搜索
我要推广仪器
下载APP
首页
选仪器
耗材配件
找厂商
行业应用
新品首发
资讯
社区
资料
网络讲堂
仪课通
仪器直聘
市场调研
当前位置:
仪器信息网
>
行业主题
>
>
高基质环境样品
仪器信息网高基质环境样品专题为您整合高基质环境样品相关的最新文章,在高基质环境样品专题,您不仅可以免费浏览高基质环境样品的资讯, 同时您还可以浏览高基质环境样品的相关资料、解决方案,参与社区高基质环境样品话题讨论。
高基质环境样品相关的方案
DFS-高分辨气相色谱/质谱联用仪: 复杂基质样品中痕量二恶英的检定
利用DFS高分辨气质联用系统,可以对食品、环境和生物样品中飞克级的二恶英和二恶英类多氯联苯进行分析。即使是基质干扰很严重的样品也可以成功得到分析。DFS的可靠性、灵敏度和长时间重现性,通过对基质复杂的血液样品的一系列重复进样得到体现。使用高分辨气相色谱/高分辨质谱联用仪,DFS系统提供了经得起法律质询的确证分析。DFS的独特设计使得它为保护我们日常生活的安全提供了精确的分析数据。DFS为当今世界带来了我们所需的安全和准确。
DFS-高分辨气相色谱/质谱联用仪:复杂基质样品中痕量二恶英的检定
利用DFS高分辨气质联用系统,可以对食品、环境和生物样品中飞克级的二恶英和二恶英类多氯联苯进行分析。即使是基质干扰很严重的样品也可以成功得到分析。DFS的可靠性、灵敏度和长时间重现性,通过对基质复杂的血液样品的一系列重复进样得到体现。使用高分辨气相色谱/高分辨质谱联用仪,DFS系统提供了经得起法律质询的确证分析。DFS的独特设计使得它为保护我们日常生活的安全提供了精确的分析数据。DFS为当今世界带来了我们所需的安全和准确。
Agilent 7800 ICP-MS 在高盐注射剂样品的分析
通过分析注射剂样品中的元素杂质来考察 Agilent 7800 ICP-MS 在高盐样品分析中的稳定性。待测注射剂样品的盐浓度高于 0.9%,在不经稀释的情况下直接进样分析。通过连续分析 2 小时所获得的 10 次测定结果来评价仪器的稳定性。Agilent 7800 ICP-MS 在高盐注射剂样品分析中具有以下优势:– 可直接进样分析,简化样品前处理过程,避免传统稀释过程带来的试剂消耗以及可能引入的污染– 表现出良好的稳定性,两小时连续测定结果的相对标准偏差均处于 5% 以内,表明几乎消除了高盐基质对分析稳定性的干扰
解析高温高湿环境中 FPC 折弯机的试验方案
本试验方案聚焦于在高温高湿环境中利用 FPC 折弯机评估 FPC 的性能。概述中强调试验对 FPC 可靠性评估的重要性。实验设备包括特定范围的高温高湿试验箱和高精度的 FPC 折弯机,以及检测用的显微镜和电阻测试仪。试验样品选取不同特性的 FPC,试验步骤涵盖准备、环境设置、安装调试、试验操作及结束环节。试验条件明确温度、湿度、折弯角度、速度和次数。通过外观检查和电阻测量对实验结果进行分析,最终得出关于 FPC 在该环境下可靠性的结论,为产品设计和质量控制提供依据。
使用 Agilent 8800 三重四极杆 ICP-MS 分析高纯硅样品中的 S 元素
Agilent 8800 ICP-MS/MS(采用 MS/MS 模式)可以准确、高效地测定不同浓度(30 ppm 和 2000 ppm)高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低,MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下,仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限,对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时,表明仪器具有出色的信号稳定性。
使用 Agilent 8800 三重四极杆 ICP-MS 分析高纯硅样品中的 Be 元素
Agilent 8800 ICP-MS/MS(采用 MS/MS 模式)可以准确、高效地测定不同浓度(30 ppm 和 2000 ppm)高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低,MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下,仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限,对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时,表明仪器具有出色的信号稳定性。
热等静压处理增材制造Ti-6Al-4V合金高温环境高周疲劳行为研究
近年来,增材制造(Additive Manufacturing, AM)Ti-6Al-4V合金因其在航空航天和燃气轮机行业中的应用而受重视,其不仅具有传统制造钛合金的耐高温和高比强度等优异性能,还具备快速生产和复杂构造成形的能力。考虑到航空发动机等众多钛合金部件在高温环境高周疲劳(High Cycle Fatigue, HCF)状态下服役,深入理解钛合金在高温下疲劳行为和失效机制,对保障结构安全性和可靠性至关重要。
使用 Agilent 8800 三重四极杆 ICP-MS 分析高纯硅样品中的 As 元素
Agilent 8800 ICP-MS/MS(采用 MS/MS 模式)可以准确、高效地测定不同浓度(30 ppm 和 2000 ppm)高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低,MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下,仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限,对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时,表明仪器具有出色的信号稳定性。
在未进行样品前处理的情况下使用线性保留指数分析复杂基质中的香精与香料
本应用介绍了一种分析香精与香料化合物的方法。该方法采用由 Agilent Intuvo 9000 气相色谱和 Agilent 5977B GC/MSD 组成的气质联用系统 (GC/MS),在恒流模式下使用反吹和热分离进样杆进行操作。在未进行样品前处理的情况下分析复杂基质(例如肥皂、香味蜡烛、牙膏、润肤露和织物柔软剂)中的香精与香料化合物。使用热分离进样杆将样品引入 GC/MSD 系统中。使用解卷积质谱图并结合线性保留指数结果进行鉴定。此外,还创建了一个超链接,将化合物名称与香精香料网站连接,以获取感官和化妆品信息。
