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汽车镀层相关的仪器

  • XTU-4C是一款设计结构紧凑,模块精密化程度高的镀层测厚仪,采用了下照式C型腔体设计,不但可以测量各种微小样品,即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量,是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。快速准确移动定位:高精密微型移动滑轨,10-30mm(X-Y)/圈,精度0.005mm微焦X射线装置:检测面积可小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件高效率正比接收器:即使测试0.01mm2以下的样品,几秒钟也能达到稳定性变焦装置及算法:可对各种异形凹槽进行检测,凹槽深度测量范围可达0-30mm对焦方便:下照式设计可以快速定位对焦样品1.元素分析范围:氯(Cl)- 铀(U)2.涂镀层分析范围:氯(Cl)/锂(Li)- 铀(U)3.厚度检出限:0.005μm4.成分检出限:1ppm5. 测量直径小至0.2mm(测量面积小至0.03mm2)6.对焦距离:0-30mm7.样品腔尺寸:500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸:550mm*480mm*470mm9.仪器重量:45KG10.XY轴工作台移动范围:50mm*50mm11.XY轴工作台承重:5KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域。选择一六仪器的四大理由:1.一机多用,无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素,重复镀层,同种元素不同层亦可检测
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  • 多功能涂镀层测厚仪FischerScope MMSFISCHERSCOPE-MMS PC2 台式涂镀层测厚仪|德国菲希尔fischer台式涂镀层测厚仪FISCHERSCOPE MMS PC2简介:高级台式设备,用于通用的涂层厚度测量和材料测试,具有彩色触摸屏、可进行个性化配置并带有各种设备接口典型应用领域:电镀层以及钢铁上的涂料制造。 铝上的阳极氧化膜(PERMASCOPE模块)纳米涂层(防指纹)、太阳能电池涂层(玻璃上的CdTe镀层)、接插件上的金镀层、焊盘上的铅锡合金镀层以及、光阻层、油和蜡涂层(BETASCOPE模块)测量线路板上的面铜和孔铜(SIGMASCOPE模块)测量薄板或多层线路板表面铜层厚度,不会受反面铜层影响(SR-SCOPE模块)印刷线路板生产中铜上的阻焊层厚度(PERMASCOPE模块)汽车工业中活塞表面的石墨涂层或制动盘上的防腐涂层(PERMASCOPE模块)汽车行业中活塞表面的含铁涂层(NICKELSCOPE模块)奥氏体钢或双相钢中的铁素体含量(PERMASCOPE模块)非铁磁性金属,如铜、铝、钛的电导率(SIGMASCOPE模块)特点:只需使用一台仪器就可以完成涂镀层厚度测量以及材料测试!坚实且极为通用的台式多功能测量系统,具有保存数据和处理测量数据的功能.便于用户操作的宽大高分辨率 LCD 触摸屏,基于Windows CE设计。.众多不同的嵌入式测量模块,可进行大量不同的设备配置以满足客户要求。 模块化设计允许在任何时候进行仪器升级。根据应用可以安装相似或不同的测量模块嵌入式模块 BETASCOPE SIGMASCOPE PHASCOPE DUPLEX NICKELSCOPE SR-SCOPE 和 PERMASCOPE采用了各种物理测试原理,详情参见产品说明.可连接多达八个测量探头各种不同的探头,用于被测样品不同的几何形状和厚度范围随仪器附送计算机端软件FISCHER DataCenter,其拥有以下功能:传输保存测量值,全面的统计性和图形化评估,轻松生成并打印检验报告无锡骏展仪器有限责任公司为客户提供方守合同、快速售前(演示设备、引进更新技术)销售(选购、满足客户对客户的要求)、售后服务、设备维修、维修问题等)当客户需要时,我们专业的工作人员可以到客户现场,提供急需的服务。
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  • 概述  双用涂镀层测厚仪采用磁性和电涡流两种测量方法,可检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如钢铁合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等),以及非磁性金属基体上非导电的绝缘覆盖层的厚度(如铝、铜、锌、锡上的橡胶、塑料、油漆、氧化膜等)。  涂层测厚仪应用在电镀、防腐、航天、航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。既可用于实验室,也可用于工程现场。配置不同的探头,适用于不同场合。它是检测行业重要的仪器。  双用涂镀层测厚仪主要功能  ● 具有两种测量方式:连续测量和单次测量方式   ● 具有两种工作方式:直接和成组方式   ● 具有自动统计功能:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)   ● 可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正   ● 存储功能:可存4 个校正工件可保存。分2类工件,每类26组,每组15个,共1560个测值   ● 删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存储区内的数据,以便进行新的测量   ● 设置限界:对限界外的测量值能自动报警   ● 具有电源欠压指示功能,操作过程有蜂鸣声提示,自动关机方式。
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  • 镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。ScopeX PILOT台式镀层测厚仪采用下照式设计,搭载先进的Muti-FP算法软件和微光聚集技术,以及高敏变焦测距装置,对不均匀、不规则,甚至微小件等形态的样品,都能够快速、精准、无损检测,可轻松应对镀层领域的表面处理的过程控制、产品质量检验等环节中的检测和筛检难题,被广泛应用于珠宝首饰、电镀行业、汽车行业、五金卫浴、航空航天、电子半导体等多种领域。使用优势可选配微焦X射线装置测试各类极微小的样品,即使检测面积微小的样品也可轻松、精准检测。多准直器/滤光片多滤光片和多准直器可选或软件自动切换组合,使得仪器的多功能性得以显著提升,以灵活应对不同尺寸的零件。下照式设计从下往上测量,无需额外对焦,可轻松实现对镀层样品的高效测量。无损检测X射线荧光是无损分析过程,不留任何痕迹,即使是对敏感性材料,其测量也是非常安全的。变焦装置可对各种异形凹槽样品进行检测,凹槽深度测量范围可达0~30 mm。高精度手调X-Y平台搭载高精度手调X-Y平台,最高精度可达25μm,使微区测量更便捷。应用场景紧固件五金小零件珠宝首饰汽车零部件技术参数元素范围Al(13)-Fm(100)分析层数5层(4层+基材) 每层可分析10种元素,成分分析最多可分析25种元素 X射线管50 W(50kV,1mA)微聚焦钨钯射线管(靶材可选配)探测器Si-Pin探测器,(可选配高灵敏度SDD探测器)准直器Φ0.1-Φ3可选,多准可选相机高分辨率CMOS彩色摄像头,500万像素手动样品XY平台手动移动平台,移动范围:50x50 mm滤光片固定初级滤光片,多滤光可选样品仓尺寸320×480×130mm(W×D×H)外形尺寸330×580×360mm(W×D×H)重量40KG电源AC 220V±5V 50Hz(各地区配置稍有不同) 额定功率150W
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  • TrueX COAT镀层分析仪集成了浪声前沿的科研创新,具有快速、高精准度、轻便、易携带等优点,其可对大量金属废料进行现场检测和快速分类,为使用者提供迅速高效、准确的数据信息,是钢铁冶炼、有色金属、石化精炼、精细化工、制药、电力电站、航空航天等行业在质量控制(QA/QC)、材料分析(PMI)、混料识别、废料分拣(Recyling)、牌号识别(Grade ID)中的有力工具。使用优势易携性仪器体积更小、重量更轻,方便现场实时检测,可轻松应对各种形状的样品。无损检测在不损坏检测对象的前提下,快速精准地对镀层样品进镀层厚度以及样品元素含量进行分析。散热性仪器配有专用的T型槽式散热装置,提高仪器散热性能,无需频繁等待探测器冷却。准确可靠的定性定量方法集成了浪声前沿的Super-FP算法、校正曲线法等先进算法,使得仪器不仅测量速度更快,测量准确性更高,测量一致性更强。高品质进口探测器仪器选用适合于多元素镀层的分析进口探测器,噪音小,可灵活地应对镀层结构。应用场景线路板行业五金建材行业珠宝和手表行业精密电子、5G行业汽车和装饰行业电镀槽液、电镀废水中的金属含量规格参数重量1.6KG(配置电池)尺寸254×79×280mm(L×W×H)激发源50KV/200μA上限,管压管流可自由调节,W/Ag/Rh靶材(可选配)元素范围Mg(镁)—U(铀) 分析层数5层(4层+基材)每层可分析10种元素,成分分析最多可分析25种元素探测器Si-Pin探测器/SDD探测器(可选配)显示系统4.3英寸工业级电阻触摸屏自动根据外部环境亮度调节显示器亮度数据处理内置32G存储器USB,蓝牙,WIFI,可将设备联入互联网,可远程对仪器进行设置及检修散热性仪器配有专用的T型槽式散热装置,提高仪器散热性能,无需频繁等待探测器冷却安全性内置DoubleBeam&trade 技术自动感知前方有无样品,提高射线的安全性和防护等级防水、防尘、防震手提箱LANScientific专用安全绳电源系统具有MSBUS总线的智能电池、实时监控电池、备用电池可直接查看电池剩余容量,电池符合航空危险品运输条例单个电池可持续工作8小时左右
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  • XU-100镀层测厚仪 400-860-5168转5992
    XU-100 X荧光光谱测厚仪高精尖检测技术,搞定企业品质管控!XU-100光谱测厚仪采用下照式C型腔体设计,搭配微聚焦X射线发生器和高集成垂直光路系统,以及高敏变焦测距装置,对各种大小异形件都可快速、精准、无损测量。
 检测各种金属镀层,检出限可达0.005μm,最小测量面积0.2mm² ,凹槽深度测量范围可达0-30mm,是一款测量镀层厚度性价比高、适用性强的机型。应用行业:电镀层分析紧固件行业五金行业汽车零部件配饰厚度分析电子元器件……常见样品:紧固件
 ZnAl/Fe、Zn/Fe、ZnNi/Fe五金制品
 Sn/Cu/Fe、Ni/Cu、Ni/Cu/Fe电子元器件
 Sn/Ni/Fe、Au/Ni/Cu、Ag/Cu
 汽车零部件Zn/Fe、ZnNi/Fe、ZnAl/Fe、Cr/Ni/Cu/ABS
 配饰首饰
 Au/Pd/925Ag、Rh/Pd/Cu、18KAu/Pd/Cu散热片NiP/Al……为什么选择XU-100?1.下照式设计
 可以快速方便地定位对焦样品。
 2.高精密微型移动滑轨快速精准定位样品。3.
