http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/07/201407021158_503859_2906572_3.bmp我想要利用扫描电镜观察植物根的横截面，由于别叫特殊，根上要附着着土壤颗粒的那种样品。不知道怎么处理，要是利用液体一系列干燥的话会不会就把根表面的土壤颗粒给冲洗掉或者直接成了泥巴了。一头雾水，我上张图，是老外做的，具体怎么弄得我也不清楚，有没有知道的麻烦给讲一下，这样的样品该怎么处理？？
还没做过电镜，看文献时碰到这样的问题，有的高分辨截面图，为什么还可以标不同的g方向啊，截面不就是截面吗，就像一张纸的正面。不知道时怎么回事，请大家知道一下，谢谢了。 另外附件中的图的g方向是垂直的，但是箭头也是垂直的。相当于一个方向，怎么拍的图不一样。
[font=&]麻烦请问一下各位大神，现在是我在硅片上组装二氧化硅微球，上面镀一层膜，我想测这个核壳结构的壳厚度目前现在想着测硅片截面，有什么方法处理硅片，可以测得呢？[/font][font=&]之前想的是把做好的硅片切开看横截面，但是截面不平整，看到的截面上核壳结构数量很少，不连续。[/font][font=&][img=,690,279]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/02/202302202023129297_7143_5624619_3.jpg!w690x279.jpg[/img][/font]
有人做过截面样品吗？一般是用什么胶粘呢？我的是涂层样品，想做截面
各位老师同学好！最近合成了一种一维无机纳米材料，希望能够获得材料的截面信息，于是去做了超薄切片。照过了电镜发现无法确定哪一处是横截面！希望能指导指导！
以前做过基底是氧化锆的涂层的截面样品，现在做的样品基底是Al，因为金属Al非常软，延展性很好，抛光磨的过程中发现两个对粘的表面容易乌到一块，两个表面中间的gap也越来越大。不知道在座没有人做过比较软的金属的TEM截面样品，帮忙提出一点建议，不尽感激！
光纤横截面和纵截面的扫描电镜观察光纤线路通常是纯玻璃的光学制品，可远距离传输数字信息，广泛应用于电话系统、有线电视系统或互联网宽带的数据传输。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/11/201311091259_476101_1804341_3.jpg光纤的结构由纤芯、覆层和缓冲涂层等部分组成，其中纤芯是光纤的细玻璃中心，光在此传播，覆层是覆盖纤芯的外部光学材料，可将光反射到纤芯，缓冲涂层的作用是保护光纤免受损坏和潮湿。光纤有多种规格，本文实验中的多模光纤纤芯直径50微米左右，可用于传输来自发光二极管(LED)的红外线（波长=850到1300纳米）。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/11/201311091259_476102_1804341_3.jpg http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/11/201311091300_476103_1804341_3.gif本文中的光纤样品没有安装纤芯，纯玻璃材质，圆柱形中空结构，外径大约350微米，内径大约50微米。样品提供者想用扫描电镜观察玻璃光纤的中空位置，将样品制备成具有平整观察区域的横截面和纵截面。尝试用外力掰断玻璃光纤，截面凹凸不平边缘破损，无法有效观察。工欲善其事，必先利其器。实验室正好来了一台徕卡精研一体机TXP和一台徕卡TIC3x三离子束切割仪。徕卡精研一体机TXP是一款功能强大的小机床，具有定点切割、铣、研磨、抛光和为TEM取样等功能，但考虑到这个玻璃光纤样品在机械处理过程中会造成中空的孔内壁的细微机械损伤和外物污染，故选用徕卡TIC3x三离子束切割仪来完成该样品制备工作。首先，制备一个相对简单的玻璃光纤横截面。将光纤样品用锋利单面刀片切断，切断之后光纤断面在光学体视显微镜下看到是高低起伏很大的（可惜没将图像保存下来）。然后光纤将用导电碳胶和导电胶带粘到盖玻片（用切割好的单面抛光硅片也可）的边缘上，在体视镜下观察操作，确保光纤是垂直向上的，露出大概70微米的切割余量，选择离子枪加速电压7kV，电流3.2mA。使用钨灯丝扫描电镜实验低真空模式不喷金观察，获得的横截面图像如下。