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磷光材料

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磷光材料相关的耗材

  • 紫外到红外 CCD或CMOS器件镀膜服务 (UV/IR 磷光体涂层)
    产品总览我们基于磷光体的闪烁体的高灵敏度将相对低成本的设备转变为可根据您的要求定制的高性能传感器。紫外到红外 CCD或CMOS器件镀膜服务 (UV/IR 磷光体涂层),紫外到红外 CCD或CMOS器件镀膜服务 (UV/IR 磷光体涂层)产品特点将设备的光谱灵敏度扩展到紫外线和红外线范围紫外线和红外线应用特定波长荧光粉高性能适用于多种应用的经济高效的紫外和红外检测方法低噪声 产品应用CCD或CMOS器件使用直接施加在CCD或CMOS设备上的基于磷光体的涂层构建,这些涂层将设备的灵敏度从可见光范围扩展到紫外线或红外线。我们的制造工艺使我们能够将涂层一直延伸到所需活性区域的边缘,为光谱、生物成像、材料研究以及电信设备制造和测试等应用提供z佳成像解决方案。我们的专业磷光体涂层专为扩展光谱响应而定制,可提供低噪声、z佳成像和高性能检测解决方案。光纤板我们的涂层还可以应用于光纤板或其他无源元件,以满足客户在IR或UV中的特定应用通用参数 UV 涂覆层BAMb - 一般为240-400nm的短紫外荧光粉,在460nm有吸收和蓝色峰值发射。BAMg - 一般为240-400nm的短紫外荧光粉,在520nm处有吸收和绿色峰值发射GOrg - 强效紫外荧光粉,具有 150-400nm 吸收能力,并在 545nm 处具有绿色峰值发射P43 - 硫氧化钆荧光粉的吸收率 300nm,在545nm处具有绿色峰值发射IR 涂覆层VisIR一种反斯托克斯荧光粉,具有宽带激发和 560/900nm 峰值发射(取决于激发),无需充电。VisE一种具有宽带发射(峰值 660nm)的存储荧光粉,需要用紫外光或蓝光充电。荧光粉涂覆层激发波长(Excitation)发射(Emission)中值粒径 (Median particle size)衰减时间为10%(Decay time to 10%)BAM b240-400nm460nm4-5µ m3µ sBAM g240-400nm520nm4-5µ m0.8µ sGOrg150-400nm545nm~10µ m2.6msP4310-300nm545nm4µ m1.5msVisE800 -1600nm660nm5µ m - 9µ m85nsVisIR800, 1100, 1550nm560/900nm5µ m - 9µ m取决于过程定制化解决方案我们采用一系列不同的涂层方法来适应客户系统的特定设备和应用。 我们灵活的制造设施使我们能够为客户提供小批量和大批量生产的一致质量。公司简介筱晓(上海)光子技术有限公司成立于2014年,是一家被上海市评为高新技术企业和拥有上海市专精特新企业称号的专业光学服务公司,业务涵盖设备代理以及项目合作研发,公司位于大虹桥商务板块,拥有接近2000m² 的办公区域,建有500平先进的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室,为国内外客户提供专业技术支持服务。公司主要经营光学元件、激光光学测试设备、以及光学系统集成业务。十年来,依托专业、强大的技术支持,以及良好的商务支持团队,筱晓的业务范围正在逐年增长。目前业务覆盖国内外各著名高校、顶级科研机构及相关领域等诸多企事业单位。筱晓拥有一支核心的管理团队以及专业的研发实验室,奠定了我们在设备的拓展应用及自主研发领域坚实的基础。主要经营激光器/光源半导体激光器(DFB激光器、SLD激光器、量子级联激光器、FP激光器、VCSEL激光器)气体激光器(HENE激光器、氩离子激光器、氦镉激光器)光纤激光器(连续激光器、超短脉冲激光器)光学元件光纤光栅滤波器、光纤放大器、光学晶体、光纤隔离器/环形器、脉冲驱动板、光纤耦合器、气体吸收池、光纤准直器、光接收组件、激光控制驱动器等各种无源器件激光分析设备高精度光谱分析仪、自相关仪、偏振分析仪,激光波长计、红外相机、光束质量分析仪、红外观察镜等光纤处理设备光纤拉锥机、裸光纤研磨机 。
  • Gd2O2S:Tb荧光粉
    Gd2O2S:Tb荧光粉由Gd2O2S:Tb闪烁体直接加工而成,这款Gd2O2S:Tb荧光粉是欧洲进口的优质硫氧化钆荧光粉,是广泛用于X射线照相技术的发光磷光体材料,具有较高的原子量,发射峰值与光电二极管匹配。 P43 –Gd2O2S:Tb荧光粉是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料,具有较高的原子量,发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉,这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀,在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如,这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。 YAG:Ce荧光粉颗粒规格: 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻,也可覆盖钝化层,防止背景增加。 其它荧光粉P43 – GOS,P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料,具有较高的原子量,发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3 P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3 P46 – YAG,全称YAG – Y3Al5O12:Ce,是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3
  • P43荧光粉
