台式扫描电镜飞纳

Thermo Scientific™ Quattro™ 扫描电镜将成像和分析的全面性能与独特的环境模式（ESEM）相结合，使得样品研究得以在自然状态下进行。如今，研究型实验室普遍要求现代的扫描电镜可以适应多种多样的样品分析需求，希望在获得出色的图像质量的同时尽可能简化样品制备过程。Quat t r o 的场发射枪（FEG）确保了优异的分辨率，通过不同的探测器选项，可以调节不同衬度信息，包括定向背散射、STEM 和阴极荧光信息。来自多个探测器和探测器分区的图像可以同步采集和显示，使得单次扫描即可获得各种样品信息，从而减低束敏感样品的束曝光并实现真正的动态实验。Quattro 的三种真空模式（高真空、低真空和 ESEM™ ）使得系统极具灵活性，可以容纳任何 SEM 可用的最广泛的样品类型，包括放气或者是与真空状态不相容的样品。此外，ESEM™ 可以在现实世界的条件下对样品进行原位研究，例如湿/潮湿、热或反应性的环境。Quattro 的分析样品仓可以满足日益增长的样品元素信息及晶体结构分析需求，它同时支持相对的双能谱（EDS）探测器、共面能谱（EDS）/电子背散射衍射（EBSD）和平行束波谱（WDS）探测器。无论什么类型的样品，在高真空下或与 Quattro 支持的独特实验条件相结合，无论样品导电、绝缘、潮湿或是在高温条件下，均可获得可靠的分析结果。由于多用户设施要求大量操作人员都能获得所有相关数据，同时尽可能缩短培训时间，所以易用性是至关重要的。Quattro 独特的硬件由帮助功能（用户向导）支持，不仅可以指导操作者，还可以直接与显微镜进行交互。并且通过“撤消（Undo）”功能，鼓励新手用户进行实验，而专家用户可以轻松缩短结果获取时间。主要优势在自然状态下对材料进行原位研究：具有环境真空模式（ESEM）的独特高分辨率场发射扫描电镜最大程度缩短样品制备时间：低真空和环境真空技术可针对不导电和/或含水样品直接成像和分析，样品表面无荷电累积在各种操作模式下分析导电和不导电样品， 同步获取二次电子像和背散射电子像安装原位冷台、珀尔帖冷台和热台，可在-165°C 到 1400°C 温度范围内进行原位分析卓越的分析性能，样品仓可同时安装三个 EDS 探测器，其中两个 EDS端口分开 180°、 WDS 和共面 EDS/EBSD针对不导电样品的卓越分析性能：凭借“压差真空系统”实现低真空模式下的精确 EDS 和 EBSD 分析灵活、精确的优中心样品台，105°倾斜角度范围，可全方位观察样品 软件直观、简便易用，并配置用户向导及 Undo（撤销）功能，操作步骤更少，分析更快速全新创新选项，包括可伸缩 RGB 阴极荧光（CL）探测器、1100°C 高真空热台和 AutoScript（基于 Python 的脚本工具 API）

国仪量子钨灯丝扫描电镜SEM2000钨灯丝扫描电镜SEM2000是一款基础款的多功能分析性钨灯丝扫描电镜。20kV分辨率可以做到3.9nm，支持升级30kV电压，可观察亚微级尺度样品的微观结构信息。拥有比台式电镜更大的移动范围，适用于快速筛选待测样品，更多的扩展接口，可搭载BSED、EDS等附件，使应用领域更广。产品特点简洁的操作界面纯中文的操作界面功能设计简单易操作。符合国人使用习惯，即使是新手用户，简单了解后也能快速上手。完善的自动化功能自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散，均可一键调节，提高工作效率。丰富的测量工具长度、面积、圆度、角度等测量功能强大的照片管理和预览、编辑功能。丰富的扩展性高灵敏度背散射探测器 多通道成像探测器设计精巧，灵敏度高，采用4分割设计，无需倾斜样品，可获得不同方向的阴影像以及成分分布图像。 二次电子成像和背散射电子成像对比 背散射电子成像模式下，荷电效应明显减弱，并且可以获得样品表面更多的成分信息。能谱金属夹杂物能谱面扫分析结果。电子背散射衍射钨灯丝电镜束流大，完全满足高分辨EBSD的测试需求，能够对金属、陶瓷、矿物等多晶材料进行晶体取向标定以及晶粒度大小等分析。该图为Ni金属标样的EBSD反极图，能够识别晶粒大小和取向，判断晶界和孪晶，对材料组织结构进行精确判断。应用案例产品参数

布鲁克Hysitron PI 88是布鲁克公司生产的新一代原位纳米力学测试系统，其特点是系统设计高度模块化，后期可在已有系统上自行配置并拓展其他功能。该系统通过视频接口将材料的力学数据（载荷-位移曲线）与相应SEM视频之间实现时间同步，允许研究者在整个测试过程中极其精确地定位压头并对变形过程成像。解决了传统纳米压痕方法，只能通过光学显微镜或原位扫描成像观察压痕前后的形貌变化，因无法监测中间过程，而最终对载荷-位移曲线上的一些突变无法给出解释甚至错误解释的问题。PI 88安装于SEM，可以精确施加载荷，检测位移，在电镜下进行压痕、压缩、弯曲、划痕、拉伸和疲劳等力学性能测试；此外，通过升级电学、加热模块，还可研究材料在力、电、热等多场耦合条件下结构与性能的关系。

