衍射峰基本要素

ARL X'TRA Companion XRD 具有以下优点：赛默飞世尔科技持续创新，开发独特的产品解决方案，满足您的分析需求并提升过程控制。ARL X’TRA Companion 针对工业实验室的常规需求进行了优化设计，从而为QC/QA应用提供了经济高效的解决方案。得益于先进的固态二维探测器，可在几分钟内收集高分辨率数据。这款强大且精准的台式 X 射线衍射仪具有一键式 Rietveld 定量功能，可将结果自动传输到 LIMS，以及符合国际X射线安全标准。ARL X’TRA Companion XRD的特点ARL X’TRA Companion 是一款简单易用的台式X射线衍射仪，用于过程控制和高阶应用。台式X射线衍射仪配置: θ/θ 扫描和Bragg-Brentano光学几何带双步进电机和双光学编码器的测角仪通过可变机械狭缝和索拉狭缝来实现 X 射线的准直最新一代固态像素检测器（55x55μm间距），用于快速可靠的数据采集可提供1位样品架或能够进行自动分析的6 位自动进样器可选铜或钴 X 射线管可集成水冷系统可通过一键式 Rietveld 定量功能进行数据处理可自动将结果传输到 LIMS可安装及使用在各种环境中处理和应用：定性和定量相分析/结晶度计算/多晶型筛选/细胞参数，微晶尺寸和晶格应变测定/用于结构表征的Rietveld精修应用领域：材料科学、矿物、地质学、纳米材料、化学、制药、能源材料、催化剂、陶瓷、聚合物、冶金、半导体、采矿（水泥等）、高校从勘探到采矿生产的创新解决方案从勘探到分析和处理，无论是在线还是在实验室，我们提供满足质量、环境和生产所需的产品。赛默飞世尔科技采矿解决方案为最佳过程控制提供可靠、准确的数据和基本信息。了解有关优化采矿和矿物解决方案的更多信息。

粉状原料的粒度分布对药物、化妆品、食品、充电电池和其他成品的性能有重大影响，是质量控制的重要指标。随着粒度测量的需求扩展到各个领域，岛津开发出了可以提供更加广泛的测量范围，并可方便、高效的进行精密测定的粒度仪，其粒径测量范围可达17纳米到2500微米。并且，通过对光路和检测器的优化，灵敏度提高了10倍，因此能够轻松应对浓度在0.1ppm到200000ppm之间的样品。 此外，SALD-2300还采用了单一高能半导体光源设计，在测定过程中无需切换光源，因此其最短测量间隔仅为1秒，并可连续进行测定，从而可快速对粒子发生的团聚或分散过程进行实时监测，确认样品的状态变化。该光源能量更高，可测定对光吸收严重的粒子，同时具有开机预热时间短，寿命更长的优点。 全新配备的Wing SALDII系列软件着重解决了激光粒度折射率选择的难题，独家配备了自动选择折射率功能。以往，人们都是使用文献中给出的折射率数据，但是折射率会受到粒子粒径和形状的影响，因此这种方法并不可靠。岛津公司在世界上首次在软件中开发了基于LDR原理（光强分布再计算）的自动折射率选择功能，能够根据样品所得粒度数据给出5种最佳推荐折射率，并给出置信度。测定范围： 0.017~2500um　测定模式： 湿式或干式特点主机（测定部）以单一测定原理、单一光学系统、单一光源连续的地覆盖了全部测定范围。忠实于ISO标准的单一测定原理、单一光学系统、单一光源覆盖了17nm（0.017&mu m）～2500&mu m的粒径范围，实现了连续的单宽量程。不会发生多个光源结果数据拼凑所造成的数据不连续、不匹配的现象。激光衍射方法符合国际标准 ISO 13320/JIS Z 8825-1SALD全线产品均符合激光衍射散射方法的国际标准ISO 13320 和 JIS Z 8825-1 。采用红色半导体激光采用波长680nm的红色半导体激光，光强度高，光源开机稳定所需时间短。能够正确地测定因光吸收而难以测定的黑粒子，对于少量粒子具有更高的灵敏度。采用高灵敏度传感器元件采用最高水准技术制造的79元件的前方散射光传感器，并配置侧面散射光传感器1个元件以及后方散射光传感器4个元件，共计84个元件的光传感器，准确地检测光强度分布模型，不漏掉微妙的变化，在宽广的粒径范围内，实现了高分辨率、高精度的粒度分布测定。超快的测定速度，可以1秒为间隔连续测定。能够以1秒为间隔实现样品的快速连续测定。可以用于监测和判断易于团聚的样品的团聚过程或其他不稳定粒子变化的过程，例如，监测抗原抗体反应过程。也可以用于判断样品是否已经均一分散。极高的光学系统的稳定性。采用全方向冲击吸收构造OSAF（Omini-directional Shock Absorption Frame），光学系统所有的要素都免受冲击、振动等的干扰，所以，几乎无需调整光轴。光源经过特殊设计，稳定性高，同时由于测定在1秒钟即可完成，即使异常情况下光源发生漂移，在超短测定时间内对粒度的影响可以忽略不计。样品池的操作简单。采用滑动式池架，池的更换、清洗很方便。具备激光安全机构如果打开测定室，那么，激光能够自动关闭。 多功能进样器内置供水泵、和超声分散系统使用内置供水泵的多功能进样器，可以使用市售的塑料容器等直接供水，解决了供水的麻烦。超声分散系统可辅助样品快速均匀分散。 耐有机溶剂性出色的循环管路多功能进样器SALD-MS23标准配备SUS及氟类材质的循环管路，可使用几乎所有的有机溶剂进行湿式流通测定。配备ＣＰＵ在多功能进样器中，配备超声波振动器、搅拌机构、水位传感器和进行控制的ＣＰＵ。因此，通过与计算机连接进行控制，可进行软件控制的自动进水、自动排水、自动搅拌、自动循环、自动清洗等步骤。 微量样品池配备搅拌板上下运动的搅拌机构为了抑制粒子的沉降，配备了搅拌板上下运动的搅拌机构。由此，可实现重现性良好的测定。配备方便样品投放的漏斗在池的开口部设置有四氟化乙烯树脂制漏斗。因此，可防止向池投放样品时样品撒落。可测定少量的样品。池容量约12cm３，可测定非常少量的样品。 软件 配备丰富多彩的功能的测定／数据处理软件WingSALDII软件具备自动计算折射率、统计处理、时间序列处理、三维图示等的丰富多彩的数据处理功能和出色的操作简便性。还可进行粒度数据拼接、不同机型数据转换、粒子混合模拟计算、薄膜散射角度评价等多种功能。粒度分布数据的实时显示最短1秒即可在画面上显示粒度分布图表。另外，粒度分布数据及光强度分布数据可实时显示，这样就可以准确地把握样品的活动及状态变化。 使用ＡＩ自动量程功能进行粒度分布计算ＡＩ自动量程功能是从检测出的衍射光／散射光的光强度分布数据，首先判断粒度分布范围，对于得到的范围，选择最适合的计算条件，精密地计算粒度分布的功能。因此，从尖锐的分布到宽的分布，都可以在没有事先预备的信息的状态下，准确地获得粒度分布形态。解决了折射率选择的难题：自动折射率选择功能使用激光衍射散射方法测定粒径，必须选择折射率。以往，人们都是使用文献中给出的折射率数据，但是折射率会受到粒子粒径和形状的影响，因此这种方法并不可靠。岛津公司在世界上首次在软件中开发了基于LDR原理（光强分布再计算）的自动折射率选择功能。该方法已经在多个会议发表，并定名为&ldquo 木下法&rdquo 。（备注：木下先生是日本岛津ADC的粒度担当，为表彰他在粒度分析应用方面所做的突出贡献，此方法以他的名字命名）实用的实时显示光强度分布和粒度分布数据功能通过粒度分布计算的方法的改进，最快约１秒在软件画面上表示粒度分布图。并且，可以实时表示粒度分布数据及光强度分布数据。从而可以实时监测样品的偶然变化和分散状态的偶然变化。内置自检功能，维护简便组合了强大的自检功能，可确认装置的动作状況，使维护简便。配备操作记录（operation log）功能采用操作记录（operation log）功能，使所有的测定数据都包括了装置的使用状況、池的汚染状态等详细的信息，因此，可以追溯到过去，验证测定数据的真实性。虽然在平常状态下不显示，但在所有的测定数据中作为文本文件附有电源ＯＮ的时刻、空白测定的时刻以及空白测定的数据，并且，这时的光轴位置等有关装置的操作、使用状态的数据。测定结果的多方面评估：标配多种分析应用方法散射角评估：给出强度分布与散射光角度的关系数据转换（模拟）：使用其他仪器或者测定原理得到的结果，可以通过SALD系列产品的测定结果进行模拟而得。这使得SALD系列结果与常规测定技术所得结果相一致。混合物模拟功能：多种混合物以任意比例混合所得到的粒度分布结果可以通过软件模拟而得。这使得我们无需进行实际的混合实验，即可精确的获得混合比例以得到希望的粒度分布结果。数据合并：该功能使两个不同范围的数据在某一点合并起来，从而得到一个总的粒度分布结果。比如将SALD系列2000um以下的结果和通过筛分法得到的2000um以上的结果合并起来，得到一个宽范围的粒径分布结果，这在土木工程、防火和环境领域有着广泛的应用。测定功能和数据处理功能相链接，允许测定后快速数据比对和数据分析测定功能、数据处理功能和统计功能互相链接。测定、比对和分析可在同一操作下进行，适用于多大200个数据。测定结果在测定时是以叠加的形式显示，可以对数据进行快速分析。

1.双波长透镜双波长透镜组的主要功能为将两个不同波长的入射光聚焦到相同的焦点上，如下图所示，采用常规的硒化锌材料透镜，将CO2激光以及HeNe激光的聚焦点整合到一起。示意图：选型表：型号波长（nm）输入孔径 1/e2（mm）工作距离（mm）直径（mm）材料镀膜DW-201-A-Y-A10600, 6334~1212515ZnSe防反射多层膜DW-202-A-Y-A10600, 6334~122019ZnSe防反射多层膜 2.平顶光束整形衍射平顶光束整形元件用于将一个高斯入射光变为强度均匀的平顶光束，具有很锐利的边缘，可以是圆形或方形。主要的应用包括激光烧蚀、激光焊接、激光打孔、激光显示器、激光医学及激光医疗等。示意图:相关参数： 区域内光束能量 (1/e² )光斑均匀性工作距离（mm）输入光束直径（mm）波长（nm）整形后光斑尺寸 下限 75%± 0.5%250.826615 &mu m 上限 75~98%± 20%Infinity25 mm10600100× 100mm选型表：型号波长（nm）直径（mm）输出孔径1/e2（mm）工作距离（mm）像尺寸1/e2光斑形状材料TH-205-A-Y-A1060025.441001.5mmRoundZnSeTH-003-A-Y-A1060012.73.742.5300× 100 µ mLineZnSeTH-215-I-Y-A106425.46infinity1mRadRoundFused SilicaTH-013-I-Y-A106425.47infinity1× 1degreeSquareFused SilicaTH-016-K-Y-A98025.47infinity0.9× 0.9degSquareFused SilicaTH-033-X-Y-A80025.46200.293 mmRoundFused SilicaTH-032-Q-Y-A53225.410.92002 mm @FWHMRoundFused SilicaTH-036-Q-Y-A53225.43.599.5200× 200 µ mSquareFused SilicaTH-209-U-Y-A35525.49x6200100 µ mRoundFused SilicaTH-217-U-Y-A35512.72100100× 100 µ mSquareFused SilicaTH-044-V-Y-A33720849.39520 µ mRoundFused SilicaTH-051-W-Y-A26625.454215 µ mRoundFused Silica 3.衍射校正聚焦镜常规的平凸透镜会产生不同位置的入射光焦点不一的问题。采用衍射校正透镜，是在常规平凸透镜的平面端刻蚀像差校正的衍射微结构，从而达到整个入射光的焦点归一，提高激光效率。示意图： 普通聚焦镜 衍射矫正聚焦镜选型表（部分）:型号波长（&mu m）有效焦距（英寸）直径（英寸） SE-1511 10.61.51.1 SE-2511 10.62.51.1 SE-2515 10.62.51.5

