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显微分析方法

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  • [好书]X射线衍射与电子显微分析

    本书是介绍X射线衍射与电子显微分析这两种重要的材料物理测试方法的基础教材,全书依上述内容分为两篇。第一篇包括X射线衍射的基本理论、方法及应用；第二篇包括透射电子显微镜、扫描电镜和电子探针的工作原理、构造和分析方法。全书共12章，附录中列出了常用的数据表，供计算分析时查阅。本书对基本原理的阐述力求深入浅出，方法介绍亦较为详尽，对从事该工作的科技人员很有参考价值！为此上传[color=blue]PDF格式的电子档供大家下载学习，也可丰富本版块的资源！[/color]全书已经上传完毕，有需要的科技人员可到资料中心下载！[url=http://www.instrument.com.cn/show/search.asp?sel=admin_name&keywords=lfsming]进入资料下载页面[/url]你的支持就是我的动力!

  • 【资料】X射线衍射与电子显微分析

    X射线衍射与电子显微分析[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=48585]X射线衍射与电子显微分析[/url]

  • 求助：章晓中老师《电子显微分析》

    请问哪位网友手里有 清华章晓中老师的《电子显微分析》一书的电子版？麻烦发我一下哈。 本来应该买正版书的，但由于在国外，买不到书。抱歉了，章老师！ wujsyy@126.com

  • 【资料】剑桥大学电子显微分析讲义

    剑桥大学关于电子显微分析的讲义，希望对大家有帮助[em17] 下载资料的兄弟支持和回复一下，谢谢了[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=58560]Microanalysis in the electron microscope[/url]

