高反射率荧光粉材料

这款LED荧光粉欧洲进口，是全球白光LED转换效率最高的LED荧光片，成功打破日本在这一领域的垄断，并完全在性能上超过日本产品，称为全球最佳白光LED和高功率LED荧光粉。这款LED荧光粉专业为白光LED和高功率LED而生的单晶LED荧光发光体,，对InGaN蓝光LED直接封装，获取高效高亮度的白光LED, LED荧光粉是单晶荧光粉末或多晶荧光粉的理想替代产品。 对于蓝光InGaN发射发光二极管的波长转换而言，单晶Ce:YAG闪烁发光体是一种智能,精准和高效的解决方案。由Ce:YAG单晶制成的荧光体为高功率LED事业提供了最佳性能，其效率超过150LM/W，是单晶荧光粉末或多晶荧光粉的理想替代产品。Ce:YAG闪烁体LED荧光粉主要特性优势l 后向散射少，自吸收少，更高的转换效率，更大光强荧光粉和多晶材料的颗粒边界容易把光束散射到发光非有效方向，造成效率低下。而这种单晶荧光屏只需要克服一个边界的影响，具有最少的寄生吸收。 l 产生热量少，LED寿命长单晶荧光片具有更高的热导率，可帮助芯片散热。同时，芯片也不会经受后向散射产生热量，有助于降低LED芯片的老化，使得LED寿命更长。 l 热稳定性好，温度淬灭少与其它荧光粉相比，这种单晶荧光体在相对高温时也能产生更多的光，避免LED在高端应用中变暗，LED温度淬灭更少。 l 质量均匀可靠，更少的分选工作单晶荧光片具有稳定的特性，LED制造企业不需要对其分选或分类，有助于提高生产效率，优化生产成本。 l 光谱范围可变，色彩表现更佳荧光片可被调谐到多个波长范围，可制成产品覆盖CT2700-6500K的范围。 l 更长的持久性单晶Ce:YAG荧光体具有良好的抗划伤能力和抗热退化能力，这种物理特性决定了这种荧光片不仅是LED芯片的理想转换材料，同时也是LED理想的保护性材料。 l 更价的经济性，使用成本更低与荧光粉和多晶材料相比，这种单晶Ce:YAG荧光体具有更低的使用成本。 超高效率：单晶YAG:Ce荧光体制作的LED荧光粉可以获得最佳照明表现，可以把后向散射降到最小，使得发射效率最大化。 LED荧光粉和Ce:YAG荧光体表面增加了微小凹坑，成为扩散中心，产生的荧光光子更容易向上发射。 LED荧光粉荧光体有效控制表面粗糙度，表面和边缘平坦极大减少反射的光子，进而提高发射效率。 精细荧光片穿孔允许光子反弹到荧光片或小孔边缘，竖直方向发射出去，提供光子激发效率。LED荧光粉用Ce:YAG荧光体应用LED荧光粉荧光体可以制成适合LED工业应用的各种类型，为不含树脂的高功率LED而设计。其中平板形荧光片和半圆形荧光片非常适合不同的LED使用。 LED荧光荧光体非常适合拾放机器人操作，添加到单个或多个LED上。平板形或圆顶形荧光片提供了标准的结构，使得固定位置安装极为方便。 圆顶形荧光片和镜片组成整体的高效组合 荧光片可被加工成带有连接器（切口或针孔）的特定形状设计实例荧光片 带孔荧光片 带有切口连接器 切口连接器 半圆形带切割连接器 LED荧光粉数据LED荧光粉尺寸可根据LED设计和物理特性而自由加工，生产尺寸范围从十几微米到毫米单位的大小。标准LED荧光粉尺寸是1x1mm截面积，250微米厚度， 半圆形荧光片：直径为1.4mm单晶LED荧光粉与其他荧光粉的LED温度猝灭比较 圆顶形荧光片在宽视角范围都表现出良好的光均匀性1mm厚的Ce:YAG荧光片透过率曲线 荧光片制成的LED的发射光谱仪（色温4500K）

