBS)检测速度更快,扣动扳机后一秒即会显示结果。且产品使用激光诱导击穿光谱技术 (LIBS),安全无辐射,能够为企业节省大量的人员培训及操作成本。(图:工程师现场操作演示)此次埃森焊接与切割展览会圆满结束,聚光盈安作为金属分析领域历史悠久的民族品牌,致力于为广大客户提供快速、可靠、易用的金属分析仪器。接下来聚光盈安将在7月10日-12日亮相中国国际铝工业展览会,与您相约,期待您的到来,让我们精彩继续!
  • 岩相样品切片、减薄的制备技术交流之一 ——岩相样品切割&研磨所需的设备
    岩相样品切片、减薄的制备技术交流之一——岩相样品切割&研磨所需的设备一、岩相样品切割&研磨一体机半个多世纪以来,MetLab为金相学、岩相学、生物医学等材料研究领域提供了各种专业设备。岩相分析,首要的是岩矿样品切片、研磨减薄的制备。MetLab提供的岩相精密切割&研磨一体机METCUT-10GEO是久经验证的经典利器。●薄片切割室与减薄的研磨室分列在设备两侧,操作的站位空间很充裕,研究人员操作时的安全性、便利性和准确性得到人性化的照顾。●切割与研磨,一机同轴,轴的直径是1.25in(31.75mm),保证了同一样品在切割和研磨的转移过程有高度的平行性,无须担心样品的平面定位。薄片切割完成后开始研磨减薄的时候,不会出现磨偏的现象。一台机器两种功用,性价比十分突出。●电机转速100-3000rpm/min连续可调,增量1rpm/min。高转速对于切割原石的时候,意味着切割速度快,工作效率高;调低转速对于切割或研磨更薄的薄片、多孔易碎材料的时候,意味着适应性、可控性和安全性更高。●两个仓门(防护罩)均向上开启,不占用左右的空间,不仅节省了实验室的平面占地面积,而且使操作空间得到释放。上下金刚石切割片和金刚石杯形砂轮、上下研磨手柄侧的测微计(千分尺)、上下粘结着样品的载玻片、清洗切割室和研磨室……等等,操作空间足够充裕,安全性和便利性非常高。●重要的是,两个仓门均有磁性安全联锁装置——没有关闭仓门,电机无法运行;电机不停止运行,无法打开仓门。操作者的安全得到确切的保障。●样品夹持都由真空卡盘吸附,装样、取样操作简单化,以真空卡盘为定位的装样指示明确。●切割侧的真空卡盘安装在工作台上的卡盘固定座上;研磨侧的真空卡盘安装在研磨操作手柄同轴内臂上。●独立的真空泵的两根气路管分别接入切割侧、研磨侧的真空卡盘。●LCD触摸屏控制面板,没有繁琐的设置——只需设定转速,执行真空开/关、冷却水开/关、切割或研磨的开/关——大道至简。●切割和研磨均手动操作,这使可制备的材料范围大幅度增加,同时,给予使用者操作的自由度充分释放。不同样品、不同制备要求、不同观察目的,都可按需处理。●切割操作,切割厚度的定位(X轴横向)由测微计旋钮调节,一个刻度的进给量0.005mm。总移动行程20mm。定位后,由手轮沿Y轴(纵向)切割。总行程224mm,金刚石切割片切割样品。●研磨操作,按去除量选择70μm或30μm的金刚石杯形砂轮,握住手柄前后移动,手柄轴的末端配有测微计控制磨削的进给。将样品表面与砂轮表面的金刚石摩擦而实现减薄。●金刚石切割片直径10in(254mm);金刚石杯形砂轮直径10in(250mm),轴心孔径都是1.25in(31.75mm)。●切割能力60mm,切割的样片可薄到0.5mm(500μm);研磨的样品可薄到0.03mm(30μm)二、岩相样品粘结台无论是切割薄片,还是继而对切割好的薄片进行研磨减薄,将样品粘结到载玻片上是实施真空卡盘吸附住样品的重要条件。创立于1968年的MetLab在推出岩相精密切割&研磨一体机METCUT-10GEO的同时,提供了有力助手——薄片样品粘结台METBOND GEO。●一次可粘结8个样品。●弹簧施压,能精确地控制粘结剂的平均厚度,进而可解决样品及载玻片厚度公差问题。●有加热功能,0-300℃,数字显示,为快速固化提供方便。如果选择不带加热板的粘结台,则在室温条件下固化。固化时间长一些,但费用会节约。三、岩相样品的真空卡盘MetLab的岩相精密切割&研磨一体机METCUT-10GEO,切割侧和研磨侧固定样品的装置均为真空卡盘。真空来源于与METCUT-10GEO配套的独立真空系统。真空开/关集成在触摸屏控制面板上,切割、研磨是独立操作的。切割的真空开/关显示在触摸屏的第二排;研磨的真空开/关显示在触摸屏的第三排。当点击打开真空开关时,将粘好样品的载玻片对准真空卡盘即可吸附固定。切割或研磨结束,关闭电机和冷却水后,打开仓门,点击触摸屏上的真空开关,关闭真空卡盘的气路,即可取下载玻片。METCUT-10GEO随机配套了大、小尺寸的真空卡盘各一对,涵盖了所有标准载玻片的尺寸。真空卡盘的外框尺寸是一样的,大、小的区分是按密封圈尺寸决定的。小尺寸的真空卡盘的密封圈尺寸为宽20mm、长40mm,常用的载玻片,如27x46mm、28x48mm、1x3in,都可用在小真空卡盘;大尺寸的真空卡盘的密封圈尺寸为宽40mm、长66mm,常用的载玻片,如1.5x3in、2x2in、2x3in,则用于大真空卡盘。
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制