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/11/201311091308_476104_1804341_3.jpg图片1 中空光纤样品横截面的低倍SEM图像http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/11/201311091308_476105_1804341_3.jpg图片2 中空光纤样品横截面的边缘区域1200倍图像http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/11/201311091309_476106_1804341_3.jpg图片3 中空光纤样品横截面的边缘区域2000倍图像http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/11/201311091309_476107_1804341_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/11/201311091309_476108_1804341_3.jpg图片5 中空光纤样品横截面的内壁2500倍图像http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/11/201311091310_476109_1804341_3.jpg图片6 中空光纤样品横截面的内壁6000倍图像再制备一个玻璃光纤纵剖面样品。同样将光纤样品用锋利单面刀片切断，徕卡TIC3x截面切割方式的加工宽度通常不会超过5mm，截成长度大概8mm的小段即可。另外，采用离子切割仪的每次加工余量通常设定为50至100微米，而文中玻璃光纤的外径是350微米左右，如要准确切割至中孔的中心，需要切掉175微米左右，因此需要分两次加工，每次70至80微米。玻璃光纤纵剖面样品的制备两个难点，第一是将小段光纤用导电胶带和液体导电胶固定在切割平整的单面抛光单晶硅片的边缘上，需要确保光纤中孔中轴线与三离子枪的水平面平行，否则不能完整切割出纵剖面；第二是在第1次离子切割加工完之后，需要判断加工出的切割平面与光纤中孔中轴线的距离，准确预留出第2次离子切割加工的余量。好在徕卡TIC3x配置一个高品质的体视镜，并且在目镜中有显微标尺，样品载物台在X/Y/Z三个方向上的操作调节都比较方便，最终获得了不错的实验结果。选择离子枪加速电压6.5kV，电流3.0mA。下文的扫描电镜图片是用钨灯丝扫描电镜观察的，样品没喷金前用低真空拍摄背散射电子图像，喷金后拍摄了二次电子图像。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/11/201311091310_476110_1804341_3.jpg图片7 中空光纤样品纵剖面的低倍宏观图像X90http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/11/201311091311_476111_1804341_3.jpg[/
15M高温柱，内径0.25mm毛细管柱横截面:（1）放大200倍，柱头上可能是手汗或者灰尘等物质：[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/10/200910212156_177099_1621482_3.jpg[/img]（2）放大500倍，柱子内壁可能是测试样品后留在里面的杂质：[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/10/200910212156_177100_1621482_3.jpg[/img]（3）放大1000倍，此时，可以很清楚的看到内壁上那层半透明很薄的固定液膜厚了（0.1微米）：[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/10/200910232229_177583_1603804_3.jpg[/img]下面两张图片是有问题色谱柱横截面，放大后能很清晰看出有异物堵塞了大部分管路，并且能清晰地分辨出里面的异物是和柱子的石英管壁熔融在一起的，这样就可以证明柱子是质量问题，并且通过EDS半定量测试，异物的成分与石英管壁成分一致！鉴于此种情况，与供应商联系后并提供此色谱柱横截面图片，当时供应商就更换了一根全新的色谱柱给我们：[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/10/200910212210_177101_1603804_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/10/200910212210_177102_1603804_3.jpg[/img]