STAN- SSH高镜面反射率标准板可以用来测量感光底层，光涂层，机加金属和半导体材料等材料的反射率,表面具有高镜面反射率值的物体的参照。STAN-SSL 在200-800 nm波长范围内提供~85-90%反射率，在800-2500nm波长范围内提供~85-98%反射率。 有两种款式的STAN-SSH，STAN-SSH 型和NIST溯源的STAN-SSH-NIST型 。 NIST型STAN-SSH-NIST是按照一 个NIST校准（NIST号为NIST38060S, s/n 99G16）250-2500 nm精度大概为 0.1% 。与STAN-SSH-NIST一起交货给用户的还有一个校准说明书，一个做为波长函数的反射率值数据表，和一张磁盘，磁盘中的数据可以转到海洋光学光谱 仪操作软件上。 建议用户定期标定STAN-SSH-NIST 。 STAN-SSH感光底层直径为1.25" ，安置在一个坚硬的 1.5" x 0.75" 大小的蓝色阳极氧化铝盒并拧上盖作为保护。 使用提示 使用海洋光学的光谱仪时，STAN-SSH限于200-1100 nm 设置高反射率基准时可使用STAN-SSH 虽然STAN-SSH的铝膜由一层外涂层保护着，用户还是应该在使用时备加小心，以保证标准面不被破坏。不要用手或者物体碰表 面，以避免污染和破坏。清理STAN-SSH表面时，先用高压气体吹掉表面的污垢和尘土，然后用牵引清洁法除去表面的指纹和固定残留物。牵引清洁法是用镜 头纸沾丙酮或酒精慢慢的的拉过镜头的表面。只要操作正确，溶剂均匀挥发后不会在镜头表面留下拖尾或污点。 裸露的金属层非常干净精密，不能用此方法清理。指印和污垢会对它产生永久破坏，用户在操作STAN-SSH时一定要非常小心，以延长它的使用寿命。 STAN-HOLDER 反射比标准固定器 STAN-HOLDER是一个用来在测量时将标准固定的附件，使用方便。 STAN-SSL镜面反射 技术指标 底层尺寸: 1.25" 外直径 x 0.25" 高 架子尺寸: 1.5"外直径 x 0.75" 高 反射物: 镜面的熔融石英，带有保护外套 反射率: ~5.4% (200-950 nm) ~4.0% (950-2500 nm)

YAG荧光粉由Y3Al5O12:Ce闪烁体或Y3Al5O12:Ce荧光体直接加工而成，这款YAG荧光粉是欧洲进口的优质Ce:YAG荧光粉,是广泛用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料,也常用于InGaN发光二极管。YAG荧光粉，全称Y3Al5O12:Ce荧光粉或YAG:Ce荧光粉，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉，这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。 YAG:Ce荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。 其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3 P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3 P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

YAG:Ce荧光粉,YAG:Ce闪烁粉和YAP:Ce荧光粉 /夜光粉/ 闪烁粉我们提供优质进口YAG:Ce和YAP:Ce荧光粉，这些荧光粉由高质量闪烁体单晶直接加工而成。晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格的荧光粉可根据要求加工。荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。 其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3 P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3 P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

这款P43荧光粉是欧洲进口的优质GOS荧光粉,Gd2O2S:Tb荧光粉和硫氧化钆荧光粉,是广泛用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉，这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。 YAG:Ce荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。 其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3 P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3 P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

荧光粉 /夜光粉/ 闪烁粉---YAG:Ce荧光粉和YAP:Ce荧光粉我们提供优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉，这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。 YAG:Ce荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。 其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3 P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3 P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

YAP:Ce荧光粉 /夜光粉/ 闪烁粉---YAG:Ce和YAP:Ce我们提供优质进口YAP:Ce荧光粉和Ce:YAP荧光粉，这些YAP:Ce荧光粉由高质量Ce:YAP闪烁体单晶直接加工而成。YAP:Ce荧光粉晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种YAP:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。 YAP:Ce荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。Ce:YAP荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。 其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3 P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3 P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

P46荧光粉由P46闪烁体或P46荧光体,Y3Al5O12:Ce闪烁体直接加工而成，这款P46荧光粉是欧洲进口的优质掺铈硅酸钇荧光粉,是广泛用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料,也常用于InGaN发光二极管。P46荧光粉又称YAG荧光粉，全称Y3Al5O12:Ce荧光粉或YAG:Ce荧光粉，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉，这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。 YAG:Ce荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。 其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3 P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3 P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

GOS荧光粉由GOS闪烁体或GOS陶瓷加工而成，这款GOS荧光粉是欧洲进口的优质Gd2O2S:Tb荧光粉和硫氧化钆荧光粉,是广泛用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 P43 – GOS荧光粉 Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉，这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。 YAG:Ce荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。 其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3 P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3 P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

