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相对光谱能量分布

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  • 光谱角分布测量系统■ 全波段光谱透过率测量,反射角分布测量■ 全波段光谱反射率测量,反射角分布测量■ 波长范围:200nm-IR■ 不同的光谱范围可能需要不同的光学光路设计结构■ 双层平台独立旋转,重复定位精度0.005度,分辨率0.00125度;■ 样品置于上层旋台,探测器置于下层旋台,样品和探测器可以任意角度工作;■ 台面上放置一个五维调整镜座,可将样品调整到旋台的旋转中心并且垂直于台面■ 功能扩展:测量光栅衍射效率
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  • 能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面,元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪,针对一些珍贵的材质,可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图,实现测量点的准确定位,拥有直观的硬件和分析软件,加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美,具有1毫米的激光定位分析点,内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上,完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大,样品台可以快速移动的设计,从而检测速度fei常快,此外,控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器(SDD) 6、采用先进的探测器技术,能量分辨率140eV(MnKα),并具有高输出计数率(OCR),可实现快速分析,同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构,可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳,滤波片和准直器,为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上,使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何,三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择,满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台,完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究,艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描,使用户免于运输,避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品,拥有先进的元素分布图和光谱解析功能,可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料,可以通过移动扫描获得元素分布,从而扩展了这些材料的应用,从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置,直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野,教室或实验室中的物体和材料.
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  • 一、荧光分布成像系统(EEM View)简介 作为荧光分光光度计的配件系统,这是全球首创将相机与荧光分光光度计的完美结合,融合了智能算法的先进技术。能够同时获取样品图像和光谱信息。 新型荧光分布成像系统可安装到日立F-7000/71000荧光分光光度计的样品仓内。入射光经过积分球漫反射后均匀照射到样品,利用荧光光度计标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱,积分球下方的CMOS相机可获得样品图像,并利用独特的AI光谱图像处理算法,可以同时得到反射和荧光成分图像。 二、 荧光分布成像系统特点: 1. 可以全面测定样品的光谱数据(反射光、荧光特性)在不同光源条件下(白光和单色光)拍摄样品图像,(区域:Φ20mm、空间分辨率:0.1 mm左右、波长范围:360-700nm),同时利用先进的光谱算法,分别显示荧光图像和反射图像, 根据图像可获得不同区域的光谱信息(荧光光谱、反射光谱)荧光分布成像系统软件分析(EEM View Analysis)界面(样品:LED电路板)2. 样品安装简单,适用于各种样品测试样品只需摆放到积分球上,安装十分简单!丰富的样品支架支持精确测量的校正工具 荧光分布成像系统是一种全新的技术,将它配置到荧光分光光度计中,改变了常规荧光光度计只能获得样品表面区域平均化信息的现状,可以查看样品图像任意区域的光谱信息,十分适合涂料、材料、油墨、LED、化工等领域。
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  • 显微光分布测试系统 随着半导体照明的进一步快速和深入发展,LED在道路照明、室内照明、汽车灯、手提灯具等多个领域等到了越来越广泛的应用,同时,业界对LED灯具的二次光学设计以及利用LED灯具的空间光度数据进行照明设计的要求也越来越高。作为LED产品的心脏,LED光源的光品质就显得尤为重要!LED光源的主要功能是把电能转化成光能,而当前,芯片厂和灯珠厂在LED光源设计过程中,仅仅是针对光源进行相对简单的测量,获得整体的亮度、波长和电压等参数。而实际上,由于电极设计、芯片结构、封装方式等方面的影响,光源表面的亮度和颜色并不是均匀分布的,传统的光源测量方式并不能精确地描述光源表面这种空间光分布的特点,这样容易导致光源出现色度和亮度不均匀、光源整体效率低等问题,甚至导致光源失效。因此很有必要利用显微光分布测试系统对光源进行发光均匀度测试来优化光源设计,同时也为LED光源的二次光学设计提供更为准确、详尽的数据。针对以上情况,金鉴实验室联合英国GMATG公司联合推出显微光分布测试系统,主要用于测试光源的发光均匀性,帮助提高光品质。现已演化到第五代,而且价格从150万降到几十万!金鉴显微光分布测试系统针对LED及其他光电器件产业打造,可用于观察微米级发光器件的光分布,测试波长范围190nm ~1100nm,包含了紫外和红外不可见光的测试,可用于测量光源的光强分布、直径、发散角等参数。通过CCD测量光强分布,通过算法计算出光源直径等参数,测量光强的相对强度,不需要使用标准灯进行校准。适合光电器件及照明相关领域的来料检验、研发设计和客诉处理等过程,以达到企业节省研发和品质支出的目的。金鉴实验室自主研发的主要设备有显微红外热分布测试系统、显微红外热点定位系统和激光开封系统。产品获得中科院、暨南大学、南昌大学、华南理工大学、华中科技大学、士兰明芯、清华同方、华灿光电、三安光电、三安集成、天电光电、瑞丰光电等高校科研院所和上市公司的广泛使用,广受老师和科研人员普遍赞誉。性能卓著,值得信赖。应用领域:适用于LED芯片、LED灯珠灯具、面板灯、汽车照明灯、LCD显示屏、激光器及其他光电器件的来料检验、研发设计和客诉处理等过程,助力LED芯片设计优化、光源的光线追迹及发光均匀性测量。与近场光学测试设备相比,金鉴显微光分布测试系统优点显著: 近场光学设备与金鉴显微光分布探头对光敏感度差异对比:金鉴显微光分布探头对光敏感度较高,能分辨细小的光强差异,因此成像也更细腻。金鉴显微光分布与传统设备大PK:金鉴显微光分布测试系统可模拟工作温度进行测试,分辨率可达1微米,其具有3D功能,可观测芯片出光效果。金鉴显微光分布测试系统特点:1. 探测器感应波长为190nm-1100nm,覆盖深紫外到近红外光。不同波长光源的光分布图 2. 与光学显微镜搭配,可观察微米级发光器件,图像具备2D和3D显示功能,表现效果更加强烈金鉴显微光分布测试系统的分辨率取决于与之搭配的光学显微镜的分辨率,即如果显微镜能1000倍放大,金鉴显微光分布测试系统也可以观测到1000倍率下的光分布细节。与可见光类似,像素越高画面越清晰越细腻像素越多同时获取的温度数据越多。金鉴GMATG 传感器像素640×595。 3. 独特的遮光设计,杜绝背景光影响,测量更加精准光分布探头接收的是视野内所有的光信号,包括被测样品发射的光以及环境反射光。光分布软件虽然具有背景光扣除功能,但是在测试过程中,环境的变化会导致环境反射光强度的变化,造成测试不准确。金鉴显微光分布测试系统,具备独特的遮光罩设计,隔绝了环境光的影响,大大增加了测试的准确性。如下图所示,在不使用遮光罩的情况下,受环境光变化的影响,芯片光分布图部分区域异常偏暗;在使用遮光罩后,彻底屏蔽了环境光的影响,光分布图异常偏暗区域消失。 4. 高精度控温系统,可实现光源在不同温度下光分布的测试光电器件性能受温度的影响较大,脱离实际环境所测试的结果准确性较差,甚至毫无意义。金鉴自主研发的显微光分布测试系统配备高低温数显精密控温平台,控温范围:室温~200℃,能有效稳定环境温度,实现光源在不同温度下光分布的测试,对定位光源最适宜的工作温度可提供最直观有效的数据。配备的水冷降温系统,在100s内可将平台温度由100℃降到室温,有效解决了样品台降温困难的问题。 如下图所示不同工作温度下的LED芯片发光均匀度对比,同一芯片,工作状态温度越高,亮度越低!温度越高,光衰趋势越大。支架引脚温度由80℃升高到120℃,LED芯片发光强度衰减30.6%。 LED芯片发光强度随温度上升而下降5. 定制化的光分析软件金鉴定制分析软件GM LED NF Analyzer,具有自动影像采集控制、实时影像、对位过程屏上显示、设置多重帧自动采集、灰阶与色彩数值显示、记录环境影像提供校正等多重功能,方便做各个维度的光强分布数据分析和图像效果处理,为科研及分析提供更专业的数据支持。(1)提供2D、3D光束分布显示和轮廓分析。 (2)通过CCD测量光强分布,通过算法计算出光源直径等参数。测量光强的相对强度,不需要使用标准灯进行校准。 (3)OSI彩虹及不同灰阶调色板,满足客户个性化的显示需求。 (4)扣除背景光干扰,增加测试精准度。 (5)可导出光分布图全部像素点的光强数据值,为专业仿真软件分析提供原始建模数据。 (6)自定义报告模式,测试报告一键展现;测试结果即时分享,高效协同。 测试案例:案例一:芯片电极设计对光分布的影响对某LED芯片电极图案进行评估,如下图所示,芯片的发光不均匀,区域1的亮度明显过高;相反地,区域2的LED量子阱却未被充分激活,降低了芯片的发光效率。