硅薄膜

Agilent PCG-750 规管将皮拉尼和陶瓷电容薄膜规管一体化，具备气体类型单独测量的特点，并提高了从大气压到 5x 10 -5 mbar (3.8 x 10 -5 Torr) 的测量精度。应用领域：真空测量- 高准确度和高重现性使大气压监测更为可靠- 快速大气压检测缩短了流程的循环周期- 对于 10 mbar 以上的压力，测量结果与气体种类无关，所以可安全排放任何混合气体- 坚固紧凑的外壳能以任何角度安装，易于集成到系统中- 设定点控制利用压力读数来执行关键操作- 可替换的即插即用传感器易于维修，降低了用户的使用维护成本- 镍灯丝选件提供了腐蚀性应用解决方案- 可选的高亮度彩色 LCD 显示屏，使压力读数更易监测。- 适合真空压力的安全监控、前级真空压力监控和进出样室控制，以及中级和粗真空范围内的常规真空测量和控制。- 采用便携式设计，并包括一个明亮且便于读数的显示屏。

薄膜太阳电池QE测试专用系统 SCS10-Film适用范围： 非晶硅薄膜电池、CIGS 薄膜电池、CdTe 薄膜电池、非晶/ 微晶双结薄膜电池、非晶/ 微晶/微晶锗硅三结薄膜电池等光谱范围：300~1700nm电池结构：单结、多结太阳电池可测参数：光谱响应度、外量子效率、反射率、透射率、内量子效率、短路电流密度可测样品面积：300mm×300mm● 集成一体化turnkey系统● 大面积薄膜电池测试专用● 超大样品室，光纤传导● 背面电极快速连接● 反射率、内外量子效率同步测试● 快速高效售后服务 SCS10-Film系统规格 光源150W高稳定性氙灯，光学稳定度≤0.4%，光纤传导测试光斑尺寸2mm~10mm可调单色仪三光栅DSP扫描单色仪波长范围300nm~1700nm波长准确度±0.2nm（@1200g/mm,500nm)扫描间隔最小可达0.1nm，默认设置10nm输出波长带宽0.1nm~10nm可调，默认设置5nm多级光谱滤除装置根据波长自动切换，消除多级光谱的影响光调制频率4~400Hz标准探测器进口Si光电探测器，含校正测试报告数据采集装置灵敏度直流模式：100nA；交流模式：2nV测量重复精度0.6%( 400~1000nm范围0.3%)测量速度单次光谱响应扫描 1min 完整流程扫描 5min(扫描间隔10nm）样品加持探针样品台，156mm×156mm，特殊样品台可定制*Mapping扫描速度：20点/s（@0.5mm step）分辨率：0.5mm仪器尺寸主机：；样品室：控制机柜：800mm×600mm×1300mm计算机及软件系统含工控计算机、显示器、鼠标、键盘，正版windows 7操作系统，系统软件安装光盘

太阳能电池量子效率测试系统——SolarCellScan100系列系统功能系统可以实现测试太阳电池的：光谱响应度、外量子效率、内量子效率、反射率、透射率、短路电流密度、量子效率Mapping、反射率Mapping。系统适用范围1、适用于各种材料的太阳电池包括：单晶硅Si、多晶硅mc-Si、非晶硅α-Si、砷化镓GaAs、镓铟磷GaInP、磷化铟InP、锗Ge、碲化镉CdTe、铜铟硒CIS、铜铟镓硒CIGS、染料敏化DSSC、有机太阳电池Organic Solar Cell、聚合物太阳电池Polymer Solar Cell 等2、适用于多种结构的太阳电池包括：单结Single junction、多结multi junction、异质结HIT、薄膜thin film、高聚光HPV 等不同材料或不同结构的太阳电池，在测试过程中会有细节上的差异。比如说：有机太阳电池的测试范围主要集中在可见光波段，而GaAs 太阳电池的测试范围则很可能扩展到红外1.4um 甚至更长波段；单晶硅电池通常需要测内量子效率，而染料敏化太阳电池通常只需要测外量子效率；有机太阳电池测试通常不需要加偏置光，而多结非晶硅薄膜电池则需要加偏置光……SolarCellScan100 通过主机与各种附件的搭配，可以实现几乎所有种类电池的测试。这种模块化搭配的方式，适合科研用户建立测试平台。 选型列表：型号名称和说明主机SCS1011太阳能电池量子效率测量系统，含直流、交流测量模式，氙灯光源SCS1012太阳能电池量子效率测量系统，含直流测量模式，氙灯光源SCS1013太阳能电池量子效率测量系统，含直流、交流测量模式，溴钨灯光源SCS1014太阳能电池量子效率测量系统，含直流测量模式，溴钨灯光源SCS1015太阳能电池量子效率测量系统，含直流、交流测量模式，氙灯溴钨灯双光源SCS1016太阳能电池量子效率测量系统，含直流测量模式，氙灯溴钨灯双光源附件QE-A1偏置光附件，150W氙灯QE-A2偏置光附件，50W溴钨灯QE-B1标准太阳电池（单晶硅）QE-B1-SP标准太阳电池QE-B2标准铟镓砷探测器(800-1700nm，含标定证书）QE-B3标准硅探测器(300-1100nm，含标定证书)QE-B4标准铟镓砷探测器(800-2500nm，含标定证书）QE-B7透过率测试附件(300-1100nm)QE-B8透过率测试附件(800-1700nm)QE-BVS偏置电压源（±10V可调）QE-C2漫反射率测试附件（300-1700nm）QE-C7标准漫反射板QE-D1二维电动调整台QE-D2手动三维调整台QE-IV-Convertor短路电流放大器专用机型介绍系统功能部分太阳能应用方向的研究人员需要测量量子效率，但本身却不是光电测量方面的行家，卓立汉光在测量平台SolarCellScan100的基础上，进一步开发出以下几套极具针对性的专用机型配置，方便客户使用。以下的专用配置也适合产业化的工业客户使用。1、通用型太阳电池QE测试系统SCS100-Std系统特点符合IEC60904-8国际标准；测量结果高重复性；内外量子效率测量功能；快速导入参数功能；适用于科研级别小样品测试适用范围： 晶体硅电池、非晶硅薄膜电池、染料敏化电池、CdTe薄膜电池、CIGS薄膜电池等； 光谱范围： 300~1100nm； 电池结构： 单结太阳电池； 可测参数： 光谱响应度、外量子效率、内量子效率、反射率、短路电流密度； 可测样品面积： 30mm×30mm 2.通用型太阳电池QE测试系统SCS100-Exp系统特点符合IEC60904-8国际标准；测量结果高重复性；高度自动化测量；双光源设计；红外光谱范围扩展；薄膜透过率测试功能；小面积、大面积样品测试均适用；适用范围： 晶体硅电池、非晶硅薄膜电池、染料敏化电池、有机薄膜电池、CdTe薄膜电池、CIGS薄膜电池、三结砷化镓GaAs电池、非晶/微晶薄膜电池等； 光谱范围： 300~1700nm； 电池结构： 单结、多结太阳电池； 可测参数： 光谱响应度、外量子效率、内量子效率、反射率、透射率、短路电流密度； 可测样品面积： 156mm×156mm以下 3.晶体硅太阳电池测试专用系统 SCS100-Silicon系统特点集成一体化turnkey系统晶体硅电池测试专用内外量子效率测试快速Mapping扫描功能快速高效售后服务适用范围： 单晶硅电池、多晶硅电池 光谱范围： 300~1100nm 电池结构： 单结太阳电池 可测参数： 光谱响应度、外量子效率、反射率、内量子效率、短路电流密度、*量子效率Mapping、*反射率mapping 可测样品面积： 156mm×156mm 4.薄膜太阳电池QE测试专用系统 SCS100-Film系统特点集成一体化turnkey系统；大面积薄膜电池测试专用；超大样品室，光纤传导；背面电极快速连接；反射率、内外量子效率同步测试；快速高效售后服务。适用范围： 非晶硅薄膜电池、CIGS薄膜电池、CdTe薄膜电池、非晶/微晶双结薄膜电池、非晶/微晶/微晶锗硅三结薄膜电池等； 光谱范围： 300~1700nm ； 电池结构： 单结、多结太阳电池； 可测参数： 光谱响应度、外量子效率、反射率、透射率、内量子效率、短路电流密度； 可测样品面积： 300mm×300mm 5.光电化学太阳电池测试专用系统 SCS100-PEC系统特点光电化学类太阳电池专用配置方案；直流测量模式；低杂散光暗箱；电解池样品测试附件；经济型价格适用范围： 染料敏化太阳电池； 光谱范围： 300~1100nm； 电池结构： 光电化学相关的纳米晶太阳电池； 可测参数： IPCE； 可测样品面积： 50mm×50mm

