扫描电镜图像进行3D形貌模拟的基本方法或者原理是什么？有资料吗？看很多厂家的SEM都带有这个软件功能？
没有用过金相显微镜，所以恳请高人指点。金相显微镜能做电极表面形貌的扫描吗？我在电极表面镀膜，但不知道好坏，想看看形貌。但做扫描电镜太贵，且也到不了nm级别，所以想放大放大看看，不知道行不行？另外，一般的金相显微镜放大倍数最大多少？仪器的价位怎样？
如果要在液体环境下扫描细胞表面形貌，应该用哪种模式呢？对探针的参数又有哪些要求？我用的是NT-MDT的AFM和配套探针CSG10/NSG10，锥形针尖，刚度分别为0.2N/M和12N/M，细胞是贴壁的狗肾上皮细胞，但效果都不太好。接触模式下，探针把细胞推来推去，轻敲模式也差不多，感觉是不是探针没用对。如果给细胞加载的话，是不是球形探针比较好。
前两天,发现用扫描电镜做块状固体的晶体型貌时,选用背散射电子,但是很难观察到"晶体"形貌,后检查发现,当使用背散射电子观察晶体形貌时,操作盘的CONTRAST控制键失效,BRIGHT控制键有效,当使用二次电子观察"表面"形貌时,两控制键都有效,这使得我们不能观察晶体形貌.请问各位有何解决办法?谢谢!
求助各位大神，最近想做木材的扫描电镜，按照文献用刀片切割木材，贴在导电胶上喷金后发现，木材细胞破裂的厉害，碎片很多，而且横截面切割时就不好切，扫描后观察基本形貌都坍塌了。
我们实验室最近想购买电镜，我不知道扫描电镜和透射电镜同样能观察形貌，具体有什么区别，请各位多多指点啊
钙钛矿由于本身材料的稳定性不好，在电镜表征时易发生形貌上的变化。有不少透射电镜研究其降解晶体结构的改变，研究机理，但扫描对其研究不多，所以我想做做扫描电镜对它的测试。不知需要考虑样品哪些条件：选用哪种材料的钙钛矿？我觉得MAPbX3文献报道得比较多，是不是选这个好。另外是否需要考虑涂膜的膜厚度？
“鸡爪状”形貌、二次裂纹、疲劳条带 望解释，最好能图解。谢谢
下图是用AFM扫描得到的形貌图，但是形貌图上面的拉丝部分是什么造成的，并且背景区域差别很大，没有换针尖，但是扫描过很多次都是同一个现象；另外AFM拖尾现象是什么样的？[img=,690,553]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/10/201810131049573862_3327_3489127_3.png!w690x553.jpg[/img][img=,690,553]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/10/201810131049573862_3327_3489127_3.png!w690x553.jpg[/img]
小的刚学afm，扫描HDPE表面接枝聚合物的形貌，很多参数不会调，比如setpoint,gain,振幅等。请问这些参数的调节有什么原则？
扫描电镜系统（包括X 射线能谱仪）主要用于金属样品的微观形貌观察和微区成分分析，由于其具有分辨率(3nm)高、可从几倍连续放大到数十万倍、景深大、制样简单，可进行微区成分分析等特点，在金属材料领域进行的材料及工艺实验研究中，扫描电镜系统在显微断口观察与分析、显微组织观察与分析、疑难组织鉴别、微区成分分析、缺陷鉴定、相分析和失效分析等方面发挥了其它检测手段无法替代的关键性作用.
扫描电镜系统（包括X 射线能谱仪）主要用于金属样品的微观形貌观察和微区成分分析，由于其具有分辨率(3nm)高、可从几倍连续放大到数十万倍、景深大、制样简单，可进行微区成分分析等特点，在金属材料领域进行的材料及工艺实验研究中，扫描电镜系统在显微断口观察与分析、显微组织观察与分析、疑难组织鉴别、微区成分分析、缺陷鉴定、相分析和失效分析等方面发挥了其它检测手段无法替代的关键性作用.