对此,金鉴建议,可以适当增加区域1及其对称位置的电极间距离或减小电极厚度来降低区域1亮度,也可以减少区域2金手指间距离或增加正中间正极金手指的厚度来增加区域2亮度,以达到使芯片整体发光更加均匀的目的。 LED芯片发光效果图案例二:芯片金道设计对光分布的影响下图中芯片左边为两个负电极,右边为两个正电极,其中,区域1、2亮度较低,电流扩展性不够,需提高其电流密度,建议延长最近的正电极金手指以提升发光均匀度。区域3金手指位置的亮度稍微超出平均亮度,可减少金手指厚度来改善电流密度,或者改善金手指的MESA边缘聚积现象,另外,也可以增加区域3外的金手指厚度,使区域3外金手指附近的电流密度增加,提升区域3外各金手指的电流密度,以上建议可作为发光均匀度方面的改善,以达到使芯片整体发光更加均匀的目的。在达到或超过了芯片整体发光均匀度要求的前提下,可考虑减小金手指厚度来减少非金属电极的遮光面积,以提升亮度。甚至,可以为了更高的光效牺牲一定的金手指长度和宽度。 LED芯片发光效果图 案例三:光分布3D模块测试评估芯片光提取效率金鉴显微光分布3D测试模块可以观察芯片各区域的出光强度,填补芯片的光提取效率测试空白。下图垂直结构芯片采用了多刀隐切工艺,芯片侧面非常粗糙,粗糙界面可以反射芯片侧面出射的光,提高芯片的光提取效率。从该芯片的3D光分布图中可以直观的看到,该芯片边缘出光较多,说明多刀隐切工艺对芯片出光效率的提升显著。案例四:显微光分布测试帮助定位最高效率的电流电压金鉴显微光热分布系统,可帮助客户避免过度超电流,准确定位最高效率下的电流电压!如下案例中,芯片额定电流为60mA,超额定电流90mA下点亮时,芯片温度大大提高,亮度反而出现衰减。过度的超电流,LED芯片产热严重,光产出并不会增加,甚至出现光衰。 案例五:显微光分布测试系统应用于LED芯片失效分析失效的LED芯片必然在光热分布上漏出蛛丝马迹!某灯珠厂家把芯片封装成灯珠后,老化出现电压升高的现象。金鉴通过显微光分布测试系统发现芯片主要在正极附近区域发光。因此,定位芯片正极做氩离子截面抛光,发现正极底部SiO2层边缘倾角过大,ITO层在台阶位置出现断裂、虚接现象,ITO层电阻过大,电流扩散受阻,出现电压升高异常现象。案例六:倒装芯片光热分布分析 失效分析案例中,CSP灯珠出现胶裂异常,使用热分布测试系统对芯片进行测试,由于红外测温是通过物体表面的红外热辐射测量温度,对于倒装芯片表面的蓝宝石也不能穿透,故无法对芯片内部电极等结构进行进一步的分析。此时,使用金鉴显微光分布测试系统可以清晰地观察到芯片电极图案,从光分布图可以看出,芯片负电极位置发光较强,因此推断负电极位置电流密度较大,导致此处发热量也较大,从而局部热膨胀差异过大引起芯片上方封装胶开裂异常。 案例七:多芯片封装的光分布监测金鉴显微光分布系统,能高效精准分析灯珠内各芯片电流密度,是品质把控的好帮手!例如某灯珠采用两颗芯片并联的方式封装,该灯珠点亮时,金鉴显微光分布测试系统测得B芯片发光强度较A芯片的大,显微热分布测试系统测得B芯片表面温度高于A芯片。分析其原因,LED芯片较小的电压波动都会产生较大的电流变化,该灯珠两颗芯片采用并联方式工作,两颗芯片两端的电压一样,芯片电阻之间的差异会造成流过两颗芯片的电流存在较大差异,从而出现一个灯珠内两颗芯片亮度不一的现象,影响灯珠性能。 光学图 光分布图 热分布图 案例八:COB光源发光均匀度测试对于LED光源,特别是白光光源,由于电极设计、芯片结构以及荧光粉涂敷方式等影响,其表面的亮度和颜色并不是均匀分布的。如图所示,COB右半边灯珠亮度明显比左半边低,由标尺计算出,右半边亮度为左半边的三分之二,导致这一失效原因也许是COB的PCB板材左右边铜箔电阻不一致,导致灯珠左右两边的芯片所加载的电压不一致,造成两边芯片的发光强度出现差异。案例九:OLED光分布测试有机发光二极管(OLED)作为一种电流型发光器件,因其所具有的自发光、快速响应、宽视角和可制作在柔性衬底上等特点而越来越多地被应用于高性能显示领域当中。使用金鉴显微红外热分布测试系统对OLED显示屏进行测试,可以直观的了解显示屏各区域光强分布情况,对于缺陷点也能及时发现,有助于检测和改善OLED发光品质。如下案例中,OLED电流输入端亮度较大,远离输入端亮度逐渐减小,在此情况下,损失的亮度转换为热能,因此温度的分布会变得不均匀,进而导致OLED显示面板中各处的薄膜晶体管(TFT)的阈值电压和迁移率的变化也分布不均,进一步导致整个显示面板的发光亮度不均匀。 案例十:激光器光束形貌及热场分布金鉴显微光热分布测试系统,配备专用光衰片及水冷散热系统,可测试大功率超亮激光灯的光热分布!
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  • 完全符合 LM-79 测试标准要求的 C 型分布式光度计,灯具在测试过程中完全静止不动,非常适合LED灯具产品的测量近场分布式光度是最新一代的分布式光度计,采用全新的概念,可以实现光源的近场、包含光谱信息的近场、远场光强分布、空间色度均匀性、光通量、光效等测试。测试的结果是目前对光源特性最完整的表征,因此成为分布式光度计更新换代的首选。产品特点符合LM 79的C型分布式光度计要求灯具在测试过程中完全不动,保持实际使用的姿态采用相机直接进行灯具位置的精密调整,相对于使用激光定位装置的传统光度计,使用方便,操作简单不受远场测试条件之距离限制,最大可能节省空间测试速度快(连续测量的飞行测量模式),典型测试时间为15分钟@2.5°;1小时@0.5°基于近场数据Ray Data,最完整的表征光源的特性照度积分法测试光通量(符合 CIE87 及 EN 13032-1测试标准)对于小型光源,可直接采用远场模式进行光强空间分布(配光特性)测试测试灯具表面亮度分布,满足Zhaga 测试规范紧凑的轻量化产品设计免费的Ray Data输出及格式转化软测试结果配光特性之光强空间分布,可输出各种通用格式 (IES, EULUMDAT, TM14, Calculux, ...)光通量(luminous flux),光效( light output ratio)空间色度分布CRI, CCT,色度分布,以及平均色度值 (符合 LM79 以及 EN 13032-4测试标准)老化稳定曲线、功率消耗、温度特性配光数据报告分析(LumCAT软件)近场数据 (e.g. ASAP, Optis, LucidShape, LightTools, Zemax, TracePro, SimuLux, Photopia)灯具表面亮度及颜色分布
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  • Fidas 200气溶胶粒径分布光谱仪 单颗粒气溶胶粒径分布光谱仪Fidas 200是专门为管制空气污染而开发的气溶胶光谱仪。它可以连续分析环境空气中存在的细粉尘颗粒,测量尺寸范围为180 nm–18 μm,并计算排放值PM10和PM2.5,支持法定单位进行监控。同时,仪器计算并记录PM1,PM4,PMtot,颗粒数浓度Cn和粒径分布。因此,仅通过Fidas 200计数和单颗粒测量原理,即可提供有关细尘颗粒的全面信息。 Fidas 200气溶胶粒径分布光谱仪可用于安装在空调监控站(温度范围5 – 40°C)。Fidas 200、Fidas 200E和Fidas 200S是目前少有的光学单颗粒测量设备,测量设备已获得型式认可,可根据VDI 4202-1、VDI标准、4203-3,EN 12341,EN 14907,EN 16450和欧盟等效性指南GDE同时监控PM10和PM2.5,并通过EN 15267-1和-2标准认证。此外,细粉尘测量设备Fidas 200以及Fidas 200 E和Fidas 200 S也在英国获得型式认可认证和Defra认证,符合“ MCERTS CAMS性能标准”和“ MCERTS(英国颗粒物)。 Fidas 200气溶胶粒径分布光谱仪利用公认的单颗粒光散射尺寸分析原理,并配备高强度(dp,min = 180 nm),高度稳定的光输出和长寿命的LED光源。可以使用单分散测试气溶胶验证仪器的校准,并在必要时随时方便、快捷地进行调整,即使在现场安装时也是如此。 Fidas 200的采样系统以大约0.3 m3 / h的体积流量运行。它配备符合VDI 2119-4标准的Sigma-2采样头,即使在强风条件下也可以进行代表性采样;还设有一条干燥线,可以防止凝结引起测量误差。干燥线(智能气溶胶干燥系统– IADS)是根据环境空气温度、压力和相对湿度来控制的。这些数据由气象站提供;可选地,还可以提供风速、风向和降水量数据。采样系统中集成用于圆形平面过滤器(直径47毫米)的过滤器支架,从而可以(举例来说)随后对气溶胶成分进行化学分析。 Fidas 200气溶胶粒径分布光谱仪提供多种通讯选项,允许对系统进行全面的远程控制和维护,并且进行在线数据访问。与系统一起提供的软件可提供用于评估(例如,全面的统计和平均值计算)和测量数据输出的通用选项。 气溶胶传感器是一种光学气溶胶光谱仪,使用Lorenz-Mie单个粒子散射光分析来确定粒径。粒子分别穿过光学限制的测量空间,该测量空间被多色光均匀照射。每个粒子都会产生以85°和95°之间角度检测到的散射光脉冲。基于散射光脉冲的数量确定粒子数量。粒径是从散射光脉冲的水平得出的。精密的光学器件、使用的多色LED的高光输出以及使用对数A / D转换的强大信号处理电子设备,可检测直径低至180 nm的颗粒。举例来说,在道路附近,检测高浓度小颗粒是尤其重要的。 Fidas 200传感器的测量体积使用T孔技术,在光学上进行准确定界,该技术可确定颗粒尺寸而不会出现边界带错误,从而有助于提高尺寸确定精度。强大的数字信号处理功能可以识别并补偿一致的读数(由多个粒子的同时存在引起)。优点: • 根据新的EN要求(EN 15267)进行型式认可和认证 • 连续和同时实时测量多个PM值 • 提供关于颗粒数浓度和粒度分布的其他信息 • 可调时间分辨率从 1 s到24 h • 光源:高稳定性,长寿命的LED • 长使用寿命 • 低维护 • 可以在现场进行外部校验 • 直观且易于操作 • 功能可靠,数据可用性极高( 99%) • 2台泵并联运行,冗余配置可提高运行安全性 • 连续监视状态,以及在线监视校准 • 轻松进行远程监控、维护和控制 • 通过Palas服务器云端进行全球数据检索 • 无放射性物质 • 没有消耗品 • 低能耗 • 减少您的运营费用应用领域 • 利用监控网络进行污染控管 • 环境空气监测运动 • 长期研究 • 排放源追溯 • 排放物扩散研究(例如大火,火山)
