碳纸微观形貌

三维表面形貌仪配件是德国进口的高精度多功能表面轮廓测量仪器，也是一款光学表面形貌仪,非常适合对表面几何形状和表面纹理分析。 三维表面形貌仪配件根据国际标准计算2D和3D参数，使用最新的ISO 25178 标准表面纹理分析，依靠最新的 ISO 16610 滤除技术进行计算，从而保证了国际公信力，以标准方案或定制性方案对二维形貌或三维形貌表面形貌和表面纹理，微米和纳米形状，圆盘，圆度，球度，台阶高度，距离，面积，角度和体积进行多范围测量，创造性地采用接触式和非接触式测量合并技术，一套表面形貌仪可同时具有接触式和非接触式测量的选择。 三维形貌仪配件参数： 定位台行程范围：X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (电动) 接触式测量范围： 范围0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s 范围2.5mm 分辨率40nm, 速度3mm/s 非接触式测量范围： 范围：300um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围：480um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围：1mm, 分辨率5nm, 速度30mm/s 范围：3.9mm , 分辨率15nm, 速度30mm/s 表面形貌仪配件应用：测量轮廓，台阶高度，表面形貌，距离，面积，体积 分析形态，粗糙度，波纹度，平整度，颗粒度 摩擦学研究，光谱分析 磨料磨具，航天，汽车，化妆品，能源，医疗，微机电系统，冶金，造纸和塑料等领域。

表面形貌仪配件又称为光学形貌仪或三维形貌仪，它除了用于测量物件的表面形貌或表面轮廓外，具有测量晶圆翘曲度的功能,非常适合晶圆,太阳能电池和玻璃面板的翘曲度测量，应变测量以及表面形貌测量。 三维形貌仪主要配件应用 用于太阳能电池测量 用于半导体晶圆测量 用于镀膜玻璃的平整度（Flatness)测量 用于机械部件的计量 用于塑料,金属和其他复合型材料工件的测量 表面形貌仪配件特色 *除了表面形貌的测量，还可以测量张量和应力（简单）； *可测量晶圆的尺寸为0.5' ' 到12' ' , 最高可达45x45cm的尺寸，对于小于0.5' ' 的晶圆或样品，可配备微距镜头。 *测量晶圆或其他样品的表面形貌,粗糙度和翘曲度； *克服常见干涉仪在粗糙表面（油漆）表现不足的问题； *非接触式测量

RM-02-02 微管架（不包括试管，试管另购），适合直径为9-20的试管，用于旋转混合器。产品号产品描述RM-01-01RM-1阶梯式变量控制，定时器旋转混合器RM-01-02旋转混合器、数字速度及定时控制RM-02-01微管架，适合直径为10-11.5的试管RM-02-02微管架，适合直径为9-20的试管RM-02-0350ml 离心管支架, 25 - 35 mm直径RM-03-18试管支架直径12mm、孔深80mmRM-03-28试管支架直径16mm 、孔深80mmRM-03-38试管支架直径26mm 、孔深80mm