 微焦X射线装置
 最小检测面积可达0.2mm² 的样品,可进行各类电镀层膜厚检测。
 高效率正比接收器即使测试0.2mm² 的样品,几秒钟也能达到稳定性。4.
 变焦装置算法
 可对各种异形凹槽进行检测,凹槽深度测量范围可达0-30mm。
 5.先进的EFP算法
 多层多元素,包括有同种元素在不同涂镀层的检测,都可以快、准、稳的做出数据分析。
 最小检测面积可达0.01mm² 凹槽深度范围0-30mm移动精度10μm最近测距光斑扩散度10%
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  • X射线荧光镀层测厚仪,涂层镀层测厚仪X射线荧光镀层测厚及材料分析仪系列测量方向产品型号应用范围检测器射线管基本滤片准值器数量/尺寸(mm)C型开槽从下往上XUL一款适合电镀厂测量镀层厚度的性价比高的仪器,它配备了一个固定的准值器和滤,射线管出射点稍大,非常适合测量点在1mm以上的应用。对于测量典型电镀层厚度的应用,如Cr/Ni/Cu等,非常合适。PC标准11(Φ0.3)是XULM多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层(如50nm Au或100um Sn)都通过选择好的高压滤片组合很好的测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100um的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例接收器接收到。PC微聚焦34(0.05*0.05-Φ0.3)是XAN110/120专门为分析金合金开发的划算的仪器。比较XAN而言,只有一个固定的准直器和固定的滤片,特别适合贵金属分析。XAN 110配备比例接收器,适于几种合金元素的简单分析。XAN120配备了半导体接收器,更可以应用于多元素的复杂分析。PC(XAN 110)PC(XAN 120)标准11(Φ0.3XAN110)1(Φ1XAN120)否XAN分析专用仪器,测量方赂从下到上。用途广泛。测量室全封闭,可以使作大准直器分析,高计数康可也可被硅漂移探测器处理。激发和辐射检测方式与XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物质衡量分析的理想仪器。PINSDD微聚焦3/64(Φ0.2-Φ2)否从上往下测量XDL适合镀层厚度测量的耐用仪器,即使大测量距离也可以测量(DCM,范围0-80mm)配备一个固定的准值器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用;跟XUL类似。可选 用自动测量的可编程工作台。PC标准11(Φ0.3)是XDLM比XDL适用面更广,配备微聚焦管,4个可切换的准直器和3个基本滤片。测量头与XULM想似;适合于测量小的结构如接插件触点或印刷线路板,也可以测量大的工作(DCM,范围0-80mm)PC微聚焦34(0.05*0.05-Φ0.3)是XDAL与XDLM类似但配备了半导体接收器。这样就可能可以分析元素和测量超薄层(基于良好的信噪比)。比较适合测量结构较大的样品。PIN微聚焦34(Φ0.1-Φ0.6)是XDC-SDD适合于全部应用的高端机型。根据测量点大小和光谱组成,激发方式灵活多样。配备了硅漂移接收器,即使强度高达100kcps的信号也可以在不损失分辨率的情况下处理。SDD微聚焦64(Φ0.1-Φ0.3)否SDV-U专用微观分析的测量仪器。根据X射线光学部件的不同,可以分析小到100um或更小的结构。强度很高所以精度也非常好。即使很薄的镀层,测量不确定性小于1nm也是可能的。仅适于测量表面平整或接近平整的样品。SDD微聚焦4多毛细管系统是XDV-Vacuum具备综合测量能力的通用高端机型。与XDV-XDD相当。但可外配备了可抽真空的测量室,这样就使得分析从原子序数Z=11(Na)开始的轻元素成为可能。高精度的马达驱动的XYZ平台和视频摄像头可以精确定位样品位置和测量细小部件。SDD微聚焦64(Φ0.1-Φ3)否在线测量X-RAY 4000用于生产过程中薄膜,金属带或穿孔带的连续测量。测量头可以装配与样品传送方向的直角的位置。操作方便,启动迅速。数据接口可集成到质量管理或控制系统X-RAY54000用于生产线上连续测量的法兰式测量头。测量带状物,薄膜或玻璃的金属元素。在空气和真空都可以测量。提供水冷版本仪器。 X射线荧光镀层测厚仪,涂层镀层测厚仪用途:由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统,因而应用广泛 在电子和半导体产业里,测量触点上薄金,铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中,精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中,需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中,光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中,则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者,检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》(ROHS指令)也是十分关键的。在玩具工业中,也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用,菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。 X射线荧光镀层测厚仪,涂层镀层测厚仪用途领域:1、钟表,首饰,眼镜 2、汽车及紧固件 3、卫浴五金4、连接器5、化学药水6、通信7、半导体封装测试8、电子元器件 9、PCB(线路板)
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  • 规格型号:CM-8828产品应用:涂层测厚仪是一种便携式测厚仪,能快速、无损伤、精密地测量涂层、镀层的厚度;可用于工程现场,也可用于实验室,通过不同探头的使用,更可满足多种测量需求;广泛应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域;是材料保护专业必备的仪器。产品特点* 铁基和非铁基两用涂层测厚仪。* 具有单次和连续两种测量方式可选。* 公/英制单位转换。* 具有手动关机、自动关机和欠压提示等功能。* 自动记忆校准值和自动识别被测基体的材质。* 操作过程中有蜂鸣器提示音, 连续测量时蜂鸣器不发声。* 采用RS-232数据线输出,与PC连接。* 提供蓝牙 Bluetooth 数据输出选择。* 汽车涂层测厚仪,一键操作,快捷方便。 技术规格:测量范围0~1250μm/0~50mil(标准量程)分辨率0.1μm/1μm准确率±1~3%n或±2.5μm最小曲面F:凸1.5mm/凹25mm N:凸3mm/凹50mm最小测量面积6mm最薄基底0.3mm公制/英制转换√低电压提示√自动关机功能√工作环境温度:0~40oC 湿度:10~90%RH电源4节 7号电池尺寸126x65x27mm重量81g(不含电池)测量方法NF涡流、F磁感应标准配置主机F铁基传感器NF铝基传感器F铁基片NF铝基片标准片(5片)手提便携箱(B04)使用说明书可选附件RS-232 联机线及软件蓝牙适配器及软件
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  • 镀层测厚仪 400-860-5168转2014