横截面积在计算材料的力学性能数据中是个很重要的指标，但在实际操作中，大部分机加制作的试样直径都存在很大的差异。例如：制作直径为6.4的试样，大的地方可能为6.5，而小的地方只有6.3，且呈现锥形样式，那么这个试样是否合格呢，如果合格，横截面积如何计算是准确的呢？
对一些二维六方有序介孔材料，比如SBA-15, 文献上经常提到垂直于电子束方向看到截面，平行于电子束方向看到是端面图，这个在透射上是如何操作实现的，如何倾转？
做薄膜的截面样品，切了很小的，大概3*1*0.5（mm）的小块，对粘。但是对粘的时候要把这么小的两片夹紧，貌似有些难度，不知道大家怎么处理的，请高手指教。
用TM4000电镜观察聚酯膜的截面的异物，很难找到异物点，请问各位有没有什么好办法？
截面样做了好多，离子减薄时中间的缝会扩大，而且膜都被吃光。会不会因为610胶水太多，有没有什么解决办法？对粘时怎么控制胶水呢？之前用少了它会在磨样的时候中间断开甚至切的时候就会分离。。我还有一个已经粘好的样品，还是继续做，但是担心胶还是太厚，可以指导一下怎么判断胶水厚度么？谢谢各位。
为什么分子吸收截面是定值可以查到而原子吸收截面却没有地方查得到呢？而且原子吸收法测浓度每次都要重新测标准曲线，是说原子吸收截面不是定值吗？
麻烦请问各位大神，我想把60微米左右粒径的微球切开看横截面，请问有什么方法可以用呢？我现在想的办法是把微球粘在了双面胶上，然后用剃须刀片切，可以看出来有部分微球是被切开的，但是因为微球被双面胶固定，只能看见微球的侧面，并不能看到微球的内部横截面，请问怎么才可以看横截面呢？谢谢各位大神了，不胜感激
作品链接：光纤横截面和纵截面的扫描电镜观察roadch，这168积分就是你的啦！
用于透射电镜的截面样品，制样时样品对粘没有采用G1胶，而是用AB胶，这样能用来做透射吗？对电镜伤害怎样？谢谢！
想做个金属薄膜截面样片，厚度大概300-500微米，请问对粘后双喷可行否？是否只能采用离子减薄？我这里的离子减薄设备太烂了。
本人 虽下载了 王凤莲 老师的 TEM样品制备技术 的 课件，有了一定收获，但觉得 课件讲的 还不够 详细。由于本人从未接触过电镜，故希望 能看到 更为 详细的 截面样品 制备的 说明。本人的样品是 蓝宝石上外延生长的GaN LED管芯，希望 拍个截面照片 以看到 各个外延层及多量子阱等 结构。
那位老师有丝光棉的纵截面图片，帮忙分享一下，谢谢！
[em0709] [img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=67855]截面样品的制备[/url]
请问什么叫气体的吸收截面啊？
计算截面积应该是什么单位呢，平方米吗？
在20um左右的天然石墨表面上包覆一层（几十至几百纳米）的导电高分子薄膜，如果想看包覆薄膜的厚度应如何制得截面？是用超薄片切片机或离子减薄方法来制备吗？求详解！谢谢！
我做了铝基体的熔敷实验,对试样的纵面和横面做了微区x射线衍射实验,且横截面的时间步长是纵截面的2倍,按理说峰值应该高才对,但却相反,哪位高手给解释一下?在下不胜感激![img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=19423]衍射图谱[/url]
欲作0.5毫米见方的小样品的横截面分析。想用树脂包裹，但怎样保持样品的平面与树脂块外平面的平行是个伤脑筋的事。[em06]
为什么我的截面样品最近好几次看透射电镜发现很脏，为什么呢？大家讨论一下吧
我在华科分析测试中心用SEM拍的生物微结构表面图，但是我要一个较好的截面部分，那里的老师连这个也没给我拍好，真是浪费钱啊，请问武汉哪里可以看TEM的？也包括制样（我有制样方法，只是不会操作），谢谢武汉的专业人士帮忙！
在gb/t228.1-2010中，明确规定了原始横截面积是平均横截面积。在ISO 6892-1：2009 中，是这么写的 The original cross-sectional area, S0 ,is the average cross-sectional area and shall be calculated from the measurements of the appropriate dimensions.照这么理解，用iso标准，应该也是用平均值。但，今天看了理化检验上发表的一篇文章，却是说用ISO做拉伸试验时，用的是最小值。不解。求助各位大虾了~~
以前在此网站上看到过一篇，关于“色谱柱”截面的电镜扫面图，可以清楚地看到色谱柱的内壁情况以及固定相。有谁也看到过这张帖子啊，我现在急需，有的话请告诉一下地址，非常感谢！
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