接触模式

uniqprobe? ：uniqprobe?接触模式统一质量SPM探针，探针侧面：部分铜涂层uniqprobe?接触模式统一质量SPM探针，探针侧面：部分铜涂层PLATINUMSILICIDE：导电硅化物涂层的非接触式/轻敲模式侧面和针尖为硅化铂（硅化铂反射） SPM探针Advanced TECTM：AdvancedTECTM SPM硅探针，接触式硅悬臂AdvancedTECTM SPM硅探针，接触式硅悬臂， 探针侧面和针尖：铂/铹涂层AdvancedTECTM SPM硅探针，接触式硅悬臂， 探针侧面和针尖：铜涂层

uniqprobe?，统一质量的SPM探针，有2，3个不同的三角形悬臂，非接触式/轻敲模式/接触模式探针侧面：部分金涂层PLATINUM SILICIDE：硅化物涂层的非接触式SPM探针(非接触式/轻敲模式)探针针尖为硅化铂(硅化铂反射)Advanced TEC?：AdvancedTECTM硅SPM探针，硅悬臂非接触式/敲击模式AdvancedTECTM硅SPM探针，硅悬臂非接触式/敲击模式 探针侧面和针尖：铂/铹涂层AdvancedTECTM硅SPM探针，硅悬臂非接触式/敲击模式 探针侧面和针尖：铜涂层

POINTPROBE-PLUS? ：POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，轻敲POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，轻敲，探针侧面：铝涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，轻敲，探针侧面和针尖：铂/铹涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，轻敲，探针侧面和针尖：铜涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，轻敲，探针侧面：铜涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，轻敲，探针侧面和针尖：铂/铹涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，轻敲，探针侧面：铝涂层，xy轴自动校直

SUPERSHARP SILICON：SUPERSHARPSILICONTM-SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，长悬臂，SUPERSHARPSILICON针尖SUPERSHARPSILICONTM-SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，长悬臂，SUPERSHARPSILICON针尖HIGH ASPECT RATIO：高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，长悬臂，高纵横比针尖， 纵横比 ≥ 5:1高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，长悬臂，高纵横比针尖， 纵横比 ≥ 5:1，探针侧面：铝涂层

AKIYAMA-PROBE：Akiyama探针，动态模式原子力显微镜的自感应自动（自激）探针POINTPROBE-PLUS?：POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式， 特殊类型：APOINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式， 特殊类型：A，探针侧面：铝涂层SUPERSHARP SILICON：SUPERSHARPSILICONTM-SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，特殊类型A，SUPERSHARPSILICONTM针尖

DIAMONDCOATED：金刚石涂层探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，长悬臂， 探针侧面 铝涂层导电金刚石涂层探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，长悬臂， 探针侧面 铝涂层

HIGH ASPECT RATIO：高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，高纵横比针尖， 纵横比≥ 5:1 倾斜补偿高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，高纵横比针尖，纵横比 ≥ 5:1，倾斜补偿为13°高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，高纵横比针尖， 纵横比≥ 10:1 倾斜补偿高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，高纵横比针尖，纵横比 ≥ 10:1，倾斜补偿为13°高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，高纵横比针尖， 纵横比 ≥ 5:1，探针侧面：铝涂层倾斜补偿高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，高纵横比针尖，纵横比 ≥ 5:1，倾斜补偿为13°，探针侧面：铝涂层高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，高纵横比针尖， 纵横比 ≥ 10:1，探针侧面：铝涂层倾斜补偿高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，高纵横比针尖，纵横比 ≥ 10:1，倾斜补偿为13°，探针侧面：铝涂层DIAMONDCOATED ：金刚石涂层探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式， 探针侧面：铝涂层导电金刚石涂层探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式， 探针侧面：铝涂层

POINTPROBE-PLUS? ：POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，长悬臂POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，长悬臂，探针侧面：铝涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，长悬臂，探针侧面：铂/铹涂层，针尖/铂/铹涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，长悬臂，探针侧面和针尖：铜涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，长悬臂，探针侧面：铜涂层PLATEAU：SPM探针针尖最高点的材质为硅，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，长悬臂SPM探针针尖最高点的材质为硅，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，长悬臂，探针侧面：铝涂层TIPLESS：小针尖硅悬臂基于POINTPROBE?的技术

PLATEAU:SPM探针针尖最高点的材质为硅，硅悬臂非接触式 /敲击模式 SPM探针针尖最高点的材质为硅，硅悬臂非接触式 /敲击模式 探针侧面：铝涂层 TIPLESS:小针尖硅悬臂基于POINTPROBE?的技术SUPERSHARP SILICON:SUPERSHARPSILICONTM-SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式SUPERSHARPSILICONTM 针尖SUPERSHARPSILICONTM-SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式SUPERSHARPSILICONTM 针尖

POINTPROBE-PLUS?：POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 探针侧面：铝涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 探针侧面：铂/铹涂层，针尖：铂/铹涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 探针侧面和针尖：铜涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 探针侧面：铜涂层POINTPROBE-PLUS?:POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 探针侧面：铝涂层，XY轴自动对齐POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 超高压应用程序高质量因素，探针侧面：铝涂层PPPROTATED:POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 针尖旋转180度，探针侧面：铝涂层