    仪器简介:产 品 介 绍: 订购编号:20706 CMI233(单探头) / 20707 CMI233(双探头) 用途:广泛应用于喷涂电镀、涂料涂装、汽车、石化管道、造船、电器、防腐等行业中的表面涂层及各种薄膜厚度的测量 CMI 200型测厚仪是高科技电子技术和软件的佳组合,多功能、耐用的设计,专为适应恶劣的工作环境而制造,典型应用于表面处理工业。 CMI 200以经济的价格为您提供对涂镀层厚度的准确、高效的监控。 (涂层测厚仪/涂镀层测厚仪是本公司主打销售产品之一,我们是牛津测厚仪中国一级代理,专业提供涂层测厚仪品牌、涂层测厚仪行情、测厚仪参数、测厚仪应用、测厚仪维修、测厚仪保养、测厚仪报价、测厚仪售后服务等涂层测厚仪各种问题) (涂层测厚仪,镀层测厚仪,漆膜测厚仪,薄膜测厚仪,测厚仪,涡流测厚仪,油漆测厚仪,磁感应涂层测厚仪)技术参数:应用范围: 磁性基材上的非磁性涂层,例如钢或铁上的锌、铬、镉、锡、铜、聚四氟乙烯、环氧树脂、油漆、粉末涂料等涂层 导电基材上的非导电性涂层,例如铜或铝上的阳极电镀、油漆、珐琅/瓷釉、粉末涂料、环氧化物等涂层。 ●测量方法:磁感应或涡流式 ●测量精度:1%± 0.1&mu m依照参考标准片 ●测量范围:磁感应0-120mils(0-3.05mm);涡流0-60mils(0-1.52mm) ●分辨率:0.1&mu m ●小曲率半径 5mm(凸);25mm(凹) ●小测量面积 &phi 20mm ●小基体厚度 0.35mm ●适用标准:磁感应遵守ASTM B499 & B530;DIN 50981;ISO 2178 and BS 5411 PART9&11有关规定。涡流式遵守ASTM B244 & B259;DIN 50984;ISO 2360 and BS 5411 PART3有关规定 ●存储量:12,400条读数 ●低铁和无铁层厚度:12 mils(305&mu m) ●尺寸及重量:14.9X7.94X3.02 CM;重量:260克(含电池) ●单位:英制和公制,可转换 ●电池:9伏干电池或充电电池 ●统计数据显示:读取次数,平均值,标准差,高值,低值,由打印机或连续输出支持的直方图和CPK图 ●接口:RS-232串行输出端口 ●显示:1/2英寸背光液晶显示屏 ●键区:密封膜。基本-9键;增强-16键 ●扫描特征:在指定扫描时间内自动平均读数(或可提供实际高低值) ●品牌及产地:英国牛津仪器;产地:美国主要特点:品牌:OXFORD CMI(英国牛津) 简介: □性价比优势:同类进口产品中具有很高的价格性能比 □探头:配备有世界上的检测探头 □测量精度:1%或± 0.1&mu m依照参考标准片,分辨率:0.1&mu m □测量范围:磁感应0-120mils(0-3.05mm);涡流0-60mils(0-1.52mm)
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  • 接收器:日本东芝正比计数管,窗口面积≥150mm2射线准直系统:垂直光路交换装置搭配黄金准直器视频观测光路系统:垂直光路交换装置搭载100mm变焦镜头测样读取开启方式:恒压恒流快门式光闸滤光片:铝、空、镍准直器:?0.05mm;?0.1mm;?0.2mm;?0.5mm;四准直器任选一种近测距光斑扩散度:10%小测量面积:约0.002mm2测量距离:具有距离补偿功能,可改变测量距离,能测量凹凸异形样品,变焦距离0-30mm样品观察:1/2.5彩色CCD,全局快门,有效像素:1280*960,变焦功能对焦方式:高敏感镜头(无需增加其他辅助传感器),手动对焦放大倍数:光学38-46X,数字放大40-200倍样品台尺寸:500mm*360mm样品可放置区域:480mm*320mm*205mm(C型开槽设计,特殊测试时可以超出区域放置样品)外部尺寸:540mm*430mm*475mm移动方式:高精密XY手动滑轨可移动范围:40mm*50mm电源:交流220V 50HZ 功耗:大120W(不包括计算机)冷却系统:对流通道过滤式风冷保养升级模块:软硬件模块化环境要求:使用时温度:10℃-40℃ 存储和运输时温度:0℃-50℃ 空气相对湿度:≤80%重量:约45KG随机标准片:十二元素片、Ni/Fe、Au/Ni/Cu其他附件:电脑一套、喷墨打印机、附件箱PCB板材膜厚仪电镀层测厚仪XTU 系列测厚仪虽然结构紧凑,但是都有大容量的开槽设计样品腔,即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。搭配微聚焦射线管和先进的光路设计,及变焦算法装置,可测试极微小和异形样品。检测78种元素镀层· 0.005um检出限· 小测量面积0.002mm2· 深凹槽可达90mm。外置的高精密微型滑轨,可以快速控制样品移动,移动精度0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,PCB板材膜厚仪电镀层测厚仪应用领域 线路板、引线框架及电子元器件接插件检测 镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析 手表、精密仪表制造行业 钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB 汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测 卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS) 电镀液的金属阳离子检测 项 目参 数测量元素范围Cl(17)-U(92)涂镀层分析范围各种元素及有机物分析软件EFP,可同时分析23层镀层,24种元素,不同层有相同元素也可分析软件操作人性化封闭软件,自动提示校正和步骤,避免操作错误X射线装置W靶微聚焦加强型射线管准直器? 0.05 mm 0.1 mm 0.2 mm 0.5 mm;准直器任意选择一种近测距光斑扩散度10%测量距离具有距离补偿功能,可改变测量距离,能测量凹凸异型样品,变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)样品观察1/2.5彩色CCD,变焦功能对焦方式高敏感镜头,手动对焦放大倍数光学38-46X,数字放大40-200倍样品台尺寸500mm*360mm移动方式高精密XY手动滑轨可移动范围50mm*50mm随机标准片十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um其它附件联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱 无损天瑞X荧光光谱镀层膜厚检测仪,天瑞镀层测厚仪
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  • 此产品显示价格不是最终成交价,请与客服咨询有效价格! 博曼BA-100系列全自动镀层膜厚仪 美国博曼BA-100系列镀层厚仪:主机美国原装进口,由美国K alpha公司研制,无损镀层测厚仪,测量时间短、报告输出多样化、维护成本低廉,拥有变焦系统和多准直器系统,可实现大型扁平状产品、带有凹槽的产品的测量的镀层测厚仪。 应用领域:PCB、FPC、SMT、LED、连接器、端子、紧固件、汽车零部件、五金、卫浴、装饰性电镀、功能性电镀产品的镀层厚度测量。是众多电镀厂家、采购商检测产品镀层厚度的一款镀层测厚仪。 产品规格:X射线激发由上往下,采用W靶,铜管体的光管,XY轴程控控制,程控移动距离127×153mmZ轴程控控制,程控移动距离140mm焦距可变,焦距规格为6.5~65mm30倍放大的高清CCD固态的Si-Pin探测器多准直器系统,4个准直器/组,标准规格为:Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3、Φ1.5mm开槽式样品台,载物台尺寸:宽350×深395mm样品仓内部尺寸:314×380×140mm 产品特点:1、测量元素范围为Ti22--U922、可同时测5层镀层(4层镀层+1层基材层)3、成份分析可达25种元素4、仪器配备的变焦系统,可测凹槽类的产品;5、开槽式样品台,可测量大型的扁平类产品(如PCB)6、多准直器系统可满足不同斑点的样品测量7、测量精度高,测量结果准确至μin8、测量单位可选择um、uin、mils、nm 准确货期请与客服咨询为准!谢谢!
