普鲁士蓝薄膜电极

薄膜太阳电池QE测试专用系统 SCS10-Film适用范围： 非晶硅薄膜电池、CIGS 薄膜电池、CdTe 薄膜电池、非晶/ 微晶双结薄膜电池、非晶/ 微晶/微晶锗硅三结薄膜电池等光谱范围：300~1700nm电池结构：单结、多结太阳电池可测参数：光谱响应度、外量子效率、反射率、透射率、内量子效率、短路电流密度可测样品面积：300mm×300mm● 集成一体化turnkey系统● 大面积薄膜电池测试专用● 超大样品室，光纤传导● 背面电极快速连接● 反射率、内外量子效率同步测试● 快速高效售后服务 SCS10-Film系统规格 光源150W高稳定性氙灯，光学稳定度≤0.4%，光纤传导测试光斑尺寸2mm~10mm可调单色仪三光栅DSP扫描单色仪波长范围300nm~1700nm波长准确度±0.2nm（@1200g/mm,500nm)扫描间隔最小可达0.1nm，默认设置10nm输出波长带宽0.1nm~10nm可调，默认设置5nm多级光谱滤除装置根据波长自动切换，消除多级光谱的影响光调制频率4~400Hz标准探测器进口Si光电探测器，含校正测试报告数据采集装置灵敏度直流模式：100nA；交流模式：2nV测量重复精度0.6%( 400~1000nm范围0.3%)测量速度单次光谱响应扫描 1min 完整流程扫描 5min(扫描间隔10nm）样品加持探针样品台，156mm×156mm，特殊样品台可定制*Mapping扫描速度：20点/s（@0.5mm step）分辨率：0.5mm仪器尺寸主机：；样品室：控制机柜：800mm×600mm×1300mm计算机及软件系统含工控计算机、显示器、鼠标、键盘，正版windows 7操作系统，系统软件安装光盘

Thermo ScientificTM AnalogPlusTM 臭氧电极采用克拉克（Clark）膜技术，由金阴极、银阳极和银参比电极组成臭氧电极系统。对银参比电极采用恒定的电压进行极化，起到了稳定测量值的作用，避免了传统两电极系统的干扰，并有效降低了测量中的漂移。独特的薄膜结构使电极探头非常耐用。臭氧电极采用了一体化可更换的膜套组件，每个组件已经预装好膜片，简化了更换新膜片的繁琐工作，更换膜的工作仅需几秒。产品特点1. 极谱法电极设计，用于大多数的工业应用2. 可更换式膜套，使用寿命长3. 0-10ppm测量范围4. 0.01ppm分辨率5. 配合AV88控制器，可获得更高的性价比市场/应用饮用水处理废水处理食品和饮料消毒锅炉给水瓶装水系统纸浆和造纸漂白制药冷却水半导率清洗水订购信息

AnalogPlus溶解氧电极采用克拉克（Clark）膜技术，由金阴极、银阳极和银参考电极组成三电极系统。对银参考电极采用恒定的电压进行极化，起到了稳定测量值的作用，避免了传统两电极系统的干扰，并有效降低了测量中的漂移。独特的薄膜结构使电极探头非常耐用。溶解氧探头采用了一体化可更换的膜头组件，每个组件已经预装好膜片，简化了更换新膜和电解液的繁琐工作，更换膜的工作仅需几秒。仪器特点极谱法电极设计，用于大多数的工业应用可更换式膜套，使用寿命长0-40ppm测量范围0.01ppm分辨率市场/应用市政和工业废水水产养殖酿造生物工艺在诸如食品、奶制品、造纸和纸浆以及其它过程工艺中也有很多应用订购信息

普鲁士蓝类化合物结晶水检测分析仪随着可再生能源的快速发展，新型的储能技术也受到了广泛关注。钠离子电池作为一种有着相对较低成本和丰富资源的储能技术，近年来备受研究者的关注。普鲁士蓝类化合物是一种常见的钠离子电池正极材料，其结晶水含量是影响其储能性能的关键指标。因此，钠离子电池普鲁士蓝类化合物结晶水的检测成为了相关研究的重要内容。普鲁士蓝类化合物具有低成本、比容量和能量密度高、倍率性能优异、循环寿命长的等显著优点，因此成为了钠离子电池有较大应用潜力的正极材料。而结晶水在普鲁士蓝类化合物中占据重要地位，结晶水含量的变化不仅会影响材料的结晶度，还会对电荷传输和储能性能产生重要影响。因此，准确地检测普鲁士蓝类化合物中的结晶水含量对于储能性能的评估和优化至关重要。纽迈分析推出的普鲁士蓝类化合物结晶水检测分析仪基于对氢元素优秀的捕捉能力，同时普鲁士蓝类化合物中不含有氢元素，可以有针对性识别结晶水信号，根据信号幅值可以定量表征普鲁士蓝材料中的结晶水含量。普鲁士蓝类化合物结晶水检测分析仪应用方向： 结晶水含量的快速表征 普鲁士蓝类化合物结晶水检测分析仪样品要求： 铁磁性物质含量在5%以下普鲁士蓝类化合物结晶水检测分析仪技术指标： 磁场强度0.5T 探头线圈直径：10mm普鲁士蓝类化合物结晶水检测分析仪优点：1、快速测试、两分钟以内 2、无损测试、样品无破坏 3、结果准确、表征可定量 4、操作便捷、前处理简单 5、原位测试、结果精度高普鲁士蓝类化合物结晶水检测分析仪应用案例：

Micrux 薄膜微电极（电化学传感器）产品介绍西班牙MicruX专注于薄膜微金属电极，厚膜电极（丝网印刷电极）等电化学传感器，微流控电化传感器，微电极电化学平台等产品的开发制造，可用于用于临床、环境和农业食品领域的电化学分析。 西班牙Micrux薄膜电极（thin-film electrodes）也称薄膜电化学传感器(Thin-film electrochemical sensors) 采用是三电极体系， 包括工作电极（WE）、参比电极（RE）和辅助电极，在玻璃基质上采用薄膜技术制造而成，SU-8 树脂作为电化学池的保护层可实现低样品体积的检测，电化学池的直径是3或3.5mm，适合样品体积是1-10ul, Micrux 薄膜微电极的尺寸为10X6x0.75 mm, 电极材料为铂金或者金。Micrux 在薄膜微电极的制造开发方面具有丰富的经验，可以提供标准的薄膜微电极，以及定制化的微电极，满足客户的需求。Micrux 薄膜微电极标准产品包括：w 薄膜单电极（thin-film single-electrode, SE）w 薄膜微阵列电极（thin-film microelectrode arrays, MEA）w 薄膜叉值电极（thin-film interdigitated electrodes, IDE）w 薄膜叉值阵列微电极（thin-film interdigitated microelectrode array, IDA）w 定制化的薄膜电化学传感器(1) 薄膜单电极（thin-film single-electrode, SE）薄膜单电极（thin-film single-electrode, SE）包括薄膜金电极，薄膜铂电极和薄膜双金属电极，产品具有良好的电极内和电极见的重现性。薄膜微金电极可用作酶和生物传感器，适合硫醇类、DNA等物质的检测，薄膜铂金电极适合气体传感器的开发，如氧气、氨气的检测等。可兼容Drop-cell interface, AIO 和Multi8xAIO 电化学平台使用。型号有： ED-SE1-Pt, ED-SE1-Au, ED-SE1-AuPt (2）薄膜微阵列电极（thin-film microelectrode arrays, MEA）薄膜微阵列电极（thin-film microelectrode arrays, MEA）具有蜂窝状微结构的针孔，直径为1 mm的工作电极上有10或5µ m微孔。通过快速达到稳定状态，提高灵敏度和检测限。型号有：ED-mSE-5-Pt, ED-mSE-10-Pt, ED-mSE-5-Au, ED-mSE-10-Au. （3）薄膜叉值电极（thin-film interdigitated electrodes, IDE）薄膜叉值电极（thin-film interdigitated electrodes, IDE）由两个独立的电极阵列构成，无参比电极和辅助电极，特殊圆形电池的设计更好的适应样品液滴（小于10ul），高的分辨率和精确性。用于阻抗、电容、导电性和燃料电池。叉指电极有铂金和金叉指电极，具有不同的宽度和缝隙。用于光学和电化学阻抗研究，光谱电化学等。型号有：ED-IDE1-Pt, ED- IDE2-Pt, ED- IDE3-Pt, ED-IDE1-Au, ED- IDE2-Au, ED- IDE3-Au. （4）薄膜叉值阵列微电极（thin-film interdigitated microelectrode array, IDA）薄膜叉值阵列微电极（thin-film interdigitated microelectrode array, IDA）具有四个电极，2个叉指工作电极，1个参比电极和1个辅助电极，可采用单模式或者双模式。包括铂金和黄金薄膜叉指电极阵列，其中铂金叉指阵列微电极适用于硫醇、尿酸、抗坏血酸、癌症生物标志物、杀虫剂等检测，铂金叉值阵列微电极用于气体传感器，氧气、二氧化氮、爆炸物等检测。型号：ED-IDA1-Pt, ED-IDA5-Pt, ED-IDA6-Pt, ED-IDA1-Au, ED-IDA5-Au, ED-IDA6-Au.（5）定制化的薄膜电化学传感器可按客户的需求进行定制，单电极或者多电极系统，集成一个或者多个工作电极，和一个参比电极、辅助电极。不同的线性和环状叉指电极，以及双线性或环状叉指电极，以及寻址微电极阵列系统，微电极阵列芯片（4套7个微电极，28个独立的寻址微电极），多电极芯片等。