  • 【原创大赛】（综述）电子显微分析技术在高分子材料中的应用

    【原创大赛】（综述）电子显微分析技术在高分子材料中的应用

    ======================================================================= （综述）电子显微分析技术在高分子材料中的应用 Applications of Electron Microscopy for Polymers~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~摘要透射电子显微镜（TEM）已经逐渐成为材料研究领域最重要的成像和表征手段之一。这篇综述主要介绍了近年来出现的几种电子显微分析技术，并结合高分子聚合物材料的特点列举了这些技术在实际研究中的应用。这些技术包括：高分辨透镜（HRTEM）成像，扫描透镜（STEM）成像，能量过滤透镜（EFTEM）成像以及电子能量损失谱（EELS）分析。综合运用这些成像和分析工具，可以更全面了解高分子材料在各个微观尺度下的性质。AbstractThe transmission Electron Microscope (TEM) has been used extensively as one of the most versatile and powerful tools for materials characterization. This review highlights important development of several microscopy and analysis techniques in the field of polymers. These techniques include High Resolution TEM (HRTEM), Scanning TEM (STEM), Energy Filtered TEM (EFTEM), and Electron Energy-loss Spectroscopy (EELS). By combining multiple microscopy techniques, we are able to gain a better understanding of polymers properties in various scales.http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509252216_567945_1982636_3.png~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~1. 前言 从Ernst Ruska在1931年发明了第一台透射电子显微镜（TEM）开始，电子显微分析已逐渐成为材料科学领域特别是材料微观表征的重要方法之一。经过80多年的发展，现代透射电镜在传统的TEM模式之外又相继衍生出了高分辨（HRTEM）和扫描透射（STEM）两种不同的电子成像模式。结合附加的X射线能谱仪（EDS）和电子损失能谱仪（EELS）等，TEM又可以拓展为功能强大的结合了成像和化学分析能力的分析级电子显微镜(AEM)。近20年来TEM和相应的成像分析技术都得到了长足的进步，在分辨率已经突破亚埃级（0.5埃=0.05纳米）的基础上又陆续发展出冷冻电镜 (Cryo-TEM) ，三维成像 (Tomography) ，低电压电镜（LVEM），能量过滤电镜 (EFTEM) 等新兴技术。伴随着这些新技术的发展，TEM的应用领域也不仅仅局限于传统的硬材料(金属，半导体，陶瓷等）而是一直延伸到各种软材料（高分子，生物和复合材料）（参见5）。这篇综述简要介绍了各种显微分析技术的特点和原理，针对高分子样品的制备手段并介绍了各种分析手段在实际研究中的应用。2. 样品制备 在电子显微分析中，样品制备往往是决定图像质量，保证分析准确的最重要一步。不同于常规硬材料，高分子材料普遍存在着硬度较低，物理化学性质不稳定的特点。这些特点决定了它们需要使用不同于常规硬材料的减薄方法来制样才能满足不同的表征要求。制样的第一原则就是在保证不破坏材料原有性质的情况下得到尽可能薄的样品。由于高分子材料大多由碳氢氧等轻元素组成，传统的制样过程一般会采用类似于生物样品的重金属染色方法。利用电子散射能力较强的金属制剂对样品进行染色。金属原子可以与样品里特定的分子键合来提高图像的衬度。然而使用这种方法需要人为的加入样品以外的成分，这样做往往会破环样品原始的特性。特别当需要对样品进行原子级别的分析时，来自金属染色剂的大量的背景信号会影响最终化学元素分析的准确性。现在，即使在不使用染色剂的情况下，利用多种新型成像技术（包括STEM，LVEM，EFTEM 和Cryo-TEM）我们也可以有效地提升图像衬度并减少样品在电子束辐射下的损伤。这就要求我们找到合适的制备方法来得到保持材料原有特性的超薄样品。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509252223_567948_1982636_3.png图一. 制备固体或溶液形态的高分子样品的不同步骤 （参见6）。针对两种常见的高分子材料形态（固态和溶液态）有两种不同的处理样品方法（参见6），见图一：1）块状或薄膜状的材料可以首先用树脂包埋，预切后在冷冻超薄切片机中调节合适的温度切片。使用的冷却温度可以根据高分子材料的Tg温度来调节，一般设置在起始温度在-80度左右。得到的切片可以直接用铜网收集，厚度大致在20-80nm； 2）高分子的溶液（也可以为水溶液）可以用Solution Casting方法。在覆盖碳膜的铜网上滴上5-20微升的样品溶液。然后使用Cryo-plunger自动吸出多余的溶液后浸入液体乙烷中快速冷冻。第一种方法保证了固体高分子材料的原有特征不被破坏，同时保证了样品合适的厚度。第二种方法特别适用于观察高分子物质在液态中的特征，整个冷冻过程保证了材料在溶液中的形态。利用集成的湿度控制装置可以直接对亲水性高分子材料进行制备。3. 分析电镜技术简介及其在高分子材料中的应用 3.1 电子成像和分析原理在透射电镜中，平行电子束在透过样品时会与样品内部发生一系列相互作用。透过样品的散射电子和产生的其他信号在收集后可以被用来进行成像和不同类型的显微分析。图二中简单概括了电子束和样品之间的相互作用。根据是否有能量损失，散射电子又分为弹性散射电子(elastically scattered electrons)和非弹性散射电子(inelastically scattered electrons)。部分入射电子束在与原子核作用后发生弹性散射，并最终被CCD捕捉形成传统的明场（Bright Field简称BF）TEM图像。与此同时，入射电子可以与原子核外电子云作用。在损失一部分能量后，经过非弹性散射的电子束可以用来形成电子能量损失谱（Electron Energy Loss Spectroscopy简称EELS)。而另一部分被激发的外层电子会填入内层电子的空位，这之间的能量差所产生的特征X射线可以通过X射线能谱仪(Energy-dispersive X-ray spectroscopy 简称EDS)来探测。结合图像和能谱，还可以实现能谱成像(Spectrum Imaging 简称SI)和能量过滤成像（Energy Filtered TEM 简称EFTEM)（参见7）。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509252225_567949_1982636_3.png图二. 电子束与样品间相互作用以及产生的多种电子和能量信号(参见7)。3.2 高分辨成像（HRTEM）及其应用 除常规的TEM成像，高分辨成像(HRTEM)可以用来直接观察高分子材料内部的原子排列特别适用于对高分子晶体结构的研究。尽管HRTEM在硬材料方面的研究应用已经很普遍，但局限于样品制备和电子辐射损伤的影响，对于高分子结构的高分辨成像和解析还不多。图三是聚四氟乙烯(PTFE)晶体的高分辨HRTEM图像，右侧相对应的是PTFE高分子链的重复单元结构示意图。通过高分辨成像，可以清晰地辨别出分子链上紧密排布的原子和相对应的157螺旋结构。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509252237_567950_1982636_3.png图三. 聚四氟乙烯(PTFE)晶体的高分辨图像和分子链重复单元结构（参见3）。3.3 扫描透射电镜 (STEM) 成像及其应用 如图四所示，STEM模式下聚焦的电子束在材料表面扫描，透过的电子信号根据散射角度的不同被不同位置的探测器收集后分别形成STEM-BF明场，STEM-ADF暗场以及STEM-HAADF高角度环形暗场图像。因为图像的明暗程度直接和所观察区域内的原子序数有关，高角度环形暗场（High-angle Annular Dar

