显微测量

显微薄膜测量仪配件是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统，可以结合显微镜测量薄膜的吸收率，透过率，反射率以及测量点的荧光。薄膜测试仪通过反射率的测量，测量点处的薄膜厚度，薄膜光学常量（n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。整套显微薄膜测量仪的组成是：光栅光谱仪（200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜（可选）。其中目镜适配器包含镜头，可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。整套薄膜测量仪和薄膜测试仪到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。 安装到显微镜上的薄膜测量仪照片 薄膜测试仪SiO2薄膜测量结果（20X物镜）薄膜厚度测试仪配件软件 这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制，光谱测量和薄膜测量功能的软件，具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率，透过率，反射率和荧光光谱，并且能够能够快速计算出结果。对于吸收率/透过率模式的配置，所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数，如signal integration也能测量出来。对于反射率测量，该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度（《10nm到100微米）， 光学常量（n & k)。 薄膜厚度测试仪配件参数 可测膜厚： 10nm-150微米； 波长范围：200-1100nm 精度：0.5% 分辨率：0.02nm 光源：使用显微镜光源 光斑大小：由显微镜物镜决定 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口； 尺寸：120x120x120mm 重量：1.2kg 薄膜厚度测试仪配件应用 测量薄膜吸收率,透过率 测量化学薄膜和生物薄膜测量 光电子薄膜结构测量 半导体制造 聚合物测量 在线测量 光学镀膜测量

测量标尺：测量范围：0-10mm 测量精度：0.1mm 角度：0-90° 精度：1° 产品编号 型号 放大倍率 刻度直径 尺寸 刻度精度 ZB-IP754 Peak 2037 30X --- &Phi 30mm × 19mm 0.05mm ZB-IP753 Peak 2016 15X --- &Phi 35mm × 36mm 0.1mm ZB-IP752 Peak 1983 10X 35mm &Phi 46mm × 44mm 0.1mm ZB-IP751 Peak 1975 7X 26mm &Phi 36mm × 44mm 0.1mm

布鲁克AFM原子力显微镜探针 - PFQNE-AL布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2,MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 - RTESPA-525 布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨 SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 - DNISP-HS 布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

布鲁克AFM原子力显微镜探针 - RTESPA-150布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

红外显微镜配件专门为微电子研发和制造而设计的显微镜，它是一款科研级显微热成像仪，在微米尺度给出电子器件和芯片的温度分布，能够非接触式地测量电子器件的温度分布，查找热点hotspots。红外显微镜配件对于分析和诊断半导体器件热表现非常有用，可用于探测热点和缺陷 电子元件和电路板故障诊断 测量结温 甄别芯片键合缺陷 测量热阻封装 确立热设计规则等领域，可以有效地检测微尺度半导体电路的热问题和MEMS器件的热问题。就MEMS的研发而言：空间温度分布和热响应时间这两个参数对于微反应器,微型热交换器,微驱动器,微传感器之类的MEMS器件非常重要。到目前为止，还有非接触式的办法测量MEMS器件的温度，红外成像显微镜能够给出20微米空间分辨率的热分布图像，是迄今为止测量MEMS器件热分布的有力工具。红外显微镜配件光学载物台：坚固而耐用，具有隔离振动的功能；聚焦位移台：用于相机的精密聚焦和定位；X-Y位移台：用于快速而精密地把测量区域定位到相机的视场中； 热控制台： 具有加热和制冷功能，用于精密器件的温度控制；红外显微镜配件应用*半导体IC裸芯片热检测 *探测集成电路的热点（hotspots）和短路故障*探测并找到元件和电路板上缺陷 *测量半导体结点温度（结温）*辨别固晶/焊线/点胶缺陷*测量封装热阻 *确立热设计规则 *激光二极管性能和失效分析*MEMS热成像分析*光纤光学热成像检测*半导体气体传感器的热分析*测量微交换器的热传输效率 *微反应器的热成像测量*微激励器的温度测量*生物标本温度分析 *材料的热性能检测*红外显微镜热流体分析 热分析软件红外显微镜配件分析软件。 这种软件能够帮助您非常容易而快速地获得温度信息，同时，它可以产生实时的（real time）带状图、拍摄并回放图像序列以及在图像上选择任何大小形状的区域，从而为您提供不同视角和建设性的数据分析手段。

电动显微镜载物台配件集成了测量系统，实现显微镜和样品的精确定位，提供75x50mm的行程范围，最小步进高达0.05微米，定位进度高达1微米，是全球领先的自动显微镜载物台品牌。电动显微镜载物台配件特点 集成高精度测量系统实现全球最高定位精度和测量精度 具有定位测量功能 德国圆角的平面人体工程学设计 显微镜载物台插入配件可更换设计，具有多种stage inserts 选配，满足显微镜应用 电机/编码器电缆前右部连接，符合操作人员习惯 集成电子位移台识别系统，自动识别扫描台及其控制器 配备高精度特定型号控制，可享受全球5年超长质保电动显微镜载物台配件参数 行程范围：100x100mm 行进速度：最大240mm/s 重复定位精度：1um 精度：+/-1um 分辨率：0.05um (最小步进） 正交性：10arcsec 驱动电机：2两相步进电机 位移台开口：160x116mm 材质：高级铝 表面处理：氧化涂层，黑漆 自重：~2.6kg电动显微镜载物台配件适合显微镜品牌和型号 Leica DM1000 Leica DM2000 Leica DM2500 Leica DM2500 M Leica DM3000 Nikon Eclipse E400 Nikon SMZ1000 Nikon SMZ1500 Nikon SMZ800 Olympus BX40 Olympus BX41 Olympus BX41M Olympus BX50 Olympus BX51 Olympus BX51M Olympus SZX10 Olympus SZX12 Olympus SZX16 Olympus SZX7 Olympus SZX9 电动显微镜载物台配件系列集成融入了测量系统，专业为显微镜自动样品定位和精密样品定位应用设计，专业为全球主流显微镜品牌配套，独具的测量系统功能是全球领先的超精密定位测量系统，极大提高测量精度，采用全球领先的德国长期润滑系统，确保长期使用而不需维护.