    这款P43荧光粉是欧洲进口的优质GOS荧光粉,Gd2O2S:Tb荧光粉和硫氧化钆荧光粉,是广泛用于X射线照相技术的发光磷光体材料,具有较高的原子量,发射峰值与光电二极管匹配。 P43 – GOS,P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料,具有较高的原子量,发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉,这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀,在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如,这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。 YAG:Ce荧光粉颗粒规格: 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻,也可覆盖钝化层,防止背景增加。 其它荧光粉P43 – GOS,P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料,具有较高的原子量,发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3 P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3 P46 – YAG,全称YAG – Y3Al5O12:Ce,是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3
  • GOS荧光粉
    GOS荧光粉由GOS闪烁体或GOS陶瓷加工而成,这款GOS荧光粉是欧洲进口的优质Gd2O2S:Tb荧光粉和硫氧化钆荧光粉,是广泛用于X射线照相技术的发光磷光体材料,具有较高的原子量,发射峰值与光电二极管匹配。 P43 – GOS荧光粉 Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料,具有较高的原子量,发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉,这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀,在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如,这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。 YAG:Ce荧光粉颗粒规格: 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻,也可覆盖钝化层,防止背景增加。 其它荧光粉P43 – GOS,P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料,具有较高的原子量,发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3 P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3 P46 – YAG,全称YAG – Y3Al5O12:Ce,是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3
  • 硫氧化钆荧光粉
    硫氧化钆荧光粉由硫氧化钆荧光粉闪烁体直接加工而成,这款硫氧化钆荧光粉,Gd2O2S:Tb荧光粉是欧洲进口的优质硫氧化钆荧光粉,是广泛用于X射线照相技术的发光磷光体材料,具有较高的原子量,发射峰值与光电二极管匹配。 P43 –Gd2O2S:Tb荧光粉是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料,具有较高的原子量,发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉,这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀,在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如,这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。 YAG:Ce荧光粉颗粒规格: 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90–125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻,也可覆盖钝化层,防止背景增加。 其它荧光粉P43 – GOS,P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料,具有较高的原子量,发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3 P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3 P46 – YAG,全称YAG – Y3Al5O12:Ce,是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3
  • P47荧光粉
    P47荧光粉由Y2SiO5:Ce荧光粉闪烁体,掺铈硅酸钇闪烁体直接加工而成,这款Y2SiO5:Ce荧光粉,Y2SiO5:Ce荧光粉是欧洲进口的优质掺铈硅酸钇荧光粉,是广泛用于X射线照相技术的发光磷光体材料,具有较高的原子量,发射峰值与光电二极管匹配。 P47-Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉,这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀,在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如,这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。 YAG:Ce荧光粉颗粒规格: 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻,也可覆盖钝化层,防止背景增加。 其它荧光粉P43 – GOS,P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料,具有较高的原子量,发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3 P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3 P46 – YAG,全称YAG – Y3Al5O12:Ce,是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3
