小角广角

仪器简介：SAXSpace（Small & Wide Angle X-Ray Scattering System）是奥地利安东帕公司研制开发的一种小角X-射线散射仪。是一款适用于SAXS,WAXS,GI-SAXS,Bio-SAXS等的模块化纳米结构分析仪。其角度范围为0.03-49nm^-1,对应的尺寸范围为0.13-200nm。在不改变仪器设置的情况下，SAXSpace可以同时测量小角和广角X-射线散射，所测的2&theta 角度最大值为74° ，是真正的小角与广角X-射线散射同时测量的仪器。SAXSpace可以测试几乎所有固体和液体样品。SAXSpace应用举例：表面活性剂和两亲性二嵌段共聚物的溶液：胶束尺寸，胶束形状，相行为，囊泡壁的内部结构等。生物材料：蛋白质在溶液中的形状和尺寸，内部结构，聚集状态，分子量等。分散体系：分散颗粒的形状和尺寸分布，分散体系的稳定性，颗粒集结成核现象，聚集状态等。纤维：内部结构，结晶度，取向度等。催化剂：比表面积，颗粒尺寸及分布，结晶度等。乳液：液滴的形状和内部结构，液滴的尺寸分布，不同温度时乳液的稳定性，胶囊试剂的传输动力学等。聚合物和纳米复合物：结晶度，周期性纳米结构，取向度等。液晶：周期性结构的尺寸和形状，取向度等。技术参数：测量范围：0.13 ~ 200 nmX-射线光源：标准：密封管（线聚焦和/或点聚焦），其它光源：可选。光束尺寸：线光源为20 × 0.3 mm2，点光源为0.3 × 0.3 mm2。工作电压：40 kV工作电流：50 mA样品量：固体只需几毫克，液体最少只需7微升。样品温度的可调节范围：-150 ~ 300 ° C，灵敏度为± 0.1 ° C。测试时间：1 ~ 60 min。主要特点：真正的小角与广角X-射线散射同时测量的仪器：0.13 ~ 200 nm。光路可自动进行调整。原位升降温和溶液测试。专业而且完备的数据处理软件。

仪器简介：采用TurboCorr数字相关器，通过动态光散射的方法可以测量小至1nm的纳米颗粒分布情况，通过静态光散射的方法可测量高分子材料的Zimm、Berry、Debye曲线、分子量、均方根回旋半径及第二维里系数。经国内外众多顶级实验室使用，证明BI-200SM是研究聚合物、胶束、微乳液以及复杂溶液等体系最理想的测试仪器。技术参数：1.粒度范围：1nm-6um2.分子量范围：500～109Dalton3.分子大小范围：10～1000nm4.角度范围：8-162° ,± 0.01° 5.温控范围：-20 ～ 80℃（选件-20 ～ 150℃），± 0.1℃6.滤光片轮：632.8nm, 532nm, 514.5nm，488nm7.孔径轮：100 um,200 um,400um,1 mm,2 mm,3mm主要功能：1.动态光散射（DLS）功能 动态光散射又被称为光子相关谱法（PCS）或者准弹性光散射法，该方法使用自相关方程，自相关方程中包含了悬浮颗粒或者溶液中高分子的扩散系数的平均值及其分布等信息。从扩散系数的分布中可以得到：1)粒度大小及其分布2) 其它动力学参数2.静态光散射(SLS）功能： 对于悬浮于液体中的颗粒，利用Mie散射形成光强与角度的函数关系，从而得到颗粒粒度大小与形状的信息。 对于高分子溶液，光强与角度、浓度形成的依赖关系（即浓度依赖性与角度依赖性），利用Zimm图（或其他类似的方法）可以得到以下参数：1）Mw绝对重均分子量2）Rg均方根回旋半径或均方末端矩3）A2第二维里系数主要应用：高分子特性研究（以动静态、静态光散射原理为基础）一、囊泡及脂质体 微胶囊技术在现代科技与日常生活中有重要作用，如药物、染料、纳米微粒和活细胞等都可以被包埋形成多种不同功能的微胶囊。利用动静态光散射表征技术，可以对微胶囊的几何形状、粒径大小和分子量大小进行表征，进而人为对微胶囊的囊壁组成和结构进行精确的控制与调控，从而调控微胶囊的各种性能。二、胶束的研究 胶束的大小、结构、温敏性、pH值敏感度等决定着胶束的性能及应用前景。而胶束体系DLS测量时具有明显的角度和浓度依赖性，将不同角度和不同浓度的DLS数据外推才能得到准确的扩散系数D0。三、聚电解质共聚物的研究 聚电解质具有高分子溶液的特性，例如粘度、渗透压和光散射等。由于它带有电荷，并且这三方面的性质又不同于一般的高分子。在光散射测量方面，通常把聚电解质溶解在一定浓度的盐溶液中，再在不同角度下测量样品光强，从来评价样品是否已被屏蔽掉库伦力影响。四、体系聚集与生长 由于体系的变化可以通过粒度、光强、扩散系数、相关曲线等的变化加以表征，所以通常我们可以用光散射的方法来表征，从而得到体系的聚集、解离以及生长等信息。如在蛋白质晶体生长过程中，连续采集其光散射信号，通过对其光强、粒度、扩散系数及相关曲线等变化数据进行对比与分析，了解蛋白质晶体生长的情况及其性能变化的情况。如外加温控设备可以进一步研究体系的相变温度等溶液行为。五、超高分子量聚合物的表征 超高分子量聚合物（如PAM、烯烃等）因其具有极高的粘度性，采用传统的测量方法（如GPC与光散射联用技术，粘度法等）难以保证准确性，而采用特殊匹配液池设计的广角光散射仪完全避免了管路堵塞、杂散光影响等问题，成为此类样品测量最适合的仪器。六、自组装影响组装体系稳定性的因素有：分子识别、组分、溶剂、温度及热力学平衡状况。而通过测定组装体系的扩散系数、粒径、分子量、均方根回旋半径，第二维利系数等变化，可以方便地表征自组装体系的这些性能。七、DLS和SLS技术还可以用来进行以下表征：1）微乳液2）液晶3）本体聚合物及晶体转变4）复杂聚合物与胶体体系蛋5）白质和DNA