X射线衍射方法是研究晶体结构的重要手段之一。高压X射线衍射实验中，样品尺寸通常较小，且衍射几何会受到高压样品腔（DAC）的限制，因此该实验方法对对X射线光源有较高要求，即要求X射线源同时具备微焦点、高通量、高能量三大要素。同步辐射光源是目前高压衍射实验使用的主要光源，但其机时通常较紧张。随着科学技术的发展，传统的X光机得到了长足发展，不论光源强度还是焦点尺寸都已经满足了高压实验的需要。实验室所用的高压X射线衍射仪在使用时间上不受限制，为科研人员开展高压衍射实验提供了巨大的便利。本公司针对高压 X 射线衍射技术，采用最先进的旋转中心定位方法，成功研制出针对高压实验的专用X射线衍射仪，其独特的设计可同时用于高压粉末和高压单晶两种实验，实现一机两用。技术指标：1、 可选微焦斑Mo靶（17kev）,Ag靶材（22 kev），同时可选针对高压实验的高能液态金属In光源（24 kev），X 射线光源具有聚焦后样品处光斑小，光通量大和波长短等特点。2、 大面积、单光子计数探测器提高衍射数据分辨率，获得更多的衍射峰数量，提高晶体结构的分辨率。配备CdTe单光子计数型探测器，大幅提高对短波长射线的探测效率并降低背景噪音，提高数据信噪比。3、 采用在同步辐射实验装置上所使用的先进旋转中心定位法，在此基础上进行优化。利用五维电动样品位移台，通过软件操作，实现样品扫描对中。具有样品到探测器距离固定不变、数据精确等优势，避免用户操作时辐照损伤。液态金属In靶E1型X射线光源参数高通量模式焦斑大小90 μm FWHM通量1.9 × 108 ph/s发散度3.15 mrad小焦斑模式焦斑大小15 μm FWHM通量1.8 ×107 ph/s发散度12.6 mrad特殊模式焦斑大小10 μmFWHM通量1.0 ×106 ph/s发散度2 mrad位移台参数XY轴重复定位精度±0.2 μm；行程±10 mm；Z轴重复定位精度≤±0.2 μm；行程±10 mm；Ф 轴重复定位精度≤0.002°；行程±135°；X1Y1重复定位精度±0.2 μm；行程±12.5 mm；应用领域：1、高压下的结构相变、状态方程、弹性、织构等研究2、涉及的材料包括高温超导体、纳米材料、超硬材料、矿物、大块金属玻璃、半导体、各种功能材料等3、应用领域包括物理、化学、地球/行星科学、材料等

Thorlabs提供三种反射光栅:刻线光栅刻线光栅由于其闪耀角，可以达到比全息光栅更高的效率。它们是以光栅闪耀角为中心的应用的理想选择。Thorlabs提供各种尺寸和闪耀角的刻划光栅。全息光栅全息光栅有较低的周期错误，基本消除了刻划光栅无法避免的鬼线。这些光栅的低杂散光特性让其成为需要高信噪比应用的理想选择，例如拉曼光谱仪。阶梯光栅阶梯光栅是为高阶应用设计的低周期光栅。它通常配合另一个光栅或棱镜一起使用，实现重叠衍射级次的分离。是高分辨率光谱学应用的理想选择。 Thorlabs提供三种透射光栅：紫外透射光栅关于透射光栅，Thorlabs的紫外透射光栅使入射光束在光栅背面以固定角度发生色散。它们是在紫外范围内有最佳效率的刻划和闪耀光栅，偏振不敏感，具有与紫外反射光栅相当的效率。它们是需要固定光栅应用的理想选择，例如光谱仪。可见光透射光栅关于透射光栅，Thorlabs的可见光透射光栅使入射光束在光栅背面以固定角度发生色散。它们是在可见光范围内有最佳效率的刻划和闪耀光栅，偏振不敏感，具有与可见光反射光栅相当的效率。它们是需要固定光栅应用的理想选择，例如光谱仪。近红外透射光栅关于透射光栅，Thorlabs的近红外透射光栅使入射光束在光栅背面以固定角度发生色散。它们是在近红外范围内有最佳效率的刻划和闪耀光栅，偏振不敏感，具有与近红外反射光栅相当的效率。它们是需要固定光栅应用的理想选择，例如光谱仪。 选择光栅需要考虑很多因素，下面列举了一些：效率：通常，刻划光栅比全息光栅具有更高的衍射效率。然而，全息光栅由于其刻槽的制备方法，其表面效率变化很小。荧光激发和其它辐射诱导反应方面的应用可能需要刻划光栅。闪耀波长：刻划光栅通过有序的蚀刻光栅基底表面形成，带有锯齿型槽光栅剖面。因此在闪耀波长附近有相对尖锐的峰。而全息光栅很难闪耀，其正弦曲线状的槽使其在特定波长的光谱响应不那么尖锐。窄带范围内的相关应用更适合选用刻划光栅。波长范围：光栅的光谱范围取决于槽间距，并且对于光栅常数相同的刻划光栅和全息光栅，其光谱范围相同。根据经验，光栅的一级效率从0.66&lambda B到1.5&lambda B降低50% ，其中&lambda B是闪耀波长。注意：没有光栅可以衍射波长大于槽间距2倍的光。杂散光：由于光栅制作方法的不同，全系光栅相比于刻划光栅，其杂散光更低。刻划光栅的刻槽是机械制作，因此有更高的错误率。全息光栅一次成型，基本没有失误。对于像拉曼光谱仪这种对信噪比要求很高的应用，全息光栅固有的低杂散光具有很大的优势分辨率：光栅的分辨率是指其具有的在空间上分开两个波长的能力。它是采用瑞利判据决定衍射极大值；当一个波长的最大值与第二波长的最小值重合时，认为两个波长是分开的。分辨率（R）是由R=&lambda /&Delta &lambda = nN定义的，其中&Delta &lambda 是可分辨的波长差，n为衍射级次，N是刻线数。刻线式衍射光栅 全息衍射光栅 中阶梯光栅 UV透射光栅 透射率可变光栅 近红外透射型光栅 300纳米闪耀波长Zoom Item #Grooves/mmBlaze AngleDispersion (nm/mrad)Size (mm)Efficiency Curves*300 nm Blaze WavelengthGR25-03033002° 34' 3.3325 x 25GR50-06036005° 9' 1.6750 x 50GR13-1203120010° 22' 0.8212.7 x 12.7*所有光栅都是在Littrow结构下测量的；所有光栅镀有铝（Al）反射膜。平行的偏振平行于光栅槽。 400纳米闪耀波长Zoom Item #Grooves/mmBlaze AngleDispersion (nm/mrad)Size (mm)Efficiency Curves*400 nm Blaze WavelengthGR25-1204120013° 53' 0.8125 x 25GR50-1204120013° 53' 0.8150 x 50*所有光栅都是在Littrow结构下测量的；所有光栅镀有铝（Al）反射膜。平行的偏振平行于光栅槽。500纳米闪耀波长Zoom Item #Grooves/mmBlaze AngleDispersion (nm/mrad)Size (mm)Efficiency Curves*500 nm Blaze WavelengthGR13-03053004° 18' 3.3212.7 x 12.7GR25-03053004° 18' 3.3225 x 25GR50-03053004° 18' 3.3250 x 50GR13-06056008° 37' 1.6512.7 x 12.7GR25-06056008° 37' 1.6525 x 25GR50-06056008° 37' 1.6550 x 50GR13-1205120017° 27' 0.8012.7 x 12.7GR25-1205120017° 27' 0.8025 x 25GR50-1205120017° 27' 0.8050 x 50GR13-1850180026° 44' 0.5012.7 x 12.7GR25-1850180026° 44' 0.5025 x 25GR50-1850180026° 44' 0.5050 x 50*所有光栅都是在Littrow结构下测量的；所有光栅镀有铝（Al）反射膜。平行的偏振平行于光栅槽。750纳米闪耀波长衍射光栅Zoom Item #Grooves/mmBlaze AngleDispersion (nm/mrad)Size (mm)Efficiency Curves*750 nm Blaze WavelengthGR13-060860013° 0' 1.6212.7 x 12.7GR25-060860013° 0' 1.6225 x 25GR50-060860013° 0' 1.6250 x 50GR13-1208120026° 44' 0.7412.7 x 12.7GR25-1208120026° 44' 0.7425 x 25GR50-1208120026° 44' 0.7450 x 50*所有光栅都是在Littrow结构下测量的；所有光栅镀有铝（Al）反射膜。平行的偏振平行于光栅槽。1微米闪耀波长衍射光栅Zoom Item #Grooves/mmBlaze AngleDispersion (nm/mrad)Size (mm)Efficiency Curves*1 µ m Blaze WavelengthGR13-03103008° 36' 3.3012.7 x 12.7GR25-03103008° 36' 3.3025 x 25GR50-03103008° 36' 3.3050 x 50GR13-061060017° 27' 1.5912.7 x 12.7GR25-061060017° 27' 1.5925 x 25GR50-061060017° 27' 1.5950 x 50GR13-1210120036° 52' 0.6712.7 x 12.7GR25-1210120036° 52' 0.6725 x 25GR50-1210120036° 52' 0.6750 x 50*所有光栅都是在Littrow结构下测量的；所有光栅镀有铝（Al）反射膜。平行的偏振平行于光栅槽。10.6微米闪耀波长衍射光栅Zoom Item #Grooves/mmBlaze AngleDispersion (nm/mrad)Size (mm)Efficiency Curves*10.6 µ m Blaze WavelengthGR1325-071067521° 12.312.5 x 25GR2550-071067521° 12.325 x 50GR1325-1010610027° 8.512.5 x 25GR2550-1010610027° 8.525 x 50GR1325-1510615035° 4.212.5 x 25GR2550-1510615035° 4.225 x 50*所有光栅都是在Littrow结构下测量的；所有光栅镀有铝（Al）反射膜。平行的偏振平行于光栅槽。反射式全息光栅特性峰值波长下效率可达45％至65％优化了在紫外光谱、可见光谱下的性能不依赖于入射角基底材质：Borofloat玻璃三种尺寸规格：12.7x12.7x6.0mm，25x25x6.0mm以及50x50x9.5mmThorlabs提供一系列专为需要高信噪比的高端应用而优化设计的全息衍射光栅。全息光栅具有杂散光少的特点，基本消除了刻线光栅所无法避免的鬼线，使其成为拉曼光谱学等需要高信噪比的应用的理想解决方案。我们的全息光栅对紫外光谱和可见光谱段的性能进行了优化，并有刻线密度从600线/mm到3600线/mm不等的三种不同尺寸规格。三种尺寸分别是12.7x12.7x6.0mm，25x25x6.0mm以及50x50x9.5mm，尺寸公差± 0.5mm。 阶梯光栅的特别注意事项光栅方程: 一般光栅方程如下： n&lambda = d(sin &theta + sin &theta ' )其中n是衍射级次，&lambda 是衍射波长，d是光栅常数（两个刻槽间的距离）&theta 是入射角，&theta ' 是衍射角自由光谱范围: 自由光谱范围是指没有和相邻衍射级次发生干涉（重叠）时的指定级次的最大带宽。自由光谱范围随着光栅间距的减小而增加，随着级次的增加而较小。如果&lambda 1，&lambda 2分别是感兴趣的波长下限和上限，那么：自由光谱范围=&lambda 2 - &lambda 1 = &lambda 1/n阶梯光栅的使用: 阶梯光栅极高的衍射角度将能量集中在高级次上。最简单的情况是光束以0° 角入射到光栅上，光栅方程简化为n&lambda = d sin &theta ' ，解方程得：sin &theta ' = n&lambda / d由此推论，在高阶中，两个波长之间的角距离变得更大。想象一下有两条线，一条为600 纳米，另一条为605 纳米，入射到31.6线/ 毫米的光栅上。从上面的方程可以得到，在N=1时角距离为0.009 ° ，但在N=40时角距离为0.6 ° 。缺点就是自由光谱范围的降低，从630纳米（630 纳米/1）降至15.8纳米（630 纳米/40）。通常，配合使用分光棱镜和阶梯光栅进行级次分离。

