石墨电镜观察

Thermo Scientific针对空气敏感样品开发了惰性气体/真空保护样品传输系统CleanConnect，为空气敏感材料表征开拓出了全新视野。惰性气体/真空保护样品转移工作流程能够帮助科研工作者拓展空气敏感材料的研究边界，探究更多未知领域。 产品介绍 CleanConnect 惰性气体/真空保护样品传输系统可与大多数 Thermo Scientific扫描电镜和双束电镜系统兼容。它主要由样品装载室、闸阀单元、真空控制装置、样品转移仓和转移杆组成。CleanConnect的真空系统可与扫描电镜或双束电镜集成，无需额外配置真空泵，仅需要60s即可完成抽真空过程。和传统的样品转移杆不同，CleanConnect创新性地使用了惰性气体进行样品保护，使得转移仓持续维持正压，ZUI大限度地保证样品与空气隔绝。CleanConnect系统配备的气压表可以实时显示转移仓中气压，使得用户对样品的气压状态有清晰的认识。CleanConnect的正压可以维持十个小时以上，可以实现样品长时间、长距离的转移。图1 赛默飞电镜惰性气体/真空保护样品传输系统CleanConnect&trade 工作流程 利用CleanConnect与扫描电子显微镜进行联用时，可将空气敏感的样品在手套箱中转移至CleanConnect样品台中，随后将 CleanConnect与扫描电镜的样品交换仓进行对接，将样品转移至扫描电镜的样品台中，这样就实现了惰性气体保护下的隔绝空气地转移，随后再利用扫描电镜进行形貌观察、元素分析等。图2 惰性气体保护下将样品转移至赛默飞扫描电子显微镜 此外，CleanConnect也可加载在双束电镜上用于材料截面形貌的观察和TEM样品的制备。当需要观察空气敏感样品的内部显微结构时，先利用CleanConnect实现手套箱至双束电镜的转移，随后利用双束电镜的离子束对样品进行切割，再利用电子束对切割后的新鲜截面进行高分辨成像。如果期望实现原子尺度分辨率成像时，则可利用双束电镜制备TEM薄样，再使用CleanConnect将制备好的TEM薄样在手套箱中转移至TEM样品杆，再转移至透射电镜中完成纳米或原子尺度的高分辨成像。图3 惰性气体保护下将样品转移至双束电镜和透射电镜中进行纳米尺度分析 产品优势 CleanConnect的使用给电子显微镜用户带来了全新的体验，产品具有如下优势：1 保护样品避免与空气中的氧气、水分或二氧化碳发生反应，获取材料表面真实形貌与结构信息。2 CleanConnect系统适用于不同的SEM和DualBeam产品型号，对于有多台设备的实验室，CleanConnect可实现多设备之间的样品关联互通。3 CleanConnect系统兼容液氮冷冻台，样品从手套箱可以转移至双束电镜上的冷冻台上，使得样品在随后的的切割过程中免受离子束的热损伤。4 模块化的设计，符合人体工程学，可实现更便捷的样品转移。5 分离式的样品转移舱和转移杆设计,可以使CleanConnect从手套箱的小过渡仓直接进行快速转移，无需对手套箱进行改装。 产品应用 部分电池材料（如锂金属、硫基固态电解质、满充负极等）对水分和氧气非常敏感，因此在样品处理和转移过程中需要对其实施特殊保护以便于获取材料的真实形貌与结构信息。此外，固态电池的表征也需要在隔绝空气的条件下进行开展：例如固态电池材料的形貌表征、原位实验以表征枝晶在SEI（固态电解质界面）中横向生长形态以及由于硅材料体积膨胀导致的SEI不稳定性实验等。 下面两图分别对比了锂金属和满充石墨负极样品在采用CleanConnect系统保护和在空气暴露后的形貌，结果表明CleanConnect有效保护了样品免受空气/水分污染，从而帮助研究者获取本真形貌结构信息，实现对样品更深入的分析研究。 图4 采用CleanConnect传输锂金属样品（左）和在空气中暴露2 min的锂金属（右） 图5 采用CleanConnect传输满充石墨负极样品（左）和在空气中暴露2 min的满充石墨阳极（右） 如果希望对锂金属进行原子尺度的表征，需要进行TEM样品制备。传统的Ga离子在室温下会与锂金属发生反应，难以用于锂金属的加工。Thermo Scientific研发的氙气等离子气体源的PFIB（Plasma FIB）可以实现锂金属透射样品的无损制备。为了避免锂金属暴露在空气中造成表面氧化，使用了CleanConnect进行样品传输，随后使用Cryo-PFIB技术进行样品冷冻制备和进一步的观察。图6是利用Cryo-PFIB技术在-178℃进行锂金属样品的TEM样品制备过程以及在TEM中观察到的样品形貌信息。图7TEM明场像中可以看到Li的碳化物与Li2CO3的分布，利用高分辨成像可以看到清晰的锂原子排列，可见在切割和转移过程中样品并未受到损伤或氧化。 图6 利用Cryo-PFIB进行TEM样品制备过程 图7 利用TEM进行明场像（中）及原子尺度的观察（右） CleanConnect除了可以应用在钠离子电池、钠硫电池、固态电池材料等空气敏感的电极材料以外，还非常适用于镁铝合金、钙钛矿材料、金属有机框架材料、催化剂等这些对空气敏感的材料表征。无论是在寻求替代能源的工作中，还是开发更强、更轻材料和高精尖的纳米技术研究中，都需要有利的仪器和工作流程来实现更深入的研究表征需求，以推进科学技术发展。我们相信随着CleanConnect系统在扫描电镜、双束电镜上的推广与普及，越来越多的科学家及工程师们能受惠于这一科技带来的对新材料研究的便捷，推进新材料、新产品研究的进程。 虽然人类无法实现永动机的美好愿望，但却可以更好地开发先进技术、更有效地使用能源，让人类文明生生不息。如今，科学家们仍致力于电池材料研究以实现电池技术的突破，旨在开发更安全、更高能量密度和功率性能的电池产品。赛默飞也一直在持续开发更先进的分析技术应用于电池研发和生产中，助力科学家们实现这一目标。未来赛默飞也会竭诚为广大科研与工业用户开发出更多满足客户需求的产品，帮助客户让世界更健康、更清洁、更安全！产品参数规格参数 与大多数 Thermo Scienti c 扫描电镜/双束电镜系统兼容系统控制：硬件联锁* 通过三个按钮实现简单控制* 硬件联锁防止同时开启 CleanConnect系统的闸阀和泄空功能系统控制：软件集成* 集成在在具有兼容性软件版本的系统上* 软件支持自动关闭电子束、载物台移归位、样品仓冲洗以及GIS撤回(如适用)操作* 测试流程：装样，抽真空直至获得图像，并在 2 分钟内完成样品卸载* 初始设置3次冲洗模式，用户可自定义压力和冲洗次数真空系统* 真空系统与扫描电镜或 DualBeam 系统集成，无需另外配置真空泵* 与系统集成并联锁，确保操作安全、简单* 抽空时间：约 60 秒样品尺寸* 直径可至：≤25 mm* 厚度可至：≤15mm* 内置高度规，用于预先量测样品与装置间隙

Thermo Scientific™ Quattro™ 扫描电镜将成像和分析的全面性能与独特的环境模式（ESEM）相结合，使得样品研究得以在自然状态下进行。如今，研究型实验室普遍要求现代的扫描电镜可以适应多种多样的样品分析需求，希望在获得出色的图像质量的同时尽可能简化样品制备过程。Quat t r o 的场发射枪（FEG）确保了优异的分辨率，通过不同的探测器选项，可以调节不同衬度信息，包括定向背散射、STEM 和阴极荧光信息。来自多个探测器和探测器分区的图像可以同步采集和显示，使得单次扫描即可获得各种样品信息，从而减低束敏感样品的束曝光并实现真正的动态实验。Quattro 的三种真空模式（高真空、低真空和 ESEM™ ）使得系统极具灵活性，可以容纳任何 SEM 可用的最广泛的样品类型，包括放气或者是与真空状态不相容的样品。此外，ESEM™ 可以在现实世界的条件下对样品进行原位研究，例如湿/潮湿、热或反应性的环境。Quattro 的分析样品仓可以满足日益增长的样品元素信息及晶体结构分析需求，它同时支持相对的双能谱（EDS）探测器、共面能谱（EDS）/电子背散射衍射（EBSD）和平行束波谱（WDS）探测器。无论什么类型的样品，在高真空下或与 Quattro 支持的独特实验条件相结合，无论样品导电、绝缘、潮湿或是在高温条件下，均可获得可靠的分析结果。由于多用户设施要求大量操作人员都能获得所有相关数据，同时尽可能缩短培训时间，所以易用性是至关重要的。Quattro 独特的硬件由帮助功能（用户向导）支持，不仅可以指导操作者，还可以直接与显微镜进行交互。并且通过“撤消（Undo）”功能，鼓励新手用户进行实验，而专家用户可以轻松缩短结果获取时间。主要优势在自然状态下对材料进行原位研究：具有环境真空模式（ESEM）的独特高分辨率场发射扫描电镜最大程度缩短样品制备时间：低真空和环境真空技术可针对不导电和/或含水样品直接成像和分析，样品表面无荷电累积在各种操作模式下分析导电和不导电样品， 同步获取二次电子像和背散射电子像安装原位冷台、珀尔帖冷台和热台，可在-165°C 到 1400°C 温度范围内进行原位分析卓越的分析性能，样品仓可同时安装三个 EDS 探测器，其中两个 EDS端口分开 180°、 WDS 和共面 EDS/EBSD针对不导电样品的卓越分析性能：凭借“压差真空系统”实现低真空模式下的精确 EDS 和 EBSD 分析灵活、精确的优中心样品台，105°倾斜角度范围，可全方位观察样品 软件直观、简便易用，并配置用户向导及 Undo（撤销）功能，操作步骤更少，分析更快速全新创新选项，包括可伸缩 RGB 阴极荧光（CL）探测器、1100°C 高真空热台和 AutoScript（基于 Python 的脚本工具 API）