技术参数 1、X射线发生器包括MM007HF，FR-X 2、光路单元，Pinhole、2Pinhole、3Pinhole系统可选3、样品台包括，GI-SAXA附件、变温附件（-150度～400度）、多功能样品台、真空、拉升4、半导体阵列2维探测器HyPix3000/6000 主要特点 最高水平的小角度分辨率（Qmin至0.02 nm-1）；NANOPIX高亮度、高功率X射线光源；NANOPIX完全自动化并由智能软件控制，专业而简便；NANOPIX支持多种条件下的复杂原位测试； 仪器介绍 Rigaku NANOPIX SAXS / WAXS测量系统是一种为纳米结构分析设计的新型X射线散射仪器。NANOPIX可以用于小角散射（SAXS）和广角散射（WAXS）测量，这使得可以实现从亚纳米到纳米级（0.1nm到100nm）的多尺度结构测量。使得实验室SAXS仪器实现了最高水平的小角度分辨率（Qmin至0.02 nm-1）。SAXS / WAXS具有广泛的实验范围，NANOPIX可在各种温度或湿度条件下进行测量，同时进行DSC（差示扫描量热法）测量，以及与特殊附件或其他外部设备组合进行测量。测量环境的控制对于功能材料的结构-性能关系的研究是必不可少的。 *价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请向销售工程师咨询。我们讲竭尽全力为您制定完善的解决方案。

小/广角X射线散射仪技术 （Small and wide angle X-ray scatterin, SWAXS散射仪) 用于纳米颗粒结构的测定 （大小，形态和分布），考虑到铜的辐射，一般我们说，衍射角小于5度，2 theta，样品可以是固体或液体。SAXS散射仪是一种非接触式的精确测量技术，仅仅需要少许的样品的制备，既可以用于科学研究，也可以用于工业质量控制，小角X射线衍射仪广泛用于到应用各种胶体，金属，水泥，粘土，油，聚合物，塑料，蛋白质，制药...为了响应客户的在纹理样品或小角散射测量的需求，我们特意研发了一种小角X射线散射/广角X射线散射（SAXS/WAXS)的仪器，这套小角X射线衍射仪具有强大的可伸缩性：样品与探测的距离可调可变，样品周围的空间足够大，可以安装温度室，旋转台等多种样品架，满足多种测量任务的需求。SWAXS散射仪,小/广角X射线衍射仪组成：X射线源，光学系统，探测器

仪器简介：SAXSpace（Small & Wide Angle X-Ray Scattering System）是奥地利安东帕公司研制开发的一种小角X-射线散射仪。是一款适用于SAXS,WAXS,GI-SAXS,Bio-SAXS等的模块化纳米结构分析仪。其角度范围为0.03-49nm^-1,对应的尺寸范围为0.13-200nm。在不改变仪器设置的情况下，SAXSpace可以同时测量小角和广角X-射线散射，所测的2θ 角度最大值为74°，是真正的小角与广角X-射线散射同时测量的仪器。SAXSpace可以测试几乎所有固体和液体样品。SAXSpace应用举例：表面活性剂和两亲性二嵌段共聚物的溶液：胶束尺寸，胶束形状，相行为，囊泡壁的内部结构等。生物材料：蛋白质在溶液中的形状和尺寸，内部结构，聚集状态，分子量等。分散体系：分散颗粒的形状和尺寸分布，分散体系的稳定性，颗粒集结成核现象，聚集状态等。纤维：内部结构，结晶度，取向度等。催化剂：比表面积，颗粒尺寸及分布，结晶度等。乳液：液滴的形状和内部结构，液滴的尺寸分布，不同温度时乳液的稳定性，胶囊试剂的传输动力学等。聚合物和纳米复合物：结晶度，周期性纳米结构，取向度等。液晶：周期性结构的尺寸和形状，取向度等。技术参数：测量范围：0.13 ~ 200 nmX-射线光源：标准：密封管（线聚焦和/或点聚焦），其它光源：可选。光束尺寸：线光源为20 × 0.3 mm2，点光源为0.3 × 0.3 mm2。工作电压：40 kV工作电流：50 mA样品量：固体只需几毫克，液体最少只需7微升。样品温度的可调节范围：-150 ~ 300 °C，灵敏度为± 0.1 °C。测试时间：1 ~ 60 min。主要特点：真正的小角与广角X-射线散射同时测量的仪器：0.13 ~ 200 nm。光路可自动进行调整。原位升降温和溶液测试。专业而且完备的数据处理软件。

