当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

扫描运动

仪器信息网扫描运动专题为您整合扫描运动相关的最新文章,在扫描运动专题,您不仅可以免费浏览扫描运动的资讯, 同时您还可以浏览扫描运动的相关资料、解决方案,参与社区扫描运动话题讨论。

扫描运动相关的论坛

  • 扫描电镜技术总结

    扫描电镜技术原理及方法:   原理:从电子枪阴极发出的直径20(m~30(m的电子束,受到阴阳极之间加速电压的作用,射向镜筒,经过聚光镜及物镜的会聚作用,缩小成直径约几毫微米的电子探针。在物镜上部的扫描线圈的作用下,电子探针在样品表面作光栅状扫描并且激发出多种电子信号。这些电子信号被相应的检测器检测,经过放大、转换,变成电压信号,最后被送到显像管的栅极上并且调制显像管的亮度。显像管中的电子束在荧光屏上也作光栅状扫描,并且这种扫描运动与样品表面的电子束的扫描运动严格同步,这样即获得衬度与所接收信号强度相对应的扫描电子像,这种图象反映了样品表面的形貌特征。第二节扫描电镜生物样品制备技术大多数生物样品都含有水分,而且比较柔软,因此,在进行扫描电镜观察前,要对样品作相应的处理。扫描电镜样品制备的主要要求是:尽可能使样品的表面结构保存好,没有变形和污染,样品干燥并且有良好导电性能。一.样品的初步处理(一) 取材取材的基本要求和透射电镜样品制备相同。但是,对扫描电镜来说,样品可以稍大些,面积可达8mm×8mm,厚度可达5mm。对于易卷曲的样品如血管、胃肠道粘膜等,可固定在滤纸或卡片纸上,以充分暴露待观察的组织表面。(二) 样品的清洗用扫描电镜观察的部位常常是样品的表面,即组织的游离面。由于样品取自活体组织,其表面常有血液、组织液或粘液附着,这会遮盖样品的表面结构,影响观察。因此,在样品固定之前,要将这些附着物清洗干净。(三) 固定固定所用的试剂和透射电镜样品制备相同,常用戊二醛及锇酸双固定。由于样品体积较大,固定时间应适当延长。也可用快速冷冻固定。(四) 脱水样品经漂洗后用逐级增高浓度的酒精或丙酮脱水,然后进入中间液,一般用醋酸异戊酯作中间液。二.样品的干燥扫描电镜观察样品要求在高真空中进行。无论是水或脱水溶液,在高真空中都会产生剧烈地汽化,不仅影响真空度、污染样品,还会破坏样品的微细结构。三.样品的导电处理生物样品经过脱水、干燥处理后,其表面不带电,导电性能也差。用扫描电镜观察时,当入射电子束打到样品上,会在样品表面产生电荷的积累,形成充电和放电效应,影响对图象的观察和拍照记录。

  • 关于布鲁克D8扫描模式的一些问题。

    仪器设备:Bruker D8 Discover请教它的scan type:2Theta/Omega、Locked Coupled、 PSD Fix Scan、Theta_f Scan、Pulse Height Analysis这些扫描模式有何异同?在这些扫描模式下下tube 和Detector是怎么运动的?

  • 【转帖】扫描电子显微镜的应用

    新设备简介扫描电子显微镜的应用扫描电子显微镜是一种多功能的仪器、具有很多优越的性能、是用途最为广泛的一种仪器.它可以进行如下基本分析:(1)三维形貌的观察和分析;(2)在观察形貌的同时,进行微区的成分分析。①观察纳米材料,所谓纳米材料就是指组成材料的颗粒或微晶尺寸在0.1-100nm范围内,在保持表面洁净的条件下加压成型而得到的固体材料。纳米材料具有许多与晶体、非晶态不同的、独特的物理化学性质。纳米材料有着广阔的发展前景,将成为未来材料研究的重点方向。扫描电子显微镜的一个重要特点就是具有很高的分辨率。现已广泛用于观察纳米材料。②进口材料断口的分析:扫描电子显微镜的另一个重要特点是景深大,图象富立体感。扫描电子显微镜的焦深比透射电子显微镜大10倍,比光学显微镜大几百倍。由于图象景深大,故所得扫描电子象富有立体感,具有三维形态,能够提供比其他显微镜多得多的信息,这个特点对使用者很有价值。扫描电子显微镜所显示饿断口形貌从深层次,高景深的角度呈现材料断裂的本质,在教学、科研和生产中,有不可替代的作用,在材料断裂原因的分析、事故原因的分析已经工艺合理性的判定等方面是一个强有力的手段。③直接观察大试样的原始表面,它能够直接观察直径100mm,高50mm,或更大尺寸的试样,对试样的形状没有任何限制,粗糙表面也能观察,这便免除了制备样品的麻烦,而且能真实观察试样本身物质成分不同的衬度(背反射电子象)。④观察厚试样,其在观察厚试样时,能得到高的分辨率和最真实的形貌。扫描电子显微的分辨率介于光学显微镜和透射电子显微镜之间,但在对厚块试样的观察进行比较时,因为在透射电子显微镜中还要采用复膜方法,而复膜的分辨率通常只能达到10nm,且观察的不是试样本身。因此,用扫描电子显微镜观察厚块试样更有利,更能得到真实的试样表面资料。⑤观察试样的各个区域的细节。试样在样品室中可动的范围非常大,其他方式显微镜的工作距离通常只有2-3cm,故实际上只许可试样在两度空间内运动,但在扫描电子显微镜中则不同。由于工作距离大(可大于20mm)。焦深大(比透射电子显微镜大10倍)。样品室的空间也大。因此,可以让试样在三度空间内有6个自由度运动(即三度空间平移、三度空间旋转)。且可动范围大,这对观察不规则形状试样的各个区域带来极大的方便。⑥在大视场、低放大倍数下观察样品,用扫描电子显微镜观察试样的视场大。在扫描电子显微镜中,能同时观察试样的视场范围F由下式来确定:F=L/M式中 F——视场范围;M——观察时的放大倍数;L——显象管的荧光屏尺寸。 若扫描电镜采用30cm(12英寸)的显象管,放大倍数15倍时,其视场范围可达20mm,大视场、低倍数观察样品的形貌对有些领域是很必要的,如刑事侦察和考古。⑦进行从高倍到低倍的连续观察,放大倍数的可变范围很宽,且不用经常对焦。扫描电子显微镜的放大倍数范围很宽(从5到20万倍连续可调),且一次聚焦好后即可从高倍到低倍、从低倍到高倍连续观察,不用重新聚焦,这对进行事故分析特别方便。⑧观察生物试样。因电子照射而发生试样的损伤和污染程度很小。同其他方式的电子显微镜比较,因为观察时所用的电子探针电流小(一般约为10-10 -10-12A)电子探针的束斑尺寸小(通常是5nm到几十纳米),电子探针的能量也比较小(加速电压可以小到2kV)。而且不是固定一点照射试样,而是以光栅状扫描方式照射试样。因此,由于电子照射面发生试样的损伤和污染程度很小,这一点对观察一些生物试样特别重要。⑨进行动态观察。在扫描电子显微镜中,成象的信息主要是电子信息,根据近代的电子工业技术水平,即使高速变化的电子信息,也能毫不困难的及时接收、处理和储存,故可进行一些动态过程的观察,如果在样品室内装有加热、冷却、弯曲、拉伸和离子刻蚀等附件,则可以通过电视装置,观察相变、断烈等动态的变化过程。⑩从试样表面形貌获得多方面资料,在扫描电子显微镜中,不仅可以利用入射电子和试样相互作用产生各种信息来成象,而且可以通过信号处理方法,获得多种图象的特殊显示方法,还可以从试样的表面形貌获得多方面资料。因为扫描电子象不是同时记录的,它是分解为近百万个逐次依此记录构成的。因而使得扫描电子显微镜除了观察表面形貌外还能进行成分和元素的分析,以及通过电子通道花样进行结晶学分析,选区尺寸可以从10μm到3μm。由于扫描电子显微镜具有上述特点和功能,所以越来越受到科研人员的重视,用途日益广泛。现在扫描电子显微镜已广泛用于材料科学(金属材料、非金属材料、钠米材料)、冶金、生物学、医学、半导体材料与器件、地质勘探、病虫害的防治、灾害(火灾、失效分析)鉴定、刑事侦察、宝石鉴定、工业生产中的产品质量鉴定及生产工艺控制等。[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=79549]扫描电子显微镜的应用[/url]

