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痕量金属杂质
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痕量金属杂质相关的方案
莱伯泰科:离子色谱-膜去溶-ICP—MS法测定高纯钨粉中痕量金属杂质
摘要:灵敏地检测了高纯钨粉中的痕量金属杂质。钨粉用 02溶解后进入离子色谱的阳离子交换柱,经水淋洗后,用HN03洗脱,洗脱后的溶液经过膜去溶装置雾化去溶后进入电感耦合等离子体质谱检测。除B,V,Sb外,其它杂质元素如Mg,Al,Ti,Cr,Be,Fe,Mn,c0,Ni,cu,zn,Ga,Sr,Cd,Ba等的回收率均在90% 一107%之间,检出限在0.0ol~0.5 gg/g之间。关键词:痕量元素;高纯钨粉;离子色谱;阳离子交换柱;膜去溶装置;电感耦合等离子体质谱
利用 7700s/7900 ICP-MS 直接分析高纯度盐酸中的痕量金属杂质
本应用展示了 Agilent 7700s/7900 ICP-MS 在直接测定高纯度盐酸 (HCl) 中金属杂质方面的卓越分析性能与稳定性。7700s/7900 采用可有效去除多原子干扰的八极杆反应池系统 (ORS),使受到严重氯类干扰的元素达到最终的检测限要求。例如,ORS 可去除多原子离子 40Ar35Cl+,使 As 可在质量数 75 处得到直接测量,从而准确分析未稀释浓 HCl 中的痕量 As。直接分析浓酸省略了样品前处理流程中的稀释步骤,从而大大降低样品污染的可能性。
使用 Agilent 8900 ICP-MS/MS 分析高纯度铜中的超痕量杂质
本应用介绍了一种使用串联四极杆 ICP-MS (ICP-MS/MS)测量高纯度铜中超痕量杂质的新方法。针对 Agilent 8900ICP-MS/MS 开发出一种可选的离子透镜(称为“m 透镜”),从而能够在耐受基质的高功率等离子体条件下对超低浓度的碱金属进行测量。m 透镜具有优化的几何结构,可最大程度减小沉积在 ICP-MS 接口组件上的 EIE 背景信号。
ESI SeaFast iCAP Q 联用测定海水中痕量杂质元素
使用 ESI SeaFast S2 自动进样器采集海水样品到 4ml 的定量环(用于富集 Pb 等杂质元素)和 1ml 定量环(用于直接测定 Cr 等元素)。通过阀切换用去离子水将海水样品以2500ul/min速度推送到浓缩柱中,将 Pb 等杂质富集在柱子上,并用水冲洗,而后阀切换后用缓冲溶液冲洗柱子,之后用硝酸淋洗液洗以 200ul/min 流速将柱子上富集的杂质洗脱下来直接测定。分离富集后海水中痕量杂质测定结果(ug/L)及三次稳定性。
使用 ICP-MS/MS 分析高纯盐酸中的痕量金属杂质
Agilent 8900 半导体配置ICP-MS/MS 具有灵活的反应池气体支持、独特的 MS/MS 功能和无与伦比的冷等离子体性能,进一步提高了高纯酸中各种痕量金属污染物分析的检测限。8900 ICP-MS/MS 支持的高级反应池方法允许测定氯化物基质中浓度比以往更低的 SEMI 元素,包括可能有基质干扰的元素,如K、V、Cr、Ge 和 As。
ESI SeaFAST 离线分离富集ICPMS测定海水中的痕量杂质
采用ESI SeaFAST-pico离线富集测定海水中的ng/L级杂质,可根据杂质含量富集倍数由4,10,20倍甚至到50倍都可以保持良好的线性,而且将基体分离后内标回收率一致性较好。方法检出限可以达0.Xng/L级。每个海水样品的分离时间根据循环次数在10到20分钟。此方法对于实验室洁净度和试剂纯度要求较高,才能保证富集过程不受到来自环境和试剂本底值的影响。此方法也可以适应于海水中痕量稀土元素的测定。
ESI SeaFAST 离线分离富集ICPMS测定海水中的痕量杂质
采用ESI SeaFAST-pico离线富集测定海水中的ng/L级杂质,可根据杂质含量富集倍数由4,10,20倍甚至到50倍都可以保持良好的线性,而且将基体分离后内标回收率一致性较好。方法检出限可以达0.Xng/L级。每个海水样品的分离时间根据循环次数在10到20分钟。此方法对于实验室洁净度和试剂纯度要求较高,才能保证富集过程不受到来自环境和试剂本底值的影响。此方法也可以适应于海水中痕量稀土元素的测定。