一、西班牙micrux 公司 MicruX技术是一个创新技术为基础的公司，成立于2008，源自于西班牙的University of Oviedo两个研究小组的合作：由Agustin Costa Garc教授领导的免疫电分析小组（物理和分析化学系）和由若泽Rodr Guez GARC Ia（物理系）教授领导的光电子组。MicruX的主要目标是利用芯片实验室技术，开发和制造微流控设备、电化学传感器和微型分析仪器的创新解决方案。MicruX 公司精通于微流控技术和电化学检测体系，在微流控领域，微流控电泳芯片的研发、制造、应用方面具有丰富的经验；在电化学领域，对微型电化学传感器进行设计和系统集成。公司还提供利用微流控技术和电化学装置集成的新一代的分析设备，应用于食品、环境、临床领域的研究及工业中。二、micrux 产品介绍MicruX产品主要为电化学传感器，微流控平台以及便携式的分析仪器，用于科研及工业生产中。1、电化学传感器1-1、薄膜电化学传感器(Thin-film electrochemical sensors) （1）单电极（Single electrodes，SE）薄膜电极的标准尺寸为10x6mm，以玻璃为基质，采用SU-8树脂作为保护层，电化学池的大小为2mm, 适合1-5ul样品。具有经济高效，高分辨率、高灵敏度，低试剂消耗，可重复使用等优势。金属单电极基于三电极体系，一个工作电极（WE）、参比电极（RE）和辅助电极，适用于电分析、流动系统、纳米技术或生物传感器开发。产品包括薄膜金电极，薄膜铂电极和薄膜双金属电极，具有良好的电极内和电极间的重现性。薄膜金电极可用作酶和生物传感器，适合硫醇类、DNA等物质的检测，薄膜铂金电极适合气体传感器的开发，如氧气、氨气的检测等。而双金属电极可用于工作电极表面选择性的修饰而不影响参比电极和辅助电极的情况。薄膜技术用于生产定制化的电化学传感器，MicurX在不同薄膜电极设计和制造方面有大量丰富的经验，可提供满足不同客户需求的微电极。（2）微电极阵列（microelectrode arrays, MEA ）MEA微电极阵列具有蜂窝状微结构的针孔，直径为1 mm的工作电极上有10或5μm微孔。通过快速达到稳定状态，提高灵敏度和检测限。（3）薄膜叉指电极（interdigitated electrodes, IDE）金属叉指电极由两个独立的电极阵列构成，无参比电极和辅助电极，特殊圆形电池的设计更好的适应样品液滴（小于10ul），高的分辨率和精确性。用于阻抗、电容、导电性和燃料电池。叉指电极有铂金和黄金叉指电极，具有不同的宽度和缝隙。用于光学和电化学阻抗研究，光谱电化学等。（4）叉指阵列微电极（interdigitated array microelectrodes IDA）叉指阵列电微极具有四个电极，2个叉指工作电极，1个参比电极和1个辅助电极，可采用单模式或者双模式。包括铂金和黄金薄膜叉指电极阵列，其中铂金叉指阵列微电极适用于硫醇、尿酸、抗坏血酸、癌症生物标志物、杀虫剂等检测，铂金叉值阵列微电极用于气体传感器，氧气、二氧化氮、爆炸物等检测。（5）叉指环阵列微电极（interdigitated ring array microelectrodes IDRA）叉值环状阵列微电极采用四电极配置，两个环状叉指工作电极，可采用单电极模式和双电极模式，尤其适合流动分析系统。（6）定制化的薄膜电化学传感器MicruX可提供现成的金属薄膜微电极，以及根据需求预先设计的传感器，供应不同的定制化的传感器。可提供单电极或者多电极系统，集成一个或者多个工作电极，和一个参比电极、辅助电极。不同的线性和环状叉指电极，以及双叉指电极传感器，以及寻址微电极阵列系统，微电极阵列芯片（4套7个微电极，28个独立的寻址微电极），多电极芯片等。

【ITO薄膜测厚仪 电池薄膜厚度测定仪 接触式薄膜厚度测试仪】ITO薄膜是一种n型半导体材料，具有高的导电率、高的可见光透过率、高的机械硬度和良好的化学稳定性。它是液晶显示器（LCD）、等离子显示器（PDP）、电致发光显示器 （EL/OLED）、触摸屏（TouchPanel）、太阳能电池以及其他电子仪表的透明电极最常用的薄膜材料。ITO薄膜是一种很薄的金属薄膜，在透明导电薄膜方面得到普遍的应用，具有广阔的前景。但薄膜的厚度是否均匀直接关系到企业的生产成本控制，所以对ITO薄膜厚度的高精度测量，是企业必须重视的检测项目之一。Labthink兰光研发生产的CHY-C2A测厚仪，采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。设备分辨率高达0.1微米，配置的自动进样系统，使用户可自行设置进样步距、测量点数和进样速度，大大提高了薄膜厚度测试效率。 技术特征： 负荷量程：0～2 mm（常规）　　　　　0～6 mm；12 mm （可选）分辨率：0.1 μm测量速度：10 次/min （可调）测量压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）　　　　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制电源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)净重：32kg 以上【ITO薄膜测厚仪 电池薄膜厚度测定仪 接触式薄膜厚度测试仪】信息由济南兰光机电技术有限公司发布，如欲了解更详细信息，欢迎致电0531-85068566垂询！

优势特点1）大功率连续光源，输出光谱平缓无尖峰，保证测量重复性；2）配备偏置光源和偏置滤光片；3）专利分光系统，保证良好的波长准确度和重复性，消除多级谱的影响，杂散光小；4）相关检测法处理弱信号，有效提高信噪比，保证测量精度；5）独特样品夹具设计，适合各种规格的薄膜电池，夹持方便，电极接触好，对弱信号测试干扰小；6）完整的全自动化专用系统软件。产品应用对于多结电池，在测量其中一节电池时，需要对其它节电池进行偏置光照射，使其处于完全导通的状态，一般来讲，需要根据电池光谱响应的范围来选择偏置光的波段，在哪个波段电池有响应，就选哪个波段的光来导通电池，这样被测节电池所产生的电流才可以顺利输出。标准配置只含一个偏置光源，用户可以根据需要选配两个偏置光源，每个偏置光源可以独立工作，对于三结以上的太阳能电池可以采用分别偏置的方法来测量，解决了免某些波段的滤光片很难配套的问题，这在目前市场上的太阳能测试系统中属于比较独特的设计。详细介绍太阳能电池的光谱响应和量子效率对分析太阳能电池的工艺问题以及研究电池片的性能有重要的参考价值。CEL-QPCE2030多结薄膜太阳能电池光谱性能测试系统可以将多结薄膜太阳能电池各节的绝对光谱响应（Spectral Response）和量子效率(Quantum Efficiency)分别测出来，并计算得到整个电池片的绝对光谱响应和量子效率。同时还可以分别计算顶电池和底电池的电流密度，以及电池总的电流密度（AM1.5G 条件下）。规格参数指标参数适用电池单结、双结、三结, 多结薄膜太阳能电池控制模式软件控制、全自动扫描、自动消除误差、自动扣除背景光谱范围200-1700nm扫描间隔≥1nm连续可调光谱扫描全自动、连续测试结果重复性0.3%（短路电流）工作模式直流模式DC、交流模式AC斩波频率5-1000Hz温控台：温控范围5-40℃（±0.5℃），选配偏置光源可选配2路,氙灯/卤素灯单色仪焦距300mm、150mm可选偏置电压±3V，设置精度：±1mV偏置滤光片短波通 3 片（进口），长波通 4 片

FLAS,film depth dependent light absorption spectra, 原位薄膜断层光谱仪原位薄膜断层光谱仪功能原理和参数：⚫ 吸收光谱与物质分子结构、晶态结构和电子能级相关。因此可根据断层光谱模拟出薄膜中组分分布、能级分布、激子分布、电荷分布， 从而揭示薄膜中光学作用和电荷输运的机制。 ⚫ 薄膜垂直方向的空间分辨率可达 1nm，波长分辨率 0.4 nm。紫外可 见波长范围：190-1100nm。傅里叶变换红外：4000 cm-1 - 600 cm-1。 ⚫ 搭配不同附件，可原位获得薄膜断层透射光谱、吸收光谱、反射光 谱、荧光光谱、红外光谱、拉曼光谱等。 ⚫ 提供断层分析软件（自主软件著作权）,包括：a. 太阳能电池模拟软 件，利用断层光谱和光学干涉原理计算激子的空间和波长分布特 性、光伏器件中的光强、光衰减特性。b．有机薄膜晶体管模拟软件， 利用断层光谱特性计算电荷传输能级的断层分布特性，可计算出晶 体管内部电荷分布、电压分布、电流分布等。部分文章：⚫ Chengliang He, Youwen Pan, Baohua Wu, Xinxin Xia, Zeng Chen, Haiming Zhu, Chang-Qi Ma, Xinhui Lu, Wei Ma, Guanghao Lu, Lijian Zuo*, Hongzheng Chen*., Advanced Materials, 2022, 202203379.⚫ Shitong Li, Qiang Fu, Lingxian Meng, Xiangjian Wan, Liming Ding, Guanyu Lu, Guanghao Lu, Zhaoyang Yao, Chenxi Li, Yongsheng Chen*. Angewandte Chemie International Edition, 2022, 202207397. ⚫ Huiting Fu, Zhengxing Peng, Qunping Fan, Francis R. Lin, Feng Qi, Yixin Ran, Ziang Wu, Baobing Fan, Kui Jiang, Han Young Woo, Guanghao Lu, Harald Ade, Alex K.-Y. Jen*. Advanced Materials, 2022, 202202608. ⚫ Yanan Wei, Zhihao Chen, Guanyu Lu, Na Yu, Congqi Li, Jinhua Gao, Xiaobin Gu, Xiaotao Hao, Guanghao Lu, Zheng Tang, Jianqi Zhang, Zhixiang Wei, Xin Zhang, Hui Huang*. Advanced Materials, 2022, 202204718. ⚫ Jingwei Xue, Heng Zhao, Baojun Lin, Yilin Wang, Qinglian Zhu, Guanyu Lu, Baohua Wu, Zhaozhao Bi, Xiaobo Zhou, Chao Zhao, Guanghao Lu, Ke Zhou*, Wei Ma*. Advanced Materials, 2022, 202202659. ⚫ Jing-Yuan Fan, Zhi-Xi Liu*, Jack Rao, Kangrong Yan, Zeng Chen, Yixin Ran, Buyi Yan, Jizhong Yao, Guanghao Lu, Haiming Zhu, Chang-Zhi Li*, Hongzheng Chen. Advanced Materials, 2022. 2110569. ⚫ Yunhao Cai, Qian Li, Guanyu Lu, Hwa Sook Ryu, Yun Li, Hui Jin, Zhihao Chen, Zheng Tang, Guanghao Lu*, Xiaotao Hao, Han Young Woo, Chunfeng Zhang*, Yanming Sun*. Nature Communications, 2022 13, 2369.

