热学性能

美国Anasys公司的AFM+可以提供全面的原子力显微功能，具有强大的分析能力，使得AFM不仅仅是一个普通的成像工具，还可以进行材料纳米级尺度的成分分析，热性能和机械性能的分析。AFM+的主要特点：简洁的安装与操作 □ AFM+为最便利的使用而设计制造。探针预装在金属圆片上，确保探针位置的准确性和装针的便捷□ 仪器集几十年AFM设计大师的经验之大成，即使初次使用也能快速获取结果完整的AFM工作模式 □ 包含所有常规成像模式：接触、轻敲、相位、侧向力、力调制、力曲线□ 独有高分辨率低噪音的闭环成像□ 基于DI传承的多功能AFM，实现纳米热学，力学，电学和磁学测量：l 纳米热分析模块（nanoTA, SThM）l 洛仑兹接触共振模块（LCR）l 导电原子力显微镜镜（CAFM）l 开尔文电势显微镜（KPFM）l 磁力显微镜（MFM）l 静电力显微镜（EFM）独有的可升级功能□ 热学性能：独有的热探针技术，提供纳米级红外分析□ 机械性能：洛伦兹接触共振模式能够提供宽频纳米机械分析□ 化学性能：可升级具有纳米红外光谱技术，实现局部化学组分分析□ 近场成像：可升级具有散射式近场光学成像和光谱采集功能

NanoWizard Sense+秉承了NanoWizard系列产品一直以来的杰出性能表现。架构升级与硬件优化带来了最高的力学稳定性、热学稳定性与杰出分辨率。即便在倒置光学显微镜平台上，NanoWizard Sense+也可以发挥其最高性能。基于NanoWizard系列产品雄厚的技术积累与长期的技术领先优势，这是一款真正的多用途高效纳米表征平台。无论是在气体环境还是液体环境中，NanoWizard Sense+均可以对包括生物软样品、高分子样品、纳米材料以及超硬样品在内的多种复杂样品进行高质量、多维度的表征。在获取高分辨形貌的同时，带来力学、电学与热学的多种物理化学信息，广泛的用于纳米技术、二维材料、高分子材料、能源、半导体、OLED、环境、生物技术等领域的科学研究与产业升级。独家的防水、防蒸汽与抗腐蚀专业设计，独特的探针扫描技术，结合模块的功能组件，带来了优异的拓展性与灵活性。借助NanoWizard Sense+，研究人员可以在多种复杂环境中开展科学实验与样品测试。源自JPK的NanoWizard系列产品一直是生物学领域应用的领导者。结合倒置光学显微镜与多种高级光学技术，NanoWizard Sense+可以从单个生物分子到活细胞甚至组织的尺度进行形貌表征与物理化学信息测试。

布鲁克Hysitron PI 95是TEM专用的多用途、高灵敏度热学、电学和力学的测试系统，在TEM上检测时，直接观察检测过程，使用侧面进样支架，不仅可以实现纳米尺度材料的成像观察，还可以同时进行加热和通电测试，并同步得到材料的力学数据，通过视频接口可以将材料的力学数据（载荷位移曲线）与相应TEM视频之间实现时间同步。该系统为方便研究者瞬间得到特定参数，比如化学复合物的种类，或对材料已经造成的影响，除成像外，选择区域衍射可以检测样品的取向，原位力学检测可以实时观测和验证。适用JEOL、FEI、Hitachi、Zeiss（不适用于UHR极靴）的PI 95可在纳米尺度既可以轻松完成材料的电学测试，也可以同时进行拉伸、压缩、弯曲等力学实验。后续可升级模块有高温台、原位力电性能测试、纳米划痕等。

产品简介： SimpliAmp PCR仪操作简单、设计紧凑，是一款适用于任何实验室日常应用的PCR仪。其秉承Applied Biosystems PCR仪的可靠性，包含创新的灵敏触摸屏，独特的VeriFlex 技术帮助您简单精确的控制循环温度.产品介绍§ 精确的温度控制 VeriFlex 技术，更精确的PCR优化§ 即用型USB接口 方便的转移/备份程序文件或更新软件§ 反应灵敏的大尺寸触摸屏 简单直观的操作界面§ 保护您的样品 易于使用的热盖锁扣§ 远程连接 通过Wi-Fi连接，随时随地监控仪器的使用状态§ 热学模拟模式 像之前使用的PCR仪程序一样，实现无缝过渡精准控温创新的VeriFlex 加热模块为PCR优化提供了优于梯度的新途径。通过3块独立的Peltier加热块，您可以精确控制3个温度区域。§ 高度精确的温度控制确保最佳的退火温度，避免常规梯度PCR采用的猜测方式。§ 同一个PCR运行中可一次运行3个不同的退火温度或运行3个不同的引物对，节省PCR优化时间。§ 利用3个独立的温度控制区域，可以将PCR仪用作恒温金属浴，同时进行活化研究、限制性酶切或测序文库制备等。反应灵敏简单、直观的触摸屏和热学模拟模式SimpliAmp PCR仪采用全新的大尺寸彩色触摸屏用户界面，编程简单，您可以方便地在实验台快速查看仪器运行状态。热学模拟模式使您无需更改PCR程序，快速、精确、有效地从以前使用的PCR仪过渡至SimpliAmp 。方便的远程连接SimpliAmp PCR仪采用卓越的创新设计，此款Applied Biosystems 的最新型PCR仪允许您从办公桌、隔壁实验室、在实验室会议过程中、从您的家里或世界上任何地方与之连接。使用您的手机，您就可以查看PCR的运行状态或仪器是否可用，这将帮助您极大地改善PCR实验的效率。

产品概述　　OC/EC大气颗粒物碳质组分在线分析仪是聚光科技（杭州）股份有限公司联合北京大学针对大气颗粒物碳质组分污染现状，结合多年环境监测仪器的开发经验以及国内外用户的最新需求研发的一款基于热光法的大气颗粒物有机碳（OC）和元素碳（EC）在线分析仪，可以实现大气颗粒物中OC和EC的精确分割和定量。技术原理　　含碳气溶胶分析方法主要有热学法、光学法和热光法三类。热学法的固有缺陷是不能解决热分解过程中部分OC炭化成EC的问题，从而导致无法准确分割OC和EC。光学法粗略地认为相对于EC的光吸收，颗粒物的其他成分对可见光的吸收忽略不计，其测量实际上是EC和吸光性OC的总和。热光法是在热学法测量OC和EC的基础上，引入光学校正法，以热分解过程中滤膜上的激光强度变化为依据，准确判断OC和EC的分割点，是目前国际上使用最广泛、公认较成熟的含碳气溶胶分析方法。热光法又可以分为热光透射法（TOT）和热光反射法（TOR）。二者的基本原理相同，都是采用一束激光垂直入射到滤膜上，TOT测量的是透过滤膜的激光强度变化，TOR测量的是滤膜表面反射的激光强度变化。OCEC-100具有热光投射法（TOT）和热光反射法（TOR）双光学矫正系统，满足不同标准要求。产品特点　　基于热光法在线监测大气中的OC和EC，实现大气颗粒物中OC和EC的精确分割和定量；　　具有热光透射法（TOT）和热光反射法（TOR）双光学矫正系统，满足不同标准要求；　　将解析炉和氧化炉的分体结构改为解析-氧化炉的一体结构，避免了高温有机物在进入氧化炉前的冷凝，减少了测量误差；　　炉丝加热采用PID调节结合占空比调节的控制方式，使升温快速、准确，并延长了炉丝的使用寿命；　　通过工控机、单片机和控制电路三者结合来实现仪器的自动化控制，控制软件界面友好，操作简单。