拉曼电镜光谱联用技术产品简介扫描电子显微镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品，实现对物质微观形貌表征的目的。具有景深大、分辨率高，成像直观、立体感强、放大倍数范围宽以及待测样品在三维空间内进行旋转和倾斜等特点。拉曼技术在分子级别上提供样品的化学结构、组分信息；而 SEM 可在纳米尺度上提供高空间分辨率的形貌图像；SEM 与拉曼光谱技术相结合，使用 SEM 观察样品形貌，并可获取指定样品点的拉曼光谱信息，同步获取样品材料表面形貌、分子结构与化学组分等信息。典型应用RTS- SEMR 拉曼电镜光谱系统北京卓立汉光仪器有限公司全新推出的 RTS- SEMR 拉曼电镜光谱系统集成场发射扫描电镜与拉曼光谱系统于一体，是一款真正意义上实现国产拉曼光谱与扫描电镜联用的设备。拉曼电镜通过快速、精确、高性能的拉曼分析，弥补了能谱仪、波谱仪等传统电镜附件无法实现的分子结构与成分观察。尤其是针对有机结构、碳结构、同分异构体、晶体与无机相等多领域材料的信息表征，扩展了传统扫描电子显微镜的分析应用领域，例如矿物鉴别、高分子与制药行业、锂电行业、医工交叉行业等，应用前景广阔。北京卓立汉光仪器有限公司推出的扫描电镜-拉曼光谱联用装置采用“离轴”模式设计理念。“离轴”模式扫描电镜的电子束与拉曼光谱的激光束不同轴,通过移动样品台分别进行扫描电镜-能谱分析和显微拉曼光谱分析，原位获取样品指定位置的形貌信息和化学成分信息。系统架构RTS- SEMR 拉曼电镜光谱系统，电镜拥有大视野及纳米级分辨率，是一个优秀的样品微观形貌分析平台，系统耦合拉曼共聚焦光路进入真空样品仓，实现了样品在电子束和激光束之间的快速切换，在满足样品表征观察的同时，也能够实现纳米级分辨率的化学成分和空间结构分析，充分发挥扫描电镜与拉曼两者的应用优势。拉曼集成扫描电子显微镜采用平行双束方案，搭载高精度复合位移台可实现样品在拉曼光轴和电子束光轴之间快速、精确、稳定的切换，拉曼扫描范围高达 2.5 mm。独特的系统及产品设计保证了操作性、易用性、普适性，用户可在电镜中寻找感兴趣的材料特征，得到高分辨的扫描结果后，一键切换至拉曼光路下进行该区域的快速/高精度的光谱扫描，随后得到高匹配程度的拉曼渲染联用效果。拉曼渲染结果的像素与光谱数据对应关系可通过软件程序直接提取，提供进行便捷的结果解析。拉曼光谱集成方案提供了多种配置供用户选择，例如激光波长、光谱仪焦长、光栅密度、物镜等光学核心配置，充分满足应用及市场的需求。扫描式电子显微镜系统配置多种类型探测器，可实现二次电子和背散射电子同时成像，兼容多种应用模式，可覆盖生命科学、材料科学、地质科学等多学科科研应用场景。标配五轴高精度运动平台及自主设计样品载台，可实现多个钉台同时放样或单一大尺寸样品观测。性能优势典型参数卓立汉光提供专业的免费测样服务，需求即达，欢迎洽谈！

Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束专为自动化冷冻电子断层扫描成像样品的制备而设计。用户可以稳定地在原位制备厚度约为 200nm 或更薄的冷冻薄片，同时避免产生镓 (Ga) 离子注入效应。与目前市场上的其他 cryo-FIB-SEM 系统相比，Arctis Cryo-PFIB 可显著提高样品制备通量。与冷冻透射电镜和断层成像工作流程直接相连通过自动上样系统，Thermo Scientific&trade Arctis&trade Cryo-PFIB 可自动上样、自动处理样品并且可存储多达 12 个冷冻样品。与任何配备自动上样器的冷冻透射电镜（如 Thermo Scientific Krios&trade 或 Glacios&trade ）直接联用，省去了在 FIB-SEM 和透射电镜之间的手动操作载网和转移的步骤。为了满足冷冻聚焦离子束电镜与透射电镜应用的低污染要求，Arctis Cryo-PFIB 还采用了全新的高真空样品仓和经过改进的冷却/保护功能。Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束电镜的主要特点与光学显微镜术关联以及在透射电镜中重新定位"机载"集成宽场荧光显微镜 (iFLM) 支持使用光束、离子束或电子束对同一样品区域进行观察。 特别设计的 TomoGrids 确保从最初的铣削到高分辨率透射电镜成像过程中，冷冻薄片能与断层扫描倾斜轴始终正确对齐。iFLM 关联系统能够在电子束和离子束的汇聚点处进行荧光成像。无需移动载物台即可在 iFLM 靶向和离子铣削之间进行切换。CompuStage的180° 的倾转功能使得可以对样品的顶部和底部表面进行成像，有利于观察较厚的样品。TomoGrids 是针对冷冻断层扫描工作流程而特别设计的，其上下2面均是平面。这2个面可防止载样到冷冻透射电镜时出现对齐错误，并始终确保薄片轴相对于透射电镜倾斜轴的正确朝向。 利用 TomoGrids，整个可用薄片区域都可用于数据采集。厚度一致的高质量薄片Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜可在多日内保持超洁净的工作环境，确保制备一致的高质量薄片。等离子体离子束源可在氙离子、氧离子和氩离子间进行切换，有利于制备表面质量出色的极薄薄片。等离子体聚焦离子束技术适用于液态金属离子源 (LMIS) 聚焦离子束系统尚未涉及的应用。例如，可利用三种离子束的不同铣削特性制备高质量样品，同时避免镓注入效应。系统外壳的设计考虑到了生物安全，生物安全等级较高的实验室（如生物安全三级实验室）可选用高温消毒解决方案。Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜的紧凑型样品室专为冷冻操作而设计。由于缩小了样品室体积，操作环境异常干净，最大限度减少水凝结的发生。通过编织套管冷却样品及专用冻存盒屏蔽样品，进一步提升了设计带来的清洁度，确保了可以进行多日批量样品制备的工作环境。 自动化高通量样品制备和冷冻断层扫描连接性自动上样器可实现多达 12 个网格（TomoGrids 或 AutoGrids）的自动上下样，方便转移到冷冻透射电镜，同时最大限度降低样品损坏和污染风险。通过新的基于网络的用户界面加载的载网将首先被成像和观察。 随后，选择薄片位置并定义铣削参数。铣削工作将自动运行。根据样品情况，等离子体源可实现高铣削速率，以实现对大体积材料的快速去除。自动上样系统为易损的冷冻薄片样品提供了受保护的环境。在很大程度上避免了可能会损坏或污染样品的危险手动操作样品步骤。 自动上样器卡槽被载入到与自动上样器对接的胶囊中，可在 Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜和 Krios 或 Glacios 冷冻透射电镜之间互换。

日立高新热场式场发射扫描电镜SU5000--搭载全新用户界面，向所有用户提供高画质图像-- 日立高新技术公司（以下简称：日立高新）8月4日开始发售的肖特基式场发射扫描电子显微镜"SU5000"，搭载了全新的用户界面和"EM Wizard"，无论用户的操作技巧是否娴熟都可以拍出好的照片。 扫描电子显微镜在纳米技术领域、材料领域、医学生物等领域均被广泛使用。但随着近年来仪器性能的大幅提升，以及用户群体的不断扩大，使得用户对不需要任何经验和技术就能得到好照片的需求迅速扩增。而且，由于观察对象的样品的不断多样化，对样品的大小和性质的无制约观察变得尤为重要。 这次新开发的"SU5000"对用户没有任何操作技巧上的要求，通过”EM Wizard“只要选择好观察目的就可以得到好照片。"EM Wizard"以人为本的设计理念使电镜的操作性大幅上升，对于用户来说，再也不用去讨论该用什么条件进行观察，只要按照观察目的选择”表面细节观察“或是”成分分布“等就可以自动将适合的观察条件设置好。除此之外，使用经验丰富的操作人员也可以像往常一样自由的选择观察条件，按照自己的操作习惯进行设置。”EM Wizard“对于初学者或者使用经验尚浅的客户来说，它独有的操作简易性和各种学习工具可以帮助您迅速成长起来；对使用经验丰富的客户来说，开放了丰富的可设置选项，会令您操作起来更加得心应手。这正是"EM Wizard"的价值所在。 另外"SU5000"的寻找视野功能"3D MultiFinder"更是独一无二的。不但可大幅提高做样速度，更使视野再现性得到大大提高。并且，为了能适应各种分析的需求，最大束流可达到200nA。再加上全新设计的背散射电子探头和低真空二次电子探头等，都使该款电镜无论在是观察样品还是分析都具备了超强的功能与强大的扩展性。 日立高新在8月3日至8月7日在美国康涅狄格州举办的"Microscopy & Microanalysis"，9月3日至9月5日在日本千叶县幕张国际展览中心举办的"JASIS 2014"，9月7日至9月12日在捷克举行的"18th International Microscopy Congress"上都做了实机展出。*：肖特基式场发射电子显微镜：高亮度、大束流、超强稳定性汇聚一身肖特基式场发射电子显微镜。分辨率高和可做各种定量定性分析。 肖特基式场发射电子显微镜"SU5000" "EM Wizard"画面样式【主要参数】 电子枪ZrO/W 肖特基式场发射电子枪加速电压0.5~30kV着陆电压0.1~2kV分辨率2.0nm@1kV（*1）、1.2nm@30kV、3.0nm@15kV 低真空模式（*2）放大倍率底片倍率：10~600000倍、显示倍率：18~1000000倍5轴马达台X：0~100mm、Y：0~50mm、Z：3~65mm、T：-20~90°、R：360° *1：减速模式是选配项 *2：低真空模式是选配项 2014年，日立高新技术公司（以下简称：日立高新） 新型肖特基场发射扫描电镜*"SU5000"作为工业用设备荣获由公益财团法人日本设计振兴会颁发的GOOD DESIGN AWARD 2014”(2014年度最佳设计奖)。