做扫描电镜不算时间太长，中间由于就在操作上花功夫，所以理论功底可以说很浅，那么就自己做的过程中一些感受谈一下。 由于是赶鸭子上架的那种，所以刚开始接触电镜，不是特别有兴趣研究，把说明书看了个遍，总算是对整个系统的操作和基本维护有了感觉。不过加上加班加点的做样品，也就慢慢觉得这是一个机械操作的活，没有多少技术含量，也就是中间找到一些比较新奇的形貌，会增加一些乐趣。但总体上的感觉就是拉工作距离，聚焦消象散，扫描成像，存储刻盘。或许在做EDX的mapping时才能有比较长的休息时间，其他的时间都被样品包围，几乎喘不过气来。 这些训练还是有必要的。想来有以下几个方面： 其一，软硬件结合操作，自动对焦消象散，自动对比度等等。但是自己动手去学习聚焦消象散的感觉，尤其是高倍率照片的拍摄，尤其需要自己的感受，这种训练在我以后从事TEM操作的过程中受益不少，因为感觉只能靠经验得到，这就大大降低了我学习TEM高倍率消象散的难度。 其二，多看样品对于了解一些基本的形貌特征有了深刻的印象，基本上来的样品一说是什么材料就能知道找什么样的形貌特征，这也对以后的TEM的选择样品和形貌有了有利的促进。 其三，处理样品观测中间出现的特殊情况，比如样品是易损样品，那么要注意物镜光阑被污染，扫描过程中样品形貌的突变，这时候要调整工作距离到15 mm左右，并且要降低电压，扫描时间要缩短等等。或者样品的导电性能不佳，就要调节电压到小于5kv，才能达到消电荷的目的，还有一些很细的粉末样品，就要多喷金，虽然有些影响形貌，但总体上能减少对物镜光阑的污染。另外，对碳纳米管的观测，也有比较好的方法，一般来说很细的纳米碳管是无法用钨灯丝电镜看清楚的，但是可以通过降低电压，在硅片上的碳纳米管就因为导电性能好而信号加强，从而得到比较好的照片（此方法为听一美国教授经验所得，未曾实践，但颇有道理）。 其四，可以让自己处理样品更快，更合理，比如学会了一个8mm样品台上放置16-20个样品，侧面观测的时候粘结技巧，塑料断面的取样和粘结技巧等等。 其五，扫描电镜是一个精密的仪器，操作过程中需要胆大心细的运作才能有很好的运行效率。比如更换灯丝，要求换灯丝的时候要耐心，再耐心，才能保证更换的质量和灯丝的寿命。而耐心，我觉得是电镜工作者必须具有的基本素质，这在透射电镜的使用中更是如此。 看看自己讲的几个方面，不外乎两个字：经验。这个是做大型仪器的人财富，是今后提高的基础所在。 从我们整个系统来看，分辨率不是很高，因为灯丝的限制，所以最佳放大倍数只能在20000-40000倍之间，那么我们的样品就集中在50 nm以上的样品观测。但由于同学和老师的指点加上我们自己的努力，扫描电镜成为一个对合适样品精做，对较细样品过滤到透射电镜去做的过滤网和中转站。 但也有遗憾，比如背散射探头，至今没用过几次，虽然可以用平时不常用来推托为购买时的失误，但毕竟也有自己没有好好研究使用技巧的原因，还有加热台，也因为操作时间长而无法得以很好的利用，算是几个遗憾之一吧。
科研史上前所未有的观测手段——数字全息DHM可高速实时测量三维形貌，达到了亚纳米精度。克服了传统AFM、CLSM等需要扫描进行三维成像的特性。 表征透明/半透明三维形貌Ø 测量厚度从几纳米到几十微米Ø 可测最高三层透明薄膜Ø 测量薄膜折射率Ø 微纳器件动态三维形貌时序图（1000fps）， 还可测频率响应（高达25MHz） 主要应用北京大学 搭建平面应变鼓膜实验平台测量纳米薄膜的动态力学性能天津大学 微结构表面形貌和运动特性测量华中科技大学 微纳制造与测试，微小光学元件检测，微电子制造封装与测试清华大学 透射式全息显微镜，测量透明样品形貌，还可以测量材料光学参数、内部结构以及缺陷杂质等 • 超快速高精度的三维成像，大面积三维形貌表征，表面粗糙度，MEMS振动测量分析，表征微流体器件和微颗粒三维追踪测试配合MEMS Analysis Tool、光学反射软件Reflectometry Analysis等专用软件实现更多功能[img=,600,400]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131406_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131407_01_1546_3.gif[/img][img=,690,]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131406_02_1546_3.jpg[/img]