  • 2016国产磁测量好仪器系列之五:磁场测量扫描成像系统F-30

    2016国产磁测量好仪器系列之五:磁场测量扫描成像系统F-30

    2016国产磁测量好仪器系列之五:磁场测量扫描成像系统F-30原创:李响、杨文振、薜立强、冀石磊、郑文京 工程师,北京翠海佳诚磁电科技有限责任公司推荐:陆俊 工程师,中科院物理所磁学室2016年10月28日一句话推荐理由:国产半导体器件的骄傲之作应用在中强磁场测量上的好仪器。一、引言 磁场无形,但又无处不在,无时无刻不在直接或间接的影响着我们的生活,比如地磁、磁卡、电机、变压充电器、电磁炉、微波炉、手机、磁盘、钞票、耳麦、磁悬浮列车、核磁共振成像仪这些让我们每天都在和各种各样的磁场打交道,然而对于磁场如何衡量,如何产生如何测量恐怕较少有人去关注,简单概括几点:一是磁场的单位,常用的单位是奥斯特,国际单位安每米比较小(1 Oe ~ 79.6 A/m),注意严格来讲不要将单位表达成高斯或特斯拉这两个磁感应强度单位,因为磁场强度和磁感应强度概念上完全不同,尽管二者可根据(经常以空气或真空的)磁导率相互变换,即1奥斯特磁场在真空或空气中诱导的磁感应强度为1高斯或万分之一特斯拉。二是磁场的产生,首先地球是跟我们关系最密切的磁场源,地表磁场大约为0.5奥斯特,随纬度升高有缓慢增强趋势;其次是为了产生变化磁场,可以通过永磁体机械组装的方式,也可以使用线圈中通过电流的方式,根据线圈材料或结构的不同可以形成不同类型的通电线圈磁场源,比如超导线圈在不消耗能量情况下维持100kOe以上的磁场,高强度导电材料及结构制成的1MOe以上的脉冲强磁场;还有一种和磁场产生相反,要尽可能减少磁场,以防止地球磁场或其他干扰磁场对精密传感器造成不利影响,破坏极端条件探索、精密标定测量等任务,这时要用到消磁措施,可以使用主动电流对消与被动屏蔽两种方法,综合利用消磁技术,我们可以获得比地磁场弱10个数量级的洁净磁场环境。三是磁场的测量,相比产生技术方法,磁场测量要复杂得多,其类型有电磁感应、霍尔、磁阻、磁电、磁光、磁致伸缩、磁共振及非线性磁效应等基本原理,其中值得一提的几个包括最通用且测量范围最广的感应线圈磁探测器、前沿科学探索中常用的超导量子干涉仪(SQUID)、地磁或空间磁场探测中常用的磁通门或原子光泵磁力仪、智能手机里植入的各向异性磁阻AMR芯片、磁场计量常用的核磁共振磁力仪以及跟电磁相关的生产及科研任务中常见的中等强度磁场(地磁场上下四个数量级之间)测量上最常见最常用的霍尔磁场计。以上关于磁场的量级、产生与测量方法比较汇总于图1,在中等磁场强度测量应用最广泛的为霍尔传感器,虽然它没有核磁共振磁力仪ppm级的高精度,但它同时具备足够的精密度(通常约千分之一)、高空间分辨、高线性度、单一传感器宽测量范围、成本又相对较低等明显优势,因而市面上高斯计、特斯拉计等中等强度磁场测量仪绝大多数基于霍尔传感器,本文介绍的磁测量产品也基于霍尔磁场计,在前述磁相关的器件及应用产品的质量控制、监护与升级过程中扮演着不可缺少的角色。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/11/201611101944_616260_0_3.png图1 磁场的量级、不同产生与测量方法比较概览图二、背景中科院半导体所从20世纪80年代始研究高迁移率砷化镓(GaAs)霍尔器件,后来经过两代人的薪火传承克服半导体材料制备、内置温度补偿器件设计与测量数字化采样及软件优化上的技术难题逐渐发展成熟,最终落地北京翠海公司,形成CH-1800,CH3600等被用户认可的高斯计产品。近些年为了配合电磁制造业质量提升的业界需求,为电机磁体、核磁共振磁体空间均匀性、多级磁体分布提供系统的测量方案,翠海公司在高斯计的基础上增加无磁运动机构和软件集成,开发出F-30磁场测量扫描成像仪,照片如图2所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/11/201611101944_616259_0_3.jpg图2 F-30 型磁场测量扫描成像设备照片三、简介F-30由上位机(装有控制软件)、高精度高斯计(一维或者三维)、与高斯计搭配的探头、多维电控位移台以及位移台的控制器组成,如图3所示。简单来说可以分为两个部分,一部分只是用来采集数据,另一部分只是位移,两个部分搭配起来就组成了这个位移采集系统。位移模块由多维电控位移台和位移台控制器组成,通过操作上位机软件给控制器下命令,控制器就根据命令带动电控位移台各个轴运动,这个电控位移台的参数(台面大小、运动轴长度、运动方式、多少维度)用户可定制,即实现在允许范围内的各个角度、各种形状的扫描。 数据采集模块由高精度高斯计和与高斯计配套的探头组成,电控位移台的轴上有固定的探头夹持位置,采集数据时将探头放在夹持位置上,探头测量的数据实时上传到高斯计上,而高斯计与上位机软件通信连接,上位机则根据需要选择是否记录当前位置的数据。通过上位机软件控制位移台控制器和高斯计,可以将位移台上某个位置与高斯计读到的数据值相关联,一维高斯计读到的就是运动到的点对应的某个方向的数据值,三维高斯计则是一个点上 X 方向的值、Y 方向的值、Z 方向的值、此点上的温度(根据需要探头和高斯计中可有温度补偿功能)及三轴中两两矢量和、总矢量和的数值大小和方向夹角,扫描的数据可以导出保存在 EXCEl 中,根据位置和数据值可由软件绘制出各种需要的示意图:二维标准图、二维颠倒图、二维雷达图、三维曲线图、三维网状图、三维立体图、矢量图、圆柱展开图及多条曲线或多个立体图放在同一张图中进行对照比较。软件中还对常见的几种形状(空间磁场分布、矩形图、磁环、同心圆等)的扫描进行了集成化,只需设置几个参数便可以自动进行扫描,自由度高,精准度高,无需看管。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/11/201611101944_616261_0_3.png图3 F-30型磁场测量扫描成像仪组成框图F-30根据不同的测量件需求可以定制,磁场测量部件的主要技术指标如表1,传感器照片如图4,其测量方向、维度以及尺寸都可以根据需要定制。 关于磁场扫描成像时间,(1)常规扫描:每点扫描时间可设置,一般为保证数据的稳定性,在每点的停留时间为1~2s,总时间由测试工件尺寸和扫描步长决定;(2)快速扫描模式:在位移台运动过程中不做停留,通过高速数据采集获得每点磁场值每点测量可小于0.1s。表1: F-30磁场测量部件主要指标http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/11/201611101944_616269_0_3.jpg运动部件有三个平移与两个旋转自由度,大致示意图如图5,典型测试场景及系统软件照片如图6所示,运动部件指标表2。表2 F-30运动学指标列表http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images