石墨接触柱用于HGA石墨炉的石墨接触柱在设计上可实现精确贴合，从而使可能影响分析性能的电气接触偏差降至最小。石墨接触柱的形状经过了专门设计，以使其能完全嵌入石墨管内。这样，石墨管就定位于一个明确的惰性环境中，从而可确保加热条件一致并且石墨管持久耐用。石墨接触柱用于HGA-900/850/800/700/600/300石墨炉包括左侧接触柱、右侧接触柱和屏蔽环订货信息：产品描述部件编号1套B01284955套B3130086用于塞曼炉包括左侧接触柱和右侧接触柱订货信息：产品描述部件编号1套B01168235套B0180361

POINTPROBE-PLUS?：POINTPROBE?SPM加硅探针，接触式硅悬臂，特殊型号，探针侧面：短悬臂POINTPROBE?SPM加硅探针，接触式硅悬臂，特殊型号，探针侧面：短悬臂，探针侧面：铝涂层POINTPROBE?SPM加硅探针，接触式硅悬臂，特殊型号，探针侧面：短悬臂，探针侧面和针尖：铂/铹涂层POINTPROBE?SPM加硅探针，接触式硅悬臂，特殊型号，探针侧面：短悬臂，探针侧面和针尖：铜涂层POINTPROBE?SPM加硅探针，接触式硅悬臂，特殊型号，探针侧面：短悬臂，探针侧面：铜涂层

THGA石墨接触柱这些石墨接触柱在设计上可实现精确贴合，从而使可能影响分析性能的电气接触偏差降至最小。进样孔区域得到改进的接触柱有助于最大限度减少冷凝并改善对复杂基质的分析性能。标准THGA石墨接触柱产品描述部件编号1对B05040355对B0504036 改进型THGA石墨接触柱产品描述部件编号1对B30021035对B3002102配件和备件产品描述部件编号O形圈（接触柱后面、正面和背面）B0500748接触柱拆卸工具B3120405THGA滤筒（50件）B0509065用于通风系统的备用石墨头B0506722

高增益不接触式破碎探头 必能信高增益不接触式破碎探头采用封闭式、不接触样品处理方法进行破碎，样品放在玻璃试管或其他密封的容器里，从而避免了探头的直接接触。 凹型漏斗式的特殊设计使探头产生高强度的空穴效应，从而作用于需处理的样品中，形成强有力的破碎效果。 这种设计不仅能破碎多种细胞，也可进行多种前处理，如：乳化、分散、脂质体的制备、均质、脱气等。 典型运用： 血液化学 脂质体制备前处理 药片的分散、溶解 HPLC前脱气 颜料的分散 悬浮液的均质 易传染性样品的前处理

布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air ScanAsyst Air，是空气中智能成像模式ScanAsyst 专用探针，仅适用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含：Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve. ScanAsyst 利用一种专门的曲线采集方法和复杂的算法，对图像质量进行持续的监测，并能自动地对参数进行适当的调整。因此：- 无论用户的专业技术水平如何，图像自动优化都能更快获取更一致的结果。- 可直接控制力的强弱，调到超低力，从而保护易碎样品和针尖不受损坏。 实现了悬臂调节的消除，定位调整，获得最大优化让液态成像变得简单。 氮化硅单悬臂探针，所有ScanAsyst针尖都有2度的悬臂弯曲。详细规格： 延展阅读：关于布鲁克：布鲁克公司以先进的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造中心独特优势：*Class100级别的无尘室*先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式：主要分为：扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构：悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。制作工艺：半导体工艺制作 指标：探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

产品特点：石墨接触柱用于HGA 石墨炉的石墨接触柱在设计上可实现精确贴合，从而使可能影响分析性能的电气接触偏差降至最小。石墨接触柱的形状经过了专门设计，以使其能完全嵌入石墨管内。这样，石墨管就定位于一个明确的惰性环境中，从而可确保加热条件一致并且石墨管持久耐用。用于HGA - 900/850/800/700/600/300/PinAAcle H 石墨炉● 包括左侧接触柱、右侧接触柱和屏蔽环??订货信息： 石墨接触柱产品描述部件编号1套B01284955套 B3130086HGA 接触柱拆卸工具产品描述部件编号HGA900/AA700/800/PinAAcle900B3121301HGA 仪器观察镜用于优化干燥温度和时间产品描述部件编号HGA 仪器观察镜B0080259

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。

我司是美国PerkinElmer授权代理商，所有产品都含有防伪标签，扫码可查询真伪THGA石墨接触柱这些石墨接触柱在设计上可实现精确贴合，从而使可能影响分析性能的电气接触偏差降至最小。进样孔区域得到改进的接触柱有助于最大限度减少冷凝并改善对复杂基质的分析性能。标准THGA石墨接触柱产品描述 部件编号1对 B05040355对 B0504036改进型THGA石墨接触柱产品描述 部件编号1对 B30021035对 B3002102

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PPP ROTATED：POINTPROBE?SPM加硅探针，接触式硅悬臂，针尖旋转180度，探针侧面：铝涂层3PLATEAU：SPM探针针尖最高点的材质为硅，接触式硅悬臂SPM探针针尖最高点的材质为硅，接触式硅悬臂，探针侧面：铝涂层

产品特点：THGA 石墨接触柱这些石墨接触柱在设计上可实现精确贴合，从而使可能影响分析性能的电气接触偏差降至最小。进样孔区域得到改进的接触柱有助于最大限度减少冷凝并改善对复杂基质的分析性能。订货信息：标准THGA 石墨接触柱产品描述部件编号1 对B05040355 对B0504036改进型 THGA 石墨接触柱产品描述部件编号1 对B30021035 对B3002102

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