显微分光光度计配件是专业为地质,地球科学,刑事科学、物证鉴定而设计的显微光谱仪和显微光度计。显微分光光度计配件特点采用与显微镜结合的结构，获取超高分辨率的显微图像和光谱，是替代高光谱技术的理想光谱仪器。显微分光光度计配件可与各种带有相机接口/摄像镜筒的显微镜连接,采用先进的二极管阵列式分光光度计，检测波长范围从紫外，可见到近红外， 可选择分辨率和灵敏度，也可使用光电倍增管连接在摄像镜筒上的分光部件，可以同时连接光谱分析仪和摄像头，也可选择所需规格的测量光栏放在分光部件上， 作分析测量使用。显微分光光度计配件应用刑侦鉴定：测量纤维-毛毯，服装，家具，绳索，毛发等涂料：汽车油漆，刮擦层，美术颜料等文件-纸张，钱币，墨水，墨粉，印泥等炸药-胶带等化妆品-唇膏，指甲油等各种物证显微分析测量技术(依据各显微镜的配置)透射光明场和偏光方法反射光明场，暗场，偏光照明系统要求遵循DIN/ISO7404/5标准卤素灯照明系统需连接稳压电源照明系统光路开关和滤光片切换装置由马达自动控制配备一波长546nm波长干涉滤光片和中性衰减滤光片测试原理光电倍增管点测量：手动选择感兴趣的区间，测量反射光并与反射标准相比较。根据仪器配置的不同，测试场的大小可通过固定光圈或可调光圈选定。背景照明可使仪器达到最佳状态。电控单元提供了106的动态范围，可自动检测到次生光和暗流。各种测量功能通过自动检查仪器设置参数,来对仪器进行校准不间断显示测量结果，实时观所测量信号变化可通过点击鼠标或外部触发提取某一单一数据，进 而进行统计评估可对样品的不同组分,对每一组分实时进行10通道测量，然后得到每一组分的相对百分比数值当偏光样品在旋转载物台旋转至某一角度时,得 到其光强度最大值和最小值计算机(最低配置) 主频1GHz的P4处理器,内存256MB,17"监视器,MicrosoftWINDOWS操作系

瑞士Lyncee Tec SA www.lynceetec.com 瑞士Lyncee Tec SA公司的数字全息显微镜&ldquo DHM（Digital Holographic Microscopy）是划时代性的高科技技术产品，科学史上第一次, 数字全息显微镜可以直接观测到纳米尺度的分辨率,即时得到样品三维型貌,并且是无接触式的无损测量。 DHM 1000 Family将波长630nm的半导体激光分成照射到试料的光和参照光两部分来使用。共包括两大品种，一种是试料反射光与参照光进行干涉的&ldquo 技术参数： 测量原理： 反射式数字全相术干涉显微镜 （R1000系列） 或 穿透式数字全相术干涉显微镜（T1000 系列） 取像型式： 强化与量化的相位对比影像 光源： 单波长雷射光源 样品台： 手动3 轴, x, y, z 各可位移25毫米 选配：较大位移的样品台 选配：软件自动控制的2轴或3轴样品台 照相机： 1392 x 1040 像素, 8 bits 可选物镜： 1.25x, 2.5x, 5x, 10x, 20x, 50x, 63x, 100x 选配：长工作距离物镜, 油浸渍物镜 物镜安装： 单物镜安装, 双物镜的滑动块或四物镜的转盘安置 计算机： 应为DHM配置含最新的Pentium? 处理器和视窗XP 专业版个人电脑为佳, 显示则需19寸, 1280 x 1024 像素的显示屏 软件： Lyncee Tec专利的&ldquo 袋熊"经典软件, 是利用C++ 和 .NET技术,专为在视窗XP?的3维表面成型, 曲面测量, 步进高度与粗度测量写成的. 选配工作模式： 垂直扫描与频闪观测模式 性能 垂直的分辨率（＊） 瞬间：0.2° （在空气中0.2奈米） 空间：0.6° （在空气中0.6奈米） 垂直数字聚焦范围 视区50倍深度（取决于物镜） 垂直测量范围： 对平滑样品, 取决於测量区域的深度 340 奈米 （用选配的垂直扫描模式, 范围可以测得更高） 横向的分辨率 （＊＊）: 取决于物镜： 用油浸渍的物镜（1.4 NA）, 最低可测到300奈米， 可视区域： 取决于物镜可达到4.40毫米 横向取样： 1024 x 1024 像素 （全像照相） 撷取影像速率 实时影像：15 fps （512 x 512 像素）, 4 fps （1024 x 1024像素） 离线重建：15 fps （1024 x 1024） （10000 fps速率为选配） 样品照明： 低至 1?W/cm2 最大样品尺寸： H x W：200毫米 x 123毫米 （R1000系列） 50毫米 x 150毫米 （T1000 系列） 工作距离： 取决于物镜：从 0.30毫米 至 20毫米 取样反射率 （R1000系列）： 低至小於1% 撷取时间： 单一影像撷取, 低至小於 1微秒 （无扫描机械装置, 无相位移） 主要特点： 实时监测影像 获取与重建速率（标准15 fps, 大于15 fps为选配） 非常快速, 使得影像可以实时监看. 观看动态事件的过程和活细胞的相互作用现象由此变为可能. 坚固 & 稳定 非常短的取像时间 （数微秒） 使得此设备在测量时, 几乎不受外在的振动影响, 用防震台面也变得不需要. DHM? 的坚固与稳定性, 允许非常微弱, 缓慢的变形或移动, 需稳定性非常好或时间超常的测量. 高分辨率 沿着垂直 （Z） 轴的分辨率,小于1奈米. 横向的分辨率 （在XY平面） 取决于物镜的数值孔徑 （用油浸渍的物镜可测得300奈米）, 像传统的光学显微镜. 非接触式 & 完全非侵入式测量 低功率可见光的样品照明 （至少低于共焦式显微镜10"000倍）, 与试片表面不接触, DHM? 可以保存你样品完整的特性. 此外, 生物试片可以直接观看不需染色, 因此可以防止化学性或物理性的危害. 值得有效的解决方案 DHM? 的安装费与操作费用都非常低廉. 适应性与弹性使它们在高分辨率显微镜领域非常有竞争性. 这些特性使DHM?在研发和制程品管上, 成为非常值得, 有效的工具. 友善的操作 无须样品准备, 无须特别的环境 （温度, 真空, ...）, 样品不需高精准度的位置与方向摆放, DHM? 简化技术, 让使用者可以非常容易并快速的获得准确的测量. 功能强大三维空间处理软件 可以用相同的仪器, 不同的操作模式去延伸你的应用范围. DHM-提供了无与伦比特有的数字工具, 改善了仪器使用的容易性与耐用性, 也增加了测量的准确性与稳定性. 标准和先进的量测接口, 使外在控制可在欢乐和弹性的环境中达成. 瑞士Lyncee Tec SA公司的数字全息显微镜&ldquo DHM（Digital Holographic Microscopy）是划时代性的高科技技术产品，科学史上第一次, 数字全息显微镜可以直接观测到纳米尺度的分辨率,即时得到样品三维型貌,并且是无接触式的无损测量。DHM 1000 Family将波长630nm的半导体激光分成照射到试料的光和参照光两部分来使用。共包括两大品种，一种是试料反射光与参照光进行干涉的&ldquo R1000 series&rdquo ，另一种是试料透过光与参照光进行干涉的&ldquo T1000 series&rdquo 。照射到试料上的光线与参照光产生的干涉图案使用CCD相机，作为数字数据保存下来，由此算出三维数据。计算三维数据时使用的是专用软件&ldquo Koala Software&rdquo 。 应用： 其主要应用是在MEMS研发中用于测量工作，以及在生产线用于缺陷检测。与上述用途中现在经常使用的共焦显微镜相比，在同行分辨率下能够更高速地进行测量。垂直方向的分辨率为0.6nm，水平方向为200nm～300nm（取决于物镜）。使用1.25倍率的物镜时视野为4mm× 4mm，可以15视野/秒的速度进行测量。因此，1cm见方的试料几分钟即可完成观察。使用现有共焦显微镜时，同等范围的观察则需要几个小时～10小时。 此次的产品最大可将观察速度扩展至1万视野/秒。由于摄影速度快，因此不需除震台，可用来检测流水线上的产品。 u 材料科学 u MEMS/MOEMS 微型词典系统 u Micro-optics 显微光学 u Semiconductor 半导体 u Nanotechnology纳米技术 u 生命科学 u Cellular biology 细胞生物 u Biochips生物芯片 u Bio-sensors生物传感器