  • 【转帖】美科学家新技术让扫描隧道显微镜变快100倍

    据国外媒体报道,来自美国康奈尔大学和波士顿大学的科学家近日称,他们最近开发出一种新技术,能够让扫描隧道显微镜(STM)成像速度加快100倍,可以清晰地观测到原子的细微变化情况。  这是一个简单的改动,其原理基于目前在纳米电子学中应用的一种测量方法,却使得扫描隧道显微镜(STM)拥有了新的能力--包括感应单个原子大小的小点的温度,以及探测精确到0.00000000000001米(这是比原子直径小3万分之一的距离)的微型变化。扫描隧道显微镜是根据量子力学中的隧道效应原理,通过探测固体表面原子中电子的隧道电流来分辨固体表面形貌的新型显微装置。1981年,世界上第一台具有原子分辨率的扫描隧道显微镜诞生后,人类实现了从半导体技术到纳米电子学等许多领域的重大发现。  然而,由于电流可以在十亿分之一秒中发生变化,因此扫描隧道显微镜的测量速度极其缓慢。而且限制因素并不仅仅在于信号方面,还在于信号分析中涉及的基本电子学。理论上,扫描隧道显微镜可以跟电子通过隧道一样迅速地收集数据——以一千兆赫的速率(每秒10亿周波)。然而,典型扫描隧道显微镜的运行速度常常因电线中的电容或储能电容器的限制而减慢至1千赫(每秒1000周波),而这些电线正是其读出电路系统的组成部分。  为此,研究人员们曾尝试过许多复杂的补救方法。康奈尔大学物理学副教授舒瓦布表示,不料最后的解决方法竟是惊人的简单。研究人员表示,通过增加一个额外的射频波源,并通过一个简单的网络向扫描隧道显微镜发送一个波,然后就可以依据返回至射频波源的波的特点,探测隧道接口(即探针和固体表面之间的距离)的电阻。这项技术被称为反射计,它使用标准的电线作为高频波的通道,这种高频波不会受电线电容的限制而减速。  该装置还为原子分辨率温度测量法和运动探测法提供了可能,可以用来测量比原子小3万倍距离的运动。舒瓦布说:“频率的基本极限与人们的操作之间有6个量级。有了射频配合,速度就可以增加100到1000倍,希望能或多或少得到些视频图像。有了这个技术,我们就可以用扫描隧道显微镜来进行许多物理实验。我坚信,10年后将出现一大批射频-扫描隧道显微镜,被用来进行各种各样的实验。”(

  • 三维扫描工程逆向技术应用的行业范围

    三维扫描工程逆向技术应用的行业范围模具样品开发:汽机车类、家电制品、运动器材、制鞋、玩具、陶瓷等。快速原型制作:古董、人像、艺术品、卡通人物、玩具等。人体形状测量:人体外形测量、医疗器材制作等。造型设计:立体动画、多媒体虚拟实景、广告动画等。1 三维扫描工程逆向技术对国内的汽车制造业具有重要意义目前,我国成为汽车消费大国,但汽车设计与制造与国外还有相当差距,为了提高产品档次,国内企业大量进口了国外的配件或成品车,然而单纯引进成品而不注意引进技术,对我国汽车行业的技术提升是相当不利的,且会减少企业的利润空间。因此,企业在进口的同时,还要能够善于对引进的技术进行深人研究,探索引进产品中的关键技术并进行消化吸收和改进创新,对于车型的更新,最主要的工作就是获得原有车型的几何模型(其中大型覆盖件的设计是整个新车型开发的关键),基于逆向技术(三维扫描工程技术)、CAD/CAM技术(曲面构建、模型重建)是目前获取几何模型应用最广的方法。长沙多维测量设备有限公司生产的三维动态、高速扫描系统是理想的选择。运用三维扫描工程可以获得原有零件的三维数据,建构出三维模型,如果把此图形编译成刀路加工代码,就可以复制生产出和原零件一样的产品了;再根据国情或者实际需求,在此三维模型上进行修改创新,可以设计成更符合国内习惯或者具有其它功能的新产品。可见,逆向工程技术对于加速我国汽车制造业的发展具有非常重要的现实意义,是提高我国汽车制造技术水平、缩短与发达国家差距的一个捷径。2 基于三维扫描工程逆向技术的玩具设计与生产目前,我国中、小玩具加工企业大多是根据客户提供的图形设计生产玩具,客户提供的图片多属二维平面图,且造型各不相同,设计人员看图裁剪制作,并配色加工样品,样品制成后再与图片对照作修改,因而,主要依赖设计人员的空间想象力和设计经验,一个样品须经多次修改才能定型,设计手段原始,导致产品开发周期长,成本高,缺乏市场竞争优势。借助于三维扫描逆向工程技术,依据二维图片,利用油泥等材料进行三维实体模型制作,通过三维数据测量技术将实物(油泥等)模型表面数字化,再利用反求软件进行曲面重构,生成三维CAD模型。这样可以从根本上更新玩具的设计手段,缩短产品开发周期,提高设计质量。长沙多维测量设备有限公司生产的转台式的激光扫描仪就是针对这样的客户而设计的,操作简单,价格实惠。3 基于三维扫描工程的鞋楦逆向设计,以实现量脚订制鞋楦是制鞋的基础和重要模具,鞋楦作为鞋子的母体,不仅决定了鞋子的长短肥瘦和造型,还决定了鞋子穿着舒适性,因此,鞋楦的形状至关重要。每个人的脚的形状各不一样,要想最大程度的实现量脚订制,每人制作一个鞋楦,是不切实际的。而借助于逆向工程却可以实现。将已有的标准鞋楦进行三维测量,将模型数据化,再用相关软件对鞋楦曲面进行三维实体造型,得到标准鞋楦的三维图形。利用造型设计工具,根据顾客的脚型数据改动鞋楦的轮廓和截面特征,并据此对脚型的实测数据进行修改,就可以得到新的鞋楦造型数据,然后生成加工代码就可以制造鞋楦了。这样人们就可以量脚订制出完全符合自己脚形的鞋子了(鞋楦的三维数字化测量系统)。长沙多维测量设备有限公司生产的台式抄数机维您提供最优质、简便的方案,低廉的投入,超值的回报。4 三维扫描工程逆向技术在现代服装生产行业大有用途服装合体性是服装生产的一大关键,也是消费者最为关心的一项指标。而目前,服装的合体性还不能很好的满足消费者的需求,量身定做还主要依靠传统的人工测量方法,实现速度比较慢。如果应用三维扫描工程逆向技术,采用三维扫描仪进行人体尺寸的测量,扫描输出的数据可直接用于服装设计软件,为实现量身定制、实现服装电子商务提供了可能。同时,利用这种方法,还可以建立人体数据库,以便对人体的尺寸、体形特征进行分析,从而为更好的制定服装号型提供依据;也可以建立个性化虚拟平台,在虚拟平台上进行交互式立体设计,同时配合相应软件可生成二维的服装样板片,为原型板的建立和服装样板的系列化设计提供快捷、便利的研究方案。三维扫描工程逆向技术的运用使服装生产和设计更具个性化和人性化,提高了服装的适体性,是实现现代化、数字化服装批量生产,个性化生产及服装电子商务的有效手段,是服装工业迅速发展建立快速反应模式的必要技术支撑。5 需要模压成型的纺织品的成型模具的制造有些纺织品需要根据最终产品的形状进行加工,以形成整体的无缝立体形态,此时就需要采用模压成型(CompressionMolding)的方法。而用于模压成型的成型模具对于产品成型至关重要,要求它与制成品具有良好的形状适应性和尺寸精度,而此类制成品的形状往往比较特殊,由不规则曲面构成,用传统的测量方法很难实现良好的形状再现,此时,借助于三维扫描工程逆向技术进行设计制造便可事半功倍。目前模压纺织制品主要见于妇女内衣、泳衣、运动装,以及一些医用、军用、航空航天用、汽车用、建筑用产品及运动器材,如罩杯、垫肩、头盔、潜水镜、航空服装、座椅垫、医用矫形器件、建筑构件等。6 三维扫描工程逆向技术对人体还原起重大作用口腔组织的数据采集是计算机辅助设计与计算机辅助制造(CAD/CAM)系统的重要组成部分三维扫描技术具有使用方便、抗干扰能力强、自动立体重构、可重复性强等优点.国内外学者应用三维扫描仪构建了数字化的牙颌模型、眼、耳、鼻等颌面赝复体,应用三维扫描仪重建牙预备体并分析其获取数据的可靠性。目前,只有我国能够真正实现了把三维颅骨扫描三维颅面复原和三维颅面鉴定技术集于一身,并应用于刑侦实案检验中,为侦破重大涉命案件提供身源线索和证据。与世界同类研究相比,该项技术处于国际领先水平。7 三维扫描工程逆向技术对文物考古方面有意义博物馆是一个地区甚至国家文明发展程度的重要标志,当代世界博物馆的发展趋势表明,现代博物馆不再是简单的文物标本的收藏、展示、研究机构,而是应该成为面向社会、服务于公众的文化教育机构和信息资料咨询机构。目前我国的博物馆往往在这一方面比较忽视,要改变这种现象,必然涉及到博物馆展览模式的改变。以往的博物馆展览模式由于受到开放时间的规定和展览场地的限制,它运作的舞台已经越来越显得狭小、它发展的空间也越来越显得局限而且没有余地。比如,目前博物馆的陈列多是以展品配说明牌、图片的形式面向观众,但是随着社会的发展和人们知识水平的提高,观众已不再满足于只欣赏美妙的展品,而更多的是想探求藏品背后所蕴藏的文化积淀,甚至渴望将某一部分特别喜爱的文化层面移出博物馆,溶入到自己的生活中去。为了适应世界文化潮流,满足社会的文化需要,计算机技术的应用,是最有效的手段之一,因此博物馆的数字化代表着世界博物馆社会化发展的方向。随着三维扫描技术的发展,三维数字模型对文物考古的修复、复制、测绘