COMECT硅管（用于蠕动泵和薄膜泵）COMECT硅管（用于蠕动泵和薄膜泵）管道长度为1 m带有* 的型号适用于蠕动泵“Percom N-M ll”和“PR-2003作为实验室科学设备的制造商，J.P.Selecta公司在60多年的时间里，巩固了相关产品制造生产的市场，并享有盛誉，取得了卓越的成就，产品销往100多个国家.以不同语言制作目录，并积极参加许多国际关注的展览，如:nalytica, Achema, Medica, Pittcon, Expoquimia, Shanghai, Moscow, Arablab等等，这些都是该公司努力拓展新市场的明显例子。该公司对产品T供yong久的售后服务保证:对于使用很久的设备，承诺对其进行yong久的售后维修服务，保证这些设备的更长时间的使用寿命。在J.P.Selecta集团，集团设计并生产包括三种类型的产品:+ J.P.Selecta:公司制造的实验室用产品和设备品牌。+ Comecta:其他进口制造商品牌的分销和引进，包括作为自有品牌的Comecta和Ivymen。+ Aquisel:制造用于一次性分析的体外诊断医疗产品。该公司的生产工厂位于巴塞罗那(西班牙)的Abrera，面积超过20000平方米，其中包括控制实验室、过程和环境测试区域，配备先进的自动化系列产品的区域。该公司的技术部门负责产品必须遵循的生产计划、说明和程序开发。所有这些都受到最终质量控制的监督，在最终质量控制中，生产的每台设备都经过百分之百的验证和检查。物流区域，团队使用现代包装技术，在不同的仓库准备经过适当验证的材料，用于装运产品。所有的制造工厂和设备都拥有生产高质量产品的z佳技术和生态系统，公司主要生产、销售：浴系列，用于细胞培养和生物样品、酵母和一般需要稳定和可再现温度等应用场合；搅拌器，可用于溶解、提取和均化等实验过程；恒温器系列，用于临床、生化和化学等实验过程；加热套与加热台系列产品，用于消化蒸馏、提取、蒸发和沸腾等实验过程

厂家正式授权代理商：岱美有限公司联系电话：，（贾先生）联系地址：北京市房山区启航国际3期5号楼801公司网址：ThetaMetrisis是一家私有公司，成立于2008年12月，位于希腊雅典，是NCSR' Demokritos' 的微电子研究所的第一家衍生公司。ThetaMetrisis的核心技术是白光反射光谱（WLRS），它可以在几埃到几毫米的超宽范围内，准确而同时地测量堆叠的薄膜和厚膜的厚度和折射率。 FR-Mic: 微米级薄膜表征-厚度，反射率，折射率及消光系数测量仪一、产品简介： FR-Mic 是一款快速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案，要求的光斑尺寸小到几个微米，如微图案表面，粗糙表面及许多其他表面。它可以配备一台专用计算机控制的 XY 工作台，使其快速、方便和准确地描绘样品的厚度和光学特性图。o 实时光谱测量o 薄膜厚度，光学特性，非均匀性测量，厚度映射o 使用集成的， USB 连接高品质彩色摄像机（CCD）进行成像 二、应用领域 o 大学 & 科研院所o 半导体（氧化物、氮化物、硅、电阻等）o MEMS 元器件 (光刻胶、硅薄膜等)o LEDo 数据存储元件o 弯曲基材（衬底）上的硬/软涂层o 聚合物涂层、粘合剂等o 生物医学（ parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )o 其他更多 … (如有需求，请与我们取得联系) 三、产品特点o 单点分析(无需预设值）o 动态快速测量o 包括光学参数(n和k，颜色)o 为演示保存视频o 600 多种的预存材料o 离线分析o 免费软件更新 四、技术参数 FR-Scanner 自动化超高速精准薄膜厚度测量仪 一、产品简介： FR-Scanner 是一种紧凑的台式工具，适用于自动测绘晶圆片上的涂层厚度。FR-Scanner 可以快速和准确测量薄膜特性:厚度，折射率，均匀性，颜色等。真空吸盘可应用于任何直径或其他形状的样片。 独特的光学模块可容纳所有光学部件:分光计、复合光源(寿命10000小时)、高精度反射探头。因此，在准确性、重现性和长期稳定性方面保证了优异的性能。FR-Scanner 通过高速旋转平台和光学探头直线移动扫描晶圆片(极坐标扫描)。通过这种方法，可以在很短的时间内记录具有高重复性的精确反射率数据，这使得FR-Scanner 成为测绘晶圆涂层或其他基片涂层的理想工具。测量 8” 样片 625 点数据60 秒 二、应用领域o 弯曲基材（衬底）上的硬/软涂层o 聚合物涂层、粘合剂等o 生物医学（ parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )o 半导体生产制造：(光刻胶, 电介质,光子多层结构， poly-Si,Si, DLC )o 光伏产业o 液晶显示o 光学薄膜o 聚合物o 微机电系统和微光机电系统o 基底: 透明 (玻璃, 石英, 等等) 和半透明 三、产品特点o 单点分析(无需预设值）o 动态快速测量o 包括光学参数(n和k，颜色)o 为演示保存视频o 600 多种的预存材料o 离线分析o 免费软件更新 四、技术参数FR-Scanner: 自动化超高速薄膜厚度测量仪 FR-pOrtable:一款USB驱动的薄膜表征工具 一、产品简介： FR-pOrtable 是 一 款独 特 的 便 携 式 测 量 仪器 ， 可 对 透 明 和 半 透明 的 单 层 或 多 层 堆 叠薄 膜 进 行 精 确 的 无 损（非接触式）表征。使用 FR-pOrtable，用户可以在 380-1020nm 光谱范围内进行反射率和透射率测量及薄膜厚度测量。二、应用领域o 大学 & 科研院所o 半导体（氧化物、氮化物、硅、电阻等）o MEMS 元器件 (光刻胶、硅薄膜等)o LEDo 数据存储元件o 弯曲基材（衬底）上的硬/软涂层o 聚合物涂层、粘合剂等o 生物医学（ parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )o 其他更多 … (如有需求，请与我们取得联系) 三、应用领域 FR-pOrtable的紧凑尺寸以及定制设计的反射探头以及宽带长寿命光源确保了高精度和可重复的便携式测量。 FR-Portable既可以安装在提供的载物台上，也可以轻松转换为手持式厚度测量工具。放置在待表征的样品上方即可进行测量。 FR-Portable是用于工业环境（如R2R、带式输送机等）中涂层实时表征的可靠而精确的测厚仪。四、产品特点o 一键分析 (无需初始化操作)o 动态测量o 测量光学参数(n & k, 颜色)，膜厚o 自动保存演示视频o 可测量 600 多种不同材料o 用于离线分析的多个设置o 免费软件更新服务 五、技术参数FR-pRo: 按需可灵活搭建的薄膜特性表征工具一、产品简介： FR-pRo 是一个模块化和可扩展平台的光学测量设备，用于表征厚度范围为1nm-1mm 的涂层.FR-pRo 是为客户量身定制的，并广泛应用于各种不同的应用 。 FR-pRo 可由用户按需选择装配模块，核心部件包括光源，光谱仪（适用于 200nm-2500nm 内的任何光谱系统）和控制单元，电子通讯模块此外，还有各种各种配件，比如:? 用于测量吸收率/透射率和化学浓度的薄膜/试管架,? 用于表征涂层特性的薄膜厚度工具,? 用于控制温度或液体环境下测量的加热装置或液体试剂盒,? 漫反射和全反射积分球通过不同模块组合，最终的配置可以满足任何终端用户的需求 二、应用领域o 弯曲基材（衬底）上的硬/软涂层o 聚合物涂层、粘合剂等o 生物医学（ parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )O 半导体生产制造：(光刻胶, 电介质,光子多层结构， poly-Si,Si, DLC )o 光伏产业o 液晶显示o 光学薄膜o 聚合物o 微机电系统和微光机电系统o 基底: 透明 (玻璃, 石英, 等等) 和半透明 三、产品特点o 单点分析(无需预设值）o 动态快速测量o 包括光学参数(n和k，颜色)o 为演示保存视频o 600 多种的预存材料o 离线分析o 免费软件更新 四、技术参数