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  • 产品信息  粒度分布在粉体物理性质中是最基本的特性之一,它不仅左右着粉体本身的性质和活动,而且也影响着以粉体为原料的制品的质量,是一个重要的物理性质。因此,在处理粉体时,粒度分布的测量就变得极其重要。   岛津激光衍射式粒度分布测量仪SALD-3101,可以在短时间内,通过简单的操作完成粒度分布的测定,并且分辨率高、精度高、重复性好。   另外,通过安装在Windows操作系统下的软件,可以实现统计处理、时间系统处理、实时监控、三维显示等多种的数据处理功能。  测定范围:0.05~3000um  测定模式:湿式或干式 特点(湿式循环型):主机(测量部) 使用单一光学系统无断点覆盖0.05-3000&mu m 粒径范围符合JIS规格的单一光源覆盖了0.05-3000&mu m的宽广的粒子径范围。因此在全程测量范围内,不存在粒度分布数据的不连贯和不匹配,实现完全无断点的宽广范围。 力求光学系统的稳定性采用全方位冲击吸收装置:OSAF(Omnidirectional Shock Absorption Frame)完全隔离光学系统,使其各个部件免受外来冲击和震动的干扰。因此几乎不需要对光轴进行调整。高分辨率的81元素光传感器传感器应用高水准的半导体制造技术制成。除76元素的前方散射光传感器(Wing传感器)外,附加1元素的侧方散射光传感器和4元素的后方散射光传感器。通过这81元素的光传感器可准确地捕捉光强度分布模式,从而对范围宽广的粒子径实现高分辨率高精度地粒度分布测量。样品池摘取简单采用推拉式样品池座,方便样品池的更换和清洗。使用寿命长且输出功率稳定的半导体激光源光源采用形状小寿命长的半导体激光。并且附加稳定输出回路,实现激光输出功率的稳定化。配备激光光束安全系统双重激光保护对策:测量室打开时,快门自动关闭及手动关闭激光光束。可测量密度不同的粒子混合物由于是通过粒子产生的衍射散射光的光强度分布模式求得粒度分布,因此与粒子或溶液的密度及溶液的粘性系数无直接关系。所以密度不同的粒子混合的样品也可以测量。多功能进样器内置供水泵多功能进样器内置供水泵,因此可使用市场上销售的塑料桶等直接供水。解决了供水繁琐的问题。 装载CPU多功能进样器配置了超音波分散机、搅拌器、水位传感器和控制这些装置的CPU。因此,通过电脑连接控制,可进行半自动测量。内置强劲的竖状泵进样器装载了5000 cm3/min的强劲的竖状泵,保证从数百微米到数毫米的粗大粒子/高密度粒子也能够很好的循环。 这是测量范围上限可达3000&mu m(3mm)的主要技术支持。优越的耐溶剂性流路材质使用四氟化乙烯、SUS304、SUS316、石英,因而具有优越的耐溶剂性。软件具有多种功能测量/数据处理的软件名为WingSALD的操作软件适用于Windows所有操作系统,并具有统计处理,时间系统处理,三维显示等多种数据处理功能,操作简便。 应用AI自动范围判断功能对粒度分布进行计算所谓AI自动范围判断功能是指,应用检测出的衍射光/散射光的光强度分布数据,先进行大致的粒度分布范围判断,再根据所得范围选择最适合的计算条件,进行精密的粒度分布计算。这样,即使事前无任何样品相关信息,也可准确地捕捉到从窄到宽的粒度分布形态。可进行与样品的折射率相对应的测量粒子径小于10&mu m时,粒子产生的散射光会受到其折射率的影响。为了进行正确地粒度分布计算,SALD-3101的标准配置中,有378种折射率(实数部和虚数部)可以选择。另外,利用以前测量后保存的衍射散射光光强度分布数据,改变折射率,可以对粒度分布进行再计算。附加自我诊断功能、保养容易编入了强大的自我诊断功能。可以检查装置的动作状况,使维护变得容易。装备操作日志(Operation Log)功能操作日志(Operation Log)功能,使所有的测量数据中包含了装置的使用状况、样品池的污染状况等细节信息,因此可以向前追溯,验证以往测量数据的正确性。通常状态下不显示,但电源打开时刻、空白测量完成时刻、空白测量数据及该时间下光轴的位置等这些与装置的操作和使用状态有关的数据都将被作为文本数据添加到所有的测量数据中。
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  • 产品信息  粒度分布在粉体物理性质中是最基本的特性之一,它不仅左右着粉体本身的性质和活动,而且也影响着以粉体为原料的制品的质量,是一个重要的物理性质。因此,在处理粉体时,粒度分布的测量就变得极其重要。  岛津激光衍射式粒度分布测量仪SALD-2201,可以在短时间内,通过简单的操作完成粒度分布的测量,且分辨率高、精度高、重复性好。  另外,通过安装在Windows操作系统下的软件,可以实现统计处理、时间系统处理、实时监控、三维显示等多种的数据处理功能。  测定范围: 0.03~1000um  测定模式: 湿式或干式 特点(湿式循环型):主机(测量部) 使用单一光学系统无断点覆盖0.03-1000&mu m 粒径范围符合JIS规格的单一光源覆盖了0.03-1000&mu m的宽广的粒子径范围。因此在全程测量范围内,不存在粒度分布数据的不连贯和不匹配,实现完全无断点的宽广范围。力求光学系统的稳定性采用全方位冲击吸收装置:OSAF(Omnidirectional Shock Absorption Frame)完全隔离光学系统,使其各个部件免受外来冲击和震动的干扰。因此几乎不需要对光轴进行调整。高分辨率的81元素光传感器传感器应用高水准的半导体制造技术制成。除76元素的前方散射光传感器(Wing传感器)外,附加1元素的侧方散射光传感器和4元素的后方散射光传感器。通过这81元素的光传感器可准确地捕捉光强度分布模式,从而对范围宽广的粒子径实现高分辨率高精度地粒度分布测量。样品池摘取简单采用推拉式样品池座,方便样品池的更换和清洗。使用寿命长且输出功率稳定的半导体激光源光源采用形状小寿命长的半导体激光。并且附加稳定输出回路,实现激光输出功率的稳定化。配备激光光束安全系统双重激光保护对策:测量室打开时,快门自动关闭及手动关闭激光光束。 多功能进样器内置供水泵多功能进样器内置供水泵,因此可使用市场上销售的塑料桶等直接供水。解决了供水繁琐的问题。装载CPU多功能进样器配置了超音波分散机、搅拌器、水位传感器和控制这些装置的CPU。因此,通过电脑连接控制,可进行半自动测量。 软件 具有多种功能测量/数据处理的软件名为WingSALD的操作软件适用于Windows所有操作系统,并具有统计处理,时间系统处理,三维显示等多种数据处理功能,操作简便。应用AI自动范围判断功能对粒度分布进行计算所谓AI自动范围判断功能是指,应用检测出的衍射光/散射光的光强度分布数据,先进行大致的粒度分布范围判断,再根据所得范围选择最适合的计算条件,进行精密的粒度分布计算。这样,即使事前无任何样品相关信息,也可准确地捕捉到从窄到宽的粒度分布形态。可进行与样品的折射率相对应的测量粒子径小于10&mu m时,粒子产生的散射光会受到其折射率的影响。为了进行正确地粒度分布计算,SALD-2101的标准配置中,有378种折射率(实数部和虚数部)可以选择。另外,利用以前测量后保存的衍射散射光光强度分布数据,改变折射率,可以对粒度分布进行再计算。附加自我诊断功能、保养容易编入了强大的自我诊断功能。可以检查装置的动作状况,使维护变得容易。装备操作日志(Operation Log)功能操作日志(Operation Log)功能,使所有的测量数据中包含了装置的使用状况、样品池的污染状况等细节信息,因此可以向前追溯,验证以往测量数据的正确性。通常状态下不显示,但电源打开时刻、空白测量完成时刻、空白测量数据及该时间下光轴的位置等这些与装置的操作和使用状态有关的数据都将被作为文本数据添加到所有的测量数据中。
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  • ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪,针对一些珍贵的材质,可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图,实现测量点的准确定位,拥有直观的硬件和分析软件,加快了XRF分析仪器的现代化进程。在微区-XRF中设置标准方便快捷的非接触式检测1、ELIO设计简单精美,具有1毫米的激光定位分析点,内置相机和新型电子元件2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上,完成元素分布图的采集3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点和难以到达的紧角完成检测4、ELIO基于激发强度大,样品台可以快速移动的设计,从而检测速度fei常快,此外,控制软件还可进一步优化采集时间5、采用CUBE技术的大面积硅漂移探测器(SDD)6、采用的探测器技术,能量分辨率140eV(Mn Kα),并具有高输出计数率(OCR),可实现快速分析,同时保持高能量分辨率7、高电压50 kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构,可在数秒内实现非接触式检测8、灵活更换X射线管阳,滤波片和准直器,为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 携带便携1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上,使ELIO fei常适合移动使用2、测量头的总重量为2.1千克3、样本大小如何,三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测4、多种三脚架可供选择,满足不同的用户要求5、可选的电动XY平台,完成现场便携式的元素分布绘图6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究,艺术鉴定和保护的物体进行原位扫描,使用户免于必运输,避免样品收到损害。一、地质科学分析大型钻芯部分或其他矿物样品,拥有的元素分布图和光谱解析功能,可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。二、材料科学针对一些材料,可以通过移动扫描获得元素分布,从而扩展了这些材料的应用,从空间科学走向消费产品。三、食品科学植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置,直观地展示加工食品中强化剂的分布。四、科学教育和研究可作为教学和研究工具来分析田野,教室或实验室中的物体和材料。
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  • GMS-3000分布光度计是CIE70文件推荐的反光镜分布光度计之一,同时符合能源之星认证标准IES LM79的要求。该分布光度计的被测灯具位置固定,反光镜绕被测灯具的光度中心旋转,采用同步追踪探头及旋转光阑,保证被测灯具的光始终以法线方向入射至探测器,同时有效消除环境杂散光对光度测量的影响;安装于吸光阱中心位置的高精度CCD光谱仪及光度探测器可用于测量小型灯和灯具的光强分布和总光通量、空间色度均匀性测试。12米处的追踪探头和色度测试装置可用于测量大尺寸、窄光束、高光强室内和室外各种灯具以及光源的空间光强分布与空间色度不均匀性等参数,满足能源之星、NVLAP,ERP,ESP对灯具光性能测试的要求。