  • 【资料】黄孝瑛电子显微分析图书4本，欢迎下载。

    我收集到黄孝瑛的四本书，还有一本《透射电子显微学》上海科学技术出版社出版，1987年，没有，我扫描上去后，在传给大家。[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=46470]黄孝瑛电子显微分析图书[/url]

  • 【求助】谁有GB/T 21638-2008 钢铁材料缺陷电子束显微分析方法通则

    [table=95%][tr][td=2,1][table=96%][tr][td]标准简介[/td][/tr][/table][table=96%][tr][td]本标准规定了钢铁材料缺陷电子束显微分析的术语、分析方法和程序、分析报告内容等。本标准适用于钢铁材料内部及表面缺陷的电子束显微分析。[/td][/tr][/table][/td][/tr][tr][td=2,1][/td][/tr][tr][td=2,1][table=96%][tr][td=2,1][table=99%][tr][td=2,1][/td][/tr][tr][td][b]英文名称：[/b][/td][td] Guide for electron beam microananlysis of defect in steel materials[/td][/tr][tr][td=1,1,21%][url=http://www.csres.com/info/35895.html][img]http://www.csres.com/images/shelp.gif[/img][/url] [b]中标分类：[/b][/td][td] [url=http://www.csres.com/sort/chsortdetail/N.html][color=#014ccc]仪器、仪表[/color][/url][b][/b][url=http://www.csres.com/sort/chsortdetail/N.html#N50/59][color=#014ccc]物质成分分析仪器与环境监测仪器[/color][/url][b][/b][url=http://www.csres.com/sort/Chtype/N53_1.html][color=#014ccc]N53电化学、热化学、光学式分析仪器[/color][/url] [/td][/tr][tr][td=1,1,21%][url=http://www.csres.com/info/35799.html][img]http://www.csres.com/images/shelp.gif[/img][/url] [b]ICS分类：[/b][/td][td] [url=http://www.csres.com/sort/icsdetail/71.html][color=#014ccc]化工技术[/color][/url][b][/b][url=http://www.csres.com/sort/icsdetail/71.html#71.040][color=#014ccc]分析化学[/color][/url][b][/b][url=http://www.csres.com/sort/ics/71.040.99_1.html][color=#014ccc]71.040.99有关化学分析方[/color][/url] [/td][/tr][tr][td][b]发布部门：[/b][/td][td] 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 国家标准化管理委员会[/td][/tr][tr][td=1,1,21%][b]发布日期：[/b][/td][td] 2008-04-11[/td][/tr][tr][td][b]实施日期：[/b][/td][td] 2008-10-01 [/td][/tr][tr][td][b]首发日期：[/b][/td][td] 2008-04-11[/td][/tr][tr][td=1,1,21%][b]提出单位：[/b][/td][td] 全国微束分析标准化技术委员会[/td][/tr][tr][td=1,1,21%][url=http://www.csres.com/info/35885.html][img]http://www.csres.com/images/shelp.gif[/img][/url] [b]归口单位：[/b][/td][td] [url=http://www.csres.com/unit/296.html][color=#014ccc]全国微束分析标准化技术委员会[/color][/url][/td][/tr][tr][td=1,1,21%][b]主管部门：[/b][/td][td] 国家标准化管理委员会[/td][/tr][tr][td=1,1,21%][b]起草单位：[/b][/td][td] 上海宝钢股份公司技术中心、武汉钢铁集团公司技术中心、北京钢铁研究总院、上海材料研究所[/td][/tr][tr][td=1,1,21%][b]起草人：[/b][/td][td] 陈家光、李平和、朱衍勇、王滨、田青超[/td][/tr][tr][td=1,1,21%][b]计划单号：[/b][/td][td] 20068681-T-491[/td][/tr][tr][td][b]页数：[/b][/td][td] 8页[/td][/tr][tr][td=1,1,21%][b]出版社：[/b][/td][td] 中国标准出版社[/td][/tr][tr][td=1,1,21%][b]书号：[/b][/td][td] 1550661-32034[/td][/tr][tr][td][b]出版日期：[/b][/td][td] 2008-06-01[/td][/tr][/table][/td][/tr][/table][/td][/tr][/table]不知道那为朋友有，给大家分享下嘛！谢谢！