P47荧光粉由Y2SiO5:Ce荧光粉闪烁体,掺铈硅酸钇闪烁体直接加工而成，这款Y2SiO5:Ce荧光粉,Y2SiO5:Ce荧光粉是欧洲进口的优质掺铈硅酸钇荧光粉,是广泛用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 P47-Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉，这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。 YAG:Ce荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。 其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3 P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3 P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

硫氧化钆荧光粉由硫氧化钆荧光粉闪烁体直接加工而成，这款硫氧化钆荧光粉,Gd2O2S:Tb荧光粉是欧洲进口的优质硫氧化钆荧光粉,是广泛用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 P43 –Gd2O2S:Tb荧光粉是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉，这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。 YAG:Ce荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90–125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。 其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3 P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3 P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

BR-M5-30低镜面漫反射吸收板BR-M5-30 低镜面漫反射吸收板（低镜面反射率白板，反射参考板，标准铝镜）是一个标准的中性滤光片。可用来测量感光底层、光涂层、机加金属、半导体材料等材料的反射率。BR-M5-30感光底层直径为30mm，安置在一个坚硬的40×12mm大小的蓝色阳极氧化铝盒内并拧上盖作为保护。参数规格BR-M5-30外部尺寸(mm)40×12（厚度）内部尺寸(mm)30×5（厚度）重量(g)30光谱范围(nm)250 ~ 2000外壳材质铝 反射率5% 使用须知? 使用光谱仪时，BR-M5-30波段范围限于200～1100 nm? 用BR-M5-30将低反射率基准设为～5%? 中性滤光片的材料虽耐用，实际使用时请用户备加小心，以确保标准面不被破坏。? 清理BR-M5-30表面时，先用高压气体吹掉表面的污垢和尘土，并用牵引清洁法除去表面的指纹和固定残留物。牵引清洁法是用镜头纸沾丙酮或酒精慢慢的的拉过镜头的表面。该法操作简单，溶剂能均匀挥发后，确保镜头表面不遗留拖尾或污点。

Gd2O2S:Tb荧光粉由Gd2O2S:Tb闪烁体直接加工而成，这款Gd2O2S:Tb荧光粉是欧洲进口的优质硫氧化钆荧光粉,是广泛用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 P43 –Gd2O2S:Tb荧光粉是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉，这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。 YAG:Ce荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。 其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3 P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3 P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

Y2SiO5:Ce荧光粉由Y2SiO5:Ce闪烁体或Y2SiO5:Ce荧光体,掺铈硅酸钇闪烁体直接加工而成，这款Y2SiO5:Ce荧光粉,Y2SiO5:Ce荧光粉是欧洲进口的优质掺铈硅酸钇荧光粉,是广泛用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 P47-Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉，这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。 YAG:Ce荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 –50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。 其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3 P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3 P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

IS-RFLT8C-50反射积分球IS-RFLT8C-50是8°反射积分球（高灵敏度积分球；辐射积分球；反射/透射积分球；高均匀度积分球；紫外均匀积分球），采用的是反射测量的8/d的标准，8°角照明，散射接收。在相对于8°角光源对阵的方位上，设置光陷阱或者标准反射片，从而实现漫反射和全反射的测量。IS-RFLT8C-50积分球的特点是紧凑的尺寸和耐用的设计，所有的IS-RFLT8C-50积分球有两个SMA-905接口，光输入端有一个用于在光纤接入积分球之前校正光纤的8°角接口，光输出端口与输入端口成90°角（用于连接光谱仪）。另配有一个圆柱形的吸收盖，内部涂有黑色的吸光材料（用于吸收镜面反色光）。这个嵌入件刚好放入一个与积分球顶部成-8°角的接入孔中。每一个积分球都可与光谱仪一起组合成一个系统，用于测量置于积分球的采样口区域内的平面样品的综合反射率。这些积分球可测量杂色的样品及不透明或者高指向性的样品。产品特点? 光纤光学积分球：测量表面总的整体反射率? 积分球采样口直径：9.6mm? PTFE制造，可见光反射率98%。? 直径可选：38mm、50mm。

