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缺陷研究

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缺陷研究相关的论坛

  • 【分享】利用原子力显微镜研究晶体缺陷

    [color=#DC143C][size=4][font=隶书]资料免费共享:利用原子力显微镜研究晶体缺陷[/font][/size][/color][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=152283]利用原子力显微镜研究晶体缺陷[/url]

  • 光学元件亚表面缺陷检测自动调平与对焦研究

    [b][font=宋体][color=black]【序号】:1[/color][/font][font='微软雅黑',sans-serif][color=black][/color][/font]【作者】:[size=16px][b]王悦[/b][/size][/b][font=&]【题名】:[b][b][b]光学元件亚表面缺陷检测自动调平与对焦研究[/b][/b][/b][/font][font=&]【期刊】:cnki[/font][b][color=#545454]【链接]: [url=https://kns.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CMFD&dbname=CMFD202101&filename=1021001205.nh&uniplatform=NZKPT&v=xYGHSdLttNdKdrQ4eSEtVhLFx0cYpkq8yjYDo-JSapNdufFHtF5fAnmFys_fHVpk]光学元件亚表面缺陷检测自动调平与对焦研究 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/color][/b]

  • 【分享】F我国晶体缺陷研究的先驱者之一——冯端 物理学家

    我国晶体缺陷研究的先驱者之一——冯端 物理学家1923年6月11日生于江苏苏州,原籍浙江绍兴。1946年中央大学物理系毕业后留校任物理系助教。1949年起历任南京大学物理系助教、讲师、副教授,1978年任教授。1984-1988年任南京大学研究生院院长,1986-1995年任固体微结构物理国家重点实验室主任,兼学术委员会主任迄今。1991-1995年任中国物理学会理事长,1992-1996年任国家科委攀登计划项目“纳米材料科学”首席科学家,1980年当选为中国科学院院士(学部委员)1993年当选为第三世界科学院院士。冯端在凝聚态物理领域特别是晶体缺陷研究方面做了大量开拓性的工作,澄清了金属和氧化物晶体中缺陷的组态和起源,开辟了非线性光学晶体微结构化新领域,首次观测到铁电相变中的微畴结构和铌酸锂晶体非公度相变中公席错的结构及其演变。他为推动中国凝聚态物理 的研究和发展起到了重要作用。冯端为国家培养了一批德才兼备的当术带头人,在创建并领导南京大不固体微结构物理国家 重点实验室方面取得了令人称道的成绩。冯端60年代初即选择体心立方结构的难熔金属为突破口,采用浮区区熔法显示位错的技术,澄清了体心立方金属中位错的类型及其组态等问题。1978年后,又以在激光技术中获得重要应用的复杂氧化物单晶体为对象,采用多种实验手段,如浸蚀法、应力双折射貌相术、X射线貌相术、电子显微镜衍衬像及高分辨率像等观测技术,对这些晶体中的位错、畴界、生长条纹、生长区界面、包裹体等缺陷的类型、分布进行研究,并追溯其生长和相变中的起源和 探索其可能的物理效应。基于对铌酸锂等晶体铁电畴深入研究,掌握了制备具有周期性畴结构的晶体生长技术,于1980年与合作才一起制备了周期为微米量级的聚片多畴铌酸锂晶体,在实验上首次全面验证了诺贝尔奖得主布鲁姆伯根(N.Bloembergen)关于非线性光学的准位相匹配理论,实现了铌酸锂晶体的倍频增强效应,从而在国际上领先开拓了非线性光学晶体微结构化这一新领域。随后,又在不能位相匹配的钽酸锂晶体中实现了准位相匹配,并研究了周期畴结构的形成机制。1996年4月中美“用于非线性光学及相关领域的微结构晶体”学术会议在南京召开,表明国际上已承认他的领先工作。冯端还研究了晶体缺陷在结构相变中的作用,首次观测到铁电相变中的微畴结构和铌酸锂晶体非公度相变中公度错的结构及其演变;并用X射线貌相术及同步辐射貌相术阐明畴界的成像规律及追踪其在铁电和铁弹相变中的行为。他倡导了金属超晶格的研究,特别是在周期金属超格中取得了具有独创性的成果。近年来,他领导了有关纳米材料科学的研究工作,在金 属的磁性和半导体的光学性质方面,取得不少具有独创性的成果。这些科研成果使冯端获得多次国家奖励,其中包括1982年国家自然科学奖二等奖(排名第一),1995年国家自然科学奖三等奖(排名第五)及1996年何梁何利科技进步奖(物理)。

  • 帮忙下载一篇 “熔石英光学元件亚表面缺陷的探测与表征技术研究”

    [b][font='Microsoft YaHei', 宋体, sans-serif]【序号】:1[/font]【作者】:[/b][font=&][size=15px][font=&][/font][b]刘红婕蒋晓东黄进孙来喜王凤蕊叶鑫郑万国[/b][font=&][/font][size=12px][/size][/size][/font][b][/b][font=&]【题名】】:[b][b][b]熔石英光学元件亚表面缺陷的探测与表征技术研究[/b][/b][/b][/font][font=&]【出版社】:CNKI[/font][font=&][color=#333333][b][/b][/color][/font][font=Arial][size=12px][/size][/font][b]【链接】:[url=https://ieeexplore.ieee.org/document/9075661]熔石英光学元件亚表面缺陷的探测与表征技术研究 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/b]

  • 大口径光学元件表面划痕缺陷检测技术研究

    [b][font=宋体][color=black]【序号】:1[/color][/font][font='微软雅黑',sans-serif][color=black][/color][/font]【作者】:[size=16px][b][b]黄梦辉[/b][/b][/size][/b]【题名】:[b][b][b][b][b][b]大口径光学元件表面划痕缺陷检测技术研究[/b][/b][/b][/b][/b][/b][font=&]【期刊】:cnki[/font][b][color=#545454]【链接]: [url=https://kns.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CMFD&dbname=CMFD202101&filename=1021001205.nh&uniplatform=NZKPT&v=xYGHSdLttNdKdrQ4eSEtVhLFx0cYpkq8yjYDo-JSapNdufFHtF5fAnmFys_fHVpk]大口径光学元件表面划痕缺陷检测技术研究 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/color][/b]