MDGC/GCMS法检测复杂基质样品(葱、蒜)中有机磷农药
本方法采用岛津MDGC/GCMS 检测复杂基质样品(葱、蒜)中的有机磷农药,在0.01~0.5mg/L 范围内标准曲线线性良好,相关系数均在0.998 以上,方法回收率在68~120%之间,对加标样品连续5 次测定,峰面积相对标准偏差均小于7.0%,精密度良好。本方法操作简单,可有效地检测复杂基质(葱、蒜)中的农药残留。
水和土壤基质中 PFOS 和 PFOA 的 LC/MS/MS 测定
介绍了 Agilent Ultivo 三重四极杆 LC/MS 与 Agilent 1290 Infinity II LC 联用系统分析水和土壤基质中全氟辛烷磺酸 (PFOS) 和全氟辛酸(PFOA) 的性能。简单来说,过滤环境水样,用甲醇萃取土壤样品。使用弱阴离子交换柱对所得样品进行净化,以富集目标化合物并去除干扰物。然后在高 pH 下洗脱目标化合物,在氮气下进一步蒸发,然后复溶于甲醇中用于 Ultivo LC/MS/MS 分析。采用内标同位素稀释法进行定量。溶液中的 PFOA 和 PFOS 在 0.5–200 µ g/L 范围内均表现出优异的线性关系,线性回归系数达 0.997。PFOA 和 PFOS 的检测限(LOD) 在水中为亚 ng/L 级,在土壤中为 ng/kg 级。以 2.5、40 和 200 ng/L 浓度加标至纯水、河水和废水中的 PFOA 和 PFOS 的平均加标回收率分别为 88.4%–98.8% 和88.0%–97.3%,所有 RSD 值 (n = 6) 均在 0.60%–14% 范围内。对于加标浓度分别为0.50、5.0 和 20 µ g/kg 的空白土壤、田间土壤和沉积物基质,PFOA 和 PFOS 回收率分别为 98.6%–113% 和 96.8%–111%,两种化合物的 RSD 均在 0.4%–6.6%。上述结果表明,使用 Ultivo LC/MS/MS 开发的方法十分准确可靠。该方法还符合各种环境水和土壤基质中痕量 PFOA 和 PFOS 常规监测的标准
使用 Agilent 8800 三重四极杆 ICP-MS 分析高纯硅样品中的 Mg 元素
Agilent 8800 ICP-MS/MS(采用 MS/MS 模式)可以准确、高效地测定不同浓度(30 ppm 和 2000 ppm)高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低,MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下,仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限,对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时,表明仪器具有出色的信号稳定性。
使用 Agilent 8800 三重四极杆 ICP-MS 分析高纯硅样品中的 Mn 元素
Agilent 8800 ICP-MS/MS(采用 MS/MS 模式)可以准确、高效地测定不同浓度(30 ppm 和 2000 ppm)高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低,MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下,仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限,对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时,表明仪器具有出色的信号稳定性。
使用 Agilent 8800 三重四极杆 ICP-MS 分析高纯硅样品中的 Na 元素
Agilent 8800 ICP-MS/MS(采用 MS/MS 模式)可以准确、高效地测定不同浓度(30 ppm 和 2000 ppm)高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低,MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下,仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限,对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时,表明仪器具有出色的信号稳定性。
使用 Agilent 8800 三重四极杆 ICP-MS 分析高纯硅样品中的 Ti 元素
Agilent 8800 ICP-MS/MS(采用 MS/MS 模式)可以准确、高效地测定不同浓度(30 ppm 和 2000 ppm)高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低,MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下,仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限,对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时,表明仪器具有出色的信号稳定性。
使用 Agilent 8800 三重四极杆 ICP-MS 分析高纯硅样品中的 Ca 元素
Agilent 8800 ICP-MS/MS(采用 MS/MS 模式)可以准确、高效地测定不同浓度(30 ppm 和 2000 ppm)高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低,MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下,仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限,对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时,表明仪器具有出色的信号稳定性。
使用 Agilent 8800 三重四极杆 ICP-MS 分析高纯硅样品中的 Ir 元素