  • 2014 牛津仪器 学无止“镜”——发现微观之美显微分析大赛

    2014 牛津仪器 学无止“镜”——发现微观之美OI 2014 Learn Beyond the Microscopy - Discovering the Beauty of Microanalysisl 大赛主题：1. 突破技术革新之路，挑战显微分析的最高极限2. 尽享科学研究最美，发现枯燥科研亦别有洞天l 参赛要求：1. 显微分析结果必须使用牛津仪器的设备完成http://bbs.instrument.com.cn/xheditor/xheditor_skin/blank.gifhttp://bbs.instrument.com.cn/xheditor/xheditor_skin/blank.gif2. 参赛文件组成a) 参赛图片, 要求为像素在512X512以上的JPG格式（允许使用Photoshop等图像软件适当美化）b) 参赛图片相关的原始数据文件，如INCA软件采集的ipj格式文件或者Aztec软件采集的数据文件包c) 使用WORD文件陈述参赛项目: 包含根据图像意境命名的参赛作品名称,样品情况说明和采集参数设置 (如放大倍数，加速电压，采集时间等)3. 请将以上所有内容用压缩软件打包后Email发送至大赛组委会l 奖项设置：大会组委会将根据照片的艺术美感和显微分析技术难度分别进行评比奖项评奖人人数奖品最佳艺术奖组委会每种奖项分别设第一,二,三名第一名 iPad mini第二名 iPod nano第三名 iPod shuffle最佳技术奖组委会最佳人气奖用户会现场观众投票1. 优秀参赛图片将录入[size

  • 默克显微分析产品大揭秘

    默克显微分析产品大揭秘

    提到德国默克，大家会想到什么呢http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/emyc1010.gif"质量好"，"价格高"。。。http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09503.gif其实，大家忽略了很关键的一点，那就是德国默克拥有齐全的实验室基础产品，除了色谱柱，液相气相质谱溶剂，水质产品，多肽合成和有机合成产品，还有显微分析产品哦我们平时耳熟能详的“革兰氏染色”、“巴氏染色”、“H&E染色”、“吉姆萨染色“，这些都属于默克的Microscopy系列当然，Microscopy系列的产品远远不止这些，按照应用不同，分为“细菌染色”、“血液染色”、“细胞染色”、“组织染色”四大类。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/04/201204261028_363456_2491887_3.jpg

  • 【资料】黄孝瑛电子显微分析图书共享给大家看看

    这是我找到的她的书,看了觉得很多东西很有用,共享给大家看看!互相交流交流![em01] [em38][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=52698]黄孝瑛电子显微分析图书[/url]这里面是3本书哈 ！！我看到好多人又在问要那书。。。。其实这里面都有 自己来下撒 ！