Axia ChemiSEM 智能型钨灯丝扫描电镜【产品描述】全新一代Axia ChemiSEM扫描电镜，采用独特方法进行样品成分信息的采集、处理和展示；依托先进镜筒技术，保持系统始终处于最佳状态，可聚焦样品采集数据，随时提供高质量图像；采用全开门式设计，耐用性和灵活性更高；可搭载多款扫描电镜软件实现多种自动化功能；简约化设计，全方面性能出色，可表征各种不同类型材料，提供最全面的信息。其成像平台即时可用，集成独特的实时定量能谱面分析功能，成像即刻并融合成分信息，专为快速分析而设计，操作轻松自如。【特点与应用】实时成分信息：同步扫描获取多种信号时执行能谱分析，实时检测形貌与元素信息；成像平台即时可用：只需关注数据采集，不必忧虑电镜条件设置；更快获得数据：多种成像和扫描策略，优化图像采集效果并提升系统处理能力；灵活的样品台设计：全开门式设计，大样品可轻松加载到样品仓内，最大样品10 kg；卓越的成像性能：提供低真空模式和电子束减速模式用于消除荷电效应。【技术参数】发射源：预对中钨灯丝分辨率：高真空成像3.0 nm@ 30 kV（SE）；8.0 nm@ 3 kV（SE）高真空下减速模式7.0 nm@ 3 kV（BSE）低真空成像3.0 nm@ 30 kV（SE）；4.0 nm@ 3 kV（BSE）；10 nm@ 3 kV（SE）放大倍数：5 ~ 1,000,000×（宝丽来相纸放大）加速电压范围：200 V ~ 30 kV 探针电流范围：最高可达到2 μA，连续可调低真空范围：高达150 PaX-Ray工作距离：10 mm，EDS检出角：35°样品室：内宽280 mm，端口10个样品台：五轴全自动马达驱动X=120 mm,Y=120 mm,Z=55 mm,T=-15o~90o,R=360o （连续旋转）最大样品尺寸 240 x 280 x 128 mm3最大样品承重 10 kg探测器系统：高真空二次电子探测器ETD 可伸缩式背散射探测器BSED样品室内红外相机CCD图像导航彩色光学相机Nav-Cam+™ 具有ChemiSEM技术的TrueSight X EDS 探测器控制系统：操作系统：Windows 10图像显示：24寸LCD显示器，最高显示分辨率1920×1200支持用户自定义的GUI，可同时实时显示四幅图像软件支持Undo和Redo功能

电镜能谱一体化设计，简洁小巧 Phenom ProX 的能谱仪 EDS 是针对台式电镜设计的，本着台式电镜简单易用，售后无忧的宗旨，Phenom ProX 的能谱仪 EDS 系统完全嵌入在电镜主机中，利用半导体制冷，无需额外冷却系统。 飞纳台式扫描电镜 Phenom ProX 用户可根据样品类型和测试目的，灵活切换专利样品杯，30 秒快速成像 Phenom（飞纳）专利样品杯、低真空设计、专利的真空封锁技术，装入样品后 30 秒内即可得到高质量图像，耗时仅为传统电镜的 1/10 左右。 直接观看绝缘体，无需喷金 Phenom（飞纳）采用低真空技术，出射电子与空气分子碰撞产生正离子，正离子与样品表面累积的电子中和，有效抑制荷电效应的产生，直接观测各种不导电样品（如下图所示）。 利用降低荷电效应样品杯，更可将开始荷电的放大倍数提高 8 倍左右，而且不会影响灯丝寿命，长寿命/高亮度/低色差 CeB6 灯丝 Phenom（飞纳）采用逸出功为 2.5eV 的 CeB6 灯丝，其亮度为钨灯丝的 10 倍，出射电子色差小，为您提供更高质量的图像，其使用寿命长达 1500 小时，为钨灯丝的 10 倍，可正常使用 1-3 年无需更换灯丝，免去了您频繁更换灯丝的麻烦，保证工作进度。环境适应性高，完全防震 Phenom（飞纳）可以放置在几乎所有的室内环境当中，无需超净间。采用灯丝、探测器、样品台相对一体化的设计，震动不会引起三者间的相对运动，使 Phenom 成像不受震动影响，可放置在较高楼层。互联网远程检测 Phenom（飞纳）拥有远程检测功能，通过网络，专业工程师可随时为您远程检测系统、答疑解难，为您提供全方位的保护，让您的 Phenom 随时处于最佳工作状态。

秉承飞纳台式扫描电镜系列全自动操作、快速成像、不喷金观看不导电样品、完全防震、性能稳定的特点，荷兰飞纳公司推出采用肖特 基场发射电子源，集背散射电子成像、二次电子成像和能谱分析功能于一体的台式场发射扫描电镜能谱一体机 Phenom Nano G2。 高亮度肖特基场发射电子源，使用户可以轻松获得高分辨率图像。最高放大倍数 100 万倍，分辨率优于 2.5nm肖特基场发射电子源彩色光学显微镜全景导航集成全自动马达样品台内置全自动真空锁，15 秒抽真空无需喷金，直接观察不导电样品无漏磁设计，直接观测磁性样品操作简单，培训 30 分钟即可上手耦合式电子光路设计内置 27 组独立减震单元，完全防震维护成本低飞纳电镜系列产品性能稳定，可以长时间工作，自动化程度高，大量节省了人力成本。飞纳台式场发射扫描电镜的灯丝使用稳定，寿命长，电子光路免维护，后期维护简单。飞纳电镜系列产品加入了硬件防护设计，杜绝人为操作不当引起设备故障；同时，提供终身免费的远程联网检测，实时维护您的电镜。复纳科学仪器（上海）有限公司为您提供飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2的参数、价格、型号、原理等信息，飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2产地为荷兰、品牌为Phenom，型号为Phenom Pharos G2，价格为面议RMB，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

产品性能：第六代 Phenom Pure 是一款使用高亮度 CeB6 灯丝的高分辨台式扫描电镜。放大倍数 175,000 倍，用于观察亚微米样品的微观结构。Pure 具有全自动操作、15 秒快速抽真空、不喷金观看绝缘体、2-3 年更换灯丝等特点，适用于传统大电镜待测样品的快速筛选，也适合于光学显微镜的分辨率无法满足需求的客户。Phenom Pure 经济型标准版产品参数电子显微镜：175,000 倍探测器：高灵敏度四分割背散射电子探测器灯丝材料：1,500 小时 CeB6 灯丝分辨率：优于 10 nm放置环境：采用专业防震设计，可摆放于普通实验室或办公室、厂房加速电压：5kV 和 10kV抽真空时间：小于 15 秒复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom-Scientific)，负责荷兰飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售，提供专业的技术支持和测试服务，飞纳中国拥有最专业的服务团队，提供最优化的解决方案；飞纳中国提出飞纳学校 （Phenom University）的概念，为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训，在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心，目前飞纳在中国已经拥有超过 1500 名用户。

