射线扫描成像显微镜

蔡司X射线显微镜VersaXRM 615 & 730[产品简介]作为VersaXRM系列中的前沿产品，蔡司X射线显微镜VersaXRM 615 & 730 在科学探索和工业研究领域为您开启了多样化应用的新高度。采用光学和几何两级放大成像架构，可实现大样品高分辨率成像。闪烁体和光学物镜耦合技术可实现高衬度和增强的相位衬度成像。基于出色的高分辨率和衬度，蔡司X射线显微镜VersaXRM 615 & 730拓展了无损成像的研究界限，大大提高了研究灵活性，加快您的研究进展。创新的数据采集工作流让您无需对样品进行切割即可实现对搜索和发现的感兴趣区域进行高分辨成像，实现从探索到发现的工作流无缝衔接。全系列的VersaXRM系统都支持快速扫面模式FAST Mode扩展，可实现1分钟内快速三维扫描成像；同时两款产品均兼容ART高级重构工具箱，利用AI技术提高成像效率或改善成像质量。 [产品特点] 三维无损成像真实空间分辨率: 500nm@ VersaXRM 615, 450 nm@VersaXRM 730，最小体素40nm更快的成像速度独特的大工作距离下高分辨率，可实现不同类型、尺寸和类型样品多尺度成像吸收、相位和衍射衬度成像模式4D 原位成像能力可升级和拓展利用AI技术提高成像效率或改善成像质量[应用领域]材料科学，如三维无损分析生命科学，如微观结构成像地球科学，如地质、油气、矿产、古生物等三维成像电子和半导体行业，如形貌测量及失效分析原位力学、变温试验衍射衬度成像，实现三维晶粒取向分析复合材料电子半导体生命科学（脑神经） 古生物(琥珀中的昆虫）油气地质（致密砂岩）新能源锂电池

X射线显微CT：先进的无损三维显微镜显微CT即Micro-CT，为三维X射线成像，与医用CT（或“CAT”）原理相同，可进行小尺寸、高精度扫描。通过对样品内部非常细微的结构进行无损成像，真正实现三维显微成像。无需样本品制备、嵌入、镀层或切薄片。单次扫描将能实现对样品对象的完整内部三维结构的完整成像，并且可以完好取回样本品！特点：先进的扫描引擎—可变扫描几何：可以提高成像质量，或将扫描时间缩短1/2到1/5支持重建、分析和逼真成像的软件套件自动样品切换器技术规范：X射线源：20-100kV，10W，焦点尺寸＜5μm@4WX射线探测器：1600万像素（4904×3280像素）或1100万像素（4032×2688像素）14位冷却式CCD光纤连接至闪烁体标称分辨率（放大率下样品的像素）：1600万像素探测器＜0.35um；1100万像素探测器＜0.45um，重建容积图（单次扫描）：1600万像素探测器，14456×14456×2630像素 1100万像素探测器，11840×11840×2150像素扫描空间：0-直径75mm，长70mm辐射安全：在仪器表面的任何一点上＜1 uSv/h外形尺寸：1160（宽）×520（深）×330（高）毫米（带样品切换器高440毫米）重量：150千克，不含包装电源：100-240V / 50-60Hz

扫描NV探针显微镜SNVM 扫描NV探针显微镜（Scanning nitrogen-vacancy probe microscope，SNVM）是一款结合了金刚石氮-空位色心（Nitrogen-Vacancy, NV）光探测磁共振（Optically Detected Magnetic Resonance, ODMR）技术和原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）扫描成像技术的量子精密测量仪器，可实现对磁性样品高空间分辨率、高灵敏度、定量无损的磁成像。应用领域测试案例

专用扫描透射显微镜HD-2700，配备了与德国CEOS GmbH公司（总经理Max Haider先生）共同开发的球差校正仪，显著提高了扫描透射电子显微镜的性能，更适合高级纳米技术研究。由于球差校正系统校正了限制电子显微镜的性能的球差，使其与标准型号显微镜相比，分辨率提高了1.5倍，同时，探针电流提高了10倍。最近，该显微镜还配备了高分辨率镜头和冷场发射电子枪，进一步提高了图像分辨率和电子束能量分辨率。同时，该型号系列还增加了一款不带球差校正的主机配置，可以以后加配球差校正进行升级。 特点 高分辨率扫描透射电子显微镜成像 HAADF-STEM图像0.136nm，FFT图像0.105nm（高分辨率镜头（*）） HAADF-STEM图像0.144nm（标准镜头） 明场扫描透射电子显微镜图像0.204nm（w/o球差校正仪） 高速，高灵敏度能谱分析：探针电流× 10倍 元素面分布更迅速及时 低浓度元素检测 操作简化 自动图像对中功能 从样品制备到观察分析实现无缝连接 样品杆与日立聚焦离子束系统兼容 配有各种选购件可执行各种评估和分析操作 同时获取和显示SE&BF, SE&DF, BF&DF, DF/EDX面分布（*） 和DF/EELS面分布（*）图像。 低剂量功能（*）（有效降低样品的损伤和污染） 高精度放大校准和测量（*） 实时衍射单元（*）（同时观察暗场-扫描透射电子显微镜图像和衍射图案） 采用三维微型柱旋转样品杆（360度旋转）（*），具有自动倾斜图像获取功能。 ELV-3000即时元素面分布系统（*）（同时获取暗场-扫描透射电子显微镜图像）（*） 选购件技术指标 HD-2700球差校正扫描式透射电子显微镜项目描述图像分辨率w/o球差校正仪保证 0.204nm（当放大倍数为4,000,000时）w球差校正仪保证 0.144 nm（当放大倍数为7,000,000时）（标准镜头）保证 0.136nm（HAADF图像） 保证0.105 nm（通过FFT）（当放大倍数为7,000,000时）（高分辨率镜头（*））放大倍数100倍 至 10,000,000倍加速电压200 kV, 120 kV （*）成像信号明场扫描透射电子显微镜：相衬图像（TE图像） 暗场扫描透射电子显微镜：原子序数衬度图像（Z衬度图像） 二次电子图像（SE图像） 电子衍射（*） 特征X射线分析和面分布（能谱分析）（*） 电子能量损失谱分析和面分布（EV3000）（*）电子光学系统电子源肖特基发射电子源冷场致发射器（*）照明透镜系统2-段聚光镜镜头球差校正仪（*）六极镜头设计扫描线圈2-段式电磁感应线圈原子序数衬度收集角控制投影镜设计电磁图像位移± 1 &mu m试片镜台样品移动X/Y轴 = ± 1 mm, Z轴 = ± 0.4 mm样品倾斜单轴-倾斜样品杆：± 30° （标准镜头）, ± 18° （高分辨率镜头（*））真空系统 3个离子泵，1个TMP极限真空10-8 Pa（电子枪）, 10-5 Pa（样品室）图像显示个人电脑／操作系统PC/AT兼容, Windows® XP监视器19-inch液晶显示器面板图像帧尺寸640 × 480, 1,280 × 960, 2,560 × 1,920 象素扫描速度快扫，慢扫（0.5至320秒／帧）自动数据显示记录序号，加速电压，下标尺，日期，时间 （*） 选购件