SiR微管蛋白试剂盒SiR-tubulin是一种具有荧光性、细胞通透性和高度特异性的微管探针包装：试剂盒含50 nmol SiR-tubulin和1 umol维拉帕米分类:细胞骨架探针，生物成像探针，产品，SiR探针介绍：SiR-tubulin基于微管结合药物多烯紫杉醇。SiR-tubulin具有荧光性、细胞通透性和对微管的高度特异性。Sir-tubulin染色内源性微管不需要基因操作或过度表达。它在远红光中的发射最大限度地降低了光毒性和样品的自身荧光。SiR-tubulin与GFP和/或m-cherry荧光蛋白兼容。它可以用标准的Cy5滤光器成像。sir -微管蛋白可用于活细胞和组织的宽视野、共聚焦、SIM或STED成像。探针数量允许50 - 200个染色实验。*基于以下条件:0.5 - 1ml染色液/ 0.5 - 1um探针浓度的染色实验。染色实验的数量可以通过减少体积或探针浓度来进一步增加。备注：Sir探针的染色效率因细胞类型和/或生物体而异。观察到弱染色的一个主要原因是样品中流出泵的活性。加入广谱外排泵抑制剂，如维拉帕米，一般对信号强度有积极影响。维拉帕米使用指南如果您的样品荧光信号较弱，建议在维拉帕米存在的情况下重复染色。将管中的内容物溶解在100 μl DMSO中，制备10 mM(1000倍)的原液。将Verapamil DMSO原液添加到最终浓度为10 μM的染色液中，按照SiR探针的指示培养细胞或样品(详细染色方案请参考SiR探针的数据表)。重要提示:维拉帕米不是Spirochrome产品，每笔订单都是免费添加的。上述条件是一个建议的起点，因为维拉帕米的效果可能因所使用的细胞类型或生物体而异。为了优化弱染色样品的染色效率，需要进行不同浓度的维拉帕米和SiR-probe的小规模实验。作为一种外排泵抑制剂和钙通道抑制剂，维拉帕米可能对活样品有副作用。

Nalgene 5974 漂浮式微管架，聚丙烯?用于在高温或低温下，解冻、冷却和培育样本。该微管架在装满已填充的微管后，仍可漂浮。微管在边缘下部得到微管架的支撑。在工作台上，微管架的支腿可以防止试管底部接触到工作台的表面。它具有卓越的耐温性，可以适应-70℃到100℃的温度范围。其上的每个孔旁都标有模制字母和数字，以便于您识别样本。订货信息：Nalgene 5974 漂浮式微管架，聚丙烯方形目录编号 5974-0404颜色白色试管容量，ml1.0、1.2、1.5 和 2.0L×W×H，mm103×103×65阵列4×4每盒数量4每箱数量16圆形目录编号 5974-4015-1015颜色白色白色试管容量，ml1.0、1.2、1 与和 2.01.0、1.2、1.5 和 2.0阵列820适合夹持 Nalgene 烧杯，ml4001000直径，mm6696直径，in.2-5/83-3/4每盒数量44每箱数量1616注意：不能对聚丙烯试管架进行高温高压灭菌

场发射电子源921 5736 ，这个型号的场发射灯丝，适用于原厂H机型。场发射扫描电子显微镜其实它是电子显微镜的一种，扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。优点：1、有较高的放大倍数，20-30万倍之间连续可调；2、有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；3、试样制备简单，目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪（EDS）装置，这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场，此外，还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务，以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源（电子显微镜灯丝）、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。

安徽水分管水尾管

E-Z 玻璃提取微管由低析出硼硅玻璃制造，可选的管子底端二维条形码用于鉴定和跟踪样品，可储存在-80℃到80℃，货号对应的480 根微管安装在5 个96 孔架上，并且由盖子锁住；抗溶剂腐蚀的弹性塞（货号W240860）可完全密封微管 订货号规格/描述单位包装数量W2246501.0ml盒480W2246541.4ml盒480 每个微管上的二维条形码订货号规格/描述单位包装数量W2246521.0ml盒480W2246561.4ml盒480

场发射电子源9213915/9217251，这两个灯丝的外形一样，适用的扫描电镜型号不同，需要了解扫描电镜的具体型号。场发射扫描电子显微镜其实它是电子显微镜的一种，扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。优点：1、有较高的放大倍数，20-30万倍之间连续可调；2、有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；3、试样制备简单，目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪（EDS）装置，这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场，此外，还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务，以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源（电子显微镜灯丝）、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。

欣维尔真空接收管[A621922]玻璃真空燕尾管

CARBON FILL,MGIS碳沉积（多支气体注入系统专用）用于原厂电子显微镜多支气体注入系统，碳沉积（多支气体注入系统专用）是一种存放碳化合物的容器，将药品加热到一定温度，药品气化，在真空压差和可控阀门的作用下，将药品气体喷洒在样品表面，同时在离子束的诱导作用下将碳分子沉积在样品表面。以实现对样品表面形貌的保护，或对样品进行导电处理。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场，此外，还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务，以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源（电子显微镜灯丝）、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。