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  • Fidas 200气溶胶粒径分布光谱仪 单颗粒气溶胶粒径分布光谱仪Fidas 200是专门为管制空气污染而开发的气溶胶光谱仪。它可以连续分析环境空气中存在的细粉尘颗粒,测量尺寸范围为180 nm–18 μm,并计算排放值PM10和PM2.5,支持法定单位进行监控。同时,仪器计算并记录PM1,PM4,PMtot,颗粒数浓度Cn和粒径分布。因此,仅通过Fidas 200计数和单颗粒测量原理,即可提供有关细尘颗粒的全面信息。 Fidas 200气溶胶粒径分布光谱仪可用于安装在空调监控站(温度范围5 – 40°C)。Fidas 200、Fidas 200E和Fidas 200S是目前少有的光学单颗粒测量设备,测量设备已获得型式认可,可根据VDI 4202-1、VDI标准、4203-3,EN 12341,EN 14907,EN 16450和欧盟等效性指南GDE同时监控PM10和PM2.5,并通过EN 15267-1和-2标准认证。此外,细粉尘测量设备Fidas 200以及Fidas 200 E和Fidas 200 S也在英国获得型式认可认证和Defra认证,符合“ MCERTS CAMS性能标准”和“ MCERTS(英国颗粒物)。 Fidas 200气溶胶粒径分布光谱仪利用公认的单颗粒光散射尺寸分析原理,并配备高强度(dp,min = 180 nm),高度稳定的光输出和长寿命的LED光源。可以使用单分散测试气溶胶验证仪器的校准,并在必要时随时方便、快捷地进行调整,即使在现场安装时也是如此。 Fidas 200的采样系统以大约0.3 m3 / h的体积流量运行。它配备符合VDI 2119-4标准的Sigma-2采样头,即使在强风条件下也可以进行代表性采样;还设有一条干燥线,可以防止凝结引起测量误差。干燥线(智能气溶胶干燥系统– IADS)是根据环境空气温度、压力和相对湿度来控制的。这些数据由气象站提供;可选地,还可以提供风速、风向和降水量数据。采样系统中集成用于圆形平面过滤器(直径47毫米)的过滤器支架,从而可以(举例来说)随后对气溶胶成分进行化学分析。 Fidas 200气溶胶粒径分布光谱仪提供多种通讯选项,允许对系统进行全面的远程控制和维护,并且进行在线数据访问。与系统一起提供的软件可提供用于评估(例如,全面的统计和平均值计算)和测量数据输出的通用选项。 气溶胶传感器是一种光学气溶胶光谱仪,使用Lorenz-Mie单个粒子散射光分析来确定粒径。粒子分别穿过光学限制的测量空间,该测量空间被多色光均匀照射。每个粒子都会产生以85°和95°之间角度检测到的散射光脉冲。基于散射光脉冲的数量确定粒子数量。粒径是从散射光脉冲的水平得出的。精密的光学器件、使用的多色LED的高光输出以及使用对数A / D转换的强大信号处理电子设备,可检测直径低至180 nm的颗粒。举例来说,在道路附近,检测高浓度小颗粒是尤其重要的。 Fidas 200传感器的测量体积使用T孔技术,在光学上进行准确定界,该技术可确定颗粒尺寸而不会出现边界带错误,从而有助于提高尺寸确定精度。强大的数字信号处理功能可以识别并补偿一致的读数(由多个粒子的同时存在引起)。优点: • 根据新的EN要求(EN 15267)进行型式认可和认证 • 连续和同时实时测量多个PM值 • 提供关于颗粒数浓度和粒度分布的其他信息 • 可调时间分辨率从 1 s到24 h • 光源:高稳定性,长寿命的LED • 长使用寿命 • 低维护 • 可以在现场进行外部校验 • 直观且易于操作 • 功能可靠,数据可用性极高( 99%) • 2台泵并联运行,冗余配置可提高运行安全性 • 连续监视状态,以及在线监视校准 • 轻松进行远程监控、维护和控制 • 通过Palas服务器云端进行全球数据检索 • 无放射性物质 • 没有消耗品 • 低能耗 • 减少您的运营费用应用领域 • 利用监控网络进行污染控管 • 环境空气监测运动 • 长期研究 • 排放源追溯 • 排放物扩散研究(例如大火,火山)
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  • 单颗LED光强分布测试仪 Labsphere LSA 3000是一种自动的分布式光度计计,主要与Labsphere软件和LED测试及测量产品一起配合使用。用户可通过软件对LSA 3000待测装置(DUT)的旋转进程和空间辐射测量程序进行全面控制。LSA 3000能够完成从窄角到宽角的准确测量。该软件还允许用户根据所选角度来测量相对强度。通过与Labsphere光谱仪、光测量软件和I 1000或I 2000相配合,LSA 3000还可以用来将LED旋转到任意期望的极坐标上,并测量其光谱辐射强度、光强度、色度、色彩和显色性。同时,它也能测量光谱辐射强度、光强度、色度、色彩和显色性的远场半球空间分布。 特点准确并可重复的测量 光谱强度、光谱通量、空间分布和色彩的完整解决方案 便于测量各种不同类型的LED 两维扫描,覆盖整个发光区间 用户可选择角度步进间隔 测量过程符合国际认可标准 测量参数 LED光强空间分布 光谱特性空间分布 色度空间分布 应用领域LED远场空间特性描述 (标准,高亮度)
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  • 仪器简介:LA-960 型激光粒度分析仪 主要用于纳米材料、陶瓷、颜料、电池材料、化工、石化、药品、化妆品、食品加工等生产科研以及按照GLP/GMP进行质量管理的需要。性能特点 : 1.采用最为精确的光散射理论——Mie理论 米氏散射理论是严格按照麦克斯韦电磁场理论的数学解得到的经典理论,是目前激光粒度仪所采用的计算方法中最严谨的一种。因此采用这种计算方法为仪器给出可靠的数据结果作了原理上的保证。 2.单一量程实现超大检测范围 LA-960 的量程为0.01um-5000um。0.01um的检测下限是目前激光散射法粒度仪上实现的最低检测下限。在如此低的检测下限下,LA-960 具有极大的动态响应范围,使上限可达5000um。另外,单一超大量程让用户在检测粒度范围大的样品时避免了切换量程、更换透镜的麻烦。 3.最高的保证精度 LA-960 的保证准确度为±0.6%以内(对聚苯乙烯标准粒子),是目前同类仪器中最高的;保证重现性精度为0.1%以内,同样也是同行业最高的。 4.采用双光源配置,保证全量程的检测精度 LA-960 采用双固体光源――LD(650nm,5mW)和LED(405nm,3mW)配置,确保全角度范围充足的散射光,从而保证全量程的超高精度检测。一级固体激光光源为检测提供极其稳定的输出,同时具有超长的使用寿命。LED提供短波长光源及大地提高了对小颗粒的检测精度。 5.最多的有效检测器数量和最佳的检测器配置方案 LA-960 的检测器采用目前最先进的对数交叉排布方案,有效检测器数量多达87个,是目前此类仪器有效检测器最多的,从而实现最高的分辨率。同时配置侧向检测器和大角度(155度)后向检测器,实现散射空间的无缝隙检测,保证最高的分辨率和最低的检测下限以及最大的动态响应范围。 6.最先进的光学系统 LA-960 采用堀场独特的交迭式反傅利叶光学系统,并且在几乎不增加仪器体积的基础上将散射光程增大了4倍,从而成倍提高检测的灵敏度的同时又保证了光路系统的可靠稳定。整个光学系统安装在刚性的铸铝基座上,保证超强的抗干扰能力,最大限度地降低如振动、温度变化等对光学系统的影响,系统稳定性、可靠性得到保证,使仪器始终保持在最佳的检测状态。此外,整个光学系统无须人工调整,完全避免了人为因素的影响。 7.强大的循环、分散、进样系统 LA-960 采用全自动内置式循环、分散、进样系统,设计上力求循环管路的最短。因此,一方面减少了检测所需的分散介质量(180mL-290mL)进而达到减少检测所需样品量的目的;另一方面,最短的循环管路能使样品在同样的检测周期内通过检测区域的次数最多,这样样品粒子的信息反映的更加充分。高输出离心泵(10L/min)的采用使各种粒子均能流畅稳定地循环,这一点保证了优异的重复性。内置超声波分散头比传统的超声浴槽分散方式分散能力大幅度提高。内置自动加液泵能够分低、中、高自动加液,并且配合样品浓度监视系统自动调整样品浓度,进一步提高自动化程度和操作速度。 8.抽拉式检测池安置设计,保证检测池定位简单准确,并且更换简便快捷 9.最快的采样速度和检测速度 LA-960 的数据采样速度可达5000次/秒,是目前采样速度最高的,这可以保证高精度检测,以至于样品任何微小的变化都能被捕捉到。与此同时,也大大提高了检测速度。 和进样系统以及操控系统配合,LA-950V2能在1分钟内实现加液、调整光轴、空白、加样、除气泡、检测、数据显示、保存、打印整个检测过程,比通常的粒度仪检测速度提高5倍以上。 10.对吸光材料的检测 LA-950V2在折射率作为检测条件输入时采用的是相对折射率,这是对应Mie理论的计算要求。同时,在输入相对折射率时LA-950V2允许输入虚数项,所以可以测定对光有吸收的样品材料。 11.简易粒度分布实时显示 检测样品时,LA-950V2具有在正式检测之前实时给出被测样品的简易粒度分布的功能。利用这一功能,用户可以在正式检测之前直观地确认样品在循环系统中的分散状态,从而确定最佳的检测条件。 12导航器功能 LA-960具有独特的导航器功能,利用这一功能,即使从未使用过LA-960 的人员也能轻易地按照导航器对每一步操作的明确指示完成整个检测过程。导航器还可用于标准程序操作检测,即SOP检测。 13.适应多种标准 LA-960 适应诸如GLP、GPM、ISO等多种国际标准,完全满足全球性企业在检测工艺条件方面的一致性要求。技术参数: 量程: LA-960 0.01μm-5000μm 光源:650nm激光二极管 405nmLED 样品量:10mg - 5g 分散液:约 180 - 250mL 超声系统:30w,20kHz 7档连续可调 循环/搅拌:15档连续可调 主要特点: 1.超宽分析量程,单一量程实现 0.01um-5000um的超宽分析范围。 2.最高的分析精度,准确度 0.6%, 重现性0.1%。 3.最快的分析速度,一分钟以内完成全部检测步骤。 4.强大的导航功能。