GeminiSEM 系列产品高对比度、低电压成像的场发射扫描电子显微镜为对任意样品进行高水准的成像和分析而生蔡司GeminiSEM 系列产品具有出色的探测效率，能够轻松地实现亚纳米分辨成像。无论是在高真空还是在可变压力模式下，更高的表面细节信息灵敏度让您在对任意样品进行成像和分析时都具备更佳的灵活性，为您在材料科学研究、生命科学研究、工业实验室或是显微成像平台中获取各种类型样品在微观世界中清晰、真实的图像，提供灵活、可靠的场发射扫描电子显微镜技术和方案。GeminiSEM 500 具有出色的分辨率，在较低的加速电压下仍可呈现给您更强的信号和更丰富的细节信息，其创新设计的NanoVP可变压力模式，甚至让您在使用时拥有在高真空模式下工作的感觉；更强的信号，更丰富的细节GeminiSEM 500 为您呈现任意样品表面更强的信号和更丰富的细节信息，尤其在低的加速电压下，在避免样品损伤的同时快速地获取更高清晰度的图像。经优化和增强的Inlens探测器可高效地采集信号，助您快速地获取清晰的图像，并使样品损伤降至更低；在低电压下拥有更高的信噪比和更高的衬度，二次电子图像分辨率1 kV达0.9nm，500 V达1.0 nm，无需样品台减速即可进行高质量的低电压成像，为您呈现任意样品在纳米尺度上更丰富的细节信息；应用样品台减速技术-（Tandem decel），可在1 kV下获得高达0.8nm二次电子图像分辨率；创新设计的可变压力模式-NanoVP技术，让您拥有身处在高真空模式下工作的感觉。洞察产品背后的科技Gemini电子光学系统Gemini 1类型镜筒 -延续创新和发展如今，扫描电子显微镜（SEM）在低电压下的高分辨成像能力，已成为其在各项应用领域中的标准配置。低电压下的高分辨率成像能力，在以下应用领域中扮演着尤为重要的角色：电子束敏感样品不导电样品获取样品极表面的真实形貌信息Gemini的革新电子光学设计，应用高分辨率电子枪模式、Nano-twin lens物镜(GeminiSEM 500)、以及Tandem decel样品台减速技术（选配），有效提高了在低电压时的信号采集效率和图像衬度。高分辨率电子枪模式：缩小30%的出射电子束能量展宽，有效地降低像差；获得更小的束斑。Nano-twin lens物镜： 优化静电场和磁场的复合功效，在低电压下具有的更高的分辨率； 提高镜筒内Inlens探测器在低电压下的信号采集效率。Tandem decel样品台减速技术，进一步提高对适用样品在低电压甚至极低电压下的分辨率：Tandem decel减速技术将镜筒内减速和样品台偏压减速技术相结合，有效地实现低着陆电压；使用1 kV及以下更低电压时，镜筒内背散射探测器的检测效率获得更好地增强，低电压下的分辨率得到进一步提高。对适用的样品可以加载高达-5 kV的样品台偏压，在低电压下获得更高质量的图片优化静电场和磁场的复合功效，在低电压下具有的更高的分辨率；提高镜筒内Inlens探测器在低电压下的信号采集效率。技术参数：基本规格蔡司 GeminiSEM 500热场发射电子枪，稳定性优于0.2 %/h加速电压0.02 - 30 kV探针电流3 pA - 20 nA（100 nA配置可选）存储分辨率最高达32k × 24k 像素放大倍率50 – 2,000,000标配探测器镜筒内Inlens二次电子探测器样品室内的Everhart Thornley二次电子探测器可选配的项目NanoVP可变压力模式高效VPSE探测器（包含在NanoVP可变压力选件中）局部电荷中和器镜筒内能量选择背散射探测器环形STEM探测器（aSTEM 4）EDS能谱仪EBSD探测器(背散射电子衍射)可订制特殊功能样品台环形背散射电子探测器阴极射线荧光探测器

TESCAN DynaTOM 全球首款专用的动态 X 射线显微镜系统，满足您更复杂的原位实验需求TESCAN DynaTOM 是全球一款专用于满足最苛刻条件下实现延时、原位和快速成像的实验室用 X射线显微镜系统。数十年来，X 射线断层扫描技术的一个重点发展方向----如何能够真实环境中实现对各类样品的 4D 演变进行无损的快速成像。传统的 X射线显微镜在动态原位实验设计方面存在许多缺陷， TESCAN 不惧挑战开发了一款致力于通过动态成像实现创新科学研究和应用的设备----DynaTOM。 主要优势 ※ 独特的 4 维动态成像设计 DynaTOM 是首款专门用于快速动态原位成像的X射线显微镜系统。区别于传统X射线显微镜系统，这款机型中 X 射线源和探测器围绕固定的样品旋转。 ※ 独特架构设计DynaTOM 采用了独特的龙门架式的硬件设计，X 射线源和探测器围绕固定的样品台旋转，可以在不影响原位操作灵活性的情况下完成连续扫描。 ※ 快速连续采集能力 X 射线发射源和探测器可以连续旋转，每旋转360°的时间分辨率小于10 s。可以实现对动态过程连续不间断的数据采集，空间分辨率达 2 μm。 ※ 四维软件包 DynaTOM 配有用于原位设备集成、四维重建、自动事件检测和动态可视化的专用软件包。 同步辐射动态试验的样品筛选在 DynaTOM 中，X 射线源和检测器围绕固定的样品在水平面上旋转。 这种样品固定的设计尤为适合集成其他设备，例如液体池和加压设备，他们需要外接的高压管路和探测器。完整的断层扫描只需要大约十秒钟，再加上连续采集功能，可以不间断地监控动态过程。世界各地的同步加速器研究机构都会定期进行快速、连续扫描实验。但是，多数用户浪费了大量的同步辐射机时在同时进行扫描和原位实验条件调试。DynaTOM 可以进行快速动态原位表征，可用作调整复制的原位实验设备，从而最大程度地提高同步辐射的效率和输出。

产品描述灵活的探测，4步工作流程，高级的分析性能将高级的分析性能与场发射扫描技术相结合，利用成熟的 Gemini 电子光学元件。多种探测器可选：用于颗粒、表面或者纳米结构成像。Sigma 半自动的4步工作流程节省大量的时间：设置成像与分析步骤，提高效率。用于清晰成像的灵活探测利用先进探测术为您的需求定制 Sigma，表征所有样品。利用 in-lens 双探测器获取形貌和成份信息。利用新一代的二次探测器，获取高达50%的信号图像。在可变压力模式下利用 Sigma 创新的 C2D 和 可变压力探测器，在低真空环境下获取高达85%对比度的锐利的图像。自动化加速工作流程4步工作流程让您控制 Sigma 的所有功能。在多用户环境中，从快速成像和节省培训首先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。首先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。接下来对样品感兴趣的区域进行优化并自动采集图像。使用工作流程的一步，将结果可视化。高级分析型显微镜将扫描电子显微镜与基本分析相结合：Sigma 的背散射几何探测器大大提升了分析性能，特别是对电子束敏感的样品。在一半的检测束流和两倍的速度条件下获取分析数据。获益于8.5 mm 短的分析工作距离和35°夹角，获取完整且无阴影的分析结果。基于成熟的 Gemini 技术Gemini 镜头的设计结合考虑了电场与磁场对光学性能的影响，并将场对样品的影响降至更低。这使得即使对磁性样品成像也能获得出色的效果。Gemini in-lens 的探测确保了信号探测的效率，通过二次检测(SE)和背散射(BSE)元件同时减少成像时间。Gemini 电子束加速器技术确保了小的探测器尺寸和高的信噪比。用于清晰成像的灵活探测利用新的探测技术表征所有的样品。在高真空模式下利用创新的 ETSE 和 in-lens 探测器获取形貌和高分辨率的信息。在可变压力模式下利用可变压力二次电子和 C2D 探测器获取锐利的图像。利用 aSTEM 探测器生成高分率透射图像。利用 BSD 或者 YAG 探测器进行成份分析。配件SmartEDX为您带来一体化能谱分析解决方案如果单采用SEM成像技术无法全面了解部件或样品，研究人员就需要在SEM中采用能谱仪（EDS）来进行显微分析。通过针对低电压应用而优化的能谱解决方案，您可以获得元素化学成分的空间分布信息。得益于：优化了常规的显微分析应用，并且由于氮化硅窗口优的透过率，可以探测轻元素的低能X射线。工作流程引导的图形用户界面极大地改善了易用性，以及多用户环境中的重复性。完整的服务和系统支持，由蔡司工程师为您的安装、预防性维护及保修提供一站式服务。 拉曼成像与扫描电镜联用系统完全集成化的拉曼成像在您的数据中加入拉曼光谱及成像结果，获得材料更丰富的表征信息。通过扩展蔡司Sigma 300，使其具备共聚焦拉曼成像功能，您能够获得样品的化学指纹信息，从而指认其成分。识别分子和晶体结构信息可进行3D分析，在需要时可关联SEM图像、拉曼面扫描成像和EDS数据。完全集成RISE让您体验由先进的SEM和拉曼系统带来的优势。

SKYSCAN1272- micro ct参数-三维重构成像x射线显微镜 什么是Micro CT？CT (Computed Tomography)即计算机断层扫描，其原理与临床CT/工业CT相同，Micro/Nano 表明其分辨率可达到微米/亚微米级别。 • Micro/Nano CT特点：无损、三维成像、显微 SkyScan 1272 是一台具有革新意义的高分辨率三维 X 射线成像系统。单次扫描最高可获得 2000 张，每张大小为 209M（14450 x 14450 像素）的超清无损切片，用于之后高分辨三维重建。通过先进的相衬增强技术，SkyScan1272 对样品的细节检测能力（分辨率）高达 350 纳米。 SKYSCAN1272 -Micro CT参数l 图像分辨率（Pixel Size）：350nml 空间分辨率：4μml 20-100kV 新式X射线源，免维护l 样品尺寸：直径达75mm，长达70mml 1600万像素高分辨率CCD探测器，配备光纤面板，以确保长使用寿命和重建质量和精度l 全球最快的重构软件InstaRecon，重构1K*1K切片仅需0.02S.重构容积14456*14456*2610像素：10h (1PC) VS 19h (8GPU Cluster)l 系统自带软件包括2D/3D图像定量分析软件和支持面渲染和体渲染的3D可视化软件，以及手机APPl 可选16位自动进样器 Bruker Micro-CT 可广泛应用于以下领域： § 原材料：金属、地质样品、宝石、钻石、木材、有机原料等 § 合成材料：聚合物、生物材料、建筑材料、纸张/面料/纺织品、粉末/颗粒、陶瓷/玻璃、医药片剂、艺术品/历史文物等 § 工业制成品：电子元器件、工业制造品：金属/非金属、燃料电池/电池等 § 其他 了解更多应用方向，请致电束蕴仪器（上海）有限公司~