  • Y2SiO5:Ce荧光粉
    Y2SiO5:Ce荧光粉由Y2SiO5:Ce闪烁体或Y2SiO5:Ce荧光体,掺铈硅酸钇闪烁体直接加工而成,这款Y2SiO5:Ce荧光粉,Y2SiO5:Ce荧光粉是欧洲进口的优质掺铈硅酸钇荧光粉,是广泛用于X射线照相技术的发光磷光体材料,具有较高的原子量,发射峰值与光电二极管匹配。 P47-Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉,这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀,在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如,这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。 YAG:Ce荧光粉颗粒规格: 0 – 30 um 30 –50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻,也可覆盖钝化层,防止背景增加。 其它荧光粉P43 – GOS,P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料,具有较高的原子量,发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3 P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3 P46 – YAG,全称YAG – Y3Al5O12:Ce,是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3
  • 扫描电镜用闪烁体
    闪烁体概要闪烁器在扫描电子显微镜的二次电子探测器中承担着将电子转化为光的任务,是决定SEM图像质量的关键部件之一。 闪烁体上涂有一层高度均匀P47磷光体。我们采用的P-47是日本制造的磷光体粉末,响应速度非常快,为80ns,因此余光小。 将 P47磷光体 均匀、密集地涂层在基材的丙烯酸或玻璃上,以低噪音高效工作。根据需要, P47磷光体表面可以镀一层高度均匀的精心选择和分级的标准铝膜,可提供非常明亮、锐利和高质量的 SEM 图像。闪烁体由大和电子科技株式会社为您提供,如您想了解更多关于产品的报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。 规格  尺 寸 直径 Φ7~20mm 厚度 1~3mm 材 质 表面镀膜(有可均可) Aluminum 荧光体 P-47 ( Y2SiO5 :Ce) 基材 Acrylic or Glass 性 能 发射波长 370~480nm(峰值波长:420nm) 响应速度 80ns 结构示意图 示例照片
  • 采样附件
    荧光采样附件的详细资料: 详情请联系吴小姐:15080317079 采样附件满足您的各种应用需求 远程光纤附件 远程光纤附件让您能够在样品处进行测量,从而避免将样品放入仪器内。它内含能在280-800nm范围内操作的双分支合成石英光纤(长 1m)和安插在分光计上的外引光路系统。本附件是对荧光纸和纤维织物进行远程无损测试,或对危险材料进行远程采样的理想选择。 用于LS50B/45/55 L2250144 全发射附件 全发射附件能增强荧光检测的灵敏度,便于检测弱发射样品。推荐使用在生物发光和化学发光实验中。该附件利用一个能转动到发射光单色仪前方的平面镜来实现对样品全部荧光的测量。 推荐使用截止发射滤光片来减少来自其他波长的发射。LS55分光计附带五个软件控制的发射滤光片。 用于LS50B/55 L2250101需由PerkinElmer服务工程师安装 前表面附件*高分子材料稳定性和荧光增白剂属性研究的理想之选 52123130 用于固体、粉末及粘稠和不透明液体测量 这个简单易用的前表面附件能将您的测量能力拓展到一系列固体和半固体样品,包括粉末、纸、塑料薄膜、布料样品、TLC板、凝胶和浑浊液体。该附件可用于LS-50B/45/55分光计。 特色和优势 Ø 用于荧光和磷光测量 Ø 样品可以直接置于附件中,或放置在合成石英窗片粉末支架中 Ø 超小容量或粘稠样品可以夹在两个窗片之间 Ø 不透明和浑浊样品可以在小样品池(小于10mm)中测量
  • 采样附件
    荧光采样附件的详细资料: 详情请联系吴小姐:15080317079 采样附件满足您的各种应用需求 远程光纤附件 远程光纤附件让您能够在样品处进行测量,从而避免将样品放入仪器内。它内含能在280-800nm范围内操作的双分支合成石英光纤(长 1m)和安插在分光计上的外引光路系统。本附件是对荧光纸和纤维织物进行远程无损测试,或对危险材料进行远程采样的理想选择。 用于LS50B/45/55 L2250144 全发射附件 全发射附件能增强荧光检测的灵敏度,便于检测弱发射样品。推荐使用在生物发光和化学发光实验中。该附件利用一个能转动到发射光单色仪前方的平面镜来实现对样品全部荧光的测量。 推荐使用截止发射滤光片来减少来自其他波长的发射。LS55分光计附带五个软件控制的发射滤光片。 用于LS50B/55 L2250101需由PerkinElmer服务工程师安装 前表面附件*高分子材料稳定性和荧光增白剂属性研究的理想之选 52123130 用于固体、粉末及粘稠和不透明液体测量 这个简单易用的前表面附件能将您的测量能力拓展到一系列固体和半固体样品,包括粉末、纸、塑料薄膜、布料样品、TLC板、凝胶和浑浊液体。该附件可用于LS-50B/45/55分光计。 特色和优势 Ø 用于荧光和磷光测量 Ø 样品可以直接置于附件中,或放置在合成石英窗片粉末支架中 Ø 超小容量或粘稠样品可以夹在两个窗片之间 Ø 不透明和浑浊样品可以在小样品池(小于10mm)中测量
  • YAG:Ce荧光粉
    荧光粉 /夜光粉/ 闪烁粉---YAG:Ce荧光粉和YAP:Ce荧光粉我们提供优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉,这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀,在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如,这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。 YAG:Ce荧光粉颗粒规格: 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻,也可覆盖钝化层,防止背景增加。 其它荧光粉P43 – GOS,P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料,具有较高的原子量,发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3 P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3 P46 – YAG,全称YAG – Y3Al5O12:Ce,是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3