  • 测试润滑油的运动粘度 何时掐秒表?

    测试润滑油的运动粘度 何时掐秒表? 就掐秒表的问题,我总是和师傅的相差一秒,这样导致40度与100度的运动粘度后算出来的VI与之前的结果偏差特别大,就是读个两次凹液面相切间的时间。。。有没有人能够帮帮我?

  • 【原创大赛】DSC差示扫描量热仪在塑料行业的应用

    【原创大赛】DSC差示扫描量热仪在塑料行业的应用

    由于塑料的轻便和便宜,随处可以用到塑料。下面就简单介绍一下塑料的各种特性和用途。塑料为合成的高分子化合物,可以自由改变形体样式。塑料是利用单体原料以合成或缩合反应聚合而成的材料由合成树脂及填料、增塑剂、稳定剂、润滑剂、色料等添加剂组成的,它的主要成分是合成树脂。广义的塑料定义指具有塑性行为的材料,所谓塑性是指受外力作用时,发生形变,外力取消后仍能保持受力时的状态。塑料的弹性模量介于橡胶和纤维之间受力能发生一定形变。软塑料接近橡胶,硬塑料接近纤维。狭义的塑料定义是指以树脂(或在加工过程中用单体直接聚合)为主要成分以增塑剂、填充剂、润滑剂、着色剂等添加剂为辅助成分,在加工过程中能流动成型的材料。由于生产塑料的企业越来越多,对原料的质量把控尤为重要。国家相继推出针对塑料行业的测试仪器以及测试标准。 在塑料的热分析测试中,DSC差示扫描量热仪用的频率最高。主要用来针对塑料的氧化诱导时间测试、玻璃化转变温度测试、固化度、结晶、分解温度等等,相对应国标有GBT 19466.6-2009,GBT 23257-2009等。由于差示扫描量热仪研发技术难度大,目前国内做的比较成熟的没几家,南京大展机电技术研究所是国内热分析仪器做的最早的一家,1992年左右就推出了差示扫描量热仪,目前塑料行业市场用的比较多,做的比较成熟。另外一家,北京恒久科学仪器有限公司,也是国内做的相对比较早的,1996年公司成立的,也是相对做的比较成熟的。这几年由于国内市场需求量大,国外进口设备也在陆续进入中国市场,如德国耐驰、美国的TA、日本的岛津等等。 根据塑料性能不同,可以将塑料分为两大类,分别是热固性、热塑性。热固性塑料主要以树脂为主,树脂的一个主要测试项为玻璃化转变温度,即物质由固态向玻璃态(粘流态)转变的温度;热塑性塑料主要是用在给水管道等方面的通用性塑料,主要测试其氧化诱导时间。根据塑料的特性以及测试要求,将塑料的分类大致如下图:[img=,608,597]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707031717_01_2781725_3.png[/img] (上面的分类图自己绘的图,一格一格画的,画的对称性不是很好,大家见谅) DSC差示扫描量热仪针对热塑性塑料的氧化诱导时间测试图谱及图谱分析,如下图: [img=氧化诱导期图谱,690,361]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707031721_01_2781725_3.png[/img] 如上图所示,氧化诱导期测试的步骤为,在氮气氛围保护下,仪器升到200℃,然后切换成氧气(注意:很多标准要求,达到200℃时,恒温5分钟之后,再通氧气,目的是让温度更加稳定),选配气体时,气体的纯度要高。通过软件分析,通氧之后40分钟左右,出现向上的一个氧化峰,表示氧化了,分析得出氧化诱导时间OIT=40.60min。由于现在很多塑料颗粒的生产厂商,都是通过一些回料、废料,加入抗氧剂,再次生产利用。由于生产搅拌不均匀,导致抗氧剂分散的也不均匀,最终同一批料可能会出现,氧化诱导时间有长、有短。建议同一批料,在不同位置取样,做三次分析。 DSC差示扫描量热仪针对热固性塑料的玻璃化转变温度测试图谱及图谱分析,如下图: [img=,690,360]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707041141_01_2781725_3.png[/img]如上图所示,树脂的玻璃化测试,第一个峰是玻璃化转变温度Tg,后面的一个固化峰,接着是融化峰。这边只对玻璃化进行分析,玻璃化转变是非晶态高分子材料固有的性质,是高分子运动形式转变的宏观体现,它直接影响到材料的使用性能和工艺性能,因此长期以来它都是高分子物理研究的主要内容。由于高分子结构要比低分子结构复杂,其分子运动也就更为复杂和多样化。根据高分子的运动力形式不同,绝大多数聚合物材料通常可处于以下四种物理状态(或称力学状态):玻璃态、粘弹态、高弹态(橡胶态)和粘流态。而玻璃化转变则是高弹态和玻璃态之间的转变,从分子机构上讲,玻璃化转变温度是高聚物无定形部分从冻结状态到解冻状态的一种松弛现象,而不象相转变那样有相变热,所以它既不是一级相变,也不是二级相变 (高分子动态力学中称主转变)。在玻璃化转变温度以下,高聚物处于玻璃态,分子链和链段都不能运动,只是构成分子的原子(或基团)在其平衡位置作振动 而在玻璃化转变温度时分子链虽不能移动,但是链段开始运动,表现出高弹性质,温度再升高,就使整个分子链运动而表现出粘流性质。以玻璃化温度为界,高分子聚合物的物理性质随高分子链段运动自由度的变化而呈现显著的变化,其中,热容的变化使热分析方法成为测定高分子材料玻璃化温度的一种有效手段,以DSC测试为例,当温度逐渐升高,通过高分子聚合物的玻璃化转变温度时,DSC曲线上的基线向吸热方向移动(如上图,玻璃化温度达到时,基线向下移动)。通过变化前,以及变化后的切线分析得出,该样品的玻璃化转变温度Tg=78.6℃[img=,61,112]http://bbs.instrument.com.cn/xheditor/xheditor_skin/blank.gif[/img][img=,56,134]http://bbs.instrument.com.cn/xheditor/xheditor_skin/blank.gif[/img][img=,61,136]http://bbs.instrument.com.cn/xheditor/xheditor_skin/blank.gif[/img][img=,49,99]http://bbs.instrument.com.cn/xheditor/xheditor_skin/blank.gif[/img][img=,288,40]http://bbs.instrument.com.cn/xheditor/xheditor_skin/blank.gif[/img][img=,46,2]http://bbs.instrument.com.cn/xheditor/xheditor_skin/blank.gif[/img][img=,46,4]http://bbs.instrument.com.cn/xheditor/xheditor_skin/blank.gif[/img]