SKYSACN 3d纳米x射线显微镜ct - 一款用于显微样品三维成像的实验室级超高分辨率CT扫描仪,可对直径为30cm，长度40cm样品的内部结构进行3D无损检测与重建，对样品的细节检测能力（标称分辨率）最高可达60纳米。利用 X 射线无损成像的特性提供样品内部结构的三维图像，并且无需对相关区域进行切割或切片。 ▼维护成本低,开放管，只需要更换灯丝。 SkyScan 2214采用了布鲁克独家所有的自动可变扫描几何系统，不但样品到光源的距离可调，探测器到光源的距离也可调。因此，可变几何系统能在空间分辨率、可扫描样品尺寸、扫描速度、图像质量之间找到完美的平衡。相比于传统的探测器-光源固定距离模式，在分辨率不变的情况下，扫描速度可提高2-5倍，同时保证得到相同的甚至更好的图像质量。而且这种扫描几何的改变，无需人工干预，软件会自动根据用户选定的图像放大倍数，自动优化扫描几何，以期在最佳分辨率、最短时间内得到高质量数据。SkyScan 2214配备了分层重构软件InstaRecon，得益于其独特的算法，重建速度比常规Feldkamp算法快10-100倍，适用于更大规模数据的成像处理。 了解更多应用方向，请致电束蕴仪器（上海）有限公司

1.产品概述：PVA TePla SAM系列的超声波扫描显微镜使用简单，操作方便，是一款用于过程控制和质量保证，以及研究应用的无损检测设备。SAM系列旗下各型号均统一由一个符合行业标准的组件平台衍生而来，在此基础上，再融入了先进的生产和制造技术。2.产品优势：SAM系列旗下各型号均统一由一个符合行业标准的组件平台衍生而来，在此基础上，再融入了先进的生产和制造技术。凭借我司精密制造的高频和换能器技术，我们的超声波扫描显微镜能够在高达400MHz的超声频率范围内进行详细的声学分析。这些设备可以广泛应用于材料科学、生物医学、电子工业等域，帮助用户实现快速且准确的无损检测。无论是对材料中的缺陷进行定位和分析，还是对样品结构和表面形貌进行观察和评估，我们的超声波扫描显微镜都能提供可靠且高分辨率的成像结果。同时，我们还提供灵活多样的配置选项，以满足不同用户需求和实验要求。我们致力于为客户提供高性能和可靠性的超声波无损检测解决方案，以满足不断发展的科学研究和工业生产的需求。SAM系列系统是门用于质量和过程控制的无损检测工具，借助高达400兆赫的新射频和换能器技术实现详细的声学调查。简单而强大的图形界面确保了终用户可以充分使用该系统性能和功能。3.产品工艺：X和Y方向的扫描范围可单独自定义，可选择以下扫描范围配置250µ m x 250µ m到320mm x 320mm250µ m x 250µ m到420mm x 420mm模块化设计的功能，如穿透式扫描、动态穿透式扫描、或"双探头 “和 “四探头 “扫描仪配置等，大大优化了扫描成像结果。

SKYSCAN 微纳米ct/高容量三维X射线显微镜, 该探测器具有600万像素，视野范围大，输出速度快，15秒内即可提供高清晰度图像，是快速CT的理想之选。即使是大尺寸样品，也能在数分钟内完成扫描。 高分辨率X射线三维成像系统具有较低的拥有成本。不同于落地式系统，台式SKYSCAN 高分辨率X射线三维成像系统在寸土寸金的实验室中占地面积较小。它无需冷水机或其它压缩机，只需一个简易的家用电源插座。它采用封闭式X射线源，无需维护，不存在其它隐藏成本。 达到真正的4D效果检测~ 特点介绍：节省空间的台式系统与最低安装要求家用电源插头，无水或压缩空气，免维护封闭式X射线源大的样品室，以适应样品样品尺寸可达 ?300 mm和高500 mm ,扫描体积 ?250 mm和高250 mm 130 kV 反射式X射线源，带 6 Mpix平板探测器通过更大、密度更高的材料传输支持自动选择最优能量设置的8位滤波更换器像素尺寸 3 μm (小样本)综合3D套件软件1)重构，2)通过面和体渲染可视化，3)分析 可根据不同需求订制了解更多应用方向，请致电束蕴仪器（上海）有限公司

SEM3200是一款高性能、应用广泛的通用型钨灯丝扫描电子显微镜。拥有出色的成像质量、可兼容低真空模式、在不同的视场范围下均可得到高分辨率图像。大景深，成像富有立体感。丰富的扩展性，助您在显微成像的世界中尽情探索。 扫描电子显微镜不仅局限于表面形貌的观察，更可以进行样品表面的微区成分分析。SEM3200接口丰富，除支持常规的二次电子探测器（ETD）、背散射电子探测器（BSED）、X射线能谱仪（EDS）外，也预留了诸多接口，如电子背散射衍射（EBSD）、阴极射线（CL）等探测器都可以在SEM3200上进行集成。

1.产品概述：PVA TePla 超声扫描显微镜SAM Premium系列结合了声学显微镜和光学显微镜。它使超声扫描平台与倒置光学显微镜或反射式光学显微镜相结合。SAM Premium系列所使用的技术是以融合了生产和研究技术的核心平台为基础。SAM Premium系列旗下各个系统均具有高产量、高灵活性和宽广的扫描范围等特性。此外，各系统还可以根据客户的要求进行扩展，并用于多样化的应用。2.产品优势：高频和换能器技术：高频和换能器技术可支持各类特定研究和工业应用，其中高频范围可高达400 MHz，并提供5 MHz和400 MHz之间的可选择频率范围。此外，每个换能器都配备了门的自动对焦功能。其特征在于，该系统可通过特殊的音爆高频单元升到1000MHz的声学成像。一直以来，PVA TePla致力于为企业客户及科研单位提供无损检测设备，满足客户要求。目，我们的SAM系列应用于工业域及多个高科技行业，如半导体行业、电子/电气行业等等。3.产品工艺：X和Y方向的扫描范围可以单独自定义，可选择以下扫描范围配置: 250µ m x 250µ m到320mm x 320mm250µ m x 250µ m到502mm x 502mm如HiSA（高速扫描轴）、或动态穿透式扫描等，可实现高性能扫描成像结果。HiSA（高速扫描轴）跟随样品弓形，具有动态聚焦功能。动态穿透式扫描可在25MHz至100MHz的频率范围内使用。