苏州锂影科技有限公司 类德拜照相快速X射线衍射仪苏州锂影科技有限公司锂影团队长期从事于X射线衍射仪的开发与应用研究，积累了丰富的项目经验。团队针对智能化快速X射线衍射仪已经开展了类德拜照相、多位样品台设计、多线程控制软件设计等相关基础研发工作。01 技术背景 Technical Background 德拜照相是一种古老的X射线衍射测试方法，它使用弯曲底片一次性测试粉末样品大角度范围内的多个德拜环。由于需要洗相等繁琐操作以及测试精度偏低而被衍射仪法所取代。近来我们使用一维阵列探测器进行近距离照相，得到了类似德拜照相的结果。而且，由于不用扫描，该方法的测试速度可以达到秒级。根据距离不同，该方法能够探测的角度范围可以从8°增加到50°，相应的单个子探测器角度分辨率可以从0.01°减少到0.08°。实际上大多数粉末样品只需要进行定性或半定量测试，它们的主要衍射仪峰基本都出现在10°-60°甚至更小的角度范围内，而且衍射峰之间的角度差大多大于1°，因此这种类德拜照相技术完成能够满足这些定性或半定量测试的需求。02 产品说明 Product Instructions 类德拜照相快速X射线衍射仪在丹东浩元仪器有限公司的DX2700衍射仪基础上装配了Dectris Mythen1D一维阵列探测器，并且其距离可调，即能够实现秒级的近距离类德拜照相，也能够采用远距离的高分辨率扫描模式进行测试。因此即适用于高通量样品筛选以及企业生产中的质量控制，也适用于样品的晶系结晶结构分析。该仪器配套了锂影科技二次开发的测试软件，采用中文界面，操作简单易学易用。并且能够支持锂影科技开发的5位反射模式样品架或15位透射模式样品架，实现多个样品的自动连续测试。03 技术参数 Technical Parameter 1. X射线发生器：3kW；2.θ-θ测角仪： θs轴范围-5°~80°，最小步长0.0001°，重复精度0.0001°； θd轴范围-5o~80°，最小步长0.0001°，重复精度0.0001°；3. Mythen1D一维阵列探测器4. 标配单个粉末样品架，可选配5位反射模式样品架或15位透射模式样品04 售后服务 After-sale Service1、免费上门安装：是 2、保修期：1年 3、是否可延长保修期：是4、保内维修承诺：免费上门指导5、报修承诺：24小时线上服务6、免费仪器保养：1年1次7、免费培训：工程师技术培训8、现场技术咨询：有 9、售后服务电话：

X射线衍射基本原理：当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。土壤粘粒矿物是土壤中带电荷粒子之间进行相互作用的主体。研究表明，粘粒矿物的种类有十几种，主要类型有绿泥石、高岭石、伊利石、蒙脱石和伊/蒙混层矿物。粘粒矿物种类不同地区分布不同，其含量也在不同地区有很大差异，而各个储层在平面和纵向上相差很大。映SHINE便携式X射线衍射仪（土壤版）是浪声专为黏土矿物鉴定而研发的一款便携式X射线衍射设备，其可以基于不同的黏土矿物的晶体构造，快速鉴定出粘粒矿物具体种类以及其所占的百分含量，即便是细微粒状的矿物也能准确判定，具有制样简单、快捷、测量精度高等优点，是粘粒矿物鉴定的主要方法。使用优势便携式仪器采用防水防尘箱一体机设计，无任何机械移动部件，轻便小巧，方便携带，可自由进行实验室/野外现场科学研究。简便性仪器一键式操作，无需校正，自动检测。实时显示全谱衍射图，自动进行物相分析，一键生成定量结果。制样简单单次分析仅需要约20毫克的样品即可获得优质的检测结果并可以减小或避免择优取向问题。数据传输仪器通过USB, 蓝牙，WIFI与笔记本电脑实现高速连接，实时对映SHINE仪器进行控制及物相分析。二维X射线衍射仪仪器配备电荷耦合装置（CCD）探测器，可以采集衍射环的切片，以帮助用户了解是否正确制备了样品（粒子统计和/或晶粒的择优取向）。从而进一步帮助用户确认所获得的定性定量数据是否具有准确性和代表性。配置灵活根据用户具体应用的需要，为客户提供Cu/Co靶材两种不同的阳极靶材。应用场景 农业绿色发展 土壤污染治 理 环境指示研究 规格参数XRD分辨率0.2°@2θ FWHMXRD范围5-55°2θ探测器2000 X 256像素，2维3级Pelter制冷CCDX射线管靶材集束微焦斑X射线管，Cu 或 Co、Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W 靶(可根据检测样品选配)X射线管电压50kV最大，0-50kV可调节X射线管功率40W最大，0-40W可调节XRF能量分辨率127eV@8keVXRF检测范围Mg(镁)—U(铀)样品颗粒大小样品颗粒150um (100目筛)散热方式水冷样品量约20mg工作温度 -10°C-35°C重量15KG电源锂离子电池或电源适配器尺寸500×400×188mm（L×W×H）CrystalX分析软件语言中文、英语等多国语言

X射线衍射基本原理：当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。在工业领域，不同设备使用的环境不同、接触的介质不同，使得设备腐蚀产生的原因千差万别，腐蚀会严重影响其使用寿命，更甚者会引起资源泄露和环境污染。过去，维护团队需要将被腐蚀样本送到远离现场的实验室进行分析，费时费力且成本较高。映SHINE便携式X射线衍射仪（金属腐蚀物版）可对设备金属腐蚀物进行现场检测，通过快速分析其晶体结构来识别和定量腐蚀以及结垢物，帮助工程师了解腐蚀产物形成原因，降低时间成本，从而采取进一步措施来阻止或减缓腐蚀的发生。使用优势便携式仪器采用防水防尘箱一体机设计，轻便小巧，方便携带，可在金属腐蚀物的所在地进行全面的原位检查，带来极大的便利性和高效性。简便性仪器一键式操作，无需校正，自动检测，无需额外注意高压系统和水循环冷却系统（仪器无额外高压和水循环冷却系统）。制样简单单次分析仅需要约20毫克的样品即可获得优质的检测结果并可以减小或避免择优取向问题。数据传输仪器通过USB，蓝牙，WIFI与笔记本电脑实现高速连接，实时对映SHINE仪器进行控制及物相分析。二维X射线衍射仪仪器配备电荷耦合装置（CCD）探测器，可以采集衍射环的切片，以帮助用户了解是否正确制备了样品（粒子统计和/或晶粒的择优取向）。从而进一步帮助用户确认所获得的定性定量数据是否具有准确性和代表性。集成性SHINE便携式X射线衍射仪中集成XRD和定性X射线荧光（XRF）分析技术，可以无缝集成数据和结果，从而促进检测结果更加精准。应用场景管道设备结垢和腐蚀物分析石油管道、天然气管道等工业厂区的淤泥沉积物分析精炼厂、金属材料厂等工业设备腐蚀失效分析工业锅炉、机械设备等规格参数XRD分辨率0.2°@2θ FWHMXRD范围5-55°2θ探测器2000 X 256像素，2维3级Pelter制冷CCDX射线管靶材集束微焦斑X射线管，Cu 或 Co、Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W 靶(可根据检测样品选配)X射线管电压50kV最大，0-50kV可调节X射线管功率40W最大，0-40W可调节XRF能量分辨率127eV@8keV样品颗粒大小样品颗粒150um (100目筛)散热方式水冷样品量约20mg工作温度 -10°C-35°C重量15KG电源锂离子电池或电源适配器尺寸50×40×18.8cm（L×W×H）CrystalX分析软件语言中文、英语等多国语言

X射线衍射分析软件XROCK简介： XROCK衍射分析软件是针对粘土和全岩石油地质工作人员设计，用于对矿物、全岩，粘土，伊利石结晶度和白云石有序度等地质样品的衍射数据进行分析的，满足SYT 5163-2018 沉积岩中黏土矿物和常见非黏土矿物X射线衍射分析方法标准的要求。 在石油及地质行业衍射谱图解释虽然有标准的详细指导仍然比较繁琐，如果是批量样品将是个巨大的工作量。在保证分析质量的前提下如何快速完成任务就需要XROCK分析软件的帮助。xrock基本实现了谱图处理的主要功能。 可以打开几十种谱图文件格式，甚至可以导入未知格式文件，平移缩放，背底，光滑，寻峰，积分，拟合，去除Ka2等功能，有PDF数据库可以物相检索。XRock开发了符合石油地质行业标准SYT 5163-2018的多个功能模块。主要功能： 全岩分析模块 粘土分析模块 伊利石结晶度分析模块 白云石有序度分析模块 快速全谱拟合矿物成分分析模块软件特点： 功能模块严格执行有关标准 软件算法思路清晰 主观见解在软件上自由体现 软件操作自动化辅助 软件操作简单化，用鼠标即可完成 大幅缩减谱图解释时间，消除谱图解释工作量软件安装环境：winXP,win7，win10