  • YAP:Ce荧光粉
    YAP:Ce荧光粉 /夜光粉/ 闪烁粉---YAG:Ce和YAP:Ce我们提供优质进口YAP:Ce荧光粉和Ce:YAP荧光粉,这些YAP:Ce荧光粉由高质量Ce:YAP闪烁体单晶直接加工而成。YAP:Ce荧光粉晶体颗粒均匀,在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如,这种YAP:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。 YAP:Ce荧光粉颗粒规格: 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。Ce:YAP荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻,也可覆盖钝化层,防止背景增加。 其它荧光粉P43 – GOS,P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料,具有较高的原子量,发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3 P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3 P46 – YAG,全称YAG – Y3Al5O12:Ce,是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3
  • 荧光粉
    YAG:Ce荧光粉,YAG:Ce闪烁粉和YAP:Ce荧光粉 /夜光粉/ 闪烁粉我们提供优质进口YAG:Ce和YAP:Ce荧光粉,这些荧光粉由高质量闪烁体单晶直接加工而成。晶体颗粒均匀,在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如,这种荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。荧光粉颗粒规格: 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格的荧光粉可根据要求加工。荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻,也可覆盖钝化层,防止背景增加。 其它荧光粉P43 – GOS,P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料,具有较高的原子量,发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3 P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3 P46 – YAG,全称YAG – Y3Al5O12:Ce,是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3
  • 采样附件
    荧光采样附件的详细资料: 详情请联系吴小姐:15080317079 采样附件满足您的各种应用需求 远程光纤附件 远程光纤附件让您能够在样品处进行测量,从而避免将样品放入仪器内。它内含能在280-800nm范围内操作的双分支合成石英光纤(长 1m)和安插在分光计上的外引光路系统。本附件是对荧光纸和纤维织物进行远程无损测试,或对危险材料进行远程采样的理想选择。 用于LS50B/45/55 L2250144 全发射附件 全发射附件能增强荧光检测的灵敏度,便于检测弱发射样品。推荐使用在生物发光和化学发光实验中。该附件利用一个能转动到发射光单色仪前方的平面镜来实现对样品全部荧光的测量。 推荐使用截止发射滤光片来减少来自其他波长的发射。LS55分光计附带五个软件控制的发射滤光片。 用于LS50B/55 L2250101需由PerkinElmer服务工程师安装 前表面附件*高分子材料稳定性和荧光增白剂属性研究的理想之选 52123130 用于固体、粉末及粘稠和不透明液体测量 这个简单易用的前表面附件能将您的测量能力拓展到一系列固体和半固体样品,包括粉末、纸、塑料薄膜、布料样品、TLC板、凝胶和浑浊液体。该附件可用于LS-50B/45/55分光计。 特色和优势 Ø 用于荧光和磷光测量 Ø 样品可以直接置于附件中,或放置在合成石英窗片粉末支架中 Ø 超小容量或粘稠样品可以夹在两个窗片之间 Ø 不透明和浑浊样品可以在小样品池(小于10mm)中测量
  • 采样附件
    荧光采样附件的详细资料: 详情请联系吴小姐:15080317079 采样附件满足您的各种应用需求 远程光纤附件 远程光纤附件让您能够在样品处进行测量,从而避免将样品放入仪器内。它内含能在280-800nm范围内操作的双分支合成石英光纤(长 1m)和安插在分光计上的外引光路系统。本附件是对荧光纸和纤维织物进行远程无损测试,或对危险材料进行远程采样的理想选择。 用于LS50B/45/55 L2250144 全发射附件 全发射附件能增强荧光检测的灵敏度,便于检测弱发射样品。推荐使用在生物发光和化学发光实验中。该附件利用一个能转动到发射光单色仪前方的平面镜来实现对样品全部荧光的测量。 推荐使用截止发射滤光片来减少来自其他波长的发射。LS55分光计附带五个软件控制的发射滤光片。 用于LS50B/55 L2250101需由PerkinElmer服务工程师安装 前表面附件*高分子材料稳定性和荧光增白剂属性研究的理想之选 52123130 用于固体、粉末及粘稠和不透明液体测量 这个简单易用的前表面附件能将您的测量能力拓展到一系列固体和半固体样品,包括粉末、纸、塑料薄膜、布料样品、TLC板、凝胶和浑浊液体。该附件可用于LS-50B/45/55分光计。 特色和优势 Ø 用于荧光和磷光测量 Ø 样品可以直接置于附件中,或放置在合成石英窗片粉末支架中 Ø 超小容量或粘稠样品可以夹在两个窗片之间 Ø 不透明和浑浊样品可以在小样品池(小于10mm)中测量