  • 【原创大赛】Flatten在扫描探针显微镜图片后期处理中的神奇作用

    【原创大赛】Flatten在扫描探针显微镜图片后期处理中的神奇作用

    首先普及一下扫描探针显微镜的知识:http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09502.gif 原子力显微镜(Atomic Force Microscopy,AFM)是20世纪80年代初问世的扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope,SPM)的一种。1986年,Dr.Binning 因发明扫描探针显微镜而获得诺贝尔物理奖。这种显微镜可以直接观察物质的分子和原子,为进一步探索微观世界提供了理想的工具,对于材料的研制开发,生物分子的表征起到了巨大的作用。进入正题 http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09503.gif Flatten原理:对每条扫描线上没有被MASK的数据根据最小二乘法计算出一个拟合的多项式,然后把这条扫描线上所有的数据点减去此多项式。 用途:用来去除由于扫描管垂直方向的漂移,扫描过程中出现的跳线,扫描管的弧线运动等原因而引起的扫描线之间产生的垂直方向错位。 上面只有文字的描叙有点抽象了http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09512.gif那让我们来看看它神奇的效果吧,有图有真相http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09507.gifhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307051727_449680_2224533_3.jpg (Flatten前的图片)http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307051728_449682_2224533_3.jpg (Flatten前要框住亮点)http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307051730_449684_2224533_3.jpg (Flatten后)在来看看它3D图的变化http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307051731_449686_2224533_3.jpg Flatten前http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/07/201307051732_449687_2224533_3.jpg Flatten后 很明显Flatten前后的差别,当然有人会问你这样Flatten之后是不是图像变得不真实了呢?那么我们在Flatten时应该注意这些事项: 在做flatten时,一定要把图象中不在同一平面内的特征stopband框起来,然后再进行处理,否则在具有高特征区域的水平线上会处理低的区域;而在具有低特征区域的水平线上会出现高的区域。对图像分析产生的影响:由于flatten去除了扫描线与扫描线之间的垂直方向的offset,它同时也就修改了图象Y方向的信息,所以在分析图象时要注意到这点,比如1. 在做roughness分析时,flatten对结果的影响会很大。2. 在测量台阶高度时,如果扫描方向与台阶垂直,flatten没有什么影响;但是如果扫描方向与台阶平行,用flatten处理图象则会产生很大的影响。以上就是我对Flatten的神奇效果的理解http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/e

  • 全扫描扫描范围的设置

    各位老师,第一张图我划线的部分,扫描范围是第二张图m/z的扫描范围吗,个人感觉不对呀,我也没找到有设置扫描范围的地方,第二个问题是第二个图的扫描速度根据啥因素设置,昨天看着资料说设置的好出现的峰好[img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/09/201909291023210103_5359_4004805_3.png[/img][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/09/201909291023210393_393_4004805_3.png[/img]