高精度激光扫描显微镜高精度激光扫描显微镜-NESSIE是美国密歇根大学衍生公司MONSTR Sense Technologies潜心研制。开创性的设计使其外形小巧，组件灵活，可适配不同高度的样品台甚至是低温光学恒温器，实现低温显微成像。显微镜可处理波长范围广，快速光栅式扫描可以在几秒时间内获得一个高光谱图像。特殊激光光路设计消除了激光扫描过程中的光束漂移，使其非常适合与该公司研发的全共线多功能超快光谱仪集成，实现强大的材料表征功能，不仅可以实现高速、高精度激光扫描谱图，还可以对感兴趣的样品位点进行多维光谱数据采集。高精度激光扫描显微镜-设备特点创新光路设计，适合集成高精度激光扫描显微镜-NESSIE的输入信号为单个激光光束，输出信号为样品探测点收集的单个反向传播光束，这样的光路设计确保了反传播信号在扫描图像时不会相对于输入光束漂移，因而非常适用于激光的实验中的成像显微镜系统。室温GaAs量子阱成像。（a）白光成像；（b）激光扫描线性反射率测量，80 MHz激光（5 mW激光输出）调谐到GaAs带隙；（c）四波混频激光扫描成像揭示了影响GaAs层的次表面缺陷。灵活可调与稳定性兼具高精度激光扫描显微镜-NESSIE可适配不同高度的样品台和低温光学恒温器。其结构的特殊设计可实现显微镜组件整体提高，以清除高度从4″到8″的物体。物镜中心与显微镜支架和外壳之间的间隙为5.5″，可实现不同尺寸形状的低温光学恒温器的容纳。普通显微镜下安装低温恒温器需要转接板，往往会带来样品台的不稳定性，影响采集数据的品质。高精度激光扫描显微镜-NESSIE采用了独立的支撑和提升单元，保证了高度灵活可调的同时，也保持了严格对齐和高稳定性，可以有效避免低温恒温器和其他设备产生振动的干扰，对于在振动的环境中生成高分辨率图像至关重要。激光扫描无光束漂移普通激光扫描显微镜一般使用两个相邻X、Y扫描镜来实现激光扫描。由于两个镜面均不在光学系统的像面上，光束在扫描图像时发生漂移。高精度激光扫描显微镜-NESSIE的特殊设计将X、Y扫描镜均置于像平面，使用抛物面镜作为扫描镜之间的中继系统，可以消除物镜后焦平面上的光束漂移。消除渐晕渐晕是视场图像边缘附近亮度降低的效应，在显微镜中，渐晕会扭曲数据和缩小视场。激光扫描中扫描镜近邻安装，是引入渐晕效应的主要原因。高精度激光扫描显微镜-NESSIE的特殊光路设计可以消除了渐晕效应对整个显微镜物镜的视野的影响。（a）渐晕效应；（b）无渐晕的视场成像可处理波长范围广宽频光路设计，标配可允许激光波长在450-1100 nm 范围，其他频率的激光可选。 软件可拓展性强系统软件灵活易用，可拓展性强。基于LabVIEW的软件包，可将用户自定义指标与自带的成像控制算法结合在一起，实现实时图像生成。另外系统也配有基于API软件包，实现系统自带代码与用户实验代码的整合。全共线多功能超快光谱显微成像系统高分辨激光扫描显微镜与全共线多功能超快光谱仪集成，形成功能强大的全共线多功能超快光谱成像系统。可搭配低温光学恒温器，实现低温多功能超快光谱成像。光栅式扫描几秒时间便可以获得一个超快成像动画，帮助用户迅速定位到感兴趣的区域进行高分辨的扫描成像。对于部分感兴趣样品位点，利用全共线多功能超快光谱仪，可以获得每个样品位点的全面的电子和振动能级信息。全共线多功能超快光谱显微成像系统充分发挥了光谱仪和显微镜的优势，通过弛豫时间成像和多功能光谱成像，允许用户分析样品空间不均匀性与电子结构的关联关系。MoSe2/WSe2异质结构低功率低温（6K）FWM积分成像光谱（a，b）和弛豫时间成像（c） 全共线多功能超快光谱显微成像系统强大的材料表征能力，也可以应用于工业制作环境中的非接触式材料检测，帮助制造商识别原材料品质，避免缺陷材料应用于设备。常温下，CVD生长WSe2薄片移相时间分布和FWM强度变化应用领域（全共线多功能超快光谱显微成像系统）高精度激光扫描显微镜提供整个显微镜物镜视野的成像控制，包括：像素分辨率，扫描速率和聚焦区域。而全共线多功能超快光谱仪兼具共振和非共振超快光谱探测，并兼容瞬态吸收光谱、相干拉曼光谱、多维相干光谱探测。这两款设备集成具有强大的多功能超快光谱显微成像能力，可实现双光子显微成像、瞬态吸收成像、受激拉曼显微成像、荧光寿命显微成像、多维相干光谱显微成像。其中多维相干光谱显微成像，基于非线性四波混频FWM技术，可实现超高分辨的5维数据采集，其成像系统具有以下优势：1. FWM显微成像超高空间分辨本领，可以进行细微结构成像受到abbe衍射极限限制，激光扫描成像空间分辨率在940 nm，但基于全共线MDCS的非线性四波混频FWM成像光谱，可将空间分辨率提高到540nm。2. FWM显微成像，明、暗激子空间分布可辨激子是由受激电子和空穴由于库仑引起的形成的束缚态，而暗激子，是电子与空穴的动量不同，从而阻止了它们对光的吸收。相比于荧光光谱等探测技术仅对亮激子态敏感，非线性四波混频，可实现暗激子的直接观测与研究。3. 不同延时FWM显微成像，揭示耦合动力学过程在空间的不同分布探究空间不同位置四波混频FWM信号随泵浦延迟时间T的变化，可以获得相干、非相干耦合动力学过程在空间的不同分布。4. FWM decay time mapDecay time map仅改变泵浦延迟时间T，对于T＞50ps的情况，可以获得不同空间位置层间激子寿命信息。测试数据MoSe2/WSe2异质结构中，PL积分光谱探究空间差异的应力分布 MoSe2/WSe2异质结构中，不同延时FWM显微成像谱图，揭示空间差异的动力学演变过程CVD获得的WSe2薄片，不同的FWM decay time map揭示激子的快、慢弛豫过程的空间差异FWM hyperspectral map和FWM decay time map数据处理（Data from Prof. Steve Cundiff lab at University of Michigan）发表文章1. T. L. Purz et al., Imaging dynamic exciton interactions and coupling in transition metal dichalcogenides. J Chem Phys 156, 214704 (2022).2. T. L. Purz, B. T. Hipsley, E. W. Martin, R. Ulbricht, S. T. Cundiff, Rapid multiplex ultrafast nonlinear microscopy for material characterization. Optics Express 30, 45008 (2022).相关产品1、全共线多功能超快光谱仪

日本Rigaku理学X射线显微镜Rigaku理学nano3DX是一个真正的X射线显微镜（XRM），可以从相对大的样本中获得高分辨率的3D计算机断层摄影（CT）图像。这是通过采用高功率旋转对阴极X射线源及高分辨率CCD检测器实现的。通过旋转对阴极型线源，可以快速获取数据，轻松切换目标材料（波长），优化特定样品类型的对比度。 X射线显微镜技术、3D CT X射线显微镜、理学微焦点X射线显微镜 断层摄影是通过将对象物切成薄片来调查该对象物的三维结构的技术。微层析成像意味着切片非常薄，特别是薄到可以用光学显微镜看到。以前的断层摄影是很麻烦很花时间的工作。另外，由于需要时间，也有给样品带来重大变化的危险。在X射线断层摄影法中，整个试样以多个旋转角度进行拍摄。这多幅图像由计算机算法处理，通过重构可在任意方向切片的三维数据，带来对对象内部特征的新见解。X射线显微镜将这种视觉化设定为1微米（1μm）以内的分辨率进行。 使用新的nano3DX，您可以看到各种不同的样品，例如CFRP之类的吸收对比度较低的样品，以及陶瓷复合材料之类的密度较高的样品。nano3DX通过改变X射线的波长，提高对比度和透过度的功能，实现了其性能。 高分辨率3D X射线显微镜，可以观察到亚微米区域的X射线显微镜诞生了。 工业用X射线成像装置，活体用X射线成像装置电池、医药品、纤维、盐分、塑料、橡胶、非破坏性检查计算机断层摄影（CT），X射线显微镜 Rigaku理学独特的高亮度X射线发生装置和高分辨率X射线照相机的组合，诞生了可以观察亚微米区域的X射线显微镜。可以以高空间分辨率、高密度分辨率进行大视场观察，用户界面也很友好。 高空间分辨率复合材料药剂等的试料内部，以亚微米水平的高分辨率能进行2D3D观察。利用高分辨率检测器平行光束法进行近距离摄影・ 稳定性高的X射线发生装置・ 高精度试样台高密度分辨率可以观察树脂中的碳纤维等轻元素素材的高对比度。・ 根据用途选择特性X射线高亮度且高强度X射线发生装置 大视场观察 不降低分辨率，可以在宽视场中观察样品。・ 高像素数的X射线检测器・ 可以显示大数据的3D软件 &bull 高亮度X射线发生器（1.2kW）&bull 可根据观察样品目的选择的X射线源（Cr、Cu、MoKα）&bull 利用平行光束进行近距离拍摄以实现高对比度和快速数据收集&bull 高分辨率X光相机&bull 采用高精度5轴试料台&bull 宽视场对比度好，用2D、3D可清晰地观察亚微米区域

PSC公司成立于2004年，2年后其首款产品植物根系X-光扫描成像分析系统RootViz FS面世，并于今年6月获得2006年度美国R&D 100大奖。RootViz FS是在美国能源部创新项目资助下研发成功的一套新型、高效率、高精度、非破坏性的测量系统，用于对盆栽植物的根系进行原位成像分析，可以拍摄根系的立体X-光照片。是继根视系统后植物根系研究领域最激动人心的发明。美国R&D 100大奖被称为"发明界的奥斯卡奖"，RootViz FS刚一面世即获此大奖，足见其影响力之大。这套系统是植物根系研究领域继根视（rhizotron）系统（如加拿大Regent WinRHIZO根系分析系统）后最激动人心的发明。根视系统需要将根取出清洗后，借助扫描仪进行分析，这个过程往往会折断植物的根尖等脆弱部分，而且属于离体分析，不能进行动态监测。而植物根系X-光扫描分析系统是非破坏性的原位分析系统，可以全方位分析植物根系所有部分（包括根尖等），并且可以在植物生长的不同阶段对根系的生长进行长期动态监测。这套系统非常适合于研究植物根系对胁迫的动态响应。根系X-光成像的特性* 高分辨率的X-光立体成像* 进行长期动态监测* 获得原位根系角度信息* 完全可控条件下的生理、病理实验* 大规模快速筛选根系突变株根系X-光扫描成像系统的主要技术参数* X-射线发生器: 25KeV@800uA* X-射线数码相机: 2002 x 2054 CMOS；GdOs Scintillator* 精确的三维调节工作台* 速度：平面图25株/h；立体图15株/h* 范围：最大根长0.6 m；最大高度2.1 m* 分辨率：2002× 2054像素