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  • 用于大件样品和多层膜样品的非破坏分析 M1 MISTRAL是采用X射线荧光技术的光谱仪,可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围:原子序数22号(钛)-92号(铀)中的元素。分析的样品类型:各种不同材料,如金属、合金、块体、溶液等。 480×490×200mm3的大腔体支持更大样品的测量。自动X-Y-Z轴程控样品台,大移动范围200×175×80mm,支持自动多点测量。 M1 MISTRAL 是一款紧凑型的台式 μ-XRF 光谱仪,用于分析块状材料和涂层。它的操作速度快、成本效益, 可以提供与材料元素成分有关的准确信息。测定镀层样品厚度及成分例如Zn-Fe、Ag-Cu、Au-Ni-Cu、Cr-Ni-Cu、Au-Pb-Ni-Cu 珠宝及合金分析: M1 MISTRAL是珠宝、硬币及贵金属的理想分析工具。珠宝合金、铂族金属及银制品、不到1分钟就可以确定其准确成分。分析结果可以用百分含量或K(开)表示 M1 MISTRAL是采用X射线荧光技术的光谱仪,可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围:原子序数22号(钛)以上的元素。分析的样品类型:各类不同的材料,如金属、合金、金属镀层包括多层镀层样品 样品尺寸*大可达100×100×100mm,无需任何处理,直接放在样品台上检测。光管位于样品上方,测量过程中部接触样品,因此可以很容易地分析复杂式样的样品,如精工细作的珠宝和不容厚度的样品。 各种应用介绍: 通用金属分析M1 MISTRAL是通用金属镀层分析的理想工具,对紧固件、五金材料、汽车零部件镀层、高精度的机械部件都能进行准确、便捷的分析。 电子/PCB采用X-Ray荧光技术的M1 MISTRAL也可分析薄镀层样品,如印刷电路板、引线框架、圆晶、连接器等,M2 BLIZZARD采用开放腔体,可对大型电路板进行测量。 珠宝及合金分析M1 MISTRAL是珠宝。硬币及贵金属的理想分析工具。珠宝合金,30S就可以确定其准确成分。分析结果可以用百分含量或K(开)表示。
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  • 性能优势:下照式设计:快速方便的定位各种形状的样品,满足一切测试所需。无损变焦检测:拥有手动变焦功能,可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽深度范围0-30mm。微聚焦射线装置:可测试各微小的部件,小检测面积可达0.002mm2。高效率的接收器:在检测0.01mm2以下的样品时,几秒钟也可达到稳定性。精密微型滑轨:精密的手动移动平台,快速定位所需检测的样品。EFP先进算法软件:可检测单镀层,多镀层,多元合金,甚至对于同种元素在不同层的厚度检测也能分析,包括轻金属镀层,非金属镀层,达克罗,Nip镀层测试,包括Ni与P的比例也均可检测。准直器和滤光片:多种准直器和滤光片电动切换,满足各种测试方式的应用。新一代高压电源和X光管:性能稳定可靠,高达50W的功率实现更高的测试效率。防护装置:恒压恒流快门式光闸,拥有高压电源紧急自锁功能,带给您更安全的防护。引线框架测厚仪 技术参数:测量元素范围:CI(17)-U(92)涂镀层分析范围:Li(3)-U(92)分析软件:EFP,可同时分析23层镀层,24种元素,不同层有相同元素和有机物厚度也可分析测试程式添加:1862条测试程式免费提供,也可编辑新程式软件操作:人性化封闭软件,自动提示校正和步骤,避免操作错误X射线装置:升压发射一体高分子聚合式W靶微聚焦加强型射线管接收器:日本东芝正比计数管,窗口面积≥150mm2射线准直系统:垂直光路交换装置搭配黄金准直器视频观测光路系统:垂直光路交换装置搭载100mm变焦镜头测样读取开启方式:恒压恒流快门式光闸滤光片:铝、空、镍准直器:?0.05mm;?0.1mm;?0.2mm;?0.5mm;四准直器任选一种近测距光斑扩散度:10%小测量面积:约0.002mm2测量距离:具有距离补偿功能,可改变测量距离,能测量凹凸异形样品,变焦距离0-30mm样品观察:1/2.5彩色CCD,全局快门,有效像素:1280*960,变焦功能对焦方式:高敏感镜头(无需增加其他辅助传感器),手动对焦放大倍数:光学38-46X,数字放大40-200倍样品台尺寸:500mm*360mm样品可放置区域:480mm*320mm*205mm(C型开槽设计,特殊测试时可以超出区域放置样品)外部尺寸:540mm*430mm*475mm移动方式:高精密XY手动滑轨可移动范围:40mm*50mm电源:交流220V 50HZ 功耗:大120W(不包括计算机)冷却系统:对流通道过滤式风冷保养升级模块:软硬件模块化环境要求:使用时温度:10℃-40℃ 存储和运输时温度:0℃-50℃ 空气相对湿度:≤80%重量:约45KG随机标准片:十二元素片、Ni/Fe、Au/Ni/Cu其他附件:电脑一套、喷墨打印机、附件箱PCB板材膜厚仪电镀层测厚仪XTU 系列测厚仪虽然结构紧凑,但是都有大容量的开槽设计样品腔,即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。搭配微聚焦射线管和先进的光路设计,及变焦算法装置,可测试极微小和异形样品。检测78种元素镀层· 0.005um检出限· 小测量面积0.002mm2· 深凹槽可达90mm。外置的高精密微型滑轨,可以快速控制样品移动,移动精度0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,PCB板材膜厚仪电镀层测厚仪应用领域 线路板、引线框架及电子元器件接插件检测 镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析 手表、精密仪表制造行业 钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB 汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测 卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS) 电镀液的金属阳离子检测 项 目参 数测量元素范围Cl(17)-U(92)涂镀层分析范围各种元素及有机物分析软件EFP,可同时分析23层镀层,24种元素,不同层有相同元素也可分析软件操作人性化封闭软件,自动提示校正和步骤,避免操作错误X射线装置W靶微聚焦加强型射线管准直器? 0.05 mm 0.1 mm 0.2 mm 0.5 mm;准直器任意选择一种近测距光斑扩散度10%测量距离具有距离补偿功能,可改变测量距离,能测量凹凸异型样品,变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)样品观察1/2.5彩色CCD,变焦功能对焦方式高敏感镜头,手动对焦放大倍数光学38-46X,数字放大40-200倍样品台尺寸500mm*360mm移动方式高精密XY手动滑轨可移动范围50mm*50mm随机标准片十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um其它附件联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱 无损天瑞X荧光光谱镀层膜厚检测仪,天瑞镀层测厚仪
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  • CMI243镀层测厚仪 400-860-5168转2014
    仪器简介:CMI 243是一款专门为测量磁性金属上的(如锌、镍等)涂镀层厚度而设计的便携式膜厚仪。独特的涡电流测试方法使测量更精确。高端配置的测量探头对细小的零件也可以精确测量。它具有X射线荧光的测量精度,同时也避免了库仑法对被测工件带来的破坏。 CMI 243在设计上更加合理、可靠、实用。牛津仪器常驻中国机构提供售后服务和技术支持 (涂层测厚仪,镀层测厚仪,漆膜测厚仪,薄膜测厚仪,测厚仪,涡流测厚仪,油漆测厚仪,磁感应涂层测厚仪)技术参数:型号:CMI 243 镀层测厚仪 膜厚仪 牛津仪器专业供应 品牌:OXFORD CMI(英国牛津) ●ECP-M探头:锌、镍均可以测量 ●准确度:± 1% ●测量范围:0.08-1.50mils(2-38&mu m) ●分辨率:0.01mils (0.25&mu m) ●小测量半径0.06英寸(1.55mm) ●适用标准:符合ASTM B244&mdash b259, DIN 50984,ISO 2360,ISO 29168(DRAFT), 以及BS 5411 part 3 ●单位:英制和公制单位自动转换 ●统计数据显示:读取次数,平均值,标准差,高值,低值,终值 ●记忆储存:12,400个数据储存 ●接口:RS-232串行端口,波特率可调,可接打印机或计算机 ●显示:液晶显示(LCD),字符高度1/2&rdquo (1.27cm) ●电池:9V干电池或可充电电池。 ●尺寸:57/8&rdquo (L) × 31/8&rdquo (W)× 13/16&rdquo (D) (14.9× 7.94× 3.02 cm) ●重量:9盎司/0.26kg, (包括电池重量在内) ●品牌:英国牛津仪器; 产地:美国主要特点:英国牛津仪器(Oxford)总代理方源仪器供应高品质镀层测厚仪CMI 243。CMI 243可无损、精确测量各种金属涂镀层厚度,如:锌/铁、镍/铁、铬/铁、镉/铁、铜/铁等(Zn/Fe,Ni/Fe,Cr/Fe,Cd/Fe,Cu/Fe,etc)。包括紧固件、螺丝、汽车部件、齿轮、管件等表面电镀层。