光栅和衍射光学元件Wasatch Photonics是一家体相位全息光栅的生产厂家。我们的光栅性能极好，并且比传统的表面雕刻光栅有更多地明显优势。光栅结构是在光栅介质内部而不是表面 。这样可以生产较厚的光栅。我们有130年以上的开发，设计和制造这些光栅的综合经验，我们的技术人员已经准备好满足您最苛刻的项目的需求。哪种光栅更适合您的应用我们增强的体相位光栅可用于脉冲压缩，激光调谐和高光谱成像。我们专利的Dickson 光栅 and HD光栅满足了光学相干断层成像（OCT）拉曼光谱和高速低照度的应用。我们致力于“获得所有的光子”。光学相干扫描光栅这些高效率的光栅在光学相干断层扫描和840nm附近的区域使用很受欢迎。他们利用相干光在重铬酸盐明胶上刻写干涉图案。处理后，这个光栅用玻璃保护套盖上然后镀AR膜。这样处理后的光栅具有低散射，高衍射效率以及低波前畸变特点。该光栅耐用，可和清洁AR镀膜器件同样的方法即可清洁光栅。基本规格尺寸(s): 35 mm x 45 mmx6S表面质量: 60-40 scratch-dig衍射波阵面: λ/5 rms @ 632.8 nm中心波长: 840 nm入射角 (AOI): 14.6° @ 840 nm厚度公差: +/- 0.25尺寸公差：+0/-0.15垂直面达B 0.15°倒角: 0.25-0.75 mm face width倒角角度/方向： 45° +/-15° 衬底和盖玻璃: 3 mm BK7 6 mm 总厚度通光孔: 30 mm x 40 mm 尺寸：A=35 mm B=45 mm T=6 mm规格如下：光栅尺寸型号600 l/mm @ 600 nm24.5 mm RoundWP-600/600-25.4600 l/mm @ 1550 nm24.5 mm RoundWP-600/1550-25.4600 l/mm @ 1550 nm50.8 mm RoundWP-600/1550-50.8960 l/mm @ 900 nm30 mm RoundWP-960/900-30HD1145 l/mm @ 1310 nm24.5 mm RoundWP-HD1145/1310-25.4HD1145 l/mm @ 1310 nm50.8 mm RoundWP-HD1145/1310-50.81200 l/mm @ 840 nm25.4 mm RoundWP-1200/840-25.41200 l/mm @ 840 nm50.8 mm RoundWP-1200/840-50.8HD1800 l/mm @ 840 nm25.4 mm RoundWP-HD1800/840-25.4HD1800 l/mm @ 840 nm50.8 mm RoundWP-HD1800/840-50.8HD1624 l/mm @ 871 nm25.4 mm RoundWP-HD1624/871-25.4HD1624 l/mm @ 871 nm50.8 mm RoundWP-HD1624/871-50.8如果需要详细信息，请联系上海尖丰光电技术有限公司

仪器简介：AL-Y3000型衍射仪是为材料研究和工业产品分析设计的，是常规分析与特殊目的测量相结合的完善产品。●硬件系统和软件系统的完美结合，满足不同应用领域学者、科研者的需要●高精度的衍射角度测量系统，获取更准确的测量结果●高稳定性的X射线发生器控制系统，得到更稳定的重复测量精度●程序化操作、一体化结构设计，操作简便、仪器外型更美观X射线衍射仪是揭示材料晶体结构和化学信息的一种通用性测试仪器：●未知样品中一种和多种物相鉴定●混合样品中已知相定量分析●晶体结构解析●非常规条件下晶体结构变化（高温、低温条件下）●材料表面膜分析●金属材料织构、应力分析技术参数： X射线衍射仪可以分析天然或是人工合成的无机或是有机材料，广泛应用于粘土矿物、水泥建材、环境粉尘、化工制品、药品、石棉、岩矿、聚合物等研究领域。●基于θ-θ几何光学设计，便于样品的制备和各种附件的安装●金属陶瓷X射线管的应用，极大提高衍射仪运行功率●封闭正比计数器，耐用免维护●硅漂移探测器具有优越的角度分辨率和能量分辨率，测量速度提高3倍以上●丰富的衍射仪附件，满足不同分析目的需要●模块化设计或称即插即用组件，操作人员不需要校正光学系统，就能正确使用衍射仪相应附件光学系统转换 不需要拆卸索拉狭缝体，就可以单独更换索拉狭缝结构。由于这一特点，不需要重新调整仪器，就可以实现聚焦光学系统和平行光学系统的转换。 早前聚焦法光学系统和平行光束法光学系统分别需要配置弯曲晶体单色器和平面晶体单色器，光学系统的转换需要对光学系统重新校正。采用本系统只要将单色器的晶体旋转90°、更换狭缝结构，就可以实现光学系统的转换。数据处理软件包括以下功能 基本数据处理功能（寻峰、平滑、背景扣除、峰形拟合、峰形放大、谱图对比、Ka1、a2剥离、衍射线条指标化等）；●无标准样品快速定量分析●晶粒尺寸测量●晶体结构分析（晶胞参数测量和精修）●宏观应力测量和微观应力计算；●多重绘图的二维和三维显示；●衍射峰图群聚分析；●衍射数据半峰宽校正曲线；●衍射数据角度偏差校正曲线；●基于Rietveld常规定量分析；●使用ICDD数据库或是用户数据库进行物相定性分析；●使用ICDD数据库或是ICSD数据库进行定量分析； AL-3000型衍射仪除了基本功能外，可快速配置各种附件，具有超强的分析能力 高精度的机械加工，使附件安装位置的重现性极大地提高，实现即插即用。不需要对光路进行校准，只要在软件中选定相应的附件就可以实现特殊目的测量。多功能样品架 随着材料研究的深入，越来越多的板材、块状材料及基体上的膜也要求用X射线衍射仪进行性能分析。在测角仪上安装多功能样品架可以进行织构、宏观应力、薄膜面内结构等测试，每一种测试功能都有相应的计算软件。●碾轧板（铝、铁、铜板等）织构测量及评价●金属、陶瓷等材料残余应力测量●薄膜样品晶体优先方位的评价●大分子化合物取向测量●金属、非金属基体上的多层膜、氧化膜、氮化膜分析 织构使材料呈现各向异性，利用织构改善和提高材料的性能、充分发挥材料性能的潜力，是材料科学研究的重要工作之一。虽然检测材料织构方法很多，但是最广泛应用的还是X射线衍射技术。

DX-2700BH多功能衍射仪　　组合式多功能X射线衍射仪和高分辨率X射线衍射仪广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。广泛应用于粘土矿物、水泥建材、环境粉尘、化工制品、药品、石棉、岩矿、聚合物等研究领域。DX系列衍射仪是为材料研究和工业产品分析设计的，是常规分析与特殊目的测量相结合的完善产品。　　硬件系统和软件系统的紧密结合，满足不同应用领域学者、科研者的需要　　高精度的衍射角度测量系统，获取更准确的测量结果　　高稳定性的X射线发生器控制系统，得到更稳定的重复测量精度　　各种功能附件满足不同测试目的需要　　程序化操作、一体化结构设计，操作简便、仪器外型更美观X射线衍射仪是揭示材料晶体结构和化学信息的一种通用性测试仪器：　　未知样品中一种和多种物相鉴定　　混合样品中已知相定量分析　　晶体结构解析（Rietveld结构分析）　　非常规条件下晶体结构变化（高温、低温条件下）　　薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度　　微区样品的分析　　金属材料织构、应力分析完善的品质与卓越性能的结合　　DX系列衍射仪除了基本功能外，可快速配置各种附件，具有很强的分析能力　　高精度的机械加工，使附件安装位置的重现性大大地提高，软件自动识别相应附件，不需要对光路进行校准，附件安装实现即插即用，最简单的操作就可满足特殊目的测量的需要。高性能与实用的紧密结合　　基于θ-θ几何光学设计，便于样品的制备和各种附件的安装　　金属陶瓷X射线管的应用，极大提高衍射仪运行功率　　封闭正比计数器，耐用免维护　　硅漂移探测器具有优越的角度分辨率和能量分辨率，测量速度提高3倍以上　　丰富的衍射仪附件，满足不同分析目的需要　　衍射仪各种功能附件自动识别　　模块化设计或称即插即用组件，操作人员不需要校正光学系统，就能正确使用衍射仪相应附件数据处理软件包括以下功能　　基本数据处理功能（寻峰、平滑、背景扣除、峰形拟合、峰形放大、谱图对比、Kα1、α2剥离、衍射线条指标化等）　　无标准样品快速定量分析　　晶粒尺寸测量　　晶体结构分析（晶胞参数测量和精修）　　　　　　　　　　　　宏观应力测量和微观应力计算　　多重绘图的二维和三维显示　　衍射峰图群聚分析　　衍射数据半峰宽校正曲线　　衍射数据角度偏差校正曲线　　基于Rietveld常规定量分析　　使用ICDD数据库或是用户数据库进行物相定性分析　　使用ICDD数据库或是ICSD数据库进行定量分析

组合式多功能X射线衍射仪和高分辨率X射线衍射仪广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。广泛应用于粘土矿物、水泥建材、环境粉尘、化工制品、药品、石棉、岩矿、聚合物等研究领域。DX系列衍射仪是为材料研究和工业产品分析设计的，是常规分析与特殊目的测量相结合的完善产品。　　硬件系统和软件系统的紧密结合，满足不同应用领域学者、科研者的需要　　高精度的衍射角度测量系统，获取更准确的测量结果　　高稳定性的X射线发生器控制系统，得到更稳定的重复测量精度　　各种功能附件满足不同测试目的需要　　程序化操作、一体化结构设计，操作简便、仪器外型更美观X射线衍射仪是揭示材料晶体结构和化学信息的一种通用性测试仪器：　　未知样品中一种和多种物相鉴定　　混合样品中已知相定量分析　　晶体结构解析（Rietveld结构分析）　　非常规条件下晶体结构变化（高温、低温条件下）　　薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度　　微区样品的分析　　金属材料织构、应力分析完善的品质与卓越性能的结合　　DX系列衍射仪除了基本功能外，可快速配置各种附件，具有很强的分析能力　　高精度的机械加工，使附件安装位置的重现性大大地提高，软件自动识别相应附件，不需要对光路进行校准，附件安装实现即插即用，最简单的操作就可满足特殊目的测量的需要。高性能与实用的紧密结合　　基于θ-θ几何光学设计，便于样品的制备和各种附件的安装　　金属陶瓷X射线管的应用，极大提高衍射仪运行功率　　封闭正比计数器，耐用免维护　　硅漂移探测器具有优越的角度分辨率和能量分辨率，测量速度提高3倍以上　　丰富的衍射仪附件，满足不同分析目的需要　　衍射仪各种功能附件自动识别　　模块化设计或称即插即用组件，操作人员不需要校正光学系统，就能正确使用衍射仪相应附件数据处理软件包括以下功能　　基本数据处理功能（寻峰、平滑、背景扣除、峰形拟合、峰形放大、谱图对比、Kα1、α2剥离、衍射线条指标化等）　　无标准样品快速定量分析　　晶粒尺寸测量　　晶体结构分析（晶胞参数测量和精修）　　　　　　　　　　　　宏观应力测量和微观应力计算　　多重绘图的二维和三维显示　　衍射峰图群聚分析　　衍射数据半峰宽校正曲线　　衍射数据角度偏差校正曲线　　基于Rietveld常规定量分析　　使用ICDD数据库或是用户数据库进行物相定性分析　　使用ICDD数据库或是ICSD数据库进行定量分析