1. 产品概述FTPadv是一种经济高效的台式光谱反射解决方案，具有快速厚度测量功能。测量时间不到 100 ms，精度低于 0.3 nm，膜厚范围为 50 nm – 25 μm。包括一系列预定义的配方，便于光谱反射仪操作。2. 主要功能与优势获得薄膜厚度的短方法通过选择并开始适当的配方，SENTECH FTPadv 反射仪可在不到 100 ms 的时间内完成厚度测量，精度小于 0.3 nm，厚度范围为 30 nm – 25 μm。AutoModel 功能和基于 SE 的材料库通过比较测得的反射光谱和光谱库，可以将操作员的误差降低。基于SENTECH的椭圆偏振光谱仪测量的大型材料库，为新材料的光学常数测量提供了方法。应用业知识30 多年来，SENTECH 已成功销售用于各种应用的 FTPadv 膜厚探头。这款台式反射仪可在工业或研究环境中，通过远程或直接控制，在低温或高温下，原位或在线测量小样品到大窗玻璃的厚度。 3. 灵活性和模块化SENTECH FTPadv的一个关键特性是可以测量多层样品中任何层的厚度，这使得FTPadv成为膜厚测量的理想、经济高效的解决方案。用于过程控制的FTPadv包括一个带有柱子和样品架的光纤束、一个带卤素灯的稳定光源以及FTP光学器件和控制器站。通过LAN连接到PC，可以在恶劣的工业应用环境、受到特殊保护的房间或大型机械中远程控制工具。反射仪 FTPadv 带有大量预定义的配方，例如半导体上的电介质、半导体上的半导体、硅上的聚合物、透明基板上的薄膜、金属基板上的薄膜等。自动建模功能允许通过与光谱库进行比较来快速检测样品类型。该反射仪将操作员错误降低。通过光学反射测量薄膜厚度从未如此简单。FTPadv菜单驱动的操作软件允许在出色的操作员指导下对单层和多层结构进行厚度测量。此外，它还具有强大的分析工具和出色的报告功能。额外的映射软件可用于控制电动样品台。将软件升到软件包FTPadv EXPERT，用于反射测量的高分析，通过应用具有未知或不同光学特性的材料，扩展了标准软件包。因此，可以进行厚度测量以及单片薄膜的折射率和消光系数分析。

产品代码No.：248980转速范围：100~1200rpm蒸发能力：760ml/h（水的蒸发量）到达真空度：399.9Pa（3mmHg）以下转速设定 ? 显示：旋钮设定 ? 数字显示刮板密封方式：刮板通过磁力耦合方式与电机连接传递动力，封闭密封，防止样品污染电机：直流无刷电机蒸发管：蒸发面积0.025㎡冷凝管：立式双层冷凝管；冷凝面积0.14㎡回收瓶：浓缩侧回收瓶：1L(磨口35/20）；冷凝侧回收瓶：1L（磨口35/20）冷凝管接口：一触式连接；外径10mm x 2个蒸发管接口：一触式连接；外径10mm真空接口：外径10mm接液部材质：高硼硅玻璃；SUS304；特氟龙外部尺寸 ? 重量：490W x 350D x 930H（mm）? 约17kg电源：AC100V；2A；200VA；50/60HZ1、小型薄膜蒸发仪通过蒸发管内的搅拌翼高速旋转强制形成薄膜，从而抑制试料的突沸和发泡，能够浓缩普通旋转蒸发仪无法浓缩的发泡性物质；2、采用特氟龙制搅拌翼，搅拌翼可以和搅拌杆分离，并且搅拌翼没有凹凸，方便清洗；3、马达部分没有密封垫，采用耦合式机械密封方式，因为完全同蒸发管部分分离，因此搅拌轴部分不会受到污染；4、下部轴承采用了陶瓷轴承，即便长时间的运转也可以放心使用。

日本TOHO FLX系列 薄膜应力量测设备FLX系列设备是由日本TOHO公司所生产的，广泛应用于半导体行业薄膜应力的量测。测试原理 在硅晶圆或者其他材料基地上附着薄膜，由于衬底于薄膜的物理常数不同，将会产生应力而导致衬底基板形变。由于均匀附着的薄膜引起的形变表现为基板翘曲，因此，可依据翘曲（曲率半径）的变化量计算应力。本薄膜应力测量设备用下述方法测量附着表面上的薄膜引起的基板曲率半径变化量。设备特点 （1）双光源扫描（可见光激光源及不可见光激光源），系统可自动选择zui佳匹配之激光源；（2）系统内置升温、降温模拟系统，便于量测不同温度下薄膜的应力，温度调节范围为-65℃至500℃；（3）自带常用材料的弹性系数数据库，并可根据客户需要添加新型材料相关信息至数据库，便于新材料研究；（4）形象的软件分析功能，用于不同测量记录之间的比较，且测量记录可导出成Excel等格式的文档；（5）具有薄膜应力3D绘图功能；主要规格 型号FLX-2320-SFLX-2320-RFLX-3300-TFLX-3300-R温度温度范围室温～50O°C（可选： -65'C~500'C)室温室温～50O°C（可选： －65'C~500'C)室温升温速度~25'C／分钟 (Max.)------~25'C／分钟 (Max.)------调节功能内置调零机构------内置调零机构------样品尺寸75-200mm75-200mm300mm300mm扫描范围200mm200mm300mm300mm晶圆绘图手动自动手动自动测量重现性1.3MPa晶圆输送方式手动脱附气体N2或者Ar气体(1.5L／分钟/0.3kg/cm2）------N2或者Ar气体(1.5L／分钟/0.3kg/cm2）------

东莞市雨菲电子科技有限公司成立于2015年，其前身为成立于2008年的维特国际。薄膜开关厂位于东莞市虎门镇怀德管理区合森工业园内，占地4500平米， PCBA厂位于东莞虎门大宁创富赢家产业园内， 占地面积3500平米。雨菲电子地理位置优越，距高速出口5公里，紧邻深圳，广州，香港，距离深圳机场仅30分钟车程，距广州机场1小时车程。雨菲电子是一家致力于电阻式薄膜开关，电容触摸式薄膜开关, 电容触摸感应线路, 薄膜面板，薄膜面贴，触摸屏贴合, 触摸显示模组, 单片机开发，PCBA及整机解决方案提供的新兴高科技企业。 雨菲电子已通过ISO9001, ISO14001, ISO13485和OHSAS18001体系认证。是业内早通过ISO13485的医疗体系认证的薄膜开关工厂。 雨菲电子的产品广泛应用于医疗, 工控, 自动化, 轨道交通, 航空航海, 网络通讯, 消费电子, 仪器仪表, 农用机械, 设备制造等广泛领域。公司所有生产车间均为十万级无尘防静电车间, 其中印刷车间为万级。此外还有2间千级高精密高洁净度无尘车间用于进行屏幕贴合, 精密电子组装等业务。公司自建品质实验室, 包括盐雾测试机, 高低温环测, 寿命测试机, 凸包高度测试仪, 二次元, 曲线荷重测试仪等仪器设备。公司拥有4台半自动丝网印刷机, 2条全自动印刷生产线, 全自动打孔机, 自动冲床, 五金冲床, 真空贴合机,脱泡机等等. 洁净的生产环境, 先进的生产设备和测试仪器确保我司优异的产品质量!

东莞市雨菲电子科技有限公司成立于2015年，其前身为成立于2008年的维特国际。薄膜开关厂位于东莞市虎门镇怀德管理区合森工业园内，占地4500平米， PCBA厂位于东莞虎门大宁创富赢家产业园内， 占地面积3500平米。雨菲电子地理位置优越，距高速出口5公里，紧邻深圳，广州，香港，距离深圳机场仅30分钟车程，距广州机场1小时车程。雨菲电子是一家致力于电阻式薄膜开关，电容触摸式薄膜开关, 电容触摸感应线路, 薄膜面板，薄膜面贴，触摸屏贴合, 触摸显示模组, 单片机开发，PCBA及整机解决方案提供的新兴高科技企业。 雨菲电子已通过ISO9001, ISO14001, ISO13485和OHSAS18001体系认证。是业内早通过ISO13485的医疗体系认证的薄膜开关工厂。 雨菲电子的产品广泛应用于医疗, 工控, 自动化, 轨道交通, 航空航海, 网络通讯, 消费电子, 仪器仪表, 农用机械, 设备制造等广泛领域。公司所有生产车间均为十万级无尘防静电车间, 其中印刷车间为万级。此外还有2间千级高精密高洁净度无尘车间用于进行屏幕贴合, 精密电子组装等业务。公司自建品质实验室, 包括盐雾测试机, 高低温环测, 寿命测试机, 凸包高度测试仪, 二次元, 曲线荷重测试仪等仪器设备。公司拥有4台半自动丝网印刷机, 2条全自动印刷生产线, 全自动打孔机, 自动冲床, 五金冲床, 真空贴合机,脱泡机等等. 洁净的生产环境, 先进的生产设备和测试仪器确保我司优异的产品质量!