  • 【原创大赛】2015年度显微镜和显微分析(M&M)大会（多图现场报道+分析总结）

    【原创大赛】2015年度显微镜和显微分析(M&M)大会（多图现场报道+分析总结）

    【原创】首发仪器信息网，转载注明来源 2015年度显微镜和显微分析(M&M)大会 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/07/201507281037_557490_1982636_3.jpg【M&M大会简介】M&M大会（Microscopy and Microanalysis Meeting）是由美国显微学会 MSA（Microscopy Society of America）主办的全球最大的显微技术和分析科学大会。作为全球最重要的显微设备展览之一，每年都会吸引超过100家厂商参展。在连续五天的会议中，大会将组织超过40个不同主题的研讨会，包括了显微前沿科学和技术的各个领域。各大显微设备厂商也都会带着最新的产品参展。这不光是学术界也是产业界的一次大聚会。你可以看到学术界的最新进展，也可以实地试用最新的仪器设备，还有不错的培训讲座和很丰富的社交活动。我已经连续参加了四届，每次都会收获良多。今年的大会于8/2-8/6在玫瑰之城波特兰Portland举行，而这里也正是著名的半导体大厂Intel和电镜大厂FEI总部的所在地。过去一年中电镜行业出现很多新技术和新趋势，结合这次大会的现场体验和在这里大家分享一下我的感受。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/07/201507281039_557491_1982636_3.jpg【最新应用趋势】 近年来对材料进行超微尺度的研究依然热门，对于同时拥有高分辨和微分析能力的透射电镜和扫描电镜的需求持续强劲。各大研究所和高校在电镜的投入上也越来越大，高分辨率冷场带球差矫正的TEM/STEM已经可以在很多地方见到。在物理/材料领域，美国国内有大量的研究都集中在新能源材料领域特别是对电池材料的探索。这很大程度上得益于美国能源部DOE近年来在各大国家实验室的大力投入。这个带来的相应结果是，原位电镜技术Insitu-TEM已经成为了在材料学应用中的热点。去年的展会中出现了很多可用于单一或多体系气相，液相，电化学，力学和热学实验的原位样品杆以及配套设备。生物和生物材料交叉领域也出现了两个热点，一个是改进的冷冻电镜技术(cryoTEM)结合三维重建在结构生物学中的应用，另一个就是逐渐成熟的可完成多尺度分析的相关显微技术(correlative microscopy)。原来在生物样品中存在的低衬度，易受电子损伤等问题在冷冻技术下都得到了一定程度的改善。新的tomography三维成像样品杆和改进的软件和算法让三维重建变的更加便捷和有效，高分辨原子尺度的三维冷冻电镜已经可以实现。对于多尺度的研究，许多电镜厂商已经开始提供完整的相关显微方案以实现在同一样品上结合光学和电子信息的收集和分析。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/07/201507281045_557495_1982636_3.gifhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/07/201507281045_557496_1982636_3.jpg【2014年大会回顾】 1）TEM/SEMTEM方面，FEI作为全球最大的电镜供应商依然占据着很大一部分电镜市场。经过2013年产品线的重新排布，现在已经由经典的Tecnai和Titan系列又延伸出了加强了3D和元素分析功能的紧凑型Talos系列和针对半导体行业的Metrios系列。再根据材料学和生物学的不同要求演化出了Titan Themis和Titan Krios这样的细化型号。同时还有特殊的环境电镜Titan ETEM，拥有脉冲电子束实现4D数据观察的Tecnai Femto UEM，以及全球唯一的内置荧光显示CLEM系统的Tecnai iCorr生物电镜。FEI的产品线已经非常全面，也针对不同用户都有相应的解决方案。日本电子JEOL拥有性价比极高的2100系列和高端的ARM200F及最新发布的ARM300F，一直在中端市场表现不错，依然是电镜分析实验室日常应用的首选。日立Hitachi在TEM方面没有什么新的机型，俨然重点已经转向SEM，集中加强自己在冷场SEM中的优势。蔡司Zeiss在2013年选择全面退出TEM的市场，开始专注经营自己的SEM/Dual Beam市场。早先Zeiss 的libra系列有着不错的设计和性能，内置的omega filter和kohler照明系统更是独门利器，着实可惜。Zeiss现在依然在开发独家的氦离子电镜和X光电镜，未来都可能成为亮点。SEM方面各家竞争愈发激烈，战线都已经延长到了dual beam FIB/SEM 和特殊的correlative SEM。Tescan全面发力，在美国设置独立服务机构的同时开发了许多新型号的SEM。最引人注目的是和Witec合作开发的全球首款集合了Raman和SEM的RISE系统，去年在MM大会首发并得到了今年光学界大奖Photonics Prism Award。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/07/201507281045_557497_1982636_3.jpg2）STEM 对于国内不太熟悉的Dedicated STEM, 去年的NION着实让业界惊叹。配合多级球差校正系统，传统UltraSTEM系列早已拥有了超高的分辨率和稳定性。可惜对于电子能量损失谱EELS的分辨率一直不够理想,普遍仅仅能维持在1eV左右。而目前装了单色器monochromator的TEM已经可以轻松达到0.15eV甚至0.1eV。传奇人物Krivanek（Nion和Gatan的创始人，EELS谱仪的发明人之一），他重新设计了monochromator并实现了在新的Nion HERMES上的惊人的20meV(0.02eV，传言说目前已经逼近6meV)EELS分辨率!记得在去年大会中，NION远程操作位于ASU的UltraSTEM100，现场演示了0.02 eV的分辨率，十分惊人。这意味着EELS已经可以拥有了和XAS类似的分辨率，可以捕捉到更加丰富的价态信息和对轻元素的定量分析，包括各种coreloss范围的键态信息，low-loss范围的surface plasmon，甚至exiton等信息。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/07/201507281046_557498_1982636_3.jpg3）其他EM设备去年伴随着Insitu，cryo和correlative类技术的发展，各大EM设备供应商都推出了很多有特色的产品。第一个值得注意的是EM设备的大厂Gatan推出了适应于serial block-face SEM (SBSEM)的3View系统，结合了一个装在SEM内部的超薄切片机可以更方便的实现各个尺度的三维重建。Zeiss已经是第一个支持这个系统的厂家，未来将在更多厂家上支持。第二个是Protochips推出的最新insitu样品杆，可以提供精确控制气压，气体组成和温度，对于需要研究原子尺度的反应大有帮助。另外，Fischione推出了最新的cryo holder让人眼前一亮。全新的样品装载装置比传统样品杆更为简便快捷，打破了原来Gatan的垄断的cryo holder市场。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/07/201507281050_557499_1982636_3.png【2015大会总结】 今年的M&M从重量级的开场嘉宾开始，华人诺贝尔化学奖得主钱永建的在会议第一天作了题为" New Molecular Tools for Light and ElectronMicroscopy"的报告。报告着重提到了CorrelativeEM在生物领域的最新进展和传统EM的最新引用。会议依旧按照三大主题安排：显微新技术，物理类显微分析和生物类显微分析。在TEM新技术方面，主要是围绕in-situ，low-voltage还有dynamic 4D技术展开。在SEM方面，多种新技术包括新的光学关联显微技术，空气SEM和连续切片显微技术都吸引了很多关注。物理应用方面大量的研究依旧集中在新能源材料和二维碳基材料领域。生物方面并没有太多的亮点，cryo和3D依然是中心。另外，会议还特别开辟了针对EELS分析和模拟实验结合的议题。产品方面，SEM依然是厂商火力最集中的地方。新发布的SEM系统和设备包括Zeiss Gemini500系列和特殊的MultiSEM多电子束快速SEM，JEOL的JSM7200和最新的Soft X-ray探测器，Hitachi在SU92