IS-38-INT积分球IS-38-INT积分球 （高灵敏度积分球；辐射积分球；反射/透射积分球；高均匀度积分球；紫外均匀积分球）通过9.5mm入光口来接收光能量（波长范围200～2500nm），再经过内部漫反射后，将均匀的光能量到传送到输出端口。输入端口采用SMA905连接器，可直接耦合到光谱仪中，方便使用。该产品可用于测量发光二极管等光源的光谱特性，光通量，色温，光谱分布等参数。产品特点? 材料：漫反射朗伯特性材料　反射率～97%? 外壳：光亮发黑? 内胆直径：38mm? 输出接口：SMA905? 固定孔位：M3, 间距25mm

产品特点：反射率测定标准品珀金埃尔默提供一系列的反射率测定标准品，以便在乳品测定中能确保系统优化运行。多种校准或未校准的反射率标准品的不同组合可供选择，以提供最佳筛选结果。订货信息：反射率测定标准品产品描述部件编号99% 反射率聚合物 60 mm，8 mm x 58 mm，未校准L128192099% 反射率聚合物 100 mm，8 mm x 98 mm，未校准L128192199% 反射率标准品 60 mm，8 mm x 58 mm，已校准L128192299% 反射率标准品 100 mm，8 mm x 98 mm，已校准L128192350% 反射率标准品 60 mm，8 mm x 58 mm，已校准L128192450% 反射率标准品 100 mm，8 mm x 98 mm，已校准L1281925反射率标准品 60 mm，8 mm x 58 mm，已校准，每套 4 件L1281926反射率标准品 100 mm，8 mm x 98 mm，已校准，每套 4 件L1281927反射率横坐标标准品 60 mm，8 mm x 58 mm，已校准，L1281928反射率横坐标标准品 100 mm，8 mm x 98 mm，已校准，L1281929反射率标准品重新校准服务，标准品重新校准 12 个月之后推荐该服务L1281930

经认证的 NIRS 99% 反射率标准板，用于实验室探针订货号: 6.7450.030经认证的 99% 反射率标准板，用于校正 NIRS XDS SmartProbe Analyzer

NIRS XDS 的反射率标准板支架订货号: 6.7410.000在将单色仪与样品模块进行校正时需要一个反射率标准板。固定校正标准板时需要一个支架，将标准板定位于其中。 反射率标准板和所属支架用于：NIRS XDS MultiVial Analyzer（订货号：29211210）NIRS XDS MasterLab Analyzer（订货号：2.921.1310）

NIRS 反射率标准板，2 件套订货号: 6.7450.000波长标准板和 80% 反射率标准板套装，用于校正 NIRS XDS MasterLab Analyzer、NIRS XDS RCA Analyzer、NIRS XDS MultiVial Analyzer、NIRS XDS SmartProbe Analyzer、NIRS XDS Interactance OptiProbe Analyzer 和 NIRS DS2500 Analyzer。

镀介质膜元件：包括激光高反射镜，分光镜，激光输出耦合镜，波长分束镜，增透膜窗口等。材质：主要材质有BK7，UVFS。规格：直径有12.7mm，25.4mm和50.8mm。用途：适用波长从紫外到近红外波段，高反射镜反射率可达到99.9%。

NIRS 反射率标准板，7 件套订货号: 6.7450.010由六个反射率标准板和一个波长标准板组成的套装，用于在稳定环境中校正 NIRS XDS MasterLab Analyzer、NIRS XDS RCA Analyzer、NIRS XDS MultiVial Analyzer、NIRS XDS SmartProbe Analyzer、NIRS XDS Interactance OptiProbe Analyzer 和 NIRS DS2500 Analyzer。

IS-25-SBL1英寸漫反射积分球 1 产品简介IS-25-SBL是光谱辐射测量场景常用的配件（高灵敏度积分球；辐射积分球；反射/透射积分球；高均匀度积分球；紫外均匀积分球），采用卜型设计；与光谱仪和光纤组合完成光通量、照度、颜色和色温测量。 2 产品特点? 25mm内径，经济实用；? 朗伯特性漫反射材料，?97%的反射率；? 卜型设计。3 规格参数产品规格IS-25-SBL反射率～97%内胆直径25mm

订货信息：漫反射率测定标准品产品描述部件编号99% 漫反射标准品，2 英寸，已校准PELA90582%，50%，75%，99%漫反射标准品组件，2英寸，已校准PELA90112%，5%，10%，20%，40%，60%，80%，99%，漫反射标准品组件，2 英寸，已校准PELA9013漫反射标准品组件，2 英寸，已校准，颜色：R,G,B 和 YPELA9018漫反射标准品组件，2 英寸，已校准，颜色：O,P,C 和 VPELA9019可调支架L6020329