1、在腐蚀溶液总逐渐添加缓蚀剂后碳钢表面腐蚀形貌图1是Q235碳钢不同缓蚀剂的溶液中经过慢速动电位扫描达到孔蚀电位时的表面形貌。从图1可以看出，添加咪唑啉季铵盐后，金属表面孔蚀变化情况为小孔增多，但蚀孔深度有所下降，金属的溶解量减少。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271424_568111_2590289_3.png图1碳钢在含不同缓蚀剂的NaNO2+NaCl溶液中极化后的扫描电镜图2、未添加缓蚀剂时不同PH下碳钢表面孔蚀形貌不同pH条件下碳钢表面发生孔蚀时的表面形貌如图2所示。在pH =6.64时，蚀孔区域相对较集中，小孔周围覆盖有腐蚀产物，pH=10时试样表面蚀孔增多，但蚀孔一般较浅，蚀孔密集，有向全面腐蚀发展的趋势；pH=4时试验表面蚀孔区域与为发生孔蚀区域区分明显，孔蚀趋于多个连成一片，形成大的蚀坑。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271427_568114_2590289_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271427_568115_2590289_3.png图2不同pH条件下，碳钢在缓蚀剂溶液中的表面形貌3、 添加少量缓蚀剂时不同PH下碳钢表面孔蚀形貌当添加少量缓蚀剂时，不同pH条件下的孔蚀形貌变化如图3所示，与未添加咪唑啉季铵盐相比，试验表面在各个pH条件下小孔均有所增加，不同pH条件下的孔深变化情况基本与未添加咪唑啉季铵盐溶液体系保持一致。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271426_568112_2590289_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271426_568113_2590289_3.png图3添加少量缓蚀剂时，不同pH条件下的孔蚀形貌：(a)未调节pH；(b) pH =10；(c) pH=4 pH=7.02与pH=10时，试样表面小孔较多，且发生孔蚀的区域较大，当pH=4时，试样表面蚀孔明显减少，发生腐蚀区域较小，但是试样表面形貌变化较大，基本呈现坑蚀特征。4、缓蚀剂含量增加后，碳钢表面孔蚀形貌缓蚀剂含量增加后，不同pH条件下的孔蚀形貌变化如图4所示，与前两种体系相比：为确定pH条件下，体系蚀孔变浅，蚀孔数目相对于添加少量缓蚀剂时有减少，但仍比未添加咪唑时的蚀孔数目多；pH=10时，蚀孔数目明显减少，且深度变小；pH=4时，蚀孔深度和数目均减小，试验局部腐蚀得到明显的抑制。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271433_568116_2590289_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271433_568117_2590289_3.png图4缓蚀剂含量增加后，不同pH条件下的孔蚀形貌：(a)为调节pH；(b) pH =10；(c) pH=4
扫描电子显微镜是纳米材料科学研究中重要的仪器设备，实现对微观材料和粒子的结构和形貌观测。但是此类设备对于普通大众来说难以接触和了解，因此本作品通过生活中的小芝麻和细发丝为测试样品，结合国产仪器，展示扫
科研史上前所未有的观测手段——数字全息可高速实时测量三维形貌，达到了亚纳米精度。克服了传统AFM、CLSM等需要扫描进行三维成像的特性。 表征透明/半透明三维形貌Ø 测量厚度从几纳米到几十微米Ø 可测最高三层透明薄膜Ø 测量薄膜折射率Ø 微纳器件动态三维形貌时序图（1000fps）， 还可测频率响应（高达25MHz） 主要应用北京大学 搭建平面应变鼓膜实验平台测量纳米薄膜的动态力学性能天津大学 微结构表面形貌和运动特性测量华中科技大学 微纳制造与测试，微小光学元件检测，微电子制造封装与测试清华大学 透射式全息显微镜，测量透明样品形貌，还可以测量材料光学参数、内部结构以及缺陷杂质等 • 超快速高精度的三维成像，大面积三维形貌表征，表面粗糙度，MEMS振动测量分析，表征微流体器件和微颗粒三维追踪测试配合MEMS Analysis Tool、光学反射软件Reflectometry Analysis等专用软件实现更多功能[img=,690,]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131349_01_1546_3.jpg[/img][img=,600,400]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131350_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131351_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131354_01_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131351_04_1546_3.gif[/img][img=,384,]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131358_01_1546_3.jpg[/img]