  • 【原创大赛】SGS解读:焊缝超声波检测中缺陷定性方法研究

    【原创大赛】SGS解读:焊缝超声波检测中缺陷定性方法研究

    [align=center][b]SGS解读:焊缝超声波检测中缺陷定性方法研究[/b][/align][align=center]作者:牟永田 季伟[/align][b]摘要:[/b]在焊缝超声检测中如何准确区分和判定点状缺陷和线型缺陷、如何判定缺陷的性质对于有效控制焊接质量和提升质量管理水平有着有效的帮助。一旦一个信号被认为是缺陷显示,我们可以通过信号形状、尺寸、动态波形、缺陷在焊缝中的位置来预判缺陷的类型和解释缺陷的性质。[b]关键词:[/b]回波信号;波幅;环绕扫查;旋转扫查[b]前言:[/b]在焊缝A型扫描超声检测执行的诸多标准中,只针对缺陷回波信号幅度做了验收的要求,都没有针对指示长度大小对点状缺陷或线型缺陷做出明确的区分说明。以NB/T47013-2015为例,附录H中回波动态波形对点反射体和各种大平面反射体的波形模式做了简单的说明,但由于缺陷对超声波的反射特性不仅与缺陷的走向、几何形状、超声波传播方向上的厚度、缺陷表面的粗糙度、缺陷的种类和性质等有关,而且与检测人员工作经验和产品的制作工艺过程有关。定性结果的准确性往往受检测人员的主观因素影响,不同检测人员对同一缺陷的评定结果可能会产生较大的偏差。因此,利用波形模式的不同区分点状缺陷和线性缺陷并进行定性很难推广应用。如何准确判断检测过程中的缺陷性质一直是一个难点。诸多的国内外标准中多以反射信号的高低和大小来判定其危害的大小,然而实际经验证明某些线型缺陷的回波信号幅度及时没有超出标准规定的验收极限,其危害却远远大于超出验收标准的点状缺陷。因此,在焊缝超声检测中如何准确区分和判定点状缺陷和线型缺陷、如何判定缺陷的性质对于有效控制焊接质量和提升质量管理水平有着有效的帮助。下面我们就简单介绍一下如何根据反射信号对缺陷做出解释和定性。多个信号经常来自多个小面或多个缺陷,如裂纹、气孔、或夹渣处产生。裂纹的反射信号通常比气孔、夹渣高(尺寸、灵敏度、声程都相同),当探头旋转时,信号将增高或降低。如果探头围绕缺陷旋转,裂纹的信号将降低,气孔或夹渣的信号则可能不变,因为气孔或夹渣是体积型缺陷件。先前提到的缺陷信号位置对于决定缺陷类型很重要,以下是焊缝中常见缺陷的定性方法。[b]1根部缺陷1.1未焊透[/b]来自焊缝两侧的高波幅的角反射信号,旋转扫查时信号迅速减小,显示是在根部的深度,宽度和根部间隙宽度一样,且不重叠。如图I所示:[align=center][img=,596,137]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807021603192123_8351_2883703_3.jpg!w596x137.jpg[/img][/align][align=center]图I[/align][b]1.2根部未熔合[/b]焊缝有缺陷的那侧有高波幅的信号,在旋转扫查时迅速降低,位于构件的底部。(有许多来自焊缝根部焊道的信号也是如此,特别是使用小角度斜探头时,如45°探头)如图II所示:[align=center][img=,596,137]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807021603368043_5929_2883703_3.jpg!w596x137.jpg[/img][/align][align=center]图II[/align]在另一边观察来自根部焊道的信号,在移动探头时观察信号幅度的变化,两边是不同的。未熔合声束的声程略大于正常的底波反射路程。由于垂直定向,根部未熔合的尖端不可能从这边观察到。[b]1.3根部裂纹[/b]不规则的裂纹和方向,通常可以在焊缝两侧看见高波幅的多个端角反射。如果裂纹有垂直高度,在用斜探头扫查缺陷深度时,会看见有移动特征的信号。由于裂纹是不规则的,信号会随着探头的转动或高或低。根部焊趾裂纹位于焊根趾部,中心裂纹则位于焊根中心。如图III所示:[align=center][/align][align=center][img=,690,215]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807021604096306_1402_2883703_3.jpg!w690x215.jpg[/img][/align][align=center][img=,394,299]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807021604235393_1659_2883703_3.jpg!w394x299.jpg[/img][/align][align=center]图III[/align][b]1.4根部咬边[/b]缺陷信号振幅大小取决于咬边的严重程度,即很可能是相对低的信号,也可能是很高的信号。然而,与咬边回波一起出现的还有来自根部焊道的信号(见图IV)。如果咬边仅是像显示在图中的焊缝一侧的那样,从另一面检测根部区域,很可能通常只能观察到正常的根部焊道的反射。[align=center][img=,617,147]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807021604484705_7372_2883703_3.jpg!w617x147.jpg[/img][/align][align=center]图IV[/align][b]1.5过熔透[/b]焊缝两侧根部焊道的信号超过正常的声束路程长度且位置交叉,更斜的探头(如35°或45°)有最好的效果。如果焊缝磨平,0°探头应该有最好的效果。如图V所示:[align=center][img=,617,147]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807021605115383_9416_2883703_3.jpg!w617x147.jpg[/img][/align][align=center]图V[/align][b]1.6根部凹陷[/b]焊缝两侧的信号幅度低,绘制声束路径,发现其小于板材厚度,信号无交叉,这与过熔透的情况恰好相反。[b]2焊缝区的缺陷2.1坡口未熔合[/b]在全跨距“a”位置和半跨距“c”位置得到高波幅信号,来自“b”位置和“d”位置(当探头声束不垂直于缺陷,更低的波幅信号将从“a”和“c”位置出现)则得到低波幅信号或无信号(取决于缺陷的方向)。横向扫查测量缺陷长度的尺寸是,波幅应保持不变。旋转或者环绕扫查时,波高迅速降低。层间未熔合(位于焊道之间)的反射信号与上述相似,可能在焊缝中的任何地方,当探头声束与缺陷的主平面垂直时,反射波最强。如图VI所示:[align=center][img=,690,228]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807021606024193_2555_2883703_3.jpg!w690x228.jpg[/img][/align][align=center]图VI[/align][b]2.2夹渣[/b]由于是体积型缺陷,可以从所有能检查的位置和方向检测到。信号包含多个次波和一个粗糙的波峰。移动探头(当后沿升高时,信号的前沿下降,反之亦然)时信号明显滚动。理论上可以被任何斜探头检测到。如图VII所示:[align=center][/align][align=center][img=,617,137]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807021606360293_7967_2883703_3.jpg!w617x137.jpg[/img][/align][align=center]图VII[/align][b]2.3簇状气孔或大量的小的夹杂[/b]由于也是体积型缺陷,要从所有能检测的位置和方向检测。由于占有较宽的时机线上的多个信号的衰减,所以信号很低。环绕扫查时信号不变。如图VIII所示:[align=center][img=,617,137]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807021607355763_4632_2883703_3.jpg!w617x137.jpg[/img][/align][align=center]图VIII[/align][b]2.4裂纹[/b]裂纹可以出现在焊趾、热影响区或焊缝中心线上,也可能出现在根部。来自这些位置的裂纹信号与根部的一样(见前述根部裂纹的解释)。裂纹的方向对信号的幅度和宽度有影响。如果裂纹的平面垂直于声束,那么会出现一个高而窄的信号,可以看见一组信号。如果裂纹的平面与声束有一个夹角,那么会出现一个低的波幅,也可以看见一组信号(形状与群孔很相似)。旋转扫查时信号会忽高忽低,环绕扫查时信号将消失。虽然许许多多的无损检测前辈们经过不断的努力,总结出了许多有价值的经验,并做了大量的解剖试验来验证,但是在实际检测中超声检测的定性仍然存在相当大的困难。这主要是由于缺陷对超声波的反射取决于缺陷的取向、形状、相对声波传播方向的长度和厚度、缺陷表面粗糙度、缺陷内含物以及缺陷的种类和性质等等。在超声检测时所获取的声波信号是一种综合响应。根据动态波形判定缺陷性质只是一种通用的方法,有时还要具体分析焊缝的工艺流程或是借助其他检测方法辅助判断。[b]参考文献:[/b]【1】:国防科技工业无损检测人员资格鉴定与认证培训教材,编审委员会编。超声检测。北京:机械工业出版社,2005.【2】:NDT全国特种设备无损检测人员资格考核统编教材,中国特种设备检验协会组织编写。超声检测。北京:中国劳动社会保障出版社,2008。【3】:美国无损检测学会。美国无损检测手册(超声卷)。世界图书出版公司,1996。【4】:中华人民共和国能源行业标准,全国锅炉压力容器标准化技术委员会主编。承压设备无损检测。北京:新华出版社,2015。