布鲁克Hysitron PI 85L是SEM专用的多用途、高灵敏度热学、电学和力学的测试系统，利用SEM的高分辨率，可以直接观测整个材料动态变化的过程。传统纳米压痕仪通过光学显微镜或原位扫描只能观察到压痕前及压痕后的形貌变化，中间过程无法观察到，载荷位移曲线上的一些突变我们无法解释，甚至单从曲线分析会导致错误的解释。PI 85L安装于电镜，可以精确施加载荷，检测位移，在电镜下做压痕、拉伸、弯曲、压缩、加热、电学和划痕测试，可以借助电镜的高分辨率，观测并记录整个材料测试过程，观测材料在力下发生的动态变化，如金属蠕变、相变、断裂起始等。PI 85L采用Hysitron专利技术三板电容传感器，具备载荷和位移同时监测和驱动的独特功能。具备业界领先的精度，重复性和低背景噪音等优点。PI 85L拥有多种特色测试功能模块可供选择，如动态力学测试、MEMS加热、拉伸测试、电学测试、纳米划痕等功能模块。

日立新一代全数字化120kV透射电子显微镜HT7800，操作的一体化和自动化程度都有明显提高。随着时代的发展和科技的进步，全数字化必将是透射电镜的发展趋势。数字化的优势具体表现在以下几个方面：一、HT7800采用日立全新设计的第二代双隙物镜，很好地继承了日立120kV-TEM的基本理念，即兼顾低倍率与宽视野观察、高衬度与高分辨率观察可在同一仪器上一键切换等。对比于其他厂家的独立模式设计，HT7800可在同一台透射电镜上实现两台电镜的功能。集高衬度和高分辨两种模式于一体，可同时满足软材料/纳米材料类和生命科学类客户对电镜的需求。二、使用高速高灵敏度的CMOS荧光屏相机取代了传统的荧光屏观察窗，将 TEM 操作统一于显示器上，实现透射电镜操作的全数字化，可以在明亮的室内进行观察。 三、标准搭载涡轮分子泵(TMP)，实现绿色真空。HT7800所使用的真空泵包括机械泵和涡轮分子泵，均为标准配置。四、标配三维重构功能及±70°倾转样品台。一般情况下透射电子显微镜只能提供样品的平面投影图像，而无法直接获知其三维立体信息。在标准配置下，HT7800就可以通过±70°的连续倾转、拍摄及电脑重构，得到样品的立体形貌信息。五、强大的自动拼图功能。这是数字化带来的另一个优势。HT7800可通过样品台移动和电子束移动两种方式实现全倍率下的自动拼图，可得到像素16倍于主相机的无缝拼接大视野样品图片。图片存储时，自动保存样品位置与样品杆旋转信息，在自动拼接过程中实现高精度对中。自动连拍和自动拼图速度快，举例来说，一次3×3的拼接，全过程可在4min左右完成。六、方便而准确的自动连续拍摄功能。HT7800具有自动聚焦、自动定位并拍摄多张图片的功能。自动连拍功能可以一次性设置多达10000个拍摄的位置及放大倍数，通过快速的自动聚焦系统和智能化定位系统， 自动的完成拍摄任务，而无需人员看管。

【产品背景】　　在以纳米技术和生物技术为主的产业领域里，从物质的微细结构到组成成分，SEM在多种多样的观察与分析中得到了灵活应用。SEM用途日益扩大，但对于钢铁等工业材料和汽车零配件等超大/超重样品，由于电镜样品台能对应的样品尺寸和重量受到限制，所以观察时需要进行切割等加工。因此，对超大样品不施以加工处理，便可直接观察表面微细形貌和进行各种分析则成为重要的课题。　　近年来为了实现各种材料的高功能化和高性能化，需要观察并优化材料的微细结构。目前SEM的应用除了以往的研究开发以外，已扩展到质量和生产管理方面，使用频率日益高涨。同时市场也对仪器的操作性能提出了更高的要求，以进一步减轻操作人员的负担。　　此次发售的“SU3800”与“SU3900”，支持超大/超重样品的观察，特别是大型扫描电镜“SU3900”，可选配最 大直径300mm *1、最 大承重5kg样品(比前代机型提高2.5倍*2)的样品台，即使是超大样品也无需切割加工即可观察。　　同时操作性能也得到了全面升级。样品安装完成后，通过自动光路调整及各种自动功能调整图像，随后可立即获得样品图像，真正实现了快速观察。　　前代机型是仅仅通过CCD导航相机的单一彩色图像寻找视野*3。新机型则通过旋转样品台，分别拍摄样品各个部分，再将各个图像拼接成1张大图像，实现了大视野的相机导航观察，十分适用于超大样品的大范围观察。　【主要特点】　　(1) 支持超大/超重样品测试　　可搭载的最 大样品尺寸：“SU3800” 标配可搭载直径200mm样品的样品仓，可应对最 大高度为80mm、重量为2kg的样品。 “SU3900”作为日立高新技术的大型扫描电镜，标配可搭载最 大直径300mm样品的样品仓，可应对最 大高度为130mm、重量为5kg(比前代机型提高2.5倍*2)的样品　　(2) 支持大视野观察　　■“SU3800”与“SU3900”的最 大观察范围分别是：直径130mm、直径200mm　　■安装有“SEM MAP”导航功能，只需在导航画面上指定观察目标位置，即可移动视野　　■安装有“Multi Zigzag”系统，可在不同的视野自动拍摄多张高倍率图像，并将取得的图像拼接在一起，生成大视野高像素图像　　(3) 通过自动化功能提高操作性能　　■通过自动光路调整和各种自动化功能，样品设置完后立即可以开始观察。关于图像调整，自动功能执行时的等待时间比前代机型*4缩短了三分之一以下　　■安装有“Intelligent Filament Technology(IFT)”软件，自动监控钨灯丝*5的状况，显示预计的更换时期。在长时间的连续观察和颗粒度解析等大视野分析时，也可避免长时间测试过程中因钨灯丝使用寿命到期所造成的中断观察。