  • 网络讲堂：电子显微成分分析中的若干问题与解决方法

    http://img3.17img.cn/bbs/upfile/images/20100518/201005181701392921.gif电子显微成分分析中的若干问题与解决方法 讲座时间：2014年7月16日 10：00 主讲人：张治忠 从事电子显微微区分析超过13年，在电子显微分析产品的研发、制造、应用方面有深入的参与和理解。http://img3.17img.cn/bbs/upfile/images/20100518/201005181701392921.gif【简介】 将电子显微成分分析中遇到的关键问题进行分析，剖析问题的来源，然后针对主要问题，提供ThermoFisher的解决方法，为用户提供应用分析的建议。主要内容：1. 能谱定性分析中遇到的问题2. 如何提升微区分析的效率与深度3. 如何应对轻元素及低浓度元素分析的问题-------------------------------------------------------------------------------1、报名条件：只要您是仪器网注册用户均可报名参加。2、报名并参会用户有机会获得100元京东卡一张哦~3、报名截止时间：2014年7月16 日 9:30 4、报名参会：http://simg.instrument.com.cn/meeting/images/20100414/baoming.jpg

  • 【原创大赛】材料显微分析技术简介——第一篇 神奇的二次电子

    【原创大赛】材料显微分析技术简介——第一篇 神奇的二次电子

    材料显微分析工作不仅限于通过显微镜等设备对材料的微观形貌进行拍摄，还包括了对所拍摄到的微观图像进行分析。对这些数据的分析工作要求我们一定要考虑到：对样品自身背景、取样方法、制样工艺、拍摄条件以及接收信号种类对测试结果的影响。对电镜原理及分析技术的理解不仅可以让我们得到漂亮美观的显微图像数据，可以帮助我们挖掘到很多关于材料本身的信息。我们知道扫描电镜对样品的微观信息进行分析，有各种个样的成分信息。比如背散射电子、二次电子、背散射电子衍射花样、阴极荧光、特征X射线、韧致辐射X射线等等。[align=center][img=,690,329]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707310824_01_1735_3.jpg[/img][/align][align=center]图1、 不同二次电子的特征及产生机理示意图[/align]拿二次电子衬度形貌的分析来举例如图1所示，二次电子在扫描电子显微镜中主要分三大类：第一类是一次二次电子SE1，主要是由入射电子与样品极表面（几纳米的深度）相互作用而产生的，它的产率受入射电子束方向与样品表面夹角的影响，因此体现的是样品的形貌衬度；第二类是二次二次电子SE2，主要是由入射电子束在材料机体内发生弹射后又从电子束进入材料的入射点周围及附近弹出时，与材料表面相互作用而引起的，它的产率受材料主体成分及材料晶体取向的影响，因此体现的是材料成分信息及材料晶体取向信息（一般情况下SE1信号在材料的观测中为主要衬度，只有在SE1衬度极弱的条件下，SE2信号的衬度才可以被我们观察到）；第三类是三次二次电子SE3，主要是由电镜样品舱内或物镜极靴或样品台与弹射出样品的背散射电子作用而产生的，它一般是作为噪音来被二次电子探测器接收到的，这类信号越多，电镜拍摄到的图像衬度越差。[align=left][b]SE2二次电子的应用[/b][/align]我们都知道一般SE1二次电子用来观测图像的形貌衬度，而把SE2或SE3当做噪音来看待，但是随着制样工艺及电镜表征技术的发展，SE2二次电子信号也可以被我们用来分析材料的微观结构信息，如下图粉末颗粒截面：[align=center][img=,690,518]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707310824_02_1735_3.jpg[/img][/align][align=center]图2 电极材料截面形貌观测[/align][align=center][/align][align=left]我们可以观测，当通过氩离子束抛光把样品表面抛的绝对平的时候，SE1的形貌衬度在图中样品的平面部位的衬度就很弱，因此反应晶体取向衬度的SE2信号就被我们观察到了，图像中颗粒截面的这种亮暗不同是由不同 取向的晶粒造成的，通过它我们可以很直观的看到样品的晶粒度（亮暗区域的大小）、晶体取向差（亮暗灰度绝对值）。对我们研究新材料的性能及合成工艺有很大的帮助。[/align][align=center][/align]