真空三叉接管/燕尾管/玻璃真空三叉接管由上海书培实验设备有限公司生产提供，产品规格齐全，量多从优，欢迎客户来电咨询选购。产品介绍：产品主要用作蒸馏等装置上的连接管使用。产品相关规格介绍表格：产品名称产品规格产品单价真空三叉接管 燕尾管 14、14、14、14询价真空三叉接管 燕尾管19、19、19、19询价真空三叉接管 燕尾管24、24、24、24询价

结构紧凑，用于存放微量管和冻存管。存放1.5/2.0 ml的微管或冻存管。带易开启型摩擦配合盖。适合大多数标准冻存架。 Highly transparent, with bold identifying colours and a distinctive wave designUniform wells with location ID capacity indicated on the outside of the boxBlack light-tight version available for light-sensitive samplesFrosted labelling patchCompact footprint for microtube and cryogenic vial storage. Store 1,5/2,0 ml microtubes or cryogenic vials. Complete with an easy open, friction-fit lid. Will fit into most standard freezer racking. 高透明度，具有醒目的识别颜色和独特的波浪设计孔均匀一致，带位置ID。盒外部有容量指示具有黑色不透光版，用于存放光敏样品磨砂贴标 50孔盒，铰链盖，带弹簧拉钩 隔间 颜色 外部宽度×深度×高度 包装规格 VWR目录号50Assorted colours 142×92×56 mm 5VWRI525-0933 50自然色 142×92×56 mm 5VWRI525-0932 *更多请咨询美同达客服

THE JIMMY™ 微管开盖器产品描述：微管开盖器产品优势：■ 夹在移液器上■ 提高移液效率■ 缓解手动开盖的疲劳订货信息：型号订货号JIMMY™ 微管开盖器F144983

AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用域的显微镜，如AFM(范德华力)，静电力显微镜EFM(静电力)磁力显微镜MFM(静磁力)侧向力显微镜LFM(探针侧向偏转力)等， 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。原子力显微镜的探针主要有以下几种:(1)、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针:常用的产品，分辨率高，使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损，分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。(2)、 导电探针:通过对普通探针镀20-40纳米厚的Pt(以及别的提高镀层结合力的金属，如Au、Cr、Ti和Pt与Ir的合金等)得到。导电探针应用于EFM，KFM，SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差，使用时导电镀层容易脱落，导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖，金刚石镀层针尖，全金刚石针尖，全金属丝针尖，这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。(3)、磁性探针:应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备，分辨率比普通探针差，使用时导电镀层容易脱落。(4)、大长径比探针:大长径比针尖是为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点:不太常用的产品，分辨率很高，使用寿命一般。技术参数:针尖高度 9μm 长径比5:1 针尖半径 10 nm。(5)、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针:一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜，另外一种是全金刚石材料制备(价格很高)。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性，减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。还有生物探针(分子功能化)，力调制探针，压痕仪探针 Park四面体探针测微悬臂的特点，在于探针位于测微悬臂的Z端，由此易于清楚确认探针与样品的位置关系，从而迅速而准确地对准测定位置。为满足客户多种特殊需求，此产品备有标准型、铂膜型和四面刃型三种类型的硅探针可供选择。 具有高品质的解析度，共振频率在300 kHz与26 N/m的弹性系数, 大大的降低了破坏样品的机率； 外观设计：新产品的侧壁垂直面更便于探针的夹取； TipView设计：锋利的探头放置在后的悬臂。TipView设计便于精确探测定位； 测量环境：适用于空气中测量； 测量模式：AC（动态）模式； OMCL-AC160TS 10M的针尖适用于一般标准表面形貌量测，适用于以下sample: 1、pss蓝宝石基板的表面形貌量测； 2、太阳能板的表面形貌量测； 3、玻璃面板等各式有机材料、无机材料的表面形貌的量测 OMCL-AC160TS 10M均可直接代替以下品牌型号针尖： 1、Nanoworld 的NCHR/Arrow NCR 2、Appnano的ACTA 3、Bruker的TESPA/ORTESPA； 4、NT-MDT的NSG30 5、Budget Sensors的Tap300-G 详情请咨询：18994392037（同VX）李经理