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  • Fidas 200气溶胶粒径分布光谱仪 单颗粒气溶胶粒径分布光谱仪Fidas 200是专门为管制空气污染而开发的气溶胶光谱仪。它可以连续分析环境空气中存在的细粉尘颗粒,测量尺寸范围为180 nm–18 μm,并计算排放值PM10和PM2.5,支持法定单位进行监控。同时,仪器计算并记录PM1,PM4,PMtot,颗粒数浓度Cn和粒径分布。因此,仅通过Fidas 200计数和单颗粒测量原理,即可提供有关细尘颗粒的全面信息。 Fidas 200气溶胶粒径分布光谱仪可用于安装在空调监控站(温度范围5 – 40°C)。Fidas 200、Fidas 200E和Fidas 200S是目前少有的光学单颗粒测量设备,测量设备已获得型式认可,可根据VDI 4202-1、VDI标准、4203-3,EN 12341,EN 14907,EN 16450和欧盟等效性指南GDE同时监控PM10和PM2.5,并通过EN 15267-1和-2标准认证。此外,细粉尘测量设备Fidas 200以及Fidas 200 E和Fidas 200 S也在英国获得型式认可认证和Defra认证,符合“ MCERTS CAMS性能标准”和“ MCERTS(英国颗粒物)。 Fidas 200气溶胶粒径分布光谱仪利用公认的单颗粒光散射尺寸分析原理,并配备高强度(dp,min = 180 nm),高度稳定的光输出和长寿命的LED光源。可以使用单分散测试气溶胶验证仪器的校准,并在必要时随时方便、快捷地进行调整,即使在现场安装时也是如此。 Fidas 200的采样系统以大约0.3 m3 / h的体积流量运行。它配备符合VDI 2119-4标准的Sigma-2采样头,即使在强风条件下也可以进行代表性采样;还设有一条干燥线,可以防止凝结引起测量误差。干燥线(智能气溶胶干燥系统– IADS)是根据环境空气温度、压力和相对湿度来控制的。这些数据由气象站提供;可选地,还可以提供风速、风向和降水量数据。采样系统中集成用于圆形平面过滤器(直径47毫米)的过滤器支架,从而可以(举例来说)随后对气溶胶成分进行化学分析。 Fidas 200气溶胶粒径分布光谱仪提供多种通讯选项,允许对系统进行全面的远程控制和维护,并且进行在线数据访问。与系统一起提供的软件可提供用于评估(例如,全面的统计和平均值计算)和测量数据输出的通用选项。 气溶胶传感器是一种光学气溶胶光谱仪,使用Lorenz-Mie单个粒子散射光分析来确定粒径。粒子分别穿过光学限制的测量空间,该测量空间被多色光均匀照射。每个粒子都会产生以85°和95°之间角度检测到的散射光脉冲。基于散射光脉冲的数量确定粒子数量。粒径是从散射光脉冲的水平得出的。精密的光学器件、使用的多色LED的高光输出以及使用对数A / D转换的强大信号处理电子设备,可检测直径低至180 nm的颗粒。举例来说,在道路附近,检测高浓度小颗粒是尤其重要的。 Fidas 200传感器的测量体积使用T孔技术,在光学上进行准确定界,该技术可确定颗粒尺寸而不会出现边界带错误,从而有助于提高尺寸确定精度。强大的数字信号处理功能可以识别并补偿一致的读数(由多个粒子的同时存在引起)。优点: &bull 根据新的EN要求(EN 15267)进行型式认可和认证 &bull 连续和同时实时测量多个PM值 &bull 提供关于颗粒数浓度和粒度分布的其他信息 &bull 可调时间分辨率从 1 s到24 h &bull 光源:高稳定性,长寿命的LED &bull 长使用寿命 &bull 低维护 &bull 可以在现场进行外部校验 &bull 直观且易于操作 &bull 功能可靠,数据可用性极高( 99%) &bull 2台泵并联运行,冗余配置可提高运行安全性 &bull 连续监视状态,以及在线监视校准 &bull 轻松进行远程监控、维护和控制 &bull 通过Palas服务器云端进行全球数据检索 &bull 无放射性物质 &bull 没有消耗品 &bull 低能耗 &bull 减少您的运营费用应用领域 &bull 利用监控网络进行污染控管 &bull 环境空气监测运动 &bull 长期研究 &bull 排放源追溯 &bull 排放物扩散研究(例如大火,火山)
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  • 大气成分垂直分布超光谱分析仪,能同时探测SO2、NO2、O3、HCHO、气溶胶等大气成分浓度的垂直分布信息;光谱仪光谱分辨率高,能同时准确探测多种痕量气体的垂直廓线信息,其观测的污染物垂直廓线与探空fei艇搭载的化学仪器观测结果相比,观测的廓线形状具有很高的一致性。能完成无人值守连续工作。产品特点1. 基于非接触式遥感技术,无须主动光源,易于安装;2. 大气污染组分的定性判断和定量测量;3. 可长期无人值守自动观测与结果获取;4. 同时监测多组分,涵盖了臭氧及其前体物浓度(O3及其前体物 NO2、HCHO 以及其他多种组分 SO2、 HONO、 气溶胶等);5. 全组分实时同步观测,避免不同仪器测不同组分所产生的系统误差;6. 灵敏度高(探测精度通常优于 0.1ppb)。性能参数
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  • BBMS-2000双向反射/透射空间分布测量系统可全方位分析测量材料表面的反射、透射特性,可测参数包括材料的双向透射分布(BTDF)、双向反射分布(BRDF)、反射比分布、透射比分布、总反射(TIR)、总散射(TIS)等,可广泛应用于金属、塑料、纸张、纺织品、玻璃、涂面、光学膜材料等诸多材料的表面光学特性的定量分析,其BRDF/BTDF数据可以导出至光学设计软件中,用于光学系统模拟设计。? 主要特点l 系统通过四轴精密旋转配合,可以实现空间内任意光照方向下的半球反射/透射分布测试;l 绝对法测试,不受样品的形态、光学性质的约束;l 测试光路及计算方法,完全符合ASTM E2387等标准要求。l 测试的BRDF/BTDF数据可以导出至Tracepro等光学设计软件中,用于辅助光学材料或系统的模拟、设计;l 高精度,高稳定度 ;2 接收光路长,接收立体角小,测量不确定度小2 激光光源,能量高、单色性好、准直度高;2 配备监视探测器,消除光源波动对测量的影响;2 探测器动态范围大,测试准确度高;2 机械转轴转动精度高,角度分辨率、重复性好。l 综合分析表面散射性能 2 双向反射分布函数BRDF2 双向透射分布函数BTDF2 反射比分布2 透射比分布2 总反射率TIR2 总散射率TISl 光源自由切换,波长覆盖紫外-可见-近红外范围,实现不同颜色光照下材料表面散射特性的测试,适用于有光谱选择性的样品; l 上位机多功能分析软件,提供多种BRDF/BTDF二维及三维分析图,并配有专用于BSDF分布数据查看软件,提供专业的BSDF数据分析;? 典型测量界面? ? 技术指标 测试类型In-plane/Out-of-plane BSDF测量参数BRDF、BTDF、反射比、透射比、TIR、TIS光源激光,覆盖可见-近红外范围(特殊可定制)光源天顶角t0°~80°光源方位角0°~360°探测器天顶角-85°~85°探测器方位角0°~180°角度分辨率0.01°角度重复精度0.1°动态测量范围? 典型应用:
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  • DMS-600 分布式多光谱监测仪主要用于测量农田、牧场、草地等的多光谱监测,涵盖可见光到近红外波段18个波段。主要用于采集包括叶面积指数、地上部生物量、叶片氮含量、叶片叶绿素含量、叶片含水量、环境温度、环境湿度等参数。技术原理 分布式多光谱监测仪主要特点分布式测量,可无限组网一个设备采集多种植被指标设备小、功耗低、适用范围广性能指标光谱传感器波段范围可见光~近红外通道数18通道波段410、435、460、485、510、535、560、585、610、645、680、705、730、760、810、860、900、940 nm通道带宽20 nm测光类型散射光光谱传感器数量3个视场角41°温湿度传感器温度范围-40~80 ℃温度精度0.3 ℃湿度范围0~100 %湿度精度±3 %电气参数电池聚合锂电池容量5000 mAh工作电流80 mA休眠电流180 μA重量600 g数据获取组网方式Nb-iot数据查看APP实时查阅,云平台查询
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  • 产品信息  粒度分布在粉体物理性质中是最基本的特性之一,它不仅左右着粉体本身的性质和活动,而且也影响着以粉体为原料的制品的质量,是一个重要的物理性质。因此,在处理粉体时,粒度分布的测量就变得极其重要。   尤其是在前沿科学领域,诸如纳米技术、生命科学以及环境科学领域,粒径多在纳米数量级,对于仪器的检测下限要求很高。岛津激光衍射式粒度分布测量仪SALD-7101,可以在短时间内,通过简单的操作完成粒度分布的测定,并且分辨率高、精度高、重复性好。   另外,通过安装在Windows操作系统下的软件,可以实现统计处理、时间系统处理、实时监控、三维显示等多种的数据处理功能。  测定范围:0.010~300um。目前世界上所有激光粒度仪厂家产品中检测下限最低! 特点:主机(测量部)使用单一光学系统无断点覆盖0.010-300&mu m 粒径范围符合JIS规格的单一光源覆盖了0.010-300&mu m的宽广的粒子径范围。因此在全程测量范围内,不存在粒度分布数据的不连贯和不匹配,实现完全无断点的宽广范围。 采用紫色半导体激光由于采用了的紫色半导体激光,可测量的粒子范围可达数十纳米领域。另外,以往使用红色激光作为光源的粒度分布测量装置,由于光吸收导致的蓝色系粒子很难正确测量的问题,也迎刃而解。采用适应蓝紫色激光的高灵敏度受光元素光传感器应用最高水准的半导体制造技术制成。除76元素的前方散射光传感器(Wing传感器)外,附加1元素的侧方散射光传感器和4元素的后方散射光传感器。通过这81元素的光传感器可以准确地捕捉光强度分布模式,从而对范围宽广的粒子径实现高分辨率高精度地粒度分布测量。全部这些元素,均采用了最新工艺制造的、适应蓝紫色激光的高灵敏度受光元素。采用SLIT光学系统,用单一检出面可连续捕捉最大达60度宽角度前方散射光采用了SLIT(Scattered Light Intensity Trace,散射光强度追踪)光学系统。以往的SALD系列或其他公司的制品,可连续检出前方散射光的范围最大只可到35度左右。SALD-7101采用了基于高度散射光强度追踪技术的SLIT光学系统,打破了一般常识,可用单一检出面连续捕捉最大达60度宽角度的前方散射光,实现了微粒子领域的高分辨率。能够连续测定反应过程中粒子的粒度大小和分布的变化,时间间隔最短可以做到1s市场上其他的产品都需要至少10s以上。适用于超微粒子的湿法测量专用机是适合于涂料、颜料,食品,饮料,医药品,化妆品,乳剂,精制陶瓷等微粒子、超微粒子测量的湿法专用机。力求光学系统的稳定性采用全方位冲击吸收装置:OSAF(Omnidirectional Shock Absorption Frame)完全隔离光学系统,使其各个部件免受外来冲击和震动的干扰。因此几乎不需要对光轴进行调整。样品池摘取简单采用推拉式样品池座,方便样品池的更换和清洗。使用寿命长且输出功率稳定的半导体激光源光源采用形状小寿命长的半导体激光。并且附加稳定输出回路,实现激光输出功率的稳定化。配备激光光束安全系统双重激光保护对策:测量室打开时,快门自动关闭及手动关闭激光光束。多功能进样器内置供水泵多功能进样器内置供水泵,因此可使用市场上销售的塑料桶等直接供水。解决了供水繁琐的问题。 装载CPU多功能进样器配置了超音波分散机、搅拌器、水位传感器和控制这些装置的CPU。因此,通过电脑连接控制,可进行半自动测量。软件具有多种功能测量/数据处理的软件名为WingSALD的操作软件适用于Windows所有操作系统,并具有统计处理,时间系统处理,三维显示等多种数据处理功能,操作简便。多种统计方法:数目、体积、表面积和长度。 应用AI自动范围判断功能对粒度分布进行计算所谓AI自动范围判断功能是指,应用检测出的衍射光/散射光的光强度分布数据,先进行大致的粒度分布范围判断,再根据所得范围选择最适合的计算条件,进行精密的粒度分布计算。这样,即使事前无任何样品相关信息,也可准确地捕捉到从窄到宽的粒度分布形态。附加自我诊断功能、保养容易编入了强大的自我诊断功能。可以检查装置的动作状况,使维护变得容易。装备操作日志(Operation Log)功能操作日志(Operation Log)功能,使所有的测量数据中包含了装置的使用状况、样品池的污染状况等细节信息,因此可以向前追溯,验证以往测量数据的正确性。通常状态下不显示,但电源打开时刻、空白测量完成时刻、空白测量数据及该时间下光轴的位置等这些与装置的操作和使用状态有关的数据都将被作为文本数据添加到所有的测量数据中。