数字显微维氏硬度计配件是全球领先的数显维氏硬度计，最大加载力是1kgf，数字显微维氏硬度计广泛用于金属钢铁各种材料和物件的维氏硬度测量测试。数字显微维氏硬度计配件特点 配备有自动转塔，封闭循加载系统，键盘面板和触摸屏双重输入方法， 蓝牙 配备有5.2' ' 彩色触摸屏，具有指导操作性的界面，加载力可选，保压时间设置，转换尺寸和数据读取，转移打印更加快速方便。 用户可通过自动塔台方便地更换物镜，指示器等配件 从维氏硬度自动进行硬度转换到其它，入HK, HBW,HRA,HRB,HRC等。 装配有蓝牙，方便与计算机进行无线通信 数显维氏硬度计配件应用 测量非常薄的材料比如，锡箔，涂层，薄片等的硬度 测量小型器件小面积的表面硬度 量微结构硬度 测量硬化深度 数显维氏硬度计配件参数 加载力：0.098,0.246,0.49,0.98,1.96,2.94,4.90,9.8N 10,25,50,100,200,300,500,1000Gf 镜头转换：自动塔台 数据传输：蓝牙或RS232 硬度分辨率：1HV 硬度测量范围：1HV~2967HV 加载控制：自动加载，保压和卸载 物镜放大倍数：10X，40X 硬度转换：HRC, HV, HBS, HBW,HK, HRA, HRD,HR15N, HR30N, HR45N, HS, HRF, HR15T,HR30T,HR45T,HRB 目镜：10X数字目镜 保压时间：1-60秒可调 XY试台 尺寸:100×100 mm 最大行程: 25×25mm，分辨率2微米 照明：可调汞灯 显示：5.2' ' 触摸屏 分辨率640x480 样品最大允许高度：70mm 供电：220VAC,50Hz 语言：中文，英语，德语，葡萄牙语，土耳其语，韩语，捷克语 尺寸：478x 162x518mm 净重：35kg 执行标准： GB/T4340,JIS Z2245, ASTM-E92, ISO6507 孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商，产品技术和性能保持全球领先,拥有包括硬度计，硬度测量仪在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类，世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系，确保每个一产品是用户满意的完美产品。 我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库，可在下单后12小时内从国外直接空运发货，我们位于天津保税区的进口公司众邦企业（天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务。 关于数字显微维氏硬度计特点,数显维氏硬度计参数的更多消息，孚光精仪将在第一时间更新并呈现，想了解更多内容，关注孚光精仪等你来体验！

显微毛发分析仪配件能够快速获取毛发和纤维的光谱数据，为司法鉴定和物证分析以及纤维材料研发提供有力帮助。显微毛发分析仪配件特点能够测量到毛发和纤维丝的透射光谱和明场和暗场反射光谱，在250-980nm 范围给出任意毛发位置的光谱，可以有效区分毛发的光谱，从而快速有效进行物证分析。