PROTO AXRD台式X-射线衍射仪是易于使用,并提供准确、可靠的测量结果与类似的速度全尺寸实验单位。配备强大的混合光子计数探测器,AXRD台式X-射线衍射仪具有极快的数据收集能力。低分辨率扫描数据收集只需3min，高分辨率扫描数据收集只需15-30min。令人难以置信的低角度性能,优秀的峰值低至1o。600W 的x射线的力量,完全可以实现的应用解决峰值： 0.05°2θ角精度的±0.02°Δ2θ全角范围,AXRD台式,提供了一个低成本替代粉末衍射,同时保持所有必要的性能,即使是最苛刻的x射线衍射材料调查。无论你是做阶段识别、定量分析或结构分析AXRD台式带给你多年的方便和价值在一个紧凑的,易于维护系统。优秀的分辨率，准确性和数据质量无论你是做阶段识别、定量分析或结构分析AXRD台式带给你多年的方便和价值在一个紧凑的,易于维护系统。优秀的分辨率，准确性和数据质量六硼化镧二十二酸银盐 最先进的x射线探测器DECTRIS® 混合光子计数探测器——高速数据采集 - 640通道高速固态线性探测器。 -同时多个通道集合使集合的速度比a快100倍。闪烁计数器 -使用硅片技术直接检测x射线。 —全球1 x10 ^ 9计数的计数率/ s -高速采集时间。 - 32毫米x8毫米传感器区域。 -优良的信噪比和非常高的动态范围。 -荧光抑制模式SPD硅点探测器- XRD和XRF在一个方便的包中。 -能量甄别单通道固态探测器。 -推荐用于高荧光的样品(例如Fe和Co) -不需要衍射光束单色器。 —Kβ抑制功能 —粉使用Kα1模式集合,2或Kβ -使用XRF频谱来协助样品的化学鉴定，并改善搜索结果。 优异的精确性 我们的全合一软件对粉末模式的数据采集和分析是基本定性和定量分析的完美解决方案。XRDWIN的一些独特的功能包括:仪器预热和控制、数据采集、k-alpha 1和k-alpha 2分离、数据平滑、集成强度、背景拟合、峰搜索、峰拟合、强度比方法定量分析、尖峰法定量分析、晶粒尺寸和应变。另外还有ICDD数据库搜索匹配和MDI Jade接口。我们提供无限的软件支持。

仪器简介：Miniflex 600系列是世界上体积最小、 重量最轻的便携式X射线衍射仪。主要特点：台式X射线衍射仪MiniFlex600，外型小巧方便，具有近于高端分析仪器的测试性能，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域，是一种适用于大专院校学生实验及研究的X射线衍射仪,特别适合于野外作业进行材料结构解析；Miniflex600系列也是一种适用于工厂生产现场质量管理检查，劳动保护、环境污染测量的X射线衍射仪；Miniflex600系列是世界上体积最小、重量最轻的便携式X射线衍射仪。* 打破以往X射线分析仪器常规，以小型化和高效能的完美组合刷新了X射线行业的基准；* 外箱采用具有高度安全性的完全密封设计，使仪器移动、安装均能简单自如完成，可充分调整光学系统；* 安装后接入电源即可开始使用，操作简单，初学者也能轻松自如；* 具有超高性价比的MiniFlex 600，为您开创轻松自由的X射线新时代。 技术参数1. 最小最轻的X射线衍射仪。主机宽约560mm，高700mm，深395mm；重量约80kg。2. 功率600W，强度大大提高（上一代产品MiniFlexII最大功率450W）。3. 测角仪精度高、放置样品方便。4. 测角仪配程序式可变狭缝，改善低角度P/B，提高高角度强度。5. 安全设计，放置样品时自动关闭X射线。6. 软件丰富7. 附件可配：计数端单色器，扣除K&beta 、荧光X射线，提高P/B比旋转样品台隔绝空气。水蒸气样品台六样品自动交换器高速一维阵列探测器D/teX Ultra2主要的应用软件有：1. 多重记录2. 定性分析3. 定量分析4. ICDD数据库管理5. 环境粉尘专用定量软件

X射线衍射晶体衍射仪集所有常规应用于一身的桌面型设计高精度测角仪设计集成在主机内的计算机及屏幕DIFFRAC.SUITE仪器控制、数据采集及分析软件精准的探测器技术 在小型化设计的同时，D2 PHASER又是如何实现她的高性能？首先，D2 PHASER得益于特别设计的的θ/θ高精度测角仪，该技术得到了zhuan利保护。传统衍射仪的所有组成部分，包括标准化的陶瓷X光管、探测器、多功能计算机的主机、屏幕、鼠标、键盘，以及水冷，现在都可以集中在70x61x60cm这样一个空间内。同时，在如此狭小的空间内，D2 PHSAER仍可选配最大6位的自动进样器。其次，D2 PHASER配备了du一无二的DIFFRAC.SUITE软件，无论是在研究领域，还是在工业领域，都可以非常方便地实现数据的采集与分析。最后，也是整台仪器的点睛之笔，D2 PHASER可以配备林克斯一维阵列探测器TM。这个在布鲁克D8系列衍射仪上，被无数次证明其强大性能的高速探测器，现在被原封不动地移植到了D2 PHASER身上，使得这台小型衍射仪在性能和价格上达到了一个完美的结合。上述所有设计理念成就了D2 PHASER这样一台性能优异的桌面型X射线衍射仪，其性能甚至在一定程度上超越了大型衍射仪，同时她还具有大型衍射仪所不具备的特点：可以很方便的搬运、不需要庞大的基础设施，wei一需要的是一个电源插孔！定性定量分析（包括无标样定量分析）结晶度测定物相特性分析（包括：晶胞参数、晶粒大小、微观应力等）结构精修及粉末衍射解结构工业标准尺寸(. 51.5 mm)、适合不同应用的样品架D2 PHASER – 衍射小巨人！梦想成真－多晶样品的定性、定量分析、晶粒大小测定、甚至结构精修和解结构工作都可以通过D2 PHASER这样一台性能优异的桌面型衍射仪来实现了。布鲁克D2 PHASER开启了现代衍射仪的另一扇大门，她可以快速、简便、高质量地完成多晶样品B-B衍射几何下的所有工作。D2 PHASER不仅仅拥有超强的分析能力，同时也非常的灵活，适合测试各种各样的样品。因为不同的材料特性需要采用不同的制样方法，所以D2 PHASER除了配备常规的标准粉末样品架外，还可以提供各种特殊应用样品架：包括适用于微量样品的零背景样品架，粘土样品专用样品架，过滤样品架，以及适合环境敏感样品的密封样品架等等。林克斯SSD-160高速探测器使D2 PHASER如此与众不同的一个主要因素就是布鲁克公司的林克斯SSD-160一维阵列探测器。由160个子探测器组成的林克斯SSD-160探测器，比传统闪烁计数器可以提高强度150倍以上，配备了SSD-160林克斯探测器的 D2 PHASER完全可以媲美高端常规衍射仪。除了强度方面的强大性能，林克斯SSD-160还有非常好的去荧光能力。即使是测量强荧光样品，林克SSD-160斯探测器提供的数据也展示了非常好的信噪比。

众所周知，X射线衍射仪是材料学相关领域基础且不可或缺的分析手段，具备无损、样品制备简单等优势。X射线衍射仪一般主要由X射线光源部分、测角仪、样品台、光路系统、探测器五大部分组成。随着各个重要部件的技术以及制造工艺的发展，尤其是探测器的进步，出现了小型的桌面式的衍射系统，桌面式的衍射系统受到其空间尺寸的限制，很多衍射仪的拓展功能无法实现，以至给广大衍射仪的用户形成了桌面衍射仪只能用来完成粉末、块体、片状等样品的基本物相分析的固有思维。而Bruker在已有的D2 Phaser的基础上，结合具备优异性能的LYNXEYE系列能量色散阵列探测器的优势，在桌面衍射仪这个平台上大胆的尝试了新的结构和运动逻辑，强势推出了一款跨界的桌面衍射系统-D6 Phaser。 主要特点：1、功率可选的X射线光源D6 Phaser提供了三种可选的X射线光源功率，540W/600W/1200W，测试强度可媲美大型落地式机型，满足不同应用需求2、高精度的测角仪D6 Phaser保证在刚玉标样全谱范围内（20－140°），任何一个衍射峰的测量误差不超过±0.01°，与大型落地式机型旗鼓相当3、多功能平台拓展D6 Phaser同时还可以实现以前只有在大型落地式机型上的多功能测试，如：◇ 薄膜掠入射测试（GID）◇ 薄膜反射率测试（XRR）残余应力测试◇ 织构测试◇ 毛细管透射测试 D6 Phaser基本参数:◇ 输出功率：540W/600W/1200W◇ 测角仪：立式q/q测角仪，样品测量过程中始终保持水平。◇ 2θ角扫描范围：-3°～ 152°◇ 仪器控制和数据采集系统：触摸屏控制，同时也可外接计算机◇ 冷却系统：无需外置冷却系统，采用内循环水冷却与空气冷却◇ 设备尺寸：长×宽×高 88.5×66.7×70.0 cm，开门后宽110 cm◇ 设备重量：160kg

全球首款用于X射线粉末衍射反射与透射几何、掠入射衍射与反射法薄膜分析以及块体样品应力和织构分析的台式衍射仪平台。 X光管功率：600 W和1200 W 最小步进角度：0.002 ° 测角仪精准度：0.01° 分辨率：0.03°D6 PHASER是德国布鲁克AXS公司新推出全球首款用于X射线粉末衍射反射与透射几何、掠入射衍射与反射法薄膜分析以及块体样品应力和织构分析的台式衍射仪平台。 D6 PHASER是一个开创性的台式X射线衍射平台，它兼具可操作性与灵活性。与传统台式衍射仪不同的是，D6 PHASER提供了超越粉末衍射的先进分析方法。凭借广泛的应用，D6 PHASER为X射线衍射技术开辟了新的市场和用户群体。&bull 能够满足用户的各项研究需求。&bull 发生器功率高达1200w&bull 3个发生器和探测器、6个样品台，适用于8项应用，为您开启无限的研究机会&bull 采用动态光束优化（DBO）技术，可实现更高强度和角度精度（即使在更换样品台的情况下，也保证峰位置优于0.01°的角度偏差）技术参数：&bull 2θ校准精度保证在±0.01°以内&bull 高压发生器：600瓦或者1,200瓦&bull 久经考验的测角仪&bull LYNXEYE XE-T能量分辨探测器&bull 无需外接水冷&bull 占地面积小主要特点：● 强大功率高达1.2 千瓦，包含内部冷却系统久经考验的测角仪LYNXEYE XE-T能量分辨探测器可选配电动光学器件● 多功能适用于基本粉末衍射以外的多种测量类型，是D6 PHASER的标志性特色之一，使其成为能支持各种实验的真正通用平台。反射和透射非环境衍射掠入射衍射、X射线反射、应力、织构● 易用用户无需经过培训。基于布鲁克简单易用的软件及其对XRD分析方法的广泛了解，以及价格合理的自动化附件，D6 PHASER 能够以直观的方式，指导用户实施这些分析方法。动态光束优化（DBO）触摸面板操作样品台和光学器件切换