产品性能飞纳台式扫描电镜大样品室卓越版 XL是一款使用高亮度 CeB6 灯丝的大样品室台式扫描电镜。最大样品直径为 100mm，放大倍数 200,000 倍以下， Phenom XL 是您正确的选择。在继承飞纳电镜 15 秒抽真空成像、全自动化操作、直接观测绝缘体、防震设计等优点的基础上，分辨率可以和普通大型钨灯丝电镜媲美，后期被拓展性很强。产品参数光学显微镜：放大 3-19 倍电子显微镜：200,000 倍探测器：高灵敏度四分割背散射电子探测器灯丝材料：1,500 小时 CeB6 灯丝分辨率：优于 8 nm放置环境：采用专业防震设计，可摆放于普通实验室或办公室、厂房加速电压：4.8kV-20.5kV 连续可调抽真空时间：小于 30 秒能谱仪：可选配能谱仪Phenom XL 大样品室卓越版可选配所有的拓展功能软件选件，如 3D 粗糙度重建，纤维统计分析测量系统，颗粒统计分析测量系统，孔径统计分析测量系统。全自动显微平台Phenom XL + 拉伸台 拉伸台是飞纳台式扫描电镜 Phenom XL 一项重大拓展。拉伸台是一种动态观察和分析材料微观变形形貌及断裂机制的手段,在材料科学前沿研究中发挥了重要作用。扫描电镜原位拉伸台的最大特点是,在进行应力—应变力学定量测试的同时, 利用扫描电镜的强大的景深、高空间分辨和分析功能，在微观层面上对材料的力学性能进行动态研究。拉伸台可以为很多材料做拉伸测试，如金属材料（研究韧断过程、应力诱发相变及塑性变形），高分子材料，陶瓷材料等。飞纳台式扫描电镜的原位拉伸台能实现 2N to 1000N 的拉力区间，拉伸速度可实现 0.1mm/min 到 15mm/min，满足几乎所有领域样品的原位拉伸观测。飞纳台式扫描电镜 Phenom XL 拉伸台 复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom-China)，负责 Phenom-World 飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售，提供专业的技术支持和测试服务，飞纳中国拥有最专业的服务团队，提供最优化的解决方案；飞纳中国提出飞纳学校 （Phenom University）的概念，为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训，在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心，目前飞纳在中国已经拥有超过 2000 名用户。

飞纳台式扫描电镜 Phenom 超大样品台是飞纳台式扫描电镜大样品室卓越版 Phenom XL G2 的标准样品杯，设计紧凑，可以分析的最大样品尺寸为 100 mm x 100 mm。尽管是大得多的样品尺寸，专利的样品加载技术可以使抽真空的时间降到最短，实际上使得飞纳电镜大样品室卓越版 Phenom XL G2 的吞吐量比同类型的扫描电镜高出几个级别。镶嵌，切割和抛光是制备表面平整，用于扫描电镜观察样品的常用技术。通常，这些样品会被嵌入到树脂中，并且有几种标准直径的尺寸。飞纳电镜大样品室卓越版 Phenom XL G2 可以拓展使用 3 种树脂镶嵌金相样品插件，这意味着 Phenom XL G2 的标准样品杯可以装载常见尺寸的金相样品。100 mm x 100 mm（一次可容纳多达 36 个 1/2 英寸样品台）样品高度 Max. 65mm超大样品台

飞纳台式扫描电镜 Phenom 标准样品杯高分辨率样品杯，每台飞纳电镜的标准配置。可以获得最好的成像结果，适用于固定在钉型样品台上的常规样品。最大样品尺寸：直径 25 mm；高 30 mm 标准样品杯样品台 放样复纳科学仪器（上海）有限公司为您提供9台电镜附件及外设，包括飞纳台式扫描电镜 Phenom X 断面观测插件，飞纳台式电镜 Phenom 自动倾斜/旋转样品杯，飞纳台式扫描电镜 Phenom 超大样品台， 不管是电镜附件及外设原理、参数，还是电镜附件及外设价格、型号都可咨询，售前、售后均可联系我们。

产品性能：第六代飞纳台式扫描电镜高性价比标准版 Pure 是一款使用高亮度 CeB6 灯丝的高分辨台式扫描电镜。放大倍数 175,000 倍，用于观察亚微米样品的微观结构。Pure 具有全自动操作、15 秒快速抽真空、不喷金观看绝缘体、2-3 年更换灯丝等特点，适用于传统大电镜待测样品的快速筛选，也适合于光学显微镜的分辨率无法满足需求的客户。Phenom Pure 经济型标准版产品参数电子显微镜：175,000 倍探测器：高灵敏度四分割背散射电子探测器灯丝材料：1,500 小时 CeB6 灯丝分辨率：优于 10 nm放置环境：采用专业防震设计，可摆放于普通实验室或办公室、厂房加速电压：5kV 和 15kV抽真空时间：小于 15 秒复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom Scientific)，负责荷兰飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售，提供专业的技术支持和测试服务，飞纳中国拥有最专业的服务团队，提供最优化的解决方案；飞纳中国提出飞纳学校 （Phenom University）的概念，为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训，在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心，目前飞纳在中国已经拥有接近 1000 名用户。