ESI SeaFAST-Thermo iCAP离线分离富集ICPMS测定海水中的痕量杂质
采用ESI SeaFAST-pico离线富集测定海水中的ng/L级杂质,可根据杂质含量富集倍数由4,10,20倍甚至到50倍都可以保持良好的线性,而且将基体分离后内标回收率一致性较好。方法检出限可以达0.Xng/L级。每个海水样品的分离时间根据循环次数在10到20分钟。此方法对于实验室洁净度和试剂纯度要求较高,才能保证富集过程不受到来自环境和试剂本底值的影响。此方法也可以适应于海水中痕量稀土元素的测定。
高纯氯化氢的痕量杂质分析解决方案
高纯氯化氢是集成电路生产中硅片蚀刻、钝化、外延、气相抛光、吸杂和洁净处理等工艺的重要材料,也可用于金属冶炼,光导通讯和科学研究等领域。随着大规模集成电路的发展,对氯化氢纯度的要求越来越高,除了应具有99.999%以上的纯度,对其中杂质的含量要求越来越苛刻,尤其要求严格限制碳氢化合物和碳氧化合物的含量,以防止硅片加工过程中碳的形成。之前我国大多从美、日等国进口电子级氯化氢,但近年来,我国电子工业所需的化学气体研制,在技术上已有不少突破和发展。国内也有单位已成功开发出相关的电子级氯化氢产品,但还远不能满足市场需求,市场前景广阔。
PerkinElmer:结合电化学硫化物检测器检测饮料级 CO2 中的痕量杂质
珀金埃尔默与 Arnel 联手开发了新型分析仪系列,用于测量饮料级二氧化碳 (CO2) 中的痕量硫和其它杂质。此系列分析仪将独特的电化学硫化物检测器* (ASD) 融入其中。每一种担保式交钥匙解决方案都有一个不同的功能组,分别用来满足 CO2 制造商、配送商以及饮料生产商或用户的需求。表 1 所示为每种分析仪在测量各种化合物时所能达到的最小检出限 (MDL)。共有 16 种不同的型号,其中 8 种型号具有手动气动控制功能,而另外 8种型号具有电子流量控制气路功能 (PPC)。许多型号都包括了多检测器配置以满足检测硫以外的杂质的需要。这些分析仪支持国际饮料技术专家协会(ISBT) 所提出的“纯度分析”规范。该规范要求在亚 ppm 级测量烃、含氧化合物和芳烃(如苯)。
莱伯泰科:膜去溶-ICP—MS测定高纯CeO2中14种痕量稀土杂质分析方法研究
摘要:研究了不经基体分离,膜去溶一ICP MS法直接测定高纯CeO2中14种痕量稀土杂质的分析方法,讨论了ce基体产生的多原子离子对被测元素的质谱干扰,并且对影响多原子离子产率的因素进行了分析,同时建立了Pr,Gd,rrb和Yb数学校正方程。通过使用膜去溶雾化器和优化ICP.MS参数,消除了Cel ,CeO2 和CeO2H 产生的质谱干扰,将CeO/Ce产率降为0.008% ,同时结合数学校正方程彻底消除了CeO ,CeOH 和CeOH2 的质谱干扰。Pr,Gd,,rb和Yb的方法测定下限分别为0.08,0.1,0.15和0.008 gg~ ,l4种稀土杂质方法测定下限和为0.75 gg一。99.999%高纯CeO2实际样品测定加标回收率为96% ~103% ,RSD为1.2% ~4.3% 。关键词:高纯CeO ;膜去溶;数学校正;ICP.MS;多原子离子干扰;稀土
使用 ICP-MS/MS 直接分析高纯硝酸中的痕量金属杂质
在 MS/MS 模式下运行的 Agilent 8900 ICP-MS/MS 能够提供高纯度硝酸中超痕量元素分析所需的灵敏度、低背景以及对干扰物质的无与伦比的控制。本研究测定了未稀释的高纯 68% HNO3 中亚 ppt 至 ppt 水平的49 种元素。0–40 ppt 之间所有元素的校准曲线都呈线性。高纯 68% HNO3 中的 SEMI 规定元素可在几个 ppt 或亚 ppt 浓度下定量。在持续 6.5 小时的未稀释高纯 68% HNO3 序列中,除P 和 S 之外的所有元素在 30 ppt 加标浓度下的重现性结果为0.4%–5.5% RSD。该结果证明 Agilent 8900 半导体配置 ICP-MS/MS 适用于高纯度半导体级试剂和制程化学品的常规分析。
ICP-5000测定锂离子电池原材料-草酸亚铁中9种杂质金属元素含量
