告依春

随着社会的发展，特种气体不再是只局限于科研单位的研究对象，而是逐渐走向民用化、产业化，人们对特种气体的需求量也越来越大。而高纯的氦气、氖气作为特种气体中少有的几种惰性气体，不仅科研价值极高，而且应用的领域也越来越广泛。涉及到诸如电子、点光源、激光、超导、光导纤维、低温、等离子体显示器、航天及医疗等诸多领域。在氦气和氖气的提纯工艺中，需要使用到多台仪器设备来对主要的监测点进行监测，然后根据结果适时地调整工艺参数，最终生产出优质的高纯氦气和氖气。在氦气和氖气提纯时，在四个主要的监测点上选用了多台色谱分析仪来完成此项工作，此套设备中所采用的分析仪器均来自于爱尔兰AGC公司。1、粗He/Ne除氮后的N2含量分析2、粗He/Ne除氮系统后的He/Ne/H2/N2含量的分析 3、产品He的纯度分析4、产品Ne的纯度分析，包括氖中氦分析

本应用采用456i气相色谱仪多阀系统的PDHID测定高纯气体，符合标准GB/T 40045-2021与GB/T 3634.2的测试要求。

星帆仪器专为高纯铝检测应用定制了特殊的手持激光诱导击穿光谱仪，采用高功率的微型化纳秒激光技术及化学计量学中先进的光谱去噪算法，可以对高纯铝中的微量元素进行精确定量分析，从而可以对高纯铝的纯度做出判别。

阿朗科技ARTUS 10全谱直读光谱仪作为精密尖端的检测设备，在高纯金属分析方面，有着超常的优势。它以超简的前处理要求、稳定的检测性能，超低的检出限、快速的分析速度，解决了各类传统高纯金属检测设备的应用痛点

高纯氩气中微量杂质分析-20201009

高纯氩气中微量杂质分析-20201009

在高纯气体行业或在煤化工、石油化工等行业，对气体纯度要求非常高，普通色谱检测器无法满足要求，本方案选用原装进口Valco公司高灵敏度的氦离子化（PDHID）检测器，采用中心切割与反吹技术，配置具有吹扫保护气路的进样切换阀和进口氦气纯化器，可以实现一次进样检测高纯气体中微量H2、O2（Ar）、N2、CH4、CO、CO2杂质

色谱柱:Agilent Extend C18 250mm x 4.6mm,5um检测波长:245mn 柱温:25℃流 速：1ml/min流动相：甲醇:0.02%磷酸溶液=7 : 93

介绍带有脉冲放电氦离子检测器的气相色谱仪检测高纯气体中的痕量杂质，并通过具体实例对高纯气体中杂质的定量分析时可能遇到的问题进行讨论。关键词 脉冲放电氦离子 高纯氨 痕量杂质 定量分析

高纯硼烷在半导体工艺中是重要的掺杂剂，它的纯度很大程度决定了半导体器件的质量。高纯硼烷的杂质分析一直是电子气的“老大难”。根据半导体工艺的要求，硼烷中的有害杂质主要是指氧、水、一氧化碳、二氧化碳和甲烷等，考虑到提纯方法和制造过程中系统泄漏而造成大气环境中 氧 和 水 对 硼 烷 的 污 染（氧 占 ,!S，水 占!O.S T ,S）。

FDA现公布初步检测牙膏中可能含有的二甘醇（DEG）的薄层色谱（TLC）方法。提供这一筛选方法的目的在于给出一种快速和经济的方式来测试大范围的样品。该TLC程序作为替代方法可检测牙膏中0.1%含量的二甘醇。一旦该方法证实牙膏中含有二甘醇，继而可采用GC-MS等方法来进行验证并获得更精确的结果。GC-MS方法现正为FDA实验室所采用，来对FDA调查部门所收集的牙膏样品中所含有的二甘醇进行含量测定。Kenyon等[1]采用薄层色谱法对牙膏中的二甘醇进行定量检测，这种方法可以从牙膏中检出最低0.1%含量的二甘醇。下面是对原方法中的样品制备及展开步骤进行改进后的方法的简单描述。

iCAP7000 ICPOES 水平观测灵敏度高，通过等离子条件选择，并选择合适的测定谱线并结合基体匹配可抑制了钆基体背景的干扰。在不采用过柱分离基体的情况，配合 ICPMS 测定，可以满足 4N和 5N 的高纯氧化钆中稀土杂质测定的要求。