  • 美中合作开发出验血查胎儿缺陷新法

    据新华社华盛顿5月5日电 (记者林小春)美国和中国研究人员5日在美国《国家科学院学报》上报告说,他们开发出一种基于半导体芯片测序仪的无创产前诊断方法,可以根据孕妇血样检测出胎儿是否患唐氏综合征等与染色体异常有关的先天缺陷。 对于有必要接受染色体异常检查的孕妇,传统诊断多采用羊膜穿刺或绒毛膜采样的方法,大多在怀孕12周左右进行。这些介入性方法有两大缺点:一是时间长,需要2周到3周才能出结果。二是穿刺针有不到1%的几率扎到胎儿,可能引发感染甚至流产。 由加州大学圣迭戈分校、广州医科大学、广东省妇幼保健院与广州爱健生物技术公司等机构研发的新诊断方法则基于新型高通量测序技术,只需抽取孕妇2毫升血样,就能诊断与染色体异常有关的先天缺陷,包括最常见的唐氏综合征、导致形体和器官多种异常的爱德华氏综合征等。 这种高通量测序技术,能一次对几十万到几百万条DNA(脱氧核糖核酸)进行序列测定。这项研究的负责人、加州大学圣迭戈分校遗传医学研究所所长张康教授对新华社记者介绍说,新诊断方法速度快,可把诊断提前到怀孕第9周,4天便能出结果,准确率也非常高。 张康表示,其所用的测序仪器基于半导体芯片,每次工作只需15个样本,测序时间只有2.5小时,可由医院直接完成所有检测,能提高诊断速度,降低检测成本。

  • 这个算缺陷吗

    安徽局发布6月份日常监督缺陷:"大门紧闭,我所执法人员无法进入检查?"这个算缺陷吗?

  • 【原创大赛】铝合金产品在金相分析中常见缺陷探讨

    【原创大赛】铝合金产品在金相分析中常见缺陷探讨

    铝合金产品在金相分析中常见缺陷探讨摘要:本文通过对铝合金产品常见缺陷的定义、表现形状进行阐述,分析其形成原因,并提出一些改进预防措施,为铝合金生产工艺的调整和完善提供一些参考依据,有助于减少缺陷的形成。关键词:缺陷;低倍分析;高倍分析;生产成本前言 随着科学技术的快速发展,铝合金在生产工艺上也在不断的改进和完善,产品质量要求也越来越高。而作为铝合金生产工艺改进和完善的必要手段——金相分析,对铝合金产品缺陷的检测研究非常重要。 金相分析分为低倍分析和高倍分析,分析倍数低于50倍的属于低倍分析,高于50倍的属于高倍分析。低倍分析是借助放大镜或肉眼进行检查分析,检查内容主要是低倍缺陷和组织晶粒度,低倍缺陷包括铸造缺陷、加工变形缺陷及热处理缺陷共二十二种。高倍分析是借助显微镜、能谱仪等仪器进行检查分析,主要检查产品是否过烧、显微组织状态等,并对低倍分析检查出来的各种缺陷进行分析判断。通过金相分析,可以为生产技术人员在生产工艺的改进和完善上提供参考依据,进而减少缺陷的产生。在实际分析工作中铝合金缺陷大多数集中在裂纹、气孔和夹杂上。现结合这三种常见缺陷谈谈笔者的一点见解。1 缺陷的定义及表现形状1.1裂纹 裂纹分为热裂纹和冷裂纹。热裂纹是指金属凝固过程中,在线收缩开始温度至固相点温度的结晶终了区间,由于结晶收缩受到阻碍而产生拉应力,又由于这个区间含有较多的脆性金属化合物,拉应力超过该区金属的强度极限时产生的裂纹。冷裂纹是指液态金属凝固后,由于铸锭内部冷却不均产生的拉应力超过了金属的强度极限,而在铸锭的某个或某几个塑性薄弱区产生的裂纹。 裂纹在金相分析上的形状是不一样的,热裂纹在金相分析上的形状表现为锯齿状裂开,裂纹弯曲、分叉或呈网状、圆弧状,断口位置处裂纹凹凸不平。热裂纹很大时肉眼也能直接观察得到,很小时需要借助显微镜等仪器才能观察得到,有的沿晶界裂开,在断裂位置常有氧化现象颜色表现为黑褐色或黄褐色,在断裂位置处常常伴随有低熔点共晶物出现。冷裂纹在金相分析上的形状表现为线条状裂开,成平直的裂线,主要表现为穿晶开裂,一般在断口位置处颜色表现为亮晶色,没有氧化现象。如图所示:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/08/201308050

  • 锌合金缺陷分析方法

    锌合金缺陷分析方法 1.1状态分析 缺陷出现的频率:1.经常出现;2.偶然出现. 缺陷的位置:1.固定在铸件的某一位置上;2.不固定某一位置,游离状. 对于有时出现,大多数时候不出现的缺陷,可能是属于状态不稳定.如:1.料温偏高或偏低;2.模温波动;3.手动操作:喷涂料、取件、生产周期不当;4.压铸机故障. 对于属状态不稳而产生的缺陷,主要是加强生产现场的管理和规范操作,可通过现场监测工艺参数进行分析. 1.2化学成分分析 采用光谱仪、原子吸收仪等先进的检验手段,分析锌合金成分中有效元素及杂质元素的含量,来分析其对压铸件性能的影响,对铸件质量的影响. 判断:1.合金料有没有问题?2.熔炼工艺有没有问题? 1.3金相分析 对缺陷部位切开,在显微镜下检验压铸件的组织结构,先判断缺陷的种类:如铸件的表面有孔洞,是气孔?缩孔?渣孔?在显微镜下可能准确判断出是哪一种缺陷,再进一步分析产生缺陷的原因. 1.4浇注系统分析 金属液在浇道中能否平衡流动并避免卷气,[/siz

  • 听说空气污染与儿童智力缺陷有密切关系

    一些研究人员考察了儿童接触多环芳烃(PAH)——一种因燃烧汽油、柴油燃料、家庭取暖燃油和燃煤产生的污染物——的情况。他们发现,产前暴露于这些化合物与儿童大脑的结构变化和儿童期智力缺陷和行为问题有关。