飞纳台式扫描电镜大样品室卓越版----Phenom XL G2Phenom XL （电镜腔室 100mm x 100mm）具有飞纳电镜系列以下优点：超高分辨 —— 8 nm，独家采用长寿命 1500 小时、高亮度的 CeB6 灯丝快速成像 —— 抽真空时间小于 20 秒简易操作 —— 光学 + 低倍电子导航定位，结合全自动马达样品台移动观测位置直接观测绝缘体 —— 低真空设计，实现不喷金看绝缘体，且不影响灯丝寿命高度自动化 —— 自动聚焦，自动调节对比度亮度，拍照简单快速放置环境无特殊要求—— 无需独立实验室，无需超净间防震设计 —— 紧凑的一体化设计，可不用防震台摆放在高层远程联网检测 —— 第一时间通过远程联网诊断，售后无忧同时，Phenom XL G2 做出了如下改进，使其在拥有台式扫描电镜操作简单等特点的前提下，具备大型落地式电镜的高分辨率、多功能和拓展性强等优势：1、Phenom XL G2 成为台式扫描电镜中腔室最大的，电镜腔室由原来的 32mm 扩容为 100mm x 100mm，一次可容纳至多 36 个 1/2 英寸样品台，测样效率进一步提高。自动马达样品台的移动范围为 X = 50mm，Y = 50mm（可选配X=100 mm,Y=100 mm）Phenom XL 的样品台2、Phenom XL 提供高、中、低三级真空，可以选配二次电子探测器3、背散射电子探头性能依然优异，背散射电子信号强度跟样品成分衬度有关，可以和能谱良好结合起来背散射 1000X（背散射电子数量与元素的原子序数成正比，元素的原子序数越高，背散射电子数量越多，该元素在图像中的表现越亮）样品未喷金，采用背散射电子成像，更高倍数下清晰看到多种成分衬度，沿着箭头方向从内到外可以看到 4 种不同的成分衬度，且分界线非常明显。代表这 4 个位置元素含量各不相同，并且沿着箭头方向，重元素占比越来越低。4、低电压下成像优势明显，低电压模式下，可以减少对样品的损伤，穿透，能观察到样品表面更真实的形貌 二次电子 5kV, 5000X二次电子 5kV, 5000X二次电子 5kV, 10000X二次电子 5kV, 15000X5、可拓展拉伸台，压力台，大角度倾斜台，高低温样品台等功能性选件● 全自动显微平台Phenom XL G2 + 拉伸台 　　拉伸台是飞纳台式扫描电镜Phenom XL G2一项重大拓展。拉伸台是一种动态观察和分析材料微观变形形貌及断裂机制的手段,在材料科学前沿研究中发挥了重要作用。扫描电镜原位拉伸台的最大特点是,在进行应力—应变力学定量测试的同时, 利用扫描电镜的强大的景深、高空间分辨和分析功能，在微观层面上对材料的力学性能进行动态研究。拉伸台可以为很多材料做拉伸测试，如金属材料(研究韧断过程、应力诱发相变及塑性变形),高分子材料，陶瓷材料等。飞纳台式扫描电镜的原位拉伸台能实现 2N to 1000N 的拉力区间，拉伸速度可实现 0.1mm/min 到 15mm/min，满足几乎所有领域样品的原位拉伸观测。飞纳台式扫描电镜 Phenom XL 拉伸台6、Phenom XL 可选配所有的拓展功能软件选件，如 3D 粗糙度重建系统，纤维统计分析测量系统，孔径统计分析测量系统等

产品性能：第六代 飞纳台式扫描电镜 Phenom Pure 经济型是一款使用高亮度 CeB6 灯丝的高分辨台式扫描电镜。放大倍数 175,000 倍，用于观察纳米或者亚微米样品的微观结构。基于高亮度 CeB6 灯丝和全新的聚焦系统，Phenom pure 的分辨率轻松达到 10 nm，同时具有全自动操作、15 秒快速抽真空、不喷金观看绝缘体、2-3 年更换灯丝等特点。Phenom Pure产品参数光学显微镜：放大 27 倍电子显微镜：175,000 倍探测器：高灵敏度四分割背散射电子探测器灯丝材料：1,500 小时 CeB6 灯丝分辨率：优于 10 nm放置环境：采用专业防震设计，可摆放于普通实验室或办公室、厂房加速电压：5kV 和 10kV抽真空时间：小于 15 秒Phenom Pure 可升级为高分辨率专业版 Phenom Pro，Phenom Pro 后期可升级为同时具备显微图像和元素成分分析的电镜能谱一体机 Phenom ProX。Phenom Pure 可选配所有的样品杯选件和所有的拓展功能软件选件。复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom-China)，负责 Phenom-World 飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售，提供专业的技术支持和测试服务，飞纳中国拥有最专业的服务团队，提供最优化的解决方案；飞纳中国提出飞纳学校 （Phenom University）的概念，为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训，在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心，目前飞纳在中国已经拥有超过 1000 名用户。

产品性能第六代 Phenom Pro 是一款使用高亮度 CeB6 灯丝的高分辨台式扫描电镜。放大倍数 350,000 倍，用于观察纳米或者亚微米样品的微观结构。基于高亮度 CeB6 灯丝和全新的聚焦系统，Phenom Pro 的分辨率轻松达到 6 nm，同时具有全自动操作、15 秒快速抽真空、不喷金观看绝缘体、2-3 年更换灯丝等特点。飞纳台式扫描电镜 Phenom Pro产品参数电子显微镜：350,000 倍探测器：高灵敏度四分割背散射电子探测器灯丝材料：1,500 小时 CeB6 灯丝分辨率：优于 6 nm放置环境：采用专业防震设计，可摆放于普通实验室或办公室、厂房加速电压：4.8kV-20.5kV 连续可调抽真空时间：小于 15 秒Phenom Pro 后期可升级为同时具备显微图像和元素成分分析的电镜能谱一体机 Phenom ProX。Phenom Pro 可选配所有的样品杯选件和所有的拓展功能软件选件。复纳科学仪器 (上海) 有限公司，负责荷兰飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售，提供专业的技术支持和测试服务，飞纳中国拥有最专业的服务团队，提供最优化的解决方案；飞纳中国提出飞纳学校 （Phenom University）的概念，为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训，在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心，目前飞纳在中国已经拥有接近 1000 名用户。

飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2荷兰飞纳公司推出第二代肖特基场发射电子源台式扫描电镜 Phenom Pharos G2, 集背散射电子成像、二次电子成像和能谱分析功能于一体。高亮度肖特基场发射电子源，使用户可以轻松获得高分辨率图像，且低电压性能优异。Phenom Pharos G2 低电压成像优势明显，可减轻电子束对样品的损伤和穿透，更好地观测绝缘和电子束敏感的样品，可以最大程度还原样品真实形貌。Phenom Pharos G2 —— 电镜能谱一体化设计Phenom Pharos 飞纳台式场发射电镜采用热场发射电子源，信噪比高，使用寿命长，保证长期稳定的性能。飞纳台式场发射扫描电镜能谱一体机标配背散射电子成像、二次电子电子成像和能谱分析功能，可对各种样品进行高分辨成像及元素分析。飞纳台式场发射电镜的技术优势 分辨率优于 1.5 nm 低电压下可得到高分辨样品的图像，表面细节丰富 彩色光学显微镜全景导航 集成全自动马达样品台 操作简单，培训 30 分钟即可上手 内置真空锁，15 秒抽真空 无需喷金，直接观察不导电样品 电子束流大，稳定，能谱分析效率高 内置 27 组独立减震单元，完全防震 电子光路免维护维护成本低飞纳电镜系列产品性能稳定，可以长时间工作，自动化程度高，大量节省了人力成本。飞纳台式场发射扫描电镜的灯丝使用稳定，寿命长，电子光路免维护，后期维护简单。飞纳电镜系列产品加入了硬件防护设计，杜绝人为操作不当引起设备故障；同时，提供终身免费的远程联网检测，实时维护您的电镜。

飞纳台式扫描电镜 Phenom 标准金相样品杯的主体设计与标准样品杯相同，但金相样品杯是专门用来装载镶嵌样品的。是冶金类样品和样品杯插件的首选方案。金相杯可以选配两种插件，从而更快速制备样品。独特的样品杯理念 包埋、切割和抛光是显微成像中制备平整样品的一种常用技术。 通常这种样品要包埋在树脂中，并且有几种标准的尺寸。 使用 Phenom XL 电镜上的标准样品杯，通常支持拓展三种金 相样品插件。这意味着该样品杯可以容纳大多数尺寸的镶嵌样 品。 金相样品插件具备众多独特优点。样品固定方法简单直接，所有 样品具有相同工作距离，批量能谱分析非常方便。 在做能谱定量分析时，镶嵌样品的表面要尽可能水平。然而，样 品底面却往往是十分粗糙。若没有这些插件，装载这种样品时， 上表面不在同一水平面上，这势必会影响能谱定量结果。 利用这些插件，样品底面不会接触到样品杯表面。在插件内部， 镶嵌样品的上表面可以精确的固定在同一高度的平面上，可以同 时获得高分辨图像和能谱结果。 金相样品插件有三种型号，能装载 25 mm (1英寸)，32 mm (1.25英寸) 和 40 mm (1.5英寸) 标准尺寸样品。含有内六角扳 手用于样品固定。最大样品尺寸：直径 32 mm；高 30 mm 金相样品杯金相试样 放样

飞纳台式扫描电镜能谱一体机Phenom ProX是终极的集成化成像分析系统。借助该系统，既可观察样品的表面形貌，又可分析其元素组分。研究样品时，得到样品的形貌信息只是解决了一半问题。获得样品的元素组分信息往往也是非常必要的。借助全面集成、特殊设计的能谱探测器，飞纳电镜能谱一体机 Phenom ProX 可以完善解决上述所有问题。能谱仪是一种基于样品被电子束激发而产生 X 射线的分析仪器。Phenom 的能谱仪无论软件、硬件都是完全集成设计在飞纳电镜能谱一体机 Phenom ProX 系统中。Element Identification (EID) 软件可以使用户实现多点分析，检测样品的元素组分。此外，该软件还可以扩展到元素分析线面扫（mapping）功能。分步操作界面可以帮助用户更方便地收集、导出分析数据。Phenom ProX 主要技术参数电子放大最高 350,000 X分辨率优于 6 nm光学导航相机彩色加速电压4.8 Kv - 20.5 Kv 连续可调真空模式标准模式降低荷电效应模式探测器背散射电子探测器样品尺寸最大直径 32 mm样品高度最高 100 mm

飞纳台式扫描电镜 Phenom X 断面观测插件断面插件一般与金相样品杯结合使用。样品横截面成像的制备是 一个耗时的过程。样品通常嵌入抛光。使用断面插件，样品很容 易在支架中使用夹具固定。无需工具就可以快速、轻松地调整样 品位置。使用断面插件观察样品，可以保存样品的最初状态，可 以在生产过程中重复使用或在进一步的实验室研究中使用。 观察涂层、多层半导体和断裂表面时需要断面制样。一般来说， 这类样品都需要借助树脂固定制作成镶嵌样，耗费大量时间和精 力。 有了断面插件，就再也不需要螺丝钉和特殊工具来固定样品了。容易固定，不需要螺丝和其他的工具主要参数：&bull 样品大小： 15mm x 25mm（W x L）最厚为10 mm &bull 不需要工具&bull 样品定位简单 &bull 保持样品原始形貌

台式扫描电镜高分辨率专业版 Phenom Pro是飞纳电镜系列中最先进的产品，第六代 Phenom Pro 放大倍数提升为 350,000 倍，分辨率优于 6 nm，30 秒快速得到表面细节丰富的高质量图像，是目前世界上分辨率最高的台式扫描电镜，可用于测量亚微米或纳米尺度的样品；飞纳高分辨率专业版 Phenom Pro 继承了飞纳电镜系列高分辨率、15 秒快速抽真空、不喷金观看绝缘体、全自动操作、2-3 年更换灯丝及防震设计等优点。飞纳高分辨率专业版 Phenom Pro 可选配丰富的拓展功能选件，如 3D 粗糙度重建（3D Roughness Reconstruction）、纤维统计分析测量系统（FiberMetric）、孔径统计分析测量系统（PoreMetric）、颗粒统计分析测量系统（ParticleMetric）、超大视野拼图（Auto Image Mapping）、远程操作等。软件可以自动采集数据、处理图片。比如，纤维统计测量系统可以自动识别、测量纤维样品，而大视野拼图 则自动采集生成高分辨、大视野的样品全景照片，等等…除此之外，还有各种各样的样品杯可供选择，这些样品杯使得样品的装载更加便利。无论是对于长轴状样品，还是生物材料，或者其它种类的材料，总有一款合适的样品杯可以提供完美的解决方案。Phenom Pro 主要技术参数电子放大最高 350,000 X分辨率优于 6 nm光学导航相机彩色加速电压4.8 kV - 20.5 kV 连续可调真空模式标准模式降低荷电效应模式探测器背散射电子探测器样品尺寸最大直径 32 mm 样品高度最高 100 mm