薄膜交直流介电强度试验机/PVC电缆料介电强度测试设备主要技术参数：型号：ZJC-50kV输入电压：AC 220V±10%电源频率：50-60Hz高压变压器功率：5kVA输出电压：AC 0～50kV ,DC 0～50kV测量精度：±1%测量范围：1kV～50kV升压方式选择功能：1；连续升压；2；逐级升压；3；瞬时升压。升压速率设定功能：0.100 kV/s ～ 5.000kV/s 外形尺寸：1000mm*700mm*1400mm(ZJC-50kv产品)； 提高固体电介质击穿电压的方法【摘 要】文章介绍提高固体电介质击穿电压的方法。通过功能概述、要点归纳，掌握提高固体电介质击穿电压常用方法和措施。 【关键词】介质击穿；绝缘 在强电场作用下，固体电介质丧失电绝缘能力而由绝缘状态突变为良导电状态。导致击穿的最低临界电压称为击穿电压。均匀电场中，击穿电压与固体电介质厚度之比称为击穿电场强度（简称击穿场强，又称介电强度），它反映固体电介质自身的耐电强度。不均匀电场中，击穿电压与击穿处固体电介质厚度之比称为平均击穿场强，它低于均匀电场中固体电介质的介电强度。 1 击穿形式 根据击穿的发展过程，固体电介质的击穿可分为3种形式：电击穿、热击穿和电化学击穿，同一种电介质中发生何种形式的击穿，取决于不同的外界因素。随着击穿过程中固体电介质内部的变化，击穿过程可以从一种形式转变为另一种形式。 1.1 电击穿 取决于固体电介质中碰撞电离的一种击穿形式。电场使电介质中积聚起足够数量和足够能量的带电质点，导致电介质丧失绝缘性能。对于电击穿有以下几种不同的理论解释：本征击穿、电子崩击穿和电致机械应力击穿，通常以本征击穿代表电击穿，所以电击穿有时又称本征击穿。本征击穿过程所需时间为10-8s数量级，击穿场强大于1MV/cm。 1.2 热击穿 在电场作用下，固体电介质承受的电场强度虽不足以发生电击穿，但因电介质内部热量积累、温度过高而导致失去绝缘能力，从而由绝缘状态突变为良导电状态。 1.3 电化学击穿 在电场、温度等因素作用下，固体电介质发生缓慢的化学变化，性能逐渐劣化，最终丧失绝缘能力，从而由绝缘状态突变为良导电状态。电化学击穿过程包括两部分：因固体电介质发生化学变化而引起的电介质老化；与老化有关的击穿过程。 固体电介质发生缓慢化学变化的原因多种多样。直流电压下，固体电介质因离子电导而发生电解，结果在电极附近形成导电的金属树枝状物，甚至从一个电极伸展到另一个电极。在电场作用下，固体电介质内部的气泡中，或不同固体电介质之间的气隙或油隙中，会发生局部放电。与固体电介质接触的电极边缘场强较强的局部区域内如有气体或液体电介质，这里也会发生局部放电。局部放电的长期作用会使固体电介质逐步损坏。 电场越强，温度越高，电压作用时间越长，固体电介质的化学变化进行得越强烈，其性能的劣化也越严重。 固体电介质的化学变化通常使其电导增加，这会使固体电介质的温度上升，因而电化学击穿的最终形式是热击穿。 影响因素 影响固体电介质击穿电压的主要因素有：电场的不均匀程度，作用电压的种类及施加的时间，温度，固体电介质性能、结构，电压作用次数，机械负荷，受潮等。 2 提高固体击穿电压的方法 （1）改进制造工艺，使介质可能做到均匀致密。 （2）改进绝缘设计，使电场分布均匀。 （3）改善绝缘的运行条件。 3 提高固体击穿电压的具体措施 （1）通过精选材料、改善工艺、真空干燥、加强油浸（油、胶、漆），以清除固体电介质中残留的杂质、气泡、水分等。 如电力电容器内部的浸渍剂主要作用是填充固体绝缘介质的空隙，以提高介质的耐电强度，改善局部放电特性和增强散热冷却的能力。由于电容器绝缘介质的工作电场强度较高，同时冷却条件较差，因此对浸渍的技术性能要求较高。目前采用表面粗化薄膜，并在高真空下浸渍而形成的全膜电容器已广泛应用。 纸绝缘电缆在运行过程中，由于黏性浸渍剂的热膨胀系数大，在负荷、温度有变动体积改变明显，而铅铝护套受热后冷却难以恢复原有尺寸，绝缘内部容易形成气隙。故黏性浸渍电缆仅适用于35KV以下交流系统。 更高电压的油纸电缆选用黏度较低的电缆油浸渍，并加以油压，以减小油中气隙，提高绝缘强度。由于薄纸的电气强度高，通常包缠用的纸带改用0.045～0.075mm的薄纸来代替常用的0.12mm厚的电缆纸。随着绝缘材料的发展，用烷基苯等合成油来代替电缆油，用薄膜-纤维合成纸来代替电缆纸。 （2）采取合理的绝缘结构。使各部分绝缘的耐电强度与其承受的场强相匹配；改善电极形状及表面光洁度，是电场分布均匀；改善电极与绝缘体的接触状态，消除接触触电的气隙或使接触处的气隙不承受电位差，如用半导体漆。 带绝缘（总包绝缘）的三相交流电缆方式，电场属非同轴圆柱分布，平行于纸层方向将出现较强的切线分量，从而容易出现滑闪放电。故10KV以上的三芯电缆不用带绝缘结构而改用分相铅包（或屏蔽）的，若线芯及金属护层表面均光滑，其间绝缘层中的电场分布近于同轴圆柱体电场，电场分布较为均匀。 交流110KV及以上的高压套管常用电容式套管，它是在导电杆上包以多层绝缘纸构成，在层间按设计要求位置加有铝箔，以起到均压作用。 油浸式变压器中常用的绝缘纸有两种：①电缆纸（通常用0.08～0.12mm厚），主要用于导线绝缘、层间绝缘及引线绝缘等；②更薄的电话纸和更柔软的皱纹纸有利于包紧出线头、引线等。绝缘纸板常用作绕组间的垫块、隔板等，或制成绝缘筒及对铁轭的角环等。在电场很不均匀的区域，如对铁轭或高压引线绝缘，也采用由纸浆制成合适形状的绝缘成型件，以改善电场分布，防止发生沿面滑闪放电。通常变压器绕组与铁轭间的电场不如绕组中部均匀，故高压进线布置在绕组中部，若需将高压引线（或自耦变压器的中压引线）安置在绕组端部时，需要加进静电板以改善绕组近端部处的电场分布。静电板是在绝缘环上用金属带包缠成一个具有较大曲率半径的不闭合金属环，再包以很厚的绝缘层。 （3）在运行中，注意防止尘污、防潮和有害气体的侵蚀，加强散热冷却，如自然通风、强迫通风、氢冷、油冷、水内冷等措施。如油、纸绝缘的配合使用，可以弥补各自缺点，显著增强绝缘性能，但纸纤维为多孔性的极性介质，极易吸收水分，即使经过干燥油浸处理仍会吸潮。因此，在出厂前变压器内纤维的含水量应降低到0.3%～0.5%，在现场如需吊芯，务必选择晴朗干燥天气，尽量缩短暴露时间。对于长期停运的变压器再重新投入前，需检查是否受潮，有时还可以先预热干燥后再投入运行。

玻璃薄膜介电常数试验测试仪ef——试样浸入所用流体的相对电容率，对于在空气中的测量则4等于1。对于相对电容率为10以上的无孔材料，可采用沉积金属电极。对于这些材料，电极应覆盖在试样 的整个表面上，并且不用保护电极。对于相对电容率在3〜 10之间的材料，能给出最高精度的电极是金 属箔、汞或沉积金属，选择这些电极时要注意适合材料的性能。若厚度的测量能达到足够精度时，试样 上不加电极的方法方便而更可取。假如有一种合适的流体，它的相对电容率已知或者能很准确地测出， 则采用流体排出法是最好的玻璃薄膜介电常数试验测试仪介电常数测试仪由高频阻抗分析仪、测试装置，标准介质样品组成，能对绝缘材料进行 高低频介电常数(ε)和介质损耗角(D或tanδ) 的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。介电常数测试仪工作频率范围是20Hz～2MHz,它能完成工作频率内对绝缘材料的相对介电常数(ε)和介质损耗角 (D或tanδ)变化的测试。介电常数测试仪中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用高频阻抗分析仪作为指示仪器。绝缘材料的介电常数和损耗值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的D值(损耗值)变化和Cp（电容值）读数通过公式计算得到。 概述HRJD-DP 是具有多种功能和更高测试频率的新型阻抗分析仪，体积小，紧凑便携，便于上架使用。本系列仪器基本精度为0.05%，测试频率最高2MHz及10mHz的分辨率，4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面，操作方便简洁。集成了变压器测试功能、平衡测试功能,提高了测试效率。仪器提供了丰富的接口，能满足自动分选测试，数据传输和保存的各种要求。性能特点◎ 全自动一键操作可自动扫描最平稳的量程阶段◎微电脑处理器反应迅速可在最短时间内计算出最佳频段◎ 夹具数字显示◎ 4.3寸TFT液晶显示◎ 中英文可选操作界面◎ 最高2MHz的测试频率，10mHz分辨率◎ 平衡测试功能◎ 变压器参数测试功能◎ 最高测试速度:13ms/次◎ 电压或电流的自动电平调整（ALC）功能◎ V、I 测试信号电平监视功能◎ 内部自带直流偏置源◎ 可外接大电流直流偏置源◎ 10点列表扫描测试功能◎ 30Ω、50Ω、100Ω可选内阻◎ 内建比较器，10档分选和计数功能◎ 内部文件存储和外部U盘文件保存◎ 测量数据可直接保存到U盘◎ RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口◎ 高频阻抗分析仪电容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值显示，保证了ε和D值精度和重复性。◎ 介电常数测量范围可达1～105主要技术指标： ε和D性能：固体绝缘材料测试频率20Hz～2MHz的ε和D变化的测试。 ε和D测量范围：ε：1～105，D：0.1～0.00005，ε和D测量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。测试参数 :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR测试频率 :20 Hz～2MHz,10mHz步进测试信号电:f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）平 :f1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)输出阻抗:10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω基本准确度 0.1%显示范围 :L 0.0001 uH ～ 9.9999kHC :0.0001 pF ～ 9.9999FR,X,Z,DCR :0.0001 Ω ～ 99.999 MΩY, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 SD :0.0001 ～ 9.9999Q :0.0001 ～ 99999θ :-179.99°～ 179.99°测量速度 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）中速: 25次/s, 慢速: 5次/s校准功能 :开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准等效方式 :串联方式, 并联方式量程方式:自动, 保持显示方式 :直读, Δ, Δ%触发方式 :内部, 手动, 外部, 总线内部直流偏 :电压模式-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进置源 :电流模式（内阻为50Ω）-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进比较器功能:10档分选及计数功能显示器 320×240点阵图形LCD显示存储器 :可保存20组仪器设定值USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（选件）工作频率范围：20Hz～2MHz 数字合成，精度：±0.02%电容测量范围：0.00001pF～9.99999F 六位数显电容测量基本误差：±0.05%损耗因素D值范围：0.00001～9.99999 六位数显介电常数测试装置（含保护电极）： 精密介电常数测试装置提供测试电极，能对直径φ10～56mm，厚度10mm的试样精确测量。它针对不同试样可设置为接触电极法，薄膜电极法和非接触法三种，以适应软材料，表面不平整和薄膜试样测试。微分头分辨率：10μm最高耐压：±42Vp（AC+DC）电缆长度设置：1m最高使用频率：30MHz高频介质样品（选购件）： 在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。该样品由人工蓝宝石，石英玻璃， 氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。玻璃薄膜介电常数试验测试仪式中：G——电极常数；G——空气中电极装置的电容扌G——充有校正液体时电极装置的电容,孔——校正液体的相对电容率。从G和G的差值可求得校正电容Cg；玻璃薄膜介电常数试验测试仪来计算液体未知相对电容率Ex*式中：G——校正电容；Co——空气中电极装置的电容；cc——电极常数)Cx——电极装置充有被试液体时的电容；织——液体的相对电容率。假如G、Cn和役值是在鈴是已知的某一相同温度下测定的，则可求得最高精度的馭值， 采用上述方法测定液体电介质的相对电容率时，可保证其测得结果有足够的精度，因为它消除了由 于寄生电容或电极间隙数值的不准确测量所引起的误差.玻璃薄膜介电常数试验测试仪测量电容率和介质损耗因数的方法可分成两种:零点指示法和谐振法。5. 1零点指示法适用于频率不超过50 MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法；也就 是在接入试样和不接试样两种状态下，调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器 电桥(也就是互感耦合比例臂电桥)和并联T型网络。变压器电桥的优点：采用保护电极不需任何外加 附件或过多操作，就可采用保护电极；它没有其他网络的缺点。 6.2谐振法适用于10 kHz〜 几百MHz的频率范围内的测量,该方法为替代法测量，常用的是变电抗 法。但该方法不适合采用保护电极。