  • 线性扫描与锯齿扫描

    本单位欲购薄层色谱扫描仪,但听说德国Desaga的只有线性扫描,想请教线性扫描和锯齿扫描的区别与实际应用时的选择,谢谢。

  • 荧光芯片扫描仪

    荧光芯片扫描仪   由于杂交时产生序列重叠,会有成百上千的杂交点出现在图谱上,形成极为复杂的杂交图谱。序列重叠虽然可为每个碱基的正确读出提供足够的信息,可提高序列分析的可靠性,但同时信息处理量也大大增加了。一般说来,这些图谱的多态性处理与存储都由专门设计的软件来完成,而不是通过对比进行人工读谱。用计算机处理即可给出目的基因的结构或表达信息。扫描一张10cm2的芯片大概需要2-6分种的时间。目前专用于荧光扫描的扫描仪根据原理不同大致分为两类:一是激光共聚焦显微镜的原理, 是基于PMT(photomultiplier tube,光电倍增管)的检测系统(另文介绍);另一种是CCD(charge-coupled devices,电荷偶合装置)摄像原理检测光子。CCD一次可成像很大面积的区域,而以PMT为基础的荧光扫描仪则是以单束固定波长的激光来扫描,因此或者需要激光头,或者需要目的芯片的机械运动来使激光扫到整个面积,这样就需要耗费较多的时间来扫描;但是CCD有其缺点:目前性能最优越的CCD数字相机的成像面积只有16×12mm(像素为10μm),因此要达到整个芯片的面积20×60mm的话,需要数个数码相机同时工作,或者也可以以降低分辨率为代价来获得扫描精度不是很高的图像。由于灵敏度和分辩率较低,比较适合临床诊断用。   生产商业化扫描仪的公司包括:Genomic Solutions公司、Packard公司、GSI公司、Molecular Dynamics、Genetic Microsystems公司、Axon ?Instruments公司等。其中GSI Lumonics 公司ScanArray 系列一直是生物芯片扫描检测系统中的领头产品。2000GSI并入著名的Parkard公司后ScanArray的软、硬件都得到进一步加强。   ScanArray利用其专利的激光共聚焦光学系统,通过计算机控制,对生物芯片的荧光杂交信号进行全自动的扫描采集,并通过分析软件对数据结果进行定量分析。  最高灵敏度高:0.1荧光分子/μm  扫描精度可从5μm-50μm分级调整  全范围扫描时间仅需5分钟,快速方便  多达十种检测滤光片,涵盖所有生物芯片荧光染料的检测,适用于多种荧光标记探针   不同波长依次扫描避免交叉光污染  扫描后的图像还需要进一步的处理,这要求一定的软件支持。现有的分析软件包括:Biodiscovery的ImaGene系列,Axon Instruments的GenePix系列,GSI的QuantArray等  3. 基因芯片上各克隆荧光信号的分析原理   用激光激发芯片上的样品发射荧光,严格配对的杂交分子,其热力学稳定性较高,荧光强;不完全杂交的双键分子热力学稳定性低,荧光信号弱(不到前者的1/35~1/5),不杂交的无荧光。不同位点信号被激光共焦显微镜,或落射荧光显微镜等检测到,由计算机软件处理分析,得用激光激发芯片上的样品发射荧光,严格配对的杂交分子,其热力学稳定性较高,荧光强;不完全杂交的双键分子热力学稳定性低,荧光信号弱(不到前者的1/35~1/5)(2),不杂交的无荧光。不同位点信号被激光共焦显微镜,或落射荧光显微镜等检测到,由计算机软件处理分析,得到到有关基因图谱。美国GSI ?Lumonics 公司开发出专专业基因芯片检测系统(ScanArray 系列),采用激光共聚焦扫描原理进行荧光信号采集,由计算机处理荧光信号,并对每个点的荧光强度数字化后进行分析。利用QuantArray软件包对扫描的荧光信号进行分析,比  较每个克隆在不同组织间表达水平的差别。软件具体分析步骤如下:   首先,同时导入同一区域两个channel扫描的图像文件;将两个channel扫描的图像用不同的颜色显示并重叠;选择拟分析的区域,输入矩阵的行数及列数以及矩阵的个数等参数;在计算机给出的该区域信号图片上标定网格,使得网格中所包含的横线和竖线的交点个数同每个区域点样的克隆数相同,调整网格,使每个交点均位于点样克隆信号的中心;信号的中心确定后,计算机将自动以交点为中心,按照设定的半径圈定各克隆,并将其内部区域作为待分析的信号,同时在圈定的各克隆周围再按照预设的值圈定一定范围的区域,将该区域内的信号作为背景噪音;计算机分析每个克隆扣除背景噪音后的信号强度,并按照不同的要求对数据进行分析;利用GenePie方式对两个channel信号的进行定量比较分析,此时计算机根据各克隆两个channel扫描的信号,以饼图的形式给出两个channel信号强度的相对比例,同时可以逐个克隆读取计算机分析出的两个channel信号的值及所占的比例,进而确定各克隆在两种组织间的表达差异。  4. Microarray数据分析   Microarray数据分析简单来说就是对Microarray高密度杂交点阵图象处理并从中提取杂交点的荧光强度信号进行定量分析,通过有效数据的筛选和相关基因表达谱的聚类,最终整合杂交点的生物学信息,发现基因的表达谱与功能可能存在的联系。   Microarray数据分析主要包括图象分析(Biodiscovery Imagene 4.0\Quantarray分析软件)、标准化处理(normalization)、Ratio值分析、基因聚类分析(Gene Clustering)。   1. 图象分析:激光扫描仪Scaner得到的Cy3/Cy5图象文件通过划格(Griding),确定杂交点范围,过滤背景噪音,提取得到基因表达的荧光信号强度值,最后以列表形式输出。   2. 标准化处理(Normalization):由于样本差异、荧光标记效率和检出率的不平衡,需对cy3和cy5的原始提取信号进行均衡和修正才能进一步分析实验数据,Normalization正是基于此种目的。Normalization的方法有多种:一组内参照基因(如一组看家基因)校正Microarray所有的基因、阳性基因、阴性基因、单个基因。   3. Ratio分析(Ratio Analysis):cy3/cy5的比值,又称R/G值。一般0.5-2.0范围内的基因不存在显著表达差异,该范围之外则认为基因的表达出现显著改变。由于实验条件的不同,此域值范围会根据可信区间有所调整。处理后得到的信息再根据不同要求以各种形式输出,如柱形图、饼形图、点图、原始图象拼图等。将每个Spot的所有相关信息如位标、基因名称、克隆号、PCR结果、信号强度、Ratio值等自动关联并根据需要筛选数据。每个Spot的原始图象另存文件,可根据需要任意排序,得到原始图象的拼图,对于结果分析十分有利。   4. 聚类分析(Clustering Analysis):实际是一种数据统计分析。通过建立各种不同的数学模型,可以得到各种统计分析结果,确定不同基因在表达上的相关性,从而找到未知基因的功能信息或已知基因的未知功能。Gene Clustering就是根据统计分析原理,对具有相同统计行为的多个基因进行归类的分析方法,归为一个簇的基因在功能上可能相似或关联。目前以直观图形显示GeneCluster结果的程序已有人开发出来,可将抽象的数据结果转化成直观的树形图,便于研究人员理解和分析。  尽管基因芯片技术受到了广泛关注,但在基因表达谱分析中起着关键作用的生物信息学却没能引起大家的足够重视,认为简单人工处理一下原始数据就可以得到有价值的生物学信息,大量有价值的信息就这样被浪费和湮没了。可以肯定地说,没有生物信息学的有效参与,基因芯片技术就不能发挥最大效能。加大基因芯片技术中生物信息学的研究开发力度已成为当务之急。国内外已经进行了有益的尝试,初步开发出供芯片平台管理实验数据的软件包,就目前实际情况来看,生物信息学在基因芯片研究开发中介入的程度已经越来越深,主要涉及基因表达信息分析管理系统及其分析工具和分析方法,简单概括为以下几个方面:

  • 同步扫描问题

    采用步扫描功能可以得到那些有用信息,说同步扫描是为解决比较复杂混合物发射荧光的问题,他是如何实现的。[em53] 是不是激发和发射波长同时都在改变,记录发射强度的信号的。为什么要对扫描图做求导、积分等一些数据处理?/

  • 轮廓图扫描(profile)是什么扫描模式

    招标参数有一条:“扫描功能:全扫描(Full Scan)、选择离子扫描模式(SIM)、全扫描和选择离子同时扫描(SIM/SCAN)、轮廓图扫描(Profile)”这个轮廓图扫描是什么?

  • 到底什么是赤道扫描和子午扫描?

    各位版主和大侠们:请教一下什么是赤道扫描和子午扫描? 我是从事纤维材料研究的,纤维是各向异性材料,所以在纤维领域内大家都用赤道扫描和子午扫描来研究纤维的侧向有序性,但我查了很多资料也没有搞明白:(1)这个赤道扫描和子午扫描在进行XRD实验时具体是如何操作的?样品取向轴向与X射线入射线、衍射线、测角仪轴、衍射矢量之间都是呈什么位置关系?(2)这两个概念在XRD中是否有明确的定义?是一个通用概念还是特别针对取向材料的?另外,(3)很多文献中在做赤道扫描和子午扫描时都是用的对称透射模式,我想请问一下用反射模式可否做赤道和子午扫描?为什么?