扫描电镜专用原位AFM探测系统 AFSEM™ —使AFM和SEM合二为一奥地利GETec公司发布的扫描电镜专用原位AFM探测系统——AFSEM是一款紧凑型，适用于真空环境的AFM产品，能够轻松地结合两种强大的分析技术—AFM和SEM为一体，扩展SEM样品成像和分析能力。AFSEM技术与SEM技术的结合，使得人们对微观和纳米新探索新发现成为可能。SEM结合AFM解决方案：* 扫描电子显微镜中进行AFM原位分析* 使用SCL的自感悬臂技术的纳米探针* 无需激光和探测器，适用于任何样品表面* 与大多数SEM兼容而不妨碍正常的操作* AFM和SEM协同并行分析扫描电子显微镜中进行原位AFM分析扫描电镜专用原位AFM探测系统实现了AFM和SEM的功能性互补，让SEM可以同时实现样品的高分辨率成像，真实的三维形貌，的高度，距离测量，甚至是材料的导电性能。做到这一点只需要将AFSEM悬臂探针的位置移动到SEM下需要观察的样品位置进行探测。优化的AFSEM工作流程(几乎没有减少SEM的扫描时间)确保了高效率。提供的强大控制软件则允许进行优化和直观的测量、系统处理和数据分析。将AFSEM集成到一个Zeiss Leo 982扫描电子显微镜中(左)，对样品表面进行扫描成像(右)，对样品表面进行扫描。当在AFM和SEM成像之间交替时，不需要转移样品或打破真空。使用AFSEM，一切都可以进行内联！SEM-AFM协同分析对于产品或材料分析，通常需要用多种技术分析一个样品或者同一个器件，并寻找参数之间的相关性。如果样品需要使用SEM和AFM这两种的成像技术，就意味着我们需要找到感兴趣的区域并定位它，再拿到另一个设备中寻找这个感兴趣的区域，才能实现对同样的区域进行分析。有什么能比直接把AFM放在SEM里面来的简单呢？对无支撑石墨烯和石墨烯相关材料进行扫描电镜和AFM原位分析。在低电压扫描电子显微镜下，我们可以对一个悬空的石墨烯薄片的样品进行成像，以确定层数和厚度(a)。然后，利用AFM(b+c)实现更高的分辨率和更好的对比度。扫描电镜图像(A)、放大的图像(B)和相关的AFM成像(C)，测量结果来自FEI Quanta 600 FEG ESEM。AFSEM可与大多数SEM兼容AFSEM适用于大多数SEM或双光束(SEM/FIB)系统。可以直接安装在系统腔室的仓门上，同时样品台保持不变。此外，AFSEM采用一种自感应悬臂探针，无需激光与传感器。AFSEM在电镜中，夹持探针的悬臂梁只需要靴与样品之间4.5毫米的空间。因此，AFSEM可以与各种标准的SEM兼容，GETec公司能够处理任何兼容SEM系统真空腔内的安装。也正是这种优雅小巧的设计使得扫描电子显微镜能够配合AFM技术实现的亚纳米的形貌探测。成功的AFSEM集成的例子(可参见集成SEM列表)AFSEM与SEM分析技术紧密配合由于AFSEM小巧的设计维护了SEM功能的完整性，可以实现与其他标准的扫描电镜分析技术相结合同时使用，如常规FIB、FEBID和EDX，以及SEM中可搭配的拉伸机，应力测试，机械手等等AFSEM应用案例举例AFSEM与Deben 200N拉伸试验台可以同时集成在Philips XL40 SEM实现试样拉伸形变过程的原位观察和形貌探测。这是一个创新的实验解决方案，用来研究拉力作用下金属试样的拉伸形变和颈缩过程中，样品表面形貌和粗糙度的变化。此外AFSEM™ 和Hysitron PI85硬度测试台结合，一同安装在蔡司Leo 982 SEM中，电镜下我们可以实时观察金属表面在硬度计压头的压力下，表面形变，滑移过程。其形变，滑移的形貌变化可以由AFM完成。从AFM的角度来看，自感应悬臂探针可以实现多种探测模式，包括静态成像、动态成像、相对比、力谱、力调制和导电模式AFM。例如，在飞利浦XL40仪器中，利用扫描电镜成像、EDX的化学分析、AFM的3D形貌和电导分析。AFSEM采用的自感应探针（self-sensing cantilevers）奥地利SCL-Sensor.Tech公司主要生产硅基压阻式自感应探针，避免了常规AFM需要光路进行探测的模式，拓宽AFM在纳米探测、力测量和其他场合的应用。自检测悬臂配备全压阻电桥直接测量悬臂信号电，从而消除常规原子力显微镜光学信号探测对仪器空间的要求。两个可变电阻分别位于微悬臂和芯片上。整个结构连接到一个小的PCB板上，可实现快速和高重复性的探针交换。感应到的信号通过一个前置放大电路读出和放大。这使得与各种仪器，如SEM，TEM和许多其他测量系统，可以轻松无缝地集成。自感应探针具有各种谐振频率和弹簧常数。我们可为您提供PRS（压阻传感）悬臂探针和PRSA（压阻传感与主动）悬臂探针。Self-Sensing Cantilevers with Silicon TipSelf-Sensing Cantilever without Tip (Tipless)Self-Sensing Cantilevers with SCD TipSilicon tip radius: 15nmCantilever length: 70-300 μm Frequencies: 30-1300 kHz Stiffness: 1-400 N/m Applications: AFM,nanoprobing,force measurement, ...Tip: tipless Cantilever length : 100-450 μm Frequency: 14-550 kHz Stiffness: 0.5-170 N/m Applications: torque magnetometry (e.g. in a PPMS), gas/media properties, force measurement, experimental tip mounting,...SCD-tip radius: 10 nm Cantilever length: 100-450 μm Frequency: 14-550 kHz Stiffness: 0.5-170 N/m Applications: AFM, nanoindentation, ...

电镜薄膜网格电镜薄膜网格（载网膜）是透射电镜常用的耗材之一，主要作用是在电镜观察时负载小尺度的样品。微孔膜网格具有一系列不同的孔径，排列在方形网格上，不同的设计，具有不同的间距（节距）。孔阵列以正方形SiNx膜窗口为心，窗口以标准TEM网格的框架为中心。用于透射电子显微镜（TEM）的标准氮化硅窗口网格可提供以200μm厚度的硅框架为中心的5nm、10nm、30nm、50nm或100nm厚的方形膜窗口。TEM窗口框架是圆形或八边形的，并且适合在3.0mm直径的圆内。氮化硅膜是低应力和坚固的。我们所有的TEM窗口都封装在2〃x2〃包装盒中（每盒10pcs）。 另外，我们提供位置标记的多孔TEM氮化物窗口类似于规则的TEM网格，但在膜区域上具有微米尺寸的孔。并且，它在X和Y方向上沿着多孔膜的边缘都有位置标记，允许用户在TEM工作期间跟踪膜上的位置。 ** 如果您需要用于纳米孔、基因组学、蛋白质组学或其他生物物理应用的微孔膜产品，详情可联系上海昊量光电设备有限公司。更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

参数信息Primo Vert是专用于细胞培养而开发的倒置显微镜，是集高效和出色光学性能于一身，其可以在相差下检测未染色细胞，也可以在荧光观察方式下检测GFP标记的细胞。●智能关机，无人工作时，15min 自动关闭，延长光源使用寿命●模块化照明，可选卤素灯或长寿命LED灯●紧凑型设计，可直接放入超净工作台中，从而能够让您在无菌环境下工作●通用型相差滑块，使用方便，如Ph1适合换10x，20x，40x物镜，无需更换●HDcam主机，可以直接在显微镜主机上或者通过iPad控制相机和设置参数iLED主机：仅需在显微镜主机架上切换观察方式，便能快速高效地在相差方式检测未染色细胞，以及在荧光观察方式下检测GFP标记的细胞。一、产品介绍快速简便地检测和评估活细胞Primovert 专用于细胞培养 – 集高效和出色光学性能于一身的紧凑型显微镜。 它的紧凑型设计使其能够直接被放入超净工作台中。 在相衬下检测未染色细胞；在荧光观察方式下检测 GFP 标记的细胞，既快速又高效。 这款倒置显微镜是癌症和基因研究的出色助手。借助 Primovert HDcam 和 iPad 成像应用程序 Labscope，您可以与同事一起在无菌环境中独立地观察和讨论细胞样品。二、产品特点从相差切换至荧光观察方式来评估未染色和 GFP 标记的细胞。这款倒置显微镜可直接放入超净工作台中，从而能够让您在无菌环境下工作。Primovert 非常易于使用。 按动工作台上的按钮可将显微镜从“待机模式”下唤醒。在“离开模式”下，15 分钟后 Primovert 系统便会自动关闭电源。 这不仅省电，更可延长光源的使用寿命。Primovert HDcam 集成有一部相机。 使用 iPad 和 Labscope 免费成像应用程序与团队一起讨论屏幕上的图像。 捕获显微镜图像、标注及创建报告，轻松使用无线网与他人实现数据共享。

Thermo Scientific™ Quattro™ 扫描电镜将成像和分析的全面性能与独特的环境模式（ESEM）相结合，使得样品研究得以在自然状态下进行。如今，研究型实验室普遍要求现代的扫描电镜可以适应多种多样的样品分析需求，希望在获得出色的图像质量的同时尽可能简化样品制备过程。Quat t r o 的场发射枪（FEG）确保了优异的分辨率，通过不同的探测器选项，可以调节不同衬度信息，包括定向背散射、STEM 和阴极荧光信息。来自多个探测器和探测器分区的图像可以同步采集和显示，使得单次扫描即可获得各种样品信息，从而减低束敏感样品的束曝光并实现真正的动态实验。Quattro 的三种真空模式（高真空、低真空和 ESEM™ ）使得系统极具灵活性，可以容纳任何 SEM 可用的广泛的样品类型，包括放气或者是与真空状态不相容的样品。此外，ESEM™ 可以在现实世界的条件下对样品进行原位研究，例如湿/潮湿、热或反应性的环境。Quattro 的分析样品仓可以满足日益增长的样品元素信息及晶体结构分析需求，它同时支持相对的双能谱（EDS）探测器、共面能谱（EDS）/电子背散射衍射（EBSD）和平行束波谱（WDS）探测器。无论什么类型的样品，在高真空下或与 Quattro 支持的独特实验条件相结合，无论样品导电、绝缘、潮湿或是在高温条件下，均可获得可靠的分析结果。由于多用户设施要求大量操作人员都能获得所有相关数据，同时尽可能缩短培训时间，所以易用性是至关重要的。Quattro 独特的硬件由帮助功能（用户向导）支持，不仅可以指导操作者，还可以直接与显微镜进行交互。并且通过“撤消（Undo）”功能，鼓励新手用户进行实验，而专家用户可以轻松缩短结果获取时间。主要优势在自然状态下对材料进行原位研究：具有环境真空模式（ESEM）的独特高分辨率场发射扫描电镜大程度缩短样品制备时间：低真空和环境真空技术可针对不导电和/或含水样品直接成像和分析，样品表面无荷电累积在各种操作模式下分析导电和不导电样品， 同步获取二次电子像和背散射电子像安装原位冷台、珀尔帖冷台和热台，可在-165°C 到 1400°C 温度范围内进行原位分析卓越的分析性能，样品仓可同时安装三个 EDS 探测器，其中两个 EDS端口分开 180°、 WDS 和共面 EDS/EBSD针对不导电样品的卓越分析性能：凭借“压差真空系统”实现低真空模式下的精确 EDS 和 EBSD 分析灵活、精确的优中心样品台，105°倾斜角度范围，可全方位观察样品 软件直观、简便易用，并配置用户向导及 Undo（撤销）功能，操作步骤更少，分析更快速全新创新选项，包括可伸缩 RGB 阴极荧光（CL）探测器、1100°C 高真空热台和 AutoScript（基于 Python 的脚本工具 API）