科研史上前所未有的观测手段——数字全息DHM可高速实时测量三维形貌，达到了亚纳米精度。克服了传统AFM、CLSM等需要扫描进行三维成像的特性。 表征透明/半透明三维形貌Ø 测量厚度从几纳米到几十微米Ø 可测最高三层透明薄膜Ø 测量薄膜折射率Ø 微纳器件动态三维形貌时序图（1000fps）， 还可测频率响应（高达25MHz） 主要应用北京大学 搭建平面应变鼓膜实验平台测量纳米薄膜的动态力学性能天津大学 微结构表面形貌和运动特性测量华中科技大学 微纳制造与测试，微小光学元件检测，微电子制造封装与测试清华大学 透射式全息显微镜，测量透明样品形貌，还可以测量材料光学参数、内部结构以及缺陷杂质等 • 超快速高精度的三维成像，大面积三维形貌表征，表面粗糙度，MEMS振动测量分析，表征微流体器件和微颗粒三维追踪测试配合MEMS Analysis Tool、光学反射软件Reflectometry Analysis等专用软件实现更多功能[img=,600,400]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131410_01_1546_3.gif[/img][img=,690,]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131410_02_1546_3.jpg[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131410_03_1546_3.gif[/img][img=,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710131410_04_1546_3.gif[/img]
光源不同：光学显微镜采用可见光作为光源，电子显微镜采用电子束作为光源成像原理不同：光学显微镜利用几何光学成像原理进行成像，电子显微镜利用高能量电子束轰击样品表面，激发出样品表面的各种物理信号，再利用不同的信号探测器接受物理信号转换成图像信息。分辨率：光学显微镜因为光的干涉与衍射作用，分辨率只能局限于0.2-0.5um之间。电子显微镜因为采用电子束作为光源，其分辨率可达到1-3nm之间，因此光学显微镜的组织观察属于微米级分析，电子显微镜的组织观测属于纳米级分析。景深：一般光学显微镜的景深在2-3um之间，因此对样品的表面光滑程度具有极高的要求，所以制样过程相对比较复杂。扫描电镜的景深则可高达几个毫米，因此对样品表面的光滑程度几何没有任何要求，样品制备比较简单，有些样品几何无需制样。体式显微镜虽然也具有比较大的景深，但其分辨率却非常的低。应用领域：光学显微镜主要用于光滑表面的微米级组织观察与测量，因为采用可见光作为光源因此不仅能观察样品表层组织而且在表层以下的一定范围内的组织同样也可被观察到，并且光学显微镜对于色彩的识别非常敏感和准确。电子显微镜主要用于纳米级的样品表面形貌观测，因为扫描电镜是依靠物理信号的强度来区分组织信息的，因此扫描电镜的图像都是黑白的，对于彩色图像的识别扫描电镜显得无能为力。扫描电镜不仅可以观察样品表面的组织形貌，通过使用EDS、WDS、EBSD等不同的附件设备，扫描电镜还可进一步扩展使用功能。通过使用EDS、WDS辅助设备，扫描电镜可以对微区化学成分进行分析，这一点在失效分析研究领域尤为重要。使用EBSD，扫描电镜可以对材料的晶格取向进行研究。
新设备简介扫描电子显微镜的应用扫描电子显微镜是一种多功能的仪器、具有很多优越的性能、是用途最为广泛的一种仪器．它可以进行如下基本分析：（1）三维形貌的观察和分析；（2）在观察形貌的同时，进行微区的成分分析。①观察纳米材料，所谓纳米材料就是指组成材料的颗粒或微晶尺寸在0.1-100nm范围内，在保持表面洁净的条件下加压成型而得到的固体材料。纳米材料具有许多与晶体、非晶态不同的、独特的物理化学性质。纳米材料有着广阔的发展前景，将成为未来材料研究的重点方向。扫描电子显微镜的一个重要特点就是具有很高的分辨率。现已广泛用于观察纳米材料。②进口材料断口的分析：扫描电子显微镜的另一个重要特点是景深大，图象富立体感。扫描电子显微镜的焦深比透射电子显微镜大10倍，比光学显微镜大几百倍。由于图象景深大，故所得扫描电子象富有立体感，具有三维形态，能够提供比其他显微镜多得多的信息，这个特点对使用者很有价值。扫描电子显微镜所显示饿断口形貌从深层次，高景深的角度呈现材料断裂的本质，在教学、科研和生产中，有不可替代的作用，在材料断裂原因的分析、事故原因的分析已经工艺合理性的判定等方面是一个强有力的手段。③直接观察大试样的原始表面，它能够直接观察直径100mm，高50mm，或更大尺寸的试样，对试样的形状没有任何限制，粗糙表面也能观察，这便免除了制备样品的麻烦，而且能真实观察试样本身物质成分不同的衬度（背反射电子象）。④观察厚试样，其在观察厚试样时，能得到高的分辨率和最真实的形貌。扫描电子显微的分辨率介于光学显微镜和透射电子显微镜之间，但在对厚块试样的观察进行比较时，因为在透射电子显微镜中还要采用复膜方法，而复膜的分辨率通常只能达到10nm，且观察的不是试样本身。因此，用扫描电子显微镜观察厚块试样更有利，更能得到真实的试样表面资料。⑤观察试样的各个区域的细节。