1. 产品概述FTPadv Expert薄膜测量软件具有FTPadv标准软件中包含的用户友好和以配方为导向的操作概念。突出显示拟合参数、测量和计算的反射光谱以及主要结果的光学模型同时显示在操作屏幕上。2. 主要功能与优势n、k 和厚度的测量该软件包设计用于 R（λ） 和 T（λ） 测量的高分析。多层分析可以测量单层薄膜和层叠的每一层的薄膜厚度和折射率。大量的色散模型集成色散模型用于描述所有常见材料的光学特性。通过使用快速拟合算法改变模型参数，将计算出的光谱调整为测量的光谱。3. 灵活性和模块化 SENTECH FTPadv Expert 软件包用于光谱数据的高分析，根据反射和透射测量结果确定薄膜厚度、折射率和消光系数。它扩展了SENTECH FTPadv薄膜厚度探头的标准软件包，适用于更复杂的应用，包括光学特性未知或不稳定的材料。可以在光滑或粗糙、透明或吸收性基材上测量单个透明或半透明薄膜的薄膜厚度、折射率和消光系数。该软件允许分析复杂的层堆栈，并且可以确定堆栈的每一层的参数。我们的FTPadv Expert薄膜测量软件具有FTPadv标准软件中包含的用户友好和以配方为导向的操作概念。突出显示拟合参数、测量和计算的反射光谱以及主要结果的光学模型同时显示在操作屏幕上。该软件包包括一个大型且可扩展的材料库，该库基于表格材料文件以及参数化色散模型。FTPadv Expert 软件可选用于膜厚探头 FTPadv，以及反射仪 RM 1000 和 RM 2000 软件包的一部分。

橡胶塑料薄膜电压击穿试验仪厂家 可实时绘制试验曲线，显示试验数据，判断准确，并可保存，分析，打印试验数据。本系统能够自动判别试样击穿并采集击穿电压数据及泄露电流，同时能够在击穿的瞬间电压迅速降低自动归零。橡胶塑料薄膜电压击穿试验仪厂家 试验方法1、绝缘试样空气中击穿或耐压试验2、绝缘试样浸油中击穿或耐压试验3、绝缘试样空气中阶梯击穿或耐压试验4、绝缘试样浸油中阶梯击穿或耐压试验注：根据用户要求，可定制其他试验方式 橡胶塑料薄膜电压击穿试验仪厂家 技术要求：序号项目参数 1 产品型号BDJC-50KV、BDJC -100KV2控制方式计算机控制3符合标准GB/T1408、ASTM D149等4适用材料橡胶、塑料、薄膜等绝缘材料5测试项目击穿电压、绝缘强度、击穿强度、介电强度、耐电压强度6试验电压20KV、50KV、100KV、150KV等7精度1%8升压速率10V/S-5KV/S9试验方式交流/直流、耐压、击穿、梯度升压10控制系统PLC控制11试验介质绝缘油、空气、水12其它特点无线蓝牙控制（500M）13设备组成主机、计算机、电极14电器容量5KVA、10KVA15耐压时间0-8H16安全保护九级安全保护17出据证书514所、中国计量科学研究院18主机尺寸800*800*1300mm、19主机重量110KG、20产品类别电性能检测仪器 配置：序号项目数量/单位1变压器一台2调压器一台3传感器二个4步进电机一台5PLC控制模块一套6放电系统一套7电流模块一套8电压模块一台9无线接收器一个10数据处理系统一套11计算机一台12插头1只13实验软件一套1625mm电极两个1775mm电极1个18配件一套19油槽一个20使用说明书一份21连接线一套22随机文件一套23蓝牙发射器一支（选配）24蓝牙接收器一支（选配）25证书一份（选配）26手套一双（选配） 安全保护功能： a、超压保护b、试验过流保护c、试验短路保护d、安全试验门保护 e、软件误操作保护f、零电压复位保护g、试验漏电保护h、独立接地保护i、试验结束放电保护j、设备故障报警保护 使用及存储环境：使用环境：温度-20℃到40℃，湿度≤95%。存储环境：温度-20℃到70℃，湿度≤95%。 仪器特点： 01、本仪器在试验过程中可对升压击穿过程绘制实时曲线，02、可以随时调取当前及历史试验数据进行查看，编辑及修改参数。03、试验过程中可以随时修改试验条件及存储路径及自动存储试验结果。04、试验过程中，可随时通过软件决定本次试验是否有效，方便筛选试验结果。05、可设置操作口令，做到专机专人操作，避免无关人员误操作。 媒质：⑴气体媒质：采用空气，如有闪络可在电极周围加柔软硅橡胶防飞弧圈。防飞弧圈与电极之间有一毫米左右的环状间隙，环宽30mm。⑵液体媒质：常态试验及90℃以下的热态试验采用清洁的变压器油，90℃至300℃以内的热态试验采用清洁的过热气缸油。 使用时的注意事项：本仪器为高压试验设备，使用时必须注意以下几点1、试验过程中不能让无关人员靠近，因本试验仪器可产生较高的电压，未经过培训的人员不能使用该设备。试验时要有监护人员，不要单人使用。以防万一发生意外情况。2、长时间不使用设备，在再使用时，先让仪器空载加压一次，即把高压电极的接线从均压球上取下。查看计算机试验界面，看看高压电压是否正常。3、试验中发生意外情况要及时切断电源，问题处理后才能继续试验。4、设备安放要平稳，安放的地面要坚固。 是水泥地面以免产生共振。5、该设备在使用中外壳要接保护地线，既设备外壳接大地,以保护操作人员和设备运行的安全。6、使用完设备后，要关掉系统各部分电源，不准带电插拔电源线。7、要按规定的电源电压接入设备。确保电路接线正确。否则会损坏设备。8、该仪器需安置在室内，实验室应整洁、干燥、无腐蚀性介质，非相关人员不要随意操作。9、不要让设备电缆碰到尖边，以免划破电缆绝缘；不要让电缆压在重物之下，以免压断电缆引起火灾；不要用电缆拉物体或用电缆捆绑物体，以免拉断电缆使设备不能正常运转。10、不要让设备碰到水溅，腐蚀性气体，可燃气体和可燃物。如果不避免，可能火灾。11、搬动设备时,要切断设备电源,既要把插头从插座中拔下。禁止搬动设备时放倒设备或倾斜45°角以上。12、不要在设备运行时插拔设备的电源插头。 交直流实验的切换1）本仪器高压输出为交流电压。直流的获得方式为在原回路中串入高压硅堆，使测试回路为脉动的直流电压。实现的过程为：硅堆已经在高压变压器的高压绝缘塔中，平时用一个短路杆把高压硅堆短接。需要直流试验时，取出短路杆，使高压硅堆接入测试电路中，这时回路的电压为脉动的直流电压。2）前面板直流交流选择按钮。该按钮的状态不能改变设备输出的电压性质。按下该按钮，设备仅仅是把直流报警电路接入。指示用户，当打开箱门时，您需要对高压均压球放电。转动放电杆，使放电杆的端部铜球接触高压均压球。建议用户每次放电铜球接触高压均压球时间大于五秒。3）试验的交直流电压切换，主要取决于高压绝缘塔中的短路杆是否取出。当取出短路杆时，高压均压球上的电压为直流电压，插入短路杆时，高压均压球上的电压为交流电压。 软件功能：1、试验过程中可动态绘制出试验曲线，试验的曲线可以多种颜色叠加对比，局部放大，曲线上任意一段可进行区域放大分析；2、可对试验数据进行编辑修改，灵活适用；3、试验条件及测试结果等数据可自动存储；4、试验报告格式灵活可变，适用于不同用户的不同需求；5、可对一组试验中曲线数据的有效与否进行人为选定；6、试验结果数据可导入EXECL、WORD文档编辑；7、软件设备人员管理功能，试验人员可设置自己的试验项目和试验参数，设置自己的试验内容后别人无法进入程序；8、过电流保护装置有足够的灵敏度，能够保证试样击穿时在0.1s内切断电源；9、仪器运行的持久性: 仪器可连续运行使用，不需为保护仪器而定期停机。北京北广精仪仪器设备有限公司自2012-06-12创立，规模逐步发展壮大，凭着过硬的生产技术、丰富的管理经验，优质的客户服务和良好的企业信誉，在试验机行业不断进步。在短时间内完成了企业创建、完善、发展完善的过程，试验仪市场广阔，产品已经销售到全国。 近两年部分客户案例1.深圳市华天启科技有限公司 62.平顶山神马鹰材包装有限公司 2.深圳市兴绿科技有限公司 63.河南金水电缆集团有限公司3.深圳华晟达仪器设备有限公司 64.四川天威电子有限责任公司4.深圳质检院 65.四川川环科技股份有限公司5.深圳市欧普特工业材料有限公司 66.四川大学6.深圳市秦塑塑化材料科技有限公司 67.德阳盛宇科技有限公司7.广州奥翼电子科技有限公司 68.成都监帮密封件股份有限公司8.广东电网公司电力科学研究院 69.成都科技大学9.广州市日立电梯有限公司 70.成都电子科技大学10.广州威凯检测技术有限公司 71.核工业西南物理研究院11.广东银禧科技股份有限公司 72.北京化工大学12.广东产品质量监督研究所 73.北京理工大学13.广东新翼新材料有限公司 74.北京清华大学材料系、水利系14.惠州光阳科技有限公司 75.北京福瑞泰科技有限公司15.华南理工大学 76.北京航天凯恩化工科技有限公司（特种化工事业部）16.茂名质量检验监督所 77.北京世纪航凯电力科技股份有限公司 17.东莞市南炬高分子材料有限公司 78.北京 二十三厂18.东莞市华科东尼仪器有限公司 79.北京理工大学西山实验区19.东莞零度导热材料有限公司 80.北京四方变压器厂20.佛山市质量计量监督检测中心 81.北京磁谷新能源材料有限公司21.佛罗县复合材料有限公司 82.北京博闻时讯科技有限公司22.佛山金戈消防材料有限公司 83.北京中西远大科技有限公司23.佛山质量检验监督所 84. 北京市科学器材公司24.上海西邦电气有限公司 85.北京航天试验技术研究所25.上海申锐测试设备制造有限公司 86.北京欧陆伟业科技发展有限公司26.上海兆邦电力器材有限公司 87.山东德威克仪器有限公司27.上海祈峰实验仪器有限公司 88.山东阳谷电缆集团有限公司28.上海科技大学 89. 山东守护者电子科技有限公司29.浙江正泰电气股份有限公司 90.山东德威克仪器有限公司30.浙江德创环保科技股份有限公司 91.青岛安世科学仪器有限公司31.绍兴任飞碳黑有限公司 92.合肥博艺仪器设备有限公司32.乐清市正泰电器科技股份有限公司 93.济宁强科管材材料有限公司33.乐清市柳市正和量具仪器商行 94. 烟台华鹏仪器有限公司34.苏州市铭宇精密测量仪器有限公司 95.黑龙江天林科技有限公司35.佳施加德士（苏州）塑料有限公司 96.长春一汽轿车股份有限公司36.江苏矽时代材料科技有限公司 97. 辽阳易通科技有限公司37.江苏溧阳康达威实业有限公司 98.大庆五金总汇有限公司38.欧宝聚合物江苏有限公司 99.沈阳润棉科技有限公司 39.苏州工业园区斯博自动化控制设备有限公司 100.中科院兰州理化所40.江苏苏美达成套设备工程有限公司 101.兰州汇天成工贸有限公司41.中广核三角洲（江苏）塑化有限公司 102.肯博（厦门）绝缘科技有限公司42.南通日芝电力材料有限公司 103.海南大学43.日本长濑精细化工（无锡）有限公司 104.西安交通大学44.万聚国际（杭州）供应链有限公司 105.西安永兴科技发展有限公司 45.顺德特种变压器厂 106.陕西科技大学46.诸城质量检验监督所 107.阜新矿业集团有限公司47.无锡金邦科技有限公司 108.江西科盛环保股份有限公司48.无锡思耐德科技有限公司 109. 咸阳兴华高精表面技术有限公司 49.南京博乐飞科学仪器有限公司 110.沧州特嘉汽车零部件有限公司 50.南京电气集团 111.长沙康格医疗用品有限公司 51.南京电气科技有限公司 112.贵州华泰药业有限公司 52.安徽铜峰电子股份有限公司 113.贵州省材料产业技术研究院 53.安徽省宁国市海伟电子有限公司 114.福建南平太阳电缆股份有限公司54.安徽国华新材料有限公司 115.福州申辉化工仪器有限公司55.中国科学院上海硅酸盐研究所 116.保定华创电气有限公司 56.武汉欣景通仪器有限公司 117. 保定棉金内饰件制造有限公司57.武汉北分福诚仪器有限公司 118.保定风帆美新蓄电池隔离板制造有限公司58.天津市鼎轩科工贸有限公司 59.天津鼎轩工业材料有限公司 安徽国华新材料有限公司60.天津中津塑胶制品有限公司61.星光橡胶（日本）天津有限公司