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真空三叉接管别名：真空三叉接管一、造型 它的形状似燕子尾巴，它的上口连接冷凝管，其下端有三个磨砂塞的尾管，分别按装三个接收瓶，上口可任意转动，使冷凝管冷却的液体，根据不同的需要分别集聚在不同的接受瓶内。

泰州石墨烯研究检测平台是泰州市政府与泰州巨纳新能源有限公司共同成立的国内 石墨烯性能测试与结构表征的综合性研究及检测机构。平台目前建有近千平方米的检测洁净室，拥有高分辨拉曼光谱仪、原子力显微镜、三维共聚焦显微镜、电子束曝光系统、近场光学显微镜等国际先进的新材料性能检测及结构表征设备。平台致力于在石墨烯等高新碳材料以及新型低维材料（如各类二维材料、量子点）等领域提供全面专业的检测及表征服务。泰州石墨烯研究检测平台相关检测服务：微区形貌表征：表面洁净度、平整性、层数或厚度判定、均匀性分析等原子结构表征：原子缺陷、层间堆垛方式、电子能带结构等光学性能表征：紫外到红外波段透射、反射、吸收性能等成分检测及分析：元素含量与比率、官能团分析等电学、力学、热学、电化学性能表征等各种定制研究检测服务（如二维材料的光电响应测试）等 检测项目检测内容描述二维材料光电响应测试二维材料的光电响应测试定制化分析实验方案协助制定、数据分析整体解决方案原子力显微镜（AFM）检测石墨烯层数/厚度，尺寸，AFM图像光学显微分析石墨烯层数/厚度，尺寸，对比度分析，光学显微图片荧光显微分析发光样品显微图片3D显微分析石墨烯均匀性，表面起伏度，表面残余物检测拉曼（Raman）光谱分析（单谱） 石墨烯洁净度，层数，掺杂浓度，缺陷含量等拉曼（Raman）光谱分析 （单谱+成像）石墨烯洁净度，层数，掺杂浓度，缺陷含量等扫描电子显微镜（SEM）检测样品微观形貌（分辨率10nm）超高分辨场发射扫描电镜检测获取显微形貌、元素组成及分布信息生物型透射电镜获取显微形貌，适合对分辨率不高但是衬度要求高的高分子、生物型样品透射电子显微镜（TEM）检测获取显微形貌截面离子束抛光用离子束抛光，去除表面应力层，适合复杂样品的EBSD的采集，以及截面样品的SEM观察离子束平面研磨高分辨透射电子显微镜（TEM）检测样品高分辨形貌（分辨率1nm）,衍射图（结晶度，晶格取向等）低真空场超高分辨场发射扫描电镜检测获取显微形貌、元素组成及分布信息 变温光学显微镜获取样品的显微形貌，具有明场、暗场、偏光、微分干涉等模式电子背散射衍射—STEM检测获取微观取向信息，可用于晶粒度、晶界、织构、应力等分析X射线光电子能谱（XPS）表面元素含量及化学价态(氧含量分析，成键态),结晶性能等紫外可见吸收光谱分析200-3300nm薄膜、溶液的透射率，吸收率等红外光谱分析（FTIR）红外波段透射（350-7800cm-1），有机物官能团分析等X射线荧光光谱分析元素的定量和半定量分析直读光谱分析获取样品的成分灰分测试获取样品的灰分能谱仪分析获取样品的元素成分和分布，微区域元素的定性和半定量分析等离子体发射光谱元素分析分析样品中无机元素的准确成分及定量辉光放电质谱分析H以外的所有元素，包括常用分析方法难以测定的C，N，O，P，S等轻元素超低检测限，大多数元素的检测限为0.1～0.001ug/G碳硫元素分析C 和 S 的比例元素分析C H O N S 的比例元素分析同位素质谱元素分析：C、N、S 百分含量 同位素质谱：13C、15N含量离子色谱-阴离子阴离子含量分析电感耦合等离子体质谱痕迹量元素测定电子探针 元素定性分析、定量分析X射线衍射分析结晶度、晶粒大小、层间距等显微红外分析微区样品红外光谱采集液相色谱分析样品有机物质的含量圆二色光谱分析液相色谱质谱联用分析 样品有机物质的含量及具体成分气相色谱易挥发的有机物质的含量气相色谱-质谱联用易挥发的有机物质的具体成分核磁共振分析氢谱、碳谱石墨烯薄膜热传导性能测试石墨烯热导率热重分析测试材料的质量随温度的变化，可用于分析构成的比例热差分析测定样品在程序控制温度下产生的热效应，可分析融点、成分构成、热性能、相转变、结晶动力学等信息同步热分析测量样品的热流、转变温度和重量变化三种信息力学性能测试 （氧化石墨烯纸/薄膜等）拉伸应力、拉伸强度、扯断强度、剪切剥离力、杨氏模量等电阻测试（薄膜样品）薄膜面电阻等比表面积测试(BET)测试样品比表面积椭圆偏振分析平板材料或者薄膜的折射率、反射率、膜厚、吸收系数测定电学性能测试（Transport）迁移率，掺杂浓度等纳米粒度分析纳米粒径的分布微米粒度分析微米粒度的分布PH值测试测量PH值

