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金属表面

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金属表面相关的论坛

  • 【分享】金属表面处理方法

    金属表面在各种热处理、机械加工、运输及保管过程中,不可避免地会被氧化,产生一层厚薄不均的氧化层。同时,也容易受到各种油类污染和吸附一些其他的杂质。   油污及某些吸附物,较薄的氧化层可先后用溶剂清洗、化学处理和机械处理,或直接用化学处理。对于严重氧化的金属表面,氧化层较厚,就不能直接用溶剂清洗和化学处理,而最好先进行机械处理。  通常经过处理后的金属表面具有高度活性,更容易再度受到灰尘、湿气等的污染。为此,处理后的金属表面应尽可能快地进行胶接。   经不同处理后的金属保管期如下:   (1)湿法喷砂处理的铝合金,72h ;   (2)铬酸-硫酸处理的铝合金,6h ;   (3)阳极化处理的铝合金,30天;   (4)硫酸处理的不锈钢,20天;   (5)喷砂处理的钢,4h ;   (6)湿法喷砂处理的黄铜,8h 。

  • 金属表面上的相互作用

    金属表面上的相互作用[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=15798]金属表面上的相互作用[/url]

  • 炬室 金属表面腐蚀?

    小弟被单位安排管理闲置的PE nexIon,打开炬室发现金属表面脱落,有很多白色的东西。想请问一下各位前辈知道这个白色的是氧化物吗?该怎么清理?不好意思,一共只有10分全给了。[img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/12/202112221424274341_5744_4245027_3.png[/img][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/12/202112221424273511_9614_4245027_3.png[/img]

  • 新技术可将光信号变成沿金属表面行进的波

    有助于下一代单芯片光子互联的实现2013年04月25日 来源: 科技日报 作者: 刘霞 科技日报讯据物理学家组织网4月22日报道,美国科学家制造出一种新的纳米尺度的连接设备,能将光学信号转变成沿金属表面行进的波。更为重要的是,新设备还能识别偏振光的偏振方向,并据此朝不同的方向发送信号。研究发表在4月19日出版的《科学》杂志上。 科学家们表示,最新研究提供了一种新的方式,让人们能在亚波长尺度下精确地操控光,而不会破坏可能携带有数据的信号,这为有效地从光子设备传递信息给电子设备从而实现下一代单芯片光子互联打开了大门。 该研究的合作者、哈佛大学工程和应用科学学院的研究生巴尔萨泽·穆勒说:“如果你想朝一块拥有很多元件的小芯片周围发送一个数据信号,那么,你需要能精确地控制信号的行进方向。如果你无法做到这一点,信号就有可能丢失。方向是信号能否成功传递的重要因素。” 过去,科学家们也能通过改变光射入连接设备表面的角度来控制这些波的行进方向。但就像穆勒所说的:“这实在很麻烦,光学电路很难成一条直线,因此,为了给信号设定方向而不断重新调整角度非常不实际。” 新连接设备由一层薄薄的金组成,其上布满小孔,科学家们设计的天才之处正在于这些切口形成的像鲱鱼鱼骨(箭尾形)一样的图案。该研究的主要作者、哈佛大学工程与应用科学学院的费德里科·卡帕索教授指出:“迄今为止,科学家们一直采用一系列平行的沟槽(格栅)来做这类事情,虽然它也能完成,但很多信号会丢失,而新设备上的新结构则能采用一种非常简单和优雅的方式来控制信号的行进方向。” 现在,光只需要垂直地射入即可,新设备会做其他事情。它会将入射光变成表面等离子体激元(在金属表面存在的自由振动的电子与光子相互作用产生的沿着金属表面传播的疏密波)。它也会阅读入射光波的偏振方向——直线、左旋圆极化还是右旋圆极化,然后为其安排合适的路径。新设备甚至能将一束光分成两部分并朝不同方向发送不同的部分,这就使得多通路信息传送成为可能。 新结构非常微小,每个图案单元比可见光的波长还要小,因此,科学家们认为,新结构应该很容易同平面光学等新奇技术整合。然而,卡帕索表示,新设备最有可能用于未来的高速信息网络内——纳米尺度的电子设备(目前已经出现)、光子设备和等离子体有望集成在一块微芯片上,从而实现下一代单芯片光子互联。(刘霞) 《科技日报》 2013-03-25 (二版)

  • 【求助】如何用SEM/EDX的数据来判断金属表面是否有过氧化现象?多谢了!