  • 金属构件加工缺陷与失效

    1. 常见铸造加工缺陷:①冷隔 ②气孔 ③针孔 ④缩孔 ⑤疏松 ⑥夹杂物 ⑦偏析 ⑧热裂纹 ⑨冷裂纹 ⑩其他缺陷2. 常见锻造加工缺陷:①折叠 ②分层 ③锻入的氧化皮 ④流线不顺 ⑤裂纹 ⑥过热与过烧 ⑦脱碳与增碳3. 常见焊接加工缺陷:①焊接裂纹 a.热裂纹 b.冷裂纹 c.延迟裂纹 d. 再热裂纹 e.层状撕裂②气孔 ③夹渣 ④焊缝成形不良 ⑤未填满 ⑥未焊透 ⑦过烧4. 常见热处理缺陷:①氧化、脱碳 ②内氧化 ③过热 ④过烧 ⑤淬火软点 ⑥回火脆性 ⑦石墨化脆性 ⑧网状或大块状碳化物 ⑨粗大马氏体和大量残余奥氏体 ⑩淬火裂纹

  • PCB板产生焊接缺陷的原因

    PCB是现代电子不可缺少的部件,是电子元器件电气连接的载体。随着电子技术的不断发殿,PCB的密度也越来越高,从而对焊接的工艺要求也越来越多,因此,必须分析和判断出影响PCB焊接质量的因素,找出其焊接缺陷产生的原因,这样才能有针对性的改进,从而提升PCB板的整体质量。下面请元坤智造的工程师介绍一下PCB板产生焊接缺陷的原因吧!  1、电路板孔的可焊性影响焊接质量  电路板孔可焊性不好,将会产生虚焊缺陷,影响电路中元件的参数,导致多层板元器件和内层线导通不稳定,引起整个电路功能失效。  影响印刷电路板可焊性的因素主要有:  (1)焊料的成份和被焊料的性质。焊料是焊接化学处理过程中重要的组成部分,它由含有助焊剂的化学材料组成,常用的低熔点共熔金属为Sn-Pb或Sn-Pb-Ag.其中杂质含量要有一定的分比控制,以防杂质产生的氧化物被助焊剂溶解。焊剂的功能是通过传递热量,去除锈蚀来帮助焊料润湿被焊板电路表面。一般采用白松香和异丙醇溶剂。  (2)焊接温度和金属板表面清洁程度也会影响可焊性。温度过高,则焊料扩散速度加快,此时具有很高的活性,会使电路板和焊料溶融表面迅速氧化,产生焊接缺陷,电路板表面受污染也会影响可焊性从而产生缺陷,这些缺陷包括锡珠、锡球、开路、光泽度不好等。  2、翘曲产生的焊接缺陷  电路板和元器件在焊接过程中产生翘曲,由于应力变形而产生虚焊、短路等缺陷。翘曲往往是由于电路板的上下部分温度不平衡造成的。对大的pcb由于板自 身重量下坠也会产生翘曲。普通的PBGA器件距离印刷电路板约0.5mm,如果电路板上器件较大,随着线路板降温后恢复正常形状,焊点将长时间处于应力作 用之下,如果器件抬高0.1mm就足以导致虚焊开路。  3、电路板的设计影响焊接质量  在布局上,电路板尺寸过大时,虽然焊接较容易控制,但印刷线条长,阻抗增大,抗噪声能力下降,成本增加 过小时,则散热下降,焊接不易控制,易出现相邻 线条相互干扰,如线路板的电磁干扰等情况。因此,必须优化PCB板设计:  (1)缩短高频元件之间的连线、减少EMI干扰。  (2)重量大的(如超过20g)元件,应以支架固定,然后焊接。  (3)发热元件应考虑散热问题,防止元件表面有较大的ΔT产生缺陷与返工,热敏元件应远离发热源。  (4)元件的排列尽可能 平行,这样不但美观而且易焊接,宜进行大批量生产。电路板设计为4∶3的矩形最佳。导线宽度不要突变,以避免布线的不连续性。电路板长时间受热时,铜箔容易发生膨胀和脱落,因此,应避免使用大面积铜箔。  综合上述,为能保证PCB板的整体质量,在制作过程中,要采用优良的焊料、改进PCB板可焊性以及及预防翘曲防止缺陷的产生。

  • 【原创】这张照片缺陷多吗?

    【原创】这张照片缺陷多吗?

    本人是新手,想问问各位高手,我的这张照片里面的缺陷多吗,都是什么类型的缺陷?十分感谢!!!http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/11/201011241542_261772_2107440_3.jpg

  • 图中缺陷是什么?

    6系铝合金,200倍,圈中缺陷是夹杂、化合物脱落或其它。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191701_669795_1753235_3.bmp

  • 缺陷调查:法律赋予主管部门的权力

    汽车产品缺陷调查是一项复杂的、细致的、技术强的专业工作。在我国汽车召回主管部门与企业之间存在着严重的信息不对称情况下,主管部门及其技术机构人员需要进行现场调查来获取原始信息和初始凭据。为确保缺陷调查的顺利实施,《缺陷汽车产品召回管理条例》(以下简称《条例》)赋予了必要的法律支撑。《条例》即将于2013年1月1日正式实施。 这些必要的法律支撑包括:主管部门可以进入生产者、经营者的生产经营场所进行现场调查;可以查阅、复制相关资料和记录;可以向相关单位和个人了解汽车产品可能存在缺陷的情况;生产者应当配合缺陷调查,提供调查需要的有关资料、产品和专用设备;经营者应当配合缺陷调查,提供调查需要的有关资料。 同时,《条例》也明确,主管部门不得将生产者、经营者提供的资料、产品和专用设备用于缺陷调查所需的技术检测和鉴定以外的用途。 主管部门按照《条例》规定开展缺陷调查后,如果认为汽车产品存在缺陷,将先通知生产者,要求生产者实施召回。 如生产者对缺陷调查结果存在异议,或不认为汽车产品存在缺陷,并在规定的时限内提交了异议申请书和提交了汽车产品不存在缺陷的证明材料,主管部门将组织专家对生产者提供的证明材料进行论证,或委托有资质的检测或实验机构对相关产品的质量问题进行检测或者鉴定。根据检测和鉴定结果仍然确认存在缺陷的,主管部门将责令汽车产品生产者实施召回。

  • 铝合金缺陷

    铝合金缺陷

    http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/12/201112201014_339608_1753235_3.jpg合金牌号:6061f放大倍数:200倍缺陷名称:化合物聚集显微镜:日本尼康