  • 用来测定固体、粉末和粘性或不透光液体
    用来测定固体、粉末和粘性或不透光液体这种简单易用的前表面附件可将您的测定能力扩展至种类多样的固体和半固体样品,其中包括粉末、纸片、塑料薄膜、布样品、TLC板、凝胶和浑浊液体。这种附件可用于LS-50B/45/55光谱仪。特点和优势:可用于荧光和磷光测定样品可直接放在该附件内,也可固定在带有合成熔融硅胶窗片的粉末托架内超微量或粘性样品可夹在两个窗片之间不透光和浑浊样品可在小号比色皿内(10 mm以下)进行测定订货信息:产品描述部件编号前表面附件52123130粉末样品托架适用于前表面附件(52123130)52123164合成熔融硅胶窗片适用于粉末样品托架52123814*包括粉末样品托架(52123164)
  • 52123130 珀金埃尔默 PerkinElmer Front Surface Accessory
    用来测定固体、粉末和粘性或不透光液体这种简单易用的前表面附件可将您的测定能力扩展至种类多样的固体和半固体样品,其中包括粉末、纸片、塑料薄膜、布样品、TLC板、凝胶和浑浊液体。这种附件可用于LS-50B/45/55光谱仪。特点和优势:可用于荧光和磷光测定样品可直接放在该附件内,也可固定在带有合成熔融硅胶窗片的粉末托架内超微量或粘性样品可夹在两个窗片之间不透光和浑浊样品可在小号比色皿内(10 mm以下)进行测定订货信息:产品描述部件编号前表面附件52123130粉末样品托架适用于前表面附件(52123130)52123164合成熔融硅胶窗片适用于粉末样品托架52123814*包括粉末样品托架(52123164)
  • LS-55荧光分光光度计配件4978499
    PerkinElmer荧光分光光度计LS-55主要特点:使用方面,性能稳定,可配备多种附件适应不同的应用范围。 PerkinElmer荧光分光光度计LS-55技术参数:波长精度: ±1nm 波长重复性: ±0.5nm 带宽: 激发狭缝缝2.5-15nm, 发射狭缝2.5-20nm 调节步距均为0.1nm 扫描速度: 10-1500nm/分, 调节步距为1nm 亦可按时间收集数据 发射滤光片: 290, 350, 390, 430, 及515nm, 5片 另有1%衰减片,均由软件选择 灵敏度: 用350nm激发波长测定纯水拉曼谱带,在拉曼峰处最低信噪比为750:1(RMS), 在基线处最低信噪比为2500:1(RMS) 是在LS-50B型基础上的改进型。结合一定的附件和软件,本机可以有广泛的应用范围,不论工作中需要荧光、磷光或化学发光及生物发光的检测,这都是恰当的选择。 PerkinElmer荧光分光光度计LS-55可测定荧光、磷光、生物发光或化学发光。激发狭缝2.5—15nm,发射狭缝为2.5—20nm。脉冲式氙灯(寿命长、电源供应简单,产生臭氧极少,不需长时间预热;大大减少光解作用;每一脉冲间测定暗电流,增进低荧光量的测定;用软件控制即可测定磷光,不需附件;磷光的灵敏度不损失脉冲率、延迟时间及门限时间均可变更);信噪比:750:1(RMS,350nm处纯水拉曼谱带),基线处为2000:1(RMS);大样品室保证可安装多种计算机控制的附件、可提供的附件最全;包括固体样品架;新概念的软件;FL WinLabTM(具有强大的二维/三维显示功能,开辟了分析复杂组份混合物的新途径)。
  • P46荧光粉
    P46荧光粉由P46闪烁体或P46荧光体,Y3Al5O12:Ce闪烁体直接加工而成,这款P46荧光粉是欧洲进口的优质掺铈硅酸钇荧光粉,是广泛用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料,也常用于InGaN发光二极管。P46荧光粉又称YAG荧光粉,全称Y3Al5O12:Ce荧光粉或YAG:Ce荧光粉,是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉,这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀,在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如,这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。 YAG:Ce荧光粉颗粒规格: 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻,也可覆盖钝化层,防止背景增加。 其它荧光粉P43 – GOS,P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料,具有较高的原子量,发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3 P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3 P46 – YAG,全称YAG – Y3Al5O12:Ce,是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3
  • 蔡康光学 金相耗材-金相镶嵌料 热镶嵌料 黑色镶嵌料
    金相专用镶嵌料适用于各种不同类型的镶嵌机,以便于测试微小、超薄工件的硬度和观察金相组织。适用于国内、外各种型号、规格的镶嵌机。所有金相镶嵌料系列产品,均针对金相试样的特点,选用特殊材料和特殊添加剂制作而成。在镶嵌后与样品的结合牢固紧密,与样品边缘不易产生缝隙,从而避免各种外来干扰。热镶嵌料可选颜色规格有:黑色、白色、透明、红色、绿色、黑色导电使用方法:镶嵌机加热到130±5℃ 保温8-10分钟。储存方法:本产品不易受潮和受热,应储存在干燥通风的库房内,温度不超过35℃,不得靠近火源,避免阳光直射。包装:1kg瓶装
  • YAG荧光粉