产品介绍：Xeuss 3.0：实验室新一代全自动（掠入射）小角／广角超小角X射线散射线站，可以在透射或掠入射(GI-)模式下进行小角／广角X射线散射(SAXS/WAXS)测试以及超小角(USAXS)测试，获取各类样品全面的结构信息。主要特点：- SAXS/WAXS联用原位测试- 三轴全自动探测器- GISAXS/GIWAXS表征及数据处理- 无Beamstop数据采集- 二维散射图样和一维积分曲线实时动态显示- Virtual Detector模式得到更大的WAXS探测范围可获得的信息：- 粒子 / 孔洞形状- 尺寸 / 分布- 粒子 / 孔洞取向- 粒子相互作用- 粒子 / 基质界面- 分形 / 多级尺度- 自组装 / 长周期- 比表面积可研究的领域：- 纳米颗粒及胶体聚合物- 药物研发及配方- 化妆品及护理产品- 石油及天然气- 食品科学- 可再生能源- 无机材料

产品介绍：Xeuss 3.0：实验室新一代全自动（掠入射）小角／广角超小角X射线散射线站，可以在透射或掠入射(GI-)模式下进行小角／广角X射线散射(SAXS/WAXS)测试以及超小角(USAXS)测试，获取各类样品全面的结构信息。主要特点：- SAXS/WAXS联用原位测试- 三轴全自动探测器- GISAXS/GIWAXS表征及数据处理- 无Beamstop数据采集- 二维散射图样和一维积分曲线实时动态显示- Virtual Detector模式得到更大的WAXS探测范围可获得的信息：- 粒子 / 孔洞形状- 尺寸 / 分布- 粒子 / 孔洞取向- 粒子相互作用- 粒子 / 基质界面- 分形 / 多级尺度- 自组装 / 长周期- 比表面积可研究的领域：- 纳米颗粒及胶体聚合物- 药物研发及配方- 化妆品及护理产品- 石油及天然气- 食品科学- 可再生能源- 无机材料

产品介绍：Xeuss 3.0：实验室新一代全自动（掠入射）小角／广角超小角X射线散射线站，可以在透射或掠入射(GI-)模式下进行小角／广角X射线散射(SAXS/WAXS)测试以及超小角(USAXS)测试，获取各类样品全面的结构信息。主要特点：- SAXS/WAXS联用原位测试- 三轴全自动探测器- GISAXS/GIWAXS表征及数据处理- 无Beamstop数据采集- 二维散射图样和一维积分曲线实时动态显示- Virtual Detector模式得到更大的WAXS探测范围可获得的信息：- 粒子 / 孔洞形状- 尺寸 / 分布- 粒子 / 孔洞取向- 粒子相互作用- 粒子 / 基质界面- 分形 / 多级尺度- 自组装 / 长周期- 比表面积可研究的领域：- 纳米颗粒及胶体聚合物- 药物研发及配方- 化妆品及护理产品- 石油及天然气- 食品科学- 可再生能源- 无机材料

详细信息一、产品简介SJ2210小角度检定仪是一种高精度的小角度测量仪器，用于检定和校准框式水平仪、条式水平仪、合像水平仪、电子水平仪、自准直仪等仪器的角度示值误差。本仪器采用高精度进口光栅为主件的高精度长度计作为测量基准，替代原有以量块为测量基准的测量方法，减少影响测量结果的外在因素，操作简便、快捷，用户只需输入被检仪表的相关信息并按“开始检定”，仪器将按照规程自动生成标准角度，对被检定水平仪进行简单的操作，然后在触摸屏界面输入读取的被检表的示值误差或误差数据，仪器将自动计算检定数据，自动按规程判定检定结果。检定过程简单，检定效率明显提升。二、结构原理θ=arctg(H/L),由于θ很小，也可以写成θ=H/L（单位：弧度），其中L为两测微计间距为500mm。SJ2210小角度检定仪采用高精度光栅作为测量基准，通过控制电机升降产生标准角度Θ，被检角度与此角度Θ进行比较得出结果。仪器在接受“开始检定”命令后，依据被检件的信息自动选择对应相关规程的程序，形成每次检定点需要的标准角度，对被检水平仪进行简单操作，然后在触摸屏界面输入读取的被检表的示值或误差数据，检定完成后自动保存各检定点原始数据并自动计算检定结果。三、标准配置1、小角度发生装置1台；2、电脑管理软件1套1）检定软件名称及版本号：中图SJ2210小角度检定软件V3.02）检定软件说明：符合国家有关框式水平仪、条式水平仪、合像水平仪、电子水平仪、自准直仪的计量检定规程的检定软件。每条检定记录可单独输出检定报告，并能在数据库中迅速的被查询、打印。3、仪器电缆1套；4、产品使用说明书1份；5、产品合格证、保修卡1套.