一.机型称号：薄膜锂电池研磨混合机，药物研磨混合机，毫微米研磨混合机，超飞快研磨混合机，水管式研磨混合机，3级研磨混合机，高剪切研磨混合机。二.研磨机：机型19款，处理量50到8*10000KG/小时，旋转1100到1.4*10000转/分钟，线速度23到44m/秒，电滚功耗1.5到160kW，磨头胶体磨&锥体磨。三.研磨分散机：机型6款，处理量50到6*1000KG/小时，旋转1100到9*1000转/分钟，线速度23m/秒，电滚功耗2.2到150kW，磨头胶体磨。四.小型分散乳化机：机型30款，处理量0.2克到10KG/小时，旋转50到3*10000转/分钟，线速度3到33m/秒，电滚功耗0.3到0.8kW。五.真空分散乳化机：机型32款，处理量5到2*10000KG/小时，旋转14到1.4*10000转/分钟，线速度44m/秒，电滚功耗0.18到120kW。六.均质匀浆机：机型4款，处理量0.2到150克/小时，旋转3500到8*1000转/分钟，线速度3到10m/秒，电滚功耗0.145到0.18kW。七.多效用分散乳化均质机：机型27款，处理量150到12.5*10000KG/小时，旋转960到1.4*10000转/分钟，线速度10到44m/秒，电滚功耗1.5到160kW。八.混合机：机型I6款，处理量300到12.5*10000KG/小时，旋转1100到9*1000转/分钟，线速度20到23m/秒，电滚功耗1.5到160kW。九.实用物料种类：胶粘溶胶，巨粒子固态液体悬空液乳剂，不包溶等。十.终级粒径：主腔内有叁组定转子，每组粗齿、中齿、细齿、超细齿。调动定转子间隙，加工后地终级粒径在10微纳米之下。十一.胚料配件：百分之八十以上进ロ海内外公司。十二.技艺出处：引荐德国技艺，立发明加工，备有专利。十三.工作方式：有在线式，批次式，内外循环式，水管式，可倒式，若干效用式。十四.机型合成：靠预加工锅、搅动锅、泵、液压系统、倒料系统、电力调动系统、主腔等部件合成。十五.智力化：CIP冲洗系统，液压升降松盖，包括配料给料吸料安装。十六.磨头好处：研磨头可调5款模版，6款分散头，20多款工作头。十七.锥磨好处：锥磨转子外层包含金属碳化物跟不一样粒子地陶瓷镀层等高上材料，提防毁伤腐蚀。十八.机型材料：统统接碰物料地材料皆是进口耐酸钢，主腔跟管路内乃亮面抛光三百EMSH（卫生级），无死角。十九.密封好处：博格曼双机械密封，液压平稳系统（可以担当16atm重压），软密封。?.翻搅形式：可定刮壁式/锚杆式/熔解式/页片式。?.产品特点：产品采取上边同轴3重装翻搅器，回路管路，出口阀。?.操控柜长处：不单可以控制电动调速，气温减温加温（经过电力，热气，油水回路，可承担负40—250度），压强，酸碱值，黏度。更可以设定不相同功用模板，表现互相配得各个参量，可线性变大大量出产。?.可抉选：参观窗，硅氟酸玻璃参观，电导率计，二层绝缘保护，稳定夹，作业台，底盘，图案解析多功用显微硬度仪（测量界线1—4千维氏硬度），管路式测量电炉（测量界线zui高1350度），传送泵/转子泵/气动隔膜泵/锚杆泵/离心泵（产量850—4.3万升/H），反应翻搅单罐/多罐（500—3千升/H），反渗入/全自动纯净装备（0.5—3千升/H)，超氧产生器，过流式紫外光灭菌器等。?.别的特长：整体立方小，电耗低，分贝低，可每日不断出产。?.访客垂访：按照访客实况必要恰当抉选！别的可订制非标和生产线！假若是非常情况，比方超温，超压，易烧易炸，侵蚀性，可产品升级！?.物料测量：得到访客物料后当即投入测量，瞧可否到达要求&答复测量进程&成果。?.方案价格：断定好产品功用后当即策画方案，包含2D部署图，总安装出产线表示图，立体成果图，&呈上本该得价格单子！?.结语：我们是出产厂家，详尽信息可以企业查看，因此分外恭候访客去垂访&更深一步长谈！以上信息不容坊造，非常道谢！扩展内容可不看：薄膜电池，顾名思义，就是将一层薄膜制备成太阳能电池。它使用的硅极少，因此更容易降低成本。 同时，它不仅是一种能源产品，还是一种新型建筑材料，更容易与建筑融合。在国际市场硅原料持续紧缺的背景下，薄膜太阳能电池已成为国际光伏市场发展的新趋势、新热点。可以大规模工业化生产的薄膜电池主要有三种：硅基薄膜太阳能电池、铜铟镓硒薄膜太阳能电池（CIGS）和碲化镉薄膜太阳能电池。薄膜太阳能电池 (CdTe)。薄膜电池是一种使用薄层材料并利用电子半导体和光学原理的技术。考虑到成本效益，薄膜光伏电池被用于二代和三代太阳能光伏发电技术。同时，它也被认为是一种可用于构建综合应用的有效产品。薄膜电池的发电原理与晶体硅类似。当阳光照射在电池上时，电池吸收光能产生光生电子-空穴对。 在电池内置电场的作用下，光生电子与空穴分离，空穴漂移。到P侧，电子漂移到N侧，形成光电动势，当外电路导通时，产生电流。

FSM薄膜应力与晶圆翘曲度测量仪薄膜应力测量仪广泛应用于半导体行业薄膜应力的量测。在硅晶圆或者其他材料基底上附着薄膜，由于衬底与薄膜的物理常数不同，将会产生应力而导致衬底基板形变。由均匀附着的薄膜引起的形变表现为基板翘曲，因此，可依据翘曲（曲率半径）的变化量来计算应力。薄膜应力仪用下述方法测量附着表面上的薄膜引起的基底曲率半径的变化量。由于是根据在基板上扫描的激光反射角度进行计算，因此，通过测量薄膜附着前后的曲率半径变化，计算其差值，求出曲率半径变化量，用斯托尼公式，依据基板曲率半径计算薄膜应力S。FSM薄膜应力测量仪的特点:1）自动切换双波段激光具有专利的自动激光切换扫描技术.当样品反射率不好时，系统会自动切换到不同波长的另外一只激光进行扫描。这使客户可以测量包括Nitride，Polyimides, Low K，High K,金属等几乎所有的薄膜而不会遇到无法测量的问题。FSM500加热到500℃进行应力测量，可在加热循环过程中进行薄膜的热稳定性计算2）2-D & 3-D Map配备有马达驱动的可旋转载片台，可以快速生成2-D&3D Map图帮助用户可以看到整片晶圆的曲率和应力变化分布，并准确反映出工艺和均匀性有问题的区域。3）薄膜厚度可以整合介电材料薄膜的厚度测量功能，使设备变成一台可以在研发和生产环境下灵活使用强大的设备。产品优势&bull 薄膜整体应力与晶圆翘曲测试&bull 半导体/LED/太阳能/数据存储/液晶面板产业&bull 适用于多种晶圆,基板尺寸&bull 桌上型/站立式&bull 手动/自动/半自动&bull 500℃&bull 快速&非接触激光扫描&bull 适用生产和研发使用&bull 全球销售及客户支持产品应用&bull 新工艺的测试或新生产设备的校准 。化学气相沉积镀膜工艺（CVD), 物理气相沉积镀膜工艺(PVD)&bull 工艺的质量控制&bull 故障诊断&bull 新技术的研究与开发&bull 半导体新工艺的研究与开发&bull 半导体晶圆薄膜生产: 氮化物, 氧化物, 硅化物, 金属, 低介电常数材料等&bull 晶圆碗型翘曲: 晶圆工艺检查或晶圆生产原料检查&bull 其他的集成电路工艺: 平板显示器 微机电系统

1. 产品概述RM 1000 和 RM 2000 光谱反射仪可测量表面光滑或粗糙的平面或弯曲样品的反射率。使用SENTECH FTPadv Expert软件计算单膜或层叠的厚度、消光系数和折射率。厚度分别为 2 nm 和 50 μm （RM 2000） 或 100 μm （RM 1000） 的单片、层叠和基板可以在 UV-VIS-NIR 光谱范围内进行分析。2. 主要功能与优势突破折光率测量的限SENTECH反射仪通过样品的高度和倾斜调整以及光学布局的高光导率，具有精密的单光束反射率测量功能，允许对n和k进行可重复的测量，在粗糙表面上进行测量，以及对非常薄的薄膜进行厚度测量。紫外到近红外光谱范围RM1000 410 纳米 – 1000 纳米RM2000 200 纳米 – 1000 纳米高分辨率映射RM 1000 和 RM 2000 反射仪可选配 x-y 成像台和成像软件以及用于小光斑尺寸的物镜。3. 灵活性和模块化SENTECH RM 1000 和 RM 2000 代表我们的反射仪。桌面设备包括高度稳定的光源、带有自动准直望远镜和显微镜的反射光学器件、摄像机、高度和倾斜度可调的样品平台、光谱光度计和电源。它可以选配 x-y 成像台和成像软件，以及用于第二种光斑尺寸的物镜。除了薄膜厚度和光学常数外，薄膜的组成（例如氮化镓上的AlGaN，硅上的SiGe），增透膜（例如在纹理硅太阳能电池上，紫外线敏感的GaN器件）以及小型医疗支架上的涂层都可以通过我们的反射仪进行测量。这些反射仪支持微电子、微系统技术、光电子、玻璃涂层、平板技术、生命科学、生物技术等域的应用。用于我们的反射仪 RM 1000 / 2000 的综合性、以配方为导向的 SENTECH FTPadv EXPERT 软件包括测量设置、数据采集、建模、拟合和报告。已经内置了一个包含预定义、客户验证和即用型应用程序的广泛数据库。“自动建模”选项允许从光谱库中自动选择样本模型。基于SENTECH在椭圆偏振光谱方面的业知识，庞大的材料库和各种色散模型使我们的光谱反射仪能够分析几乎所有的材料和薄膜。操作员可以很容易地使用新的光学数据更新数据库。SENTECH通过椭圆偏振光谱法测量具有未知光学特性的新材料，为客户提供支持。