COXEM 新一代台式扫描电镜 EM-40● 全新 GUI, NanoStation5● 高达每秒13帧的超快帧率● 优化的自动聚焦功能● X, Y, Z 三轴自动马达台● 可变真空度 (三档可调)● 兼容紧凑型EBSD探测器● 快速颗粒物分析全新操作界面 : NANOSTATION5操作简便：自动对焦可变真空

飞纳台式扫描电镜1997年FEI和飞利浦电子光学宣布合并其全球业务2008年台式扫描电子显微镜飞纳(Phenom)进入中国市场2012年飞纳(Phenom）台式扫描电镜全球销最突破2000台2013年飞纳（Phenom)发布第三代台式扫描电镜，放大倍数10万倍，分辨率优于8nm 飞纳(Phenom)主要特点一长寿命/高亮度/低色差CeB6灯丝一表面细节丰富的高质量图片一内置彩色光学显微镜一自动马达样品台一30秒快速成像，操作简单一光学与低倍电子双重导航一防震设计，对放置环境无牛条殊要求一样品仓低真空技术，直接观测绝缘体，}c需喷金一四分割高灵敏度背散射电子探头，兼得样品表面 形貌与成份信息

库赛姆（COXEM）EM-30 Plus超高分辨率台式（桌面式）扫描电镜品牌： COXEM名称型号：EM-30 PLUS 产品简介：EM-30 Plus超高分辨率台式（桌面式）扫描电镜打破了传统台式扫描电镜采用BSD探测器成像的局限性，利用创新的双聚光镜成像技术，采用大型扫描电镜成像方式，使用二次电子探测器作为基础成像单元，从而，可以获得更高的分辨率（5nm），是真正意义上的高分辨率台式扫描电镜。EM-30 Plus台式电镜配置SE+BSE探测器，可实现对样品的元素衬度、形貌衬度进行分析，同时，也可选配EDS探测器（能谱仪），快速实现对材料微区化学成分进行定性及定量分析。COXEM（库赛姆）EM-30 Plus产品技术亮点：l 超高分辨率（5.0nm @30kV SE）； l 更大的放大倍数x 150,000；l 更加简单易用的导航模式，更加快速的操作模式；l 同时刻进行二次电子像和背散射电子像收集；l 更加先进的低真空模式；l 全新升级的分析软件，舒适通用；l 从1kV-30kV同标准电镜相同的全加速电压量程； 技术指标：放大倍数x20 ~ x150,000加速电压1~30kV电子枪钨灯丝探测器标配二次电子像（升级）、背散射电子像（可伸缩），可选配能谱仪样品台:X: 35mm (马达驱动)， Y: 35mm (马达驱动)，T: 0- 45°(马达驱动)， R: 360°，Z: 5-50mm样品座通用7个样品桩的样品台通用25mm的样品台通用倾斜通用截面台试样尺寸45mm（高）,60mm （直径） 图像模式(像素)Focus聚焦（160 x120 pixel）RED选区（320x240），TV（640x480）Slow（800x600）Photo（1280x960，2560x1920，5120.x3840）真空系统涡轮分子泵（小于3分钟）软件全新的NanoStation 3.0TM自动功能聚焦、灯丝、亮度、对比度 特殊功能导航模式驾驶模式（通过控制杆操作）SE+BSE混合像，分屏同时显示SE,BSE像组成、形貌线轮廓操作系统Windows 7操作方式控制杆，鼠标，键盘外形尺寸400×600×500,90kg

库赛姆（COXEM）EM-30+超高分辨率台式（桌面式）扫描电镜品牌： COXEM名称型号：EM-30+制造商： 韩国COXEM公司经销商：库赛姆中国产品简介：EM-30 Plus超高分辨率台式（桌面式）扫描电镜打破了传统台式扫描电镜采用BSD探测器成像的局限性，利用创新的双聚光镜成像技术，采用大型扫描电镜成像方式，使用二次电子探测器作为基础成像单元，从而，可以获得更高的分辨率（5nm），是真正意义上的高分辨率台式扫描电镜。EM-30 Plus台式电镜配置SE+BSE探测器，可实现对样品的元素衬度、形貌衬度进行分析，同时，也可选配EDS探测器（能谱仪），快速实现对材料微区化学成分进行定性及定量分析。Ni Powder x3KFiber x10kCOXEM（库赛姆）EM-30 Plus产品技术亮点：l 超高分辨率（5.0nm @30kV SE）； l 更大的放大倍数x 150,000；l 更加简单易用的导航模式，更加快速的操作模式；l 同时刻进行二次电子像和背散射电子像收集；l 更加先进的低真空模式；l 全新升级的分析软件，舒适通用；l 从1kV-30kV同标准电镜相同的全加速电压量程； 技术指标：放大倍数15x – 150,000x加速电压1~30kV电子枪钨灯丝探测器标配二次电子像（升级）、背散射电子像（可伸缩），可选配能谱仪样品台:X: 35mm (马达驱动)， Y: 35mm (马达驱动)，T: 0- 45°(马达驱动)， R: 360°，Z: 5-50mm样品座通用7个样品桩的样品台通用25mm的样品台通用倾斜通用截面台试样尺寸70mm (W) x 45mm (H)图像模式(像素)Focus聚焦（160 x120 pixel）RED选区（320x240），TV（640x480）Slow（800x600）Photo（1280x960，2560x1920，5120.x3840）真空系统涡轮分子泵（小于3分钟）软件全新的NanoStation 3.0TM自动功能聚焦、灯丝、亮度、对比度 特殊功能导航模式驾驶模式（通过控制杆操作）SE+BSE混合像，分屏同时显示SE,BSE像组成、形貌线轮廓操作系统Windows 7操作方式控制杆，鼠标，键盘外形尺寸400×600×500,90kg