苏州锂影科技有限公司 类德拜照相快速X射线衍射仪（Mini版） 苏州锂影科技有限公司锂影团队长期从事于X射线衍射仪的开发与应用研究，积累了丰富的项目经验。团队针对智能化快速X射线衍射仪已经开展了类德拜照相、多位样品台设计、多线程控制软件设计等相关基础研发工作。01 技术背景 Technical Background德拜照相是一种古老的X射线衍射测试方法，它使用弯曲底片一次性测试粉末样品大角度范围内的多个德拜环。由于需要洗相等繁琐操作以及测试精度偏低而被衍射仪法所取代。近来我们使用一维阵列探测器进行近距离照相，得到了类似德拜照相的结果。而且，由于不用扫描，该方法的测试速度可以达到秒级。根据距离不同，该方法能够探测的角度范围可以从8°增加到50°，相应的单个子探测器角度分辨率可以从0.01°减少到0.08°。实际上大多数粉末样品只需要进行定性或半定量测试，它们的主要衍射仪峰基本都出现在10°-60°甚至更小的角度范围内，而且衍射峰之间的角度差大多大于1°，因此这种类德拜照相技术完成能够满足这些定性或半定量测试的需求。 02 产品说明 Product Instructions类德拜照相快速X射线衍射仪（Mini版）是在浩元DX27Mini衍射仪的基础上装配了Dectris Mythen1D一维阵列探测器，并且其距离可调，即能够实现秒级的近距离类德拜照相，也能够采用远距离的高分辨率扫描模式进行测试。因此即适用于高通量样品筛选以及企业生产中的质量控制，也适用于样品的晶系结晶结构分析。该仪器配套了锂影科技二次开发的测试软件，采用中文界面，操作简单易学易用。并且能够支持锂影科技开发的5位反射模式样品架或15位透射模式样品架，实现多个样品的自动连续测试。03 技术参数 Technical Parameter 1. X射线发生器：2.4kW；2.θ-θ测角仪： θs轴范围-5°~80°，最小步长0.0001°，重复精度0.0001°； θd轴范围-5°~80°，最小步长0.0001°，重复精度0.0001°；3. Mythen1D一维阵列探测器4. 标配单个粉末样品架，可选配5位反射模式样品架或15位透射模式样品架 04 售后服务 After-sale Service1、免费上门安装：是 2、保修期：1年 3、是否可延长保修期：是4、保内维修承诺：免费上门指导5、报修承诺：24小时线上服务6、免费仪器保养：1年1次7、免费培训：工程师技术培训8、现场技术咨询：有 9、售后服务电话：

粉状原料的粒度分布对药物、化妆品、食品、充电电池和其他成品的性能有重大影响，是质量控制的重要指标。随着粒度测量的需求扩展到各个领域，岛津开发出了可以提供更加广泛的测量范围，并可方便、高效的进行精密测定的粒度仪，其粒径测量范围可达17纳米到2500微米。并且，通过对光路和检测器的优化，灵敏度提高了10倍，因此能够轻松应对浓度在0.1ppm到200000ppm之间的样品。 此外，SALD-2300还采用了单一高能半导体光源设计，在测定过程中无需切换光源，因此其最短测量间隔仅为1秒，并可连续进行测定，从而可快速对粒子发生的团聚或分散过程进行实时监测，确认样品的状态变化。该光源能量更高，可测定对光吸收严重的粒子，同时具有开机预热时间短，寿命更长的优点。 全新配备的Wing SALDII系列软件着重解决了激光粒度折射率选择的难题，独家配备了自动选择折射率功能。以往，人们都是使用文献中给出的折射率数据，但是折射率会受到粒子粒径和形状的影响，因此这种方法并不可靠。岛津公司在世界上首次在软件中开发了基于LDR原理（光强分布再计算）的自动折射率选择功能，能够根据样品所得粒度数据给出5种最佳推荐折射率，并给出置信度。测定范围： 0.017~2500um　测定模式： 湿式或干式特点主机（测定部）以单一测定原理、单一光学系统、单一光源连续的地覆盖了全部测定范围。忠实于ISO标准的单一测定原理、单一光学系统、单一光源覆盖了17nm（0.017&mu m）～2500&mu m的粒径范围，实现了连续的单宽量程。不会发生多个光源结果数据拼凑所造成的数据不连续、不匹配的现象。激光衍射方法符合国际标准 ISO 13320/JIS Z 8825-1SALD全线产品均符合激光衍射散射方法的国际标准ISO 13320 和 JIS Z 8825-1 。采用红色半导体激光采用波长680nm的红色半导体激光，光强度高，光源开机稳定所需时间短。能够正确地测定因光吸收而难以测定的黑粒子，对于少量粒子具有更高的灵敏度。采用高灵敏度传感器元件采用最高水准技术制造的79元件的前方散射光传感器，并配置侧面散射光传感器1个元件以及后方散射光传感器4个元件，共计84个元件的光传感器，准确地检测光强度分布模型，不漏掉微妙的变化，在宽广的粒径范围内，实现了高分辨率、高精度的粒度分布测定。超快的测定速度，可以1秒为间隔连续测定。能够以1秒为间隔实现样品的快速连续测定。可以用于监测和判断易于团聚的样品的团聚过程或其他不稳定粒子变化的过程，例如，监测抗原抗体反应过程。也可以用于判断样品是否已经均一分散。极高的光学系统的稳定性。采用全方向冲击吸收构造OSAF（Omini-directional Shock Absorption Frame），光学系统所有的要素都免受冲击、振动等的干扰，所以，几乎无需调整光轴。光源经过特殊设计，稳定性高，同时由于测定在1秒钟即可完成，即使异常情况下光源发生漂移，在超短测定时间内对粒度的影响可以忽略不计。样品池的操作简单。采用滑动式池架，池的更换、清洗很方便。具备激光安全机构如果打开测定室，那么，激光能够自动关闭。 多功能进样器内置供水泵、和超声分散系统使用内置供水泵的多功能进样器，可以使用市售的塑料容器等直接供水，解决了供水的麻烦。超声分散系统可辅助样品快速均匀分散。 耐有机溶剂性出色的循环管路多功能进样器SALD-MS23标准配备SUS及氟类材质的循环管路，可使用几乎所有的有机溶剂进行湿式流通测定。配备ＣＰＵ在多功能进样器中，配备超声波振动器、搅拌机构、水位传感器和进行控制的ＣＰＵ。因此，通过与计算机连接进行控制，可进行软件控制的自动进水、自动排水、自动搅拌、自动循环、自动清洗等步骤。 微量样品池配备搅拌板上下运动的搅拌机构为了抑制粒子的沉降，配备了搅拌板上下运动的搅拌机构。由此，可实现重现性良好的测定。配备方便样品投放的漏斗在池的开口部设置有四氟化乙烯树脂制漏斗。因此，可防止向池投放样品时样品撒落。可测定少量的样品。池容量约12cm３，可测定非常少量的样品。 软件 配备丰富多彩的功能的测定／数据处理软件WingSALDII软件具备自动计算折射率、统计处理、时间序列处理、三维图示等的丰富多彩的数据处理功能和出色的操作简便性。还可进行粒度数据拼接、不同机型数据转换、粒子混合模拟计算、薄膜散射角度评价等多种功能。粒度分布数据的实时显示最短1秒即可在画面上显示粒度分布图表。另外，粒度分布数据及光强度分布数据可实时显示，这样就可以准确地把握样品的活动及状态变化。 使用ＡＩ自动量程功能进行粒度分布计算ＡＩ自动量程功能是从检测出的衍射光／散射光的光强度分布数据，首先判断粒度分布范围，对于得到的范围，选择最适合的计算条件，精密地计算粒度分布的功能。因此，从尖锐的分布到宽的分布，都可以在没有事先预备的信息的状态下，准确地获得粒度分布形态。解决了折射率选择的难题：自动折射率选择功能使用激光衍射散射方法测定粒径，必须选择折射率。以往，人们都是使用文献中给出的折射率数据，但是折射率会受到粒子粒径和形状的影响，因此这种方法并不可靠。岛津公司在世界上首次在软件中开发了基于LDR原理（光强分布再计算）的自动折射率选择功能。该方法已经在多个会议发表，并定名为&ldquo 木下法&rdquo 。（备注：木下先生是日本岛津ADC的粒度担当，为表彰他在粒度分析应用方面所做的突出贡献，此方法以他的名字命名）实用的实时显示光强度分布和粒度分布数据功能通过粒度分布计算的方法的改进，最快约１秒在软件画面上表示粒度分布图。并且，可以实时表示粒度分布数据及光强度分布数据。从而可以实时监测样品的偶然变化和分散状态的偶然变化。内置自检功能，维护简便组合了强大的自检功能，可确认装置的动作状況，使维护简便。配备操作记录（operation log）功能采用操作记录（operation log）功能，使所有的测定数据都包括了装置的使用状況、池的汚染状态等详细的信息，因此，可以追溯到过去，验证测定数据的真实性。虽然在平常状态下不显示，但在所有的测定数据中作为文本文件附有电源ＯＮ的时刻、空白测定的时刻以及空白测定的数据，并且，这时的光轴位置等有关装置的操作、使用状态的数据。测定结果的多方面评估：标配多种分析应用方法散射角评估：给出强度分布与散射光角度的关系数据转换（模拟）：使用其他仪器或者测定原理得到的结果，可以通过SALD系列产品的测定结果进行模拟而得。这使得SALD系列结果与常规测定技术所得结果相一致。混合物模拟功能：多种混合物以任意比例混合所得到的粒度分布结果可以通过软件模拟而得。这使得我们无需进行实际的混合实验，即可精确的获得混合比例以得到希望的粒度分布结果。数据合并：该功能使两个不同范围的数据在某一点合并起来，从而得到一个总的粒度分布结果。比如将SALD系列2000um以下的结果和通过筛分法得到的2000um以上的结果合并起来，得到一个宽范围的粒径分布结果，这在土木工程、防火和环境领域有着广泛的应用。测定功能和数据处理功能相链接，允许测定后快速数据比对和数据分析测定功能、数据处理功能和统计功能互相链接。测定、比对和分析可在同一操作下进行，适用于多大200个数据。测定结果在测定时是以叠加的形式显示，可以对数据进行快速分析。