ProFlex PCR系统将Applied Biosystems PCR仪所具备的可靠性和高性能与适合当今工作环境的灵活配置和控制特性相结合。允许多位用户使用——利用三个独立的控制模块同时运行三个实验方便的远程登录——利用免费的移动应用程序， 在任何地方连接您的仪器灵活的模块配置——可利用五种类型的加热模块进行优化和通量选择，可支持数字PCR系统适合当前的分析使用——带有热学模拟模式，可像您以前的仪器一样操作使用简单——触摸屏界面简化了仪器控制新型ProFlex PCR系统具有五种不同的加热模块，只需打开开关即可更换，包括3 x32孔独立模块。利用该模块可同时运行三个实验，相互完全独立，毫无干扰。或者选择双96孔模块，满足高通量测序要求。此外还有双槽式加热模块可供选择，支持我们的QuantStudio3D数字PCR系统使用的数字芯片。您可下载PCR应用程序至iPad、iPhone或Android移动设备上，随时随地控制您的实验和时间。您可以使用应用程序提醒您ProFlex PCR系统何时可用或您的程序何时结束。

ProFlex PCR系统将Applied Biosystems PCR仪所具备的可靠性和高性能与适合当今工作环境的灵活配置和控制特性相结合。允许多位用户使用——利用三个独立的控制模块同时运行三个实验方便的远程登录——利用免费的移动应用程序， 在任何地方连接您的仪器灵活的模块配置——可利用五种类型的加热模块进行优化和通量选择，可支持数字PCR系统适合当前的分析使用——带有热学模拟模式，可像您以前的仪器一样操作使用简单——触摸屏界面简化了仪器控制新型ProFlex PCR系统具有五种不同的加热模块，只需打开开关即可更换，包括3 x32孔独立模块。利用该模块可同时运行三个实验，相互完全独立，毫无干扰。或者选择双96孔模块，满足高通量测序要求。此外还有双槽式加热模块可供选择，支持我们的QuantStudio 3D数字PCR系统使用的数字芯片。您可下载PCR应用程序至iPad 、iPhone或Android移动设备上，随时随地控制您的实验和时间。您可以使用应用程序提醒您ProFlex PCR系统何时可用或您的程序何时结束。

ProFlex PCR系统将Applied Biosystems PCR仪所具备的可靠性和高性能与适合当今工作环境的灵活配置和控制特性相结合。 允许多位用户使用——利用三个独立的控制模块同时运行三个实验 方便的远程登录——利用免费的移动应用程序， 在任何地方连接您的仪器 灵活的模块配置——可利用五种类型的加热模块进行优化和通量选择，可支持数字PCR系统 适合当前的分析使用——带有热学模拟模式，可像您以前的仪器一样操作 使用简单——触摸屏界面简化了仪器控制新型ProFlex PCR系统具有四个不同的加热模块，只需打开开关即可更换，包括3 x32孔独立模块。利用该模块可同时运行三个实验，相互完全独立，毫无干扰。或者选择双96孔模块，满足高通量测序要求。此外还有双槽式加热模块可供选择，支持我们的QuantStudio 3D数字PCR系统使用的数字芯片。您可下载PCR应用程序至iPad、iPhone 或Android 移动设备上，随时随地控制您的实验和时间。您可以使用应用程序提醒您ProFlex PCR系统何时可用或您的程序何时结束。

ProFlex™ PCR系统将Applied Biosystems PCR仪所具备的可靠性和高性能与适合当今工作环境的灵活配置和控制特性相结合。允许多位用户使用——利用三个独立的控制模块同时运行三个实验方便的远程登录——利用免费的移动应用程序， 在任何地方连接您的仪器灵活的模块配置——可利用五种类型的加热模块进行优化和通量选择，可支持数字PCR系统适合当前的分析使用——带有热学模拟模式，可像您以前的仪器一样操作 使用简单——触摸屏界面简化了仪器控制新型ProFlex™ PCR系统具有四个不同的加热模块，只需打开开关即可更换，包括3 x32孔独立模块。利用该模块可同时运行三个实验，相互完全独立，毫无干扰。或者选择双96孔模块，满足高通量测序要求。此外还有双槽式加热模块可供选择，支持我们的QuantStudio™ 3D数字PCR系统使用的数字芯片。您可下载PCR应用程序至iPad、iPhon或Android™ 移动设备上，随时随地控制您的实验和时间。您可以使用应用程序提醒您ProFlex™ PCR系统何时可用或您的程序何时结束。

ProFlex&trade PCR系统将Applied Biosystems PCR仪所具备的可靠性和高性能与适合当今工作环境的灵活配置和控制特性相结合。允许多位用户使用——利用三个独立的控制模块同时运行三个实验方便的远程登录——利用免费的移动应用程序， 在任何地方连接您的仪器灵活的模块配置——可利用五种类型的加热模块进行优化和通量选择，可支持数字PCR系统适合当前的分析使用——带有热学模拟模式，可像您以前的仪器一样操作使用简单——触摸屏界面简化了仪器控制新型ProFlex&trade PCR系统具有五种不同的加热模块，只需打开开关即可更换，包括首款3 x32孔独立模块。利用该模块可同时运行三个实验，相互完全独立，毫无干扰。或者选择双96孔模块，满足高通量测序要求。此外还有双槽式加热模块可供选择，支持我们的QuantStudio&trade 3D数字PCR系统使用的数字芯片。您可下载Instrument Connect 手机app至iPad、iPhone或Android&trade 移动设备上，随时随地控制您的实验和时间。您可以使用应用程序提醒您ProFlex&trade PCR系统何时可用或您的程序何时结束。

LED光学热学和电学性能分析系统 Illumia pro LED光学热学和电学性能分析系统方便用户对LED、LED模块及阵列的电特性准确测量并同时测量光学和热学特性。 LED制造商、集成商以及用户非常关注LED的热学和电学特性，因为结温的变化将影响LED的颜色、光通量、寿命、光效及线性特性。Labsphere的 Illumia pro系统积分球尺寸从0.5米到2米可选，每个系统都兼容2&pi 和4&pi 测量方法。基本系统包含光测量积分球、一个高分辨率CCD光谱仪、电控温控片及温度控制器、辅助灯和精密可变电流源以及 Illumia pro 测量软件。特性 完整的热学，光学和电学特性分析系统 自动数据采集和分析 待测物的TEC温度控制及监控 测量温度及操作电流情况下的光学特性 可选择多种尺寸积分球（0.5米、1米、1.65米及2米） 满足IESNA LM-79和LM-80标准的测量结构 可实现环境温度控制（可选） 测量参数电学：I，V，电功率 光学：光辐射功率、光通量、颜色、光效 热学：载体温度与电学及光学参数关系 应用领域 封装的LED LED模组及阵列 显示屏背光模块

