搜索
我要推广仪器
下载APP
首页
选仪器
耗材配件
找厂商
行业应用
新品首发
资讯
社区
资料
网络讲堂
仪课通
仪器直聘
市场调研
当前位置:
仪器信息网
>
行业主题
>
>
膜厚测量
仪器信息网膜厚测量专题为您整合膜厚测量相关的最新文章,在膜厚测量专题,您不仅可以免费浏览膜厚测量的资讯, 同时您还可以浏览膜厚测量的相关资料、解决方案,参与社区膜厚测量话题讨论。
膜厚测量相关的方案
MC方案:测量厚膜的厚度均匀性
WLRS被引入用于测量厚透明膜情况下的膜厚度和均匀性。 所有测量均使用FR-Basic进行,调谐后可在400-1000nm光谱范围内进行。 样品是通过旋涂涂覆有热SiO2和SU-8膜的Si晶片。 对于参考测量,使用标准的硅晶片。
MC方案:薄和超薄金属薄膜的厚度测量
薄膜厚度对涂层的性能,特别是薄膜和超薄薄膜的性能至关重要。因此,采用非常精确和无损的方法来表征此类薄膜是非常重要的。薄膜厚度的光学测定方法具有非接触、无损、快速、准确、灵敏、重现性好等优点。在本应用说明中,我们使用FR工具测量金属薄膜和超薄薄膜的厚度。
MC方案:精确的非接触式在线PET薄膜厚度测量
FR-inLine是一种在线非接触式测厚仪,用于实时测量透明和半透明的单层或多层薄膜的厚度,以及以片状或带状形式生产的大多数材料的厚度。在本应用说明中,我们演示了使用FR工具在线测量PET薄膜的厚度。
生物医疗设备涂层应用-Filmetrics 膜厚测量仪
Filmetrics 膜厚测量仪的卓越技术,Filmetrics膜厚测量仪提供了范围广泛的测量生物医疗涂层的方案。支架: 支架上很小的涂层区域通常需要显微镜类的仪器。 我们的 F40膜厚测量仪 在几十个实验室内得到使用,测量钝化和/或药物输送涂层。我们有独特的测量系统对整個支架表面的自動厚度测绘,只需在测量时旋轉支架。植入件: 在测量植入器件的涂层时,不规则的表面形状通常是唯一挑战。 Filmetrics 提供这一用途的全系列探头。导丝和导引针: 和支架一样,这些器械常常可以用象 F40 这样的显微镜仪器。 用 F42 可以进行显微区域内厚度的两维测绘。导液管和血管成型球囊的厚度:大于 100 微米的厚度和可见光谱不透明性决定了 F20-NIR 是这一用途方面全世界众多实验室内最受欢迎的仪器。
MC方案:薄膜叠层厚度测量
介绍了在电介质和半导体薄膜叠层的情况下测量薄膜厚度的WLRS。所有的测量都是在400-1000nm光谱范围内用fr-basic进行的。反射探头的有效光斑直径为1毫米。样品为Si3N4/SiO2、聚Si/Si3N4/SiO2、PMMA/聚Si/Si3N4/SiO2组成的Si晶圆。在所有测量中,使用高反射镀铝镜(NT01-913-533,Edmund光学)进行参考测量。
MC方案:钙钛矿薄膜厚度的测量
钙钛矿广泛用于太阳能电池的开发。由于这些类型的太阳能电池具有良好的光伏性能,因此对它们进行了系统的研究。钙钛矿薄膜的厚度和形态是影响太阳能电池性能的重要因素。特别地,人们发现,当钙钛矿的厚度小于400nm时,钙钛矿太阳能电池的效率很大程度上取决于薄膜厚度;而当钙钛矿的厚度大于400nm时,效率则很大程度上取决于钙钛矿层的薄膜形态。在本应用说明中,我们使用FR工具测量钙钛矿薄膜的厚度。
利用金相显微镜测量微米级膜层厚度
金相显微镜主要用于金属的相结构分析。也可以利用各种平面分析系统进行膜层的厚度测量,并且精度很高,最小误差约为±0.8μm,可作为金属镀层和氧化膜层的仲裁测量。
MC方案:用于MEMS应用的悬浮式活性硅膜厚度测量