激光散射属于光散射的重要分支，其特点在于利用激光作为光源。激光的最大优势在于极高的亮度、极小的发散角和优异的相干性，高亮度使激光散射信号远高于其他类型的散射技术；极小的发散角使激光散射非常适合进行小角散射研究，最大化该技术对表面轮廓和形状分布的灵敏度；优异的相干性使激光散射易于应用在动力学研究，即动态光散射。1、激光波长：350-800 nm2、功率：1-50 mW3、粒度测量范围：20 nm – 2 μm4、探测器类型：可选零维点探测器、一维阵列探测器、二维面探测器5、单次测量时间：0.1 s – 60 s6、样品环境：高低温（-196~300 °C）、真空、空气等应用领域：1、金属表面分析2、高分子薄膜3、溶液动力学

广角散射光测量仪DH软件标配功能：测试方式：可控制机器，在一次测试下完成ISO ASTM GB JIS 四种标准的测试数据显示数据图表：提供测试数据列表，为批量化检测提供数据列表，便于查看批量测试锯数据列表：提供测试列表数据分析列表，更直观的反应测试过程和批量测试样品状况透射比：测试显示内容包括T.T（全部透射比）、P.T（平行光透射比）广角散射及雾度、浊度：DIF(散射光透射比）、Haze(广角散射雾度值）、Trub(10mm比色皿浊度值）原始数据处理：支持数据导入和导出，保存为Txt文本的测试原始数据。标准自动判断：支持excel测试列表导出，同时可按选择的各种标准独立导出。标准报告：支持眼镜耐磨性能PDF报告，雾度值测试PDF报告客户化修正值：提供用户自定义修正数值功能净重：净重20kg使用环境：15°~40℃，低于80% R.H.(无冷凝）功率：25W（VA）,待机功率10W外接控制：可选配脚踏开关或快捷按键电源：88~264V AC|47~63Hz或125~373V DC精度+重复性测试数值可选配0.001%显示；重复性测试连续30次偏差不超过0.03%**重复性受环境温度影响**ρV反射比 d/d方式反射率测试，等同di/8°几何条件。含镜面反射的测试SCI.广角散射均匀度自动每90°旋转测试4方向计算出Haze均匀值。**仅DF-1R 型号**

追求卓越让美景尽收眼底欧尼卡Onick EYESKY天眼望远镜结构紧凑，轻量便携，8.2°广角大视场，大目镜，成像清新明亮，无暗边。FMC多层镀膜，还原画面真实感，BAK4棱镜，成像锐利。大调焦手轮，配有防滑凹槽设计阻力适中，可单手调焦，使用更加舒适。融入完美的人体工学设计，让您更舒适的观察，享受令人印象深刻的视觉体验直到黄昏。一、产品特性：超大调焦手轮，设计紧凑时尚；8.2°广角大视场，大目镜，成像清新明亮，无暗边；超大视野，更舒适的观察目标，高清微光夜视；FMC层镀膜、BAK-4棱镜材质，成像锐利，观看画面清晰锐利。运用领域：户外旅游、野外探险、体育赛事、观演唱会、电力安全巡查、林业调查、安防警用、军事巡视、工业巡查、航海观察、考古研究、铁路选线、国土资源调查等。二、产品参数：放大倍数：8x物镜口径：40mm目镜口径：25mm物镜镀膜：FMC多层镀膜目镜镀膜：FMC多层镀膜棱镜材质：BAK4调焦方式：中央调焦 产品尺寸：高140x宽180mm产品重量：740g产品配件：望远镜、防尘物镜盖、防尘目镜盖、便携包、背带、擦镜布、说明书、保修卡

安徽国科仪器小角X射线散射仪产品介绍：SAXSFocus高性能X射线散射系统，提供原子到纳米尺度的结构、形貌以及界面信息。配备的高通量X射线光源和精密准直镜，确保短时间内获得高质量的散射谱数据。兼容多种样品架以及原位台，智能判断实验需求，轻松实现不同模式切换，批量测试，提高测试效率。 SAXSFocus 3.0技术参数X射线源靶材微焦斑点光源Cu，可选靶材: Mo, Ag等，支持双靶切换液态金属靶光源Ga，可选靶材In（多混合比例） X射线光学聚焦镜多层膜单次反射聚焦镜无散射狭缝准直系统无寄生散射，光斑大小可实时，联系、自动调整样品架/样品台常规样品台样品台在垂直于入射光路的X/Z（水平/竖直）方向自动移动的行程：±75 mm精度不低于 1 μm，样品可精确对中；同时样品台X轴和Z轴，可沿着Y（光路）方向自动移动的行程±75 mm粉末样品架40/60位粉末自动进样器毛细管液体样品架30位毛细管自动进样器固体样品架30位固体自动进样器多维度样品台X /Y /Z 轴行程±75 mm，精度1 μm；Omega转角- 3°~ + 5°，Ry转角± 3°，精度0.001°；Phi转角330°，精度0.001°其他原位样品台支持在各种原位环境下（温度、拉伸、梯度）等进行测试探测器二维硅阵列单光子计数探测器连续读出，无死时间，无读出噪音或暗电流像素 75 μm × 75 μm动态范围32 bits散射光路类型真空散射管腔，探测器沿入射光路方向可全程自动移动SD距离30 mm-6000 mm可测散射矢量q0.007 nm-1 ~ 50 nm-1分辨率（Cu 靶）SD距离（mm）qmin（nm-1）qmin（nm-1）*(BS=1.5 mm)尺度（nm）*无BS300.521.35000.0250.1225.111000.0120.05552.327000.0050.022125.660000.0010.01628.0应用领域小角X射线散射（Small-Angle X-ray Scattering，SAXS）是一种重要的结构表征手段，可以研究物质的微观结构和形态，应用领域包括但不限于： 生物医学研究：用于蛋白质、DNA、RNA等生物大分子的结构和功能研究，为药物研发、细胞生物学以及病理学等领域的研究提供重要的结构信息数据； 材料科学：应用领域涵盖高分子材料、纳米材料、陶瓷材料、金属和合金材料、复合材料、多孔材料以及薄膜材料等； 地球科学：可以用于研究地球内部物质的微观结构和性质，例如对岩石的微观结构和成分研究，可了解地球内部物质的物理化学特性和演化历史； 化学研究：用于研究各种化学反应的动力学过程及产物结构的演变规律。