电镜薄膜网格电镜薄膜网格（载网膜）是透射电镜常用的耗材之一，主要作用是在电镜观察时负载小尺度的样品。微孔膜网格具有一系列不同的孔径，排列在方形网格上，不同的设计，具有不同的间距（节距）。孔阵列以正方形SiNx膜窗口为心，窗口以标准TEM网格的框架为中心。用于透射电子显微镜（TEM）的标准氮化硅窗口网格可提供以200μm厚度的硅框架为中心的5nm、10nm、30nm、50nm或100nm厚的方形膜窗口。TEM窗口框架是圆形或八边形的，并且适合在3.0mm直径的圆内。氮化硅膜是低应力和坚固的。我们所有的TEM窗口都封装在2〃x2〃包装盒中（每盒10pcs）。 另外，我们提供位置标记的多孔TEM氮化物窗口类似于规则的TEM网格，但在膜区域上具有微米尺寸的孔。并且，它在X和Y方向上沿着多孔膜的边缘都有位置标记，允许用户在TEM工作期间跟踪膜上的位置。 ** 如果您需要用于纳米孔、基因组学、蛋白质组学或其他生物物理应用的微孔膜产品，详情可联系上海昊量光电设备有限公司。更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

薄膜拉力试验机塑料薄膜在包装、工业和日常生活中具有广泛的应用，其质量和性能对产品的质量和安全性至关重要。为了确保塑料薄膜的质量和可靠性，塑料薄膜拉力试验机成为了评估其性能的关键工具。 塑料薄膜拉力试验机采用先进的电子测试技术，配合高精度的传感器和测量系统，能够准确、高效地完成各种塑料薄膜的拉伸性能测试。在塑料薄膜的生产和使用过程中，拉力性能是评估其质量和可靠性的重要指标。通过模拟实际生产和使用过程中的拉伸条件，可以准确地评估薄膜的力学性能和封口强度。 在塑料薄膜拉力试验机中，试样被固定在两个夹具之间，然后受到一定的拉伸力。通过高精度的传感器和测量系统，设备能够实时记录试样在拉伸过程中的力和位移数据。从而更准确地评估薄膜的性能。 除了塑料薄膜的拉伸性能测试外，塑料薄膜拉力试验机还可以用于评估塑料包装和保护膜的封口强度。封口强度是评估包装材料封口质量和可靠性的重要指标，直接影响着产品的保存和安全性。通过测试封口处的拉伸强度和撕裂强度等指标，可以评估封口的质量和可靠性，确保包装在运输和储存过程中的完整性。 用于评估塑料薄膜、材料、塑料包装和保护膜的拉力和封口强度等性能指标。该仪器采用先进的电子测试技术，配合高精度的传感器和测量系统，能够准确地评估材料的性能特点，为其在实际应用中的可靠性提供有力保障。该设备还可以帮助生产厂家优化生产工艺和降低生产成本，提高工业生产的效率和品质。在材料科学和工程领域，塑料薄膜拉力试验机已成为不可或缺的测试工具，广泛应用于各个行业的质量控制和研究开发工作中。 技术参数 规 格 50N 500N 1500N 2000N(可选其一或多支) 精 度 1级 试验速度 1-500mm/min无级调速 位移误差 ±2% 试验宽度 50 mm（其他夹具可定制）行 程 650mm 主机外形尺寸 450mm×300mm×1350mm(长宽高) 重 量 78kg 环境温度 23±2℃ 相对湿度 80%，无凝露 工作电源 220V 50Hz 薄膜拉力试验机此为广告

量产型 薄膜封装用 原子层沉积系统(R2R ALD)主要应用于有机半导体（（Micro)OLED,QD,OPV,钙钛矿光伏....)在线批量生产的薄膜封装（TFE）.可对平板Panel或柔性(Flexible)基底进行卷对卷（R2R）封装.在OLED Panel厂产线有广泛应用！主要应用：-硅基WVTR(水蒸气透过率)的阻挡层-Micro-OLED封装层-柔性衬底用阻挡层-OLED封装层-柔性OLED显示器、柔性OLED照明、量子点、柔性太阳能电池等高水分阻隔膜的卷对卷（R2R)ALD工艺：特点：1.ALD高k介质,厚度均匀性好，保形步进覆盖。2.先进的工艺套件和小体积的短周期室3.实现了ALD机构(行波法)4.小脚印全集成工艺模块5.过程控制方便，供气线路长度小。应用尺寸：370*470mm,730*920mm,1500*1850mm....

微型薄膜成型设备 　　DSM Xplore新近拥有专利的创新开发产品是微型薄膜成型设备。结合我们的微型混炼机，可进行若干克原料的流涎膜制造。这样，原料研制的时间大大缩短，也只需相当少的消耗费用。典型薄膜的制备可在很短的时间内完成，与传统薄膜研制过程相比仅使用了一小部分的原料。当只有少量原料或使用像纳米碳管，活化的药物成分等昂贵的添加剂时，微型薄膜成型设备尤其实用。连续喂料工具由可固定的给料筒和连续喂料螺杆组成，其特定的几何构造可以轻松的实现自动喂料，因此现在可得到极长的薄膜样品（连续挤出）。 实例薄膜 　　微型薄膜成型设备能够制备流涎膜与铸单，集成的&ldquo 气刀&rdquo 可加工薄膜达30-35mm。薄膜实际生产速率为每分钟100-5000mm原料并且牵引单元可以1mm/min的速率间隔进行调节。提升缠绕单元（收集单元）是扭矩控制的，其直径随测试的进行而增大，并且也可以1N/mm的间隔进行调节。结合我们新一代的可通过调节口模压力来控制流量的微型混合机，DSM Xplore使客户能够生产出渐次的薄膜厚度，而无需使用齿轮泵。最新结果显示薄如5&mu m的薄膜非常容易制得，SEM图片同时显示其上并无孔洞。 技术规格： 　&bull 完全尺寸：43× 16× 25cm 　&bull 重量：约10kg 　&bull 2个卷筒提升机 　　　速度控制：100~5000mm/min 　　　扭矩控制：230个可调节的1N/mm间隔 　&bull 薄膜口模：宽35mm厚度在0.1~0.6mm之间 　&bull 控制器：带集成操作显示屏的控制箱 　&bull 电压供应：220~240V 交流电，或根据需要 选项： 　&bull 定制裂缝口模 　　　限定厚度 　　　限定表面抛光 　&bull 连续喂料工具： 　　　冷却加料斗 　　　连续喂料螺杆 　为拉伸附带的卷筒提升机

薄膜太阳电池QE测试专用系统 SCS10-Film适用范围： 非晶硅薄膜电池、CIGS 薄膜电池、CdTe 薄膜电池、非晶/ 微晶双结薄膜电池、非晶/ 微晶/微晶锗硅三结薄膜电池等光谱范围：300~1700nm电池结构：单结、多结太阳电池可测参数：光谱响应度、外量子效率、反射率、透射率、内量子效率、短路电流密度可测样品面积：300mm×300mm● 集成一体化turnkey系统● 大面积薄膜电池测试专用● 超大样品室，光纤传导● 背面电极快速连接● 反射率、内外量子效率同步测试● 快速高效售后服务 SCS10-Film系统规格 光源150W高稳定性氙灯，光学稳定度≤0.4%，光纤传导测试光斑尺寸2mm~10mm可调单色仪三光栅DSP扫描单色仪波长范围300nm~1700nm波长准确度±0.2nm（@1200g/mm,500nm)扫描间隔最小可达0.1nm，默认设置10nm输出波长带宽0.1nm~10nm可调，默认设置5nm多级光谱滤除装置根据波长自动切换，消除多级光谱的影响光调制频率4~400Hz标准探测器进口Si光电探测器，含校正测试报告数据采集装置灵敏度直流模式：100nA；交流模式：2nV测量重复精度0.6%( 400~1000nm范围0.3%)测量速度单次光谱响应扫描 1min 完整流程扫描 5min(扫描间隔10nm）样品加持探针样品台，156mm×156mm，特殊样品台可定制*Mapping扫描速度：20点/s（@0.5mm step）分辨率：0.5mm仪器尺寸主机：；样品室：控制机柜：800mm×600mm×1300mm计算机及软件系统含工控计算机、显示器、鼠标、键盘，正版windows 7操作系统，系统软件安装光盘