  • 扫描电镜SEM和透射电镜TEM的区别

    一、分析信号1、扫描电镜扫描电子显微镜的制造是依据电子与物质的相互作用。当一束高能的入射电子轰击物质表面时,被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子,以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时,也可产生电子-空穴对、晶格振动(声子)、电子振荡(等离子体)。原则上讲,利用电子和物质的相互作用,可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息,如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。扫描电子显微镜正是根据上述不同信息产生的机理,采用不同的信息检测器,使选择检测得以实现。如对二次电子、背散射电子的采集,可得到有关物质微观形貌的信息;对X射线的采集,可得到物质化学成分的信息。2、透射电镜根据德布罗意(De Broglie,20世纪法国科学家)提出的运动的微观粒子具有波粒二象性的观点,电子束流也具有波动性,而且电子波的波长比可见光要短得多(例如200千伏加速电压下电子波波长为0.00251纳米),显然,如果用电子束作光源制成的显微镜将具有比光学显微镜高得多的分辨能力。更重要的是,由于电子在电场中会受到电场力运动,以及运动的电子在磁场中会受到洛伦兹力的作用而发生偏转,这使得使用科学手段使电子束聚焦和成像成为可能。二、功能 1、扫描电镜1)扫描电镜追求固体物质高分辨的形貌,形态图像(二次电子探测器SEI)-形貌分析(表面几何形态,形状,尺寸) 2)显示化学成分的空间变化,基于化学成分的相鉴定——化学成分像分布,微区化学成分分析1)用x射线能谱仪或波谱(EDS or WDS)采集特征X射线信号,生成与样品形貌相对应的,元素面分布图或者进行定点化学成分定性定量分析,相鉴定。 2)利用背散射电子(BSE)基于平均原子序数(一般和相对密度相关)反差,生成化学成分相的分布图像;3)利用阴极荧光,基于某些痕量元素(如过渡金属元素,稀土元素等)受电子束激发的光强反差,生成的痕量元素分布图像。4)利用样品电流,基于平均原子序数反差,生成的化学成分相的分布图像,该图像与背散射电子图像亮暗相反。5)利用俄歇电子,对样品物质表面1nm表层进行化学元素分布的定性定理分析。3)在半导体器件(IC)研究中的特殊应用:1)利用电子束感生电流EBIC进行成像,可以用来进行集成电路中pn结的定位和损伤研究2)利用样品电流成像,结果可显示电路中金属层的开、短路,因此电阻衬度像经常用来检查金属布线层、多晶连线层、金属到硅的测试图形和薄膜电阻的导电形式。3)利用二次电子电位反差像,反映了样品表面的电位,从它上面可以看出样品表面各处电位的高低及分布情况,特别是对于器件的隐开路或隐短路部位的确定尤为方便。4)利用背散射电子衍射信号对样品物质进行晶体结构(原子在晶体中的排列方式),晶体取向分布分析,基于晶体结构的相鉴定。2、透射电镜 早期的透射电子显微镜功能主要是观察样品形貌,后来发展到可以通过电子衍射原位分析样品的晶体结构。具有能将形貌和晶体结构原位观察的两个功能是其它结构分析仪器(如光镜和X射线衍射仪)所不具备的。透射电子显微镜增加附件后,其功能可以从原来的样品内部组织形貌观察(TEM)、原位的电子衍射分析(Diff),发展到还可以进行原位的成分分析(能谱仪EDS、特征能量损失谱EELS)、表面形貌观察(二次电子像SED、背散射电子像BED)和透射扫描像(STEM)。结合样品台设计成高温台、低温台和拉伸台,透射电子显微镜还可以在加热状态、低温冷却状态和拉伸状态下观察样品动态的组织结构、成分的变化,使得透射电子显微镜的功能进一步的拓宽。透射电子显微镜功能的拓宽意味着一台仪器在不更换样品的情况下可以进行多种分析,尤其是可以针对同一微区位置进行形貌、晶体结构、成分(价态)的全面分析。三、 衬度原理1、扫描电镜1)质厚衬度质厚衬度是非晶体样品衬度的主要来源。样品不同微区存在原子序数和厚度的差异形成的。来源于电子的非相干散射,Z越高,产生散射的比例越大;d增加,将发生更多的散射。不同微区Z和d的差异,使进入物镜光阑并聚焦于像平面的散射电子I有差别,形成像的衬度。Z较高、样品较厚区域在屏上显示为较暗区域。图像上的衬度变化反映了样品相应区域的原子序数和厚度的变化。质厚衬度受物镜光阑孔径和加速V的影响。选择大孔径(较多散射电子参与成像),图像亮度增加,散射与非散射区域间的衬度降低。选择低电压(较多电子散射到光阑孔径外),衬度提高,亮度降低。支持膜法和萃取复型,质厚衬度图像比较直观。 2)衍射衬度衍射衬度是来源于晶体试样各部分满足布拉格反射条件不同和结构振幅的差异。例如电压一定时,入射束强度是一定的,假为L,衍射束强度为ID。在忽略吸收的情况下,透射束为L-ID。这样如果只让透射束通过物镜光阑成像,那么就会由于样品中各晶面或强衍射或弱衍射或不衍射,导致透射束相应强度的变化,从而在荧光屏上形成衬度。形成衬度的过程中,起决定作用的是晶体对电子束的衍射。2、透射电镜晶体结构可以通过高分辨率透射电子显微镜来研究,这种技术也被称为相衬显微技术。当使用场发射电子源的时候,观测图像通过由电子与样品相互作用导致的电子波相位的差别重构得出。然而由于图像还依赖于射在屏幕上的电子的数量,对相衬图像的识别更加复杂。非晶样品透射电子显微图象衬度是由于样品不同微区间存在的原子序数或厚度的差异而形成的,即质量厚度衬度(质量厚度定义为试样下表面单位面积以上柱体中的质量),也叫质厚衬度。质厚衬度适用于对复型膜试样电子图象作出解释。质量厚度数值较大的,对电子的吸收散射作用强,使电子散射到光栏以外的要多,对应较安的衬度。质量厚度数值小的,对应较亮的衬度。四、对样品要求1、扫描电镜SEM制样对样品的厚度没有特殊要求,可以采用切、磨、抛光或解理等方法将特定剖面呈现出来,从而转化为可以观察的表面。这样的表面如果直接观察,看到的只有表面加工损伤,一般要利用不同的化学溶液进行择优腐蚀,才能产生有利于观察的衬度。不过腐蚀会使样品失去原结构的部分真实情况,同时引入部分人为的干扰,对样品中厚度极小的薄层来说,造成的误差更大

  • GC/MS扫描问题

    各位高手: 菜鸟请教个问题,GC/MS在全扫描模式时,怎么进行SIM扫描的,两种扫描是一起扫描的吗,没有影响吗?还是SCAN和SIM一起扫描的,只是SIM图是从SCAN图里选择提取出来的??