产品简介：广角激光光散射仪采用TurboCorr数字相关器，通过动态光散射的方法可以测量小至1nm的纳米颗粒分布情况，通过静态光散射的方法可测量高分子材料的Zimm、Berry、Debye曲线、分子量、均方根回旋半径及第二维里系数。经国内外众多顶级实验室使用，证明BI-200SM是研究聚合物、胶束、微乳液以及复杂溶液等体系最理想的测试仪器。详细说明：主要功能1.动态光散射（DLS）功能 动态光散射又被称为光子相关谱法（PCS）或者准弹性光散射法，该方法使用自相关方程，自相关方程中包含了悬浮颗粒或者溶液中高分子的扩散系数的平均值及其分布等信息。从扩散系数的分布中可以得到：1）粒度大小及其分布2）其它动力学参数2.静态光散射（SLS）功能 对于悬浮于液体中的颗粒，利用Mie散射形成光强与角度的函数关系，从而得到颗粒粒度大小与形状的信息。对于高分子溶液，光强与角度、浓度形成的依赖关系（即浓度依赖性与角度依赖性），利用Zimm图（或其他类似的方法）可以得到以下参数：1）Mw绝对重均分子量2）Rg均方根回旋半径或均方末端矩3）A2第二维里系数典型应用1.囊泡及脂质体 微胶囊技术在现代科技与日常生活中有重要作用，如药物、染料、纳米微粒和活细胞等都可以被包埋形成多种不同功能的微胶囊。利用动静态光散射表征技术，可以对微胶囊的几何形状、粒径大小和分子量大小进行表征，进而人为对微胶囊的囊壁组成和结构进行精确的控制与调控，从而调控微胶囊的各种性能。2.胶束的研究 胶束的大小、结构、温敏性、pH值敏感度等决定着胶束的性能及应用前景。而胶束体系DLS测量时具有明显的角度和浓度依赖性，将不同角度和不同浓度的DLS数据外推才能得到准确的扩散系数D0。3.聚电解质共聚物的研究 聚电解质具有高分子溶液的特性，例如粘度、渗透压和光散射等。由于它带有电荷，并且这三方面的性质又不同于一般的高分子。在光散射测量方面，通常把聚电解质溶解在一定浓度的盐溶液中，再在不同角度下测量样品光强，从来评价样品是否已被屏蔽掉库伦力影响。4.体系聚集与生长 由于体系的变化可以通过粒度、光强、扩散系数、相关曲线等的变化加以表征，所以通常我们可以用光散射的方法来表征，从而得到体系的聚集、解离以及生长等信息。如在蛋白质晶体生长过程中，连续采集其光散射信号，通过对其光强、粒度、扩散系数及相关曲线等变化数据进行对比与分析，了解蛋白质晶体生长的情况及其性能变化的情况。如外加温控设备可以进一步研究体系的相变温度等溶液行为。5.超高分子量聚合物的表征 超高分子量聚合物（如PAM、烯烃等）因其具有极高的粘度性，采用传统的测量方法（如GPC与光散射联用技术，粘度法等）难以保证准确性，而采用特殊匹配液池设计的广角光散射仪完全避免了管路堵塞、杂散光影响等问题，成为此类样品测量最适合的仪器。6.自组装 影响组装体系稳定性的因素有：分子识别、组分、溶剂、温度及热力学平衡状况。而通过测定组装体系的扩散系数、粒径、分子量、均方根回旋半径，第二维利系数等变化，可以方便地表征自组装体系的这些性能。7.DLS和SLS技术还可以用来进行以下表征：1）微乳液2）液晶3）本体聚合物及晶体转变4）复杂聚合物与胶体体系蛋5）白质和DNA技术参数1.粒度范围：1nm-6um2.分子量范围：500～109Dalton3.分子大小范围：10～1000nm4.角度范围：8-162°,±0.01°5.温控范围：-20 ～ 80℃（选件-20 ～ 150℃），± 0.1℃6.滤光片轮：632.8nm, 532nm, 514.5nm，488nm7.孔径轮：100 um,200 um,400um,1 mm,2 mm,3mm

GRAND-EOS™ 广角超光谱相机 GRAND-EOS™ 将高光谱显微镜系统与高光谱宽视场成像平台相结合，可以访问具有VNIR（400-1000 nm）和SWIR（900-1620 nm）范围的微观和宏观模式。特点：连续可调从400 nm到1620 nm的灵敏度非分散技术高性能CCD电动对焦控制和分析软件应用领域采矿、石油和天然气公司 基于Photon公司的高光谱技术， Photonic Knowledge的Core Mapper™ 可在用户指定的波长下提供一系列单色图像，从而提供即时 的原位 矿物识别。皮肤病学 Photon公司的高光谱宽视场摄像机可以绘制组织中的氧气，脱氧血红蛋白，黑色素和血红蛋白的图，从而有助于诊断和监测治疗方法，包括在皮肤病学临床研究中。环境与农业 高光谱影像可以通过分析其特征光谱来有效地识别任何类型的分子。如需索取更多资料请联系佰泰科技有限公司电子邮件联系电话：或直接联系 常经理