产品介绍：X射线相衬微米CT系统和传统的X射线吸收成像相比，X射线相位衬度成像能够为轻元素样品提供高得多的衬度，特别适合用于对软组织和轻元素构成的样品进行成像。目前，主要的5类相衬成像方式中，大部分对光源的相干性要求很高， 只能依赖同步辐射光源。由于同步辐射源占地面积大， 初期建设和日常使用及维护成本太高，现阶段还无法满足临床上日常检查的需求，世界上很多从事相衬成像方法研究的小组都在致力于将相衬成像技术推广到临床上。目前己经普遍使用的微焦点源或者是传统的X光管，从数值模拟和实验结果来看，在进行微焦点源同轴相衬成像实验时，会遇到曝光时间长、光源相干性差、X光能量选择性受限等问题。相衬成像是吸收（传统）成像的补充。使用传统的X射线成像技术，由于低原子序数材料对X射线吸收较弱，自然会导致图像对比度低。在这种情况下，X射线相位变化的灵敏度会高得多。 inCiTe&trade 3D X射线显微CT通过X射线的自由空间传播直接实现相衬成像，将物体引起的X射线相位变化转化为探测器处的X射线强度变化。X射线相衬成像大大提高了对X射线弱吸收材料的成像衬度。inCiTe&trade 3D X射线显微CT是一款商用的扫描仪，搭载了KA Imaging Inc. 独家开发的高分辨率非晶硒(a-Se) X 射线探测器—BrillianSe&trade 。 BrillianSe&trade X射线探测器具有高空间分辨率和高探测效率，可在便携的台式系统中实现快速相衬成像和传统微米CT产品特点更快的扫描时间大的样品尺寸和视场同轴相衬成像法，效率更高参数典型应用无损检测增材制造电子工业农学地质学临床医学标本射线照相低密度材料的衬度增强1. 钛植入物样品 下图展示了对骨头样品中矫形钛植入物的成像效果，相位衬度提高了多孔骨结构（骨小梁）的可见度。2.生物样品 inCiTe&trade 3D X射线显微CT可以为生物组织提供高衬度，就像下图老鼠的膝关节。 低密度材料的衬度增强使用探测器在几秒钟的曝光时间后，快速获得凯夫拉复合材料样品的相衬图像。我们可以在下图（左图）看到单个纤维，在下图（右图）看到纤维分层。样品在这里被放大了4倍。 轻骨料混凝土样品

X射线显微CT：先进的无损三维显微镜显微CT即Micro-CT，为三维X射线成像，与医用CT（或“CAT”）原理相同，可进行小尺寸、高精度扫描。通过对样品内部非常细微的结构进行无损成像，真正实现三维显微成像。无需样本品制备、嵌入、镀层或切薄片。单次扫描将能实现对样品对象的完整内部三维结构的完整成像，并且可以完好取回样本品！特点：先进的扫描引擎—可变扫描几何：可以提高成像质量，或将扫描时间缩短1/2到1/5支持重建、分析和逼真成像的软件套件自动样品切换器技术规范：X射线源：20-100kV，10W，焦点尺寸＜5μm@4WX射线探测器：1600万像素（4904×3280像素）或1100万像素（4032×2688像素）14位冷却式CCD光纤连接至闪烁体标称分辨率（放大率下样品的像素）：1600万像素探测器＜0.35um；1100万像素探测器＜0.45um，重建容积图（单次扫描）：1600万像素探测器，14456×14456×2630像素 1100万像素探测器，11840×11840×2150像素扫描空间：0-直径75mm，长70mm辐射安全：在仪器表面的任何一点上＜1 uSv/h外形尺寸：1160（宽）×520（深）×330（高）毫米（带样品切换器高440毫米）重量：150千克，不含包装电源：100-240V / 50-60Hz

安赛斯（中国）有限公司---国际先进检测设备优质供应商产品标签：超声波扫描显微镜，超声扫描显微镜，声扫显微镜，超声C扫描系统 超声波扫描显微镜是利用超声波对微观物体进行成像的无损检测设备。可对各种材料、元器件内部缺陷、空洞、气泡、分层缺陷、杂质、裂纹进行非破坏性检测；还可进行涂镀层结合质量，内部焊接质量，键合层缺陷等检测、空洞率计算等。 超声波扫描显微镜应用领域：半导体电子行业：半导体晶圆片、封装器件、大功率器件IGBT、红外器件、光电传感器件、SMT贴片器件、MEMS等 材料行业：复合材料、镀膜、电镀、注塑、合金、超导材料、陶瓷、金属焊接、摩擦界面等； 生物医学：活体细胞动态研究、骨骼、血管的研究等超声波扫描显微镜在失效分析中的应用：晶圆面处分层缺陷锡球、晶圆、或填胶中的开裂晶圆的倾斜各种可能之孔洞（晶圆接合面、锡球、填胶… 等）超声波显微镜的在失效分析中的优势：非破坏性、无损检测材料或IC芯片内部结构可分层扫描、多层扫描实施、直观的图像及分析缺陷的测量及缺陷面积和数量统计可显示材料内部的三维图像对人体是没有伤害的可检测各种缺陷（裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞等）更多产品信息，请登录安赛斯（中国）有限公司官网获取。V-400E、V-700E、V-1000E单探头超声波扫描显微镜 -该型号超声波扫描显微镜系统是实验室、研发和工业生产线主流机型。- 扫描速度最高可达：2000mm/s- 与其它品牌机型相比扫描效率高30%- 最小扫描范围：200μm×200μm- 射频最大带宽：500MHz- 新型FCT防误判专利探头V-duo、V-quatrro、V-Octo多探头超声波扫显微镜多探头超声波扫描显微镜系统，同时使用2只、4只或8只换能器- 最大扫描速度：2000 mm/s - 与其它品牌相比扫描效率高30% - 最小扫描范围：200μm×200μm - 带宽：550MHz - 新型换能器Nano型高分辨率表层缺陷超声波扫描系统它是声学显微成像系统和光学显微成像系统的完美结合。- 换能器频率范围：100MHz——2000MHz频率实现高分辨率 - 探测深度100nm - 特殊平均模式使信噪比更好 - 同步光学成像和超声波成像使样品在结构上、生物化学性能上和机械性能上具有关联性。 - 光声效应增强了对比性 - 最大放大倍数：1000倍 - 入射光显微镜和倒置光学显微镜可调节 咨询或索取详细产品资料，请联系ANALYSIS（安赛斯）工作人员。 产品标签：超声波扫描显微镜，超声扫描显微镜，声扫显微镜，超声C扫描系统您还可能感兴趣的产品有：德国工业CT系统 X射线计算机断层扫描系统美国声发射检测系统及声发射板卡Pocket-AE美国 水浸式超声C扫描系统德国X射线成像系统 Mu2000德国微焦点X射线成像系统 X光机 Y.Cheetah

激光扫描共聚焦成像模块 CSIM 100/110共聚焦扫描成像模块的创新之处主要体现在两点： 1）与市场同类产品相比，CSIM 100/110共聚焦扫描成像模块具有更简洁的光路设计。通过光路的重新设计优化，减少了光学元件的使用数量和信号传递的步骤。信号传递环节的减少，使荧光信号的损失降到ZD，进而提高了模块的检测灵敏度。简洁的光路同时提高了模块的稳定性和可靠性，降低了维护成本； 2）与市场同类产品相比，CSIM 110共聚焦扫描成像模块优化了信号的探测类型，获得更为高效的信号采集。自主开发的信号采集电路，重新设计了信号的探测频次和和方式，显著提升了信号增益，以更低的照明强度获得了更好的信噪比和动态范围。CSIM 100/110共聚焦扫描成像模块，是桑尼基于多年高速光学扫描振镜和激光打标系统的开发经验，全新自主研发的产品。用户可将其搭配在原有的倒置荧光显微镜上，即可方便、快速地把倒置荧光显微镜升级为激光扫描（单点）共聚焦显微镜，获取高质量的共聚焦图像。CSIM 100/110共聚焦扫描成像模块通用性好，适配各品牌显微镜使用标准C型接口，无需额外配件即可与显微镜连接，搭建单点扫描共聚焦成像系统。使用进口配件 保障成像质量配置高性能Semrock滤光片、Coherent长寿命固态激光器、滨松多碱PMT，获取高分辨率图像。可定制升级 加载各种功能模块如：CCD/SCOMS相机接口、电动Z轴扫描模块、DIC（微分干涉）模块、适用于活细胞成像的超高灵敏度探测器等。光路设计简洁用最少的光学元件实现共聚焦成像功能，既减少了荧光信号的损失，提高了模块的检测灵敏度，又增强了模块的稳定性和可靠性，降低了维护成本。信号采集稳定自主设计开发的信号采集电路，优化了信号增益，提高了图像的信噪比和动态范围。激光器直调 超长使用寿命使用COHERENT OBIS 固体或半导体激光器，通过外部调节激光器功率和开关，延长激光器使用寿命，有效降低售后成本。激光器稳定性好，8小时功率变化＜2%。即开即用，操作方便，可同时搭载4个激光器。高灵敏度PMT标配Hamamatsu新一代高性能多碱PMT，量子效率超过25%，相比国外前代共聚焦产品，灵敏度提高超过一倍。可升级为磷砷化镓（GaAsP），进一步提高图像的信噪比： GaAsP 的量子效率可达45%。Sunny XY描振镜高速扫镜使用本公司生产制造的XY高速扫描振镜，响应速度快、重复精度高、发热量低、温度漂移小。其他配件：共聚焦/宽场切换接口接口可同时连接共聚焦和相机，可自由选择共聚焦成像或相机成像。电动Z轴马达使手动显微镜实现自动调焦功能，实现XYZ三维扫描。 DIC功能可定制升级，加载DIC（微分干涉）模块。软件功能全中文界面，简单易用全软件控制完成多维图像采集，实现多通道扫描、时间序列和Z轴序列成像多色荧光、DIC图像叠加，添加标尺全软件控制数据记录，支持成像参数管理导出支持多种图像输出格式