1.痕量元素分析2.基体干扰正交橄榄石结构的磷酸铁锂(LFP)型锂离子电池因其不含贵重元素、原料廉价、资源极其丰富等成本因素,而得到广泛研究与应用。磷酸铁锂的生产工艺可采用碳酸锂、草酸亚铁、磷酸二氢铵为原料按化学计量比充分混匀后,在惰性气氛中低温预分解,再经高温焙烧,研磨制得。原材料草酸亚铁,具有来源广泛,价格低廉等优点。因合成过程中需大量使用该原料,所以草酸亚铁中杂质元素的含量,对产出的电池阳极材料的品质具有很大影响,故检测其中杂质元素的含量具有实际应用价值。同时该材料含有大量铁元素,而铁元素在光谱中拥有大量谱线,对于其中杂质元素的分析须选择合理的分析波长。本文采用盐酸消解样品,通过ICP-5000直接测定了草酸亚铁中9种杂质金属元素的含量。
药品中潜在致突变性杂质的痕量水平定量分析
本应用重点介绍了一种分析方法,用于精确定量两种潜在致突变性杂质 3-氨基吡啶和异烟酰胺,这两种杂质可由达伐吡啶中的活性药物成分 (API) 4-氨基吡啶形成。Agilent Ultivo LC/TQ 具有混合模式采集功能,通过该功能可以同时采集样品的定量(SIM 和 MRM)及定性信息(全扫描和产物离子扫描)。混合模式的工作原理是将扫描功能与目标分析物的 SIM 或 MRM 整合到同一时间段内。实验表明该方法具有优异的灵敏度和精度,潜在致突变性杂质的定量限远低于法规要求。
测定滑石粉中多种痕量金属元素
滑石是一种常见的硅酸盐矿物,是热液蚀变矿物,常呈橄榄石、顽火辉石、角闪石、透闪石等矿物假象。滑石非常软并且具有滑腻的手感,是已知最软的矿物,一般呈块状、叶片状、纤维状或放射状,颜色为白色、灰白色,并且会因含有其他杂质而带各种颜色。滑石用途非常广泛,如:做耐火材料、造纸、橡胶的填料、农药吸收剂、皮革涂料、化妆品材料、雕刻用料、医药原料、食品添加剂等等。故滑石作为一种关系国计民生的重要战略物资,历来备受各国关注。由于近年来滑石使用量的增加,滑石矿被大量开采,使得该资源日渐枯竭,产品品位逐渐下降,杂质元素含量增多,因此,急需建立滑石粉中微量、痕量杂质元素的检测方法。
高分辨连续光源原子吸收光谱法测定铀铌铅多金属矿中痕量银
铀铌铅多金属矿组成成分复杂,准确有效的测定其中的痕量银,有利于银的回收利用。采用 HCL-HNO3-HF-HCLO4处理铀铌铅多金属矿样品,以 HCl(1+4)-2g/L酒石酸为测定介 质,以λ Ag=328.068nm 为分析谱线,建立了高分辨连续光源原子吸收光谱法(HR-CS-AAS) 测定铀铌铅多金属矿样品中痕量银的新方法。
采用 Agilent 7820A 气相色谱分析苯中痕量烃类杂质
在制造加工过程中生产或使用苯时,了解苯中杂质的含量可提供严格的质量控制信息。采用ASTM D4492[1] 分析这些杂质,包括高达9 个碳原子的非芳烃、甲苯、C8 芳烃和1,4-二氧杂环乙烷。Agilent 7820A 气相色谱仪提供高效而易于操作的平台,用于分析苯和其它芳烃溶剂。在这篇应用中,Agilent 7820A 气相色谱仪配置分流/不分流毛细管进样口和氢火焰离子化检测器(FID)。Agilent EZChrom Elite Compact 软件用于控制7820A GC ,并提供数据采集和数据分析功能。Agilent 7820A GC 支持自动液体进样器(ALS),从进样至最终报告实现完全无人操作。
ICPE-9820测定重质馏分油、渣油及原油中痕量金属元素含量
使用岛津ICPE-9820型电感耦合等离子体发射光谱仪测定了重质馏分油、渣油和原油中痕量金属元素含量。该方法抗基体能力强,精密度高,ICPE-9820垂直炬管设计,可有效减少样品残留和防止炬管积碳积盐,可以实现轴向和径向观测,实现高低浓度的一次测定,适用于重质馏分油、渣油和原油中痕量金属元素含量的分析。
iCAP Qc ICPMS 测定高纯氧化钼中 Cd 等痕量杂质
高灵敏度 iCAP Qc ICPMS 测定高纯氧化钼中 Cd 等痕量元素,通过 Qtegra 自动调谐功能,在 Qcell 加入高流量的氧气反应,将 MoO 转化为多氧化钼,将干扰质量数进行迁移,与 Cd 测定同位素分开,从而消除干扰,以满足高纯氧化钼中镉的测定。?