  • Cell:鉴定出全基因表达分析标准方法存在重大缺陷

    来自美国麻省理工学院怀海德研究所的研究人员报道,在当前许多各种不同的生物学研究中,用于产生和理解全局基因表达分析数据的常见假设能够导致关于基因活性和细胞行为方面严重缺陷性的结论。相关研究结果刊登在Cell期刊上。怀海德研究所研究员Richard Young说,“表达分析是当代生物学最经常用到的方法之一。因此,我们担心存在缺陷的假设可能影响对很多生物学研究的理解。”今天对基因表达数据的大多数理解都依赖于一种假设:用来分析的所有细胞拥有类似的mRNA总量,其中mRNA大约占细胞RNA中的10%,作为蛋白合成的蓝图发挥作用。然而,一些细胞,包括恶性癌细胞,要比其他细胞产生几倍多的mRNA。传统的全局基因表达分析通常忽略这些差别。Young实验室研究员和论文共同通讯作者Tony Lee说,“我们着重研究了基因表达分析的这种常见性的假设,它潜在影响了很多研究人员。我们提供一种具体的问题例子和一种研究人员能够执行的解决方法。”Young实验室的成员们最近在研究表达高水平c-Myc的癌细胞的基因表达时揭示出这种缺陷。已知c-My是一种基因调节物,在恶性癌细胞中高度表达。当比较表达高水平c-Myc的细胞和表达低水平c-Myc的细胞时,他们吃惊地发现不同的基因表达分析方法能够产生显著性的不同结果。进一步的研究揭示出在含有高水平c-Myc的和低水平c-Myc的细胞中存在显著性的不同,不过这些不同利用常见使用的实验方法和分析方法来掩盖掉。论文共同作者Jakob Lovén说,“我们从不同的基因表达分析方法中观察到的不同结果是令人震惊的,而且导致我们在几种平台上重新研究了这整个过程。我们然后意识到细胞含有类似mRNA水平的常见假设存在严重缺陷,能够导致严重性的误解,特别是对拥有非常不同RNA含量的癌细胞而言,尤其如此。”除了描绘出这种问题之外,研究人员也描述了一种补救方法。通过利用被称作RNA spike-in的人工合成mRNA作为标准对照,他们能够比较实验数据并且能够消除关于细胞RNA总量方面的假设。他们将这种补救方法应用到他们研究的所有三种基因表达分析平台。尽管研究人员相信使用RNA spike-in应当成为全局基因表达分析的新标准,但是理解很多之前的研究时产生的问题可能持续存在。(生物谷Bioon.com)http://www.bioon.com/biology/UploadFiles/201210/2012102722451179.gifdoi: 10.1016/j.cell.2012.10.012PMC:PMID:Revisiting Global Gene Expression AnalysisJakob Lovén, David A. Orlando, Alla A. Sigova, Charles Y. Lin, Peter B. Rahl, Christopher B. Burge, David L. Levens, Tong Ihn Lee, Richard A. YoungGene expression analysis is a widely used and powerful method for investigating the transcriptional behavior of biological systems, for classifying cell states in disease, and for many other purposes. Recent studies indicate that common assumptions currently embedded in experimental and analytical practices can lead to misinterpretation of global gene expression data. We discuss these assumptions and describe solutions that should minimize erroneous interpretation of gene expression data from multiple analysis platforms.

  • 我国科学家提出一种新的量子传感范式为十纳米以下芯片的缺陷检测提供技术支撑

    日前,中国科学技术大学中国科学院微观磁共振重点实验室杜江峰院士、王亚教授等人在量子精密测量领域取得重要进展,提出基于信号关联的新量子传感范式,实现对金刚石内点缺陷的高精度成像,并实时观测了点缺陷的电荷动力学。相关研究成果近日在线发表于《自然光子学》。此次工作中,研究团队提出了一种新的量子传感范式,即利用多个量子传感器之间的信号关联,提升对复杂对象的解析能力和重构精度。研究团队基于自主发展的氮-空位色心制备技术,可控制备出相距约200纳米的三个氮-空位色心作为量子传感系统,通过对随机电场探测展示了这种新的量子传感范式。金刚石是一种性能优异的宽禁带半导体材料,材料中点缺陷的电荷动力学会带来随机的电场噪声。研究团队成功对微米范围内16个点缺陷进行了定位,定位精度最高达到1.7纳米。基于这种关联分辨和精确定位的能力,他们还实现了对每个点缺陷电荷动力学的原位实时探测,为研究体材料内部点缺陷的性质提供了新的方法。研究人员介绍,这一成果展示了基于量子技术的超高灵敏度缺陷探测,甚至在一千亿个正常原子中出现一个缺陷也能探测到。这要比目前最灵敏方法的探测极限提升两个数量级以上,有望为当前十纳米以下芯片中的缺陷检测提供一种强有力的技术手段。[来源:光明日报][align=right][/align]