德国蔡司 Xradia 620 Versa拓展您的探索极限作为Xradia Versa系列中前沿的产品，蔡司Xradia 610 & 620 Versa 3D X射线显微镜在科研和工业研究领域为您开启多样化应用的新高度。基于高分辨率和衬度成像技术，Xradia 610 & 620 Versa 大大拓展了亚微米级无损成像的研究界限。优势扩大了微米级和纳米级CT解决方案的应用范围无损亚微米级分辨率显微观察在不影响分辨率的情况下可实现更高通量和更快的扫描最高空间分辨率500nm，最小体素40nm可在不同工作距离下对不同类型、不同尺寸的样品实现高分辨率成像原位成像技术，在受控环境下对样品微观结构的动态演化过程进行无损表征可随着未来的创新发展进行升级和扩展更高的分辨率和通量传统断层扫描技术依赖于单一几何放大，而Xradia Versa则将采用光学和几何两级放大，同时使用可以实现更快亚微米级分辨率的高通量X射线源。大工作距离下高分辨率成像技术（RaaD）能够对尺寸更大、密度更高的样品（包括零件和设备）进行无损高分辨率3D成像。此外，可选配的平板探测器技术（FPX）能够对大体积样品（重达25 kg）进行快速宏观扫描，为样品内部感兴趣区域的扫描提供了定位导航。实现新的自由度运用业界出色的3D X射线成像解决方案完成前沿的科研与工业研究 ：凭借最大化利用吸收和相位衬度，帮助您识别更丰富的材料信息及特征。运用衍射衬度断层扫描技术（LabDCT Pro）揭示3D晶体结构信息。先进的图像采集技术可实现对大样品或不规则形状样品的高精度扫描。运用机器学习算法，帮助您进行样品的后处理和分割。优异的4D/原位解决方案蔡司Xradia 600 Versa系列能够在可控环境下进行材料3D无损微观结构表征的动态过程。凭借Xradia Versa在大工作距离下仍可保持高分辨率成像的特性，可将样品放置到样品舱室或高精度原位加载装置中进行高分辨率成像。Versa可与蔡司其它显微镜无缝集成，解决多尺度成像方面的挑战。

扫描NV探针显微镜SNVM 扫描NV探针显微镜（Scanning nitrogen-vacancy probe microscope，SNVM）是一款结合了金刚石氮-空位色心（Nitrogen-Vacancy, NV）光探测磁共振（Optically Detected Magnetic Resonance, ODMR）技术和原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）扫描成像技术的量子精密测量仪器，可实现对磁性样品高空间分辨率、高灵敏度、定量无损的磁成像。应用领域测试案例

KARTHALA AOD多光子随机扫描显微镜法国KARTHALA AOD多光子随机扫描显微镜。光遗传学（optogenetics）是一项整合了光学、软件控制、基因操作技术、电生理等多学科交叉的技术。自2005年，斯坦福大学Karl Deisseroth实验室通过在神经细胞中表达光敏蛋白，响应不同波长的光刺激实现对神经功能的调控，宣布人类正式拥有了操控大脑的工具。长久以来，我们对复杂的神经网络连接的理解仅停留在相关性上，有了光遗传学，我们终于有能力，微创地探究特定的神经环路和大脑功能之间的关系。为您介绍目前市场上专业的商业化多光子声光偏转器随机扫描成像，AOD多光子随机扫描显微镜AOD多光子随机扫描显微镜： 可用ASAP3进行神经动作电位成像全场成像非机械超快速扫描 10KHz/line在整个视场中的停留时间恒定且可调光遗传学双光子扫描：ROI成像可自由选择ROIsROIs之间的飞行速度为10us光遗传学扫描检测系统：任意访问点可自由选择的POIs高达100KHz/POI低于10nm的指向和可重复性光遗传学双光子扫描：随机访问区域超快速局部体积激发（ULOVE)20KHz/Vols全息体积扩展减少活体运动伪影提高光遗传学刺激效率目前世界范围内大多神经类仪器都是检测钙离子为主，而我们不仅仅是钙离子成像，还能做到神经电压指示器成像。这在市场上的其他厂家是无法做到的。AOD多光子随机扫描显微镜系统真正意义上的对神经动作电位进行扫描检测，有了光遗传学双光子扫描，终于有能力探究特定的神经环路和大脑功能之间的关联。法国KARTHALA AOD多光子随机扫描显微镜结合了多光子声光偏转器扫描，声光随机扫描使这一切都变成可能。

什么是扫描电子显微镜，泽攸科技小编给大家介绍一下扫描电子显微镜。1930年代和1940年代，除透射电子显微镜外，其他类型的电子显微镜，如扫描、发射、反射、场发射等也相继在德国提出和试验。 经过一段时间的断断续续，扫描电镜再次受到关注，在解决了一些关键技术问题后，发展迅速。 他可以直接观察块状物质的表面，并提供具有很强三维效果的图像。 因此，在科研和工业中得到了广泛的应用。 它已成为生产量很高的电子显微镜。接下来泽攸科技小编带大家深入探讨一下，什么是扫描电子显微镜。扫描电子显微镜（SEM）是介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察方法。 它利用聚焦的很窄的高能电子束对样品进行扫描，通过电子束与物质的相互作用，激发各种物理信息，对信息进行采集、放大、再成像，以观察表征物质的微观形态。扫描电子显微镜基本的功能仍然是放大镜的功能，它实现了人眼和光学显微镜无法观察到的样品更详细的特征。 广泛应用于材料科学研究、生物学、工业制造等领域。ZEM台式扫描电子显微镜扫描电子显微镜的制造是基于电子和物质的相互作用。 当一束高能入射电子轰击材料表面时，激发区会产生二次电子、俄歇电子、特征X射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子以及可见光、紫外光和红外光。 该区域产生的电磁辐射。 同时，还可以产生电子-空穴对、晶格振动（声子）和电子振荡（等离子体）。 原则上，可以利用电子与物质的相互作用来获得被测样品本身的各种物理化学性质，如形貌、成分、晶体结构、电子结构、内部电场或磁场等。扫描电子显微镜对我们来说似乎有点陌生，但它存在于我们的生活中。 我们需要进一步了解它，才能更好地利用它为人类创造价值。 希望今天小编介绍的关于什么是扫描电子显微镜的内容能给您的生活带来更多的帮助，从而在生活中取得进步。本文就是泽攸科技小编介绍的扫描电子显微镜，如果需要了解扫描电镜产品的价格请咨询：（微信同号）。 原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息，PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技，型号为高温拉伸台，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