CCD显微相机。内置缓存，成就高帧频(20 fps )和稳定的图像传输性能。适合微光和荧光应用的动态范围和低噪音。相机可以通过C型接口（不含）连接至三目显微镜或通过目镜适配器0.5×连接至双目/单目显微镜。 测量工具、时移、视频记录、图像拼接、带焦距扩展荧光分离/合成的多焦点、预定义染料列表、AOI、注释、标度、输出数据至Excel、兼容CSV Twain和Directshow

纤维测定仪配件用于测量粗纤维含量，粗纤维测定仪采用酸性或碱性水解，冲洗过滤等工序，快速测量样品中的粗纤维含量，是理想的测定仪。纤维测定仪配件具有自动溶液添加功能，自动预热功能，采用红外管加热技术，具有精密的浸泡，提取和过滤程序确保测量精度。粗纤维测定仪配件应用测量粗纤维含量，广泛用于植物，饲料，农产品，测试洗涤纤维，纤维素，半纤维素，木质素等粗纤维测定仪配件特点先进的红外加热技术，高加热效率和精密温度控制美国进口滤网具有抗酸碱能力，具有良好的稳定性和寿命酸碱溶液预热功能容积预热，添加，样品过滤回收功能粗纤维测定仪配件参数测量范围：0.1-100%测量能力：6个/批样品重量：0.5-3g测量精度：+/-0.1℃重复精度：+/-1%电源： 220V,50Hz, 3200W尺寸：482x560x465mm重量：45kg

问题：当原子力显微镜做样品成像时，很难知道表面是否准确的表征？也许会受针尖的顶端破碎或钝影响。破损或钝的探针针尖会使测量结果有显著差异，如粗糙度或表面结构等等。要确保用户在使用探针时要有适当的提示，必须直接扔掉旧探针或定期使用SEM电镜检测，这两种方法都非常的浪费探针或耗时。 解决方案：BudgetSensors Tipcheck介绍-一个SPM样品可以在原子力显微镜的针尖条件下快速、简便的测定。即使在一个单一的扫描线上，也使之间的差异变得明显。因此，tipcheck提供了一个快速简便的方法来比较和分类原子力显微镜探针不同的针尖、形状和清晰度。您可以很容易的检查您的AFM探针是否完好，是否已经磨损或破损，从而不需要扫描使用该探针扫描整个样品图像或做SEM电镜扫描检测。此外，该样品的完美自动提示和针尖表征软件在市场上可用。BudgetSensors Tipcheck样品是一种非常耐磨的薄膜涂层，沉积在硅芯片上。这层薄膜涂层呈颗粒状，尖锐的纳米机构使得它能在AFM探针针尖反向成像。该Tipcheck模具的尺寸为5*5mm。下面的图片显示了使用不同探针测试tipcheck样本之间的比较，扫描尺寸为1*1um，高度为100nm。根据下面的形貌图你可以找到一个具有代表性的断面图像。为什么我们需要高度校准块？原子力显微镜已经成为一个有价值的工具，不仅用于可视化，而且也可以用于进行精确的纳米和微米尺度测量。为了能使原子力显微镜最精确的测量，原子力显微镜需要正确的校准。 HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG作为budgetsensors 高度标准介绍作为增加相应，能负担原子力显微镜的高品质校准标准需求。HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG是一个尺寸为5*5mm且阵列在硅基底上的二氧化硅结构。芯片结构的制造工艺保证了良好的均匀性。这将确保你的AFM系统Z轴方向校准方便可靠。 校准区域位于芯片的中心，使用原子力显微镜的光学系统很容易找到。校准结构的台阶高度为20nm（HS-20MG）100nm（HS-100MG）和500nm（HS-500MG）每一个芯片的精确值都标识在盒子标签上。芯片上集成了不同形状和间距的结构阵列。在1*1mm的大区域内包含了间距为10um的方柱孔。 在500*500um的小区域内包含了XY方向间距为5um的圆柱形孔。除了Z轴校准，这样的设计也让XY方向有了更大的校准范围（40~100um以内），而且，校准片的结构对称性使得校准原子力显微镜时不需要旋转和调整校准片XY刻度的方向。HS-20MG / HS-100MG / HS-500MG用优质导电环氧树脂粘在一个12毫米金属圆盘上，并将其用作装运的材料。横向尺寸：5*5mm几何结构：在1*1mm平方内排列间距为10um的方形孔柱在500*500um平方内XY方向排列间距为5um的圆形孔柱台阶高度HS-20MG：~20nmHS-100MG：~100nmHS-500MG：~500nm注：每个校准片盒子标签上都标有明确数值为什么需要XYZ标定校准？为了使原子力显微镜更精准的测量，必须进行正确校准。因此，更精确的校准标准才能实现原子力显微镜更好的测量结果。在这方面，校准的标定标准允许原子力显微镜系统的最精确校准。 我们的解决方案：CS-20NG是一种先进的XYZ标定校准，使校准精度降低到纳米级。它的特点是在一个5*5mm的硅芯片上阵列二氧化硅结构。确保整个芯片结构有良好的均匀性。反之，又确保了方便可靠的校准原子力显微镜的XYZ三方向的精度。校准区域位于芯片的中心，使用原子力显微镜的光学系统很容易找到。台阶高度在20nm范围内，每一个芯片的精确值都标识在盒子标签上。芯片上集成了不同形状和间距的结构阵列。在1*1mm的大区域内包含了间距为10um的方柱孔。在中区域内包含了XY方向间距为5um的圆柱形孔。在小区域内500nm间距的圆形孔。CS-20NG适用于横向和纵向的AFM扫描校准。校准片的结构对称性使得校准原子力显微镜时不需要旋转和调整校准片XY刻度的方向。CS-20NG用优质导电环氧树脂粘在一个12毫米金属圆盘上，并将其用作装运的材料。横向尺寸：5*5mm几何机构：在1*1mm平方内排列间距为10um的方形孔柱在500*500um平方内XY方向排列间距为5um的圆形孔柱在100*100um平方内分布着间距为500nm的圆形孔台阶高度：20nm每个校准片盒子标签上都标有明确数值