硅基传感器因其高性能、低成本和小尺寸而广泛应用于不同的微机电系统。悬挂在图案化硅膜或基于硅绝缘体的传感器上的活性硅层的厚度确定对于最终平台[1]的性能控制至关重要。在这里,我们已经在一个微机电系统压力传感器上测量了这样的薄膜厚度,使用的是一个孔径为250μ m的FR-μ 探针工具,该工具安装在一个徕卡分模光学显微镜上。使用10X物镜进行测量,该物镜与选定的孔径大小一起对应于25μ m的光斑大小(测量区域)。
QuanX型荧光能谱仪晶园上薄膜纳米级薄膜厚度均匀度测量
使用X-荧光能谱仪进行多层薄膜厚度测量技术在半导体材料镀层分析上广泛使用。但是纳米级薄膜测量技术仍然是测量技术的难点。本文详细介绍了使用QuanX 荧光能谱仪进行这种分析的全过程
利用Model 2010/M(Metricon)进行大块材料或厚膜指数/双折射率测量
Model 2010/M可作为全自动折射计运行,在不使用有毒或腐蚀性指数匹配流体的情况下,为指数范围为1.0-2.6的固体或液体大块材料和厚膜提供折射率和指数各向异性的高精度测量。这种散装材料指数测量不是一种选择,而是每个系统提供的标准功能。
GB 6672-2001塑料薄膜和薄片厚度测定机械测量法
GB 6672-2001塑料薄膜和薄片厚度测定机械测量法:
对固化前的粉末涂层厚度进行在线过程控制测量
德国Markdorf J. Wagner技术实验室的测试表明,CoatMaster在线非接触式实时测厚系统非常适合于在线过程控制未固化状态下粉末涂层厚度。该测量是在带有粉末涂料的移动铝型材上进行的。由于 CoatMaster直接安装在粉末涂装室的出口处,因此在涂上涂层后和固化前可立即进行测量。不同的型材悬挂在框架中,并在运输带上以1.8米/分钟的速度移动。一旦有工件经过,触发光栅传感器的信号进行自动测量。
使用配备 UMA 附件的 Cary 5000 测量折射率薄膜厚度
采用配备全能型测量附件包的 Cary 5000 分光光度计测量了两种样品的折射率。其中一个样品为纳米复合涂层:石英基底(可见光范围内透明)上的 Zr-Si-B-(N) 薄膜。第二个样品为单晶硅基底(可见光范围内不透明)上的铌酸锂 LiNbO3 层状结构。计算出了两个样品的折射率,准确度为 ± 0.01。根据所测定的折射率,计算了两个样品的薄膜厚度。
【设备更新】纸张厚度测量仪检测印刷纸的单层厚度
三泉中石生产的纸张厚度测量仪CHY-U适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度精确测量。本文借助纸张厚度测量仪CHY-U测试纸张的厚度。
镀膜厚度测量
无损检测,样品可以不被破坏;最多可测量五层,采用JEOL最新FP法软件,无需标样皆可进行测量,是检测和操作都变得非常方便。
对固化前的粉末涂层厚度进行在线测量控制
该测量是在带有粉末涂料的移动铝型材上进行的。由于 CoatMaster直接安装在粉末涂装室的出口处,因此在涂上涂层后和固化前可立即进行测量。不同的型材悬挂在框架中,并在运输带上以1.8米/分钟的速度移动。一旦有工件经过,触发光栅传感器的信号进行自动测量。
新一代全检膜厚测量仪ME-210-T
可整面快速检测膜厚分布的新一代椭偏仪,透明基板上的极薄膜厚也可检测。
采用激光诱导荧光方法测量火花塞引燃汽油发动机燃烧室表面燃料薄膜的厚度
采用LaVision公司以增强型CCD相机为核心部件构成的平面激光诱导荧光测试系统和喷雾激光成像方法,对火花塞引燃汽油发动机中燃烧室表面燃料薄膜的厚度今行了测量和研究。
薄膜测厚仪的操作文案
薄膜厚度测试仪是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器;适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量
涂层测厚仪测量涂层厚度步骤
涂层测厚仪是一种用于测量涂层厚度的仪器,广泛应用于金属、塑料、玻璃等表面涂层的测量。
如何使用耗散型石英晶体微天平测量质量和厚度?