带广角摄像头、激光秤和LED灯的水动力成像拖车系统。可选的高度计、声纳和CTD可添加到此拖曳包中。其他选项包括用于海底评估的恒定接触（CC）组件，因为在海床附近拖曳至关重要。CC型使用浮标提供升力和拖曳链，以保持与海床的一致接触。两个单元可在100米电缆的租赁池中使用

可变角度光散射仪（广角动/静态光散射仪）用于颗粒表征。LS Spectrometer是一种可变多角度光散射仪器（V-MALS）。在LS Spectrometer中，检测器安装在可移动的臂上，可以对几乎任何角度进行精确调整，从而提高测量灵敏度。LS Spectrometer结合专利的调制三维技术（Modulated 3D）（无稀释测量）和CORENN（改进的聚集检测），实现了市场上全面的纳米颗粒表征。- 它能测量什么？&bull 颗粒大小&bull 多分散性&bull 颗粒形状&bull 粘度&bull 分子量&bull 样品结构- 可变多角度光散射（V-MALS）与带有固定角度传感器的多角度光散射（MALS）仪器不同，LS Spectrometer的检测器安装在样品池周围的旋转臂上，因此可以精确可变地调整到10°至150°之间的任何选定散射角。这有助于显著提高颗粒大小、聚集检测、第二维里系数、颗粒形状或分子量等参数测量的灵敏度。 - 无稀释样品测量-调制三维技术（Modulated 3D）DLS和SLS技术都是基于仅检测到单次散射光的假设。然而，随着颗粒浓度的增加，多重散射增加并逐渐主导信号。这在DLS和SLS中都引入了无法检测的系统误差。无论重复测量多长时间或多少次，都无法消除或检测到此错误。为了克服这个问题，LS Instruments开发了可选的调制三维技术，可以有效抑制多重散射。调制三维互相关技术使用两个激光束同时进行两个散射实验，虽然单次散射的贡献是相同的，但在两个实验中多重散射的贡献不同。通过对信号进行互相关，从而抑制了多重散射。三维 LS Spectrometer是一款同时为DLS和SLS提供该技术的仪器。- 算法用于改进复杂样品中的聚集和颗粒检测CORENN算法是一种新的机器学习算法，用于从DLS测量中提取粒度分布（PSD）。CORENN是一种利用先进的信号近似技术和对信号噪声的独特理论估计的DLS反演算法，可以得到极其可靠的结果。这种稳健的方法使最终用户能够从真实的DLS实验中获得真实的粒度分布（PSD）。下图显示了4nm和45nm的颗粒混合物的DLS测量结果，只有CORENN算法能够准确得到这两个分布。- 用去偏振动态光散射（Depolarized DLS）表征各向异性粒子这是一种可以轻松地表征各向异性粒子的技术，并越来越受到科学家的关注：一组两个偏振器可以通过简单的DLS测量来表征样品的旋转动力学和各向异性粒子的纵横比。- 温度控制我们强大的温度循环器使您能够精确控制样品中的温度。与其他循环器相比，它显著减少了加热和冷却时间。它可以通过LsLab软件进行预编程，以实现不同温度下的一系列测量。- 样品转角仪许多适用于光散射的凝胶状样品显示出非遍历（non-ergodic）行为，从而导致测量误差。LS Instruments公司开发了一种样品转角仪，可以用适当的速度旋转非遍历样品，以获得正确的结果。此外，样品转角仪也可用于使样品偏离旋转中心，从而能够使用方形样品池，样品中散射光的光程可以减少到小于200微米，这显著减少了多重散射。

SAXSpace纳米结构分析仪（X-射线结构分析）使用小角和广角X-射线散射(SAXS/WAXS) 方法研究纳米结构，研究对象包括蛋白质、食品、药品、聚合物和纳米复合材料、纳米粒子和催化剂等。样品：液体、固体、粉末、薄膜、纤维、膏状体、纳米结构表面粒径、体积：最大 100 nm（间距 200 nm），最小 10 μL温度范围：-150 °C到300 °C

仪器介绍 理学标准型全自动X射线衍射仪D/max-2600/PC继承了理学D/max系列X射线衍射仪的特点。 D/max系列X射线衍射仪一直是业界标准，许多X晶体学家伴随着D/max一起成长，D/max也陪伴着晶体学家而发展，D/max系列衍射仪一直是晶体学家的好帮手。 技术参数1. X射线发生器功率为9KW（新型旋转阳极靶） 2. 广角测角仪可配垂直式或卧式 3. 广角测角仪最小步进为1/10000度 4. 广角测角仪配程序式可变狭缝 5. 广角测角仪包括聚焦光路及平行光路，转换方便 6. 高反射效率的石墨单色器 7. 高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下） 8. 全自动调整（使用专用调试工具及软件），保证数据标准化 9. 分析软件齐全 10. 附件齐全 主要特点 标准型全自动X射线衍射仪D/max-2600/PC配上相应的附件，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有： 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld结构分析 5. 薄膜样品的物相分析 6. 织构分析 7. 应力分析 8. 小角散射与纳米材料粒径分布 9. 高温、超高温、低温、超低温、中低温、原位反应、温湿度、充放电、强磁场等在现分析