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  • 镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。ScopeX PILOT台式镀层测厚仪采用下照式设计,搭载先进的Muti-FP算法软件和微光聚集技术,以及高敏变焦测距装置,对不均匀、不规则,甚至微小件等形态的样品,都能够快速、精准、无损检测,可轻松应对镀层领域的表面处理的过程控制、产品质量检验等环节中的检测和筛检难题,被广泛应用于珠宝首饰、电镀行业、汽车行业、五金卫浴、航空航天、电子半导体等多种领域。使用优势可选配微焦X射线装置测试各类极微小的样品,即使检测面积微小的样品也可轻松、精准检测。多准直器/滤光片多滤光片和多准直器可选或软件自动切换组合,使得仪器的多功能性得以显著提升,以灵活应对不同尺寸的零件。下照式设计从下往上测量,无需额外对焦,可轻松实现对镀层样品的高效测量。无损检测X射线荧光是无损分析过程,不留任何痕迹,即使是对敏感性材料,其测量也是非常安全的。变焦装置可对各种异形凹槽样品进行检测,凹槽深度测量范围可达0~30 mm。高精度手调X-Y平台搭载高精度手调X-Y平台,最高精度可达25μm,使微区测量更便捷。应用场景紧固件五金小零件珠宝首饰汽车零部件技术参数元素范围Al(13)-Fm(100)分析层数5层(4层+基材) 每层可分析10种元素,成分分析最多可分析25种元素 X射线管50 W(50kV,1mA)微聚焦钨钯射线管(靶材可选配)探测器Si-Pin探测器,(可选配高灵敏度SDD探测器)准直器Φ0.1-Φ3可选,多准可选相机高分辨率CMOS彩色摄像头,500万像素手动样品XY平台固定平台滤光片固定初级滤光片,多滤光可选样品仓尺寸320×480×130mm(W×D×H)外形尺寸330×580×360mm(W×D×H)重量40KG电源AC 220V±5V 50Hz(各地区配置稍有不同) 额定功率150W
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  • iEDX-150MT镀层测厚仪 400-860-5168转3788
    应用领域 iEDX-150MT镀层测厚仪应用于金属电镀镀层分析领域,五金电镀,汽车配件电镀等 技术指标多镀层分析,1~5层测试精度:0.001 μm元素分析范围从铝(Al)到铀(U)测量时间:10~30秒Si-PIN探测器,能量分辨率为149±10eV(可选配SDD探测器)微焦X射线管50kV/1mA,钼,铑靶(高配微焦钼靶)0.2,0.3,0.5mm准直器可选平台尺寸200×200mm,高度0~150mm,MAX荷载为15公斤高清CCD摄像头(200万像素),准确监控位置多变量非线性去卷积曲线拟合高性能FP/MLSQ分析仪器尺寸:618×525×490mm 图谱界面软件支持无标样分析超大分析平台和样品腔集成了镀层界面和合金成分分析界面采用多种光谱拟合分析处理技术镀层测厚分析精度可达到0.001μm 分析报告结果直接打印分析报告报告可转换为PDF,EXCEL格式 样品分析图谱: 测试结果界面:
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  • 德国FISCHER镀层测厚仪 400-860-5168转3210
    功能特点:◆用途广泛的镀层厚度测量仪,包括金层测厚、银层测厚和化金厚度等。◆通过组合可选的高压和滤片,可以对较薄的镀层(如50nmAu或100μmSn)和较厚的镀层进行同样效果的测量.◆配有的微聚焦管,可以测量100μm大小的微小测量点。◆比例计数器可实现数千cps(每秒计数率)的高计数率。◆从下至上的射线方向,从而可以快速简便的放置样品。◆底部C型开槽的大容量测量舱。典型应用领域:◆测量线路板工业中Au/Ni/Cu/PCB或Sn/Cu/PCB中的镀层◆电子行业中接插件和触点上的镀层◆装饰性镀层Cr/Ni/Cu/ABS◆电镀镀层,如大规模生产零件(螺栓和螺母)上的防腐蚀保护层Zn/Fe,ZnNi/Fe◆珠宝和钟表工业。◆测量电镀液中金属成分含量,例如金层测厚、银层测厚。
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  • TrueX COAT镀层分析仪集成了浪声前沿的科研创新,具有快速、高精准度、轻便、易携带等优点,其可对大量金属废料进行现场检测和快速分类,为使用者提供迅速高效、准确的数据信息,是钢铁冶炼、有色金属、石化精炼、精细化工、制药、电力电站、航空航天等行业在质量控制(QA/QC)、材料分析(PMI)、混料识别、废料分拣(Recyling)、牌号识别(Grade ID)中的有力工具。使用优势易携性仪器体积更小、重量更轻,方便现场实时检测,可轻松应对各种形状的样品。无损检测在不损坏检测对象的前提下,快速精准地对镀层样品进镀层厚度以及样品元素含量进行分析。散热性仪器配有专用的T型槽式散热装置,提高仪器散热性能,无需频繁等待探测器冷却。准确可靠的定性定量方法集成了浪声前沿的Super-FP算法、校正曲线法等先进算法,使得仪器不仅测量速度更快,测量准确性更高,测量一致性更强。高品质进口探测器仪器选用适合于多元素镀层的分析进口探测器,噪音小,可灵活地应对镀层结构。应用场景线路板行业五金建材行业珠宝和手表行业精密电子、5G行业汽车和装饰行业电镀槽液、电镀废水中的金属含量规格参数重量1.6KG(配置电池)尺寸254×79×280mm(L×W×H)激发源50KV/200μA上限,管压管流可自由调节,W/Ag/Rh靶材(可选配)元素范围Mg(镁)—U(铀) 分析层数5层(4层+基材)每层可分析10种元素,成分分析最多可分析25种元素探测器Si-Pin探测器/SDD探测器(可选配)显示系统4.3英寸工业级电阻触摸屏自动根据外部环境亮度调节显示器亮度数据处理内置32G存储器USB,蓝牙,WIFI,可将设备联入互联网,可远程对仪器进行设置及检修散热性仪器配有专用的T型槽式散热装置,提高仪器散热性能,无需频繁等待探测器冷却安全性内置DoubleBeam&trade 技术自动感知前方有无样品,提高射线的安全性和防护等级防水、防尘、防震手提箱LANScientific专用安全绳电源系统具有MSBUS总线的智能电池、实时监控电池、备用电池可直接查看电池剩余容量,电池符合航空危险品运输条例单个电池可持续工作8小时左右
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  • ■ 即放即测:无需人工对焦造成误差,测量结果更可靠。■ 测试速度快:3秒自动对焦,10秒钟完成50nm级极薄镀层的测量。■ 无标样测量:与以往的技术相比,薄膜FP软件得到进一步扩充,即使没有标准品也能精确测量。■ 多镀层测量:最多能够进行5层的多镀层样品测量。■ 广域图像观察:能将样品图像放大5到7倍,并对测量部位精确定位。■ 低成本:较以往机型价格降低了20%。FT110A通过自动定位功能,仅需把样品放置到样品台上,就可在数秒内对样品进行自动对焦。由此,无需进行以往的手动逐次对焦的操作,大大提高了样品测量的操作性。近年来,随着检测零件的微小化,对微区的高精度测量的需求日益增多。SFT-110实现微区下的高灵敏度,即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。同时,FT110A还配备有新开发的薄膜FP法软件,即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量,可对应更广泛的应用需求。可从最大250× 200mm的样品整体图像指定测量位置,另有机仓开放式机种,可对600× 600mm的大型印刷线路板进行测量。低价位也是FT110A的特点,与以往机型相比,既提高了功能性又降低20%以上的价格。膜厚仪作为可靠的品管工具,可针对半导体材料、电子元器件、汽车部件等的电镀、蒸镀等的金属薄膜和组成进行测量管理,可保证产品的功能及质量,降低成本。FT110A可降低成本如下:■ 节省材料费全球资源紧缺已是大势所趋,企业的材料费也是节节攀高;尤其是表面处理工作中所用到的贵金属更是一涨再涨,比如众如周知的黄金Au已从十几年前的百余元每克上涨到三百多元,以印刷电路板厂每年产量几十万套为例,根据业界经验如果能更好控制镀层厚度,企业每年可节约上千万的费用。■ 减少工期(作业人工)通过X射线仪来评价,管理产品可以轻松知晓产品能发挥最大功能时的最小镀层厚度,从而避免重复电镀造成的电费和人工费的流失。■ 减少修理,修补等产生的制作费用通过X射线仪可避免镀层不均或太薄造成的质量问题,以及后续的返工造成的费用。