品牌：COXEM 型号： EM-30N 制造商：韩国COXEM公司 经销商：库赛姆中国免费咨询电话：400-101-5477售后服务电话：400-101-5466 产品简介：EM-30N高分辨台式扫描电镜打破了传统台式电镜采用BSD探测器成像的局限性，利用创新的双聚光镜成像技术，采用大型扫描电镜成像原理，使用二次电子探测器作为基础成像单元，从而可以获得更高的分辨率（5EM-30Next高分辨台式（桌面式）扫描电镜打破了传统台式电镜采用BSD探测器成像的局限性，利用创新的双聚光镜成像技术，采用大型扫描电镜成像原理，使用二次电子探测器作为基础成像单元，从而可以获得更高的分辨率（小于5nm）同时可以配备EDS、冷台、STEM等附件设备，成为真正意义上的分析平台型高分辨台式扫描电镜。COXEM（库赛姆）EM-30N特点:1、使用方便、体积小巧、对环境要求低2、分辨率高，大样品仓3、自动马达台4、加速电压范围广5、CCD样品导航6、LV低真空模式7、可选配附件多：STEM、EDS、Navigation、冷台

飞纳台式扫描电子显微镜专业版Pro快速高效操作简单，可减轻落地式扫描电镜设备对普通样品进行常规分析的负担。无论是操作过电镜的人员还是未操作过电镜的人员，无需过多培训即可快速上手，得到高质量的成像结果。Phenom Pro 后期可升级为同时具备显微图像和元素成分分析的电镜能谱一体机 Phenom ProX。Phenom Pro 可选配所有的样品杯选件和所有拓展功能软件选件。并且，第六代 Phenom Pro 可以提供实时的背散射和二次电子混合图像，与之前的产品相比，第六代 Phenom Pro 台式扫描电镜将分辨率提高 20%，同时带来了更好的用户体验。在检测时可以进行更广泛的应用，包括对电子束敏感的样品。放大倍数：350,000 X分辨率：优于 6 nm灯丝材料：优于 1500 小时 CeB6 灯丝抽真空时间：小于 15 秒探测器：背散射电子探测器、二次电子探测器（可选）

飞纳台式扫描电子显微镜标准版 Pure 智能、高效、经济 放大倍数：175,000 分辨率：优于10nm电子枪：1500小时CeB6灯丝抽真空时间：10秒样品移动方式：自动马达样品台样品定位方式：光学和低倍电子双重导航样品导电性要求：无需喷金，直接观测绝缘体环境扫描选件（ESEM）：温控样品台，可直接观测液体可升级为Phenom Pro 专业版Phenom(飞纳) Pure（飞纳台式扫描电镜 标准版） 一款性能和价格介于光学显微镜和传统大电镜之间的经济型台式扫描电镜，可用于测量亚微米尺寸的样品。Phenom Pure 适用于传统大电镜待测样品的快速筛选，也适合于光学显微镜的分辨率无法满足需求的客户。表面细节丰富的高分辨率照片Phenom(飞纳) Pure 为您提供高信噪比、表面细节丰富的优质图像：分辨率优于 10 nm，大景深；传统电镜往往通过提高加速电压来产生更高的信号，同时由于穿透深度较深，导致表面细节缺失。低加速电压 电子穿透深度浅，避免样品被破坏，展现更多表面细节；探测背散射电子，展现清晰形貌结构的同时，提供丰富的成份信息；5kV 低加速电压下，电子反应区位于样品表面，配合高亮 CeB6 灯丝，既保证了分辨率，又得到样品表面的信息 CeB6 灯丝在样品表面单位面积内激发的信号约是钨灯丝的 10 倍，适合于低加速电压观测 表面形貌和成分信息同时展现背散射电子的产率、出射角度与样品成份及表面形貌相关。Phenom（飞纳）采用 4 分割半导体背散射电子探测器，为您提供两种成像模式，模式之间可迅速切换；成份模式：同时给出样品表面形貌与成份信息，不同元素可由其灰度对比度的不同加以分辨 形貌模式：去除成份信息，样品表面凹凸起伏等微观结构更加明晰，适用于表面粗糙度和缺陷分析成份模式 4分割背散射电子探测器扇区所得的信号相叠加形貌模式 4分割背散射电子探测器扇区所得的信号相抵消成份模式图像包含样品成份与形貌信息形貌模式图像仅突出样品表面形貌特征专利样品杯，30秒快速成像 Phenom（飞纳）专利样品杯、低真空设计、专利的真空封锁技术，装入样品后30秒内即可得到高质量图像，耗时仅为传统电镜的1/10左右。 直接观看绝缘体，无需喷金Phenom（飞纳）采用低真空技术，出射电子与空气分子碰撞产生正离子，正离子与样品表面累积的电子中和，有效抑制荷电效应的产生，直接观测各种不导电样品（如下图所示）。利用降低荷电效应样品杯，更可将开始荷电的放大倍数提高8倍左右，而且不会影响灯丝寿命，下图头发示例： 操作简便，全程导航 &bull 自动/手动聚焦Phenom（飞纳）操作界面。通过点击右侧图标可以轻松完成图像缩放、聚焦、亮度对比度调节、旋转等操作。界面右侧显示光学导航和低倍SEM导航窗口，方便用户在不同样品、不同区域间进行切换。&bull 自动/手动亮度&bull 自动/手动对比度&bull 自动灯丝居中调节&bull 自动马达样品台&bull 光学/电子样品导航 光学导航，所有带观测样品尽在视野之中，高倍下准确切换样品，只需点击感兴趣样品，即可自动移动到屏幕中央低倍SEM照片导航，导航窗口中的彩色矩形框指示了住观测窗口的观测区域，点击感兴趣的区域，自动移动到样品中央 环境适应性高，完全防震Phenom（飞纳）可以放置在几乎所有的室内环境当中，无需超净间。采用灯丝、探测器、样品台相对一体化的设计，震动不会引起三者间的相对运动，使Phenom成像不受震动影响，可放置在较高楼层。 互联网远程检测Phenom（飞纳）拥有远程检测功能，通过网络，专业工程师可随时为您远程检测系统、答疑解难，为您提供全方位的保护，让您的Phenom随时处于最佳工作状态。 适用于不同领域的样品杯选件