NIRS 99 % 反射率和波长标准板，用于工艺进程设备，直径 1 英寸NIRS 99% reflection and wavelength standard process, 1 inch diameter订货号： 6.7450.070NIRS 99％ 反射率和波长标准板，用于工艺进程设备，探针直径为 1 英寸

NIRS XDS 的反射率标准板支架NIRS XDS tray for reflection standard订货号： 6.7410.000在将单色仪与样品模块进行校正时需要一个反射率标准板。固定校正标准板时需要一个支架，将标准板定位于其中。 反射率标准板和所属支架用于：● NIRS XDS MultiVial Analyzer（订货号：29211210）● NIRS XDS MasterLab Analyzer（订货号：2.921.1310）

STD-M 标准铝镜 标准反射镜是用于反射率测量的标准镜面反射参考物。复享科技的STD-M标准反射镜采用高反的Al材料热蒸发而成，能够提供紫外-可见-近红外（200-2500 nm）宽光谱谱段大于95%的高反射率。高反射率表面复享标准高镜面反射率标准板可以用来测量感光底层，光涂层，机加金属和半导体材料等材料的反射率,表面具有高镜面反射率值的物体的参照。 250nm-800nm 波长处反射率为~85%-90%。800-2500nm 反射率为~85%-98%。3、外壳铝材料，蓝色阳极氧化铝盒并拧上盖作为保护。典型图片STD-M 标准反射镜反射率图谱更多信息访问：http://www.ideaoptics.com产品性能产品参数 项目 值波段：200-2500 nm外壳：镜面的熔融石英镀膜；高稳定性外壳铝材料；蓝色阳极氧化铝壳并拧上盖过为保护； 镜面表面有保护膜铝镜表面为镜面反射，镜面的熔融石英镀膜防止铝镜表面氧化。使用注意事项*设置高反射率基准时可使用STD-M *STD-M铝膜由一层熔融石英镀膜保护着，用户还是应该在使用时备加小心，以保证标准面不被破坏。不要用手或者物体碰表面，以避免污染和破坏。清理 STD-M表面时，先用高压气体吹掉表面的污垢和尘土，然后用牵引清洁法除去表面的指纹和固定残留物。牵引清洁法是用镜头纸沾丙酮或酒精慢慢的的拉过镜头 的表面。然后单向在镜面拖动，之后自然晾干即可。一般不需擦拭。 溶剂均匀挥发后不会在镜头表面留下拖尾或污点。 *裸露的金属层非常干净精密，不能用此方法清理。指印和污垢会对它产生永久破坏，用户在操作STD-M时一定要非常小心，以延长它的使用寿命。更多促销信息：http://www.ideaoptics.com/Products/PContent.aspx?pd=STD-M产品特点 1、镜面的熔融石英镀膜放置轻微刮擦，耐高温，性能稳定，避免铝和空气氧化；2、高反射率铝镜； 直径： 内径30 mm，外径40 mm；重量：33.5 g反射率：250-800 nm，80%-90%；800-2500 nm，85%-98%；

NIRS 反射率标准板，7 件套NIRS reflection standard, set of 7订货号： 6.7450.010由六个反射率标准板和一个波长标准板组成的套装，用于在稳定环境中校正 NIRS XDS MasterLab Analyzer、NIRS XDS RCA Analyzer、NIRS XDS MultiVial Analyzer、NIRS XDS SmartProbe Analyzer、NIRS XDS Interactance OptiProbe Analyzer 和 NIRS DS2500 Analyzer。

经认证的 NIRS 99% 反射率标准板，用于实验室探针Certified NIRS 99% reflection standard for laboratory sensors订货号：6.7450.030经认证的 99% 反射率标准板，用于校正 NIRS XDS SmartProbe Analyzer

NIRS 反射率标准板，2 件套NIRS reflection standard, set of 2订货号：6.7450.000波长标准板和 80% 反射率标准板套装，用于校正 NIRS XDS MasterLab Analyzer、NIRS XDS RCA Analyzer、NIRS XDS MultiVial Analyzer、NIRS XDS SmartProbe Analyzer、NIRS XDS Interactance OptiProbe Analyzer 和 NIRS DS2500 Analyzer。