Illumia pro2 LED光学、热学、电学性能分析系统同时对LED进行热学、光学、电学性能分析illumiaPro3是一种积分球光谱辐射计，专门设计用于测试和表征高功率LED。测量参数总光谱通量 光通量 辐射通量颜色性能波长性能LIVTillumiaPro3是一款0.5米积分球光谱辐射计，设计用于高功率LED的LIVT和满足LM-85标准测试和表征的研发和生产应用 功能齐全、功能强大0.5米积分球光谱仪，积分球内部喷涂有Labsphere Spectralect漫反射白色涂料，标配2π测量几何结构，并配有热技术控制器、行业领先的光源仪表和Labsphere的杂散光校正光谱仪，用于LIVT、脉冲模式和高功率LED的直流测试。LM-85 测试方法：LM-85 单脉冲模式LM-85 连续脉冲模式LM-85 直流模式自动表征热学、光学和电学性能illumiaPro3系统中附带Integral软件，Integral软件功能强大且提供易于使用的菜单式操作环境，用户可在指定范围内控制LED温度、工作电流和电压。该控制可使软件实现对待测样品在较宽温度范围内进行测量和性能分析。该软件同时收集的电学、光学、热学和总光谱通量数据显示在屏幕上或者输出到表格中做深入分析。主要规格参数illumiaPro3 LED性能测试系统积分球尺寸50cm光谱范围（已校准） 350-1000nm波长精度=/-0.3nm积分时间40μs-5

Fusion Ax是针对材料科学、纳米电子学和半导体器件原位热学和电学TEM分析的突破性解决方案，能够支持和推动更可靠、更具成本效益和效率的材料开发。 Fusion AX能够让用户自由进行不同条件下原位电学及热学实验，该原位系统由AXON基于机器学习科技实现智能控制，使用各种基于MEMS的电子芯片和配件，以最满足您的研究需求，并且所有这些系统都得到了主要显微镜制造商的全面支持和授权，能够满足该原位系统在安全、兼容性和可靠性方面都严格满足电镜要求标准。独特样品杆Tip设计，兼容原位EDS分析，提供原位成分变化信息无摩擦双倾设计，可以保证转带轴倾转时依旧保证绝佳的电学灵敏度 产品应用 燃料电池研究 左图是利用Fusion Ax原位热学解决方案对碳包覆的纳米Pt颗粒原位退火过程进行结构变化及定量动力学分析，该Pt纳米颗粒主要用于低温燃料电池。数据来源：HODNIK, N. ET AL. (2020) ACS APP. NANO MATER., 3, 9880–9888固态电池 研究 锂基固态电池由于其高能量密度、长循环寿命和高工作电压的特点，而成为最具潜力的下一代储能电池。左图为利用Fusion AX原位电学系统研究不同容量的固态电池锂化和脱锂过程研究。数据来源：HOU, A. ET AL. (2023), ADV. SCIENCE, 10, 2205012二维材料研究原子层级的二维材料由于其独特的半导体、金属和超导体等不同电学特性，目前越来越多的科学家正在开发基于二维材料的多种应用。利用Fusion AX原位热学系统可以研究这种材料原位形成和重组过程中结构变化情况，左图为对石墨烯涂覆的芯片上原位将单层二维MoS2进行加热将其转化为3D纳米晶体结构的原位变化过程。 数据来源：INANI, H. ET AL. (2021), ADV. FUNCT. MATER., 2008395, 1–9基础材料科学研究Fusion AX原位加热系统可用于对各种纳米颗粒合成、合金化、形态变化和其它基础问题研究。左图为原位加热二元金属纳米晶体以观察Au和Ag之间的升华行为。 数据来源：HE, L.-B. ET AL. (2023), NANOSCALE ADV., 5, 685– 692 气体传感器研究Fusion AX原位加热系统可以在环境透射环境中使用，测试用于气体传感应用的材料。并且针对环境透射电镜应用专门开发了原位加热芯片。 数据来源：STEINHAUER, S. ET AL. (2017), NANOSCALE, 9, 7380–7384半导体研究为了开发更好的半导体芯片，所使用的材料需要具有低电阻率和低的形成温度，诸如金属硅化物材料就具备这些性质，因此该材料被广泛研究。左图为利用Fusion Ax原位加热系统对NiSi2材料进行原位退火下的动态行为研究。 数据来源：HOU, A.-Y. ET AL. (2021), APPL. SURF. SCIENCE, 538, 148129太阳能电池研究太阳能电池是有助于清洁能源发电以取代化石燃料的技术方案之一。有机-无机杂化钙钛矿太阳能电池因其高能量转换效率而受到关注。左图为利用Fusion Ax原位电学系统在透射电镜中进行原位连续偏压下研究太阳能电池材料的非晶化过程。 数据来源：KIM, M. ET AL. (2021), ACS ENERGY LETT., 6, 3530–3537

东上热学眼镜片用重合炉眼镜片检测设备眼镜片用烘箱眼鏡レンズ用重合炉(节能型)温度可达170℃温度常用10～150℃炉内寸法W800×H1200×D800mm　温度制御プログラムコントローラーペーパーレス記録計付きDAQステーションCX-1000ヒーター制御サイリスタレギュレター安全装置過熱防止調節器、他冷凍機水冷式インバーター搭載型 眼鏡レンズ用重合炉(节能型)温度可达170℃温度常用10～150℃炉内寸法W1300×H1200×D1100mm　温度制御プログラムコントローラーペーパーレス記録計付きDAQステーションCX-1000ヒーター制御サイリスタレギュレター安全装置過熱防止調節器、他冷凍機水冷式インバーター搭載型 眼鏡レンズ用重合炉温度可达170℃温度常用20～150℃機内寸法W2000×H1500×D1000mm　温度制御プログラムコントローラーペーパーレス記録計付きDAQステーションCX-1000ヒーター制御サイリスタレギュレター安全装置過熱防止調節器、他冷凍機水冷式インバーター搭載型 眼鏡レンズ用重合炉温度可达200℃温度常用10～150℃炉内寸法W1000×H1000×D1000mm　温度制御プログラム式調節器ヒーター制御サイリスタレギュレター温度記録計6打点安全装置過熱防止調節器、他冷凍機空冷式　0.75KW

DriveAFM原子力显微镜 全面高效的性能瑞士 Nanosurf 公司的 DriveAFM 型旗舰版原子力显微镜，采用最新超低噪音的 28 位 DAC 控制器与最新直驱型柔性扫描器，可在大气和与液相环境下稳定地对各种样品进行高 精度粗糙度、台阶高度及微纳米级别三维轮廓形貌等测量，也可以测量相位、电学、磁学、 热学等其他各种高级物理量，可广泛应用于材料科学、生命科学、医学、物理学、化学、机 械、电子等多个综合或交叉学科的科研以及工业级测量。 DriveAFM 应用了先进的光热激发技术，可以在液相环境下得到与大气环境下类似稳定 的悬臂梁频谱曲线，实现稳定的液相环境成像与力谱测量，在大气环境下测量也更稳定。 DriveAFM 配备全自动激光调整和自动样品逼近，非常方便用户常规操作以及大气与液 相环境下的原子力显微镜测量。 DriveAFM 可以配置单机版样品台方便不透明材料的测量，也可以选配数字倒置显微镜 方便生物细胞等透明样品的测量，或者选配倒置显微镜适配样品台实现与各种主流品牌的倒 置显微镜的联用功能，可以实现一机两用。 DriveAFM 除原子力显微镜基本功能以外，可以选配多种原子力显微镜功能选件，还可 以配置流体力学探针选件、高精度微粒质量测量等高级功能。