新兴百瑞自主产品，客户可以在此基础上根据实验条件提方案，对产品改进 纯碳膜是在碳支持膜的基础上，将有机层用特殊方法去除后得到的纯碳膜，很适合需要在有机溶剂或高温下处理的样品（如：氯仿、四氢呋喃等有机溶剂下使用）。 T10044是400目进口铜网制作的纯碳膜，膜厚25-30nm，适合有机溶剂或高温加热样品的形貌像观察（特殊载体可根据客户制定材料：有铜、镍、钼、铝、钨、不锈钢、尼龙等金属及非金属材料。）。

VHP 微管接头微管接头专门设计为与微型套箍一起使用。其由专有 PEEK 共混物（PK）制成，允许在更高温度（不超过200 ℃）和更高压力条件下使用，适用于 UHPLC 应用。VHP 微型套箍和接头由专有高性能 PEEK 聚合物共混物制成，此材料性能突出，适用于UHPLC 系统中的毛细管。新型高压微型套箍可与 1/32 英寸或 360μm 外径管路一起使用，且其被并入我们的若干 VHP 产品中用于毛细管。应用注解注意：虽然 PK 接头的专有共混物将允许接头获得比纯 PEEK 更高的压力和最小的冷流动性能，但已知一些 PK 制成的接头导电。在高压应用中使用 PK 接头时需特别小心。注解：MicroTight 接头和微型套箍MicroTight 母螺纹螺母可与任一种单独的微型套箍配合使用，而套箍本身具有端口专用性，不可互换使用。另外，一体式 MicroTight 接头也具有端口特异性，不可互换。注解MicroTight 接头和微型套箍MicroTight 母螺纹螺母可与任一种单独的微型套箍配合使用，而套箍本身具有端口专用性，不可互换使用。另外，一体式 MicroTight 接头也具有端口特异性，不可互换。订货信息：VHP 微管接头零件号描述端口压力额定值所需扭矩头端类型材料数量PK 微型套箍和母螺纹螺母P-416用于微型套箍的母螺纹螺母5/16-24 锥形15,000 psi (1,035 bar)4.0 in-lbs (0.45 Nm)母滚花PEEK 天然色一个P-416BLK用于微型套箍的母螺纹螺母5/16-24 锥形15,000 psi (1,035 bar)4.0 in-lbs (0.45 Nm)母滚花PEEK 黑色一个PK-112用于1/32 英寸外径管路的 VHP 微型套箍5/16-24 锥形15,000 psi (1,035 bar)——PK一个PK-152用于 360μm 外径管路的 VHP 微型套箍5/16-24 锥形15,000 psi (1,035 bar)——PK一个