Thermo ScientificTM AnalogPlusTM 臭氧电极采用克拉克（Clark）膜技术，由金阴极、银阳极和银参比电极组成臭氧电极系统。对银参比电极采用恒定的电压进行极化，起到了稳定测量值的作用，避免了传统两电极系统的干扰，并有效降低了测量中的漂移。独特的薄膜结构使电极探头非常耐用。 臭氧电极采用了一体化可更换的膜套组件，每个组件已经预装好膜片，简化了更换新膜片的繁琐工作，更换膜的工作仅需几秒。产品特点● 极谱法电极设计，用于大多数的工业应用● 可更换式膜套，使用寿命长● 0-10ppm测量范围● 0.01ppm分辨率● 配合AV88控制器，可获得更高的性价比市场/应用● 饮用水处理● 废水处理● 食品和饮料消毒 ● 锅炉给水 ● 瓶装水系统 ● 纸浆和造纸漂白制药 ● 冷却水 ● 半导率清洗水技术参数 测量系统性能测量范围0-10ppm分辨率0.01ppm准确度±2% F.S.响应时间90秒达90% 使用条件温度范围-5度至50度zuida压力4.48Bar(65psig)@50度zuida流速3米（10英尺）/秒 结构电极金阴极，银阳极，银参比（三电极极谱式Clark 溶氧电极）膜套组件PTFEO-型垫圈Viton™ 电极头材质PEEK™ 重量0.5磅通过认证符合重工业用途的CE要求更多臭氧电极可选配置如下订货号描述SZ-B-T-X- Y-Z-U臭氧电极壳体材质（B）3=PEEK电极类型（T）1=金/银电极头（X）B=平面填充液（Y）1=标准型电极间距（Z）A=PTFE线缆长度(U)1=10英尺（约3米）3=30英尺（约9米）更多臭氧电极可选配置如下订货号描述SZ-B-T-X- Y-Z-U臭氧电极Thermo Scientific 更多类型的产品，特殊需求请联系我们。

普创-落镖冲击试验仪-FB-30J落镖测试常常选择梯级法来进行，梯级法中又分为落镖冲击 A 法和 B 法。两者的区别：落镖头直径、材料以及落下高度不一样。一般来讲，A 法适用于冲击破损质量为 50g～2000g 的材料。B 法适用于冲击破损质量为 300g～2000g 的材料。其中 GB/T 9639 和 ISO 7765 的梯级法是等同方法。 A 法：落镖头直径为 38±1mm，镖头材料为光滑、抛光的铝、酚醛塑料或其他硬度相似的低密度材料制成，下落高度为 0.66±0.01m。 B 法：落镖头直径 50±1mm，镖头材料为光滑、抛光的不锈钢或其他硬度相似的材料制成，下落高度为 1.50 ±0.01m。而 ASTM D1709 中，A 法和 B 法的落镖头直径分别为 38.1±0.13mm 和 50.8±0.13mm。 产品介绍 ：普创-落镖冲击试验仪-FB-30J用于厚度小于 1mm 的塑料薄膜或薄片在给定高度的自由落镖冲击下，测定50%塑料薄膜或薄片试样破损时的冲击质量和能量。产品特点1. 机械造型新颖、操作设计体贴入微、国家标准、国际标准同时兼容。2. 试验方法 A、B 双模式。3. 试验数据实验过程智能化、大大提高了工作效率。4. 试样气动加紧、释放、减少了实验误差与试验时间。5. 数据参数系统液晶显示。产品应用薄膜、薄片适用于厚度小于 1mm 塑料薄膜、薄片、复合膜的的抗冲击性能测试。如 PE 保鲜膜、缠绕膜、PET 片材、各种结构的食品包装袋、重包装袋等铝箔、铝塑复合膜， 适用于铝箔、铝塑复合膜的抗冲击性能测试 ，纸张、纸板测试 适用于纸张、纸板的抗冲击性能测试 。 技术标准： 试验开始时，首先选择试验方法，估计一个初始质量和Δm 值，进行试验，如果第一个试样破损，用砝码Δm 减少落体质量；如果第一个试样不破，须用砝码Δm 增加落体质量依此进行试验。总之，利用砝码减少或增加落体质量，取决于前一个试样是否破损。20 个试样试验后，计算破损总数 N，如果 N 等于 10，试验完成；如果 N 小于 10，补充试样后，继续试验直到 N 等于 10；如果 N 大于 10，补充试样后，继续试验直到不破损的总数等于 10 为止，最后由系统自动计算冲击结果。仪器符合 GB9639、ASTM D1709、JISK7124 等相关标准和规定。产品参数：项目 参数 测量方法 A 法、B 法（二选一，还可同时实现） 测试范围 A 法：50～2000g B 法：300～2000g 测试范围 测试精度：0.1g（0.1J） 试样装夹 电动试样尺寸 ＞150mm×150mm 电 源 AC 220V±5% 50Hz 净 重 约 65kg产品配置 标准配置：A 法配置、微型打印机。 选 购 件：B 法配置、专业软件、通信电缆。 注:因技术进步更改资料,恕不另行通知,产品以后期实物为准。普创-落镖冲击试验仪-FB-30J 普创-落镖冲击试验仪-FB-30J

FSD-200 型薄膜表面在线检测仪 用途Application Summary▲实时检测薄膜的表面疵点，如鱼眼、污点、杂质、破洞、斑块、条纹等。Detect and analyze defects on film surfaces in real-time. Examples include fisheye,stain, impurity, hole, spots, plaque, strip,etc.▲薄膜材质可以是PP、PE、PVC 或其它树酯膜。Applicable film material include PP,PE,PVC or any other resin based film.▲对透明薄膜的检测，是本系统的特点所在，但也可以检测其它不透明膜。The unique system is designed for transparent film detection, but it can also beused to detect defects in opaque film. 适用标准Applicable StandardsGB6595-86、ASTM 3351-93、GB/T 4611-2008、GB/T 11115-2009，or anystandard, depending on film or resin material.Model FSD-200 Film Surface Detector 技术指标Technical Specifications1. 适用薄膜宽度： 210mm 及以下.Applicable film width : 210mm or lower2. 最小检测目标：0.1mm， 需更小时可选用不同的CCDMin. target radius：0.1mm. Also available in smaller target radius with different CCD.3. 检测精度：最大分辩 30μm，需更小时可选用不同的CCDResolution: Max 0.03mm. Also available in smaller resolution with different CCD.4. 检测元件：面阵CCDSensor: area-scan CCD.5. 薄膜移动速度： 18m/min 以下。Film moving speed: less then 18m/min.6. 通讯接口： RS232/RS485/Ethernet/USBCommunication interface: RS232/RS485/Ethernet/USB7. 光源：LED 冷光源30WLight assembly: LED cold light, 30watt.8. 电源： 220VAC 50HzPower supplier: 220VAC 50Hz9. 外形尺寸(长ⅹ宽ⅹ高)： upper unit: 230mmⅹ131mmⅹ108mmAssembly Dimension( LⅹWⅹH): lower unit: 272mmⅹ160mmⅹ252mm 仪器功能特点 Application Highlights1. 实时检测薄膜的疵点大小、数量和分类统计Real-time detection of defects size , quantity and classification.2. 可以检测薄膜的边界尺寸Can detect film size.3. 界面显示薄膜面的实测状况及图像Displays image of of detected film surface in real time.4. 界面图像可放大缩小以便于观测目标点的细节Displayed detection area can be zoomed in and out for detail observation of target.5. 检测结果可储存，可打印Detection result can be saved and printed.6. 按要求的检测表格输出，并包含产品的生产信息Inspection Report can be customized based on user requirements to include production information.7. 检测表格的项目可编辑修改，以确定合格的标准设定Inspection Report can be updated to match new acceptance criteria.8. 历史数据和图表可分类显示及趋势Historical data or chart can be displayed for classification.9. 精巧的设计结构。小型化现场安装，外形结实美观Minimal footprint, elegant exterior, professionally designed for industrial and commercial applications.