试样在样品室中可动的范围非常大，其他方式显微镜的工作距离通常只有2-3cm，故实际上只许可试样在两度空间内运动，但在扫描电子显微镜中则不同。由于工作距离大（可大于20mm）。焦深大（比透射电子显微镜大10倍）。样品室的空间也大。因此，可以让试样在三度空间内有6个自由度运动（即三度空间平移、三度空间旋转）。且可动范围大，这对观察不规则形状试样的各个区域带来极大的方便。⑥在大视场、低放大倍数下观察样品，用扫描电子显微镜观察试样的视场大。在扫描电子显微镜中，能同时观察试样的视场范围F由下式来确定：F=L/M式中 F——视场范围；M——观察时的放大倍数；L——显象管的荧光屏尺寸。 若扫描电镜采用30cm（12英寸）的显象管，放大倍数15倍时，其视场范围可达20mm，大视场、低倍数观察样品的形貌对有些领域是很必要的，如刑事侦察和考古。⑦进行从高倍到低倍的连续观察，放大倍数的可变范围很宽，且不用经常对焦。扫描电子显微镜的放大倍数范围很宽（从5到20万倍连续可调），且一次聚焦好后即可从高倍到低倍、从低倍到高倍连续观察，不用重新聚焦，这对进行事故分析特别方便。⑧观察生物试样。因电子照射而发生试样的损伤和污染程度很小。同其他方式的电子显微镜比较，因为观察时所用的电子探针电流小（一般约为10-10 -10-12A）电子探针的束斑尺寸小（通常是5nm到几十纳米），电子探针的能量也比较小（加速电压可以小到2kV）。而且不是固定一点照射试样，而是以光栅状扫描方式照射试样。因此，由于电子照射面发生试样的损伤和污染程度很小，这一点对观察一些生物试样特别重要。⑨进行动态观察。在扫描电子显微镜中，成象的信息主要是电子信息，根据近代的电子工业技术水平，即使高速变化的电子信息，也能毫不困难的及时接收、处理和储存，故可进行一些动态过程的观察，如果在样品室内装有加热、冷却、弯曲、拉伸和离子刻蚀等附件，则可以通过电视装置，观察相变、断烈等动态的变化过程。⑩从试样表面形貌获得多方面资料，在扫描电子显微镜中，不仅可以利用入射电子和试样相互作用产生各种信息来成象，而且可以通过信号处理方法，获得多种图象的特殊显示方法，还可以从试样的表面形貌获得多方面资料。因为扫描电子象不是同时记录的，它是分解为近百万个逐次依此记录构成的。因而使得扫描电子显微镜除了观察表面形貌外还能进行成分和元素的分析，以及通过电子通道花样进行结晶学分析，选区尺寸可以从10μm到3μm。由于扫描电子显微镜具有上述特点和功能，所以越来越受到科研人员的重视，用途日益广泛。现在扫描电子显微镜已广泛用于材料科学（金属材料、非金属材料、钠米材料）、冶金、生物学、医学、半导体材料与器件、地质勘探、病虫害的防治、灾害（火灾、失效分析）鉴定、刑事侦察、宝石鉴定、工业生产中的产品质量鉴定及生产工艺控制等。[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=79549]扫描电子显微镜的应用[/url]
[*][作者]：[b][url=https://kns.cnki.net/kcms2/author/detail?v=Xlf5kQqXAOlm7l-65OU2lurUkXQXDNnV80swK9r6DI4FW-qMCaOI3BZE4rrkm7O0yKdNrnffasjG8N7d-CSnhfhYoDlEKF9h2DB8TeXPVEpkXvt55_Bp45HyZNWwC-6X&uniplatform=NZKPT&language=CHS][b]武子靖[/b][/url][/b][*][题名]：[b][b][url=https://iopscience.iop.org/book/mono/978-0-7503-3167-8][b]基于栅线投影法对牙冠三维形貌的研究[/b][/url][/b][/b][list][/list][*][b]【期刊】：cnki[/b][*][b]【链接】：[url=https://www.wiley.com/en-it/Digital+Signal+Processing%3A+Theory+and+Practice%2C+10th+Edition-p-9781394182664]基于栅线投影法对牙冠三维形貌的研究 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/b]
拍摄时间：2010.10.20设备型号：SU-70拍摄电压：20KV工作距离：15.3mm 照片下面的小孔为50nm孔的滤膜。样品处理采用的是非水溶液电解，并过滤到滤膜上，喷金后在扫描电镜下观察。样品名称：不锈钢中析出相形貌放大倍数：10000倍http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/07/201107130956_304560_1424206_3.jpg
论文中遇到这样的问题：样品的物理性质如导电性等对分析结果的影响（SEM对样品进行扫描，观察表面形貌） 由于下个礼拜就要去见导师了，所以很急，我在此先谢过大家了。 大家可以给我发邮件：jiangjm005@yeah.net.