纺织品燃烧性能试验机产品参数：1. 灼热丝：Ø 4mm±0.04mm，镍Ni/铬Cr；2. 灼热丝温度范围：100℃～1050℃(数显)；3. 温度波动度：3度；4. 热电偶：Ø 0.5mm（如需要1.0的需订购前确认，德国进口K型绝缘式耐高温铠装热电偶）；5. 电流调节范围：0~150A；6. 灼热丝对样品施加的力：1.0N±0.2N；7. 灼热丝穿透试验样品的深度：7mm±0.5mm(微型电磁铁控制,穿透深度可微调)；8. 样品夹具大小：80*80mm；9. 样品小车驱动方式：直流电机驱动滚珠丝杠,样品小车运行匀速,平稳；10. 试品移动速度：10mm/s～25mm/s；11. 灼热时间：0~99.99s(数显可预置)；纺织品燃烧性能试验机校准灼热丝温度：1. 将标准要求的银箔（纯度99.8%、厚 0.06mm、边长 2mm 的正方形）放在灼热丝头的顶端中心位置。2. 将灼热丝头加热至适当值，直到银箔熔化，此时温度表所示值应为相关标准要求的960±15℃。注意：测试灼热丝温度的热电偶，其铠装套的金属至少能耐1050度的温度。建议采用进口热电偶。纺织品燃烧性能试验机灼热丝测试试样准备:材料试验时,采用注塑法、压塑法或用压塑法制成需要的形状。若上述方法不可行,则应从材料的代表性样品中切割得到试样。制作完成后,用细砂纸将切口各切割面打磨平整光滑,仔细清除表面的所有粉尘和微粒。试样尺寸应至少长60mm,宽(夹具内侧)60mm。xx厚度值包括:0.1mm+0.02mm,0.2mm+0.02mm,0.4mm+0.05mm,0.75mm+0.10mm,1 5mm+0.15mm,3.0mm+0. 2mm或6.0mm+0.4mm.成品试验时,如果可能,试样应该是一个完整的成品: 如果试验不能在完整的成品上进行，可以:a)在需要检验的部件中切下一块 b)在完整的成品上开-小孔使其与灼热丝接触 C)从完整的成品中取出需要检验的部件,进行单独试验。灼热丝测试试样及附件安装:依据试样:大小,调节螺杆距离将试样固定在载样小车上。试样平面部分垂直且对准灼热丝方向。材料试验时,试样下方放置规定的铺底层木板及包装绢纸,调节铺底层距试验点高度为200mm+5mm。成品试验时,若1)采用代表试样周围材料或元件的铺底层材料时,距离等于试样安装在电工设备中的实际:距离 2)采用完整独立试样时,按正常使用位置将其放置在规定的铺底层上,铺底层在设备四周至少延长100mm 测试试样为完整的壁挂式设备,将其放置在规定的铺底层上方200mm±5mm。灼热丝试验仪常见问题:1.当载样小车快接触灼热丝时,同时试样小车没有减速,快速按下面板上“急停”按钮,检查接近位置感应开关有没有损坏或接近感应位置开关有没有感应到载样小车(感应开关亮红灯为感应到) 2.当载样小车接触灼热丝时,加热时间没有计时,检查接触位置感应开关有没有损坏或接触位置感应开关有没有感应到载样小车(感应开关亮红灯为感应到) 3.当载样小车退回到起始位置感应开关时没有停止,快速按下面板上“急停”按钮,检查起始位置感应开关有没有损坏或起始位置感应开关有没有感应到载样小车(感应开关亮红灯为感应到) 4.-直无法出现加热电流,可先检查调压器的电阻丝是否烧断，若烧断请及时更换。若无法解决,请检查电路是否有断路。纺织品燃烧性能试验机灼热丝试验仪优势介绍:1:显示方式真彩仪表数显记录数据2:控制方式防尘按键操作.3:箱体工艺介绍箱体采用1.5的冷板内外双层*烤漆,箱体经过防腐蚀处理解决箱体腐烂问题。4:通风橱设备自带通风橱,试验完成自动排烟。5:配件介绍灼热丝试验仪采用德国进口热电偶使用寿命是国产的30倍。试验小车采用限位设计试验中不会脱轨。U型头采用进口材料加工保证发热体受热均匀。纺织品燃烧性能试验机灼热丝试验仪是一种基于热学原理的实验仪器，将规定材质Φ4mm的镍铬丝（U型灼热丝头）用大电流加热至试验规定温度(300℃～1000℃)后，以规定压力(1.0N)水平灼烫试品30s，试验品和铺垫物是否起燃或持燃时间来测定电工电子设备成品的着火危险性；试验完成后记录灼热时间，起燃时间(Ti)，火焰熄灭时间(Te)，可燃性指数(GWFI)。适用于科研、教学和生产等领域。

Scanning Thermal probe system扫描热探针系统，可以和任何主流的的AFM进行联用。可以同时获得形貌和纳米尺度的热导率以及温度分布，非常适合应用在纳米线/碳纤维/聚合物复合材料等领域 模块性能：可以同时实现样品表面形貌扫描和材料相关热学性能测试1） 温度；2） 温度梯度变化曲线；3） 定性热导率；4） 相变温度；5） 定性热容量； 优势：1）能实现热学扫描及热学性质测试的功能；2）精细测量，能达到20nm区域测温；3）耐高温，针尖在700℃高温下也不易变形； 模块扫描机制：

Illumia pro LED光学热学和电学性能分析系统方便用户对LED、LED模块及阵列的电特性准确测量并同时测量光学和热学特性。LED制造商、集成商以及用户非常关注LED的热学和电学特性，因为结温的变化将影响LED的颜色、光通量、寿命、光效及线性特性。Labsphere的 Illumia pro系统积分球尺寸从0.5米到2米可选，每个系统都兼容2π和4π测量方法。基本系统包含光测量积分球、一个高分辨率CCD光谱仪、电控温控片及温度控制器、辅助灯和精密可变电流源以及 Illumia pro 测量软件。特性完整的热学，光学和电学特性分析系统自动数据采集和分析待测物的TEC温度控制及监控测量温度及操作电流情况下的光学特性 可选择多种尺寸积分球（0.5米、1米、1.65米及2米）满足IESNA LM-79和LM-80标准的测量结构可实现环境温度控制（可选）测量参数电学：I，V，电功率光学：光辐射功率、光通量、颜色、光效热学：载体温度与电学及光学参数关系应用领域封装的LEDLED模组及阵列显示屏背光模块