FIT-01摆锤式薄膜冲击试验机 薄膜冲击试验仪专业适用于塑料薄膜、薄片、复合膜、金属箔片等材料抗摆锤冲击性能的精确测定。Labthink兰光，致力于通过包装检测技术提升和检测仪器研发帮助客户应对包装难题，助力包装相关产业的品质安全。了解关于更多相关信息，您可以登陆济南兰光公司网站查看具体信息或致电咨询。Labthink兰光期待与行业中的企事业单位增进技术交流与合作。FIT-01摆锤式薄膜冲击试验机 薄膜冲击试验仪主要技术特征：量程可调，电子式测量轻松准确地实现各种测试条件下的试验试样气动夹紧，摆锤气动释放以及水平调整辅助系统有效地避免了人为因素引起的系统误差系统自动统计试验数据，直观地将测试结果展示给用户系统采用微电脑控制，搭配液晶显示屏，菜单式界面和PVC操作面板，方便用户快速地进行试验操作和数据查看微型打印机和标准的RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输支持Lystem&trade 实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告测试原理：薄膜冲击试验仪的半球形冲头在一定的速度下冲击并穿过薄膜试样，测量冲头所消耗的能量，以此评价薄膜的抗摆锤冲击能力。执行标准：GB 8809-88、ASTM D3420、NF T54-116FIT-01摆锤式薄膜冲击试验机 薄膜冲击试验仪技术指标：冲击能量：1J、2J、3J（常规）分辨率：0.001J冲头尺寸：Φ25.4 mm、 Φ19 mm、 Φ12.7 mm（非标可定制）试样夹口直径：Φ89 mm、 Φ60 mm试样尺寸：100 mm x 100 mm或Φ100 mm气源压力：0.6MPa （气源用户自备）气源接口：Ф6mm聚氨酯管主机尺寸：600 mm(L)× 390mm(W)× 600mm(H)主机电源：AC 220V 50Hz主机净重：64KgFIT-01摆锤式薄膜冲击试验机 薄膜冲击试验仪仪器配置：标准配置：主机、1J基本摆体、容量2J砝码一个、容量3J砝码一个、Ф25.4mm标准冲头一个、Ф19mm标准冲头一个、Ф89mm标准试验夹板一对（含O形圈）、Ф60mm标准试验夹板一对（含O形圈）、微型打印机选购件：专业软件、通信电缆、非标准冲头、O形圈备注：本机气源接口为Φ6 mm 聚氨酯管；气源用户自备。

仪器简介：光谱薄膜测试仪 Spectro-Refelctometer for Thin Film Measurement 应用领域: IC fab, MEMS, LED, solar cell, photonics, nano technologies. 设备特性: Angstrom Sun 光谱反射仪广泛用于各种透明、半透明薄膜测试. &bull 广泛用于检测各种薄膜的厚度, 包括oxide, nitride, photo resist, metal oxide, ITO. &bull 膜厚范围可自20nm 到5000nm. 可选各种光谱范围, 自UV 200nm到IR 1700nm. &bull 可具有高达12&rdquo 直径自动 mapping 功能，软件功能强大.技术参数：光谱薄膜测试仪 Spectro-Refelctometer for Thin Film Measurement 应用领域: IC fab, MEMS, LED, solar cell, photonics, nano technologies. 设备特性: Angstrom Sun 光谱反射仪广泛用于各种透明、半透明薄膜测试. &bull 广泛用于检测各种薄膜的厚度, 包括oxide, nitride, photo resist, metal oxide, ITO. &bull 膜厚范围可自20nm 到5000nm. 可选各种光谱范围, 自UV 200nm到IR 1700nm. &bull 可具有高达12&rdquo 直径自动 mapping 功能，软件功能强大.

PVC薄膜热缩试验仪_包装薄膜热缩仪_薄膜热缩测定仪适用于各种薄膜、热缩管、药用PVC硬片、背板等材料在多种温度下的液体介质中进行热收缩性能及尺寸稳定性的测试。Labthink兰光，致力于通过包装检测技术提升和检测仪器研发帮助客户应对包装难题，助力包装相关产业的品质安全。了解关于更多相关信息，您可以登陆济南兰光公司网站查看具体信息或致电咨询。Labthink兰光期待与行业中的企事业单位增进技术交流与合作。PVC薄膜热缩试验仪_包装薄膜热缩仪_薄膜热缩测定仪特　　征微电脑控制、液晶显示数据菜单式界面、PVC操作面板液体介质加热P.I.D温度监控自动计时试样夹持薄膜网架PVC薄膜热缩试验仪_包装薄膜热缩仪_薄膜热缩测定仪技术指标试样尺寸：≤140mm×140mm温度范围：室温～200℃控温精度：±0.3℃电　　源：AC 220V 50Hz外形尺寸：440mm(L)×370mm(B)×310mm (H)净　　重：24kgPVC薄膜热缩试验仪_包装薄膜热缩仪_薄膜热缩测定仪标　　准ASTM D2732塑料薄膜和薄板的自由线性热收缩率的标准试验方法GB 13519-1992聚乙烯热收缩薄膜PVC薄膜热缩试验仪_包装薄膜热缩仪_薄膜热缩测定仪配　　置标准配置：主机、夹持网5套、夹持网托架3件选 购 件：夹持网、夹持网托架

薄膜透湿仪_薄膜透湿性测试仪W301B水蒸气透过率测试仪又叫透湿性测试仪。基于杯式法测试原理，是一款专业用于薄膜试样的水蒸气透过率测试仪，适用于塑料薄膜、复合膜等膜、片状材料与医疗、建材领域等多种材料的水蒸气透过率的测定。通过水蒸气透过率的测定，达到控制与调节材料的技术指标的目的，满足产品应用的不同需求。产品特点◎ 称重法测试原理，符合标准要求的间歇式称量，每次测量前系统自动清零，保证数据的统一性和准确性◎ 高清液晶触摸屏，内容更直观，操作更简便◎ 单次试验测试1个试样，过程全自动化，透湿杯升降称量由气缸控制，数据准确可靠◎ 创新循环除湿系统，内置真空泵，有效防止透湿杯上方湿度梯度的形成，保证测试的准确性◎ 宽范围、高精度、自动化温湿度控制，满足各种试验条件下的测试◎ 试验结果支持多格式存储和数据输出，包括实验报告 Excel、云端共享◎ 提供标准砝码快速校准模式，称量系统保证检测数据的准确性◎ 产品符合GMP用户三级权限◎ 可进行试验结果的单次、成组的统计分析◎ 具备 ISP 在线控制、升级功能，可按照要求远程更改试验功能◎ 专门的计算机通信软件，可进行试验的实时显示及数据的分析处理 、数据保存 测试原理W301B水蒸气透过率测试仪采用透湿杯称重法测试原理，在一定的温度下，使试样的两侧形成一特定的湿度差，水蒸气透过透湿杯中的试样进入干燥的一侧，通过测定透湿杯重量随时间的变化量，从而求出试样的水蒸气透过率等参数。 应用领域薄膜：适用于各种塑料薄膜、塑料复合薄膜、纸塑复合膜、土工膜、共挤膜、防水透气膜、 镀铝膜、铝箔、铝箔复合膜等膜状材料的水蒸气透过率测试片材：适用于各种工程塑料、橡胶、建材（建筑用防水材料）、保温材料等片状材料的 水蒸气透过率测试。如PP片材PVC片材、PVDC片材、尼龙片材等纸张、纸板：适用于纸张、纸板的水蒸气透过率测试纺织品、非纺织布：适用于纺织品、非纺织布等材料的水蒸气透过率测试薄膜透湿仪_薄膜透湿性测试仪技术指标测试范围：0.01 ~ 100 g/m224h0.1MPa（常规）测试精度：0.01 g/m224h0.1MPa系统分辨率：0.001 g/m224h0.1MPa试样数量：1 ~ 3件（数据各自独立）试验温度：室温 ~ 55°C（常规）控温精度：±0.5°C试验湿度：10%RH ~ 98%RH（标准90%RH）控湿精度：±2%RH测试面积：50 cm2试样厚度：≤ 3 mm （其他厚度要求可定做）载气流量：0 ~ 200 ml/min试验压力：≥0.20 MPa接口尺寸：1/8英寸金属管外形尺寸：440 mm (L) × 450 mm (W) × 450 mm (H)电 源：AC 220V 50Hz净 重：42 kg测试标准该仪器符合多项国家和国际标准：ISO 15106-2、ASTM F1249、GB/T 26253-2010、TAPPI T557、JIS K7129、YBB 00092003-2015 产品配置标准配置：主机、专业软件、通信电缆、取样器、手套选购件：标准膜、空压机备注：本机气源进口为1/8英寸金属管；气源、蒸馏水用户自备

AnalogPlus溶解氧电极采用克拉克（Clark）膜技术，由金阴极、银阳极和银参考电极组成三电极系统。对银参考电极采用恒定的电压进行极化，起到了稳定测量值的作用，避免了传统两电极系统的干扰，并有效降低了测量中的漂移。独特的薄膜结构使电极探头非常耐用。溶解氧探头采用了一体化可更换的膜头组件，每个组件已经预装好膜片，简化了更换新膜和电解液的繁琐工作，更换膜的工作仅需几秒。仪器特点极谱法电极设计，用于大多数的工业应用可更换式膜套，使用寿命长0-40ppm测量范围0.01ppm分辨率市场/应用市政和工业废水水产养殖酿造生物工艺在诸如食品、奶制品、造纸和纸浆以及其它过程工艺中也有很多应用订购信息