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  • A应该功能: 用于测量LED小型灯具(卤素灯、杯灯、射灯、球泡灯等)及单颗大功率LED的配光曲线、照度、光强数据、光束角、光通量等参数。仪器设计了光学暗箱及光栏,无需暗室。测试过程由计算机控制完成,操作简单、使用方便、性价比高。根据被测灯的类型,输出相应的打印报告,可直接保存为PDF文件,便于交流存档等。 测试结果可以导出IESNA(95,2002)文件格式(*.ies)、CIE文件格式(*.cie)、欧洲Eulumdat(*.ldt)文件格式等多种格式,符合国际标准要求,可直接作为国际通用的照明设计软件的输入数据。 B主要参数标准:LM-79-2008 固态照明产品的电气和光度测量认定方法 GB/T9468-2008灯具分布光度测量的一般要求 LB/T 001-2008整体式LED路灯的测量方法 GB/T 24824-2009普通照明用LED模块测量方法 GB/T7002-2008 投光照明灯具光度测试 CIE 69 Methods of Characterizing Illuminance Meters and Luminance Meters; CIE 70-1987 The measurement of absolute luminous intensity distributions;CIE 121-1996 The photometry of goniophotometer of luminaries; CIE 84 Measurement of luminous flux;IESNA LM-75 Goniophotometer Types and Photometric Coordinates; C性能参数:● 光照度测量范围:0.1lx~99999lx ● 光照度测量精度:一级;● 灯具工作转台可绕水平轴(垂直转动)和垂直轴(水平转动)转动;● 转动范围:-180°~+180° ● 间隔角度: ≥0.5°;●角度测量精度:+0.1°; ● 光电探测器V(λ)修正水平高,达到国家一级照度计要求;●可测试灯具外型尺寸:150(长)×150(宽)×110mm(厚度) ●仪器型号尺寸:145×75×85(mm)●IESNA文件格式输出,可由其它照明和灯具设计软件直接导出图相似
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  • 分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL描述:分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL50-1800是新型A类测角光度计,专为R&D实验室和产品符合性测试中心实验室而设计,可调节远场光度和色度测量系统,在H,V轴坐标中对汽车LED和其他类型灯具的发光强度分布进行光度测试,分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL适用于汽车,铁路和其他车辆前照灯的快速准确测量,还可用于交通信号灯和机场照明系统的光度表征。可以测量的技术参数包括:发光强度分布,极坐标图,圆锥图,光通量,中心光束强度,相关色温,显色指数,麦克亚当椭圆,角度颜色均匀性,还可选测发光效率,功率因数和温度。 分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL工作原理:测角仪是一种带有旋转轴的仪器,用于测量光通量和照明设备或光源的发光强度分布。发光强度可通过在固定距离处以不同方向旋转的照明设备进行照度(远场)或照度(近场)测量获得。利用足够的角度步长和范围,可以通过汇总每个测量方向上的所有发光强度来计算照明设备的光通量。根据发光强度分布,可以推断出照明应用的属性,例如横向/纵向等照度曲线或圆锥图。测角仪的类型基本上可以分为1组,2组和3组,也称为A类,B类和C类,它们的区别在于在测量过程中照明设备的旋转方式以及在这种测量过程中获得的光度数据系统。 A类测角仪具有固定的水平轴和垂直于第一轴的移动轴。通过围绕水平轴旋转光源,同时将另一个轴保持在固定位置(旋转vs高度)来进行测量。A类测角仪是表征光束相对有限的汽车照明的理想选择。 B类测角仪具有固定的垂直轴和移动的水平轴。通过围绕垂直轴旋转光源,同时将另一个轴保持在固定位置(高度vs旋转)来进行测量。B类适用于显示器和泛光灯。 C类测角仪是高度专业化的类型,具有固定的垂直轴和移动的水平轴。在C平面或圆锥面上进行测量。C类测角仪与B类相同,只是光源旋转了90°。 国际标准建议将这种类型用于一般照明系统。 分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL产品亮点: l A类测角仪,配备3个机械化H,V和Z轴以及DUT移动x,y机械安装台l 激光对准系统带有反射镜和系统控制选件,有助于校准系统垂直和水平对准 l 软件界面友好,操作简单l 机电一体化组件,自动化程度高l 可控制和可编程功能,坚固耐用 l 符合相关标准,测量准确可靠 分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL应用范围: l 大型LED模块和大型照明设备。 l 符合标准: CIE 121-1996, IESNA LM-75-01 升级选项:l 可选用于测试汽车前照灯的外围设备。 分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL技术参数:CIE 测角仪类型:远场Type A 包含H,V轴和X,Y,Z方向运动DUT移动x,y机械台5轴伺服电机与绝对位置编码器H轴运动:角度范围± 100°,额定转矩555 Nm,速度高达10 °/sH轴分辨率:0.002° H轴再现性:0.05° * (*额定负载时) V轴运动:角度范围± 180°,额定转矩98 Nm,速度高达50°/sV轴分辨率:0.002° V轴再现性:0.05° * (*额定负载时)Z轴运动:线性范围0-800 mm,起重力高达1500NZ轴再现性:70 μmX,Y轴运动:线性范围± 150 mm,速度高达40 mm/sX,Y再现性:70 μmDUT安装板:方形400x400 mm,多个 M6 安装孔最大DUT尺寸:≤ 1800 mm(对称定位)产品尺寸(W x H x D):810 x 2020 x 1990 mm光轴高度:1350 mm最小房间高度:2600 mm最小房间宽度:4000 mm最大负载:50 kg产品重量:450 kg电源:AC 110-230V, 3000 W控制器:用于所有电机的内部控制器 通过局域网连接PC 制造商远程支持功能 机身设有7英寸液晶触摸显示屏 DUT固定期间可操作所有轴的手动控制器安全性:设备两侧设有紧急停止按钮,可选安全设备包含激光扫描仪或光栏传感器选项:GL Photometer 3.0 LS + Flicker GL Spectis 1.0 LS GL Spectis 4.0
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  • 能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面,元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪,针对一些珍贵的材质,可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图,实现测量点的准确定位,拥有直观的硬件和分析软件,加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美,具有1毫米的激光定位分析点,内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上,完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大,样品台可以快速移动的设计,从而检测速度fei常快,此外,控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器(SDD) 6、采用先进的探测器技术,能量分辨率140eV(MnKα),并具有高输出计数率(OCR),可实现快速分析,同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构,可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳,滤波片和准直器,为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上,使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何,三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择,满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台,完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究,艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描,使用户免于运输,避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品,拥有先进的元素分布图和光谱解析功能,可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料,可以通过移动扫描获得元素分布,从而扩展了这些材料的应用,从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置,直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野,教室或实验室中的物体和材料.