桌面式X射线衍射仪在X射线光束通过索拉狭缝、发散狭缝照射在样品上，样品台位于测角仪中心，基于反射几何θs-θd，X射线光束在满足布拉格定律时，在特定的方向上发生衍射现象，经过防散射狭缝、索拉狭缝、接收狭缝到达X射线探测器上，最终经过数据处理系统在分析软件上展现出采集的衍射图谱。FRINGE EV是公司自主研发的一款桌面式X射线衍射仪器，其融合XRD和计算机软件等多项技术，可快速对粉末、块状或薄膜等形态的样品进行主要物相定性、定量分析、晶体结构分析、材料结构分析及结晶度测定，具有精度高、准确度高、稳定性好、应用范围广、操作简便和智能化等特点，为材料研究、大学及研究院所、建筑材料、金属、矿物、塑料制品、医药品和半导体等众多领域提供高精度的分析。使用优势空气弹簧大橱窗升降门空气弹簧大橱窗升降门，节约桌面空间，适合每一台办公桌，有效提高空间利用率。桌面式千瓦级功率FRINGE EV拥有强悍的KW级功率，让他成为桌面式XRD领域无与伦比的收割机。适合所有人的XRDCrystalX在获得衍射数据后，自动进行物相分析，并给出物相各组分百分比，大大降低了使用人员的要求，仅仅需要点击“开始测试”，其它交给CrystalX软件 吧。安全性具有在测试过程中自动切断保护装置、安全联动锁装置，样品舱关闭后属于全封闭性能，操作界面有样品舱关闭提示功能。集成式索拉狭缝集成式索拉狭缝，无任何运动可调部件，增加测角系统的可靠性，从而使得界FRINGE桌面式XRD可安装于车载实验室平台。DPPC探测器DPPC探测器（数字脉冲处理计数探测器），计数吞吐量≥1×10^7CPS，无需使用二级单色仪，DPPC探测器在提供衍射数据的同时提供能量色散光谱数据。规格参数测角仪θ/θ立式测角仪、衍射圆半径 150mm2θ角度范围-3° - +150°2θ角度精度全谱范围内＜±0.02°偏差分辨率0.04°2θ 半峰宽FWHM索拉狭缝集成式索拉狭缝，无任何运动可调部件，增加测角系统的可靠性平台X光管金属陶瓷 X 射线管，焦点：1 x 10 mm，默认配置Cu靶，可选配 Co、Cr、Mo靶高压发生器功率标配1200W，最大支持1600W仪器尺寸580 x 450x 680mm（L×W×H）重量120KG电源220V±10V，50Hz，整机功率 最大值2000W散热方式FRINGE EV使用外置水循环冷却系统，强力冷却澎湃动力探测器DPPC探测器（数字脉冲处理计数探测器）接口紧凑的家用墙插插头提供电源，USB接口连接PC用于控制XRD气源提供2路气源接口，可用于原位分析或气氛保护安全性FRINGE EV具有空气弹簧大橱窗升降门，可无死角观察原位分析过程，并可有效屏蔽X射线，具有在测试过程中自动切断的保护、安全联动锁装置，样品舱关闭后属于全封闭性能，操作界面有样品舱关闭提示功能云端服务功能配套使用可同步的移动端APP服务，用于支持衍射数据卡片化管理，并支持接入知识管理系统CrystalX软件CrystalX在获得衍射数据后，自动进行物相分析，并给出物相各组分百分比，大大降低了使用人员的要求，无需手动检索，无需扣背景，无需平滑，无需手动寻峰，仅仅需要点击“开始测试”，其它交给CrystalX 软件 吧

苏州锂影+ 实验室桌面型二维掠入射X射线衍射 同步辐射测试01同步辐射光源，由于强度高、亮度大、准直性好，广受科研工作者们的欢迎。我们国家现有多个同步辐射光源：北京同步辐射装置（BSRF，第一代光源）、合肥国家同步辐射国家实验室（NSRL，第二代光源）、上海光源（SSRF，第三代光源），还有马上投入运行的大连的深紫外以及上海软X射线自由电子激光装置（FEL，第四代光源），以及在建中的北京高能同步辐射、上海光源、合肥光源。另外，在台湾也有两台光源。但是，封校、避免人员流动等防疫措施的限制下，让2D-GIWAXS测试难上加难。别急，还有一个解决办法！ 锂影制造02 锂影科技在丹东浩元DX2900衍射仪安全壳体的基础上装配了美国XOS公司的多毛细管微焦点光源、锂影科技的两轴薄膜样品台、瑞士Dectris公司的Pilatus100K二维阵列探测器，加上锂影科技开发的配套测试软件，组装得到实验室桌面型二维掠入射X射线衍射仪。同时，结合锂影科技在衍射仪配件定制开发方面的优势，为该款机型配备了多种测试模块，薄膜样品台、透射样品台、惰性气体保护台（手套箱内组装好保持惰性氛围测试）和原位气氛处理台（支持大多数溶剂）。测试界面 聚合物样品二维衍射图技术参数 031. X射线发生器：铜靶或钼靶，功率50W（工作电压50KV、工作电流1mA）2.多毛细管：准直度0.25°，焦斑直径0.5mm，光强10^8ph/s3. 两轴薄膜样品台：Omega轴范围-10°~10°，精度0.002°；Z轴范围0-15mm，精度0.002mm4. 二维阵列探测器：487×195像素，每个像素大小172微米5.可以配备透射样品台、原位薄膜热台、原位溶剂气氛处理附件、气氛保护附件等6.薄膜样品台可根据需求升级至三轴到五轴薄膜样品台，二维阵列探测器可根据需求升级至Pilatus200K、Eiger500K/1M测试效果如下：碘化铅甲胺铅溴钙钛矿聚丁烯样条透射XRDN2200 锂影团队长期从事于X射线衍射仪的开发与应用研究，积累了丰富的项目经验。团队针对智能化快速X射线衍射仪已经开展了类德拜照相、多位样品台设计、多线程控制软件设计等相关基础研发工作。苏州锂影科技有限公司为您提供高端衍射仪个性化定制服务

晶圆级衍射光波导光学检测系统皮米级周期计量 / 快速无损 / 形貌量测 Metrondie-SRG 晶圆级衍射光波导光学检测系统 是一款专为晶圆级光波导样品提供的专业光学检测系统，采用先进的角分辨光谱技术，配合强大的 AI 算法以及可溯源的标准物质，能够快速、准确获取一维、二维光栅的衍射效率及其形貌参数，为用户在衍射光栅的设计与加工过程中提供快速、无损的监控手段，不断提高产品生产良率。 Metrondie-SRG 晶圆级衍射光波导光学检测系统 典型应用领域： 光栅衍射效率测量 衍射效率是评价光栅性能的核心指标，需要系统具有同时测量角度和波长的能力。 光栅周期计量 周期作为衍射光波导的基本参数，影响着光在波导内部正确的传输与衍射，可溯源的方法是周期计量中的关键所在，需要具有复现和量值传递作用的标准物质作参考。 光栅形貌量测 高性能衍射光波导具有较为复杂的光栅形貌，对形貌无损快速的检测是晶圆批量制程中的核心诉求，需要系统具备多维度光学信号抓取能力并支持人工智能算法高效分析。 光栅取向测量 光波导中不同区域光栅的取向差异对成像至关重要，需要系统支持旋转角精确调节。 Metrondie-SRG 晶圆级衍射光波导光学检测系统 在以上领域的应用得益于如下几个特点： 1 角分辨光谱技术 得益于 -70°~70° 的广角量程与优于 0.02° 的角度精度，可准确捕捉 多级次 衍射强度随波长和角度的精确分布； 2 晶圆级测量 采用高兼容性样品台，有效覆盖 4~12 寸 晶圆的全面检测需求。同时，结合智能化软件，支持晶圆版图输入，实现了对衍射光波导晶圆的批量 mapping 检测； 3 人工智能算法 引入在线优化、深度学习和库搜索等前沿算法，将物理模型与多维光谱信息紧密融合，可实现 海量模型 的构建与优化，实时获取衍射光波导光栅的精确形貌参数； 4 高精度电动位移台 选用高精度 四轴电动 位移台，可实现 X, Y, Z 轴 微米级 空间定位精度，平面取向 θ 角 弧秒级 角度定位精度，支持衍射光波导全方位自动检测。Metrondie-SRG 光学量测示意图

“阶梯衍射光栅特性QX-JT-GL”参数说明型号：Qx-jt-gl规格：25.0 mm X 50.0 mm X商标：一博包装：硬塑闪耀角：63刻线数：1200“阶梯衍射光栅特性QX-JT-GL”详细介绍阶梯衍射光栅特性QX-JT-GL基本介绍高分辨率 阶梯衍射光栅是特殊的低周期反射光栅，设计用于高级次使用。它们一般需要再加一个光栅或棱镜，用于分离重叠的级次。这些光栅具有大闪耀角，是高分辨率光谱应用的理想选择。阶梯光栅使用精密的玻璃基底，分辨率是理论值的80%至90%。阶梯衍射光栅特性QX-JT-GL性能特点阶梯衍射光栅特性 用于高级次的低周期反射光栅 高分辨率光谱学的理想选择 典型分辨率：理论值的80至90% 裸露的反射铝膜 基底：浮法玻璃或派热克斯玻璃阶梯衍射光栅特性QX-JT-GL技术参数阶梯光栅Groovesa(lines/mm)Blaze AngleWavelengthRangeDispersion (nm/mrad)Size31.663°UV - 57 μm14.3725.0 mm x 50.0 mm x 9.5 mm(0.98" x 1.97" x 0.37")79.063°UV - 23 μm5.7579.075°UV - 25 μm3.2831663°UV - 5.7 μm1.44阶梯衍射光栅特性QX-JT-GL使用说明注意光栅很容易被潮湿、指纹、气溶胶或任意摩擦材料的轻微接触而损伤。光栅只能在必要时才拿取，而且只能通过边缘夹持。应佩戴橡胶手套或类似的防护套，以防止手指上的油污接触光栅表面。清洁时只能使用净化的干燥空气或氮气吹扫光栅，其它任何操作都是不允许的。溶剂很可能会损伤光栅表面。阶梯衍射光栅特性QX-JT-GL采购须知。

弯晶产品系列1、弯晶概述北京泰坤工业设备有限公司开发各类型X射线衍射弯晶。提供多种材料的弯晶制备， 如石墨、氟化锂晶体系列、锗和硅等；同时致力于开发多种 结构的弯晶构型，包括约翰型、约翰森、对数螺线、椭球和 Von Hamos等。弯晶广泛应用于单色X射线荧光激发、同时多道型波长色 散X射线荧光光谱仪、双弯晶X射线荧光测量、以及弯晶谱 仪和中子衍射等领域。北京泰坤的服务范围涵盖了弯晶的设计、制作和测试， 并提供一站式的弯晶套装解决方案。2、工作原理弯晶的设计原理基于布拉格衍射定律，即当入射X射线与晶体晶格相互作用时，会发生衍射现象。通过合理选择材料和弯晶的形状，能够精确控制X射线的衍射效应，从而实现X射线的单色反射聚焦。由 于X射线对所有物质的折射率接近为1，衍射是极少数能改变X射线传播方向的方案之一，使得弯晶成为 重要的X射线光学器件。双曲结构的弯晶还可以实现单色X射线的点对点聚焦。 3、弯晶材料北京泰坤进行了大量的对比测试，对各种弯晶材料进行了全面的研究，总结出相应的的性能特点，可以为客户提供优化设计的支持。弯晶石墨LiF200、LiF220及LiF420Ge(111)Si(111)反射率++++++-稳定性++++++++导热性+++++++4、弯晶构型北京泰坤可以提供多种构型的弯晶，并对各种弯晶构型做了详细测试，综合出各构型差异。还可承接椭球和Von Hamos等构型弯晶的设计、制作与集成业务。5、行业应用1.弯晶是X射线荧光光谱(XRF)分析的重要发展方向。北京泰坤生产的弯晶可用于Cr靶、Rh靶、Ag靶以及Ce靶光管的单色特征X射线点对点聚焦。通过弯晶的应用，XRF能够在激发端有效降低荧光背景，检出限相比传统能谱方案降低一个数量级，如硫的检出限可达到1ppm以下，符合ASTM D7220标准。2.发射端采用弯晶单色聚焦，部分重元素的检出限降低至0.04ppm水平。 3.当激发和发射端同时采用弯晶时，检出限相比传统能谱测量方案可降低1-2个数量级，测硫方案符合ASTM 7039标准；部分元素的检出限可达到ICP-OES检测水准。4.弯晶在同步辐射光源、加速器和重离子检测等领域的X射线精细光谱分析中具有重要应用价值，还可以应用于中子衍射领域。5.北京泰坤提供完整的弯晶套件服务，将设计、制作和调试打包成一体，为客户提供一站式的解决方案。客户只需提供光管和探测器，即可开始工作。我们致力于为客户提供高质量的服务和支持，保证客户能够充分利用弯晶技术的优势。