仪器简介：采用TurboCorr数字相关器，通过动态光散射的方法可以测量小至1nm的纳米颗粒分布情况，通过静态光散射的方法可测量高分子材料的Zimm、Berry、Debye曲线、分子量、均方根回旋半径及第二维里系数。经国内外众多顶级实验室使用，证明BI-200SM是研究聚合物、胶束、微乳液以及复杂溶液等体系最理想的测试仪器。技术参数：1.粒度范围：1nm-6um2.分子量范围：500～109Dalton3.分子大小范围：10～1000nm4.角度范围：8-162° ,± 0.01° 5.温控范围：-20 ～ 80℃（选件-20 ～ 150℃），± 0.1℃6.滤光片轮：632.8nm, 532nm, 514.5nm，488nm7.孔径轮：100 um,200 um,400um,1 mm,2 mm,3mm主要功能：1.动态光散射（DLS）功能 动态光散射又被称为光子相关谱法（PCS）或者准弹性光散射法，该方法使用自相关方程，自相关方程中包含了悬浮颗粒或者溶液中高分子的扩散系数的平均值及其分布等信息。从扩散系数的分布中可以得到：1)粒度大小及其分布2) 其它动力学参数2.静态光散射(SLS）功能： 对于悬浮于液体中的颗粒，利用Mie散射形成光强与角度的函数关系，从而得到颗粒粒度大小与形状的信息。 对于高分子溶液，光强与角度、浓度形成的依赖关系（即浓度依赖性与角度依赖性），利用Zimm图（或其他类似的方法）可以得到以下参数：1）Mw绝对重均分子量2）Rg均方根回旋半径或均方末端矩3）A2第二维里系数主要应用：高分子特性研究（以动静态、静态光散射原理为基础）一、囊泡及脂质体 微胶囊技术在现代科技与日常生活中有重要作用，如药物、染料、纳米微粒和活细胞等都可以被包埋形成多种不同功能的微胶囊。利用动静态光散射表征技术，可以对微胶囊的几何形状、粒径大小和分子量大小进行表征，进而人为对微胶囊的囊壁组成和结构进行精确的控制与调控，从而调控微胶囊的各种性能。二、胶束的研究 胶束的大小、结构、温敏性、pH值敏感度等决定着胶束的性能及应用前景。而胶束体系DLS测量时具有明显的角度和浓度依赖性，将不同角度和不同浓度的DLS数据外推才能得到准确的扩散系数D0。三、聚电解质共聚物的研究 聚电解质具有高分子溶液的特性，例如粘度、渗透压和光散射等。由于它带有电荷，并且这三方面的性质又不同于一般的高分子。在光散射测量方面，通常把聚电解质溶解在一定浓度的盐溶液中，再在不同角度下测量样品光强，从来评价样品是否已被屏蔽掉库伦力影响。四、体系聚集与生长 由于体系的变化可以通过粒度、光强、扩散系数、相关曲线等的变化加以表征，所以通常我们可以用光散射的方法来表征，从而得到体系的聚集、解离以及生长等信息。如在蛋白质晶体生长过程中，连续采集其光散射信号，通过对其光强、粒度、扩散系数及相关曲线等变化数据进行对比与分析，了解蛋白质晶体生长的情况及其性能变化的情况。如外加温控设备可以进一步研究体系的相变温度等溶液行为。五、超高分子量聚合物的表征 超高分子量聚合物（如PAM、烯烃等）因其具有极高的粘度性，采用传统的测量方法（如GPC与光散射联用技术，粘度法等）难以保证准确性，而采用特殊匹配液池设计的广角光散射仪完全避免了管路堵塞、杂散光影响等问题，成为此类样品测量最适合的仪器。六、自组装影响组装体系稳定性的因素有：分子识别、组分、溶剂、温度及热力学平衡状况。而通过测定组装体系的扩散系数、粒径、分子量、均方根回旋半径，第二维利系数等变化，可以方便地表征自组装体系的这些性能。七、DLS和SLS技术还可以用来进行以下表征：1）微乳液2）液晶3）本体聚合物及晶体转变4）复杂聚合物与胶体体系蛋5）白质和DNA

MYTHEN2 X射线探测器 MYTHEN探测器系统完全改变了X-射线粉末衍射晶体学的标准定义，呈现出另一个层面：成像时间。这一令人振奋的新领域与MYTHEN2 X 探测器完美结合，开启了时间分辨和现场研究的新纪元。基于MYTHEN的条带尺寸和点扩散函数， MYTHEN2 X 在最高动态范围内引入了前所未有的帧速率，挑战了能量范围的极限。带有电子门控和外部触发的探测器控制系统（DCS4）兼顾了定制化的多模块解决方案以及与其他系统完全同步的探测器。时间层面并不是促使数据质量和系统灵活性之间的平衡主要因素，无论从现场应力测量到快速相变，MYTHEN2 X深化了其细节，并能够在固态反应中进行观察。 MYTHEN2 X 探测器是为对速度和数据质量无任何限制的高要求的用户而设计的。现在是你该采取行动了。核心优势- 帧率为1000HZ - 两个模块组合：1280和640数据带- X-射线能量低至4keV的短数据带- 适用于PDF测量的厚传感器- 多模块系统满足您的要求- 外观为对称设计,小巧紧凑，- 无需维护和载体史无前例的速度 MYTHEN2 X 探测器使用4个模块组合，其帧率能达到1000赫兹，并保持其动态范围在24位。这些新进展并不要求数据质量的平衡。MYTHEN的50微米的线带可使用两个长度，确保X-射线能量范围的高分辨率和最佳信噪比。自定义形状的灵活系统 全能型MYTHEN2 X系列探测器采用了3个厚传感器和两个长数据带的HPC技术，涵盖了在4和40keV中所有X-射线分析的需求。在设计的MYTHEN2模块适用于两种尺寸：1280带线的MYTHEN2 R 1K 和640带线的MTHEN2 R 1D。 MYTHEN2 R探测器以其紧凑型尺寸和相对称的传感器结构适用于任何衍射仪，无论是紧凑空间，还是多模块系统设置的需求，4个模块的系统可适用于任何您想要的设备形状，并能通过使用探测器控制系统DCS4进行同时操作。应用- 时间分辨试验- X射线粉末衍射和散射技术- 残余应力测量- 薄膜与纹理分析- PDF分析- 小角X射线散射、广角X射线散射、掠入射的小角散射- 色散荧光光谱4毫米长数据带实现低能耗 320微米厚的传感器和4毫米线带的完美结合，确保了高量子效率和最佳信噪比，使能量低至4keV. 整合荧光抑制作用和无暗流等特点，MYTHEN2系统确保X射线衍射应力测定和X射线衍射残余奥氏体的测定精度精确到毫秒级别。低于4KeV的X-射线能仅适用于320微米X 4毫米的传感器。型号如有变更，将另行通知。