Agilent 8800 ICP-MS/MS(采用 MS/MS 模式)可以准确、高效地测定不同浓度(30 ppm 和 2000 ppm)高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低,MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下,仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限,对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时,表明仪器具有出色的信号稳定性。
使用 Agilent 8800 三重四极杆 ICP-MS 分析高纯硅样品中的 W 元素
Agilent 8800 ICP-MS/MS(采用 MS/MS 模式)可以准确、高效地测定不同浓度(30 ppm 和 2000 ppm)高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低,MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下,仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限,对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时,表明仪器具有出色的信号稳定性。
使用 Agilent 8800 三重四极杆 ICP-MS 分析高纯硅样品中的 Re 元素
Agilent 8800 ICP-MS/MS(采用 MS/MS 模式)可以准确、高效地测定不同浓度(30 ppm 和 2000 ppm)高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低,MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下,仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限,对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时,表明仪器具有出色的信号稳定性。
使用 Agilent 8800 三重四极杆 ICP-MS 分析高纯硅样品中的 Ag 元素
Agilent 8800 ICP-MS/MS(采用 MS/MS 模式)可以准确、高效地测定不同浓度(30 ppm 和 2000 ppm)高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低,MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下,仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限,对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时,表明仪器具有出色的信号稳定性。
使用 Agilent 8800 三重四极杆 ICP-MS 分析高纯硅样品中的 Nb 元素
Agilent 8800 ICP-MS/MS(采用 MS/MS 模式)可以准确、高效地测定不同浓度(30 ppm 和 2000 ppm)高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低,MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下,仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限,对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时,表明仪器具有出色的信号稳定性。
使用 Agilent 8800 三重四极杆 ICP-MS 分析高纯硅样品中的 Ni 元素
Agilent 8800 ICP-MS/MS(采用 MS/MS 模式)可以准确、高效地测定不同浓度(30 ppm 和 2000 ppm)高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低,MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下,仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限,对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时,表明仪器具有出色的信号稳定性。
使用 Agilent 8800 三重四极杆 ICP-MS 分析高纯硅样品中的 Zn 元素
Agilent 8800 ICP-MS/MS(采用 MS/MS 模式)可以准确、高效地测定不同浓度(30 ppm 和 2000 ppm)高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低,MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下,仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限,对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时,表明仪器具有出色的信号稳定性。
使用 Agilent 8800 三重四极杆 ICP-MS 分析高纯硅样品中的 Sb 元素
Agilent 8800 ICP-MS/MS(采用 MS/MS 模式)可以准确、高效地测定不同浓度(30 ppm 和 2000 ppm)高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低,MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下,仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限,对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时,表明仪器具有出色的信号稳定性。