    YAG荧光粉由Y3Al5O12:Ce闪烁体或Y3Al5O12:Ce荧光体直接加工而成,这款YAG荧光粉是欧洲进口的优质Ce:YAG荧光粉,是广泛用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料,也常用于InGaN发光二极管。YAG荧光粉,全称Y3Al5O12:Ce荧光粉或YAG:Ce荧光粉,是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉,这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀,在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如,这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。 YAG:Ce荧光粉颗粒规格: 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻,也可覆盖钝化层,防止背景增加。 其它荧光粉P43 – GOS,P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料,具有较高的原子量,发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3 P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3 P46 – YAG,全称YAG – Y3Al5O12:Ce,是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3
  • 二维材料
    产品名称:二维材料(MoS2、MoSe2、MoTe2、WS2、WSe2、WTe2) 供应信息:一片2~2.5mm×2~2.5mm左右大小,厚度约为0.1mm.需要大的请致电说明。另外可以按照重量购买,每mg的价格一般为每片单价的2倍。一片块材一般可以用于剥离样品1~3次。 材料种类:黑磷(BP)人工合成块料二硫化钼(MoS2) 天然5x5mm块料; 天然10x10mm块料; 天然15x15mm块料 天然20x20mm块料二碲化钼(MoTe2)人工合成块料二硒化钼(MoSe2)人工合成块料二硫化钨(WS2)人工合成块料二硒化钨(WSe2)人工合成块料二碲化钨(WTe2)人工合成块料 常规尺寸:一片2~2.5mm×2~2.5mm左右大小 标准包装: 1000级超净室100级超净袋真空包装
  • 校准用参考材料 02190071
    校准用参考材料使用珀金埃尔默的磁性参考材料可确保获得准确的热重量测定值。订货信息:产品描述部件编号一套包括5种参考材料(镍铝锰合金、镍、坡莫合金、铁和Hisat-50)*02190071镍铝锰合金的参考材料(154.2°C)09988015镍参考材料(355.3°C)N5190869坡莫合金的参考材料(596°C)N5190616铁参考材料(780°C)09988017铟校准参考品03190033锡校准参考品03190034铅校准参考品03190035锌校准参考品03190036银校准参考品N5370438校准用砝码(TGA 6、TGA 4000、STA6000)N5200042校准用砝码(100 mg)09908397用于NOACK润滑油测试的重量校准标准品套装**N5370140*磁性校准参考材料以产品套装的形式提供,但现在为方便您选购,我们也单独销售每种参考材料。我们建议您每次进行仪器校准时均使用新鲜的参考材料。这样,您可避免参考材料在居里点出现磁滞和氧化效应。**本品通过NOACK方法来校准用以运行ASTM测试方法D5800(测定润滑油的蒸发损失量)的TGA或STA。
  • THz材料
    THz材料 太赫兹 (THz) 波是频率为~0.1-10 THz (~3 mm - 30 μm, 3 cm-1 - 300 cm-1) ,介于微波和中红外区域的电磁波。 和可见和红外光相比,THZ波可以穿透常规的材料,如:皮肤,塑料,衣服或者纸材料。由于光子能量低,因此,他不会造成和离子辐射(X光)一样的损害。这些特点使其能够应用在处理(如药物生产),质量控制以及THZ成像领域。现在也很多人想把它应用在安保,包裹检查,半导体特征分析,化学组成分析以及生物研究领域。 对于传统的THZ应用,我们采用High Resistivity Float Zone Silicon (HRFZ-Si)材料,因为他是研究得最多的材质,而且在THZ波段有很好的透过率。同时,我们也研究了可应用在THZ波段的其他材料。 在下面,你就能看到我们采用的其他材料在THZ波段的透射光谱和其他特点。我们用ABB的FTIR光谱仪Bomem DA3和Bruker IFS 125HR (测量精度为2-3%@ 100 μm;4-5% @ 100 μm)来测量THZ波。近红外的测量采用Perkin Elmer的 “Lambda- 9” (测量精度 0.5%)。 1. 晶体 晶体如硅,石英和蓝宝石在THZ光学元件中都是常用的材料。 1.1 高阻硅(HRFZ-Si) 除了人造钻石,高阻硅是威力晶体材料适合极宽范围从(1.2 μm) 到mm (1000 μm)波。和钻石相比,它要便宜的多,并且生长制造更容易。而且他尺寸更大,更容易制造,THZ技术的快速发展,就基于该优点。对于THZ应用,我们提供在1000 μm (对于更长波长,3000甚至8000微米)透过率达到50-54%的High Resistivity Float Zone Silicon (HRFZ-Si)。 Fig.1 Transmission and reflection of HRFZ-Si 5.0 mm-thick sample in THz range. HRFZ-Si 在THZ波段传输损耗低。如图2所示,HRFZ-Si 中的THZ波形和空气中的波形非常相似。这表明HRFZ-Si 的吸收很少。 Fig.2 The THz signals transmitted through air and HRFZ-Si.(*) 合成电解质硅的介电常数由传导率决定(例如:自由电子-载流子浓度)。图3显示的是在1THZ下,不同纯度下的硅的介电常数.低掺杂的介电常数接近真实值,大约等于高频介电常数。随着掺杂浓度的提高,真实的介电常数将变成负数,而且不能被忽略。介电常数表征的是THZ波的传输损耗特性。损耗系数可以用下面的公式计算:tanδ=1/(ω*εv*ε0*R), 这里 ω – 圆频率, εv – 真空下的介电常数(8.85*10-12 F/m)。ε0 –硅的介电常数(11.67), R是电阻值。例如,1THZ下,10 kOhm 阻值的HRFZ-Si损耗系数为1.54*10-5。 Fig.3 Real (solid, ε1) and imaginary (dashed, ε2) part of dielectric permittivity of n-type silicon with different impurity concentration at 1 THz.(**) 1.2石英晶体 Z-cut的石英晶体是传输50 μm以上波长的最好材料之一。Z-cut的石英晶体窗口镜传输可见光,很容易用He-Ne激光器来调准直。 Fig.4 Transmission and reflection of crystal quartz 1.0 mm-thick sample. 