红 外 观 察 镜Abris-M 系列 1 引言Abris-M 系列红外观察镜是高性能的图像转换观察镜，它可以用于观察、记录以及将观测图像进行数字化。主要用于观察辐射波长在270～2000 nm的红外或紫外波段的光源。Abris-M 系列红外观察镜在激光准直、激光观测、光纤准直、光纤通讯、光学加工；植物学、生物物理学、医学、法医学；艺术品复原、文献检查、记录、雕刻、绘画；红外显微镜、由紫外激励的红外发光、荧光等领域都有广泛的应用。 2 工作原理红外观察镜是通过将被观察物体所反射或发射的光聚焦到摄像管里而进行观察物体的。根据入射光谱强度和光电阴极材料的S-1光谱灵敏性会产生相应的电子图像。该仪器通过持续按住其上的按钮来提供所需电源。一旦加上电源，内置的3 V电池将产生16-18 KV的高压，足以加速电子图像到输出屏处。输出的绿色的荧光（波长550 nm）可以通过调整目镜看到。ABRIS-M 2000 典型光谱灵敏度在1米内的红外激光光束能被观测到所需要的功率密度最小近似值： 功率密度（最小值）波长20μW/cm21.06 μm500 μW/ cm21.3 μm3 mW/cm21.5 μm50 mW/cm1.7 μm180mW/cm21.8 μm2W/cm22.0 μm紫外/红外ABRIS-M典型光谱灵敏度 在1米内的红外激光光束能被观测到所需要的功率密度最小近似值： 功率密度（最小值）波长300 mW/cm20.27 μm20 μW/cm21.0 μm500 μW/cm21.3 μm10 mW/cm21.5 μm100mW/cm21.7 μm3 技术指标型号Abris-M version 1Abris-M version 2 UV/IR Abris-M光谱特性Abris-M 1300 350-1300 nm Abris-M 1700 350-1700 nmAbris-M 2000 350-2000 nm270…1700 nm分辨率（中心波长）60 Lp/mm60 Lp/mm30 Lp/mm观察范围40 degrees18 degrees20 degrees放大倍数1X2X1X物镜F1.4/26 mm无可变光阑F2/50 mm含可变光阑F1.6/26 mm石英无可变光阑聚焦距离0.15-无穷0.25-无穷0.15-无穷透镜工作距离12.5 (+/-0.2) mm电池1.5V “AAA” size屏幕不均匀性20%响应不均匀性15%图像失真度18%电池使用寿命35 hours重量0.38kg0.55kg0.38kg体积140x78x52 mm205x78x52 mm140x78x52 mm使用温度范围-10oC-40oС三角架或手柄连接器R1/4"标准工具箱包括：红外观察镜、红外滤波片、手柄、电池和工具箱。对于Abris-M.系列，1X (F1.4/26mm) 和2.0X (F2/58mm) 的镜头可以互换使用。该类观察镜加上相机适配器可方便与CCD/CMOS相机配合使用，1X镜头加上显微镜适配器可方便与显微镜配合使用。 根据要求可提供的配件： 1.面罩（可戴在头上，无需手柄） 2.红外照明光源（波长800nm、900nm） 3.中性滤光片（透过率：2-5%，波长：1064nm） 4.CCD相机适配器 5.显微镜适配器 6.1X镜头可变光阑 7.视频适配器 VA-1 4 操作说明在使用中千万不要将光束直接照射到镜器中进行观察。如果入射到物镜上光的强度超过10mW/cm2时，会损伤其中高灵敏的光阴极材料。将观察镜长时间用于超过域值的高强度光下，会使屏幕饱和，以致降低观察镜的分辨率、光电阴极响应度下降且不可恢复。1.旋松装电池盒的外壳（1），装一节3V电池。安装时注意正负极。如果要长时间使用可以用AC/DC 110-220V/3V变压器和一个插座(2)直接供电。2.将手柄（7）用螺丝刀旋入三角架螺纹中? inches（8）。3.旋松盖（9），把观察镜接上电源，按住按钮（3）。注意：关掉电源后，观察镜由于存有剩余能量还会继续工作几分钟。4.通过依次调焦接物镜（4）和目镜（5），得到物体的更清晰图像。Abris-M红外观察镜不仅可以用于观察连续激光，也可以用于观察皮秒或微秒量级的脉冲激光，但不能同步观察。5.当在近红外波段观察时，用分离点滤光片（6），它可以透过从700nm到更长波段的光波。当从他处观察反射的辐射光，可用一个金属板反射，此时不能用白纸板反射，因为它对光的吸收很强。6.你也可以将红外观察镜固定在“燕尾”式面罩上，这样可以方便您的操作。5 维护与保养1.使用红外观察镜时不会有触电危险。2.当把红外观察镜从一个比较冷的环境拿到比较暖的环境，其中的光学元件上也许会有水雾。3.谨防观察镜受到机械损伤或将其放置在潮湿的环境中。4.谨防观察镜上有污垢。如需要，用软布擦拭镜头；也可以棉絮蘸少量酒精或丙酮去除油污。 5.如需要，拧开镜头，清洁光电阴极板。因为其上的灰尘可以透过镜头盖上的小孔看到。屏幕上的黑点屏幕上的黑点是图像转换器上的污点，它不会影响红外观察镜的性能。一些大小不同的点甚至是在生产它时就会有的。感光灵敏度红外观察镜可以观察到的最弱信号取决于： 功率密度； 入射辐射波长(nm)； 物镜的有效孔径； 观察点和观察镜之间的距离； 信号的持续时间(脉冲或连续)； 漫反射表面的反射率； 人眼的灵敏度或用于观察红外观察镜输出信号镜器的灵敏度。在1米内的红外激光光束能被观测到所需要的功率密度最小近似值： 20 μW/cm2 波长： 1.06 μm 500 μW/cm2 波长： 1.3 μm红外观察镜的响应范围在350-2000 nm。其中的S-1型光电阴极材料含氧的浓度较高，这增加了材料的灵敏度。在最小功率密度为2 W/cm2的条件下，它可以用来观察波长在2.0 μm的激光束。当在1500-2000 nm 波段使用时，红外观察镜光谱响应灵敏度比较低，所以只有在以下条件满足的情况下才能使用： 1. 在较暗的使用环境中用一个分离点滤光片或相干滤光片来消除外界背景光。2. 用金属表面反射所需要观察的光，因为白纸片对光的吸收率太高，不适和这种情况下使用。红外观察镜与CCD某些型号的CCD可以用来观察近红外辐射，波长大约能达到1.1 um。但是这些CCD照相机只是在可见波段才具有最佳性能，所以在近红外波段的性能非常一般。它们往往成像不清晰、响应度不高且对比度差。 半空中的红外激光清晰可见如果说红外观察镜可以用来观察半空中的红外激光，这是一种错误的说法。但是，就像是手电筒发出的光，如果此时在光路中有灰尘粒子，则这束光将清晰可见。一般来讲，红外观察镜可以用来观察由白纸板或金属表面慢反射的红外激光。 6 维修服务如果您购买的产品有材料或工艺上的缺陷，我们承诺在购买一年内我们将负责保修。任何返回保修的物品必须是由于正常损坏所引起的。因为误操作、或故意损坏的产品将不在保修范围之内。 如果您的产品符合保修条件，并且具有合法的购买凭证，厂方将无条件为您维修或更换其中元件。如果其中的元件或产品本身被更换、组装、误操作、损坏或未经允许擅自维修，那么该维修凭证将无效。ABRIS-M 系列产品自购买之日起保修时间为一年。

FEI Quanta 200环境扫描电子显微镜主要用于生物样品、材料样品表面精细形貌和结构的观察和分析。图像具有高分辨率和高放大倍数，富于立体感，可真实、生动地显示样品的三维结构。广泛应用于生命科学、医学、材料学等诸多学科。在环境保护和环境监测中，扫描电镜也发挥了不可替代的作用。扫描电镜图像生动、真实地显示了在污水处理中，颗粒污泥、絮状污泥和各种载体上生物膜的生长情况，为深入研究微生物在污水处理、环境保护中的作用、机理和效果提供了有力依据。1. 广泛应用于各种导电材料、绝缘材料、生物材料及含水材料等固体材料的形貌观察；2. 非导电样品不需要表面导电处理，可直接在低真空和环境真空模式下进行成像；3. 多种样品台可提供多种选择；4. 配置冷台，可低温观察样品；5. 真空可控，可在特定真空下观察样品形貌。1. 分辨率：3.5nm （高真空模式，30kv）；2. 3.5nm (低真空模式，30kv）；3. 3.5nm (ESEM环境真空模式， 30kv）；、4. 15 nm (低真空模式，3kv）；5. 放大倍数: 50-50,000x；6. zui大象素: 3584 x 3094。1. 无机物纳米材料等样品的结构信息；2. 不导电样品低真空模式下观察； 3. 含水样品在环境扫描模式下观察；4. 动植物微生物等样品干燥、镀金处理后表面形貌观察。