CMS 显微镜C口光路切换器 光谱仪与显微镜的连接 | 光路切换 CMS(C口光路切换器)是一款用于光路切换的配件，可与显微镜连接实现显微光谱测量，适配于莱卡、奥林巴斯、尼康、Motic 等国内外知名显微镜。CMS也可用于光路系统，特别是Cage光路系统的搭建。 CMS可以对微纳尺度样品实现更高精度空间分辨的光谱测量，测量模式包括反射、透射、吸收、辐射、色度、荧光和拉曼光谱等。更多优惠信息：http://www.ideaoptics.com/Products/PContent.aspx?pd=CMS独特优势：边看边测采用宽谱段分束器，可以实现图像和光谱的实时原位采集精细选择结合FIB-M微区光纤，可以清晰地标识光谱采集区域荧光与拉曼采用二向色镜，可以满足荧光和拉曼光谱测量1μm空间分辨采用R5笼式支杆系统，方便调节实现共轭成像，从而有效提高光谱的空间分辨率。以100倍镜头为例，可方便地实现最高1μm空间分辨的光谱采集产品特点：1、适配显微镜和CCD中常用的C接口标准 2、适配光路系统搭建中常用的R5笼式支杆系统 3、采用双精密导轨的结构设计，具有很高的重复精度，能够实现精密的空间定位 4、从反射波段到透射波段的转换非常锐利，偏振相关损耗小，光谱范围大，适用于350~2600 nm波段 5、具有A, B两档档位，能分别加载分束器、反射镜和二向色镜 6、配备2种宽谱段（分别对应可见和近红外）的分束器供选择 7、配备11种波长（400~900 nm范围）的二向色镜供选择 8、尺寸小，重量轻，设计精密，具有微调部件 更多信息访问：http://www.ideaoptics.com

MetroChip校准标样置于750μm 厚、20x20mm的芯片上。在作SEM校准时，可以得到高对比度图像，充电效应最低，校准范围宽，由4mm至100nm。校准内容包括：对中标记、线性微刻度、变形测量、图像偏移、分辨率、像散校正等。该集成式设计使MetroChip成为SEM、FIB和FESEM校准的理想标样，它亦可用于光镜和AFM校准。Microscope MetroChip 校准标样溯源至NIST认证。适用SEM、FIB、AFM及光学显微镜

显微岩相分析仪配件特别为岩相学和地球化学分析而设计，非常适合岩相学分析检测，特别是煤炭质量分析检测，显微岩相分析仪配件在全球的石化，地球化学和岩相学实验室广泛使用。显微岩相分析仪配件应用煤续排列 － 使用反射光方法, 观察其镜质体和丝质体含沥青煤的特性 — 利用落射荧光技术进行分析油母岩的分析 — 以透射光和落射紫外荧光方法百分比含量测定 — 用显微图像设备对样品进行相成分,得知其成分比例无定形材料的评估 — 显微镜下观察其古生物样品，研究其藻类和其植物部分煤岩组份族组成的判断 — 分析含沥青的煤和无烟煤显微岩相分析仪配件介绍在研究和分析煤的起源，形成和使用领域过程中，岩相分析被公认为 是非常重要的。在分析和测试单一煤样品过程中, 我们很容易得知煤的等级，煤岩组分，微石类型组成和矿物分布的重要信息。但对于一个混合煤的样品进行分析和测试, 则离不开对样品进行反射率分析和测试此一有力的方法，此一分析方法不仅可以得到煤样的化学性质，还可以区分不同混合类型的壳质组，丝质组和微惰性煤各部分 所占的比例。国际煤岩相学委员会(ICCP)已制定了相关的命名法和分析方法。在ISO/DIN标准第7404项中，比较了显微分光光度计测试和分析后得到的数据和标准样品的数据, 确认此分析方法的准确性。另一方面, 可同时结合热变指数(TAI)或孢色值(SPI)的测试方法, 可补充其它方面的实验数据。依据DIN/ISO标准进行数据采集处理的分析模式, 使用直方图表达被测量组分的含量和其它组分的相对含量。显微岩相分析仪对煤炭质量分析图样

CCD显微相机。内置缓存，成就高帧频(20 fps )和稳定的图像传输性能。适合微光和荧光应用的动态范围和低噪音。相机可以通过C型接口（不含）连接至三目显微镜或通过目镜适配器0.5×连接至双目/单目显微镜。 测量工具、时移、视频记录、图像拼接、带焦距扩展荧光分离/合成的多焦点、预定义染料列表、AOI、注释、标度、输出数据至Excel、兼容CSV Twain和Directshow型号分辨率说明VWR目录号FL 140012,3 MP微光和荧光用相机VWRI630-2668

布鲁克AFM原子力显微镜探针 - MESP-V2布鲁克AFM探针 作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势： Class100级别的无尘室 专业的设计、制造工序及制造工具 探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密 训练有素的生产团队，能够制造出各种型号的探针 质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨 SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN

超精细显微操纵仪配件MO-972是集高精度液压,步进电机电动控制和精密机械制造特色与一体的高精度微操作仪器，能够在30mm的距离内无振动地完成插入电极工作。超精细显微操纵仪配件MO-972特点 油压精细，机械，显微操作器 瓦特/步进电机，开放型，W/ XYZ轴10mm驱动单元，（Z轴）50mm，（X轴）13mm，（Y轴）18mm。开放式平台可以安装允许许多驱动单元，或安装一个网格。在30mm工作距离内，使用远程控制可以实现准确，无振动的电极插入.导管可拆卸。平台和室可以拆卸和单独移动，是全球领先的高精度显微操纵仪器。 油压显微操作器（带步进电机）用于慢性实验。使用5相步进电机操作更精确的精细Z轴电机驱动。产品包括数字控制系统+电机模块+驱动单元位置记忆功能和收回及退回功能。三种驱动模式：自由，设置和步骤.?三种驱动精度可供选择：粗，细，超细。深度，垂直，水平坐标都会显示。一种位置测量系统在实验时或实验后会计算移动距离，带来方便。另外，可以输入各驱动模式数值改变驱动量。一个控制箱可以经由内部卡总线插槽系统控制多达三个驱动单元。最小驱动精确度：粗调：0.5μm；精细：0.05微米；超细：0.005微米。 USB通信接口。