  • 【资料】显微镜分析系统在炭黑检测中的应用

    用显微图像分析法测定聚烯烃管材、管件和混配料中颜料或炭黑分散度（符合GB/T 18251-2000国家标准）·········l 显微分析系统及试验方法介绍：一.实验方法1.从管材、管件或粒料上取少量样品压在载玻片之间并加热制备试样，也可以使用切片机切片制备试样。2.依次将六个试样放在显微镜下，经过摄像采集设备在计算机上显示图像，通过软件的操作计算机自动给出测定粒子和粒团的尺寸及试样等级确定表（国家标准）。注：分散的尺寸等级由六个试样等级的平均值来确定。二.配置介绍:1. 三目显微镜2. 高清晰JVC摄像头3. 高性能图像采集卡4. 显微分析软件显微分析系统BM19A-UV实物图片 实验主要仪器：a） 显微镜： 三目XSP-BM19A显微镜，带有校准的正交移动标尺，能够测量出粒子和粒团的尺寸；b） 软件系统：计算机硬件设备一套，观测粒子或粒团的尺寸分布及外观分布的显微分析软件UV一套；c） 载玻片：厚度约1mm的载玻片，小刀，弹簧夹；d） 切片机：能够切出规定厚度的薄片；e） 加热设备：烘箱、热板等，可在150℃～210℃之间的控制温度下操作；f） 图像采集设备：JVC摄像头TK-C1021EC、三目显微镜摄像接口MCL 、显微镜图像采集卡SLG-V110。试样制备：本标准规定了两种试样制备方法：压片法和切片法。制备好的试样应厚度均匀，用于测定颜料分散的试样厚度至少为60μm，用于测定炭黑分散的试样厚度为25μm±10μm。压片方法：用小刀沿产品的不同轴线在不同部位切取六个试样。测定颜料分散时，每个试样质量大于0.6mg；测定炭黑分散时，每个试样质量为0.25mg±0.05mg。把六个样品放在一个或几个干净的载玻片上，使每一试样与相邻的试样或载玻片边缘近似等距排放，用另一干净的载玻片盖住。可以使用金属材料或其他材料制成

  • 【谱图】微分干涉金相显微镜的简要介绍

    DMM-5000微分干涉金相显微镜采用优质的无限远光学系统，同时配备明暗场通用的长工作距离平场平场消色差物镜，多光路的系统设计，可同时支持双目镜筒观察和数码摄像装置观察。DMM-5000倒置金相显微镜可广泛应用于研究金属的显微组织，能在明场、暗场、偏光、微分干涉下进行观察和摄影，配备专用软件，更可同步进行测量分析。可供研究单位、冶金、机械制造工厂以及高等工业院校进行金属学与热处理、金属物理学、炼钢与铸造过程等金相试验研究之用。DMM-5000高级正置金相显微镜，选用优质的光学元件，配有超大视场目镜、落射照明器、平场无限远长工作距离明暗场物镜，可选用微分干涉（DIC）观测、获得高清晰的图像，使图像衬度更好。是针对半导体晶圆检测、太阳能硅片制造业、电子信息产业、治金工业开发的，作为高级工业金相显微镜使用。可进行明暗场观察、落射偏光、DIC观察，广泛用于工厂、研究机构、高等院校对太阳能电池硅片、半导体晶圆检测、电路基板、FPD、精密模具的检测分析。 DMM-5000C电脑型微分干涉金相显微镜是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的计算机成像技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。既可人工观察金相图像,又可以在计算机显示器上很方便地适时观察金相图像，并可随时捕捉记录金相图片,从而对金相图谱进行分析,评级等,还可以保存或打印出高像素金相照片。