在表面相互作用过程中,例如分子的结合、吸附、解吸、聚集和多层膜的堆积、分子层的质量和厚度发生变化。通过实时监测这些变化,我们可以监测分子结合的过程和重排。为了在分子尺度上测量这些变化,我们需要实时的纳米级技术。该技术就是耗散型石英晶体微天平技术(QCM-D)。QCM-D测量共振频率(f)和能量耗散(D)两个参数的变化,从这两个参数中可以得出表面质量和厚度的变化。通常,随着表面质量增加,f将减小。D值能标示出图层的柔软程度。分子层越软,D值越大。在质量损失的情况下,频率则会增加。如果图层从柔软变为刚性,则D值将减小。
西林瓶壁厚底厚测量仪
西林瓶是一种常见的药品包装形式,作为制药行业中不可或缺的一部分,药用玻璃瓶广泛应用于药品的生产和储存。作为常用的药品包装材料,对于确保药品质量和安全至关重要。而西林瓶壁厚底厚测量仪则是确保西林瓶制品质量符合标准的重要质检工具。
薄膜测量
AvaSoft-Thinfilm软件内有一个包含大部分常用材料和膜层的n值和k值的数据库。TFProbe多层膜测量软件可以测量多达5层膜的厚度和光学常数(n、k值),实现实时或在线膜厚和折射率监控。
平板状试样厚度测量方法:培训教程视频
在各种瞬态和稳态导热系数测试方法中一般都需要矩形或正方形平板状试样,但这些平板状试样的尺寸都比较大,无法用一般的千分尺和卡尺直接进行测量。本视频就是英国国家物理实验室关于准确测量较大尺寸平板状试样厚度的培训视频教程,以能准确测量试样厚度和评价被测试样厚度的均匀性是否满足测试要求。
玻璃瓶罐壁厚测量的意义及测试方法
1.调节测量表头位置,使表头对正壁厚杆的测量头,将横梁固定2.对正时,显示窗应有0.5-2.0mm的示数,按zero清零3.轻拉测量表的拉杆头部,将表头抬起,将试样套在壁厚测量杆上,选好测量位置4.轻轻放下测量杆,并轻微调整测量位置,观察显示窗读数,记为壁厚值;
涂魔师ATO无损涂层测厚技术---达克罗涂层测厚实例
目前,涂魔师测量系统能直接投入到实际生产线中测量零部件涂层厚度,例如达克罗涂层。涂魔师 Flex可以在1秒内快速精准测量涂层厚度。如果测量未固化涂层,它能实时得出固化后的干膜厚度。
导热材料热扩散系数闪光法测量中的样品厚度选择
本方案主要针对各向同性、有限尺寸、高导热材料样品因闪光加热所引起的非一维传热过程,建立与实际测试更接近的传热模型,采用数值计算方法分析闪光法测试中的背温曲线测量误差,由此明确闪光光斑尺寸、样品截面积和样品厚度三者关系以及它们对测量误差的影响,从而指导试验参数和样品尺寸的正确选择,其中更侧重于样品厚度对测量误差的影响以及样品厚度的正确选择。
单层薄膜的厚度测试方法
试验原理:该设备采用机械接触式测试原理,通过位移传感器测试薄膜材料的厚度。设备采用测量头与传感器一体化设计,在测试试样之前
GB6672-2001塑料薄膜和薄片厚度的测定机械测量法
上下测量面为平面/平面时,每--测量面直径应在2.5 mm 到 10 mm之间,两平面不平行度小于5 pm。下测量面应可调节以满足上述要求。测量面对试样施加的负荷应在0.5N到1.0N之间。2.1.2上下测量面为凸面/平面时,上测量面的曲率半径应在15 mm 到50 mm间
薄膜测量
薄膜测量系统是基于白光干涉的原理确定光学薄膜的厚度,通过对白光干涉图样进行数学运算来计算出薄膜的厚度。
相关专题
几何量精密测量技术及应用
中国国际测量控制与仪器仪表展览会在京召开
Life Tech被收购后现高管离职潮
仪信通年末疯狂献礼最后一波_你买我就送!
第27届中国国际测量控制与仪器仪表展览(MICONEX2016)
寻找少年的你——科研界的后浪
科研院校选型指南 赛默飞解决方案
赛默飞世尔BCEIA 2011专题
流式售后助力科研蓬勃发展
珀金埃尔默质谱“专利战”背后的“商战”
厂商最新方案
相关厂商
赛默飞售后服务
深圳市厚物科技有限公司
宁波厚亨仪器科技有限公司
东莞忠仪测量仪器有限公司
精迪测量技术上海有限公司
上海博众测量技术有限公司
青岛三鼎测量设备有限公司
广东天行测量技术有限公司
海克斯康测量技术青岛有限公司
德瑞华测量技术(苏州)有限公司
相关资料
膜厚测量仪,薄膜厚度测量仪,测厚仪
电介质于膜厚测量应用
镀膜厚度测量
测量碳膜厚度
薄膜厚度的测量
GBT 8014-2005氧化膜厚度的测量方法
膜厚测量仪的测量注意事项内容
高精度塑料薄膜厚度测量仪(精确测量薄膜厚度)
薄膜厚度的EDS测量
OCT与超声角膜测厚仪测量角膜厚度结果的对比分析