扫描电化学显微系统(SECM)交流扫描电化学显微镜系统(ac-SECM)间歇接触扫描电化学显微镜系统(ic-SECM)微区电化学阻抗测试系统(LEIS)扫描振动点击测试系统(SVET)电解液微滴扫描系统(SDS)交流电解液微滴扫描系统(ac-SDS)扫描开尔文探针测试系统(SKP)非触式微区形貌测试系统(OSP) 出色的性能快速准确的闭环定位系统为电化学扫描探针纳米级研究的需求而特别设计。结合Uniscan 独特的混合型32-bit DAC技术,用户可以选择合适实验研究的最**佳配置先进和灵活的工作平台系统可提供9种探针技术,使得M470成为全球最**灵活的电化学扫描滩镇工作平台。全面的附件7种模块可选,3种不同电解池,各式探针,长距显微镜以及后处理数据分析软件。 M470新产品特征SECM自动处理曲线SECM用户自定义处理曲线步长变化高分辨率读取手动或自动调节相位M470同时具备如下特点:倾斜校正X或Y曲线相减(5阶多项式)2D或3D快速傅里叶变化实验,探针移动和区域绘图的自动排序图形实验测序引擎(GESE)支持多区域扫描所有实验多个数据视图峰值分析M470是由Uniscan仪器开发的第四代扫描探针系统,具有更高规格和更多探针技术。M470技术参数工作站(所有技术)扫描范围(x,y,z) 大于100mm扫描驱动分辨率 高达0.1nm闭环定位 线性零滞后编码器,直接实时读出x,z和y位移轴分辨率(x,y,z) 20nm最**大扫描速度 12.5mm/s测量分辨率 32-bit解码器@高达40MHz压电(ic-和ac-扫描探针技术)振动范围 20nm~ 2μm峰与峰之间1nm增量最小振动分辨率 0.12nm(16-bit DAC,4μm)压电晶体伸展 100μm定位分辨率 0.09nm(20-bit DAC ,100μm)机电扫描前端 500×420×675mm(H×W×D)扫描控制单元 275×450×400mm(H×W×D)功率 250W
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