多功能显微锻针磨针仪配件是一款多功能锻针器Microforge，用于制作不同类型的微型工具。多功能显微锻针磨针仪配件特点根据NARISHIGE公司多年的实践经验制作而来，MF-900通过加工微针针尖，为生产不同种类的微型工具提供了许多功能。安装了一对易于使用的操纵器，用于定位加热器和吸管。使用接近操作者手的控制器，可以三维移动显微镜。用于垂直和水平运动的独立旋转机械可以接触在任意角度的移液管，而加热器部分的特殊装置可以安要求将移液管塑造成任何形状。除了常规的比例尺，显微镜目安装有测量角度的量角器。加热器通过脚踏开关接通和断开，并且加热器部分被安装在显微镜体内，使所有的控制动作容易进行，精确和符合人体工程学。多功能显微锻针磨针仪配件规格 配件 专用移液器架，通用扳手 备用加热器，备用灯泡 硅橡胶垫片 MF-900F脚踏开关，交流电源线 移动范围 加热操作器 X轴14mm, Y轴14mm, Z轴14mm 移液管操作器 X轴12mm, Z轴28mm 显微镜 X 轴约. 7mm, Y轴30mm, Z 轴约. 8mm 放大倍数 50x/100x (目镜 10x, 物镜 5x, 10x) 玻璃毛细管 ?1mm 电源 AC100 (±5%), 50/60Hz AC120 (±5%), 50/60Hz AC220 (±5%), 50/60Hz AC240 (±5%), 50/60Hz 功耗 约 35W 尺寸/重量 W200 × D350 × H300mm, 6.1kg多功能显微锻针磨针仪配件 型号 产品 说明 MF-OP MF-900 的可选透镜组 35x 物镜 15x 目镜 带测微计 15x 目镜 不带测微计 MF-OPA MF-900 的可选物镜 35x 物镜 MF-OPB MF-900 的可选目镜 15x 目镜 不带测微计 MF-OPC MF-900 的可选目镜 15x 目镜 带测微计 多功能显微锻针磨针仪MF-900商品 型号 产品 说明 PT-B 铂丝加热器 150μm × 300mm MF-900L3 灯 替换灯泡

为了活细胞成像实验过程中保持细胞的存活，涉及到维持数项物理参数的控制。 温度： 有了Solent Scientfic全包围孵化腔温度被维持在环绕细胞培养皿的三轴内。这确保了温度平衡通过显微镜框架和组件台没有低温点和高温梯度。 这里我们有一个12小时实验中4000个独立温度测量值。正如你所见，温度被控制在±0.2℃ 湿度： 湿度不是像温度那样控制的。没有必要说这个实验的相对湿度要控制在72.8%，另一个要控制在88.6%。我们需要的是，介质正上方大气一样尽可能保持饱和。这样最小程度的蒸发可以使实验过程中介质成分的浓度保持完整。 二氧化碳： 为了介质的pH值在顶部空间成像过程中保持恒定，大约要保持介质5%的二氧化碳浓度。与其尝试、保持整个腔室内部环境5%二氧化碳的同时，在小的内部腔室中有热空气循环。或者头架是用过的。 当考虑到湿度控制时，如此使用小头架也是有帮助的。如果整个大腔室内部环境充满水蒸气，那么显微镜的环境将缺乏抵抗力。 顶部环境的控制时通过流入湿润的5%二氧化碳的速率刚好快于泄漏维持的一个轻微的正压力。典型的流动速率需要达到几毫升每分钟。 一个简单的空气中的5%二氧化碳源是一个包含了预先在空气中混合好5%二氧化碳的气柱。这种混合气体可以从很多国家的供应商那里买到。 一个简答的气流控制需要的都在这里了。 一些实验室有由室内100%二氧化碳稀释提供实验需要，这是另外的配置。Solent Scientific提供一种可以按要求几毫升每分钟速率释放混合气体，相比于市面上能买到的很多工作范围在1升每分钟的的气体混合器

大和电子科技株式会社成立于1967年，是一家电子显微镜灯丝制造商。 公司成立53年来，一直努力稳定供应灯丝，随着电子显微镜的发展，我们不断追求灯丝制造技术和精度的极限。我们使用电子显微镜专用等级的钨丝，在真空中进行退火处理，以消除灯丝的残余应力。 因此，在电子显微镜下使用时，漂移较少，裂纹的产生也得到抑制，从而获得更稳定的电子束。此外，我们还将自行研发的点焊机与定制的夹具相结合，进行精确焊接。 之后，使用定心夹具在确认中心精度的同时进行定心，因此无需在安装时进行繁杂的定心作业。用途：用于扫描电子显微镜和透射电子显微镜的电子枪种类：热电子发射型灯丝材质：● 灯丝：W、Ta、Re、Th-W、其它● 灯丝焊接柱：Kovar、Ta、Mo、其它● 陶瓷底座：AlO2、MgO?SiO2焊接：灯丝和焊接柱的焊接：电阻点焊灯丝和陶瓷座：玻璃密封，钎焊特征：● 使用电镜专用等级的灯丝● 点焊机为自主研发设备，专用于灯丝焊接。与定制的夹具结合使用，进行精确焊接 可实现从线径φ0.02的极细丝到线径φ0.5左右的极粗丝的焊接● 灯丝（多晶）的尖端可加工成发夹型、点型、尖锐型、线圈型等形状● 真空退火处理（安装设备后释放稳定的电子束）● 无需在安装设备时进行繁琐的定心工作（可提供定心灯丝套件）● 使用各种测量仪器进行产品检验合格后发货除上述灯丝外，还生产场发射发射器、质谱仪用灯丝、气相沉积用灯丝、各种加热器等。如您想了解更多关于产品的报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