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  • 聚烯烃材料共聚物共聚单体含量及其分布分析对于某些特殊的聚烯烃树脂,可溶物中化学组成分布信息对于研发人员全面地了解聚烯烃的性能非常重要,温度梯度交叉色谱TGIC就是在传统CCD分析不能满足该需求的情况下诞生的,TGIC的分离原理是利用聚烯烃结晶能力的不同、以及聚烯烃与柱子中石墨填料之间的吸附解吸作用来实现,独特的石墨柱也减少了树脂共结晶效应。比如乙烯和辛烯共聚:传统的CCD分析根据结晶能力不同无法了解橡胶相中各种不同共聚单体含量的共聚物的信息,而TGIC根据线性聚烯烃与石墨表面吸附解吸力可以实现这种要求,乙烯含量越多,吸附力就越大,因此要把它从石墨表面淋洗出来需要更高的能量,不同乙烯含量级分吸附力不同将在不同的温度下被淋洗出来,同时TGIC把样品最终淋洗温度推高到155℃左右,从而也能够把更多的空间留给橡胶相里面组分的分离和表征,因此能够得到用其它CCD分析手段无法得到的橡胶相组分的信息。图1. 乙烯-辛烯共聚TGIC分析
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  • Labsphere LSA 3000是一种自动角光谱辐射计,主要与Labsphere LightX软件和LED测试及测量产品一起配合使用。LightX应用软件对LSA 3000待测装置(DUT)的旋转进程和空间辐射测量程序进行全面控制。LSA 3000能够完成从窄角到宽角的准确测量,并在角分辨率高达0.1o或者更高的情况下将LED发散出去。空间软件允许用户根据所选角度来测量相对强度。 通过与Labsphere光谱仪、光测量软件和I 1000或I 2000相配合,LSA 3000可以用来将LED旋转到任意期望的极坐标上,并测量其光谱辐射强度、光强度、色度、色彩和显色性。同时,它也能测量远场半球空间分布。灵活 从众多Labsphere LS系列LED插座中选择一款产品,或者根据您特定的LED规格,与Labsphere工作团队一起设计一款适合的插座产品。LSA 3000有一个待测装置的集结区,用于&phi 和&theta 平台定位。&phi 平台允许采用Labsphere LS系列未冷却式LED插座和LSTE冷却式LED插座。传感器工作区的大小和位置要根据高分辨率角度盘而定。LSA 3000中含有Labsphere光传感器,包括A型、I2000、B型和I 1000,以及平均光谱强度探头。图形用户界面的主要用途是控制LSA3000,并捕捉待测装置的空间分布情况。软件的设计也考虑到了LSA 3000应用的扩展问题,例如除了自身集成的接收器外,外部附加的传感器可以进一步扩展其用途。所有平台和探测器都装在一个易于存取而又不透光的盒子里。特征: 准确而又可重复的测量 光谱强度、光谱通量、空间分布和色彩的完整解决方案 便于测量各种不同类型的LED 便于放置被侧物 用户可选择角度步进间隔 测量过程符合国际认可的标准主要应用对象: LED远场空间特性描述(标准,高亮度)
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  • 产品创新点上市时间:2019年10月创新点主要有两个方面:硬件方面:全球首创将将荧光分光度计与CMOS相机结合在一起,能够同时观察样品光谱和图像的技术。软件方面:运用了智能光谱算法,可以获取样品任意区域的光谱信息。常规的荧光分光光度计测得的是样品表面信息平均化的信号,得到的是一条荧光光谱,这个新的系统能够对样品表面进行分区,从而获得不同区域的光谱信号,使得光谱信息细致化了。产品简介1. 荧光分布成像系统(EEM View)简介作为荧光分光光度计的配件系统,这是全球首创将相机与荧光分光光度计的完美结合,融合了智能算法的先进技术。能够同时获取样品图像和光谱信息。新型荧光分布成像系统可安装到F-7100荧光分光光度计的样品仓内。入射 光经过积分球的漫反射后均匀照射到样品,利用F-7100标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱,结合积分球下方的CMOS相机可获得样品图像,并利用独特的AI光谱图像处理算法,可以同时得到反射和荧光图像。2. 荧光分布成像系统特点:①测定样品的光谱数据(反射光、荧光特性)②在不同光源条件下(白光和单色光)拍摄图像(区域:Φ20mm、空间分辨率:0.1 mm左右、波长范围:360-700nm)③利用自主研发的分析系统1),分开显示荧光图像和反射图像④根据图像可获得不同区域的光谱信息(荧光光谱、反射光谱) 国立信息学研究所 佐藤IMARI 教授?郑银强副教授共同研究成果荧光分布成像系统软件分析(EEM View Analysis)界面(样品:LED电路板) 样品安装简单,适用于各种样品测试样品只需摆放到积分球上,安装十分简单!丰富的样品支架支持精确测量的校正工具 总结以上为荧光分布成像系统的特点和功能结束,这是一种全新的技术,将它配置到荧光分光光度计中,改变了常规荧光光度计只能获得样品表面区域平均化信息的现状,可以查看样品图像任意区域的光谱信息,十分适合涂料、材料、油墨、LED、化工等领域。
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  • 产品介绍 JL-1198型纳米激光粒度分布仪,参照GB/T29022-2012、ISO13321等标准,采用动态光散射、光子相关光谱法原理。利用颗粒尺寸大小不同,在液体中的布朗运动的速度不同,颗粒对激光的散射涨落起伏产生脉动的散射光信号,这些光信号与颗粒的粒径有关,通过光电倍增管将这些脉动的散射光信号接收并转换成电信号,再通过自相关器运算处理,专用分析软件计算出颗粒的粒度分布和平均粒径。 全密封的金属外壳,具有良好的电磁屏蔽抗干扰性能,将光电子、样品池、循环系统等设置于仪器内部,自动选择适合的通道数和延时时间等参数,达到特定的测试精度和重复性。每测一个样品只需2~5分钟,在电脑控制下全自动连续测试。并具有动态光浓度测试功能和静态光分子量检测功能,可以快速定性测试溶液的浓度。应用领域 科研院校、陶瓷、硅溶胶、水油乳液、油漆、涂料、颜料 、油墨、电子、核材料、化妆品以及其它所有纳米材料研究、制备与应用等领域。参数指标项目指标项目指标测量范围1nm~10000nm(与样品有关)测量原理动态光子相关光谱法原理测量时间2-5分钟通道数4000重复性误差≤1%(国家标准物质D50偏差)延迟时间50ns-100ms准确性误差≤1%(国家标准物质D50偏差)测试介质纯净水、蒸馏水或乙醇等进样方式1.循环进样,测试样品量多。2.静态进样, 测试贵重样品或量少。样品池500mL标准样品池,循环测试2.5 mL固定样品池,静态测试激光源30mw,405nm固体激光器各1只检测器高增益低噪声光电倍增管(PMT)光 路透射模式:90度角反射模式:160度角温度检测范围实时检测:0.5℃~99.5℃。分辨率0.002℃,无温度梯度。浓度测试快速测试样品的质量浓度和相对浓度在线测试可选配在线样品输送系统测试方法全自动测试,自动确定通道数和最延迟时间等参数。测试浓度范围透射测试ppm~1%,反射测试40%~体积浓度。10档增益可选择。测试模式有单分散和多分散两套模式分散方式60w超声波发生器仪器体积740*360*530mm 仪器重量约:60kg工作电源AC220V ±22V 50Hz ±0.5Hz;环境要求温度:5℃~35℃;湿度:85%;仪器优点1.能直接快速测试纳米样品的质量浓度和相对浓度,直接对样品温度实时测试。2.在测试时自动确定通道数和延迟时间等参数,自动选择适合的增益(10档浓度自动可选),信噪比高,适合测试浓度范围宽。快速分析出多分散和单分散颗粒的粒度分布和平均粒径等数据。3.静态进样方式:采用独特的2.5 mL薄缝样品池,非常适合检测贵重样品。因光源和信号在溶液中的途经距离短,测试精度和重复性更高。动态进样方式:容积500mL的分散循环进样池。加入样品后自动分散循环,自动测试、自动清洗,操作简单方便,特别适合于生产现场大量样品测试使用。4.具有透射和反射两套互相独立的光路,可以根据样品浓度任意选择。透射适合于较低和极低(几个PPM度)浓度。反射方式适合于高中浓度(可达40%体积浓度),透射和反射两种测试方式只需一健转换,操作方便,达到特定的灵敏度和分辨率。5.有单分散和多分散两种测试模式,可任意选择。6.测试一次的时间2~5分钟,可单次、多次连续测试。7.分析软件兼容WindowsXP/Win7/Win10系统,软件有中、英文版本供选择使用。8.108级粒级的表格和曲线图,体积分布、数量分布两种模式。提供累积分布、频度分布、累积10%、50%、90%、97%、平均粒径和比表面积等数据,全面表征样品的粒度特征。9.软件操作界面可根据需要选择中文或者英文,输出结果可以直接打印,或转换为PDF和文本文件等格式保存。