Scanning Thermal probe system热扫描探针系统，可以和任何主流的的AFM进行联用。可以同时获得形貌 & 纳米尺度的热导率以及温度分布，非常适合应用在纳米线/碳纤维/聚合物复合材料等领域 模块性能：可以同时实现样品表面形貌扫描和材料相关热学性能测试1） 温度；2） 温度梯度变化曲线；3） 定性热导率；4） 相变温度；5） 定性热容量； 模块优势：1）高性价比，能实现热学扫描及热学性质测试的功能，价格仅为其为同类产品的一半； 2）精细测量，能达到20nm区域测温；3）耐高温，针尖在700℃高温下也不易变形； 模块扫描机制： 目前国内的国家纳米科学中心，中山大学，美国希捷硬盘公司在华的工厂均采购了这个模块。 以下是一些典型的SThM热导率测试以及温度分布的测试案例： 1）左半部分纳米线的形貌图以及温度分布的对应，右半部分为碳膜/Bi2Te3（热电材料）的形貌图以及热导率图对应。 2）碳纤维与环氧树脂复合材料形貌与热导率对应 3）聚合物纤维PCL-Coll_形貌与温度分布对应

仪器简介 ANASYS公司长期致力于纳米热学分析领域，开发出了多种新颖的、易操作的研究和分析仪器。基于多年累积的纳米热学专利技术，ANASYS又推出了一款最新的测试技术仪器&mdash &mdash Nano-IR纳米级红外光谱仪。突破了传统的傅里叶红外光谱（FT-IR）及衰减全反射红外光谱（ATR-IR）的分辨局限，让用户可以获得纳米尺度上的红外光谱分析、热分析、扫描探针成像和热力学性能测试。技术参数主要技术参数光谱范围：1200-1600cm-1光谱分辨率：16cm-1最大图像尺寸：100&mu m× 100&mu m光谱采集时间：&le 1min主要特点①　与&ldquo 远场&rdquo 光学相比，改技术的特点在于吸收的辐射可以通过尖端近场的尖端得到测量。②　PTIR技术可以实现纳米级红外并获得样品的化学性质。③　接触共振获得样品的力学性质。④　通过原子力显微镜（AFM）获得高分辨率的样品三维相貌图。⑤　纳米热学分析获得样品的热量传输温度。⑥　Nano-IR操作软件能够自动的跟踪并且可以让用户便捷的获得样品任 意位置的红外吸收光谱。

NanoWizard Sense+秉承了NanoWizard系列产品一直以来的杰出性能表现。架构升级与硬件优化带来了最高的力学稳定性、热学稳定性与杰出分辨率。即便在倒置光学显微镜平台上，NanoWizard Sense+也可以发挥其最高性能。基于NanoWizard系列产品雄厚的技术积累与长期的技术领先优势，这是一款真正的多用途高效纳米表征平台。无论是在气体环境还是液体环境中，NanoWizard Sense+均可以对包括生物软样品、高分子样品、纳米材料以及超硬样品在内的多种复杂样品进行高质量、多维度的表征。在获取高分辨形貌的同时，带来力学、电学与热学的多种物理化学信息，广泛的用于纳米技术、二维材料、高分子材料、能源、半导体、OLED、环境、生物技术等领域的科学研究与产业升级。独家的防水、防蒸汽与抗腐蚀专业设计，独特的探针扫描技术，结合模块的功能组件，带来了优异的拓展性与灵活性。借助NanoWizard Sense+，研究人员可以在多种复杂环境中开展科学实验与样品测试。源自JPK的NanoWizard系列产品一直是生物学领域应用的领导者。结合倒置光学显微镜与多种高级光学技术，NanoWizard Sense+可以从单个生物分子到活细胞甚至组织的尺度进行形貌表征与物理化学信息测试。

氧弹|氧弹是用于煤炭发热量测定的装置，定义：充有压力为4MPa的纯氧和装有可燃物质的燃烧室体，应用学科：机械工程（一级学科）；分析仪器（二级学科）；热学式分析仪器-热学式分析仪器仪器和附件（二级学科） 量热仪氧弹技术参数： 　　 热量仪氧弹容量：300mL 　　大卡仪氧弹充氧压力：2.8-3.0Mpa 　　耐压性能水压：20Mpa 　　 氧弹重量：2.5Kg 　　 外型尺寸：￠86.2×181mm 　　由耐热、耐腐蚀的镍铭合金钢制成。氧弹：由耐热、耐腐蚀的镍铬或镍铬钼合金钢制成，需要具备3个主要性能：1.不受燃烧过程中出现的高温和腐蚀性产物的影响而产生热效应；2.能承受充氧压力和燃烧过程中产生的瞬时高压；3．试验过程中能保持完全气密。弹筒容积为250ml-350ml,弹头上应装有供充氧和排气的阀门以及点火电源的接线电极。新氧弹和新换部件(弹筒.弹头.连接环)的氧弹应经20.0Mpa的水压试验,证明无问题后方能使用.此外,应经常注意观察与氧弹强度有关的结构,如弹筒和连接环的螺纹、进气阀、出气阀和电极与弹头的连接处等,如发现显著磨损或松动,应进行修理,并经水压试验合格后再用.氧弹还应定期进行水压试验,每次水压试验后,氧弹的使用时间一般不应超2年.当使用多个设计制作相同的氧弹时,每一个氧弹都必须作为一个完整单元使用.氧弹部件的交换使用可能导致发生严重的事故。鹤壁市鑫运仪器设备有限公司 联系人：董先生

布鲁克Hysitron PI 85L是SEM专用的多用途、高灵敏度热学、电学和力学的测试系统，利用SEM的高分辨率，可以直接观测整个材料动态变化的过程。传统纳米压痕仪通过光学显微镜或原位扫描只能观察到压痕前及压痕后的形貌变化，中间过程无法观察到，载荷位移曲线上的一些突变我们无法解释，甚至单从曲线分析会导致错误的解释。PI 85L安装于电镜，可以精确施加载荷，检测位移，在电镜下做压痕、拉伸、弯曲、压缩、加热、电学和划痕测试，可以借助电镜的高分辨率，观测并记录整个材料测试过程，观测材料在力下发生的动态变化，如金属蠕变、相变、断裂起始等。PI 85L采用Hysitron专利技术三板电容传感器，具备载荷和位移同时监测和驱动的独特功能。具备业界领先的精度，重复性和低背景噪音等优点。PI 85L拥有多种特色测试功能模块可供选择，如动态力学测试、MEMS加热、拉伸测试、电学测试、纳米划痕等功能模块。布鲁克Hysitron PI 85L是SEM专用的多用途、高灵敏度热学、电学和力学的测试系统，利用SEM的高分辨率，可以直接观测整个材料动态变化的过程。传统纳米压痕仪通过光学显微镜或原位扫描只能观察到压痕前及压痕后的形貌变化，中间过程无法观察到，载荷位移曲线上的一些突变我们无法解释，甚至单从曲线分析会导致错误的解释。PI 85L安装于电镜，可以精确施加载荷，检测位移，在电镜下做压痕、拉伸、弯曲、压缩、加热、电学和划痕测试，可以借助电镜的高分辨率，观测并记录整个材料测试过程，观测材料在力下发生的动态变化，如金属蠕变、相变、断裂起始等。PI 85L采用Hysitron专利技术三板电容传感器，具备载荷和位移同时监测和驱动的独特功能。具备业界领先的精度，重复性和低背景噪音等优点。PI 85L拥有多种特色测试功能模块可供选择，如动态力学测试、MEMS加热、拉伸测试、电学测试、纳米划痕等功能模块。布鲁克Hysitron PI 95是TEM专用的多用途、高灵敏度热学、电学和力学的测试系统，在TEM上检测时，直接观察检测过程，使用侧面进样支架，不仅可以实现纳米尺度材料的成像观察，还可以同时进行加热和通电测试，并同步得到材料的力学数据，通过视频接口可以将材料的力学数据（载荷位移曲线）与相应TEM视频之间实现时间同步。该系统为方便研究者瞬间得到特定参数，比如化学复合物的种类，或对材料已经造成的影响，除成像外，选择区域衍射可以检测样品的取向，原位力学检测可以实时观测和验证。适用JEOL、FEI、Hitachi、Zeiss（不适用于UHR极靴）的PI 95可在纳米尺度既可以轻松完成材料的电学测试，也可以同时进行拉伸、压缩、弯曲等力学实验。后续可升级模块有高温台、原位力电性能测试、纳米划痕等。