使用日本精工SII原子力显微镜，观察物体表面形貌，结果扫描时电压很快到达-200。怎么调都不行，换针、换试样都不好使。我就搞不明白扫描时电压变化这么大的原因是什么？调什么参数可以调整电压？请各位高手指点，不胜感激！
”纳米材料的形貌及粒度表征“网络主题研讨会会议时间：2015年12月9日 14:00-17:00报告日程：报告一：纳米材料的形貌和粒度分析方法及应用报告人：朱永法清华大学化学系教授、博导，分析化学研究所副所长,国家电子能谱中心副主任。从事半导体薄膜材料的表面物理化学、纳米材料的合成与性能、环境催化以及光催化的研究工作。报告概要：主要讲述了纳米材料最常用的三种形貌分析方法的原理和应用特点以及粒度分析的方法和在纳米材料研究方面的应用实例。目前最常用的形貌分析方法是扫描电子显微镜、透射电子显微镜和原子力显微镜。扫描电镜视场广，样品制备简单，不会产生信息失真，可以观察形貌以及实现颗粒大小的分布统计。透射电镜可以观察纳米材料的形貌和颗粒大小，但视野范围小，样品制备过程容易产生大颗粒的丢失现象，但可以区分聚集态和一次粒子的信息。原子力显微镜可以观察薄膜的颗粒大小，也可以观察分散态的纳米材料的形貌及大小。此外，还可以测量颗粒的厚度以及薄膜的粗糙度分布。激光粒度仪是测量颗粒大小常用的方法，但无法观察纳米材料的形貌，是一种统计颗粒直径分布，容易失真。此外，很多纳米材料分散在溶液中，可能是水合方式存在，获得的是水合颗粒大小的分布，并不是真实的材料颗粒大小，但可以获得粒度分布的信息。此外，通过XRD和拉曼光谱还可以获得纳米材料晶粒大小的数据。报告二：基于PeakForce Tapping模式的纳米材料表征报告人： 孙昊布鲁克中国北方区客户服务主管报告提纲：PeakForce Tapping是由Bruker公司发明的一种新的基本成像模式。与传统的Contact、Tapping模式相比，PeakForce Tapping具有探针-样品作用力小、能够自动优化反馈回路、能够进行定量力学成像等优点。基于PeakForce Tapping模式，Bruker公司发展了一系列扩展成像技术，如智能成像（ScanAsyst），它可以轻易实现绝大部分常见样品的扫描参数自动优化，使刚入门的客户也能非常容易地得到专家级的图像；定量纳米力学成像（PeakForce QNM）可以在扫描形貌的同时实时定量地分析出样品的模量与粘滞力，为纳米力学测量带来了革新；峰值力表面电势测量（PFKPFM）与峰值力导电性测量（PFTUNA）使得在软样品表面同时的电学和力学测量成为可能。在这个Webinar中，我们将介绍基于PeakForce Tapping的一系列新的成像技术在纳米表征中的应用。报告三：纳米材料的粒度表征报告人：方瑛HORIBA 应用工程师报告概要： 颗粒的尺寸会影响纳米材料的各种性能，而溶液的电位则会影响纳米乳液的稳定性。纳米颗粒分析仪可以表征纳米颗粒的粒径和电位，报告会介绍粒径和Zeta电位的测试原理，重点会介绍颗粒分析在纳米材料中的应用。报告四：尺度表征用纳米标准样品报告人：刘忍肖博士，高级工程师，国家纳米科学中心/中科院纳米标准与检测重点实验室，主要工作领域为纳米技术标准化，承担了十余项纳米技术标准制修订、纳米标准物质/标准样品的研制工作；从事与纳米技术相关的标准化科研工作，参与两项国家重大科学研究计划项目和一项质检公益性行业科研专项，承担国家自然科学基金和北京市自然科学基金项目。报告提纲：纳米标准样品概况；尺度表征用纳米标准样品；示例：粒度、台阶高度纳米标准样品。报名条件：仪器信息网个人用户，自助报名当天参会。报名方式：扫描下方二维码或点击链接。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/11/201511231436_574762_2507958_3.png仪器信息网“纳米材料的形貌及粒度表征”网络主题研讨会http://www.instrument.com.cn/webinar/Meeting/subjectInsidePage/1749
数字全息显微镜DHM测量材料动态的3D形貌，亚纳米分辨率，基于菲涅尔衍射的数字全息重建技术 [table=100%][tr][td][img=动态3D细胞监测,690,138]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/11/201711241018_01_1546_3.jpg!w690x138.jpg[/img]仅0.001秒即可测出物体三维形貌，并且是亚纳米的分辨率。不同于传统白光干涉仪、共聚焦显微镜、扫描探针轮廓仪等需要扫描的成像方式，DHM仅需0.001秒采集单张全息图即可测出物3D形貌信息，做到了快速动态监测。 