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  • 本系统采用固定探测器、旋转被测灯具的方法,来测量被测光源或灯具空间各个方向上的光强分布。主轴和灯具轴采用贵金属光纤点刷结构的导电滑环,可360度连续无回隙运转测量无须为防止绕线而来回旋转,永不绕线。根据测量灯具的要求,该系统可以配置为双立柱B-β测试方案或单立柱C-γ测试方案。 用于LED灯具(半导体照明) 、道路灯具、投光灯具、室内灯具、户外灯具等各种和LED、节能灯、荧光灯、白炽灯、HID灯等各种光源的空间光度分布(即配光曲线)的高精度测试;测试结果可以导出IESNA(95,2002)文件格式(*.ies)、CIE文件格式(*.cie)、欧洲Eulumdat(*.ldt)文件格式等多种格式,符合国际标准要求,可直接作为国际通用的照明设计软件的输入数据。主要参考标准:LM-79-2008 固态照明产品的电气和光度测量认定方法 GB/T9468-2008 灯具分布光度测量的一般要求 LB/T 001-2008 整体式LED 路灯的测量方法 GB/T 24824-2009 普通照明用LED模块测量方法 GB/T7002-2008 投光照明灯具光度测试 CIE 69 Methods of Characterizing Illuminance Meters and Luminance Meters;CIE 70-1987 The measurement of absolute luminous intensity distributions;CIE 121-1996 The photometry of goniophotometer of luminaries;CIE 84 Measurement of luminous flux;IESNA LM-75 Goniophotometer Types and Photometric Coordinates;技术支持特性:主轴和灯具轴采用贵金属光纤点刷结构的导电滑环,可360度连续无回隙运转测量无须为防止绕线而来回旋转,永不绕线;采用知名品牌的高转速、高转矩、低噪音、低振动的三相混合式步进电机;具有激光瞄准器,使被测灯具中心与旋转台旋转中心重合;垂直轴旋转范围:-180°~180°或0°~360°旋转;水平轴旋转范围:-180°~180°或0°~360°旋转;角度精度:0.1度,分辨率:0.01度;灯具尺寸:1.5×1.5米;灯具重量:60kg(含夹具) ;灯具供电测量采用4线制:2路10A导电滑环用于供电,2路2A用于测量电压;转台控制线和灯具供电线长度:6米,特殊要求可加长;光度参数:1、高精度恒温探头(恒温点35±1度,恒温精度±0.1度);2、V(λ)修正精度:CIE标准级(f1’ 0.03) 3、照度测量范围:0.001 lx至200 klx , 5档自动量程 4、测试距离:2米到30米;5、高稳定带遮光光栅的探头支架,高底可调,上下和左右倾角可调;6、光度探头连接线长度:20米(特殊要求可加长);
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  • 光强分布(光型)测试仪LSA3000-蓝菲光学 LSA 3000是一种自动的分布式光度计,主要与蓝菲光学(Labsphere)软件和LED测试及测量产品一起配合使用。用户可通过软件对LSA 3000待测装置(DUT)的旋转进程和空间辐射测量程序进行全面控制。LSA 3000能够完成从窄角到宽角的准确测量。该软件还允许用户根据所选角度来测量相对强度。 通过与Labsphere光谱仪、光测量软件和I 1000或I 2000相配合,LSA 3000还可以用来将LED旋转到任意期望的极坐标上,并测量其光谱辐射强度、光强度、色度、色彩和显色性。同时,它也能测量光谱辐射强度、光强度、色度、色彩和显色性的远场半球空间分布。特点准确并可重复的测量 光谱强度、光谱通量、空间分布和色彩的完整解决方案 便于测量各种不同类型的LED 两维扫描,覆盖整个发光区间 用户可选择角度步进间隔 测量过程符合国际认可标准 测量参数 LED光强空间分布 光谱特性空间分布 色度空间分布 应用领域LED远场空间特性描述 (标准,高亮度)
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  • 全自动电化学CV分布仪 CVP21 光伏太阳能领域的首选! 众多科研和半导体领域用户的的首选!上海瞬渺光电官方中国最佳全自动电化学CV分布仪光伏太阳能领域代理商!服务众多知名光伏企业!本设备适用于评估和控制在半导体生产中的外延过程并且以被使用在多种不同的材料上, 例如:Silicon, Germanium, III-V including III-Nitrides.CVP21的净室和模块化的系统设计结构使得本系统可以高效率,准确的测量半导体材料(结构,层)中的掺杂浓度分布.选用合适的电解液与材料接触,腐蚀,从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制CVP21的系统特点&bull 坚固可靠的模块化系统结构 .光学,电子和化学部分相对独立.&bull 精确的测量电路模块&bull 强力的控制软件,系统操作,使用简便&bull 完善的售后服务体系特别推荐晶硅太阳能电池研究单位使用知名用户:(Shin-Etsu SEH or ISFH)In the field of solar cell research, the CVP21 system is currently being used at many research centres. It was first used in 1999 by the Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems (ISE) in Freiburg, Germany, and since then it has been installed at the Institute for Molecules and Materials (IMM) in Nijmegen, The Netherlands, the RWE Space Solar Power GmbH in Heilbronn, Germany, the Hahn-Meitner-Institute (HMI) in Berlin, Germany, and the Institute for Solar Energy Research (ISFH) in Hamelin/Emmerthal, Germany.在德国和日本都有很多太阳能电池用户使用,鉴于商业保密需要不能公开。产品完美结合我们在电化学方分布测试方面超过30年的经验和世界上最先进的电路系统。 全自动, 特别适用于新材料, 如氮化镓, 碳化硅材料,多晶硅等等。 有效检测:&bull 外延材料&bull 扩散&bull 离子注入适用材料: CVP21应用范围宽,可以用于绝大多数的半导体材料。IV族化合物半导体如:硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等&hellip III-V族化合物半导体如:砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等&hellip 三元III-V族化合物半导体如:铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等&hellip 四元III-V族化合物半导体如:铝镓铟磷(AlGaInP)等&hellip 氮化物如:氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等&hellip II-VI族化合物半导体如:氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等&hellip 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。 载流子浓度测量范围:&bull 最大 1021/cm³ &bull 最小 1011/cm³ 深度解析度:&bull 最大无上限&bull 最小可至1 nm (或更低)模块化系统结构:&bull 拓扑型结构&bull 实时监控腐蚀过程&bull 适于微小样品及大尺寸的晶圆全自动化系统:&bull 精密的电路,电子系统&bull 强力的软件 金牌优质服务 提供免费样品测试并提供测试报告。 对用户承诺终身免费样品测试每月1次。 保修期:2年,终身维修。 电化学CV分布仪(CV测试仪)产品经理:Mike Zhai联系电话:手 机:邮 箱:
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  • 为了保证实验的重复性和准确性,在每次光催化实验之前使用光功率计对光辐射强度进行测量是有必要的;根据光源强度、光谱分布的不同,需要选取不同型号的光功率计。FZ-A型辐照计是一款便携式自动量程的测试仪器。它采用SMT贴片技术,选用高精度低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过严格的光谱及角度特性校正,性能稳定,适用性强,可以用来测量可见光辐照度。主要技术指标● 波长范围( λ):400 nm~1000 nm 采用钨灯进行标定,适宜测量近AM1.5 G太阳光谱(400-1000 nm);● 辐照度测量范围:(0.1-1.999×105)μW/cm2 ;● 非线性、换挡、疲劳特性等误差:均符合国家一级照度计标准。● 准确度:±5%(相对于NIM标准) ● 余弦特性误差:f2 ≤ 4% ● 响应时间:1 s ● 使用环境: 温度(0~40) ℃;湿度<85%RH ● 尺寸和重量:160 mm(L)×78 mm(W)×43 mm(H),0.2 kg ● 电源:常规使用6F22型9 V积层电池1 只,亦可使用数据线连接 USB接口、5 V电源适配器供电,整机功耗<0.1 VA ● 探头:FZ-A探头;直径:27 mm 头高:21.5 mm;感光孔:7 mm。
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