仪器简介：WSZ-2A型自动衍射光强实验装置是我公司新开发的一套实验系统。该系统非常适合用于各高校光学实验室验证光学衍射中单缝、多缝、圆孔、矩形等衍射光强变化的规律。 仪器特点：本系统采用导轨式实验结构，使实验仪器调整难度大大降低。 采用计算机控制，是实验过程简便 成套性：主机及接收单元 单面可调狭缝 He-Ne激光器 中文操作系统主要特点：WSZ-2A型自动衍射光强实验装置是我公司新开发的一套实验系统。该系统非常适合用于各高校光学实验室验证光学衍射中单缝、多缝、圆孔、矩形等衍射光强变化的规律。 仪器特点：本系统采用导轨式实验结构，使实验仪器调整难度大大降低。 采用计算机控制，是实验过程简便 成套性：主机及接收单元 单面可调狭缝 He-Ne激光器 中文操作系统

XUANCAI 落地式X射线衍射仪是研究物质内部微观结构的一种大型的高功率分析仪器，其专为在环境条件下和非环境条件下，对从粉末、非晶和多晶材料到外延多层薄膜等各种材料进行结构表征而设计，外型美观、易于操作、用户友好、使用寿命长、智能化、检测精度高，是材料研究、大学及研究院所、建筑材料、金属、矿物、塑料制品、医药品和半导体等领域的理想分析工具。主要应用：定性相分析和定量相分析晶体结构解析晶体取向分析、金属材料织构、残余应力分析等结构测定和精修、微应变和微晶尺寸分析、微区样品的分析非常规条件下晶体结构变化（高温、低温条件下）薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度使用优势智能化设备配备分析软件有助于分析测量、查看数据以及转换数据，还可以传输以及管理，轻松实现系统数据对接共享。用户管理炫彩XUANCAI支持创建个人用户帐户，允许用户自由调整检测配置以满足自身的具体需求，并且可保存配置和批处理编程。安全性大橱窗玻璃门可无死角观察原位分析过程，并可有效屏蔽X射线，具有在测试过程中自动切断的保护、安全联动锁装置，样品舱关闭后属于全封闭性能，操作界面有样品舱关闭提示功能。一键操作炫彩XUANCAI界面直观、用户友好、操作简单，无需培训，即使非技术人员也可轻松掌握。应用场景生物医药新材料地质勘探研究与教育金属化合物化学工业规格参数测角仪立式测角仪、采用光学编码器技术，衍射圆半径≥ 300mm2θ转动范围-110°- +168°X光管金属陶瓷 X 射线管，焦点：1 x 12mm，配置Cu靶，Co靶、Cr靶、Mo靶可选配高压发生器功率3000W仪器尺寸1400mm x 1100mm x 1994mm（L×W×H）重量650KG电源220V±10V，50Hz，整机功率≥4500W驱动方式交流伺服电机驱动+双光学编码器分辨率0.04°2θ半峰宽FWHM扫描速度0.01 - 120&ring /min散热方式使用外置水循环冷却系统，强力冷却澎湃动力探测器DPPC探测器（数字脉冲处理计数探测器），计数吞吐量≥1×107CPS，DPPC探测器可高效抑制样品荧光，即使对于强荧光样品，也能提供出色的峰背比，无需使用二级单色仪，DPPC探测器在提供衍射数据的同时提供能量色散光谱数据，支持元素分析。接口USB接口连接PC用于控制XRD原位分析属性提供5路气源接口，舱内提供4路电源供电，提供4路电机驱动，提供2路控制总线，集成支持多种原位分析附件。云端服务功能“炫彩XUANCAI”配套使用可同步的移动端APP服务，用于支持衍射数据卡片化管理，并支持接入知识管理系统。CrystalX物相检索软件含原始数据直接检索功能，数据处理软件，含物相定量分析：可编程定量分析。无标样定量分析，无标晶粒尺寸分析，粉末衍射结构精修，粉末衍射结构解析功能专用的晶体分析软件。CrystalX自动模式可在获得衍射数据后，自动进行物相分析，并给出物相各组分百分比，大大降低了使用人员的要求，无需手动检索，无需扣背景，无需平滑，无需手动寻峰，仅仅需要点击“开始测试”，其它由CrystalX 软件自动分析。

为工业化生产、质量控制而设计，浓缩X射线衍射仪生产的先进技术，功能化与小型化台式X射线衍射仪。能够精确地对金属和非金属样品进行定性分析、定量及晶体结构分析。尤其适用于催化剂、钛白粉、水泥、制药等产品制造行业。 主要技术指标：●运行功率（管电压、管电流）：600W(40kV、15mA)或是1200W(40kV、30mA) 、稳定度:0.005%●X射线管：金属陶瓷X射线管、Cu靶、功率2.4kW、焦点尺寸：1x10 mm 风冷或是水冷（水流量大于2.5L/min）●测角仪：样品水平θs-θd结构、衍射圆半径150mm●样品测量方式：连续、步进、Omg●角度测量范围：θs/θd联动时-3°-150°●最小步宽：0.0001°●角度重现：0.0005°●角度定位速度：1500°/min●计数器：封闭正比或高速一维半导体计数器●能谱分辨率：小于25%●最大线性计数率：≥5×105CPS（正比）、≥9×107CPS（一维半导体）●计算机：戴尔商用笔记本●仪器控制软件：Windows7操作系统，自动控制X射线发生器的管电压、管电流、光闸及射线管老化训练；控制测角仪连续或步进扫描，同时进行衍射数据采集；对衍射数据进行常规处理：自动寻峰、手动寻峰、积分强度、峰高、重心、背景扣除、平滑、峰形放大、谱图对比等。●数据处理软件：物相定性、定量分析、Kα1、α2剥离、全谱图拟合、选峰拟合、半高宽和晶粒尺寸计算、晶胞测定、二类应力计算、衍射线条指标化、多重绘图、3D绘图、衍射数据校准、背景扣除、无标样定量分析等功能、全谱图拟合（WPF）、XRD衍射谱图模拟。●散射线防护：铅+铅玻璃防护，光闸窗口与防护装置连锁，散射线计量不大于1μSv/h●仪器综合稳定度：≤1‰●样品一次装载数据：配置换样器，每次最多装载6个样品●仪器外形尺寸：600×410×670（w×d×h）mm

聚合物材料在当今社会的各个方面都有着广泛的应用，从包装材料到航空航天工程，不同性能的聚合物材料用途不同。结晶度（Degree of Crystallinity，DOC）是影响聚合物材料性能的主要指标，结晶度的变化会影响聚合物材料的各项性能，如力学性能、热性能、密度和光学性质等。因此对控制聚合物材料的结晶度是材料工程中的关键因素。通常，测量结晶度的方法包括密度法，量热法，NMR、IR以及XRD法等，其中X射线衍射法是公认的、具有明确仪器及应用较为广泛的方法,能够更加全面直观地分析聚合物结构信息。利用X射线衍射技术测定聚合物的结晶度的常用测定计算方法有作图法、回归线法、罗兰德(Ruland)法、X射线衍射曲线分峰拟合法。FRINGE SH1827塑料结晶度专用分析仪主要通过X射线衍射技术和全谱拟合法，对聚合物材料样品进行结晶度计算分析。具有操作简单、分辨率出色、重复性好等优点。使用优势θ-2θ联动测角系统专利新型θ-2θ联动测角系统，单轴驱动机构，精约简省，立志非凡。内置水循环冷却系统FRINGE内置水循环冷却系统，无需额外增加冷水机，软件可实时显示X射线管中水温、流量、流速等信息。自主CrystalX软件通过使用CrystalX，在获得衍射数据后，可以直接测定并计算出结晶度（简称D值），大大降低了使用人员的要求，仅仅需要点击“开始测试”，其它交给CrystalX 软件吧。安全性具有在测试过程中自动切断保护装置、安全联动锁装置，样品舱关闭后属于全封闭性能，操作界面有样品舱关闭提示功能。集成式索拉狭缝集成式索拉狭缝，无任何运动可调部件，增加测角系统的可靠性，从而使得仪器可安装于车载实验室平台。适用标准适用于《SH/T1827-2019 塑料结晶度的测定 X射线衍射法》标准，用于聚乙烯（PE）和聚丙烯（PP）结晶度测定，以及颗粒或粉末状聚乙烯和聚丙烯（α晶型、β+α晶型）压塑或注塑试样结晶度的测定。应用场景通用塑料聚乙烯PE、聚丙烯PP工程塑料尼龙PA、聚对苯二甲酸乙酯PET 、聚对苯二甲酸丁二酯PBT、聚甲醛POM等 特殊/结构工程塑料聚苯硫醚PPS、液晶LCP、聚二醚酮PEEK、氟碳树脂PTFE、聚氧苯甲酯POB等合物材料中无机矿物填料分析 技术参数测角仪θ-2θ联动立式测角仪、衍射圆半径 150mm2θ角度范围-3° - +150°2θ角度精度全谱范围内＜±0.02°偏差分辨率0.04°2θ 半峰宽FWHM索拉狭缝集成式索拉狭缝，无任何运动可调部件，增加测角系统的可靠性，从而使得仪器可安装于车载实验室平台X光管金属陶瓷 X 射线管，焦点：1 x 10 mm，默认配置Cu靶，可选配 Co、Cr、Mo靶高压发生器功率600W仪器尺寸580 x 450x 680mm（L×W×H）重量120KG电源220V±10V，50Hz，整机功率 1000W散热方式内置水循环冷却系统，无需额外增加冷水机，软件可实时显示X射线管中水温、流量、流速等信息探测器DPPC探测器（数字脉冲处理计数探测器）接口紧凑的家用墙插插头提供电源，USB接口连接PC用于控制XRD

技术参数 1、X射线发生器功率为3KW 2、测角仪为水平测角仪3、测角仪半径300mm4、测角仪配程序式可变狭缝 5、最小步径0.0001度6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）7、高速探测器D/teX Ultra250（0维，1维模式）8、半导体阵列2维探测器HyPix400(0维、1维、2维模式)7、搭载从控制测量到分析结果的SmartLab Studio II软件包 8、视频观察系统9、丰富的各种附件 主要特点 1、SmartLab家族中的最新成员SmartLab SE。2、使用SmartLab Studio II软件，可以一键式得到从选择条件、测量、到分析、结果报告的所有结果，不需要任何经验，就可以得到高质量的分析结果。3、智能X射线衍射仪SmartLabSE系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 4、可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 5、可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有： 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld定量分析 5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度 6.小角散射与纳米材料粒径分布 7. 微区样品的分析 仪器介绍 智能X射线衍射仪SmartLab SE系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、智能的测量分析SmartLab Studio II软件，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。