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  • 奥林巴斯Vanta分析仪的镀层模式奥林巴斯的Vanta手持式XRF分析仪如今配备了镀层模式测量功能。Vanta分析仪的镀层模式可以在几秒钟内测量出以微米为单位的涂层厚度。这个功能可以最多测量3层覆盖在任何类型基底上的涂层,基底材料可以是金属、塑料、玻璃,甚至木材。在很多行业中,都需要测量产品的涂层厚度。例如:锌可以防潮,并有效地防止腐蚀,因此可以作为各种金属产品的涂层材料。要确保获得合格的防腐效果,就需要确定锌涂层的厚度标准,并根据标准进行核查。其它常用的工程涂料还包括镍和铬,都用于防止产品的腐蚀。Vanta分析仪的镀层模式为用户提供以下功能:元素配置:可分析的元素为原子数大于钛的元素,包括钛元素。同一种元素不能在多个涂层中被重复分析,包括基底材料。目前此功能还不能分析原子数小于钛的元素。可选的实证单点校准:用户可以使用一种内部认证的样本对校准进行调整。层的数量:Vanta分析仪的镀层模式可以最多测量3层材料的厚度,不过各层材料要足够薄,以使X射线从底层材料返回到探测器。基底:可以分析任何基底材料,只要基底材料中不包含涂层材料中存在的元素。厚度:下表中列出了某些元素涂层的大约略厚度值。表中的数据没有考虑到元素之间的干扰效应。如果涂层元素和基底元素具有相似的X射线能量,则实际的厚度会与表中的数据有所不同。汽车制造领域 汽车工业发展迅速,汽车零部件作为支撑汽车产业快速稳定发展的基础,发展我国汽车零部件产业具有重大意义,而电镀技术是汽车零部件质量品质保证的常用技术。通常在汽车零部件表面进行电镀处理,以提高汽车部件材料长期运行的可靠性、稳定性和耐蚀性。但是,如果电镀层太厚,增加成本;太薄无法达到产品应用质量要求。因此,对电镀层厚度的控制尤为重要。电力设备制造行业电力行业中应用范围相当广泛的高压隔离开关,主要用于高压线路无负载换接、断路器等电气设备与高压线路之间的电气隔离。对于像高压隔离开关常年暴露在大气环境条件下使用的设备,通常在表面电镀一层银以保持开关良好的导电性,而镀层厚度极大的影响开关导电性和使用寿命。 奥林巴斯VANTA手持式光谱分析仪(HHXRF)的镀层模式能够分析多层镀层材料,基体可以是任何类型的材料,不局限于金属。
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  • 磁性涂镀层测厚仪 400-860-5168转5921
    磁性涂镀层测厚仪采用磁性测量方法,可检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如钢、铁、合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等)本仪器能应用在电镀、防腐、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。既可用于实验室,也可用于工程现场。它是检测行业的重要仪器。主要功能● 具有两种测量方式:连续测量和单次测量方式;● 具有两种工作方式:直接和成组方式;● 具有自动统计功能:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV);● 可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;● 存储功能:可存4 个校正工件可保存。分2类工件,每类26组,每组15个,共1560个测值;● 删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存储区内的数据,以便进行新的测量;● 设置限界:对限界外的测量值能自动报警;● 具有电源欠压指示功能,操作过程有蜂鸣声提示,自动关机方式。● 金属外壳:机身材质是航空铝金属外壳,防干扰磨损低。技术参数项目Leeb 230测头类型F1可拔插工作原理磁感应测量范围0~1250μm低限分辨率0.1μm示值误差一点校准±(3%H+1)二点校准±[(1~3%)H+1]测试条件最小曲率半径mm凸1.5mm、凹9mm最小面积直径mmΦ7mm基本临界厚度mm0.5mm工作环境温度0~40℃湿度20%~90%电源AA型碱性电池1.5V两节外形尺寸130×70×25mm(主机)重量350g外壳材质金属外壳标准配置主机、标准试片、铁基体、碱性电池、探头选配标准试片、探头、pc通讯符合标准1、GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆层厚度测量 磁性方法2、GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆层厚度测量 涡流方法3、JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪4、JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》5、JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》技术参数项目Leeb 230测头类型F1可拔插工作原理磁感应测量范围0~1250μm低限分辨率0.1μm示值误差一点校准±(3%H+1)二点校准±[(1~3%)H+1]测试条件最小曲率半径mm凸1.5mm、凹9mm最小面积直径mmΦ7mm基本临界厚度mm0.5mm工作环境温度0~40℃湿度20%~90%电源AA型碱性电池1.5V两节外形尺寸130×70×25mm(主机)重量350g外壳材质金属外壳标准配置主机、标准试片、铁基体、碱性电池、探头选配标准试片、探头、pc通讯
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  • PCB板材膜厚仪电镀层测厚仪XTU 系列测厚仪虽然结构紧凑,但是都有大容量的开槽设计样品腔,即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。搭配微聚焦射线管和先进的光路设计,及变焦算法装置,可测试极微小和异形样品。检测78种元素镀层· 0.005um检出限· 小测量面积0.002mm2· 深凹槽可达90mm。外置的高精密微型滑轨,可以快速控制样品移动,移动精度0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,PCB板材膜厚仪电镀层测厚仪应用领域 线路板、引线框架及电子元器件接插件检测 镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析 手表、精密仪表制造行业 钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB 汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测 卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS) 电镀液的金属阳离子检测 项 目参 数测量元素范围Cl(17)-U(92)涂镀层分析范围各种元素及有机物分析软件EFP,可同时分析23层镀层,24种元素,不同层有相同元素也可分析软件操作人性化封闭软件,自动提示校正和步骤,避免操作错误X射线装置W靶微聚焦加强型射线管准直器? 0.05 mm 0.1 mm 0.2 mm 0.5 mm;准直器任意选择一种近测距光斑扩散度10%测量距离具有距离补偿功能,可改变测量距离,能测量凹凸异型样品,变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)样品观察1/2.5彩色CCD,变焦功能对焦方式高敏感镜头,手动对焦放大倍数光学38-46X,数字放大40-200倍样品台尺寸500mm*360mm移动方式高精密XY手动滑轨可移动范围50mm*50mm随机标准片十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um其它附件联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱 无损天瑞X荧光光谱镀层膜厚检测仪,天瑞镀层测厚仪