  • 【原创】光谱仪器的波长扫描机构介绍

    【原创】光谱仪器的波长扫描机构介绍

    [B][center]作者:anping nemoium [/center][/B]绪:anping老师又提供了一种新的波长扫描机构---凸轮机构,原来的贴名---[B]正弦机构[/B]就不合适了,所以此帖就作为波长扫描机构有关资料的整理贴,大家讨论一下。最后,感谢anping老师的帮助。[color=#00008B][B]关键词[/B]: [/color]波长扫描机构 正弦机构 余割机构 凸轮机构 波长扫描机构 光栅方程[size=4][B]正文[/B][/size] [color=#6495ED][B] 波长扫描机构介绍[/B][/color] 波长扫描机构用于将分光系统分离出来的单色光依序输出并显示其波长值。[B]对波长扫描机构的要求是:使输出光束的波长按线性变化,以获得波长坐标为均匀刻度的谱图。[/B] 常用的波长扫描机构有凸轮机构、正弦机构、余割机构等。扫描机构与光栅座连接,可使光栅工作面绕其中心轴转动。一.正弦机构介绍(一)正弦机构简介 正弦机构是波长扫描机构的一种。 [B]正弦机构能令与单色光衍射角正弦成正比的波长输出读数变成简单的线性。[/B]目前多数[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收光谱仪[/color][/url]器的波长扫描使用正弦机构。 正弦机构是[B]机械系统中杠杆传动[/B]中的一种。正弦机构具有精密度和可靠性高的特点。[color=#00008B][B](二)正弦机构图示[/B][/color][B]正弦机构的实物图[/B] 图1是上海精科的AA320的背部图。[center][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/01/200901132122_128796_1786353_3.gif[/img][/center][center]图1-a[/center][center][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/01/200901212234_130115_1786353_3.jpg[/img] [/center][center]图1-b anping老师提供[/center]注:图1-b并不是图1-a的内部图。正弦尺的结构示意图如图2、3.[center][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/01/200901132122_128797_1786353_3.gif[/img][/center][center]图2[/center][center][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/01/200901132122_128798_1786353_3.gif[/img][/center][center]图3-a[/center][center][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/01/200901212235_130116_1786353_3.jpg[/img] [/center][center]图3-b anping老师提供[/center][color=#6495ED][B](三)正弦机构的工作原理[/B][/color] 如图3-a,光栅平面转动中心与一被称为正弦尺的金属杆的A端连接,杆的B端装有滚动轴承, 正弦尺的A点到B点距离,即光栅平面转动中心与轴承转动中心间距离,设为L。滚动轴承靠近丝母C的端面,当精密丝杆转动时,使螺母沿丝杆移动,X值(丝母沿丝杆移动的距离)变化,最终推动正弦杆带着光栅绕其中心轴转动,从而AB线和CA线间的夹角即光栅的衍射角β随之改变。以图1-b为例来说明:波长马达通过传动皮带驱动精密丝杆转动,丝杆带动滑块移动,由于正弦臂杆是靠在滑块上的,所以正弦臂杆也跟着转动,从而带动光栅转动。 [color=#00008B][B](四)波长的线性化[/B][/color] 图3-a的简化图如图4。为了便于说明,以下的说明基于李特洛型光栅单色器或者闪耀光栅。[center][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/01/200901132122_128799_1786353_3.gif[/img][/center][center]图4[/center] [B]光栅型单色器依据的原理是光栅方程 mλ=d(sinα+sinβ)。[/B] [B]光栅方程[/B] [color=#DC143C] mλ=d(sinα+sinβ)[/color] m为光谱级次,λ为衍射光波长,d光栅常数,α为入射角,β为衍射角。 入射角α和衍射角β的正负号规定为:衍射光和入射光在法线的同一侧时,入射角和衍射角同号,否则异号。 m=0为零级光,零级光两侧均有光谱,m0的为正级光谱,m0的为负级光谱。光栅方程mλ=d(sinα+sinβ),可以写成 mλ = 2 * d * sin[(α+β)/2] * cos[(α-β)/2] 式1-1设计单色器系统以使上式简化,对于正弦机构,设计机构,使 (α-β)为一常数。 [color=#6495ED][B]对于李特洛型光栅单色器或者闪耀光栅,衍射角β和入射角α相等,即α=β。[/B][/color][center][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/01/200901132123_128800_1786353_3.gif[/img][/center][center]图5[/center] 式1-1简化为: [center] mλ=2d(sinβ) 式1-2[/center] 根据图4可以看出, [center]sinβ = X / L 式1-3[/center] 得 [center]mλ = 2d(X/L) 式1-4[/center] 对于一定的光谱级次m和固定的正弦杆长度L;对于固定的光栅,d固定。 可以看到 [color=#00008B][center]λ = KX 式1-5[/center][/color] [color=#DC143C] 衍射波长λ和丝母沿丝杆移动的距离X成正比。[/color]这意味着波长随丝杆转动而线性变化,从而使波长读数值呈线性变化成为可能,如图1-b, 7.5nm/周,波长被线性化了。 现代仪器一般采用精密步进电机驱动丝杆,如图1-b,步进电机转动的角度由微处理器计算,这样也就可以算出相应的波长。 参考文献:1. [url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收光谱仪[/color][/url] 章诒学 何华焜 陈江韩2. 光学原理与应用 廖延彪3. 精密机械设计 徐峰4. WGD-8A多功能光栅光谱仪结构和原理5. 上海精科AA320使用说明书6. 光谱仪器原理 后记:现在想想以前看见别的师傅在做[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]波长校正时,调节正弦尺,用游标卡尺量距离,我想是确定光栅的初始角度。如图1-b中的12.667,用游标卡尺就是确定这个距离。有了这个距离,仪器在初始化时,可以确定各个波长时光栅要转过的角度,如图1-b左下角表格。为了确定波长和角度的关系,必须有个参考位置,参考位置可以是零级光或者闪耀波长处,有了参考位置,由于光路、光学组件固定,光谱图中各个波长的间距是可以计算出来的。当然,前提是必须找到参考位置,仪器驱动步进电机必须在某个步数内找到零级光或者闪耀处,用游标卡尺量就是使光栅的初始角度能使仪器在指定步数内找到零级光或闪耀处。另附分光光度计723的波长自动定位原理。[center][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/01/200901141807_128919_1786353_3.gif[/img][/center][center]图6[/center]注,由于723中未采用正弦机构,所以,723计算机输出与波长成正弦关系的脉冲步进数。[center][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/01/200901141807_128920_1786353_3.gif[/img][/center][center]图7[/center][size=3][B]二.凸轮机构介绍[/B][/size][color=#6495ED][B](一)凸轮机构简介[/B][/color] 作为一种机械构件,凸轮机构的特点是:只要选择合适的凸轮轮廓曲线,就可以使从动件(这里可以简单理解为光栅)的位移、速度、加速度严格的按照预订的规律变化,而机构却比较简单紧凑。 尤其在主动件(驱动凸轮机构)作连续运动,而从动件必须做重复往复运动时,用凸轮机构实现预定的运动规律最简单。[color=#6495ED][B](二)凸轮机构示意图[/B][/color][center][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/01/200901201936_129997_1786353_3.gif[/img][/center][center]图8 凸轮机构简视图[/center][center][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/01/200901201940_129999_1786353_3.gif[/img][/center][center]图9 凸轮波长扫描机构未加注释 anping老师提供[/center][center][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/01/200901201941_130000_1786353_3.gif[/img][/center][center]图10 凸轮波长扫描机构加了注释 anping老师提供[/center]图10中的光电断续器一般由发光二极管和光敏三极管组成,这样,当凸轮旋转时,挡光板不断的遮住光,微处理器就可以检测到一串脉冲串了,就是图中所说的pulse。如图中的,0~200nm,355pulse ,可能是指凸轮转到200nm时,光电断续器输出355个脉冲。200nm~900nm,3500pulse,就是输出3500个脉冲了。图中的,cam : 0.2nm/nm 、4.800 pulse(one rotation) ,其中 0.2nm/nm不知道什么意思。是凸轮曲线每走1nm,波长变化0.2nm吗?? 4.800pulse是不是应该为4800pulse??是说凸轮转动一圈(one rotation)光电断续器输出4800个脉冲??Gear ratio :1/6就是指,大小齿轮的齿轮数比。[center][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/01/200901201941_130001_1786353_3.gif[/img][/center][center]图11 凸轮机构实物图 anping老师提供[/center]具体的凸轮机构的波长线性方法,请参考《光谱仪器原理》这个附件的第211页。[size=3][B]三.余割机构介绍[/B][/size]待整理.......

  • 【求助】扫描进程区出现坏扫描是怎么回事?

    NICOLET 的仪器,在扫描过程中发现在进程条边提示1坏扫描 2坏扫描 3坏扫描 .... 大概10个之后又重新开始扫描,最后谱图也还算正常,不知道是什么原因,请哪位大侠路过,指点一二,是不是仪器什么地方有问题了,还是样品没有准备好。

  • 全扫描和sim扫描

    禁用偶氮混标样品,分别同一台gcms,用全扫描和sim扫描,出来的图谱,在对一个峰进行检索,俩个图谱上,分别显示2种物质,这是什么原因呢[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/05/201705151335_01_3214185_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/05/201705151335_02_3214185_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/05/201705151335_03_3214185_3.jpg[/img]

  • 讨论:扫描电镜扫描后的图象照片

    讨论:扫描电镜扫描后的图象照片

    这是我们SEM扫描出来的,可以明显看出,一条明显的界线使图象显得黑白分明,状况是扫描时电子图象时亮度不稳,使扫描的图象一下白一下黑的,有时甚至图象黑白相间。请大家讨论一下原因和解决办法!!![img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2005/09/200509281859_8158_1633460_3.jpg[/img]

Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制