2.5X Nikon CF IC Epi Plan TI Interferometry Objective2.5倍 尼康白光干涉镜头类型 Michelson放大率 2.5X数字孔径 NA 0.075工作距离 (mm) 10.3焦距 FL (mm) 80.0分辨能力 (μm) 3.7焦深(μm) 48.6视场，25直径视场目镜 (mm) 10视场，20直径视场目镜 (mm) 8视场, 2/3" 传感器 3.52 x 2.64mm视场, 1/2" 传感器 2.56 x 1.92mm支架 C-Mount安装螺纹 M27 x 0.75重量 (g) 440生产商 NikonRoHS 豁免 用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后，发现市场不够大，或者发现放大倍数不够用，都可以联系我们，以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。价格随时有波动，欢迎来电咨询。

50X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective50倍 尼康干涉物镜镜头类型 Mirau放大率 50X数字孔径 NA 0.55工作距离 (mm) 3.4焦距 FL (mm) 4.0分辨能力 (μm) 0.5焦深(μm) 0.9视场，25直径视场目镜 (mm) 0.5视场，20直径视场目镜 (mm) 0.22视场, 2/3" 传感器 0.18 x 0.13mm视场, 1/2" 传感器 0.13 x 0.10mm支架 C-Mount安装螺纹 RMS重量 (g) 150生产商 NikonRoHS 豁免用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后，发现市场不够大，或者发现放大倍数不够用，都可以联系我们，以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。价格会有所波动，欢迎来电咨询。

显微操作器配件是按比例将针或探针的宏观手运动缩小成微观运动的设备。有多种技术可以完成这个操作，直接驱动显微操作器使用齿轮实现按比例缩小运动。液压显微操作器配件也可以使用齿轮和悬臂影响运动，但也可以使用液压流体从较小横截面面积的气缸到更大的横截面面积的气缸的运动来按比例缩减位移。机械显微操作器采用机械显微操作器相同齿轮向下的原理，但使用高精密电机转动齿轮。电子压电式显微操作器使用一个压电晶体的膨胀来完成微观运动。机械显微操作器有自包含的优势。液压和电动显微操作器的优点是，通过液压线或电线，从输出微观运动中物理隔离出输入的手部运动。这种隔离减小振动从用户传递到显微镜可能性。这些显微操作器都有考虑到一个重要的因素，即减少由于零件的热膨胀造成漂移。显微操作器主要用途包括胞浆内精子注射（ICSI），DNA和其他物质的显微注射入细胞，核移植（克隆）和用于电生理测量（膜片钳）的细胞的表面上的微观电极的定位。显微操作器配件规格所有的显微操作器直接驱动 (机械)油 / 液压驱动电机 / 电气驱动流行XXX粗XXX细XXX轻量型XX微型X超精密X坚固X操作杆XXX旋转XX多电极XX电气生理学XXX低成本X配件配件: 球形接头配件配件: 显微操纵器安装适配器 用于尼康/奥林巴斯/莱卡/蔡司显微镜配件: 显微操作器架配件: 连接盘

10X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective10倍 尼康干涉镜头 CF IC Epi Plan类型 Mirau放大率 10X数字孔径 NA 0.30工作距离 (mm) 7.4焦距 FL (mm) 20.0分辨能力 (μm) 0.92焦深(μm) 3.04视场，25直径视场目镜 (mm) 2.5视场，20直径视场目镜 (mm) 2视场, 2/3" 传感器 0.88 x 0.66mm视场, 1/2" 传感器 0.64 x 0.48mm支架 C-Mount安装螺纹 RMS重量 (g) 125生产商 NikonRoHS 符合标准用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后，发现市场不够大，或者发现放大倍数不够用，都可以联系我们，以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。欢迎来电咨询。