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  • 菲希尔无损测厚仪可用于检测金镍厚度,元素分析,涂层镀层检测,材料分析等。菲希尔X-RAY系列产品可以分析从元素氯(17)到铀(92)的元素,最多可同时测定24种元素。设计理念:FISCHERSCOPE X- Ray ADLM-PCB系列仪器是用户界面友好的台式测量仪器。测量门底部留有空隙,以方便对大面积印制电路板的测量。 样品定位简便的特点:XDLM-PCB 200型:首先PCB板将在仪器集成的激光点的协助下准确放置于样品台上。然后将样品台如抽屉般推入仪器内部。XDLM-PCB210和220:仪器配备了高精度、可编程的XY平台,并带有弹出功能。激光点作为辅助定位,能帮助快速对准测量位置。高分辨彩色摄像头,使得对准测量位置的过程更加准确。简便。通过强大且界面友好的WINFTM® 软件,可以在电脑上便捷地完成整个测量过程,包括测量结果的数据分析和所有的相关信息的显示等。X-RAY XDLM-PCB系列仪器完全符合DIN ISO 3497和ASTM B568标准。应用领域:钟表,首饰,眼镜 汽车及紧固件 卫浴五金连接器化学药水通信半导体封装测试电子元器件 PCB正业科技主要从事检测仪器和高端材料,菲希尔为正业代理的德口产品,如想了解菲希尔的更多产品可以直接联系。
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  • 功能特点:◆带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦X射线管。最高工作条件:50KV,50W◆X射线探测器采用比例接收器◆准直器:固定或4个自动切换,0.05x0.05mm到直径0.3mm◆基本滤片:固定或3个自动切换◆测量距离可在0-80mm范围内调整◆固定样品支撑台,手动XY工作台◆摄像头用来查看基本射线轴向方向的测量位置。刻度线经过校准,显示实际测量点大小。◆设计获得许可,防护全面,符合德国X射线条例典型应用领域:◆大批量电镀件测量◆防腐和装饰性镀层,如镍或铜上镀铬◆电镀行业槽液分析◆线路板行业如薄金,铂和镍镀层的策略◆测量接插件和触点的镀层◆电子和半导体行业的功能性镀层测量◆黄金,珠宝和手表行业
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  • 镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。ScopeX PILOT台式镀层测厚仪采用下照式设计,搭载先进的Muti-FP算法软件和微光聚集技术,以及高敏变焦测距装置,对不均匀、不规则,甚至微小件等形态的样品,都能够快速、精准、无损检测,可轻松应对镀层领域的表面处理的过程控制、产品质量检验等环节中的检测和筛检难题,被广泛应用于珠宝首饰、电镀行业、汽车行业、五金卫浴、航空航天、电子半导体等多种领域。使用优势可选配微焦X射线装置测试各类极微小的样品,即使检测面积微小的样品也可轻松、精准检测。多准直器/滤光片多滤光片和多准直器可选或软件自动切换组合,使得仪器的多功能性得以显著提升,以灵活应对不同尺寸的零件。下照式设计从下往上测量,无需额外对焦,可轻松实现对镀层样品的高效测量。无损检测X射线荧光是无损分析过程,不留任何痕迹,即使是对敏感性材料,其测量也是非常安全的。变焦装置可对各种异形凹槽样品进行检测,凹槽深度测量范围可达0~30 mm。高精度手调X-Y平台搭载高精度手调X-Y平台,最高精度可达25μm,使微区测量更便捷。应用场景紧固件五金小零件珠宝首饰汽车零部件技术参数元素范围Al(13)-Fm(100)分析层数5层(4层+基材) 每层可分析10种元素,成分分析最多可分析25种元素 X射线管50 W(50kV,1mA)微聚焦钨钯射线管(靶材可选配)探测器Si-Pin探测器,(可选配高灵敏度SDD探测器)准直器Φ0.1-Φ3可选,多准可选相机高分辨率CMOS彩色摄像头,500万像素手动样品XY平台手动移动平台,移动范围:50x50 mm滤光片固定初级滤光片,多滤光可选样品仓尺寸320×480×130mm(W×D×H)外形尺寸330×580×360mm(W×D×H)重量40KG电源AC 220V±5V 50Hz(各地区配置稍有不同) 额定功率150W
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  • XTU-4C是一款设计结构紧凑,模块精密化程度高的镀层测厚仪,采用了下照式C型腔体设计,不但可以测量各种微小样品,即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量,是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。快速准确移动定位:高精密微型移动滑轨,10-30mm(X-Y)/圈,精度0.005mm微焦X射线装置:检测面积可小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件高效率正比接收器:即使测试0.01mm2以下的样品,几秒钟也能达到稳定性变焦装置及算法:可对各种异形凹槽进行检测,凹槽深度测量范围可达0-30mm对焦方便:下照式设计可以快速定位对焦样品1.元素分析范围:氯(Cl)- 铀(U)2.涂镀层分析范围:氯(Cl)/锂(Li)- 铀(U)3.厚度检出限:0.005μm4.成分检出限:1ppm5. 测量直径小至0.2mm(测量面积小至0.03mm2)6.对焦距离:0-30mm7.样品腔尺寸:500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸:550mm*480mm*470mm9.仪器重量:45KG10.XY轴工作台移动范围:50mm*50mm11.XY轴工作台承重:5KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域。选择一六仪器的四大理由:1.一机多用,无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素,重复镀层,同种元素不同层亦可检测
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  • 苏试试验胡安娜实验室,由广东苏试广博检测技术有限公司和苏州众博环境实验室有限公司构成,是苏试试验集团(股票:300416)连锁试验机构之一。苏试试验华南试验,按ISO17025标准建立了完整的质量保证体系,有一支高素质的试验队伍,能科学、公正地进行各项可靠性试验。具备军民多方认证的各项资质和参与多项重大科研项目的成功经验,为我国航空航天、电工电子、船舶、兵器、核工业、汽车、轨道交通、智能装备、仪器仪表、家用电器等领域的发展做出重大共献。苏试试验华南实验室,试验场地面积近4000平米,服务能力范围居国内先进水平。实验室拥有推力9.8kN~392kN(40T)系列电动振动试验系统,8m3/49kN三综合环境试验系统,1m3霉菌试验箱等各种先进的试验设备百余套。汽车产品振动试验检测范围:车载电子设备、娱乐终端、车灯、汽车配件、中控台面板、顶棚、内外饰件、发动机、线速连接器、座椅总成、仪表板总成。试验项目力学环境:正炫振动、随机振动、机械冲击、自由跌落、碰撞气候环境:恒定温度、温度变化、温度循环、湿热循环、恒定湿热、IP外壳防护等级、太阳辐射、低气压生物及化学环境:盐雾、霉菌、臭氧、耐化学试剂、耐腐蚀气体(CL2、SO2、NO2、H2S)综合环境:低温低气压、温度-湿度-振动电性能及耐久性:耐电压、绝缘电阻、接触电阻、泄露电流、温升、表面强度、划痕、插拔力耐久、按键耐久老化环境:氙灯暴露、碳弧灯暴露、荧光紫外暴露、太阳辐射、结露、湿热、红外高温涂镀层:镀层厚度、光泽度、色差、铅笔硬度、划伤、附着力、漆膜冲击、杜邦冲击、落砂、碎石冲击、自动洗车、高压冲洗耐久性:纸带耐磨、五指刮擦、泰伯磨耗、马丁代尔耐磨、酒精橡皮耐磨