Thermo Scientific™ Quattro™ 扫描电镜将成像和分析的全面性能与独特的环境模式（ESEM）相结合，使得样品研究得以在自然状态下进行。如今，研究型实验室普遍要求现代的扫描电镜可以适应多种多样的样品分析需求，希望在获得出色的图像质量的同时尽可能简化样品制备过程。Quat t r o 的场发射枪（FEG）确保了优异的分辨率，通过不同的探测器选项，可以调节不同衬度信息，包括定向背散射、STEM 和阴极荧光信息。来自多个探测器和探测器分区的图像可以同步采集和显示，使得单次扫描即可获得各种样品信息，从而减低束敏感样品的束曝光并实现真正的动态实验。Quattro 的三种真空模式（高真空、低真空和 ESEM™ ）使得系统极具灵活性，可以容纳任何 SEM 可用的广泛的样品类型，包括放气或者是与真空状态不相容的样品。此外，ESEM™ 可以在现实世界的条件下对样品进行原位研究，例如湿/潮湿、热或反应性的环境。Quattro 的分析样品仓可以满足日益增长的样品元素信息及晶体结构分析需求，它同时支持相对的双能谱（EDS）探测器、共面能谱（EDS）/电子背散射衍射（EBSD）和平行束波谱（WDS）探测器。无论什么类型的样品，在高真空下或与 Quattro 支持的独特实验条件相结合，无论样品导电、绝缘、潮湿或是在高温条件下，均可获得可靠的分析结果。由于多用户设施要求大量操作人员都能获得所有相关数据，同时尽可能缩短培训时间，所以易用性是至关重要的。Quattro 独特的硬件由帮助功能（用户向导）支持，不仅可以指导操作者，还可以直接与显微镜进行交互。并且通过“撤消（Undo）”功能，鼓励新手用户进行实验，而专家用户可以轻松缩短结果获取时间。主要优势在自然状态下对材料进行原位研究：具有环境真空模式（ESEM）的独特高分辨率场发射扫描电镜大程度缩短样品制备时间：低真空和环境真空技术可针对不导电和/或含水样品直接成像和分析，样品表面无荷电累积在各种操作模式下分析导电和不导电样品， 同步获取二次电子像和背散射电子像安装原位冷台、珀尔帖冷台和热台，可在-165°C 到 1400°C 温度范围内进行原位分析卓越的分析性能，样品仓可同时安装三个 EDS 探测器，其中两个 EDS端口分开 180°、 WDS 和共面 EDS/EBSD针对不导电样品的卓越分析性能：凭借“压差真空系统”实现低真空模式下的精确 EDS 和 EBSD 分析灵活、精确的优中心样品台，105°倾斜角度范围，可全方位观察样品 软件直观、简便易用，并配置用户向导及 Undo（撤销）功能，操作步骤更少，分析更快速全新创新选项，包括可伸缩 RGB 阴极荧光（CL）探测器、1100°C 高真空热台和 AutoScript（基于 Python 的脚本工具 API）

Agilent 桌面场发射扫描电镜 安捷伦8500FE-SEM为研究者提供场发射扫描电镜。这个紧凑、创新的系统优化了低电压成像，特别是表面高对比度，可以得到一般在更大，更昂贵的场发射显微镜才能得到的分辨率。8500安装使用很方便，不需特别的场地要求，只需一个接线板。设计紧凑，为实验室中的研究者提供了以前只有传统场发射电镜才能得到的性能。8500经过精心设计，可以提供持续，可重复的性能，成本是业界最低的。 特征和优势：分辨率和成像质量等同于传统的场发射扫描电镜结构优化，核心元件达到晶元尺度，在低压条件下，得到高分辨的成像结果可变低电压可以消除电荷，样品不需要镀膜（不用喷金喷碳直接看不导电样品）程序设计的XYZ样品台确保用户精细调整，扫描和储存信息，操作简单快速静电透镜的设计确保良好的重复性，消除了磁滞现象，不需反复调整机体紧凑确保便于安装，不需特别的场地，不需通冷却水，不需特别隔振维护非常简单，不需频繁更换发射源

秉承操作便捷、快速成像、性能稳定的设计目标，泽攸科技自主研发了钨灯丝台式扫描电子显微镜ZEM15。 ZEM15扫描速度快，信号采集带宽10M，可以在视频模式下流畅实时的显示样品。只需鼠标就可完成所有操作，不需对中光阑等复杂步骤，聚焦消像散后可直接拍图。 主机集成高压及控制系统，体积小巧，便于移动，可出差携带，安装无需特殊环境，只需找一张桌子，供电就可工作。 ZEM15台式扫描电镜主要参数指标放大倍数60000×加速电压3kV-15kV电子源预对中钨灯丝聚光镜两级电磁变焦聚光镜样品台X-Y两轴自动样品台样品台移动范围30mm×30mm标准配置背散射电子探测器二次电极探测器CCD光学导航尺寸主机283×553×505机械泵165×300×150以上就是小编提供的PicoFemto ZEM15台式扫描电子显微镜，详细咨询：

FEI Quanta 200环境扫描电子显微镜主要用于生物样品、材料样品表面精细形貌和结构的观察和分析。图像具有高分辨率和高放大倍数，富于立体感，可真实、生动地显示样品的三维结构。广泛应用于生命科学、医学、材料学等诸多学科。在环境保护和环境监测中，扫描电镜也发挥了不可替代的作用。扫描电镜图像生动、真实地显示了在污水处理中，颗粒污泥、絮状污泥和各种载体上生物膜的生长情况，为深入研究微生物在污水处理、环境保护中的作用、机理和效果提供了有力依据。1. 广泛应用于各种导电材料、绝缘材料、生物材料及含水材料等固体材料的形貌观察；2. 非导电样品不需要表面导电处理，可直接在低真空和环境真空模式下进行成像；3. 多种样品台可提供多种选择；4. 配置冷台，可低温观察样品；5. 真空可控，可在特定真空下观察样品形貌。1. 分辨率：3.5nm （高真空模式，30kv）；2. 3.5nm (低真空模式，30kv）；3. 3.5nm (ESEM环境真空模式， 30kv）；、4. 15 nm (低真空模式，3kv）；5. 放大倍数: 50-50,000x；6. zui大象素: 3584 x 3094。1. 无机物纳米材料等样品的结构信息；2. 不导电样品低真空模式下观察；3. 含水样品在环境扫描模式下观察；4. 动植物微生物等样品干燥、镀金处理后表面形貌观察。