DECTRIS混合像素X射线探测器EIGER2 R 500K1、产品特点： EIGER2 R 500为实验室衍射提供了最佳的解决方案。 到目前为止，所有的探测器都要求在像素大小、有效面积、最大计数率、低能量和高能量识别能力之间进行权衡。 混合光子计数EIGER2 R 500K探测器结合了高分辨率的小像素，高效的数据采集有效区域以及无与伦比的计数率，可以把测量的精确度提高到极致。 双能量识别与同时读出功能相结合，可同时实现广泛的背景抑制和高动态范围。 高帧率使仪器制造商能够提供复杂的0D，1D和2D数据采集模式。 所有这些优点都瑞士DECTRIS公司经过长期验证和创新所获得的独有的性能，这款探测器的可靠性、免维护的表现也处于行业领导地位。2、核心优势： - 具有高空间分辨率的大活动区域 - 高级计数率 - 高的动态范围 - 高效抑制荧光，宇宙和白色辐射 - 免维护3、应用领域 - 单晶衍射 - X射线粉末衍射 - X 射线小角散射SAXS / 广角度X射线散射（WAXS) 4、技术参数：EIGER2 R 500K像素大小 [μm2]75 x 75总像素数量1030 x 514=529,420有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.7探测器厚度 [μm]450点扩散函数 [pixel]1（FWHM）能量辨别阈值2阈值能量 [keV] 4-11计数器深度 [bit/threshold]2x16最大计数率 [cps/mm2]3.6 x 108采集模式同时读写/零死区时间动态范围 [bit] 32最大帧频 [Hz]40尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93重量 [kg]1.8

EIGER2 R混合像素光子计数X射线探测器进口二维双能阵列光子计数衍射仪X射线探测器1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R250K500K1M4M探测器模块数量111 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]38.4 x 38.477.2 x 38.677.1 x 79.7155.1 X 162.2像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）3.5-30最大计数率（cps/mm2）6.9×108计数器深度（bit/threshold）2×16最大帧速率 [Hz]505010020采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.81.84.715

瑞士进口EIGER2 R 250K二维面阵2D衍射仪X射线探测器1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R250K500K1M4M探测器模块数量111 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]38.4 x 38.477.2 x 38.677.1 x 79.7155.1 X 162.2像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）3.5-30最大计数率（cps/mm2）6.9×108计数器深度（bit/threshold）2×16最大帧速率 [Hz]505010020采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.81.84.715

1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R500K1M4M探测器模块数量11 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.677.2 x 79.9155.2 X 162.5像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）4-113.5-30 3.5-30最大计数率（cps/mm2）3.6×108计数器深度（bit/threshold）2×16采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.83.915

EIGER2 R混合像素光子计数X射线探测器 1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R250K500K1M4M探测器模块数量111 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]38.4 x 38.477.2 x 38.677.1 x 79.7155.1 X 162.2像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）3.5-30最大计数率（cps/mm2）6.9×108计数器深度（bit/threshold）2×16最大帧速率 [Hz]505010020采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.81.84.715

EIGER2R双能乳腺X射线光子计数成像仪探测器1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R500K1M4M探测器模块数量11 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.677.2 x 79.9155.2 X 162.5像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）4-113.5-30 3.5-30最大计数率（cps/mm2）3.6×108计数器深度（bit/threshold）2×16采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.83.915

1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R500K1M4M探测器模块数量11 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.677.2 x 79.9155.2 X 162.5像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）4-113.5-30 3.5-30最大计数率（cps/mm2）3.6×108计数器深度（bit/threshold）2×16采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.83.915

1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R500K1M4M探测器模块数量11 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.677.2 x 79.9155.2 X 162.5像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）4-113.5-30 3.5-30最大计数率（cps/mm2）3.6×108计数器深度（bit/threshold）2×16采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.83.915

1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R500K1M4M探测器模块数量11 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.677.2 x 79.9155.2 X 162.5像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）4-113.5-30 3.5-30最大计数率（cps/mm2）3.6×108计数器深度（bit/threshold）2×16采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.83.915