产品简介：基于计算机断层扫描显微成像技术（micro-CT）的SKYSCAN 1272 CMOS，是一套创新的、高分辨率的台式三维X射线显微成像系统，整合了最新的X射线技术。行业领先的1600万像素sCMOS X射线探测器提供了卓越的分辨率，可生成高对比度图像。扩展的探测器视野和增强的X射线灵敏度使扫描时间缩短了一倍。每个切片的原始分辨率高达11200 x 11200像素，可以在不重新扫描样品的情况下放大到三维体积的任何部分。新的Clean Image&trade 扫描模式从一开始就大大减少了典型的CT伪影，从而提供了高质量的图像，无需繁琐的事后校正。顶级性能搭配极低的拥有成本。布鲁克台式SKYSCAN 1272 CMOS版可以放置在任何实验室的实验台上，无需占用大量昂贵的实验室空间。只需一个标准的家用电源插头即可运行，也不需要水冷或额外的压缩机。此外，工业级的密封X射线源是免维护的，因此也没有其他隐性成本。SKYSCAN 1272搭载3D.SUITE软件。这个全面的软件包涵盖了GPU加速重建、2D/3D形态学分析以及表面和体积渲染的可视化。产品参数：特点参数优势X射线源40-100 kV10 W＜5 um 点尺寸，4 W免维护、全密封的X射线源通过快速扫描实现质量控制，或4D XRMX射线探测器16 MP SCMOS 探测器(4096x4096 像素)排列精密的探测器可实现出色的分辨率样品尺寸深度:75 mm高度：80mm适用于小-中等尺寸样品自动进样器（可选）16种样品，直径最大可达25 mm外置无人值守，高通量大小样品随意组合随时添加/取出样品，不中断扫描过程尺寸（宽*深*高）1160 mm x520 mm x 330 mm重量 150 千克节省空间的、适合每一个实验室的台式系统电源100-240VAC，50-60Hz，最大3A安装需求最低，标准电源即能满足要求产品特点：先进的无损三维显微镜显微CT即Micro-CT，为三维X射线成像，与医用CT（或“CAT”）原理相同，可进行小尺寸、高精度扫描。通过对样品内部非常细微的结构进行无损成像，真正实现三维显微成像。无需样本品制备、嵌入、镀层或切薄片。单次扫描将能实现对样品对象的完整内部三维结构的完整成像，并且可以完好取回样本品。先进的扫描引擎—可变扫描几何可以提高成像质量，或将扫描时间缩短1/2到1/5支持重建、分析和逼真成像的软件套件自动样品切换器重点应用：骨应用SKYSCAN 1272延续了SKYSCAN 1072和SKYSCAN 1172，它们至少贡献了整个micro-CT骨形态测量文献的一半。它是高分辨率、高通量和易用性的基准。这使得它成为骨病模型（从骨质疏松症和关节炎到骨肿瘤和骨髓瘤）以及大规模基因表型的理想解决方案。SKYSCAN有着台式仪器的终极性能，体素大小为0.4 um，X射线电压20-100 kV，提供分辨率和对比度来分析骨骨细胞裂隙和血管管。高通量和自动批量扫描，包括一个可选的样品更换器，可预先加载16个样品，这是一个强大的设置，用于遗传筛选成千上万的表型，小鼠或斑马鱼的小梁和皮质骨参数。先进的3D图像分析功能包括相位对比/检索（Paganin，小角度），3D登记，可以灵活解决所有疾病模型和分析要求。骨形态测量（ASBMR命名法），具有全面的3D和2D参数，密度测量包括临床前尺寸范围内的BMD校准参考。软组织体外扫描是一种绝佳的显示生物组织内部结构的方法，它不会对生物组织造成破坏。造影剂或化学干燥可以通过进一步增强或区分密度来提高图像质量。SKYSCAN 1272 凭借其分辨率、易于样品处理和高通量成为此类成像的理想平台--这就是为什么您会发现许多论文都使用该扫描仪。该系统的典型应用是小鼠肺部肿瘤生长或血管的可视化。肺气肿和纤维化也清晰可见。桌面模型的终极性能，体素大小为0.4 um，X射线电压20-100 kV，提供分辨率和对比度至肺泡水平。在扫描过程中稳定这些脆弱或湿润的组织可能是一个挑战，一套特殊的布鲁克公司开发的标本室可以解决这个问题。完整的内部软件解决方案，用于肺部肿瘤形态分析，在CT-Analyser软件中自动分离肺部和其他组织。植物和动物micro-CT 对于动植物组织内部结构的最细微处的可视化效果特别好。这种成像方法可以在不伤害或破坏扫描对象的情况下区分密度。这就是为什么动物学和植物学是快速发展的micro-CT 应用，而SKYSCAN 1272 用户走在了前列。可以用最少或不需要样品处理的方式，对各种不同的生物体进行可视化和分析。高分辨率扫描，物体检测低至0.4 um，结合1100万或1600万像素摄像头，在有用的体积内实现高分辨率。由于源的连续电压范围和6 个内部能量过滤器，可以保证为每个不同的样品提供完美的扫描设置。全面的三维图像分析能力，包括形态测量和密度测量、相位对比/检索（Paganin，小角度）、三维配准、分割和高级图像处理方法。

SKYSCAN 2214 CMOS Edition – 多量程纳米级三维X射线显微镜多量程纳米级三维X射线显微镜SKYSCAN 2214 CMOS涵盖了完普遍的物体尺寸和空间分辨率，能够对石油和天然气勘探中的地质材料、复合材料、锂电池、燃料电池、电子组件以及体外临床前应用（如肺部成像或**血管化）进行先进的三维成像和精确建模。该仪器既可以对直径大于300毫米的物体的内部微观结构进行扫描和三维无损重建，也可以对小样品进行亚微米级的分辨。另外，该系统配备了一个0.5微米大小的 "开放型 "透射X射线源和一个金刚石窗口。它可容纳四个X射线探测器，具有极大的灵活性。自动可变的采集几何和相位对比度增强可以在相对较短的扫描时间内实现优秀质量。SKYSCAN 2214 CMOS将为用户免费提供全套的3D Suits软件套装。这个的软件套装涵盖了GPU加速重建、二维/三维形态学分析以及表面和体积渲染可视化等用户所需的全部功能。并且该软件套装可以进行免费升级。主要特点：● X射线光源SKYSCAN 2214采用最新一代的开放型X光源。该光源可达到优于500 nm的实际空间分辨率，高达160 keV的X光能量，以及高达16 W的功率。因为拥有极其简单的预先配准的灯丝更换程序，该光源几乎不需要维护。SKYSCAN 2214拥有带金刚石窗口的开放型（泵式）纳米焦点X光源。它能产生峰能量从20 kV到160 keV不等的X光束，并提供有两种类型的阴极。钨（W）阴极适用于最高达到160 kV的完整加速电压范围，光斑尺寸最小达到800 nm。六硼化镧（LaB6）阴极适用于从20 kV到100 kV的加速电压，X光束的光斑尺寸可以小于500 nm，从而确保在成像和三维重建中达到最高分辨率。JIMA分辨率测试卡显示，它能轻松解析出500 nm的结构。为了确保焦斑尺寸和发射源的位置能够长期保持稳定，X光源还能配备水冷系统，该系统含有一个循环装置，能精准地控制冷却液体的温度以维持温度的稳定。● 探测器SKYSCAN 2214最多可以配备4个X射线探测器，以获得最大的灵活性：其中包括三台具有不同分辨率和视场平衡的科研及sCMOS探测器，以及一台平板探测器以覆盖超大视场。用户只需点击一下鼠标，就可以进行探测器间的任意切换。使用小像素的大尺寸CMOS探测器可以将高分辨率的三维成像扩展到大型物体。内置探测器的灵活性使其能够根据物体的大小和密度来调整视场和空间分辨率。从感兴趣的体积进行先进的重建，从而在不影响图像质量的情况下对大型物体的选定部分进行局部高分辨率扫描。此外，通过使用偏移的探测器位置和垂直方向的物体移动，可以分别增加水平和垂直的视场。之后，3D.SUITE软件自动将不同的图像拼接在一起，并对偏移和可能的强度差异进行准确的补偿。随着研究课题和分析需求的发展，探测器可以在系统使用期内的任何时间点进行现场升级。● 原位实验台SKYSCAN 2214 CMOS Edition拥有高度精准的样品台，支持直径达到300 mm和重量达到20 kg的物体。空气悬浮式旋转马达能以非常高的准确度精准地旋转物体位置，集成的精密定位平台能保证样品完全对准。SKYSCAN 2214 CMOS Edition拥有一个很大的且使用方便的样品室，方便扫描大型物体和安装可选的试验台。它有足够的空间可供容纳原位试验台等外围设备。Bruker的材料试验台可以进行最大4400 N的压缩试验和最大440 N的拉伸试验。所有试验台都能通过系统的旋转台自动联系到一起，而无需任何外接线缆。通过使用所提供的软件，可以设置预定扫描试验。布鲁克的加热台和冷却台可以达到最高+80º C或最低低于环境温度低30º C的温度。和其它的试验台一样，加热和冷却台也不需要任何额外的连接，系统可以自动地识别不同的试验台。通过使用加热台和冷却台，可在非环境条件下检测样品，从而评估温度对样品微观结构的影响。SKYSCAN 2214 CMOS Edition与DEBEN试验台完全兼容。借助自带的适配器，DEBEN试验台可以很容易地被安装到SKYSCAN 2214的旋转台上。高低温原位试验台力学拉伸/压缩原位试验台兼容Deben样品台