和传统全息术不一样的是没有采用干板而是采用CCD记录全息图，全息图中 光强图：提供与传统显微镜一样对比度的图像 相位图：提供量化数值，得以对被测物体进行精确三维测量 该系统为预放大全息显微镜，其中的相位图解析中用到了大量的算法，实时相位解包裹技术 实时形貌测量的案例二：石墨烯薄膜受力形变实时测量[img=薄膜形变实时测量,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/11/201711241030_01_1546_3.gif!w384x216.jpg[/img][img=MEMS面内面外运动测量,201,220]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/11/201711241030_02_1546_3.gif!w201x220.jpg[/img][/td][/tr][/table]
扫描电镜是材料学研究中的常用仪器，通过入射电子轰击样品，激发和收集二次电子以获得样品表面形貌像。虽然扫描电镜相对透射电镜对样品要求不高且制样简单，但为保证在真空条件下获得清晰的样品表面形貌像，对待测样品的基本要求为不挥发且易导电。不导电的样品因在电子束轰击区域易产生荷电形成电场，影响二次电子成像效果，因此对此类样品往往采用溅射一层非常薄的导电膜C或金属（如Au、Pt）提高导电性，改善成像效果。但对于样品表面起伏较大，以及需拍摄截面外侧的样品往往效果有限，主要会通过改变加速电压（Accelerating voltage），改变束流（Beam current）以及工作距离（Work distance）的方式进行成像调整，有时调整效果也是非常有限。通过日常的积累探索，本文以容易被忽略的扫描旋转（Scan rotation）对非导电样品的扫描电镜成像应用进行探讨。一、什么是扫描旋转？ 电子束从极靴中出射后汇聚到样品为一个仅有数纳米的大小的束斑，再通过逐点移动实现对样品整个目标区域的扫描成像。逐点移动的方向由扫描线圈控制，可在平面内360度旋转可调。由于扫描线圈调整电子束偏转使得扫描方向发生改变，但成像时仍然按照水平的方式给与图像展现，直接体现为图像以中心为轴，进行了一定角度的旋转，此即为扫描旋转。扫描旋转感觉似乎是样品在旋转，实际上此时样品位置并未移动，仅仅是成像的视角发生了角度的改变。以图1中系类示意图为例：图1-1中的五角星以及四个方向的4个三角形为一个样品。扫描电镜在成像时往往会按照一定的长宽比进行某个区域的成像，如图1-2所示的方框为成像区域，即在电脑屏幕上可见的图像。图中示意的绿色的点为逐点扫描的起点，箭头为扫描方向，红色点为图像的中心。当扫描角度改变时，以90度为例，如图1-3所示。此时是仍以红色为中心点，扫描的起始点（绿色）和扫描方向发生了改变，但仍然按照固定的长宽比进行扫描区域成像，即虚线框范围，成像仍然按照水平方向展示，即在电脑屏幕上展现的图像为图1-4所示，与图1-2中方框内图像相比似乎旋转的90度。[img=,690,563]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/08/202108241611580279_4828_1613111_3.jpg!w690x563.jpg[/img]二、扫描旋转在样品表面形貌成像中应用 扫描旋转方向的改变基本应用是为获得某个好看的目标物的图像，例如使得目标物的图像横平竖直，或者沿一定角度的趋势。在特殊情况下如当样品导电性差形成荷电，成像时容易产生明或暗条纹时，有时通过调整扫描方向，改变荷电分布区域，可以对成像效果有一定的改善。如下列图2系列图为同一位置不同扫描旋转角度的成像图。其中图2-1，图2-2，图2-3均在不同位置不同深浅度的黑色条纹，图2-4相对成像效果较好。由于荷电分布完全由所观测的样品的成像区域特性决定，即使同一样品不同区域荷电分布也不一致，难以总结出特定的一致规律，因此扫描旋转的改变对于成像的效果目前只能通过不同角度进行不断的尝试。[img=,690,522]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/08/202108241612532956_154_1613111_3.jpg!w690x522.jpg[/img]三、扫描旋转在截面样品形貌成像中应用 在特殊样品的情况下，尤其对导电性差的截面外侧成像时，通过扫描旋转方向的改变可以显著提升成像效果。当侧面为水平时与扫描点移动方向一致，在侧面边缘易形成荷电场，对图像的扭曲非常明显。如下列图3系列图所示。图3-1中黄色标记线上侧为样品截面外侧，可见有一定的拉伸。进一步通过轻微角度调整，如图3-2和图3-3黄色线标记指示区，两者为同一样品区域，可见截面外侧的一层膜，由于荷电的作用造成图像扭曲非常明显。当将扫描方向调整为90度（图3-4），此时扫描点移动方向与样品截面外侧垂直，局部荷电得到一定改善，因此得到的图像未拉伸。