产品简介采用半导体制冷方式，由冷冻模块、PID 温控模块及冷却循环模块组成，可控样品温度范围为-50℃至室温。我们的优势优异的热学性能1．降温速度快，室温到-50 ℃只需10 Min。2．观测区域全覆盖，温度场稳定均匀。操作便捷，实验效率高1．触屏控制，操作简便。2．升降温速度可控，同时显示目标和当前温度。技术参数类别项目参数基本参数台体材质高强度钛合金分辨率电镜极限分辨率适用电镜ZEISS、Thermo Fisher等主流电镜

中学物理教学用演示器涵盖力学、热学、光学、电学等多个领域，严格遵循中学教学大纲设计，是师范类院校中教法设备的理想之选，同样适用于普通初、高中教学实验。这些演示器以其卓越的性能和易于操作的特点，为学生们开启了探索物理世界的大门。它不仅能够生动直观地展示各种物理现象和原理，还可以帮助学生更好地理解和掌握物理知识。高质量的材料和精湛的工艺确保了演示器的可靠性和耐久性。我们致力于为您提供最优质的教学工具，让您的教学更轻松、更高效。

布鲁克Hysitron PI 95是TEM专用的多用途、高灵敏度热学、电学和力学的测试系统，在TEM上检测时，直接观察检测过程，使用侧面进样支架，不仅可以实现纳米尺度材料的成像观察，还可以同时进行加热和通电测试，并同步得到材料的力学数据，通过视频接口可以将材料的力学数据（载荷位移曲线）与相应TEM视频之间实现时间同步。该系统为方便研究者瞬间得到特定参数，比如化学复合物的种类，或对材料已经造成的影响，除成像外，选择区域衍射可以检测样品的取向，原位力学检测可以实时观测和验证。适用JEOL、FEI、Hitachi、Zeiss（不适用于UHR极靴）的PI 95可在纳米尺度既可以轻松完成材料的电学测试，也可以同时进行拉伸、压缩、弯曲等力学实验。后续可升级模块有高温台、原位力电性能测试、纳米划痕等。

塞贝克系数/电阻分析系统 CTA-Cryo（超低温版）测试参数：电导率/电阻率、热电势率/塞贝克系数温度范围：4K-300K（-269℃—室温）低温技术：低温制冷机作冷源，无需消耗液氮/液氦概 述:本系统采用低温制冷机作冷源，无需使用液氮/液氦，实现固体材料低温区（4K-300K -269℃—室温）的电学性能（电导率/电阻率，热电势率/塞贝克Seebeck系数）和可选热学性能(热导率、热膨胀系数、比热等)测量单元。系统设计思想 在一个以单台或多台制冷机为冷源的低温平台上，集成全自动的电学和热学物性测量手段。使得整个系统的低温环境得到充分利用、极大减少了客户购买仪器的成本、避免实验的繁琐和误差。低温平台与测量平台分离设计，测试样品更换过程变得快捷、方便。基本系统硬件结构包括：样品架组件、插入管组件、真空绝热系统、制冷机、减震传热部件、控温部件、干式泵、氦气罐、测控仪表和数据采集处理系统等。基本系统平台提供低温环境，以及测量相关的软硬件控制中心。样品室样品室连接在样品架组件上，通过可拆卸方式安装不同物性测量样品台。测量时样品室处于密封的真空状态，样品冷却过程是通过减震传热部件把制冷机冷量传递给样品架组件，再通过测试平台把冷量传递给样品，使样品降温。样品测量采用样品托的方式。温度控制采用制冷机直接冷却样品的方式，通过减震传热部件既减少制冷机的轻微震动可能带来的影响，又保证了样品能够快速冷却。通过独特的设计能够实现连续快速精准温度控制。温控范围：4.0K-300K连续控温；温度稳定性：±0.1K(4.0-20K)/ ±0.3K(20-300K)。全球甄选一流供货商，保证系统品质达到最高！CTA系统硬件组成：美国吉时利 Keithley（数据采集系统）德国 W.HALDENWANGER （高温陶瓷系统）英国摩根Morgan（高温特种材料）美国通用电气GE（光波加热元件）瑞典康泰尔 Kanthal （加热元件）美国精量电子 MEAS（传感器）日本IKO （精密轴承）日本住友Sumitomo （低温制冷机系统）塞贝克系数测量单元电阻率测量单元技术参数电阻率测量单元测量范围：10 μS/m～10 S/m测量精度：优于1%样品尺寸：长：4～20mm；宽：1～3mm；高：1～3mm塞贝克系数测量单元测量范围：1μV/K～1V/K测量精度：优于6%样品尺寸：长：5～20 mm；宽：2～3 mm；高：2～3 mm

Lightning TEM 原位热电方案01 产品概况Lightning TEM 原位热电方案是为了帮助研究人员在精确控制加电和加热环境的同时观察样品变化的实时动态过程，扩展了在TEM中的应用范围。搭配的 Lightning Nano-chip 芯片能够提供最高精度控制样品偏压和加热环境的能力，能在 900℃ 高温下同时实现高于300kV/cm 的电场，芯片拥有多种配置，能够满足不同的实验要求，并都能保证 TEM 的原子级分辨率成像能力，同时创建了最为真实的应用环境。在进行热学研究的同时，在 pA 电流灵敏度下完成 I-V 测试，为原位实验研究提供了全新的观察视角。02 产品特点 样品制备简单便捷1. 样品制备成功率高使用我们专有的 FIB 样品台、Nano-Chip 芯片和详细的制样流程简化了整个制样过程。2. 最优质的 FIB 薄片直接在芯片上进行最终减薄，而不影响加热和加电性能。可靠的环境刺激控制1. 精准控制加热和加电四探针法为加热和加电设计提供了最准确的温度、电压和电流控制。2. 原位环境刺激范围广基于 MEMS 的 Nano-Chip 芯片旨在单独或同时承受最高温度和电场。3. 可靠的温度可通过使用 EELS和 SAED 技术在 TEM 中直接验证温度。高质量的数据结果1. 全新的观察视角进行热学研究的同时，在具有真正 pA 电流灵敏度的条件下测量 I-V。2. 超高稳定性即使温度达到 1000 °C（ ΔT = 1000 °C），漂移率也小于 200 nm，样品稳定时间短，即使在高电压下也能达到原子级分辨率。3. 不受影响的 STEM/TEM 性能较小的 Z 轴位移（膨胀）保证了分辨率不受影响，且无需移动样品台。03. 案例分享下图是在 800℃ 的条件下，我们对样品进行加电实验，观察样品核壳纳米材料在 HRTEM 下显示的结构变化，并且此时电压可以达到极高值。样品杆具有极高的稳定性，即便在最高温度和电场环境下，也能实现常规的原子分辨率成像。04 应用领域05 原位实验技术简介透射电子显微镜（TEM）一直是观察微观世界的有力工具。尤其是球差矫正器的出现，科学家已经可以实现在原子尺度上对材料的化学结构进行表征成像。此外，TEM 的进步也带动了 CCD 相机的发展，这样，TEM 就同时具有优异的空间分辨率和时间分辨率，那么时间和空间的结合，是否可以让 TEM 动起来？众所皆知，TEM 需要在高真空条件下表征静止状态下的样品，但这不足以反映材料在真实环境下的微观结构。为此，荷兰 DENSsolutions 公司多位科学家利用最新的 MEMS 技术，设计出了独特的纳米芯片，据此可以向 TEM 中引入动态外界刺激条件，模拟样品在真实环境下的状态，打破压力的限制，记录样品的动态变化过程，让 TEM真正的实现动起来。荷兰 DENSsolutions 公司为透射电镜提供技术先进的、纳米尺度的原位显微工具，其产品可以为原位 TEM 样品施加外界刺激，捕捉 TEM 样品在真实环境下的动态现象。目前，已经可以在 TEM 中引入气、液、热、电等多种状态。欢迎随时联系我们获取更多产品方案和技术支持