1. 产品概述SpectraRay/4 是 SENTECH 有的光谱椭圆偏振仪软件，包括椭圆、反射和透射数据的数据采集、建模、拟合和扩展报告。它支持可变角度、多实验和组合光度测量。 包括一个基于 SENTECH 厚度测量和文献数据的庞大而全面的材料数据库。大量的色散模型允许对几乎任何类型的材料进行建模。2. 映射我们的光谱椭圆偏振仪的映射选项具有预定义或用户定义的模式、广泛的统计数据以及以 2D 颜色、灰色、等高线、+/- 与平均值的偏差和 3D 绘图等图形显示数据。3. 模拟测量参数可以模拟为波长、光子能量、倒数厘米、入射角、时间、温度、薄膜厚度测量和其他参数的函数。4. 交互模式设置测量参数并开始薄膜厚度测量通过从材料库拖放或从现有的色散模型中拖放来构建模型定义和改变参数，使计算出的光谱与测量的光谱拟合以交互方式改进模型，实现佳品质因数通过从预定义或自定义的模板中进行选择，将结果报告为 word 文档将所有实验数据、实验方案和注释保存在一个实验文件中5. 配方模式SpectraRay/4 配方模式的优点是两步操作：选择和从库中执行预定义的配方。配方包括厚度测量参数、模型、拟合参数和报告模板。 6. 灵活性和模块化SpectraRay/4 具有单轴和双轴各向异性材料测量、薄膜厚度测量和层测量功能。该软件可处理去化、不均匀性、散射（Mueller 矩阵）和背面反射等样品效应。该软件包括通用光谱椭圆偏振法软件包的所有实用程序，用于数据导入和导出（包括 ASCII）、文件管理、光谱的算术操作、显示、打印和报告（Word 文件格式 *.doc）。脚本编写功能使其非常灵活，可以自动执行常规测量，为要求苛刻的应用进行定制，并控制第三方硬件，如传感器、加热台、样品池或低温恒温器。

产品简介：PTT-02薄膜厚度测试仪是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于塑料薄膜、薄片、纸张、橡胶、电池 隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。设备用途：塑料包装材料厚度是否均匀是检测其各项性能的基础。包装材料厚度不均，会影响到阻隔性、拉伸强度等性能；对 材料厚度实施高精度控制也是确保质量与控制成本的重要手段。技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 重复性 0.4μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)； 接触面积 50mm2(薄膜)； 200mm2 (纸张)；薄膜、纸张任选一种，非标可定制 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702产品应用：测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。普创-PTT-02薄膜厚度测试仪 普创-PTT-02薄膜厚度测试仪

1. 产品概述RM 1000 和 RM 2000 光谱反射仪可测量表面光滑或粗糙的平面或弯曲样品的反射率。使用SENTECH FTPadv Expert软件计算单膜或层叠的厚度、消光系数和折射率。厚度分别为 2 nm 和 50 μm （RM 2000） 或 100 μm （RM 1000） 的单片、层叠和基板可以在 UV-VIS-NIR 光谱范围内进行分析。2. 主要功能与优势突破折光率测量的限SENTECH反射仪通过样品的高度和倾斜调整以及光学布局的高光导率，具有精密的单光束反射率测量功能，允许对n和k进行可重复的测量，在粗糙表面上进行测量，以及对非常薄的薄膜进行厚度测量。紫外到近红外光谱范围RM1000 410 纳米 – 1000 纳米RM2000 200 纳米 – 1000 纳米高分辨率映射RM 1000 和 RM 2000 反射仪可选配 x-y 成像台和成像软件以及用于小光斑尺寸的物镜。3. 灵活性和模块化SENTECH RM 1000 和 RM 2000 代表我们的反射仪。桌面设备包括高度稳定的光源、带有自动准直望远镜和显微镜的反射光学器件、摄像机、高度和倾斜度可调的样品平台、光谱光度计和电源。它可以选配 x-y 成像台和成像软件，以及用于第二种光斑尺寸的物镜。除了薄膜厚度和光学常数外，薄膜的组成（例如氮化镓上的AlGaN，硅上的SiGe），增透膜（例如在纹理硅太阳能电池上，紫外线敏感的GaN器件）以及小型医疗支架上的涂层都可以通过我们的反射仪进行测量。这些反射仪支持微电子、微系统技术、光电子、玻璃涂层、平板技术、生命科学、生物技术等域的应用。用于我们的反射仪 RM 1000 / 2000 的综合性、以配方为导向的 SENTECH FTPadv EXPERT 软件包括测量设置、数据采集、建模、拟合和报告。已经内置了一个包含预定义、客户验证和即用型应用程序的广泛数据库。“自动建模”选项允许从光谱库中自动选择样本模型。基于SENTECH在椭圆偏振光谱方面的业知识，庞大的材料库和各种色散模型使我们的光谱反射仪能够分析几乎所有的材料和薄膜。操作员可以很容易地使用新的光学数据更新数据库。SENTECH通过椭圆偏振光谱法测量具有未知光学特性的新材料，为客户提供支持。

薄膜介电常数测试仪 采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。薄膜介电常数测试仪 本测试装置是由二只测微电容器组成，平板电容器一般用来夹持被测样品，园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF的线性可变电容器，配用仪器作为指示仪器，绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化，由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数。薄膜介电常数测试仪 1. Q合格指示预置功能：预置范围：5～10002. Q表正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。薄膜介电常数测试仪 1. 测试注意事项a. 本仪器应水平安放；b. 如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c. 调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d. 被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线 的电阻和分布参数所带来的测量误差；e. 被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙 烯等做成的衬垫物衬垫；f. 手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端 的接线柱。2. 高频线圈的Q值测量（基本测量法） A．直接法a．将被测线圈接在“Lx”接线柱上； b．选择适当的工作频段和工作频率；c．先调调谐电容器到谐振点，即Q表读数达最大，此读数即为被测电感的有效Q值(Qe)，若需得到被测电感的真实Q值（QT），则应先测出线圈分布电容C0，然后照下式修正薄膜介电常数测试仪 1. 谐振点频率自动搜索功能的使用如果你对电感元件无法确定它的数值时，你就可用该功能来帮你寻找出它的谐振频率点。步骤如下：a. 把元件接以接线柱上；b. 主调电容调到约中间位上；c. 按一下频率搜索按键，显示屏左下部显示“SWEEP””，仪器就进入搜索状态。仪器从最低工作频率一直搜索到最高工作频率，如果你的元件谐振点在频率覆盖区间内，搜索结束后，将会自动停在元件的谐振频率点附近。如果临时要退出搜索状态，可再按一次搜索键，仪器会退出搜索操作。 8．谐振点电容自动搜索功能的使用如果你想在已知的频率找出被测量器件的谐振频率点时，你就可用该功能来帮你寻找出它的谐振 点。步骤如下：a．把元件接以接线柱上； b．频率设置为所需的频率；c．按一下电容搜索按键，仪器就进入电容搜索状态，仪器从最小电容一直搜索到最大电容，如果你的元件谐振点在电容覆盖区间内，搜索结束后，主电容将会自动停在元件的谐振频率点附近。如果临时要退出搜索状态，可再按一次搜索键，仪器会退出搜索操作。9．频率调谐开关的使用。A/C的频率调谐采用了数码开关，它能辨别使用者的要求，来调节频率变化的速率(频率变化值／ 档)。在你快速调节该开关时，频率变化速率也加快，当你缓慢调节开关时，频率变化速率也慢下来。 因此在调谐时接近所需的频率时，应放缓调节速度，当你调节的频率超出工作频段的频率时，仪器会自动选择低一个或高一个频段工作。烧嬌金属电极烧熔金属电极适用于玻璃、云母和陶瓷等材料，银是普遍使用的，但是在高温或高湿下，最好采 用金。5. 1.3.3喷镀金属电极锌或铜电极可以喷镀在试样上，它们能直接在粗糙的表面上成膜。这种电极还能喷在布上，因为它 们不穿透非常小的孔眼。5. 1.3.4阴极蒸发或高真空蒸发金属电极假如处理结果既不改变也不破坏绝缘材料的性能，而且材料承受高真空时也不过度逸出气体，则本 方法是可以采用的。这一类电极的边缘应界限分明，石墨一般不推荐使用石墨，但是有时候也可采用，特别是在较低的频率下。石墨的电阻会引起损耗的显 著增大，若采用石墨悬浮液制成电极，则石墨还会穿透试样。5. 1.4 电极的选择5. 1.4. 1板状试样考虑下面两点很重要：a） 不加电极，测量时快而方便,并可避免由于试样和电极间的不良接触而引起的误差。b） 若试样上是加电极的，由测量试样厚度h时的相对误差△/ //!所引起的相对电容率的相对误 差您可由下式得到：5. 1.3.5汞电极和其他液体金属电极把试样夹在两块互相配合好的凹模之间，凹模中充有液体金属，该液体金属必须是纯净的。汞电极 不能用于高温，即使在室温下用时，也应采取措施，这是因为它的蒸气是有毒的.伍德合金和其他低熔点合金能代替汞。但是这些合金通常含有镉，镉象汞一样，也是毒性元素.这些 合金只有在良好抽风的房间或在抽风柜中才能用于10。笆以上，且操作人员应知道可能产生的健康危害。5. 1.3.6 导电漆无论是气干或低温烘干的高电导率的银漆都可用作电极材料。因为此种电极是多孔的，可透过湿 气，能使试样的条件处理在涂上电极后进行，对研究湿度的影响时特别有用。此种电极的缺点是试样涂 上银漆后不能马上进行试验，通常要求12 h以上的气干或低温烘干时间，以便去除所有的微量溶剂，否 则，溶剂可使电容率和介质损耗因数增加。同时应注意漆中的溶剂对试样应没有持久的影响.要使用刷漆法做到边缘界限分明的电极较困难，但使用压板或压敏材料遮框喷漆可克服此局限。 但在极高的频率下，因银漆电极的电导率会非常低，此时则不能使用。