手持式红外观察镜FIND-R-SCOPE 产品描述FIND-R-SCOPE© 是一款独立的手持式近红外观察仪，可以满足近红外波长范围内的观测需求。其符合人体工程学的设计结合了图像转换、高压电源和精密光学，以显示无法用裸眼观察的物体的清晰图像。特点观察镜上附有截止可见光波段的滤光片（以提高信噪比）单节二号电池可连续工作约98小时附有硬边、泡沫内衬的手提箱镜头f/1.6，25mm带可调光阑通常情况下库存可及时发货重量轻，仅590g可安装三脚架 典型应用检测红外发光二极管校准激光系统光纤的校准和验证检测光学系统的红外漏出检查画作和艺术品法律和历史文件分析夜行动物的观察 航空面板光照测试 航空LED测试 暗室摄影 热成像观察 生物学、生物技术研究 临床医学 取证多种型号可变对350-1350nm波长范围敏感的标准型号对1550nm敏感的可选型号配件含可见光截止滤光片、特写镜头和中性密度片本机镜头接口可选集成红外LED的版本 配件带通滤光片长波通滤光片中性密度片多种红外、可见光、紫外滤光片近聚焦透镜配件可选高分辨率、广角、长焦和变焦的接口相机视频微型接口相机（提供视频图像输出） 型号 #名称描述IRV84499CFind-R-Scope 1350 nm独立手持式单目近红外观察镜，光谱灵敏度350~1350nm，灵敏度由400μw LED发出的1350nm光从2.4米(8英尺)测试得到。包括25 mm f/1.6接口镜头（放大率?1x）、IRVLP830可见光截止滤光片、手提箱、电池、手册、12个月保修和其他接口镜头。IRV84499C-5Find-R-Scope 1550 nm与IRV84499C相同，但将光谱灵敏度提高到1550 nm。由400μw LED发出的1550nm光从2米(6.4英尺)测试得到。C型带50mm光学透镜IRV84499C2XFind-R-Scope 1350 nm2X Kit与IRV84499C相同，除了包括50mm f/1.8接口镜头代替标准的25mm镜头。50mm镜头提供?2x放大率，焦距1米到无穷大。内含IRVCU400特写镜头，最近可聚焦到203mm。IRV84499C-52XFind-R-Scope 1550 nm2X Kit与IRV84499C2X相同，但将光谱灵敏度提高到1550nm。由400μw LED发出的1550nm光从2米(6.4英尺)测试得到。C型带25mm和50mm光学透镜IRV84499C2XPFind-R-Scope 1350 nm2X Plus Kit与IRV84499C相同，除了标准25mm镜头外，还包括50mm f/1.8接口镜头、可见光截止滤光片和升压适配器环。50 mm镜头提供?2x放大率，焦距为1米到无穷大。内含IRVCU400特写镜头，最近可聚焦到203mm。IRV84499C-52XPFind-R-Scope 1550 nm2X Plus Kit与IRV84499C2XP相同，但将光谱灵敏度提高到1550nm。由400μw LED发出的1550nm光从2米(6.4英尺)测试得到。激光型IRV85268CFind-R-Scope Laser Package1350 nm包括IRV84499C观察镜、IRVLP830可见光截止滤光片、IRVCU400特写镜头和IRVNi200中性密度片。IRV85268C-5Find-R-Scope Laser Package1550 nmf与IRV85268C相同，但将光谱灵敏度提高到1550nm。由400μw LED发出的1550nm光从2米(6.4英尺)测试得到。IRV85268C2XFind-R-Scope Laser Package 2X Kit 1350 nm与IRV85268C相同，除了包括50mm f/1.8接口镜头代替标准的25mm镜头。50mm镜头提供?2x放大率，焦距1米到无穷大。包括可见光截止滤光片、IRVCU400特写镜头和IRVNi200 中性密度片。内含IRVCU400特写镜头，最近可聚焦到203mm。IRV85268C-52XFind-R-Scope Laser Package 2X Kit 1550 nm与IRV85268C2X相同，但将光谱灵敏度提高到1550nm。由400μw LED发出的1550nm光从2米(6.4英尺)测试得到。IRV85268C2XPFind-R-Scope Laser Package2X Plus Kit 1350 nm包括IRV84499C观察镜、IRVLP830可见光截止滤光片、IRVCU400特写镜头、升压适配器环和IRVNi20中性密度片。IRV85268C-52XPFind-R-Scope Laser Package 2X Plus Kit1550 nm与IRV85268C2XP相同，但将光谱灵敏度提高到1550nm。由400μw LED发出的1550nm光从2米(6.4英尺)测试得到。注意：所有观察镜都自带IRVLP830可见光截止滤光片 产品规格视场：24°放大率：? 1:1标准灵敏度：350 ~ 1350 nm光学灵敏度：350~ 1550 nm峰值灵敏度：800 和350 nm焦距：标准25 mm镜头200 mm (7.8”)到无限大CU400的最小物距：110-250 mm(4.3 – 9.8”)分辨率：40 lp/mm电池寿命：98小时 连续工作供电寿命：2500 hours.尺寸：16.5*5.3*19cm(6.5" x 2.1” x 7.5")重量：590 g (21 oz)工作温度：-32~46°C(-25~115°F)

核心参数：技术GLC：通过环形辅助转移在TEM栅格上制备石墨烯液体池尺寸范围GLC：100-1000nm（平均直径）密度：10-100 GLC/μm² 石墨烯质量：超净单层高结晶性石墨烯流程刻蚀周期：4.5小时刻蚀容量：每个刻蚀周期最多同时刻蚀5个石墨烯铜盘GLC组装时长：每个GLC栅格约3分钟石墨烯沉积产率：85%石墨烯覆盖率：95%产品介绍：&bull 三分钟内即可组装石墨烯液体池使用标准TEM栅格&bull 使用标准TEM栅格&bull 与Autoloader兼容&bull 石墨烯液体池密度: 10-100/μm 2&bull 超洁净单层石墨烯&bull 使用水性缓冲溶液或者纯水制备可靠性重复性高Graphene Liquid Cells (“GLCs“)石墨烯液体池（GLCs）在GLC中，亚微米尺寸的水滴被密闭在两层石墨烯之间。VitroTEM将GLC技术带入液相电子显微镜(LPEM)领域，作为常规研 究的标准工具，实现含水样品的系统性研究。石墨烯是透射电镜中无与伦比的衬底，可提供最佳的电子透过性、高效的电荷耗散以及防止电子束损坏样品。GLC可以完全封装液体样品。水密和真空密封的石墨烯封装可实现液相成像，从而能够研究活生物细胞和组织的动态过程，或以原子分辨率 分析纳米材料和单纳米颗粒。石墨烯液体池中的蛋白质样品（效果图）Naiad Naiad是VitroTEM用于自动化制备GLC的台式设备。Naiad可以完全自动化地预备和处理石墨烯，能够提供高效可靠的样品制 备。易于使用的软件可指导用户完成GLC的组装过程。Naiad让任何实验室都可以轻松使用GLC。Graphene-on-Copper Disk石墨烯铜盘Transfer转移VitroTEM专用的石墨烯转移技术基于金属环辅助转移 (LAT)。我们此项技术不需要任 何辅助聚合物层或后处理步骤，因此可提供没有任何聚合物污染的超洁净石墨烯。这一清 洁可靠的转移技术非常适合组装GLC以进行高分辨率TEM成像。VitroTEM在一次性样品支架上提供金属压环，样品支架手动安装到Naiad上。Loop-Assisted Transfer (LAT)金属环辅助转移铁蛋白颗粒被封装在石墨烯液体池（GLC）中，并在300keV成像。颗粒相邻区域和无颗粒区域之间 的对比度表明存在水。使用 GLCs的优点是能够观察轻元素，例如铁蛋白颗粒中围绕铁原子的蛋白 质。 去铁铁蛋白颗粒被封装在GLC中。尽管成像对比度低，但去铁铁蛋白颗粒可以以高分辨 率成像。铁蛋白颗粒用聚合物垫片颗粒封装在石墨烯液体池(GLC)中。样品在GLC制备后被玻璃化。垫片颗粒有助于在样品颗粒周围产生厚度梯度，使感兴趣的样品颗粒能 够更有效地被封装在液体池中。

德国徕卡视网膜正像观察镜 Leica RUV800 Leica RUV800是一个内置了倒像镜的视网膜广角观察系统。特点如下：为术者、助手以及摄录像系统提供正像网膜影像，并且显微镜视野范围内（观察镜成像范围内以及成像范围外）均为正像收起广角观察系统后，仍为正像影像使用简便，易拆装因此，Leica手术显微镜可同时适用前节以及后节手术，在前后节手术之间轻易转换。经济性传统呈像系统要求安装倒像镜后才能呈现正像的眼底图像。Leica将倒像镜整合入RUV800内部，因此无需额外增加倒像设施。该系统设计简便，无需 额外耗材以及电子元件，因此降低了残损可能性，保证了临床使用。始终正像Leica RUV800放置于物镜下方，为术者、助手以及摄录像系统提供全术野的正像影像。这使得向眼内插入手术器械的过程更加简便、安全。易使用将RUV800移入光路并调节调焦杆即可获得清晰、高质的视网膜广角影像。可以选择132度的镜头获得更广的视野范围或者90度的 镜头获得更大的放大倍率。易准备Leica RUV800的主体始终安装在显微镜上，因此为手术室工作人员节省了准备时间。只有广角镜，调焦杆以及硅胶套需要灭菌消毒。此外，Leica RUV800 具有的AgProtect™ 纳米银离子涂层，保证了其自身的抗菌特性。更加符合人体工学设计Leica RUV800内置倒像镜意味着无需增加显微镜的高度，术者使用更加舒适。随时转换至白内障手术其它视网膜成像系统需要在双目镜筒下方安装倒像镜以保证术者获得正像图像，但这将对前节手术造成障碍。与其不同的是，Leica RUV800在视网膜手术后可以轻易移开，显微镜即刻便可用于白内障手术。