  • 【分享】微分干涉显微镜在金相研究方面的应用

    微分干涉显微镜对表面光洁度的测定：　　电解抛光，化学抛光时，表面质量可用微分干涉金相显微镜加以鉴定。根据干涉条纹的形状可知表面光洁度的好坏，如条纹弯曲不大说明抛光或表面较平整。　　微分干涉显微镜对金属塑性变形的研究：　　用微分干涉显微镜可以精确地测定滑移带高度及多晶体试样内各处的变形程度等。　　微分干涉显微镜对金相试样因共格相变发生浮凸的研究：　　在金属里面的马氏体，贝氏体及魏氏体组织，用微分干涉金相显微镜能有效地鉴定表面浮的形状。用它进行观察可以使表面的肉眼无法观察到的浮凸体明显地程现出来。　　微分干涉显微镜对LCD行业的检察应用：　　在目前市场上供不应求的LCD行业来说，这是最适合不过的了，LCD属于一种精密型的产品，生产过程中许多部件都要用到显微镜。微分干涉金相显微镜主要用于在导电粒子方面的观察，这种粒子小到四五微米，肉眼根本玩法看见。用该类显微镜则方便许多。

  • 与「欧波同」同行，见证钢铁行业显微分析技术和装备智能化共同进步

    近年来，随着科技的不断进步，电镜作为探索微观世界的“窗口”，早已应用于各行各业。基于此，欧波同携手仪器信息网推出“解码微观世界”系列活动，通过丰富的镜头记录下欧波同的蜕变之路以及电镜产业的突破与变革。本期视频，将带领大家走进显微特征自动分析系统联合实验室，通过与首钢京唐公司质检监督部部长张召恩、首钢集团有限公司技术研究院科学家鞠新华、欧波同副总经理张国滨等多位嘉宾对话的形式，深入了解欧波同在钢铁材料微观智能化表征方面的探索和实践。[color=#ff6428][/color][align=center][img]https://5-img.bokecc.com/comimage/D9180EE599D5BD46/2024-01-31/A95B6A2206066E8FFC9558351D509E7C-1.jpg[/img][/align][back=url(&][/back][font=Arial, Helvetica, sans-serif][size=12px][color=#ffffff]00:00[/color][/size][/font][font=Arial, Helvetica, sans-serif][size=12px][color=#ffffff]/[/color][/size][/font][font=Arial, Helvetica, sans-serif][size=12px][color=#ffffff]06:31[/color][/size][/font][back=url(&]B[/back][font=web][size=24px][color=#ffffff]T[/color][/size][/font][size=12px][color=#dddddd][back=rgba(51, 51, 51, 0.5)]高清[/back][/color][/size][size=12px][color=#dddddd][back=rgba(51, 51, 51, 0.5)]正常[/back][/color][/size]众所周知，智能制造是全球制造业发展的一个总趋势。钢铁行业，作为我国传统制造业的重要组成部分，也进入了智能化转型的关键时期。据张召恩部长介绍，当前首钢在智能制造方面已经具备了一定的经验，如智能物流、智能生产、智能分析，但是在微观检测领域，还处于刚刚起步的阶段。鞠新华老师也提到，目前钢铁检测行业在成分和性能分析方面实现了从取样、制样到检测的智能化，而微观组织分析的智能化还没有实现。欧波同旗下汇鸿科技，聚焦智能分析系统自主研发，通过行业领先的计算机视觉和图像识别技术，实现了AI技术和工业分析技术的跨界融合，已成功将AI智能金相分析系统、钢铁夹杂物分析系统等产品推向市场。基于此，首钢与欧波同携手共建了显微特征自动分析系统研发联合实验室，以推动钢铁行业显微分析技术和装备智能化共同进步。张召恩部长讲到，欧波同提供的设备能够很好地满足钢铁行业要求，同时，欧波同的技术服务和反应时效也能很好地满足客户需求，这是首钢选择与欧波同合作的一个重要原因。张国滨副总表示，与首钢共建联合实验室，是欧波同由仪器代理商转化为技术服务商的一个成功案例；欧波同在发展历程中，汇聚了一大批行业专家和用户，再加上独特的软件研发技术，结合行业痛点，欧波同将持续为钢铁行业赋能。[i]延伸阅读：[/i][url=https://www.instrument.com.cn/news/20230628/672345.shtml][i]欧波同品牌故事：二十年历程，不断蜕变[/i][/url][来源：仪器信息网] 未经授权不得转载

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