  • 【原创大赛】SGS材料说:超声波对金属焊缝缺陷性质的判定

    【原创大赛】SGS材料说:超声波对金属焊缝缺陷性质的判定

    [align=center][b]SGS材料说:超声波对金属焊缝缺陷性质的判定[/b][/align][align=center]徐顺序[/align][align=left][b]摘要[/b][/align][align=left]20年前,超声波检测仪器主要是以模拟仪器为主,由于当时的技术、个人能力和仪器性能的局限性,超声波检测方法几乎无法判定缺陷性质,时至今日,随着科学技术的发展和人员能力专业水平的不断提高,已越来越重视研究用超声波检测技术判定缺陷性质,完全可以通过缺陷的信号形状、信号的变化、探头的扫查方式、焊接方法和焊接接头的类型等信息综合分析判定缺陷性质,在此与各位共享通过超声波检测如何判定碳钢焊缝中的缺陷性质。[/align][align=left][b]关键字[/b]: 超声检测、焊缝、缺陷性质、判定[/align][align=left][b]1. 引言[/b][/align]焊接质量关系到产品使用寿命、企业信誉和人民的生命财产安全,焊接质量主要取决于焊接过程是否产生缺陷,使焊接金属不连续,从而影响产品使用寿命。根据目前世界无损检测技术的发展,金属焊缝内部的缺陷主要通过射线检测和超声波检测,20年前,超声波检测仪器主要是以模拟仪器为主,由于当时的技术、个人能力和仪器性能的局限性,使用模拟超声波仪器判定金属材料内部缺陷性质,结果及不可靠和准确,受此影响,我国的超声波无损检测标准中规定:超声波无法判定缺陷性质。只能通过射线检测才能正确判定焊缝缺陷性质的种类,由于射线检测对人体的辐射比较大,考虑到人身安全,世界各个国家或地区对射线检测的安全越来越重视,检测时需要设立隔离区,从而影响产品的制造进度和人员健康,而且检测速度相对很慢,人员投入也多,导致射线检测的成本很高,所以国内外相关行业专家通过几十年的研究,超声波仪器的性能发生了非常大的变化,从之前的模拟信号变为了数字信号,从单通道变成了多通道,从不能存储信号和数据变成了具有内存的设备,体积和重量相对而言缩小了好几倍,时至今日,在国外,好多标准都已规定了超声波如何判定缺陷性质,在此通过超声波检测研究如何判定金属焊缝中的缺陷性质,因缺陷性质直接影响到产品质量和使用寿命,缺陷性质是影响产品质量的一个重要因素,比如:国内外标准对规定,裂纹类缺陷不论多长、不论位置在何处都被判为不合格。[b]2.超声波判定缺陷性质条件[/b]首先超声波仪器和探头的性能必须符合相关标准要求,主要包括超声信号的垂直线性、水平线性、探头分辨率、探头声束偏离、脉冲频率、声束宽度等。同时超声波检测人员的个人能力也是一个重要因素,人员必须持有超声波焊缝检测的2级及以上证书,并了解基本的焊接信息,包括母材材质、焊接坡口种类、焊接方法、以及基本的焊接知识和材质的焊接特性。[b]3.金属焊缝中缺陷形成的原因[/b]国内外标准中对焊缝中的缺陷性质分类有如下几种方式:(1)从缺陷的形状分为圆形缺陷和线性缺陷;(2)从缺陷的三维尺寸分为面状缺陷和体积型缺陷;(3)从缺陷产生原因分为气孔、夹渣、未熔合、未焊透、裂纹、过熔透和咬边。通常按照缺陷性质进行分类,各种缺陷的形成原因各不一样,气孔主要是因为焊接材料含有水分和坡口内含有锈蚀或水分造成的;夹渣是由于焊接前坡口清洁不良或焊接过程中的氧化皮未清洁干净,或焊接参数不正确或根部未清理,导致熔池内的夹渣无法流出造成的;未熔合是由于焊接能量过低或母材未预热导致的;未焊透是由于焊接能量过小或钝边过大或坡口间隙过小造成的;裂纹是由于焊接应力过大或未正确消除应力产生的,过熔透是热输入量过高、或根部间隙过大造成的,咬边是热输入量过大导致的。[b]4.缺陷性质的判定[/b]在此主要讨论如何根据从不同缺陷及其不同方向反射回来的信号形状判定缺陷的性质,主要根据缺陷位置、方向、信号形状和扫查方式来判定。[b]气孔[/b]气孔属于体积型缺陷,有时候是单个的,有时候是密集状的,在超声波的显示屏上,该缺陷的信号宽度比较长,斜探头沿着气孔的周围进行环绕扫查,则随着扫查位置的发生变化,此类缺陷信号的高度和位置基本不变,说明信号的高度与扫查的位置是无关的,可以从气孔周围360度方向都可以检测发现此缺陷,由于气孔一般是圆形的,当超声波到达气孔时会产生散射衰减,根据反射原理,只有少量的超声波信号才能返回探头,并被接收探头接收,所以气孔类的缺陷信号高度比较低,如图1所示。[align=center][img=,552,198]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807271429158417_9800_2883703_3.jpg!w552x198.jpg[/img][/align][align=left][b]未焊透[/b][/align][align=left]不论是哪种类型的坡口,此类缺陷产生于焊接接头的根部,有一定宽度和高度,从焊缝两侧进行超声波斜探头扫查,在显示屏的同一位置出现高度基本相同的信号,同时底波消失,尽管水平距离基本一致,但此时在两个位置(如图2中的1和2位置)扫查时探头距离焊缝中心线都有一定的距离,信号水平位置不重叠,探头沿着焊缝长度方向进行扫查时信号高度不变(除探头位于缺陷端头部位),如果探头做旋转扫查或环绕扫查,则信号高度会迅速下降,判定此类信号的最大困难在于信号的位置几乎靠近底波位置,通常把缺陷信号误认为底波信号,所以当仪器的水平线性存在误差、探头的角度测量有误差时,会容易发生误判。如果焊接接头形式是T型接头,则从翼板背面用直探头(一般用双晶直探头)扫查,则容易发现此类缺陷。[/align][align=center][img=,593,185]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807271432096177_7473_2883703_3.jpg!w593x185.jpg[/img][/align][align=left][b]根部未融合[/b][/align][align=left]不论是单V型还是V型坡口的根部未熔合,从有缺陷一侧的焊缝侧进行斜探头一次波扫查,发现此类缺陷的信号高度比较高,形状比较尖锐,同时此侧的底波信号比较低,探头做旋转扫查时,缺陷信号的高度下降的比较快,探头沿着焊缝长度方向做平行扫查时,缺陷信号的高度几乎无任何变化,从焊缝另一侧扫查,往往无法发现缺陷信号,底波信号的高度比在缺陷侧扫查时高,如图3所示。如果是X型坡口或K型坡口,则可以采用串列式扫查,则更容易发现此类缺陷。[/align][align=center][img=,585,164]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807271433237387_8819_2883703_3.jpg!w585x164.jpg[/img][/align][align=left][b]坡口未融合[/b][/align][align=center]坡口面出现的未熔合类缺陷,用斜探头检测时需要考虑坡口的角度,比如60度的V型坡口,根据三角函数关系和反射原理,需要采用60度的斜探头扫查,当从焊缝的缺陷侧进行一次波扫查时,无法发现缺陷信号,二次波扫查时缺陷信号高度比较高,信号的水平位置也正好在坡口位置,如果从焊缝另一侧进行一次波扫查,同样可以发现此类信号,也比较容易发现,从两侧扫超时缺陷信号的水平位置和深度位置都在焊缝的同一位置,如图4所示。沿着焊缝长度方向扫查缺陷时,信号高度基本一致,当斜探头做旋转或者环绕扫查时,波高迅速降低。[/align][align=center][img=,363,159]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807271434366787_4268_2883703_3.jpg!w363x159.jpg[/img][/align][align=left][b]层间未熔合[/b][/align][align=left]所谓的层间未熔合是指相邻两层焊道之间形成的焊缝金属之间的未熔合,此类缺陷往往与母材表面平行,根据坡口未熔合类缺陷检测原理分析一样,选择探头时首先必须选择尽可能与缺陷垂直角度的斜探头,所以尽可能选择角度较大的探头,比如70度斜探头,此类缺陷的检测信号基本与其它未熔合类缺陷检测的信号变化一致,但从焊缝两侧扫查时信号高度基本一致。[/align][align=left][b]根部裂纹[/b][/align][align=left]根部裂纹的形状和方向不规则,从焊缝侧进行一次波扫查时缺陷的信号比较高,另一侧的信号相对较低,由于裂纹的形状通常是锯齿状的,所以缺陷信号有多个高度不一的波峰,探头做旋转扫查时信号波峰此起彼伏,沿着焊缝方向扫查也是一样,信号的波峰随着探头的移动不时变化,如图5所示。[/align][align=center][img=,573,176]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807271435373257_2654_2883703_3.jpg!w573x176.jpg[/img][/align][align=left][b]坡口裂纹[/b][/align][align=left]坡口裂纹的探头选择和扫查方式与坡口未熔合一致,往往也只能从裂纹侧才能发现此类信号,但是裂纹的形状与根部裂纹的相同。[/align][align=left][b]焊缝中心裂纹[/b][/align][align=left]焊缝中心裂纹可以从焊缝两侧都能发现,通常采用大角度探头比较容易发现,可以用一次波或二次波进行扫查,从两侧扫查的高度基本一致,信号位置和深度也相同,其它特征是裂纹类缺陷的共性,也可以通过串列式方式扫查。[/align][align=left][b]焊址裂纹[/b][/align][align=left]焊址裂纹出现在焊缝焊址处,往往从焊缝表面可以通过肉眼看见,或借助磁粉检测和渗透检测的方式容易发现,如果焊址裂纹有一定深度,也可以通过超声波检测到,通常是由于探头前沿长度原因,妨碍一次波扫查,所以往往用二次波扫查比较容易发现。[/align][align=left][b]根部咬边[/b][/align][align=left]根部咬边通常用外观检测方法容易发现,但有时候单面坡口焊缝,也就是属于单面焊接双面成型的焊缝,此类焊缝的根部由于结构件形状和几何形状的原因,人员无法接近,不能用直接或间接的目视检测方法检测,需要采用超声检测的方法,此类信号往往采用一次波检测就可以发现缺陷,只能从缺陷侧发现此类信号,缺陷信号出现在底波信号前面,缺陷信号振幅大小取决于咬边的严重程度,即很可能是相对低的信号,也可能是高的信号。然而,与咬边回波一起出现的还有来自根部焊道的信号(见图6)。如果咬边仅是想显示在图中的焊缝一侧那样,从另一面检测根部区域,很可能通常只能观察到正常的根部焊道的反射。[/align][align=center][img=,574,160]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807271436510448_7727_2883703_3.jpg!w574x160.jpg[/img][/align][align=left][b]过熔透[/b][/align][align=left]过熔透是出现在单面焊缝的根部,是由于间隙过大或热输入量过大造成的,属于外观缺陷,由于受工件或产品的几何形状和结构尺寸限制,无法接近,则可以直接用直探头检测,容易发现缺陷,否则需要借助斜探头扫查,采用较小角度的探头比较好,可以从焊缝两侧发现此类信号,但信号的水平位置出现在扫查面的另一侧,也就是来自两侧的缺陷信号的水平位置不在同一位置,信号深度位置大于母材厚度,同时底波消失,如图7所示。[/align][align=center][img=,578,191]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807271437405558_3661_2883703_3.jpg!w578x191.jpg[/img][/align][align=left][b]根部内凹[/b][/align][align=left]扫查方式类似于过熔透的缺陷检测,也可以从焊缝两侧通过一次波扫查到此类缺陷信号,来自两侧的信号高度基本一致,比较低,但深度位置小于母材厚度,同时底波消失,信号的水平位置出现在扫查侧,如图8所示。[/align][align=center][img=,567,172]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807271438335168_6202_2883703_3.jpg!w567x172.jpg[/img][/align][align=left][b]夹渣[/b][/align][align=left]夹渣是体积形缺陷,可以从所有能检测的位置和方向都能检测到。信号包含多个波峰,信号形状比较钝,菠萝装,旋转探头时,当信号的后沿升高时,信号的的前沿下降,反之亦然,可以采用一次波或二次波检测,探头做环绕扫查,也可以发现缺陷信号,图9所示。[/align][align=center][img=,440,147]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807271439203928_8127_2883703_3.jpg!w440x147.jpg[/img][/align][align=left][b]5.结论[/b][/align][align=left]综上所述,判定缺陷性质的基本原则是:首先需要根据相关标准、程序文件、焊缝特性、产品结构尺寸和个人经验选择好探头的种类,包括探头角度、晶片尺寸、频率,其次,尽可能采用声束方向与缺陷方向基本垂直的方式扫查,缺陷信号必须最高时才能判定缺陷位置和性质,每个缺陷的信号都不一样,需要仔细研究,不断总结经验,超声检测人员通过近一年的研究和实践,完全可以判定各种类型焊缝中的缺陷性质。[/align][align=left][b]参考文献:[/b][/align][align=left]《美国无损检测手册-超声篇》:2010;[/align][align=left] ISO23279:2010-Non-destructive testing of welds —Ultrasonic testing —Characterization of indications in welds[/align][align=left][/align]