Abris-M红外激光观察镜红外观察仪 Abris-M红外激光观察镜红外观察仪是高性能的图像转换观察镜。其通过将被观测物体所反射或发射的光聚焦到摄像管里而进行观察的，光谱响应范围覆盖270～2000 nm。它体积小，重量轻，结构紧凑，手持式方便自由操作，顶端内螺纹规格为1/4-20，内置一节1.5V 的“AAA”型号电池，也可外接3V 的电源（选购）。通过持续按住其上的按钮来提供所需电源。一旦加上电源，内置的V 电池将产生16-18 KV 的高压，足以加速电子图像到输出屏处。输出的绿色的荧光（波长550 nm）可以通过调整目镜看到。 Abris-M version 1 Abris-M version 2响应功率密度 波长20μW/cm² 1.06 μm500 μW/ cm² 1.3 μm3 mW/cm² 1.5 μm50 mW/cm 1.7 μm180mW/cm² 1.8 μm2W/cm² 2.0 μm根据要求可提供Abris-M红外激光观察镜红外观察仪的配件：1.面罩（可戴在头上，无需手柄）2.红外照明光源（波长800nm、900nm）3.中性滤光片（透过率：2-5%，波长：1064nm）4.CCD 相机适配器5.显微镜适配器6.1X 镜头可变光阑7.视频适配器 VA-1Abris-M红外激光观察镜红外观察仪产品参数：型号UV/IR Abris-MAbris-M version 1Abris-M version 2响应波长270-1700 nmAbris-M 1300 350-1300 nmAbris-M 1700 350-1700 nmAbris-M 2000 350-2000 nmAbris-M 1300 350-1300 nmAbris-M 1700 350-1700 nmAbris-M 2000 350-2000 nm分辨率30 Lp/mm60 Lp/mm60 Lp/mm视角20°40°20°放大倍数1倍1倍2倍物镜F1.6/26 mmF1.4/26 mmF1.8/50 mm聚焦距离0.15-无穷0.15-无穷0.25-无穷透镜工作距离12.5 (+/-0.2) mm12.5 (+/-0.2) mm12.5 (+/-0.2) mm电池1.5V 3A1.5V 3A1.5V 3A屏幕不均匀性20%20%20%响应不均匀性15%15%15%图像失真度18%18%18%电池使用寿命35小时35小时35小时重量380g380g420g体积140x78x52 mm140x78x52 mm205x78x52 mm

此系列显微镜可供多人共同观察同一标本。拥有无限远成像系统、高亮度照明系统、LED光标指针装置及观察图像的良好一致，特别适用于临床、科研及教学讨论等应用领域。技术参数：N-510N-306N-204N-204F光学系统无限远光学系统● ● ● ● 观察头铰链式三目头，30°倾斜，瞳距48-75mm1个1个1个1个铰链式双目头，30° 倾斜，瞳距48-75mm4个2个1个1个目镜超大视野目镜 EW10×/ 2010个6个4个4个转换器内向式五孔转换器● ● ● ● 物镜无限远平场消色差物镜 4×、10×、40×、100×● ● ● ● 聚光镜摆出式聚光镜 NA 0.9/ 0.25● ● ● ● 焦距调节同轴粗微调焦机构，微调格值0.001mm● ● ● ● 载物台双层活动平台，尺寸185×142mm，移动范围75×55mm● ● ● ● 柯拉照明24V/ 100W卤素灯● ● ● ● 示教指针绿色LED示教指针，亮度可调● ● ● ● 双色指针，亮度可调○○○○摄影附件○○○○摄像接筒C 型接口 1×○○○○C 型接口 0.5×○○○○注：●标准配置，○选购配置

此系列显微镜可供多人共同观察同一标本。技术参数：XSZ-N204XSZ-N304XSZ-N510观察头平移式双目头，45°倾斜2个1个5个单目头，45°倾斜2个目镜大视场目镜 WF10×4个4个10个转换器外向式四孔转换器●●●物镜消色差物镜 4×、10×、40×、100×●●●聚光镜阿贝聚光镜 NA1.25●●●焦距调节同轴粗微调焦机构，微调格值0.002mm●●●载物台双层活动平台，尺寸140×140mm，移动范围75×50mm●●●照明S-LED 照明，亮度连续可调●●●6V/ 20W卤素灯○○24V/ 100W卤素灯○示教指针绿色LED示教指针，亮度可调●注：●标准配置，○选购配置

老师，您好！向您推荐一款最新技术的电镜生物标本的前处理设备。以下是设备的图片简单来说，就是用我们这套设备自动化的用石墨烯包裹住你要看的生物样品，这样可以系统地探索水溶液样品，能够研究活性的生物细胞和组织的动态过程或分析纳米材料和单纳米颗粒的原子分辨率进行分析.此套设备，主要是 将液体样品夹在顶部和底部的石墨烯层之间就形成了glc。石墨烯是一种无与伦比的透射电子显微镜衬底，提供最佳的电子透明度，有效的电荷耗散，以及防止束损伤。glc完全封装液体基样品。水和真空密封石墨烯封装可以做液相成像。基本方法如下图所示：以下是此套设备发表过的论文，请您参考

Abris-M系列红外观察镜是高性能的图像转换观察镜，它可以用于观察、记录以及将观测图像进行数字化。主要用于观察辐射波长在270～2000nm的红外或紫外波段的光源。Abris-M系列红外观察镜在激光准直、激光观测、光纤准直、光纤通讯、光学加工；植物学、生物物理学、医学、法医学；艺术品复原、文献检查、记录、雕刻、绘画；红外显微镜、由紫外激励的红外发光、荧光等领域都有广泛的应用。工作原理：红外观察镜是通过将被观察物体所反射或发射的光聚焦到摄像管里而进行观察物体的。根据入射光谱强度和光电阴极材料的S-1光谱灵敏性会产生相应的电子图像。该仪器通过持续按住其上的按钮来提供所需电源。一旦加上电源，内置的3V电池将产生16-18KV的高压，足以加速电子图像到输出屏处。输出的绿色的荧光（波长550nm）可以通过调整目镜看到。技术指标：型号Abris-Mversion1Abris-Mversion2UV/IRAbris-M光谱特性Abris-M1300350-1300nmAbris-M1700350-1700nmAbris-M2000350-2000nm270… 1700nm分辨率60Lp/mm60Lp/mm30Lp/mm观察40degrees18degrees20degrees放大倍数1X

泽攸科技 原位扫描电镜（SEM）基于自主研发的台式扫描电镜，集成原位拉伸样品台，对样品进行原位拉伸/压缩/弯曲的过程中实时观察样品表面形貌的变化，拓展了扫描电镜的应用领域。原位扫描电镜（SEM） 采用自主研发的钨灯丝电子枪，加速电压在1-15kV范围内连续可调，搭配二次电子探测器、背散射电子探测器、1000N原位拉伸样品台，实现扫描电镜内的原位拉伸/压缩/弯曲实验。原位拉伸台参数载荷范围：0-1000N位移分辨率：20nm加热模块：可选加载功能：拉伸、压缩、三点弯曲电镜主机特色鼠标.jpg仅需鼠标即可完成所有操作，无须对中光阑等复杂步骤；亮度/对比度一键自适应，自动/手动聚焦 视频模式.jpg抽真空时间小于90秒；标配光学导航，搭配多样品台，实现快速找样及切换样品；采集带宽.jpg信号采集带宽10M，扫描速度快；视频模式下实时观察样品，操作流畅，无卡顿；多探测器.jpg四分割背散射电子探测器（多种成像模式）、二次电子探测器；BSE+SE 模式（任意比列混合）、集成EDS元素分析功能；无忧售后.jpg国内生产、销售、售后一体化服务；北京、上海、安徽、广东常驻工程师并提供设备演示；原位扫描电镜SEM应用安徽泽攸科技有限公司拥有一支精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件开发技术的技术团队，致力于突破电子显微镜制造这一"卡脖子"技术难题，自主研发的ZEM15 原位拉伸-扫描电镜 结合了电镜整机及原位样品台技术，支持个性化定制，可选原位加热/冷冻样品台、原位力学、原位电学样品台等。泽攸科技将持续不断地优化产品型号及配置，期待与您的合作。安徽泽攸科技有限公司是原位扫描电镜（SEM）生产厂家，关于原位扫描电镜（SEM）价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息，PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技，型号为高温拉伸台，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

Abris-M系列红外观察镜 光谱覆盖范围270-2000nm，体积小质量轻便于携带。可以增加facemark附件，使用者像戴眼镜一样将观察镜戴在眼睛上面。解放了双手，便于光路的调节。详细参数 　I型II型光谱区间Abris-M 1300 350-1300nmAbris-M 1700 350-1700nmAbris-M 2000 350-2000nm分辨率60lp/mm60lp/mm视场40度20度放大倍率1倍2倍镜头F1.4/26mm表面无镀膜F2/50mm有镀膜焦点0.15m to inf.0.15m to inf.电池1.5V AAA电池电池寿命35小时外部供电DC 3V, 20 mA max.重量0.38kg0.42kg尺寸155x78x55 mm220x78x55 mm适用温度-10度~40度光谱曲线