iCAP Qc ICPMS 测定高纯氧化钼中 Cd 等痕量杂质
高灵敏度 iCAP Qc ICPMS 测定高纯氧化钼中 Cd 等痕量元素,通过 Qtegra 自动调谐功能,在 Qcell 加入高流量的氧气反应,将 MoO 转化为多氧化钼,将干扰质量数进行迁移,与 Cd 测定同位素分开,从而消除干扰,以满足高纯氧化钼中镉的测定。
ICP-5000测定锂离子电池原材料-碳酸锂中9种杂质金属元素含量
1.痕量元素分析2.电离干扰碳酸锂用途广泛,在电池、铝电解、钢连铸保护渣、特种玻璃、陶瓷、医药、核工业、高档Al-Li合金、特种玻璃和背投彩电工业等重要工业中都是不可或缺的原料。随着锂离子电池的快速发展,碳酸锂的产能逐渐扩大。电池级碳酸锂作为锂离子电池生产过程中的核心原料,其品质直接影响到生产安全性、电池的电化学性能、使用安全性。如其中Fe3+含量过高,会严重影响锂电池的安全性能,如果Cl-含量过高则会造成生产设备的腐蚀,故准确测定其中杂质具有重要意义。 根据相关标准YS/T 582-2013《电池级碳酸锂》、GB/T 11064-2013《碳酸锂、单水氢氧化锂、氯化锂化学分析方法》,对其中部分杂质元素的含量,与检测方法都做出相关推行标准。标准中规定钙、镁、铜、锌、铬、镍、锰、铝可采用电感耦合等离子体发射光谱法进行测定;钾、钠可采用火焰原子吸收光谱法加入消电离剂进行测定,但是存在操作繁琐,测定偏差大等特点。本文采用盐酸消解样品,用ICP-5000同时测定了包括钾、钠、镁在内的9种金属杂质元素。
使用自我感知型 Agilent InfinityLab LC/MSD iQ 测量品牌药和仿制药中的痕量杂质
本研究展示了一种比较品牌和仿制非处方 (OTC) 对乙酰氨基酚药物中相关杂质的方法。该工作流程包括 Agilent InfinityLab 液相色谱/质谱选择性检测器 (LC/MSD iQ) 和Agilent 1290 Infinity II 液相色谱系统。本研究鉴定的杂质浓度低于使用 UV 能够可靠检出的浓度。Agilent LC/MSD iQ 可以轻松检出 OTC 药品中存在的低至皮克级柱上量 (ng/mL)的杂质。分析品牌和仿制 OTC 药中的杂质,并进行对比。该品牌药含有四种可检出杂质:4-氨基苯酚、RC-A、RC-B 和 RC-D,而仿制药含三种可检出杂质:4-氨基苯酚、RC-A 和 RC-B。即使对品牌药的分析显示存在更多检出杂质,但仿制药中这些杂质的浓度更高。两种 OTC 产品均按照 USFDA 指南[3] 生产,且杂质浓度远低于指南中规定的浓度:15 μ g/mL 或 0.03% API。在这些浓度下,UV 检测器无法可靠地定量这些杂质。此外,在两种 API 之间观察到的杂质谱差异可以归因于原材料来源以及制造过程中使用的合成和纯化工艺差异。
iCAP TQ ICPMS测定镍基高温合金中砷、硒和镉等痕量杂质元素
高温合金样品经酸消解后,使用iCAP TQ O2质量数迁移(Mass shift)、TQ O2和NH3原位质量数(On mass)模式测定那些受到合金基体干扰严重的元素,如As、Se、Cd,以及使用SQ He KED碰撞模式来测定其他痕量元素。分别采用水溶液标准及标样基体匹配法进行测定,两种方法均可获得准确的测定结果。
ICP测氧化铝中微量杂质的应用方案
美析ICP-6800电感耦合等离子体发射光谱仪作为种新型的分析仪器,较其它分析仪器而言,具有灵敏度高、精密度好、线性范围宽、基体效应小、动态范围宽、快速简便并可同时进行多元素分析的优点,已成为痕量分析常用的分析仪器之一。基于以上的背景调研,我们拟采用ICP 6800型电感耦合等离子体发射光谱仪对含有杂质的氧化铝进行微量元素的检测,主要研究并测定了氧化铝可能存在的金属元素,如钛、铜、镁、锰、钙、锌、铬、硅和铁的含量。