使用 Agilent 8800 三重四极杆 ICP-MS 分析高纯硅样品中的 Cs 元素
Agilent 8800 ICP-MS/MS(采用 MS/MS 模式)可以准确、高效地测定不同浓度(30 ppm 和 2000 ppm)高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低,MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下,仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限,对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时,表明仪器具有出色的信号稳定性。
使用 Agilent 8800 三重四极杆 ICP-MS 分析高纯硅样品中的 Tl 元素
Agilent 8800 ICP-MS/MS(采用 MS/MS 模式)可以准确、高效地测定不同浓度(30 ppm 和 2000 ppm)高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低,MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下,仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限,对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时,表明仪器具有出色的信号稳定性。
使用 Agilent 8800 三重四极杆 ICP-MS 分析高纯硅样品中的 Bi 元素
Agilent 8800 ICP-MS/MS(采用 MS/MS 模式)可以准确、高效地测定不同浓度(30 ppm 和 2000 ppm)高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低,MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下,仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限,对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时,表明仪器具有出色的信号稳定性。
使用 Agilent 8800 三重四极杆 ICP-MS 分析高纯硅样品中的 Ge 元素
Agilent 8800 ICP-MS/MS(采用 MS/MS 模式)可以准确、高效地测定不同浓度(30 ppm 和 2000 ppm)高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低,MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下,仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限,对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时,表明仪器具有出色的信号稳定性。
使用 Agilent 8800 三重四极杆 ICP-MS 分析高纯硅样品中的 Hf 元素
Agilent 8800 ICP-MS/MS(采用 MS/MS 模式)可以准确、高效地测定不同浓度(30 ppm 和 2000 ppm)高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低,MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下,仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限,对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时,表明仪器具有出色的信号稳定性。
使用 Agilent 8800 三重四极杆 ICP-MS 分析高纯硅样品中的 Cd 元素
Agilent 8800 ICP-MS/MS(采用 MS/MS 模式)可以准确、高效地测定不同浓度(30 ppm 和 2000 ppm)高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低,MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下,仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限,对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时,表明仪器具有出色的信号稳定性。
相关专题
环境监测“十三五”:水气监测事权上收 第三方运维市场或迎来爆发期
高内涵成像下的缤纷世界
莱伯泰科全自动多功能样品制备进样平台
解读国家环境保护“十二五”规划
高光谱水质监测:水环境治理的“科技助手”
新污染物治理再进一步 新污染物生态环境监测标准体系表征求意见
包罗万象——液相色谱技术及应用大赏
窥微探秘,高内涵细胞成像前沿技术与进展
2020世界环境日
肿瘤代谢与微环境
厂商最新方案
相关厂商
上海绿高环境科技有限公司
济南鸿君试验机制造有限公司
抚顺高顿仪器设备有限公司
坛墨质检科技股份有限公司
广州斯派克环境仪器有限公司
深圳市高品仪器有限公司
广州谱恩科学仪器有限公司质控样品
常青树农机制品(北京)有限公司
河北品高电子科技有限公司
河北品高电子科技有限公司市场部
相关资料
使用 Agilent 4200 MP-AES 优化高基质样品的方法条件
ORS技术在高基体环境样品分析中的应用.pdf
ORS技术在高基体环境样品分析中的应用
食品及环境基质放射性标准物质的研制 计量技术规范(征求意见稿).pdf
使用 Agilent 7700x/7800 ICP-MS 根据美国 EPA 6020A 方法对高基质样品进行简单、可靠的分析
环境中新污染物检测样品前处理规范(征求意见稿).pdf
ICP-MS-高基体环境样品-7500cx-单He模式-EN
普通纯度氩气在ICP-MS法分析高基环境样品中的应用
生态环境检测机构土壤样品处置管理技术指南(征求意见稿).pdf
HJ 840-2017 环境样品中微量铀的分析方法(发布稿)