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  • 市场对通信电子、航空航天、计算机、汽车和其他行业对电子产品的日益依赖,正推动电子行业的快速增长,在电子行业不断推陈出新以满足更高期望的同时,对产品的质量控制也越来越严格。镀层作为保证电子行业产品质量可靠性和稳定性的主要工艺,其厚度是产品质量的最重要保证因素,因此,对镀层厚度的质量控制/保证至关重要,X射线荧光(XRF)因为其非破坏性、测量快速、易于使用,已成为一种广泛使用的镀层厚度和成分测量技术。INSIGHT旨在为镀层分析应用提供精准高效的分析方法。晓INSIGHT易于操作,配置灵活,可轻松超薄镀层的挑战,提供快速、准确和可重复的结果,帮助诸多的PCB、半导体等电子相关行业有效提高生产力,确保符合规范,以避免出现性能低下的风险以及与废料或返工相关的成本。使用优势多准直器组件可选配多准直器组合自动切换,使得INSIGHT的多功能性得以显著提升,以灵活应对不同尺寸的零件。上照式设计仪器采用上照式设计,可轻松实现对超大型、不规则、微小件、甚至液体形态样品的快、准、稳高效测量。高强度X射线管晓INSIGHT可选配高强度毛细管光学系统,可为仪器带来更高的计数率、 更小的点位测量,更薄的镀层测量,有助于将仪器的分析效率翻倍。可编程自动位移样品台选配自动平台,轻松实现自动测量,可以更快的准备和测量样品,从而提高分析量。一键式测量配备直观而智能的分析软件,操作简单,任何人无需培训都可以测试样品,仅仅需要点击“开始测试”,数十秒即可获得检测结果啦。提高生产力INSIGHT自动化功能帮助您可以更快地测量样品,从而提高您的分析量。超大测量室仪器壳体的开槽设计(C型槽)使得测量空间宽大,样品放置便捷,可以测量如印刷线路板类大而平整的物品,也可以放置形状复杂的大样品。高灵敏度的检测器对于复杂的镀层结构,SDD系列检测器更易分析具有类似XRF特征的元素,具有更佳分辨率、更低的背景噪声(最高 S/N 比),并且可以更精确地测量较薄镀层。自动对焦无论样品厚薄或大小如何,都可在几秒钟内自动对样品进行对焦。可从远至80毫米的距离测量样品,非常适合测量具有凹陷区域的零件,或者适用于测量不同高度的多个样品。应用场景印刷电路板Au/Ni/Cu/ PCB;Sn/Cu/PCB;Au/NiP/Cu/PCB;Ag/Cu/PCB;Sn/Cu/PCB;SnPd/Cu/PCB;Au/Pd/NiP/Cu/PCB连接器镀层电子和电气工业中,电接触用保护和耐磨镀层的应用正在不断增多。接触件作为电连接器的核心零部件,通过表处理能提高接触件的耐蚀、耐磨功能,也能在很大程度上优化接触件的传输功能。电连接器接触件基材一般为铜合金,常用的镀层有:镀锡、镀金、镀银、镀镍、镀钯等。晶圆制造(半导体)晶圆是指硅半导体集成电路制作所用的硅晶片。在生产过程中,需要对晶圆进行电镀工序,即在晶圆上电镀一层导电金属,后续还将对导电金属层进行加工以制成导电线路。晶圆作为芯片的基本材料,其对于电镀镀层的要求严格,故而工艺的要求也较高。晶圆电镀时必须保证镀层的均匀性和厚度,方能保证晶圆的质量。引线框架引线框架是连接半导体集成块内部芯片的接触点和外部导线的薄板金属框架,是半导体封装的一种主要结构材料。为了保证封装工艺中的装片/键合性能,需要对引线框架进行特殊的表面处理,常见的引线框架镀层元素有金、银、钯、镍等。规格参数特点自上而下的测量结构,XYZ测量平台,Muti-FP多层算法元素范围Na(钠)—Fm(镄) 分析层数5层(4层+基材)每层可分析10种元素,成分分析最多可分析25种元素X射线管微聚焦X射线管、毛细管X射线管(可选配)探测器高灵敏度大面积SDD探测器、SDD 50mm2超大面积探测器(可选配)准直器多准可选,多准可组合相机高分辨率CMOS彩色摄像头,500万像素手动样品XY平台移动范围:100 x 150 mm可编程XY平台(可选配)Z轴移动范围150 mm样品仓尺寸564×540×150mm(L×W×H)外形尺寸664×761×757mm(L×W×H)重量120KG电源AC 220V±5V 50Hz(各地区配置稍有不同) 额定功率150W
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  • 概述云唐YT-LT100多功能覆层涂镀层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、航天航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。是材料保护专业的仪器。满足JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪。云唐YT-LT100多功能覆层涂镀层测厚仪主要功能● 可使用各种测头(F400、F1、F1/90°、F10、N1、N400等)进行测量;● 三种校准方法:一点校准、二点校准、基本校准;● 显示分辨率:0.1μm (1250um以下,1250um以上是1um); ● 最小测量面积:最小测量面积:10*8mm;● 最小曲率:凸5mm,凹25mm;● 设有四个统计功能:最大值(MAX)、最小值(MIN)、平均值(MEA)、测量次数(No)● 设五个统计量,存储800个数据。技术参数项目LT100-3使用环境温度0~40℃电源5V电池外型尺寸150×80×30mm重量300g测量范围F1、N1、F1/90F1、N1,0-1250μm。F1/90,0-1250umF400、N4000-400umF3/N30-3000umF100-10000um测量误差F1、N1、F1/90(2%H+1)二点校准精度1%F400、N400(2%H+0.7)二点校准精度1%F10(2%H+10)二点校准精度1%标准配置1、主机 1台2、探头(F1或N1) 1支3、基体 1块4、标准片 5片5、5V碱性电池 2节6、使用说明书 1本可选配1、其他型号探头 选配2、打印机 1台3、通讯电缆 1条4、软件光碟 1张探头参数探头F400F1F1/90F10N400N1测量原理磁性涡流测量范围(μm)0~4000~15000~12500~10mm0~4000~1500测量精度μm一点校准±(1~3%H+0.7)±(3%H+1)±(3%H+10)±(3%H+1)±(3%H+1.5)二点校准±(1~3%H+0.7)±(1~3%H+1)±(1~3%H+10)±(1~3%H+1)±(1~3%H+1.5)低限分辨率0.10.110.10.1最小曲率半径(mm)(凸)11.5平直101.53最小面积直径(mm)¢ 3¢ 7¢ 40¢ 4¢ 5基本临界厚度(mm)0.20.520.30.3探头选择参考基体与覆盖层有机材料等非磁性覆盖层(如:漆料、涂漆、珐琅、搪瓷、塑料和阳极化处理等)非磁性的有色金属覆盖层(如:铬、锌、铝、铜、锡、银等)覆盖层厚度不超过100µ m覆盖层厚度超过100µ m覆盖层厚度不超过100µ m覆盖层厚度超过100µ m磁性金属如 铁、钢 等被测面积的直径大于30mmF400 型测头 0~400µ mF1 型测头 0~1500µ mF1 型测头 0~1500µ mF10 型测头 0~10mmF400 型测头 0~400µ mF1 型测头 0~1500µ mF1 型测头 0~1500µ mF10 型测头 0~10mm被测面积的直径小于30mmF400 型测头 0~400µ mF400 型测头 0~400µ mF1 型测头 0~1500µ mF400 型测头 0~400µ mF400 型测头 0~400µ mF1 型测头 0~1500µ m有色金属如铜 、铝 、黄铜 、锌 、锡 等被测面积的直径大于5mmN1 型测头 0~1500µ m仅用于铜上镀铬N1 型测头 0~40µ m非金属基体塑料、印刷线路被测面积的直径大于7mm--CN02 型测头10~200µ m
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  • XTU-4C是一款设计结构紧凑,模块精密化程度高的镀层测厚仪,采用了下照式C型腔体设计,不但可以测量各种微小样品,即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量,是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。快速准确移动定位:高精密微型移动滑轨,10-30mm(X-Y)/圈,精度0.005mm微焦X射线装置:检测面积可小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件高效率正比接收器:即使测试0.01mm2以下的样品,几秒钟也能达到稳定性变焦装置及算法:可对各种异形凹槽进行检测,凹槽深度测量范围可达0-30mm对焦方便:下照式设计可以快速定位对焦样品1.元素分析范围:氯(Cl)- 铀(U)2.涂镀层分析范围:氯(Cl)/锂(Li)- 铀(U)3.厚度检出限:0.005μm4.成分检出限:1ppm5. 测量直径小至0.2mm(测量面积小至0.03mm2)6.对焦距离:0-30mm7.样品腔尺寸:500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸:550mm*480mm*470mm9.仪器重量:45KG10.XY轴工作台移动范围:50mm*50mm11.XY轴工作台承重:5KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域。选择一六仪器的四大理由:1.一机多用,无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素,重复镀层,同种元素不同层亦可检测
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