仪器简介：我们的创新NANONICS IMAGING LTD.一直是扫描探针显微镜（SPM）领域中将近场光学显微镜(NSOM)技术和原子力显微镜(AFM)技术完美结合的领头羊之一。公司成立于1997年，在过去的十年里我们将新的概念应用到SPM系统中从而开拓了SPM市场领域一个新的视角。 Nanonics使用悬臂近场光学探针为业内提供了近场光学成像；同时也引入了双探针技术、样品扫描AFM系统；提供近场光学（NSOM）/原子力显微镜（AFM）低温系统，Raman-AFM系统，多探针AFM系统和扫描电镜（SEM）/AFM系统。NANONICS是业界成立最久并且对此类系列产品经验最丰富的公司之一，其产品荣获过许多国际大奖。在强大的NSOM/AFM的整合操作系统推动下，今天NANONICS继续以强大的优势和全面的系统领导着市场。NANONICS凭借实力和品质，其产品涉足的领域从科研到工业，从生物学到半导体，从化学制品到无线电通讯，应用范围极其广泛。 我们的理念 提供SPM，近场光学和显微镜整合方案 Nanonics 致力于制造世界级领先的SPM仪器，我们将SPM技术和其它显微镜表征技术整合在一起。在纳米科技表征技术领域中，为用户提供一个开放并极具潜力的SPM表征技术平台。 我们的技术作为一家商业公司，我们有着自己独特的技术优势。我们能提供大量种类齐全的纳米探针。包括专利的悬臂近场光学（NSOM）探针到热学，电学探针。这些外露光学探针的运用结合具有专利保护的3D平面扫描技术为我们的系统提供了一个广阔开放的光学平台 这是我们能够将AFM技术和其它显微镜表征技术完美结合的重要原因。 我们的团队 我们拥有一支世界级的专家团队为我们提供创新技术和高性能的产品。在过去的十年里我们拥有40多名员工并且组建了SPM专家和科学家团队。 团队直接由近场光学奠基人之一的Aaron Lewis 教授带领十五名科学家为全球客户提供以SPM为平台的产品和技术支持。 我的技术服务我们致力于提供客户高性能的业内领先级产品和高附加值的技术支持。从系统安装开始，我们就区别于其它竞争对手，为你提供高素质的技术专家安装设备，提供SPM技术领域的专家指导。通过一对一的与客户沟通帮助客户使用仪器。Nanonics在业内已经有一大批客户并且客户通过使用我们的仪器发表了不少好的文章。这些客户和客户的成绩也同样见证了我们为客户提供了的完整的SPM和其他表征整合方案和技术支持。**********************近场扫描光学显微镜的基本构造******************** 进行NSOM实验，必须将点光源靠到样品表面纳米距离，然后点光源扫描样品表面，再收集探测经过样品表面的光学信号。我们使用经金属涂层处理的带孔洞椎形光纤作为NSOM探针。光经耦合进入探针，从亚光波长孔径的探针尖端发出，NSOM的分辨率就是由孔径的大小决定(最优可以达到50纳米)。点光源和样品表面的距离通常通过正常的力反馈机制(与AFM相同)控制，因此可以进行接触、敲击和非接触模式的NSOM实验。针对不同的材料和实验，通常有四种NSOM操作模式： * 透射模式成像 样品经过探针照明，光通过样品并与样品相互作用后被收集探测；* 反射模式成像 样品经过探针照明，光从样品表面反射并被收集探测；* 收集模式成像 样品经远场光源照明(从上或下面均可)，探针将光信号从样品表面收集；* 照明收集模式成像 用同一根探针同时进行照明和收集探测反射光； 在近场光学领域，部分扫描模式只有通过Nanonics提供的独特玻璃光纤探针才能完成，因为我们独特的光纤探针具有很好的波导性能。 收集的光可通过多种探测器探测，如APD(Avalanche Photo Diode)、PMT(Photomultiplier Tube)、InGaAs探测器、CCD或通过光谱仪探测，通过探测器得到的信号经过数据处理得到样品材料的NSOM图像。技术参数：原子力扫描表征-接触模式（可选）-探针或者样品扫描都具有所有原子力显微镜的操作模式。近场光学成像和激发表征 -透射，反射，收集，激发模式界面差别对比表征 -反射和透射模式折射系数分析表征 -反射和透射模式热导和阻值扩散分析表征-接触AC模式-无反馈激光通过外部媒介导入半导体，使用音叉反馈在线远场共聚焦拉曼和荧光光谱成像-反射和透射模式-针尖增强拉曼散射和在超薄层面上做选择性拉曼散射，例如应变硅纳米刻蚀-纳米笔 探针输送多种化学物质和气体-近场光学刻蚀和常规方式的纳米刻蚀技术比如电子氧化等，并且可-以同时使用另外一根探针做在线同步分析纳米压痕-使用兆级帕斯卡压强，通过另外一个附加探针的在线同步分析将力学探针精确定位和控制。++++++SPM 扫描头参数样品扫描器-压电扫描平台 （3D 扫描台&trade ）-高度7毫米探针扫描器-四个独立控制的压电扫描平台（3D 扫描台&trade ）模块-高度7毫米扫描范围 -每根单探针扫描范围30 微米 (XYZ方向)-仅样品扫描器扫描范围100微米(XYZ方向)-样品扫描器和单探针扫描器扫描范围130微米 (XYZ方向)-样品扫描器和双探针扫描器扫描范围160微米(XY方向)扫描分辨率- 0.05 纳米 (Z方向)- 0.15纳米(XY方向)- 0.02纳米(XY方向) 低电压模式粗定位-样品粗调定位： XY 马达驱动范围5mm-分辨率0.25微米-针尖粗调定位：-XY方向马达驱动-驱动范围5mm-分辨率0.25微米-Z方向马达驱动-驱动范围10mm-分辨率0.065微米反馈机制-音叉反馈（标准）-激光反射反馈（可选）常规样品尺寸-标准尺寸可达到16毫米-使用上置光学显微镜操可达到34毫米-不使用样品扫描方式可以达到55毫米-有些客户样品尺寸达到200mm也能扫描-非常规尺寸样品：例如横截面高低起伏较大的样品等一些特殊形状样品探针-独特的玻璃探针，针尖可以提供不同的形貌和参杂金属颗粒或者涂层各种形式的常规硅悬臂探针也可以使用 ++++++成像分辨率远场成像分辨率 -到达衍射限制光学成像分辨率 -非共聚焦下光学分辨率500纳米左右共聚焦成像分辨率-200纳米近场光学成像分辨率-安装时保证100纳米分辨率；50纳米分辨率也可以提供形貌成像分辨率-Z 方向噪音有效值0.05 纳米（RMS）-XY 横向分辨率：根据样品和针尖直径情况热学成像分辨率-至少100纳米阻值成像分辨率-至少25纳米++++++热学&阻值成像温度参数-300度或者更高，要考虑样品情况热学参数-独特的双根纳米铂丝嵌在绝缘玻璃探针中-热敏感度0.01 C-测量阻值改变速率为0.38 C阻值特点-独特的双根纳米铂丝嵌在绝缘玻璃探针中并且可以做出不同的形状结构和涂层-超高电势分辨率-接触电阻极微小-电学稳定& 抗氧化 ++++++在线光学和电子/离子光学扫描同步完成可以完成的表征类别-远场光学，共聚焦光学，近场，微区拉曼，扫描电子显微镜（SEM）或者聚焦离子束（FIB）整合优势 -样品扫描台上下光路开阔，可以做光学或电子/离子光学特征同步扫描联用-将所有形式的光学显微镜整合在一起，包括上置光学显微镜和下置光学显微镜同时整合在探针扫描平台上-整合了所有标准微区拉曼180度背反射几何形貌配置。下置光学显微镜和Nanonics独特的上下置光学显微镜可以做不同的透明和非透明样品-具有所有常规的远场光学操作模式包括相位成像和界面差别对比-可以使用上置，下置和双置光学显微镜做任何模式近场光学扫描，无需更换扫描头保证了实验结果稳定性和可重复性。探测器类别-PMT， APD 或者InGaAs 红外探测器激光光源-可提供深紫外到近红外激光电视频系统 -在线CCD 视频成像主要特点： 独有的多探针系统Nanonics原子力显微镜最多可以同时进行四探针测试，光纤探针各自独立控制，可以同时分别、独立进行如滴液、加压，电学，热学方面的测试等不同的工作。专利技术的独特扁平3D 扫描台具有专利技术的扫描台上下光路开阔，可以将上，下置光学共聚焦显微镜整合到AFM扫描平台上，在无需更换任何探头的情况下同步完成的一系列的探针扫描，光学测量，力学测量，热学电学测量等测试手段，节约了用户大量的时间和精力并保证了样品测试的连贯性。通常很多厂家仪器做不同测试的时候探头都需要更换，不能同步联用并且费时费力。Nanonics这项专利是目前市场上的优势技术，并且探针扫描台和样品扫描台可以独自运作，即可以探针不动，样品移动；或者样品不动，探针移动，其它厂家无法提供这种独特的扫描方式。扫描的步进位移通过压电陶瓷驱动精度极高，Nanonics原子力显微镜分别提供一个85um样品扫描台和30um探针扫描台，XY方向的扫描范围是110*110um。尤其是Z方向的大扫描范围是所有AFM厂家无法提供的。另外一个3D扫描台提供探针扫描和样品扫描两种模式，在所有AFM 电镜中是独一无二的设计。独特的音叉反馈机制常规的AFM反馈通过激光反射反馈，具有噪音大，调试困难，受干涉情况；尤其在液体中或者做光学测试的时候，例如近场光学，AFM-Raman测试中，容易被干涉或者干涉有效信号。音叉反馈采用常规力学反馈避免了以上所有弊病，安装简单，结构稳定。专利技术的悬臂光纤弯针 。Nanonics 原子力显微镜的玻璃探针可提供畅通的光学通道，光线能以与传统直线式近场光学元件相同的效率和偏振性传输到探针尖端。玻璃探针可以做成中空型，用于加载光纤或实现Nano-Pen功能。多种探针通用平台Nanonics 原子力显微镜系统不仅可以使用玻璃光纤探针，也可以使用传统的商业化AFM/NSOM硅探针，提供了一个通用多探针使用平台。客户也可以要求使用常规硅悬臂探针。另外Nanonics还可以根据客户不同的需要定制探针。无与伦比的Z 方向探测深度MV4000在Z方向最大可探测深度为140um，非常适合深沟状样品。独特的悬臂设计不仅能探测深沟底部的形貌，而且可以对侧面进行检测。常规的硅悬臂探针无法做深沟探测。独特的光学友好性Nanonics原子力显微镜的玻璃光纤探针可提供畅通的光学通道，可同时和正置与倒置显微镜配合使用，实现透射式、反射、照明模式、收集模式（Nanonics独有的）等多个功能。光纤探针具有良好的光学性能和光导性能，这是硅悬臂探针无法做到的。拉曼连用平台MV4000的玻璃光纤探针具有光学友好特性，可与任何拉曼光谱仪整合，例如常用的Reinshaw 和JY Raman系统。可实现在线AFM形貌扫描，拉曼Mapping，自动共聚焦，提高拉曼的精度。配合NSOM可以完成微区Raman，并且还可以做荧光和微区荧光扫描。由于独特的扫描平台，AFM-Raman 联用不仅可以扫描透明样品还可以扫描不透明的块状和薄膜样品，这也是在AFM-Raman 联用案例中独特的设计。独有的TERS玻璃探针Nanonics在玻璃光纤探针的尖端采用专利的独立金球技术，与其他涂层探针相比，不会因在长时间使用后，受到激光影响而脱落，更为稳定，效率更高。配合独特的扫描台设计，可以在光源位置找到最佳激光偏振位置获得最好的TERS信号源。这也是其它厂家不具备的特点。

简介该产品采用国际上使用最广泛、公认较成熟的分析方法-热光法，结合公司多年环境监测仪器的开发经验研制而成，热光法首先是利用OC和EC的热学性质不同使样品分别在不同载气和不同温度控制下将两者分离开，然后利用光学方法以从滤膜透射或从滤膜反射的激光强度变化为依据对热分解过程中OC碳化带来的误差进行校正，从而实现环境空气颗粒物中OC和EC浓度的准确测量。产品特点● 热光透射法（TOT）和热光反射法（TOR）同时测量，满足不同的标准要求；● 解析炉-氧化炉短路径设计，提高响应的同时避免了有机物的传输损耗，测量误差小；● 炉丝采用高性能合金丝结合精密的温控算法，升温快速，升温准确，炉丝使用寿命长；● 采样独特的结构设计，滤膜安装、更换方便；● 光路上光学元器件的精简和可拆卸设计，维护清洗方便；● 人机交互模式，控制界面友好，操作简单。