碳支持膜/碳膜上的纳米颗粒形貌像：在方华膜上镀了一层较薄的碳层，碳层的抗热性和导电性在电子束照射时可有助于稳定方华膜。这种弹性较好、多种用途的样品支持膜/碳膜是承载薄切片的理想材料，也可用于低放大倍率的样品观察。 规格分为： 国产 75目、100目、150目、200目、300目、400目

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碳导电胶片具有高导电性和粘合性，为样品的形貌观察提供理想的背景。适用于粘附SEM或EDS制样，也可用于表面分析（XPS、AES等）。单面导电层厚45um，总厚度125um.最高温度：60℃货号产品描述包装16084-6PELCO双面碳导电胶片, 直径6mm 112片/包16084-3PELCO双面碳导电胶片, 直径9mm98片/包16084-1PELCO双面碳导电胶片, 直径12mm100片/包16084-2PELCO双面碳导电胶片, 直径25mm54片/包

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碳支持膜/碳膜上的纳米颗粒形貌像：在方华膜上镀了一层较薄的碳层，碳层的抗热性和导电性在电子束照射时可有助于稳定方华膜。这种弹性较好、多种用途的样品支持膜/碳膜是承载薄切片的理想材料，也可用于低放大倍率的样品观察。 规格分为：进口 75目、100目、150目、200目、300目、400目

碳支持膜Formvar/Carbon film光学显微镜的样品是放置在载玻片上进行观察，而在透射电镜中，由于电子不能穿透玻璃，只能采用网状材料做载物，通常称载网，最常用的是200－400目的铜网。在进行样品观察时，载网上还应该覆盖一层无结构、均匀的薄膜，这层薄膜通常称之支持膜。支持膜一般应该对电子透明；在电子束冲击下，应有一定的机械强度、保持结构稳定、具备良好的导热性；在电镜下无可见结构、不与承载的样品发生化学反应、不影响对样品的观察。支持膜的厚度一般很薄，十几个纳米左右。生物学上用到的碳支持膜一般不是指纯碳膜，它是由铜网（或者其他材质网）首先被覆一层方华膜，再在方华膜上喷镀一层碳膜制得。对于超薄切片，这种支持膜具有最佳的样品支撑性。这种产品也是我们最常用的电镜消耗品，它适合一般样品的形貌观察。除了我们通常使用的圆孔和方孔载网支持膜外，特殊应用时会选择一些特型载网制作的支持膜。如光圈载网，狭缝载网，双联载网碳支持膜等。光圈载网支持膜和狭缝载网支持膜（Support Film on Aperture / Slot Grids）通常用来蘸取连续超薄切片。由于其网格稀疏所以对组织结构极少遮挡。但因其网孔较大，支持膜制作成功率往往不高，通常采用增加支持膜厚度来增强支持膜的强度。但支持膜过厚，会影响样品的清晰度。 产品选购(并没有列出全部产品，目数、网眼、膜厚薄或者特殊载网需求者请来电)：