  • 铝合金常见缺陷

    金相检验是判断铝合金常见缺陷的方法之一,通过高倍显微镜、低倍显微镜、放大镜或眼睛对铝合金试样进行微观和宏观检查,发现各种缺陷。铝合金常见缺陷有: 1、缩孔 铝液在凝固的过程中,体积收缩得不到充分补充时,易在最后凝固的部位形成管状或枝杈状孔洞,称为缩孔。有的暴露在产品表面,有的则存在于产品内部。 在以Al--Si为基的共晶型合金中,结晶间隔较小,集中收缩的倾向大,所以在补缩不足的部位易形成管状集中缩孔。有时由于有共晶成分的液体填充缩孔,而出现粗大的共晶偏析区。在以Al--Cu、Al--Mg为基的固溶体型合金中,结晶间隔较宽,在补缩不足的部位易形成枝杈状缩孔,而在缩孔的周围也可能会形成共晶偏析。 表面缩孔眼睛也能观察得到,内部缩孔则在低倍检查、断口检查、高倍检查时才能发现。而由缩孔产生的共晶偏析,则在宏观组织或微观组织检查才会发现。 2、疏松 疏松是由于铝液体积收缩或其它原因所形成的细小而分散的孔洞。多发生在枝晶间,易造成内部组织不致密。分为宏观疏松和微观疏松,目视可见的为宏观疏松,显微镜下观察到的为微观疏松。 疏松的产生与铝合金的结晶间隔大小、合金的凝固和补缩条件以及合金中气体含量有关。 结晶间隔较大,树枝状结晶发达,共晶成分的液相少,在枝晶间和晶界上易形成分散性的显微疏松;结晶间隔小,树枝状结晶不发达,共晶成分的液相多,不易形成分散性缩孔,但在补缩不足最后凝固的部位会形成海绵状的集中疏松。 合金凝固速度快,晶粒细小,有较好的补缩条件,不易产生疏松;反之,则疏松严重。 合金中气体含量高时,也会加重疏松的严重程度。 低倍检查疏松,试样应把检查面加工光洁,用氢氧化钠溶液浸蚀;高倍检查疏松,试样抛光后不浸蚀检查。在显微镜下观察到的疏松为树枝状的黑色孔洞,分布在枝晶间。

  • 【求助】晶体结构缺陷模拟软件问题请教

    各位老师,师兄弟姐妹们, 除了Diffax程序外,还有什么软件可以模拟研究晶体的缺陷结构呢?最好是根据XRD数据的有谁用过 Diffax 这个程序,或者Diffax-plus啊? Diffax 程序我只下到了网上的苹果系统上的执行文件和源代码,前者没有苹果机,后者需要用fortran语言编译,自己不会编译。diffax是可以执行的文件,但是在发表的资料上还没怎么见过,不知道是不是和Diffax完全一样?另外是,Diffax也不会用啊,是不是需要自己编一个结构文件.dat, 一个参数.par 文件才行?这两个文件里面的具体内容又是什么意义呢?还有一个问题,这里牵扯到了winplotr软件,怎么用diffax生成的prf文件做晶体的结构框架呢?希望有人用过!谢谢!