如图3-1和图3-4两图绿色指示区为同一区域，可见图3-1中外侧区域成像时受到了严重压缩，经调整扫描方向得到了图3-4样品截面外侧的真实形貌图。[img=,690,604]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/08/202108241614424860_7131_1613111_3.jpg!w690x604.jpg[/img] 又如下列组合图（图4），以样品截面水平为0度，分别逆时针旋转角度（30，60，90）和顺时针旋转角度（-30，-60）。可见在截面垂直（90）时为无变形成像。[img=,690,351]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/08/202108241616295560_4109_1613111_3.jpg!w690x351.jpg[/img]四、结论 通过简单的扫描旋转改变电子束移动方向，对非导电性样品来说，有时可以获得意向不到的成像效果。
1、红细胞3D2、粗糙度表面形貌3、加热可降解材料的挥发4、石墨烯薄膜受力形变测量原理是全息术：CCD采集物光与参考光干涉形成的全息图包含了物体的相位信息，再实时数值重建3D形貌。优点：1、超高速大面积3D形貌非扫描实时成像，成像速率能做到1000fps 2、纵向能做到亚纳米分辨率 3、非接触成像，无损样品，无惧振动[img=红细胞3D,384,244]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710090950_01_1546_3.png[/img][img=表面形貌粗糙度测量,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710090950_02_1546_3.png[/img][img=加热可降解材料的挥发,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710090950_03_1546_3.gif[/img][img=石墨烯薄膜形变,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710090950_04_1546_3.gif[/img][img=微热板,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710090950_05_1546_3.gif[/img][img=液体透镜结构形变,384,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/201710090950_06_1546_3.gif[/img]
[b]分析原理：[/b]隧道电流强度对针尖和样品之间的距离有着指数依赖关系，根据隧道电流的变化，我们可以得到样品表面微小的起伏变化信息，如果同时对x-y方向进行扫描，就可以直接得到三维的样品表面形貌图，这就是扫描隧道显微镜的工作原理。[b]谱图的表示方法：[/b]探针随样品表面形貌变化而引起隧道电流的波动[b]提供的信息：[/b]软件处理后可输出三维的样品表面形貌图
扫描电子显微镜是（Scanning ElectronMicroscope,SEM）是20 世纪30 年代中期发展起来的一种多功能的电子显微分析仪器。由于扫描电镜的放大倍数范围宽，图像分辨率高，景深好，立体感强，制样简单，对样品的损伤和污染小，配备了能谱仪可同时进行元素成分分析。因此，扫描电镜已广泛地应用于物理、化学、地质、地理、生物、医学、材料等学科以及电子、化工、冶金、陶瓷、建筑等工业中各种材料、样品、器件的形貌、结构和无机元素成分分析。在失效分析实验室，扫描电镜是不可或缺的分析设备，因为失效分析经常要进行断口分析及异物分析。扫描电镜检测项目和内容形貌分析：观察各种材料或生物样品的微观形貌，可以达到纳米尺度的无损观察。结构分析：观察各种陶瓷、岩石、土壤等样品的粒径、晶界、空隙及其相互关系，检查金属内部是否有微小缺陷。断口分析：确定金属材料的断裂性质。断裂性质是金属断裂分析的第一步，决定了后续的原因分析方向。粒度分析：确定颗粒样品的粒径及其元素组成。定性分析：分析固体样品中存在的各个元素名称。定量分析：测定样品中存在的各个元素的浓度。扫描电镜是非常精密的仪器，结构复杂，要想得到能充分反映物质形貌、层次清晰、立体感强和分辨率高的高质量图像仍然是一件非常艰难的事情。那么，究竟有哪些因素会导致扫描电镜的成像有偏差呢？特别是您的样品涉及到薄膜、半导体和器件、合成纤维、溅射或氧化薄膜、高分子材料等，更是要选择好的扫描电镜。
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