立体显微镜配件由中国领先的进口精密仪器和实验室仪器旗舰型服务商-孚光精仪进口销售！孚光精仪精通光学,服务科学，更多关于立体显微镜配件欢迎咨询！ 光学照明研究公司提供高品质的光纤照明系统，该系统的价格不到与其相似系统的一半。不包括聚焦透镜，当产物需要聚焦/准直时可以加上聚焦透镜从远距离使用。 光纤照明/光源的替换灯泡 分叉型鹅颈光纤光管 Tritech研究公司的高品质分叉型光纤导光管将光源分为两束定向光束。放置之后，“鹅颈”鞘保持它的形状，所以光会留在用户想要的位置。如果需要从超过几英寸处（几厘米）获得光，可以添加聚焦透镜得到。 光纤光管的聚焦透镜 这个镜头用于Tritech研究公司的高品质的光纤导光管（单，双叉）。通过放置透镜，光纤束可以聚焦，并在一定程度上准直。 立体显微镜配件的LED双鹅颈照明灯 这个21世纪的双鹅颈式照明灯是6瓦的LED，给样品提供的光量与150瓦卤素灯光纤导光管系统提供的光量相近。比传统卤素显微镜照明灯的主要改进有： 节能25倍 灯泡寿命长40倍 静音运行（不需要风扇） 不论光线水平，白色光谱保持不变 最小的额外热量 此系统包括二个23英寸（59厘米）的鹅颈照明灯，放在用户瞄准的地方不动。 立体显微镜配件 带测微计目镜（放大倍数10X，15X，20X） 此目镜内置测微计，有10X和20X两个放大倍数。购买SMT-1体视显微镜时，此目镜可能是可选三个免费配件之一，也可能需要单独购买。 SMT1的有节臂杆支架，带底座支架版 立柱直径为32毫米。后面是直径为25mm的聚焦架与直径为32毫米的阻杆。立柱高400mm。 SMT1的有节臂杆支架，台钳版 立柱直径为32毫米。后面是直径为25mm的聚焦架与直径为32毫米阻杆。立柱高400mm。该表钳可以打开到75mm。 立体显微镜配件 灯泡 这个6伏15瓦的钨丝灯泡有自然的视野灯体和灰镜座，适用于原始的显微镜型号。这款SMT-1立体显微镜系统的更换灯泡有100小时的寿命。 立体显微镜系统灯泡 这些12伏10瓦特卤素灯泡带有方形灯体和米色的人体工学底座，适合新的显微镜型号。这种SMT-1立体显微镜系统的新更换灯泡有2000小时的寿命。 SMT1球轴承悬臂架，底座支架版 立柱直径为32毫米。后面是直径为25mm的聚焦架与直径为32mm的阻杆。立杆高400mm。 SMT1球轴承臂支架，台钳版 立柱直径为32mm。后面是直径为25mm的聚焦架与直径为32毫米的阻杆。立柱高400mm。该台钳可以打开到75mm。 SMT1C-口三目光电管和数码摄像机一起使用 包括：双光圈光桥 C口适配器。请注明您的摄像机所需的去放大的水平。例如，“1/2英寸的”芯片照相机是使用0.65倍适配器的效果最好。如果使用1倍适配器，通过相机目镜看到图像的中心放大版本。如果使用0.35倍适配器，会看到一个“小插图”（通过目镜看到整个圆形图像在一个黑色的矩形内。） SMT1系统的10X目镜（一对） 目镜放大倍数为10X，15X，20X，成对用于SMT1立体显微镜。该目镜包括一对匹配的眼镜片，订购SMT1立体显微镜系统时，您可以选择这种目镜作为3个免费的配件之一，也可以单独订购目镜。 SMT1系统的10X测微目镜这是一个10X单目镜，内置测微计分划板，这样用户就可以测量样品的尺寸或标记样品位置，以便其他人可以精确观察到同一点。订购SMT1立体显微镜系统时，可以选择此目镜为的3个免费的配件之一，也可以单独订购。 SMT1系统的15X目镜（一对） 目镜放大倍数为10X，15X，20X，成对用于SMT1立体显微镜。该目镜包括一对匹配的眼镜片，订购SMT1立体显微镜系统时，您可以选择这种目镜作为3个免费的配件之一，也可以单独订购目镜。 SMT1系统的20X目镜（一对） 目镜放大倍数为10X，15X，20X，成对用于SMT1立体显微镜。该目镜包括一对匹配的眼镜片，订购SMT1立体显微镜系统时，您可以选择这种目镜作为3个免费的配件之一，也可以单独订购目镜。 立体显微镜系统的0.5X物镜 附加物镜用于SMT1立体显微镜，有0.5X，1.0X，1.5X，2.0X放大倍数。您可以选择这种物镜作为3个免费的配件之一，也可以单独订购此物镜。 立体显微镜系统的1.5X物镜 附加物镜用于SMT1立体显微镜，有0.5X，1.0X，1.5X，2.0X放大倍数。您可以选择这种物镜作为3个免费的配件之一，也可以单独订购此物镜。 立体显微镜配件的2.0X物镜 附加物镜用于SMT1立体显微镜，有0.5X，1.0X，1.5X，2.0X放大倍数。您可以选择这种物镜作为3个免费的配件之一，也可以单独订购此物镜。 用于SMT1显微镜的三目更新T-口 与数码相机一起使用 包括：双光圈光桥 3.5X单反投影镜头 摄影目镜 T-2螺纹连接光电管

羊毛纤维检测仪配件是全自动纤维检测仪器,装配有纤维形态分析软件，用于检测纤维的数量，宽度和长度等指标。羊毛纤维检测仪配件测量参数数量：通过插补形态参数来测定纤维数量 ? 宽度：由于外部条件如季节，天气，饲料等的作用，不同生长期的羊毛纤维的纤度不同?长度：通过计算5mm级的须的纤维的数量来测定长度。直径，长度, Hauteur and Barbe（以数量或以重量计）和分布是长纤维最重要的测量项目，它们影响纺纱质量。沿着须分布的纤维直径的改变会造成不同长度的纤维的豪特不同。? 直径定义造成须上直径分布的原因： -用来混合成顶级产品的羊毛有一个定义，如羊毛来源于同年同一时间，来自吃季节性饲料的绵羊。 -在制作过程中，纤维会被选择性地断裂，例如：如果细纤维断裂则直径将沿须增加。 -不同来源的羊毛混合，例如：短细羊毛与更宽更长羊毛混合，会创造出沿须直径增加的羊毛形态羊毛纤维检测仪配件功能 给出有关纤维质量的更多信息，整体购买和运营成本却更低。 直接测量纤维长度，计算豪特Hauteur 不需要横截面偏长。 测量长度而不是Hauteur 豪特时，短纤维含量有很大的不同，新的测量可能会解决先前无法解释的处理结果。 使用数字视频技术，用户可以管理会影响产品质量和利润的长而细的地方，短纤维含量。 现在用户不仅可以分析原材料，还可以分析整个纺纱过程。 羊毛纤维检测仪配件是纺织工厂，研究机构和仲裁员的理想仪器，用于所有类型的纤维的质量控制。 全自动检测功能，和能自动创建报告的用户友好型软件，使得该设备使用起来非常舒适，并且通用于各种各样的应用，因为它可以测量大部分类型的纤维，包括羊毛，羊绒，马海毛，丝，以及许多合成纤维。羊毛纤维检测仪配件特点 确定粗纤维含量，在某些服装中发现粗纤维含量造成了刺感。可用于羊毛,羊绒，马海毛，丝，以及许多合成纤维的在线质量检验。具有精确、易用和省时的优点。只要制备一个样品，测量阶段不需要人员操作，省时省力。成本优化的过程只能用精确的测量数据控制，测量数据会提供相关的纺织技术这是第一次，可以自动获得直径资料（比如，直径与长度的不同图形和直径分布图，自动生成报告）