摘要: 简介了基于中心切割和脱氧法的HE50 型DID 氦离子化放电色谱仪的工作原理和工作条件等参数。武钢氧气公司从实际生产出发, 对色谱仪的气路流程进行了改进, 经过分析试验,建立了一套完整的分析方法。对高纯氮气中杂质含量的测量结果显示, 该分析方法可以满足生产需要, 从而达到准确、快速测量高纯氮气中杂质含量的目的。

二甘醇（EDG）又名二乙二醇醚或者一缩二乙二醇，为无色、无嗅的粘稠液体。二甘醇对人类及动物均具毒性，摄入的二甘醇会引起中枢神经系统的抑制和肝、肾的损伤。近年来，二甘醇除了在牙膏中检出以外，在唇膏等化妆品中也有应用。本实验采用 LabTech AutoClean全自动凝胶净化系统对唇膏提取液进行净化，根据分子排阻色谱原理可有效去除唇膏中的油脂等大分子干扰物质，准确收集二甘醇，氮吹浓缩后，采用气质法对其中二甘醇的含量进行检测，方法简单、快捷，能够很好地去除干扰物对目标物的影响。

氧化铝（Al2O3）是一种白色晶状粉末，是一种无臭、无味、无毒的高硬度、耐高温化合物，熔点为2054℃，沸点为2980℃。粒度均匀的超细氧化铝粉体材料，具有多孔性、高分散性、绝缘性、耐热性等特点。高纯氧化铝按纯度分类，主要分为4N（纯度99.99%）、4N5（纯度99.995%）和5N（纯度99.999%）三个级别。5N级别的高纯氧化铝称为高纯超细氧化铝，通常用于锂离子电池、催化剂载体、透明陶瓷等领域。下面，我们就来探讨高纯超细氧化铝在锂离子电池行业中的应用。

高纯金属（合金）的分析常采用ICP-MS等手段，需要破坏样品，处理复杂，对前处理工艺要求较高。北京安科慧生自主研发的高灵敏度X射线荧光光谱仪（HS XRF）能够胜任分析2N-5N的高纯金属以及高纯合金；先进的快速基本参数法，即使在欠缺标准样品情况下，也可对杂质元素准确定量。

：针对高纯氩气中存在着微量氮难以分析的问题，采用脉冲放电氦离子检测器气相色谱法(简称PDHID—Gc)测定氩气中微量氮。该方法采用六通阀进样，检测器温度250 cI二，高纯氦气做载气，氮浓度在5 p．mo1]mol一50 p~nol／mol时，标准曲线线性良好，测定了氩气中微量氮气体标准物质GBW 06309，结果与标准值基本一致，表明该方法操作简便、准确度高。关键词：气相色谱；氩

SUPEC 7000测定高纯钽中6种金属元素含量，通过方法检出限、加标回收率、精密度验证仪器性能；实验结果表明：元素检出限在0.002~0.353 ?g/Kg之间，方法精密度（n=5）2.54%~6.77%之间，加标回收率91.6%~106.5%之间；该方法检出限低、重现性好、准确度高，满足高纯钽检测需求。

色谱柱：Inertsil 0DS-3 (4.6 x 150 mm, 5um)流动相：甲醇- 0.02%磷酸溶液(7:93)柱温：35℃检测波长：245 nm流速：1.0 mL/min进样量：10ul

以竹子为原料，在70％～90％的 1,4-丁二醇 水溶液中添加少量 助剂，并在180～200 cc 条件下反应30～90 min，制备得到竹子纸浆纤维和高沸醇木质素高沸醇溶剂(HBS )法制得的竹子纤维经进一步改性可用于造纸或加工成其他纤维素产品，高沸醇木质素较好地保持了木质素的化学活性，灰分含量低于小质素磺酸盐，在材料科学与工程领域有潜在的应用前景高沸醇溶剂1,4-丁二醇经回收处理可以循环使用。

微量杂质钨和钒的含量直接影响高纯金属的物理和化学性能。常用分析方法如萃取法具有分析周期长、环境危害大等特点。本文采用标准基体匹配和电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）测定合金钢中的钨（W）和钒（V）元素。结果表明该方法具有分析快速、准确度高、精密度好和检出限低等特点。

高纯石英砂作为一种重要的新材料，广泛应用于集成电路、半导体芯片、光伏、光纤等高端制造行业中。其中，半导体和光伏是对高纯石英砂需求最大的两个行业。高纯石英砂在光伏行业中主要用于制作石英坩埚，在半导体行业中主要用于晶圆生产中的扩散和刻蚀工艺设备部件。