【仪器介绍】SGC-10型薄膜测厚仪，适用于介质，半导体，薄膜滤光片和液晶等薄膜和涂层的厚度测量，是天津港东与美国new-span公司合作研制的，采用new-span公司先进的薄膜测厚技术，基于白光干涉的原理来测定薄膜的厚度和光学常数（折射率n，消光系数k）。通过分析薄膜表面的反射光和薄膜与基底界面的反射光相干形成的反射谱，用软件来拟合运算，得到单层或多层膜系各层的厚度d，折射率n，消光系数k。设备关键部件均为国外进口，也可根据客户需要整机进口。【产品配置及参数】编号名称规格1厚度范围20nm-50um（只测膜厚），100nm-10um（同时测量膜厚和光学常数n，k）根据薄膜材料的种类，其范围有所不同。2准确度1nm或0.5%3重复性0.1nm4波长范围380nm-1000nm5可测层数1-4层6样品尺寸样品镀膜区直径1.2mm7测量速度5s-60s8光斑直径1.2mm-10mm可调9样品台290mm*160mm10光源长寿命溴钨灯（2000h）11光纤纯石英宽光谱光纤12探测器进口光纤光谱仪13电源AC100V-240V，50HZ-60HZ14重量18kg15尺寸300mm*300mm*350mm 【强大的软件功能】界面友好，操作简便，用户点击几下鼠标就可以完成测量。便捷快速的保存、读取测量得到的反射谱数据数据处理功能强大，可同时测量多达四层的薄膜的反射率数据。一次测量即可得到四层薄膜分别的厚度和光学常数等数据。材料库中包含了大量常规的材料的光学常数数据。用户可以非常方便地自行扩充材料数据库。 【产品功能适用性】该仪器适用于多种介质，半导体，薄膜滤光片和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。 【典型的薄膜材料】SiO2、CaF2、MgF、光刻胶、多晶硅、非晶硅、SiNx、TiO2、聚酰亚胺、高分子膜。 【典型的基底材料】SiGe、GaAs、ZnS、ZnSe、铝丙烯酸、蓝宝石、玻璃、聚碳酸酯、聚合物、石英。 仪器具有开放性设计，仪器的光纤探头可很方便地取出，通过仪器附带的光纤适配器（如图所示）连接到带C-mount适用于微区（10μm，与显微镜放大率有关）薄膜厚度的显微镜（显微镜需另配），就可以使本测量仪测量。

薄膜的光学特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射测量系统可以用来进行10nm~250µ m的膜厚分析测量，对单层膜的分辨率为0.1nm。根据测量软件的不同，可以分析单层或多层膜厚。产品特点 1、可分析单层或多层薄膜2、分辨率达0.1nm3、适合于在线监测操作理论最常用的两种测量薄膜的特性的方法为光学反射和透射测量、椭圆光度法测量。NanoCalc利用反射原理进行膜厚测量。查找n和k值可以进行多达三层的薄膜测量，薄膜和基体测量可以是金属、电介质、无定形材料或硅晶等。NanoCalc软件包含了大多数材料的n和k值数据库，用户也可以自己添加和编辑。应用NanoCalc薄膜反射材料系统适合于在线膜厚和去除率测量，包括氧化层、中氮化硅薄膜、感光胶片及其它类型的薄膜。NanoCalc也可测量在钢、铝、铜、陶瓷、塑料等物质上的抗反射涂层、抗磨涂层等。

小型薄膜精馏塔负压刮膜式精馏装置产品特征： 与物料接触材质：高硼硅3.3玻璃塔釜容积：1-200L,可定制其他；塔高：0.5-2m，可定制其他高度最高加热温度：300℃最低可操作真空：≤0.1mbar；技术参数：型号AYAN-BJ60AYAN-BJ80AYAN-BJ100AYAN-BJ150AYAN-BJ200薄膜部分原料罐0.5L加料罐1L加料罐1L加料罐2L加料罐3L加料罐进料阀门控制，夹套保温蒸发器刮板成膜，密封良好，拥有耐腐蚀等特性精馏部分塔柱长度（m）依工艺设定塔柱伴热方式多种选择精馏塔头冷凝器依处理量设定回流比控制是配套部分电控箱显示温度和真空度等多功能集成加热系统高温循环冷凝系统低温冷却真空系统真空系统小型薄膜精馏塔负压刮膜式精馏装置处理废酸的方法用接连处理甲醇低压羰基法的废酸的方法，它包括以下过程：（1）在废酸质料中参加以质量计占废酸含量百分之零点五到百分之二的去离子水，与废酸充沛混合。（2）将混合去离子水的废酸通入刮板薄膜蒸发器进行蒸腾处理。（3）将贮槽中的液体送入精馏塔进行精馏，在精馏塔塔顶馏出质量含量大于百分之九十的粗醋酸，回来醋酸出产设备进行进一步精馏，有醋酸，在精馏塔塔釜别离出深色丙酸，将深色丙酸送入二精馏塔精馏，在二精馏塔塔顶馏出质量含量百分之九十九点五以上的无色丙酸。

DSL5主要组成为带有外置冷凝器的薄膜蒸发器，一般工作压力为1 mbar。DSL5系列的选配模块与KDL5系列相同，因此可以实现薄膜蒸发与短程蒸馏(分子蒸馏)二级或更多级联合操作。主要应用于物料进入真空柱前大量溶剂及其它低沸点物质的脱除。技术参数:材质：硼硅玻璃3.3蒸发面积：约6 dm2进料量*:约 1.5 - 4.0 kg/h*成膜系统:自清洁辊式成膜系统蒸发温度：高至250 ° C操作压力*:低至 1 mbar加热:油浴加热* 视不同物料有所不同

具备三维翘曲（平整度）、薄膜应力、纳米轮廓、宏观缺陷成像等检测功能，适用于半导体晶圆生产、半导体制程工艺开发、玻璃及陶瓷晶圆生产.优势对各种晶圆的表面进行一次性非接触全口径均匀采样测量简单、准确、快速、可重复的测量方式，多功能强大的附加模块：晶圆加热循环模块（高达400度）；表面粗糙度测量模块；粗糙表面晶圆平整度测量模块适用对象2 寸- 8 寸/12 寸抛光晶圆（硅、砷化镓、碳化硅等）、图形化晶圆、键合晶圆、封装晶圆等；液晶基板玻璃；各类薄膜工艺处理的表面适用领域半导体及玻璃晶圆的生产和质量检查半导体薄膜工艺的研究与开发半导体制程和封装减薄工艺的过程控制和故障分析检测原理晶圆制程中会在晶圆表面反复沉积薄膜，基板与薄膜材料特性的差异导致晶圆翘曲，翘曲和薄膜应力会对工艺良率产生重要影响。采用结构光反射成像方法测量晶圆的三维翘曲分布，通过翘曲曲率半径测量来推算薄膜应力分布，具有非接触、免机械扫描和高采样率特点，12英寸晶圆全口径测量时间低于30s。通过Stoney公式及相关模型计算晶圆应力分布。三维测量分析软件易用性强，具有丰富分析功能，包括：三维翘曲图、晶圆翘曲参数统计（BOW，WARP，GFIR，SFLR等），薄膜应力及分布，模拟加热循环，曲率，各种多项式拟合、空间滤波和各类数据导出。

塑料薄膜拉力机在材料科学和制造业领域，电子拉力机已成为塑料薄膜和塑料拉伸性能、力学性能、抗拉强度以及热合强度检测的重要工具。这种高精度的测试设备为制造业提供了可靠的方法来评估材料的性能，从而确保产品的质量和安全性。 电子拉力机采用先进的电子测试技术，通过高精度的传感器和测量系统，对塑料薄膜和塑料进行拉伸性能的检测。在测试过程中，试样被固定在测试机的两个夹具之间，然后通过控制系统以一定的速度进行拉伸。电子拉力机实时记录试样在拉伸过程中的力和位移数据，从而获得材料的拉伸曲线和相关性能参数。 电子拉力机不仅可以测量拉伸性能，还可以评估材料的力学性能。通过改变测试条件，可以研究这些因素对材料性能的影响。此外，电子拉力机还可以进行疲劳测试，模拟材料在实际使用过程中受到的循环载荷作用，以评估材料的耐久性。 抗拉强度是衡量材料在拉伸过程中所能承受的最大拉伸力的指标。电子拉力机通过拉伸试样至断裂，可以准确地测量材料的抗拉强度。同时，还可以分析试样断裂后的断口形貌，了解材料的断裂机制和性能退化。 热合强度是塑料薄膜和塑料制品的一个重要指标，反映了材料在加工和使用过程中对于热和压力的耐受能力。电子拉力机通过测试热合区域的拉伸强度，可以评估塑料薄膜和塑料制品的热合质量和耐久性。此外，通过对比不同批次或不同材料的热合强度，可以优化生产工艺，提高产品质量。 技术参数 规 格 50N 500N 1500N 2000N(可选其一或多支) 精 度 1级 试验速度 1-500mm/min无级调速 位移误差 ±2% 试验宽度 50 mm（其他夹具可定制）行 程 650mm 主机外形尺寸 450mm×300mm×1350mm(长宽高) 重 量 78kg 环境温度 23±2℃ 相对湿度 80%，无凝露 工作电源 220V 50Hz 塑料薄膜拉力机此为广告