详情请咨询：18994392037（同VX）李经理 AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用域的显微镜，如AFM(范德华力)，静电力显微镜EFM(静电力)磁力显微镜MFM(静磁力)侧向力显微镜LFM(探针侧向偏转力)等， 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。原子力显微镜的探针主要有以下几种:(1)、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针:常用的产品，分辨率高，使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损，分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。(2)、 导电探针:通过对普通探针镀20-40纳米厚的Pt(以及别的提高镀层结合力的金属，如Au、Cr、Ti和Pt与Ir的合金等)得到。导电探针应用于EFM，KFM，SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差，使用时导电镀层容易脱落，导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖，金刚石镀层针尖，全金刚石针尖，全金属丝针尖，这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。(3)、磁性探针:应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备，分辨率比普通探针差，使用时导电镀层容易脱落。(4)、大长径比探针:大长径比针尖是为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点:不太常用的产品，分辨率很高，使用寿命一般。技术参数:针尖高度 9μm 长径比5:1 针尖半径 10 nm。(5)、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针:一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜，另外一种是全金刚石材料制备(价格很高)。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性，减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。 还有生物探针(分子功能化)，力调制探针，压痕仪探针 Park四面体探针测微悬臂的特点，在于探针位于测微悬臂的Z端，由此易于清楚确认探针与样品的位置关系，从而迅速而准确地对准测定位置。为满足客户多种特殊需求，此产品备有标准型、铂膜型和四面刃型三种类型的硅探针可供选择。 OMCL-AC240TS 10M 微软型(Medium-soft Silicon Cantilever) 适用于测量易受损(Soft)的样品 在轻敲模式中拥有Z微小的弹性系数2 N/m的硅悬臂,适合用来观测局部解剖的表面与柔软样品的黏弹性 Medium-soft Silicon Cantilever Spring constant of 2 N/m (norminal) is smallest of silicon cantilevers, suitable for observing surface ography ａnd viscoelasticity of soft samples.(2n/m,70khz) AFM的测量模式：※接触式(Contact mode)： 探针与材料表面间的距离为(2~3nm)。在扫描时，针尖与样品表面轻轻接触，产品微弱的排斥力使探针偏移，从而使得样品表面形貌的图像。※非接触式(Non-contact mode)： 探针与材料表面总维持着一定的距离(低于20nm)。非接触式为轻敲式的衍生，一样是利用探针跳动来扫描，但是探针始终都不接触表面。 ※轻敲式(Tapping mode又称 AC mode)： 介于接触式和非接触式之间，探针与材料表面间的距离为(5nm)。以探针震荡方式，探针在试片上跳动，当探针震荡至波谷时微接触样品。 Park探针选用小贴士： AC160TS:Tapping Mode,用於較硬的sample,適用半導體材料,金屬材料,Polymer,DVD… AC240TS:Tapping Mode,用於較軟的sample,適用生命科學:DNA,細胞,薄膜,蛋白質…

孚光精仪品牌的多功能纳米硬度计配件通过扫描材料表面实现对材料力学性能的纳米尺度的高精度测量，精确给出硬度，弹性模量，杨氏模量等材料力学性能。 多功能纳米硬度计配件特色具备原子力显微镜和纳米压痕仪的功能实现静态压痕和动态压痕测量以及测量最高位移测量能力可达300mkm, 最高负载科大100mN。采用模块化设计，可广泛集成原子力显微镜，光学显微镜，激光干涉仪器等尖端材料表面测量仪器，为用户提供综合性材料微观力学测试方案。 多功能纳米硬度计配件选型4D紧凑型纳米硬度计4D紧凑型是全球结构最为紧凑小巧的纳米硬度测试仪，它采用纳米压痕法测量材料硬度和弹性模量（杨氏模量），负载高达2N,广泛用于材料力学性能测量研究。也非常适合大学或研究单位的纳米压痕仪测量硬度的教学或演示教学。 4D标准型纳米硬度计4D标准型具有测量材料硬度，弹性模量和其它力学性能的功能。它采用静态和动态纳米压痕技术以及sclerometry方法测量材料性能。并且可以接触式或半接触式地测量材料表面形貌，采用光学显微镜高精度地对压头和样品进行精确互动性定位。纳米硬度计4D标准型还可以接入另外的传感器或测量模块，实现对材料表面进行其它测量。 4D+增强型纳米硬度计4D+增强型配置是全球功能最多的多功能纳米硬度测量仪器。它具有纳米压痕仪和原子力显微镜的功能，具备了所有的物理和力学性能测量能力。它具有原子力显微镜测量模块，能够以纳米级分辨率研究压痕后留下的表面痕迹和图像，并能够全自动测量，可以批量处理分析测量结果。

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