由于色散非常大,石英晶体材料的透镜将对可见和远红外的产生不同的焦距。如果需要对光学系统准直,那就必须考虑透镜的色散: 波长, μm no ne 0.589 1.544 1.553 6.0 1.32 1.33 10.0 2.663 2.571 30.0 2.5 2.959 100.0 2.132 2.176 200.0 2.117 2.159 333.3 2.1132.156 石英晶体是双折射材料,如果电磁波的偏振态很重要,那就必须考虑双折射问题。我们用X-cut的石英晶体来制作λ/2和λ/4的THZ波片。 1.3蓝宝石 蓝宝石和石英晶体一样,对于THZ波段和可见光波段是透明的。可以从下面图看出,对于600 μm波段,光谱传输曲线并不取决于厚度的测量误差。在小于600 μm 波段,样品的厚度从1到5mm,透过率变化很大。对于薄的样品,在很短的波长,透过率就已经饱和了。Fig. 5 Transmission and reflection of sapphire samples with different thickness. 就象 HRFZ-Silicon一样,蓝宝石也可以在光电导天线上,因为他们对于THZ波段的折射率几乎一样。 2. 聚合物 在大量聚合物中,有一些对THZ波是透明的,反射率很低。一般意义上说,最好的材料是TPX (polymethylpentene), polyethylene (PE), polypropylene (PP),和polytetrafluoroethylene (PTFE or Teflon).对于长波长,这些聚合物的透过率曲线也很平坦。 对于短波长,主要是200 μm,内部的不均匀性就会导致一些散射和波动。也就是说,聚合物对短波长呈现出不透明的特点。 2.1 Polymethylpentene (TPX) TPX 是所有已知聚合物中最轻的。它对紫外,可见和THZ波段是透明的。当然也就是可以用He-Ne激光器来进行准直。该聚合物折射率约为1.46,和波长关系不大: λ, μm n 0.633 1.463 24 1.4568 60 1.4559 300 1.46 667 1.46 1000 1.4650 3191 1.466 TPX对mm波的传输损耗非常低。它有非常优良的热阻,并且能抗一些商用的化学品的腐蚀。 6 Transmission of TPX 2 mm-thick sample. THz region. Fig. 7 Transmission of TPX 2 mm-thick sample. NIR&MIR regions. Fig. 8 Transmission of TPX 2 mm-thick sample. UV&VIS&NIR ranges. TPX的主要参数:密度, g/cm3 0.83 抗张强度 4100 psi ~28.3 MPa 拉伸模量 280000 psi ~1930.5 MPa 抗张伸展率, % 10 绕曲强度 6100 psi 42.1 MPa 绕曲模量 210000 psi 1447.8 MPa 热偏温度, °C100融化温度, °F/°C 464/240 吸水率 (ASTM-D 1228), %0.01透水汽性 (thk 25 μm, 40C, 90%RH), g/m2*24h110透气性y (thk 100 μm), cm3/m2*d*MPa120000 TPX是很硬的固体材料,可以用来加工成不同的光学元件,如透镜和窗口镜。而且通常TPX还可用在CO2激光泵浦分子激光的系统中作为输出窗口镜。因为它对整个THZ波段都是透明的,并且可以反射10微米的泵浦光。TPX窗口镜还可以在低温保持器中作为“冷”窗口。因为TPX在THZ波段的透明度和温度无关,折射率的温度系数3.0*10-4 K-1 (for the range 8-120 K)。 Fig. 9 Temperature dependence of refractive index.(***) 和其他用在THZ波段的材料比较,TPX的特性更好,例如它是Picarin (Tsurupica)透镜很好的替代品。另外,TPX更便宜,而且比Picarin更容易获得。 Fig. 10 Transmission of 2 mm-thick samples of TPX, Picarin, and HDPE. 2.2 Polyethylene (PE) PE是请的弹性晶体材料。它可以加热到110°C,也可以冷却到-45 ÷ -120°C。PE拥有良好的介电特性,防腐蚀性和抗辐射性。但是,它在紫外波段和油腻的环境下不够稳定。在生物学上来讲,PE很不活跃,很容易处理。在23°C下密度为0.91-0.925 g/cm3,张力流限为8-13 MPa,弹性模数为118 - 350 MPa,在很宽的光谱范围内折射率都约为1.54。通常,高密度的polyethylene (HDPE)也来作为组件材料。除了作为厚透镜和窗口镜,薄的HDPE还可用来作为THZ偏振片。我们用HDPE作为Golay Cell的窗口镜。 Fig. 11 Transmission of 2 mm-thick HDPE sample. THz region. Fig. 12 Transmission of 2 mm-thick HDPE sample. NIR&MIR region. Fig. 13 Transmission of 2 mm-thick HDPE sample. VIS&NIR region. 很遗憾, HDPE对可见光的透过率非常低,因此,它不能用来作为光学系统的准直元件。 我们还应该注意到HDPE的THZ透射率并不取决于温度,因此可以作为低温保持器的窗口镜。折射率的温度系数为6.2*10-4 K-1 (for the range 8-120 K)。 Fig. 14 Temperature dependence of refractive index (***) 2.3 Polytetrafluoroethylene (PTFE, Teflon, in Russian - Ftoroplast) PTFE 在室温下是一种白色的固体,密度约为2.2 g/cm3。熔点为327°C, 在-73°C 到 204°C温度范围内它的主要特点都差别不大,在比较宽的波段范围内,折射率都约为1.43。 Fig. 15 Transmission of PTFE film ~0.1 mm-thick. THz region. Fig. 16 Transmission of PTFE film ~0.1 mm-thick. NIR&MIR region. 由于对1-7 μm波段范围内透明度都很高,PTFE薄片通常用来制作IR偏振片。这种偏振片的价格比晶体材料的便宜。这样就使他们在IR偏振应用中能够得到大量使用。 PTFE的主要参数:抗张强度 3900 psi ~26.7 MPa 拉伸模量 (psi) 80000 psi ~551.6 MPa 抗张伸展率 (%) 300 绕曲强度 (psi) No break 绕曲模量 (psi) 72000 耐压强度 (psi) 3500 耐压系数 (psi) 70000 总结: 所有的有机材料,如TPX, PE和PTFE从~200 μm到1000 μm都有几乎一致的透过率,达到80-90%。当然,他们也可以传输更长的波长。 由于反射损耗,晶体材料如硅,石英和蓝宝石在THZ波段的透过率很低。对于硅材料,从50 μm开始,透过率为50-54%;对于石英,从120 μm开始,透过率70%;对于1-2mm厚的蓝宝石,从350 μm开始透过率50%。