随着生物制药技术的发展，高细胞密度和高产物滴度的细胞培养已经成为一种趋势，这给传统下游澄清工艺带来了越来越大的负担，使得我们传统深层过滤器载量下降，整体纯化效率降低。

高纯稀土通常是指纯度高于99.99%的稀土金属或其氧化物，具有特殊的物理化学性质, 在高科技领域和军工领域有着广泛的应用。高纯稀土材料中存在的其它稀土杂质元素常会对最终产品的功能产生影响，因此，必须严格控制高纯稀土的杂质。本实验采用iCAPTQ ICPMS测定纯度为99.99999％（6N,行业上通指稀土杂质元素含量）高纯氧化铈中的镨和钆元素杂质。

在气体分析方法中，气相色谱法是应用最为广泛的技术方法，然而，气体中的氧和氩组份，在气相色谱分离中较难分开，往往是以氧和氩的总和（混合峰）表现出来，所以，在工业氢中氧、氩、氮的测定和电子工业用氧中的微量氩、氮的测定方法中都应用了脱氧柱技术，其中401脱氧剂在脱氧容量、脱氧深度（10-9级）及其可反复活化再生使用等优点，已被各气体分析标准方法中确定选用。但是，401脱氧柱的正常反复应用，必须对其进行100℃、200℃、300℃、400℃、450℃的长时间通氢活化处理，这就给分析工作带来不便，往往需要自己搭建一个气路控制系统和购置一个合适的高温炉来处理，而处理时必须将401脱氧柱从进样系统上拆装，在活化处理后的拆装过程中，难免脱氧剂要接触空气中的高浓度氧，就会造成活化好的脱氧柱的脱氧容量的损失。对于高纯氧分析，脱氧容量的减少，就会缩短活化周期和明显影响分析工作效率。为此，我们研发了新型的高纯氧分析进样器（专利技术）与科创GC8800H型气相色谱仪配套使用，实现了高效率工作分析高纯氧气体中的微量氩和氮。将双脱氧柱改为单脱氧柱，就可方便地实现工业氢中氧、氩、氮的测定。

高纯镍粉中杂质含量是其质量控制的重点项目之一，本文研究建立了一种快速准确的高纯镍粉中杂质含量分析测试方法。采用王水溶解样品，使用电感耦合等离子体原子发射光谱法同时测定了高纯镍粉中杂质元素Mg、Ca、Fe、Cu 含量。实验确定了以285.213 nm、393.366 nm、259.939 nm、324.752 nm 分别作为Mg、Ca、Fe、Cu 的分析谱线，并对仪器工作条件进行了优化。优化得到最佳仪器工作条件为：射频功率1100 W、雾化气流速0.8 L/min 和观测高度15 mm。实验结果表明：镍基体对待测元素的影响可通过基体匹配的方法克服，各元素的校准曲线线性相关系数均不小于0.999，方法中各元素的检出限为0.0002%～0.0011%。方法应用于镍粉样品中杂质元素含量的测定，结果的相对标准偏差（RSD，n=4）在1.1%～5.7%之间，且测定结果与样品质保书中测定结果相符。

采用EXPEC 6000测定高纯铌中样品中包括Ca、Fe、K、Mg等6种杂质元素含量，通过对杂质含量不同的2种高纯铌样品的测量，并计算检出限和方法精密度，考察EXPEC 6000在高纯铌样品中的实际分析性能。结果表明：每种样品平行2次消解并测量的相对标准偏差（RSD）均小于4%，EXPEC 6000可用于高纯铌样品中元素的分析检测。

高灵敏度 iCAP Qc ICPMS 测定高纯氧化钼中 Cd 等痕量元素，通过 Qtegra 自动调谐功能，在 Qcell 加入高流量的氧气反应，将 MoO 转化为多氧化钼，将干扰质量数进行迁移，与 Cd 测定同位素分开，从而消除干扰，以满足高纯氧化钼中镉的测定。?

高灵敏度 iCAP Qc ICPMS 测定高纯氧化钼中 Cd 等痕量元素，通过 Qtegra 自动调谐功能，在 Qcell 加入高流量的氧气反应，将 MoO 转化为多氧化钼，将干扰质量数进行迁移，与 Cd 测定同位素分开，从而消除干扰，以满足高纯氧化钼中镉的测定。

iCAP 7000 Series 测定高纯氧化钆中镱和镥本方法使用 ICP 光谱水平观测方式，通过对基体效应，谱线选择以及采用基体匹配，可以满足氧化钆中 ug/g 级 Yb 和 Lu 的测定。其它稀土杂质使用 iCAP Q ICPMS KED 模式测定，得到理想的结果。