离子色谱-抑制型电导检测法测定六氟磷酸锂中痕量阴离子
离子色谱法测定六氟磷酸锂中痕量氯离子和硫酸根离子,方法灵敏度高、专属性强,样品前处理简单,可用于控制六氟磷酸锂中阴离子杂质的含量。
赛里安提供用气相色谱法和有效碳数测定单环芳烃中痕量杂质的标准试验方法(ASTM D7504)
SCION(赛里安)提供了通过气相色谱法和有效碳数法测定单环芳烃中微量杂质的解决方案。生产后的产品可能含有杂质。ASTM D7504描述了苯、甲苯、乙苯、对二甲苯、邻二甲苯、间二甲苯和苯乙烯中总非芳香烃、单环芳香烃的测定。这种方法同时可以计算出这些成分的纯度。本应用适用于SCION(赛里安) 4X6和8X00 GC平台。
使用自我感知型 Agilent InfinityLab LC/MSD iQ 测量品牌药和仿制药中的痕量杂质
本研究展示了一种比较品牌和仿制非处方 (OTC) 对乙酰氨基酚药物中相关杂质的方法。该工作流程包括 Agilent InfinityLab 液相色谱/质谱选择性检测器 (LC/MSD iQ) 和Agilent 1290 Infinity II 液相色谱系统。本研究鉴定的杂质浓度低于使用 UV 能够可靠检出的浓度。
ICP-5000测定仲钨酸铵中Co杂质元素含量
仲钨酸铵(APT)是其他钨化合物和钨合金制备的原料, 作为添加剂常用于石油化工行业,其杂质元素含量直接影响产品的质量。APT中杂质元素含量极低(0.001%),不同APT牌号对杂质含量要求不同(GB10116-2007),其中Bi、Pb等元素要求处于痕量级,因此,在高钨的基体下杂质元素的检测存在很大的困难。目前,国标GB/T 4324中已经使用ICP-OES测量仲钨酸铵中Co等杂质元素的含量。ICP-5000垂直观测模式,具有检出限低、灵敏度高、抗基体干扰的优点,本文采用氨水和双氧水溶解样品,并用盐酸除去基体中钨,随后用ICP-5000检测仲钨酸铵中Co等15种杂志元素含量。
ICP-5000测定仲钨酸铵中Cr杂质元素含量
仲钨酸铵(APT)是其他钨化合物和钨合金制备的原料, 作为添加剂常用于石油化工行业,其杂质元素含量直接影响产品的质量。APT中杂质元素含量极低(0.001%),不同APT牌号对杂质含量要求不同(GB10116-2007),其中Bi、Pb等元素要求处于痕量级,因此,在高钨的基体下杂质元素的检测存在很大的困难。目前,国标GB/T 4324中已经使用ICP-OES测量仲钨酸铵中Cr等杂质元素的含量。ICP-5000垂直观测模式,具有检出限低、灵敏度高、抗基体干扰的优点,本文采用氨水和双氧水溶解样品,并用盐酸除去基体中钨,随后用ICP-5000检测仲钨酸铵中Cr等15种杂志元素含量。
ICP-5000测定仲钨酸铵中Al杂质元素含量
仲钨酸铵(APT)是其他钨化合物和钨合金制备的原料, 作为添加剂常用于石油化工行业,其杂质元素含量直接影响产品的质量。APT中杂质元素含量极低(0.001%),不同APT牌号对杂质含量要求不同(GB10116-2007),其中Bi、Pb等元素要求处于痕量级,因此,在高钨的基体下杂质元素的检测存在很大的困难。目前,国标GB/T 4324中已经使用ICP-OES测量仲钨酸铵中Al、等杂质元素的含量。ICP-5000垂直观测模式,具有检出限低、灵敏度高、抗基体干扰的优点,本文采用氨水和双氧水溶解样品,并用盐酸除去基体中钨,随后用ICP-5000检测仲钨酸铵中Al等15种杂志元素含量。
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