1. 产品概述SENTECH SE 500adv结合了椭圆偏振法和反射法，消除了测量透明薄膜层厚的模糊性。它将可测量的厚度扩展到 25 μm。因此，SE 500adv 扩展了标准激光椭偏仪 SE 400adv 的功能，特别适用于分析较厚的电介质、有机材料、光刻胶、硅和多晶硅薄膜。2. 主要功能与优势明确的厚度测定椭圆偏振法和反射法的结合允许通过自动识别循环厚度周期来快速、明确地确定透明薄膜的厚度。大的测量范围激光椭偏仪和反射仪的结合将透明薄膜的厚度范围扩展到 25 μm 或更多，具体取决于所选的光度计选项。突破激光椭圆偏振仪的限多角度手动测角仪具有优秀的性能和角度精度，可以测量单片和层叠的折射率、消光系数和膜厚。 3. 灵活性和模块化SENTECH SE 500adv 可用作激光椭偏仪、膜厚探头和 CER 椭偏仪。因此，它提供了标准激光椭偏仪无法达到的大灵活性。作为椭圆仪操作，可以执行单角度和多角度测量。当作为膜厚探头操作时，透明或弱吸收膜的厚度是在正常入射下测量的。SE 500adv 中的椭圆偏振法和反射仪 （CER） 组合包括椭偏仪光学元件、测角仪、组合反射测量头和自动准直望远镜、样品平台、氦氖激光源、激光检测单元和光度计。

1. 产品概述：Super-SPECTROS&trade 200 是一套先进的有机薄膜沉积和金属化系统，针对有机材料沉积进行了优化。它能够实现精确的薄膜沉积控制，可沉积多种材料，如氧化硅、氮化硅、氧氮化硅、非晶硅等硅基薄膜，以及各种金属薄膜，在半导体、光电等领域有广泛应用。 2. 设备应用： 半导体领域：用于半导体芯片制造过程中的薄膜沉积，如制作晶体管的栅极绝缘层、金属互连层等，对提高芯片性能和集成度至关重要。例如在先进的逻辑芯片制造中，精确沉积的绝缘薄膜可确保晶体管之间的电隔离，金属薄膜则用于实现芯片内的电路连接。 光电领域：在有机发光二极管（OLED）制造中，可沉积有机发光材料和电极材料等，对于实现高质量的发光显示效果意义重大。比如在 OLED 屏幕生产中，通过该系统精确控制有机薄膜的沉积，能保证发光层的均匀性和稳定性，提升显示品质。 科研领域：为高校和科研机构的材料研究、新型器件研发等提供了强大的实验手段，助力科研人员探索新的材料体系和器件结构，推动相关领域的技术创新和发展。3. 设备特点： 多源配置灵活：多达 12 个 LTE 信号源，并且有 1cc、10cc 或 35cc 等不同容量可供选择，还配备多达 4 个热蒸发源，可满足多种材料和复杂结构的沉积需求，能实现对不同材料的精确控制沉积，为制备多功能、高性能的薄膜器件提供了基础。 精确的沉积控制：具有自动基板、掩膜存储和更换功能，以及基板快门，可确保在沉积过程中对基板的精准操作和保护，实现高质量、均匀性良好的薄膜沉积。例如在制备高精度的光学薄膜时，能保证薄膜厚度和光学性能的一致性。 工艺参数监控与调节：通过高温计端口实时监测沉积过程中的温度等参数，结合 KJLCEKLIPSE&trade 控制软件，实现基于配方的基于 PC 的系统控制，且速率控制分辨率可达 0.05 &angst /s，能够精确控制薄膜的生长速率和厚度等参数，满足不同应用场景对薄膜性能的严格要求。 高效的真空系统：采用低温泵高真空泵和 2 位闸阀，确保系统具有高真空度环境，有效减少杂质和气体对沉积过程的影响，提高薄膜的质量和纯度。例如在制备对纯度要求极高的半导体薄膜时，高真空环境可保证薄膜的电学性能和稳定性。 创新的双楔工具：KJC 双楔工具可将单个基材转换为多个基材，而无需打破真空或进行复杂的掩膜操作。这种方式减少了昂贵且长时间的研究时间，允许在几天而不是几个月内完成大量的基材变化。此外，结合基板的旋转 / 取向操作，可实现多种材料和厚度的组合沉积，极大地拓展了系统的应用灵活性和功能性。 4. 产品参数： 晶圆尺寸：可支持多种规格晶圆，具体支持情况未详细说明，但通常能够满足常见的半导体晶圆尺寸需求。 源的类型和数量：多达 12 个 LTE 信号源，有不同容量选择；多达 4 个热蒸发源。 沉积速率控制：速率控制分辨率为 0.05 &angst /s。 真空系统：配备低温泵高真空泵，确保高真空度环境；采用 2 位闸阀。 温度监测与控制：具有高温计端口，可实时监测温度，但具体的温度控制范围未给出。 软件控制系统：采用 KJLCEKLIPSE&trade 控制软件，基于配方的基于 PC 的系统控制，方便用户进行参数设置和工艺管理。 双楔工具特性：可实现单个基材到多个基材的转换，且能与基板旋转 / 取向结合，实现多种复杂的沉积组合，但关于具体的尺寸、角度等参数未详细说明。 实际参数可能会因设备的具体配置和定制需求而有所不同。

薄膜拉伸强度试验仪拉伸强度试验仪是一种常用的检测设备，用于评估各种材料的拉伸性能和强度。这些材料包括薄膜、薄片等。 拉伸强度试验仪主要通过拉伸试样来检测材料的性能。试样被固定在测试机的两个夹具之间，然后受到一定的拉伸力。通过高精度的传感器和测量系统，设备能够实时记录试样在拉伸过程中的力和位移数据。这些数据用于评估材料的弹性、韧性、强度和耐久性等关键性能指标。 拉伸强度试验仪可以检测各种材料的拉伸强度、伸长率和撕裂强度等性能。对于薄膜和薄片，该设备可以评估其在拉伸过程中承受的最大拉伸力，以及断裂时的强度和韧性。同时，通过测试材料的伸长率和撕裂强度，可以了解材料的弹性和韧性，以及在受到外力作用下的耐久性和稳定性。 薄片裤型撕裂测试是拉伸强度测试仪的一种特殊应用。在薄片材料的生产和使用过程中，裤型撕裂是一种常见的缺陷。通过使用拉伸强度测试仪进行薄片裤型撕裂测试，可以评估材料的抗撕裂性能，以及是否存在潜在的缺陷或质量问题。这种测试有助于提高产品的可靠性和安全性，并降低生产成本和风险。 通过使用拉伸强度试验仪，我们可以更好地了解材料的性能特点，为其在实际应用中的可靠性提供有力保障。同时，该设备还可以帮助我们优化生产工艺和降低生产成本，提高工业生产的效率和品质。随着材料科学和制造业的不断发展和进步，为推动各行业的创新和发展提供重要支持。 技术参数规 格 500N 50N 精 度 0.5级 试验速度 1-500mm/min（无极变速） 位移精度 ±0.5% 试验宽度 30 mm（其他夹具可定制） 行 程 1000mm 外形尺寸 450mm(L)×450mm(B)×1510mm(H) 重 量 70kg 工作温度 23±2℃ 相对湿度 80%,无凝露 工作电源 220V 50Hz 薄膜拉伸强度试验仪此为广告