    同行们好! 关于EDX的元素分析,我得到的描述是:EDX的元素分析是半定量的,特别对于微量的元素;且元素比例受观测条件和样品形貌的影响。。。 请问大家,如何利用EDX做金属表面氧化程度的判断呢? 目前我能想到的做法如下:1 NG品(可能存在氧化的样品)和OK品(新品或未发现有任何问题的样品)放同一载物台上,相同处理,同时进样;2 相同的观察条件下,分析相同的区域。目前得到的金属表面氧含量数据是: OK ,3%,NG =7-17%; NG》OK。目前遇到的问题是1 氧含量可能受样品表面可能存在的有机污染物的影响,(不能反映金属的表面含氧量)2 EDX 自身的误差(数值本身较小时,其他影响因素的影响力相对较大)3 关于是否过氧化,目前我这边没有找到一个标准,有可能17%也是正常的也不一定。 请各位同行帮忙想想办法,如何解决这个氧化问题,多谢大家了!

  • 金属表面磷化膜需要测试邻苯二甲酸酯吗?

    各位,实验室目前开展rohs2.0的4项邻苯二甲酸酯测试,有客户咨询金属表面磷化处理后的生成的磷化膜是否需测试4种增塑剂,大家怎么认为?我查了一下,磷化膜貌似是磷酸盐,应该是无机物吧?

  • 【原创大赛】SPM观察金属表面局部电位变化

    【原创大赛】SPM观察金属表面局部电位变化

    1、SPM原位分析扫描电化学显微镜可用于原位检测电极表面微区电位、电流分布以及检测微观尺寸上的STM形貌分布。采用XMU-BY电化学扫描显微镜研究碳钢试样在孔蚀电位Eb及亚稳态孔蚀电位Em下恒电位极化时,碳钢试样表面的微区电位分布的变化。SPM技术是一种新型的观测金属表面的测试技术,包括扫描隧道显微镜(STM) 、原子力显微镜(AFM) 、磁力显微镜(MFM) 等。相较于其他表面分析技术,SPM不仅能够采用高分辨率的三维表面成相与测量,还能够对材料的性质差别进行研究。对于SPM的运用也从最初的测试工具发展为加工、制造等微观精密领域的应用。本文中所使用的XMU-BY扫描电化学工作站可用于原位检测电极表面微区电位、电流分布以及检测微观尺寸上的STM形貌分布。此外,XMU-BY扫描电化学工作站特有的定点测试功能,可以自动地将扫描探针定位到感兴趣的区域,然后可以进行局部点位置多种电化学信息的跟踪测试,比如电位随时间的变化测试、电位随X/Y/Z方向距离的变化测试、物质分布变化的测试以及形貌变化的测试。另外,还通过与恒电位仪联用,进行了外加恒电位条件下试样表面形貌的原位分析,实验用恒电位仪为。图1为联用系统结构原理框图,原理框图如下:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271337_568105_2590289_3.png图1扫描探针显微镜与恒电位仪联用系统结构原理框图 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271337_568106_2590289_3.png图2扫描探针显微镜与恒电位仪联用系统实物图图2为根据原理结构框图我们所建立的恒电位下扫描探针显微镜实物图。从图中可看出, XMU-BY扫描电化学工作站由5部分组成:扫描平台(包括扫描探头、扫描平台底座、扫描器、探针架和探针)、控制机箱、恒电位仪、电机控制器、计算机控制系统。2、实验与讨论在碳钢孔蚀电位Eb下进行恒电位极化,得到Q235碳钢表面电位变化。每隔5min得到一张电位微区分布图,连续恒电位测量1h,将所得的图片使用CSPM Imager图片编辑软件进行分析,绘制出三维图像。图3为实时监测电位分布图,图4为将得到数据进行三维处理后的电位分布图。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271349_568107_2590289_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271349_568108_2590289_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271349_568109_2590289_3.jpg图3 SPM恒电位极化下,碳钢表面电位分布http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509271352_568110_2590289_3.png图4 恒电位Eb下Q235碳钢表面随时间变化的电位分布图3、结论在电位Eb恒电位极化下,碳钢表面微区电位同样呈现不均匀性,存在活性阳极与活性阴极区。

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