日本电子扫描电镜JSM-6510A/JSM-6510LA详细介绍日本电子扫描电镜JSM-6510A/JSM-6510LA型与日本电子公司的元素分析仪（EDS），统合于一体。结构紧凑的EDS由显微镜主体系统的电脑控制，操作员只用一只鼠标，就可完成从图像观测到元素分析的整个过程。扫描电镜最基本的功能是对各种固体样品表面进行高分辨形貌观察。大景深图像是扫描电镜观察的特色，应用于生物学、植物学、地质学、冶金学等领域。观察可以是一个样品的表面，也可以是一个切开的面，或是一个断面。冶金学家已兴奋地直接看到原始的或磨损的表面。可以很方便地研究氧化物表面，晶体的生长或腐蚀的缺 陷。它一方面可更直接地检查纸，纺织品，自然的或制备过的木头的细微结构，生物学家可用它研究小的易碎样品的结构。例如：花粉颗粒，硅藻和昆虫。另一方面，它可以拍出与样品表面相应的立体感强的照片。电子束与样品作用区内，还发射与样品物质其他性质有关信号。例如：与样品化学成分分布相关的，背散射电子，特征X射线，俄歇电子，阴极荧光，样品吸收电流等；与样品晶体结构相关的，背散射电子衍射现象的探测；与半导体材料电学性能相关的，二次电子信号、电子束感生电流信号；在观察薄样品时产生的透射电子信号等。目前分别有商品化的探测器和装置可安装在扫描电镜样品分析室，用于探测和定性定量分析样品物质的相关信。操作窗口： 直观的操作界面的设计，简明易懂便于迅速掌握操作。支持多用户：单个用户可以根据常用功能设置相应的图标，营造快捷的操作环境。用户登录时，即可加载已注册过的设定。同时显示两幅图像：画面上并列显示二次电子成像和背散射电子成像这两种实时图像。可同时观察样品的形貌和组成分布。微细结构测量：适合于多种测量功能。可在观察图像上直接进行测量。也可将测量结果贴至SEM图像，保存在文件中。标准的全对中样品台，能收录三维照片3D Sight（选配件），能够进行平面测量和高度测量，实现立体俯视图。 从图像观察到元素分析，配合连贯一条龙分析型扫描电子显微镜配备两台监视 器，一台用于SEM图像观察和另一台用于元素分析（EDS）。一只通用鼠标即可同时控制两台监视 器。大尺寸画面使操作更加简便与舒 适。维护简便：工厂预置中 心灯丝，十分便于更换。因此，可长期保持稳定的高性能。此外，操作界面还能以映像形式显示灯丝维护的步骤说明。可信赖的真空系统：真空系统使用高性能的扩散泵保证了洁净的高真空状态。扩散泵内部无活动部件，体现了操作稳定，维护简便的特色。 日本电子扫描电镜JSM-6510A/ JSM-6510LA型的规格保证分辨率3.0nm（30kV）8.0nm（3kV）15nm（1kV）放大倍数5至300,000x加速电压0.5kV至30kV电子枪工厂预对中灯丝聚光镜变焦聚光镜物镜锥形物镜样品台全对中样品台X-Y80mm-40mmZ5mm至48mm旋转360°倾斜－10°至＋90°排气系统（高真空模式）DPx1，RPx1排气系统（低真空模式）DPx1，RPx2日本电子最 大的亮点——方便的导航系统

飞纳台式扫描电镜 Phenom X 断面观测插件断面插件一般与金相样品杯结合使用。样品横截面成像的制备是 一个耗时的过程。样品通常嵌入抛光。使用断面插件，样品很容 易在支架中使用夹具固定。无需工具就可以快速、轻松地调整样 品位置。使用断面插件观察样品，可以保存样品的最初状态，可 以在生产过程中重复使用或在进一步的实验室研究中使用。 观察涂层、多层半导体和断裂表面时需要断面制样。一般来说， 这类样品都需要借助树脂固定制作成镶嵌样，耗费大量时间和精 力。 有了断面插件，就再也不需要螺丝钉和特殊工具来固定样品了。容易固定，不需要螺丝和其他的工具主要参数：&bull 样品大小： 15mm x 25mm（W x L）最厚为10 mm &bull 不需要工具&bull 样品定位简单 &bull 保持样品原始形貌

Thermo Scientific™ Quattro™ 扫描电镜将成像和分析的全面性能与独特的环境模式（ESEM）相结合，使得样品研究得以在自然状态下进行。如今，研究型实验室普遍要求现代的扫描电镜可以适应多种多样的样品分析需求，希望在获得出色的图像质量的同时尽可能简化样品制备过程。Quat t r o 的场发射枪（FEG）确保了优异的分辨率，通过不同的探测器选项，可以调节不同衬度信息，包括定向背散射、STEM 和阴极荧光信息。来自多个探测器和探测器分区的图像可以同步采集和显示，使得单次扫描即可获得各种样品信息，从而减低束敏感样品的束曝光并实现真正的动态实验。Quattro 的三种真空模式（高真空、低真空和 ESEM™ ）使得系统极具灵活性，可以容纳任何 SEM 可用的最广泛的样品类型，包括放气或者是与真空状态不相容的样品。此外，ESEM™ 可以在现实世界的条件下对样品进行原位研究，例如湿/潮湿、热或反应性的环境。Quattro 的分析样品仓可以满足日益增长的样品元素信息及晶体结构分析需求，它同时支持相对的双能谱（EDS）探测器、共面能谱（EDS）/电子背散射衍射（EBSD）和平行束波谱（WDS）探测器。无论什么类型的样品，在高真空下或与 Quattro 支持的独特实验条件相结合，无论样品导电、绝缘、潮湿或是在高温条件下，均可获得可靠的分析结果。由于多用户设施要求大量操作人员都能获得所有相关数据，同时尽可能缩短培训时间，所以易用性是至关重要的。Quattro 独特的硬件由帮助功能（用户向导）支持，不仅可以指导操作者，还可以直接与显微镜进行交互。并且通过“撤消（Undo）”功能，鼓励新手用户进行实验，而专家用户可以轻松缩短结果获取时间。主要优势在自然状态下对材料进行原位研究：具有环境真空模式（ESEM）的独特高分辨率场发射扫描电镜最大程度缩短样品制备时间：低真空和环境真空技术可针对不导电和/或含水样品直接成像和分析，样品表面无荷电累积在各种操作模式下分析导电和不导电样品， 同步获取二次电子像和背散射电子像安装原位冷台、珀尔帖冷台和热台，可在-165°C 到 1400°C 温度范围内进行原位分析卓越的分析性能，样品仓可同时安装三个 EDS 探测器，其中两个 EDS端口分开 180°、 WDS 和共面 EDS/EBSD针对不导电样品的卓越分析性能：凭借“压差真空系统”实现低真空模式下的精确 EDS 和 EBSD 分析灵活、精确的优中心样品台，105°倾斜角度范围，可全方位观察样品 软件直观、简便易用，并配置用户向导及 Undo（撤销）功能，操作步骤更少，分析更快速全新创新选项，包括可伸缩 RGB 阴极荧光（CL）探测器、1100°C 高真空热台和 AutoScript（基于 Python 的脚本工具 API）

泽攸科技 ZEM15原位拉伸-扫描电镜基于自主研发的台式扫描电镜，集成原位拉伸样品台，对样品进行原位拉伸/压缩/弯曲的过程中实时观察样品表面形貌的变化，拓展了扫描电镜的应用领域。ZEM15 原位拉伸-扫描电镜 采用自主研发的钨灯丝电子枪，加速电压在1-15kV范围内连续可调，搭配二次电子探测器、背散射电子探测器、1000N原位拉伸样品台，实现扫描电镜内的原位拉伸/压缩/弯曲实验。原位拉伸台参数载荷范围：0-1000N位移分辨率：20nm 加热模块：可选加载功能：拉伸、压缩、三点弯曲电镜主机特色鼠标.jpg仅需鼠标即可完成所有操作，无须对中光阑等复杂步骤；亮度/对比度一键自适应，自动/手动聚焦 视频模式.jpg抽真空时间小于90秒； 标配光学导航，搭配多样品台，实现快速找样及切换样品；采集带宽.jpg信号采集带宽10M，扫描速度快；视频模式下实时观察样品，操作流畅，无卡顿；多探测器.jpg四分割背散射电子探测器（多种成像模式）、二次电子探测器；BSE+SE 模式（任意比列混合）、集成EDS元素分析功能；无忧售后.jpg国内生产、销售、售后一体化服务；北京、上海、安徽、广东常驻工程师并提供设备演示； 原位拉伸-扫描电镜应用安徽泽攸科技有限公司拥有一支精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件开发技术的技术团队，致力于突破电子显微镜制造这一"卡脖子"技术难题，自主研发的ZEM15 原位拉伸-扫描电镜 结合了电镜整机及原位样品台技术，支持个性化定制，可选原位加热/冷冻样品台、原位力学、原位电学样品台等。泽攸科技将持续不断地优化产品型号及配置，期待与您的合作。安徽泽攸科技有限公司是原位拉伸-扫描电镜生产厂家，关于原位拉伸-扫描电镜价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息，PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技，型号为高温拉伸台，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

产品描述技术参数1.分辨率:　二次电子:　　高真空模式 3.0nm @ 30kV, 8nm @ 3kV　　高真空减速模式 7nm @ 3kV (可选项)　　低真空模式 3.0nm @ 30kV, 10nm @ 3kV　　环境真空模式 3.0nm @ 30kV　背散射电子 4.0nm @ 30kV2.样品室压力*高达2600Pa3.加速电压200V ～ 30kV，连续调节4.样品台移动范围　Quanta 250: X=Y=50mm　Quanta 450: X=Y=100mm　Quanta 650: X=Y=150mm主要特点1.FEI ESEM(环境扫描电镜)技术, 可在高真空、低真空和环境真空条件下对各种样品进行观察和分析。2.所有真空条件下的二次电子、背散射电子观察和微观分析。3.先进的系统结构平台，全数字化系统。4.可同时安装能谱仪、波谱仪和EBSP系统。5.可安装低温冷台、加热台、拉伸台等进行样品的原位、动态观察和分析

CORES回流焊模拟器回流焊 + 观察显微镜 + 测量显微镜