  • 英国Crystran 光学材料
    英国Crystran 光学材料的销售团队不仅在光学方面拥有广泛的经验,而且在材料的化学和物理以及晶体生长方面也拥有丰富的经验。通过与客户保持密切联系并尽可能提供直截了当的诚实建议 不论是光学器件还是大批量生产,Crystran 随时准备快速满足您的要求 通过我们在德国的联营公司的代理机构,我们可以使用欧洲一些好的晶体生长设施,这些机构以其高品质的光学氟化物材料而闻名。我们使用我们集团内部或库存的晶体制造坯料和抛光光学元件锭存放在 Crystran,以确保低的成本和快速的交货时间。通过不断改进我们的生产方法和投资新设备,我们能够保持价格竞争力,同时提供高质量的光学元件。这些材料包括众所周知的用于红外光谱的材料,例如锗和硒化锌,但也包括氟化钙、氟化镁以及广泛的红外和紫外材料。我们还使用许多适用于可见光学或近红外和紫外的玻璃类型。滤光玻璃、高折射率玻璃甚至常见的 BK-7 都可以提供Crystran 现已通过SGS的环境标准 ISO14001:2004 认证。带有 Crystran 技术数据的光学材料清单。这是我们的红外线和紫外线材料数据库。 Crystran 不提供RED中列出的材料,数据仅供参考。ORANGE中列出的材料通常不提供,但我们可能有非常少量的可用于研究目的氟化钙作为光谱CaF 2窗口、CaF 2棱镜和CaF 2透镜具有广泛的红外应用。尤其是纯级氟化钙 (CaF 2 ) 在 UV 和作为 UV 准分子激光窗口中有有用的应用。氟化钙 (CaF 2 ) 可作为伽马射线闪烁体氟化钙(CaF2或萤石)通过真空 Stockbarger 技术生长,直径可达约 250 毫米。 用于红外线的晶体通常使用天然开采的萤石生长以降低成本。它不会在 UV 和 VUV 中具有佳透射率,并且由于杂质而可能在 300nm 处具有吸收带。 对于 UV 和 VUV 应用,通常使用化学制备的原材料。对于准分子应用,我们仅使用高等级的特殊材料和晶体
  • 电极抛光材料
    抛光材料为美国标乐公司抛光材料一瓶1.0 um - 氧化铝粉,一瓶0.3 um -氧化铝粉,1大瓶 0.05 um -氧化铝粉,2块固定抛光布用的玻璃板,5片73mm直径1200金相砂纸(灰色),5片73mm直径尼龙抛光布(白色)和10片73mm直径Microcloth抛光布(咖啡色)。
  • 塑料放水桶(HDPE材质)/25L 塑料放水瓶/塑料龙头瓶/塑料下口瓶
    25L塑料放水桶(HDPE材质)/塑料放水瓶/塑料龙头瓶/塑料下口瓶由上海书培实验设备有限公司为您提供,产品规格齐全,量多从优,欢迎客户来电选购。 25L塑料放水桶(HDPE材质)/塑料放水瓶产品特点:一:吸水性小; 电绝缘性能优良;二:易燃烧且离火后继续燃烧; 聚乙烯容易光氧化、热氧化、臭氧分解,在紫外线作用下容易发生降解。三:化学稳定性好,常温下不溶于任何已知有机溶剂中,70度以上可少量溶解于甲苯、乙酸戊酯、三氯乙烯等溶剂中;四:聚乙烯为白色蜡状半透明材料,柔而韧,比水轻,无臭,无毒; 具有优良的耐低温性能(最低使用温度可达-70~-100℃);五:能耐大多数酸碱的侵蚀(不耐具有氧化性质的酸),室温下耐盐酸、氢氟酸、磷酸、甲酸、胺类、氢氧化钠、氢氧化钾等各种化学物质,硝酸和硫酸对聚乙烯有较强的破坏作用;25L塑料放水桶(HDPE材质)/塑料放水瓶规格介绍:产品名称规格价格(元)塑料放水桶(HDPE材质)5L165塑料放水桶(HDPE材质)10L275塑料放水桶(HDPE材质)25L360
  • 塑料放水桶(HDPE材质)/5L塑料放水瓶/塑料龙头瓶/5000ml 塑料下口瓶
    5L塑料放水桶(HDPE材质)/塑料放水瓶/塑料龙头瓶/塑料下口瓶由上海书培实验设备有限公司为您提供,产品规格齐全,量多从优,欢迎客户来电选购。 5L塑料放水桶(HDPE材质)/塑料放水瓶产品介绍:一:易燃烧且离火后继续燃烧; 二:吸水性小,电绝缘性能优良;三:具有优良的耐低温性能(最低使用温度可达-70~-100℃);四:聚乙烯为白色蜡状半透明材料,柔而韧,比水轻,无臭,无毒; 五:聚乙烯容易光氧化、热氧化、臭氧分解,在紫外线作用下容易发生降解。五:化学稳定性好,常温下不溶于任何已知有机溶剂中,70度以上可少量溶解于甲苯、乙酸戊酯、三氯乙烯等溶剂中;六:能耐大多数酸碱的侵蚀(不耐具有氧化性质的酸),室温下耐盐酸、氢氟酸、磷酸、甲酸、胺类、氢氧化钠、氢氧化钾等各种化学物质,硝酸和硫酸对聚乙烯有较强的破坏作用; 塑料放水桶/塑料放水瓶介绍:产品名称规格价格(元)塑料放水桶(HDPE材质)5L165塑料放水桶(HDPE材质)10L275塑料放水桶(HDPE材质)25L360
  • 新型多孔不锈钢材料
    多孔不锈钢主要应用于石油化工、冶金、航空航天、生物制药、气流分布、能源、食品、环保、稳流等行业,如催化剂过滤、药液提纯、气体除尘、牛奶果汁净化浓缩等。此外,多孔不锈钢还常被用作陶瓷、分子筛、高分子等功能材料的载体。产品描述:  我公司使用了多种生产技术,开发生产出了新型多孔不锈钢材料。  外径:5mm—100mm  长度:10mm—1500mm  孔径:0.2um—50um  形状:管式、片式  可根据用户要求定制各种规格的多孔不锈钢滤芯。我公司可按客户要求定制、研发各种多孔金属材料、器件与设备。新型多孔不锈钢材料特点:1、机械强度高、韧性好2、耐压性高,易于连接和密封3、稳定性好,抗热震性强4、孔径可控5、使用寿命长,经济效益高
  • 无机材料拉曼光谱库 6.06073.619
    无机材料拉曼光谱库订货号: 6.06073.619无机材料拉曼光谱库( 960 种光谱;取自光谱库 6.6071.617)。
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