仪器简介：薄膜热释电探测器主要用锆钛酸铅铁电薄膜（PZT film）作为光电转换元件，其厚度仅为1um，构成一个微型的光电系统，其产生的电流通过两个电极搜集起来。 这种探测器具有以下特点： 薄膜热释电探测器带给用户的好处灵敏度高，辐射灵敏度可到106 V/W，D*可以达到1× 109，远远高于其他热释电传感器可用来检测更为微弱的信号，提升产品的档次，增强竞争力，降低生产成本噪声低且随着温度升高，噪声依然可以维持在较低水平 提高用户系统的信噪比，大幅降低温度对系统的影响频率特性好，响应速度快，可达5ms (200Hz)提高用户系统的响应速度熔点高，约600℃，耐高温 无需额外的恒温系统及探测器保护装置，大大提高产品在复杂环境下工作的稳定性探测器的面积可选的范围很宽，从150um× 150um到3mm× 2mm，封装形式多样化用户有更多选择，系统设计更加灵活光谱响应范围从1.2um-20um根据不同应用，客户可选择装配有滤光片的探测器，用于气体检测或光谱分析应用中技术参数：薄膜热释电探测器主要用锆钛酸铅铁电薄膜（PZT film）作为光电转换元件，其厚度仅为1um，构成一个微型的光电系统，其产生的电流通过两个电极搜集起来。 红外光谱1.线阵列型探测器+线性变化红外滤光片(Linear Variable Filter) 目前可提供的标准的线阵探测器包括：128× 1，128× 2，512× 1。红外滤光片的波长范围有近红外1.3-3.2um和中远红外2-20um两种，根据不同应用，选择相应波长范围的LVF滤光片，可直接得到光谱信息。 2. 单点探测器 此种探测器主要是针对FT-IR光谱仪。提供不同感光面积的单点探测器，根据客户需求，可选配适当的红外滤光片，滤光片的波长范围：2-20um。气体检测 感光面D*NoiseFrequencyResponsivity1mm× 1mm~3.5 x 108 cm&radic Hz/ W @10Hz~ 0.4mV&radic Hz/W1-30Hz ~150,000 V/ W @500K, 10Hz 火灾预警，行为监控及客流量计数 与传统的红外发射、接受的方式相比，如果选择合适焦距的红外镜头，配合不同阵列的红外探测器，不仅能够直接捕捉到由被测物体发射的红外信号（去掉了发射这一步骤），还能够获得包括空间位置等更详细的信息，有助于后续的分析系统作出正确的判断，降低误判率。 主要特点：红外光谱 与FT-IR光谱领域常用的DTGS探测器相比，产品具有以下特点： 薄膜热释电探测器带给用户的好处价格低, 各波段的辐射灵敏度相对DTGS探测器更平坦降低用户的成本的同时不降低性能，有效提高了性价比固态的探测器，不需要额外加光窗 降低用户系统复杂性高居里点（500℃），低颤噪声（microphonics），性能稳定，受温度上升的影响小，不需要额外加制冷 提高用户系统的稳定性，降低系统复杂性灵敏度D*为1× 108@500k,1000Hz；响应度可达到10,000V/W；频率响应范围到3.3kHz很好的灵敏度可在探测器前面加Lens，以收集更多的光提高信噪比 可更加客户应用的要求，调整探测器的参数，以达到最佳的性能系统性能进一步提升气体检测目前，针对气体检测领域可以提供薄膜热释电传感器，包括单通道、双通道和四通道的气体传感器。由于这种探测器具有低功耗，探头小巧，灵敏度高，性能稳定，频率响应快等优势，可广泛应用于红外气体检测领域，可用来也制作气体分析仪（含便携式），如检测CO2、CO、CH4、H2S、碳氢化合物、氮氧化合物等。火灾预警，行为监控及客流量计数与传统的红外发射、接受的方式相比，如果选择合适焦距的红外镜头，配合不同阵列的红外探测器，不仅能够直接捕捉到由被测物体发射的红外信号（去掉了发射这一步骤），还能够获得包括空间位置等更详细的信息，有助于后续的分析系统作出正确的判断，降低误判率。

普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A 普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A 是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 精度 ±＜0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品应用：测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征：测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制高精度测厚传感器，精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断产品配置：标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A 普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A

FR-pOrtable:一款精准&性价比高的薄膜表征设备 FR-pOrtable（便携式FR） 是一款独特设备，为精准测试单层或者 多层的透明和半透明的薄膜的光学特性提供了关键解决方案。使用 者可以在350nm-1000nm的特殊光谱范围内完成薄膜反射比的测试。 特征分析： FR-pOrtable是由一个微型3648像素16位分辨率的光谱仪和一个 高稳定的白炽灯和LED组成的混合光源组成的，光源的平均寿命 20000h。其紧凑型的设计和定制的反射探头保证了性能测试的高精准性以及可重复性。并且，既可以安装在台面上，又可以转化为手持式的厚度测试仪，轻松实现便携实时操作。 性能分析：1、 USB接口供电，无需电源线。2、 真正的便携，用探头检测样品。3、 采用软塑料头，适合野外应用。4、 占地小，可以在办公室内表征薄膜特性。5、 市场最低价。软件：FR-Monitor软件系统提供了多种应用和多种功能的能力。它不但能够实时的监测吸光率，透射率和反射率光谱，而且也包含了用于精准测试独立的薄膜厚度（10nm到100μm）和光学常数（n&k）的白光反射光谱法（WLRS）运算（ThetaMetrisis TM），支持（在透明或者部分透明或者全反射的衬底上）多层薄膜（10层）的测试。不需要高深的光学知识，只要有基本的电脑技巧、一台电脑，轻松实现膜厚测量！ 用户评论暂无评论发评论问商家白光干涉测厚FR-pOrtable的工作原理介绍白光干涉测厚FR-p

薄膜耐电弧试验仪注意事项耐电弧试验仪器必须在可靠地接好地线后，方可通电运行，以确保安全。有机玻璃门开关不能以其他方式短路，以保证只有在关好玻璃门后方可接通高压。每次更换试验点或试样时，均应确定调压器退到零位，观察试验电压值指示确为零，再用接地棒接触电极，释放残余电荷。试验结束后，调压器退到零位，切断电源开关。当试验进行到420秒时，无论试样有无破坏，均应按停止按钮，使试验停止进行电压校准时一定要保证两电极有足够的安全距离不闪络，不拉弧，不放电。试品破坏形成导电通道时应快速切断高压停止试验，提升测试时间的准确性，另一方减少电极的损伤。主要技术参数：序号项目参数1电弧通断时间误差1/8段程序小于±5ms，其余小于1ms2调压器容量1kVA3额定试验电压12.5kV4高试验电压15kV5试验电压精度±1.0%6电流控制精度±10% 电流测量精度：1.5%7电极对试样压力（0.5±0.05）N8电极材料钨棒9电极距离（6.35±0.1）mm（IEC/ASTM）10使用环境温度（23±2）℃11使用环境湿度（50±5）%12电源220V±5% 50Hz 10A薄膜耐电弧试验仪状态监控灯。　　合闸：红色表示合闸，绿色表示分闸；　　零位：红色表示调压器在下限位，绿色表示不在下限位；　　上限：红色表示调压器到上限位，绿色表示不在上限位；　　门锁：红色表示门是关闭的，绿色表示门是打开的；　　升压：红色表示步进电机正转升压，绿色表示电机不在升压状态；　　降压：红色表示步进电机反转降压回零，绿色表示电机不在降压状态；　　暂停：红色表示步进电机处在暂停状态，一般电机在电压达到设定值或回到零位后会暂停，绿色表示电机在运转状态；　　急停：红色表示急停按钮处在按下去的状态，此时系统无法启动，绿色表示在解锁状态；薄膜耐电弧试验仪启动按钮。在设置好试验参数后，按清零按钮后再按此按钮可以启动升压。薄膜耐电弧试验仪是在相距 (6.35±0.1)mm的两电极上，按试验方法规定的规律（见试验程序表），由间歇到连续地施加12.5kV工作电压和(10～40)mA的电弧电流，直至试样失效。记下从试验开始到试样失效的总时间（s），即为该试样的耐电弧。其电气原理图见图1。试验电压的产生是由220V交流电压经调压器T5，再由高压试验变压器T4而产生。试验电压12.5kV由调压器T5调节获得。试验电流的大小和通断时间，由PLC控制接在调压器T5和高压试验变压器T4之间的四路固体开关和串联电阻而获得。薄膜耐电弧试验仪仪器下层为电气箱。右后部装有高压试验变压器、保护电阻及高频抑制电感等，左后前部为调压器，中部和前部为主电路控制电路及触控屏控制界面。

薄膜摩擦系数仪PCF-03普创paratronix产品介绍：薄膜摩擦系数仪PCF-03普创paratronix用于测量纸张、线材、塑料薄膜和薄片（或其它类似材料）的静摩擦系数和动摩擦系数，可直观了 解薄膜的爽滑性、开口性。通过测量材料的滑爽性，可以控制调节包装袋的开口性、包装机的包装速度等生产质量工艺 指标，满足产品使用要求。产品特征：● 进口微型计算机控制技术，开放式结构，友好人机界面操作，使用简单方便 ● 精密丝杆传动，不锈钢面板，优质不锈钢导轨及合理的设计结构，确保仪器稳定、耐用 ● 美国世铨高精度测力传感器，测量精度优于0.5级 ● 精密微分电机驱动，传动更平稳，噪音更低，定位更准确，测试结果重复性更好 ● 6500万色TFT液晶屏幕，中文、实时曲线显示，全自动测量，具有测试数据统计处理功能● 高速微型打印机打印输出，打印快速，噪音低，不需更换色带，更换纸卷方便 ● 采用滑块运行装置，传感器定点受力方式，有效避免传感器因运动振动引起的误差 ● 动、静摩擦系数实时数字显示，滑块行程可预设且具有更宽的调节范围● 国标、美标、自由模式可选 ● 内置专用校准程序，便于计量、校准部门（第三方）对仪器进行校准 ● 具有技术先进、结构紧凑、设计合理、功能齐全、性能可靠、操作方便等优点技术参数：试样厚度 ≤5mm （其它厚度可定制） 滑块尺寸 63×63mm 试验模式 国标、美标、自由模式 显示屏 6500万色TFT液晶屏幕 滑块质量 200g、500g 试验台面尺寸 120×400mm 数字显示 同时显示动、静摩擦系数测量精度 优于0.5级 滑块运动速度 100、150mm/min 、1-500mm/min无级变速（其它速度可定制） 滑块行程 最大为280mm（可调） 测力范围 0-30N 外形尺寸 600 (L)X400(W)X240mm (H) 电源 AC220V±22V，50Hz 环境要求 温度：23±2℃、湿度：50±5%RH 标准配置 主机、微型打印机、200g滑块 选购件 500g非标滑块、电脑软件设计标准：GB10006、GB/T17200、ASTM D1894 、ISO8295、TAPPI T816薄膜摩擦系数仪PCF-03普创paratronix 薄膜摩擦系数仪PCF-03普创paratronix