薄膜拉伸强度试验机拉伸强度测试仪是一种常用的检测设备，用于评估各种材料的拉伸性能和强度。这些材料包括薄膜、薄片等。 拉伸强度测试仪主要通过拉伸试样来检测材料的性能。试样被固定在测试机的两个夹具之间，然后受到一定的拉伸力。通过高精度的传感器和测量系统，设备能够实时记录试样在拉伸过程中的力和位移数据。这些数据用于评估材料的弹性、韧性、强度和耐久性等关键性能指标。 拉伸强度测试仪可以检测各种材料的拉伸强度、伸长率和撕裂强度等性能。对于薄膜和薄片，该设备可以评估其在拉伸过程中承受的最大拉伸力，以及断裂时的强度和韧性。同时，通过测试材料的伸长率和撕裂强度，可以了解材料的弹性和韧性，以及在受到外力作用下的耐久性和稳定性。 薄片裤型撕裂测试是拉伸强度测试仪的一种特殊应用。在薄片材料的生产和使用过程中，裤型撕裂是一种常见的缺陷。通过使用拉伸强度测试仪进行薄片裤型撕裂测试，可以评估材料的抗撕裂性能，以及是否存在潜在的缺陷或质量问题。这种测试有助于提高产品的可靠性和安全性，并降低生产成本和风险。 通过使用拉伸强度测试仪，我们可以更好地了解材料的性能特点，为其在实际应用中的可靠性提供有力保障。同时，该设备还可以帮助我们优化生产工艺和降低生产成本，提高工业生产的效率和品质。随着材料科学和制造业的不断发展和进步，为推动各行业的创新和发展提供重要支持。 技术参数规 格 500N 50N 精 度 0.5级 试验速度 1-500mm/min（无极变速） 位移精度 ±0.5% 试验宽度 30 mm（其他夹具可定制） 行 程 1000mm 外形尺寸 450mm(L)×450mm(B)×1510mm(H) 重 量 70kg 工作温度 23±2℃ 相对湿度 80%,无凝露 工作电源 220V 50Hz 薄膜拉伸强度试验机此为广告

太阳能电池量子效率测试系统——SolarCellScan100系列系统功能系统可以实现测试太阳电池的：光谱响应度、外量子效率、内量子效率、反射率、透射率、短路电流密度、量子效率Mapping、反射率Mapping。系统适用范围1、适用于各种材料的太阳电池包括：单晶硅Si、多晶硅mc-Si、非晶硅α-Si、砷化镓GaAs、镓铟磷GaInP、磷化铟InP、锗Ge、碲化镉CdTe、铜铟硒CIS、铜铟镓硒CIGS、染料敏化DSSC、有机太阳电池Organic Solar Cell、聚合物太阳电池Polymer Solar Cell 等2、适用于多种结构的太阳电池包括：单结Single junction、多结multi junction、异质结HIT、薄膜thin film、高聚光HPV 等不同材料或不同结构的太阳电池，在测试过程中会有细节上的差异。比如说：有机太阳电池的测试范围主要集中在可见光波段，而GaAs 太阳电池的测试范围则很可能扩展到红外1.4um 甚至更长波段；单晶硅电池通常需要测内量子效率，而染料敏化太阳电池通常只需要测外量子效率；有机太阳电池测试通常不需要加偏置光，而多结非晶硅薄膜电池则需要加偏置光……SolarCellScan100 通过主机与各种附件的搭配，可以实现几乎所有种类电池的测试。这种模块化搭配的方式，适合科研用户建立测试平台。 选型列表：型号名称和说明主机SCS1011太阳能电池量子效率测量系统，含直流、交流测量模式，氙灯光源SCS1012太阳能电池量子效率测量系统，含直流测量模式，氙灯光源SCS1013太阳能电池量子效率测量系统，含直流、交流测量模式，溴钨灯光源SCS1014太阳能电池量子效率测量系统，含直流测量模式，溴钨灯光源SCS1015太阳能电池量子效率测量系统，含直流、交流测量模式，氙灯溴钨灯双光源SCS1016太阳能电池量子效率测量系统，含直流测量模式，氙灯溴钨灯双光源附件QE-A1偏置光附件，150W氙灯QE-A2偏置光附件，50W溴钨灯QE-B1标准太阳电池（单晶硅）QE-B1-SP标准太阳电池QE-B2标准铟镓砷探测器(800-1700nm，含标定证书）QE-B3标准硅探测器(300-1100nm，含标定证书)QE-B4标准铟镓砷探测器(800-2500nm，含标定证书）QE-B7透过率测试附件(300-1100nm)QE-B8透过率测试附件(800-1700nm)QE-BVS偏置电压源（±10V可调）QE-C2漫反射率测试附件（300-1700nm）QE-C7标准漫反射板QE-D1二维电动调整台QE-D2手动三维调整台QE-IV-Convertor短路电流放大器专用机型介绍系统功能部分太阳能应用方向的研究人员需要测量量子效率，但本身却不是光电测量方面的行家，卓立汉光在测量平台SolarCellScan100的基础上，进一步开发出以下几套极具针对性的专用机型配置，方便客户使用。以下的专用配置也适合产业化的工业客户使用。1、通用型太阳电池QE测试系统SCS100-Std系统特点符合IEC60904-8国际标准；测量结果高重复性；内外量子效率测量功能；快速导入参数功能；适用于科研级别小样品测试适用范围： 晶体硅电池、非晶硅薄膜电池、染料敏化电池、CdTe薄膜电池、CIGS薄膜电池等； 光谱范围： 300~1100nm； 电池结构： 单结太阳电池； 可测参数： 光谱响应度、外量子效率、内量子效率、反射率、短路电流密度； 可测样品面积： 30mm×30mm 2.通用型太阳电池QE测试系统SCS100-Exp系统特点符合IEC60904-8国际标准；测量结果高重复性；高度自动化测量；双光源设计；红外光谱范围扩展；薄膜透过率测试功能；小面积、大面积样品测试均适用；适用范围： 晶体硅电池、非晶硅薄膜电池、染料敏化电池、有机薄膜电池、CdTe薄膜电池、CIGS薄膜电池、三结砷化镓GaAs电池、非晶/微晶薄膜电池等； 光谱范围： 300~1700nm； 电池结构： 单结、多结太阳电池； 可测参数： 光谱响应度、外量子效率、内量子效率、反射率、透射率、短路电流密度； 可测样品面积： 156mm×156mm以下 3.晶体硅太阳电池测试专用系统 SCS100-Silicon系统特点集成一体化turnkey系统晶体硅电池测试专用内外量子效率测试快速Mapping扫描功能快速高效售后服务适用范围： 单晶硅电池、多晶硅电池 光谱范围： 300~1100nm 电池结构： 单结太阳电池 可测参数： 光谱响应度、外量子效率、反射率、内量子效率、短路电流密度、*量子效率Mapping、*反射率mapping 可测样品面积： 156mm×156mm 4.薄膜太阳电池QE测试专用系统 SCS100-Film系统特点集成一体化turnkey系统；大面积薄膜电池测试专用；超大样品室，光纤传导；背面电极快速连接；反射率、内外量子效率同步测试；快速高效售后服务。适用范围： 非晶硅薄膜电池、CIGS薄膜电池、CdTe薄膜电池、非晶/微晶双结薄膜电池、非晶/微晶/微晶锗硅三结薄膜电池等； 光谱范围： 300~1700nm ； 电池结构： 单结、多结太阳电池； 可测参数： 光谱响应度、外量子效率、反射率、透射率、内量子效率、短路电流密度； 可测样品面积： 300mm×300mm 5.光电化学太阳电池测试专用系统 SCS100-PEC系统特点光电化学类太阳电池专用配置方案；直流测量模式；低杂散光暗箱；电解池样品测试附件；经济型价格适用范围： 染料敏化太阳电池； 光谱范围： 300~1100nm； 电池结构： 光电化学相关的纳米晶太阳电池； 可测参数： IPCE； 可测样品面积： 50mm×50mm

广州标际所生产的薄膜热封仪，塑料包装热封仪适用于包装材料的热封温度，热封时间，热封压力，热封速度的检测，为了您更好了解广州标际以及同行此类仪器性能与真实价格，广州标际人建议您来电咨询020-29136979 薄膜热封仪，塑料包装热封仪技术参数：热封温度：室温~300℃温控精度：± 0.1℃&zwnj 热封时间：0.01s~99.99h热封压力： 0.05~0.8Mpa热封面：300× 5.5mm光滑（下封棒带硅垫）可根据客户要求定制各种规格热封加热形式：双加热自动手动两种模式，气缸外置、外形尺寸：700(L)mm× 400(B)mm× 540(H)mm电 &zwnj 源：AC 220V，&zwnj 50Hz薄膜热封仪，塑料包装热封仪功能：准确测定塑料薄膜基材、软包装复合膜、涂布纸、铝箔及其它热封复合的热封温度范围、热封强度、适宜的热封装速度、热封压力等。符合QB/T 2358-1998、ASTM F 2029-2000、 YBB 00122003 。薄膜热封仪，塑料包装热封仪产品特点：1、 根据不同材质材料找到最合适热封温度，有助于生产提高效率。2、 数显表上时时显示时间、压力、温度。3、 自动手动两种操作模式，性能稳定，高精度。4、 专业外观设计，气缸外置、操作简单。配置：主机一台；上下温控表各一支；压力表一支；时间继电器一支；5.5mm热封刀一副。（其他规格可选购）