The high accuracy characterisation of the thicknesses and optical properties of III-V semiconductors has been successfully performed using the UVISEL Spectroscopic Phase Modulated Ellipsometer. Moreover, Spectroscopic Ellipsometry can be applied to characterise multilayers of miscellaneous binary, ternary semiconductors and alloys (MQW structure, PIN structure, pump laser, laser semiconductor,…).
光调制是现代光学技术中的基本环节,通过光与材料的相互作用,实现对光束的调控,在光通信、超快激光和光传感领域有广泛的应用。目前传统的方式是通过电学方法来提高信息处理速度,但快也只能在20~30个皮秒内完成信息处理。基于此背景,浙江大学童利民教授研究组与复旦大学刘韡韬教授等合作,另辟蹊径,以二维材料为基础,采用全光调制,将处理时间提升至2~3个皮秒内,达到传统方法的近十倍速度。实验中,HORIBA iHR 320光谱仪用于对石墨烯转移过程中的层数判断和精确定位。