仪器简介：Nanite 原子力显微镜系统是纳米测量和成像的完美工具。该系统提供三维数据。原子力显微镜测量是非破坏性的，无需制备样品。此外，机械运动平台允许批量的，预编程测量，使用大型花岗岩自动X/Y/Z样品台可测试尺寸达180mm样品的不同区域，用户甚至可以定制更大的移动样品台。Nanite设计灵活、操作简单，是您理想的全自动研究级AFM系统。瑞士Nanosurf公司，全球知名的专业研发扫描探针原子力显微镜制造商和技术服务供应商，在扫描探针原子力显微镜领域有超过15年的研发经验，一直致力于新型扫描探针原子力显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持，同时还提供纳米技术的OEM 客户定制，外包等业务。技术参数：原子力显微镜测量模式: 接触式原子力显微镜，真正非接触式原子力显微镜，横向力/摩擦力显微镜（LFM），导电原子力显微镜，磁力显微镜（MFM），开尔文探针（Kelvin Probe），扫描热原子力显微镜（SThM），电容和静电力显微镜（EFM），高级的纳米光刻和纳米操作能力，音叉原子力显微镜，三维扫描成像。 ● 原子力显微镜扫描器最大测量范围：110um X & Y range，22um Z range ● 大尺寸样品台，全自动测量最大直径为160mm样品。 ● PZT/Voice Coil双模式技术AFM ● 全自动运动平台，马达驱动 ● 专利批处理软件，自动图像拼接缝合技术，可以测量超大样品的三维形貌像 ● 先进的32-bit DSP控制器，专利反馈技术(扫描范围10um时最高扫描20 Hz,消除爬行现象) ● 可以进行纳米压痕和划痕实验 ● 专利光学系统， XY闭环扫描技术 ● 独特开放性软硬件构架设计, 并开放所有源代码供您的二次开发主要特点：● 原子力显微镜扫描器最大测量范围：110um X & Y range，22um Z range● 大尺寸样品台，全自动测量最大直径为160mm样品。● PZT/Voice Coil双模式技术AFM● 全自动运动平台，马达驱动● 专利批处理软件，自动图像拼接缝合技术，可以测量超大样品的三维形貌像● 先进的32-bit DSP控制器，专利反馈技术(扫描范围10um时最高扫描20 Hz,消除爬行现象)● 可以进行纳米压痕和划痕实验● 专利光学系统， XY闭环扫描技术● 独特开放性软硬件构架设计, 并开放所有源代码供您的二次开发

TESCAN CoreTOM针对地球科学领域应用优化的多尺度X射线显微镜成像系统 TESCAN CoreTOM 可以在实验室中完美的兼具医学X射线成像 的大视野和X射线显微镜的高分辨成像，可以对长达 1米（约3 英尺）的完整岩芯进行成像，也能够对毫米级微型岩塞或岩屑进行优于3 μm 的高分辨成像。因此，TESCAN CoreTOM 是一款从岩心到孔隙的多尺度成像的理想系统。TESCAN CoreTOM 配置了高能量的 X 射线源，可实现高通量和快速动态成像，进行采集时间分辨率小于10秒的完整的3D成像。 主要优势 ※ 多尺度成像 TESCAN CoreTOM 专门为处理各种尺寸的地质样品而设计，样品尺寸范围大到长度为1米的整体岩心，小到毫米级微型岩塞或岩屑。TESCAN CoreTOM 可以快速获得完整岩心内部分层、异质性和其它尺度特征的3D全景扫描，也可以获得高分辨率扫描以展示岩塞或岩屑中的孔隙。 ※ 高通量设备配置了高功率 X 射线源、高效率的探测器和软件协议，三者的优化组合为客户提供一个最高效的系统，也进一步提高了样品的处理速度和图像衬度，时间分辨率也可以达到了10秒以内。 ※ 感兴趣区域的直观观测 可在概览图上选择感兴趣区域进行实时缩放，获得孔隙结构和矿物的细节信息。 ※ 快速扫描和超高分析效率 高能量 X 射线源和多种信噪比优化功能相结合，可以在保证图像质量的情况下缩短扫描时间。 ※ 动态原位成像 集成的原位样品台，优化了流体管路和传感器线路，以及专用的四维采集和重构流程，可实现快速动态成像。 获得高分辨率数据而不会损失大图像的完整性 CoreTOM 非常适用于较大体积样品（例如如地质样品）的多尺度和多分辨率成像。在石油和天然气研究等应用领域，矿石和采矿以及环境科学需要一种多分辨率观测方法，首先需要获取样品的完整及有代表性的信息，对 1.5 m 以下的整个岩心样品进行成像，以提供内部变化的整体参照。然后利用概览图像实时放大所选区域，获得孔隙结构或矿物的详细信息。 Acquila软件Acquila是一个用于断层图像采集和3维重构(GPU优化)的模块化软件，可以最大限度为集成设备后的复杂实验提供协助。Acquila软件能够运行在标准的、自动化的或定制的微型CT上，并实现图像采集、重建和外围实验设备(现场设备)之间的无缝集成。

便携式扫描电子显微镜Mochii&trade 扫描电子显微镜是一个真正便携的化学识别和纳米成像平台。新款Mochii&trade S型扫描电子显微镜还集成了紧凑型能量色散X射线光谱仪。Mochii&trade 扫描电子显微镜 开箱即用，功能齐全，为您的探索做好准备。Mochii&trade 扫描电子显微镜凭借独特的无线平板电脑接口和轻巧的设计，可以带着您的平板电脑参加大楼里甚至全国各地的会议，也可在家或样品现场，随时随地探索您的纳米级样品。 Mochii&trade 扫描电子显微镜指标参数：界面 Apple iDevice (iOS 10 or higher)平台 Two-axis automated stage (base model) 20 x 20 x 20 mm sample size成像部分 Fully pre-aligned Source potential: 10 kV magnification: 5000x Quadrant backscatter array detector Auto-calibration物理参数 Dimensions: 210x210x265 mm Compact outboard supply unit Power: 110-240VAC, 50-60Hz Complete system weight: 13 kgMochii&trade 扫描电子显微镜实拍图例:更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

场发射扫描电子显微镜SEM4000Pro是一款先进的分析仪器，它结合了场发射电子源的高亮度和高分辨率特性，为用户提供卓越的表面成像和微区分析能力。该设备适用于材料科学、生物学、地质学等多个领域的研究和质量控制。SEM4000Pro采用了最新的电子光学系统设计，能够达到亚纳米级别的分辨率，即使在高放大倍数下也能提供清晰、细腻的图像。其独特的场发射电子枪技术，确保了稳定的高亮度电子束输出，从而获得高质量的图像和分析数据。此外，SEM4000Pro配备了先进的电子探测器系统，包括二次电子探测器、背散射电子探测器等，能够满足不同样品的成像需求。用户可以通过这些探测器获取样品表面的形貌、成分和晶体结构等信息。该显微镜还具备强大的样品处理能力，支持多种样品的加载，包括固体、粉末、薄膜等，并且具有高真空和低真空模式，以适应不同样品的测试环境。用户界面友好，操作简便，配合智能软件系统，可以轻松完成样品的定位、成像和分析。总之，场发射扫描电子显微镜SEM4000Pro是科研和工业领域中不可或缺的精密分析工具，它以卓越的性能和广泛的适用性，为用户提供了深入研究材料特性的强大支持。当然，以下是关于场发射扫描电子显微镜SEM4000Pro产品介绍的续写：除了上述的卓越性能外，SEM4000Pro还具备一系列高级功能，进一步提升了其在科研和工业应用中的价值。首先，该显微镜支持三维成像技术，通过收集不同角度的二次电子信号，可以重建出样品表面的三维形貌。这一功能对于研究复杂结构材料的表面形态、孔隙分布等具有重要意义，为科研人员提供了更加直观、全面的样品信息。其次，SEM4000Pro还配备了能量色散X射线光谱仪（EDS）等附件，能够在观察样品形貌的同时，进行元素成分分析。通过EDS分析，用户可以快速获取样品表面的元素种类、含量及分布信息，为材料表征和性能研究提供有力支持。此外，该显微镜还具备自动化控制和远程操作功能。用户可以通过计算机远程控制显微镜的各项参数，实现样品的自动扫描、成像和分析。这一功能不仅提高了工作效率，还降低了操作难度，使得更多科研人员能够轻松上手使用。在维护和保养方面，SEM4000Pro也表现出色。其设计充分考虑了易维护性和耐用性，使得设备的日常维护和保养变得简单快捷。同时，金山办公及其合作伙伴还提供专业的售后服务和技术支持，确保用户在使用过程中遇到任何问题都能得到及时解决。综上所述，场发射扫描电子显微镜SEM4000Pro凭借其卓越的性能、丰富的功能、便捷的操作以及专业的售后服务，成为了科研和工业领域中备受推崇的精密分析工具。无论是材料科学家、生物学家还是地质学家，都能在这款设备的帮助下，深入探索未知领域，推动科学研究的进步和发展。