  • GMP检查缺陷整改思路

    GMP检查缺陷项整改思路GMP检查每次总是在紧张中开始,又在紧张中结束。这次写GMP整改报告也不知道是第几次了,但每次都是不一样的感觉,好像质量部就是清理战场的一样。别的不扯了,说说我们写整改报告的一些程序和注意事项吧!一、 GMP整改报告的撰写1.一般情况下整改报告要像申报资料一样,装订成册,美观,这也是最基本要求了。2.整改报告的基本要求2.1 企业通常应在现场结束后10-20个工作日(虽然有的文件或省里要求的时间还长一些或者也没有规定,但还是不要太长时间啊),将改正方案上报当地省级药品认证中心,同时抄报企业所在地市局,当然装订资料最好准备上4-5份,这样除了上报的资料外,自己也可以留一份,备查。2.2 整改方案可以参考对应省份的《整改报告编写指南》,通常是由正文和附件两部分组成。正文部分可以按条款顺序逐一进行撰写, 通常至少应包括:缺陷的描述、产生缺陷的原因分析、相关的风险分析评估、(拟)采取的整改措施及完成时间或完成计划、预防纠正措施、本次整改的结果等。正文部分可以是文字描述,也可以采用表格的形式进行说明。附件部分应是对正文部分进一步解释说明的证明性材料,大部分是一些图片、文件的扫描件、记录等。2.3 整改方案应内容完整、表达清楚,文字通顺、用语准确,充分如实反映企业的整改情况,并加盖企业公章。通常要在封面和承诺函的地方还有就是整本材料的骑缝章。2.4 有的地方还要有公司批准整改报告的文件和市局对整改情况核查的一份文件,也是对整改完成情况的一个确认。3.整改方案的技术要求3.1 缺陷的描述3.1.1 首先将检查过程中提出缺陷的背景与实际情况进行描述,使审核整改方案的专家老师清楚当时是什么情况,所以这里有技巧但也要尊重事实。同时公司还应将现场检查时提出的类似问题或其他部分涉及的缺陷内容,如综合评定、需要说明的问题等。3.1.2 应对检查报告中涉及的每项缺陷进行详细的文字表达,包括发生的时间、地点、具体情节及相关人员等。【例:缺陷描述:仓库员工(xxx)在2015年03月11日接受一批XX胶囊(批号:20150101)的退货时,未严格按文件执行企业退货和收回程序,退货产品接受处理记录内容不全,退货来源、数量均未记录。】3.2 原因分析3.2.1 应对涉及的缺陷逐条进行原因分析。原因分析不应停留在引发缺陷的表面现象,应找到缺陷发生的根本原因。3.2.2 对发生的缺陷至少应从以下方面进行分析:3.2.2.1 涉及软件的,应分析是否制订了相应的文件;相应的文件的内容是否完善、合理;相应的文件是否已经过了培训;员工是否按照相应的文件进行了操作;质量管理部门是否进行了有效的监督。3.2.2.2 涉及硬件的,应主要从设计选型、施工安装、日常维护等因素进行原因分析,并审阅支持该硬件的文件系统。3.2.2.3 涉及人员的,应分析是否配备了足够的人员;相关人员的能力是否胜任该岗位的需要;相关人员是否受到了应有培训;培训的内容是否已被掌握。3.2.2.4 就是要从人、机、料、法、环进行全面的分析,当然实际过程中最好是将直接原因和间接原因一并进行分析。3.2.3 根据原因分析的结果进而确定该缺陷是由于系统原因造成还是偶然发生的个例,原因分析要有一个相对明确的结论。【例:缺陷描述:口服固体车间部分计量器具(温湿度计、压差计等)计量合格证上无编号,不能追溯;原辅料仓库相邻房间温湿度计的相对湿度差15%以上。原因分析:现场检查时发现口服固体车间部分温湿度计、压差计计量合格证上无编号,主要是质量管理人员管理不到位造成。负责计量器具的为新招聘人员,由于培训不到位,平时工作疏忽,未对该车间的计量器具进行校验登记,主管也未对此项工作及时监督检查,造成该缺陷。该缺陷产生为系统原因,涉及培训、员工对该岗位工作的胜任程度和质量管理部门的有效监督。原辅料仓库相邻房间温湿度计的相对湿度差15%以上,该仓库温湿度计均经过校验,并在有效期内。经了解,可能是由于仓库人员在某次搬运时碰到温湿度计,掉落损坏,未及时发现。质量部门将仓库所有的温湿度计都进行了检查,其余均正常。该缺陷为偶然发生个例。】3.3 风险分析与评估3.3.1 风险分析是对每条缺陷发生后会产生什么后果进行的分析,可以运用失效模式进行评估,应对涉及的缺陷逐条进行全面的风险评估,评估至少应包括以下内容:3.3.1.1 该缺陷带来的直接后果;3.3.1.2 该缺陷可能发生频率的高低;3.3.1.3 该缺陷涉及的范围,是否涉及本次检查范围外的产品;3.3.1.4 该缺陷是否对产品质量产生直接的不良影响;3.3.1.5 该缺陷是否对产品质量存在潜在的风险;3.3.1.6 风险的高低程度。3.3.2 风险评估结果认为存在的缺陷对已经生产或上市的产品产生质量风险的,企业应明确是否需要采取进一步的产品控制措施,包括拒绝放行、停止销售、召回、销毁等。3.3.3 通常情况下,现场检查发现的风险均为中低风险,如果有重大风险那通过GMP的可能性也会下降,所以我们在写报告进行风险分析也要客观真实,至少不要让检查老师一看就是在应付,那么这样的整改报告是通不过的,一般都会再重新进行整改,材料会反复的进行修改,浪费时间和精力。3.4 纠正预防措施纠正预防措施是两方面的事情,有时候我们在写报告的时候很容易只写了预防措施,在纠正措施上没有具体写。3.4.1 纠正措施在写纠正措施时应根据原因分析及风险评估的结果,针对缺陷产生的根本原因,在企业内部进行全面排查,要举一反三,分析关联性环节是否存在同样问题,如考虑相邻批次、其他车间相同工序等,提出对缺陷采取的纠正行动或拟采取的纠正行动,以便审核人员很清楚你要做什么,这样别人也就很容易对你给予支持,也就会放心了。3.4.2 预防措施对有可能再次发生的缺陷应提出明确的预防措施,以防止此类缺陷的再次发生,这个就不多说了。3.5 整改结果这个就是要针对每条缺陷进行整改的情况,结果,如在上报资料前不能完成整改,则应制订详细的整改计划,最好明确相关责任部门和责任人,完成时间等。3.6 附件3.6.1 就是要将所有整改的证明材料作为附件,可以附在每条缺陷整改结果之后,也可以编号进行统一整理。3.6.2 附件主要就是提供所采取的质量控制措施和整改措施的证明性材料,材料至少应包括以下内容。3.6.2.1 风险评估认为存在的缺陷对已经生产或上市的产品有质量风险,采取拒绝放行、停止销售、召回、销毁等措施的,应提供产品的名称、规格、批次、数量、销售情况、流向及对产品的处理情况。3.6.2.2 涉及关键岗位人员调整的,应提供相应的文件及相关人员的资质证明复印件。3.6.2.3 涉及人员培训的

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